KR102596383B1 - Display Device - Google Patents

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KR102596383B1
KR102596383B1 KR1020160112242A KR20160112242A KR102596383B1 KR 102596383 B1 KR102596383 B1 KR 102596383B1 KR 1020160112242 A KR1020160112242 A KR 1020160112242A KR 20160112242 A KR20160112242 A KR 20160112242A KR 102596383 B1 KR102596383 B1 KR 102596383B1
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Abstract

본 명세서는 표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 기판 및 기판에 배열된 신호라인을 포함하는 표시장치를 제공한다. 신호라인은, 패드와 연결되는 제1도전층과, 제1도전층과 이격된 제2도전층을 포함한다. 또한 신호라인은, 제1도전층과 제2도전층 상에 위치하며, 제1도전층의 단부와 제2도전층의 단부 및 제1도전층과 상기 제2도전층 사이가 노출된 개구 영역을 포함하는 절연층을 포함한다. 신호라인은 개구 영역에 위치하며 개구 영역으로 노출된 제1도전층의 단부와 제2도전층의 단부 상에 위치하는 도전 패턴을 포함한다.This specification provides a display device including a substrate including a display area and a non-display area and signal lines arranged on the substrate. The signal line includes a first conductive layer connected to the pad and a second conductive layer spaced apart from the first conductive layer. In addition, the signal line is located on the first conductive layer and the second conductive layer, and has an exposed opening area between the end of the first conductive layer and the end of the second conductive layer and between the first conductive layer and the second conductive layer. It includes an insulating layer containing. The signal line is located in the opening area and includes a conductive pattern located on an end of the first conductive layer and an end of the second conductive layer exposed by the opening area.

Figure R1020160112242
Figure R1020160112242

Description

표시장치{Display Device}Display Device

본 명세서는 영상을 표시하는 표시장치에 관한 것이다. This specification relates to a display device that displays images.

정보화 사회가 발전함에 따라 영상을 표시하기 위한 표시장치에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있으며, 근래에는 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display), 플라즈마표시장치(PDP: Plasma Display Panel), 유기발광표시장치(OLED: Organic Light Emitting Diode Display Device) 등과 같은 여러 가지 표시장치가 활용되고 있다.As the information society develops, the demand for display devices to display images is increasing in various forms, and in recent years, liquid crystal displays (LCDs), plasma display panels (PDPs), and organic light emitting devices have been developed. Various display devices such as OLED (Organic Light Emitting Diode Display Device) are being used.

일반적으로, 표시장치는 표시패널을 구동하기 위한 구동회로를 포함한다. 구동회로는 게이트라인들에 스캔신호를 순차적으로 인가하는 게이트 드라이버와, 게이트 드라이버의 스캔신호에 대응하여 데이터라인들을 통해 영상정보를 화소들에 인가하는 데이터 드라이버를 구비한다.Generally, a display device includes a driving circuit for driving a display panel. The driving circuit includes a gate driver that sequentially applies scan signals to the gate lines, and a data driver that applies image information to the pixels through data lines in response to the scan signals of the gate driver.

최근, 표시장치는 기술 발전 및 소비자의 요구에 따라 해상도가 증가하고 있다. 또한, 해상도 증가는 신호라인의 검사를 위해서 오토-프루브(Auto-Prove: 이하, AP) 검사핀 추가 및 핀투핀(PIN to PIN) 피치 감소에 의해 신호라인의 검사시 검사핀의 접촉 불량이 발생할 수 있다.Recently, the resolution of display devices has been increasing in accordance with technological advancements and consumer demands. In addition, the increase in resolution may result in poor contact of the inspection pin when inspecting the signal line due to the addition of Auto-Prove (AP) inspection pins and the reduction of the pin-to-pin (PIN to PIN) pitch. You can.

또한, 해상도가 증가함에 따라, 신호라인 및 패드에서 발열이 증가하여 표시장치의 비정상적인 구동을 유발할 수 있다. 이에, 발열에 의한 문제 발생을 해소하고, 비용 발생을 최소화하는 방안이 요구되고 있다.Additionally, as resolution increases, heat generation increases in signal lines and pads, which may cause abnormal operation of the display device. Accordingly, there is a need for a method to eliminate problems caused by heat generation and minimize costs.

일 실시예는 신호라인의 검사시 검사핀의 접촉 불량을 방지하는 표시장치를 제공하고자 한다.One embodiment is intended to provide a display device that prevents poor contact of inspection pins when inspecting signal lines.

또한, 다른 실시예는 본 발명은 신호라인 및 그 패드의 저항을 낮추어 소비전력을 낮추고 발열량을 감소시키는 표시장치를 제공하고자 한다.In addition, in another embodiment, the present invention seeks to provide a display device that reduces power consumption and heat generation by lowering the resistance of signal lines and their pads.

일측면에서, 일 실시예에 따른 표시장치는 표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 기판 및 기판에 배열된 신호라인을 포함한다. In one aspect, a display device according to an embodiment includes a substrate including a display area and a non-display area and signal lines arranged on the substrate.

신호라인은, 패드와 연결되는 제1도전층과, 제1도전층과 이격된 제2도전층을 포함한다. 또한 신호라인은, 제1도전층과 제2도전층 상에 위치하며, 제1도전층의 단부와 제2도전층의 단부 및 제1도전층과 제2도전층 사이가 노출된 개구 영역을 포함하는 절연층을 포함한다. 신호라인은 개구 영역에 위치하며 개구 영역으로 노출된 제1도전층의 단부와 제2도전층의 단부 상에 위치하는 도전 패턴을 포함한다. The signal line includes a first conductive layer connected to the pad and a second conductive layer spaced apart from the first conductive layer. In addition, the signal line is located on the first conductive layer and the second conductive layer, and includes an open area exposed between the end of the first conductive layer and the end of the second conductive layer, and between the first conductive layer and the second conductive layer. It includes an insulating layer. The signal line is located in the opening area and includes a conductive pattern located on an end of the first conductive layer and an end of the second conductive layer exposed by the opening area.

다른 측면에서, 다른 실시예에 따른 표시장치는 표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 기판 및 기판에 배열된 로그라인, 로그라인을 구동 회로와 연결하는 연결 라인을 포함한다. In another aspect, a display device according to another embodiment includes a substrate including a display area and a non-display area, a log line arranged on the substrate, and a connection line connecting the log line to a driving circuit.

로그라인은, 패드와 연결되는 도전층과, 도전층 상에 위치하는 절연층을 포함한다. 절연층은 도전층의 일부를 노출하는 제1컨택홀을 포함하는 제1절연층과, 제1절연층 상에 위치하며 제1컨택홀과 연결라인의 일부분을 노출하는 제2컨택홀을 포함하는 제2절연층을 포함한다. The log line includes a conductive layer connected to the pad and an insulating layer located on the conductive layer. The insulating layer includes a first insulating layer including a first contact hole exposing a portion of the conductive layer, and a second contact hole located on the first insulating layer and exposing a portion of the first contact hole and the connection line. Includes a second insulating layer.

로그라인은 제1컨택홀과 제2컨택홀에 도전층과 연결라인의 일부분 상에 위치하는 연결 패턴을 포함한다. The log line includes a connection pattern located on a portion of a conductive layer and a connection line in the first contact hole and the second contact hole.

일실시예에 따른 표시장치는 신호라인의 검사시 검사핀의 접촉 불량을 방지할 수 있다.The display device according to one embodiment can prevent poor contact of inspection pins when inspecting signal lines.

또한, 다른 실시예에 따른 표시장치는 신호라인 및 그 패드의 저항을 낮추어 소비전력을 낮추고 발열량을 감소시킬 수 있다.Additionally, a display device according to another embodiment can reduce power consumption and heat generation by lowering the resistance of the signal line and its pad.

