KR19980072996A - Pcb기판 검사장치 및 pcb기판 검사방법 - Google Patents

Pcb기판 검사장치 및 pcb기판 검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR19980072996A
KR19980072996A KR1019970008028A KR19970008028A KR19980072996A KR 19980072996 A KR19980072996 A KR 19980072996A KR 1019970008028 A KR1019970008028 A KR 1019970008028A KR 19970008028 A KR19970008028 A KR 19970008028A KR 19980072996 A KR19980072996 A KR 19980072996A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
camera
pcb
sub
pcb substrate
main camera
Prior art date
Application number
KR1019970008028A
Other languages
English (en)
Inventor
이상의
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019970008028A priority Critical patent/KR19980072996A/ko
Publication of KR19980072996A publication Critical patent/KR19980072996A/ko

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은 검사될 PCB기판을 향해 조명하는 조명수단과, 상기 PCB기판으로 부터의 반사광을 수광하는 메인카메라와, 상기 메인카메라로 부터의 형상을 처리하는 비젼처리부를 갖는 PCB기판 검사장치 및 이 PCB기판 검사장치의 PCB기판 검사방법에 관한 것으로서, 상기 메인카메라와 상이한 배율을 가지고 상기 비젼처리부와 연결된 서브카메라와; 상기 PCB기판으로부터 상기 메인카메라를 향한 반사광을 분기하여 상기 서브카메라에 제공하는 스플릿부를 포함한다. 이에 의해 PCB기판상의 납땜부의 품질을 보다 빠른시간내에 정확하고 용이하게 판단할 수 있게 된다.

Description

PCB기판 검사장치 및 PCB기판 검사방법
본 발명은 PCB기판 검사장치 및 이 PCB기판 검사장치의 PCB기판 검사방법에 관한 것이다.
전자제품의 PCB기판상에는 납땜에 의한 다수의 회로용 부품이 장착되게 되며, 이러한 작업은 실장기의 부품장착장치를 통하여 수행되게 된다. 도 2는 PCB기판의 부분단면도로서, 이 도면에서는 도시않은 실장기의 부품장착장치에 의해 부품(57)이 PCB기판상에 정상적으로 장착되어 있는 상태가 도시되어 있다. 부품(57)의 장착은, PCB기판상에 배열된 도시않은 패드상에 부품(57)의 리드(59)를 위치설정시킨 상태에서 크림솔더(Cream solder) 즉, 납을 소정 온도로 녹여 패드와 리드(59)를 상호 고착시킴으로써 완성되게 된다.
그런데, PCB기판상에는, 도 3을 통해 볼 수 있는 바와 같이, 공정상의 실수 등에 따라 부품(57)의 불량납땜부가 형성될 수 있으며, 또한, 초기 시료납의 양이나 납땜시 가열조건에 따라 매우 다양한 형상의 납땜부(55)가 형성되게 된다. 납땜부(55)의 표면은 경면(鏡面)으로 형성되게 되며, 후술할 PCB기판 검사장치는 이러한 PCB기판(51)의 납땜부(55)의 품질상태를 자동적으로 검사하여 양부를 판단하게 된다.
PCB기판 검사장치는, PCB기판을 검사하는 방법에 따라 다양한 종류의 것들이 제안되어 있으며, 도 4 내지 도 6은 각각 종래의 PCB기판 검사장치의 개략적 구성도이다. 이들 도면에서 볼 수 있는 바와 같이, 각 PCB기판 검사장치(61, 71, 81)는, 경면의 납땜부(55)를 비추는 조명시스템(65, 75, 85)과 이 조명시스템(65, 75, 85)에 의해 조명된 납땜부(55)를 촬상하는 동시에 도시않은 비젼처리부에 송상하여 이미지화 시키는 촬상용 CCD카메라(63, 73, 83)로 구성되어 있다. 비젼처리부에 이미지화되는 납땜부(55)의 품질은 작업자 또는 제어부의 학습 즉, 납땜부(55)의 외관형상으로 나타나는 그 높이분포나 경사도의 분포를 통하여 크게 양부로 판정되게 된다.
