KR19980063779A

KR19980063779A - 파형품질 측정방법 및 그것을 사용한 측정장치

Info

Publication number: KR19980063779A
Application number: KR1019970065877A
Authority: KR
Inventors: 노와라겐지
Original assignee: 오오우라히로시; 가부시키가이샤아드반테스트
Priority date: 1996-12-04
Filing date: 1997-12-04
Publication date: 1998-10-07
Also published as: US5974087A; KR100258430B1; DE19753657A1

Abstract

CDMA 방식의 이동국의 송신신호의 복소 베이스 밴드(b)을 얻고, 그 일부의 신호를 진폭 정규화하고, 이것을 국부 PN부호와의 동기를 취하고, 시간기준을 추정하고, 그 판정에 사용된 복소 상관치로부터 주파수 오차를 추정하고, 그 오차를 정규화 신호에 대하여 보정하고, 그 보정신호로부터 초기위상을 추정하여 그 보정을 행하고, 그 보정신호와 시간기준으로부터 심볼점과 이에 가장 가까운 샘플점의 어긋남을 추정하고, 그 어긋남만큼 어긋난 참조신호를 작성하고, 이것과 보정된 신호로부터 최소 2승법에 의하여 나머지 주파수 오차와 초기 위상을 추정하고, 이상의 모든 추정치를 사용하여 신호(b)를 보정하고, 이것과 참조신호로부터 파형품질을 구한다.

Description

파형품질 측정방법 및 그것을 사용한 측정장치

본 발명은 예를들면 CDMA를 사용하는 이동통신의 이동국으로부터 송신되는 신호의 파형품질을 측정하는 방법 및 그 측정장치에 관한 것이다.

CDMA 방식에 의한 디지털 셀룰러 시스템은 Qualcomm사를 중심으로 TIA/EIA의 서브 커미티(TR 45.5)에 있어서 규격화가 진행되고 있으며, 송수신기의 성능평가에 관한 규격이 IS-98 및 IS-97로서 규정되어 있다. 본 발명은 특히, CDMA 변조된 이동국 송신신호의 파라미터, 즉, 반송파 주파수 오차, 반송파 위상, 클록(심볼)위상(타이밍)등을 측정하고, 이들 측정 파라미터로부터 상기 규격 IS-98에 규정되어 있는 파형품질을 구하는 방법에 관한 것이다.

규격 IS-95에 의거하여 OQPSK(오프세트 QPSK) 변조된 이동국 송신신호의 파형품질을 규격 IS-98에 의거하여 측정하는 방법은 이미 미국출원 No. 08/825,502「디지털 직교변조신호의 파라미터 측정장치」(대응하는 원 일본출원은 1997년 10월 14일 일본특개평 9-270827로서 공개되었지만, 본출원의 우선일 1996년 12월 4일 시점에서는 공지로 되어 있지 않음)로 제안되어 있다. 이 장치의 구성에 대하여 도 1을 참조하여 설명한다.

대상으로 되는 신호는 중간주파수(IF)의 신호에 다운컨버트되어, 적당한 샘플링에 의하여 AD 변환되어 메모리에 디지털 데이터로서 저장되어 있다. 이 IF 디지털 신호는 베이스 밴드 변환부(11)로, 복소 베이스 밴드 신호로 변환된다. 이 복소 베이스 밴드신호를 조(粗)파라미터 추정부(12)에 입력하고, 대략의 파라미터(예를들면 반송파 주파수)를 추정하고, 그 추정 파라미터에 응하여 보정부(13)에서 복소 베이스 밴드 신호를 보정하고, 그 보정된 베이스 밴드 신호를 데이터 검출부(14)에서 복조한다. 이 복조데이터는 시간기준 추출부(15)를 경유하며, 참조 신호 작성부(16)에서 참조신호가 생성된다. 보정부(13)에서 보정된 복소 베이스 밴드신호와 참조신호에 의하여, 정(精) 파라미터 추정부(17)에서 고정도로 파라미터가 추정된다. 최후로 보정부(13)에서 보정된 복소 베이스 밴드 신호에 대하여, 그 고정도 추정치만큼 보정하고, 이 보정신호와 참조신호에 의하여 파형품질이 파형품질 계산부(19)에서 계산된다. 조 파라미터 추정부(12)에서의 파라미터의 추정은, 데이터 검출부(14)로 바르게 복조를 할 수 있는 정도의 정밀도로 행해진다.

종래방법에서는 시간기준을 추출하기 위한 데이터 복조를 행한다. 이를 위해서는, 그의 전단계까지에 복조오류를 일으키지 않을 정도로 파라미터를 추정하고, 복소베이스 밴드 신호를 보정하여야 한다. 따라서, 만일 복조오류가 있으면, 시간기준이 잘못되어, 그 이후의 처리에서의 파라미터 추정에 오차가 생기고 만다. 또, 종래방법에서는 파라미터 추정부를 복수의 단계로 나누고, 파라미터를 추정할때마다 복소 베이스 밴드신호 전부를 보정한다. 따라서, 신호가 길면 그만큼 계산시간이 걸리는 것으로 된다.

본 발명의 목적은 파형품질을 고정도로 동시에 단시간에 측정할 수 있는 파형품질 측정방법 및 이를 사용한 측정장치를 제공하는 것이다.

본 발명에 의하면,

시간기준추출·주파수 오차 추정수단에 의하여 제1복소 베이스 밴드 신호와 국부부호계열과의 동기를 취함으로서 제1의 신호지연치와 제1주파수 오차를 구하고,

주파수 보정수단에 의하여 상기 제1복소 베이스 밴드 신호에 대하여, 상기 제1주파수 오차를 보정하여 제2복소 베이스 밴드 신호를 얻고,

초기 위상 추정수단에 의하여 상기 제2복소 베이스 밴드 신호로부터 캐리어의 제1초기 위상을 구하고,

위상보정수단에 의하여 상기 제2복소 베이스 밴드신호에 대하여, 상기 제1초기위상을 보정하여 제3복소 베이스 밴드 신호를 얻어,

심볼점 추정수단에 의하여 상기 제3복소 베이스 밴드신호와, 상기 제1의 신호 지연치와 상기 국부부호계열로부터 심볼점과 이에 가장 가까운 샘플점과의 어긋남인 제2의 신호지연치를 구하고,

참조신호 생성수단에 의하여 상기 제1의 신호지연치와, 상기 제2의 신호지연치와 상기 국부부호계열로부터 샘플점에 대하여 상기 제2의 신호지연만큼 어긋난 상기 참조신호를 생성하고,

주파수 오차·초기위상 추정수단에 의하여 상기 참조신호와 상기 제3복소 베이스 밴드신호로부터 제2주파수 오차와 제2캐리어 초기위상을 추정하고,

주파수 오차·초기위상 보정수단에 의하여 상기 제1복소 베이스 밴드신호에 대하여 상기 제1, 제2주파수 오차, 상기 제1, 제2초기위상을 보정하여 상기 보정 베이스 밴드 신호를 얻는다.

