KR102612030B1 - Auto Inspection Apparatus for Backlight vacuum adsorption module and its method - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 136
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 title claims abstract description 93
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 238000011068 loading method Methods 0.000 claims abstract description 68
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 44
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 22
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims abstract description 17
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims abstract description 17
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000002265 prevention Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012774 insulation material Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 239000011819 refractory material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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- G02F1/1309—Repairing; Testing
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- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/1336—Illuminating devices
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- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
본 발명은 본 발명은 본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 도출된 것으로 검사 대상 부품의 상부면과 하부면의 외관상의 품질을 자동으로 검사함으로써 백라이트와 다공질 진공 흡착면에 안착되어 이탈이나 들뜸으로 인한 비전 검사의 오류를 방지함은 물론 작업자에 의해 검사 대상물에 대한 검사항목 수작업으로 인한 품질의 불량 발생을 저감시킴은 물론 검사작업 가동효율성 향상하는 하는 목적과 효과를 달성하기 위한 구체적인 구성으로는 검사하고자 하는 부품(A)을 적층하여 적재하는 부품적재유닛(10);, 상기 부품적재유닛(10)에 적층된 부품(A)간의 정전기를 방지하도록 구비하는 정전기방지유닛(20);, 상기 부품적재유닛(10)에 적재된 부품(A)을 픽업하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제1 X-Z축 이송유닛(30);, 상기 제1 X-Z축 이송유닛(30)에 픽업된 부품(A)을 백라이트(41)와 진공흡착판(43) 일체화된 모듈(45) 상부에 안착되어 진공 흡착되게 유지하는 제1 진공흡착유닛(40);, 상기 제1 진공흡착유닛(40)에 Y축 가이드레일(42)를 따라 이송하여 진공 흡착된 부품의 상부면(B)을 비젼유닛(51)에 의해 검사하는 부품상부면 검사유닛(50);, 상기 부품상부면 검사유닛(50)의 검사결과 불량품은 스크랩유닛(63)에 폐기하고, 양품인 부품을 제2 진공흡착유닛(65)에 의해 흡착하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송유닛(60);, 상기 제2 X-Z축 이송유닛(60)에 흡착된 부품의 반전을 위해 Y 축 가이드레일(71)로 이송하여 Z 축으로 상승하도록 승하강유닛(73)이 구비되어 반전을 대기하는 반전대기유닛(70);, 상기 반전대기유닛(70)에 흡착된 부품을 반전유닛(81)에 의해 180°회전하는 부품반전유닛(80);, 상기 부품반전유닛(80)에 흡착된 부품을 X축 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제3 X-Z축 이송유닛(90);, 상기 제3 X-Z축 이송유닛(90)에 흡착된 부품을 백라이트(101)와 진공흡착판(103)이 일체화된 진공흡착모듈(105) 상부에 안착되어 진공흡착되게 유지하는 제3 진공흡착유닛(100);, 상기 제3 진공흡착유닛(100)에 흡착된 부품의 하부면(C)을 비젼 검사하는 부품하부면 검사유닛(110);, 상기 부품하부면 검사유닛(110)의 검사결과 부품 하부면(C)이 양품으로 판정되면 그 양품을 적재하는 양품매가진적재유닛(120);, 상기 부품을 검사하기 위하여 진공흡착, 이송, 검사 및 매가진 작업을 제어하는 제어유닛(130);,을 포함하는 것을 특징으로 한다. The present invention was derived to solve the above-mentioned problems. The present invention is designed to automatically inspect the apparent quality of the upper and lower surfaces of the component to be inspected to prevent separation or lifting when seated on the backlight and porous vacuum suction surface. The specific configuration to achieve the purpose and effect of preventing errors in vision inspection, as well as reducing the occurrence of quality defects due to manual inspection of inspection items by workers, as well as improving inspection work operation efficiency, is a specific configuration of inspection. A component loading unit (10) for stacking and loading the desired components (A); A static electricity prevention unit (20) provided to prevent static electricity between the components (A) stacked in the component loading unit (10); The components A first A first vacuum adsorption unit 40 that holds the component (A) on the upper part of the module 45 integrated with the backlight 41 and the vacuum adsorption plate 43 to be vacuum adsorbed; A part upper surface inspection unit (50) that inspects the upper surface (B) of the vacuum-adsorbed part by transporting it along the Y-axis guide rail (42) by a vision unit (51); the part upper surface inspection unit (50) As a result of the inspection, defective parts are disposed of in the scrap unit 63, and good parts are adsorbed by the second vacuum adsorption unit 65, and the second ;, In order to reverse the part adsorbed on the second Unit 70;, Part reversal unit 80, which rotates the part adsorbed to the reversal standby unit 70 by 180° by the reversal unit 81;, The part adsorbed to the part reversal unit 80 A third A third vacuum adsorption unit 100 that is seated on the upper part of the module 105 and maintains vacuum adsorption; a component lower surface inspection that performs a vision inspection of the lower surface C of the part adsorbed to the third vacuum adsorption unit 100 Unit 110;, if the lower surface of the part (C) is determined to be a good product as a result of the inspection of the part lower surface inspection unit 110, a non-defective product loading unit 120 for loading the non-defective product;, to inspect the part It is characterized by including a control unit 130 that controls vacuum adsorption, transfer, inspection, and magazine operations.
Description
본 발명은 백라이트 진공흡착 모듈용 부품 자동검사장치과 이의 자동검사방법에 관한 것으로 보다 구체적으로는 검사부품의 상부면과 하부면의 외관상의 품질을 자동으로 검사함으로써 백라이트와 다공질 진공 흡착면에 안착되어 이탈이나 들뜸으로 인한 비전 검사의 오류를 방지함은 물론 작업자에 의해 검사 대상물에 대한 검사항목 수작업으로 인한 품질의 불량 발생을 저감시킴은 물론 검사작업 가동효율성 향상하는 하는 것을 목적으로 한다. The present invention relates to an automatic inspection device for parts for a backlight vacuum adsorption module and an automatic inspection method thereof. More specifically, the present invention relates to an automatic inspection device for parts for a backlight vacuum adsorption module and, more specifically, to automatically inspect the apparent quality of the upper and lower surfaces of the inspected part so that it is seated and detached from the backlight and the porous vacuum adsorption surface. The purpose is to prevent errors in vision inspection due to movement or lifting, as well as to reduce quality defects caused by manual inspection of inspection items by workers, as well as to improve inspection work operation efficiency.
최근 반도체, 디스플레이 제조 공정에서 요구하는 박막화에 따라 고정밀, 고정도의 흡착척이 이슈화되고 있어 기존의 금속 진공척에서 해결하지 못한 부분을 다공질 세라믹(Porous ceramic)을 활용한 진공척으로 해결할 수 있다 Recently, with the thinning required in semiconductor and display manufacturing processes, high-precision and high-precision adsorption chucks have become an issue. Problems that cannot be solved by existing metal vacuum chucks can be solved with vacuum chucks using porous ceramic.
다공질 세라믹(Porous ceramic)은 기존의 흡착판과는 다르게 세라믹의 소결방식을 활용하여 소재 자체로 무수한 기공을 자체적으로 가지게 만드는 세라믹 소결체이다. 세라믹 소재의 특성상 높은 기공율을 갖고 있으면서도 고강도의 성질을 유지하고 있어 고정밀, 고정도의 흡착에 매우 유리하다. 또한, 소재 자체의 높은 경도로 인해 가공후 표면 조도가 좋으며, 이로 인해 흡착 후 제품의 표면에 손상을 최소화할 수 있다. Porous ceramic is a ceramic sintered body that, unlike existing suction plates, uses a ceramic sintering method to create countless pores in the material itself. Due to the nature of the ceramic material, it has a high porosity while maintaining high strength, making it very advantageous for high-precision and high-precision adsorption. In addition, due to the high hardness of the material itself, the surface roughness after processing is good, which minimizes damage to the surface of the product after adsorption.
다공질 세라믹은 최근 각종 필터, 고온 내화물, 고온로 치구(KILN FURNITURE), 흡수재, 흡음재, 경량구조재, 단열재 등 각종 산업의 기초재료로서 광범위하게 사용되는 소재이다. Porous ceramics are widely used as basic materials in various industries such as various filters, high-temperature refractories, high-temperature furnace fixtures (KILN FURNITURE), absorbers, sound-absorbing materials, lightweight structural materials, and insulation materials.
한편, 백라이트(Backlight)는 액정표시장치(Liquid crystal display;LCD) 뒤에서 빛을 내는 발광체 부분으로 음극선관 등과는 달리 LCD 스스로는 빛을 내지 못하기 때문에 은은한 빛을 내는 앰비언트 라이트 같은 조명을 필요로 한다. 패널 앞에서 빛을 비추는 프론트라이트와 달리 LCD 패널의 뒤쪽에서 빛을 비춘다. Meanwhile, the backlight is the luminous part that emits light behind the liquid crystal display (LCD). Unlike the cathode ray tube, the LCD itself does not emit light, so it requires lighting such as an ambient light that emits a soft light. . Unlike the front light, which emits light from the front of the panel, it emits light from the back of the LCD panel.
