KR102663754B1

KR102663754B1 - Multilayer male pin connector

Info

Publication number: KR102663754B1
Application number: KR1020210134935A
Authority: KR
Inventors: 백충국; 김성모
Original assignee: 캠아이티(주)
Filing date: 2021-10-12
Publication date: 2024-05-03

Abstract

본 발명은 다층구조의 메일 핀 커넥터에 관한 것이다.
이러한 본 발명은, 번인 소켓 하부의 DUT 보드에 전기적으로 연결된 피메일 커넥터의 하부에 설치되는 다수 개의 메일 핀과, 메일 핀에 결합되는 메일 핀 바디와, 메일 핀에 메일 핀 바디에 의해 체결된 영역을 제외한 노출된 영역을 감싸도록 탈부착 가능하게 체결되는 커버를 포함하는 것을 기술적 요지로 한다.The present invention relates to a male pin connector with a multi-layer structure.
This invention includes a plurality of male pins installed at the bottom of a female connector electrically connected to the DUT board at the bottom of a burn-in socket, a male pin body coupled to the male pin, and a region fastened to the male pin by the male pin body. The technical gist is to include a cover that is detachably fastened to cover the exposed area excluding.

Description

Multi-layered male pin connector {MULTILAYER MALE PIN CONNECTOR}

본 발명은 다층구조의 메일 핀 커넥터에 관한 것이다.The present invention relates to a male pin connector with a multi-layer structure.

반도체 디바이스는 생산된 후 내구성 및 신뢰성을 검증하기 위한 여러가지 테스트를 거치게 되는데, 예를 들어 반도체 디바이스에 전기적 신호를 인가하고 작동시킬 때 열이나 스트레스에 얼마나 잘 견딜 수 있는 가를 확인하는 번인 테스트가 있다.After being produced, semiconductor devices undergo various tests to verify durability and reliability. For example, there is a burn-in test that checks how well a semiconductor device can withstand heat or stress when applying an electrical signal to the device and operating it.

번인 테스트는 반도체 디바이스를 번인 소켓에 장착하고 이를 DUT(device under test) 보드에 결합한 후, DUT 보드와 테스트 보드 사이에 이들을 서로 연결하는 커넥터가 별도로 구비된 상태에서 120℃ 부근의 고온에서 전기적으로 연결하여 수행하게 된다.The burn-in test involves mounting a semiconductor device to a burn-in socket, combining it with a DUT (device under test) board, and electrically connecting it at a high temperature of around 120℃ with a separate connector connecting the DUT board and the test board. It is carried out.

커넥터에는 다수 개 금속 핀들의 대부분 영역이 외부로 노출되어 있는데, 핀과 핀 사이의 간격이 조밀하기 때문에 반도체 디바이스 생산에 필요한 고전류를 가하는 번인 테스트를 진행하게 될 경우 이물에 의한 쇼트(short)가 쉽게 발생하여 이상 동작이 초래될 수 있는 문제점이 있다.In a connector, most of the area of the multiple metal pins is exposed to the outside, and since the spacing between pins is tight, short circuits due to foreign substances can easily occur when performing a burn-in test that applies the high current required for semiconductor device production. There is a problem that may occur and result in abnormal operation.

또한, 다수 개의 금속 핀들이 외부로 노출된 상태로 방치되어 있기 때문에 핀의 노출된 영역으로 인해 핀들 사이를 절연시키기 위한 별도의 안정장치가 마련되어 있지 않은 문제점이 있다.Additionally, since multiple metal pins are left exposed to the outside, there is a problem in that no separate stabilizing device is provided to insulate the pins due to the exposed areas of the pins.

따라서 종래 핀이 외부로 노출되는 영역을 최소화함으로써, 번인 테스트 시 핀 간에 쇼트를 방지할 수 있을 뿐만 아니라 핀 간을 절연시킬 수 있도록 하는 기술 개발이 절실히 필요한 실정이다.Therefore, there is an urgent need to develop technology that not only prevents short circuits between pins during burn-in testing by minimizing the area where conventional pins are exposed to the outside, but also insulates the pins.

국내 등록특허공보 제10-1465617호, 2014.11.20.자 등록.Domestic Registered Patent Publication No. 10-1465617, registered on November 20, 2014.

본 발명은 상기한 문제점을 해소하기 위하여 발명된 것으로, 번인 테스트 시 쇼트 발생을 방지할 수 있는 다층구조의 메일 핀 커넥터를 제공하는 것을 기술적 해결과제로 한다.The present invention was invented to solve the above-described problems, and the technical problem is to provide a male pin connector with a multi-layer structure that can prevent short circuits during burn-in testing.

