KR19980081867A - Micro Circuit Line Formation Method - Google Patents

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KR19980081867A
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칼빈.데렉씨
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Abstract

캐리어로서 동박을 사용하여 도전성 금속(금속들)을 공급함으로써 기판 위에 회로선을 형성하는 새로운 방법. 동박은 에칭되어, 기판의 표면에 매립된 도전성 금속만이 남는다. 포토레지스트는 원하는 회로를 결정하는 트렌치를 노출시키기 위해 사용되며 구리는 노출된 도전성 금속위에 공급된다. 이 방법은 다층회로기판의 외부층을 제조하는데 특별히 적합하다.A new method of forming circuit lines on a substrate by supplying a conductive metal (metals) using copper foil as a carrier. The copper foil is etched, leaving only the conductive metal embedded in the surface of the substrate. Photoresist is used to expose the trenches that determine the desired circuit and copper is supplied over the exposed conductive metal. This method is particularly suitable for manufacturing the outer layer of a multilayer circuit board.

Description

미세회로선 형성방법Micro Circuit Line Formation Method

본 발명은 인쇄회로기판 제조방법에 관한 것으로, 특히 고미세 회로선을 형성하는 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a printed circuit board, and more particularly, to a method for forming a high fine circuit line.

일반적인 인쇄회로기판의 제조에 있어서, 얇은 동박(copper foil)이 절연기판, 더욱 빈번하게는 에폭시수지 프리프렉(prepreg)이 보강된 유리에 적층된 후, 상기 적층판이 처리되어 화학적 에칭에 의해 구리의 일부분이 선택적으로 제거됨에 따라 동박이 회로패턴으로 된다. 이러한 에칭은 일반적으로는 만족스러운 공정이지만, 미세한(좁은) 회로선을 형성하는데는 명백한 한계가 존재하였다.In the manufacture of a typical printed circuit board, a thin copper foil is laminated to an insulating substrate, more often epoxy glass prepreg reinforced glass, and then the laminate is processed to obtain copper by chemical etching. The copper foil becomes a circuit pattern as a part is selectively removed. Such etching is generally a satisfactory process, but there are obvious limitations to forming fine (narrow) circuit lines.

동박은 흔히 절연기판과의 부착능력을 향상시키기 위해 적층 전에 처리된다. 이러한 응용의 목적을 위해, 다른 조건이 없다면 여기서 동박에 대한 언급은 처리된 동박 및 미처리된 동박을 서로 교환가능하게 언급하는 것으로 해석될 것이다.Copper foil is often processed prior to lamination to improve adhesion to insulating substrates. For the purposes of this application, unless otherwise indicated, reference to copper foil herein will be interpreted interchangeably to refer to treated and untreated copper foil.

실제로, 에천트(etchant)는 회로선의 수직면을 만들지 않는다. 대신, 에천트가 레지스트(resist)를 언더커팅(undercutting)하여 회로선 상부의 구리를 더 많이 에칭하고 하부의 구리를 덜 에칭하여, 대략적인 사다리꼴 형상의 회로선을 형성한다. 그 결과, 회로선의 최소 폭은 이러한 비균일 에칭에 의해 한정된다. 이러한 문제가 미국특허 제5,437,914호에서 논의되었으며, 상기 특허에는 에칭된 회로선의 형상은 동박의 그레인구조(grain structure)에 의해 영향받는 사실이 개시되어 있다. 에칭의 향상된 정확도는 상기 제5,437,914호 특허에 따라 매끄러운(shiny) 측면을 갖는 기판에 동박을 적층하는 것에 의해 실현할 수 있다. 향상된 에칭요인에 의해 회로선의 측면이 거의 수직으로 된다.In practice, etchant does not make a vertical plane of the circuit line. Instead, the etchant undercuts the resist to etch more copper over the circuit line and less etch the copper below, forming a roughly trapezoidal circuit line. As a result, the minimum width of the circuit line is defined by this non-uniform etching. This problem has been discussed in US Pat. No. 5,437,914, which discloses that the shape of the etched circuit lines is affected by the grain structure of the copper foil. The improved accuracy of etching can be realized by laminating copper foil on a substrate having a shiny side according to the above-mentioned 5,437,914 patent. Improved etching factors cause the sides of the circuit lines to be nearly vertical.

