KR19980050301A - Socket for semiconductor chip package inspection with a plurality of lead connections - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 반도체 칩 패키지 검사용 소켓에 관한 것으로, 소켓에 삽입된 반도체 칩 패키지의 리드와 전기적 접속되는 소켓 리드의 리드 접속부가 적어도 2개 이상 형성되어 있으며, 그 리드 접속부가 탄성부의 복원력에 의해 리드를 찍어 접속함으로써, 리드와 소켓 리드 사이의 접속 신뢰성이 향상되는 장점이 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a socket for inspecting a semiconductor chip package, wherein at least two lead connecting portions of the socket leads are electrically connected to the leads of the semiconductor chip package inserted into the sockets. By taking a lead and connecting it, there exists an advantage that the connection reliability between a lead and a socket lead improves.
그리고, 소켓 리드 1개당 여러 개의 리드 접속부를 갖기 때문에 어느 하나의 리드 접속부가 망실되더라도 소켓의 사용이 가능하기 때문에 소켓의 수명이 연장되는 장점이 있다.In addition, since the lead has a plurality of lead connecting portion per socket, even if any one of the lead connection is lost because the use of the socket has the advantage of extending the life of the socket.
Description
본 발명은 반도체 칩 패키지 검사용 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 반도체 칩 패키지의 리드를 찍어 전기적 접속하는 소켓 리드의 리드 접속부가 복수개 형성되어 있어 반도체 칩 패키지와의 전기적 접속 효과를 향상시킬 수 있는 복수개의 리드 접속부를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a socket for inspecting a semiconductor chip package, and more particularly, a plurality of lead connecting portions of a socket lead for connecting and electrically connecting the leads of the semiconductor chip package are formed, thereby improving the electrical connection effect with the semiconductor chip package. A semiconductor chip package inspection socket having a plurality of lead connections.
일반적으로, 반도체 칩 패키지는 제조된 후에 제품의 신뢰성을 확인하기 위하여 각종 검사를 실시한다.Generally, after the semiconductor chip package is manufactured, various tests are performed to confirm the reliability of the product.
상기 검사는 반도체 칩의 모든 입·출력 단자를 검사 신호 발생 회로와 연결하여 정상적인 동작 및 단선 여부를 검사하는 전기적 특성 검사와 상기 반도체 칩의 전원 입력 단자를 포함하는 몇몇 입·출력 단자를 검사 신호 발생 회로와 연결하여 정상 동작 조건보다 높은 온도, 전압 및 전류 등으로 스트레스를 인가하여 반도체 칩 및 패키지의 수명 및 결함 발생 여부를 체크하는 번-인(Burn-In) 테스트가 있다.The inspection includes connecting all input and output terminals of the semiconductor chip with the test signal generation circuit to test the electrical characteristics of normal operation and disconnection, and generating a test signal for some input and output terminals including a power input terminal of the semiconductor chip. There is a burn-in test that checks the lifetime and defects of semiconductor chips and packages by applying stress to temperatures, voltages, and currents higher than normal operating conditions.
여기서, 반도체 칩 패키지의 전기적 특성 검사 공정은 검사 소켓에 반도체 칩 패키지가 탑재된 상태에서 진행된다.Here, the process of inspecting the electrical characteristics of the semiconductor chip package is performed in the state that the semiconductor chip package is mounted on the inspection socket.
도 1은 종래 기술의 실시예에 따른 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 개략적으로 나타내는 사시도이다.1 is a perspective view schematically illustrating a socket for inspecting a semiconductor chip package according to an exemplary embodiment of the prior art.
도 2 및 도 3은 도 1의 소켓의 단면도로써, 1개의 리드 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓에 반도체 칩 패키지가 삽입되는 상태를 나타내는 단면도이다.2 and 3 are cross-sectional views of the socket of FIG. 1, illustrating a state in which a semiconductor chip package is inserted into a socket for inspecting a semiconductor chip package having a socket lead having one lead connecting portion.
도 4는 반도체 칩 패키지의 리드에 소켓 리드가 접속된 상태를 확대하여 나타내는 단면도이다.4 is an enlarged cross-sectional view illustrating a state in which a socket lead is connected to a lead of a semiconductor chip package.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 종래 기술의 실시예에 따른 반도체 칩 패키지 검사용 소켓(20, 이하, 소켓이라 한다)을 이용한 반도체 칩 패키지(10)의 전기적 특성 검사는 테스터(도시 안됨)와 전기적으로 연결된 테스트 기판(30) 상면에 소켓(20) 하부면에 돌출된 소켓 리드(29)가 삽입되어 테스트 기판(30)상의 회로 패턴들과 전기적으로 연결된 상태에서 피커와 같은 이송 수단(40)에 의해 이송된 반도체 칩 패키지(10)가 소켓(20)에 삽입·고정된 상태에서 테스터에서 검사 신호가 인가되어 그 반도체 칩 패키지(10)의 전기적 특성 검사가 진행된다.1 to 4, the electrical property inspection of the semiconductor chip package 10 using the semiconductor chip package inspection socket 20 (hereinafter, referred to as a socket) according to an exemplary embodiment of the present invention is performed with a tester (not shown). Transfer means 40 such as a picker in a state in which the socket lead 29 protruding from the lower surface of the socket 20 is inserted into the upper surface of the electrically connected test board 30 and electrically connected to the circuit patterns on the test board 30. The test signal is applied from the tester while the semiconductor chip package 10 transferred by the socket 20 is inserted into and fixed to the socket 20, and the electrical characteristics of the semiconductor chip package 10 are examined.
