KR102572426B1 - Photosensitive element, resin composition for forming barrier layer, method for forming resist pattern, and method for producing printed wiring board - Google Patents

Photosensitive element, resin composition for forming barrier layer, method for forming resist pattern, and method for producing printed wiring board Download PDF

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Abstract

박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있는 감광성 엘리먼트의 제공을 목적으로 하고, 지지 필름과, 배리어층과, 감광층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트로서, 상기 배리어층이, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유하는, 감광성 엘리먼트를 제공한다. A photosensitive element having a support film, a barrier layer, and a photosensitive layer in this order for the purpose of providing a photosensitive element capable of improving the peelability of the barrier layer and the support film without using a release accelerator, wherein the above A photosensitive element is provided in which the barrier layer contains a water-soluble resin and an alcohol having 3 or more carbon atoms.

Description

감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법{PHOTOSENSITIVE ELEMENT, RESIN COMPOSITION FOR FORMING BARRIER LAYER, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, AND METHOD FOR PRODUCING PRINTED WIRING BOARD}Photosensitive element, resin composition for barrier layer formation, resist pattern formation method, and printed wiring board manufacturing method

본 개시(開示)는, 감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법에 관한 것이다. The present disclosure relates to a method for forming a photosensitive element, a resin composition for forming a barrier layer, a resist pattern, and a method for manufacturing a printed wiring board.

종래, 프린트 배선판의 제조 분야에 있어서는, 에칭 처리 또는 도금 처리 등에 사용되는 레지스터 재료로서, 감광성 수지 조성물, 및, 지지 필름 상에 감광성 수지 조성물을 사용하여 형성된 층(이하, "감광층"이라고도 한다)을 구비하는 감광성 엘리먼트가 널리 사용되고 있다. Conventionally, in the field of manufacturing printed wiring boards, as a resist material used for etching treatment or plating treatment, a photosensitive resin composition and a layer formed using the photosensitive resin composition on a support film (hereinafter also referred to as "photosensitive layer") A photosensitive element having is widely used.

프린트 배선판은, 상기 감광성 엘리먼트를 사용하여, 예를 들면, 이하의 순서로 제조되고 있다. 즉, 우선, 감광성 엘리먼트의 감광층을 동장적층판(銅張積層板) 등의 회로 형성용 기판 상에 라미네이트한다. 이 때, 감광층의 지지 필름에 접촉하고 있는 면과는 반대측인 면이, 회로 형성용 기판의 회로를 형성하는 면에 밀착되도록 라미네이트한다. 또한, 라미네이트는, 예를 들면, 회로 형성용 기판 상에 감광층을 가열 압착함으로써 실시한다(상압 라미네이트법). A printed wiring board is manufactured using the photosensitive element, for example, in the following procedure. That is, first, the photosensitive layer of the photosensitive element is laminated on a substrate for circuit formation such as a copper-clad laminate. At this time, the surface of the photosensitive layer opposite to the surface in contact with the support film is laminated so that it adheres closely to the circuit forming surface of the substrate for circuit formation. In addition, lamination is performed, for example, by heat-pressing the photosensitive layer on the substrate for circuit formation (normal pressure lamination method).

다음으로, 마스크 필름 등을 사용하고, 지지 필름을 통하여 감광층의 원하는 영역을 노광함으로써, 라디칼을 발생시킨다. 발생한 라디칼은, 몇 개의 반응 경로를 통해, 광중합성 화합물의 가교 반응(광경화 반응)에 기여한다. 이어서, 지지 필름을 박리한 후, 감광층의 미(未)경화부를 현상액으로 용해 또는 분산 제거하여, 레지스터 패턴을 형성한다. 다음으로, 레지스터 패턴을 레지스터로 하고, 에칭 처리 또는 도금 처리를 실시하여 도체 패턴을 형성시키고, 최종적으로 감광층의 광경화부(레지스터 패턴)를 박리(제거)한다. Next, radicals are generated by exposing a desired region of the photosensitive layer through a support film using a mask film or the like. The generated radicals contribute to the crosslinking reaction (photocuring reaction) of the photopolymerizable compound through several reaction pathways. Next, after the support film is peeled off, the uncured portion of the photosensitive layer is dissolved or dispersed and removed with a developing solution to form a resist pattern. Next, using the resist pattern as a resist, an etching process or a plating process is performed to form a conductor pattern, and finally the photocured portion (resist pattern) of the photosensitive layer is peeled off (removed).

그런데, 최근, 지지 필름을 노광 전에 박리하고 나서 감광층을 노광함으로써, 뛰어난 레지스터 패턴을 형성하는 방법이 검토되고 있다. 그러나, 지지 필름을 박리한 후에 감광층을 노광하는 경우, 발생한 라디칼이 공기 중의 산소와 접촉됨으로써, 라디칼이 급속히 안정화(실활(失活))되어, 광중합성 화합물의 광경화 반응이 진행되기 어려워진다. 그 때문에, 이 방법에서는, 지지 필름을 박리하여 노광하는 경우의 산소 혼입에 따른 영향을 경감할 목적으로, 지지 필름과 감광층 사이에 가스 배리어성을 가지는 배리어층(중간층)을 구비하는 감광성 엘리먼트를 사용하는 것이 검토되고 있다(예를 들면, 특허문헌 1∼3 참조). By the way, in recent years, a method of forming an excellent resist pattern by exposing the photosensitive layer after exfoliating the support film before exposure has been studied. However, when the photosensitive layer is exposed to light after peeling off the support film, the generated radicals come into contact with oxygen in the air, thereby rapidly stabilizing (activating) the radicals and making it difficult for the photocuring reaction of the photopolymerizable compound to proceed. . Therefore, in this method, a photosensitive element having a barrier layer (intermediate layer) having a gas barrier property between the support film and the photosensitive layer is used for the purpose of reducing the influence of oxygen mixing in the case of exposing the support film for exposure. Its use has been studied (see, for example, Patent Literatures 1 to 3).

특허문헌 1 : 일본 특허 제5483734호 공보Patent Document 1: Japanese Patent No. 5483734 특허문헌 2 : 일본 특허공개 2013-24913호 공보Patent Document 2: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2013-24913 특허문헌 3 : 일본 특허 제5551255호 공보Patent Document 3: Japanese Patent No. 5551255

상기 특허문헌 1∼3에 기재된 바와 같은 수용성 수지를 함유하는 배리어층을 구비하는 감광성 엘리먼트에서는, 수용성 수지와 지지 필름과의 친화성이 높기 때문에, 배리어층과 지지 필름 사이의 접착성이 강한 경우가 있다. 이 경우, 감광성 엘리먼트의 배리어층으로부터 지지 필름을 박리할 때, 지지 필름을 박리하는 것이 어려워져, 배리어층 또는 감광층이 결손되는 경우가 있다. In the photosensitive element provided with the barrier layer containing the water-soluble resin described in Patent Literatures 1 to 3, since the affinity between the water-soluble resin and the support film is high, the adhesion between the barrier layer and the support film is strong. there is. In this case, when peeling the support film from the barrier layer of the photosensitive element, it becomes difficult to peel the support film, and the barrier layer or the photosensitive layer may be damaged.

지금까지, 수용성 수지를 함유하는 배리어층 형성용 수지 조성물에, 실리콘 또는 불소계 계면활성제 등의 박리촉진제를 첨가함으로써, 배리어층과 지지 필름 사이의 접착성을 저하시켜, 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시키는 것이 제안되고 있다. Until now, by adding a release accelerator such as silicone or fluorine-based surfactant to a resin composition for forming a barrier layer containing a water-soluble resin, the adhesiveness between the barrier layer and the support film is reduced, and the separation between the barrier layer and the support film is reduced. It is proposed to improve sexuality.

그러나, 이들 계면활성제 등의 박리촉진제를 첨가함으로써, 형성되는 배리어층에 흐림이 발생되기 쉬워지는 문제가 있는 것을 알았다. 또한, 계면활성제 등의 박리촉진제는, 배리어층과 지지 필름과의 계면에 존재하기 때문에, 장기적인 시점에서는, 계면 조성이 변동되거나 배리어층과 지지 필름 사이의 접착성이 변화되거나 하여, 안정된 지지 필름 박리성(배리어층과 지지 필름과의 박리성)을 유지하는 것이 곤란하다는 문제가 있다. However, it has been found that there is a problem that clouding easily occurs in the barrier layer formed by adding a peeling accelerator such as a surfactant. In addition, since a peeling accelerator such as a surfactant is present at the interface between the barrier layer and the supporting film, in the long term, the composition of the interface fluctuates or the adhesiveness between the barrier layer and the supporting film changes, resulting in stable peeling of the supporting film. There is a problem that it is difficult to maintain the properties (peelability between the barrier layer and the supporting film).

본 개시는, 상기 종래 기술이 가지는 과제를 감안하여 이루어진 것이고, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있는 감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present disclosure has been made in view of the problems of the prior art, and formation of a photosensitive element, a resin composition for forming a barrier layer, and a resist pattern capable of improving the peelability between a barrier layer and a support film without using a peeling accelerator. It aims at providing the manufacturing method of a method and a printed wiring board.

상기 목적을 달성하기 위해서, 본 개시는, 지지 필름과, 배리어층과, 감광층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트로서, 상기 배리어층이, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유하는, 감광성 엘리먼트를 제공한다. In order to achieve the above object, the present disclosure provides a photosensitive element including a support film, a barrier layer, and a photosensitive layer in this order, wherein the barrier layer contains a water-soluble resin and an alcohol having 3 or more carbon atoms. provides

본 개시의 감광성 엘리먼트는, 배리어층에 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유함으로써, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층으로부터 지지 필름을 부드럽게 박리할 수 있기 때문에, 배리어층 및 감광층의 결손을 억제할 수 있다. 또한, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있기 때문에, 박리촉진제의 존재에 의한 배리어층 흐림의 발생 및 지지 필름 박리성의 경시적 변화를 억제할 수 있다. 그 때문에, 본 개시의 감광성 엘리먼트를 사용함으로써, 해상도 및 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있다고도 할 수 있다. In the photosensitive element of the present disclosure, by containing an alcohol having 3 or more carbon atoms in the barrier layer, peelability between the barrier layer and the support film can be improved without using a peel accelerator. According to such a photosensitive element, since the supporting film can be smoothly peeled off from the barrier layer, defects in the barrier layer and the photosensitive layer can be suppressed. In addition, since the peelability between the barrier layer and the supporting film can be improved even without using the peeling accelerator, occurrence of blurring of the barrier layer and change over time in the peelability of the supporting film due to the presence of the peeling accelerator can be suppressed. Therefore, it can be said that a resist pattern excellent in resolution and resist pattern shape can be formed by using the photosensitive element of the present disclosure.

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류는, 하기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 하기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유해도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 보다 향상시킬 수 있다.In the photosensitive element of the present disclosure, the alcohol having 3 or more carbon atoms is at least one selected from the group consisting of compounds represented by the following formulas (1) to (3) and compounds represented by the following general formula (4). may contain According to such a photosensitive element, the peelability of the barrier layer and the supporting film can be further improved.

Figure 112018011921300-pct00001
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Figure 112018011921300-pct00002
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Figure 112018011921300-pct00003
Figure 112018011921300-pct00003

Figure 112018011921300-pct00004
Figure 112018011921300-pct00004

[일반식(4) 중, R11은 알킬기를 나타내고, R12는 알킬렌기를 나타내고, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은 3 이상이다.][In Formula (4), R 11 represents an alkyl group, R 12 represents an alkylene group, and the sum of the carbon atoms of the group of R 11 and the group of R 12 is 3 or more.]

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도는, 300mL/물 100mL 이상이어도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층의 층 분리를 보다 억제할 수 있어, 실용상 뛰어난 감광성 엘리먼트를 제공할 수 있다. In the photosensitive element of the present disclosure, the solubility of the alcohol having 3 or more carbon atoms in water at 20°C may be 300 mL/100 mL of water or more. According to such a photosensitive element, layer separation of the barrier layer can be further suppressed, and a photosensitive element excellent in practical use can be provided.

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 배리어층에 있어서의 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량은, 상기 배리어층의 총량을 기준으로 하여 0질량% 초과, 2.0질량% 이하이어도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 후(後)의 공정에서의 알코올류의 확산을 억제할 수 있다. In the photosensitive element of the present disclosure, the content of the alcohol having 3 or more carbon atoms in the barrier layer may be more than 0 mass% and 2.0 mass% or less based on the total amount of the barrier layer. According to such a photosensitive element, diffusion of alcohols in a later step can be suppressed.

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 수용성 수지는, 폴리비닐알코올을 함유해도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층의 가스 배리어성을 보다 향상시킬 수 있어, 노광에 사용되는 활성 광선에 의해 발생한 라디칼의 실활을 보다 억제할 수 있다. In the photosensitive element of the present disclosure, the water-soluble resin may contain polyvinyl alcohol. According to such a photosensitive element, the gas barrier property of the barrier layer can be further improved, and deactivation of radicals generated by actinic light used for exposure can be further suppressed.

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 지지 필름은, 폴리에스테르 필름이어도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 지지 필름의 기계 강도 및 열에 대한 내성을 향상시킬 수 있음과 동시에, 지지 필름에 배리어층을 형성할 때에 발생하는 배리어층의 주름 등의 불량을 억제할 수 있고, 작업성을 향상시킬 수 있다. In the photosensitive element of the present disclosure, the support film may be a polyester film. According to such a photosensitive element, the mechanical strength and heat resistance of the support film can be improved, and at the same time, defects such as wrinkles in the barrier layer that occur when forming the barrier layer on the support film can be suppressed, and workability can be improved. can improve

본 개시는 또한, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류와, 물을 함유하는, 배리어층 형성용 수지 조성물을 제공한다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 박리촉진제를 사용하지 않아도 지지 필름과의 박리성이 뛰어난 배리어층을 형성할 수 있다. The present disclosure also provides a resin composition for forming a barrier layer containing a water-soluble resin, an alcohol having 3 or more carbon atoms, and water. According to such a resin composition for forming a barrier layer, it is possible to form a barrier layer with excellent releasability from the support film even without using a release accelerator.

본 개시의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류는, 상기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 상기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유해도 된다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 지지 필름과의 박리성에 의해 뛰어난 배리어층을 형성할 수 있다. In the resin composition for forming a barrier layer of the present disclosure, the alcohol having 3 or more carbon atoms is selected from the group consisting of compounds represented by the formulas (1) to (3) and compounds represented by the formula (4) You may contain at least 1 type. According to such a resin composition for barrier layer formation, an excellent barrier layer can be formed by peelability with a support film.

본 개시의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도는, 300mL/물 100mL 이상이어도 된다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 층 분리가 억제되는 배리어층을 형성할 수 있다. In the resin composition for barrier layer formation of the present disclosure, the solubility of the alcohol having 3 or more carbon atoms in water at 20°C may be 300 mL/100 mL of water or more. According to such a resin composition for forming a barrier layer, a barrier layer in which layer separation is suppressed can be formed.

본 개시의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량은, 물 500질량부에 대하여 100∼500질량부이어도 된다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 지지 필름과의 박리성에 의해 뛰어난 배리어층을 형성할 수 있음과 동시에, 수용성 수지의 용해성이 향상되기 때문에 배리어층을 쉽게 형성할 수 있다. In the resin composition for forming a barrier layer of the present disclosure, the content of the alcohol having 3 or more carbon atoms may be 100 to 500 parts by mass with respect to 500 parts by mass of water. According to such a resin composition for forming a barrier layer, a barrier layer excellent in peelability from a support film can be formed, and since the solubility of the water-soluble resin is improved, the barrier layer can be easily formed.

본 개시의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서, 상기 수용성 수지는, 폴리비닐알코올을 함유해도 된다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 가스 배리어성에 의해 뛰어난 배리어층을 형성할 수 있다. In the resin composition for forming a barrier layer of the present disclosure, the water-soluble resin may contain polyvinyl alcohol. According to such a resin composition for forming a barrier layer, a barrier layer excellent in gas barrier properties can be formed.

본 개시는 또한, 상기 본 개시의 감광성 엘리먼트를 사용하여, 기판 상에, 그 기판측으로부터 감광층과 배리어층과 지지 필름을 이 순서로 배치하는 공정과, 상기 지지 필름을 제거하여, 상기 배리어층을 통하여 상기 감광층을 활성 광선에 의해 노광하는 공정과, 상기 배리어층 및 상기 감광층의 미경화부를 상기 기판 상으로부터 제거하는 공정을 구비하는, 레지스터 패턴의 형성 방법을 제공한다. 이러한 레지스터 패턴의 형성 방법에 의하면, 상기 본 개시의 감광성 엘리먼트를 사용하여 레지스터 패턴을 형성하기 때문에, 해상도 및 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있다. The present disclosure also provides a step of arranging a photosensitive layer, a barrier layer, and a support film in this order from the substrate side on a substrate using the photosensitive element of the present disclosure, and removing the support film to obtain the barrier layer. It provides a method of forming a resist pattern comprising a step of exposing the photosensitive layer to light through actinic light and a step of removing the barrier layer and the uncured portion of the photosensitive layer from the substrate. According to this resist pattern formation method, since the resist pattern is formed using the photosensitive element of the present disclosure, it is possible to form a resist pattern with excellent resolution and resist pattern shape.

본 개시는 또한, 상기 본 개시의 레지스터 패턴의 형성 방법에 의해 레지스터 패턴이 형성된 기판을 에칭 처리 또는 도금 처리하여 도체 패턴을 형성하는 공정을 구비하는, 프린트 배선판의 제조 방법을 제공한다. 이러한 프린트 배선판의 제조 방법에 의하면, 상기 본 개시의 레지스터 패턴의 형성 방법에 의해 레지스터 패턴을 형성하기 때문에, 해상도 및 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있어, 프린트 배선판의 고밀도화에 적절한 프린트 배선판의 제조 방법을 제공할 수 있다. The present disclosure also provides a method for manufacturing a printed wiring board comprising a step of forming a conductor pattern by etching or plating a substrate on which a resist pattern is formed by the method of forming a resistor pattern of the present disclosure. According to such a printed wiring board manufacturing method, since a resist pattern is formed by the resist pattern formation method of the present disclosure, a resist pattern excellent in resolution and resist pattern shape can be formed, and a printed wiring board suitable for high density printed wiring boards. A manufacturing method can be provided.

본 개시에 의하면, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있는 감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공할 수 있다. According to the present disclosure, it is possible to provide a photosensitive element, a resin composition for forming a barrier layer, a method for forming a resist pattern, and a method for manufacturing a printed wiring board capable of improving the peelability between a barrier layer and a support film without using a peeling accelerator. there is.

[도 1] 본 개시의 감광성 엘리먼트의 일 실시형태를 나타내는 모식 단면도이다.
[도 2] 세미 애더티브 공법에 의한 프린트 배선판의 제조 공정의 일례를 모식적으로 나타내는 도면이다.
[Fig. 1] A schematic cross-sectional view showing an embodiment of a photosensitive element of the present disclosure.
[Fig. 2] It is a diagram schematically showing an example of a manufacturing process of a printed wiring board by a semi-additive construction method.

이하, 필요에 따라 도면을 참조하면서, 본 개시의 적합한 실시형태에 관하여 상세히 설명한다. 이하의 실시형태에 있어서, 그 구성요소(요소 단계 등도 포함한다)는 특별히 명시한 경우 및 원리적으로 분명히 필수이다고 생각할 수 있는 경우 등을 제외하고, 반드시 필수의 것은 아니라는 것은 말할 필요도 없다. 이는, 수치 및 범위에 관해서도 동일하고, 본 개시를 부당하게 제한하는 것은 아니라고 해석해야 한다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, preferred embodiment of this disclosure is described in detail, referring drawings as needed. In the following embodiments, it goes without saying that the constituent elements (including element steps and the like) are not necessarily essential, except when specifically specified or when it is clearly considered essential in principle. It should be interpreted that this is the same also regarding numerical values and ranges, and does not unduly limit the present disclosure.

또한, 본 명세서에 있어서 (메타)아크릴산이란, 아크릴산 및 그에 대응하는 메타크릴산의 적어도 한쪽을 의미한다. 또한, (메타)아크릴레이트 등의 다른 유사 표현에 관해서도 동일하다. In addition, in this specification, (meth)acrylic acid means at least one of acrylic acid and methacrylic acid corresponding to it. In addition, the same applies to other similar expressions such as (meth)acrylate.

또한, 본 명세서에 있어서 "공정"이라는 용어는, 독립한 공정뿐만 아니라, 다른 공정과 명확히 구별될 수 없는 경우이어도 그 공정의 소기의 작용이 달성되면, 본 용어에 포함된다. In addition, in this specification, the term "process" is included in this term, not only as an independent process, but also in cases where the desired action of the process is achieved even if it cannot be clearly distinguished from other processes.

또한, 본 명세서에 있어서 "∼"를 사용하여 나타낸 수치 범위는, "∼"의 전후에 기재되는 수치를 각각 최소값 및 최대값으로 포함하는 범위를 나타낸다. 또한, 본 명세서 중에 단계적으로 기재되어 있는 수치 범위에 있어서, 어느 단계의 수치 범위의 상한값 또는 하한값은, 다른 단계의 수치 범위의 상한값 또는 하한값으로 치환해도 된다. 또한, 본 명세서 중에 기재되어 있는 수치 범위에 있어서, 그 수치 범위의 상한값 또는 하한값은, 실시예에 나타나 있는 값으로 치환해도 된다. 또한, 본 명세서에 있어서 "층"이라는 용어는, 평면도로 관찰했을 때에, 전면(全面)에 형성되어 있는 형상의 구조에 더하여, 일부에 형성되어 있는 형상의 구조도 포함된다. In addition, in this specification, the numerical range expressed using "-" represents the range which includes the numerical value described before and after "-" as a minimum value and a maximum value, respectively. In addition, in the numerical range described step by step in this specification, you may replace the upper limit or lower limit of the numerical range of a certain stage with the upper limit or lower limit of the numerical range of another stage. In addition, in the numerical range described in this specification, you may replace the upper limit value or the lower limit value of the numerical range with the value shown in the Example. In addition, in this specification, the term "layer" includes a structure formed on a part of the structure in addition to a structure formed on the entire surface when observed in a plan view.