회로선의 정확도를 향상시키는 또 다른 접근은 더 얇은 동박을 사용하여 더 적은 언더커팅으로 상기 동박을 빨리 에칭하는 것이다. 그러나, 이러한 동박은 취급하기가 용이하지 않다. 결과적으로, 동박이 기판에 적층된 후에 제거될 수 있는 지지판 위에 적층된 구리의 박층을 형성하는 것을 제안한다. 일예가 미국특허 제3,998,601에 개시되는데, 상기 특허에서는 2-12μm의 구리층이 종래의 두꺼운 동박(35-70μm) 위에 적층되고 배출층(release layer)에 의해 분리되어 있다. 기판에 합성박을 적층한 후 지지동박이 기계적으로 벗겨져서, 전기회로의 처리를 위해 준비되는 2-12μm의 얇은 박만이 남게 된다. 이러한 방법은 지지박을 벗길 때 얇은 박의 일부가 제거되기 때문에 가능하다.Another approach to improving the accuracy of the circuit lines is to etch the copper foil quickly with less undercutting using thinner copper foil. However, such copper foil is not easy to handle. As a result, it is proposed to form a thin layer of laminated copper on a support plate that can be removed after the copper foil is laminated to the substrate. An example is disclosed in US Pat. No. 3,998,601, wherein a 2-12 μm copper layer is laminated on a conventional thick copper foil (35-70 μm) and separated by a release layer. After laminating the synthetic foil on the substrate, the supporting copper foil is peeled off mechanically, leaving only 2-12 μm thin foil prepared for the processing of the electric circuit. This method is possible because part of the thin foil is removed when the support foil is peeled off.

본 발명에서는 에칭문제를 완전히 다른 방법으로 해결한다. 회로선을 만들기 위해, 동박을 에칭하는 것이 아니라 회로선을 레지스트에 의해 정의된 트렌치(trenches)내의 매우 얇은 도전층 위에 전기적층한다. 이 방법은 다층회로기판의 외부 회로층을 형성하는데 뿐만 아니라 내부 층이나 단면 혹은 양면의 회로기판을 제조하는데에도 특별한 장점을 가진다.In the present invention, the etching problem is solved in a completely different way. To make the circuit lines, rather than etching the copper foil, the circuit lines are electrically layered over a very thin conductive layer in the trenches defined by the resist. This method has particular advantages not only in forming the outer circuit layer of the multilayer circuit board but also in the fabrication of the inner layer, single sided or double sided circuit board.

본 발명의 일면에서, 본 발명은 경화된 포토레지스트에 의해 정의된 영역의 얇은 도전층 위에 구리를 공급하는 것에 의해 비도전성 기판위에 매우 좁은 회로를 형성하는 새로운 방법이다. 이것은 비도전성 기판에 도전성 금속, 도전성 금속들 혹은 도전성 합금을 공급함으로써 가능해진다. 도전성 금속, 도전성 금속들 혹은 도전성 합금은 동박판에 공급된 후, 동박을 기판에 적층하여 구리와 기판 사이에 도전성 금속층이 형성된다. 기판과의 접착능력을 향상시키기 위해 동박이 처리되는 경우, 상기 처리 전이나 후에 도전성 금속이 동박에 공급된다. 회로기판 공정중, 동박이 에칭되어 얇은 도전성 금속이 에칭된 위치에 남게 된다. 포토레지스트는 공급, 이미지화, 및 경화된다. 경화되지 않은 레지스트는 제거되어 회로선이 형성되는 영역이나 트렌치가 정의된다. 도전층이 노출되기 때문에, 상기 영역에 회로선을 선택적으로 형성하는 것이 가능하게 된다. 마지막으로, 경화된 포토레지스트가 제거되고 노출된 도전성 금속층이 화학에칭에 의해 제거되어 최후의 회로만이 남게 된다.In one aspect of the present invention, the present invention is a novel method of forming a very narrow circuit on a nonconductive substrate by supplying copper over a thin conductive layer in a region defined by a cured photoresist. This is made possible by supplying a conductive metal, conductive metals or a conductive alloy to the nonconductive substrate. The conductive metal, the conductive metals or the conductive alloy are supplied to the copper foil plate, and then the copper foil is laminated on the substrate to form a conductive metal layer between the copper and the substrate. When copper foil is processed in order to improve the adhesiveness with a board | substrate, a conductive metal is supplied to copper foil before or after the said process. During the circuit board process, the copper foil is etched to leave the thin conductive metal in the etched position. The photoresist is fed, imaged, and cured. The uncured resist is removed to define the area or trench where the circuit lines are formed. Since the conductive layer is exposed, it is possible to selectively form a circuit line in the region. Finally, the cured photoresist is removed and the exposed conductive metal layer is removed by chemical etching leaving only the last circuit.