상기의 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명은, 번인 소켓 하부의 DUT 보드에 전기적으로 연결된 피메일 커넥터의 하부에 설치되는 다수 개의 메일 핀; 상기 메일 핀에 결합되는 메일 핀 바디; 및 상기 메일 핀에 상기 메일 핀 바디에 의해 체결된 영역을 제외한 노출된 영역을 감싸도록 탈부착 가능하게 체결되는 커버;를 포함하는 것을 특징으로 하는 다층구조의 메일 핀 커넥터를 제공한다.In order to solve the above technical problem, the present invention includes a plurality of male pins installed on the lower part of the female connector electrically connected to the DUT board below the burn-in socket; a male pin body coupled to the male pin; and a cover detachably fastened to the male pin to surround an exposed area excluding the area fastened by the male pin body.

바람직하게는 상기 커버는, 상기 메일 핀을 중심으로 서로 마주보도록 체결되는 한 쌍의 커버부재로 이루어지고, 상기 메일 핀에 체결된 한 쌍의 커버부재에는 상기 메일 핀이 분할되어 수용될 수 있는 분할공간이 형성되는 것을 특징으로 한다.Preferably, the cover is made of a pair of cover members fastened to face each other around the male pin, and the pair of cover members fastened to the male pin has a split portion that can accommodate the mail pin. It is characterized by the formation of space.

바람직하게는 상기 커버부재에는 상기 메일 핀이 고정될 수 있는 체결홈이 함몰 형성되는 것을 특징으로 한다.Preferably, the cover member is characterized in that a fastening groove into which the male pin can be fixed is recessed.

바람직하게는 상기 커버는, 열가소성 고분자 소재인 것을 특징으로 한다.Preferably, the cover is made of a thermoplastic polymer material.

바람직하게는 상기 메일 핀 바디가 상기 메일 핀의 상하부에 결합되고, 상기 커버는 상기 메일 핀 바디의 사이에 결합되는 것을 특징으로 한다.Preferably, the male pin body is coupled to the upper and lower portions of the male pin, and the cover is coupled between the male pin bodies.

상기 과제의 해결 수단에 의한 본 발명의 다층구조의 메일 핀 커넥터에 따르면, 메일 핀에 메일 핀 바디가 체결된 부분을 제외하고 노출된 영역을 열가소성 고분자 소재로 이루어진 커버로 보호함에 따라, 번인 테스트 시 커버의 이물질 차단 기능에 의한 노출된 영역의 쇼트 발생을 방지하여 번인 테스트 효율을 향상시킬 수 있을 뿐만 아니라 절연 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.According to the multi-layered male pin connector of the present invention as a means of solving the above problem, the exposed area, excluding the part where the male pin body is fastened to the male pin, is protected with a cover made of a thermoplastic polymer material, thereby preventing burn-in tests. By preventing short circuits in exposed areas due to the foreign matter blocking function of the cover, not only can burn-in test efficiency be improved, but insulation efficiency can also be improved.

또한, 커버의 길이 조절이 가능하므로, 다수 개 메일 핀의 너비 또는 높이에 제한을 받지 않고 용이하게 제작하여 사용할 수 있는 효과가 있다.In addition, since the length of the cover can be adjusted, it can be easily manufactured and used without being limited by the width or height of multiple mail pins.

또한, 분리형 커버는 메일 핀의 노출된 영역에 탈부착 가능하게 체결할 수 있으므로, 부착되어 있던 커버를 탈착시켜 번인 테스트 과정에서 메일 핀에 번트(burnt) 발생 여부를 용이하게 확인할 수 있는 바, 즉 쇼트 발생 시 커버를 쉽게 개방하여 메일 핀의 상태를 확인할 수 있는 효과가 있다.In addition, since the detachable cover can be attached and detachably fastened to the exposed area of the male pin, the attached cover can be removed to easily check whether burnt occurs on the male pin during the burn-in test, that is, short circuit. When this happens, you can easily open the cover and check the status of the mail pin.