일반적으로 Back Light을 이용한 비전 검사 시 검사 대상물을 진공 흡착 이송하여 Back Light 상면 기구부에 검사 대상물 이송 안착을 한다. In general, when performing a vision inspection using a back light, the inspection object is transported by vacuum suction and placed on the top mechanism of the back light.
이와 관련된 선행기술로서, 백라이트 유닛 검사 장치에 관한 기술이 공지되어 있는데, 상기한 선행기술은 백라이트 유닛 검사장치(1000)는 이동 지그(100); 위치이동장치(200); 가압장치(300); 검사카메라(400) 및 제어장치(500);를 포함한다. 상기 이동 지그(100)는 백라이트 유닛(Backligt Unit)인 안착되어져 지지되는 공간으로써, 본 발명의 이동 지그(100)에 안착되는 백라이트 유닛(B)은 선행되어진 조립 고정을 통해 몰드 페리임 상에 제1확산필름,제1프리즘필름. 제2프리즘필름, 제2확산필름, 차광필름, 보호 필름 등 각종 필름 시트들이 순차적으로 적층되어 조립되어진 대상이다. 본 발명의 백라이트 유닛 검사장치(1000)를 통한 검사 공정 상에서 백라이트 유닛(B)를 지지 안착시켜 이동을 통해 백라이트 유닛(B)의 위치 또한 변화시키기 위한 이동 지그(100)는 구체적으로 백라이트 유닛(B)이 안착되기 위한 안착홈(115)이 형성된 제1안착부(110)와 지그 상면에 백라이트 유닛으로부터 탈리된 보호시트(S)가 놓이는 부분에 해당하는 제2안착부(120)로 구분된다. 이는 검사 공정을 수행하기 위해 보호시트(S)는 백라이트 유닛(B)으로부터 분리되어져야하고, 검사 공정이 완료된 후 백라이트 유닛(B)이 외부로 제공될 경우에는 다시 보호시트(S)가 재 부착되어야 함에 따라 본 발명의 백라이트 유닛 검사장치(1000)에 사용되는 이동 지그(100)는 도2 및 도5에 도시된 바와 같이 2개의 영역으로 분할되어 동시에 상호 근접한 위치에서 검사 공정을 이동함이 바람직하다. 여기서, 제1안착부(110) 및 제2안착부(120)에는 진공 흡착을 통해 각각에 놓여진 대상물(B, S)의 위상을 고정하기 위한 복수의 제1진공홀(110H) 및 제2진공홀(120H)이 마련되고, 이와 같은 각각의 진공홀(110H, 120H)은 진공이젝터(Vacuum Ejector)의 형태로 마련되는 흡착모듈(600)과 연결되어 진다. 다시 말해, 도5에 도시된 바와 같이 제1안착부(110)의 안착홈(115)에 놓여진 백라이트 유닛(B)은 제1흡착모듈(610)이 연결된 복수의 제1진공홀(110H)을 통해 공기를 흡입함에 따라 진공 흡착력을 제공 받아 제1안착부(110)에 고정 설치되며, 제2안착부(120)에 놓여진 보호시트(S)는 제2흡착모듈(620)이 연결된 복수의 제2진공홀(120H)을 통해 공기를 흡입함에 따라 진공 흡착력을 제공 받아 제2안착부(120)에 고정 설치된다. 또한, 제1안착부(110)의 주변부(정확하게는 안착홈(115)에 놓여진 백라이트 유닛(B)의 LED 소자와 같은 발광소자에 연결되어 전원인가를 위한 전선구조를 갖춘 유연성 재질의 인가부가 위치하는 주변부)에는 백라이트 유닛(B)의 LED 소자와 같은 발광소자에 전원을 인가하기 위하 인가부의 전도성 핀부재와 접촉할 수 있는 점등부(130)가 마련된다. 이러한 점등부(130)는 각각의 검사 공정이 백라이트 유닛(B)의 발광이 이루어진 상태에서 이루어지도록 하여 검사 장치를 이루는 구성 내 별도의 광 제공 수단이 요구되지 않도록 한다. 위치이동장치(200)는 이동 지그(100)의 하측 일부와 연결되어 이동 지그(100)를 일정 안내 레일을 따라 임의의위치(구체적으로는 검사위치 각각)에 위치하도록 이동시킬 수 있는 구동요소로써, 도6에 도시된 바와 같이 회전테이블 형태의 작업판 상에서 이동 지그(100)를 회전시키기 위한 회전판(200) 등이 이에 해당될 수 있다. 따라서 이동 지그(100)는 위치이동장치(200)를 통해 최초 백라이트 유닛이 안착되는 위치로부터 적어도 하나 이상의 검사위치(TP1, TP2, TP3, TP4 등)로 각각 순차 진행하며 이동될 수 있다. 더 나아가 위치이동장치(200)는 검사가 완료된 이동 지그(100)를 백라이트 유닛(B)에 보호시트(S)를 재 부착시키기 위한 위치 및 보호시트(S)가 재 부착된 백라이트 유닛(B)을 언로딩(Unloading)시키기 위한 위치 등으로 연장 이동시킬 수도 있다. 우선, 가압을 통한 비전 검사가 이루어지는 제1검사위치(TP1)에서의 가압장치(300) 및 검사카메라(400)가 있다. 가압장치(300)는 위치이동장치(200)를 통해 제1검사위치(TP1)로 이동된 이동 지그(100) 상면에 밀폐된 상태의 일정 공간(AT)을 형성하게 되는데, 해당 공간(AT) 내에는 백라이트 유닛(B)이 위치하게 된다. 그 후, 가압장치(300)는 밀폐된 상태의 일정 공간(AT)에 공기압을 공급하여 백라이트 유닛(B)을 가압하게 된다. As prior art related to this, technology related to a backlight unit inspection device is known. The above-described prior art includes a backlight unit inspection device 1000 including a moving jig 100; Position movement device (200); Pressurizing device 300; Includes an inspection camera 400 and a control device 500. The moving jig 100 is a space in which a backlight unit (Backlight Unit) is seated and supported, and the backlight unit (B) seated in the moving jig 100 of the present invention is placed on the mold perimeter through the preceding assembly and fixation. 1st diffusion film, 1st prism film. It is an object in which various film sheets such as the second prism film, second diffusion film, light blocking film, and protective film are sequentially stacked and assembled. In the inspection process using the backlight unit inspection device 1000 of the present invention, the moving jig 100 for supporting and seating the backlight unit (B) and changing the position of the backlight unit (B) through movement is specifically used to change the position of the backlight unit (B). ) is divided into a first seating portion 110 in which a seating groove 115 for seating the jig is formed, and a second seating portion 120 corresponding to a portion where the protection sheet (S) detached from the backlight unit is placed on the upper surface of the jig. This means that in order to perform the inspection process, the protection sheet (S) must be separated from the backlight unit (B), and if the backlight unit (B) is provided to the outside after the inspection process is completed, the protection sheet (S) must be reattached. Accordingly, it is desirable that the moving jig 100 used in the backlight unit inspection device 1000 of the present invention be divided into two areas as shown in Figures 2 and 5 and move the inspection process at the same time in close proximity to each other. do. Here, the first seating portion 110 and the second seating portion 120 have a plurality of first vacuum holes 110H and a second vacuum hole for fixing the phase of the objects B and S placed therethrough through vacuum adsorption. A hole 120H is provided, and each of these vacuum holes 110H and 120H is connected to an adsorption module 600 provided in the form of a vacuum ejector. In other words, as shown in Figure 5, the backlight unit (B) placed in the seating groove 115 of the first seating portion 110 has a plurality of first vacuum holes 110H to which the first adsorption module 610 is connected. As air is sucked through, it is provided with a vacuum adsorption force and is fixedly installed on the first seating part 110. The protective sheet (S) placed on the second seating part 120 is a plurality of devices to which the second adsorption module 620 is connected. As air is sucked through the second vacuum hole (120H), it is provided with vacuum suction power and is fixedly installed on the second seating portion (120). In addition, an applicator made of a flexible material connected to a light-emitting element such as an LED element of the backlight unit (B) placed in the seating groove 115 (more precisely, in the seating groove 115) and equipped with a wire structure for applying power is located at the periphery of the first seating portion 110. A lighting unit 130 that can be in contact with the conductive pin member of the application unit to apply power to a light-emitting element such as an LED element of the backlight unit (B) is provided in the peripheral portion). This lighting unit 130 allows each inspection process to be performed with the backlight unit B emitting light, thereby eliminating the need for a separate light providing means in the inspection device. The position moving device 200 is a driving element that is connected to the lower part of the moving jig 100 and can move the moving jig 100 to an arbitrary position (specifically, each inspection position) along a certain guide rail. , as shown in Figure 6, a rotary plate 200 for rotating the moving jig 100 on a rotary table-shaped work board, etc. may correspond to this. Accordingly, the moving jig 100 can be sequentially moved from the position where the backlight unit is initially seated to at least one inspection position (TP1, TP2, TP3, TP4, etc.) through the position moving device 200. Furthermore, the position moving device 200 is positioned to reattach the protective sheet (S) to the backlight unit (B) of the moving jig (100) for which inspection has been completed and to the backlight unit (B) to which the protective sheet (S) is reattached. It can also be extended and moved to a position for unloading. First, there is a pressurizing device 300 and an inspection camera 400 at the first inspection position (TP1) where vision inspection through pressurization is performed. The pressurizing device 300 forms a sealed space (AT) on the upper surface of the moving jig 100, which has been moved to the first inspection position (TP1) through the positioning device 200. The space (AT) A backlight unit (B) is located inside. Afterwards, the pressurizing device 300 supplies air pressure to a certain space (AT) in a sealed state to pressurize the backlight unit (B).