동박과 도전성 금속을 특별히 한정되지 않는 방법, 즉 전해 적층, CVD(Chemical Vapor Deposition), 무전해 적층 및 스퍼터링(sputtering)과 같은 종래의 방법에 의해 각 표면에 공급하는 것은 이미 잘 알려진 사실이다.It is well known that copper foil and conductive metal are supplied to each surface by conventional methods such as electroless lamination, chemical vapor deposition (CVD), electroless lamination and sputtering.

바람직한 실시예에서, 무전해 구리도금이 회로의 전기적층 전에 도전성 금속층을 덮는다.In a preferred embodiment, electroless copper plating covers the conductive metal layer before the electrical layer of the circuit.

도 1은 다층회로기판에 적용된 본 발명의 공정의 블록도.1 is a block diagram of the process of the present invention applied to a multilayer circuit board.

도 2는 다층회로기판에 대한 종래 공정의 블록도.2 is a block diagram of a conventional process for a multilayer circuit board.

도 3은 다층회로기판에서 종래의 회로선과 본 발명의 회로선을 비교하는 단면도.3 is a cross-sectional view comparing a conventional circuit line and the circuit line of the present invention in a multilayer circuit board.

본 발명은 인쇄회로기판을 제조하는 새로운 공정과 상기 공정에 의해 제조되는 기판을 포함한다. 공정은 종래의 방법을 채용하지만 특히 회로선이 종래 공정에서 보다 더욱 정확하게 형성된다는 장점을 가진다. 따라서, 더 미세한 회로선이 형성되어 기판 위에 회로를 더욱 조밀하게 형성할 수 있게 된다.The present invention includes a novel process for manufacturing a printed circuit board and a substrate produced by the process. The process employs conventional methods but in particular has the advantage that the circuit lines are formed more accurately than in conventional processes. Thus, finer circuit lines can be formed, making it possible to form circuits more densely on the substrate.

동박위에 금속을 전기적층하는 것은 종래의 방법이다. 예를 들면, 제5,437,914호 특허에서 노듈라적층구리(nodular deposit copper)는 동박의 매끄러운 측면에 형성되어 그 측면을 거칠게함으로써 절연기판으로의 부착을 향상시킨다. 계류중인 미국특허 출원번호 제08/517,321에서, 측정된 거칠기는 변하지 않지만 부착을 향상시키기 위해 미세적층을 동박위에 위치시킨다. 유사접근이 미국특허 제5,482,784에 개시되어 있다.Electrical layering of metal on copper foil is a conventional method. For example, in Patent No. 5,437,914, nodular deposit copper is formed on the smooth side of a copper foil to roughen the side to improve adhesion to an insulating substrate. In pending US patent application Ser. No. 08 / 517,321, the measured roughness does not change but the microlamination is placed on the copper foil to improve adhesion. Similar access is disclosed in US Pat. No. 5,482,784.