[감광성 엘리먼트][Photosensitive element]

본 실시형태의 감광성 엘리먼트(1)는, 도 1에 나타내는 바와 같이, 지지 필름(2)과, 배리어층(3)과, 감광층(4)을 이 순서로 구비하고, 보호층(5) 등의 그 밖의 층을 더 구비해도 된다. 또한, 상기 배리어층은, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유한다. 본 실시형태의 감광성 엘리먼트를 사용함으로써, 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 실시형태의 감광성 엘리먼트는, 배리어층의 층 분리를 억제할 수 있기 때문에, 실용상 뛰어난 것이 된다. 이하, 본 실시형태에 관련되는 감광성 엘리먼트에 있어서의 각 층에 관해 상세히 설명한다. As shown in FIG. 1 , the photosensitive element 1 of the present embodiment includes a support film 2, a barrier layer 3, and a photosensitive layer 4 in this order, and a protective layer 5 and the like. You may further provide other layers of. Further, the barrier layer contains a water-soluble resin and an alcohol having 3 or more carbon atoms. By using the photosensitive element of this embodiment, the peelability of a barrier layer and a support film can be improved. Further, since the photosensitive element of the present embodiment can suppress layer separation of the barrier layer, it is excellent in practical use. Hereinafter, each layer in the photosensitive element according to this embodiment will be described in detail.

<지지 필름><support film>

본 실시형태의 지지 필름으로서는, 특별히 제한 없이 사용할 수 있다. 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리부틸렌테레프탈레이트(PBT) 및 폴리에틸렌-2,6-나프탈레이트(PEN) 등의 폴리에스테르 필름, 및, 폴리프로필렌 및 폴리에틸렌 등의 폴리올레핀 필름을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에스테르 필름을 사용해도 된다. 지지 필름으로서 폴리에스테르 필름을 사용함으로써, 지지 필름의 기계 강도 및 열에 대한 내성을 향상시킬 수 있는 경향이 있다. 또한, 폴리에스테르 필름을 사용함으로써, 지지 필름 상에 배리어층을 형성할 때에 발생하는 배리어층의 주름 등의 불량을 억제할 수 있어, 작업성을 향상시킬 수 있는 경향이 있다. 또한, 레지스터 패턴의 미소한 누락의 발생을 억제할 수 있는 관점에서, 입자(활제 등)를 포함하는 폴리에스테르 필름을 사용해도 된다. 입자(활제 등)를 포함하는 폴리에스테르 필름을 사용하는 경우, 입자(활제 등)를 가지는 측의 면에 배리어층을 형성해도 된다. 이와 같은 폴리에스테르 필름으로서는, 예를 들면, 입자(활제 등)가 혼련(kneading)된 폴리에스테르 필름, 양면에 입자(활제 등)를 함유하는 층을 형성하고 있는 폴리에스테르 필름, 또는, 편면(片面)에 입자(활제 등)를 함유하는 층을 형성하고 있는 폴리에스테르 필름을 사용해도 된다. 또한, 지지 필름은, 단층이어도 다층이어도 된다. As the support film of this embodiment, it can be used without particular limitation. Examples include polyester films such as polyethylene terephthalate (PET), polybutylene terephthalate (PBT) and polyethylene-2,6-naphthalate (PEN), and polyolefin films such as polypropylene and polyethylene. there is. Among them, you may use a polyester film. By using a polyester film as the support film, there is a tendency that the mechanical strength and resistance to heat of the support film can be improved. In addition, by using a polyester film, defects such as wrinkles in the barrier layer that occur when forming the barrier layer on the support film can be suppressed, and workability tends to be improved. Moreover, you may use the polyester film containing particle|grains (lubricant etc.) from a viewpoint which can suppress generation|occurrence|production of the micro omission of a resist pattern. In the case of using a polyester film containing particles (lubricant, etc.), a barrier layer may be formed on the side having the particles (lubricant, etc.). As such a polyester film, for example, a polyester film in which particles (lubricant, etc.) are kneaded, a polyester film in which a layer containing particles (lubricant, etc.) is formed on both sides, or a single surface ), a polyester film having a layer containing particles (such as a lubricant) may be used. In addition, a single layer or a multilayer may be sufficient as a support film.

지지 필름에 활제 등의 입자를 부가하는 방법으로서는, 예를 들면, 지지 필름에 입자(활제 등)를 혼합하는 방법, 지지 필름 위에, 입자(활제 등)를 함유하는 층을, 롤 코트, 플로우 코트, 스프레이 코트, 커튼 플로우 코트, 딥 코트, 슬릿 다이 코트 등의 공지의 방법을 사용하여 형성하는 방법을 들 수 있다. As a method of adding particles such as a lubricant to the support film, for example, a method of mixing particles (lubricant, etc.) with the support film, a layer containing particles (lubricant, etc.) on the support film, roll coating, flow coating , a method of forming using a known method such as spray coating, curtain flow coating, dip coating, or slit die coating.

지지 필름의 헤이즈는, 0.01∼5.0%, 0.01∼1.5%, 0.01∼1.0%, 또는, 0.01∼0.5%이어도 된다. 이 헤이즈가 0.01% 이상임으로써, 지지 필름 자체를 제조하기 쉬워지는 경향이 있고, 5.0% 이하이면, 감광성 엘리먼트의 감광층을 형성할 때에, 감광층에 있어서의 이물(異物)의 검출이 쉬워지는 경향이 있다. 여기서, "헤이즈"란, 흐림도를 의미한다. 본 개시에 있어서의 헤이즈는, JIS K 7105에 규정되는 방법에 준거하여, 시판되는 흐림도계(탁도계)를 이용하여 측정된 값을 말한다. 헤이즈는, 예를 들면, NDH-5000(니뽄덴소쿠고교 가부시키가이샤제, 상품명) 등의 시판되는 탁도계로 측정이 가능하다. The haze of the supporting film may be 0.01 to 5.0%, 0.01 to 1.5%, 0.01 to 1.0%, or 0.01 to 0.5%. When the haze is 0.01% or more, the support film itself tends to be easily manufactured, and when the haze is 5.0% or less, when forming the photosensitive layer of the photosensitive element, foreign matter in the photosensitive layer tends to be easily detected. there is Here, "haze" means haze. The haze in this disclosure refers to a value measured using a commercially available haze meter (turbidity meter) in accordance with the method specified in JIS K 7105. The haze can be measured with a commercially available turbidity meter such as NDH-5000 (manufactured by Nippon Densoku Kogyo Co., Ltd., trade name).

또한, 지지 필름은, 시판되는 일반 공업용 필름 중에서, 감광성 엘리먼트의 지지 필름으로서 사용 가능한 것을 입수하여, 적절히 가공하여 사용해도 된다. 구체적으로는, 예를 들면, PET 필름인 "FB-40"(도레이 가부시키가이샤제, 제품명), "A4100", "A1517"(토요보우세키 가부시키가이샤제, 제품명), "G2H"(테이진듀퐁필름 가부시키가이샤제, 제품명) 등을 들 수 있다. In addition, as a support film, you may obtain what can be used as a support film of a photosensitive element among commercially available general industrial films, process it suitably, and use it. Specifically, for example, "FB-40" (trade name, manufactured by Toray Industries, Ltd.), "A4100", "A1517" (trade name, manufactured by Toyobo Seki Co., Ltd.), "G2H" (tei), which are PET films, Gene DuPont Film Co., Ltd. product, product name), etc. are mentioned.

지지 필름의 두께는, 1∼200㎛, 1∼100㎛, 1∼60㎛, 5∼60㎛, 10∼60㎛, 10∼50㎛, 10∼40㎛, 10∼30㎛, 또는, 10∼25㎛이어도 된다. 지지 필름의 두께가 1㎛ 이상임으로써, 지지 필름을 박리할 때에 지지 필름이 찢어지는 것을 억제할 수 있는 경향이 있다. 또한, 지지 필름의 두께가 200㎛ 이하임으로써, 경제적 혜택을 얻기 쉬운 경향이 있다. The thickness of the support film is 1 to 200 μm, 1 to 100 μm, 1 to 60 μm, 5 to 60 μm, 10 to 60 μm, 10 to 50 μm, 10 to 40 μm, 10 to 30 μm, or 10 to 30 μm. 25 micrometers may be sufficient. When the thickness of the support film is 1 µm or more, tearing of the support film tends to be suppressed when the support film is peeled off. In addition, when the thickness of the support film is 200 μm or less, economic benefits tend to be easily obtained.

<배리어층><Barrier layer>

본 실시형태의 감광성 엘리먼트는, 지지 필름과 감광층 사이에 배리어층을 구비한다. 또한, 배리어층은, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유한다. 본 실시형태의 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층에 박리촉진제를 함유하지 않는 경우에서도 배리어층으로부터 지지 필름을 부드럽게 박리할 수 있기 때문에, 지지 필름을 박리하고 나서 배리어층을 통하여 감광층을 노광한 경우, 형성되는 레지스터 패턴의 해상성의 악화를 억제할 수 있다. 배리어층은, 후술하는 본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물을 사용하여 형성되는 층이어도 되고, 본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물은, 수용성 수지와, 탄소수 3 이상의 알코올류와, 물을 함유한다. 또한, 배리어층은, 수용성을 가지고 있어도 되고, 현상액에 대한 용해성을 가지고 있어도 된다. 또한, 배리어층에 의한 가스 배리어성을 보다 향상시킬 수 있는 관점에서, 지지 필름과 배리어층과의 접착력은, 배리어층과 감광층과의 접착력보다 작아도 된다. 즉, 감광성 엘리먼트로부터 지지 필름을 박리한 경우, 배리어층과 감광층과의 의도하지 않는 박리가 억제되고 있다고도 할 수 있다. The photosensitive element of this embodiment includes a barrier layer between the support film and the photosensitive layer. In addition, the barrier layer contains water-soluble resin and alcohols having 3 or more carbon atoms. According to the photosensitive element of the present embodiment, since the support film can be smoothly peeled from the barrier layer even when the barrier layer does not contain a peeling accelerator, when the photosensitive layer is exposed to light through the barrier layer after peeling the support film, Deterioration of the resolution of the formed resist pattern can be suppressed. The barrier layer may be a layer formed using the resin composition for forming a barrier layer of the present embodiment described later, and the resin composition for forming a barrier layer of the present embodiment contains a water-soluble resin, an alcohol having 3 or more carbon atoms, and water. contain In addition, the barrier layer may have water solubility or may have solubility to a developing solution. Further, from the viewpoint of further improving the gas barrier properties of the barrier layer, the adhesive force between the support film and the barrier layer may be smaller than the adhesive force between the barrier layer and the photosensitive layer. That is, it can also be said that unintentional separation between the barrier layer and the photosensitive layer is suppressed when the supporting film is separated from the photosensitive element.

(수용성 수지) (water soluble resin)

여기서, "수용성 수지"란, 25℃의 헥산 100mL에 대한 용해도가 5g 이하인 수지를 의미한다. 이 용해도는, 25℃의 헥산과 건조한 수용성 수지를 혼합하여, 백탁의 유무를 조사함으로써 산출할 수 있다. 구체적으로는, 연마맞춤 유리뚜껑 부착되고 무색 투명의 유리 용기에, 건조 후의 수용성 수지 A(g)와 헥산(100mL-A)과의 혼합액을 넣어 얻어진 시료 1, 및, 헥산만 100mL를 넣어 얻어진 시료 2를 각각 준비한다. 이어서, 유리 용기 내의 시료를 충분히 흔들어 섞은 후, 거품이 사라진 것을 확인한다. 확인 후 즉시, 확산 주광(晝光) 또는 그것과 동등한 광(光) 하에서, 양 용기를 나란히 놓고, 시료 1의 액 상태와 시료 2의 액 상태를 비교한다. 시료 1과 시료 2를 비교하여, 시료 1이 보다 흐리다는 것이 관찰되기 시작한 또는 고형분의 부유(浮遊)가 관찰되기 시작했을 때의 첨가량 A(g)를, 그 수용성 수지의 25℃의 헥산 100mL에 대한 용해도로 한다. Here, “water-soluble resin” means a resin having a solubility of 5 g or less in 100 mL of hexane at 25° C. This solubility can be calculated by mixing 25°C hexane and dried water-soluble resin and examining the presence or absence of cloudiness. Specifically, sample 1 obtained by putting a mixture of water-soluble resin A (g) and hexane (100 mL-A) after drying into a colorless and transparent glass container with a polished glass lid, and a sample obtained by adding 100 mL of hexane alone Prepare 2 each. Next, after sufficiently shaking the sample in the glass container to mix, it is confirmed that bubbles have disappeared. Immediately after confirmation, the liquid state of sample 1 and the liquid state of sample 2 are compared with the liquid state of sample 2 by placing both containers side by side under diffused daylight or light equivalent thereto. Sample 1 and Sample 2 were compared, and the addition amount A (g) when sample 1 was observed to be more cloudy or when solid content began to float was added to 100 mL of hexane at 25 ° C. of the water-soluble resin. for solubility.

수용성 수지로서는, 예를 들면, 폴리비닐알코올, 폴리비닐피롤리돈, 수용성 폴리이미드류 등을 들 수 있다. 배리어층의 가스 배리어성을 보다 향상시켜, 노광에 사용되는 활성 광선에 의해 발생한 라디칼의 실활을 보다 억제하는 관점에서, 수용성 수지는, 폴리비닐알코올을 포함해도 된다. 폴리비닐알코올은, 예를 들면, 아세트산비닐을 중합하여 얻을 수 있는 폴리아세트산비닐을 비누화하여 얻을 수 있다. 본 실시형태에서 사용되는 폴리비닐알코올의 비누화도는, 50몰% 이상, 70몰% 이상, 또는, 80몰% 이상이어도 된다. 또한, 이러한 비누화도의 상한은, 100몰% 이다. 비누화도가 50몰% 이상인 폴리비닐알코올을 포함함으로써, 배리어층의 가스 배리어성을 보다 향상시켜, 형성되는 레지스터 패턴의 해상성을 보다 향상시킬 수 있는 경향이 있다. 또한, 본 명세서에 있어서의 "비누화도"는, 일본공업규격에서 규정하는 JIS K 6726(1994)(폴리비닐알코올의 시험 방법)에 준거하여 측정한 값을 말한다. Examples of the water-soluble resin include polyvinyl alcohol, polyvinylpyrrolidone, and water-soluble polyimides. From the viewpoint of further improving the gas barrier properties of the barrier layer and further suppressing deactivation of radicals generated by actinic light used for exposure, the water-soluble resin may also contain polyvinyl alcohol. Polyvinyl alcohol can be obtained, for example, by saponifying polyvinyl acetate obtained by polymerizing vinyl acetate. The degree of saponification of the polyvinyl alcohol used in the present embodiment may be 50 mol% or more, 70 mol% or more, or 80 mol% or more. In addition, the upper limit of this saponification degree is 100 mol%. By including polyvinyl alcohol having a saponification degree of 50 mol% or more, the gas barrier property of the barrier layer is further improved, and the resolution of the formed resist pattern tends to be further improved. In addition, "degree of saponification" in this specification refers to the value measured based on JIS "K" 6726 (1994) (test method of polyvinyl alcohol) prescribed|regulated by the Japanese Industrial Standards.

상기 폴리비닐알코올은, 비누화도, 점도, 중합도, 변성종 등의 상이한 2종 이상의 것을 병용해도 된다. 폴리비닐알코올의 평균 중합도는, 300∼5000, 300∼3500, 또는, 300∼2000이어도 된다. 또한, 상기 수용성 수지는, 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 수용성 수지는, 예를 들면, 폴리비닐알코올 및 폴리비닐피롤리돈을 포함해도 된다. 이 경우, 폴리비닐알코올과 폴리비닐피롤리돈과의 질량비(PVA:PVP)는, 40:60∼90:10, 50:50∼90:10, 또는, 60:40∼90:10이어도 된다. The said polyvinyl alcohol may use together 2 or more types of things, such as a degree of saponification, a viscosity, a degree of polymerization, and a modified species. The average polymerization degree of polyvinyl alcohol may be 300 to 5000, 300 to 3500, or 300 to 2000. In addition, the said water-soluble resin can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. Water-soluble resin may also contain polyvinyl alcohol and polyvinyl pyrrolidone, for example. In this case, the mass ratio (PVA:PVP) of polyvinyl alcohol and polyvinylpyrrolidone may be 40:60 to 90:10, 50:50 to 90:10, or 60:40 to 90:10.

본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서의 수용성 수지의 함유량은, 가스 배리어성 향상의 관점에서, 물 500질량부에 대하여, 50∼300질량부, 60∼250질량부, 70∼200질량부, 80∼150질량부, 또는, 80∼125질량부이어도 된다. The content of the water-soluble resin in the resin composition for forming a barrier layer of the present embodiment is 50 to 300 parts by mass, 60 to 250 parts by mass, and 70 to 200 parts by mass with respect to 500 parts by mass of water, from the viewpoint of improving gas barrier properties. part, 80 to 150 parts by mass, or 80 to 125 parts by mass may be sufficient.

(탄소수 3 이상의 알코올류) (Alcohols with 3 or more carbon atoms)

탄소수 3 이상의 알코올류는, 일가 알코올류이어도 되고, 다가 알코올류이어도 된다(후술하는 다가 알코올 화합물의 가소제를 제외한다). 탄소수 3 이상의 알코올류에 있어서의 탄소수는, 해당 알코올류에 있어서의 탄소수의 합을 의미하며, 10 이하, 8 이하, 7 이하, 6 이하, 또는, 5 이하이어도 된다. 탄소수 3 이상의 알코올류는, 하기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 하기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유해도 된다. 이들 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유함으로써, 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 보다 향상시킬 수 있다. Alcohols having 3 or more carbon atoms may be either monohydric alcohols or polyhydric alcohols (excluding plasticizers for polyhydric alcohol compounds described later). The number of carbon atoms in alcohols having 3 or more carbon atoms means the sum of the number of carbon atoms in the alcohols, and may be 10 or less, 8 or less, 7 or less, 6 or less, or 5 or less. Alcohols having 3 or more carbon atoms may contain at least one selected from the group consisting of compounds represented by the following formulas (1) to (3) and compounds represented by the following general formula (4). By containing these C3 or more alcohols, the peelability of a barrier layer and a support film can be further improved.

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Figure 112018011921300-pct00007
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Figure 112018011921300-pct00008
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일반식(4) 중, R11은 알킬기를 나타내고, R12는 알킬렌기를 나타낸다. 또한, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은, 3 이상이다. 또한, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은, 물과의 친화성을 향상시키는 관점에서, 10 이하, 8 이하, 7 이하, 6 이하, 또는, 5 이하이어도 된다. R11로 나타내는 알킬기는, 탄소수 1∼4의 알킬기이어도 되고, R12로 나타내는 알킬렌기는, 탄소수 1∼3의 알킬렌기이어도 된다. 또한, R11로 나타내는 알킬기 및 R12로 나타내는 알킬렌기는, 각각 치환기를 가져도 되고, 치환기를 갖지 않아도 된다. 치환기를 가지는 경우에는, R11의 기의 탄소수 및 R12의 기의 탄소수는, 각각 치환기의 탄소수를 포함하는 것으로 한다. 또한, 일반식(4)로 표시되는 탄소수 3 이상의 알코올류는, 2-부톡시에탄올 또는 1-메톡시-2-프로판올이어도 된다. In Formula (4), R 11 represents an alkyl group and R 12 represents an alkylene group. In addition, the sum of carbon atoms of the group of R 11 and the group of R 12 is 3 or more. In addition, the sum of the carbon atoms of the R 11 group and the R 12 group may be 10 or less, 8 or less, 7 or less, 6 or less, or 5 or less from the viewpoint of improving affinity with water. The alkyl group represented by R 11 may be an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and the alkylene group represented by R 12 may be an alkylene group having 1 to 3 carbon atoms. In addition, the alkyl group represented by R 11 and the alkylene group represented by R 12 may or may not each have a substituent. In the case of having a substituent, the number of carbon atoms of the group of R 11 and the number of carbon atoms of the group of R 12 shall each include the number of carbon atoms of the substituent. Moreover, 2-butoxyethanol or 1-methoxy-2-propanol may be sufficient as the C3 or more alcohol represented by General formula (4).