도 4에서 볼 수 있는 PCB기판 검사장치(61)는, 단일의 고정된 조명시스템(65) 즉, 광원과 선회방향을 따라 유동가능하게 설치된 CCD카메라(63)를 가지며, CCD카메라(63)는, 고정된 조명시스템(65)에 의해 납땜부(55)의 표면에서 각 방향으로 반사되는 빛을 선회유동하며 인식하게 된다. 한편, 도 5의 PCB기판 검사장치(71)는, 단일의 고정된 조명시스템(75)과 선회방향을 따라 유동가능하게 설치된 CCD카메라(73)로 구성되며, 선회유동하는 조명시스템(75)에 의해 납땜부(55)의 표면으로부터 반사되는 빛을 고정된 CCD카메라(63)가 인식하게 된다. 조명시스템(65)으로부터 납땜부(55)를 향해 입사되는 빛은 표면의 법선에 대해 일정방향으로 반사되기 때문에, 납땜부표면의 높이나 경사도 분포는, 방향을 알고 있는 조명을 적절히 비추고 대응하여 반사되는 빛을 CCD카메라(63, 73)가 인식확인함으로써 측정될 수 있게 된다.
그런데, 이들 검사장치(61, 71)는, 납땜부(55)의 품질이 조명시스템(65, 75) 또는 CCD카메라(63, 73)의 이동에 의해 검사되기 때문에, 그 이동위치로 부터의 각 송상을 이미지화된 영상으로 분석처리하여야 하며, 따라서, 검사처리시간이 오래 걸리게 되고 또한, 구성상에 따른 고가장비에 의해 제작비용이 증대되게 된다.
그래서, 이러한 문제점을 보완하여 도 6에서 볼 수 있는 바와 같은 PCB기판 검사장치(81)가 제안되어 있다. 도 6의 PCB기판 검사장치(81)는, 고정된 CCD카메라(83)와 이 고정된 카메라(83)의 동일축선상에 층상으로 배치되는 조명시스템(85)을 가지고 있다. 조명시스템(85)은, 각 층별로 배치되는 원형 색상램프(87) 즉, 고주파 형광등으로 구성되어 있으며, 각 층상의 색상램프(87)들은 상부로부터 순차적으로 파랑, 빨강, 녹색의 색상광을 각각 조사할 수 있도록 배치되어 있다. 이들은 하측에 고정되는 PCB기판(51)에 대하여 각기 높이 및 직경이 상이하므로, 입사되는 빛에 따른 납땜부(55)로 부터의 반사각이 상이하며, 이에 따라, CCD카메라(83)를 통해 납땜부(55)의 표면경사도 및 높이에 따른 각기 다른 색상의 영상을 얻을 수 있게 된다. 이렇게 얻은 영상은, 납땜부(55)의 3차원적인 형상특성을 내포하고 있으므로, 이들로부터 실제형상을 유추할 수 있게 되는 것이다.
그런데, 이러한 종래의 PCB기판 검사장치(81)에서는, 일정한 배율을 가지는 단일의 CCD카메라(83)에 의해 양부를 판단하기 곤란한 납땜부(55)가 존재할 수 있으며, 이에 따라 판정이 곤란한 납땜부(55)를 국부적으로 세밀검사하기 위하여 CCD카메라(83)의 배율을 조정하거나 별도의 세밀검사시스템을 추가로 마련하거나 하는 등의 번거로운 문제가 발생하게 된다. 또한, PCB기판상의 부품(57)은 그 특성에 따라 다양한 색상을 가지게 되는데, 상기한 PCB기판 검사장치(81)의 조명시스템(85)은, 점멸조작이 가능하지 아니한 형광등타입으로 구성되어 있어서, 컬러형상으로 구현되는 납땜부(55)와 부품(57)과의 색상구별이 곤란한 경우가 왕왕발생하며, 이에 따라 납땜부의 품질의 판단이 용이하지 아니하고, 정확도가 저하될 수 있다는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은, 종래의 PCB기판 검사장치가 일정한 배율을 가지는 단일의 카메라만을 가지고 있어 이에 따라, 양부를 판단하기 곤란한 납땜부가 필연적으로 존재할 수밖에 없다는 문제점을 고려하여, 카메라의 배율조정이 필요없으며 또한, 추가의 세밀검사시템의 도움없이도 용이하게 국부적인 세밀조사를 수행할 수 있는 PCB기판 검사장치 및 PCB기판 검사방법을 제공하는 것이다.
