KR20180035827A - Photosensitive element, resin composition for forming barrier layer, method for forming resist pattern, and method for producing printed wiring board - Google Patents

Photosensitive element, resin composition for forming barrier layer, method for forming resist pattern, and method for producing printed wiring board Download PDF

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Abstract

박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있는 감광성 엘리먼트의 제공을 목적으로 하고, 지지 필름과, 배리어층과, 감광층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트로서, 상기 배리어층이, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유하는, 감광성 엘리먼트를 제공한다. There is provided a photosensitive element comprising a support film, a barrier layer and a photosensitive layer in this order, with the object of providing a photosensitive element capable of improving the peeling property between the barrier layer and the support film without using a release promoter, Wherein the barrier layer contains a water-soluble resin and an alcohol having 3 or more carbon atoms.

Description

감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법{PHOTOSENSITIVE ELEMENT, RESIN COMPOSITION FOR FORMING BARRIER LAYER, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, AND METHOD FOR PRODUCING PRINTED WIRING BOARD}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a photosensitive element, a resin composition for forming a barrier layer, a method of forming a resistor pattern, and a method of manufacturing a printed wiring board. BACKGROUND ART < RTI ID = 0.0 >

본 개시(開示)는, 감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법에 관한 것이다. The present disclosure relates to a photosensitive element, a resin composition for forming a barrier layer, a method of forming a resistor pattern, and a method of manufacturing a printed wiring board.

종래, 프린트 배선판의 제조 분야에 있어서는, 에칭 처리 또는 도금 처리 등에 사용되는 레지스터 재료로서, 감광성 수지 조성물, 및, 지지 필름 상에 감광성 수지 조성물을 사용하여 형성된 층(이하, "감광층"이라고도 한다)을 구비하는 감광성 엘리먼트가 널리 사용되고 있다. Conventionally, in the field of manufacturing printed wiring boards, a photosensitive resin composition and a layer formed by using a photosensitive resin composition on a support film (hereinafter also referred to as a " photosensitive layer ") as a resistor material used for etching treatment, plating treatment, Are widely used.

프린트 배선판은, 상기 감광성 엘리먼트를 사용하여, 예를 들면, 이하의 순서로 제조되고 있다. 즉, 우선, 감광성 엘리먼트의 감광층을 동장적층판(銅張積層板) 등의 회로 형성용 기판 상에 라미네이트한다. 이 때, 감광층의 지지 필름에 접촉하고 있는 면과는 반대측인 면이, 회로 형성용 기판의 회로를 형성하는 면에 밀착되도록 라미네이트한다. 또한, 라미네이트는, 예를 들면, 회로 형성용 기판 상에 감광층을 가열 압착함으로써 실시한다(상압 라미네이트법). The printed wiring board is manufactured using the photosensitive element described above, for example, in the following order. That is, first, the photosensitive layer of the photosensitive element is laminated on a substrate for circuit formation such as a copper-clad laminate. At this time, the surface of the photosensitive layer opposite to the surface contacting the support film is laminated so as to be in close contact with the surface of the circuit formation substrate on which the circuit is formed. The laminating is performed, for example, by heating and pressing a photosensitive layer on a substrate for circuit formation (normal pressure laminating method).

다음으로, 마스크 필름 등을 사용하고, 지지 필름을 통하여 감광층의 원하는 영역을 노광함으로써, 라디칼을 발생시킨다. 발생한 라디칼은, 몇 개의 반응 경로를 통해, 광중합성 화합물의 가교 반응(광경화 반응)에 기여한다. 이어서, 지지 필름을 박리한 후, 감광층의 미(未)경화부를 현상액으로 용해 또는 분산 제거하여, 레지스터 패턴을 형성한다. 다음으로, 레지스터 패턴을 레지스터로 하고, 에칭 처리 또는 도금 처리를 실시하여 도체 패턴을 형성시키고, 최종적으로 감광층의 광경화부(레지스터 패턴)를 박리(제거)한다. Next, a mask film or the like is used, and a desired region of the photosensitive layer is exposed through the support film to generate radicals. The resulting radical contributes to the crosslinking reaction (photocuring reaction) of the photopolymerizable compound through several reaction paths. Then, after the support film is peeled off, the unhardened portion of the photosensitive layer is dissolved or dispersed in a developing solution to form a resistor pattern. Next, a resist pattern is used as a resistor, an etching process or a plating process is performed to form a conductor pattern, and finally the photocurable portion (resist pattern) of the photosensitive layer is peeled off (removed).

그런데, 최근, 지지 필름을 노광 전에 박리하고 나서 감광층을 노광함으로써, 뛰어난 레지스터 패턴을 형성하는 방법이 검토되고 있다. 그러나, 지지 필름을 박리한 후에 감광층을 노광하는 경우, 발생한 라디칼이 공기 중의 산소와 접촉됨으로써, 라디칼이 급속히 안정화(실활(失活))되어, 광중합성 화합물의 광경화 반응이 진행되기 어려워진다. 그 때문에, 이 방법에서는, 지지 필름을 박리하여 노광하는 경우의 산소 혼입에 따른 영향을 경감할 목적으로, 지지 필름과 감광층 사이에 가스 배리어성을 가지는 배리어층(중간층)을 구비하는 감광성 엘리먼트를 사용하는 것이 검토되고 있다(예를 들면, 특허문헌 1∼3 참조). However, recently, a method of forming an excellent resist pattern by peeling the support film before exposure and exposing the photosensitive layer has been studied. However, when the photosensitive layer is exposed after the support film is peeled, the generated radicals are brought into contact with oxygen in the air, so that the radicals are rapidly stabilized (inactivated), and the photocuring reaction of the photopolymerizable compound hardly progresses . Therefore, in this method, for the purpose of alleviating the influence of oxygen incorporation when the support film is peeled and exposed, a photosensitive element having a barrier layer (intermediate layer) having gas barrier property between the support film and the photosensitive layer (See, for example, Patent Documents 1 to 3).

특허문헌 1 : 일본 특허 제5483734호 공보Patent Document 1: Japanese Patent No. 5483734 특허문헌 2 : 일본 특허공개 2013-24913호 공보Patent Document 2: JP-A-2013-24913 특허문헌 3 : 일본 특허 제5551255호 공보Patent Document 3: Japanese Patent No. 5551255

상기 특허문헌 1∼3에 기재된 바와 같은 수용성 수지를 함유하는 배리어층을 구비하는 감광성 엘리먼트에서는, 수용성 수지와 지지 필름과의 친화성이 높기 때문에, 배리어층과 지지 필름 사이의 접착성이 강한 경우가 있다. 이 경우, 감광성 엘리먼트의 배리어층으로부터 지지 필름을 박리할 때, 지지 필름을 박리하는 것이 어려워져, 배리어층 또는 감광층이 결손되는 경우가 있다. In the photosensitive element having the barrier layer containing the water-soluble resin as described in the above Patent Documents 1 to 3, since the affinity between the water-soluble resin and the support film is high, the adhesion between the barrier layer and the support film is strong have. In this case, when the support film is peeled off from the barrier layer of the photosensitive element, it is difficult to separate the support film, and the barrier layer or the photosensitive layer may be defective.

지금까지, 수용성 수지를 함유하는 배리어층 형성용 수지 조성물에, 실리콘 또는 불소계 계면활성제 등의 박리촉진제를 첨가함으로써, 배리어층과 지지 필름 사이의 접착성을 저하시켜, 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시키는 것이 제안되고 있다. Up to now, the adhesion property between the barrier layer and the support film has been lowered by adding a release promoting agent such as silicon or a fluorine surfactant to the resin composition for forming a barrier layer containing a water-soluble resin to peel off the barrier layer from the support film It is proposed to improve the performance.

그러나, 이들 계면활성제 등의 박리촉진제를 첨가함으로써, 형성되는 배리어층에 흐림이 발생되기 쉬워지는 문제가 있는 것을 알았다. 또한, 계면활성제 등의 박리촉진제는, 배리어층과 지지 필름과의 계면에 존재하기 때문에, 장기적인 시점에서는, 계면 조성이 변동되거나 배리어층과 지지 필름 사이의 접착성이 변화되거나 하여, 안정된 지지 필름 박리성(배리어층과 지지 필름과의 박리성)을 유지하는 것이 곤란하다는 문제가 있다. However, it has been found that there is a problem that fogging tends to occur in the formed barrier layer by adding a detachment promoter such as a surfactant. Further, since the peel-promoting agent such as a surfactant is present at the interface between the barrier layer and the supporting film, the interfacial composition may change or the adhesiveness between the barrier layer and the supporting film may change at a long- (Peeling property between the barrier layer and the support film) is difficult to maintain.

본 개시는, 상기 종래 기술이 가지는 과제를 감안하여 이루어진 것이고, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있는 감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present disclosure has been made in view of the above problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide a photosensitive element capable of improving the releasability between the barrier layer and the support film without using a release promoting agent, a resin composition for forming a barrier layer, And a method for producing a printed wiring board.

상기 목적을 달성하기 위해서, 본 개시는, 지지 필름과, 배리어층과, 감광층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트로서, 상기 배리어층이, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유하는, 감광성 엘리먼트를 제공한다. In order to attain the above object, the present disclosure provides a photosensitive element comprising a support film, a barrier layer, and a photosensitive layer in this order, wherein the barrier layer comprises a photosensitive element containing a water-soluble resin and an alcohol having 3 or more carbon atoms, Lt; / RTI >

본 개시의 감광성 엘리먼트는, 배리어층에 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유함으로써, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층으로부터 지지 필름을 부드럽게 박리할 수 있기 때문에, 배리어층 및 감광층의 결손을 억제할 수 있다. 또한, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있기 때문에, 박리촉진제의 존재에 의한 배리어층 흐림의 발생 및 지지 필름 박리성의 경시적 변화를 억제할 수 있다. 그 때문에, 본 개시의 감광성 엘리먼트를 사용함으로써, 해상도 및 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있다고도 할 수 있다. The photosensitive element of the present disclosure contains alcohols having 3 or more carbon atoms in the barrier layer, so that the releasability between the barrier layer and the support film can be improved without using a release promoter. According to such a photosensitive element, since the support film can be smoothly peeled off from the barrier layer, defects of the barrier layer and the photosensitive layer can be suppressed. In addition, since the peeling property between the barrier layer and the support film can be improved without using the peeling promoter, the occurrence of the fogging of the barrier layer due to the presence of the peeling promoter and the change in the peelability of the support film over time can be suppressed. Therefore, by using the photosensitive element of the present disclosure, a resist pattern excellent in resolution and resist pattern shape can be formed.

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류는, 하기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 하기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유해도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 보다 향상시킬 수 있다.In the photosensitive element of the present disclosure, the alcohol having 3 or more carbon atoms is at least one selected from the group consisting of a compound represented by the following chemical formulas (1) to (3) and a compound represented by the following chemical formula . According to such a photosensitive element, the peelability of the barrier layer and the support film can be further improved.

Figure pct00001
Figure pct00001

Figure pct00002
Figure pct00002

Figure pct00003
Figure pct00003

Figure pct00004
Figure pct00004

[일반식(4) 중, R11은 알킬기를 나타내고, R12는 알킬렌기를 나타내고, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은 3 이상이다.][In the general formula (4), R 11 represents an alkyl group, R 12 represents an alkylene group, and the sum of the carbon number of the group of R 11 and the group of R 12 is 3 or more.]

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도는, 300mL/물 100mL 이상이어도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층의 층 분리를 보다 억제할 수 있어, 실용상 뛰어난 감광성 엘리먼트를 제공할 수 있다. In the photosensitive element of the present disclosure, the solubility of the alcohol having 3 or more carbon atoms in water at 20 캜 may be 300 mL / water or more than 100 mL. According to such a photosensitive element, the layer separation of the barrier layer can be further suppressed, and a photosensitive element excellent in practical use can be provided.

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 배리어층에 있어서의 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량은, 상기 배리어층의 총량을 기준으로 하여 0질량% 초과, 2.0질량% 이하이어도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 후(後)의 공정에서의 알코올류의 확산을 억제할 수 있다. In the photosensitive element of the present disclosure, the content of the alcohol having 3 or more carbon atoms in the barrier layer may be 0 mass% or more and 2.0 mass% or less based on the total amount of the barrier layers. With such a photosensitive element, it is possible to suppress diffusion of alcohols in a later step.

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 수용성 수지는, 폴리비닐알코올을 함유해도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층의 가스 배리어성을 보다 향상시킬 수 있어, 노광에 사용되는 활성 광선에 의해 발생한 라디칼의 실활을 보다 억제할 수 있다. In the photosensitive element of the present disclosure, the water-soluble resin may contain polyvinyl alcohol. According to such a photosensitive element, the gas barrier property of the barrier layer can be further improved, and the deactivation of the radical generated by the actinic ray used for exposure can be further suppressed.

상기 본 개시의 감광성 엘리먼트에 있어서, 상기 지지 필름은, 폴리에스테르 필름이어도 된다. 이러한 감광성 엘리먼트에 의하면, 지지 필름의 기계 강도 및 열에 대한 내성을 향상시킬 수 있음과 동시에, 지지 필름에 배리어층을 형성할 때에 발생하는 배리어층의 주름 등의 불량을 억제할 수 있고, 작업성을 향상시킬 수 있다. In the photosensitive element of the present disclosure, the support film may be a polyester film. According to such a photosensitive element, it is possible to improve the mechanical strength and resistance to heat of the support film, and to suppress defects such as wrinkles of the barrier layer which are generated when the barrier layer is formed on the support film, Can be improved.

본 개시는 또한, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류와, 물을 함유하는, 배리어층 형성용 수지 조성물을 제공한다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 박리촉진제를 사용하지 않아도 지지 필름과의 박리성이 뛰어난 배리어층을 형성할 수 있다. The present disclosure also provides a resin composition for forming a barrier layer, which comprises a water-soluble resin, an alcohol having 3 or more carbon atoms, and water. According to such a resin composition for forming a barrier layer, a barrier layer excellent in peelability from a support film can be formed without using a release promoter.

본 개시의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류는, 상기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 상기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유해도 된다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 지지 필름과의 박리성에 의해 뛰어난 배리어층을 형성할 수 있다. In the resin composition for forming a barrier layer of the present disclosure, the alcohols having 3 or more carbon atoms are selected from the group consisting of the compounds represented by the formulas (1) to (3) and the compounds represented by the formula (4) And may contain at least one species. According to such a resin composition for forming a barrier layer, an excellent barrier layer can be formed by the peelability from the support film.

본 개시의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도는, 300mL/물 100mL 이상이어도 된다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 층 분리가 억제되는 배리어층을 형성할 수 있다. In the barrier layer forming resin composition of the present disclosure, the solubility of the above-mentioned alcohol having 3 or more carbon atoms in water at 20 캜 may be 300 mL / water or more than 100 mL. According to such a resin composition for forming a barrier layer, a barrier layer in which the layer separation is suppressed can be formed.