도 1은 본 실시예들에 따른 표시장치의 개략적인 구성도이다.
도 2는 도 1의 표시장치의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 도 2의 X 영역을 상세히 나타낸 도면이다.
도 4는 도 3의 지시선 A-A'을 따라 절취한 단면도이다.
도 5는 도 3의 지시선 B-B'을 따라 절취한 단면도다.
도 6은 도 3의 지시선 C-C'을 따라 절취한 단면도이다.
도 7은 도 2의 Z영역을 상세히 나타낸 도면이다.
도 8은 도 7의 지시선 E-E'을 따라 절취한 단면도이다.
도 9는 도 2의 Y 영역을 상세히 나타낸 도면이다.
도 10은 도 9의 지시선 D-D'을 따라 절취한 단면도이다.
도 11은 표시장치가 터치스크린 패널 일체형 액정표시장치인 경우 표시장치의 단면도이다.
1 is a schematic configuration diagram of a display device according to the present embodiments.
FIG. 2 is a diagram schematically showing a portion of the display device of FIG. 1.
FIG. 3 is a diagram showing area X of FIG. 2 in detail.
FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line A-A' of FIG. 3.
Figure 5 is a cross-sectional view taken along the indicator line B-B' in Figure 3.
FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line C-C' of FIG. 3.
FIG. 7 is a diagram showing the Z region of FIG. 2 in detail.
FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the indicator line E-E' of FIG. 7.
FIG. 9 is a diagram showing the Y area of FIG. 2 in detail.
Figure 10 is a cross-sectional view taken along the indicator line DD' in Figure 9.
Figure 11 is a cross-sectional view of the display device when the display device is a liquid crystal display device integrated with a touch screen panel.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the exemplary drawings. In adding reference numerals to components in each drawing, identical components may have the same reference numerals as much as possible even if they are shown in different drawings. Additionally, when describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description may be omitted.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.Additionally, when describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are only used to distinguish the component from other components, and the nature, sequence, order, or number of the components are not limited by the term. When a component is described as being “connected,” “coupled,” or “connected” to another component, that component may be directly connected or connected to that other component, but there are no other components between each component. It should be understood that may be “interposed” or that each component may be “connected,” “combined,” or “connected” through other components.

도 1은 본 실시예들에 따른 표시장치의 개략적인 구성도이다.1 is a schematic configuration diagram of a display device according to the present embodiments.

도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 표시장치는 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display), 플라즈마표시장치(PDP: Plasma Display Panel), 유기발광표시장치(OLED: Organic Light Emitting Diode Display Device) 등과 같은 여러 가지 표시장치일 수 있다.Referring to FIG. 1, display devices according to the present embodiments include a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), and an organic light emitting diode display device (OLED). ), etc. may be various display devices.

본 실시예들에 따른 표시장치는 복수의 게이트라인(GL1 ~ GLn)과 복수의 데이터라인(DL1 ~ DLm)이 교차되며 그 교차부에 화소(Pixel, P)를 구동하기 위한 박막트랜지스터(TFT)가 형성된 표시패널(100)과, 게이트라인(GL1 ~ GLn)에 스캔 신호를 공급하기 위한 게이트 드라이버(110)와, 데이터라인(DL1 ~ DLm)에 데이터를 공급하기 위한 데이터 드라이버(120)와, 게이트 드라이버(110) 및 데이터 드라이버(120)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(130)를 포함할 수 있다.In the display device according to the present embodiments, a plurality of gate lines (GL1 to GLn) and a plurality of data lines (DL1 to DLm) intersect, and a thin film transistor (TFT) for driving a pixel (P) is installed at the intersection portion. A display panel 100 formed, a gate driver 110 for supplying scan signals to gate lines GL1 to GLn, and a data driver 120 for supplying data to data lines DL1 to DLm, It may include a timing controller 130 that controls the gate driver 110 and data driver 120.

게이트 드라이버(110)는 타이밍 컨트롤러(130)로부터의 게이트 제어신호(GCS)에 응답하여, 복수의 게이트라인(GL1 ~ GLn)에 복수의 스캔 신호들을 공급할 수 있다. 복수의 스캔 신호들은 복수의 게이트라인(GL1 ~ GLn)이 순차적으로 1 수평동기신호의 기간씩 인에이블 되게 할 수 있다. 게이트 드라이버(110)는 복수의 게이트 드라이버 집적회로를 포함할 수 있다.The gate driver 110 may supply a plurality of scan signals to the plurality of gate lines GL1 to GLn in response to the gate control signal GCS from the timing controller 130. A plurality of scan signals can sequentially enable a plurality of gate lines (GL1 to GLn) for a period of one horizontal synchronization signal. The gate driver 110 may include a plurality of gate driver integrated circuits.

데이터 드라이버(120)는 타이밍 컨트롤러(130)로부터의 데이터 제어신호(DCS)들에 응답하여, 복수의 게이트라인(GL1 ~ GLn) 중 어느 하나가 인에이블 될 때마다 복수의 화소 데이터전압을 발생하여 표시패널(100) 상의 복수의 데이터라인(DL1 ~ DLm)에 각각 공급할 수 있다. 데이터 드라이버(120)는 복수의 데이터 드라이버 집적회로를 포함할 수 있다.The data driver 120 generates a plurality of pixel data voltages in response to data control signals (DCS) from the timing controller 130 whenever one of the plurality of gate lines GL1 to GLn is enabled. It can be supplied to a plurality of data lines (DL1 to DLm) on the display panel 100, respectively. The data driver 120 may include a plurality of data driver integrated circuits.

타이밍 컨트롤러(130)는 외부의 시스템(예를 들면, 컴퓨터의 시스템의 그래픽 모듈 또는 텔레비전 수신 시스템의 영상 복조 모듈, 도시하지 않음)으로부터 공급된 동기신호들(Vsync, Hsync)과, 데이터 인에이블(DE) 신호 및 클럭신호(Clk)를 이용하여 게이트 드라이버(110)를 제어하는 게이트 제어신호(GCS)와 데이터 드라이버(120)를 제어하는 데이터 제어신호(DCS)를 생성한다. 또한, 타이밍 컨트롤러(130)는 외부의 시스템으로부터 입력된 영상 데이터(Data)를 정렬하여 정렬된 데이터(Vdata)를 데이터 드라이버(120)로 공급할 수 있다.The timing controller 130 controls synchronization signals (Vsync, Hsync) supplied from an external system (for example, a graphics module of a computer system or an image demodulation module of a television reception system, not shown) and data enable ( A gate control signal (GCS) that controls the gate driver 110 and a data control signal (DCS) that controls the data driver 120 are generated using the DE) signal and the clock signal (Clk). Additionally, the timing controller 130 may align image data (Data) input from an external system and supply the sorted data (Vdata) to the data driver 120.

도 2는 도 1의 표시장치의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이다.FIG. 2 is a diagram schematically showing a portion of the display device of FIG. 1.

도 2를 참조하면, 표시패널(100)은 영상을 표시하는 표시 영역(104)과, 표시 영역(104)의 주변으로 영상을 표시하지 않는 비표시 영역(105)을 포함하는 기판(101)을 포함한다. Referring to FIG. 2, the display panel 100 includes a substrate 101 including a display area 104 that displays an image and a non-display area 105 that does not display an image around the display area 104. Includes.