그러나 선행기술은 이동지그(100)내에 위치하는 백라이트 유닛(B)과 보호시트(S)를 검사하기 위해 작업자가 세팅시 또는 이동시 검사대상물이 이탈되거나 들뜸으로 인해 검사의 정확성을 확보할 수 없는 문제점과 별도의 가압장치(300)를 사용해야 하는 번거로움과 상기 가압장치(300)의 가입 시 검사대상물의 가압 불균형으로 인해 검사대상물이 불균형적으로 가압되어 검사카메라(400)의 검사 과정에서의 검사 결과의 정확성을 보증할 수 없는 또 다른 문제점이 예상된다. However, the prior art has the problem of not being able to secure the accuracy of the inspection due to the inspection object being separated or lifted when the operator sets or moves it to inspect the backlight unit (B) and the protection sheet (S) located in the moving jig 100. Due to the inconvenience of having to use a separate pressurizing device 300 and the imbalance in the pressurization of the inspection object when joining the pressurizing device 300, the inspection object is unbalanced and pressurized, resulting in the inspection result during the inspection process of the inspection camera 400. Another problem is expected in which the accuracy of cannot be guaranteed.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 도출된 것으로 검사 대상 부품의 상부면과 하부면의 외관상의 품질을 자동으로 검사함으로써 백라이트와 다공질 진공 흡착면에 안착되어 이탈이나 들뜸으로 인한 비전 검사의 오류를 방지함은 물론 작업자에 의해 검사 대상물에 대한 검사항목 수작업으로 인한 품질의 불량 발생을 저감시킴은 물론 검사작업 가동효율성 향상하는 하는 것을 해결과제로 한다.The present invention was developed to solve the above-mentioned problems, and by automatically inspecting the apparent quality of the upper and lower surfaces of the component to be inspected, errors in vision inspection due to separation or lifting when seated on the backlight and porous vacuum suction surface are prevented. The problem is to not only prevent, but also reduce quality defects caused by manual inspection of inspection items by workers, as well as improve inspection operation efficiency.
발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있고, 본 발명의 실시 예에 의해 보다 분명하게 이해될 것이다. The objects of the invention are not limited to the objects mentioned above, and other objects and advantages of the invention that are not mentioned can be understood through the following description and will be more clearly understood by examples of the invention.
또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다. Additionally, it will be readily apparent that the objects and advantages of the present invention can be realized by the means and combinations thereof indicated in the patent claims.
상술한 과제를 해결하기 위하여 본 발명은 백라이트와 진공흡착 일체화 모듈을 이용하는 부품의 상부면과 하부면의 외관을 자동으로 검사하는 자동검사장치에 관한 것으로 구체적인 해결 수단에 있어서, 검사하고자 하는 부품을 적층하여 적재하는 부품적재유닛;, 상기 부품적재유닛에 적층된 부품간의 정전기를 방지하도록 구비하는 정전기방지유닛;, 상기 부품적재유닛에 적재된 부품을 픽업하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제1 X-Z축 이송유닛;, 상기 제1 X-Z축 이송유닛에 픽업된 부품을 백라이트와 진공흡착판 일체화된 모듈 상부에 안착되어 진공 흡착되게 유지하는 제1 진공흡착유닛;, 상기 제1 진공흡착유닛에 Y축 가이드레일을 따라 이송하여 진공 흡착된 부품의 상부면을 비젼유닛에 의해 검사하는 부품상부면 검사유닛;, 상기 부품상부면 검사유닛의 검사결과 불량품은 스크랩유닛에 폐기하고, 양품인 부품을 제2 진공흡착유닛에 의해 흡착하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송유닛;, 상기 제2 X-Z축 이송유닛에 흡착된 부품의 반전을 위해 Y 축 가이드레일을 이송하여 Z 축으로 상승하도록 승하강유닛이 구비되어 반전을 대기하는 반전대기유닛;, 상기 반전대기유닛에 흡착된 부품을 반전유닛에 의해 180°회전하는 부품반전유닛;, 상기 부품반전유닛에 흡착된 부품을 X축 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제3 X-Z축 이송유닛;, 상기 제3 X-Z축 이송유닛에 흡착된 부품을 백라이트와 진공흡착 일체화된 모듈 상부에 안착되어 진공흡착되게 유지하는 제3 진공흡착유닛;, 상기 제3 진공흡착유닛에 흡착된 부품의 하부면을 비젼 검사하는 부품하부면 검사유닛;, 상기 부품하부면 검사유닛의 검사결과 부품 하부면이 양품으로 판정되면 그 양품을 적재하는 양품매가진적재유닛;, 상기 부품을 검사하기 위하여 진공흡착, 이송, 검사 및 매가진 작업을 제어하는 제어유닛;,을 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to solve the above-mentioned problem, the present invention relates to an automatic inspection device that automatically inspects the appearance of the upper and lower surfaces of a component using a backlight and vacuum adsorption integrated module. In the specific solution, the component to be inspected is stacked. A parts loading unit for loading; A static electricity prevention unit provided to prevent static electricity between parts stacked in the parts loading unit; Picking up parts loaded in the parts loading unit and controlling their transfer in the X-axis direction and Z-axis direction A first X-Z axis transfer unit; A first vacuum adsorption unit that holds the parts picked up by the first A part upper surface inspection unit that transports along a Y-axis guide rail and inspects the upper surface of the vacuum-adsorbed part by a vision unit; defective products as a result of the inspection of the part upper surface inspection unit are discarded to the scrap unit, and good parts are replaced. A second X-Z axis transfer unit that adsorbs by the second vacuum adsorption unit and controls transfer in the A reversal standby unit equipped with a lifting and lowering unit to rise in the Z axis and waiting for reversal;, a parts reversal unit that rotates the part adsorbed on the reversal standby unit by 180° by the reversal unit;, a part adsorbed on the part reversal unit A third X-Z axis transfer unit that controls transfer in the X-axis and Z-axis directions; a third vacuum that maintains the parts adsorbed on the third Suction unit;, Part bottom surface inspection unit that performs a vision inspection of the bottom surface of the part adsorbed to the third vacuum adsorption unit;, If the bottom surface of the part is determined to be a good product as a result of the inspection of the part bottom surface inspection unit, the parts are loaded. It is characterized in that it includes a good product sales loading unit; a control unit that controls vacuum adsorption, transfer, inspection, and magazine operations to inspect the parts.
또한, 본 발명은 상기 부품적재유닛에는 적재된 부품간의 정전기로 인해 겹쳐진 부품을 분리하도록 에어블로우를 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention is characterized in that the parts loading unit includes an air blow to separate overlapping parts due to static electricity between the loaded parts.
또한, 본 발명은 상기 정전기방지유닛은 정전기능을 수행하는 이온아이저를 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention is characterized in that the anti-static unit includes an ionizer that performs an electrostatic function.
또한, 본 발명은 제1 진공흡착유닛와 제2 진공흡착유닛에는 LED를 확산하는 백라이트부와, 그 상단에 부품을 세팅하는 진공흡착판과, 상기 백라이트부와 진공흡착판이 일체로 결합되어 형성된 백라이트 진공흡착모듈이 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention is a backlight vacuum adsorption unit in which the first vacuum adsorption unit and the second vacuum adsorption unit are formed by integrally combining a backlight part for diffusing LEDs, a vacuum adsorption plate for setting components on top of the backlight part, and the backlight part and the vacuum adsorption plate. The module is characterized in that it contains:
또한, 본 발명은 상기 검사유닛의 검사결과 양품을 적재하는 양품매가진적재유닛;,을 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention is characterized by including a loading unit for loading good products as a result of the inspection of the inspection unit.
또한, 본 발명은 상기 양품매가진적재유닛은 양품을 적재하는 적재매가진유닛과 적재가 완료된 상기 적재매가진유닛을 이송하는 매가진이송유닛과 상기 매가진이송유닛 하단이 대기중인 대기매가진유닛;,을 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention provides that the good product loading unit includes a loading magazine unit for loading good products, a magazine transfer unit for transferring the loaded magazine unit, and a standby magazine unit at the bottom of the magazine transfer unit. It is characterized by including ;,.