본 개시의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서, 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량은, 물 500질량부에 대하여 100∼500질량부이어도 된다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 지지 필름과의 박리성에 의해 뛰어난 배리어층을 형성할 수 있음과 동시에, 수용성 수지의 용해성이 향상되기 때문에 배리어층을 쉽게 형성할 수 있다. In the barrier layer forming resin composition of the present disclosure, the content of the alcohol having 3 or more carbon atoms may be 100 to 500 parts by mass based on 500 parts by mass of water. According to such a resin composition for forming a barrier layer, it is possible to form a barrier layer excellent in peelability from a support film and to improve the solubility of the water-soluble resin, so that the barrier layer can be easily formed.

본 개시의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서, 상기 수용성 수지는, 폴리비닐알코올을 함유해도 된다. 이러한 배리어층 형성용 수지 조성물에 의하면, 가스 배리어성에 의해 뛰어난 배리어층을 형성할 수 있다. In the resin composition for barrier layer formation of the present disclosure, the water-soluble resin may contain polyvinyl alcohol. According to such a resin composition for forming a barrier layer, a barrier layer excellent in gas barrier properties can be formed.

본 개시는 또한, 상기 본 개시의 감광성 엘리먼트를 사용하여, 기판 상에, 그 기판측으로부터 감광층과 배리어층과 지지 필름을 이 순서로 배치하는 공정과, 상기 지지 필름을 제거하여, 상기 배리어층을 통하여 상기 감광층을 활성 광선에 의해 노광하는 공정과, 상기 배리어층 및 상기 감광층의 미경화부를 상기 기판 상으로부터 제거하는 공정을 구비하는, 레지스터 패턴의 형성 방법을 제공한다. 이러한 레지스터 패턴의 형성 방법에 의하면, 상기 본 개시의 감광성 엘리먼트를 사용하여 레지스터 패턴을 형성하기 때문에, 해상도 및 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있다. The present disclosure also relates to a method of manufacturing a semiconductor device comprising the steps of disposing a photosensitive layer, a barrier layer and a supporting film in this order on a substrate from the side of the substrate using the photosensitive element of the present disclosure, A step of exposing the photosensitive layer with an actinic ray through a substrate, and a step of removing the unlayered portion of the barrier layer and the photosensitive layer from the substrate. According to such a method of forming a resist pattern, since a resist pattern is formed by using the photosensitive element of the present disclosure, a resist pattern excellent in resolution and resist pattern shape can be formed.

본 개시는 또한, 상기 본 개시의 레지스터 패턴의 형성 방법에 의해 레지스터 패턴이 형성된 기판을 에칭 처리 또는 도금 처리하여 도체 패턴을 형성하는 공정을 구비하는, 프린트 배선판의 제조 방법을 제공한다. 이러한 프린트 배선판의 제조 방법에 의하면, 상기 본 개시의 레지스터 패턴의 형성 방법에 의해 레지스터 패턴을 형성하기 때문에, 해상도 및 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있어, 프린트 배선판의 고밀도화에 적절한 프린트 배선판의 제조 방법을 제공할 수 있다. The present disclosure also provides a method for manufacturing a printed wiring board, comprising the step of forming a conductor pattern by etching or plating a substrate on which a resistor pattern is formed by the method of forming a resist pattern of the present disclosure. According to such a method for producing a printed wiring board, since a resistor pattern is formed by the method of forming a register pattern of the present disclosure described above, a resist pattern excellent in resolution and resist pattern shape can be formed, Can be provided.

본 개시에 의하면, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있는 감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공할 수 있다. According to the present disclosure, it is possible to provide a photosensitive element, a resin composition for forming a barrier layer, a method of forming a resistor pattern, and a method of manufacturing a printed wiring board, which can improve the peeling property between the barrier layer and the support film without using a release promoter have.

[도 1] 본 개시의 감광성 엘리먼트의 일 실시형태를 나타내는 모식 단면도이다.
[도 2] 세미 애더티브 공법에 의한 프린트 배선판의 제조 공정의 일례를 모식적으로 나타내는 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of a photosensitive element of the present disclosure;
2 is a diagram schematically showing an example of a manufacturing process of a printed wiring board by a semi-insulating method.

이하, 필요에 따라 도면을 참조하면서, 본 개시의 적합한 실시형태에 관하여 상세히 설명한다. 이하의 실시형태에 있어서, 그 구성요소(요소 단계 등도 포함한다)는 특별히 명시한 경우 및 원리적으로 분명히 필수이다고 생각할 수 있는 경우 등을 제외하고, 반드시 필수의 것은 아니라는 것은 말할 필요도 없다. 이는, 수치 및 범위에 관해서도 동일하고, 본 개시를 부당하게 제한하는 것은 아니라고 해석해야 한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings as necessary. In the following embodiments, elements (including element steps and the like) are not necessarily essential except when specifically stated and when it can be reasonably considered to be essential in principle. It should be understood that the same is true of the numerical value and the range, and is not to be construed as unduly limiting the present disclosure.

또한, 본 명세서에 있어서 (메타)아크릴산이란, 아크릴산 및 그에 대응하는 메타크릴산의 적어도 한쪽을 의미한다. 또한, (메타)아크릴레이트 등의 다른 유사 표현에 관해서도 동일하다. In the present specification, (meth) acrylic acid means at least one of acrylic acid and corresponding methacrylic acid. The same is true for other similar expressions such as (meth) acrylate.

또한, 본 명세서에 있어서 "공정"이라는 용어는, 독립한 공정뿐만 아니라, 다른 공정과 명확히 구별될 수 없는 경우이어도 그 공정의 소기의 작용이 달성되면, 본 용어에 포함된다. In the present specification, the term " process "is included in this term when not only an independent process but also an intended action of the process can be clearly distinguished from another process.

또한, 본 명세서에 있어서 "∼"를 사용하여 나타낸 수치 범위는, "∼"의 전후에 기재되는 수치를 각각 최소값 및 최대값으로 포함하는 범위를 나타낸다. 또한, 본 명세서 중에 단계적으로 기재되어 있는 수치 범위에 있어서, 어느 단계의 수치 범위의 상한값 또는 하한값은, 다른 단계의 수치 범위의 상한값 또는 하한값으로 치환해도 된다. 또한, 본 명세서 중에 기재되어 있는 수치 범위에 있어서, 그 수치 범위의 상한값 또는 하한값은, 실시예에 나타나 있는 값으로 치환해도 된다. 또한, 본 명세서에 있어서 "층"이라는 용어는, 평면도로 관찰했을 때에, 전면(全面)에 형성되어 있는 형상의 구조에 더하여, 일부에 형성되어 있는 형상의 구조도 포함된다. In the present specification, the numerical range indicated by using "~ " indicates a range including the numerical values before and after" ~ "as the minimum value and the maximum value, respectively. In the numerical range described stepwise in this specification, the upper limit value or the lower limit value of the numerical range of any step may be replaced with the upper limit value or the lower limit value of the numerical range of the other steps. In the numerical range described in the present specification, the upper limit value or the lower limit value of the numerical range may be replaced with the value shown in the embodiment. In the present specification, the term "layer " includes a structure formed in a part in addition to a structure formed on the entire surface when viewed in a plan view.

[감광성 엘리먼트][Photosensitive element]

본 실시형태의 감광성 엘리먼트(1)는, 도 1에 나타내는 바와 같이, 지지 필름(2)과, 배리어층(3)과, 감광층(4)을 이 순서로 구비하고, 보호층(5) 등의 그 밖의 층을 더 구비해도 된다. 또한, 상기 배리어층은, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유한다. 본 실시형태의 감광성 엘리먼트를 사용함으로써, 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 실시형태의 감광성 엘리먼트는, 배리어층의 층 분리를 억제할 수 있기 때문에, 실용상 뛰어난 것이 된다. 이하, 본 실시형태에 관련되는 감광성 엘리먼트에 있어서의 각 층에 관해 상세히 설명한다. 1, the photosensitive element 1 of the present embodiment includes a support film 2, a barrier layer 3, and a photosensitive layer 4 in this order, and the protective layer 5, May be further provided. The barrier layer contains a water-soluble resin and an alcohol having 3 or more carbon atoms. By using the photosensitive element of this embodiment, the peeling property between the barrier layer and the support film can be improved. In addition, the photosensitive element of the present embodiment can suppress the layer separation of the barrier layer, and thus is excellent in practical use. Hereinafter, each layer in the photosensitive element according to this embodiment will be described in detail.

<지지 필름><Support film>

본 실시형태의 지지 필름으로서는, 특별히 제한 없이 사용할 수 있다. 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리부틸렌테레프탈레이트(PBT) 및 폴리에틸렌-2,6-나프탈레이트(PEN) 등의 폴리에스테르 필름, 및, 폴리프로필렌 및 폴리에틸렌 등의 폴리올레핀 필름을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에스테르 필름을 사용해도 된다. 지지 필름으로서 폴리에스테르 필름을 사용함으로써, 지지 필름의 기계 강도 및 열에 대한 내성을 향상시킬 수 있는 경향이 있다. 또한, 폴리에스테르 필름을 사용함으로써, 지지 필름 상에 배리어층을 형성할 때에 발생하는 배리어층의 주름 등의 불량을 억제할 수 있어, 작업성을 향상시킬 수 있는 경향이 있다. 또한, 레지스터 패턴의 미소한 누락의 발생을 억제할 수 있는 관점에서, 입자(활제 등)를 포함하는 폴리에스테르 필름을 사용해도 된다. 입자(활제 등)를 포함하는 폴리에스테르 필름을 사용하는 경우, 입자(활제 등)를 가지는 측의 면에 배리어층을 형성해도 된다. 이와 같은 폴리에스테르 필름으로서는, 예를 들면, 입자(활제 등)가 혼련(kneading)된 폴리에스테르 필름, 양면에 입자(활제 등)를 함유하는 층을 형성하고 있는 폴리에스테르 필름, 또는, 편면(片面)에 입자(활제 등)를 함유하는 층을 형성하고 있는 폴리에스테르 필름을 사용해도 된다. 또한, 지지 필름은, 단층이어도 다층이어도 된다. The support film of the present embodiment can be used without particular limitation. For example, polyester films such as polyethylene terephthalate (PET), polybutylene terephthalate (PBT) and polyethylene-2,6-naphthalate (PEN), and polyolefin films such as polypropylene and polyethylene have. Among them, a polyester film may be used. The use of a polyester film as the support film tends to improve the mechanical strength and resistance to heat of the support film. By using a polyester film, it is possible to suppress defects such as wrinkles of the barrier layer which are generated when the barrier layer is formed on the support film, and the workability tends to be improved. Further, from the viewpoint of suppressing the occurrence of a minute omission of the resistor pattern, a polyester film containing particles (e.g., lubricant) may be used. When a polyester film containing particles (such as lubricant) is used, a barrier layer may be formed on the side having particles (such as lubricant). Examples of such a polyester film include a polyester film kneaded with particles (lubricant or the like), a polyester film formed with a layer containing particles (lubricant or the like) on both sides, ) May be used instead of the polyester film. The support film may be a single layer or a multilayer.

지지 필름에 활제 등의 입자를 부가하는 방법으로서는, 예를 들면, 지지 필름에 입자(활제 등)를 혼합하는 방법, 지지 필름 위에, 입자(활제 등)를 함유하는 층을, 롤 코트, 플로우 코트, 스프레이 코트, 커튼 플로우 코트, 딥 코트, 슬릿 다이 코트 등의 공지의 방법을 사용하여 형성하는 방법을 들 수 있다. Examples of the method of adding particles such as a lubricant to the support film include a method of mixing particles (lubricant or the like) into a support film, a method of coating a layer containing particles (lubricant or the like) , A spray coat, a curtain flow coat, a dip coat, a slit die coat, and the like.

지지 필름의 헤이즈는, 0.01∼5.0%, 0.01∼1.5%, 0.01∼1.0%, 또는, 0.01∼0.5%이어도 된다. 이 헤이즈가 0.01% 이상임으로써, 지지 필름 자체를 제조하기 쉬워지는 경향이 있고, 5.0% 이하이면, 감광성 엘리먼트의 감광층을 형성할 때에, 감광층에 있어서의 이물(異物)의 검출이 쉬워지는 경향이 있다. 여기서, "헤이즈"란, 흐림도를 의미한다. 본 개시에 있어서의 헤이즈는, JIS K 7105에 규정되는 방법에 준거하여, 시판되는 흐림도계(탁도계)를 이용하여 측정된 값을 말한다. 헤이즈는, 예를 들면, NDH-5000(니뽄덴소쿠고교 가부시키가이샤제, 상품명) 등의 시판되는 탁도계로 측정이 가능하다. The haze of the support film may be 0.01 to 5.0%, 0.01 to 1.5%, 0.01 to 1.0%, or 0.01 to 0.5%. When the haze is 0.01% or more, the support film itself tends to be easily produced. When the haze is 5.0% or less, the foreign matter in the photosensitive layer tends to be easily detected when the photosensitive layer of the photosensitive element is formed . Here, "haze" means cloudiness. The haze in this disclosure refers to a value measured using a commercially available haze meter (turbidimeter) in accordance with the method defined in JIS K 7105. The haze can be measured with a commercially available turbidimeter such as NDH-5000 (trade name, manufactured by Nippon Denshoku Kogyo K.K.).

또한, 지지 필름은, 시판되는 일반 공업용 필름 중에서, 감광성 엘리먼트의 지지 필름으로서 사용 가능한 것을 입수하여, 적절히 가공하여 사용해도 된다. 구체적으로는, 예를 들면, PET 필름인 "FB-40"(도레이 가부시키가이샤제, 제품명), "A4100", "A1517"(토요보우세키 가부시키가이샤제, 제품명), "G2H"(테이진듀퐁필름 가부시키가이샤제, 제품명) 등을 들 수 있다. Further, the support film can be used as a support film of a photosensitive element among commercially available general industrial films, and may be appropriately processed and used. Specifically, for example, a PET film "FB-40" (product name, manufactured by Toray Industries, Inc.), "A4100", "A1517" (product name, manufactured by Toyobo Sekiki K.K.), "G2H" Manufactured by Jin-DuPont Film &amp; Chemicals Co., Ltd.).

지지 필름의 두께는, 1∼200㎛, 1∼100㎛, 1∼60㎛, 5∼60㎛, 10∼60㎛, 10∼50㎛, 10∼40㎛, 10∼30㎛, 또는, 10∼25㎛이어도 된다. 지지 필름의 두께가 1㎛ 이상임으로써, 지지 필름을 박리할 때에 지지 필름이 찢어지는 것을 억제할 수 있는 경향이 있다. 또한, 지지 필름의 두께가 200㎛ 이하임으로써, 경제적 혜택을 얻기 쉬운 경향이 있다. The support film has a thickness of 1 to 200 m, 1 to 100 m, 1 to 60 m, 5 to 60 m, 10 to 60 m, 10 to 50 m, 10 to 40 m, 10 to 30 m, 25 mu m. When the thickness of the support film is 1 占 퐉 or more, tearing of the support film tends to be suppressed when the support film is peeled off. Further, when the thickness of the support film is 200 占 퐉 or less, economic benefits tends to be obtained.