데이터 인쇄회로기판(124)은 표시패널(100)의 비표시 영역(105)에 구동회로를 표시패널과 연결하는 탭(tape automated bonding:탭) 방식, 예를 들어 가요성 필름(Flexible Film) 또는 가요성 회로기판(Flexible Printed Circuit, 128)을 통하여 전기적 물리적으로 연결될 수 있다. The data printed circuit board 124 is a tab (tape automated bonding) method for connecting the driving circuit to the display panel in the non-display area 105 of the display panel 100, for example, a flexible film or It can be electrically and physically connected through a flexible printed circuit (128).

가요성 필름(128)은 도 1에 도시된 데이터 드라이버(120)를 구성하는 데이터 드라이버 집적회로(122)가 실장된다. 가요성 필름(128)은 복수의 데이터라인(DL)과 전기적으로 연결된 복수의 데이터 리드선(126) 및 게이트 드라이버(110)을 구성하는 게이트 드라이버 집적회로(111)와 전기적으로 연결된 복수의 게이트 리드선(113)을 포함할 수 있다. A data driver integrated circuit 122 constituting the data driver 120 shown in FIG. 1 is mounted on the flexible film 128. The flexible film 128 includes a plurality of data lead lines 126 electrically connected to a plurality of data lines DL and a plurality of gate lead lines electrically connected to the gate driver integrated circuit 111 constituting the gate driver 110 ( 113) may be included.

복수의 데이터 리드선(126)은 패드 구조를 통하여 표시패널(100)에 배치된 복수의 데이터라인(DL)과 연결되어 있어 영상 신호를 데이터 드라이버 집적회로(122)로부터 데이터라인(DL)에 전달할 수 있다. 게이트 리드선(113)은 패드 구조를 통하여 표시패널(110)에 배치된 스타트 신호 라인(SSL)과 연결되어 스타트 펄스를 게이트 드라이버 집적회로(111)에 전달할 수 있다. The plurality of data lead lines 126 are connected to the plurality of data lines DL disposed on the display panel 100 through a pad structure, so that image signals can be transmitted from the data driver integrated circuit 122 to the data lines DL. there is. The gate lead line 113 is connected to the start signal line (SSL) disposed on the display panel 110 through a pad structure and can transmit a start pulse to the gate driver integrated circuit 111.

또한, 가요성 필름(128)에는 로그라인(LOG)과 전기적으로 연결된 로그라인 리드선(114)이 연결될 수 있다. 복수의 로그라인 리드선(114)은 제어신호들과 클럭신호, 게이트 전압, 전원전압, 그라운드 전압 등을 로그라인(LOG)을 통해 게이트 드라이버 집적회로(111)에 전달할 수 있다. Additionally, a log line lead wire 114 electrically connected to the log line (LOG) may be connected to the flexible film 128. The plurality of log line lead lines 114 may transmit control signals, clock signals, gate voltage, power voltage, ground voltage, etc. to the gate driver integrated circuit 111 through the log line (LOG).

게이트 드라이버 집적회로(111)는 로그라인(LOG)을 통해 공급받은 제어신호들과 클럭신호, 게이트 전압, 전원전압, 그라운드 전압 등과 스타트 신호 라인(SSL)을 통해 공급받은 스타트 펄스를 이용하여 스캔 신호 또는 게이트 신호를 표시패널(100)의 게이트라인들(GL)로 공급할 수 있다.The gate driver integrated circuit 111 generates a scan signal using control signals supplied through a log line (LOG), a clock signal, gate voltage, power voltage, ground voltage, and a start pulse supplied through a start signal line (SSL). Alternatively, the gate signal may be supplied to the gate lines GL of the display panel 100.

전술한 데이터 라인(DL) 및 게이트 라인(GL), 로그 라인(LOG), 스타트 신호 라인(SSL)은 기판(101)에 배열된 신호라인이라고 한다. 아래에서 도 3 내지 도 5를 참조하여 신호라인이 데이터 라인(DL)인 것을 예시적으로 설명하고, 도 6 내지 도 10을 참조하여 신호라인이 로그라인(LOG)인 것을 예시적으로 설명하나, 본 명세서에서 신호라인은 가요성 필름(128)과 전기적으로 연결된 어떠한 신호라인, 예를 들어 스타트 신호 라인(SSL)이나 미도시한 각종 전원 공급라인일 수 있다.The above-described data line (DL), gate line (GL), log line (LOG), and start signal line (SSL) are referred to as signal lines arranged on the substrate 101. Below, with reference to FIGS. 3 to 5, it is exemplarily explained that the signal line is a data line (DL), and with reference to FIGS. 6 to 10, it is exemplarily explained that the signal line is a log line (LOG). In this specification, the signal line may be any signal line electrically connected to the flexible film 128, for example, a start signal line (SSL) or various power supply lines not shown.

도 3은 도 2의 X 영역을 상세히 나타낸 도면이다. FIG. 3 is a diagram showing area X of FIG. 2 in detail.

도 3을 참조하면, 데이터 라인(DL)은 패드(205)와 연결되는 제1도전층(210)과, 제1도전층(210)과 이격된 제2도전층(212), 제1도전층(210) 및 제2도전층(212) 사이에 위치하며 제1도전층(210) 및 제2도전층(212)과 전기적으로 연결된 도전 패턴(230)을 포함한다. Referring to FIG. 3, the data line DL includes a first conductive layer 210 connected to the pad 205, a second conductive layer 212 spaced apart from the first conductive layer 210, and a first conductive layer. It is located between 210 and the second conductive layer 212 and includes a conductive pattern 230 electrically connected to the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212.

패드(205)는 도 2를 참조하여 설명한 바와 같이 데이터 리드선(126)과 전기적으로 연결되어, 데이터 드라이버 집적회로(122)로부터 영상 신호를 데이터라인(DL)에 전달할 수 있다.As described with reference to FIG. 2 , the pad 205 is electrically connected to the data lead line 126 and can transmit an image signal from the data driver integrated circuit 122 to the data line DL.

도 4는 도 3의 지시선 A-A'을 따라 절취한 단면도이다. FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line A-A' of FIG. 3.

도 3 및 도 4를 참조하면, 제1도전층(210)과, 제2도전층(212)은 기판(101) 상에서 서로 이격되어 있다. 제1도전층(210)과 제2도전층(212)은 동일한 재료로 동일한 층에 위치할 수 있다. 공정상으로 제1도전층(210)과 제2도전층(212)은 동일한 재료로 동일한 층에 동시에 형성될 수 있다.Referring to Figures 3 and 4, the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212 are spaced apart from each other on the substrate 101. The first conductive layer 210 and the second conductive layer 212 may be made of the same material and located on the same layer. In terms of process, the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212 may be formed simultaneously on the same layer and made of the same material.

제1도전층(210)과 제2도전층(212) 상에 절연층(220)이 위치한다. 절연층(220)은 제1도전층(210)의 단부(210a)와 제2도전층(212)의 단부(212a) 및 제1도전층(210)과 제2도전층(212) 사이가 노출된 개구 영역(Open Area, OA)을 포함한다. 절연층(220)은 제1도전층(210)과 제2도전층(212) 상에 위치하는 제1절연층(222)과 제1절연층(222) 상에 위치하는 제2절연층(224)을 포함할 수 있다. 제2절연층(224)는 도 4에 도시한 바와 같이 개구 영역(OA)에서 경사질 수 있으나 이에 제한되지 않는다. An insulating layer 220 is located on the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212. The insulating layer 220 is exposed between the end 210a of the first conductive layer 210 and the end 212a of the second conductive layer 212, and between the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212. Includes an open area (OA). The insulating layer 220 includes a first insulating layer 222 located on the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212, and a second insulating layer 224 located on the first insulating layer 222. ) may include. The second insulating layer 224 may be inclined in the opening area OA as shown in FIG. 4, but is not limited thereto.