도 1은 본 발명의 메일 핀 커넥터가 장착된 상태를 나타낸 상부 사시도.
도 2는 도 1의 하부 사시도.
도 3 내지 도 5는 본 발명의 메일 핀 커넥터의 기본 구조를 나타낸 예시도.
도 6은 본 발명의 메일 핀 커넥터에 커버가 체결된 구조를 나타낸 예시도.
도 7은 본 발명의 메일 핀 커넥터를 상세히 나타낸 분해 사시도.
도 8은 본 발명의 커버부재를 나타낸 상세도.
도 9는 커버가 구비되지 않은 메일 핀 커넥터를 예시로 나타낸 상부 사시도.
도 10은 도 9의 하부 사시도.
도 11은 커버가 구비되지 않은 메일 핀 커넥터를 또 다른 예시로 나타낸 상부 사시도.
도 12는 도 11의 하부 사시도.Figure 1 is a top perspective view showing a state in which the male pin connector of the present invention is mounted.
Figure 2 is a lower perspective view of Figure 1.
3 to 5 are illustrations showing the basic structure of the male pin connector of the present invention.
Figure 6 is an exemplary diagram showing a structure in which a cover is fastened to the male pin connector of the present invention.
Figure 7 is an exploded perspective view showing the male pin connector of the present invention in detail.
Figure 8 is a detailed view showing the cover member of the present invention.
Figure 9 is a top perspective view showing an example of a male pin connector without a cover.
Figure 10 is a lower perspective view of Figure 9.
Figure 11 is a top perspective view showing another example of a male pin connector without a cover.
Figure 12 is a lower perspective view of Figure 11.

이하, 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail.

본 발명은 다층구조의 메일 핀 커넥터에 관한 것으로, 본 발명의 메일 핀 커넥터가 장착된 상태를 상부 사시도로 나타낸 도 1과, 도 1을 하부 사시도로 나타낸 도 2에 도시된 바와 같이, 반도체 디바이스의 전기적 특성을 측정하기 위한 번인 소켓(10) 하부의 DUT 보드(20)에 전기적으로 연결된 피메일 커넥터(30)의 하부에 설치되는 다수 개의 메일 핀(100)과, 메일 핀(100)에 결합되는 메일 핀 바디(200)와, 메일 핀(100)에 메일 핀 바디(200)에 의해 체결된 영역(a1)을 제외한 노출된 영역(a2)을 감싸도록 탈부착 가능하게 체결되는 커버(300)를 포함하여 구성될 수 있다. 단, 본 발명에서 다층구조라 함은, 다수 개의 메일 핀(100)이 1열 또는 2열로 배치된 상태에서, 메일 핀(100)의 상하부에 결합되는 한 쌍의 메일 핀 바디(200)와, 한 쌍의 메일 핀 바디(200) 사이에 탈부착 가능하게 체결되는 커버(300)가 다층으로 이루어진 구조를 의미한다.The present invention relates to a male pin connector of a multi-layer structure. As shown in FIG. 1, which shows an upper perspective view showing the male pin connector of the present invention in an installed state, and FIG. 2, which shows FIG. 1 as a lower perspective view, the semiconductor device. A plurality of male pins 100 installed on the lower part of the female connector 30 electrically connected to the DUT board 20 below the burn-in socket 10 for measuring electrical characteristics, and coupled to the male pin 100. It includes a male pin body 200 and a cover 300 that is detachably fastened to the male pin 100 to cover the exposed area (a2) excluding the area (a1) fastened to the male pin body 200. It can be configured as follows. However, in the present invention, the multi-layer structure refers to a pair of male pin bodies 200 coupled to the upper and lower parts of the male pin 100, with a plurality of male pins 100 arranged in one or two rows, and one This refers to a multi-layer structure in which the cover 300 is detachably fastened between a pair of male pin bodies 200.