<배리어층><Barrier Layer>

본 실시형태의 감광성 엘리먼트는, 지지 필름과 감광층 사이에 배리어층을 구비한다. 또한, 배리어층은, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유한다. 본 실시형태의 감광성 엘리먼트에 의하면, 배리어층에 박리촉진제를 함유하지 않는 경우에서도 배리어층으로부터 지지 필름을 부드럽게 박리할 수 있기 때문에, 지지 필름을 박리하고 나서 배리어층을 통하여 감광층을 노광한 경우, 형성되는 레지스터 패턴의 해상성의 악화를 억제할 수 있다. 배리어층은, 후술하는 본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물을 사용하여 형성되는 층이어도 되고, 본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물은, 수용성 수지와, 탄소수 3 이상의 알코올류와, 물을 함유한다. 또한, 배리어층은, 수용성을 가지고 있어도 되고, 현상액에 대한 용해성을 가지고 있어도 된다. 또한, 배리어층에 의한 가스 배리어성을 보다 향상시킬 수 있는 관점에서, 지지 필름과 배리어층과의 접착력은, 배리어층과 감광층과의 접착력보다 작아도 된다. 즉, 감광성 엘리먼트로부터 지지 필름을 박리한 경우, 배리어층과 감광층과의 의도하지 않는 박리가 억제되고 있다고도 할 수 있다. The photosensitive element of this embodiment has a barrier layer between the support film and the photosensitive layer. The barrier layer contains a water-soluble resin and an alcohol having 3 or more carbon atoms. According to the photosensitive element of this embodiment, even when the barrier layer does not contain a release promoting agent, the support film can be smoothly peeled off from the barrier layer. Therefore, when the photosensitive layer is exposed through the barrier layer after peeling off the support film, Deterioration of the resolution of the formed resistor pattern can be suppressed. The barrier layer may be a layer formed by using the resin composition for forming a barrier layer of the present embodiment to be described later. The resin composition for forming a barrier layer in the present embodiment may contain a water-soluble resin, an alcohol having 3 or more carbon atoms, . The barrier layer may have water solubility or solubility in a developer. From the viewpoint of further improving the gas barrier property by the barrier layer, the adhesion force between the support film and the barrier layer may be smaller than the adhesion force between the barrier layer and the photosensitive layer. That is, when the support film is peeled from the photosensitive element, unintentional peeling of the barrier layer and the photosensitive layer may be suppressed.

(수용성 수지) (Water-soluble resin)

여기서, "수용성 수지"란, 25℃의 헥산 100mL에 대한 용해도가 5g 이하인 수지를 의미한다. 이 용해도는, 25℃의 헥산과 건조한 수용성 수지를 혼합하여, 백탁의 유무를 조사함으로써 산출할 수 있다. 구체적으로는, 연마맞춤 유리뚜껑 부착되고 무색 투명의 유리 용기에, 건조 후의 수용성 수지 A(g)와 헥산(100mL-A)과의 혼합액을 넣어 얻어진 시료 1, 및, 헥산만 100mL를 넣어 얻어진 시료 2를 각각 준비한다. 이어서, 유리 용기 내의 시료를 충분히 흔들어 섞은 후, 거품이 사라진 것을 확인한다. 확인 후 즉시, 확산 주광(晝光) 또는 그것과 동등한 광(光) 하에서, 양 용기를 나란히 놓고, 시료 1의 액 상태와 시료 2의 액 상태를 비교한다. 시료 1과 시료 2를 비교하여, 시료 1이 보다 흐리다는 것이 관찰되기 시작한 또는 고형분의 부유(浮遊)가 관찰되기 시작했을 때의 첨가량 A(g)를, 그 수용성 수지의 25℃의 헥산 100mL에 대한 용해도로 한다. Here, "water-soluble resin" means a resin having a solubility of 5 g or less in 100 mL of hexane at 25 ° C. This solubility can be calculated by mixing hexane at 25 占 폚 and a water-soluble resin which has been dried and examining the presence or absence of clouding. Specifically, a sample 1 obtained by adding a mixed solution of a water-soluble resin A (g) and hexane (100 mL-A) after drying to a colorless transparent glass container with a polishing-fitting glass lid and 100 mL of hexane alone were placed, 2, respectively. Subsequently, the sample in the glass container is sufficiently shaken, and it is confirmed that the bubble disappears. Immediately after confirmation, the liquid state of the sample 1 and the liquid state of the sample 2 are compared with each other in parallel under the light of diffuse daylight (light) or light equivalent thereto. The sample 1 and the sample 2 were compared and the addition amount A (g) when the sample 1 was observed to be less cloudy or when the suspension of the solid content began to be observed was added to 100 mL of the water- The solubility is determined.

수용성 수지로서는, 예를 들면, 폴리비닐알코올, 폴리비닐피롤리돈, 수용성 폴리이미드류 등을 들 수 있다. 배리어층의 가스 배리어성을 보다 향상시켜, 노광에 사용되는 활성 광선에 의해 발생한 라디칼의 실활을 보다 억제하는 관점에서, 수용성 수지는, 폴리비닐알코올을 포함해도 된다. 폴리비닐알코올은, 예를 들면, 아세트산비닐을 중합하여 얻을 수 있는 폴리아세트산비닐을 비누화하여 얻을 수 있다. 본 실시형태에서 사용되는 폴리비닐알코올의 비누화도는, 50몰% 이상, 70몰% 이상, 또는, 80몰% 이상이어도 된다. 또한, 이러한 비누화도의 상한은, 100몰% 이다. 비누화도가 50몰% 이상인 폴리비닐알코올을 포함함으로써, 배리어층의 가스 배리어성을 보다 향상시켜, 형성되는 레지스터 패턴의 해상성을 보다 향상시킬 수 있는 경향이 있다. 또한, 본 명세서에 있어서의 "비누화도"는, 일본공업규격에서 규정하는 JIS K 6726(1994)(폴리비닐알코올의 시험 방법)에 준거하여 측정한 값을 말한다. Examples of the water-soluble resin include polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone, and water-soluble polyimides. The water-soluble resin may contain polyvinyl alcohol from the viewpoint of further improving the gas barrier property of the barrier layer and further suppressing the deactivation of the radicals generated by the active rays used for exposure. The polyvinyl alcohol can be obtained, for example, by saponifying polyvinyl acetate which can be obtained by polymerizing vinyl acetate. The degree of saponification of the polyvinyl alcohol used in the present embodiment may be 50 mol% or more, 70 mol% or more, or 80 mol% or more. The upper limit of the saponification degree is 100 mol%. By including polyvinyl alcohol having a saponification degree of 50 mol% or more, the gas barrier property of the barrier layer is further improved, and the resolution of the formed resistor pattern can be further improved. In the present specification, the "degree of saponification" refers to a value measured in accordance with JIS K 6726 (1994) (test method of polyvinyl alcohol) specified by Japanese Industrial Standards.

상기 폴리비닐알코올은, 비누화도, 점도, 중합도, 변성종 등의 상이한 2종 이상의 것을 병용해도 된다. 폴리비닐알코올의 평균 중합도는, 300∼5000, 300∼3500, 또는, 300∼2000이어도 된다. 또한, 상기 수용성 수지는, 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 수용성 수지는, 예를 들면, 폴리비닐알코올 및 폴리비닐피롤리돈을 포함해도 된다. 이 경우, 폴리비닐알코올과 폴리비닐피롤리돈과의 질량비(PVA:PVP)는, 40:60∼90:10, 50:50∼90:10, 또는, 60:40∼90:10이어도 된다. The above-mentioned polyvinyl alcohol may be used in combination of two or more different types such as degree of saponification, viscosity, degree of polymerization, and denatured species. The average degree of polymerization of polyvinyl alcohol may be 300 to 5000, 300 to 3500, or 300 to 2000. The water-soluble resins may be used singly or in combination of two or more. The water-soluble resin may include, for example, polyvinyl alcohol and polyvinyl pyrrolidone. In this case, the mass ratio (PVA: PVP) of polyvinyl alcohol and polyvinylpyrrolidone may be 40:60 to 90:10, 50:50 to 90:10, or 60:40 to 90:10.

본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서의 수용성 수지의 함유량은, 가스 배리어성 향상의 관점에서, 물 500질량부에 대하여, 50∼300질량부, 60∼250질량부, 70∼200질량부, 80∼150질량부, 또는, 80∼125질량부이어도 된다. The content of the water-soluble resin in the barrier layer-forming resin composition of the present embodiment is preferably from 50 to 300 parts by mass, from 60 to 250 parts by mass, from 70 to 200 parts by mass based on 500 parts by mass of water , 80 to 150 parts by mass, or 80 to 125 parts by mass.

(탄소수 3 이상의 알코올류) (Alcohols having 3 or more carbon atoms)

탄소수 3 이상의 알코올류는, 일가 알코올류이어도 되고, 다가 알코올류이어도 된다(후술하는 다가 알코올 화합물의 가소제를 제외한다). 탄소수 3 이상의 알코올류에 있어서의 탄소수는, 해당 알코올류에 있어서의 탄소수의 합을 의미하며, 10 이하, 8 이하, 7 이하, 6 이하, 또는, 5 이하이어도 된다. 탄소수 3 이상의 알코올류는, 하기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 하기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유해도 된다. 이들 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유함으로써, 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 보다 향상시킬 수 있다. The alcohols having 3 or more carbon atoms may be monohydric alcohols or polyhydric alcohols (excluding plasticizers of polyhydric alcohol compounds described later). The number of carbon atoms in the alcohol having 3 or more carbon atoms means the sum of the number of carbon atoms in the corresponding alcohol, and may be 10 or less, 8 or less, 7 or less, 6 or less, or 5 or less. The alcohols having 3 or more carbon atoms may contain at least one member selected from the group consisting of compounds represented by the following chemical formulas (1) to (3) and compounds represented by the following chemical formula (4). By containing these alcohols having 3 or more carbon atoms, the releasability between the barrier layer and the support film can be further improved.

Figure pct00005
Figure pct00005

Figure pct00006
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Figure pct00007
Figure pct00007

Figure pct00008
Figure pct00008

일반식(4) 중, R11은 알킬기를 나타내고, R12는 알킬렌기를 나타낸다. 또한, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은, 3 이상이다. 또한, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은, 물과의 친화성을 향상시키는 관점에서, 10 이하, 8 이하, 7 이하, 6 이하, 또는, 5 이하이어도 된다. R11로 나타내는 알킬기는, 탄소수 1∼4의 알킬기이어도 되고, R12로 나타내는 알킬렌기는, 탄소수 1∼3의 알킬렌기이어도 된다. 또한, R11로 나타내는 알킬기 및 R12로 나타내는 알킬렌기는, 각각 치환기를 가져도 되고, 치환기를 갖지 않아도 된다. 치환기를 가지는 경우에는, R11의 기의 탄소수 및 R12의 기의 탄소수는, 각각 치환기의 탄소수를 포함하는 것으로 한다. 또한, 일반식(4)로 표시되는 탄소수 3 이상의 알코올류는, 2-부톡시에탄올 또는 1-메톡시-2-프로판올이어도 된다. In the general formula (4), R 11 represents an alkyl group and R 12 represents an alkylene group. The sum of the carbon numbers of the groups R 11 and R 12 is 3 or more. The sum of the carbon numbers of the groups R 11 and R 12 may be 10 or less, 8 or less, 7 or less, 6 or less, or 5 or less from the viewpoint of improving affinity with water. The alkyl group represented by R 11 may be an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and the alkylene group represented by R 12 may be an alkylene group having 1 to 3 carbon atoms. The alkyl group represented by R &lt; 11 &gt; and the alkylene group represented by R &lt; 12 &gt; may each have a substituent or may not have a substituent. If it has a substituent, the carbon number of a group having a carbon number of R 12 and R 11 of the group is assumed to contain a number of carbon atoms of each substituent. The alcohols having 3 or more carbon atoms represented by the general formula (4) may be 2-butoxyethanol or 1-methoxy-2-propanol.

상기 탄소수 3 이상의 알코올류는, 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. 또한, 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도는, 배리어층의 층 분리를 보다 억제할 수 있는 관점에서, 300mL/물 100mL 이상, 500mL/물 100mL 이상, 또는, 1000mL/물 100mL 이상이어도 된다. The above-mentioned alcohols having 3 or more carbon atoms may be used singly or in combination of two or more kinds. The solubility of alcohols having 3 or more carbon atoms in water at 20 占 폚 is preferably 300 ml / 100 ml or more, 500 ml / 100 ml or more, or 1000 ml / 100 ml or more, in view of being able to further suppress the layer separation of the barrier layer .

본 명세서에 있어서의 "탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도"란, 그 알코올류와 20℃의 물을 혼합하여, 백탁의 유무를 조사함으로써 산출할 수 있다. 구체적으로는, 연마맞춤 유리뚜껑 부착되고 무색 투명의 유리 용기에, 그 알코올류 AmL와 물(100-A)mL의 혼합액을 넣어 얻어진 시료 3, 및, 물만(100mL)을 넣어 얻어진 시료 4를 각각 준비한다. 이어서, 유리 용기 내의 시료 3 및 시료 4를 각각 충분히 흔들어 섞은 후, 거품이 사라진 것을 확인한다. 확인 직후에, 확산 주광 또는 그것과 동등한 광 아래에서, 양 용기를 나란히 놓고, 시료 3 내의 액 상태와 시료 4 내의 액 상태를 비교한다. 시료 3과 시료 4를 비교하여, 시료 3이 보다 흐리게 관찰되었을 때의 그 알코올류의 첨가량 AmL를, 그 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도로 한다. The "solubility in water at 20 캜 for alcohols having 3 or more carbon atoms" in the present specification can be calculated by mixing the alcohol with water at 20 캜 and examining the presence or absence of clouding. Specifically, a sample 3 obtained by adding a mixed solution of the alcohol AmL and water (100-A) mL to a colorless transparent glass container with a polishing-fitting glass lid and a sample 4 obtained by adding only water (100 mL) Prepare. Subsequently, the sample 3 and the sample 4 in the glass container were sufficiently shaken, respectively, and then it was confirmed that the bubbles disappeared. Immediately after the confirmation, the liquid state in the specimen 3 and the liquid state in the specimen 4 are compared with each other, with the diffusing main light or light equal to the diffusing main light. The sample 3 and the sample 4 are compared, and the addition amount AmL of the alcohol when the sample 3 is observed more blurred is defined as the solubility of the alcohol in water at 20 ° C.

본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서의 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량은, 물 500질량부에 대하여, 100∼500질량부, 110∼480질량부, 120∼460질량부, 125∼440질량부, 125∼420질량부, 또는, 125∼400질량부이어도 된다. 이 함유량이 100질량부 이상이면, 형성되는 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 향상되는 경향이 있고, 500질량부 이하이면, 수용성 수지의 용해성이 향상되어, 배리어층이 형성되기 쉬워지는 경향이 있다. The content of the alcohol having 3 or more carbon atoms in the barrier layer-forming resin composition of the present embodiment is 100 to 500 parts by mass, 110 to 480 parts by mass, 120 to 460 parts by mass, 125 to 440 parts by mass Mass part, 125 to 420 mass parts, or 125 to 400 mass parts. When the content is 100 parts by mass or more, the releasability between the barrier layer to be formed and the support film tends to be improved, and when it is 500 parts by mass or less, the solubility of the water-soluble resin is improved and the barrier layer tends to be easily formed have.