도 1은 앞서 출원되어 있는 파형품질 측정방법을 적용한 장치의 기능구성을 도시하는 블록도,

도 2는 본 발명 방법의 기본구성을 적용한 기능구성을 도시하는 블록도,

도 3는 본 발명의 실시예를 적용한 장치의 기능구성을 도시하는 블록도,

도 4는 입력신호와 PN계열의 처리 타이밍 관계를 도시하는 타임차아트,

도 5a는 도 3중의 베이스 밴드 변환부(11)의 기능구성을 도시하는 블록도,

도 5b는 도 3중의 주파수 오차 추정부(28)의 기능구성을 도시하는 블록도,

도 6은 도 3중의 PN동기부(27)의 처리수순의 예를 도시하는 흐름도,

도 7a는 도 3중의 초기 위상 추정부(31)의 구체예를 도시하는 도면,

도 7b는 도 3중의 심볼점 추정부(33)의 기능구성예를 도시하는 블록도,

도 8a는 도 3중의 참조신호 생성부(35)의 기능구성을 도시하는 블록도,

도 8b는 도 3중의 주파수 오차·위상 추정부(17)의 기능구성예를 도시하는 블록도.

도 2는 본 발명에 의한 파형 품질 측정을 위한 기능구성을 도시한다. 본 발명에 있어서도 측정 대상 신호(입력신호)를 중간주파신호로 다운컨버터하고, 그것을 AD 변환하여 얻은 IF 디지털 신호가 도시하고 있지 않는 메모리로부터 판독되고, 베이스 밴드 변환부(11)에 부여되어 복소 베이스 밴드 신호로 변환된다. 본 발명에서는 이 복소 베이스 밴드 신호를 시간 추출·주파수 오차 추정부(21)에 입력하고, 이 복소 베이스 밴드 신호를 후술하는 바와 같이 복수의 부분신호로 분할하므로서 고속으로 PN 동기를 행하고, 시간 기준의 추출과 동시에, 입력신호에 포함되는 주파수 오차도 추정한다. 이 분할방법에 의하여, 입력신호에 어느 정도의 주파수 오차가 포함되어 있어도 동기를 취할 수가 있고, 데이터 복조하지 않고 시간기준의 추출을 할 수 있다.

베이스 밴드 변환부(11)의 출력으로부터 파라미터 추정용으로서 부분신호 정규화부(26)로부터 일부의 신호를 꺼내고, 이 부분신호를 사용하여 파라미터 추정부(22)에서 전체 파라미터를 추정한다. 파라미터 추정부(22)내에 있어서는, 이 부분신호에 대해서만 추정량만큼 보정한다. 즉, 기준시간추출·주파수 오차 추정부(21)에서 부분신호에 PN계열(의사 랜덤부호계열)을 동기시켜, PN 계열의 위상(p')을 추정함과 동시에, 부분신호의 주파수 오차(f'₁)을 추정하고, 그 추정 주파수 오차(f'₁)를 사용하여 조 파라미터 추정부(12)에 있어서 부분신호의 주파수를 거칠게 보정하고, 그 보정된 부분신호로부터 캐리어 초기 위상을 추정하여 위상도 거칠게 보정한다. 이와 같이하여 거칠게 보정된 부분신호와 PN 계열의 위상(p')으로부터 심볼점과 그에 가장 가까운 샘플점과의 어긋남 (τ)을 검출한다.

참조신호 작성부(16)는 PN계열의 위상(p')과 심볼점의 어긋남 (τ)에 의거하여 참조신호를 생성하고, 정파라미터 추정부(17)는, 그 참조신호를 사용하여, 조 보정된 부분신호의 미세한 주파수 오차(f'₂)와 위상('₂)을 추정하고, 보정부(23)에 부여한다. 보정부(23)는 이들 추정된 파라미터(f'₂,'₂)에 의하여 원 입력신호를 보정한다. 이로서, 측정범위가 늘더라도, 파라미터 추정시간에 영향을 주지 않는다

이와 같이, 본 발명에 의하면, 베이스 밴드 변환부의 출력으로부터 파라미터 측정용으로서 부분신호 정규화부로부터 일부의 신호를 꺼내고, 이 부분신호를 사용하여 파라미터 추정부에서 전 파라미터를 추정하고, 파라미터 추정중에는 이 부분신호에 대해서만 추정량만큼 보정한다. 그리고 최후로 지금까지 추정하여 온 분량 원래의 전 입력신호에 대하여 보정을 한다.

도 3에 본 발명의 실시예를 적용한 측정장치의 기능구성을 도시하다. 도면중, 굵은 선은 측정하여야할 입력신호 및 PN계열의 처리의 흐름을, 가는선은 파라미터의 흐름을 각각 도시한다. 이 실시예는 Qualcomm사의 CDMA (규격 IS-95)에 대응한 이동국 MS (Mobile Station)의 테스트 모드에서의 출력신호의 파형품질(ρ)을, 규격 IS-98에 의거하여 측정하는 것이 가능하다. 측정대상이 되는 입력신호는, 이동국(MS)와 마찬가지 IS-95로 규격되어 있는 기지국(BS)(Base Station)의 출력 파일럿 신호를 이동국(MS)이 받아, 거기에 동기하여 출력된 것이다. 따라서 이동국 MS의 출력신호(대상신호)를 얻기 위해서는 기지국(BS)으로부터의 파일럿 신호가 필요하지만, 그것과 같은 신호를 출력할 수 있는 신호원으로 대용할 수가 있다. 이 이동국 MS의 출력신호는 항상 0의 데이터를 심볼레이트와 같은 레이트의 2개의 PN계열로 확산하고, OQPSK 변조되어 있다. 이 실시예에서는 AD 변환기에 있어서 샘플링 레이트(R)를 심볼레이트의 8배로 한다.