도 3 내지 도 5는 본 발명의 메일 핀 커넥터의 기본 구조를 예시도로 나타낸 것이다. 도 3(a)는 다수 개의 메일 핀(100)이 2열로 배치된 상태에서 단일 메일 핀 바디(200)가 메일 핀(100)에 체결된 상태를 정면에서 바라본 모습을 나타낸 것이고, 도 3(b)는 도 3(a)를 측면에서 바라본 모습을 나타낸 것이다. 도 4(a)는 다수 개의 메일 핀(100)이 2열로 배치된 상태에서 도 3에 도시된 메일 핀 바디(200) 보다 상대적으로 높이방향으로 긴 메일 핀 바디(200)가 체결된 상태를 정면에서 바라본 모습을 나타낸 것이고, 도 4(b)는 도 4(a)를 측면에서 바라본 모습을 나타낸 것이다. 도 5(a)는 다수 개의 메일 핀(100)이 2열로 배치된 상태에서 한 쌍의 메일 핀 바디(200)가 일정 간격으로 두고 메일 핀(100)에 체결된 상태를 정면에서 바라본 모습을 나타낸 것이고, 도 5(b)는 도 5(a)를 측면에서 바라본 모습을 나타낸 것이다. 이러한 도 3 내지 도 5를 참조하면, 메일 핀(100)에 체결될 수 있는 메일 핀 바디(200)는 1개 또는 2개, 경우에 따라 3개 이상을 체결할 수도 있다.3 to 5 illustrate the basic structure of the male pin connector of the present invention. Figure 3(a) shows a front view of a single male pin body 200 fastened to the male pin 100 with a plurality of male pins 100 arranged in two rows, and Figure 3(b) ) shows a side view of Figure 3(a). FIG. 4(a) is a front view showing a state in which a plurality of male pins 100 are arranged in two rows and a male pin body 200 that is relatively longer in the height direction than the male pin body 200 shown in FIG. 3 is fastened. It shows a view from the side, and Figure 4(b) shows a view from the side of Figure 4(a). Figure 5(a) shows a front view of a pair of male pin bodies 200 fastened to the male pins 100 at regular intervals with a plurality of male pins 100 arranged in two rows. And Figure 5(b) shows a side view of Figure 5(a). Referring to FIGS. 3 to 5, one or two male pin bodies 200 may be fastened to the male pin 100, and in some cases, three or more may be fastened to the male pin 100.

도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이 메일 핀 바디(200)의 높이방향으로 다수 개 관통 형성된 끼움공(210)에 메일 핀(100)이 각각 대응되게 끼움 체결될 수 있다. 하지만 고전류의 번인 테스트가 진행됨에 따라 메일 핀(100)에 메일 핀 바디(200)가 체결된 부분을 제외한 노출된 영역(a2)에 쇼트가 발생할 수 밖에 없어, 쇼트 발생을 방지할 수 있는 수단이 필요하다.As shown in FIGS. 3 to 5 , the male pins 100 may be respectively fitted and fastened to a plurality of fitting holes 210 formed through the male pin body 200 in the height direction. However, as the high-current burn-in test progresses, short circuits inevitably occur in the exposed area (a2) excluding the area where the male pin body 200 is fastened to the male pin 100, so a means to prevent short circuits is required. need.

이를 위해 본 발명의 메일 핀 커넥터에 커버(300)가 체결된 구조를 예시도로 나타낸 도 6에서와 같이, 메일 핀(100)에 체결된 한 쌍의 메일 핀 바디(200) 사이에 커버(300)가 체결될 수 있다. 도 6(a)는 메일 핀(100)의 메일 핀 바디(200)에 의해 체결된 영역(a1)을 제외한 노출된 영역(a2)에 커버(300)가 체결된 모습을 정면에서 바라본 모습을 나타낸 것이고, 도 6(b)는 도 6(a)를 측면에서 바라본 모습을 나타낸 것이다.To this end, as shown in FIG. 6 illustrating a structure in which the cover 300 is fastened to the male pin connector of the present invention, a cover 300 is installed between a pair of male pin bodies 200 fastened to the male pin 100. can be concluded. Figure 6(a) shows a front view showing the cover 300 fastened to the exposed area (a2) excluding the area (a1) fastened by the male pin body 200 of the male pin 100. And Figure 6(b) shows a side view of Figure 6(a).

구체적으로, 메일 핀(100)에 메일 핀 바디(200)가 1개 체결될 때는 자동 체결이 가능하지만, 메일 핀 바디(200)가 2개 이상일 때는 1개는 자동으로 체결되고 나머지는 메일 핀(100)에 강제 삽입 방식으로 수동으로 체결되어야 하는 어려움이 있다. 이런 이유로, 도 5 및 도 6에서와 같이 메일 핀(100)의 상하부에서 메일 핀 바디(200)를 체결 또는 결합하고, 한 쌍의 메일 핀 바디(200)의 사이에 메일 핀 바디(200) 보다 상대적으로 넓은 영역에 커버(300)를 체결할 수 있도록 한다. 이러한 커버(300)는 넓이와 길이 조절이 가능한 장점이 있으며, 메일 핀(100)에 탈부착이 용이하여 번인 테스트 시 번트(burnt) 발생 여부를 쉽게 확인할 수 있는 장점이 있다.Specifically, when one male pin body 200 is fastened to the mail pin 100, automatic fastening is possible, but when there are two or more male pin bodies 200, one is automatically fastened and the rest are fastened to the mail pin ( 100), there is a difficulty in having to manually fasten it by force insertion. For this reason, as shown in FIGS. 5 and 6, the male pin body 200 is fastened or combined at the upper and lower parts of the male pin 100, and the male pin body 200 is placed between the pair of male pin bodies 200. This allows the cover 300 to be fastened to a relatively wide area. This cover 300 has the advantage of being adjustable in width and length, and is easy to attach and detach from the male pin 100, making it easy to check whether burnt occurs during a burn-in test.