도전 패턴(230)은 개구 영역(OA)에 위치하며 개구 영역(OA)으로 노출된 제1도전층(210)의 단부(210a)와 제2도전층(212)의 단부(212a) 상에 위치한다. 따라서, 제1도전층(210)과 제2도전층(212)은 도전 패턴(230)을 통해 전기적으로 연결되어 있다. The conductive pattern 230 is located in the opening area OA and is located on the end 210a of the first conductive layer 210 and the end 212a of the second conductive layer 212 exposed to the opening area OA. do. Accordingly, the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212 are electrically connected through the conductive pattern 230.

이러한 도전 패턴(230)은 데이터 라인(DL) 및 데이터 집적회로(122), 화소(P)를 검사하기 위한 검사 패드의 역할을 담당할 수 있다. 도전 패턴(230)이 도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이 절연층(220)의 개구 영역(OA)에서 배치됨에 따라 데이터 라인(DL)를 검사하는 오토-프루브 검사핀이 접촉하여 데이터 라인(DL) 및 데이터 집적회로(122), 화소(P)의 이상 유무를 검사할 수 있다. This conductive pattern 230 may serve as an inspection pad for inspecting the data line DL, the data integrated circuit 122, and the pixel P. As the conductive pattern 230 is disposed in the opening area OA of the insulating layer 220 as shown in FIGS. 3 and 4, the auto-probe test pin for inspecting the data line DL contacts the data line (DL). DL), the data integrated circuit 122, and the pixel (P) can be inspected for abnormalities.

도전 패턴(230) 상에 금속 산화물(240)이 위치할 수 있다. 이 금속 산화물(240)은 도 11을 참조하여 후술하는 바와 같이 화소(P)를 구성하는 화소 전극과 동일한 재료일 수 있으나 이에 제한되지 않는다. 금속 산화물(240)은 도전 패턴(230)을 외부로부터 실드하는 역할(shielding)을 할 수 있다. A metal oxide 240 may be located on the conductive pattern 230 . This metal oxide 240 may be the same material as the pixel electrode constituting the pixel P, as will be described later with reference to FIG. 11, but is not limited thereto. The metal oxide 240 may serve to shield the conductive pattern 230 from the outside.

도 5는 도 3의 지시선 B-B'을 따라 절취한 단면도다. 도 6은 도 3의 지시선 C-C'을 따라 절취한 단면도이다.Figure 5 is a cross-sectional view taken along the indicator line B-B' in Figure 3. FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line C-C' of FIG. 3.

도 5를 참조하면, 도전 패턴(230)의 선폭(W1)은 제1도전층(210) 및 제2도전층(212)의 선폭들(W2)보다 넓을 수 있다. 도전 패턴(230) 상에 금속 산화물(240)이 위치할 경우 금속 산화물(240)의 선폭은 도전 패턴(230)의 선폭(W1)과 실질적으로 동일할 수 있다. 따라서, 금속 산화물(240)의 선폭(W1)은 제1도전층(210) 및 제2도전층(212)의 선폭들(W2)보다 넓을 수 있다.Referring to FIG. 5 , the line width W1 of the conductive pattern 230 may be wider than the line widths W2 of the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212 . When the metal oxide 240 is located on the conductive pattern 230, the line width of the metal oxide 240 may be substantially the same as the line width W1 of the conductive pattern 230. Accordingly, the line width W1 of the metal oxide 240 may be wider than the line widths W2 of the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212.

도전 패턴(230)과 금속 산화물(240)의 선폭(W1)이 제1도전층(210)의 선폭(W2)보다 넓어 도전 패턴(230)과 금속 산화물(240)이 제1도전층(210)의 단부(210a)의 상부면(210b)과 측면(210c)을 덮을 수 있다. 동일하게 도전 패턴(230)과 금속 산화물(240)의 선폭(W1)이 제2도전층(212)의 단부(212a)의 선폭(W2)보다 넓어 도전 패턴(230)과 금속 산화물(240)이 제2도전층(212)의 상부면과 측면을 덮을 수 있다. The line width (W1) of the conductive pattern 230 and the metal oxide 240 is wider than the line width (W2) of the first conductive layer 210, so the conductive pattern 230 and the metal oxide 240 are connected to the first conductive layer 210. It can cover the upper surface (210b) and the side surface (210c) of the end (210a). Likewise, the line width W1 of the conductive pattern 230 and the metal oxide 240 is wider than the line width W2 of the end 212a of the second conductive layer 212, so that the conductive pattern 230 and the metal oxide 240 are The top and side surfaces of the second conductive layer 212 may be covered.

도 5 및 도 6을 동시에 참조하면, 도전 패턴(230)은, 제1도전층(210)의 단부(210a) 및 제2도전층(212)의 단부(212a) 사이에 위치하는 도전 패턴(230)의 상부면(230a)의 폭(W4)이 제1도전층(210)의 단부(210a)와 제2도전층(212)의 단부(212a)에 위치하는 도전 패턴(230)의 상부면(230b)의 폭(W3)보다 넓을 수 있다.Referring to FIGS. 5 and 6 simultaneously, the conductive pattern 230 is located between the end 210a of the first conductive layer 210 and the end 212a of the second conductive layer 212. ), the width W4 of the upper surface 230a is the upper surface of the conductive pattern 230 located at the end 210a of the first conductive layer 210 and the end 212a of the second conductive layer 212 ( It may be wider than the width (W3) of 230b).

도전 패턴(230) 상에 금속 산화물(240)이 위치할 경우 금속 산화물(240)의 상부면의 폭은 도전 패턴(230)의 상부면의 폭과 실질적으로 동일할 수 있다. 따라서, 제1도전층(210)의 단부(210a) 및 제2도전층(212)의 단부(212a) 사이에 위치하는 도전 패턴(230) 상에 위치하는 금속 산화물(240)의 상부면의 폭(W4)이 제1도전층(210)의 단부(210a)와 제2도전층(212)의 단부(212a)에 위치하는 도전 패턴(230) 상에 위치하는 금속산화물(240)의 상부면의 폭(W3)보다 넓을 수 있다.When the metal oxide 240 is located on the conductive pattern 230, the width of the top surface of the metal oxide 240 may be substantially the same as the width of the top surface of the conductive pattern 230. Therefore, the width of the upper surface of the metal oxide 240 located on the conductive pattern 230 located between the end 210a of the first conductive layer 210 and the end 212a of the second conductive layer 212. (W4) is the upper surface of the metal oxide 240 located on the conductive pattern 230 located at the end 210a of the first conductive layer 210 and the end 212a of the second conductive layer 212. It can be wider than the width (W3).

비교예로, 기판(101) 상에 제1도전층(210)과 제2도전층(212)을 이격하여 배치하지 않고 하나의 도전층으로 연결하여 배치하고 절연층(220)의 개구 영역(OA)에 도전 패턴(230)을 배치할 수 있다. 이 경우 도전 패턴(230)의 상부면의 폭은 도 5에 도시한 바와 동일하게 제1도전층(210)의 단부(210a) 및 제2도전층(212)의 단부(212a)에 위치하는 도전 패턴(230)의 상부면(230a)의 폭(W3)과 동일하게 된다.As a comparative example, the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212 are not disposed apart from each other on the substrate 101, but are connected by one conductive layer, and the opening area (OA) of the insulating layer 220 is ) can be placed in the conductive pattern 230. In this case, the width of the upper surface of the conductive pattern 230 is the same as that shown in FIG. 5, and the width of the conductive pattern located at the end 210a of the first conductive layer 210 and the end 212a of the second conductive layer 212 is the same as that shown in FIG. It is equal to the width W3 of the upper surface 230a of the pattern 230.