이동국의 출력신호, 즉 측정대상신호(입력신호)는 중간주파수(f_IF)의 신호에 다운 컨버트되어, 심볼레이트(f_O)의 8배의 샘플링 레이트로 A/D 변환되어 IF 디지털 신호(SIF)로서 메모리(25)에 저장되어 있다. 우선 메모리(25)로부터 적당한 타이밍으로 적당한 길이의 IF 디지털 신호를 베이스 밴드 변환부(11)에 거둬 들이고, 중간주파수(f_IF)의 국부신호에 의하여 복소 베이스 밴드 신호로 변환한다. 이 복소 베이스 밴드 신호는 부분신호 정규화부(26)와 주파수 오차·초기 위상 보정부(23)에 입력된다. 부분신호 정규화부(26)에서는 복소 베이스 밴드 신호로부터 적당한 짧은 부분신호를 거둬들이고, 평균 전력이 1이 되도록 정규화한다. 이하, 이 정규화 부분 신호를 사용하여 전 파라미터를 추정한다.

우선 시간기준추출·주파수 오차 추정부(21)중의 PN 동기부(27)로, 이 정규화 부분 신호에 복소상관이 최대로 되도록 국부 PN 계열을 PN 동기시켜, 확산시에 사용한 PN 계열의 위상(p')과 심볼점에 가장 가까운 샘플점을 추정한다. 다음에 PN 동기의 경우에 동기위치의 판정에 사용한 복소부분 상관치로부터, 주파수 오차 추정부(28)에 있어서 주파수 오차를 추정하고, 그 추정 주파수 오차(f'₁)분만큼, 정규화 부분신호에 대하여 조 파라미터 추정부(12)중의 주파수 보정부(29)에서 조보정한다. 더욱이 초기 위상 추정부(31)에 있어서, 상기 주파수 오차(f'₁)만큼 조보정된 부분신호로부터 캐리어의 초기위상('₁)를 추정하고, 그 초기 위상('₁)만큼 조 보정부분신호를 위상보정부(32)에서 다시 조보정한다. 이 초기위상을 조보정된 신호와 PN 동기부(27)에서 얻은 PN의 위상정보(p')로부터 심볼점 추정부(33)에서, 심볼점과 심볼점에 가장 가까운 샘플점과의 어긋남 (τ)을 추정한다.

참조 신호 작성부(16)중의 베이스 밴드 필터 보간부(34)에서, 상기 심볼점과 이에 가장 가까운 샘플점과의 어긋남 (τ)분만큼 비키어 놓은 베이스 밴드필터의 임펄스 응답을 계산한다. τ 비키어 놓여진 임펄스 응답과 PN 동기부(27)에서 얻어진 PN 계열의 위상정보, 및 국부(PN)계열을 사용하여 참조 신호 생성부(35)로 τ만큼 어긋난 참조신호를 작성한다. 이 참조신호와 위상보정부(32)의 출력신호를 사용하여 정파라미터 추정부(17)의 주파수 오차·초기 위상 추정부(36)에서, 최소 2승법에 의하여 나머지의 주파수 오차(f'₂)와 캐리어의 초기위상('₂)을 세밀하게 추정한다. 이상 주파수 오차 추정부(28), 초기 위상 추정부(31), 주파수 오차·초기 위상 추정부(36)에서 구한 2개의 주파수 오차(f'₁, f'₂) 및 2개의 캐리어 의 초기위상('₁,'₂)을 사용하여 주파수 위상 보정부(23)에서 베이스 밴드 변환부(11)로부터의 본래의 복소 베이스 밴드 신호를 보정한다. 최후로 측정항목 계산부(19)에서 이 보정신호와 참조신호를 사용하여 파형품질(ρ)등의 측정항목을 계산한다. 이하, 각 기능 구성을 설명한다.

메모리

이동국(MS)의 출력신호 즉 이동국(MS)으로부터 송신되는 신호(측정대상신호, 이하 MS신호라고도 부름)는 기지국(BS)의 파일럿 신호에 동기하여 출력(송신)된다. 이 MS신호는, 상술한 바와 같이, 우선 중간주파수(f_IF)에 다운컨버트되어, 심볼레이트(f_O)의 8배의 샘플링레이트로 A/D변환되어 메모리(25)에 저장된다. 메모리(25)는 기지국(BS)으로부터의 트리거 신호에 의하여 제어된다. 여기서, 트리거 신호는 기지국(BS)의 출력 파일럿 신호의 위상 정보를 나타내는 신호, 즉, PN의 선두를 나타낸다. 따라서 이 파일럿 신호에 동기하여 출력되는 MS신호 (측정대상신호)의 위상정보도 이 트리거신호로부터 알 수 있다. 그러나 실제로는 이동국 MS이 기지국(BS)으로부터 파일럿 신호를 받은 후 신호를 출력할때까지에는 시간지연이 생긴다. 따라서, 메모리(25)의 트리거 위치에 저장되어 있는 데이터는, 실제로는 그 시간 지연분만큼 어긋나 있다. 이 시간지연치는 규격 IS-98으로 규정되어 있는 측정항목의 하나(Time Alignment Error)이다. 또, 이 실시예에서는, 트리거의 위치를, PN 계열의 선두로부터 ½칩 간격 선행시킨 위치로 한다.

데이터의 취득

우선, 도 4 행 A에 도시하는 바와 같이, 트리거보다 d 샘플전의 위치로부터 길이 L샘플 만큼의 IF 디지털 입력신호(s) (이동국(MS)의 IF 디지털 송신신호)를 메모리(25)에서 독해한다. 여기서, 트리거로부터의 위치(d)는, PN동기부(27)에서 동기를 취할때에 서치하는 국부 PN계열(도 4 행 D)의 범위(W)와, IF 디지털 입력신호(S)을 베이스 밴드로 변환할때에 사용하는 저역필터의 탭수(T)에 의존한다. 예를들면, PN동기의 경우에 W=100 칩의 범위에서 서치하고, 베이스 밴드로 변환할 때에 사용하는 로패스 필터의 탭수를 T=55로 한다면, 트리거로부터의 위치(d)는 d= {8w+(T-1)}/2=8×100/2+(55-1)/2=427 샘플로 된다. 이는 본 발명의 목적인 파형품질(ρ)을 계산할때에, 항상 입력신호의 어떤 특정의 위상(PN의 선두위치)으로부터의 파형을 사용하여 계산하기 위함이다. 또, 거둬들임 데이터의 길이(L)는, ρ를 계산하는 길이(r), 로패스필터의 탭수(T) 및 d에 의존하고, 다음과 같은 관계를 만족하여야만 한다.

