KR102679460B1 - 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리 - Google Patents

반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리 Download PDF

Info

Publication number
KR102679460B1
KR102679460B1 KR1020220090537A KR20220090537A KR102679460B1 KR 102679460 B1 KR102679460 B1 KR 102679460B1 KR 1020220090537 A KR1020220090537 A KR 1020220090537A KR 20220090537 A KR20220090537 A KR 20220090537A KR 102679460 B1 KR102679460 B1 KR 102679460B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pair
module
magnetic units
semiconductor package
adsorbing
Prior art date
Application number
KR1020220090537A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20240012951A (ko
Inventor
문성주
Original Assignee
주식회사 티에프이
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 티에프이 filed Critical 주식회사 티에프이
Priority to KR1020220090537A priority Critical patent/KR102679460B1/ko
Publication of KR20240012951A publication Critical patent/KR20240012951A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102679460B1 publication Critical patent/KR102679460B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889Interfaces, e.g. between probe and tester
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2891Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks related to sensing or controlling of force, position, temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2896Testing of IC packages; Test features related to IC packages
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67721Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrates to be conveyed not being semiconductor wafers or large planar substrates, e.g. chips, lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices

Abstract

본 발명은, 진공에어 유입구를 가지는 베이스 모듈; 상기 진공에어 유입구와 연통되는 진공에어 토출구를 구비하고, 상기 진공에어 토출구를 통해 반도체 패키지를 흡착하도록 구성되는 흡착 모듈; 및 상기 베이스 모듈 및 상기 흡착 모듈에 서로 결합되게 설치되는 한 쌍의 자성 유닛과, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 상기 베이스 모듈 또는 상기 흡착 모듈로부터 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 다른 하나를 향한 방향으로 이탈하는 것을 제한하는 이탈제한 유닛을 구비하여, 상기 베이스 모듈과 상기 흡착 모듈이 서로에 대해 탈착 가능하게 체결되게 하는 체결 모듈을 포함하는, 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리를 제공한다.