여기서, 종래 기술의 실시예에 따른 소켓(20)은 그 하부면이 상기 테스트 기판(30) 상에 적층·고정되어 있으며, 그 상부면에는 반도체 칩 패키지(10)가 탑재될 상부면을 갖는 하부 몸체(23)와, 그 하부 몸체(23) 상에 이격되어 있으며, 상부 몸체(21)의 각 모서리에 형성된 가이드 바(27)에 의해 기계적으로 체결된 상부 몸체(21)를 포함하는 소켓 몸체(25)를 갖는다.Here, the socket 20 according to the embodiment of the prior art has a lower surface is laminated and fixed on the test substrate 30, the lower surface having an upper surface on which the semiconductor chip package 10 is to be mounted A socket body comprising a body 23 and an upper body 21 spaced on the lower body 23 and mechanically fastened by guide bars 27 formed at each corner of the upper body 21 ( 25).
여기서, 상부 몸체(21)는 가이드 바(27)를 따라서 상·하 운동하게 된다.Here, the upper body 21 is to move up and down along the guide bar (27).
상부 몸체(21)의 중심에는 반도체 칩 패키지(10)가 삽입되어 하부 몸체(23)의 상부면에 탑재될 수 있도록 개구부(24)가 형성되어 있다.The opening 24 is formed in the center of the upper body 21 so that the semiconductor chip package 10 may be inserted and mounted on the upper surface of the lower body 23.
그리고, 소켓 리드(29)는 하부 몸체(23)의 하부면에서 돌출된 전기적 연결부(29b)와, 그 전기적 연결부와(29b) 일체로 형성된 탄성부(29d)와, 그 탄성부(29d)와 일체로 형성되어 있으며, 하부 몸체(23)의 상부면의 가장 자리 부분에 접한 리드 접속부(29c) 및 전기적 연결부(29b)와 리드 접속부(29c)와 일체로 형성되어 있으며, 상부 몸체(21)의 하부면에 삽입·고정되어 있는 고정부(29a)를 갖는다.The socket lead 29 includes an electrical connection portion 29b protruding from the lower surface of the lower body 23, an elastic portion 29d formed integrally with the electrical connection portion 29b, and an elastic portion 29d. It is formed integrally, and is formed integrally with the lead connecting portion 29c and the electrical connecting portion 29b and the lead connecting portion 29c in contact with the edge portion of the upper surface of the lower body 23, It has the fixing part 29a inserted and fixed to the lower surface.
그리고, 피커(40)는 소켓(20)의 상부 몸체(21)의 상부면에 대응되게 형성된 가압부(43) 및 그 가압부(43)의 사이에 위치하며, 반도체 칩 패키지(10)를 진공 흡착에 의해 이송하는 흡착부(45)를 갖는다.The picker 40 is positioned between the pressing portion 43 and the pressing portion 43 formed to correspond to the upper surface of the upper body 21 of the socket 20, and vacuums the semiconductor chip package 10. It has the adsorption part 45 conveyed by adsorption.
여기서, 반도체 칩 패키지(10)가 소켓(20)에 탑재되는 구조를 좀더 상세히 설명하면, 반도체 칩 패키지(10)를 흡착한 피커(40)가 하강하게 되면 가압부(43)가 상기 소켓의 상부 몸체(21)의 상부면을 가압하게 되고, 그 가압에 의해 상부 몸체(21)의 하부면에 체결된 소켓 리드의 고정부(29a)가 하강하게 되어 리드 접속부(29c)가 하부 몸체(23)의 상부면에서 이격된다.Herein, the structure in which the semiconductor chip package 10 is mounted on the socket 20 will be described in more detail. When the picker 40 which has absorbed the semiconductor chip package 10 is lowered, the pressing part 43 is formed on the upper portion of the socket. The upper surface of the body 21 is pressed, and the pressing portion 29a of the socket lead fastened to the lower surface of the upper body 21 is lowered by the pressing, so that the lead connecting portion 29c is lower body 23. Spaced apart from the top surface of the.
그리고, 피커의 흡착부(45)에 흡착된 반도체 칩 패키지(10)가 하부 몸체(23)의 상부면에 떨어지게 된다.Then, the semiconductor chip package 10 adsorbed by the adsorption part 45 of the picker is dropped on the upper surface of the lower body 23.