한편, 본 발명의 다른 목적은, 부품의 색상에 따른 점멸조작이 가능하여, CCD카메라가 피사체인 시료납땜부의 형상을 보다 정확하게 송상할 수 있도록 한 PCB기판 검사장치 및 PCB기판 검사방법을 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 PCB기판 검사장치의 구성도,
도 2는 정상적인 부품장착상태를 나타낸 PCB기판의 사시도,
도 3은 불량부품장착상태를 나타낸 PCB기판의 부분측단면도,
도 4 내지 도 6은 각각 종래의 PCB기판 검사장치를 개략적으로 나타낸 구성도이다.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : PCB기판 검사장치 3 : 제어부
5 : 고정부 7 : 비젼처리부
11 : 조명부 13 : 메인카메라
15 : 서브카메라 17 : 스플릿부
19 : 경통 27 : 빔스플리터
29 : 반사경 31 : 조명시스템
33 : 조명케이스 35, 37, 39 : LED램프
51 : PCB기판 55 : 납땜부
59 : 부품리드
상기 목적은, 본 발명에 따라, 검사될 PCB기판을 향해 조명하는 조명수단과, 상기 PCB기판으로 부터의 반사광을 수광하는 메인카메라와, 상기 메인카메라로 부터의 형상을 처리하는 비젼처리부를 갖는 PCB기판 검사장치에 있어서,상기 메인카메라와 상이한 배율을 가지고 상기 비젼처리부와 연결된 서브카메라와; 상기 PCB기판으로부터 상기 메인카메라를 향한 반사광을 분기하여 상기 서브카메라에 제공하는 스플릿부를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치에 의하여 달성된다.
여기서, 상기 스플릿부는, 상기 PCB기판에 대응하는 단일의 광입사구와, 상기 메인카메라 및 상기 서브카메라에 각각 대응하는 광출사구를 가지며, 내부에 광입사구와 각 광출사구를 상호 연통시키는 광경로를 형성하는 경통과; 상기 메인카메라의 수직하방에 상기 PCB기판으로 부터의 광경로상에 배치되는 빔스플리터와; 상기 서브카메라의 수직하방에 배치되어 상기 빔스플리터로 부터의 반사광을 상기 서브카메라를 향해 반사시키는 반사경을 포함하여 간단히 구성하는 것이 바람직하다.
이 때, 상기 서브카메라는 미세검사용 고배율카메라로 구성하는 것이 바람직하며, 상기 메인카메라 또는 상기 서브카메라는 자동줌렌즈를 장착하여 구성하면, 간단한 구성으로 PCB기판의 피사부를 용이하게 미세검사할 수 있다. 또한, 상기 메인카메라 또는 상기 서브카메라는 컬러겸용을 구성하여, PCB기판의 피사부를 컬러영상으로 구현할 수 있음은 물론이다.
한편, 상기 조명수단은, 상기 PCB기판에 수직방향의 공동축선상에 층상으로 배치되어 상기 PCB기판상의 부품을 상이한 각도로 조명하는 복수개의 LED램프로 구성하는 것이 바람직하다. 이 때, 상기 각 층별 LED램프는 원형상으로 원형배치되며; 상기 원형 층상배치된 LED램프를 상기 메인카메라의 하단에 고정지지하는 조명케이스를 포함하여 간단히 구성할 수 있다. 그리고, 상기 원형 층상의 LED램프를 각 층별로 선택적으로 점멸시키는 조명콘트롤러를 더 포함하여 구성하여, LED램프의 자동제어를 도모할 수 있다. 이 때, 상기 원형 층상의 LED램프는 각 층별로 빨강, 파랑, 녹색을 발광하도록 색상램프로 구성하는 것이 바람직하다.
