KR19990006237A - 비접촉 3차원 측정기를 이용한 소형부품 고속검사방법 및 그 장치 - Google Patents

비접촉 3차원 측정기를 이용한 소형부품 고속검사방법 및 그 장치 Download PDF

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KR19990006237A
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안희태
백광렬
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안희태
전갑수
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전자기판의 부품이 소형화 됨에 따라 육안검사를 통한 품질관리에는 한계가 있다. 카메라를 사용하여 영상을 채취하고 영상처리를 함으로써 전자기판을 자동으로 검사는 종래의 방법에서는 방대한 데이터를 처리하기 위해 고가의 장비가 필요하다. 본 발명은 전자기판을 고속으로 회전시키고 반경축으로 왕복운동을 할 수 있는 적절한 기계장치와, 단순한 구조의 레이저 거리센서를 사용하여 필요한 좌표에 대해서만 3차원 측정을 하는 장치이다. 따라서 데이터량을 줄임으로써 간편하고 경제적인 전자기판 검사장치를 구현한다. 본 발명의 특징은 고속이동의 제어를 위해 필요한 가감속을 피하기 위해 대상 제품을 회전시키고, 2차원 좌표를 결정하기 위해 반경축 방향으로 센서를 이동시키면서, 기판과 일정한 높이에 있는 센서를 이용하여 부품의 각 부분까지의 거리를 측정함으써 3차원 데이터를 얻는 것을 특징으로 한다. 또한 측정한 데이터와 미리 결정된 표준 데이터를 비교함으로써 전자기판상의 각종 부품의 장착 상태를 검사하는 방법 및 그 장치이다.

Description

비접촉 3차원측정기를 이용한 소형부품 고속검사방법 및 그 장치
전자기판의 부품이 소형화 됨에 따라 육안검사를 통한 품질관리에는 한계가 있다. 시각센서를 이용한 검사자동화 방법도 있으나 이보다 간편하면서 경제적인 시스템을 구현하는 데 본 발명의 목적이 있다.
레이저와 카메라를 사용한 고가의 3차원 영상처리에 의한 방법이 있으며 단지 2차원 영상을 처리하는 검사장비도 보급되고 있다. 이러한 방법들은 입력된 모든 좌표에 대해 적절한 처리과정을 거쳐 기준데이터와 비교하므로 처리해야 할 데이터의 양이 방대해 지는 등 원리적으로 고가의 데이터 처리장치를 요구한다.
종래의 방법은 카메라를 사용하므로 주변 상황에 따른 사용조건이 까다롭고 데이터의 방대함으로 인해 장비가 고가이다. 본 발명에서는 고속이동을 위한 회전축(1)과 좌표결정을 위한 반경방향의 직선축(2)으로 구성되는 적절한 기계장치와, 단순한 구조의 레이저 거리센서를 이용하여 필요한 좌표에 대해서만 3차원 측정을 하고, 데이터처리장치(4)를 이용하여 기준데이터와 비교함으로써 기판의 상태를 검사하는 경제적인 시스템을 구현한다.
제 1 도는 본 발명의 구성품을 도시한 개략적인 레이아웃
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : 회전축, 2 : 직선축, 3 : 거리센서, 4 : 데이터처리장치
회전축(1) : 고속 이동을 위한 가감속을 줄이기 위해 연속적인 동작이 이루어 지도록 대상물을 회전시킨다. 주속을 제어하기 위해 속도제어를 한다. 직선축과의 동기제어를 위하여 각도를 감지할 수 있는 센서를 포함한다.
직선축(2) : 2차원 평면상의 좌표를 결정하기 위해 회전축에 동기하여 제어되며 해당 각도에 대한 반경위치로 이동함으로써 2차원상의 필요한 위치로 이동한다. 필요시에는 고속위치결정을 위한 추가축을 둔다.
거리센서(3) : 측정대상의 평면에 수직한 방향의 치수를 측정하여 3차원의 좌표로써 입력받는다.
데이터처리장치(4) : 센서를 원하는 위치로 이동시키고 지정 위치의 높이를 측정하여 3차원상의 좌표로 입력받아 기준 데이터와 비교하여 검사결과를 처리한다.
사용조건이 단순하므로 현장조건에 잘 적응하고 적절한 구성품에 의해 경제적으로 구성되므로 쉽게 적용이 가능하다.

Claims (1)

  1. 고속이동을 위한 가감속을 피하기 위해 대상 제품을 회전축(1)을 이용하여 회전시키며 2차원 좌표를 결정하기 위해 직선축(2)을 이용하여 반경방향으로 이동하고 직선축(2)에는 필요시에 고속 위치결정을 위한 추가축을 둘 수 있으며 거리센서(3)로써 지정 위치의 높이를 측정함으로써 3차원 데이터를 입력받는 것을 특징으로 하여 데이터처리장치(4)에서 미리 결정된 기준 데이터와 비교함으로써 전자기판상의 소형부품과 같은 종류에 대한 상태를 검사하는 방법 및 그 장치
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100379948B1 (ko) * 2000-11-15 2003-04-16 이희만 3차원 형상 측정방법
KR100751508B1 (ko) * 2007-04-26 2007-08-22 서승환 인쇄회로기판 검사장치
KR100847294B1 (ko) * 2001-11-22 2008-07-18 미래산업 주식회사 백업플레이트의 상승 제어장치
KR100862783B1 (ko) * 2002-08-30 2008-10-13 주식회사 포스코 가열로의 가스유속 측정장치

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