그리고, 피커(40)가 상승하게 되면 상부 몸체(21)가 탄성부(29d)의 탄성력에 의해 원래의 형상으로 복원되면서 리드 접속부(29c)가 상기 반도체 칩 패키지(10)의 리드를 찍어 전기적으로 접속하게 된다.When the picker 40 is raised, the upper body 21 is restored to its original shape by the elastic force of the elastic part 29d, and the lead connecting part 29c dips the lead of the semiconductor chip package 10 electrically. You will be connected.
여기서, 반도체 칩 패키지(10)의 탑재가 완료되면 테스터에서 보내진 검사 신호가 테스트 기판(30)에 전달되고, 그 테스트 기판(30)과 전기적으로 연결된 소켓 리드(29)가 반도체 칩 패키지의 리드(12)에 전달되어 전기적 특성 검사가 이루어진다.Here, when the mounting of the semiconductor chip package 10 is completed, the test signal sent from the tester is transmitted to the test board 30, and the socket lead 29 electrically connected to the test board 30 is connected to the lead of the semiconductor chip package. 12) to check the electrical characteristics.
이와 같은 구조를 갖는 소켓은 반도체 칩 패키지의 리드와 접속되는 소켓 리드의 리드 접속부가 소켓 리드 당 1개이기 때문에 리드 접속부가 2개, 3개에 비해 접속 능력은 떨어지게 된다.In the socket having such a structure, since the lead connecting portion of the socket lead connected to the lead of the semiconductor chip package is one per socket lead, the connecting capability is inferior to that of two or three lead connecting portions.
그리고, 소켓 리드의 복원성을 이용하여 리드 접속부가 반도체 칩 패키지의 리드 끝단을 찍는 기계적인 접촉에 의해 전기적으로 접속된다.Then, by using the resilience of the socket lead, the lead connecting portion is electrically connected by a mechanical contact that pinches the lead end of the semiconductor chip package.
그러나, 반도체 칩 패키지의 리드와 각기 접속되는 리드 접속부가 1개이기 때문에 패키지의 리드를 찍는 과정에서 리드 접속부 자체에 기계적인 스트레스가 가중되며, 그로 인하여 소켓의 반복적인 사용에 의해 리드 접속부의 말단이 마모되거나 망실될 경우 대체 리드 접속부가 없으므로 소켓의 수명이 짧은 문제점을 가지고 있다.However, since there is only one lead connecting portion that is connected to each lead of the semiconductor chip package, mechanical stress is applied to the lead connecting portion itself in the process of taking the lead of the package, so that the end of the lead connecting portion is repeatedly formed by repeated use of the socket. When worn or lost, there is a problem of shortening the life of the socket because there is no replacement lead connection.
도 5는 종래 기술의 다른 실시예에 따른 2개의 리드 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 나타내는 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a socket for inspecting a semiconductor chip package having a socket lead having two lead connecting portions according to another exemplary embodiment of the prior art.
도 5를 참조하면, 종래 기술의 다른 실시예에 따른 소켓(120)은 2개의 리드 접속부(129c, 129e)가 형성된 소켓 리드(129)를 갖고 있다.Referring to FIG. 5, a socket 120 according to another embodiment of the related art has a socket lead 129 having two lead connecting portions 129c and 129e formed therein.
소켓 리드(129)는 하부 몸체(123)의 하부면에 대하여 돌출된 전기적 연결부(129b)와, 그 전기적 연결부(129b)와 일체로 형성되어 있으며, 그 전기적 연결부(129b)의 상부에 2개의 가지가 형성되어 있다.The socket lead 129 is integrally formed with the electrical connection portion 129b protruding from the lower surface of the lower body 123 and the electrical connection portion 129b, and has two branches on the upper portion of the electrical connection portion 129b. Is formed.
여기서, 전기적 연결부(129b)의 상부에 형성된 2개의 가지 중에서 개구부(124)에 노출된 하부 몸체(123)의 외각에 접해 있는 가지는 개구부(124)를 통해 실장될 반도체 칩 패키지의 리드(112)의 하부면과 접속되는 하부 리드 접속부(129e)로 형성된다.Here, a branch of the two branches formed on the upper portion of the electrical connection portion 129b, which is in contact with the outer surface of the lower body 123 exposed to the opening 124, of the lead 112 of the semiconductor chip package to be mounted through the opening 124. The lower lead connecting portion 129e is connected to the lower surface.