본 실시형태의 배리어층에 있어서의 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량은, 배리어층의 총량(배리어층을 형성하는 배리어층 형성용 수지 조성물의 고형분 총량)을 기준으로 하여, 0질량% 초과 2.0질량% 이하, 0.001∼2.0질량%, 또는, 0.005∼1.0질량% 이어도 된다. 이 함유량이 2.0질량% 이하임으로써, 후의 공정에서의 알코올류의 확산을 억제할 수 있는 경향이 있고, 0질량% 초과임으로써, 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 향상되는 경향이 있고, 0.001질량% 이상임으로써, 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 보다 향상되는 경향이 있다. The content of the alcohols having 3 or more carbon atoms in the barrier layer of the present embodiment is preferably more than 0 mass% and 2.0 mass% or less based on the total amount of the barrier layers (the total solid content of the barrier layer forming resin composition forming the barrier layer) 0.001 to 2.0% by mass or 0.005 to 1.0% by mass. When the content is 2.0 mass% or less, the diffusion of alcohols in subsequent steps tends to be suppressed. When the content is more than 0 mass%, the releasability between the barrier layer and the support film tends to be improved, When the content is 0.001% by mass or more, the releasability between the barrier layer and the support film tends to be further improved.

본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물은, 탄소수 3 미만의 알코올류를 함유해도 된다. 탄소수 3 미만의 알코올류를 함유하는 경우, 그 함유량은, 물 500질량부에 대하여, 125∼375질량부, 또는, 150∼325질량부이어도 된다. 이 함유량이 125질량부 이상임으로써, 수용성 수지의 용해성이 향상되어, 배리어층이 형성되기 쉬워지는 경향이 있고, 375질량부 이하임으로써, 형성되는 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 향상되는 경향이 있다. 또한, 본 실시형태의 배리어층에 있어서의 탄소수 3 미만의 알코올류의 함유량은, 배리어층과 지지 필름과의 박리성이 향상되는 관점에서, 배리어층에 있어서의 알코올류의 총량을 기준으로 하여 0.1∼10질량% 이어도 되고, 또는, 배리어층에 있어서의 탄소수 3 이상의 알코올류의 총량 100질량부에 대하여 0.1∼10질량부이어도 된다. The resin composition for forming a barrier layer in this embodiment may contain an alcohol having less than 3 carbon atoms. When the alcohol contains less than 3 carbon atoms, the content thereof may be 125 to 375 parts by mass or 150 to 325 parts by mass based on 500 parts by mass of water. When the content is more than 125 parts by mass, the solubility of the water-soluble resin is improved and the barrier layer tends to be easily formed. When the content is less than 375 parts by mass, there is a tendency that the releasability of the formed barrier layer and the support film is improved . The content of the alcohol having less than 3 carbon atoms in the barrier layer of the present embodiment is preferably 0.1 to 10 parts by mass based on the total amount of the alcohols in the barrier layer from the viewpoint of improving the releasability between the barrier layer and the support film, To 10 mass%, or 0.1 to 10 mass parts relative to 100 mass parts of the total amount of the alcohols having 3 or more carbon atoms in the barrier layer.

또한, 본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물은, 본 개시의 효과를 방해하지 않는 범위에서, 가소제, 계면활성제 등의 공지의 첨가제를 함유해도 된다. 또한, 본 개시의 효과를 방해하지 않는 범위에서, 박리촉진제를 함유해도 된다. The resin composition for forming a barrier layer of the present embodiment may contain known additives such as plasticizers and surfactants within a range not hindering the effect of the present disclosure. In addition, a release promoting agent may be contained within a range not hindering the effect of the present disclosure.

가소제로서는, 예를 들면, 연신성을 향상시키는 관점에서, 다가 알코올 화합물을 함유할 수 있다. 예를 들면, 글리세린, 디글리세린, 트리글리세린 등의 글리세린류, 에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 트리에틸렌글리콜, 테트라에틸렌글리콜, 폴리에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 디프로필렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜 등의 (폴리)알킬렌글리콜류, 트리메틸올프로판 등을 들 수 있다. 이들 가소제는 1종을 단독으로 또는 2종 이상 조합하여 사용할 수 있다. As the plasticizer, for example, a polyhydric alcohol compound may be contained from the viewpoint of improving stretchability. (Poly) alkyl (meth) acrylates such as ethylene glycol, diethylene glycol, triethylene glycol, tetraethylene glycol, polyethylene glycol, propylene glycol, dipropylene glycol, and polypropylene glycol, and glycerin derivatives such as glycerin, diglycerin and triglycerin; And the like, and the like. These plasticizers may be used singly or in combination of two or more.

본 실시형태의 감광성 엘리먼트에 있어서의 배리어층은, 예를 들면, 지지 필름 상에, 본 실시형태의 배리어층 형성용 수지 조성물을 도포하여 건조함으로써 형성할 수 있다. The barrier layer in the photosensitive element of the present embodiment can be formed, for example, by applying a resin composition for forming a barrier layer of the present embodiment on a support film and drying it.

배리어층의 두께는, 특별히 한정되지 않는다. 배리어층의 두께는, 배리어층을 제거하기 쉬움의 관점에서, 12㎛ 이하, 10㎛ 이하, 8㎛ 이하, 7㎛ 이하, 또는, 6㎛ 이하이어도 된다. 또한, 배리어층의 두께는, 배리어층을 형성하기 쉬움 및 해상성의 관점에서, 1.0㎛ 이상, 1.5㎛ 이상, 2㎛ 이상, 3㎛ 이상, 또는, 4㎛ 이상이어도 된다. The thickness of the barrier layer is not particularly limited. The thickness of the barrier layer may be 12 탆 or less, 10 탆 or less, 8 탆 or less, 7 탆 or 6 탆 or less from the viewpoint of ease of removal of the barrier layer. The thickness of the barrier layer may be 1.0 占 퐉 or more, 1.5 占 퐉 or more, 2 占 퐉 or more, 3 占 퐉 or more, or 4 占 퐉 or more from the viewpoints of ease of formation of the barrier layer and resolution.

또한, 본 실시형태에 있어서의 배리어층은, 감광성을 가지고 있어도 되지만, 그 감광성은, 감광층의 감광성에 비해 낮다. 또한, 배리어층은 감광성을 가지지 않아도 된다. 배리어층이 감광성을 가지지 않은 경우, 감광층의 광감도 안정성이 보다 향상되는 경향이 있다. 또한, "감광성"이란, 예를 들면, 감광층을 노광하고, 필요에 따라 노광 후의 가열 처리를 하고, 이어서, 감광층의 미경화부를 제거하기 위한 현상액을 사용하여 감광층을 현상한 경우, 레지스터 패턴을 형성할 수 있는 것을 말한다. Further, the barrier layer in this embodiment may have photosensitivity, but the photosensitivity thereof is lower than that of the photosensitive layer. Further, the barrier layer does not need to be photosensitive. When the barrier layer does not have photosensitivity, the photosensitivity of the photosensitive layer tends to be more stable. The term "photosensitive" means, for example, that when a photosensitive layer is exposed and, if necessary, a heat treatment is performed after exposure, and then a photosensitive layer is developed using a developer for removing the uncured portions of the photosensitive layer, Which is capable of forming a pattern.

<감광층><Photosensitive Layer>

본 실시형태의 감광층은, 후술하는 감광성 수지 조성물을 사용하여 형성되는 층이다. 감광성 수지 조성물은, 광조사됨으로써 성질이 바뀌는(예를 들면, 광경화되는) 것이라면, 원하는 목적에 맞추어 사용할 수 있고, 네가티브형이어도 포지티브형이어도 된다. 감광성 수지 조성물은, (A) 바인더 폴리머, (B) 광중합성 화합물 및 (C) 광중합 개시제를 함유해도 된다. 또한, 필요에 따라, (D) 광증감제, (E) 중합 금지제 또는 그 밖의 성분을 함유해도 된다. 이하, 본 실시형태에 있어서의 감광성 수지 조성물에서 사용되는 각 성분에 관하여 보다 상세히 설명한다. The photosensitive layer of the present embodiment is a layer formed by using a photosensitive resin composition described later. The photosensitive resin composition may be used in accordance with a desired purpose if it is a material whose properties are changed (for example, photo-cured) by light irradiation, and may be a negative type or a positive type. The photosensitive resin composition may contain (A) a binder polymer, (B) a photopolymerizable compound and (C) a photopolymerization initiator. If necessary, (D) a photosensitizer, (E) a polymerization inhibitor or other components may be contained. Hereinafter, each component used in the photosensitive resin composition in the present embodiment will be described in more detail.

((A) 바인더 폴리머)((A) binder polymer)

(A) 바인더 폴리머(이하, "(A)성분"이라고도 한다)는, 예를 들면, 중합성 단량체를 라디칼 중합시킴으로써 제조할 수 있다. 상기 중합성 단량체로서는, 예를 들면, 스티렌, 비닐톨루엔 및 α-메틸스티렌 등의 α-위치 또는 방향족환에 있어서 치환되어 있는 중합 가능한 스티렌 유도체, 디아세톤아크릴아미드 등의 아크릴아미드, 아크릴로니트릴, 비닐-n-부틸에테르 등의 비닐알코올의 에테르류, (메타)아크릴산 알킬에스테르, 벤질메타크릴레이트 등의 (메타)아크릴산 벤질에스테르, (메타)아크릴산 테트라히드로푸르푸릴에스테르, (메타)아크릴산 디메틸아미노에틸에스테르, (메타)아크릴산 디에틸아미노에틸에스테르, (메타)아크릴산 글리시딜에스테르, 2,2,2-트리플루오로에틸(메타)아크릴레이트, 2,2,3,3-테트라플루오로프로필(메타)아크릴레이트, (메타)아크릴산, α-브로모아크릴산, α-클로르아크릴산, β-푸릴(메타)아크릴산, β-스티릴(메타)아크릴산, 말레산, 말레산 무수물, 말레산 모노메틸, 말레산 모노에틸, 말레산 모노이소프로필 등의 말레산 모노에스테르, 푸말산, 신남산, α-시아노신남산, 이타콘산, 크로톤산 및 프로피올산을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. (A) a binder polymer (hereinafter also referred to as "component (A)") can be produced, for example, by radical polymerization of a polymerizable monomer. Examples of the polymerizable monomer include polymerizable styrene derivatives substituted in an? -Position or aromatic ring such as styrene, vinyltoluene and? -Methylstyrene, acrylamides such as diacetone acrylamide, acrylonitrile, Ethyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate such as benzyl methacrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, dimethylamino (meth) acrylate Ethyl ester, diethylaminoethyl (meth) acrylate, glycidyl (meth) acrylate, 2,2,2-trifluoroethyl (meth) acrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl (Meth) acrylic acid,? -Styryl (meth) acrylic acid, maleic acid, maleic anhydride, maleic anhydride, Resan there may be mentioned monomethyl, monoethyl maleate, monoisopropyl maleate, maleic acid monoester, fumaric acid, cinnamic acid, α- cyano didanosine acid, itaconic acid, crotonic acid and propionic olsan of. These may be used singly or in combination of two or more.

이들 중에서는, 가소성이 향상되는 관점에서, (메타)아크릴산 알킬에스테르를 포함해도 된다. (메타)아크릴산 알킬에스테르로서는, 예를 들면, 하기 일반식(II)로 표시되는 화합물, 및, 이들 화합물의 알킬기가 수산기, 에폭시기, 할로겐기 등으로 치환된 화합물을 들 수 있다. Among them, (meth) acrylic acid alkyl ester may be included in view of improvement of plasticity. Examples of the (meth) acrylic acid alkyl ester include compounds represented by the following general formula (II) and compounds in which the alkyl group of these compounds is substituted with a hydroxyl group, an epoxy group, a halogen group and the like.

  H2C=C(R6)-COOR7       (II)H 2 C = C (R 6 ) -COOR 7 (II)

일반식(II) 중, R6은 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, R7은 탄소수 1∼12의 알킬기를 나타낸다. R7로 나타내는 탄소수 1∼12의 알킬기로서는, 예를 들면, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기, 운데실기, 도데실기 및 이들 기의 구조 이성체를 들 수 있다. In the general formula (II), R 6 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 7 represents an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Examples of the alkyl group having 1 to 12 carbon atoms represented by R 7 include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, a nonyl group, a decyl group, And structural isomers of these groups.

상기 일반식(II)로 표시되는 (메타)아크릴산 알킬에스테르로서는, 예를 들면, (메타)아크릴산 메틸에스테르, (메타)아크릴산 에틸에스테르, (메타)아크릴산 프로필에스테르, (메타)아크릴산 부틸에스테르, (메타)아크릴산 펜틸에스테르, (메타)아크릴산 헥실에스테르, (메타)아크릴산 헵틸에스테르, (메타)아크릴산 옥틸에스테르, (메타)아크릴산 2-에틸헥실에스테르, (메타)아크릴산 노닐에스테르, (메타)아크릴산 데실에스테르, (메타)아크릴산 운데실에스테르, (메타)아크릴산 도데실에스테르 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. Examples of the (meth) acrylic acid alkyl ester represented by the general formula (II) include (meth) acrylic acid methyl ester, (meth) acrylic acid ethyl ester, (meth) acrylic acid propyl ester, (meth) (Meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl , Undecyl (meth) acrylate, and dodecyl (meth) acrylate. These may be used singly or in combination of two or more.

또한, (A)성분은, 알칼리 현상성의 견지에서, 카복실기를 함유해도 된다. 카복실기를 함유하는 (A)성분은, 예를 들면, 카복실기를 가지는 중합성 단량체와 그 밖의 중합성 단량체를 라디칼 중합시킴으로써 제조할 수 있다. 상기 카복실기를 가지는 중합성 단량체로서는, (메타)아크릴산이어도 되고, 메타크릴산이어도 된다. 또한, 카복실기를 함유하는 (A)성분의 산가는 50∼250mgKOH/g, 50∼200mgKOH/g, 또는, 100∼200mgKOH/g이어도 된다. The component (A) may contain a carboxyl group from the viewpoint of alkali developability. The component (A) containing a carboxyl group can be produced, for example, by radical polymerization of a polymerizable monomer having a carboxyl group and other polymerizable monomers. The polymerizable monomer having a carboxyl group may be (meth) acrylic acid or methacrylic acid. The acid value of the component (A) containing a carboxyl group may be 50 to 250 mgKOH / g, 50 to 200 mgKOH / g, or 100 to 200 mgKOH / g.