또한, 본 발명은 백라이트와 진공흡착 일체화 모듈을 이용하는 부품의 상부면과 하부면의 외관을 자동으로 검사하는 자동검사방법에 있어서, 검사하고자 하는 부품을 적층하여 적재하고 적재된 부품간의 틈새를 유지하게 하는 부품적재단계;, 적층된 부품(A)간의 정전기를 방지하도록 하는 부품간의 정전기를 방지하는 단계;, 부품적재유닛에 적재된 부품을 픽업하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제1 X-Z축 이송단계;, 제1 X-Z축 이송유닛에 픽업된 부품을 백라이트와 진공흡착판 일체화된 진공흡착모듈 상부에 안착되어 진공 흡착되게 유지하는 제1 진공흡착단계;, 제1 진공흡착유닛에 Y축 가이드레일을 따라 이송하여 진공 흡착된 부품의 상부면을 비젼유닛에 의해 검사하는 부품상부면 검사단계;, 부품상부면 검사유닛의 검사결과 불량품은 스크랩유닛에 폐기하고, 양품인 부품을 제2 진공흡착유닛에 의해 흡착하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송단계;, 제2 X-Z축 이송유닛에 흡착된 부품의 반전을 위해 Y 축 가이드레일상으로 이송하고, Z 축으로 상승하도록 승하강유닛이 구비되어 반전을 대기하는 반전대기단계;, 반전대기유닛에 흡착된 부품을 반전유닛에 의해 180°회전하는 부품반전단계;, 부품반전유닛에 흡착된 부품을 X축 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송단계;, 제3 X-Z축 이송유닛에 흡착된 부품을 백라이트와 진공흡착 일체화된 진공흡착모듈 상부에 안착되어 진공흡착되게 유지하는 제2 진공흡착단계;, 제3 진공흡착유닛에 흡착된 부품의 하부면을 비젼 검사하는 부품하부면 검사단계;, 부품하부면 검사유닛의 검사결과 부품 하부면이 양품으로 판정되면 그 양품을 적재하는 양품매가진적재단계;,를 포함하는 것을 과제의 해결수단으로 특정한다. In addition, the present invention is an automatic inspection method for automatically inspecting the appearance of the upper and lower surfaces of components using a backlight and vacuum adsorption integrated module, stacking and loading the components to be inspected and maintaining the gap between the loaded components. A part loading step; A step of preventing static electricity between parts to prevent static electricity between stacked parts (A); A first step of picking up parts loaded in the part loading unit and controlling transfer in the X-axis direction and Z-axis direction. X-Z axis transfer step;, A first vacuum adsorption step of maintaining the parts picked up in the first Part upper surface inspection step in which the upper surface of the part transported along the guide rail and vacuum-adsorbed is inspected by a vision unit; defective products as a result of inspection by the part upper surface inspection unit are disposed of in the scrap unit, and good parts are placed in a second vacuum A second X-Z axis transfer step of adsorbing by an adsorption unit and controlling transfer in the A reversal waiting step in which a lifting and lowering unit is provided to rise to A second X-Z axis transfer step of controlling transfer in the Z-axis direction; A second vacuum adsorption step of maintaining the parts adsorbed on the third , Part lower surface inspection step of vision inspecting the lower surface of the part adsorbed to the third vacuum adsorption unit;, Good product loading step of loading the non-defective product if the lower surface of the part is determined to be good as a result of the inspection by the part lower surface inspection unit. The inclusion of ;, is specified as a means of solving the task.
본 발명은 본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 도출된 것으로 검사 대상 부품의 상부면과 하부면의 외관상의 품질을 자동으로 검사함으로써 백라이트와 다공질 진공 흡착면에 안착되어 이탈이나 들뜸으로 인한 비전 검사의 오류를 방지함은 물론 작업자에 의해 검사 대상물에 대한 검사항목 수작업으로 인한 품질의 불량 발생을 저감시킴은 물론 검사작업 가동효율성 향상하는 하는 효과가 있다.The present invention was developed to solve the above-mentioned problems. The present invention is designed to automatically inspect the apparent quality of the upper and lower surfaces of the component to be inspected, thereby performing vision inspection due to separation or lifting when seated on the backlight and porous vacuum suction surface. It has the effect of preventing errors and reducing quality defects caused by manual inspection of inspection items by workers, as well as improving inspection operation efficiency.
도 1은 종래 기술인 백라이트 유닛 검사장치 도면.
도 2는 본 발명의 자동검사장치의 사시도.
도 3은 본 발명의 부품적재유닛을 나타내는 도면
도 4는 본 발명의 정전기방지유닛을 나타내는 도면
도 5는 본 발명의 제1 진공흡착유닛을 나타내는 도면.
도 6은 본 발명의 이송유닛을 나타내는 도면
도 7은 본 발명의 비젼유닛을 나타내는 도면
도 8은 본 발명의 불량품 스크랩 처리유닛을 나타내는 도면
도 9는 본 발명의 반전유닛을 나타내는 도면
도 10은 본 발명의 양품매가진 적재유닛을 나타내는 도면
도 11은 본 발명의 진공흡착유닛 세부구성을 나타내는 도면1 is a diagram of a conventional backlight unit inspection device.
Figure 2 is a perspective view of the automatic inspection device of the present invention.
Figure 3 is a diagram showing the parts loading unit of the present invention
Figure 4 is a diagram showing the anti-static unit of the present invention
Figure 5 is a diagram showing the first vacuum adsorption unit of the present invention.
Figure 6 is a view showing the transfer unit of the present invention
Figure 7 is a diagram showing the vision unit of the present invention
Figure 8 is a view showing the defective scrap processing unit of the present invention
Figure 9 is a diagram showing the inversion unit of the present invention
Figure 10 is a view showing a loading unit with good quality products of the present invention.
11 is a diagram showing the detailed configuration of the vacuum adsorption unit of the present invention.
전술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 후술되며, 이에 따라 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다.The above-described objects, features, and advantages will be described in detail later with reference to the attached drawings, so that those skilled in the art will be able to easily implement the technical idea of the present invention.
본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 상세한 설명을 생략한다. In describing the present invention, if it is determined that a detailed description of known technologies related to the present invention may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 상세히 설명하기로 한다. 도면에서 동일한 참조부호는 동일 또는 유사한 구성요소를 가리키는 것으로 사용된다.Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings. In the drawings, identical reference numerals are used to indicate identical or similar components.
이하에서 구성요소의 "상부 (또는 하부)" 또는 구성요소의 "상 (또는 하)"에 임의의 구성이 배치된다는 것은, 임의의 구성이 상기 구성요소의 상면 (또는 하면)에 접하여 배치되는 것뿐만 아니라, 상기 구성요소와 상기 구성요소 상에 (또는 하에) 배치된 임의의 구성 사이에 다른 구성이 개재될 수 있음을 의미할 수 있다.Hereinafter, the “top (or bottom)” of a component or the arrangement of any component on the “top (or bottom)” of a component means that any component is placed in contact with the top (or bottom) of the component. Additionally, it may mean that other components may be interposed between the component and any component disposed on (or under) the component.
또한, 구성요소의 "X 축(Y 축, Z 축 포함)의 이송은 X+ 축(Y+ 축, Z+ 축 포함)에서 X- 축(Y- 축, Z- 축 포함)으로 또는 X- 축(Y- 축, Z- 축 포함)에서 X+ 축(Y+ 축, Z+ 축 포함)으로 이송하도록 임의의 스테이지 또는 이송 유닛 구성이 배치된다는 것임을 의미할 수 있다. Additionally, the traverse of the "X-axis (including Y-axis, Z-axis) of the component can be from This may mean that any stage or transfer unit configuration is arranged to transfer from the - axis, including the Z- axis) to the X+ axis (including the Y+ axis, Z+ axis).
또한 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 상기 구성요소들은 서로 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성요소 사이에 다른 구성요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있는 것으로 이해되어야 할 것이다.Additionally, when a component is described as being “connected,” “coupled,” or “connected” to another component, the components may be directly connected or connected to each other, but the other component is “interposed” between each component. It should be understood that “or, each component may be “connected,” “combined,” or “connected” through other components.
본 명세서에서 사용되는 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.As used herein, singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise.
본 출원에서, "구성된다" 또는 "포함한다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 여러 구성 요소들, 또는 여러 단계들을 반드시 모두 포함하는 것으로 해석되지 않아야 하며, 그 중 일부 구성 요소들 또는 일부 단계들은 포함되지 않을 수도 있고, 또는 추가적인 구성 요소 또는 단계들을 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다.In the present application, terms such as “consists of” or “comprises” should not be construed as necessarily including all of the various components or steps described in the specification, and some of the components or steps may include It may not be included, or it should be interpreted as including additional components or steps.
명세서 전체에서, "A 및/또는 B" 라고 할 때, 이는 특별한 반대되는 기재가 없는 한, A, B 또는 A 및 B를 의미하며, "C 내지 D" 라고 할 때, 이는 특별한 반대되는 기재가 없는 한, C 이상이고 D 이하인 것을 의미한다.Throughout the specification, when referred to as “A and/or B”, this means A, B or A and B, unless specifically stated to the contrary, and when referred to as “C to D”, this means unless specifically stated to the contrary. Unless there is one, it means that it is C or higher and D or lower.