그리고, 나머지 하나의 가지는 소켓 리드(129)의 복원성을 갖게하는 영문자 C자 형상의 탄성부(129d)와, 그 탄성부(129d)와 일체로 형성되어 있으며, 상기 하부 몸체(123)의 상부면의 가장 자리 부분에 접해 있으며, 하부 리드 접속부(129e)와 대응된 위치의 상부에 형성된 상부 리드 접속부(129c) 및 상기 전기적 연결부(129b)와 리드 접속부(129c) 및 탄성부(129d)와 일체로 형성되어 있으며, 상기 상부 몸체(121)의 하부면에 삽입·고정되어 있는 고정부(129a)를 갖는다.The other branch is formed integrally with the English letter C-shaped elastic portion 129d and its elastic portion 129d to provide resilience of the socket lead 129, and an upper surface of the lower body 123. The upper lead contact portion 129c formed at an upper portion of the position corresponding to the lower lead contact portion 129e and integrally with the electrical connection portion 129b, the lead contact portion 129c, and the elastic portion 129d. It is formed, and has a fixing portion (129a) that is inserted and fixed to the lower surface of the upper body 121.
여기서, 반도체 칩 패키지(110)가 소켓(120)에 탑재되는 구조는 반도체 칩 패키지(110)가 개구부(124)를 통해서 하부 몸체(123)의 상부면에 탑재되는 구조에 있어서, 반도체 칩 패키지의 리드(112)가 하부 리드 접속부(129e)의 상부에 탑재되며, 도 1에서 언급된 소켓 리드 탄성부(129d)의 복원력에 의해 반도체 칩 패키지의 리드(112)와 각기 상부 리드 접속부(129c)가 접속된 상태에서 반도체 칩 패키지(110)의 신뢰성 테스트가 이루어진다.Here, in the structure in which the semiconductor chip package 110 is mounted on the socket 120, the semiconductor chip package 110 is mounted on the upper surface of the lower body 123 through the opening 124. The lead 112 is mounted on the lower lead contact portion 129e, and the lead 112 of the semiconductor chip package and the upper lead contact portion 129c are respectively formed by the restoring force of the socket lead elastic portion 129d mentioned in FIG. In the connected state, the reliability test of the semiconductor chip package 110 is performed.
여기서, 하부 리드 접속부(129e)는 탄성부(129d)와 같은 가지로 연결되지 않기 때문에 탄성부(129d)의 복원에 따른 효과가 미치지 않으며, 전기적 연결부(129b)와 동일하게 고정된 상태이다.Here, since the lower lead connecting portion 129e is not connected to the same branch as the elastic portion 129d, the lower lead connecting portion 129e does not have an effect due to the restoration of the elastic portion 129d, and is fixed in the same manner as the electrical connecting portion 129b.
따라서, 이와 같은 구조를 갖는 이중 리드 접속 방식의 소켓은 단일 리드 접속 방식에 비해 반도체 칩 패키지와의 접속 신뢰성이 좋다.Therefore, the socket of the double lead connection system having such a structure has better connection reliability with the semiconductor chip package than the single lead connection system.
그러나, 상부 리드 접속부가 반도체 칩 패키지의 리드 상부면에 탄성부의 복원력을 이용하여 찍어 접속하는 방식인데 반하여, 하부 리드 접속부는 단지 면접촉에 의해서 리드와 접속되기 때문에 접속 신뢰성이 떨어지는 문제점을 그대로 안고 있다.However, while the upper lead connecting portion is a method of dipping and connecting the lead upper surface of the semiconductor chip package by using the restoring force of the elastic portion, the lower lead connecting portion is connected to the lead only by surface contact, thereby maintaining a problem of poor connection reliability. .
따라서, 본 발명의 목적은 반도체 칩 패키지의 리드와 소켓 리드 사이의 전기적 접속 신뢰성을 향상시키기 위하여, 소켓 리드의 상·하부 리드 접속부가 동시에 반도체 칩 패키지의 리드를 찍어서 접속할 수 있는 복수개의 리드 접속부를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 제공하는데 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to improve the electrical connection reliability between the lead of the semiconductor chip package and the socket lead, the plurality of lead connecting portion that the upper and lower lead connecting portion of the socket lead can be connected by taking the lead of the semiconductor chip package at the same time It is to provide a semiconductor chip package inspection socket having.
도 1은 종래 기술의 실시예에 따른 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 개략적으로 나타내는 사시도.1 is a perspective view schematically showing a socket for inspecting a semiconductor chip package according to an embodiment of the prior art;
도 2는 및 도 3은 도 1의 A-A'선 단면도로써, 소켓에 반도체 칩 패키지가 탑재되는 상태를 나타내는 단면도.2 and 3 are cross-sectional views taken along line AA ′ of FIG. 1, showing a state in which a semiconductor chip package is mounted on a socket;
도 4는 반도체 칩 패키지의 리드에 소켓 리드가 접속된 상태를 확대하여 나타내는 단면도.4 is an enlarged cross-sectional view illustrating a state in which a socket lead is connected to a lead of a semiconductor chip package.