(A)성분의 카복실기 함유량(바인더 폴리머에 사용되는 중합성 단량체 총량에 대한 카복실기를 가지는 중합성 단량체의 배합율)은, 알칼리 현상성과 알칼리 내성을 균형있게 향상시키는 견지에서, 12∼50질량%, 12∼40질량%, 15∼35질량%, 15∼30질량%, 또는, 20∼30질량% 이어도 된다. 이 카복실기 함유량이 12질량% 이상에서는 알칼리 현상성이 향상되는 경향이 있고, 50질량% 이하에서는 알칼리 내성이 뛰어난 경향이 있다. The content of the carboxyl group of the component (A) (the blend ratio of the polymerizable monomer having a carboxyl group to the total amount of the polymerizable monomers used in the binder polymer) is preferably from 12 to 50% by mass, 15 to 35 mass%, 15 to 30 mass%, or 20 to 30 mass%. When the content of the carboxyl group is 12 mass% or more, the alkali developability tends to be improved. When the content of the carboxyl group is 50 mass% or less, the alkali resistance tends to be excellent.

또한, (A)성분 중에 있어서의 카복실기를 가지는 중합성 단량체에서 유래하는 구조 단위의 함유량은, 상기 카복실기를 가지는 중합성 단량체의 배합율에 상관(相關)되므로, 12∼50질량%, 12∼40질량%, 15∼35질량%, 15∼30질량%, 또는, 20∼30질량% 이어도 된다. The content of the structural unit derived from the polymerizable monomer having a carboxyl group in the component (A) correlates with the compounding ratio of the polymerizable monomer having the carboxyl group, so that the content of the structural unit derived from the polymerizable monomer having 12 to 50 mass% , 15 to 35 mass%, 15 to 30 mass%, or 20 to 30 mass%.

또한, (A)성분은, 밀착성 및 내약품성의 견지에서, 스티렌 또는 스티렌 유도체를 중합성 단량체로서 사용해도 된다. 상기 스티렌 또는 스티렌 유도체를 중합성 단량체로 한 경우, 그 함유량((A)성분에 사용하는 중합성 단량체 총량에 대한 스티렌 또는 스티렌 유도체의 배합율)은, 밀착성 및 내약품성을 더욱 양호하게 하는 견지에서, 10∼60질량%, 15∼50질량%, 30∼50질량%, 35∼50질량%, 또는, 40∼50질량% 이어도 된다. 이 함유량이 10질량% 이상에서는, 밀착성이 향상되는 경향이 있고, 60질량% 이하에서는, 현상시에 박리편이 커지는 것을 억제할 수 있고 박리에 필요로 하는 시간의 장시간화가 억제되는 경향이 있다. Further, from the standpoint of adhesion and chemical resistance, the component (A) may use styrene or a styrene derivative as a polymerizable monomer. When the styrene or styrene derivative is a polymerizable monomer, the content thereof (the blending ratio of styrene or styrene derivative to the total amount of the polymerizable monomers used in the component (A)), from the viewpoint of further improving the adhesiveness and chemical resistance, 10 to 60 mass%, 15 to 50 mass%, 30 to 50 mass%, 35 to 50 mass%, or 40 to 50 mass%. When the content is 10% by mass or more, the adhesion tends to be improved. When the content is 60% by mass or less, it is possible to suppress the increase in the amount of peeled off at the time of development, and the prolonged time required for peeling tends to be suppressed.

또한, (A)성분 중에 있어서의 스티렌 또는 스티렌 유도체에서 유래하는 구조 단위의 함유량은, 상기 스티렌 또는 스티렌 유도체의 배합율에 상관되므로, 10∼60질량%, 15∼50질량%, 30∼50질량%, 35∼50질량%, 또는, 40∼50질량% 이어도 된다. The content of the structural unit derived from the styrene or the styrene derivative in the component (A) is in the range of 10 to 60% by mass, 15 to 50% by mass, 30 to 50% by mass, , 35 to 50 mass%, or 40 to 50 mass%.

또한, (A)성분은, 해상도 및 애스펙트비의 견지에서, (메타)아크릴산 벤질에스테르를 중합성 단량체로서 사용해도 된다. (A)성분 중에 있어서의 (메타)아크릴산 벤질에스테르에서 유래하는 구조 단위의 함유량은, 해상도 및 애스펙트비를 더욱 향상시키는 견지에서, 15∼50질량%, 15∼45질량%, 15∼40질량%, 15∼35질량%, 또는, 20∼30질량% 이어도 된다. Further, the component (A) may be used as a polymerizable monomer in the view of resolution and aspect ratio, as the (meth) acrylic acid benzyl ester. The content of the structural unit derived from the (meth) acrylic acid benzyl ester in the component (A) is preferably from 15 to 50 mass%, from 15 to 45 mass%, from 15 to 40 mass%, from the viewpoint of further improving the resolution and the aspect ratio, , 15 to 35 mass%, or 20 to 30 mass%.

이들 바인더 폴리머는, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 2종 이상을 조합하여 사용하는 경우의 (A)성분으로서는, 예를 들면, 상이한 중합성 단량체로 이루어지는 2종 이상의 바인더 폴리머, 상이한 중량평균분자량의 2종 이상의 바인더 폴리머, 및, 상이한 분산도의 2종 이상의 바인더 폴리머를 들 수 있다. These binder polymers may be used singly or in combination of two or more. As the component (A) when two or more kinds are used in combination, for example, two or more kinds of binder polymers comprising different polymerizable monomers, two or more different types of binder polymers with different weight average molecular weights, A binder polymer of at least two kinds can be mentioned.

(A)성분은, 통상의 방법에 의해 제조할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들면, (메타)아크릴산 알킬에스테르와, (메타)아크릴산과, 스티렌 등을 라디칼 중합시킴으로써 제조할 수 있다. The component (A) can be produced by a conventional method. Specifically, it can be produced, for example, by radical polymerization of (meth) acrylic acid alkyl ester, (meth) acrylic acid, styrene and the like.

(A)성분의 중량평균분자량은, 기계 강도와 알칼리 현상성을 균형있게 향상시키는 견지에서, 20,000∼300,000, 40,000∼150,000, 40,000∼120,000, 또는, 50,000∼80,000이어도 된다. (A)성분의 중량평균분자량이 20,000 이상에서는, 내현상액성이 뛰어난 경향이 있고, 300,000 이하에서는, 현상 시간이 길어지는 것이 억제되는 경향이 있다. 또한, 본 명세서에 있어서의 중량평균분자량은, 겔 침투 크로마토그래피법(GPC)에 의해 측정되고, 표준 폴리스티렌을 사용하여 작성한 검량선에 의해 환산된 값이다. The weight average molecular weight of the component (A) may be from 20,000 to 300,000, from 40,000 to 150,000, from 40,000 to 120,000, or from 50,000 to 80,000 from the viewpoint of improving the mechanical strength and the alkali developability in a balanced manner. When the weight average molecular weight of the component (A) is 20,000 or more, the developer resistance tends to be excellent. When the weight average molecular weight is 300,000 or less, the development time tends to be suppressed. The weight average molecular weight in the present specification is a value measured by gel permeation chromatography (GPC) and converted by a calibration curve prepared using standard polystyrene.

상기 (A)성분의 함유량은, (A)성분 및 후술하는 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여, 30∼80질량부, 40∼75질량부, 50∼70질량부, 또는, 50∼60질량부이어도 된다. (A)성분의 함유량이 이 범위 내이면, 감광성 수지 조성물의 도막성 및 광경화부의 강도가 보다 양호해진다. The content of the component (A) is preferably 30 to 80 parts by mass, 40 to 75 parts by mass, 50 to 70 parts by mass, or 50 to 70 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total solid content of the component (A) To 60 parts by mass. When the content of the component (A) is within this range, the film property of the photosensitive resin composition and the strength of the light-cured portion become better.

((B) 광중합성 화합물) ((B) photopolymerizable compound)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, (B) 광중합성 화합물(이하, "(B)성분"이라고도 한다)을 포함해도 된다. (B)성분은, 광중합 가능한 화합물, 광가교 가능한 화합물이면, 특별히 제한 없이 사용할 수 있지만, 예를 들면, 분자 내에 적어도 1개의 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 화합물을 사용할 수 있다. The photosensitive resin composition according to this embodiment may contain a photopolymerizable compound (B) (hereinafter also referred to as "component (B)"). The component (B) can be used as a photopolymerizable compound or a photo-crosslinkable compound without particular limitation, and for example, a compound having at least one ethylenic unsaturated bond in the molecule can be used.

(B)성분으로서는, 예를 들면, 다가 알코올에 α,β-불포화 카복실산을 반응시켜 얻어지는 화합물, 비스페놀 A형 (메타)아크릴레이트 화합물 등의 비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물, 우레탄 결합을 가지는 (메타)아크릴레이트 화합물 등의 우레탄 모노머, 노닐페녹시에틸렌옥시(메타)아크릴레이트, 노닐페녹시옥타에틸렌옥시(메타)아크릴레이트, γ-클로로-β-히드록시프로필-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸-o-프탈레이트, β-히드록시에틸-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸-o-프탈레이트, β-히드록시프로필-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸-o-프탈레이트, 및, (메타)아크릴산 알킬에스테르를 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. Examples of the component (B) include a compound obtained by reacting a polyhydric alcohol with an alpha, beta -unsaturated carboxylic acid, a bisphenol-type (meth) acrylate compound such as a bisphenol A (meth) acrylate compound, (Meth) acrylate compounds, nonylphenoxyethylene oxy (meth) acrylate, nonylphenoxy octaethylene oxy (meth) acrylate, gamma -chloro-beta-hydroxypropyl- (Meth) acryloyloxyethyl-o-phthalate,? -Hydroxypropyl-? '- (meth) acryloyloxyethyl-o -Phthalate, and (meth) acrylic acid alkyl ester. These may be used singly or in combination of two or more.

상기 중에서는, 해상성, 밀착성 및 레지스터 옷자락 발생의 억제성을 균형있게 향상시키는 견지에서, (B)성분은, 비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물을 함유해도 된다. 상기 비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물로서는, 하기 일반식(III)으로 표시되는 화합물이어도 된다.
Among the above, the component (B) may contain a bisphenol-type (meth) acrylate compound from the viewpoint of improving the resolution, adhesiveness and suppressing the occurrence of the resistor hem. The bisphenol-type (meth) acrylate compound may be a compound represented by the following general formula (III).

Figure pct00009
Figure pct00009

일반식(III) 중, R1, R2, R3 및 R4는 각각 독립하여, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. X 및 Y는 각각 독립하여, 에틸렌기 또는 프로필렌기를 나타내고, XO 및 YO는 각각 독립하여, 옥시에틸렌기(이하, "EO기"라고 칭하는 경우가 있다.) 또는 옥시프로필렌기(이하, "PO기"라고 칭하는 경우가 있다.)를 나타낸다. p1, p2, q1 및 q2는 각각 독립하여 0∼40의 수치를 나타낸다. 다만, p1+q1 및 p2+q2는 모두 1이상이다. X가 에틸렌기, Y가 프로필렌기인 경우, p1+p2는 1∼40이며, q1+q2는 0∼20이다. X가 프로필렌기, Y가 에틸렌기인 경우, p1+p2는 0∼20이며, q1+q2는 1∼40이다. p1, p2, q1 및 q2는 EO기 또는 PO기의 구조 단위의 수를 나타내기 때문에, 단일의 분자에서는 정수 값을 나타내고, 복수 종의 분자의 집합체에서는 평균값인 유리수를 나타낸다. 또한, EO기 및 PO기는 각각 연속하여 블록적으로 존재해도, 랜덤으로 존재해도 된다. In the general formula (III), R 1 , R 2 , R 3 and R 4 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. X and Y each independently represent an ethylene group or a propylene group and XO and YO each independently represent an oxyethylene group (hereinafter may be referred to as "EO group") or an oxypropylene group (hereinafter referred to as "PO group "). &Lt; / RTI &gt; p 1 , p 2 , q 1 and q 2 independently represent 0 to 40. However, p 1 + q 1 and p 2 + q 2 are both 1 or more. When X is an ethylene group and Y is a propylene group, p 1 + p 2 is 1 to 40, and q 1 + q 2 is 0 to 20. When X is a propylene group and Y is an ethylene group, p 1 + p 2 is 0 to 20, and q 1 + q 2 is 1 to 40. Since p 1 , p 2 , q 1 and q 2 represent the number of structural units of the EO group or PO group, they represent an integer value in a single molecule and a rational number in an aggregate of a plurality of molecules. The EO group and the PO group may be present in a block form or in a random manner in succession.

일반식(III) 중, X 및 Y가 함께 에틸렌기인 경우, 해상도 및 밀착성이 보다 뛰어난 관점에서, p1+p2+q1+q2는, 1∼20, 1∼10, 또는, 1∼7이어도 된다. When X and Y together represent an ethylene group, p 1 + p 2 + q 1 + q 2 may be 1 to 20, 1 to 10, or 1 to 7 from the viewpoint of more excellent resolution and adhesiveness .

일반식(III)으로 표시되는 화합물로서는, 예를 들면, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리에톡시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리프로폭시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리에톡시폴리프로폭시)페닐)프로판 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.  Examples of the compound represented by the general formula (III) include 2,2-bis (4 - ((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane, 2,2- Bis (4 - ((meth) acryloxypolyethoxypolypropoxy) phenyl) propane, and the like. These may be used singly or in combination of two or more.

비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물로서 상업적으로 입수 가능한 것으로서는, 예를 들면, 2,2-비스(4-(메타크릴옥시디에톡시)페닐)프로판(신나카무라가가쿠고교 가부시키가이샤제 "BPE-200"), 2,2-비스(4-(메타크릴옥시펜타에톡시)페닐)프로판(신나카무라가가쿠고교 가부시키가이샤제 "BPE-500" 또는 히타치가세이 가부시키가이샤제 "FA-321 M"), 2,2-비스(4-(메타크릴옥시펜타데카에톡시)페닐)프로판(신나카무라가가쿠고교 가부시키가이샤제 "BPE-1300"), 2,2-비스(4-(메타크릴옥시폴리에톡시)페닐)프로판(쿄에이샤가가쿠 가부시키가이샤제 "BP-2 EM"(EO기:2. 6(평균값))) 등을 들 수 있다. Examples of commercially available bisphenol type (meth) acrylate compounds include 2,2-bis (4- (methacryloxy diethoxy) phenyl) propane (Shin-Nakamura Kagaku Kogyo Co., (BPE-500 manufactured by Shin-Nakamura Kagaku Kogyo K.K. or FA-500 manufactured by Hitachi Kasei Kabushiki Kaisha), 2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) 321 M "), 2,2-bis (4- (methacryloxypentadecaethoxy) phenyl) propane (BPE-1300 manufactured by Shin Nakamura Kagaku Kogyo K.K.), 2,2- (Methacryloxypolyethoxy) phenyl) propane ("BP-2 EM" (EO group: 2.6 (average value)) manufactured by Kyowa Chemical Industry Co., Ltd.) and the like.