L≥r+T-1+d+8

베이스 밴드 변환부

베이스 밴드 변환부(11)에서는 메모리(25)로부터 독해한 IF 디지털 입력신호 (S)을 복소 베이스 밴드 신호(b)로 변환한다. 이 때문에 도 5a에 도시하는 바와 같이 IF 디지털 입력신호 SK=S(KT_S)에 정현파 생성부(41)에서 생성한 중간주파수(f_IF)의 정현파 exp(-j2πf_IFKT_S)를 승산기(42)로 승산하고 (t=KT_S는 이산시간, T_S는 샘플간격), 그후 로패스필터(43)를 통한다. 여기서 측정규격(IS-98)에서는, 파형품질을 계산하기 전에, 이 규격에서 정해져 있는 밴드 리미팅 필터를 통하도록 규정되어 있다. 따라서, 베이스 밴드 변환부(11)에서 사용하는 로패스필터(43)에 이 밴드 리미팅 필터를 사용한다. 예를들면, 탭수 55, 롤오프계수 0.26, 8배 샘플링의 나이키스트필터가 있다.

부분신호 정규화부

부분신호 정규화부(26)에서는, 복소 베이스 밴드 신호(b)로부터 파라미터 추정용신호로서, 길이 m(L) 샘플만큼 트리거(Tg)의 위치에서 꺼내고(도 4 행 B), 이 길이 m의 부분신호의 평균전력이 1로 되도록 정규화한다. 즉, 이 정규화 부분신호를 사용하여 이하의 기능 구성으로 파라미터를 추정한다. 측정규격(IS-98)에서는 본 발명의 목적인 파형 품질(ρ)을 계산할때의 신호의 최단 측정길이(r)가 규정되어 있다(615칩). 그러나 이 길이의 신호를 사용하여 주파수 오차 등의 여러 파라미터를 추정하면, 신호가 길기 때문에, 매우 시간이 걸리게 된다. 따라서, 이 최단 측정길이(r)보다도 짧은 길이 m의 신호를 꺼내고, 이를 사용하여 파라미터를 추정한다(파라미터를 추정할때의 신호의 추정길이(m)에 대하여는 규정되어 있지 않다). 이로서 고속으로 파라미터 추정이 행해진다. 다만, 이 파라미터 추정길이를 지나치게 짧게하면 추정정도가 나빠지기 때문에, 추정속도와 추정정도의 트레이드 오프가 된다.

PN 동기부

부분신호 정규화부(26)의 출력신호(b')는, 우선 PN 동기부(27)에 입력된다. 여기서, 정규화된 길이 m의 신호(b')와 국부 PN 계열을 사용하여, PN동기를 취한다. 이로서 확산의 경우 사용한 PN계열의 위상과 심볼점에 가장 가까운 샘플 점의 위치를 발견한다. 여기서, 이하에 설명하는 신호분할동기수법에 의하여 고속으로 PN 동기를 행하여, 서치하는 국부 PN 계열(도 4 행 D)의 범위(W)를 PN의 1주기 보다 짧은 길이로 설정한다. 이것은 외부로부터 얻어지는 트리거 신호(Tg)에 의하여 대략 그 PN의 위상을 알고 있기 때문에 가능하다. 도 6에 플로우 차아트로 도시하는 이하의 알고리즘에 의하여 동기를 취한다. 다만, 정수변수 u, Q, p의 초기치를 u=Q=p=1로 한다. u는 샘플번호이고, u=1,2,…R로 변화하고, Q는 분할된 부분번호이고, Q=1,2,…n로 변화하고, p는 칩번호이고, p=1,2,…,w로 변화한다. 또, N은 PN 계열을 분할하여 얻은 각 부분 PN계열의 칩수이고, R은 1칩 길이에 대응하는 신호의 샘플수이고 어느것이나 2이상의 정수이다.

S1: 국부계열을 발생시키고 동시에 누적가산치(max)을 0으로 한다.

S2: 샘플길이 m=R×N×n의 입력신호(b')를 비정상적으로 짧은 샘플계열길이 R×N 마다의 n개의 부분신호로 분할한다(도 4 행 B).

S3: 국부 PN 부호를 칩계열 길이 N마다 부분 PN계열로 분할한다(도 4 행 C).

S4: 선두의 부분 PN 계열(N칩)과, 선두의 부분신호(R×N 샘플)를 각각 꺼낸다.

S5: 꺼낸 부분 신호의 u번째의 샘플로부터 R개 걸러 샘플 데이터를 N개 꺼내고(부분확대 행 B'), 꺼낸 부분 PN계열의 N칩(부분확대 행 C')과 다음식의 상관치(C)를 계산한다.

C_u,Q,p=｜Z_u,Q,p｜n/2N

다만

Z_u,Q,p=Σ(b'_u+Q1·i_i+p)-jΣ(b'_u+Qi+dR/2·q_i+p)

Σ는 i=N(Q-1)로부터 NQ까지의 가산

S6: 그 상관치(C_u,Q,p)가 미리 설정한 임계치(θ)를 초과하였는가를 조사한다.

S7: C_u,Q,p가 임계치(θ)를 초과한 경우는 상관치를 누적가산한다.

S8: 입력부분신호 전부에 대하여 상관계산하였는가를 조사한다.

S9: 입력부분신호 전부에 대하여 계산되어 있지 않다면, 다음의 부분신호와 다음의 부분 PN계열을 가져와 (Q←Q+1) 스텝 S5로 되돌아가서 다시 상관 계산을 한다.

S10: 스텝 S6에서 상관치가 임계값을 초과하지 않으면, 국부 PN 계열의 위상을 1칩 비키어, 즉 p←p+1로 하고, 동시에 누적 가산치를 리셋한다.

S11: 서치 범위(w)내를 서치하였는가, 즉 p=w로 되었는가를 조사하고, 서치하지 않았으면 스텝 S3으로 되돌아가고 1칩 비키어 놓은 국부 PN 계열에 대하여 세분화한다.

S12: 스텝 S11에서 국부 PN 계열을 1칩 비키어 놓는 것을 w-1회 행하면(p=w), 입력신호(b')의 위상을 1샘플 비키어 놓고, 즉 u←u+1로 한다.