오메가전기(Ohmega Electronics)에 양도된 일련의 특허(예, 미국특허 제4,808,967호)에 인쇄회로기판의 표면위에 저항(resistor)을 형성하는 기술이 논의되고 있다. 이 기술은 동박의 표면 위에 니켈-인층이 전기적으로 형성된 후 절연기판에 적층된다. 니켈-인층은 전형적인 도전층으로 작용하기 보다는 오히려 회로설계에서 저항을 필요로 하는 곳의 덮개구리(covering cooper)를 선택적으로 에칭하는 것에 의해 노출된다.A series of patents assigned to Ohmega Electronics (eg US Pat. No. 4,808,967) discusses the art of forming a resistor on the surface of a printed circuit board. In this technique, a nickel-phosphorus layer is electrically formed on the surface of a copper foil and then laminated to an insulating substrate. The nickel-phosphorus layer is exposed by selectively etching the covering cooper where it requires resistance in the circuit design rather than acting as a typical conductive layer.

본 발명의 공정은 구리를 선택적으로 에칭하여 회로선을 형성하는 종래의 공정과는 명백하게 다르다. 상술한 바와 같이, 화학적 에칭은 회로선이 좁아지고 그 피치가 가깝게 형성되는 문제가 발생하는 특유의 제한이 있다. 본 발명의 새로운 공정은 포토레지스트의 사용에 의해 형성된 공간에 직접 회로선을 적층하여 구리의 전기적층에 의해 채워진 트렌치를 남긴다. 이것은 덮개 동박캐리어가 제거되었던 기판위에 남겨진 도전층에 의해 형성된다. 본 발명의 공정은 기판 표면의 층이 저항으로서 작용하는 오메가전기의 발명과는 명백하게 다르다.The process of the present invention is clearly different from the conventional process of selectively etching copper to form circuit lines. As described above, chemical etching has a unique limitation in that a problem occurs in that the circuit line is narrowed and the pitch is formed close. The new process of the present invention stacks circuit lines directly in the space formed by the use of photoresist, leaving trenches filled by the electrical layer of copper. This is formed by the conductive layer left on the substrate from which the cover copper foil carrier has been removed. The process of the present invention is clearly different from the invention of omega electrics in which a layer on the substrate surface acts as a resistance.

다층회로기판의 외부 층에 적용된 본 발명의 공정이 도 1에 블록도로 도시되어 있다. 제1단계에서, 동박이 도전성 금속의 합성용융조를 통과하여 동박의 일표면 위 및 매트(matte)나 매끄러운(shiny)측면에 약 0.2-5μm 두께로 전기 적층된다. 전에 정의했듯이, 도전성 금속의 공급의 이전 혹은 이후에, 동박이 처리(노듈라구리의 형성과 같은)되어 절연기판과의 부착력이 향상된다. 주석, 니켈, 주석-아연, 아연-니켈, 주석-구리 등과 같이 후속 단계에서 구리를 제거하는데 사용되는 에천트에 저항력을 갖고 있는 금속이나 합금을 주로 사용한다. 전기적층공정의 조건은 동박위에 금속코딩을 형성하기 위해 상업적으로 사용되는 일반적인 공정이다.The process of the invention applied to an outer layer of a multilayer circuit board is shown in block diagram in FIG. In the first step, the copper foil is passed through a synthetic molten bath of conductive metal to be electrically laminated on one surface of the copper foil and about 0.2-5 μm thick on a matte or shiny side. As previously defined, before or after the supply of the conductive metal, the copper foil is treated (such as the formation of nodular copper) to improve adhesion to the insulating substrate. Metals or alloys that are resistant to etchant used to remove copper in subsequent steps, such as tin, nickel, tin-zinc, zinc-nickel, tin-copper, etc., are mainly used. The conditions of the electrical layer process are common processes used commercially to form metal coding on copper foil.

제2단계에서, 코딩된 동박은 종래의 기술을 사용하여 도전성 금속이 에폭시수지가 보강된 유리와 같은 절연기판과 인접하도록 상기 기판에 적층된다.In a second step, the coded copper foil is laminated to the substrate such that the conductive metal is adjacent to an insulating substrate such as glass reinforced with epoxy resin using conventional techniques.