Description

반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리{PICKER ASSEMBLY FOR ADSORBING SEMICONDUCTOR PACKAGE}
본 발명은 반도체 패키지를 흡착하는데 사용되는 픽커 어셈블리에 관한 것이다.
일반적으로, 반도체 제조 공정에 의해 완성된 반도체 패키지는 테스트(검사) 공정을 통해 동작 특성들이 제대로 구현되는지에 대해 체크된 후 양품으로 분류된 경우에 출하된다.
검사 공정 진행 중에, 반도체 패키지는 픽커에 의해 흡착되어, 일 위치에서 타 위치로 이동될 수 있다. 픽커는 반도체 패키지를 검사용 소켓에 가압하는 과정에도 사용될 수 있다.
픽커는 반복 사용됨에 의해 마모되거나 고장나는 경우가 있다. 또한 반도체 패키지의 사이즈에 따라 교체되어야 하는 경우도 있다.
이상의 이유로, 픽커를 교환하는 경우에, 분리 및 재체결하는 과정이 간단하지 않아 작업성이 떨어지는 문제가 있다.
본 발명의 일 목적은, 픽커에 대한 교체가 쉽게 이루어지면서도, 교체를 위한 구성이 설치 대상에서 쉽게 이탈되지 않게 할 수 있는, 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리를 제공하는 것이다.
상기한 과제를 실현하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리는, 진공에어 유입구를 가지는 베이스 모듈; 상기 진공에어 유입구와 연통되는 진공에어 토출구를 구비하고, 상기 진공에어 토출구를 통해 반도체 패키지를 흡착하도록 구성되는 흡착 모듈; 및 상기 베이스 모듈 및 상기 흡착 모듈에 서로 결합되게 설치되는 한 쌍의 자성 유닛과, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 상기 베이스 모듈 또는 상기 흡착 모듈로부터 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 다른 하나를 향한 방향으로 이탈하는 것을 제한하는 이탈제한 유닛을 구비하여, 상기 베이스 모듈과 상기 흡착 모듈이 서로에 대해 탈착 가능하게 체결되게 하는 체결 모듈을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 이탈제한 유닛은, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 다른 하나 측에서 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나를 지지하도록 형성되는 지지턱을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나는, 외부로 노출되는 노출면을 가지는 몸체; 및 상기 몸체 중 상기 노출면의 가장자리 영역에 형성된 챔퍼부를 포함하고, 상기 지지턱은, 상기 챔퍼부에 맞물리도록 형성될 수 있다.
여기서, 상기 베이스 모듈 또는 상기 흡착 모듈은, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 삽입되는 설치홀을 포함하고, 상기 지지턱은, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 상기 설치홀에 압입 시에 깎이지 않은 부분에 의해 형성된 것일 수 있다.
여기서, 상기 지지턱은, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나의 둘레를 따라 연속적으로 연장되어 폐루프 형태를 이루는 것일 수 있다.
여기서, 상기 베이스 모듈 또는 상기 흡착 모듈은, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 삽입되는 관통홀을 포함하고, 상기 체결 모듈은, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 다른 하나를 향한 방향을 따라 상기 관통홀에 삽입 고정되어, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나의 위치를 제한하는 제한 볼트를 더 포함할 수 있다.
여기서, 상기 제한 볼트는, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 상기 지지턱에 밀착되게 하는 깊이로 삽입된 것일 수 있다.
여기서, 상기 자성 유닛은, 영구 자석을 포함할 수 있다.
상기와 같이 구성되는 본 발명에 따른 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리에 의하면, 베이스 모듈에 대해 흡착 모듈을 탈착 가능하게 체결시키는 체결 모듈은 자성 결합을 이루는 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 이탈하는 것을 제한하는 이탈제한 유닛을 구비함에 의해, 흡착 모듈을 자성 결합에 의해 쉽게 교체할 수 있게 하면서도 해당 자성 유닛이 탈착되는 과정에서 설치 대상에서 이탈되는 문제를 해결할 수 있게 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리(100)에 대한 분해 사시도이다.