상기 탄소수 3 이상의 알코올류는, 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. 또한, 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도는, 배리어층의 층 분리를 보다 억제할 수 있는 관점에서, 300mL/물 100mL 이상, 500mL/물 100mL 이상, 또는, 1000mL/물 100mL 이상이어도 된다. You may use the said C3 or more alcohol individually by 1 type or in combination of 2 or more types. In addition, the solubility of alcohols having 3 or more carbon atoms in water at 20°C is 300 mL/100 mL or more of water, 500 mL/100 mL of water or more, or 1000 mL/100 mL of water or more, from the viewpoint of being able to further suppress the layer separation of the barrier layer. may be continued

본 명세서에 있어서의 "탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도"란, 그 알코올류와 20℃의 물을 혼합하여, 백탁의 유무를 조사함으로써 산출할 수 있다. 구체적으로는, 연마맞춤 유리뚜껑 부착되고 무색 투명의 유리 용기에, 그 알코올류 AmL와 물(100-A)mL의 혼합액을 넣어 얻어진 시료 3, 및, 물만(100mL)을 넣어 얻어진 시료 4를 각각 준비한다. 이어서, 유리 용기 내의 시료 3 및 시료 4를 각각 충분히 흔들어 섞은 후, 거품이 사라진 것을 확인한다. 확인 직후에, 확산 주광 또는 그것과 동등한 광 아래에서, 양 용기를 나란히 놓고, 시료 3 내의 액 상태와 시료 4 내의 액 상태를 비교한다. 시료 3과 시료 4를 비교하여, 시료 3이 보다 흐리게 관찰되었을 때의 그 알코올류의 첨가량 AmL를, 그 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도로 한다. The "solubility of alcohols having 3 or more carbon atoms in water at 20°C" in the present specification can be calculated by mixing the alcohols with water at 20°C and examining the presence or absence of cloudiness. Specifically, sample 3 obtained by putting a mixture of AmL of the alcohol and water (100-A)mL into a colorless and transparent glass container with a polished glass lid, and sample 4 obtained by adding only water (100mL), respectively. Prepare. Subsequently, samples 3 and 4 in the glass container were thoroughly shaken and mixed, and it was confirmed that the bubbles had disappeared. Immediately after confirmation, the liquid state in Sample 3 and the liquid state in Sample 4 were compared with the liquid state in Sample 4, with both containers placed side by side under diffused daylight or a light equivalent thereto. Sample 3 and Sample 4 are compared, and the addition amount AmL of the alcohol when Sample 3 is observed more blurry is taken as the solubility of the alcohol in water at 20°C.

본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서의 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량은, 물 500질량부에 대하여, 100∼500질량부, 110∼480질량부, 120∼460질량부, 125∼440질량부, 125∼420질량부, 또는, 125∼400질량부이어도 된다. 이 함유량이 100질량부 이상이면, 형성되는 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 향상되는 경향이 있고, 500질량부 이하이면, 수용성 수지의 용해성이 향상되어, 배리어층이 형성되기 쉬워지는 경향이 있다. The content of alcohols having 3 or more carbon atoms in the resin composition for barrier layer formation of the present embodiment is 100 to 500 parts by mass, 110 to 480 parts by mass, 120 to 460 parts by mass, and 125 to 440 parts by mass with respect to 500 parts by mass of water. Part by mass, 125 to 420 parts by mass, or 125 to 400 parts by mass may be sufficient. When this content is 100 parts by mass or more, the peelability between the formed barrier layer and the supporting film tends to improve, and when it is 500 parts by mass or less, the solubility of the water-soluble resin is improved and the barrier layer tends to be easily formed. there is.

본 실시형태의 배리어층에 있어서의 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량은, 배리어층의 총량(배리어층을 형성하는 배리어층 형성용 수지 조성물의 고형분 총량)을 기준으로 하여, 0질량% 초과 2.0질량% 이하, 0.001∼2.0질량%, 또는, 0.005∼1.0질량% 이어도 된다. 이 함유량이 2.0질량% 이하임으로써, 후의 공정에서의 알코올류의 확산을 억제할 수 있는 경향이 있고, 0질량% 초과임으로써, 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 향상되는 경향이 있고, 0.001질량% 이상임으로써, 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 보다 향상되는 경향이 있다. The content of alcohols having 3 or more carbon atoms in the barrier layer of the present embodiment is greater than 0% by mass and 2.0% by mass, based on the total amount of the barrier layer (the total amount of solids in the resin composition for forming a barrier layer forming the barrier layer). It may be 0.001 to 2.0% by mass or 0.005 to 1.0% by mass below. When this content is 2.0% by mass or less, diffusion of alcohols in the subsequent step tends to be suppressed, and when it exceeds 0% by mass, the peelability between the barrier layer and the support film tends to improve, By being 0.001 mass % or more, there exists a tendency for the peelability of a barrier layer and a support film to improve more.

본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물은, 탄소수 3 미만의 알코올류를 함유해도 된다. 탄소수 3 미만의 알코올류를 함유하는 경우, 그 함유량은, 물 500질량부에 대하여, 125∼375질량부, 또는, 150∼325질량부이어도 된다. 이 함유량이 125질량부 이상임으로써, 수용성 수지의 용해성이 향상되어, 배리어층이 형성되기 쉬워지는 경향이 있고, 375질량부 이하임으로써, 형성되는 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 향상되는 경향이 있다. 또한, 본 실시형태의 배리어층에 있어서의 탄소수 3 미만의 알코올류의 함유량은, 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 향상되는 관점에서, 배리어층에 있어서의 알코올류의 총량을 기준으로 하여 0.1∼10질량% 이어도 되고, 또는, 배리어층에 있어서의 탄소수 3 이상의 알코올류의 총량 100질량부에 대하여 0.1∼10질량부이어도 된다. The resin composition for forming a barrier layer of the present embodiment may contain alcohols having less than 3 carbon atoms. When containing alcohols of less than 3 carbon atoms, the content may be 125 to 375 parts by mass or 150 to 325 parts by mass with respect to 500 parts by mass of water. When the content is 125 parts by mass or more, the solubility of the water-soluble resin is improved and the barrier layer tends to be easily formed, and when the content is 375 parts by mass or less, the peelability between the formed barrier layer and the supporting film tends to be improved. there is In addition, the content of alcohols having less than 3 carbon atoms in the barrier layer of the present embodiment is 0.1 based on the total amount of alcohols in the barrier layer from the viewpoint of improving the peelability between the barrier layer and the supporting film. 10 mass % may be sufficient, or 0.1-10 mass parts may be sufficient with respect to 100 mass parts of the total amount of C3 or more alcohols in a barrier layer.

또한, 본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물은, 본 개시의 효과를 방해하지 않는 범위에서, 가소제, 계면활성제 등의 공지의 첨가제를 함유해도 된다. 또한, 본 개시의 효과를 방해하지 않는 범위에서, 박리촉진제를 함유해도 된다. In addition, the resin composition for forming a barrier layer of the present embodiment may contain known additives such as plasticizers and surfactants within a range not interfering with the effects of the present disclosure. Moreover, you may contain a peeling accelerator within the range which does not interfere with the effect of this indication.

가소제로서는, 예를 들면, 연신성을 향상시키는 관점에서, 다가 알코올 화합물을 함유할 수 있다. 예를 들면, 글리세린, 디글리세린, 트리글리세린 등의 글리세린류, 에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 트리에틸렌글리콜, 테트라에틸렌글리콜, 폴리에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 디프로필렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜 등의 (폴리)알킬렌글리콜류, 트리메틸올프로판 등을 들 수 있다. 이들 가소제는 1종을 단독으로 또는 2종 이상 조합하여 사용할 수 있다. As a plasticizer, a polyhydric alcohol compound can be contained, for example from a viewpoint of improving ductility. For example, glycerols such as glycerin, diglycerin, and triglycerin, (poly)alkyls such as ethylene glycol, diethylene glycol, triethylene glycol, tetraethylene glycol, polyethylene glycol, propylene glycol, dipropylene glycol, and polypropylene glycol Len glycols, trimethylol propane, etc. are mentioned. These plasticizers can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

본 실시형태의 감광성 엘리먼트에 있어서의 배리어층은, 예를 들면, 지지 필름 상에, 본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물을 도포하여 건조함으로써 형성할 수 있다. The barrier layer in the photosensitive element of this embodiment can be formed, for example, by applying the resin composition for barrier layer formation of this embodiment onto a support film and drying it.

배리어층의 두께는, 특별히 한정되지 않는다. 배리어층의 두께는, 배리어층을 제거하기 쉬움의 관점에서, 12㎛ 이하, 10㎛ 이하, 8㎛ 이하, 7㎛ 이하, 또는, 6㎛ 이하이어도 된다. 또한, 배리어층의 두께는, 배리어층을 형성하기 쉬움 및 해상성의 관점에서, 1.0㎛ 이상, 1.5㎛ 이상, 2㎛ 이상, 3㎛ 이상, 또는, 4㎛ 이상이어도 된다. The thickness of the barrier layer is not particularly limited. The thickness of the barrier layer may be 12 µm or less, 10 µm or less, 8 µm or less, 7 µm or less, or 6 µm or less from the viewpoint of ease of removing the barrier layer. In addition, the thickness of the barrier layer may be 1.0 μm or more, 1.5 μm or more, 2 μm or more, 3 μm or more, or 4 μm or more from the viewpoints of ease of forming the barrier layer and resolution.

또한, 본 실시형태에 있어서의 배리어층은, 감광성을 가지고 있어도 되지만, 그 감광성은, 감광층의 감광성에 비해 낮다. 또한, 배리어층은 감광성을 가지지 않아도 된다. 배리어층이 감광성을 가지지 않은 경우, 감광층의 광감도 안정성이 보다 향상되는 경향이 있다. 또한, "감광성"이란, 예를 들면, 감광층을 노광하고, 필요에 따라 노광 후의 가열 처리를 하고, 이어서, 감광층의 미경화부를 제거하기 위한 현상액을 사용하여 감광층을 현상한 경우, 레지스터 패턴을 형성할 수 있는 것을 말한다. In addition, although the barrier layer in this embodiment may have photosensitivity, the photosensitivity is lower than the photosensitivity of the photosensitive layer. In addition, the barrier layer does not have to have photosensitivity. When the barrier layer does not have photosensitivity, the photosensitivity stability of the photosensitive layer tends to be further improved. In addition, "photosensitivity" means, for example, when the photosensitive layer is exposed to light, heat treatment is performed after exposure as necessary, and then the photosensitive layer is developed using a developing solution for removing uncured portions of the photosensitive layer. It means that a pattern can be formed.

<감광층><Photosensitive layer>

본 실시형태의 감광층은, 후술하는 감광성 수지 조성물을 사용하여 형성되는 층이다. 감광성 수지 조성물은, 광조사됨으로써 성질이 바뀌는(예를 들면, 광경화되는) 것이라면, 원하는 목적에 맞추어 사용할 수 있고, 네가티브형이어도 포지티브형이어도 된다. 감광성 수지 조성물은, (A) 바인더 폴리머, (B) 광중합성 화합물 및 (C) 광중합 개시제를 함유해도 된다. 또한, 필요에 따라, (D) 광증감제, (E) 중합 금지제 또는 그 밖의 성분을 함유해도 된다. 이하, 본 실시형태에 있어서의 감광성 수지 조성물에서 사용되는 각 성분에 관하여 보다 상세히 설명한다. The photosensitive layer of this embodiment is a layer formed using the photosensitive resin composition mentioned later. The photosensitive resin composition can be used according to a desired purpose, and may be of a negative type or a positive type, as long as the properties of the photosensitive resin composition are changed by light irradiation (for example, photocuring). The photosensitive resin composition may contain (A) a binder polymer, (B) a photopolymerizable compound, and (C) a photopolymerization initiator. Moreover, you may contain (D) photosensitizer, (E) polymerization inhibitor, or other components as needed. Hereinafter, each component used in the photosensitive resin composition in the present embodiment will be described in more detail.

((A) 바인더 폴리머)((A) binder polymer)

(A) 바인더 폴리머(이하, "(A)성분"이라고도 한다)는, 예를 들면, 중합성 단량체를 라디칼 중합시킴으로써 제조할 수 있다. 상기 중합성 단량체로서는, 예를 들면, 스티렌, 비닐톨루엔 및 α-메틸스티렌 등의 α-위치 또는 방향족환에 있어서 치환되어 있는 중합 가능한 스티렌 유도체, 디아세톤아크릴아미드 등의 아크릴아미드, 아크릴로니트릴, 비닐-n-부틸에테르 등의 비닐알코올의 에테르류, (메타)아크릴산 알킬에스테르, 벤질메타크릴레이트 등의 (메타)아크릴산 벤질에스테르, (메타)아크릴산 테트라히드로푸르푸릴에스테르, (메타)아크릴산 디메틸아미노에틸에스테르, (메타)아크릴산 디에틸아미노에틸에스테르, (메타)아크릴산 글리시딜에스테르, 2,2,2-트리플루오로에틸(메타)아크릴레이트, 2,2,3,3-테트라플루오로프로필(메타)아크릴레이트, (메타)아크릴산, α-브로모아크릴산, α-클로르아크릴산, β-푸릴(메타)아크릴산, β-스티릴(메타)아크릴산, 말레산, 말레산 무수물, 말레산 모노메틸, 말레산 모노에틸, 말레산 모노이소프로필 등의 말레산 모노에스테르, 푸말산, 신남산, α-시아노신남산, 이타콘산, 크로톤산 및 프로피올산을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. (A) The binder polymer (hereinafter also referred to as "component (A)") can be produced by radical polymerization of a polymerizable monomer, for example. Examples of the polymerizable monomer include polymerizable styrene derivatives substituted at the α-position or aromatic ring such as styrene, vinyltoluene and α-methylstyrene, acrylamide such as diacetone acrylamide, acrylonitrile, Vinyl alcohol ethers such as vinyl-n-butyl ether, (meth)acrylic acid alkyl esters, (meth)acrylic acid benzyl esters such as benzyl methacrylate, (meth)acrylic acid tetrahydrofurfuryl ester, (meth)acrylic acid dimethylamino Ethyl ester, (meth)acrylic acid diethylaminoethyl ester, (meth)acrylic acid glycidyl ester, 2,2,2-trifluoroethyl (meth)acrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl (meth)acrylate, (meth)acrylic acid, α-bromoacrylic acid, α-chloroacrylic acid, β-furyl (meth)acrylic acid, β-styryl (meth)acrylic acid, maleic acid, maleic anhydride, monomethyl maleate , maleic acid monoesters such as monoethyl maleate and monoisopropyl maleate, fumaric acid, cinnamic acid, α-cyanocinnamic acid, itaconic acid, crotonic acid and propiolic acid. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

이들 중에서는, 가소성이 향상되는 관점에서, (메타)아크릴산 알킬에스테르를 포함해도 된다. (메타)아크릴산 알킬에스테르로서는, 예를 들면, 하기 일반식(II)로 표시되는 화합물, 및, 이들 화합물의 알킬기가 수산기, 에폭시기, 할로겐기 등으로 치환된 화합물을 들 수 있다. In these, you may also include (meth)acrylic-acid alkylester from a viewpoint of plasticity improving. Examples of (meth)acrylic acid alkyl esters include compounds represented by the following general formula (II), and compounds in which the alkyl group of these compounds is substituted with a hydroxyl group, an epoxy group, a halogen group, or the like.

  H2C=C(R6)-COOR7       (II)H 2 C=C(R 6 )-COOR 7 (II)

일반식(II) 중, R6은 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, R7은 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타낸다. R7로 나타내는 탄소수 1∼12의 알킬기로서는, 예를 들면, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기, 운데실기, 도데실기 및 이들 기의 구조 이성체를 들 수 있다. In general formula (II), R 6 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 7 represents an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Examples of the C1-C12 alkyl group represented by R 7 include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, a nonyl group, a decyl group, an undecyl group, a dodecyl group, and Structural isomers of these groups are exemplified.

상기 일반식(II)로 표시되는 (메타)아크릴산 알킬에스테르로서는, 예를 들면, (메타)아크릴산 메틸에스테르, (메타)아크릴산 에틸에스테르, (메타)아크릴산 프로필에스테르, (메타)아크릴산 부틸에스테르, (메타)아크릴산 펜틸에스테르, (메타)아크릴산 헥실에스테르, (메타)아크릴산 헵틸에스테르, (메타)아크릴산 옥틸에스테르, (메타)아크릴산 2-에틸헥실에스테르, (메타)아크릴산 노닐에스테르, (메타)아크릴산 데실에스테르, (메타)아크릴산 운데실에스테르, (메타)아크릴산 도데실에스테르 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. Examples of the (meth)acrylic acid alkyl ester represented by the general formula (II) include (meth)acrylic acid methyl ester, (meth)acrylic acid ethyl ester, (meth)acrylic acid propyl ester, (meth)acrylic acid butyl ester, ( (meth)acrylic acid pentyl ester, (meth)acrylic acid hexyl ester, (meth)acrylic acid heptyl ester, (meth)acrylic acid octyl ester, (meth)acrylic acid 2-ethylhexyl ester, (meth)acrylic acid nonyl ester, (meth)acrylic acid decyl ester , (meth)acrylic acid undecyl ester, (meth)acrylic acid dodecyl ester, etc. are mentioned. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

또한, (A)성분은, 알칼리 현상성의 견지에서, 카복실기를 함유해도 된다. 카복실기를 함유하는 (A)성분은, 예를 들면, 카복실기를 가지는 중합성 단량체와 그 밖의 중합성 단량체를 라디칼 중합시킴으로써 제조할 수 있다. 상기 카복실기를 가지는 중합성 단량체로서는, (메타)아크릴산이어도 되고, 메타크릴산이어도 된다. 또한, 카복실기를 함유하는 (A)성분의 산가는 50∼250mgKOH/g, 50∼200mgKOH/g, 또는, 100∼200mgKOH/g이어도 된다. In addition, component (A) may contain a carboxyl group from the standpoint of alkali developability. (A) component containing a carboxyl group can be manufactured by radically polymerizing the polymerizable monomer and other polymerizable monomers which have a carboxyl group, for example. As the polymerizable monomer having the carboxyl group, (meth)acrylic acid or methacrylic acid may be used. Moreover, the acid value of (A) component containing a carboxyl group may be 50-250 mgKOH/g, 50-200 mgKOH/g, or 100-200 mgKOH/g.

(A)성분의 카복실기 함유량(바인더 폴리머에 사용되는 중합성 단량체 총량에 대한 카복실기를 가지는 중합성 단량체의 배합율)은, 알칼리 현상성과 알칼리 내성을 균형있게 향상시키는 견지에서, 12∼50질량%, 12∼40질량%, 15∼35질량%, 15∼30질량%, 또는, 20∼30질량% 이어도 된다. 이 카복실기 함유량이 12질량% 이상에서는 알칼리 현상성이 향상되는 경향이 있고, 50질량% 이하에서는 알칼리 내성이 뛰어난 경향이 있다. The carboxyl group content of component (A) (the blending ratio of polymerizable monomers having carboxyl groups relative to the total amount of polymerizable monomers used in the binder polymer) is 12 to 50% by mass from the viewpoint of improving alkali developability and alkali resistance in a balanced manner, It may be 12 to 40% by mass, 15 to 35% by mass, 15 to 30% by mass, or 20 to 30% by mass. When the carboxyl group content is 12% by mass or more, the alkali developability tends to be improved, and when the content of the carboxyl group is 50% by mass or less, alkali resistance tends to be excellent.

또한, (A)성분 중에 있어서의 카복실기를 가지는 중합성 단량체에서 유래하는 구조 단위의 함유량은, 상기 카복실기를 가지는 중합성 단량체의 배합율에 상관(相關)되므로, 12∼50질량%, 12∼40질량%, 15∼35질량%, 15∼30질량%, 또는, 20∼30질량% 이어도 된다. In addition, since the content of the structural unit derived from the polymerizable monomer having a carboxyl group in the component (A) is correlated with the compounding ratio of the polymerizable monomer having a carboxyl group, it is 12 to 50% by mass and 12 to 40% by mass. %, 15 to 35% by mass, 15 to 30% by mass, or 20 to 30% by mass may be sufficient.

또한, (A)성분은, 밀착성 및 내약품성의 견지에서, 스티렌 또는 스티렌 유도체를 중합성 단량체로서 사용해도 된다. 상기 스티렌 또는 스티렌 유도체를 중합성 단량체로 한 경우, 그 함유량((A)성분에 사용하는 중합성 단량체 총량에 대한 스티렌 또는 스티렌 유도체의 배합율)은, 밀착성 및 내약품성을 더욱 양호하게 하는 견지에서, 10∼60질량%, 15∼50질량%, 30∼50질량%, 35∼50질량%, 또는, 40∼50질량% 이어도 된다. 이 함유량이 10질량% 이상에서는, 밀착성이 향상되는 경향이 있고, 60질량% 이하에서는, 현상시에 박리편이 커지는 것을 억제할 수 있고 박리에 필요로 하는 시간의 장시간화가 억제되는 경향이 있다. In addition, component (A) may use styrene or a styrene derivative as a polymerizable monomer from the standpoint of adhesiveness and chemical resistance. When the above styrene or styrene derivative is used as a polymerizable monomer, its content (the blending ratio of styrene or styrene derivative relative to the total amount of polymerizable monomers used in component (A)) further improves adhesion and chemical resistance, It may be 10 to 60% by mass, 15 to 50% by mass, 30 to 50% by mass, 35 to 50% by mass, or 40 to 50% by mass. When this content is 10% by mass or more, the adhesion tends to be improved, and when it is 60% by mass or less, it is possible to suppress the enlargement of peeling pieces during development and the increase in the time required for peeling tends to be suppressed.

또한, (A)성분 중에 있어서의 스티렌 또는 스티렌 유도체에서 유래하는 구조 단위의 함유량은, 상기 스티렌 또는 스티렌 유도체의 배합율에 상관되므로, 10∼60질량%, 15∼50질량%, 30∼50질량%, 35∼50질량%, 또는, 40∼50질량% 이어도 된다. In addition, since the content of the structural unit derived from styrene or a styrene derivative in component (A) is correlated with the compounding ratio of the styrene or styrene derivative, it is 10 to 60% by mass, 15 to 50% by mass, and 30 to 50% by mass. , 35 to 50% by mass, or 40 to 50% by mass may be sufficient.