다음 단계에서, 동박이 에칭되어 기판 표면에 매립된 얇은 층의 도전성 금속이 형성된다. 이러한 목적을 위해, 구리는 제거하지만 도전층의 금속은 제거할 수 없는 에천트를 사용한다. 이러한 에천트로는 암모니아성 염화구리(ammoniacal cupric chloride)가 있다. 예전에는 얇은 동박이 알루미늄 지지층으로부터 공급되어 상기와 유사한 방법에 의해 알루미늄이 에칭되었다. 본 공정의 장점은 구리가 원상복구가능하고 용융된 알루미늄에 의한 오염이 발생하지 않는다는 것으로, 본 발명의 공정에서 알루미늄이 구리로 대치되는 경우 이러한 현상이 발생한다. 구리가 에칭되면, 도전성 금속층(혹은 합금층)은 노출되어 포토레지스트의 공급, 이미지화 및 경화를 위해 준비된다.In the next step, the copper foil is etched to form a thin layer of conductive metal embedded in the substrate surface. For this purpose, an etchant is used that removes copper but not the metal of the conductive layer. Such etchant is ammoniacal cupric chloride. In the past, thin copper foil was supplied from an aluminum support layer to etch aluminum by a similar method. The advantage of this process is that the copper is resilient and contamination by molten aluminum does not occur, which occurs when aluminum is replaced by copper in the process of the present invention. Once the copper is etched, the conductive metal layer (or alloy layer) is exposed and ready for supply, imaging and curing of the photoresist.

본 발명의 공정에서, 경화되지 않은 포토레지스트는 제거되어 회로선이 형성될 트렌치를 노출시킨다. 경화된 포토레지스트가 더 정확하게 회로선을 정의하고 트렌치에 채워진 구리가 노출된 영역의 구리의 에칭에 의해 형성된 회로선 보다 더욱 더 이상적인 직사각형 형상으로 된다는 것은 이미 잘 알려진 사실이다. 이것은 회로선의 형상이 에칭공정에 의해 결정되지 않기 때문에 더욱 미세한 회로선이 형성될 수 있다는 것을 의미한다. 결과적으로, 본 발명에 의한 공정은 4mil(100μm)의 회로선 및 공간을 약 1mil(25μm)까지 감소시킬 수 있다.In the process of the present invention, the uncured photoresist is removed to expose the trench in which the circuit lines are to be formed. It is well known that the cured photoresist more accurately defines the circuit lines and becomes even more ideal rectangular shape than the circuit lines formed by etching copper in the exposed areas of the copper filled in the trenches. This means that finer circuit lines can be formed because the shape of the circuit lines is not determined by the etching process. As a result, the process according to the present invention can reduce circuit and space of 4 mils (100 μm) to about 1 mil (25 μm).

구리는 다층회로기판의 외부면 위에 구리를 도금하는 종래의 방법을 사용하여 전기 적층된다. 기판의 표면에 매립된 얇은 층의 금속이 충분한 도전성을 가질 때, 이러한 방법이 가능하게 된다. 도전성이 충분하지 않다면, 회로선의 전기 적층을 촉진하는 무전해 구리도금이 사용될 것이다. 구리는 트렌치의 형상을 결정하는 포토레지스트의 두께까지 원하는 두께로 적층될 수 있다. 상기 전기적층의 조건은 종래의 전기 적층조건이 사용된다.Copper is electrically laminated using conventional methods of plating copper on the outer surface of a multilayer circuit board. This method is possible when a thin layer of metal embedded in the surface of the substrate has sufficient conductivity. If the conductivity is not sufficient, electroless copper plating will be used to facilitate electrical lamination of the circuit lines. Copper may be laminated to a desired thickness up to the thickness of the photoresist, which determines the shape of the trench. Conventional electrical lamination conditions are used as the electrical layer conditions.

이때, 회로선이 형성된다. 노출되는 도전성 금속층이 염화구리(acid cupric chloride) 혹은 과산화황과 같은 에천트에 의해 제거된 후, 포토레지스트가 종래의 방법에 의해 제거된다.At this time, a circuit line is formed. After the exposed conductive metal layer is removed by an etchant such as acid cupric chloride or sulfur peroxide, the photoresist is removed by conventional methods.