도 2는 도 1의 조립 상태에서 체결 모듈(150)에 관한 부분을 보인 부분 절단 사시도이다.
도 3은 도 2의 제1 자성 유닛(151)과 서브 몸체(115) 간의 결합 관계를 설명하기 위한 부분 절단 단면도이다.
도 4는 도 1에서 제1 자성 유닛(151) 관련 구성의 분해 사시도이다.
도 5는 도 4에서 서브 몸체(115) 관련 구성을 보인 사시도이다.
도 6은 도 1에서 제2 자성 유닛(155) 관련 구성의 분해 사시도이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일·유사한 구성에 대해서는 동일·유사한 참조번호를 부여하고, 그 설명은 처음 설명으로 갈음한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리(100)에 대한 분해 사시도이다.
본 도면을 참조하면, 픽커 어셈블리(100)는, 베이스 모듈(110)과 흡착 모듈(150)을 포함할 수 있다.
베이스 모듈(110)은 장비 본체(미도시), 예를 들어 로딩 장비의 본체 또는 언로딩 장비의 일부를 이루는 구성일 수 있다. 베이스 모듈(110)의 메인 몸체(111)에는 진공에어가 유동하는 진공에어 유입구(113)가 형성될 수 있다. 진공 펌프의 작동에 의해 흡착 모듈(150)로부터 에어가 진공 펌프 측으로 빨려 가는 것이나, 본 명세서에서는 편의상 이와 반대 경로로 '진공에어'가 진공에어 유입구(113) 측으로 제공되는 것으로 설명한다. 메인 몸체(111)의 양측에는 서브 몸체(115)가 설치될 수 있다. 서브 몸체(115)는 흡착 모듈(130)과의 결합을 위해 메인 몸체(111) 보다 하측으로 연장될 수 있다. 서브 몸체(115)는 메인 몸체(111)와 별도의 부재로 형성되는 것으로 예시되나, 메인 몸체(111)와 일체로 형성될 수도 있다.
흡착 모듈(130)은 진공에어 유입구(113)와 연통되는 메인 몸체(131)를 가진다. 메인 몸체(131)의 상부에는 진공에어 유입구(113)와 연통되는 진공에어 연통구(132)가 형성된다. 진공에어 연통구(132)는 복수 개로 나뉘기에, 진공에어는 각각에 배분된다. 메인 몸체(131)의 하부에는 진공에어 토출구(133)가 형성된다. 진공에어 토출구(133)는 진공에어 연통구(132)와 연결된 채로, 진공에어에 의해 반도체 패키지를 흡착하게 된다. 진공에어 토출구(133)는 복수 개로 나뉘어서, 픽커 어셈블리(100)가 한 번에 복수 개의 반도체 패키지를 흡착할 수 있게 한다. 메인 몸체(131)의 양측에는 서브 몸체(115)에 대응해서 역시 서브 몸체(135)가 형성될 수 있다.
체결 모듈(150)은 베이스 모듈(110)과 흡착 모듈(130)을 탈착 가능하게 체결하는 구성이다. 체결 모듈(150)은 베이스 모듈(110)의 서브 몸체(115)와 흡착 모듈(130)의 서브 몸체(135)에 서로 대응하도록 설치될 수 있다. 체결 모듈(150)의 구체적 구성으로서, 본 도면에서는 서브 몸체(135)에 설치된 제2 자성 유닛(155)이 보여진다.
베이스 모듈(110)은 장비의 일부를 이루고 있는 상태에서 흡착 모듈(130)을 교체해야 하는 경우에, 흡착 모듈(130)은 베이스 모듈(110)로부터 쉽게 분리될 수 있다. 이는 체결 모듈(150)의 작용에 의해 이루어진다. 체결 모듈(150)은 자성 결합에 의해 베이스 모듈(110)과 흡착 모듈(130)을 탈착 가능하게 결합시키기 때문이다.
이러한 체결 모듈(150)의 구체적 구성은 도 2 내지 도 3을 참조하여 설명한다.
먼저, 도 2는 도 1의 조립 상태에서 체결 모듈(150)에 관한 부분을 보인 부분 절단 사시도이다.
본 도면을 참조하면, 체결 모듈(150)은 앞서 드러난 제2 자성 유닛(155)에 더하여, 제1 자성 유닛(151)을 더 포함할 수 있다.
제1 자성 유닛(151)과 제2 자성 유닛(155)은 영구 자석일 수 있다. 이들이 마주하는 면들은 서로 다른 극성을 갖게 된다. 이와 달리, 이들 중 하나가 영구 자석일 때, 다른 하나는 금속 부재일 수 있다.
제1 자성 유닛(151)은 서브 몸체(115)의 설치홀(117)에 삽입 설치된다. 제1 자성 유닛(151)의 저면은 서브 몸체(115)의 저면과 대체로 동일한 높이에 위치할 수 있다. 제1 자성 유닛(151)의 상측에는 제한 볼트(153)가 배치될 수 있다.
제2 자성 유닛(155)은 역시 서브 몸체(135)의 설치홀(137)에 삽입 설치된다. 제2 자성 유닛(155)의 상면은 서브 몸체(135)의 상면과 대체로 동일한 높이에 위치할 수 있다. 서브 몸체(115)의 저면과 서브 몸체(135)의 상면이 접촉한 상태에서, 제2 자성 유닛(155) 역시 제1 자성 유닛(151)과 접촉한 채로 자성 결합될 수 있다. 제2 자성 유닛(155)의 하측에는 체결 부재(138)의 머리가 위치할 수 있다. 체결 부재(138)는 서브 몸체(135)를 메인 몸체(131)에 대해 체결하기 위한 것이다.