비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물의 함유량은, 내약품성이 보다 향상되는 견지에서, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 1∼50질량%, 3∼40질량%, 10∼40질량%, 20∼40질량%, 또는, 30∼40질량% 이어도 된다. The content of the bisphenol-type (meth) acrylate compound is preferably 1 to 50% by mass, 3 to 40% by mass, and 10 to 50% by mass, based on the total solid content of the component (A) 40% by mass, 20% by mass to 40% by mass, or 30% by mass to 40% by mass.

또한, 비스페놀형 (메타)아크릴레이트 화합물의 함유량은, 내약품성이 보다 향상되는 견지에서, (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 30∼99질량%, 50∼97질량%, 60∼95질량%, 70∼95질량%, 또는, 80∼90질량% 이어도 된다. The content of the bisphenol-type (meth) acrylate compound is preferably from 30 to 99% by mass, from 50 to 97% by mass, from 60 to 95% by mass, , 70 to 95 mass%, or 80 to 90 mass%.

또한, EO기 및 PO기의 총수가 1∼7인 일반식(III)으로 표시되는 화합물의 함유량은, 해상도를 보다 양호하게 하는 견지에서, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 1∼50질량%, 2∼48질량%, 3∼45질량%, 5∼40질량%, 10∼30질량%, 또는, 10∼25질량% 이어도 된다. The content of the compound represented by the general formula (III) in which the total number of the EO group and the PO group is 1 to 7 is preferably within a range from the total amount of the solid components of the component (A) and the component (B) , 1 to 50 mass%, 2 to 48 mass%, 3 to 45 mass%, 5 to 40 mass%, 10 to 30 mass%, or 10 to 25 mass%.

또한, 기판의 요철에 대한 추종성을 보다 향상시키는 견지에서, 다가 알코올에 α,β-불포화 카복실산을 반응시켜 얻어지는 화합물을 함유해도 된다. 이와 같은 화합물로서는, 분자 내에 EO기 및 PO기의 양쪽을 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트, EO기를 가지는 디펜타에리트리톨(메타)아크릴레이트 등을 사용할 수 있다. EO기를 가지는 디펜타에리트리톨(메타)아크릴레이트로서 상업적으로 입수 가능한 것으로서는, 예를 들면, 니폰가야쿠 가부시키가이샤제 "DPEA-12" 등을 들 수 있다. EO기를 가지는 디펜타에리트리톨(메타)아크릴레이트의 함유량은, (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 해상성 향상의 관점에서, 1∼10질량%, 1.5∼8질량%, 2∼8질량%, 2. 5∼8질량%, 또는, 3∼8질량% 이어도 된다. Further, from the viewpoint of further improving the followability to the unevenness of the substrate, a compound obtained by reacting an?,? - unsaturated carboxylic acid with a polyhydric alcohol may be contained. As such a compound, a polyalkylene glycol di (meth) acrylate having both an EO group and a PO group in the molecule, and dipentaerythritol (meth) acrylate having an EO group can be used. Examples of commercially available dipentaerythritol (meth) acrylate having an EO group include "DPEA-12" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., and the like. The content of dipentaerythritol (meth) acrylate having an EO group is preferably from 1 to 10 mass%, from 1.5 to 8 mass%, from 2 to 8 mass%, from the viewpoint of improving the resolution, , 2. 5 to 8 mass%, or 3 to 8 mass%.

또한, EO기 및 PO기의 양쪽을 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트의 분자 내에 있어서, EO기 및 PO기는, 각각 연속하여 블록적으로 존재해도, 랜덤으로 존재해도 된다. 또한, PO기는, 옥시-n-프로필렌기 또는 옥시이소프로필렌기 중 어느 하나이어도 된다. 또한, (폴리)옥시이소프로필렌기에 있어서, 프로필렌기의 2급 탄소가 산소 원자에 결합되어 있어도 되고, 1급 탄소가 산소 원자에 결합되어 있어도 된다. In the molecule of the polyalkylene glycol di (meth) acrylate having both of the EO group and the PO group, the EO group and the PO group may be present in a block or in a block continuously or randomly. The PO group may be any one of an oxy-n-propylene group and an oxyisopropylene group. Further, in the (poly) oxyisopropylene group, the secondary carbon of the propylene group may be bonded to the oxygen atom, or the primary carbon may be bonded to the oxygen atom.

EO기 및 PO기의 양쪽을 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트로서 상업적으로 입수 가능한 것으로서는, 예를 들면, EO기:6(평균값) 및 PO기:12(평균값)를 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트(히타치가세이 가부시키가이샤제 "FA-023 M", "FA-024 M") 등을 들 수 있다. 또한, EO기 및 PO기의 양쪽을 가지는 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트의 함유량은, (B)성분의 고형분 총량에 대하여, 기판의 요철에 대한 추종성 및 해상성 향상의 관점에서, 1∼15질량%, 1.5∼15질량%, 2∼13질량%, 또는, 3∼13질량% 이어도 된다. Examples of commercially available polyalkylene glycol di (meth) acrylates having both an EO group and a PO group include a polyalkyl (meth) acrylate having an EO group of 6 (average value) and a PO group of 12 (average value) (FA-023M ", "FA-024M ", manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), and the like. The content of the polyalkylene glycol di (meth) acrylate having both the EO group and the PO group is preferably from 1 to 5, more preferably from 1 to 5, from the viewpoint of improving the followability and resolution of the substrate relative to the total amount of the solid content of the component (B) To 15 mass%, 1.5 to 15 mass%, 2 to 13 mass%, or 3 to 13 mass%.

(B)성분의 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여, 20∼70질량부, 25∼60질량부, 또는, 30∼50질량부로 해도 된다. (B)성분의 함유량이 이 범위 내이면, 감광성 수지 조성물의 해상도, 밀착성 및 레지스터 옷자락 발생의 억제성에 더하여, 광감도 및 도막성도 보다 양호해진다. The content of the component (B) may be 20 to 70 parts by mass, 25 to 60 parts by mass, or 30 to 50 parts by mass based on 100 parts by mass of the total solid content of the components (A) and (B). When the content of the component (B) is within the above range, the photosensitive resin composition is superior in the photosensitivity and film resistance in addition to the resolution, adhesiveness, and resistance to the occurrence of the resistor hem.

((C) 광중합 개시제) ((C) photopolymerization initiator)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, (C) 광중합 개시제(이하, "(C)성분"이라고도 한다)을 적어도 1종 함유해도 된다. (C)성분은, (B)성분을 중합 시킬 수 있는 것이면, 특별히 제한은 없고, 통상 사용되는 광중합 개시제로부터 적절히 선택할 수 있다. The photosensitive resin composition according to the present embodiment may contain at least one photopolymerization initiator (hereinafter also referred to as "component (C)") (C). The component (C) is not particularly limited as long as it can polymerize the component (B), and can be appropriately selected from commonly used photopolymerization initiators.

(C)성분으로서는, 예를 들면, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄온-1, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판온-1 등의 방향족 케톤, 알킬안트라퀴논 등의 퀴논류, 벤조인알킬에테르 등의 벤조인에테르 화합물, 벤조인, 알킬벤조인 등의 벤조인 화합물, 벤질디메틸케탈 등의 벤질 유도체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체, 2-(o-플루오로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체 등의 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체, 9-페닐아크리딘, 1,7-(9,9'-아크리딘일) 헵탄 등의 아크리딘 유도체 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. As the component (C), for example, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -2-morpholinopropanone-1, quinones such as alkyl anthraquinone, benzoin ether compounds such as benzoin alkyl ether, benzoin compounds such as benzoin and alkylbenzoin, benzyl dimethyl ketal, etc. (O-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer and 2- (o-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, Acridine derivatives such as 4,5-triarylimidazole dimer, 9-phenylacridine, and 1,7- (9,9'-acridinyl) heptane. These may be used singly or in combination of two or more.

이들 중에서는, 해상성이 향상되는 관점에서, 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체를 함유해도 된다. 상기 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체로서는, 예를 들면, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-비스-(m-메톡시페닐) 이미다졸 2량체, 및, 2-(p-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체를 들 수 있다. 이들 중에서도, 광감도 안정성이 향상되는 관점에서, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체를 함유해도 된다. Among these, 2,4,5-triarylimidazole dimer may be contained from the viewpoint of improving the resolution. Examples of the 2,4,5-triarylimidazole dimer include 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) - A dimer of 4,5-bis- (m-methoxyphenyl) imidazole, and a dimer of 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole. Among them, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer may be contained in view of improvement of photosensitivity stability.

2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체로서는, 예를 들면, 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐비스이미다졸은, B-CIM(호도가야가가쿠고교 가부시키가이샤제, 제품명)로서 상업적으로 입수 가능하다. As the 2,4,5-triarylimidazole dimer, for example, 2,2'-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ', 5,5'-tetraphenylbisimidazole is preferably represented by B And is commercially available as -CIM (product name, product of Hodogaya Kagaku Kogyo K.K.).

(C)성분은, 광감성 및 밀착성을 보다 향상시키며, (C)성분의 광흡수성을 보다 더욱 억제하는 관점에서, 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체의 적어도 1종을 포함해도 되고, 2-(2-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2량체를 포함해도 된다. 또한, 2,4,5-트리아릴이미다졸 2량체는, 그 구조가 대칭이어도 비대칭이어도 된다. The component (C) may further contain at least one kind of 2,4,5-triarylimidazole dimer in view of further improving light sensitivity and adhesion, and further suppressing light absorption of the component (C) And may include 2- (2-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer. Further, the 2,4,5-triarylimidazole dimer may be symmetric or asymmetric in structure.

(C)성분의 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여, 0.01∼30질량부, 0.1∼10질량부, 1∼7질량부, 1∼6질량부, 1∼5질량부, 또는, 2∼5질량부이어도 된다. (C)성분의 함유량이 0.01질량부 이상에서는, 광감성, 해상성 및 밀착성이 향상되는 경향이 있고, 30질량부 이하에서는, 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 경향이 있다. (C) is contained in an amount of 0.01 to 30 parts by mass, 0.1 to 10 parts by mass, 1 to 7 parts by mass, 1 to 6 parts by mass, and preferably 1 to 6 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total solid content of the components (A) 1 to 5 parts by mass, or 2 to 5 parts by mass. When the content of the component (C) is 0.01 part by mass or more, light sensitivity, resolution and adhesion tend to be improved. When the content is less than 30 parts by mass, the resist pattern shape tends to be excellent.

((D) 광증감제) ((D) photosensitizer)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, (D) 광증감제(이하, "(D)성분"이라고도 한다)을 포함해도 된다. (D)성분을 함유함으로써, 노광에 사용되는 활성 광선의 흡수 파장을 유효하게 사용할 수 있는 경향이 있다. The photosensitive resin composition according to this embodiment may contain (D) a photosensitizer (hereinafter also referred to as "component (D)"). (D), there is a tendency that the absorption wavelength of the active ray used for exposure can be effectively used.

(D)성분으로서는, 예를 들면, 피라졸린류, 디알킬아미노벤조페논류, 안트라센류, 쿠마린류, 크산톤류, 옥사졸류, 벤조옥사졸류, 티아졸류, 벤조티아졸류, 트리아졸류, 스틸벤류, 트리아진류, 티오펜류, 나프탈이미드류 및 트리아릴아민류를 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 노광에 사용되는 활성 광선의 흡수 파장을 보다 유효하게 이용할 수 있는 견지에서, (D)성분은, 피라졸린류, 안트라센류, 또는, 디알킬아미노벤조페논류를 포함해도 되고, 그 중에서도, 디알킬아미노벤조페논류를 포함해도 된다. 디알킬아미노벤조페논류로서 상업적으로 입수 가능한 것으로서는, 예를 들면, 호도가야가가쿠고교 가부시키가이샤제 "EAB" 등을 들 수 있다. Examples of the component (D) include, but are not limited to, pyrazoles, dialkylaminobenzophenones, anthracenes, coumarins, xanthones, oxazoles, benzoxazoles, thiazoles, benzothiazoles, triazoles, Triazines, thiophenes, naphthalimides, and triarylamines. These may be used singly or in combination of two or more. From the standpoint of more effectively utilizing the absorption wavelength of the active light used for exposure, the component (D) may contain a pyrazoline, an anthracene or a dialkylaminobenzophenone, and among these, Aminobenzophenones may also be included. As the dialkylaminobenzophenones commercially available, for example, "EAB" manufactured by Hodogaya Chemical Industry Co., Ltd. and the like can be mentioned.

(D)성분을 함유하는 경우, 그 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여, 1.0질량부 이하, 0.5질량부 이하, 0.15질량부 이하, 0.12질량부 이하, 또는, 0.10질량부 이하이어도 된다. (D)성분의 함유량이 (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여 1.0질량부 이하이면, 레지스터 패턴 형상 및 레지스터 옷자락 발생성의 악화를 억제할 수 있어, 해상도를 보다 양호하게 할 수 있는 경향이 있다. 또한, (D)성분의 함유량은, 고광감성 및 양호한 해상도를 얻기 쉬운 견지에서, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여 0.01질량부 이상이어도 된다. (D), the content thereof is preferably 1.0 parts by mass or less, 0.5 parts by mass or less, 0.15 parts by mass or less, and 0.12 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the total solid content of the components (A) and (B) , Or 0.10 parts by mass or less. When the content of the component (D) is 1.0 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the total solid content of the component (A) and the component (B), deterioration of the resistor pattern shape and the resistance of the resistor skirt can be suppressed, There is a tendency to be able to do. The content of the component (D) may be 0.01 parts by mass or more based on 100 parts by mass of the total amount of the solid components of the component (A) and the component (B) from the viewpoint of obtaining high sensitivity and good resolution.

((E) 중합 금지제) ((E) polymerization inhibitor)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, (E) 중합 금지제(이하, "(E)성분"이라고도 한다)을 포함해도 된다. (E)성분을 함유함으로써, 감광성 수지 조성물을 광경화시키기 위해서 필요한 노광량을, 투영 노광기로 노광하는데 최적인 노광량으로 조정할 수 있는 경향이 있다. The photosensitive resin composition according to this embodiment may contain a polymerization inhibitor (E) (hereinafter also referred to as "component (E)"). By containing the component (E), there is a tendency that the amount of exposure necessary for photo-curing the photosensitive resin composition can be adjusted to an optimum amount of exposure for exposing with a projection exposure machine.

(E)성분은, 해상성을 더욱 향상시키는 견지에서, 하기 일반식(I)로 표시되는 화합물을 포함해도 된다. The component (E) may contain a compound represented by the following general formula (I) from the viewpoint of further improving the resolution.

Figure pct00010
Figure pct00010

일반식(I) 중, R5는, 할로겐 원자, 수소 원자, 탄소수 1∼20의 알킬기, 탄소수 3∼10의 시클로알킬기, 아미노기, 아릴기, 머캅토기, 탄소수 1∼10의 알킬머캅토기, 알킬기의 탄소수가 1∼10의 카복실알킬기, 탄소수 1∼20의 알콕시기 또는 복소환기를 나타내고, m 및 n는, m이 2 이상의 정수이고, n이 0 이상의 정수이고, m+n=6이 되도록 선택되는 정수이며, n이 2 이상의 정수인 경우, R5는 각각 동일해도 상이해도 된다. 또한, 아릴기는, 탄소수 1∼20의 알킬기로 치환되어 있어도 된다. In the general formula (I), R 5 represents a halogen atom, a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms, an amino group, an aryl group, a mercapto group, M and n are selected such that m is an integer of 2 or more, n is an integer of 0 or more, and m + n = 6, and the alkyl group of the alkyl group is preferably an alkyl group of 1 to 10 carbon atoms, an alkoxy group of 1 to 20 carbon atoms, When n is an integer of 2 or more, R 5 may be the same or different. The aryl group may be substituted with an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms.