S13: 입력신호(b')을 비키어 놓는 것을 R-1회 행하였는가, 즉, R샘플에 대하여 서치하였는가 조사하고, 아직 R샘플을 서치하지 않았으면, 스텝 S2으로 되돌아간다. 따라서 p=1로 한다.

S14: 스텝 S8에서 입력부분신호의 모든 것에 대하여 계산을 행한, 즉 Q=n로 되면, 스텝 S7에서 얻은 누적 가산치가 지금까지의 최대치 max보다 큰가를 조사하고, 크지 않으면 스텝 10으로 이동한다.

S15: 스텝 S14에서 누적 가산치의 편이 크면, 이를 max로 하고, 그때의 국부 PN 계열의 위치, 입력신호의 위치를 기록하여 스텝 S10으로 이동한다.

S16: 스텝 S13에서, 입력신호의 서치를 R샘플행한 경우, 즉, 샘플을 비키는 것을 R-1회 행한 경우는, 그때의 max가 양인가를 조사한다.

S17: 양이면 그때의 스텝 S15의 기록위치가 동기 획득점이라고 확정한다.

S18: 스텝에서 max가 양이 아니면 동기 획득을 하지 못하였다고 판정한다. 즉, 임계치 ＜ 상관치가 만족하는 사이, 스텝 S5∼S9를 반복하고, 모든 부분신호 (Q =n 까지)에 대하여 조건(임계치 ＜ 상관치)이 만족되었으면 그 위치가 PN 동기위치의 후보가 된다. 이때, 그 국부 PN계열의 선두위치(p), 부분신호로부터 꺼낸 데이터의 선두위치(u), 부분상관치의 합(Σ_QC_u,Q,p) 및 각 복소부분 상관치(Z_u,Q,p)를 기억한다(S15). 그리고, PN계열의 위상을 1칩 비키어 놓아 (p←p+1), 다시 스텝 S3로부터의 조작을 행한다.

만일 도중에 상관치 보다도 임계치의 편이 크게 된 경우, PN계열의 위상을 1칩 비키어 (p←p+1)(S10), 다시 스텝 S3으로부터의 조작을 행한다.

설정한 PN계열의 서치범위내에서 상기 계산이 끝났으면(p=w 까지) 입력신호를 1샘플 비키어 놓는다(u←u+1)(S12).

PN 계열의 위상을 처음으로 되돌리고, (p=1), 스텝 S2으로부터의 조작을 다시 행한다(S13). 입력신호는 R배로 샘플링되어 있기 때문에, R샘플내에 반드시 칩점이 존재한다. 따라서 스텝 S13까지의 작업을 R회 마친 시점(u=R)에서 최대의 상관치의 합(max(Σ_QC_u,Q,p)_u,p)을 갖는 p의 위치(p')를 동기위치의 PN의 선두, 그리고 최대의 상관치의 합을 갖는 u의 위치(u')를 심볼점에 가장 가까운 실수부의 선두의 샘플점으로 판단한다.

다음에 복소 부분 상관치(Z_u,Q,p)에 대하여 설명한다.

로서의 수학식 1을 변형하면,

로 된다. 다만, Σ는 i=N(Q-1)에서 NQ까지

우선, 입력신호(b')에 주파수 오차가 없는 경우를 고려한다. 수학식 2의 계산을 동기위치(u=u', p=p')에서 행할 때, 수학식 2의 실수부 (제 1 항, 제 2 항)는 자기상관이 되고, 각각 큰 값으로 된다. 역으로 허수부(제 3 항, 제 4 항)는 상호 상관이 되고, 각각 0에 가까운 값으로 된다. 따라서, 그 절대치를 정규화한 것인 상관치(C)는, 큰 값으로 된다. 또, 수학식 2의 계산을 동기위치이외 (u≠u', p≠p')에서 행할 때, 모든 항이 상호 상관으로 되고, 각각 0에 가까운 값으로 된다. 따라서 그 상관치(C)는 0에 가까운 값으로 된다. 따라서, 상관치(C)는 동기위치일 때 큰값으로 되고, 그 이외일 때 0에 가까운 값으로 되어 주파수 오차가 없는 경우, 상기 상관치(C)와 적절한 임계치를 사용함으로서 동기위치를 판정할 수가 있다.

다음에 주파수 오차가 있는 경우 (f=/2π)을 생각한다. 동기를 취할 때, 입력신호(b')를 매우 짧은 계열길이(8×N)마다 분할하였다. 따라서 하나의 부분계열내에서는 주파수 오차에 의한 위상 변화는 없는 것으로 간주된다. 따라서 그때의 복소부분 상관치(Z'_u,Q,p)는 다음과 같이 고쳐 쓸 수 있다. 여기서 간단히 기재하기 위하여 이하에서는 첨자_u',p'를 각각_u,P로 기재한다.

다만, a는 부분계열의 위상을 어느 샘플의 위상으로 간주하는가를 나타내는 파라미터로, r은 주파수 오차가 없을때의 정규화 신호로 한다. 여기서, 그 절대치는 주파수 오차, 초기위상에는 무관하다. 따라서 상기 상관치 C에 의하여, 주파수 오차를 포함하는 신호에 대하여도, 동기를 취할 수가 있다. 또 캐리어의 초기위상에 대하여도 꼭같다.

여기서 PN 동기의 경우에 신호를 부분신호로 분할하여 행하였다. 이는 동기위치 이외에서의 계산량을 줄이고 고속으로 PN 동기를 취하기 위함과 주파수 오차의 PN동기에의 영향을 없애기 위함과 다음의 주파수 오차 추정부에서 이 복소부분 상관치를 사용하여 주파수 오차를 추정하기 위함이다.

주파수 오차 추정부

주파수 오차 추정부(28)에서, 주파수 오차(f'₁)를 추정한다.

동기 위치에서 계산된 복소부분 상관치(Z_u,Q,p)를 PN 동기부(27)로부터 받는다. 여기서 동기위치이면, 모든 Q에 대하여 Z_u,Q,p의 실수부는 큰값으로 되고, Z_u,Q,p의 허수부는 0에 가까운 값으로 된다. 따라서, Z_u,Q,p의 위상은 모든 Q에 대하여 같은 (0°)로 가정된다.

따라서,

로 된다. Z'_u,Q,p,Z'_u,Q+1,p'을 사용하면, 다음과 같이 주파수 오차(f_Q)를 구할 수 있으므로,

따라서, Q에 대한 평균치를 주파수 오차(f'₁)로서 다음과 같이 구할 수가 있다.