또한, (A)성분은, 해상도 및 애스펙트비의 견지에서, (메타)아크릴산 벤질에스테르를 중합성 단량체로서 사용해도 된다. (A)성분 중에 있어서의 (메타)아크릴산 벤질에스테르에서 유래하는 구조 단위의 함유량은, 해상도 및 애스펙트비를 더욱 향상시키는 견지에서, 15∼50질량%, 15∼45질량%, 15∼40질량%, 15∼35질량%, 또는, 20∼30질량% 이어도 된다. In addition, component (A) may use (meth)acrylic acid benzyl ester as a polymerizable monomer from the viewpoint of resolution and aspect ratio. The content of the structural unit derived from (meth)acrylic acid benzyl ester in component (A) is 15 to 50% by mass, 15 to 45% by mass, and 15 to 40% by mass from the viewpoint of further improving resolution and aspect ratio. , 15 to 35% by mass, or 20 to 30% by mass may be sufficient.

이들 바인더 폴리머는, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 2종 이상을 조합하여 사용하는 경우의 (A)성분으로서는, 예를 들면, 상이한 중합성 단량체로 이루어지는 2종 이상의 바인더 폴리머, 상이한 중량평균분자량의 2종 이상의 바인더 폴리머, 및, 상이한 분산도의 2종 이상의 바인더 폴리머를 들 수 있다. These binder polymers can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. As (A) component in the case of using in combination of 2 or more types, for example, 2 or more types of binder polymers which consist of different polymerizable monomers, 2 or more types of binder polymers of different weight average molecular weights, and 2 or more types of binder polymers of different degrees of dispersion. More than one kind of binder polymer may be mentioned.

(A)성분은, 통상의 방법에 의해 제조할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들면, (메타)아크릴산 알킬에스테르와, (메타)아크릴산과, 스티렌 등을 라디칼 중합시킴으로써 제조할 수 있다. (A) component can be manufactured by a conventional method. Specifically, for example, it can be produced by radical polymerization of (meth)acrylic acid alkyl ester, (meth)acrylic acid, and styrene.

(A)성분의 중량평균분자량은, 기계 강도와 알칼리 현상성을 균형있게 향상시키는 견지에서, 20,000∼300,000, 40,000∼150,000, 40,000∼120,000, 또는, 50,000∼80,000이어도 된다. (A)성분의 중량평균분자량이 20,000 이상에서는, 내현상액성이 뛰어난 경향이 있고, 300,000 이하에서는, 현상 시간이 길어지는 것이 억제되는 경향이 있다. 또한, 본 명세서에 있어서의 중량평균분자량은, 겔 침투 크로마토그래피법(GPC)에 의해 측정되고, 표준 폴리스티렌을 사용하여 작성한 검량선에 의해 환산된 값이다. The weight average molecular weight of component (A) may be 20,000 to 300,000, 40,000 to 150,000, 40,000 to 120,000, or 50,000 to 80,000 from the viewpoint of improving mechanical strength and alkali developability in a well-balanced manner. When the weight average molecular weight of component (A) is 20,000 or more, the developing solution resistance tends to be excellent, and when it is 300,000 or less, the development time tends to be suppressed. In addition, the weight average molecular weight in this specification is a value measured by gel permeation chromatography (GPC) and converted by a calibration curve prepared using standard polystyrene.

상기 (A)성분의 함유량은, (A)성분 및 후술하는 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여, 30∼80질량부, 40∼75질량부, 50∼70질량부, 또는, 50∼60질량부이어도 된다. (A)성분의 함유량이 이 범위 내이면, 감광성 수지 조성물의 도막성 및 광경화부의 강도가 보다 양호해진다. The content of the component (A) is 30 to 80 parts by mass, 40 to 75 parts by mass, 50 to 70 parts by mass, or 50 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total solid content of component (A) and component (B) described later. It may be -60 parts by mass. If content of (A) component is in this range, the coating-film property of the photosensitive resin composition and the intensity|strength of a photocured part become more favorable.

((B) 광중합성 화합물) ((B) photopolymerizable compound)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, (B) 광중합성 화합물(이하, "(B)성분"이라고도 한다)을 포함해도 된다. (B)성분은, 광중합 가능한 화합물, 광가교 가능한 화합물이면, 특별히 제한 없이 사용할 수 있지만, 예를 들면, 분자 내에 적어도 1개의 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 화합물을 사용할 수 있다. The photosensitive resin composition according to this embodiment may also contain (B) a photopolymerizable compound (hereinafter, also referred to as "component (B)"). Component (B) can be used without particular limitation as long as it is a compound capable of photopolymerization or a compound capable of photocrosslinking. For example, a compound having at least one ethylenically unsaturated bond in the molecule can be used.

(B)성분으로서는, 예를 들면, 다가 알코올에 α,β-불포화 카복실산을 반응시켜 얻어지는 화합물, 비스페놀 A형 (메타)아크릴레이트 화합물 등의 비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물, 우레탄 결합을 가지는 (메타)아크릴레이트 화합물 등의 우레탄 모노머, 노닐페녹시에틸렌옥시(메타)아크릴레이트, 노닐페녹시옥타에틸렌옥시(메타)아크릴레이트, γ-클로로-β-히드록시프로필-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸-o-프탈레이트, β-히드록시에틸-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸-o-프탈레이트, β-히드록시프로필-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸-o-프탈레이트, 및, (메타)아크릴산 알킬에스테르를 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. As the component (B), for example, a compound obtained by reacting a polyhydric alcohol with an α,β-unsaturated carboxylic acid, a bisphenol A (meth)acrylate compound such as a bisphenol A (meth)acrylate compound, and having a urethane bond ( Urethane monomers such as meth)acrylate compounds, nonylphenoxyethyleneoxy(meth)acrylate, nonylphenoxyoctaethyleneoxy(meth)acrylate, γ-chloro-β-hydroxypropyl-β'-(meth)acryl Royloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxyethyl-β'-(meth)acryloyloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxypropyl-β'-(meth)acryloyloxyethyl-o -phthalates, and (meth)acrylic acid alkyl esters. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

상기 중에서는, 해상성, 밀착성 및 레지스터 옷자락 발생의 억제성을 균형있게 향상시키는 견지에서, (B)성분은, 비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물을 함유해도 된다. 상기 비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물로서는, 하기 일반식(III)으로 표시되는 화합물이어도 된다.
Among the above, the component (B) may contain a bisphenol-type (meth)acrylate compound from the standpoint of improving resolution, adhesiveness, and suppression of the occurrence of register hems in a well-balanced manner. As said bisphenol-type (meth)acrylate compound, the compound represented by the following general formula (III) may be sufficient.

Figure 112018011921300-pct00009
Figure 112018011921300-pct00009

일반식(III) 중, R1, R2, R3 및 R4는 각각 독립하여, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. X 및 Y는 각각 독립하여, 에틸렌기 또는 프로필렌기를 나타내고, XO 및 YO는 각각 독립하여, 옥시에틸렌기(이하, "EO기"라고 칭하는 경우가 있다.) 또는 옥시프로필렌기(이하, "PO기"라고 칭하는 경우가 있다.)를 나타낸다. p1, p2, q1 및 q2는 각각 독립하여 0∼40의 수치를 나타낸다. 다만, p1+q1 및 p2+q2는 모두 1이상이다. X가 에틸렌기, Y가 프로필렌기인 경우, p1+p2는 1∼40이며, q1+q2는 0∼20이다. X가 프로필렌기, Y가 에틸렌기인 경우, p1+p2는 0∼20이며, q1+q2는 1∼40이다. p1, p2, q1 및 q2는 EO기 또는 PO기의 구조 단위의 수를 나타내기 때문에, 단일의 분자에서는 정수 값을 나타내고, 복수 종의 분자의 집합체에서는 평균값인 유리수를 나타낸다. 또한, EO기 및 PO기는 각각 연속하여 블록적으로 존재해도, 랜덤으로 존재해도 된다. In general formula (III), R 1 , R 2 , R 3 and R 4 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. X and Y each independently represent an ethylene group or a propylene group, and XO and YO each independently represent an oxyethylene group (hereinafter sometimes referred to as "EO group") or an oxypropylene group (hereinafter referred to as "PO group"). It is sometimes referred to as ".). p 1 , p 2 , q 1 and q 2 each independently represent a numerical value of 0 to 40. However, both of p 1 + q 1 and p 2 + q 2 are 1 or more. When X is an ethylene group and Y is a propylene group, p 1 + p 2 is 1 to 40, and q 1 + q 2 is 0 to 20. When X is a propylene group and Y is an ethylene group, p 1 + p 2 is 0 to 20, and q 1 + q 2 is 1 to 40. Since p 1 , p 2 , q 1 and q 2 represent the number of structural units of the EO group or PO group, they represent integer values in a single molecule, and represent average rational numbers in an aggregate of a plurality of molecules. In addition, the EO group and the PO group may respectively exist continuously, blockwise, or randomly.

일반식(III) 중, X 및 Y가 함께 에틸렌기인 경우, 해상도 및 밀착성이 보다 뛰어난 관점에서, p1+p2+q1+q2는, 1∼20, 1∼10, 또는, 1∼7이어도 된다. In general formula (III), when both X and Y are ethylene groups, p 1 + p 2 + q 1 + q 2 may be 1 to 20, 1 to 10, or 1 to 7 from the viewpoint of better resolution and adhesion. .

일반식(III)으로 표시되는 화합물로서는, 예를 들면, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리에톡시폴리프로폭시)페닐)프로판 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. Examples of the compound represented by formula (III) include 2,2-bis(4-((meth)acryloxypolyethoxy)phenyl)propane and 2,2-bis(4-((meth)acryl Oxypolypropoxy)phenyl)propane, 2,2-bis(4-((meth)acryloxypolyethoxypolypropoxy)phenyl)propane, etc. are mentioned. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물로서 상업적으로 입수 가능한 것으로서는, 예를 들면, 2,2-비스(4-(메타크릴옥시디에톡시)페닐)프로판(신나카무라가가쿠고교 가부시키가이샤제 "BPE-200"), 2,2-비스(4-(메타크릴옥시펜타에톡시)페닐)프로판(신나카무라가가쿠고교 가부시키가이샤제 "BPE-500" 또는 히타치가세이 가부시키가이샤제 "FA-321 M"), 2,2-비스(4-(메타크릴옥시펜타데카에톡시)페닐)프로판(신나카무라가가쿠고교 가부시키가이샤제 "BPE-1300"), 2,2-비스(4-(메타크릴옥시폴리에톡시)페닐)프로판(쿄에이샤가가쿠 가부시키가이샤제 "BP-2 EM"(EO기:2. 6(평균값))) 등을 들 수 있다. Examples of commercially available bisphenol type (meth)acrylate compounds include 2,2-bis(4-(methacryloxydiethoxy)phenyl)propane (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd. "BPE -200"), 2,2-bis(4-(methacryloxypentaethoxy)phenyl)propane ("BPE-500" manufactured by Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd. or "FA-" manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) 321 M"), 2,2-bis(4-(methacryloxypentadecaethoxy)phenyl)propane ("BPE-1300" manufactured by Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd.), 2,2-bis(4- (methacryloxy polyethoxy) phenyl) propane (Kyoeisha Chemical Co., Ltd. "BP-2EM" (EO group: 2.6 (average value))) etc. are mentioned.

비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물의 함유량은, 내약품성이 보다 향상되는 견지에서, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 1∼50질량%, 3∼40질량%, 10∼40질량%, 20∼40질량%, 또는, 30∼40질량% 이어도 된다. The content of the bisphenol type (meth)acrylate compound is 1 to 50% by mass, 3 to 40% by mass, 10 to 10% by mass, based on the total solid content of component (A) and component (B), from the viewpoint of further improving chemical resistance. It may be 40% by mass, 20 to 40% by mass, or 30 to 40% by mass.

또한, 비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물의 함유량은, 내약품성이 보다 향상되는 견지에서, (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 30∼99질량%, 50∼97질량%, 60∼95질량%, 70∼95질량%, 또는, 80∼90질량% 이어도 된다. In addition, the content of the bisphenol type (meth)acrylate compound is 30 to 99% by mass, 50 to 97% by mass, 60 to 95% by mass relative to the total solid content of component (B) from the viewpoint of further improving chemical resistance. , 70 to 95% by mass, or 80 to 90% by mass may be sufficient.

또한, EO기 및 PO기의 총수가 1∼7인 일반식(III)으로 표시되는 화합물의 함유량은, 해상도를 보다 양호하게 하는 견지에서, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 1∼50질량%, 2∼48질량%, 3∼45질량%, 5∼40질량%, 10∼30질량%, 또는, 10∼25질량% 이어도 된다. In addition, the content of the compound represented by the general formula (III) in which the total number of EO groups and PO groups is 1 to 7 is, from the viewpoint of better resolution, relative to the total solid content of component (A) and component (B) , 1 to 50% by mass, 2 to 48% by mass, 3 to 45% by mass, 5 to 40% by mass, 10 to 30% by mass, or 10 to 25% by mass may be sufficient.

또한, 기판의 요철에 대한 추종성을 보다 향상시키는 견지에서, 다가 알코올에 α,β-불포화 카복실산을 반응시켜 얻어지는 화합물을 함유해도 된다. 이와 같은 화합물로서는, 분자 내에 EO기 및 PO기의 양쪽을 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트, EO기를 가지는 디펜타에리트리톨(메타)아크릴레이트 등을 사용할 수 있다. EO기를 가지는 디펜타에리트리톨(메타)아크릴레이트로서 상업적으로 입수 가능한 것으로서는, 예를 들면, 니폰가야쿠 가부시키가이샤제 "DPEA-12" 등을 들 수 있다. EO기를 가지는 디펜타에리트리톨(메타)아크릴레이트의 함유량은, (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 해상성 향상의 관점에서, 1∼10질량%, 1.5∼8질량%, 2∼8질량%, 2. 5∼8질량%, 또는, 3∼8질량% 이어도 된다. In addition, from the standpoint of further improving the conformability to unevenness of the substrate, a compound obtained by reacting an α,β-unsaturated carboxylic acid with a polyhydric alcohol may be contained. As such a compound, polyalkylene glycol di(meth)acrylate having both an EO group and a PO group in the molecule, dipentaerythritol (meth)acrylate having an EO group, and the like can be used. As what is commercially available as dipentaerythritol (meth)acrylate which has EO group, "DPEA-12" by Nippon Kayaku Co., Ltd. etc. are mentioned, for example. The content of dipentaerythritol (meth)acrylate having an EO group is 1 to 10% by mass, 1.5 to 8% by mass, or 2 to 8% by mass, from the viewpoint of improving resolution, with respect to the total solid content of component (B). , 2.5 to 8% by mass, or 3 to 8% by mass may be sufficient.

또한, EO기 및 PO기의 양쪽을 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트의 분자 내에 있어서, EO기 및 PO기는, 각각 연속하여 블록적으로 존재해도, 랜덤으로 존재해도 된다. 또한, PO기는, 옥시-n-프로필렌기 또는 옥시이소프로필렌기 중 어느 하나이어도 된다. 또한, (폴리)옥시이소프로필렌기에 있어서, 프로필렌기의 2급 탄소가 산소 원자에 결합되어 있어도 되고, 1급 탄소가 산소 원자에 결합되어 있어도 된다. In addition, in the molecule of polyalkylene glycol di(meth)acrylate having both EO and PO groups, the EO and PO groups may respectively exist continuously, blockwise or randomly. Further, the PO group may be either an oxy-n-propylene group or an oxyisopropylene group. In the (poly)oxyisopropylene group, the secondary carbon of the propylene group may be bonded to the oxygen atom, or the primary carbon may be bonded to the oxygen atom.

EO기 및 PO기의 양쪽을 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트로서 상업적으로 입수 가능한 것으로서는, 예를 들면, EO기:6(평균값) 및 PO기:12(평균값)를 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트(히타치가세이 가부시키가이샤제 "FA-023 M", "FA-024 M") 등을 들 수 있다. 또한, EO기 및 PO기의 양쪽을 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트의 함유량은, (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 기판의 요철에 대한 추종성 및 해상성 향상의 관점에서, 1∼15질량%, 1.5∼15질량%, 2∼13질량%, 또는, 3∼13질량% 이어도 된다. Examples of commercially available polyalkylene glycol di(meth)acrylates having both an EO group and a PO group include polyalkyl having EO groups: 6 (average value) and PO groups: 12 (average value) Lenglycol di(meth)acrylate ("FA-023M", "FA-024M" by Hitachi Chemical Co., Ltd.) etc. are mentioned. In addition, the content of the polyalkylene glycol di(meth)acrylate having both EO and PO groups is 1, from the viewpoint of the ability to follow irregularities of the substrate and the improvement in resolution, with respect to the total solid content of component (B). It may be - 15% by mass, 1.5 - 15% by mass, 2 - 13% by mass, or 3 - 13% by mass.

(B)성분의 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여, 20∼70질량부, 25∼60질량부, 또는, 30∼50질량부로 해도 된다. (B)성분의 함유량이 이 범위 내이면, 감광성 수지 조성물의 해상도, 밀착성 및 레지스터 옷자락 발생의 억제성에 더하여, 광감도 및 도막성도 보다 양호해진다. The content of the component (B) may be 20 to 70 parts by mass, 25 to 60 parts by mass, or 30 to 50 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid content of the component (A) and the component (B). When the content of the component (B) is within this range, the photosensitivity and coating properties are further improved in addition to the resolution, adhesiveness, and suppression of occurrence of resist hemming of the photosensitive resin composition.

((C) 광중합 개시제) ((C) photopolymerization initiator)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, (C) 광중합 개시제(이하, "(C)성분"이라고도 한다)을 적어도 1종 함유해도 된다. (C)성분은, (B)성분을 중합 시킬 수 있는 것이면, 특별히 제한은 없고, 통상 사용되는 광중합 개시제로부터 적절히 선택할 수 있다. The photosensitive resin composition concerning this embodiment may contain at least 1 sort(s) of (C) photoinitiator (henceforth "component (C)"). Component (C) is not particularly limited as long as it can polymerize component (B), and can be appropriately selected from commonly used photopolymerization initiators.

(C)성분으로서는, 예를 들면, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄온-1, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판온-1 등의 방향족 케톤, 알킬안트라퀴논 등의 퀴논류, 벤조인알킬에테르 등의 벤조인에테르 화합물, 벤조인, 알킬벤조인 등의 벤조인 화합물, 벤질디메틸케탈 등의 벤질 유도체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체, 2-(o-플루오로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체 등의 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체, 9-페닐아크리딘, 1,7-(9,9'-아크리딘일) 헵탄 등의 아크리딘 유도체 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. As component (C), for example, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)-butanone-1,2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl] Aromatic ketones such as -2-morpholinopropanone-1, quinones such as alkylanthraquinone, benzoin ether compounds such as benzoin alkyl ether, benzoin compounds such as benzoin and alkylbenzoin, benzyldimethylketal, etc. 2 such as benzyl derivatives of , 2-(o-chlorophenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer, 2-(o-fluorophenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer, acridine derivatives such as 4,5-triarylimidazole dimer, 9-phenylacridine, and 1,7-(9,9'-acridinyl) heptane; and the like. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

이들 중에서는, 해상성이 향상되는 관점에서, 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체를 함유해도 된다. 상기 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체로서는, 예를 들면, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-비스-(m-메톡시페닐) 이미다졸 2량체, 및, 2-(p-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체를 들 수 있다. 이들 중에서도, 광감도 안정성이 향상되는 관점에서, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체를 함유해도 된다. In these, you may contain a 2,4,5- triaryl imidazole dimer from a viewpoint of improving resolution. Examples of the 2,4,5-triarylimidazole dimer include 2-(o-chlorophenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer and 2-(o-chlorophenyl)- 4,5-bis-(m-methoxyphenyl) imidazole dimer and 2-(p-methoxyphenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer. Among these, you may contain a 2-(o-chlorophenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer from a viewpoint of improving photosensitivity stability.

2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체로서는, 예를 들면, 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐비스이미다졸은, B-CIM(호도가야가가쿠고교 가부시키가이샤제, 제품명)로서 상업적으로 입수 가능하다. As a 2,4,5-triarylimidazole dimer, for example, 2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetraphenylbisimidazole is B It is commercially available as -CIM (manufactured by Hodogaya Gagaku Kogyo Co., Ltd., product name).

(C)성분은, 광감성 및 밀착성을 보다 향상시키며, (C)성분의 광흡수성을 보다 더욱 억제하는 관점에서, 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체의 적어도 1종을 포함해도 되고, 2-(2-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체를 포함해도 된다. 또한, 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체는, 그 구조가 대칭이어도 비대칭이어도 된다. Component (C) further improves photosensitivity and adhesiveness, and from the viewpoint of further suppressing the light absorption of component (C), even if at least one type of 2,4,5-triarylimidazole dimer is included, and may include a 2-(2-chlorophenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer. In addition, the structure of a 2,4,5-triaryl imidazole dimer may be symmetrical or asymmetrical.

(C)성분의 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여, 0.01∼30질량부, 0.1∼10질량부, 1∼7질량부, 1∼6질량부, 1∼5질량부, 또는, 2∼5질량부이어도 된다. (C)성분의 함유량이 0.01질량부 이상에서는, 광감성, 해상성 및 밀착성이 향상되는 경향이 있고, 30질량부 이하에서는, 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 경향이 있다. The content of component (C) is 0.01 to 30 parts by mass, 0.1 to 10 parts by mass, 1 to 7 parts by mass, 1 to 6 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total solid content of component (A) and component (B). It may be 1 to 5 parts by mass or 2 to 5 parts by mass. When the content of component (C) is 0.01 part by mass or more, photosensitivity, resolution and adhesion tend to improve, and when it is 30 parts by mass or less, the resist pattern shape tends to be excellent.