이하에서는, 본 발명의 몇몇 실시 예에 따른 백라이트 진공흡착 모듈용 부품 자동 검사 장치를 설명하도록 한다.Hereinafter, an automatic inspection device for backlight vacuum adsorption module parts according to some embodiments of the present invention will be described.
도 2는 본 발명의 자동검사장치의 사시도이고, 도 3은 본 발명의 부품적재유닛을 나타내는 도면이고, 도 4는 본 발명의 정전기방지유닛을 나타내는 도면이고, 도 5는 본 발명의 제1 진공흡착유닛을 나타내는 도면이고, 도 6은 본 발명의 이송유닛을 나타내는 도면이고, 도 7은 본 발명의 비젼유닛을 나타내는 도면이고, 도 8은 본 발명의 불량품 스크랩 처리유닛을 나타내는 도면이고, 도 9는 본 발명의 반전유닛을 나타내는 도면이고, 도 10은 본 발명의 양품 매가진 적재유닛을 나타내는 도면이고, 도 11은 본 발명의 진공흡착유닛 세부구성을 나타내는 도면이다.Figure 2 is a perspective view of the automatic inspection device of the present invention, Figure 3 is a diagram showing the parts loading unit of the present invention, Figure 4 is a diagram showing the anti-static unit of the present invention, and Figure 5 is a diagram showing the first vacuum of the present invention. It is a drawing showing the adsorption unit, Figure 6 is a drawing showing the transfer unit of the present invention, Figure 7 is a drawing showing the vision unit of the present invention, Figure 8 is a drawing showing the defective scrap processing unit of the present invention, Figure 9 is a drawing showing the inversion unit of the present invention, Figure 10 is a drawing showing a loading unit with good quality products of the present invention, and Figure 11 is a drawing showing the detailed configuration of the vacuum adsorption unit of the present invention.
도 2, 도 3을 참조하면, 본 발명은 백라이트 진공흡착 모듈용 부품 자동 검사 장치에 관한 것으로 보다 구체적인 구성의 특징을 살펴보면, 백라이트와 진공흡착 일체화 모듈을 이용하는 부품(A)의 상부면(B)과 하부면(C)의 외관을 자동으로 검사하는 자동검사장치에 있어서, 검사하고자 하는 부품(A)을 적층하여 적재하는 부품적재유닛(10);, 상기 부품적재유닛(10)에 적층된 부품(A)간의 정전기를 방지하도록 구비하는 정전기방지유닛(20);, 상기 부품적재유닛(10)에 적재된 부품(A)을 픽업하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제1 X-Z축 이송유닛(30);, 상기 제1 X-Z축 이송유닛(30)에 픽업된 부품(A)을 백라이트(41)와 진공흡착판(43) 일체화된 모듈(45) 상부에 안착되어 진공 흡착되게 유지하는 제1 진공흡착유닛(40);, 상기 제1 진공흡착유닛(40)에 Y축 가이드레일(42)를 따라 이송하여 진공 흡착된 부품의 상부면(B)을 비젼유닛(51)에 의해 검사하는 부품상부면 검사유닛(50);, 상기 부품상부면 검사유닛(50)의 검사결과 불량품은 스크랩유닛(63)에 폐기하고, 양품인 부품을 제2 진공흡착유닛(65)에 의해 흡착하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송유닛(60);, 상기 제2 X-Z축 이송유닛(60)에 흡착된 부품의 반전을 위해 Y 축 가이드레일(71)로 이송하여 Z 축으로 상승하도록 승하강유닛(73)이 구비되어 반전을 대기하는 반전대기유닛(70);, 상기 반전대기유닛(70)에 흡착된 부품을 반전유닛(81)에 의해 180°회전하는 부품반전유닛(80);, 상기 부품반전유닛(80)에 흡착된 부품을 X축 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제3 X-Z축 이송유닛(90);, 상기 제3 X-Z축 이송유닛(90)에 흡착된 부품을 백라이트(101)와 진공흡착판(103)이 일체화된 진공흡착모듈(105) 상부에 안착되어 진공흡착되게 유지하는 제3 진공흡착유닛(100);, 상기 제3 진공흡착유닛(100)에 흡착된 부품의 하부면(C)을 비젼 검사하는 부품하부면 검사유닛(110);, 상기 부품하부면 검사유닛(110)의 검사결과 부품 하부면(C)이 양품으로 판정되면 그 양품을 적재하는 양품매가진적재유닛(120);, 상기 부품을 검사하기 위하여 진공흡착, 이송, 검사 및 매가진 작업을 제어하는 제어유닛(130);,을 포함하는 것을 특징으로 한다. Referring to FIGS. 2 and 3, the present invention relates to an automatic inspection device for components for a backlight vacuum adsorption module. Looking at the features of the specific configuration, the upper surface (B) of the component (A) using the backlight and vacuum adsorption integrated module In the automatic inspection device that automatically inspects the appearance of the lower surface (C), a parts stacking unit (10) for stacking and loading parts (A) to be inspected;, parts stacked on the part stacking unit (10) An anti-static unit (20) provided to prevent static electricity between (A); a first Transfer unit 30;, the part (A) picked up by the first A first vacuum adsorption unit (40); the upper surface (B) of the vacuum adsorbed part is transferred to the first vacuum adsorption unit (40) along the Y-axis guide rail (42) and inspected by a vision unit (51). A part upper surface inspection unit 50; defective products as a result of the inspection of the part upper surface inspection unit 50 are disposed of in the scrap unit 63, and good parts are adsorbed by the second vacuum adsorption unit 65. A second X-Z axis transfer unit (60) that controls transfer in the A reversal standby unit (70) equipped with a raising and lowering unit (73) to rise in the Z axis and waiting for reversal; a part that rotates the part adsorbed on the reversal standby unit (70) by 180° by the reversal unit (81) Reversal unit 80; Third X-Z axis transfer unit 90 for controlling the transfer of the part adsorbed to the part reversal unit 80 in the A third vacuum adsorption unit 100 that holds the adsorbed parts on the upper part of the vacuum adsorption module 105 in which the backlight 101 and the vacuum adsorption plate 103 are integrated and vacuum adsorbs them. The third vacuum adsorption unit ( A part lower surface inspection unit 110 that performs a vision inspection of the lower surface C of the part adsorbed on the part 100); if the lower surface C of the part is determined to be a good product as a result of the inspection of the part lower surface inspection unit 110, It is characterized in that it includes a good product packaging loading unit 120 for loading good products; a control unit 130 for controlling vacuum adsorption, transfer, inspection, and loading operations to inspect the parts.
또한, 본 발명은 상기 부품적재유닛(10)에는 적재된 부품간의 정전기로 인해 겹쳐진 부품을 분리하도록 에어블로우(11)를 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention is characterized in that the parts loading unit 10 includes an air blow 11 to separate overlapping parts due to static electricity between the loaded parts.
또한, 본 발명은 상기 정전기방지유닛(20)은 정전기능을 수행하는 이온아이저(21)를 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention is characterized in that the anti-static unit 20 includes an ionizer 21 that performs an electrostatic function.
또한, 본 발명은 제1 진공흡착유닛(40)와 제2 진공흡착유닛(65)에는 LED를 확산하는 백라이트부(41)(101)와, 그 상단에 부품(B)(C)을 세팅하는 진공흡착판(43)(103)와, 상기 백라이트부(41)(101)와 상기 진공흡착판(43)(103)가 일체로 결합되어 형성된 백라이트 진공흡착 모듈(45)(105)이 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention includes backlight units 41 and 101 that diffuse LEDs in the first vacuum adsorption unit 40 and the second vacuum adsorption unit 65, and setting parts (B) and (C) on top of them. Characterized by comprising a vacuum suction plate (43) (103) and a backlight vacuum suction module (45) (105) formed by integrally combining the backlight portion (41) (101) and the vacuum suction plate (43) (103). Do it as
또한, 본 발명은 상기 검사유닛(100)의 검사결과 양품을 적재하는 양품매가진적재유닛(120);,을 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention is characterized by including a loading unit 120 for loading good products as a result of the inspection of the inspection unit 100.
또한, 본 발명은 상기 양품매가진적재유닛(120)은 양품을 적재하는 적재매가진유닛(121)과 적재가 완료된 상기 적재매가진유닛(121)을 이송하는 매가진이송유닛(123)과 상기 매가진이송유닛(123)하단이 대기중인 대기매가진유닛(125);,을 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, in the present invention, the good product loading unit 120 includes a loading magazine loading unit 121 for loading good products, a magazine transfer unit 123 for transferring the loading magazine unit 121 after loading, and the above The bottom of the magazine transfer unit 123 is characterized in that it includes a waiting magazine unit 125.