비교예에서 오토-프루브 검사핀이 접촉하는 도전 패턴(230)의 상부면의 폭(W3)이 좁아 검사핀과 접촉 불량이 발생할 수 있다. 전술한 바와 같이 표시장치의 해상도가 증가하여 신호라인의 검사를 위해서 오토-프루브(Auto-Prove: 이하, AP) 검사핀 추가 및 핀투핀(PIN to PIN) 피치 감소할수록 도전 패턴(230)의 상부면의 폭(W3)이 좁아 검사핀과 접촉 불량이 발생하거나 심지어 검사 자체가 불가능해지는 문제를 유발될 수 있다. In the comparative example, the width W3 of the upper surface of the conductive pattern 230 with which the auto-probe test pin contacts is narrow, so poor contact with the test pin may occur. As described above, as the resolution of the display device increases, Auto-Prove (AP) inspection pins are added for inspection of signal lines, and the pin-to-pin (PIN to PIN) pitch decreases, the upper portion of the conductive pattern 230 The width of the surface (W3) is narrow, which may cause poor contact with the test pin or even make the test itself impossible.

실시예에서 오토-프루브 검사핀이 접촉하는 도전 패턴(230)의 상부면(230b)의 폭(W4)이 넓어 검사핀의 접촉 불량을 방지할 수 있다.In the embodiment, the width W4 of the upper surface 230b of the conductive pattern 230 with which the auto-probe test pin contacts is wide, thereby preventing poor contact of the test pin.

도 7은 도 2의 Z영역을 상세히 나타낸 도면이다. 도 8은 도 7의 지시선 E-E'을 따라 절취한 단면도이다.FIG. 7 is a diagram showing the Z region of FIG. 2 in detail. FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the indicator line E-E' of FIG. 7.

도 7 및 도 8을 참조하면, 로그 라인(LOG)은 기판(101) 상에 비표시 영역(105)에 구부러져 배치될 수 있다. 로그 라인(LOG)는 기판(101) 상에 위치하는 도전층(310)과 다른 개구 영역(OA1)이 배치되는 절연층(320)과, 다른 개구 영역(OA1)에 위치하는 도전 패턴(330)을 포함하는 패드(305)를 포함한다. 이 패드(305)는 로그라인 패드라고 할 수 있다. Referring to FIGS. 7 and 8 , the log line LOG may be bent and disposed in the non-display area 105 on the substrate 101 . The log line LOG is an insulating layer 320 in which an opening area OA1 different from the conductive layer 310 located on the substrate 101 is disposed, and a conductive pattern 330 located in the other opening area OA1. It includes a pad 305 including. This pad 305 can be called a log line pad.

로그라인 패드(305)는 도 2를 참조하여 설명한 바와 같이 로그라인 리드선(114)과 전기적으로 연결되어, 제어신호들과 클럭신호, 게이트 전압, 전원전압, 그라운드 전압 등을 로그라인(LOG)을 통해 게이트 드라이버 집적회로(111)에 전달할 수 있다.The log line pad 305 is electrically connected to the log line lead wire 114, as described with reference to FIG. 2, and transmits control signals, clock signals, gate voltage, power supply voltage, ground voltage, etc. to the log line (LOG). It can be transmitted to the gate driver integrated circuit 111 through.

절연층(320)은 도전층(310) 상에 위치하는 제1절연층(322)과 제1절연층(322) 상에 위치하는 제2절연층(324)을 포함할 수 있다.The insulating layer 320 may include a first insulating layer 322 located on the conductive layer 310 and a second insulating layer 324 located on the first insulating layer 322.

도전층(310)은 도 3 내지 도 6을 참조하여 설명한 제1도전층(210)과 제2도전층(212)과 동일한 재료로 동일한 층에 위치할 수 있다. 공정상으로 도전층(310)은 제1도전층(210)과 제2도전층(212)과 동일한 재료로 동일한 층에 동시에 형성될 수 있다. 도전 패턴(330)은 도 3 내지 도 6을 참조하여 설명한 도전 패턴(230)과 동일한 재료로 동일한 층에 위치할 수 있다. 공정상으로 도전 패턴(330)은 도전 패턴(230)과 동일한 재료로 동일한 층에 동시에 형성될 수 있다.The conductive layer 310 may be made of the same material as the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212 described with reference to FIGS. 3 to 6 and may be located on the same layer. In terms of process, the conductive layer 310 may be formed simultaneously on the same layer as the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212 using the same material. The conductive pattern 330 may be made of the same material as the conductive pattern 230 described with reference to FIGS. 3 to 6 and may be located on the same layer. In terms of process, the conductive pattern 330 may be formed simultaneously on the same layer and using the same material as the conductive pattern 230.

도전 패턴(330) 상에 금속 산화물(340)이 위치할 수 있다. 이 금속 산화물(340)은 도 11을 참조하여 후술하는 바와 같이 화소(P)를 구성하는 화소 전극과 동일한 재료일 수 있으나 이에 제한되지 않는다. 금속 산화물(340)은 도전 패턴(330)을 외부로부터 실드하는 역할(shielding)을 할 수 있다. Metal oxide 340 may be located on the conductive pattern 330. This metal oxide 340 may be the same material as the pixel electrode constituting the pixel P, as will be described later with reference to FIG. 11, but is not limited thereto. The metal oxide 340 may serve to shield the conductive pattern 330 from the outside.

비교예에서 로그라인 패드는 절연층(320)의 개구 영역(OA1)에 도전층(310) 상에 금속 산화물(340)만이 배치될 수 있다. 이때 도전층(310)과 금속 산화물(340)의 저항(R)이 상대적으로 클 수 있다. 이에 따라 비교예에서 로그라인 패드의 소비전력(P=I2×R)은 상대적으로 크고 이 소비전력에 비례하는 발열량(Heat ∝ I2×R ×t)은 상대적으로 증가할 수 있다.In the comparative example, the log line pad may have only the metal oxide 340 disposed on the conductive layer 310 in the opening area OA1 of the insulating layer 320. At this time, the resistance (R) of the conductive layer 310 and the metal oxide 340 may be relatively large. Accordingly, in the comparative example , the power consumption (P=I 2

실시예로 도전층(310)과 금속 산화물(340) 사이에 도전 패턴(330)을 포함하는 로그라인 패드(305)는 전체적으로 저항을 낮출 수 있다. 이를 통해, 로그라인 패드(305)는 소비전력(P=I2×R)을 감소시키고, 소비전력에 비례하는 발열량(Heat ∝ I2×R ×t)을 감소시킬 수 있다.In an embodiment, the log line pad 305 including the conductive pattern 330 between the conductive layer 310 and the metal oxide 340 may reduce overall resistance. Through this, the log line pad 305 can reduce power consumption (P=I 2 × R) and heat generation (Heat ∝ I 2 × R × t) in proportion to the power consumption.

전술한 로그라인 패드(305)의 구조는 도 3 내지 도 6에 도시한 패드(205)에 동일하게 적용할 수 있다. 또한, 전술한 로그라인 패드(305)의 구조는 가요성 필름(128)과 전기적으로 연결된 어떠한 신호라인, 예를 들어 스타트 신호 라인(SSL)이나 미도시한 각종 전원 공급라인의 패드에도 동일하게 적용할 수 있다.The structure of the log line pad 305 described above can be equally applied to the pad 205 shown in FIGS. 3 to 6. In addition, the structure of the log line pad 305 described above is equally applicable to any signal line electrically connected to the flexible film 128, for example, the start signal line (SSL) or the pad of various power supply lines not shown. can do.

도 9는 도 2의 Y 영역을 상세히 나타낸 도면이다. 도 10은 도 9의 지시선 D-D'을 따라 절취한 단면도이다.FIG. 9 is a diagram showing the Y area of FIG. 2 in detail. FIG. 10 is a cross-sectional view taken along the indicator line D-D' of FIG. 9.