R5는, (A)성분과의 상용성을 보다 향상시키는 견지에서, 수소 원자 또는 탄소수 1∼20의 알킬기이어도 된다. R5로 나타내는 탄소수 1∼20의 알킬기로서는, 탄소수 1∼4의 알킬기이어도 된다. m은, 해상성을 더욱 향상시키는 견지에서, 2 또는 3이어도 되고, 2이어도 된다. R 5 may be a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms from the viewpoint of further improving the compatibility with the component (A). The alkyl group having 1 to 20 carbon atoms represented by R 5 may be an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. m may be 2 or 3, or may be 2 from the standpoint of further improving the resolution.

상기 일반식(I)로 표시되는 화합물로서는, 예를 들면, 카테콜, 레조르시놀(레조르신), 1,4-히드로퀴논, 3-메틸카테콜, 4-메틸카테콜, 3-에틸카테콜, 4-에틸카테콜, 3-프로필카테콜, 4-프로필카테콜, 3-n-부틸카테콜, 4-n-부틸카테콜, 3-tert-부틸카테콜, 4-tert-부틸카테콜, 3,5-디-tert-부틸카테콜 등의 알킬카테콜, 2-메틸레조르시놀, 4-메틸레조르시놀, 5-메틸레조르시놀(오르신), 2-에틸레조르시놀, 4-에틸레조르시놀, 2-프로필레조르시놀, 4-프로필레조르시놀, 2-n-부틸레조르시놀, 4-n-부틸레조르시놀, 2-tert-부틸레조르시놀, 4-tert-부틸레조르시놀 등의 알킬레조르시놀, 메틸히드로퀴논, 에틸히드로퀴논, 프로필히드로퀴논, tert-부틸히드로퀴논, 2, 5-디-tert-부틸히드로퀴논 등의 알킬히드로퀴논, 피로갈롤, 플로로글루신 등을 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. Examples of the compound represented by the general formula (I) include catechol, resorcinol (resorcinol), 1,4-hydroquinone, 3-methylcatechol, 4-methylcatechol, , 4-ethylcatechol, 3-propylcatechol, 4-propylcatechol, 3-n-butylcatechol, 4-n-butylcatechol, 3- , 3,5-di-tert-butylcatechol, and the like, 2-methyl resorcinol, 4-methyl resorcinol, 5-methyl resorcinol 4-tert-butyl resorcinol, 2-tert-butyl resorcinol, 2-tert-butyl resorcinol, 2- tert -butyl resorcinol, -Butylresorcinol, alkyl hydroquinone such as methylhydroquinone, ethylhydroquinone, propylhydroquinone, tert-butylhydroquinone, 2,5-di-tert-butylhydroquinone, pyrogallol, . These may be used singly or in combination of two or more.

상기 일반식(I)로 표시되는 화합물 중에서는, 해상성을 더욱 향상시키는 견지에서, 알킬카테콜이어도 된다. Among the compounds represented by the general formula (I), alkyl catechol may be used in view of further improving the resolution.

(E)성분의 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여 0.001∼0.3질량부, 0.01∼0.2질량부, 0.02∼0.15질량부, 또는, 0.03∼0.1질량부이어도 된다. (E)성분의 함유량을 0.3질량부 이하로 함으로써, 노광 시간을 짧게 할 수 있어, 양산의 효율 향상에 공헌할 수 있는 경향이 있다. 또한, (E)성분의 함유량을 0.001질량부 이상으로 함으로써, 광경화부의 광반응을 충분히 진행시킬 수 있고, 반응율 향상에 의해, 레지스터 팽윤성을 억제하여, 해상도를 보다 양호하게 할 수 있는 경향이 있다. The content of the component (E) is preferably from 0.001 to 0.3 parts by mass, from 0.01 to 0.2 parts by mass, from 0.02 to 0.15 parts by mass, or from 0.03 to 0.1 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total solid content of the components (A) . When the content of the component (E) is set to 0.3 parts by mass or less, the exposure time can be shortened and there is a tendency to contribute to improvement in mass production efficiency. When the content of the component (E) is 0.001 parts by mass or more, the photoreaction of the photo-curing portion can be sufficiently advanced, and the resistivity tends to be improved by suppressing the swelling property of the resist by improving the reaction rate .

또한, (E)성분의 함유량은, (A)성분의 고형분 100질량부에 대하여, 0.03∼0.4질량부, 0.05∼0.4질량부, 0.05∼0.2질량부, 또는, 0.05∼0.1질량부이어도 된다. (E)성분의 함유량이 (A)성분에 대하여 0.05질량부 이상인 경우, 감광성 수지 조성물의 열안정성을 향상시킬 수 있는 경향이 있고, 0.4질량부 이하인 경우, 감광성 수지 조성물의 황색화를 억제할 수 있는 경향이 있다. The content of the component (E) may be 0.03 to 0.4 parts by mass, 0.05 to 0.4 parts by mass, 0.05 to 0.2 parts by mass, or 0.05 to 0.1 parts by mass based on 100 parts by mass of the solid content of the component (A). When the content of the component (E) is 0.05 parts by mass or more based on the component (A), the thermal stability of the photosensitive resin composition tends to be improved. When the content is 0.4 parts by mass or less, the yellowing of the photosensitive resin composition There is a tendency.

(그 밖의 성분) (Other components)

본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물에는, 필요에 따라, 말라카이트그린, 빅토리아 퓨어 블루, 브릴리언트 그린 및 메틸 바이올렛 등의 염료, 트리브로모페닐설폰, 로이코 크리스탈 바이올렛, 디페닐아민, 벤질아민, 트리페닐아민, 디에틸아닐린, o-클로로아닐린 및 터셔리부틸카테콜 등의 광발색제, 발열색방지제, p-톨루엔설폰아미드 등의 가소제, 안료, 충전제, 소포제, 난연제, 밀착성 부여제, 레벨링제, 박리촉진제, 산화방지제, 향료, 이미징제, 열가교제 등의 첨가제를, (A)성분 및 (B)성분의 고형분 총량 100질량부에 대하여 각각 0.01∼20질량부 함유할 수 있다. 이들 첨가제는 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. The photosensitive resin composition according to the present embodiment may contain a dye such as malachite green, victoria pure blue, brilliant green and methyl violet, tribromophenylsulfone, leuco crystal violet, diphenylamine, benzylamine, triphenyl Coloring agents such as amine, diethylaniline, o-chloroaniline and tertiary butyl catechol, plasticizers such as an antistatic agent and p-toluenesulfonamide, pigments, fillers, antifoaming agents, flame retardants, adhesion promoters, leveling agents, An additive such as an accelerator, an antioxidant, a flavoring agent, an imaging agent and a heat crosslinking agent may be contained in an amount of 0.01 to 20 parts by mass based on 100 parts by mass of the total solid content of the components (A) and (B). These additives may be used singly or in combination of two or more kinds.

또한, 본 실시형태에 관련되는 감광성 수지 조성물은, 감광성 조성물의 취급성을 향상시키거나, 점도 및 보존 안정성을 조절하거나 하기 위해서, 필요에 따라 유기용제의 적어도 1종을 포함할 수 있다. 상기 유기용제로서는, 통상 사용되는 유기용제를 특별히 제한 없이 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들면, 메탄올, 에탄올, 아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸셀로솔브, 에틸셀로솔브, 톨루엔, N,N-디메틸폼아미드, 프로필렌글리콜모노메틸에테르 등의 유기용제 또는 이들 혼합 용제를 들 수 있다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. The photosensitive resin composition according to the present embodiment may contain at least one organic solvent as needed in order to improve handling properties of the photosensitive composition or to control viscosity and storage stability. As the organic solvent, a commonly used organic solvent may be used without particular limitation. Specific examples of the solvent include organic solvents such as methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, toluene, N, N-dimethylformamide, propylene glycol monomethyl ether, Solvent. These may be used singly or in combination of two or more.

<보호층><Protective layer>

본 실시형태의 감광성 엘리먼트는, 감광층의 배리어층과 접하는 면과는 반대측의 면에 보호층을 적층할 수도 있다. 보호층으로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 중합체 필름 등을 사용해도 된다. 또한, 상술(上述)하는 지지 필름과 동일한 중합체 필름을 사용해도 되고, 상이한 중합체 필름을 사용해도 된다. In the photosensitive element of the present embodiment, a protective layer may be laminated on the surface of the photosensitive layer opposite to the surface in contact with the barrier layer. As the protective layer, for example, a polymer film such as polyethylene or polypropylene may be used. Further, the same polymer film as the above-mentioned support film (described above) may be used, or a different polymer film may be used.

이하, 지지 필름, 배리어층, 감광층 및 보호층을 순차 적층한 감광성 엘리먼트를 제조하는 방법에 관하여 설명한다. Hereinafter, a method for manufacturing a photosensitive element in which a support film, a barrier layer, a photosensitive layer, and a protective layer are sequentially laminated will be described.

<감광성 엘리먼트의 제조 방법>&Lt; Method of manufacturing photosensitive element &gt;

우선, 예를 들면, 폴리비닐알코올을 함유하는 수용성 수지를, 고형분 함유량이 10∼20질량%가 되도록, 70∼90℃로 가온한 물과 탄소수 3 이상의 알코올류를 포함하는 알코올류와의 혼합 용제에 서서히 첨가하여 1시간 정도 교반하고 균일하게 용해시켜, 폴리비닐알코올 및 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유하는 배리어층 형성용 수지 조성물을 얻는다. 본 명세서에 있어서, "고형분"이란, 수지 조성물의 물, 유기용제 등의 휘발하는 물질을 제외한 불휘발분을 가리킨다. 즉, 건조 공정에서 휘발하지 않고 남는, 물, 유기용제 등의 용제 이외의 성분을 가리키며, 25℃ 부근의 실온에서 액상, 물엿 형상 및 왁스 형상의 것도 포함한다. First, for example, a water-soluble resin containing polyvinyl alcohol is mixed with a mixed solvent of water heated to 70 to 90 占 폚 and alcohols including alcohols having 3 or more carbon atoms such that the solid content is 10 to 20 mass% , And the mixture is stirred for about 1 hour and uniformly dissolved to obtain a resin composition for forming a barrier layer containing polyvinyl alcohol and alcohols having 3 or more carbon atoms. In the present specification, the term "solid content" refers to non-volatile matter excluding volatile substances such as water and organic solvents in the resin composition. That is, it refers to components other than solvents such as water and organic solvents that remain without volatilization in the drying step, and include liquid, syrupy, and waxy forms at room temperature around 25 ° C.

다음으로, 배리어층 형성용 수지 조성물을 지지 필름 상에 도포하고, 건조하여 배리어층을 형성한다. 상기 배리어층 형성용 수지 조성물의 지지 필름 상에의 도포는, 예를 들면, 롤 코트, 콤마 코트, 그라비아 코트, 에어 나이프 코트, 다이코트, 바 코트, 스프레이 코트 등의 공지의 방법으로 실시할 수 있다. Next, the resin composition for forming a barrier layer is coated on a support film and dried to form a barrier layer. The application of the barrier layer-forming resin composition onto the support film can be carried out by a known method such as roll coating, comma coating, gravure coating, air knife coating, die coating, bar coating, spray coating and the like have.

또한, 도포한 배리어층 형성용 수지 조성물의 건조는, 물 등의 용제의 적어도 일부를 제거할 수 있으면 특별히 제한은 없지만, 70∼150℃에서 5∼30분간 건조해도 된다. 건조 후, 배리어층 내의 잔존 용제량은, 후의 공정에서의 용제의 확산을 방지하는 견지에서, 2질량% 이하로 해도 된다. The applied barrier layer forming resin composition is not particularly limited as long as at least a part of the solvent such as water can be removed, but may be dried at 70 to 150 캜 for 5 to 30 minutes. The amount of the residual solvent in the barrier layer after drying may be 2% by mass or less from the viewpoint of preventing the diffusion of the solvent in a subsequent step.

다음으로, 배리어층이 형성되어 있는 지지 필름의 배리어층 상에, 감광성 수지 조성물을 배리어층 형성용 수지 조성물의 도포와 동일하게 도포하고 건조하여, 배리어층 상에 감광층을 형성해도 된다. 다음으로, 이와 같이 하여 형성된 감광층 상에 보호층을 라미네이트함으로써, 지지 필름과, 배리어층과, 감광층과, 보호층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트를 제작할 수 있다. 또한, 지지 필름 상에 배리어층을 형성한 것과, 보호층 상에 감광층을 형성한 것을 첩합(貼合)함으로써, 지지 필름과, 배리어층과, 감광층과 보호층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트를 얻어도 된다. Next, the photosensitive resin composition may be coated and dried on the barrier layer of the support film on which the barrier layer is formed in the same manner as the application of the resin composition for forming a barrier layer, thereby forming the photosensitive layer on the barrier layer. Next, by laminating a protective layer on the photosensitive layer thus formed, a photosensitive element comprising a support film, a barrier layer, a photosensitive layer and a protective layer in this order can be produced. Further, by forming a barrier layer on the support film and forming a photosensitive layer on the protective layer, the support film, the barrier layer, the photosensitive layer having the photosensitive layer and the protective layer in this order Element.

감광성 엘리먼트에 있어서의 감광층의 두께는, 용도에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 건조 후의 두께로, 1∼200㎛, 5∼100㎛, 또는, 10∼50㎛이어도 된다. 감광층의 두께가 1㎛ 이상임으로써, 공업적인 도공이 용이하게 되어, 생산성이 향상되는 경향이 있다. 또한, 감광층의 두께가 200㎛ 이하인 경우에는, 광감성이 높고, 레지스터 저부(底部)의 광경화성이 뛰어나기 때문에, 해상도 및 애스펙트비가 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있는 경향이 있다. The thickness of the photosensitive layer in the photosensitive element may be appropriately selected depending on the application, but may be 1 to 200 占 퐉, 5 to 100 占 퐉, or 10 to 50 占 퐉 in thickness after drying. When the thickness of the photosensitive layer is 1 占 퐉 or more, industrial coating is easy and productivity tends to be improved. When the thickness of the photosensitive layer is 200 占 퐉 or less, there is a tendency that a resist pattern excellent in resolution and aspect ratio tends to be formed because the photosensitive property is high and the photocurability of the register bottom portion is excellent.