또한, 본 발명은 백라이트와 진공흡착 일체화 모듈을 이용하는 부품(A)의 상부면(B)과 하부면(C)의 외관을 자동으로 검사하는 자동검사에 있어서, 검사하고자 하는 부품(A)을 적층하여 적재하고 적재된 부품(A)간의 틈새를 유지하게하는 부품적재단계(S10);, 적층된 부품(A)간의 정전기를 방지하도록 하는 부품간의 정전기를 방지하는 단계(S20);, 부품적재유닛(10)에 적재된 부품(A)을 픽업하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제1 X-Z축 이송단계(S30);, 제1 X-Z축 이송유닛(20)에 픽업된 부품(A)을 백라이트(41)와 진공흡착판(43)이 일체화된 진공흡착모듈(45) 상부에 안착되어 진공 흡착되게 유지하는 제1 진공흡착단계(S40);, 제1 진공흡착유닛(40)에 Y축 가이드레일(42)를 따라 이송하여 진공 흡착된 부품의 상부면(B)을 비젼유닛(51)에 의해 검사하는 부품상부면 검사단계(S50);, 부품상부면 검사유닛(50)의 검사결과 불량품은 스크랩유닛(63)에 폐기하고, 양품인 부품을 제2 진공흡착유닛(65)에 의해 흡착하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송단계(S60);, 제2 X-Z축 이송유닛(60)에 흡착된 부품의 반전을 위해 Y 축 가이드레일(71) 이송하여 Z 축으로 상승하도록 승하강유닛(73)이 구비되어 반전을 대기하는 반전대기단계(S70);, 반전대기유닛(70)에 흡착된 부품을 반전유닛(81)에 의해 180°회전하는 부품반전단계(S80);, 부품반전유닛(80)에 흡착된 부품을 X축 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송단계(S90);, 제3 X-Z축 이송유닛(90)에 흡착된 부품을 백라이트(41)와 진공흡착판(43)이 일체화된 진공흡착모듈 (105) 상부에 안착되어 진공흡착되게 유지하는 제2 진공흡착단계(S100);, 제3 진공흡착유닛(100)에 흡착된 부품의 하부면(C)을 비젼 검사하는 부품하부면 검사단계(S110);, 부품하부면 검사유닛(110)의 검사결과 부품 하부면(C)이 양품으로 판정되면 그 양품을 적재하는 양품매가진적재단계(S120);,를 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the present invention is an automatic inspection that automatically inspects the appearance of the upper surface (B) and lower surface (C) of a component (A) using a backlight and vacuum adsorption integrated module, by stacking the component (A) to be inspected. A part loading step (S10) of loading and maintaining the gap between the loaded parts (A); A step of preventing static electricity between parts (S20) of preventing static electricity between the stacked parts (A);, Part loading unit A first ) in the first vacuum adsorption step (S40) in which the backlight 41 and the vacuum suction plate 43 are seated on the upper part of the integrated vacuum adsorption module 45 and maintained for vacuum adsorption;, Y in the first vacuum adsorption unit 40 Part upper surface inspection step (S50) in which the upper surface (B) of the part transported along the axis guide rail 42 and vacuum-adsorbed is inspected by the vision unit 51; inspection of the part upper surface inspection unit 50 A second In order to reverse the parts adsorbed on the second ;, Part reversal step (S80) in which the part adsorbed to the reversal standby unit 70 is rotated 180° by the reversal unit 81;, The part adsorbed to the part reversal unit 80 is rotated in the X-axis and Z-axis directions. Second X-Z axis transfer step (S90) of transfer control;, The parts adsorbed on the third A second vacuum adsorption step (S100) of maintaining the part to be vacuum adsorbed; A part lower surface inspection step (S110) of vision inspecting the lower surface (C) of the part adsorbed to the third vacuum adsorption unit 100;, Part lower part If the lower surface (C) of the part is determined to be a good product as a result of the inspection by the surface inspection unit 110, a non-defective product loading step (S120) of loading the non-defective product.
이하에서 본 발명의 작동관계를 도 2 내지 도 11를 기준으로 설명하기로 한다. Hereinafter, the operating relationship of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 11.
먼저, 본 발명에서 적용되는 부품(PCB 보드, 스틸플레이트 등)은 제조과정에서 부품(A)의 상부면(B)과 하부면(C)에서 발생되는 이물질, 핀 홀(Pin Hole), 엣지 치핑(Edhe Chipping)의 불량항목을 비젼검사를 통해 검사하여 양품과 불량품을 자동적으로 구분하는 부품검사장치이다. First, the components applied in the present invention (PCB board, steel plate, etc.) are free from foreign matter, pin holes, and edge chipping generated on the upper surface (B) and lower surface (C) of the component (A) during the manufacturing process. (Edhe Chipping) It is a parts inspection device that inspects defective items through vision inspection and automatically distinguishes between good and defective products.
도 3에서, 본 발명은 부품적재유닛(10)에 검사하고자 하는 부품(A)을 적재 플레이트(13)에 적층하여 적재하도록 안착라고, 리프트(15)가 초기상태에서 감지한 후 센서(14)에 감지할 때까지 상승한다. 이후 이온아이저(21)를 작동시켜 정전기를 해소 한다. 정정기를 해소한 이후 사기 리프트(15)가 하강하여 진공 흡착할 때 에어 블로우(11)가 작동한다.In Figure 3, the present invention is to stack and load the component (A) to be inspected on the loading plate (13) in the component loading unit (10). After the lift (15) detects it in the initial state, the sensor (14) rises until detected. Afterwards, the ionizer (21) is operated to eliminate static electricity. After dissolving the stabilizer, the air blower (11) operates when the sagittal lift (15) descends and vacuum adsorbs.
도 4에서 상기 이온아이저(21)는 에어공급부(23)와 이온 노즐(25)로 구성되어 에어 공급부(23)에 에어 호스에 밸브를 장착하여 에어량을 조절하여 사용하며, 이온 노즐(25)에서는 공급되는 직류전원(+7KV와 -7KV)에 의해 제전 전극 +, -전극이 발생하여 에어 공급부(23)에서 공급되는 에어를 이온 노즐(25)을 통해 정정기를 제거하는 역할을 한다.In FIG. 4, the ionizer 21 is composed of an air supply unit 23 and an ion nozzle 25. A valve is mounted on an air hose in the air supply unit 23 to control the amount of air, and the ion nozzle 25 In this case, static electricity elimination electrodes + and - electrodes are generated by the supplied direct current power (+7KV and -7KV), which serves to remove the static electricity from the air supplied from the air supply unit 23 through the ion nozzle 25.
도 2와 도 11에서 제1 X-Z축 이송유닛(30)은 상기 부품적재유닛(10)에 적재된 부품(A)을 픽업하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어하고, 제1 진공흡착유닛(40)은 상기 제1 X-Z축 이송유닛(30)에 픽업된 부품(A)을 백라이트(41)와 진공흡착판(43)이 일체화된 진공흡착모듈(45) 상부에 진공 흡착되게 유지하여 안착된다. 2 and 11, the first (40) holds the part (A) picked up by the first .
이후 제1 진공흡착유닛(40)은 Y축 가이드레일(42)를 따라 이송하여 부품상부면 검사유닛(50)의 진공 흡착된 부품의 상부면(B)을 비젼유닛(51)에 의해 검사하여 상기 부품상부면 검사유닛(50)의 검사결과 불량품은 스크랩유닛(63)에 폐기하고, 양품인 부품을 제2 진공흡착유닛(65)에 의해 흡착하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송유닛(60)으로 이송하게 된다. 이 때 부품상부면 검사유닛(50)은 제1 진공흡착유닛(40)의 스테이지 검사 위치로 이동하고, 제1 진공흡착유닛(40)에 안착된 부품(A)이 검사영역에 도착한 것을 엔코더 신호를 통해 확인되면 비젼 검사가 라인스캔 방식으로 상기 부품(A)의 상부면(B)을 검사한다. Afterwards, the first vacuum adsorption unit 40 is transported along the Y-axis guide rail 42 and the upper surface B of the vacuum-adsorbed part of the part upper surface inspection unit 50 is inspected by the vision unit 51. As a result of the inspection by the part upper surface inspection unit 50, defective parts are disposed of in the scrap unit 63, and good parts are adsorbed by the second vacuum adsorption unit 65 and transfer control is performed in the X-axis and Z-axis directions. It is transferred to the second X-Z axis transfer unit (60). At this time, the part upper surface inspection unit 50 moves to the stage inspection position of the first vacuum adsorption unit 40, and an encoder signal indicates that the part A seated in the first vacuum adsorption unit 40 has arrived in the inspection area. Once confirmed, the vision inspection inspects the upper surface (B) of the part (A) using a line scan method.
도 9와 도 10에서 상기 반전대기유닛(70)은 상기 제2 X-Z축 이송유닛(60)에 흡착된 부품의 반전을 위해 Y 축 가이드레일(71) 이송하여 Z 축으로 상승하도록 승하강유닛(73)이 구비되어 반전을 대기하게 되고, 부품반전유닛(80)은 부품을 흡착하고, 반전유닛(81)에 의해 180°회전하여 검사하고자 하는 부품의 하부면(C)을 검사위치에 오게 하여 상기 반전대기유닛(70)에 안착을 시킨다. 상기 반전유닛(81)은 회전 흡착판이 회전 될 때 간섭을 회피하도록 상기 반전대기유닛(70)은 Y축 가이드레일(71)의 간섭 회피 구간에 대기하고 있다가 상기 반전유닛(81)의 회전이 끝나면 진입과 승하강유닛(73)에 의해 상승하여 부품(A)을 흡착한 이후 다음 구간으로 이송하게 된다. In FIGS. 9 and 10, the reversal standby unit 70 is a lifting and lowering unit ( 73) is provided to wait for inversion, and the part inversion unit 80 adsorbs the part and rotates it 180° by the inversion unit 81 to bring the lower surface (C) of the part to be inspected to the inspection position. It is seated on the inversion standby unit (70). The reversal unit 81 is on standby in the interference avoidance section of the Y-axis guide rail 71 to avoid interference when the rotary suction plate is rotated, and then the reversal unit 81 is rotated. When finished, it rises by the entry and lowering unit 73 to adsorb the part (A) and then transfers it to the next section.