도 9를 참조하면, 기판(101)에 배열된 로그라인(LOG)은 도 7에 도시한 패드(305)로부터 연장되어 있다. 이 로그라인(LOG)는 연결라인(CL)과 연결되어 있다. 이 연결라인(CL)은 로그라인(LOG)을 구동 회로, 예를 들어 도 2에 도시한 게이트 드라이버를 구성하는 게이트 구동 집적회로(111)와 연결한다. Referring to FIG. 9, the log line LOG arranged on the substrate 101 extends from the pad 305 shown in FIG. 7. This log line (LOG) is connected to the connection line (CL). This connection line CL connects the log line LOG to a driving circuit, for example, the gate driving integrated circuit 111 constituting the gate driver shown in FIG. 2.

연결라인(CL)은 로그라인(LOG)과 일대일로 연결되어 있으며 로그라인(LOG)으로 공급되는 각종신호들 및 전압들을 게이트 드라이버 집적회로(111)로 공급할 수 있다. 이때, 각종신호들 및 전압들이 입력되는 게이트 드라이버 집적회로(111)의 입력단에 정전기 방지회로가 배치될 수 있다. 정전기 방지회로는 연결라인(CL)으로부터 공급되는 각종신호들 및 전압들에 정전기가 발생하는 것을 방지할 수 있다.The connection line (CL) is connected one-to-one with the log line (LOG), and various signals and voltages supplied to the log line (LOG) can be supplied to the gate driver integrated circuit 111. At this time, an anti-static circuit may be disposed at the input terminal of the gate driver integrated circuit 111 where various signals and voltages are input. The anti-static circuit can prevent static electricity from being generated in various signals and voltages supplied from the connection line CL.

여기서, 연결라인(CL)은 데이터 라인(DL)과 동일한 평면 상에 형성될 수 있다. 또한, 연결라인(CL)은 데이터 라인(DL)과 동일한 재료로 형성될 수 있다. 이러한 연결라인(CL)은 추가 공정 없이 형성할 수 있으므로, 공정 비용 및 시간을 절감할 수 있다.Here, the connection line CL may be formed on the same plane as the data line DL. Additionally, the connection line CL may be formed of the same material as the data line DL. Since this connection line (CL) can be formed without additional processes, process cost and time can be reduced.

도 10을 참조하면, 로그라인(LOG)은, 도 7 및 도 8에 도시한 패드(305)와 연결되는 도전층(410)과, 도전층(410) 상에 위치하며 도전층(410)의 일부를 노출하는 제1컨택홀(OA2)을 포함하는 제1절연층(422)과, 제1절연층(422) 상에 위치하며 제1컨택홀(0A2)과 연결라인(CL)의 일부분을 노출하는 제2컨택홀(OA3)을 포함하는 제2절연층(420)을 포함한다. Referring to FIG. 10, the log line (LOG) is located on the conductive layer 410 connected to the pad 305 shown in FIGS. 7 and 8 and the conductive layer 410. A first insulating layer 422 including a partially exposed first contact hole OA2, and a portion of the first contact hole 0A2 and the connection line CL located on the first insulating layer 422. It includes a second insulating layer 420 including an exposed second contact hole OA3.

연결패턴(430)은 제1컨택홀(0A2)과 제2컨택홀(OA3)에 도전층(410)과 연결라인(CL)의 일부분(CLa) 상에 위치한다. 연결패턴(330) 상에는 금속 산화물(440)이 위치할 수 있으나 이에 제한되지 않는다. 결과적으로 제2컨택홀(OA3)에는 도 9에 도시한 바와 같이 연결패턴(430)과 금속 산화물(440)이 배치될 수 있다. The connection pattern 430 is located on the conductive layer 410 and a portion (CLa) of the connection line (CL) in the first contact hole (0A2) and the second contact hole (OA3). A metal oxide 440 may be located on the connection pattern 330, but is not limited thereto. As a result, the connection pattern 430 and the metal oxide 440 may be disposed in the second contact hole OA3, as shown in FIG. 9.

연결 패턴(430)은 도 10에 도시된 바와 같이 제2컨택홀(OA3)에서 게이트 구동 집적회로(111) 및 정전기 방지회로(미도시)와 연결된 연결라인(CL)과 접촉할 수 있다.As shown in FIG. 10 , the connection pattern 430 may contact the connection line CL connected to the gate driving integrated circuit 111 and the anti-static circuit (not shown) at the second contact hole OA3.

도 3 내지 도 6을 참조하여 설명한 바와 같이 데이터 라인(DL)의 제1도전층(210)과 제2도전층(212), 제7 및 도 8을 참조하여 설명한 패드(305)의 도전층(310), 도 9 및 10을 참조하여 설명한 로그라인(LOG)의 도전층(410)은 동일한 재료, 예를 들어 단일층 또는 다층의 금속 또는 금속 합금으로 동일한 공정에 의해 형성될 수 있다. 예를 들어 도전층(210)과 제2도전층(212), 도전층(310), 도전층(410)은 게이트 라인(GL)과 동일한 재료로 동일한 공정에 의해 동시에 형성될 수 있다. As described with reference to FIGS. 3 to 6, the first conductive layer 210 and the second conductive layer 212 of the data line DL, and the conductive layer of the pad 305 described with reference to FIGS. 7 and 8 ( 310), the conductive layer 410 of the log line (LOG) described with reference to FIGS. 9 and 10 may be formed of the same material, for example, a single-layer or multi-layer metal or metal alloy, through the same process. For example, the conductive layer 210, the second conductive layer 212, the conductive layer 310, and the conductive layer 410 may be formed simultaneously using the same material as the gate line GL and through the same process.

도 3 내지 도 6을 참조하여 설명한 바와 같이 데이터 라인(DL)의 도전 패턴(230), 제7 및 도 8을 참조하여 설명한 패드(305)의 도전 패턴(330), 도 9 및 10을 참조하여 설명한 로그라인(LOG)의 연결 패턴(430)은 동일한 재료, 예를 들어 단일층 또는 다층의 금속 또는 금속 합금로 동일한 공정에 의해 형성될 수 있다. 예를 들어, 데이터 라인(DL)의 도전 패턴(230), 패드(305)의 도전 패턴(330), 로그라인(LOG)의 연결 패턴(430)은 도 11을 참조하여 후술하는 바와 같이 표시 영역에 배치된 터치전극에 터치신호를 전달하는 터치 라인과 동일한 재료로 동일한 동일한 공정에 의해 동시에 형성될 수 있다.The conductive pattern 230 of the data line DL as described with reference to FIGS. 3 to 6, the conductive pattern 330 of the pad 305 as described with reference to FIGS. 7 and 8, and the conductive pattern 330 with reference to FIGS. 9 and 10. The connection pattern 430 of the described log line (LOG) may be formed of the same material, for example, a single-layer or multi-layer metal or metal alloy, through the same process. For example, the conductive pattern 230 of the data line DL, the conductive pattern 330 of the pad 305, and the connection pattern 430 of the log line LOG are displayed in the display area as will be described later with reference to FIG. 11. It can be formed at the same time using the same material and through the same process as the touch line that transmits the touch signal to the touch electrode disposed.