Σ 및 π는 각각 Q=1에서 n-1까지

여기서, 이값은 1샘플당의 위상 변화량을 나타내다. 즉 도 5b에 도시하는 바와 같이 나눗셈부(44)에 있어서 Z'_u,n,p를 Z'_u,l,p로 나눗셈하고 그 나눗셈 결과의 어규멘트(aqument)의 평균을 평균부(45)에서 취하여 주파수 오차(f'₁)를 구한다. 예를들면 m=4608 샘플(576칩), N=4, m=144로 하면 주파수 오차의 추정정도는 30Hz 정도로 된다.

또, PN의 서치폭을 100칩, 임계치를 0.2로 하면 DSP(TMS 320 C 31)에서 65ms 정도로 동기가 취해진다.

주파수 보정부

PN 동기부(27)와 주파수 오차 추정부(28)에서 정규화 부분 신호(b')의 선두의 심볼점(u')과 주파수 오차(f'₁)를 알았기 때문에, 주파수 보정기(29)에서는 (f'₁)분만큼 정규화 부분 신호(b')를 다음식으로 보정한다.

캐리어 초기 위상 추정부

초기 위상 추정부(31)에서는 보정한 8배 샘플링의 모든 정규화 부분 신호(b)를 사용하고, 평균위상('₁)을 다음식으로 구하고, 이 평균위상('₁)을 캐리어의 초기위상('₁)이라 한다. 이를 도 7a에 도시하다.

Σ는 K=1에서 m-u'까지

초기 위상 보정부

위상 보정부(32)에서는 캐리어 초기 위상 추정부(31)에서 추정한 위상분 ('₁), 주파수 보정부(29)의 출력신호(b_k)를 다음식으로 보정한다.

심볼점 추정부

PN 동기부(27)로서 심볼점에 가장 가까운 샘플점을 발견하였으므로 심볼점 추정부(33)에서는 심볼점에서의 나머지의 어긋남분(τ)(½샘플 간격이내)을 추정한다. 이 때문에 규격(IS-95)에 있는 베이스 밴드필터의 임펄스 응답을 미리 8배 샘플링의 심볼점에서의 어긋남(τ)의 2차식으로서 근사하여 둔다. 예를들면 최소 2승법이다. 이를 사용하여 다음과 같이 τ를 추정한다.

우선, 로그유도(對數尤度)함수 Λ(,τ)를 다음과 같이 하여 둔다.

다만

r(t): 입력신호 (b'''_k)

R(t): 참조신호(OQPSK의 lowpass equivalent signal)

g(t): 베이스밴드 필터

T_c: 칩간격

τ: 시간늦음

; 캐리어의 초기위상

T: 측정시간

또, *는 복소공역을 나타낸다.

τ는 이 Λ(,τ)가 최대가 되도록 구한다.

이때문의 필요조건은

로 되고, 윗식에서를 소거하여 τ에 대하여 푼다.

우선로부터

다만,로 하였다. 따라서,

이다.

또,로부터

따라서,

이다. 수학식 7과 수학식 8과를 승산하여 다음식

을 얻어, 이를 변형하면,

로 된다. 따라서, 수학식 9를 만족하도록 τ를 구한다. 여기서, Z(τ)를 다음과 같이 변형한다.

다만, k=0∼K-1 (K: 복소데이터수)

i=0∼(T/T_s)-1

m=-M∼M

M: 베이스 밴드 필터 g(t)의 탭수를 (2M+1)로 하였을때의 값

식의 변형에서 적분을 합의 꼴로 바꿀때에 T_s=T_C/8로 샘플링하였다. 또 베이스 밴드 필터의 임펄스 응답은 대칭이기 때문에, g(t)=g(-t)을 사용하였다. 여기서 수학식 9가 τ에 대하여 풀수 있도록 베이스 밴드 필터 g(mT_s+e)을 다음과 같이 τ에 대한 2차식으로 미리 근사하여 둔다.

여기서 수학식 11을 수학식 9에 대입하면,

τ는 작기 때문에 2차 이상의 항을 무시하고, τ에 대하여 풀면

로 구해진다.

다음에, 도 7b을 참조하여 동작의 설명을 한다.

위상 보정부(32)로부터의 보정된 정규화 부분 신호(b''')와 국부 PN 계열(I)와의 상호 상관치가, 상호 상관 계산부(47)에서 다음식에 의하여 계산된다.

Σ_kr_sk-mI_k

그 출력을 각각 계수(a_m, b_m, c_m(m=-M∼M))를 갖는 필터(48a, 48b, 48c)의 각각에 입력한다. 꼭같이 정규화 부분 신호(b''')와 국부 PN 계열(Q)와의 신호 상관치가 상호 상관 계산부(49)에서 다음식에 의하여 계산된다.

Σ_kr_8k-mQ_k

그 출력을, 각각 계수(a_m+4, b_m+4, c_m+4(m=-M∼M))를 갖는 필터(51a, 51b, 51c)의 각각으로 입력한다. 필터(48a, 48b, 48c, 51a, 51b, 51c)의 각 출력에서 심볼타이밍 계산부(52)에 있어서 수학식 11의 A, B, C를 각각 구하고, 최후에 수학식 12가 계산되어 그 결과 τ가 구해진다.

베이스 밴드 필터 보간부

베이스 벤드 필터 보간부(34)에서는 심볼점 추정부(33)에서 구한 τ를, τ의 2차식으로서 근사한 베이스 밴드 필터의 식에 대입하여 심볼점에서 τ만큼 어긋난 임펄스 응답(h_k(k=-M∼M))을 구한다.

참조신호 생성부

참조신호 생성부(35)에서는, 국부 PN 계열과 τ만큼 어긋난 베이스 밴드 필터의 임펄수 응답을 사용하여 2배 샘플링의 참조신호(R)를 도 8a에 도시하는 바와 같이 아래식의 연산에 의하여 작성한다.

Σ는 k=-∞에서 ∞까지

즉, 이로서 작성된 참조신호는 심볼점에서 τ만큼 어긋난 것으로 된다. 여기서, 본 발명의 목적인 파형품질을 계산하기 위해서는, 입력신호와 참조신호로 이 시간지연을 맞추어야 한다. 그리고, 이 시간 지연 τ을 맞추는데에는 2가지 방법이 고려된다. 하나는 입력신호를 -τ만큼 비키어 놓는 방법이고 또 하나는 참조신호를 τ 비키어 놓는 방법이다.