한편, 본발명의 다른 분야에 따르면, 상기 목적은, 검사될 PCB기판을 향해 조명하는 조명수단과, 상기 PCB기판으로 부터의 반사광을 수광하는 메인카메라와, 상기 메인카메라로 부터의 형상을 처리하는 비젼처리부를 갖는 PCB기판 검사장치의 PCB기판검사방법에 있어서, 상기 메인카메라와 상이한 배율을 가지며 상기 비젼처리부와 연결된 서브카메라를 마련하는 단계와; 상기 PCB기판으로부터 상기 메인카메라를 향한 상기 반사광을 상기 서브카메라에 분기제공하는 단계와; 상기 메인카메라 또는 상기 서브카메라로 부터의 영상을 상기 비젼처리부에 구현하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사방법에 의하여 달성된다.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 PCB기판 검사장치의 구성도이다. 본 PCB기판 검사장치(1)는, 기 공정인 도시않은 부품장착장치로부터 제공된 PCB기판(51)을 고정지지하는 고정부(5)와, 고정지지된 PCB기판(51)을 조명하는 조명시스템(31)과, 조명시스템(31)에 의해 조명된 PCB기판(51)을 촬상하는 촬상부(11) 및 촬상부(11)로 부터의 송상을 영상처리하는 비젼처리부(7)로 구성되어 있다. 이러한 PCB기판 검사장치(1)는 제어부(3)에 의하여 작동제어되게 된다.
촬상부(11)는 고정부(5)의 상측에 소정의 이격거리를 두고 마련되며, 기립방향으로 마련된 한 쌍의 CCD카메라(13, 15)와 PCB기판(51)으로 부터의 광학상을 각 CCD카메라(13, 15)에 각각 분기출사시키는 스플릿부(17)로 구성되어 있다. 이하에서는 설명의 용이함을 위하여 고정된 PCB기판(51)의 수직상방에 하향 배치된 것을 메인카메라(13)라 하고, 메인카메라(13)의 일측에 평행하게 마련된 것을 서브카메라(15)라 하기로 한다.
한편, 스플릿부(17)는, PCB기판(51)에 대응하는 단일의 광입사구(21)와, 메인카메라(13) 및 서브카메라(15)의 입사구에 각각 대응하는 광출사구(23, 25)를 가지며, 내부에 광입사구(21)와 각 광출사구(23, 25)를 상호 연통시키는 광경로를 형성하는 경통(19)과, 메인카메라(13)의 수직하방에 PCB기판(51)으로 부터의 광경로상에 배치되는 빔스플리터(27) 및 서브카메라(15)의 수직하방에 배치되어 빔스플리터(27)로 부터의 광학상을 서브카메라(15)를 향해 반사시키는 반사경(29)으로 구성되어 있다.
메인카메라(13)와 서브카메라(15)는 상호 상이한 배율로 구성되어 있으며, 서브카메라(15)는 미세검사용 고배율카메라로 구성되어 있다. 그리고, 빔스플리터(27)는, 입사되는 광선의 일부는 반사하고 다른 일부는 투과시키며, 경통내에 PCB기판(51)의 납땜부(55)로 부터의 광경로에 대하여 소정의 경사각을 가지고 배치되어 있어서, 도면상에 화살표로 도시되어 있는 바와 같이 납땜부(55)로 부터의 광학상을 메인카메라(13)로 투과시키는 동시에 서브카메라측으로 반사시킨다. 이에 의해 고정부(5)에 지지된 PCB기판(51)의 납땜부(55)로 부터의 광학상은, 상대적으로 저배율인 메인카메라(13)와 고배율인 서브카메라(15)에 의해 인식되어 각기 비젼처리부(7)에 2화면으로 영상처리되게 된다.
한편, 조명시스템(31)은, PCB기판(51)에 수직방향의 공동축선상에 층상으로 배치되어 PCB기판상의 납땜부(55)를 상이한 각도로 조명하는 복수개의 LED램프(35, 37, 39)로 구성되어 있다. 이러한 복수개의 LED램프(35, 37, 39)는 원형피라밋형상을 가지는 조명케이스(33)의 내벽면에 각 층별 원주방향을 따라 원형배치되어 있으며, 이 조명케이스(33)는 메인카메라(13)의 하단에 착탈가능하게 고정지지되어 있다. 그리고, 본 원형피라밋형상의 조명케이스(33)는 3층으로 구성되어 있으며, 최소경을 갖는 최상부 및 중앙부에는, 각각 LED램프(35, 37)가 조명케이스(33)의 내벽면의 원주방향을 따라 일렬로 배치되어 있고, 최하부에는 상하 이열로 LED램프(39)가 배치되어 있다.