도 3 내지 도 6을 참조하여 설명한 바와 같이 데이터 라인(DL)의 금속 산화물(240), 제7 및 도 8을 참조하여 설명한 패드(305)의 금속 산화물(440), 도 9 및 10을 참조하여 설명한 로그라인(LOG)의 금속 산화물(440)은 동일한 재료로 동일한 공정에 의해 형성될 수 있다. 예를 들어, 도 3 내지 도 6을 참조하여 설명한 바와 같이 데이터 라인(DL)의 금속 산화물(240), 제7 및 도 8을 참조하여 설명한 패드(305)의 금속 산화물(440), 도 9 및 10을 참조하여 설명한 로그라인(LOG)의 금속 산화물(440)은 도 11을 참조하여 후술하는 바와 같이 화소(P)를 구성하는 화소 전극과 동일한 재료로 동일한 공정에 의해 동시에 형성될 수 있다.The metal oxide 240 of the data line DL as described with reference to FIGS. 3 to 6, the metal oxide 440 of the pad 305 as described with reference to FIGS. 7 and 8, and the metal oxide 440 of the pad 305 with reference to FIGS. 9 and 10. The metal oxide 440 of the described log line (LOG) may be formed from the same material through the same process. For example, the metal oxide 240 of the data line DL as described with reference to FIGS. 3 to 6, the metal oxide 440 of the pad 305 described with reference to FIGS. 7 and 8, and the metal oxide 440 of the pad 305 described with reference to FIGS. 9 and 8. The metal oxide 440 of the log line LOG described with reference to 10 may be formed simultaneously through the same process using the same material as the pixel electrode constituting the pixel P, as will be described later with reference to FIG. 11 .

도 3 내지 도 6을 참조하여 설명한 데이터 라인(DL)의 절연층(220)의 제1절연층(222) 및 제2절연층(224), 제7 및 도 8을 참조하여 설명한 패드(305)의 절연층(320)의 제1절연층(322) 및 제2절연층(324), 도 9 및 10을 참조하여 설명한 로그라인(LOG)의 절연층(420)의 제1절연층(422) 및 제2절연층(424)은 각각 도 11을 참조하여 후술하는 바와 같이 화소(P)를 구성하는 게이트 절연층, 제1보호층, 제2보호층 중 하나와 동일한 재료로 동일한 공정에 의해 동시에 형성될 수 있다.The first insulating layer 222 and the second insulating layer 224 of the insulating layer 220 of the data line DL described with reference to FIGS. 3 to 6, and the pad 305 described with reference to FIGS. 7 and 8. The first insulating layer 322 and the second insulating layer 324 of the insulating layer 320, and the first insulating layer 422 of the insulating layer 420 of the log line (LOG) described with reference to FIGS. 9 and 10. And the second insulating layer 424 is made of the same material as one of the gate insulating layer, first protective layer, and second protective layer constituting the pixel P, and is made through the same process at the same time, as will be described later with reference to FIG. 11, respectively. can be formed.

도 11은 표시장치가 터치스크린 패널 일체형 액정표시장치인 경우 표시장치의 단면도이다. Figure 11 is a cross-sectional view of the display device when the display device is a liquid crystal display device integrated with a touch screen panel.

도 11을 참조하면, 일 실시예에 따른 터치스크린 패널 일체형 액정표시장치에는, 일 예로, 제1기판(500)에 게이트라인(502)이 제1방향으로 형성되고, 그 위에 게이트 절연층(Gate Insulator, 504)이 형성된다.Referring to FIG. 11, in the touch screen panel integrated liquid crystal display device according to one embodiment, for example, a gate line 502 is formed in a first direction on a first substrate 500, and a gate insulating layer (Gate) is formed thereon. Insulator, 504) is formed.

게이트 절연층(504) 위에 데이터라인(506)이 제2방향으로 형성되고, 그 위에, 제1보호층(508)이 형성된다. A data line 506 is formed on the gate insulating layer 504 in the second direction, and a first protective layer 508 is formed on it.

제1보호층(508) 위에, 각 화소 영역의 화소 전극(510)과 터치 라인(512)이 형성되고, 그 위에, 제2보호층(514)이 형성될 수 있다. 여기서, 터치 라인(512)은 공통 전극 및 터치 전극 역할을 하는 복수의 전극 각각에서 터치 집적회로까지 연결되어, 디스플레이 구동모드에서는, 공통 전압 공급부에서 생성된 공통 전압(Vcom)을 복수의 전극으로 전달해주고, 터치 구동모드에서는, 터치 집적회로에서 생성된 터치 구동 신호를 복수의 전극으로 전달해준다.A pixel electrode 510 and a touch line 512 of each pixel area may be formed on the first protective layer 508, and a second protective layer 514 may be formed on the first protective layer 508. Here, the touch line 512 is connected to the touch integrated circuit from each of the common electrode and a plurality of electrodes serving as touch electrodes, and in the display driving mode, transmits the common voltage (Vcom) generated from the common voltage supply to the plurality of electrodes. In the touch driving mode, the touch driving signal generated by the touch integrated circuit is transmitted to a plurality of electrodes.

제2보호층(514) 위에, 공통 전극 및 터치 전극 역할을 하는 하나의 전극(516)이 형성되고, 그 위에, 액정층(518)이 형성된다. 액정층(518) 위에, 블랙 매트릭스(Black Matrix, 519a), 칼라 필터(Color Filter, 519b) 등이 형성되는 상부 기판(520)이 위치한다. One electrode 516 serving as a common electrode and a touch electrode is formed on the second protective layer 514, and a liquid crystal layer 518 is formed on it. On the liquid crystal layer 518, an upper substrate 520 on which a black matrix (519a), a color filter (519b), etc. are formed is located.

도 11에서 액정 표시장치에 대해 설명을 하고 있으나 본 발명은 이에 한정되지 않으며 터치패널과 결합가능한 다양한 표시장치에 적용할 수 있다.Although the liquid crystal display device is explained in FIG. 11, the present invention is not limited thereto and can be applied to various display devices that can be combined with a touch panel.

전술한 표시장치는 로그라인을 저항이 낮은 도전층을 활용하여 구성하므로 라인 저항을 낮추고 소비전력 및 발열량을 감소시킬 수 있다. 특히 전술한 표시장치는 로그라인을 저항이 낮은 터치 라인을 활용하여 구성하므로 형성 공정에서 추가 공정없이 형성될 수 있다.Since the above-described display device uses a conductive layer with low resistance to construct the log line, line resistance can be lowered and power consumption and heat generation can be reduced. In particular, since the above-described display device uses a low-resistance touch line as the log line, it can be formed without an additional process in the formation process.

전술한 표시장치는 해상도가 증가하더라도 신호라인의 검사를 위해서 오토-프루브(Auto-Prove: 이하, AP) 검사핀 추가, 핀투핀(PIN to PIN) 피치 감소하더라도 신호라인의 검사시 검사핀의 접촉 불량을 방지할 수 있다.The above-mentioned display device adds an Auto-Prove (AP) inspection pin to inspect the signal line even if the resolution increases, and even if the pin-to-pin (PIN to PIN) pitch decreases, the inspection pin contacts the signal line when inspecting it. Defects can be prevented.

전술한 표시장치는 해상도가 증가하더라도 소비전력 및 발열량을 감소시킬 수 있다. 특히 전술한 표시장치는 형성 공정시 추가 공정없이 형성하므로 제조 비용을 낮추고 제조 시간을 단출할 수 있다.The above-mentioned display device can reduce power consumption and heat generation even if the resolution increases. In particular, since the above-mentioned display device is formed without additional processes during the formation process, manufacturing costs can be reduced and manufacturing time can be shortened.

이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description and attached drawings are merely illustrative of the technical idea of the present invention, and those skilled in the art will be able to combine the components without departing from the essential characteristics of the present invention. , various modifications and transformations such as separation, substitution, and change will be possible. Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention, but are for illustrative purposes, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be interpreted in accordance with the claims below, and all technical ideas within the equivalent scope should be construed as being included in the scope of rights of the present invention.