도 5는 종래 기술의 다른 실시예에 따른 2개의 리드 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 나타내는 단면도.5 is a cross-sectional view illustrating a socket for inspecting a semiconductor chip package having socket leads formed with two lead connections according to another exemplary embodiment of the prior art;
도 6 및 도 7은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 2개의 리드 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓에 반도체 칩 패키지가 탑재되는 상태를 나타내는 단면도.6 and 7 are cross-sectional views showing a state in which a semiconductor chip package is mounted in a semiconductor chip package inspection socket having a socket lead having two lead connecting portions according to a first embodiment of the present invention;
도 8은 도 6의 리드 접속부가 반도체 칩 패키지의 리드에 접속된 상태를 확대하여 나타내는 단면도.FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view of a state in which the lead connecting portion of FIG. 6 is connected to a lead of a semiconductor chip package. FIG.
도 9는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 3개의 리드 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 나타내는 단면도.Fig. 9 is a sectional view showing a socket for inspecting a semiconductor chip package having a socket lead with three lead connections formed according to a second embodiment of the present invention.
도 10은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 4개의 리드 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 나타내는 단면도.Fig. 10 is a cross-sectional view showing a socket for inspecting a semiconductor chip package having socket leads formed with four lead connections according to a third embodiment of the present invention.
도 11은 본 발명의 제 4 실시예에 따른 2개의 리드 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 나타내는 단면도11 is a cross-sectional view illustrating a socket for inspecting a semiconductor chip package having a socket lead having two lead connecting portions according to a fourth exemplary embodiment of the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 설명* Description of the main parts of the drawing
210, 310, 410, 510 : 반도체 칩 패키지 212, 312, 412, 512 : 리드210, 310, 410, 510: semiconductor chip package 212, 312, 412, 512: lead
220, 320, 420 : 소켓 229, 329, 429 : 소켓 리드220, 320, 420: sockets 229, 329, 429: socket leads
229a : 고정부 229b : 전기적 연결부229a: fixed portion 229b: electrical connection
229c, 329c, 429c : 상부 리드 접속부 229d : 탄성부229c, 329c, and 429c: upper lead connecting portion 229d: elastic portion
229e, 329e, 429e : 하부 리드 접속부 230 : 테스트 기판229e, 329e, 429e: Lower lead connecting portion 230: Test board
240 : 피커240: picker
상기 목적을 달성하기 위하여, 반도체 칩 패키지가 탑재될 상부면을 갖는 하부 몸체와, 상기 하부 몸체 상에 이격되어 있으며, 상기 하부 몸체의 각 모서리 부분에 형성된 가이드 바에 의해 체결되어 있으며, 반도체 칩 패키지가 삽입될 수 있는 개구부가 형성된 상부 몸체를 갖는 소켓 몸체; 및 상기 하부 몸체의 하부면에 돌출된 전기적 연결부와, 상기 전기적 연결부와 일체로 형성된 탄성부와, 상기 탄성부와 일체로 형성되어 있으며, 반도체 칩 패키지의 리드와 적어도 두부분 이상 접속되는 리드 접속부와, 상기 탄성부와 일체로 형성되어 있으며, 상기 상부 몸체의 하부면에 삽입·고정되어 있는 고정부를 갖는 복수개의 소켓 리드;를 포함하며, 상기 하부 몸체의 개구부를 통해서 삽입된 반도체 칩 패키지의 리드가 상기 탄성부의 복원 운동에 의해 상기 리드 접속부가 상기 리드를 찍어 접속하는 것을 특징으로 하는 복수개의 리드 접속부를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 제공한다.In order to achieve the above object, a lower body having an upper surface on which the semiconductor chip package is to be mounted, spaced on the lower body, and fastened by guide bars formed at each corner of the lower body, the semiconductor chip package is A socket body having an upper body having an opening therein which can be inserted; An electrical connection portion protruding from a lower surface of the lower body, an elastic portion integrally formed with the electrical connection portion, a lead connection portion integrally formed with the elastic portion, and connected to at least two portions of the lead of the semiconductor chip package; A plurality of socket leads formed integrally with the elastic part and having a fixing part inserted into and fixed to a lower surface of the upper body, wherein the lead of the semiconductor chip package is inserted through the opening of the lower body. Provided is a socket for a semiconductor chip package inspection having a plurality of lead connecting portions, wherein the lead connecting portion is connected to the lead by the restoration movement of the elastic portion.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
도 6 및 도 7은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 2개의 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓에 반도체 칩 패키지가 탑재되는 상태를 나타내는 단면도이다.6 and 7 are cross-sectional views illustrating a state in which a semiconductor chip package is mounted on a semiconductor chip package inspection socket having a socket lead having two connection parts according to a first embodiment of the present invention.
도 8은 도 6의 리드 접속부가 반도체 칩 패키지의 리드에 접속된 상태를 확대하여 나타내는 단면도이다.FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view illustrating a state in which the lead connecting portion of FIG. 6 is connected to a lead of a semiconductor chip package. FIG.