각 층별로 배치된 LED램프(35, 37, 39)는 예를 들어, 최상부의 최소경을 갖는 LED램프(35)들은 기판의 수직선에 대해 20°의 각도로 납땜부(55)를 조명하도록 마련되어 있고, 중앙의 LED램프(37)들은 40°, 그리고, 최하부의 LED램프(39)들은 70°의 각도로 납땜부(55)를 조명하도록 설치되어 있다. 이에 따라 각 층별의 LED램프(35, 37, 39)들로 부터의 입사되는 빛은 납땜부(55)의 표면에서 입사-반사각의 원리에 따라 각기 일정한 반사각으로 반사되어, 경통(19)의 광입사구(21)로 입사되게 된다. 그래서, 메인카메라(13)와 서브카메라(15)에는 각각 해당하는 배율에 따른 납땜부(55)의 광학상이 인식될 수 있게 된다.
또한, 이러한 LED램프(35, 37, 39)들은, 종래의 도 6과 관련하여 설명한 바와 마찬가지로, 각 층별로 각기 별개의 색상 즉, 파랑, 빨강, 녹색의 색상광을 각각 조사하도록 구성할 수 있다. 예를 들어, 최상부는 파랑색을 조사하는 LED램프(35)를, 그리고 순차적으로 빨강, 녹색을 조사하는 LED램프(37, 39)를 배치시키면, PCB기판상의 10°의 경사도를 갖는 편편한 납땜부(55)의 표면은 파란색으로, 20°의 경사도를 갖는 약간 기울어진 표면은 빨간색으로, 그리고, 약 35°이상의 급경사를 가지는 표면은 녹색으로 구별되어 비젼처리부(7)에 구형되게 된다. 이에 따른 컬러형상은 납땜부(55)의 3차원적인 형상특성을 내포하고 있으므로, 이들로부터 실제형상을 유추할 수 있는 것이다.
한편, 각 층별 LED램프(35, 37, 39)는 작업자의 조작에 의해 선택적으로 점멸되도록 구성될 수 있으며, 또한, 조명컨트롤러(9)에 의하여 자동적으로 점멸제어되도록 구성할 수 있다. 즉, 품질을 검사하고자 하는 납땜부(55)의 경사도 및 높이분포는, 비젼처리부(7)에 컬러형상으로 구현되게 되는데, 이 때, 기판상의 부품의 색상에 따라 층별로 배치된 LED램프(35, 37, 39)를 선택적으로 점멸시키면, 판단하기 곤란한 납땜부(55)의 품질을 보다 정확하게 판정할 수 있게 된다.
이러한 구성에 의하여, 본 PCB기판 검사장치(1)는, 고정부(5) 즉, 수평방향으로 유동가능하게 설치된 X-Y테이블상에 PCB기판(51)이 지지되고, 외부조작이나 제어부(3)에 저장된 프로그램에 의하여 작동이 개시되면, 우선, 제어부(3)가 고정부(5)를 작동시켜, PCB기판상에 마련된 복수개의 납땜부들중 선정된 어느 일측의 납땜부(55)를 메인카메라(13)의 수직 하방에 배치시킨다. 그런 다음, 사용자의 조작 또는, 제어부(3)의 조명컨트롤러(9)에 의해 조명시스템(31)의 LED램프(35, 37, 39)가 선택적으로 점멸되어 PCB기판상의 납땜부(55)를 조명하게 된다. 그러면, 이에 따른 PCB기판상의 납땜부(55)로 부터의 광학상이 각 메인카메라(13)와 서브카메라(15)로 입사되게 된다.
입사된 광학상은, 비젼처리부(7)에 각각 2화면으로 구현되게 되며, 이 때, 상대적으로 고배율인 서브카메라(15)에 의해 형상화된 이미지는 메인카메라(13)의 그것보다 한정적으로 미세하게 구현되기 때문에, 사용자는 보다 용이하게 납땜부(55)의 품질을 검사할 수 있게 된다. 한편, 이러한 남땜부(55)의 품질은, 기 출원된 특허출원번호 제 95 - 61661호에 설명되어 있는 바와 마찬가지로, 도시않은 신경회로망 분류기의 프로그램화된 학습과정에 따라 적응학습방법(Adaptive learning mechanism)을 통하여 자동분석되도록 구성할 수 있다.