전자의 방법에서는 우선 보간 필터를 사용하여 정규화 부분신호(b''')를 -τ만큼 비키어 놓는다. 그리고 심볼점을 포함한 베이스 밴드 필터에 의하여 참조신호를 만든다. 이 경우, 여기서 -τ만큼 비키어 놓은 입력신호는, 파라미터 추정용으로서 꺼내는 것이기 때문에, 측정항목 계산용의 본래의 복소 베이스 밴드 신호도 -τ만큼 비키어 놓을 필요가 있다.

후자의 방법은, 베이스 밴드 필터의 임펄수 응답을 τ만큼 비키어 놓고, 이를 사용하여 심볼점에서 τ만큼 비키어 놓은 참조신호를 작성한다. 입력신호는 그대로 이다.

상기 두가지 방법을 비교한 경우, 전자의 방법에서는 파라미터 추정용의 송신신호를 비키어 놓기 위한 필터링, 참조신호를 만들기 위한 필터링, 측정항목 계산용 송신신호를 비키어 놓기 위한 필터링의 계 3회 필터링을 행할 필요가 있다. 이에 대하여, 후자의 방법에서는 참조신호를 만들기 위한 1회의 필터링으로 끝나고 계산량이 적게되어 끝난다. 따라서, 이 실시예에서는 후자의 방법을 사용한다.

주파수 오차·초기 위상 추정부

상기에서 작성한 참조신호 및 캐리어 초기 위상 추정부(32)에서 보정된 정규화 부분 신호(b''')를 사용하여, 도 8b에 도시하는 바와 같이 최소 2승법으로 나머지의 주파수 오차(f'₂) 및 캐리어의 초기 위상('₂)을 추정한다. 이하 구체적으로 기록한다.

최소 2승법에 의하여 피측정신호(b''')와 참조신호(R)와의 위상차_k=arg (b'''_4k/R_K)를 절편('₂), 기울기(△'₂)의 다음식의 직선으로 근사한다.

Σ는 k=1에서 (m-u')/4까지

에 의하여,를 구한다. 이때

로 된다. 다만,

이다.

주파수 오차·위상 보정부

주파수 오차 추정부(28), 캐리어 초기 위상 추정부(31), 주파수 오차 및 캐리어 초기 위상 추정부(36)로 구하여 온 주파수 오차(f'₁, f'₂)와 초기 위상('₁,'₂)분을 베이스밴드 변환부(11)의 출력신호(B)에 대하여 다음식으로 보정한다.

측정 항목 계산부

측정항목 계산부(19)에서는 보정한 송신신호(Z)와 τ만큼 비키어 놓은 참조신호(R)를 사용하여 규격 IS-98에 정해진 파형품질(ρ)를 계산한다. 이때, 입력신호, 참조신호 모두 항상 PN의 선두에서 다음식으로 계산한다.

타임 얼라이먼트 에러 측정

MS 신호는, BS로부터의 파일럿 신호에 동기하여 출력한다. 그러나, 실제에는 MS가 파일럿 신호를 받은 후 MS 신호를 출력할때까지 시간지연이 존재한다. 따라서 메모리(25)의 트리거 위치에 저장된 데이터는 이상적인 위상과 빗나가 있고, 이 시간지연치가 타임 얼라이먼트 에러이고, 규격 IS-98의 측정항목의 하나이다. 그리고, 이 시간지연치(△t)는, 메모리(25)로부터 꺼낸 IF신호의 선두데이터로부터, 베이스 밴드 변환부(11)의 출력신호인 복소 베이스 밴드 신호의 심볼점까지의 거리(a)와 PN 동기부(27)로 얻어진 선두의 PN의 위상에서, 메모리(25)로부터 꺼낸 IF신호의 선두위치에 본래 있어야 하는 위상까지의 거리(b)와의 차로 되고 다음과 같이 구해진다.

△t = a-b [T_ssec]

다만

a=(T-1)/2+u'+τ

b=(p'-w/2)·8+4

이다.

이상 설명한 바와 같이 본 발명은 복소 베이스 밴드 신호와 국부 PN 계열과의 동기를 취하므로서 시간 기준을 추출하여 파라미터 추정에 복소 베이스 밴드 신호의 복조를 행하여 있지 않기 때문에 복조 오류에 의거한 파라미터 추정에 큰 오차가 생기는 일없이, 그만큼 높은 정도로 파형 품질을 측정할 수가 있다. 또 파형품질의 측정에 필요로 하는 데이터 길이보다도, 짧은 데이터를 사용하여, 모든 파라미터를 추정하고, 그후 그 파라미터를 사용하여 복소 베이스 밴드 신호에 대한 보정을 행하고 있기 때문에, 파라미터 추정에 전 데이터를 사용하여 행하고 있었던 종래의 방법보다도 단시간에 측정할 수가 있다.

Claims

입력신호를 디지털 신호로 변환하고, 그 디지털 신호를 제1복소 베이스 밴드 신호로 변환하고, 그 제1복소 베이스 밴드신호에 있어서 오차 파라미터를 보정하여 보정 복소 베이스 밴드 신호를 얻고, 이 보정 복소 베이스 밴드 신호와 참조 신호로부터 상기 입력 신호의 파형품질을 측정하는 파형 품질 측정 방법에 있어서, 이 방법은:

(a)상기 제1복소 베이스 밴드 신호와 국부부호계열와의 동기를 취하므로서 제1의 신호 지연치와 제1주파수 오차를 구하는 시간기준추출·주파수 오차 추정과정과,

(b)상기 제1복소 베이스 밴드 신호에 대하여, 상기 제1주파수 오차를 보정하여 제2복소 베이스 밴드 신호를 얻는 제1보정과정과,

(c)상기 제2복소 베이스 밴드신호로부터 캐리어의 제1초기위상을 구하는 초기 위상 추정과정과,

(d)상기 제2복소 베이스 밴드 신호에 대하여, 상기 제1초기 위상을 보정하여 제3복소 베이스 밴드 신호를 얻는 제2보정과정과,

(e)상기 제3복소 베이스 밴드신호와 상기 제1신호 지연치와 상기 국부부호계열로부터 심볼점과 이에 가장 가까운 샘플점와의 어긋남인 제2신호 지연치를 구하는 심볼점 추정과정과,