((D) 광증감제) ((D) Photosensitizer)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, (D) 광증감제(이하, "(D)성분"이라고도 한다)을 포함해도 된다. (D)성분을 함유함으로써, 노광에 사용되는 활성 광선의 흡수 파장을 유효하게 사용할 수 있는 경향이 있다. The photosensitive resin composition according to this embodiment may also contain (D) a photosensitizer (hereinafter, also referred to as "component (D)"). By containing component (D), there exists a tendency that the absorption wavelength of the actinic light used for exposure can be used effectively.

(D)성분으로서는, 예를 들면, 피라졸린류, 디알킬아미노벤조페논류, 안트라센류, 쿠마린류, 크산톤류, 옥사졸류, 벤조옥사졸류, 티아졸류, 벤조티아졸류, 트리아졸류, 스틸벤류, 트리아진류, 티오펜류, 나프탈이미드류 및 트리아릴아민류를 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 노광에 사용되는 활성 광선의 흡수 파장을 보다 유효하게 이용할 수 있는 견지에서, (D)성분은, 피라졸린류, 안트라센류, 또는, 디알킬아미노벤조페논류를 포함해도 되고, 그 중에서도, 디알킬아미노벤조페논류를 포함해도 된다. 디알킬아미노벤조페논류로서 상업적으로 입수 가능한 것으로서는, 예를 들면, 호도가야가가쿠고교 가부시키가이샤제 "EAB" 등을 들 수 있다. As component (D), for example, pyrazolines, dialkylaminobenzophenones, anthracenes, coumarins, xanthones, oxazoles, benzoxazoles, thiazoles, benzothiazoles, triazoles, stilbenes, triazines, thiophenes, naphthalimides, and triarylamines. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. From the standpoint of being able to use the absorption wavelength of actinic light used for exposure more effectively, component (D) may also contain pyrazolines, anthracenes, or dialkylaminobenzophenones, especially dialkyl Amino benzophenones may also be included. As what is commercially available as dialkylamino benzophenones, Hodogaya Chemical Industry Co., Ltd. "EAB" etc. are mentioned, for example.

(D)성분을 함유하는 경우, 그 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여, 1.0질량부 이하, 0.5질량부 이하, 0.15질량부 이하, 0.12질량부 이하, 또는, 0.10질량부 이하이어도 된다. (D)성분의 함유량이 (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여 1.0질량부 이하이면, 레지스터 패턴 형상 및 레지스터 옷자락 발생성의 악화를 억제할 수 있어, 해상도를 보다 양호하게 할 수 있는 경향이 있다. 또한, (D)성분의 함유량은, 고광감성 및 양호한 해상도를 얻기 쉬운 견지에서, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여 0.01질량부 이상이어도 된다. (D) When containing component, the content is 1.0 mass part or less, 0.5 mass part or less, 0.15 mass part or less, 0.12 mass part or less with respect to 100 mass parts of total solids of (A) component and (B) component. , or 0.10 parts by mass or less may be sufficient. When the content of component (D) is 1.0 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the total solid content of component (A) and component (B), the deterioration of the shape of the resist pattern and the occurrence of resist hemming can be suppressed, and the resolution is improved more. tend to be able to In addition, the content of component (D) may be 0.01 part by mass or more with respect to 100 parts by mass of the total solid content of component (A) and component (B) from the standpoint of easy to obtain high photosensitivity and good resolution.

((E) 중합 금지제) ((E) polymerization inhibitor)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, (E) 중합 금지제(이하, "(E)성분"이라고도 한다)을 포함해도 된다. (E)성분을 함유함으로써, 감광성 수지 조성물을 광경화시키기 위해서 필요한 노광량을, 투영 노광기로 노광하는데 최적인 노광량으로 조정할 수 있는 경향이 있다. The photosensitive resin composition according to the present embodiment may also contain (E) a polymerization inhibitor (hereinafter, also referred to as “component (E)”). By containing the component (E), there is a tendency that the exposure amount necessary for photocuring the photosensitive resin composition can be adjusted to an exposure amount optimal for exposure with a projection exposure machine.

(E)성분은, 해상성을 더욱 향상시키는 견지에서, 하기 일반식(I)로 표시되는 화합물을 포함해도 된다. (E) component may also contain the compound represented by the following general formula (I) from a viewpoint of further improving resolution.

Figure 112018011921300-pct00010
Figure 112018011921300-pct00010

일반식(I) 중, R5는, 할로겐 원자, 수소 원자, 탄소수 1∼20의 알킬기, 탄소수 3∼10의 시클로알킬기, 아미노기, 아릴기, 머캅토기, 탄소수 1∼10의 알킬머캅토기, 알킬기의 탄소수가 1∼10의 카복실알킬기, 탄소수 1∼20의 알콕시기 또는 복소환기를 나타내고, m 및 n는, m이 2 이상의 정수이고, n이 0 이상의 정수이고, m+n=6이 되도록 선택되는 정수이며, n이 2 이상의 정수인 경우, R5는 각각 동일해도 상이해도 된다. 또한, 아릴기는, 탄소수 1∼20의 알킬기로 치환되어 있어도 된다. In formula (I), R 5 is a halogen atom, a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms, an amino group, an aryl group, a mercapto group, an alkylmercapto group having 1 to 10 carbon atoms; The alkyl group represents a carboxylalkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an alkoxy group or a heterocyclic group having 1 to 20 carbon atoms, m and n are selected so that m is an integer of 2 or more, n is an integer of 0 or more, and m + n = 6 It is an integer, and when n is an integer greater than or equal to 2, R <5> may be the same or different, respectively. In addition, the aryl group may be substituted with an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms.

R5는, (A)성분과의 상용성을 보다 향상시키는 견지에서, 수소 원자 또는 탄소수 1∼20의 알킬기이어도 된다. R5로 나타내는 탄소수 1∼20의 알킬기로서는, 탄소수 1∼4의 알킬기이어도 된다. m은, 해상성을 더욱 향상시키는 견지에서, 2 또는 3이어도 되고, 2이어도 된다. R 5 may be a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms from the viewpoint of further improving the compatibility with the component (A). The C1-C20 alkyl group represented by R 5 may be a C1-C4 alkyl group. m may be 2 or 3, or 2 from the standpoint of further improving the resolution.

상기 일반식(I)로 표시되는 화합물로서는, 예를 들면, 카테콜, 레조르시놀(레조르신), 1,4-히드로퀴논, 3-메틸카테콜, 4-메틸카테콜, 3-에틸카테콜, 4-에틸카테콜, 3-프로필카테콜, 4-프로필카테콜, 3-n-부틸카테콜, 4-n-부틸카테콜, 3-tert-부틸카테콜, 4-tert-부틸카테콜, 3,5-디-tert-부틸카테콜 등의 알킬카테콜, 2-메틸레조르시놀, 4-메틸레조르시놀, 5-메틸레조르시놀(오르신), 2-에틸레조르시놀, 4-에틸레조르시놀, 2-프로필레조르시놀, 4-프로필레조르시놀, 2-n-부틸레조르시놀, 4-n-부틸레조르시놀, 2-tert-부틸레조르시놀, 4-tert-부틸레조르시놀 등의 알킬레조르시놀, 메틸히드로퀴논, 에틸히드로퀴논, 프로필히드로퀴논, tert-부틸히드로퀴논, 2, 5-디-tert-부틸히드로퀴논 등의 알킬히드로퀴논, 피로갈롤, 플로로글루신 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. Examples of the compound represented by the general formula (I) include catechol, resorcinol (resorcinol), 1,4-hydroquinone, 3-methylcatechol, 4-methylcatechol, and 3-ethylcatechol. , 4-ethylcatechol, 3-propylcatechol, 4-propylcatechol, 3-n-butylcatechol, 4-n-butylcatechol, 3-tert-butylcatechol, 4-tert-butylcatechol Alkylcatechols such as 3,5-di-tert-butylcatechol, 2-methylresorcinol, 4-methylresorcinol, 5-methylresorcinol (orsynol), 2-ethylresorcinol, 4 -Ethylresorcinol, 2-propylresorcinol, 4-propylresorcinol, 2-n-butylresorcinol, 4-n-butylresorcinol, 2-tert-butylresorcinol, 4-tert - Alkylresorcinols such as butylresorcinol, alkylhydroquinones such as methylhydroquinone, ethylhydroquinone, propylhydroquinone, tert-butylhydroquinone, 2,5-di-tert-butylhydroquinone, pyrogalol, phloroglucin, etc. can be heard These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

상기 일반식(I)로 표시되는 화합물 중에서는, 해상성을 더욱 향상시키는 견지에서, 알킬카테콜이어도 된다. Among the compounds represented by the general formula (I), from the standpoint of further improving resolution, alkylcatechol may be used.

(E)성분의 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여 0.001∼0.3질량부, 0.01∼0.2질량부, 0.02∼0.15질량부, 또는, 0.03∼0.1질량부이어도 된다. (E)성분의 함유량을 0.3질량부 이하로 함으로써, 노광 시간을 짧게 할 수 있어, 양산의 효율 향상에 공헌할 수 있는 경향이 있다. 또한, (E)성분의 함유량을 0.001질량부 이상으로 함으로써, 광경화부의 광반응을 충분히 진행시킬 수 있고, 반응율 향상에 의해, 레지스터 팽윤성을 억제하여, 해상도를 보다 양호하게 할 수 있는 경향이 있다. The content of component (E) is 0.001 to 0.3 part by mass, 0.01 to 0.2 part by mass, 0.02 to 0.15 part by mass, or 0.03 to 0.1 part by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid content of component (A) and component (B). may be continued When the content of the component (E) is 0.3 parts by mass or less, the exposure time can be shortened and tends to contribute to the improvement of mass production efficiency. In addition, by setting the content of component (E) to 0.001 parts by mass or more, the photoreaction of the photocured portion can sufficiently proceed, and the resist swelling property is suppressed by the reaction rate improvement, and the resolution tends to be better. .

또한, (E)성분의 함유량은, (A)성분의 고형분 100질량부에 대하여, 0.03∼0.4질량부, 0.05∼0.4질량부, 0.05∼0.2질량부, 또는, 0.05∼0.1질량부이어도 된다. (E)성분의 함유량이 (A)성분에 대하여 0.05질량부 이상인 경우, 감광성 수지 조성물의 열안정성을 향상시킬 수 있는 경향이 있고, 0.4질량부 이하인 경우, 감광성 수지 조성물의 황색화를 억제할 수 있는 경향이 있다. Moreover, content of (E) component may be 0.03-0.4 mass part, 0.05-0.4 mass part, 0.05-0.2 mass part, or 0.05-0.1 mass part with respect to 100 mass parts of solid content of (A) component. When the content of component (E) is 0.05 parts by mass or more relative to component (A), the thermal stability of the photosensitive resin composition tends to be improved, and when it is 0.4 parts by mass or less, yellowing of the photosensitive resin composition can be suppressed. tend to have

(그 밖의 성분) (other ingredients)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물에는, 필요에 따라, 말라카이트그린, 빅토리아 퓨어 블루, 브릴리언트 그린 및 메틸 바이올렛 등의 염료, 트리브로모페닐설폰, 로이코 크리스탈 바이올렛, 디페닐아민, 벤질아민, 트리페닐아민, 디에틸아닐린, o-클로로아닐린 및 터셔리부틸카테콜 등의 광발색제, 발열색방지제, p-톨루엔설폰아미드 등의 가소제, 안료, 충전제, 소포제, 난연제, 밀착성 부여제, 레벨링제, 박리촉진제, 산화방지제, 향료, 이미징제, 열가교제 등의 첨가제를, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여 각각 0.01∼20질량부 함유할 수 있다. 이들 첨가제는 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. In the photosensitive resin composition according to the present embodiment, dyes such as malachite green, Victoria pure blue, brilliant green, and methyl violet, tribromophenylsulfone, leuco crystal violet, diphenylamine, benzylamine, and triphenyl, as necessary. Photochromic agents such as amine, diethylaniline, o-chloroaniline and tertiary butyl catechol, antipyretic colorants, plasticizers such as p-toluenesulfonamide, pigments, fillers, antifoaming agents, flame retardants, adhesion imparting agents, leveling agents, peeling agents 0.01-20 mass parts of additives, such as an accelerator, antioxidant, fragrance|flavor, imaging agent, and a thermal crosslinking agent, respectively can be contained with respect to 100 mass parts of total solids of (A) component and (B) component. These additives can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

또한, 본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, 감광성 조성물의 취급성을 향상시키거나, 점도 및 보존 안정성을 조절하거나 하기 위해서, 필요에 따라 유기용제의 적어도 1종을 포함할 수 있다. 상기 유기용제로서는, 통상 사용되는 유기용제를 특별히 제한 없이 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들면, 메탄올, 에탄올, 아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸셀로솔브, 에틸셀로솔브, 톨루엔, N,N-디메틸폼아미드, 프로필렌글리콜모노메틸에테르 등의 유기용제 또는 이들 혼합 용제를 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. In addition, the photosensitive resin composition according to the present embodiment may contain at least one organic solvent as necessary in order to improve the handleability of the photosensitive composition or to adjust the viscosity and storage stability. As the organic solvent, a commonly used organic solvent can be used without particular limitation. Specifically, for example, organic solvents such as methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, toluene, N,N-dimethylformamide, propylene glycol monomethyl ether, or a mixture thereof A solvent can be mentioned. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

<보호층><protective layer>

본 실시형태의 감광성 엘리먼트는, 감광층의 배리어층과 접하는 면과는 반대측의 면에 보호층을 적층할 수도 있다. 보호층으로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 중합체 필름 등을 사용해도 된다. 또한, 상술(上述)하는 지지 필름과 동일한 중합체 필름을 사용해도 되고, 상이한 중합체 필름을 사용해도 된다. In the photosensitive element of this embodiment, a protective layer may be laminated on the surface of the photosensitive layer opposite to the surface in contact with the barrier layer. As a protective layer, you may use polymer films, such as polyethylene and a polypropylene, etc., for example. Moreover, the same polymer film as the support film mentioned above may be used, and a different polymer film may be used.

이하, 지지 필름, 배리어층, 감광층 및 보호층을 순차 적층한 감광성 엘리먼트를 제조하는 방법에 관하여 설명한다. Hereinafter, a method of manufacturing a photosensitive element in which a support film, a barrier layer, a photosensitive layer, and a protective layer are sequentially laminated will be described.

<감광성 엘리먼트의 제조 방법><Method of manufacturing photosensitive element>

우선, 예를 들면, 폴리비닐알코올을 함유하는 수용성 수지를, 고형분 함유량이 10∼20질량%가 되도록, 70∼90℃로 가온한 물과 탄소수 3 이상의 알코올류를 포함하는 알코올류와의 혼합 용제에 서서히 첨가하여 1시간 정도 교반하고 균일하게 용해시켜, 폴리비닐알코올 및 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유하는 배리어층 형성용 수지 조성물을 얻는다. 본 명세서에 있어서, "고형분"이란, 수지 조성물의 물, 유기용제 등의 휘발하는 물질을 제외한 불휘발분을 가리킨다. 즉, 건조 공정에서 휘발하지 않고 남는, 물, 유기용제 등의 용제 이외의 성분을 가리키며, 25℃ 부근의 실온에서 액상, 물엿 형상 및 왁스 형상의 것도 포함한다. First, a mixed solvent of, for example, a water-soluble resin containing polyvinyl alcohol, water heated to 70 to 90 ° C. so that the solid content is 10 to 20% by mass, and alcohols containing alcohols having 3 or more carbon atoms is added gradually, stirred for about 1 hour, and dissolved uniformly to obtain a resin composition for forming a barrier layer containing polyvinyl alcohol and alcohols having 3 or more carbon atoms. In this specification, "solid content" refers to the non-volatile matter except for volatilizing substances, such as water and an organic solvent, of a resin composition. That is, it refers to components other than solvents such as water and organic solvents that remain without volatilizing in the drying step, and include liquid, starch syrup, and waxy components at room temperature around 25°C.

다음으로, 배리어층 형성용 수지 조성물을 지지 필름 상에 도포하고, 건조하여 배리어층을 형성한다. 상기 배리어층 형성용 수지 조성물의 지지 필름 상에의 도포는, 예를 들면, 롤 코트, 콤마 코트, 그라비아 코트, 에어 나이프 코트, 다이코트, 바 코트, 스프레이 코트 등의 공지의 방법으로 실시할 수 있다. Next, the resin composition for forming a barrier layer is applied onto the support film and dried to form a barrier layer. The coating of the resin composition for forming the barrier layer on the supporting film may be performed by a known method such as roll coating, comma coating, gravure coating, air knife coating, die coating, bar coating, spray coating, etc. there is.

또한, 도포한 배리어층 형성용 수지 조성물의 건조는, 물 등의 용제의 적어도 일부를 제거할 수 있으면 특별히 제한은 없지만, 70∼150℃에서 5∼30분간 건조해도 된다. 건조 후, 배리어층 내의 잔존 용제량은, 후의 공정에서의 용제의 확산을 방지하는 견지에서, 2질량% 이하로 해도 된다. The drying of the applied resin composition for forming a barrier layer is not particularly limited as long as at least a part of the solvent such as water can be removed, but may be dried at 70 to 150°C for 5 to 30 minutes. After drying, the amount of solvent remaining in the barrier layer may be 2% by mass or less from the standpoint of preventing diffusion of the solvent in a later step.

다음으로, 배리어층이 형성되어 있는 지지 필름의 배리어층 상에, 감광성 수지 조성물을 배리어층 형성용 수지 조성물의 도포와 동일하게 도포하고 건조하여, 배리어층 상에 감광층을 형성해도 된다. 다음으로, 이와 같이 하여 형성된 감광층 상에 보호층을 라미네이트함으로써, 지지 필름과, 배리어층과, 감광층과, 보호층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트를 제작할 수 있다. 또한, 지지 필름 상에 배리어층을 형성한 것과, 보호층 상에 감광층을 형성한 것을 첩합(貼合)함으로써, 지지 필름과, 배리어층과, 감광층과 보호층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트를 얻어도 된다. Next, a photosensitive resin composition may be coated on the barrier layer of the support film on which the barrier layer is formed in the same manner as the coating of the resin composition for forming a barrier layer, followed by drying to form a photosensitive layer on the barrier layer. Next, by laminating a protective layer on the photosensitive layer thus formed, a photosensitive element comprising a support film, a barrier layer, a photosensitive layer, and a protective layer in this order can be produced. In addition, a photosensitivity provided with a support film, a barrier layer, a photosensitive layer, and a protective layer in this order by bonding together a barrier layer formed on a support film and a photosensitive layer formed on a protective layer. element can be obtained.

감광성 엘리먼트에 있어서의 감광층의 두께는, 용도에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 건조 후의 두께로, 1∼200㎛, 5∼100㎛, 또는, 10∼50㎛이어도 된다. 감광층의 두께가 1㎛ 이상임으로써, 공업적인 도공이 용이하게 되어, 생산성이 향상되는 경향이 있다. 또한, 감광층의 두께가 200㎛ 이하인 경우에는, 광감성이 높고, 레지스터 저부(底部)의 광경화성이 뛰어나기 때문에, 해상도 및 애스펙트비가 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있는 경향이 있다. The thickness of the photosensitive layer in the photosensitive element can be appropriately selected depending on the application, but may be 1 to 200 μm, 5 to 100 μm, or 10 to 50 μm as a thickness after drying. When the thickness of the photosensitive layer is 1 μm or more, industrial coating becomes easy and productivity tends to improve. In addition, when the thickness of the photosensitive layer is 200 μm or less, the photosensitivity is high and the photocurability of the resist bottom is excellent, so there is a tendency that a resist pattern with excellent resolution and aspect ratio can be formed.

감광성 엘리먼트에 있어서의 감광층의 110℃에 있어서의 용해 점도는, 감광층과 접하는 기재(基材)의 종류에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 건조 후, 110℃에 있어서, 50∼10000Pa·s, 100∼5000Pa·s, 또는, 200∼1000Pa·s이어도 된다. 110℃에 있어서의 용해 점도가 50Pa·s이상이면, 적층 공정에 있어서 주름 및 보이드가 발생하지 않게 되어, 생산성이 향상되는 경향이 있다. 또한, 110℃에 있어서의 용해 점도가 10000Pa·s 이하이면, 적층 공정에 있어서 하지(下地)와의 접착성이 향상되어, 접착 불량을 저감하는 경향이 있다. The melt viscosity at 110°C of the photosensitive layer of the photosensitive element can be appropriately selected according to the type of substrate in contact with the photosensitive layer, but after drying, at 110°C, it is 50 to 10000 Pa·s, 100 to 5000 Pa·s, or may be 200 to 1000 Pa·s. When the melt viscosity at 110°C is 50 Pa·s or more, wrinkles and voids do not occur in the lamination process, and productivity tends to improve. In addition, when the melt viscosity at 110°C is 10000 Pa·s or less, the adhesion to the substrate in the lamination step tends to improve, and adhesion failure tends to be reduced.