한편, 상술한 PCB기판 검사장치(1)에서는, 서로 상이한 배율로 구성되는 메인카메라(13) 및 서브카메라(15)를 통하여 PCB기판(51)의 납땜부(55)의 품질을 자동검사하는 것에 대하여 설명하였지만, 메인카메라(13)에 자동줌렌즈를 부착하여 납땜부(55)를 미세검사함으로써, 그 품질의 양부를 용이하게 판정할 수 있으며, 또한, 서브카메라(15)에도 메인줌렌즈를 부착함으로써, 상기한 동일목적을 달성할 수 있음은 물론이다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 종래 단일의 카메라에 의해 판단하기 곤란한 납땜부의 품질을 카메라의 배율을 조정하거나 추가의 세밀검사시스템을 마련함없이 용이하게 세밀조사할 수 있으며, 이에 따라 처리시간의 절감 및 정확한 판단을 할 수 있는 PCB기판 검사장치 및 PCB기판 검사방법이 제공되게 된다. 또한, 부품의 색상에 따른 조명시스템의 점멸조작이 가능하여 부품의 품질을 보다 정확하게 판단할 수 있다는 우수한 효과가 제공된다.

Claims (10)

  1. 검사될 PCB기판을 향해 조명하는 조명수단과, 상기 PCB기판으로 부터의 반사광을 수광하는 메인카메라와, 상기 메인카메라로 부터의 형상을 처리하는 비젼처리부를 갖는 PCB기판 검사장치에 있어서,
    상기 메인카메라와 상이한 배율을 가지고 상기 비젼처리부와 연결된 서브카메라와;
    상기 PCB기판으로부터 상기 메인카메라를 향한 반사광을 분기하여 상기 서브카메라에 제공하는 스플릿부를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 스플릿부는,
    상기 PCB기판에 대응하는 단일의 광입사구와, 상기 메인카메라 및 상기 서브카메라에 각각 대응하는 광출사구를 가지며, 내부에 광입사구와 각 광출사구를 상호 연통시키는 광경로를 형성하는 경통과;
    상기 메인카메라의 수직하방에 상기 PCB기판으로 부터의 광경로상에 배치되는 빔스플리터와;
    상기 서브카메라의 수직하방에 배치되어 상기 빔스플리터로 부터의 반사광을 상기 서브카메라를 향해 반사시키는 반사경을 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 서브카메라는 미세검사용 고배율카메라인 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치.
  4. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 메인카메라 또는 상기 서브카메라는 자동줌렌즈를 장착하여 구성하는 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치
  5. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 메인카메라 또는 상기 서브카메라는 컬러겸용인 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 조명수단은,
    상기 PCB기판에 수직방향의 공동축선상에 층상으로 배치되어 상기 PCB기판상의 부품을 상이한 각도로 조명하는 복수개의 LED램프인 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 각 층별 LED램프는 원형상으로 원형배치되며;
    상기 원형 층상배치된 LED램프를 상기 메인카메라의 하단에 고정지지하는 조명케이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 원형 층상의 LED램프를 각 층별로 선택적으로 점멸시키는 조명콘트롤러를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치.
  9. 제 7항 또는 제 8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 원형 층상의 LED램프는 각 층별로 빨강, 파랑, 녹색을 발광하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사장치.
  10. 검사될 PCB기판을 향해 조명하는 조명수단과, 상기 PCB기판으로 부터의 반사광을 수광하는 메인카메라와, 상기 메인카메라로 부터의 형상을 처리하는 비젼처리부를 갖는 PCB기판 검사장치의 PCB기판검사방법에 있어서,
    상기 메인카메라와 상이한 배율을 가지며 상기 비견처리부와 연결된 서브카메라를 마련하는 단계와;
    상기 PCB기판으로부터 상기 메인카메라를 향한 상기 반사광을 상기 서브카메라에 분기제공하는 단계와;
    상기 메인카메라 또는 상기 서브카메라로 부터의 영상을 상기 비젼처리부에 구현하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB기판 검사방법.