(f)상기 제1신호지연치와, 상기 제2신호지연치와 상기 국부부호계열로부터 샘플점에 대하여 상기 제2의 신호지연만큼 어긋난 상기 참조신호를 생성하는 참조신호 생성과정과,

(g)상기 참조신호와 상기 제3복소 베이스 밴드 신호로부터 제2주파수 오차와 제2캐리어 초기 위상을 추정하는 주파수·초기 위상 추정과정과,

(h)상기 제1복소 베이스 밴드 신호에 대하여, 상기 제1, 제2주파수 오차, 상기 제1, 제2초기 위상을 보정하여 상기 보정 베이스 밴드 신호를 얻는 제3보정과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 시간기준추출·주파수 오차 추정과정과, 상기 제1, 제2보정과정과, 상기 초기 위상 추정과정과, 상기 심볼점 추정과정과는 상기 제1복소 베이스 밴드 신호중의 파형품질의 측정에 필요로 하는 데이터 길이보다 짧은 부분을 사용하여 실행하는 것을 특징으로 하는 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 스텝(a)에서, 상기 복소 베이스 밴드 신호와 상기 국부 부호 계열과의 동기를 취하는 처리는:

(a1)상기 복수 베이스 밴드 신호를 소정 샘플수마다 n개의 부분신호로 분할하고, N은 2이상의 정수이고,

(a2)상기 국부부호계열을 계열길이 N마다의 부분부호계열로 분할하고, N은 2이상의 정수이고,

(a3)상기 부분신호의 계열과 상기 부분부호계열의 계열중의 각 선두의 부분신호와 부분부호계열을 꺼내고,

(a4)꺼내어진 부분신호와 부분부호계열의 상관치를 계산하고,

(a5)계산된 상기 상관치가 임계치를 초과하였는가 여부를 판정하고,

(a6)상기 스텝(a5)에서 임계치를 초과하였다고 판정되면 상기 상관치를 누적가산하고,

(a7)상기 복소 베이스 밴드 신호의 전체에 대하여 상기 계산을 하였는가 판정하고,

(a8)상기 스텝(a7)에서 전체에 대한 계산이 끝나지 않았다고 판정되면, 다음의 부분신호 및 부분부호계열을 각각 꺼내어 상기 스텝(a4)으로 되돌아가고,

(a9)상기 스텝(a7)에서 전체의 계산이 마쳤다고 판정되면, 상기 누적 가산치가 그때까지의 최대치 보다 큰가를 조사하고,

(a10)상기 스텝(a9)에서 그때까지의 최대치보다 크지 않다고 판정되면, 상기 국부부호계열의 위상을 1칩 비키어 놓음과 동시에 상기 누적가산치를 리셋하고,

(a11)상기 스텝(a9)에서 그때까지의 최대치 보다 크다라고 판단되면, 그 누적치를 최대치로 하고, 그때의 국부부호계열의 위치, 상기 복소 베이스 밴드 신호의 위치를 기록하여 상기 스텝(a10)으로 이동하고,

(a12)상기 스텝(a10)후에 미리 정해진 서치 범위를 서치하였는가를 조사하고, 서치하지 않은 부분이 있으면, 상기 스텝(a2)으로 되돌아가고,

(a13)상기 스텝(a12)에서 미서치 범위가 없다고 판정되고, 상기 최대치가 양이면, 동기획득으로 판정하여, 상기 기록한 입력신호의 위치, 및 상기 국부부호계열의 위치를 동기위치로 하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
제 3 항에 있어서, 상기 복소 베이스 밴드 신호는 칩레이트의 R배, R는 2이상의 정수로 샘플링된 것이고,

상기 스텝(a4)은, 상기 꺼내어진 부분신호의 u번째로부터 R개 걸러의 데이터를 n개 꺼낸 것과 꺼내어진 부분부호계열과의 상관치 계산을 행하고,

상기 스텝(a12)에서 미서치 범위가 없다고 판정되면 스텝(a14)에서 상기 복소 베이스 밴드 신호의 위상을 1샘플 비키어 놓고,

그후, 스텝(a15)에서 상기 복소 베이스 밴드 신호를 R샘플 서치하였는가를 조사하고, 서치되어 있지 않으면 상기 스텝(a1)으로 되돌아가고, R샘플 서치가 종료되면 상기 스텝(a13)으로 이동되는 것을 특징으로 하는 방법.
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 부호계열은 PN 부호계열인 것을 특징으로 하는 방법.
입력신호를 디지털 신호로 변환하고, 그 디지털 신호를 제1복소 베이스 밴드 신호로 변환하고, 그 제1복소 베이스 밴드신호에 있어서 오차 파라미터를 보정하여 보정 복소 베이스 밴드 신호를 얻고, 이 보정 복소 베이스 밴드 신호와 참조 신호로부터 상기 입력 신호의 파형품질을 측정하는 파형 품질 측정 장치에 있어서, 이 장치는:

상기 제1복소 베이스 밴드 신호와 국부부호계열과의 동기를 취하므로서 제1의 신호 지연치와 제1주파수 오차를 구하는 시간기준추출·주파수 오차 추정수단과,

상기 제1복소 베이스 밴드 신호에 대하여, 상기 제1주파수 오차를 보정하여 제2복소 베이스 밴드 신호를 얻는 주파수 보정수단과,

상기 제2복소 베이스 밴드신호로부터 캐리어의 제1초기위상을 구하는 초기 위상 추정수단과,

상기 제2복소 베이스 밴드 신호에 대하여, 상기 제1초기 위상을 보정하여 제3복소 베이스 밴드 신호를 얻는 위상보정수단과,

상기 제3복소 베이스 밴드신호와 상기 제1신호 지연치와 상기 국부부호계열로부터, 심볼점과 이에 가장 가까운 샘플점와의 어긋남인 제2신호 지연치를 구하는 심볼점 추정수단과,

상기 제1신호지연치와, 상기 제2신호지연치와 상기 국부부호계열로부터 샘플점에 대하여, 상기 제2신호지연만큼 어긋난 상기 참조신호를 생성하는 참조신호 생성수단과,

상기 참조신호와 상기 제3복소 베이스 밴드 신호로부터 제2주파수 오차와 제2캐리어 초기 위상을 추정하는 주파수 오차·초기 위상 추정수단과,

상기 제1복소 베이스 밴드 신호에 대하여, 상기 제1, 제2주파수 오차, 상기 제1, 제2초기 위상을 보정하여 상기 보정 베이스 밴드 신호를 얻는 주파수 오차·초기 위상보정수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.