100: 표시패널
101: 기판
DL: 데이터 라인
GL: 게이트 라인
LOG: 로그라인
도전층: 210, 212, 310, 410
절연층: 220, 320, 420
도전 패턴: 230, 330, 430
금속 산화물: 240, 340, 440
100: display panel
101: substrate
DL: data line
GL: gate line
LOG: logline
Conductive layer: 210, 212, 310, 410
Insulating layer: 220, 320, 420
Challenge Pattern: 230, 330, 430
Metal oxides: 240, 340, 440

Claims (12)

표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 기판; 및
상기 기판에 배열된 신호라인을 포함하며,
상기 신호라인은,
제1패드와 연결되는 제1도전층과,
상기 제1도전층과 이격된 제2도전층과,
상기 제1도전층과 상기 제2도전층 상에 위치하며, 상기 제1도전층의 단부와 상기 제2도전층의 단부 및 상기 제1도전층과 상기 제2도전층 사이가 노출된 제1 개구 영역을 포함하는 제1절연층과,
상기 제1 개구 영역에 위치하며 상기 제1 개구 영역으로 노출된 상기 제1도전층의 단부와 상기 제2도전층의 단부 상에 위치하는 제1 도전 패턴을 포함하고,
상기 제1도전층의 상면의 일부와 상기 제2도전층의 상면의 일부가 각각 상기 제1 개구 영역에 의해 노출되고,
상기 제1 도전 패턴은 상기 제1 개구 영역에 의해 노출된, 상기 제1도전층의 상면의 일부와 측면, 상기 제2도전층의 상면의 일부의 측면, 및 상기 제1 개구 영역에 노출된 제1도전층과 상기 제2도전층 사이의 상기 기판의 상면을 따라 배치되며,
상기 제1 도전 패턴은 영상이 표시되는 상기 표시 영역과 데이터 드라이버 집적회로 사이에 위치하며 검사핀이 접촉하여 검사 패드로서 사용되는 표시장치.
A substrate including a display area and a non-display area; and
It includes signal lines arranged on the substrate,
The signal line is,
A first conductive layer connected to the first pad,
a second conductive layer spaced apart from the first conductive layer,
A first opening located on the first conductive layer and the second conductive layer, exposing an end of the first conductive layer, an end of the second conductive layer, and between the first conductive layer and the second conductive layer. a first insulating layer including a region;
A first conductive pattern located in the first opening area and located on an end of the first conductive layer exposed to the first opening area and an end of the second conductive layer,
A portion of the upper surface of the first conductive layer and a portion of the upper surface of the second conductive layer are each exposed by the first opening area,
The first conductive pattern includes a portion of the top surface and side surfaces of the first conductive layer exposed by the first opening region, a portion of the side surface of the second conductive layer, and the first conductive pattern exposed by the first opening region. It is disposed along the upper surface of the substrate between the first conductive layer and the second conductive layer,
The first conductive pattern is located between the display area where an image is displayed and a data driver integrated circuit, and is used as a test pad by contacting a test pin.
제1항에 있어서,
상기 제1 도전 패턴의 선폭은 상기 제1도전층 및 상기 제2도전층의 선폭들보다 넓은 표시장치.
According to paragraph 1,
A display device wherein the line width of the first conductive pattern is wider than the line widths of the first conductive layer and the second conductive layer.
제2항에 있어서,
상기 제1 도전 패턴은,
상기 제1도전층의 단부 및 상기 제2도전층의 단부 사이에 위치하는 상기 제1 도전 패턴의 상부면의 폭이 상기 제1도전층의 단부와 상기 제2도전층의 단부에 위치하는 상기 제1 도전 패턴의 상부면의 폭보다 넓은 표시장치.
According to paragraph 2,
The first conductive pattern is,
The width of the upper surface of the first conductive pattern located between the end of the first conductive layer and the end of the second conductive layer is located between the end of the first conductive layer and the end of the second conductive layer. 1 A display device wider than the width of the upper surface of the conductive pattern.
제1항에 있어서,
상기 제1 도전 패턴 상에 위치하는 금속 산화물을 추가로 포함하는 표시장치.
According to paragraph 1,
A display device further comprising a metal oxide located on the first conductive pattern.
제1항에 있어서,
상기 제1도전층과 상기 제2도전층은 동일한 재료로 동일한 층에 위치하는 표시장치.
According to paragraph 1,
The first conductive layer and the second conductive layer are made of the same material and are located on the same layer.
제1항에 있어서,
상기 신호라인은 영상신호를 공급하는 데이터라인인 표시장치.
According to paragraph 1,
A display device in which the signal line is a data line that supplies an image signal.
제1항에 있어서,
상기 신호라인은 게이트 드라이버에 제어신호 또는 전원전압을 공급하는 로그라인인 표시장치.
According to paragraph 1,
The signal line is a log line that supplies a control signal or power voltage to the gate driver.
제1항에 있어서,
상기 제1 도전 패턴은 상기 표시 영역에 배치된 터치전극에 터치신호를 전달하는 터치 라인과 동일한 재료인 표시장치.
According to paragraph 1,
The first conductive pattern is made of the same material as a touch line that transmits a touch signal to the touch electrode disposed in the display area.
제1항에 있어서,
상기 제1패드는 상기 기판 상에 위치하는 제3도전층과 상기 제1 개구 영역과 다른 제2 개구 영역이 배치되는 제2절연층과, 상기 제2 개구 영역에 위치하는 제2 도전 패턴을 포함하는 표시장치.
According to paragraph 1,
The first pad includes a third conductive layer located on the substrate, a second insulating layer having a second opening region different from the first opening region, and a second conductive pattern located in the second opening region. display device.
제1항에 있어서,
상기 기판에 배열된 로그라인; 및
상기 로그라인을 구동 회로와 연결하는 연결 라인을 포함하며,
상기 로그라인은,
제2패드와 연결되는 제4도전층과,
상기 제4도전층 상에 위치하며 상기 제4도전층의 일부를 노출하는 제1컨택홀을 포함하는 제3 하부절연층과, 상기 제3 하부절연층 상에 위치하며 상기 제1컨택홀과 상기 연결라인의 일부분을 노출하는 제2컨택홀을 포함하는 제3 상부절연층을 포함하는 제3절연층과,
상기 제1컨택홀과 상기 제2컨택홀에 상기 제4도전층과 상기 연결라인의 일부분 상에 위치하는 연결 패턴을 포함하는 표시장치.
According to paragraph 1,
log lines arranged on the substrate; and
It includes a connection line connecting the log line to the driving circuit,
The log line is,
A fourth conductive layer connected to the second pad,
A third lower insulating layer located on the fourth conductive layer and including a first contact hole exposing a portion of the fourth conductive layer, and located on the third lower insulating layer and including the first contact hole and the A third insulating layer including a third upper insulating layer including a second contact hole exposing a portion of the connection line,
A display device comprising a connection pattern located in the first contact hole and the second contact hole and on a portion of the fourth conductive layer and the connection line.
제10항에 있어서,
상기 연결 패턴은 상기 표시 영역에 배치된 터치전극에 터치신호를 전달하는 터치 라인과 동일한 재료인 표시장치.
According to clause 10,
The connection pattern is made of the same material as the touch line that transmits a touch signal to the touch electrode disposed in the display area.
제10항에 있어서,
상기 제2패드는 상기 기판 상에 위치하는 제5도전층과 제3 개구 영역이 배치되는 제4절연층과, 상기 제3 개구 영역에 위치하는 제3 도전 패턴을 포함하는 표시장치.
According to clause 10,
The second pad includes a fifth conductive layer located on the substrate, a fourth insulating layer having a third opening area, and a third conductive pattern located in the third opening area.
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