도 7은 본 발명의 메일 핀 커넥터를 분해 사시도로 상세히 나타낸 것으로, 도 6에 도시된 메일 핀 커넥터를 분해하여 사시도로 나타낸 것임을 알 수 있다. 도 7을 참조하면, 다수 개의 메일 핀(100)이 l열 또는 2열로 배치된 상태에서, 각각의 메일 핀(100)은 메일 핀 바디(200)의 상하부가 개방되도록 높이방향으로 관통 형성된 끼움공(210)에 끼움 삽입될 수 있다.Figure 7 shows in detail the male pin connector of the present invention in an exploded perspective view, and it can be seen that the male pin connector shown in Figure 6 is shown in an exploded perspective view. Referring to FIG. 7, in a state where a plurality of male pins 100 are arranged in 1 or 2 rows, each male pin 100 has a fitting hole formed through the height direction to open the upper and lower parts of the male pin body 200. It can be inserted into (210).

특히 커버(300)는 메일 핀(100)을 중심으로 서로 마주보도록 체결되는 한 쌍의 커버부재(310)로 이루어질 수 있으며, 이는 본 발명의 커버(300)를 이루는 한 쌍의 커버부재(310) 중 단일 커버부재(310)를 상세도로 나타낸 도 8을 통해 확인할 수 있다.In particular, the cover 300 may be composed of a pair of cover members 310 that are fastened to face each other around the mail pin 100, which is a pair of cover members 310 forming the cover 300 of the present invention. This can be confirmed through Figure 8, which shows the single cover member 310 in detail.

도 7 및 도 8을 참조하면, 메일 핀(100)에 체결된 한 쌍의 커버부재(310)에는 메일 핀(100)이 분할되어 수용될 수 있는 분할공간(312)이 형성될 수 있다. 분할공간(312)은 한 쌍의 커버부재(310)가 메일 핀(100)을 감싸도록 체결된 후 고정력을 향상시키기 위한 것으로, 한 쌍의 커버부재(310) 중앙에 서로 마주보는 방향으로 돌출된 분할턱(311)에 의해 구분되며, 분할턱(311)에는 메일 핀(100)이 끼움 체결되어 고정될 수 있는 체결홈(314)이 분할턱(311)의 높이방향을 따라 함몰 형성될 수 있다.Referring to FIGS. 7 and 8 , a split space 312 in which the male pin 100 can be divided and accommodated may be formed in the pair of cover members 310 fastened to the male pin 100. The split space 312 is intended to improve the fixing force after the pair of cover members 310 are fastened to surround the male pin 100, and is protruded in the center of the pair of cover members 310 in a direction facing each other. It is divided by a split ledge 311, and a fastening groove 314 into which the male pin 100 can be inserted and fixed may be formed recessed along the height direction of the split ledge 311. .

또한, 커버부재(310)의 양단부에는 단부턱(313)이 돌출 형성될 수 있으며, 단부턱(313)에는 커버부재(310)의 높이방향을 따라 함몰된 체결홈(314)이 1개 이상 형성될 수 있다. 단부턱(313)에 함몰 형성된 체결홈(314)에도 메일 핀(100)이 끼워져 고정되게 하여, 메일 핀(100)의 노출된 영역(a2)에 한 쌍의 커버부재(310)를 체결한 후 체결 안정성을 높일 수 있도록 한다.In addition, end bumps 313 may be protrudingly formed on both ends of the cover member 310, and one or more fastening grooves 314 recessed along the height direction of the cover member 310 are formed on the end bumps 313. It can be. After fixing the male pin 100 into the fastening groove 314 recessed in the end jaw 313 and fastening the pair of cover members 310 to the exposed area (a2) of the male pin 100, Helps increase fastening stability.