도 6 내지 도 8을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 소켓(220)은 그 하부면이 상기 테스트 기판(230) 상에 적층·고정되어 있으며, 그 상부면에는 반도체 칩 패키지(210)가 탑재될 상부면을 갖는 하부 몸체(223)와, 상기 하부 몸체(223) 상에 이격되어 있으며, 상기 하부 몸체(223)의 각 모서리에 형성된 가이드 바들(도시 안됨)에 의해 기계적으로 연결되어 있는 상부 몸체(221)를 갖는다.6 to 8, a socket 220 according to an exemplary embodiment of the present invention has a bottom surface thereof laminated and fixed on the test substrate 230, and a semiconductor chip package 210 on the top surface thereof. A lower body 223 having an upper surface to be mounted thereon, and an upper part spaced on the lower body 223 and mechanically connected by guide bars (not shown) formed at each corner of the lower body 223. It has a body 221.
그리고, 상부 몸체(221)는 가이드 바를 따라서 상·하 운동하게 된다.The upper body 221 moves up and down along the guide bar.
또한, 상부 몸체(221)는 반도체 칩 패키지(210)가 삽입되어 하부 몸체(223)의 상부면에 탑재될 수 있도록 개구부(224)가 형성되어 있다.In addition, an opening 224 is formed in the upper body 221 so that the semiconductor chip package 210 may be inserted and mounted on the upper surface of the lower body 223.
소켓 리드(229)는 하부 몸체(223)의 하부면에 돌출된 전기적 연결부(229b)와, 그 전기적 연결부(229b)와 일체로 형성되어 있으며, 반도체 칩 패키지의 리드(212)와 접속되는 리드 접속부(229c, 229e) 및 상기 전기적 연결부(229b)와 리드 접속부(229c, 229e)와 일체로 형성되어 있으며, 상기 상부 몸체(221)의 하부면에 삽입·고정되어 있는 고정부(229a)를 갖는다.The socket lead 229 is formed integrally with the electrical connection portion 229b protruding from the lower surface of the lower body 223 and the electrical connection portion 229b, and a lead connection portion connected to the lead 212 of the semiconductor chip package. 229c and 229e, and the electrical connection part 229b and the lead connection parts 229c and 229e integrally formed, and have a fixing part 229a inserted into and fixed to the lower surface of the upper body 221.
여기서, 소켓 리드(229)에 대하여 좀더 상세하게 설명하면, 전기적 연결부(229b)의 상부에 형성된 1개의 가지가 2개의 가지로 나누어져 있다.Here, the socket lead 229 will be described in more detail. One branch formed on the upper portion of the electrical connection portion 229b is divided into two branches.
그 2개의 가지 중에서 개구부(224)에 노출된 하부 몸체(223)의 외각에 접해 있는 가지는 하부 몸체(223)의 상부면의 가장 자리 부분에 접한 하부 리드 접속부(229e)로 형성된다.The branch which is in contact with the outer shell of the lower body 223 exposed to the opening 224 among the two branches is formed by the lower lead connecting portion 229e in contact with the edge portion of the upper surface of the lower body 223.
그리고, 나머지 하나의 가지는 소켓 리드(229)의 복원성을 갖게하는 영문자 S자 형상의 탄성부(229d)와, 그 탄성부(229d)와 일체로 형성되어 있으며, 하부 리드 접속부(229e)와 대응된 위치의 상부에 형성된 상부 리드 접속부(229c) 및 상부 리드 접속부(229c) 및 탄성부(229d)와 일체로 형성되어 있으며, 상기 상부 몸체(221)의 하부면에 삽입·고정되어 있는 고정부(229a)를 갖는다.The other branch is formed integrally with the English letter S-shaped elastic portion 229d and its elastic portion 229d to provide resilience of the socket lead 229, and corresponds to the lower lead connecting portion 229e. A fixing portion 229a which is formed integrally with the upper lead connecting portion 229c, the upper lead connecting portion 229c, and the elastic portion 229d formed at the upper portion of the position and is inserted and fixed to the lower surface of the upper body 221. Has
여기서, 하부 리드 접속부(229e)의 일측이 탄성부(229d)와 연결되어 있기 때문에 하부 리드 접속부(229e)는 탄성부(229d)의 복원 운동에 따라서 상·하 운동을 하게 된다.Here, since one side of the lower lead connecting portion 229e is connected to the elastic portion 229d, the lower lead connecting portion 229e moves up and down according to the restoring movement of the elastic portion 229d.
그리고, 상부 리드 접속부(229c)는 탄성부(229d)의 복원 운동에 따라서 시계 방향 또는 반시계 방향으로 운동하게 된다.The upper lead connecting portion 229c moves in the clockwise or counterclockwise direction in accordance with the restoring movement of the elastic portion 229d.
여기서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 소켓(220)의 소켓 리드(229)와 반도체 칩 패키지(110)가 전기적으로 연결되는 구조는 반도체 칩 패키지(229)가 피커와 같은 이송 수단(240)에 의해 소켓(220) 상부로 이송된다.Here, in the structure in which the socket lead 229 and the semiconductor chip package 110 of the socket 220 according to the first embodiment of the present invention are electrically connected to each other, the semiconductor chip package 229 has a transfer means 240 such as a picker. By the upper portion of the socket 220.