본 실시형태에 관련되는 감광성 엘리먼트의 형태는 특별히 제한되지 않는다. 예를 들면, 시트상(狀)이어도 되고, 권심(卷芯)에 롤상으로 권취(卷取)한 형상이어도 된다. 롤상으로 권취한 경우, 지지 필름이 외측이 되도록 권취해도 된다. 권심으로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌 수지, 폴리프로필렌 수지, 폴리스티렌 수지, 폴리염화비닐수지 또는 ABS 수지(아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 공중합체) 등의 플라스틱 등을 들 수 있다. The shape of the photosensitive element according to this embodiment is not particularly limited. For example, it may be in the form of a sheet, or it may be in the form of a roll wound around a core. When winding up in roll shape, you may wind up so that a support film may become the outside. As a winding core, plastics, such as a polyethylene resin, a polypropylene resin, a polystyrene resin, a polyvinyl chloride resin, or an ABS resin (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer), etc. are mentioned, for example.

이와 같이 하여 얻어진 롤상의 감광성 엘리먼트 롤의 단면(端面)에는, 단면 보호의 견지에서, 단면 세퍼레이터(separator)를 설치해도 되고, 또한, 내엣지 퓨전의 견지에서, 방습 단면 세퍼레이터를 설치해도 된다. 곤포 방법으로서는, 투습성이 작은 블랙 시트에 싸 포장해도 된다. An end surface separator may be provided on the end face of the roll-shaped photosensitive element roll obtained in this manner, or a moisture-proof end face separator may be provided from the standpoint of edge fusion resistance. As a packing method, it may be wrapped in a black sheet having low moisture permeability.

본 실시형태에 관련되는 감광성 엘리먼트는, 예를 들면, 후술하는 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법에 적합하게 사용할 수 있다. The photosensitive element according to the present embodiment can be suitably used in, for example, a resist pattern formation method and a printed wiring board manufacturing method described later.

[레지스터 패턴의 형성 방법][Formation method of register pattern]

본 실시형태에 관련되는 레지스터 패턴의 형성 방법은, (i) 상기 감광성 엘리먼트를 사용하여, 기판 상에, 그 기판측으로부터 감광층과 배리어층과 지지 필름을 이 순서로 배치하는 공정(이하, "(i) 감광층 및 배리어층 형성 공정"이라고도 한다)과, (ii) 상기 지지 필름을 제거하여, 상기 배리어층을 통하여 상기 감광층을 활성 광선에 의해 노광하는 공정(이하, "(ii) 노광 공정"이라고도 한다)과, (iii) 상기 배리어층 및 상기 감광층의 미경화부를 상기 기판 상으로부터 제거하는 공정(이하, "(iii) 현상 공정"이라고도 한다)을 구비하고, 필요에 따라 그 밖의 공정을 포함해도 된다. 또한, 레지스터 패턴이란, 감광성 수지 조성물의 광경화물 패턴이라고도 할 수 있고, 릴리프 패턴이라고도 할 수 있다. 또한, 목적에 따라, 본 실시형태에 있어서의 레지스터 패턴은, 레지스터로서 사용해도 되고, 보호막 등의 다른 용도에 사용해도 된다. The resist pattern formation method according to the present embodiment includes (i) a step of arranging a photosensitive layer, a barrier layer, and a support film in this order from the substrate side on a substrate using the photosensitive element (hereinafter referred to as " (i) also referred to as “photosensitive layer and barrier layer forming step”), and (ii) removing the supporting film and exposing the photosensitive layer to actinic light through the barrier layer (hereinafter referred to as “(ii) exposure and (iii) a step of removing uncured portions of the barrier layer and the photosensitive layer from the substrate (hereinafter also referred to as a "(iii) developing step"). process may be included. In addition, a resist pattern can also be called a photocured pattern of the photosensitive resin composition, and can also be called a relief pattern. Depending on the purpose, the resist pattern in this embodiment may be used as a resist or may be used for other purposes such as a protective film.

((i) 감광층 및 배리어층 형성 공정) ((i) photosensitive layer and barrier layer formation process)

감광층 및 배리어층 형성 공정에 있어서는, 기판 상에 상기 감광성 엘리먼트를 사용하여 감광층 및 배리어층을 형성한다. 상기 기판으로서는, 특별히 제한되지 않지만, 통상, 절연층과 절연층 상에 형성된 도체층을 구비한 회로 형성용 기판, 또는, 합금기재 등의 다이 패드(리드 프레임용 기재) 등이 사용된다. In the photosensitive layer and barrier layer forming step, a photosensitive layer and a barrier layer are formed on a substrate using the photosensitive element. The substrate is not particularly limited, but usually a substrate for circuit formation having an insulating layer and a conductor layer formed on the insulating layer, or a die pad (base material for lead frame) such as an alloy base material is used.

기판 상에 감광층 및 배리어층을 형성하는 방법으로서는, 예를 들면, 보호층을 가지고 있는 감광성 엘리먼트를 사용하는 경우에는, 보호층을 제거한 후, 감광성 엘리먼트의 감광층을 가열하면서 기판에 압착함으로써, 기판 상에 감광층 및 배리어층을 형성할 수 있다. 이에 의해, 기판과 감광층과 배리어층과 지지 필름을 이 순서로 구비하는 적층체를 얻을 수 있다. As a method of forming the photosensitive layer and the barrier layer on the substrate, for example, in the case of using a photosensitive element having a protective layer, after removing the protective layer, the photosensitive layer of the photosensitive element is pressed to the substrate while heating, A photosensitive layer and a barrier layer may be formed on the substrate. In this way, a laminate comprising the substrate, the photosensitive layer, the barrier layer and the support film in this order can be obtained.

감광성 엘리먼트를 사용하여 감광층 및 배리어층 형성 공정을 실시하는 경우에는, 밀착성 및 추종성의 견지에서, 감압하에서 실시해도 된다. 압착할 때의 가열은 70∼130℃의 온도에서 실시해도 되고, 압착은 0.1∼1.0MPa(1∼10kgf/cm2)의 압력으로 실시해도 되지만, 이들 조건은 필요에 따라 적절히 선택할 수 있다. 또한, 감광성 엘리먼트의 감광층을 70∼130℃로 가열하면, 미리 기판을 예열 처리하는 것은 필요하지 않지만, 밀착성 및 추종성을 더욱 향상시키기 위해서, 기판의 예열 처리를 실시할 수도 있다. In the case where the photosensitive layer and barrier layer formation step is performed using a photosensitive element, it may be performed under reduced pressure from the standpoint of adhesion and followability. Heating at the time of crimping may be performed at a temperature of 70 to 130°C, and crimping may be performed at a pressure of 0.1 to 1.0 MPa (1 to 10 kgf/cm 2 ), but these conditions can be appropriately selected as needed. In addition, if the photosensitive layer of the photosensitive element is heated to 70 to 130 DEG C, it is not necessary to preheat the substrate beforehand, but preheating of the substrate may be performed in order to further improve adhesion and followability.

((ii) 노광 공정) ((ii) exposure process)

노광 공정에 있어서는, 지지 필름을 제거하여, 배리어층을 통하여 감광층을 활성 광선에 의해 노광한다. 이에 의해, 활성 광선이 조사된 노광부가 광경화되어, 광경화부(잠상(潛像))가 형성되어 있어도 되고, 또한, 활성 광선이 조사되어 있지 않은 미노광부가 광경화되어, 광경화부가 형성되어 있어도 된다. 상기 감광성 엘리먼트를 사용하여 감광층 및 배리어층을 형성한 경우에는, 감광층 상에 존재하는 지지 필름을 박리한 후, 노광한다. 배리어층을 통하여 감광층을 노광함으로써, 해상성 및 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있다. In the exposure process, the support film is removed and the photosensitive layer is exposed to actinic light through the barrier layer. As a result, the exposed portion irradiated with actinic light is photocured and a photocured portion (latent image) may be formed, or the unexposed portion to which actinic light is not irradiated is photocured and a photocured portion is formed. There may be. In the case where the photosensitive layer and the barrier layer are formed using the photosensitive element, the support film present on the photosensitive layer is peeled off and then exposed. By exposing the photosensitive layer through the barrier layer, a resist pattern excellent in resolution and resist pattern shape can be formed.

노광 방법으로서는, 공지의 노광 방식을 적용할 수 있고, 예를 들면, 아트워크(artwork)라고 불리는 네가티브 혹은 포지티브 마스크 패턴을 통하여 활성 광선을 화상상(畵像狀)으로 조사하는 방법(마스크 노광 방식), LDI(Laser Direct Imaging) 노광 방식, 또는, 포토마스크(photomask)의 상을 투영시킨 활성 광선을 사용하여 렌즈를 통하여 화상상으로 조사하는 방법(투영 노광 방식) 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 해상성이 뛰어난 관점에서, 투영 노광 방식을 사용해도 된다. 즉, 본 실시형태에 관련되는 감광성 엘리먼트 등은, 투영 노광 방식으로 적용된다. 또한, 투영 노광 방식이란, 감쇠한 에너지량의 활성 광선을 사용하는 노광 방식이라고도 할 수 있다. As the exposure method, a known exposure method can be applied, and for example, a method in which actinic light is irradiated onto an image through a negative or positive mask pattern called artwork (mask exposure method) ), a laser-direct-imaging (LDI) exposure method, or a method (projection exposure method) of irradiating an image through a lens using actinic rays obtained by projecting an image on a photomask. Among them, a projection exposure method may be used from the viewpoint of excellent resolution. That is, the photosensitive element or the like according to the present embodiment is applied by a projection exposure method. In addition, the projection exposure method can also be referred to as an exposure method using actinic light having an amount of attenuated energy.

활성 광선의 광원으로서는, 통상 사용되는 공지의 광원이면 특별히 제한이 없고, 예를 들면, 카본 아크등, 수은 증기 아크등, 초고압 수은등, 고압 수은등, 크세논 램프, 아르곤 레이저 등의 가스 레이저, YAG 레이저 등의 고체 레이저, 질화갈륨계 청자색(靑紫色) 레이저 등의 반도체 레이저 등의 자외선을 유효하게 방사하는 것 등이 사용된다. 또한, 사진용 플러드(flood) 전구, 태양 램프 등의 가시광선을 유효하게 방사하는 것 등을 사용해도 된다. 이들 중에서는, 해상성 및 얼라이먼트성을 균형있게 향상시키는 관점에서, 노광 파장 365nm의 i선 단색광을 방사할 수 있는 광원, 노광 파장 405nm의 h선 단색광을 방사할 수 있는 광원, 또는, ihg 혼선(混線)의 노광 파장의 활성 광선을 방사할 수 있는 광원을 사용해도 되고, 그 중에서도 노광 파장 365nm의 i선 단색광을 방사할 수 있는 광원을 사용해도 된다. 노광 파장 365nm의 i선 단색광을 방사할 수 있는 광원으로서는, 예를 들면, 초고압 수은등 등을 들 수 있다. The light source of the actinic light is not particularly limited as long as it is a known light source that is normally used, and examples include carbon arc lamps, mercury vapor arc lamps, ultra-high pressure mercury lamps, high-pressure mercury lamps, xenon lamps, gas lasers such as argon lasers, YAG lasers, etc. A solid-state laser, a semiconductor laser such as a gallium nitride-based blue-violet laser, or the like that effectively emits ultraviolet rays is used. Moreover, you may use what emits visible light effectively, such as a flood light bulb for photography, and a solar lamp. Among these, a light source capable of emitting i-line monochromatic light with an exposure wavelength of 365 nm, a light source capable of emitting h-line monochromatic light with an exposure wavelength of 405 nm, or an ihg crosstalk ( A light source capable of emitting actinic light at an exposure wavelength of a dark line may be used, and among these, a light source capable of emitting i-line monochromatic light having an exposure wavelength of 365 nm may be used. As a light source capable of emitting i-line monochromatic light with an exposure wavelength of 365 nm, an ultra-high pressure mercury lamp or the like is exemplified.

((iii) 현상 공정) ((iii) development process)

현상 공정에 있어서는, 상기 배리어층 및 상기 감광층의 미경화부를 기판 상으로부터 제거한다. 현상 공정에 의해, 상기 감광층이 광경화된 광경화부로 이루어지는 레지스터 패턴이 기판 상에 형성된다. 배리어층이 수용성인 경우에는, 수세(水洗)하여 배리어층을 제거하고 나서, 상기 광경화부 이외의 미경화부를 현상액에 의해 제거해도 되고, 배리어층이 현상액에 대하여 용해성을 가지는 경우에는, 상기광경화부 이외의 미경화부와 함께 배리어층을 현상액에 의해 제거해도 된다. 현상 방법에는, 웨트 현상을 들 수 있다. In the developing step, uncured portions of the barrier layer and the photosensitive layer are removed from the substrate. By the developing process, a resist pattern composed of a photocured portion in which the photosensitive layer is photocured is formed on the substrate. When the barrier layer is water-soluble, after removing the barrier layer by washing with water, the uncured portion other than the photocured portion may be removed with a developing solution. When the barrier layer is soluble in the developing solution, the photocured portion may be removed. Together with the other uncured portions, the barrier layer may be removed with a developing solution. Wet development is mentioned as a developing method.

웨트 현상의 경우는, 감광성 수지 조성물에 대응한 현상액을 사용하여, 공지의 웨트 현상 방법에 의해 현상할 수 있다. 웨트 현상 방법으로서는, 예를 들면, 딥 방식, 패들 방식, 고압 스프레이 방식, 브러싱(brushing), 슬랩핑(slapping), 스크러빙(scrubbing), 요동 침지(搖動浸漬) 등을 사용한 방법 등을 들 수 있고, 해상성 향상의 관점에서는, 고압 스프레이 방식이 가장 적합하다. 이들 웨트 현상 방법은 1종을 단독으로 또는 2종 이상의 방법을 조합하여 현상해도 된다. In the case of wet development, it can develop by a well-known wet development method using the developing solution corresponding to the photosensitive resin composition. As the wet developing method, for example, a dip method, a paddle method, a high-pressure spray method, brushing, slapping, scrubbing, a method using shaking dipping, etc. are exemplified. , From the viewpoint of improving resolution, the high-pressure spray method is most suitable. You may develop these wet developing methods individually by 1 type or combining 2 or more types of methods.

현상액은, 상기 감광성 수지 조성물의 구성에 따라 적절히 선택된다. 예를 들면, 알칼리성 수용액 및 유기용제 현상액을 들 수 있다. A developer is appropriately selected depending on the constitution of the photosensitive resin composition. For example, alkaline aqueous solution and organic solvent developing solution are mentioned.

안전 또한 안정하고, 조작성이 양호한 견지에서, 현상액으로서, 알칼리성 수용액을 사용해도 된다. 알칼리성 수용액의 염기로서는, 예를 들면, 리튬, 나트륨 혹은 칼륨의 수산화물 등의 수산화알칼리, 리튬, 나트륨, 칼륨 혹은 암모늄의 탄산염 또는 중탄산염 등의 탄산알칼리, 인산칼륨, 인산나트륨 등의 알칼리 금속 인산염, 피로인산나트륨, 피로인산칼륨 등의 알칼리 금속 피로인산염, 붕산나트륨, 메타규산나트륨, 수산화테트라메틸암모늄, 에탄올아민, 에틸렌디아민, 디에틸렌트리아민, 2-아미노-2-히드록시메틸-1,3-프로판디올, 1,3-디아미노-2-프로판올 및 모르폴린이 사용된다. From the standpoint of safety and stability and good operability, an alkaline aqueous solution may be used as the developing solution. As the base of the alkaline aqueous solution, for example, alkali hydroxides such as hydroxides of lithium, sodium or potassium, alkali carbonates such as carbonates or bicarbonates of lithium, sodium, potassium or ammonium, alkali metal phosphates such as potassium phosphate, sodium phosphate, pyrolysis Alkali metal pyrophosphates such as sodium phosphate and potassium pyrophosphate, sodium borate, sodium metasilicate, tetramethylammonium hydroxide, ethanolamine, ethylenediamine, diethylenetriamine, 2-amino-2-hydroxymethyl-1,3- Propanediol, 1,3-diamino-2-propanol and morpholine are used.

현상에 사용되는 알칼리성 수용액으로서는, 예를 들면, 0.1∼5질량% 탄산나트륨의 희박용액, 0.1∼5질량% 탄산칼륨의 희박용액, 0.1∼5질량% 수산화나트륨의 희박용액, 0.1∼5질량% 4 붕산나트륨의 희박용액 등을 사용할 수 있다. 또한, 현상에 사용되는 알칼리성 수용액의 pH는, 9∼11의 범위로 해도 되고, 알칼리성 수용액의 온도는, 감광층의 현상성에 맞추어 조절할 수 있다. 또한, 알칼리성 수용액 중에는, 예를 들면, 표면활성제, 소포제, 현상을 촉진시키기 위한 소량의 유기용제 등을 혼입시켜도 된다. 또한, 알칼리성 수용액에 사용되는 유기용제로서는, 예를 들면, 3-아세톤알코올, 아세톤, 아세트산에틸, 탄소수 1∼4의 알콕시기를 가지는 알콕시에탄올, 에틸알코올, 이소프로필알코올, 부틸알코올, 디에틸렌글리콜모노메틸에테르, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르 및 디에틸렌글리콜모노부틸에테르를 들 수 있다. As the alkaline aqueous solution used for development, for example, a 0.1 to 5% by mass dilute solution of sodium carbonate, a 0.1 to 5% by mass dilute solution of potassium carbonate, a 0.1 to 5% by mass dilute solution of sodium hydroxide, and a 0.1 to 5% by mass 4 A dilute solution of sodium borate or the like can be used. In addition, the pH of the alkaline aqueous solution used for development may be in the range of 9 to 11, and the temperature of the alkaline aqueous solution can be adjusted according to the developability of the photosensitive layer. Further, in the alkaline aqueous solution, for example, a surface active agent, an antifoaming agent, and a small amount of an organic solvent for accelerating image development may be incorporated. Examples of the organic solvent used for the alkaline aqueous solution include 3-acetone alcohol, acetone, ethyl acetate, alkoxyethanol having an alkoxy group of 1 to 4 carbon atoms, ethyl alcohol, isopropyl alcohol, butyl alcohol, and diethylene glycol mono. methyl ether, diethylene glycol monoethyl ether and diethylene glycol monobutyl ether.

유기용제 현상액에 사용되는 유기용제로서는, 예를 들면, 1,1,1-트리클로로에탄, N-메틸피롤리돈, N,N-디메틸폼아미드, 시클로헥사논, 메틸이소부틸케톤 및 γ-부티로락톤을 들 수 있다. 이들 유기용제는, 인화(引火) 방지의 관점에서, 1∼20질량%의 범위가 되도록 물을 첨가하여 유기용제 현상액으로 해도 된다. Examples of organic solvents used in the developing solution include 1,1,1-trichloroethane, N-methylpyrrolidone, N,N-dimethylformamide, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone, and γ- Butyrolactone can be mentioned. From the viewpoint of preventing ignition, these organic solvents may be used as an organic solvent developer by adding water so as to be in the range of 1 to 20% by mass.

(그 밖의 공정) (Other processes)

본 실시형태에 관련되는 레지스터 패턴의 형성 방법에서는, 현상 공정에 있어서 미경화부를 제거한 후, 필요에 따라 60∼250℃에서의 가열 또는 0.2∼10J/cm2의 노광량으로의 노광을 실시함으로써 레지스터 패턴을 더욱 경화하는 공정을 포함해도 된다. In the resist pattern formation method according to the present embodiment, after removing the uncured portion in the developing step, heating at 60 to 250°C or exposure at an exposure amount of 0.2 to 10 J/cm 2 is performed as necessary to resist the resist pattern. You may also include the process of further hardening.

[프린트 배선판의 제조 방법][Method of Manufacturing Printed Wiring Board]

본 실시형태에 관련되는 프린트 배선판의 제조 방법은, 상기 레지스터 패턴의 형성 방법에 의해 레지스터 패턴이 형성된 기판을 에칭 처리 또는 도금 처리하여 도체 패턴을 형성하는 공정을 포함하고, 필요에 따라 레지스터 패턴 제거 공정 등의 그 밖의 공정을 포함해도 된다. 본 실시형태에 관련되는 프린트 배선판의 제조 방법은, 상기 감광성 엘리먼트에 의한 레지스터 패턴의 형성 방법을 사용함으로써, 도체 패턴의 형성에 적합하게 사용할 수 있지만, 그 중에서도, 도금 처리에 의해 도체 패턴을 형성하는 방법에의 응용이 보다 적합하다. 또한, 도체 패턴은, 회로이라고도 할 수 있다. The method for manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment includes a step of forming a conductor pattern by etching or plating a substrate on which a resist pattern is formed by the above resist pattern formation method, and, if necessary, a step of removing the resist pattern. You may also include other processes, such as. The method for manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment can be suitably used for formation of a conductor pattern by using the method for forming a resist pattern using the photosensitive element. Application to the method is more suitable. A conductor pattern can also be referred to as a circuit.

에칭 처리에서는, 도체층을 구비한 기판 상에 형성된 레지스터 패턴을 마스크로 하고, 레지스터에 의해 피복되어 있지 않은 기판의 도체층을 에칭 제거하여, 도체 패턴을 형성한다. In the etching process, a resist pattern formed on a substrate having a conductor layer is used as a mask, and the conductor layer of the substrate not covered with the resist is etched away to form a conductor pattern.