본 발명의 특정한 단계(예를 들면, 도 1에 나타낸 것과 같은)는 상업적으로 실행 가능한 다른 순서에 의해 이행될 수 있다는 것은 이미 잘 알려진 사실이다. 특히, 적층에 도전층을 형성하는 단계에 이어지는 단계는 작업자가 실행하는 방법이 무엇이든 간에 이행 가능하다.It is well known that certain steps of the invention (eg, as shown in FIG. 1) may be carried out in other commercially viable sequences. In particular, the steps following the step of forming the conductive layer in the lamination may be implemented in whatever method the operator performs.

본 발명은 다층회로기판의 외부층을 제조하는데 있어서 특이값을 가진다. 다층회로기판은 일반적으로 구리가 무전해도금된 후 전기도금에 의해 회로선이 형성된 외부층과 내부층을 연결하는 홀을 보유한다. 일반적인 순서를 도 2의 블록도에 도시하였다. 동박은 프리프렉(prepreg)의 중간층과 함께 내부 회로층에 적층되지만, 에칭되지는 않는다. 무전해도금에 의해 박 위 및 상기 층을 연결하는 홀 아래에 구리가 적층된다. 그후, 레지스트가 공급되고 구리회로선이 전기적층된다. 이때, 과도한 동박은 에칭에 의해 제거되어야만 한다. 그러나, 회로선과 도금된 홀은 주석과 같은 저항금속을 전기적층하여 보호해야만 한다. 그후, 레지스트가 제거되고 노출된 동박이 에칭된다. 이러한 단계는 회로선의 측면이 부착되는 주석에 의해 보호받지 못하는 원인이 된다. 본 발명에서는, 얇은 도전층을 제거하는 것만이 필요하기 때문에 주석을 적층할 필요가 없게 되어 공정이 매우 빠르게 진행된다. 특히, 주석을 공급하고 제거하기 위해 필요로 하는 용액처리비용의 발생을 방지할 수 있게 된다.The present invention has a singular value in manufacturing the outer layer of the multilayer circuit board. Multilayer circuit boards generally have holes connecting the outer and inner layers where circuit lines are formed by electroplating after copper is electroless plated. The general sequence is shown in the block diagram of FIG. The copper foil is laminated to the inner circuit layer together with the intermediate layer of prepreg, but is not etched. Copper is deposited on the foil and under the holes connecting the layers by electroless plating. Thereafter, resist is supplied and the copper circuit lines are electrically layered. At this time, excessive copper foil must be removed by etching. However, circuit lines and plated holes must be electrically layered and protected from resistive metals such as tin. Thereafter, the resist is removed and the exposed copper foil is etched. This step causes the side of the circuit to be unprotected by the attached tin. In the present invention, since only the thin conductive layer is needed to be removed, it is not necessary to laminate tin, and the process proceeds very quickly. In particular, it is possible to prevent the occurrence of the solution treatment cost required to supply and remove tin.

도 3은 본 발명의 공정에 의해 형성된 실질적인 직사각형상의 회로선과 종래의 에칭공정에 의한 다층회로기판의 외부층에 형성된 회로선을 비교하여 나타낸 도면이다. 종래에는 회로선을 형성한 후, 동박을 에칭하기 때문에 회로선이 심하게 언더컷(undercut)되어 있다(상부는 주석코딩에 의해 보호되고 있음).3 is a view showing a comparison between a substantially rectangular circuit line formed by the process of the present invention and a circuit line formed on the outer layer of the multilayer circuit board by a conventional etching process. Conventionally, since a copper foil is etched after forming a circuit line, a circuit line is severely undercut (the upper part is protected by tin coding).

본 발명의 공정은 더욱 정확한 회로선의 제조를 가능하게 하므로, 회로설계자가 에칭에 의한 회로의 형성시 부정확성에 대한 보정을 할 필요가 없게 된다. 이것은 형성된 회로가 더 작아지고 컴팩트해지는 것을 의미한다. 공정은 회로기판제조기술과 유사한 기술을 사용하기 때문에 기술상의 많은 변화가 발생하지 않는다. 사실, 본 발명의 공정이 적용되는 제조공정은 경우 간단하게 될 것이다.The process of the present invention enables more accurate fabrication of the circuit line, so that the circuit designer does not have to correct for inaccuracies in forming the circuit by etching. This means that the circuit formed is smaller and more compact. Since the process uses a technology similar to the circuit board manufacturing technology, many changes in technology do not occur. In fact, the manufacturing process to which the process of the present invention will be applied will be simplified.