여기서, 피커(240)는 소켓(220)의 상부 몸체(221)의 상부면에 대응되게 형성된 가압부(243) 및 그 가압부(243)의 사이에 위치하며, 반도체 칩 패키지(210)를 진공 흡착에 의해 이송하는 흡착부(245)를 갖는다.Here, the picker 240 is positioned between the pressing portion 243 and the pressing portion 243 formed to correspond to the upper surface of the upper body 221 of the socket 220, and vacuum the semiconductor chip package 210. It has an adsorption part 245 conveyed by adsorption.
여기서, 반도체 칩 패키지(210)를 흡착한 피커(240)가 하강하게 되면, 상기 가압부(243)가 상기 소켓의 상부 몸체(221)의 상부면을 가압하게 되고, 그 가압에 의해 상기 상부 몸체(221)의 하부면에 체결된 소켓 리드의 고정부(229a)가 하강하게 되면, 탄성부(229d)가 수축하게 되고 그에 따라서, 하부 몸체(223)의 상부면에 대하여 상부 리드 접속부(229c)는 시계 회전 방향으로 이동하게 되어 상부 몸체(221)의 상부면에서 이격되고, 하부 리드 접속부(229e)는 아래쪽으로 이동하게 된다.Here, when the picker 240 which absorbs the semiconductor chip package 210 is lowered, the pressing unit 243 presses the upper surface of the upper body 221 of the socket, and the upper body is pressed by the pressing unit 243. When the fixing portion 229a of the socket lead fastened to the lower surface of 221 is lowered, the elastic portion 229d contracts, and accordingly, the upper lead connecting portion 229c with respect to the upper surface of the lower body 223. Is moved in the clockwise direction is spaced apart from the upper surface of the upper body 221, the lower lead connecting portion 229e is to move downward.
그리고, 피커의 흡착부(245)에 흡착된 반도체 칩 패키지(210)가 상기 하부 몸체(223)의 상부면에 떨어지게 된다.In addition, the semiconductor chip package 210 adsorbed to the adsorption part 245 of the picker is dropped on the upper surface of the lower body 223.
그리고, 피커(240)가 상승하게 되면 탄성부(229d)가 원래의 형상으로 복원되면서 상부 리드 접속부(229c)가 시계 반대 방향으로 회전하면서 반도체 칩 패키지의 리드(212)의 상부면을 찍어 접속하게 되며, 그와 동시에 하부 리드 접속부(229e)는 상승하여 반도체 칩 패키지 리드(212)의 하부면을 찍어 접속하게 된다.When the picker 240 is raised, the elastic part 229d is restored to its original shape while the upper lead connecting part 229c is rotated counterclockwise so that the upper surface of the lead 212 of the semiconductor chip package is photographed and connected. At the same time, the lower lead connecting portion 229e is raised to connect to the lower surface of the semiconductor chip package lead 212.
따라서, 상·하부 리드 접속부(229c, 229e)는 반도체 칩 패키지의 리드(212)의 상·하부면을 동시에 찍어 전기적으로 접속시키게 된다.Therefore, the upper and lower lead connecting portions 229c and 229e simultaneously connect and electrically connect the upper and lower surfaces of the lead 212 of the semiconductor chip package.
여기서, 반도체 칩 패키지(210)의 탑재가 완료되면 테스터에서 보내진 검사 신호가 테스트 기판(230)에 전달되고, 그 테스트 기판(230)과 전기적으로 연결된 소켓 리드(229)가 반도체 칩 패키지의 리드(212)에 전달되어 전기적 특성 검사가 이루어진다.Here, when the mounting of the semiconductor chip package 210 is completed, the test signal sent from the tester is transmitted to the test board 230, and the socket lead 229 electrically connected to the test board 230 is connected to the lead of the semiconductor chip package. 212) to check the electrical properties.
도 9는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 3개의 리드 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 나타내는 단면도이다.FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a socket for inspecting a semiconductor chip package having a socket lead having three lead connecting portions according to a second exemplary embodiment of the present invention. FIG.
도 9를 참조하면, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 소켓(320)은 소켓 리드(329)의 상부 리드 접속부(329c)의 말단에 2개의 리드 접속부가 형성되어 있으며, 나머지 구조는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 소켓 구조와 동일한 구조를 갖고 있다.9, in the socket 320 according to the second embodiment of the present invention, two lead connecting portions are formed at the ends of the upper lead connecting portion 329c of the socket lead 329, and the rest of the structure of the socket 320 according to the present invention. It has the same structure as the socket structure according to the first embodiment.