에칭 처리의 방법은, 제거해야 할 도체층에 따라 적절히 선택된다. 에칭액으로서는, 예를 들면, 염화제2구리 용액, 염화제2철 용액, 알칼리 에칭 용액, 과산화수소계 에칭액 등을 들 수 있고, 에치 팩터(etch factor)가 양호한 점에서, 염화제2철 용액을 사용해도 된다. A method of etching treatment is appropriately selected depending on the conductor layer to be removed. Examples of the etchant include cupric chloride solution, ferric chloride solution, alkaline etching solution, and hydrogen peroxide-based etchant. Since the etch factor is good, a ferric chloride solution is used can also

한편, 도금 처리에서는, 도체층을 구비한 기판 상에 형성된 레지스터 패턴을 마스크로 하여, 레지스터에 의해 피복되어 있지 않은 기판의 도체층 상에 구리 또는 땜납 등을 도금한다. 도금 처리 후, 후술하는 레지스터 패턴의 제거에 의해 레지스터를 제거하고, 또한 이 레지스터에 의해 피복되어 있던 도체층을 에칭하여, 도체 패턴을 형성한다. On the other hand, in the plating process, copper, solder, or the like is plated on the conductor layer of the substrate not covered by the resist, using the resist pattern formed on the substrate having the conductor layer as a mask. After the plating process, the resist is removed by removing the resist pattern described later, and further, the conductor layer covered by the resist is etched to form a conductor pattern.

도금 처리의 방법으로서는, 전해도금 처리이어도, 무전해도금 처리이어도 되지만, 그 중에서도 무전해도금 처리이어도 된다. 무전해도금 처리로서는, 예를 들면, 황산구리 도금, 피로인산구리 도금 등의 구리 도금, 하이 슬로우 땜납 도금 등의 땜납 도금, 와트욕(浴)(황산니켈-염화니켈) 도금, 설퍼아민산니켈 도금 등의 니켈 도금, 하드 금도금, 소프트 금도금 등의 금도금을 들 수 있다. The method of the plating treatment may be an electroplating treatment or an electroless plating treatment, but among them, an electroless plating treatment may be used. Examples of the electroless plating treatment include copper plating such as copper sulfate plating and copper pyrophosphate plating, solder plating such as high-slow solder plating, Watt bath (nickel sulfate-nickel chloride) plating, and nickel sulfuramine plating. Gold plating, such as nickel plating, hard gold plating, and soft gold plating, is mentioned.

상기 에칭 처리 또는 도금 처리 후, 기판 상의 레지스터 패턴은 제거된다. 레지스터 패턴의 제거는, 예를 들면, 상기 현상 공정에 사용된 알칼리성 수용액보다도 더욱 강알칼리성의 수용액에 의해 박리할 수 있다. 이 강알칼리성의 수용액으로서는, 예를 들면, 1∼10질량% 수산화나트륨 수용액, 1∼10질량% 수산화칼륨 수용액 등이 사용된다. 이들 중에서는, 1∼5질량% 수산화나트륨 수용액 또는 수산화칼륨 수용액을 사용해도 된다. After the above etching treatment or plating treatment, the resist pattern on the substrate is removed. The resist pattern can be removed by, for example, an aqueous solution more strongly alkaline than the alkaline aqueous solution used in the developing step. As this strongly alkaline aqueous solution, 1-10 mass % sodium hydroxide aqueous solution, 1-10 mass % potassium hydroxide aqueous solution, etc. are used, for example. Among these, you may use 1-5 mass % sodium hydroxide aqueous solution or potassium hydroxide aqueous solution.

레지스터 패턴의 제거 방식으로서는, 예를 들면, 침지 방식 및 스프레이 방식을 들 수 있고, 이들은 단독으로 사용해도 되고, 병용해도 된다. Examples of the resist pattern removal method include an immersion method and a spray method, and these may be used alone or in combination.

도금 처리를 실시하고 나서 레지스터 패턴을 제거한 경우, 에칭 처리에 의해 레지스터로 피복되어 있던 도체층을 더 에칭하여, 도체 패턴을 형성함으로써 원하는 프린트 배선판을 제조할 수 있다. 이 때의 에칭 처리의 방법은, 제거해야 할 도체층에 따라 적절히 선택된다. 예를 들면, 상술한 에칭액을 적용할 수 있다. When the resist pattern is removed after performing the plating process, a desired printed wiring board can be manufactured by further etching the conductor layer covered with the resist by the etching process and forming the conductor pattern. The method of etching treatment at this time is appropriately selected according to the conductor layer to be removed. For example, the etchant described above can be applied.

본 실시형태에 관련되는 프린트 배선판의 제조 방법은, 단층 프린트 배선판 뿐만 아니라, 다층 프린트 배선판의 제조에도 적용 가능하고, 또한 소경(小徑) 스루홀(through hole)을 가지는 프린트 배선판 등의 제조에도 적용 가능하다. The method for manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment can be applied not only to single-layer printed wiring boards but also to multi-layer printed wiring boards, and is also applied to the production of printed wiring boards and the like having small-diameter through holes. possible.

본 실시형태에 관련되는 프린트 배선판의 제조 방법은, 고밀도 패키지 기판의 제조, 특히 세미 애더티브 공법에 의한 배선판의 제조에 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 세미 애더티브 공법에 의한 배선판의 제조 공정의 일례를 도 2에 나타낸다. The method for manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment can be suitably used for manufacturing a high-density package substrate, particularly for manufacturing a wiring board by a semi-additive method. In addition, an example of the manufacturing process of the wiring board by the semi-additive construction method is shown in FIG.

도 2(a)에서는, 절연층(50) 상에 도체층(40)이 형성된 기판(회로 형성용 기판)을 준비한다. 도체층(40)은, 예를 들면, 구리층이다. 도 2(b)에서는, 상기 감광층 및 배리어층 형성 공정에 의해, 기판의 도체층(40) 상에 감광층(30) 및 배리어층(20)을 형성한다. 도 2(c)에서는, 상기 노광 공정에 의해, 배리어층(20)을 통하여 감광층(30) 상에 포토마스크의 상(像)을 투영시킨 활성 광선(80)을 조사하여, 감광층(30)에 광경화부를 형성한다. 도 2(d)에서는, 현상 공정에 의해, 상기 노광 공정에 의해 형성된 광경화부 이외의 영역(배리어층을 포함한다)을 기판 상으로부터 제거함으로써, 기판 상에 광경화부인 레지스터 패턴(32)을 형성한다. 도 2(e)에서는, 광경화부인 레지스터 패턴(32)을 마스크로 하는 도금 처리에 의해, 레지스터에 의해 피복되어 있지 않은 기판의 도체층(40) 상에 도금층(60)을 형성한다. 도 2(f)에서는, 광경화부인 레지스터 패턴(32)을 강알칼리의 수용액에 의해 박리한 후, 플래시 에칭 처리에 의해, 레지스터 패턴(32)로 마스크되어 있던 도체층(40)을 제거하여, 에칭 처리 후의 도금층(62) 및 에칭 처리 후의 도체층(42)을 포함하는 도체 패턴(70)을 형성한다. 도체층(40)과 도금층(60)은, 재질이 동일해도 되고, 상이해도 된다. 도체층(40)과 도금층(60)이 동일한 재질인 경우, 도체층(40)과 도금층(60)이 일체화되어 있어도 된다. 또한, 도 2에서는 투영 노광 방식에 관하여 설명했지만, 마스크 노광 방식, LDI 노광 방식을 병용하여 레지스터 패턴(32)을 형성해도 된다. In FIG. 2( a ), a substrate (substrate for circuit formation) on which a conductor layer 40 is formed on an insulating layer 50 is prepared. The conductor layer 40 is, for example, a copper layer. In FIG. 2( b ), the photosensitive layer 30 and the barrier layer 20 are formed on the conductor layer 40 of the substrate by the photosensitive layer and barrier layer forming process. In FIG. 2(c), in the exposure step, actinic light 80 projecting an image of a photomask onto the photosensitive layer 30 through the barrier layer 20 is irradiated, and the photosensitive layer 30 ) to form a photocured part. In FIG. 2(d), a resist pattern 32 as a photocured portion is formed on the substrate by removing a region (including a barrier layer) other than the photocured portion formed by the exposure step from the substrate in the developing step. do. In FIG. 2(e), a plating layer 60 is formed on the conductor layer 40 of the substrate not covered with the resist by a plating process using the resist pattern 32 as a photocured portion as a mask. In Fig. 2(f), after the resist pattern 32 as a photocured portion is peeled off with an aqueous solution of strong alkali, the conductor layer 40 masked by the resist pattern 32 is removed by flash etching treatment, followed by etching. A conductor pattern 70 including the plating layer 62 after treatment and the conductor layer 42 after etching treatment is formed. The materials of the conductor layer 40 and the plating layer 60 may be the same or different. When the conductor layer 40 and the plating layer 60 are made of the same material, the conductor layer 40 and the plating layer 60 may be integrated. In addition, although the projection exposure method was demonstrated in FIG. 2, the resist pattern 32 may be formed by using both the mask exposure method and the LDI exposure method.

이상, 본 개시의 적합한 실시형태에 관하여 설명했지만, 본 개시는 상기 실시형태에 아무런 한정되는 것은 아니다.
As mentioned above, although preferred embodiment of this indication was described, this indication is not limited to the said embodiment in any way.

실시예Example

이하, 실시예에 근거하여 본 개시를 보다 구체적으로 설명하지만, 본 개시는 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 특별히 단정짓지 않는 한, "부" 및 "%"는 질량 기준이다. Hereinafter, the present disclosure will be described in more detail based on examples, but the present disclosure is not limited to the following examples. In addition, "part" and "%" are based on mass unless otherwise specified.

우선, 하기 표 1∼3에 나타내는 바인더 폴리머(A-1)를 합성예 1에 따라 합성했다. First, the binder polymer (A-1) shown in Tables 1 to 3 was synthesized according to Synthesis Example 1.

<합성예 1><Synthesis Example 1>

중합성 단량체로서 메타크릴산 125g, 메타크릴산메틸 25g, 벤질메타크릴레이트 125g 및 스티렌 225g과, 아조비스이소부티로니트릴 1.5g을 혼합하여, 용액 a를 조제했다. A solution a was prepared by mixing 125 g of methacrylic acid, 25 g of methyl methacrylate, 125 g of benzyl methacrylate, and 225 g of styrene as polymerizable monomers, and 1.5 g of azobisisobutyronitrile.

또한, 메틸셀로솔브 60g 및 톨루엔 40g의 혼합액(질량비 3:2) 100g에, 아조비스이소부티로니트릴 1.2g을 용해하여, 용액 b를 조제했다. Furthermore, 1.2 g of azobisisobutyronitrile was dissolved in 100 g of a liquid mixture of 60 g of methyl cellosolve and 40 g of toluene (mass ratio 3:2) to prepare a solution b.

한편, 교반기, 환류 냉각기, 온도계, 적하 로트 및 질소가스 도입관을 구비한 플라스크에, 질량비 3:2인 메틸셀로솔브 및 톨루엔의 혼합액(이하, "혼합액x"라고도 한다) 400g을 첨가하고, 질소가스를 불어넣으면서 교반하여, 80℃ 까지 가열했다. On the other hand, to a flask equipped with a stirrer, a reflux condenser, a thermometer, a dropping funnel, and a nitrogen gas inlet tube, 400 g of a mixture of methyl cellosolve and toluene having a mass ratio of 3:2 (hereinafter also referred to as “mixture x”) was added, It was stirred while blowing nitrogen gas and heated to 80 degreeC.

플라스크 내의 혼합액 x에 상기 용액 a를 4시간 걸쳐 적하 속도를 일정하게 하여 적하한 후, 80℃에서 2시간 교반했다. 이어서, 이 플라스크 내의 용액에, 상기 용액 b를 10분간 걸쳐 적하 속도를 일정하게 하여 적하한 후, 플라스크 내의 용액을 80℃에서 3시간 교반했다. 또한, 플라스크 내의 용액을 30분간 걸쳐 90℃까지 승온시켜, 90℃에서 2시간 보온한 후, 실온까지 냉각하여 바인더 폴리머(A-1)의 용액을 얻었다. 이 바인더 폴리머(A-1)의 용액은, 혼합액 x를 첨가하여 불휘발 성분(고형분)이 50질량%가 되도록 조제했다. The solution a was added dropwise to the liquid mixture x in the flask at a constant dropping rate over 4 hours, and then stirred at 80°C for 2 hours. Subsequently, the solution b was added dropwise to the solution in the flask over 10 minutes at a constant dropping rate, and then the solution in the flask was stirred at 80°C for 3 hours. Furthermore, the temperature of the solution in the flask was raised to 90°C over 30 minutes, kept warm at 90°C for 2 hours, and then cooled to room temperature to obtain a solution of binder polymer (A-1). The solution of this binder polymer (A-1) was prepared so that the non-volatile component (solid content) would be 50 mass % by adding the liquid mixture x.

바인더 폴리머(A-1)의 중량평균분자량은 50,000이며, 산가는 163mgKOH/g이었다. 또한, 산가는, 중화적정법으로 측정했다. 구체적으로는, 바인더 폴리머의 용액 1g에 아세톤 30g을 첨가하고, 더욱 균일하게 용해시킨 후, 지시약인 페놀프탈레인을, 상기 바인더 폴리머의 용액에 적당량 첨가하고, 0.1N의 KOH 수용액을 사용하여 적정을 실시함으로써 측정했다. 중량평균분자량은, 겔 침투 크로마토그래피법(GPC)에 의해 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 사용하여 환산함으로써 도출했다. GPC의 조건은, 이하에 나타낸다. The weight average molecular weight of the binder polymer (A-1) was 50,000, and the acid value was 163 mgKOH/g. In addition, the acid value was measured by the neutralization titration method. Specifically, after adding 30 g of acetone to 1 g of the binder polymer solution, dissolving it more uniformly, adding an appropriate amount of phenolphthalein as an indicator to the binder polymer solution, and performing titration using a 0.1 N KOH aqueous solution. Measured. The weight average molecular weight was determined by gel permeation chromatography (GPC) and converted using a standard polystyrene standard curve. The conditions of GPC are shown below.

-GPC 조건--GPC conditions-

펌프:히타치 L-6000형(가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼제) Pump: Hitachi L-6000 type (manufactured by Hitachi Seisakusho Co., Ltd.)

컬럼:이하의 합계 3개(컬럼 사양:10.7mmφ×300mm, 모두 히타치가세이 가부시키가이샤제)Column: 3 columns in total as follows (Column specification: 10.7mmφ×300mm, all manufactured by Hitachigasei Co., Ltd.)

Gelpack GL-R420Gelpack GL-R420

Gelpack GL-R430Gelpack GL-R430

Gelpack GL-R440Gelpack GL-R440

용리액:테트라히드로푸란 Eluent: tetrahydrofuran

시료 농도:고형분이 50질량%의 바인더 폴리머를 120mg 채취하고, 5mL의 테트라히드로푸란에 용해하여 시료를 조제했다. Sample concentration: 120 mg of a binder polymer having a solid content of 50% by mass was sampled and dissolved in 5 mL of tetrahydrofuran to prepare a sample.

측정 온도:25℃Measurement temperature: 25 degrees Celsius

유량:2.05mL/분 Flow rate: 2.05mL/min

검출기:히타치 L-3300형RI(가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼제, 제품명)Detector: Hitachi L-3300 RI (manufactured by Hitachi Seisakusho Co., Ltd., product name)

<배리어층 형성용 수지 조성물의 조제><Preparation of resin composition for forming barrier layer>

다음으로, 하기 표 1∼표 3에 나타내는 각 성분을 그 표에 나타내는 양(단위:질량부)으로 혼합함으로써, 배리어층 형성용 수지 조성물을 얻었다. 구체적으로는, 수용성 수지를 실온의 물 및 알코올류에 천천히 첨가하고, 전량 첨가 후, 90℃까지 가열했다. 90℃에 도달한 후, 1시간 교반하고, 실온까지 냉각하여, 배리어층 형성용 수지 조성물을 얻었다. 또한, 표 1∼표 3중의 용제 이외의 배합량은, 모두 고형분으로의 배합량이다. Next, the resin composition for barrier layer formation was obtained by mixing each component shown to following Table 1 - Table 3 in the quantity (unit: mass part) shown in the table|surface. Specifically, the water-soluble resin was slowly added to room temperature water and alcohols, and after the entire amount was added, it was heated to 90°C. After reaching 90 degreeC, it stirred for 1 hour, cooled to room temperature, and obtained the resin composition for barrier layer formation. In addition, the compounding quantities other than the solvent in Table 1 - Table 3 are all compounding quantities in solid content.

 <감광성 수지 조성물의 조제><Preparation of photosensitive resin composition>

다음으로, 하기 표 1∼표 3에 나타내는 각 성분을 그 표에 나타내는 양(단위:질량부)으로 혼합함으로써, 감광성 수지 조성물을 얻었다. Next, the photosensitive resin composition was obtained by mixing each component shown to following Table 1 - Table 3 in the quantity (unit: mass part) shown in the table|surface.

Figure 112018011921300-pct00011
Figure 112018011921300-pct00011

Figure 112018011921300-pct00012
Figure 112018011921300-pct00012

Figure 112018011921300-pct00013
Figure 112018011921300-pct00013

표 1∼표 3 중의 각 성분의 상세(詳細)는 이하와 같다. Details of each component in Tables 1 to 3 are as follows.

(수용성 수지)(water soluble resin)

*1:폴리비닐알코올 PVA-205(가부시키가이샤 쿠라레제, 제품명, 비누화도=87몰%, 평균 중합도=500)*1: Polyvinyl alcohol = PVA-205 (Kuraray Co., Ltd., product name, degree of saponification = 87 mol%, average degree of polymerization = 500)

*2:폴리비닐알코올 PVA-203(가부시키가이샤 쿠라레제, 제품명, 비누화도=87몰%, 평균 중합도=300)*2: Polyvinyl alcohol = PVA-203 (Kuraray Co., Ltd., product name, degree of saponification = 87 mol%, average degree of polymerization = 300)

*3:폴리비닐알코올 PVA-210(가부시키가이샤 쿠라레제, 제품명, 비누화도=87몰%, 평균 중합도=1000)*3: Polyvinyl alcohol = PVA-210 (Kuraray Co., Ltd., product name, degree of saponification = 87 mol%, average degree of polymerization = 1000)

*4:폴리비닐피롤리돈 K-30(가부시키가이샤 니혼쇼쿠바이제, 제품명)*4: Polyvinylpyrrolidone K-30 (manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd., product name)

(A)성분:바인더 폴리머(A) Component: Binder polymer

*5:(A-1)(합성예 1에서 얻어진 바인더 폴리머(A-1)) *5: (A-1) (binder polymer (A-1) obtained in Synthesis Example 1)

메타크릴산/메타크릴산메틸/벤질메타크릴레이트/스티렌Methacrylic acid / methyl methacrylate / benzyl methacrylate / styrene

=25/5/25/45(질량비), 중량평균분자량=50,000, 고형분 =50질량%, 메틸셀로솔브/톨루엔=3/2(질량비) 용액= 25/5/25/45 (mass ratio), weight average molecular weight = 50,000, solid content = 50 mass%, methylcellosolve/toluene = 3/2 (mass ratio) solution

(B)성분:에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물(B) component: photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond

*6:FA-321M(히타치가세이 가부시키가이샤제, 제품명)*6: FA-321M (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., product name)

2,2-비스(4-(메타크릴옥시펜타에톡시)페닐)프로판2,2-bis(4-(methacryloxypentaethoxy)phenyl)propane

*7:FA-024M(히타치가세이 가부시키가이샤제, 제품명)*7: FA-024M (manufactured by Hitachigasei Co., Ltd., product name)

EOPO 변성 디메타크릴레이트EOPO modified dimethacrylate

*8:BPE-200(신나카무라가가쿠고교 가부시키가이샤제, 제품명)*8: BPE-200 (manufactured by Shin Nakamura Chemical Industry Co., Ltd., product name)

2,2-비스(4-(메타크릴옥시디에톡시)페닐)프로판2,2-bis(4-(methacryloxydiethoxy)phenyl)propane

*9:BP-2 EM(쿄에이샤가가쿠 가부시키가이샤제, 제품명)*9: BP-2 EM (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd., product name)

2,2-비스(4-(메타크릴옥시폴리에톡시)페닐)프로판2,2-bis(4-(methacryloxypolyethoxy)phenyl)propane

*10:DPEA-12(니폰가야쿠 가부시키가이샤제, 제품명) *10: DPEA-12 (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., product name)

에틸렌옥사이드 변성 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트Ethylene oxide modified dipentaerythritol hexaacrylate

(C)성분:광중합 개시제(C) component: photopolymerization initiator

*11:B-CIM(호도가야가가쿠고교 가부시키가이샤제, 제품명)*11: B-CIM (manufactured by Hodogaya Gagaku Kogyo Co., Ltd., product name)

2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐비스이미다졸2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetraphenylbisimidazole

(D)성분:광증감제(D) component: photosensitizer

*12:EAB(호도가야가가쿠고교 가부시키가이샤제, 제품명)*12: EAB (manufactured by Hodogaya Gagaku Kogyo Co., Ltd., product name)

4,4'-비스(디에틸아미노)벤조페논4,4'-bis(diethylamino)benzophenone

(E)성분:중합 금지제(E) Ingredient: Polymerization inhibitor

*13:TBC(DIC 가부시키가이샤제)*13: TBC (manufactured by DIC Co., Ltd.)

4-tert-부틸카테콜
4-tert-butylcatechol

[실시예 1∼15 및 비교예 1∼7][Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7]

<감광성 엘리먼트의 제작><Production of photosensitive element>

감광성 엘리먼트의 지지 필름으로서, 표 1∼표 3에 나타낸 PET 필름을 준비했다. As a support film for the photosensitive element, PET films shown in Tables 1 to 3 were prepared.

표 1∼표 3에 나타낸 PET 필름의 상세는 이하와 같다. Details of the PET films shown in Tables 1 to 3 are as follows.