Claims (10)

(a) 동박판 위에 구리를 제거하기 위해 사용되는 에천트에 대해 저항력을 갖는 도전성 금속층을 형성하는 단계;(a) forming a conductive metal layer resistant to the etchant used to remove copper on the copper foil; (b) 프리프렉이나 필름기판에 단계(a)의 동박판을 포함하는 도전성 금속을 적층하는 단계;(b) laminating a conductive metal comprising the copper foil of step (a) on the prepreg or film substrate; (c) 단계(b)에서 생성된 적층으로부터 동박을 에칭하여 상기 프리프렉이나 필름기판의 표면에 매립된 도전성 금속을 남기는 단계;(c) etching the copper foil from the laminate produced in step (b) to leave a conductive metal embedded in the surface of the prepreg or film substrate; (d) 도전성 금속과 단계(c)에서 생성된 기판 위에 포토레지스트를 공급, 이미지화, 경화하는 단계;(d) supplying, imaging and curing the photoresist over the conductive metal and the substrate produced in step (c); (e) 단계(d)의 포토레지스트를 제거하여 노출된 도전성 금속을 가지는 트렌치를 남기는 단계;(e) removing the photoresist of step (d) to leave a trench with exposed conductive metal; (f) 단계(e)의 노출된 도전성 금속 위에 구리를 공급하여 회로선을 형성하는 단계; 및(f) supplying copper over the exposed conductive metal of step (e) to form a circuit line; And (g) 도전성 금속을 노출시키고 상기 노출된 도전성 금속을 에칭하도록 단계(d)의 경화된 포토레지스트를 제거하여 상기 기판 위에 회로선을 생성하는 단계를 포함하여 구성된 회로선 형성방법.(g) removing the cured photoresist of step (d) to expose the conductive metal and etch the exposed conductive metal to produce a circuit line on the substrate. 제1항에 있어서, 상기 도전성 금속층은 0.2-5μm의 두께인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 1 wherein the conductive metal layer is 0.2-5 μm thick. 제1항에 있어서, 상기 도전성 금속이 전해도금에 의해 동박위에 공급되는 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 1, wherein the conductive metal is supplied onto the copper foil by electroplating. 제1항에 있어서, 상기 도전성 금속이 CVD(Chemical Vapor Deposition)에 의해 동박 위에 공급되는 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 1, wherein the conductive metal is supplied onto the copper foil by chemical vapor deposition (CVD). 제1항에 있어서, 상기 도전성 금속이 무전해도금에 의해 동박위에 공급되는 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 1, wherein the conductive metal is supplied to the copper foil by electroless plating. 제1항에 있어서, 상기 도전성 금속이 스퍼터링에 의해 동박위에 공급되는 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 1, wherein the conductive metal is supplied to the copper foil by sputtering. 제1항에 있어서, 상기 도전성 금속이 주석, 니켈, 주석-아연, 아연-니켈 및 주석-구리로 구성된 일군으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 1 wherein the conductive metal is selected from the group consisting of tin, nickel, tin-zinc, zinc-nickel and tin-copper. 제1항, 2항, 3항, 4항, 5항, 6항 또는 7항의 방법에 의해 회로선이 형성된 기판을 포함하여 구성된 적층.A stack comprising a substrate on which circuit lines are formed by the method of claim 1, 2, 3, 4, 5, 6, or 7. 제8항에 있어서, 상기 기판은 다층회로기판의 내부층인 것을 특징으로 하는 적층.The stack of claim 8, wherein the substrate is an inner layer of the multilayer circuit board. 제1항, 2항, 3항, 4항, 5항, 6항 또는 7항의 방법에 의해 기판을 제조하기 위해 사용되는 동박.Copper foil used for manufacturing a board | substrate by the method of Claim 1, 2, 3, 4, 5, 6, or 7.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100756751B1 (en) * 2006-02-21 2007-09-07 엘에스전선 주식회사 Copper foil for super fine pitch printed circuit board

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