정리하면, 본 발명은 번인 소켓(10) 하부의 DUT 보드(20)에 전기적으로 연결된 피메일 커넥터(30)의 하부에 설치되는 다수 개의 메일 핀(100)과, 메일 핀(100)에 체결되는 메일 핀 바디(200)와, 특히 메일 핀(100)에 메일 핀 바디(200)에 의해 체결된 영역(a1)을 제외한 노출된 영역(a2)을 감싸도록 탈부착 가능하게 체결되는 열가소성 고분자 소재의 커버(300)를 포함하는 메일 핀 커넥터를 제공하는 특징이 있다.In summary, the present invention includes a plurality of male pins 100 installed at the bottom of the female connector 30 electrically connected to the DUT board 20 below the burn-in socket 10, and fastened to the male pin 100. A cover made of a thermoplastic polymer material that is detachably fastened to the male pin body 200 and, in particular, to cover the exposed area (a2) excluding the area (a1) fastened to the male pin 100 by the male pin body 200. There is a feature of providing a male pin connector including (300).

이러한 특징에 따르면, 커버(300)가 구비되지 않은 메일 핀 커넥터의 예시를 상부 사시도로 나타낸 도 9와, 도 9의 하부 사시도를 나타낸 도 10과, 커버(300)가 구비되지 않은 메일 핀 커넥터의 또 다른 예시를 상부 사시도로 나타낸 도 11과, 도 11의 하부 사시도를 나타낸 도 12에서와 같이, 메일 핀(100)의 메일 핀 바디(200)에 의해 체결된 영역(a1)을 제외하고 외부로 노출된 영역(a2)으로 인해 초래되는 쇼트 발생을 방지할 수 있는데 의미가 있다.According to these characteristics, Figure 9 shows an example of a male pin connector without a cover 300 as an upper perspective view, Figure 10 shows a lower perspective view of Figure 9, and Figure 10 shows an example of a male pin connector without a cover 300. As shown in FIG. 11 showing another example as an upper perspective view, and FIG. 12 showing a lower perspective view of FIG. 11, the male pin 100 is exposed to the outside except for the area a1 fastened by the male pin body 200. This is meaningful in that it can prevent short circuits caused by the exposed area (a2).

따라서 메일 핀 바디(200)에 가려진 부분을 제외하고 메일 핀(100)의 외부로 노출된 영역(a2)을 보호할 수 있으므로, 절연 효율을 향상시킬 수 있을 뿐만 아니라 번인 테스트 효율을 향상시킬 수 있을 것으로 기대된다.Therefore, the externally exposed area (a2) of the male pin 100 can be protected except for the part hidden by the male pin body 200, so not only can the insulation efficiency be improved, but the burn-in test efficiency can also be improved. It is expected that

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서 본 발명에 개시된 실시예는 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라, 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것도 아니다. 본 발명의 보호 범위는 특허청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely an illustrative explanation of the technical idea of the present invention, and those skilled in the art will be able to make various modifications and variations without departing from the essential characteristics of the present invention. Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention, but are for explanation, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these examples. The scope of protection of the present invention should be interpreted in accordance with the scope of the patent claims, and all technical ideas within the equivalent scope should be interpreted as being included in the scope of rights of the present invention.

10: 번인 소켓
20: DUT 보드
30: 피메일 커넥터
100: 메일 핀
200: 메일 핀 바디
210: 끼움공
300: 커버
310: 커버부재
311: 분할턱
312: 분할공간
313: 단부턱
314: 체결홈
a1: 체결된 영역
a2: 노출된 영역10: Burn-in socket
20: DUT board
30: female connector
100: Mail pin
200: Male pin body
210: Fitting hole
300: cover
310: Cover member
311: split jaw
312: Split space
313: End tuck
314: Fastening groove
a1: fastened area
a2: exposed area

Claims

A plurality of male pins installed at the bottom of the female connector electrically connected to the DUT board at the bottom of the burn-in socket;
a male pin body having a plurality of inserting holes formed in the height direction to be coupled to the male pin; and
A cover detachably fastened to the male pin to surround the exposed area excluding the area fastened by the male pin body,
The cover is,
It consists of a pair of cover members fastened to face each other around the mail pin,
A multi-layered male pin connector, characterized in that a split space in which the male pin can be divided and accommodated is formed in a pair of cover members fastened to the male pin.

delete

According to paragraph 1,
A multi-layered male pin connector, characterized in that a fastening groove into which the male pin can be fixed is recessed in the cover member.

According to paragraph 1,
The cover is,
A multi-layered male pin connector characterized by being made of thermoplastic polymer material.

According to paragraph 1,
A male pin connector with a multi-layer structure, wherein the male pin body is coupled to the upper and lower portions of the male pin, and the cover is coupled between the male pin bodies.