FB40:활제층을 표리(表裏)에 가지는 3층 구조의 2축 배향 PET 필름(도레이 가부시키가이샤제, 제품명, 두께:16㎛) FB40: Biaxially oriented PET film with a three-layer structure having a lubricant layer on the front and back (manufactured by Toray Industries, Ltd., product name, thickness: 16 μm)

A1517:활제층(滑劑層)을 편면(片面)에 가지는 2층 구조의 2축 배향 PET 필름(토요보우세키 가부시키가이샤제, 제품명, 두께:16㎛)A1517: Biaxially oriented PET film with a two-layer structure having a lubricant layer on one side (manufactured by Toyobo Seki Co., Ltd., product name, thickness: 16 μm)

G2H:활제(滑劑)를 함유하는 단층 구조(활제 혼련(kneading) 타입)의 2축 배향 PET 필름(테이진 듀퐁 필름 가부시키가이샤제, 제품명, 두께:15.5㎛m)G2H: Biaxially oriented PET film with a single layer structure (lubricant kneading type) containing a lubricant (manufactured by Teijin DuPont Film Co., Ltd., product name, thickness: 15.5 µm)

(배리어층의 제작) (Manufacture of barrier layer)

이어서, PET 필름(지지 필름) 상에 두께가 균일하게 되도록, 배리어층 형성용 수지 조성물을 도포하고, 95℃의 열풍 대류식 건조기로 10분간 건조하고, 건조 후의 두께가 5㎛인 배리어층을 형성했다. 또한, PET 필름의 양면에서 활제의 밀도가 상이한 경우에는, PET 필름의 활제가 적은 면에 배리어층을 형성하고, PET 필름의 편면에 활제층을 가지는 경우에는, PET 필름의 활제층측의 면에 배리어층을 형성했다. Subsequently, a resin composition for forming a barrier layer was applied on a PET film (support film) to a uniform thickness, and dried in a hot air convection dryer at 95° C. for 10 minutes to form a barrier layer having a thickness of 5 μm after drying. did. In addition, when the density of the lubricant is different on both sides of the PET film, a barrier layer is formed on the side with less lubricant, and when the PET film has a lubricant layer on one side, a barrier layer is formed on the side of the PET film on the side of the lubricant layer. layer was formed.

(감광층의 제작) (Production of photosensitive layer)

다음으로, 지지 필름의 배리어층 상에, 두께가 균일하게 되도록 감광성 수지 조성물을 도포하고, 100℃의 열풍 대류식 건조기로 10분간 건조하고, 건조 후의 두께가 10㎛인 감광층을 형성했다. Next, the photosensitive resin composition was applied on the barrier layer of the support film so as to have a uniform thickness, and dried for 10 minutes in a hot air convection dryer at 100° C. to form a photosensitive layer having a thickness after drying of 10 μm.

다음으로, 이 감광층 상에, 폴리에틸렌제 보호 필름(보호층)(타마폴리 가부시키가이샤제, 제품명 "NF-15")를 첩합하고, PET 필름(지지 필름)과, 배리어층과, 감광층과, 보호층이 이 순서로 적층된 감광성 엘리먼트를 얻었다. Next, on this photosensitive layer, a polyethylene protective film (protective layer) (manufactured by Tamapoly Co., Ltd., product name "NF-15") was bonded, and a PET film (support film), a barrier layer, and a photosensitive layer were formed. and a protective layer were laminated in this order to obtain a photosensitive element.

<잔존 알코올류량의 측정><Measurement of residual alcohol content>

형성된 배리어층에 있어서의 잔존 알코올류의 양은, 가스 크로마토그래피 질량분석법에 의해 측정되었다. 가스 크로마토그래피 질량 분석의 측정 조건은, 하기와 같다. 또한, 표 1, 표 2 및 표 3의 항목 "배리어층에 있어서의 잔존 알코올류량"은, 탄소수 3 이상의 알코올류의 양을 나타낸다. 또한, "<1.0"은, 0을 초과하고 1.0 미만을 의미한다. The amount of residual alcohols in the formed barrier layer was measured by gas chromatography mass spectrometry. The measurement conditions for gas chromatography mass spectrometry are as follows. In Table 1, Table 2, and Table 3, the item “amount of alcohol remaining in the barrier layer” indicates the amount of alcohol having 3 or more carbon atoms. In addition, "<1.0" means more than 0 and less than 1.0.

(가스 크로마토그래피 질량 분석의 측정 조건) (Measurement conditions for gas chromatography mass spectrometry)

측정 장치:GC/MS QP-2010(시마즈세이사쿠쇼제, 제품명) Measuring device: GC/MS QP-2010 (manufactured by Shimadzu Corporation, product name)

컬럼:HP-5MS(아지렌트·테크놀로지 가부시키가이샤제, 제품명)Column: HP-5MS (manufactured by Agilent Technology Co., Ltd., product name)

Oven Temp:40℃에서 5분간 가열 후, 15℃/min의 비율로 300℃까지 승온 Oven Temp: After heating at 40°C for 5 minutes, the temperature is raised to 300°C at a rate of 15°C/min

캐리어 가스:헬륨, 1.0mL/minCarrier gas: Helium, 1.0mL/min

인터페이스 온도:280℃Interface temperature: 280℃

이온 소스 온도:250℃Ion source temperature: 250°C

샘플 주입량:0.1mLSample Injection Amount: 0.1mL

<적층체의 제작><Manufacture of laminate>

두께 12㎛의 구리박을 양면에 적층한 유리 에폭시재인 동장적층판(銅張積層板)(기판, 히타치가세이 가부시키가이샤제, 제품명 "MCL-E-67")의 구리 표면을, 산처리하여 수세한 후, 공기류로 건조했다. 동장적층판을 80℃로 가온하고, 보호층을 벗기면서, 감광층이 구리 표면에 접하도록 상기 감광성 엘리먼트를 각각 동장적층판에 압착했다. 압착은, 110℃의 히트롤을 사용하여, 0.40MPa의 압력으로 1.0m/분의 롤 속도로 실시했다. 이렇게 하여, 기판과, 감광층과, 배리어층과, 지지 필름의 순서로 적층된 적층체를 얻었다. 이들 적층체는, 이하에 나타내는 시험에 있어서의 시험편으로서 사용했다. 라미네이터로서, HLM-3000(타이세이라미네이터 가부시키가이샤제, 제품명)을 사용했다. The copper surface of a copper-clad laminate (substrate, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., product name “MCL-E-67”), which is a glass epoxy material in which copper foil with a thickness of 12 μm is laminated on both sides, is acid-treated After washing with water, it dried with an air current. The copper clad laminate was heated to 80 DEG C, and the photosensitive elements were pressed against each copper clad laminate so that the photosensitive layer was in contact with the copper surface while peeling off the protective layer. The crimping was performed at a roll speed of 1.0 m/min at a pressure of 0.40 MPa using a heat roll at 110°C. In this way, a laminate was obtained in which the substrate, the photosensitive layer, the barrier layer, and the supporting film were laminated in this order. These laminates were used as test pieces in the tests shown below. As a laminator, HLM-3000 (manufactured by Taisei Laminator Co., Ltd., product name) was used.

<지지 필름 박리성의 평가><Evaluation of support film peelability>

시험편을 23℃ 및 습도 50%의 환경하에서 1시간 방치했다. 그 후, 시험편으로부터 지지 필름인 PET 필름을 박리 각도 135도, 박리 속도 500mm/초의 조건하에서 박리하고, 이하의 평가 기준으로 지지 필름 박리성을 평가했다. 평가의 결과를 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. The test piece was left to stand for 1 hour in an environment of 23°C and 50% humidity. After that, the PET film serving as the supporting film was peeled off from the test piece under conditions of a peeling angle of 135 degrees and a peeling speed of 500 mm/sec, and the peelability of the supporting film was evaluated according to the following evaluation criteria. The evaluation results are shown in Tables 4 to 6 below.

A:지지 필름인 PET 필름만이 용이하게 박리되었다. A: Only the PET film serving as the supporting film was easily peeled off.

B:박리된 지지 필름의 일부에 배리어층이 부착되어 있거나, 또는, 지지 필름의 박리가 불가(不可)하였다. B: A barrier layer adhered to a part of the peeled support film, or peeling of the support film was impossible.

<해상도의 평가><Evaluation of resolution>

해상도를 조사하기 위해, 시험편으로부터 지지 필름을 박리한 후, 시험편의 배리어층 상에, 히타치 41단 스텝 타블렛을 재치(載置)하고, 해상도 평가용 패턴으로서 라인폭/스페이스폭이 z/z(z=2∼20(1㎛ 간격으로 변화))(단위:㎛)의 배선 패턴을 가지는 유리 마스크를 두고, 파장 365nm의 고압 수은등 램프를 가지는 투영 노광기(우시오덴키 가부시키가이샤제, 제품명 UX-2240SM-XJ01)를 사용하여, 히타치 41단 스텝 타블렛의 현상 후의 잔존 스텝 단수가 8단이 되는 조사 에너지량으로, 배리어층을 통하여 감광층을 노광했다. 노광 후, 시험편을 실온에서 수세하여, 배리어층을 제거했다. 다음으로, 30℃에서 1질량%의 탄산나트륨 수용액을 사용하고, 감광층을 최단 현상 시간의 2배의 시간으로 스프레이 현상하여, 미노광부를 제거했다. 여기서, 최단 현상 시간은, 미노광부가 상기의 현상 처리에 의해 완전하게 제거되는 시간을 측정함으로써 구했다. 현상 처리에 의해 미노광부가 깨끗하게 제거된 라인 부분(노광부) 사이의 스페이스폭 중, 가장 작은 값(단위:㎛)을 해상도 평가의 지표로 했다. 또한, 이 수치가 작을수록, 해상도가 양호한 것을 의미한다. 결과를 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. In order to investigate the resolution, after peeling the supporting film from the test piece, a Hitachi 41-step step tablet was placed on the barrier layer of the test piece, and the line width / space width as a pattern for resolution evaluation was z / z ( Projection exposure machine (manufactured by Ushio Denki Co., Ltd., product name: UX-2240SM) having a glass mask having a wiring pattern of z = 2 to 20 (changes at 1 μm intervals) (unit: μm) and having a high-pressure mercury lamp with a wavelength of 365 nm -XJ01) was used to expose the photosensitive layer through the barrier layer with an amount of irradiation energy such that the number of remaining steps after development of a Hitachi 41-step step tablet was 8. After exposure, the test piece was washed with water at room temperature to remove the barrier layer. Next, the photosensitive layer was spray developed at 30° C. using a 1% by mass aqueous solution of sodium carbonate in twice the shortest developing time to remove the unexposed portion. Here, the shortest development time was determined by measuring the time required for the unexposed portion to be completely removed by the above development treatment. Among the space widths between the line portions (exposed portions) from which the unexposed portion was cleanly removed by the development treatment, the smallest value (unit: µm) was used as an index for resolution evaluation. In addition, it means that resolution is so good that this numerical value is small. The results are shown in Tables 4 to 6 below.

<레지스터 패턴 형상의 평가><Evaluation of register pattern shape>

상기 해상도의 평가에서 평가된 기판에 있어서, 라인폭/스페이스폭이 10/10(단위:㎛)의 레지스터 패턴의 단면 형상을 주사형 전자현미경(SEM)에 의해 관찰했다. 레지스터 패턴의 단면 형상을 레지스터 패턴 형상의 평가로서 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. In the board evaluated in the evaluation of the resolution, the cross-sectional shape of the resist pattern having a line width/space width of 10/10 (unit: µm) was observed with a scanning electron microscope (SEM). The cross-sectional shape of the resist pattern is shown in Tables 4 to 6 below as an evaluation of the resist pattern shape.

비교예 1∼7의 감광성 엘리먼트에서는, 지지 필름 박리성이 열화(劣化)되어 있어, 레지스터 패턴이 형성되어 있지 않기 때문에, 해상도 및 레지스터 패턴 형상의 평가는 할 수 없었다. In the photosensitive elements of Comparative Examples 1 to 7, the support film peelability was deteriorated and no resist pattern was formed, so resolution and resist pattern shape could not be evaluated.

<배리어층 용액 투명성의 평가><Evaluation of barrier layer solution transparency>

참조 시료로서, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서의 알코올류를 사용하지 않는 이외, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물과 동일하게 조성물을 준비했다. 그 후, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물 용액(이하 "배리어층 용액"이라고도 한다)과 참조 시료의 투명성에 관하여, 육안으로 관찰하고, 이하와 같이 평가했다. 평가 결과를 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. As a reference sample, the resins for forming a barrier layer of Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7 except that alcohols in the resin compositions for forming a barrier layer of Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7 were not used. A composition was prepared in the same way as the composition. After that, the transparency of the resin composition solutions for forming a barrier layer of Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7 (hereinafter also referred to as "barrier layer solution") and reference samples were visually observed and evaluated as follows. . The evaluation results are shown in Tables 4 to 6 below.

A:참조 시료와 비교하여, 배리어층 용액의 흐림이 동등 이하이다. A: Compared with the reference sample, the cloudiness of the barrier layer solution is equivalent or less.

B:참조 시료와 비교하여, 배리어층 용액에 흐림이 많이 발생되어 있다. B: Compared to the reference sample, the barrier layer solution has a lot of cloudiness.

<배리어층 투명성의 평가><Evaluation of barrier layer transparency>

지지 필름 상에 두께가 균일하게 되도록, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물을 도포하고, 95℃의 열풍 대류식 건조기로 10분간 건조하고, 건조 후의 두께가 5㎛인 배리어층을 형성했다. 참조 시료로서, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서의 알코올류를 사용하지 않는 이외, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물과 동일하게 조제한 조성물을 사용하여, 배리어층을 형성했다. 그 후, 배리어층의 외관에 관하여 육안으로 관찰하고, 이하와 같이 평가했다. 평가 결과를 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. The resin compositions for forming a barrier layer of Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7 were applied on a support film to have a uniform thickness, and dried in a hot air convection dryer at 95° C. for 10 minutes, and the thickness after drying was 5 A barrier layer of .mu.m was formed. As a reference sample, the resins for forming a barrier layer of Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7 except that alcohols in the resin compositions for forming a barrier layer of Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7 were not used. A barrier layer was formed using the composition prepared similarly to the composition. Thereafter, the appearance of the barrier layer was visually observed and evaluated as follows. The evaluation results are shown in Tables 4 to 6 below.

A:참조 시료와 비교하여, 배리어층에 흐림 및 보이드(void)의 발생 정도가 동등 이하이다. A: Compared with the reference sample, the degree of occurrence of fogging and voids in the barrier layer is equivalent or less.

B:참조 시료와 비교하여, 배리어층의 일부 또는 전체에 흐림 또는 보이드가 대부분 발생하고 있다. B: Compared to the reference sample, most of the cloudiness or voids occurred in part or all of the barrier layer.

Figure 112018011921300-pct00014
Figure 112018011921300-pct00014

Figure 112018011921300-pct00015
Figure 112018011921300-pct00015

Figure 112018011921300-pct00016
Figure 112018011921300-pct00016

고해상성인 투영 노광기를 사용하여, 잔존 스텝 단수가 8단이 되는, 에너지량이 적은 조건에서 노광한 경우, 실시예 1∼15에서는, 지지 필름과 배리어층과의 박리성이 높은데 대하여, 비교예 1∼7에서는, 지지 필름과 배리어층과의 박리성이 낮은 것을 확인할 수 있었다.
In Examples 1 to 15, when exposure was performed under conditions of a small amount of energy in which the number of remaining step stages was 8 using a high-resolution projection exposure machine, whereas the peelability between the support film and the barrier layer was high, Comparative Examples 1 to 15 In 7, it was confirmed that the peelability between the support film and the barrier layer was low.

이상 설명한 바와 같이, 본 개시에 의하면, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있는 감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공할 수 있다.
As described above, according to the present disclosure, the photosensitive element capable of improving the peelability between the barrier layer and the supporting film without using a peeling accelerator, a resin composition for forming a barrier layer, a method for forming a resist pattern, and manufacturing of a printed wiring board method can be provided.

1…감광성 엘리먼트, 2…지지 필름, 3, 20…배리어층, 4, 30…감광층, 5…보호층, 32…레지스터 패턴, 40…도체층, 42…에칭 처리 후의 도체층, 50…절연층, 60…도금층, 62…에칭 처리 후의 도금층, 70…도체 패턴, 80…활성 광선. One… photosensitive element, 2 . . . support film, 3, 20... barrier layer, 4, 30... photosensitive layer, 5 . . . protective layer, 32 . . . register pattern, 40... conductor layer, 42 . . . Conductor layer after etching treatment, 50 . . . insulating layer, 60 . . . plating layer, 62 . . . Plated layer after etching treatment, 70 . . . conductor pattern, 80 . . . active light.

Claims (13)

지지 필름과, 배리어층과, 감광층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트로서, 상기 배리어층이, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유하고,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류가, 하기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 하기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유하는, 감광성 엘리먼트.




[일반식(4) 중, R11은 알킬기를 나타내고, R12는 알킬렌기를 나타내고, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은 3 이상 이다.]
A photosensitive element comprising a support film, a barrier layer, and a photosensitive layer in this order, wherein the barrier layer contains a water-soluble resin and an alcohol having 3 or more carbon atoms;
A photosensitive element in which the alcohol having 3 or more carbon atoms contains at least one selected from the group consisting of compounds represented by the following formulas (1) to (3) and compounds represented by the following general formula (4).




[In Formula (4), R 11 represents an alkyl group, R 12 represents an alkylene group, and the sum of the carbon atoms of the group R 11 and the group R 12 is 3 or more.]
청구항 1에 있어서,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도가, 300mL/물 100mL 이상인, 감광성 엘리먼트.
The method of claim 1,
The photosensitive element in which the solubility of the alcohol having 3 or more carbon atoms in water at 20°C is 300 mL/100 mL or more in water.
청구항 1 또는 2에 있어서,
상기 배리어층에 있어서의 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량이, 상기 배리어층의 총량을 기준으로 하여 0질량% 초과, 2.0질량% 이하인, 감광성 엘리먼트.
According to claim 1 or 2,
The photosensitive element in which the content of the alcohol having 3 or more carbon atoms in the barrier layer is more than 0 mass% and 2.0 mass% or less based on the total amount of the barrier layer.
청구항 1 또는 2에 있어서,
상기 수용성 수지가, 폴리비닐알코올을 함유하는, 감광성 엘리먼트.
According to claim 1 or 2,
The photosensitive element in which the water-soluble resin contains polyvinyl alcohol.
청구항 1 또는 2에 있어서,
상기 지지 필름이, 폴리에스테르 필름인, 감광성 엘리먼트.
According to claim 1 or 2,
The photosensitive element in which the support film is a polyester film.
수용성 수지와, 탄소수 3 이상의 알코올류와, 물을 함유하고,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류가, 하기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 하기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유하는, 배리어층 형성용 수지 조성물.




[일반식(4) 중, R11 은 알킬기를 나타내고, R12는 알킬렌기를 나타내고, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은 3 이상이다.]
Containing a water-soluble resin, an alcohol having 3 or more carbon atoms, and water,
A resin for forming a barrier layer, wherein the alcohol having 3 or more carbon atoms contains at least one selected from the group consisting of compounds represented by the following formulas (1) to (3) and compounds represented by the following general formula (4) composition.




[In Formula (4), R 11 represents an alkyl group, R 12 represents an alkylene group, and the sum of the carbon atoms of the group of R 11 and the group of R 12 is 3 or more.]
청구항 6에 있어서,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도가, 300mL/물 100mL 이상인, 배리어층 형성용 수지 조성물.
The method of claim 6,
The resin composition for forming a barrier layer, wherein the alcohol having 3 or more carbon atoms has a solubility in water at 20°C of 300 mL/100 mL or more of water.
청구항 6 또는 7에 있어서,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량이, 물 500질량부에 대하여 100∼500질량부인, 배리어층 형성용 수지 조성물.
According to claim 6 or 7,
The resin composition for barrier layer formation whose content of the said C3 or more alcohol is 100-500 mass parts with respect to 500 mass parts of water.
청구항 6 또는 7에 있어서,
상기 수용성 수지가, 폴리비닐알코올을 함유하는, 배리어층 형성용 수지 조성물.
According to claim 6 or 7 ,
The resin composition for barrier layer formation in which the said water-soluble resin contains polyvinyl alcohol.
청구항 1 또는 2에 기재된 감광성 엘리먼트를 사용하여, 기판 상에, 그 기판측으로부터 감광층과 배리어층과 지지 필름을 이 순서로 배치하는 공정과,
상기 지지 필름을 제거하여, 상기 배리어층을 통하여 상기 감광층을 활성 광선에 의해 노광하는 공정과,
상기 배리어층 및 상기 감광층의 미경화부를 상기 기판 상으로부터 제거하는 공정을 구비하는, 레지스터 패턴의 형성 방법.
A step of arranging a photosensitive layer, a barrier layer, and a support film in this order on a substrate from the substrate side, using the photosensitive element according to claim 1 or 2;
removing the support film and exposing the photosensitive layer with actinic light through the barrier layer;
A method of forming a resist pattern comprising a step of removing uncured portions of the barrier layer and the photosensitive layer from on the substrate.
청구항 10에 기재된 레지스터 패턴의 형성 방법에 의해 레지스터 패턴이 형성된 기판을 에칭 처리 또는 도금 처리하여 도체 패턴을 형성하는 공정을 구비하는, 프린트 배선판의 제조 방법.A method for manufacturing a printed wiring board comprising a step of forming a conductor pattern by etching or plating a substrate on which a resist pattern is formed by the method of forming a resist pattern according to claim 10. 삭제delete 삭제delete
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