다음으로, 도 3은 도 2의 제1 자성 유닛(151)과 서브 몸체(115) 간의 결합 관계를 설명하기 위한 부분 절단 단면도이다.
본 도면을 참조하면, 제1 자성 유닛(151)은 대체로 원통형의 몸체(151a)를 가질 수 있다. 몸체(151a)의 저면은 노출면(151b)으로서, 서브 몸체(115)의 저면을 통해 외부로 노출되는 면이다. 몸체(151a)의 노출면(151b)의 가장자리 영역에는 챔퍼부(151c)가 형성될 수 있다. 챔퍼부(151c)는 노출면(151b)의 둘레를 따라서 연속적으로 형성될 수 있다.
제1 자성 유닛(151)은 이탈제한 유닛(157)에 의해, 서브 몸체(115)에서 제2 자성 유닛(155)을 향한 방향으로 이탈하는 것이 제한된다. 이탈제한 유닛(157)으로 인하여, 제1 자성 유닛(151)은 제2 자성 유닛(155)에 대해 여러 번 탈착되더라도, 탈착시의 충격에 의해 서브 몸체(115)에서 이탈되지 않게 된다.
이탈제한 유닛(157)은 제2 자성 유닛(155) 측에서 제1 자성 유닛(151)을 지지하는 지지턱일 수 있다. 상기 지지턱은 설치홀(117)의 내주면에 형성된다. 그는 챔퍼부(151c)와 맞물리게 형성될 수 있다. 그에 의해, 상기 지지턱은 제1 자성 유닛(151)의 노출면(151b)이 제2 자성 유닛(155)과 접촉하는데 지장을 주지 않는다.
제1 자성 유닛(151) 및 관련 구성의 설치는 도 4 및 도 5를 참조하여 설명한다. 도 4는 도 1에서 제1 자성 유닛(151) 관련 구성의 분해 사시도이고, 도 5는 도 4에서 서브 몸체(115) 관련 구성을 보인 사시도이다.
본 도면을 참조하면, 서브 몸체(115)의 설치홀(117)에 대해 제1 자성 유닛(151)이 삽입 설치되어야 한다. 그 전에, 설치홀(117)의 내주면에는 접착제(158)가 도포될 수 있다.
설치홀(117)이 관통홀이라면, 제1 자성 유닛(151)은 제2 자성 유닛(155)을 향한 방향으로 설치홀(117)에 삽입, 보다 구체적으로는 압입될 수 있다. 이러한 압입 및 접착제(158)에 의해, 제1 자성 유닛(151)은 설치홀(117)에 견고하게 고정될 수 있다.
제1 자성 유닛(151)의 압입 중에, 서브 몸체(115) 중 설치홀(117)을 한정하는 부분은 대부분 깎여지나 하단의 일부는 그렇지 않을 수 있다. 또한, 접착제(158)도 제1 자성 유닛(151)에 의해 밀려서 링 형태로 굳어질 수 있다. 그렇게 서브 몸체(115) 중 깎이지 않은 부분(및 상기 접척제(158)에 의해 만들어진 부분)이 상기 지지턱이 되는 것이다. 상기 지지턱은 제1 자성 유닛(151)의 둘레 방향을 따라 연속적으로 형성되어 폐루프 형태를 이룰 수 있다.
제1 자성 유닛(151)의 하부가 상기 지지턱에 의해 지지되는 것에 더하여, 제1 자성 유닛(151)의 상부는 제한 볼트(153)에 의해 가압될 수 있다. 이를 위해, 제한 볼트(153)는 제2 자성 유닛(155)를 향한 방향으로 설치홀(117)의 상측에서 삽입될 수 있다. 그에 따라, 제한 볼트(153)는 제1 자성 유닛(151)이 상방으로 이동하는 것을 제한한다. 나아가, 제한 볼트(153)는 제1 자성 유닛(151)이 상기 지지턱에 밀착되는 깊이까지 삽입되어 서브 몸체(115)에 고정될 수 있다. 제한 볼트(153)는 또한 제1 자성 유닛(151)의 설치홀(117)의 상부를 통해 외부로 이탈하는 것을 막기도 한다.
다음으로, 제2 자성 유닛(155)의 설치와 관련해서는 도 6을 참조하여 설명한다. 도 6은 도 1에서 제2 자성 유닛(155) 관련 구성의 분해 사시도이다.
본 도면을 참조하면, 제2 자성 유닛(155)이 서브 몸체(135)의 설치홀(137)에 삽입되기 전에도, 설치홀(137)의 내주면에는 접착제(159)가 도포될 수 있다.
그 상태에서, 제2 자성 유닛(155)은 제1 자성 유닛(151)을 향한 방향으로 설치홀(137)에 삽입, 구체적으로 압입될 수 있다. 이러한 압입 및 접착제(159)에 의해, 제2 자성 유닛(!55)은 설치홀(137)에 견고하게 고정될 수 있다.
또한, 제2 자성 유닛(155)에 대해서도, 제1 자성 유닛(151)에서와 유사하게, 지지턱이 형성될 수 있다. 상기 지지턱에 의해 제2 자성 유닛(155) 역시 서브 몸체(135)로부터 보다 확실하게 이탈되지 않게 된다. 제2 자성 유닛(155)가 상기 지지턱과 반대 방향으로 설치 위치에서 이탈하려고 하더라도, 제2 자성 유닛(155)는 체결 부재(138)에 의해 설치홀(137) 내에 구속되게 된다.
상기와 같은 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리는 위에서 설명된 실시예들의 구성과 작동 방식에 한정되는 것이 아니다. 상기 실시예들은 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 구성될 수도 있다.
100: 픽커 어셈블리 110: 베이스 모듈
130: 흡착 모듈 150: 체결 모듈
151: 제1 자성 유닛 153: 제한 볼트
155: 제2 자성 유닛 157: 이탈제한 유닛