이후 상기 부품반전유닛(80)에 흡착된 부품을 제3 X-Z축 이송유닛(90)에 의해 X축 및 Z축 방향으로 이송제어 하여 제3 진공흡착유닛(100)에 진공흡착 되게 안착시킨다. 이후 상기 제3 진공흡착유닛(100)에 흡착된 부품의 하부면(C)을 부품하부면 검사유닛(110)에 의해 비젼 검사를 하게 되고, 상기 부품하부면 검사유닛(110)의 검사결과 불량품은 스크랩유닛(63)에 폐기하고, 양품으로 판정되면 양품매가진적재유닛(120) 상에 그 양품을 자동으로 적재하게 되어 1cycle 검사가 완료 된다.Thereafter, the part adsorbed on the part reversal unit 80 is controlled to be transferred in the X-axis and Z-axis directions by the third Afterwards, the lower surface (C) of the part adsorbed to the third vacuum adsorption unit 100 is subjected to a vision inspection by the part lower surface inspection unit 110, and as a result of the inspection by the part lower surface inspection unit 110, it is found to be a defective product. is disposed of in the scrap unit 63, and if it is determined to be a good product, the good product is automatically loaded on the non-defective product loading unit 120, thereby completing one cycle inspection.
도 10에서 양품매가진적재유닛(120)의 사용방식은 작업자가 컨베이어 하단에 빈 적재매가진유닛(121)을 장착하고, 구동장치에 의해 컨베이어 상부로 이동하여 대기하게 되며, 상기 빈 적재매가진유닛(121)상으로 양품이 안착되고, 양품으로 적재된 상기 적재매가진유닛(121)은 배출부로 배출되어 이동하며 다음 빈 대기매거진유닛(125)이 적재 위치로 이동되는 순환구조이다. In Figure 10, the method of using the good product loading unit 120 is that the worker mounts the empty loading magazine unit 121 at the bottom of the conveyor, moves it to the upper part of the conveyor by a driving device and waits, and the empty loading magazine loading unit 120 is used. It is a circulation structure in which good products are placed on the unit 121, the stacked magazine unit 121 loaded with good products is discharged to the discharge unit and moves, and the next empty standby magazine unit 125 is moved to the loading position.
본 발명에서 각 유닛의 구동방식은 제어유닛(130)에 의해 X, Y, Z축은 각 서보 모터가 장착된 로봇 스테이지로 구성되어 각 유닛들을 각 기능에서 필요하는 위치로 이송하는 구동제어방식이다. In the present invention, the driving method of each unit is a driving control method in which the X, Y, and Z axes are composed of robot stages equipped with respective servo motors by the control unit 130, and transport each unit to the position required for each function.
이상과 같이 본 발명에 대해서 예시한 도면을 참조로 하여 설명하였으나, 본 명세서에 개시된 실시 예와 도면에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술사상의 범위 내에서 통상의 기술자에 의해 다양한 변형이 이루어질 수 있음은 자명하다. As described above, the present invention has been described with reference to the illustrative drawings, but the present invention is not limited to the embodiments and drawings disclosed herein, and various modifications may be made by those skilled in the art within the scope of the technical idea of the present invention. It is obvious that transformation can occur.
아울러 앞서 본 발명의 실시 예를 설명하면서 본 발명의 구성에 따른 작용 효과를 명시적으로 기재하여 설명하지 않았을 지라도, 해당 구성에 의해 예측 가능한 효과 또한 인정되어야 함은 당연하다. In addition, although the operational effects according to the configuration of the present invention were not explicitly described and explained while explaining the embodiments of the present invention above, it is natural that the predictable effects due to the configuration should also be recognized.
A. 부품 B. 상부면 C.하부면
10. 부품적재유닛 11. 에어블로우
20. 정전기방지유닛 21. 이온아이저
30. 제1 X-Z축 이송유닛
40. 제1 진공흡착유닛 41. 백라이트 42. Y축 가이드레일 43. 진공흡착판 45. 진공흡착모듈
50. 부품상부면 검사유닛 51. 비젼유닛
60. 제2 X-Z축 이송유닛 63. 스크랩유닛 65. 제2 진공흡착유닛
70. 반전대기유닛 71. Y 축 가이드레일 73. 승하강유닛
80. 부품반전유닛 81. 반전유닛
90. 제3 X-Z축 이송유닛
100. 제3 진공흡착유닛 101. 백라이트 103. 진공흡착판
105. 진공흡착모듈 110. 부품하부면 검사유닛
120. 양품매가진적재유닛 121. 적재매가진유닛
123. 매가진이송유닛 125. 대기매가진유닛
130. 제어유닛A. Part B. Top surface C. Bottom surface
10. Parts loading unit 11. Air blow
20. Anti-static unit 21. Ionizer
30. 1st XZ axis transfer unit
40. First vacuum adsorption unit 41. Backlight 42. Y-axis guide rail 43. Vacuum adsorption plate 45. Vacuum adsorption module
50. Part upper surface inspection unit 51. Vision unit
60. Second XZ axis transfer unit 63. Scrap unit 65. Second vacuum adsorption unit
70. Inversion standby unit 71. Y-axis guide rail 73. Raising and lowering unit
80. Parts inversion unit 81. Inversion unit
90. 3rd XZ axis transfer unit
100. Third vacuum adsorption unit 101. Backlight 103. Vacuum adsorption plate
105. Vacuum adsorption module 110. Part bottom surface inspection unit
120. Loading unit with good quality products 121. Loading unit with good quality products
123. Magazine transfer unit 125. Standby magazine unit
130. Control unit
Claims (7)
검사하고자 하는 부품(A)을 적층하여 적재하는 부품적재유닛(10);,
상기 부품적재유닛(10)에 적층된 부품(A)간의 정전기를 방지하도록 구비하는 정전기방지유닛(20);,
상기 부품적재유닛(10)에 적재된 부품(A)을 픽업하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제1 X-Z축 이송유닛(30);,
상기 제1 X-Z축 이송유닛(30)에 픽업된 부품(A)을 백라이트(41)와 진공흡착판(43) 일체화된 모듈(45) 상부에 안착되어 진공 흡착되게 유지하는 제1 진공흡착유닛(40);,
상기 제1 진공흡착유닛(40)에 Y축 가이드레일(42)를 따라 이송하여 진공 흡착된 부품의 상부면(B)을 비젼유닛(51)에 의해 검사하는 부품상부면 검사유닛(50);,
상기 부품상부면 검사유닛(50)의 검사결과 불량품은 스크랩유닛(63)에 폐기하고, 양품인 부품을 제2 진공흡착유닛(65)에 의해 흡착하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송유닛(60);,
상기 제2 X-Z축 이송유닛(60)에 흡착된 부품의 반전을 위해 Y 축 가이드레일(71)로 이송하여 Z 축으로 상승하도록 승하강유닛(73)이 구비되어 반전을 대기하는 반전대기유닛(70);,
상기 반전대기유닛(70)에 흡착된 부품을 반전유닛(81)에 의해 180°회전하는 부품반전유닛(80);,
상기 부품반전유닛(80)에 흡착된 부품을 X축 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제3 X-Z축 이송유닛(90);,
상기 제3 X-Z축 이송유닛(90)에 흡착된 부품을 백라이트(101)와 진공흡착판(103)이 일체화된 진공흡착모듈(105) 상부에 안착되어 진공흡착되게 유지하는 제3 진공흡착유닛(100);,
상기 제3 진공흡착유닛(100)에 흡착된 부품의 하부면(C)을 비젼 검사하는 부품하부면 검사유닛(110);,
상기 부품하부면 검사유닛(110)의 검사결과 부품 하부면(C)이 양품으로 판정되면 그 양품을 적재하는 양품매가진적재유닛(120);,
상기 부품을 검사하기 위하여 진공흡착, 이송, 검사 및 매가진 작업을 제어하는 제어유닛(130);,을 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 진공흡착 모듈용 부품 자동 검사 장치.In the automatic inspection device that automatically inspects the appearance of the upper surface (B) and lower surface (C) of the part (A) using a backlight and vacuum adsorption integrated module,
A parts loading unit (10) for stacking and loading the parts (A) to be inspected;
An anti-static unit (20) provided to prevent static electricity between components (A) stacked on the component loading unit (10);
A first
A first vacuum adsorption unit 40 that holds the part A picked up by the first );,
a part upper surface inspection unit 50 that inspects the upper surface B of the vacuum adsorbed part by transporting it to the first vacuum adsorption unit 40 along the Y-axis guide rail 42 by a vision unit 51; ,
As a result of the inspection by the part upper surface inspection unit 50, defective parts are disposed of in the scrap unit 63, and good parts are adsorbed by the second vacuum adsorption unit 65 and transfer control is performed in the X-axis and Z-axis directions. Second XZ axis transfer unit (60);
In order to reverse the parts adsorbed on the second 70);,
A part reversal unit 80 that rotates the part adsorbed on the reversal standby unit 70 by 180° by the reversal unit 81;
A third
A third vacuum adsorption unit (100) for maintaining the parts adsorbed on the third );,
A component lower surface inspection unit 110 that performs a vision inspection of the lower surface C of the component adsorbed on the third vacuum adsorption unit 100;
If the component lower surface (C) is determined to be a good product as a result of the inspection of the part lower surface inspection unit 110, a non-defective product loading unit 120 for loading the non-defective product;
An automatic parts inspection device for a backlight vacuum adsorption module, comprising a control unit 130 that controls vacuum adsorption, transfer, inspection and magazine operations to inspect the parts.