따라서, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 소켓(320)은 반도체 칩 패키지(310)의 리드(312)의 상부면의 두 부분을 찍어 접속하게 되고, 리드(312)의 하부면은 한 부분만 찍어 접속하기 때문에 3 부분에서 리드(312)와 접속된다.Therefore, the socket 320 according to the second embodiment of the present invention is connected to two parts of the upper surface of the lead 312 of the semiconductor chip package 310, and the lower surface of the lead 312 is only one portion. Since it connects by dipping, it connects with the lead 312 in three parts.
도 10은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 4개의 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 나타내는 단면도이다.FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a socket for inspecting a semiconductor chip package having a socket lead having four connection parts according to a third exemplary embodiment of the present invention. FIG.
도 10을 참조하면, 본 발명의 제 3 실시예에 따른 소켓(420)은 소켓 리드(429)의 하부 리드 접속부(429e)의 말단에 2개의 리드 접속부가 형성되어 있으며, 나머지 구조는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 소켓 리드의 구조와 동일한 구조를 갖고 있다.Referring to FIG. 10, the socket 420 according to the third exemplary embodiment of the present invention has two lead connecting portions formed at ends of the lower lead connecting portion 429e of the socket lead 429, and the rest of the structure of the socket 420 according to the present invention. It has the same structure as that of the socket lead according to the second embodiment.
따라서, 본 발명의 제 3 실시예에 따른 소켓(420)은 반도체 칩 패키지(410)의 리드(412)의 상부면의 두 부분을 찍어 접속하게 되고, 동시에 리드(412)의 하부면 또한 두 부분을 찍어 접속하기 때문에 4부분에서 리드(412)와 접속하게 된다.Accordingly, the socket 420 according to the third embodiment of the present invention is connected by taking two portions of the upper surface of the lead 412 of the semiconductor chip package 410, and at the same time the lower surface of the lead 412 is also two portions. In order to connect with the lead 412 in four parts.
도 11은 본 발명의 제 4 실시예에 따른 소켓은 상부 리드 접속부 말단에 2개의 리드 접속부가 형성된 소켓 리드를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓을 나타내는 단면도이다.11 is a cross-sectional view illustrating a socket for inspecting a semiconductor chip package having a socket lead having two lead connecting portions formed at an end of an upper lead connecting portion according to a fourth embodiment of the present invention.
도 11을 참조하면, 본 발명의 제 4 실시예에 따른 소켓(520)은 소켓 리드의 상부 리드 접속부(529c)의 말단에 2개의 리드 접속부가 형성되어 있으며, 종래 기술의 실시예에 따른 소켓과 동일하게 하부 리드 접속부를 갖지 않는다.Referring to FIG. 11, the socket 520 according to the fourth exemplary embodiment of the present invention has two lead connecting portions formed at the ends of the upper lead connecting portion 529c of the socket lead, and the socket according to the prior art embodiment. Similarly it does not have a lower lead connection.
따라서, 반도체 칩 패키지(510)의 리드(512)의 상부면을 두 부분을 상부 리드 접속부(529c)가 찍어 접속하게 된다.Therefore, the upper lead connecting portion 529c connects two portions of the upper surface of the lead 512 of the semiconductor chip package 510 to each other.
따라서, 본 발명의 의한 구조를 따르면, 소켓에 삽입된 반도체 칩 패키지의 리드와 전기적 접속되는 소켓 리드의 접속부가 2개 이상이며, 그 리드 접속부가 반도체 칩 패키지의 리드를 찍어 접속하기 때문에 전기적 접속 신뢰성이 향상되는 이점(利點)이 있다.Therefore, according to the structure of this invention, since the connection part of the socket lead electrically connected with the lead of the semiconductor chip package inserted in the socket is connected, since the lead connection part dips and connects the lead of the semiconductor chip package, electrical connection reliability is carried out. This has the advantage of being improved.
그리고, 복수개의 리드 접속부를 갖기 때문에 어느 하나의 접속부가 망실되더라도 소켓의 사용이 가능하기 때문에 소켓의 수명이 연장되는 이점이 있다.And since it has a plurality of lead connection parts, even if any one connection part is lost, the use of the socket is possible, there is an advantage that the life of the socket is extended.
Claims (8)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960069101A KR100236302B1 (en) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | Socket for testing semiconductor chip package |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960069101A KR100236302B1 (en) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | Socket for testing semiconductor chip package |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR19980050301A true KR19980050301A (en) | 1998-09-15 |
| KR100236302B1 KR100236302B1 (en) | 1999-12-15 |
Family
ID=19489780
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019960069101A KR100236302B1 (en) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | Socket for testing semiconductor chip package |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100236302B1 (en) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04199864A (en) * | 1990-11-29 | 1992-07-21 | Mitsubishi Electric Corp | Burn in substrate wiring check device |
| JPH07202080A (en) * | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Matsushita Electric Works Ltd | Mounter for ic package to ic socket |
-
1996
- 1996-12-20 KR KR1019960069101A patent/KR100236302B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100236302B1 (en) | 1999-12-15 |
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