Claims (8)

  1. 진공에어 유입구를 가지는 베이스 모듈; 상기 진공에어 유입구와 연통되는 진공에어 토출구를 구비하고, 상기 진공에어 토출구를 통해 반도체 패키지를 흡착하도록 구성되는 흡착 모듈; 및 상기 베이스 모듈 및 상기 흡착 모듈에 서로 결합되게 설치되는 한 쌍의 자성 유닛과, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 상기 베이스 모듈 또는 상기 흡착 모듈로부터 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 다른 하나를 향한 방향으로 이탈하는 것을 제한하는 이탈제한 유닛을 구비하여, 상기 베이스 모듈과 상기 흡착 모듈이 서로에 대해 탈착 가능하게 체결되게 하는 체결 모듈을 포함하고,
    상기 이탈제한 유닛은, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 다른 하나 측에서 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나를 지지하도록 형성되는 지지턱을 포함하는, 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나는,
    외부로 노출되는 노출면을 가지는 몸체; 및
    상기 몸체 중 상기 노출면의 가장자리 영역에 형성된 챔퍼부를 포함하고,
    상기 지지턱은,
    상기 챔퍼부에 맞물리도록 형성되는, 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 베이스 모듈 또는 상기 흡착 모듈은,
    상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 삽입되는 설치홀을 포함하고,
    상기 지지턱은,
    상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 상기 설치홀에 압입 시에 깎이지 않은 부분에 의해 형성된 것인, 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 지지턱은,
    상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나의 둘레를 따라 연속적으로 연장되어 폐루프 형태를 이루는 것인, 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 베이스 모듈 또는 상기 흡착 모듈은,
    상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 삽입되는 관통홀을 포함하고,
    상기 체결 모듈은,
    상기 한 쌍의 자성 유닛 중 다른 하나를 향한 방향을 따라 상기 관통홀에 삽입 고정되어, 상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나의 위치를 제한하는 제한 볼트를 더 포함하는, 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제한 볼트는,
    상기 한 쌍의 자성 유닛 중 하나가 상기 지지턱에 밀착되게 하는 깊이로 삽입된 것인, 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 자성 유닛은,
    영구 자석을 포함하는, 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리.
  8. 삭제
KR1020220090537A 2022-07-21 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리 KR102679460B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220090537A KR102679460B1 (ko) 2022-07-21 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220090537A KR102679460B1 (ko) 2022-07-21 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20240012951A KR20240012951A (ko) 2024-01-30
KR102679460B1 true KR102679460B1 (ko) 2024-06-28

Family

ID=

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101588809B1 (ko) * 2014-10-28 2016-01-26 (주)케이엔씨 디바이스 테스팅 장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101588809B1 (ko) * 2014-10-28 2016-01-26 (주)케이엔씨 디바이스 테스팅 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101743746B1 (ko) 반도체 패키지 흡착 픽커 어셈블리
KR20070120319A (ko) 한 쌍의 이젝터들을 구비하는 반도체 칩의 탈착 장치 및이를 이용한 반도체 칩의 탈착 방법
JP2018110224A (ja) 吸引ノズルを接続する組立構造
KR102679460B1 (ko) 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리
KR20240012951A (ko) 반도체 패키지 흡착용 픽커 어셈블리
KR101687022B1 (ko) 다이 흡착 장치
KR102091426B1 (ko) 기판 수납 용기
KR102265894B1 (ko) 진공 블럭을 구비한 픽업 장치
KR102327814B1 (ko) 흡착 플레이트, 절단 장치 및 절단 방법
KR100823309B1 (ko) 반도체 소자 절단용 트레이
JP4655272B2 (ja) 基板吸着装置とそれを用いた基板搬送装置
US4989845A (en) Pellet accommodating and aligning jig
KR102270623B1 (ko) 픽업 장치용 진공 흡착 패드
KR102681161B1 (ko) 반도체패키지 테스트 소켓 장착용 지그
US20240071983A1 (en) Solder ball attaching apparatus
US20240194509A1 (en) Magnetic collet
KR101999244B1 (ko) 반도체용 흡착장치
KR20200039861A (ko) 반도체 패키지 소잉 장치
CN216354123U (zh) 芯片植球治具
TWI630059B (zh) Substrate adsorption device and workbench
JP4121110B2 (ja) 半田ボール供給用ピックアップヘッドおよび半田ボール供給用ピックアップヘッドに用いられる吸着プレートの製造方法ならびに半田ボール供給装置
JP2003243817A (ja) 半田ボール供給用ピックアップヘッドおよび半田ボール供給装置ならびに半田ボール供給方法
CN114424687A (zh) 元件吸嘴、元件安装系统
KR20230166716A (ko) 반도체패키지 테스트 소켓 장착용 지그
KR200380116Y1 (ko) 반도체소자용 어태치 장치