KR1019970008028A 1997-03-10 1997-03-10 Pcb기판 검사장치 및 pcb기판 검사방법 KR19980072996A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970008028A KR19980072996A (ko) 1997-03-10 1997-03-10 Pcb기판 검사장치 및 pcb기판 검사방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970008028A KR19980072996A (ko) 1997-03-10 1997-03-10 Pcb기판 검사장치 및 pcb기판 검사방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR19980072996A true KR19980072996A (ko) 1998-11-05

Family

ID=65985154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970008028A KR19980072996A (ko) 1997-03-10 1997-03-10 Pcb기판 검사장치 및 pcb기판 검사방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR19980072996A (ko)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100562409B1 (ko) * 1998-12-31 2006-06-21 삼성테크윈 주식회사 표면실장소자의 리드 상태 검사 방법 및 장치
KR101005591B1 (ko) * 2008-10-28 2011-01-05 (주)워프비전 통합 광학검사장치
KR101105679B1 (ko) * 2009-09-10 2012-01-18 주식회사 미르기술 비전검사장치
WO2018074907A1 (ko) * 2016-10-21 2018-04-26 주식회사 고영테크놀러지 복수의 상이한 패턴 광원의 설치가 가능한 패턴 광 조사 장치 및 검사 장치
KR20180057598A (ko) * 2018-05-21 2018-05-30 주식회사 고영테크놀러지 복수의 상이한 패턴 광원의 설치가 가능한 패턴 광 조사 장치 및 검사 장치
KR20200082608A (ko) * 2018-12-31 2020-07-08 주식회사 포휴 비전 검사 장치를 구비한 플렉서블 디스플레이 폴딩장치

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100562409B1 (ko) * 1998-12-31 2006-06-21 삼성테크윈 주식회사 표면실장소자의 리드 상태 검사 방법 및 장치
KR101005591B1 (ko) * 2008-10-28 2011-01-05 (주)워프비전 통합 광학검사장치
KR101105679B1 (ko) * 2009-09-10 2012-01-18 주식회사 미르기술 비전검사장치
WO2018074907A1 (ko) * 2016-10-21 2018-04-26 주식회사 고영테크놀러지 복수의 상이한 패턴 광원의 설치가 가능한 패턴 광 조사 장치 및 검사 장치
US10883824B2 (en) 2016-10-21 2021-01-05 Koh Young Technology Inc. Pattern light emitting device capable of having plurality of different pattern light sources installed thereon and inspection device
KR20180057598A (ko) * 2018-05-21 2018-05-30 주식회사 고영테크놀러지 복수의 상이한 패턴 광원의 설치가 가능한 패턴 광 조사 장치 및 검사 장치
KR20200082608A (ko) * 2018-12-31 2020-07-08 주식회사 포휴 비전 검사 장치를 구비한 플렉서블 디스플레이 폴딩장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100345001B1 (ko) 기판 납땜 검사용 조명 및 광학 장치
US4677473A (en) Soldering inspection system and method therefor
US6385507B1 (en) Illumination module
JP2014526706A (ja) 非接触式部品検査装置及び部品検査方法
KR20010031029A (ko) 소자들 및/또는 기판들의 위치를 확인하고 및/또는 소자들및/또는 기판들의 품질을 제어하기 위한 장치에서일루미네이션을 설정하기 위한 방법
JP4713279B2 (ja) 照明装置及びこれを備えた外観検査装置
US6437312B1 (en) Illumination for inspecting surfaces of articles
EP1278853A2 (en) Listeria monocytogenes genome, polypeptides and uses
KR20110027392A (ko) 비전검사장치
KR100281881B1 (ko) 인쇄회로기판의크림솔더검사장치및검사방법
JPH08201044A (ja) 半田付け検査用画像入力装置
KR19980072996A (ko) Pcb기판 검사장치 및 pcb기판 검사방법
JP3632449B2 (ja) クリーム半田の塗布状態検査装置および塗布状態検査方法
EP0871027A2 (en) Inspection of print circuit board assembly
US5288991A (en) Optical system for rapid inspection of via location
US20020167660A1 (en) Illumination for integrated circuit board inspection
EP1595138B1 (en) Image recognition apparatus and image recognition method
KR101124567B1 (ko) 하이브리드 조명부를 포함하는 웨이퍼 검사 장치
KR20220167911A (ko) 배율 가변 기능을 갖는 칩 온 필름 검사장치
KR100200213B1 (ko) 인쇄회로기판의 부품 검사장치
KR100251482B1 (ko) Pcb기판 검사장치 및 검사방법
KR20110008976A (ko) 비전검사장치
JP2004264026A (ja) 画像認識装置および画像認識方法
KR100763958B1 (ko) 스크린 프린터의 비젼 장치 및, 그것을 이용한 비젼 검사방법
JPH03192800A (ja) プリント基板の部品実装認識方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application