상기 부품적재유닛(10)에는 적재된 부품간의 정전기로 인해 겹쳐진 부품을 분리하도록 에어블로우(11)를 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 진공흡착 모듈용 부품 자동 검사 장치.According to paragraph 1,
An automatic parts inspection device for a backlight vacuum adsorption module, wherein the parts loading unit (10) includes an air blow (11) to separate overlapping parts due to static electricity between the loaded parts.
상기 정전기방지유닛(20)은 정전기능을 수행하는 이온아이저(21)를 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 진공흡착 모듈용 부품 자동 검사 장치.According to paragraph 1,
An automatic inspection device for parts for a backlight vacuum adsorption module, wherein the anti-static unit (20) includes an ionizer (21) that performs an electrostatic function.
제1 진공흡착유닛(40)와 제2 진공흡착유닛(65)에는 LED를 확산하는 백라이트부(41)(101)와, 그 상단에 부품(B)(C)을 세팅하는 진공흡착판(43)(103)과, 상기 백라이트부(41)(101)와 상기 진공흡착판(43)(103)이 일체로 결합되어 형성된 백라이트 진공흡착모듈(45)(105)이 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 진공흡착 모듈용 부품 자동 검사 장치.According to paragraph 1,
The first vacuum adsorption unit 40 and the second vacuum adsorption unit 65 include backlight units 41 and 101 that diffuse LEDs, and a vacuum adsorption plate 43 on which the parts B and C are set on the top of the backlight units 41 and 101 for diffusing LEDs. Backlight vacuum adsorption, characterized in that it includes (103) and a backlight vacuum adsorption module (45) (105) formed by integrally combining the backlight portion (41) (101) and the vacuum suction plate (43) (103). Automatic inspection device for module parts.
상기 양품매가진적재유닛(120)은 양품을 적재하는 적재매가진유닛(121)과 적재가 완료된 상기 적재매가진유닛(121)을 이송하는 매가진이송유닛(123)과 상기 매가진이송유닛(123)하단이 대기중인 대기매가진유닛(125);,을 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 진공흡착 모듈용 부품 자동 검사 장치.According to paragraph 1,
The good product loading unit 120 includes a loading magazine loading unit 121 for loading good products, a magazine transfer unit 123 for transferring the loaded magazine loading unit 121, and the magazine transfer unit ( 123) An automatic inspection device for parts for a backlight vacuum adsorption module, characterized in that it includes an atmospheric magazine unit 125 waiting at the bottom.
검사하고자 하는 부품(A)을 적층하여 적재하고 적재된 부품(A)간의 틈새를 유지하게하는 부품적재단계(S10);,
적층된 부품(A)간의 정전기를 방지하도록 하는 부품간의 정전기를 방지하는 단계(S20);,
부품적재유닛(10)에 적재된 부품(A)을 픽업하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제1 X-Z축 이송단계(S30);,
제1 X-Z축 이송유닛(30)에 픽업된 부품(A)을 백라이트(41)와 진공흡착판(43)이 일체화된 진공흡착모듈(45) 상부에 안착되어 진공 흡착되게 유지하는 제1 진공흡착단계(S40);,
제1 진공흡착유닛(40)에 Y축 가이드레일(42)를 따라 이송하여 진공 흡착된 부품의 상부면(B)을 비젼유닛(51)에 의해 검사하는 부품상부면 검사단계(S50);,
부품상부면 검사유닛(50)의 검사결과 불량품은 스크랩유닛(63)에 폐기하고, 양품인 부품을 제2 진공흡착유닛(65)에 의해 흡착하여 X축 방향 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송단계(S60);,
제2 X-Z축 이송유닛(60)에 흡착된 부품의 반전을 위해 Y 축 가이드레일(71) 이송하여 Z 축으로 상승하도록 승하강유닛(73)이 구비되어 반전을 대기하는 반전대기단계(S70);,
반전대기유닛(70)에 흡착된 부품을 반전유닛(81)에 의해 180°회전하는 부품반전단계(S80);,
부품반전유닛(80)에 흡착된 부품을 X축 및 Z축 방향으로 이송제어 하는 제2 X-Z축 이송단계(S90);,
제3 X-Z축 이송유닛(90)에 흡착된 부품을 백라이트(101)와 진공흡착판(103)이 일체화된 진공흡착모듈(105) 상부에 안착되어 진공흡착되게 유지하는 제2 진공흡착단계(S100);,
제3 진공흡착유닛(100)에 흡착된 부품의 하부면(C)을 비젼 검사하는 부품하부면 검사단계(S110);,
부품하부면 검사유닛(110)의 검사결과 부품 하부면(C)이 양품으로 판정되면 그 양품을 적재하는 양품매가진적재단계(S120);,를 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 진공흡착 모듈용 부품 자동 검사 방법.In an automatic inspection method for automatically inspecting the appearance of the upper surface (B) and lower surface (C) of a component (A) using a backlight and vacuum adsorption integrated module,
A parts loading step (S10) in which the parts to be inspected (A) are stacked and loaded and the gap between the loaded parts (A) is maintained;
A step (S20) of preventing static electricity between stacked components (A);
A first
A first vacuum adsorption step in which the part (A) picked up by the first (S40);,
A part upper surface inspection step (S50) in which the upper surface (B) of the vacuum adsorbed part is inspected by the vision unit 51 by transporting it along the Y-axis guide rail 42 to the first vacuum adsorption unit 40;
As a result of the inspection by the part upper surface inspection unit 50, defective parts are disposed of in the scrap unit 63, and good parts are adsorbed by the second vacuum adsorption unit 65 to control transfer in the X-axis and Z-axis directions. 2 XZ axis transfer step (S60);,
In order to reverse the part adsorbed on the second ;,
Part inversion step (S80) in which the part adsorbed to the inversion standby unit 70 is rotated 180° by the inversion unit 81;
A second
A second vacuum adsorption step (S100) in which the parts adsorbed to the third ;,
Part lower surface inspection step (S110) of vision inspecting the lower surface (C) of the part adsorbed on the third vacuum adsorption unit 100;
When the component lower surface (C) is determined to be a good product as a result of the inspection by the component lower surface inspection unit 110, a non-defective product loading step (S120) of loading the non-defective product; a backlight vacuum adsorption module component comprising a. Automated inspection method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210179880A KR102612030B1 (en) | 2021-12-15 | 2021-12-15 | Auto Inspection Apparatus for Backlight vacuum adsorption module and its method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210179880A KR102612030B1 (en) | 2021-12-15 | 2021-12-15 | Auto Inspection Apparatus for Backlight vacuum adsorption module and its method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20230090802A KR20230090802A (en) | 2023-06-22 |
| KR102612030B1 true KR102612030B1 (en) | 2023-12-08 |
Family
ID=86989202
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020210179880A KR102612030B1 (en) | 2021-12-15 | 2021-12-15 | Auto Inspection Apparatus for Backlight vacuum adsorption module and its method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102612030B1 (en) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018154414A (en) | 2017-03-15 | 2018-10-04 | 株式会社リコー | Sheet supply device |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4743827B2 (en) * | 2004-08-24 | 2011-08-10 | 株式会社日本マイクロニクス | LCD panel visual inspection equipment |
| KR101325762B1 (en) * | 2012-04-26 | 2013-11-08 | 기가비스주식회사 | Optical inspection device |
| KR101215373B1 (en) * | 2012-06-08 | 2012-12-26 | (주) 루켄테크놀러지스 | Full Auto Inspection System of LCD Panel |
| KR20170099198A (en) | 2016-02-23 | 2017-08-31 | (주)소닉스 | Inspection equipment for back light unit |
| KR20180051807A (en) * | 2016-11-09 | 2018-05-17 | 주식회사 에스디옵틱스 | Apparatus for inspecting lens assembly |
-
2021
- 2021-12-15 KR KR1020210179880A patent/KR102612030B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018154414A (en) | 2017-03-15 | 2018-10-04 | 株式会社リコー | Sheet supply device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20230090802A (en) | 2023-06-22 |
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