감광성 엘리먼트에 있어서의 감광층의 110℃에 있어서의 용해 점도는, 감광층과 접하는 기재(基材)의 종류에 따라 적절히 선택할 수 있지만, 건조 후, 110℃에 있어서, 50∼10000Pa·s, 100∼5000Pa·s, 또는, 200∼1000Pa·s이어도 된다. 110℃에 있어서의 용해 점도가 50Pa·s이상이면, 적층 공정에 있어서 주름 및 보이드가 발생하지 않게 되어, 생산성이 향상되는 경향이 있다. 또한, 110℃에 있어서의 용해 점도가 10000Pa·s 이하이면, 적층 공정에 있어서 하지(下地)와의 접착성이 향상되어, 접착 불량을 저감하는 경향이 있다. The melting viscosity of the photosensitive layer in the photosensitive element at 110 캜 can be appropriately selected depending on the kind of the base material in contact with the photosensitive layer. After drying, the solubility of the photosensitive layer in the photosensitive element is preferably from 50 to 10000 Pa · s, To 5000 Pa · s, or 200 to 1000 Pa · s. If the melt viscosity at 110 캜 is 50 Pa · s or more, wrinkles and voids do not occur in the lamination step, and the productivity tends to be improved. When the melt viscosity at 110 ° C is 10000 Pa · s or less, adhesion with the undercoat is improved in the lamination step, and the adhesion failure tends to be reduced.

본 실시형태에 관련되는 감광성 엘리먼트의 형태는 특별히 제한되지 않는다. 예를 들면, 시트상(狀)이어도 되고, 권심(卷芯)에 롤상으로 권취(卷取)한 형상이어도 된다. 롤상으로 권취한 경우, 지지 필름이 외측이 되도록 권취해도 된다. 권심으로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌 수지, 폴리프로필렌 수지, 폴리스티렌 수지, 폴리염화비닐수지 또는 ABS 수지(아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 공중합체) 등의 플라스틱 등을 들 수 있다. The form of the photosensitive element according to this embodiment is not particularly limited. For example, it may be a sheet-like shape, or a shape obtained by winding in a roll shape on a core. In the case of winding in the roll, the support film may be wound so as to be outside. Examples of the core include plastics such as polyethylene resin, polypropylene resin, polystyrene resin, polyvinyl chloride resin or ABS resin (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer).

이와 같이 하여 얻어진 롤상의 감광성 엘리먼트 롤의 단면(端面)에는, 단면 보호의 견지에서, 단면 세퍼레이터(separator)를 설치해도 되고, 또한, 내엣지 퓨전의 견지에서, 방습 단면 세퍼레이터를 설치해도 된다. 곤포 방법으로서는, 투습성이 작은 블랙 시트에 싸 포장해도 된다. A cross-section separator may be provided on the end face of the roll-shaped photosensitive element roll obtained in this manner from the viewpoint of protection of the cross section, or a moisture-proof cross section separator may be provided in view of edge fusion. As a wrapping method, wrapping may be carried out on a black sheet having low moisture permeability.

본 실시형태에 관련되는 감광성 엘리먼트는, 예를 들면, 후술하는 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법에 적합하게 사용할 수 있다. The photosensitive element according to the present embodiment can be suitably used, for example, in a method of forming a resistor pattern to be described later and a method of manufacturing a printed wiring board.

[레지스터 패턴의 형성 방법][Method of forming register pattern]

본 실시형태에 관련되는 레지스터 패턴의 형성 방법은, (i) 상기 감광성 엘리먼트를 사용하여, 기판 상에, 그 기판측으로부터 감광층과 배리어층과 지지 필름을 이 순서로 배치하는 공정(이하, "(i) 감광층 및 배리어층 형성 공정"이라고도 한다)과, (ii) 상기 지지 필름을 제거하여, 상기 배리어층을 통하여 상기 감광층을 활성 광선에 의해 노광하는 공정(이하, "(ii) 노광 공정"이라고도 한다)과, (iii) 상기 배리어층 및 상기 감광층의 미경화부를 상기 기판 상으로부터 제거하는 공정(이하, "(iii) 현상 공정"이라고도 한다)을 구비하고, 필요에 따라 그 밖의 공정을 포함해도 된다. 또한, 레지스터 패턴이란, 감광성 수지 조성물의 광경화물 패턴이라고도 할 수 있고, 릴리프 패턴이라고도 할 수 있다. 또한, 목적에 따라, 본 실시형태에 있어서의 레지스터 패턴은, 레지스터로서 사용해도 되고, 보호막 등의 다른 용도에 사용해도 된다. (I) a step of arranging the photosensitive layer, the barrier layer and the supporting film in this order on the substrate from the substrate side (hereinafter, referred to as " (ii) a step of removing the support film and exposing the photosensitive layer by an actinic ray through the barrier layer (hereinafter referred to as "(ii) exposure " (Hereinafter also referred to as "(iii) developing step")), and the step of removing the unlayered portions of the barrier layer and the photosensitive layer from the substrate Process. The resist pattern may be referred to as a photocured pattern of a photosensitive resin composition, or may be referred to as a relief pattern. Depending on the purpose, the register pattern in the present embodiment may be used as a resistor, or may be used for other purposes such as a protective film.

((i) 감광층 및 배리어층 형성 공정) ((i) photosensitive layer and barrier layer forming step)

감광층 및 배리어층 형성 공정에 있어서는, 기판 상에 상기 감광성 엘리먼트를 사용하여 감광층 및 배리어층을 형성한다. 상기 기판으로서는, 특별히 제한되지 않지만, 통상, 절연층과 절연층 상에 형성된 도체층을 구비한 회로 형성용 기판, 또는, 합금기재 등의 다이 패드(리드 프레임용 기재) 등이 사용된다. In the photosensitive layer and the barrier layer forming step, the photosensitive layer and the barrier layer are formed on the substrate using the photosensitive element. The substrate is not particularly limited, but usually a substrate for circuit formation having a conductor layer formed on an insulating layer and an insulating layer, or a die pad (substrate for a lead frame) such as an alloy substrate is used.

기판 상에 감광층 및 배리어층을 형성하는 방법으로서는, 예를 들면, 보호층을 가지고 있는 감광성 엘리먼트를 사용하는 경우에는, 보호층을 제거한 후, 감광성 엘리먼트의 감광층을 가열하면서 기판에 압착함으로써, 기판 상에 감광층 및 배리어층을 형성할 수 있다. 이에 의해, 기판과 감광층과 배리어층과 지지 필름을 이 순서로 구비하는 적층체를 얻을 수 있다. As a method for forming a photosensitive layer and a barrier layer on a substrate, for example, when a photosensitive element having a protective layer is used, after the protective layer is removed, the photosensitive layer of the photosensitive element is pressed on the substrate while heating, A photosensitive layer and a barrier layer can be formed on a substrate. Thereby, a laminate having a substrate, a photosensitive layer, a barrier layer and a supporting film in this order can be obtained.

감광성 엘리먼트를 사용하여 감광층 및 배리어층 형성 공정을 실시하는 경우에는, 밀착성 및 추종성의 견지에서, 감압하에서 실시해도 된다. 압착할 때의 가열은 70∼130℃의 온도에서 실시해도 되고, 압착은 0.1∼1.0MPa(1∼10kgf/cm2)의 압력으로 실시해도 되지만, 이들 조건은 필요에 따라 적절히 선택할 수 있다. 또한, 감광성 엘리먼트의 감광층을 70∼130℃로 가열하면, 미리 기판을 예열 처리하는 것은 필요하지 않지만, 밀착성 및 추종성을 더욱 향상시키기 위해서, 기판의 예열 처리를 실시할 수도 있다. When the photosensitive layer and the barrier layer forming step are carried out using the photosensitive element, it may be carried out under reduced pressure in view of adhesion and followability. Heating at the time of compression is be carried out at a temperature of 70~130 ℃, but the compression is also performed at a pressure of 0.1~1.0MPa (1~10kgf / cm 2), these conditions may be appropriately selected as needed. When the photosensitive layer of the photosensitive element is heated to 70 to 130 占 폚, it is not necessary to preheat the substrate in advance. However, in order to further improve the adhesion and followability, the substrate may be preheated.

((ii) 노광 공정) ((ii) exposure step)

노광 공정에 있어서는, 지지 필름을 제거하여, 배리어층을 통하여 감광층을 활성 광선에 의해 노광한다. 이에 의해, 활성 광선이 조사된 노광부가 광경화되어, 광경화부(잠상(潛像))가 형성되어 있어도 되고, 또한, 활성 광선이 조사되어 있지 않은 미노광부가 광경화되어, 광경화부가 형성되어 있어도 된다. 상기 감광성 엘리먼트를 사용하여 감광층 및 배리어층을 형성한 경우에는, 감광층 상에 존재하는 지지 필름을 박리한 후, 노광한다. 배리어층을 통하여 감광층을 노광함으로써, 해상성 및 레지스터 패턴 형상이 뛰어난 레지스터 패턴을 형성할 수 있다. In the exposure process, the support film is removed, and the photosensitive layer is exposed through the barrier layer with an actinic ray. As a result, the exposed portion irradiated with the actinic light ray is photo-cured to form a photo-cured portion (latent image), and the unexposed portion to which no active ray is irradiated is photo-cured to form a photo-cured portion . When the photosensitive layer and the barrier layer are formed using the photosensitive element, the support film existing on the photosensitive layer is peeled and exposed. By exposing the photosensitive layer through the barrier layer, a resist pattern excellent in resolution and resist pattern shape can be formed.

노광 방법으로서는, 공지의 노광 방식을 적용할 수 있고, 예를 들면, 아트워크(artwork)라고 불리는 네가티브 혹은 포지티브 마스크 패턴을 통하여 활성 광선을 화상상(畵像狀)으로 조사하는 방법(마스크 노광 방식), LDI(Laser Direct Imaging) 노광 방식, 또는, 포토마스크(photomask)의 상을 투영시킨 활성 광선을 사용하여 렌즈를 통하여 화상상으로 조사하는 방법(투영 노광 방식) 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 해상성이 뛰어난 관점에서, 투영 노광 방식을 사용해도 된다. 즉, 본 실시형태에 관련되는 감광성 엘리먼트 등은, 투영 노광 방식으로 적용된다. 또한, 투영 노광 방식이란, 감쇠한 에너지량의 활성 광선을 사용하는 노광 방식이라고도 할 수 있다. As the exposure method, a known exposure method can be applied. For example, a method of irradiating an actinic ray in a picture image form through a negative or positive mask pattern called an artwork (a mask exposure method ), An LDI (Laser Direct Imaging) exposure method, or a method in which an active light ray projected from a photomask is used to irradiate the image on a screen through a lens (projection exposure method). Among them, a projection exposure system may be used from the viewpoint of excellent resolution. That is, the photosensitive element or the like according to the present embodiment is applied by a projection exposure method. Also, the projection exposure method may be referred to as an exposure method using an active light beam of a damped energy amount.

활성 광선의 광원으로서는, 통상 사용되는 공지의 광원이면 특별히 제한이 없고, 예를 들면, 카본 아크등, 수은 증기 아크등, 초고압 수은등, 고압 수은등, 크세논 램프, 아르곤 레이저 등의 가스 레이저, YAG 레이저 등의 고체 레이저, 질화갈륨계 청자색(靑紫色) 레이저 등의 반도체 레이저 등의 자외선을 유효하게 방사하는 것 등이 사용된다. 또한, 사진용 플러드(flood) 전구, 태양 램프 등의 가시광선을 유효하게 방사하는 것 등을 사용해도 된다. 이들 중에서는, 해상성 및 얼라이먼트성을 균형있게 향상시키는 관점에서, 노광 파장 365nm의 i선 단색광을 방사할 수 있는 광원, 노광 파장 405nm의 h선 단색광을 방사할 수 있는 광원, 또는, ihg 혼선(混線)의 노광 파장의 활성 광선을 방사할 수 있는 광원을 사용해도 되고, 그 중에서도 노광 파장 365nm의 i선 단색광을 방사할 수 있는 광원을 사용해도 된다. 노광 파장 365nm의 i선 단색광을 방사할 수 있는 광원으로서는, 예를 들면, 초고압 수은등 등을 들 수 있다. As the light source of the active light beam, there is no particular limitation as long as it is a commonly used known light source. For example, gas arc such as carbon arc, mercury vapor arc, ultra high pressure mercury lamp, high pressure mercury lamp, xenon lamp, argon laser, And a semiconductor laser such as a gallium nitride-based blue-violet laser, or the like. It is also possible to use a flood bulb for photography, a device for effectively emitting visible light such as a solar lamp, or the like. Among these, a light source capable of emitting i-line monochromatic light with an exposure wavelength of 365 nm, a light source capable of emitting h-monochromatic light having an exposure wavelength of 405 nm, or a light source capable of emitting ihg crossover light Or a light source capable of emitting an i-line monochromatic light with an exposure wavelength of 365 nm may be used. As a light source capable of emitting i-line monochromatic light having an exposure wavelength of 365 nm, for example, ultra high-pressure mercury lamp and the like can be mentioned.

((iii) 현상 공정) ((iii) developing process)

현상 공정에 있어서는, 상기 배리어층 및 상기 감광층의 미경화부를 기판 상으로부터 제거한다. 현상 공정에 의해, 상기 감광층이 광경화된 광경화부로 이루어지는 레지스터 패턴이 기판 상에 형성된다. 배리어층이 수용성인 경우에는, 수세(水洗)하여 배리어층을 제거하고 나서, 상기 광경화부 이외의 미경화부를 현상액에 의해 제거해도 되고, 배리어층이 현상액에 대하여 용해성을 가지는 경우에는, 상기광경화부 이외의 미경화부와 함께 배리어층을 현상액에 의해 제거해도 된다. 현상 방법에는, 웨트 현상을 들 수 있다. In the developing step, the unlayered portions of the barrier layer and the photosensitive layer are removed from the substrate. By a developing process, a resist pattern is formed on the substrate, the resist pattern being formed of a photo-cured portion in which the photosensitive layer is photo-cured. When the barrier layer is water-soluble, it may be washed with water to remove the barrier layer, and then the uncured portions other than the light-cured portion may be removed by the developer. In the case where the barrier layer is soluble in the developer, The barrier layer may be removed with a developing solution in addition to the un-cured portions. The developing method includes a wet phenomenon.

웨트 현상의 경우는, 감광성 수지 조성물에 대응한 현상액을 사용하여, 공지의 웨트 현상 방법에 의해 현상할 수 있다. 웨트 현상 방법으로서는, 예를 들면, 딥 방식, 패들 방식, 고압 스프레이 방식, 브러싱(brushing), 슬랩핑(slapping), 스크러빙(scrubbing), 요동 침지(搖動浸漬) 등을 사용한 방법 등을 들 수 있고, 해상성 향상의 관점에서는, 고압 스프레이 방식이 가장 적합하다. 이들 웨트 현상 방법은 1종을 단독으로 또는 2종 이상의 방법을 조합하여 현상해도 된다. In the case of the wet phenomenon, the developer can be developed by a known wet developing method using a developer corresponding to the photosensitive resin composition. Examples of the wet developing method include a dip method, a paddle method, a high-pressure spray method, a brushing method, a slapping method, a scrubbing method, a method using a rocking dipping method, or the like , And from the viewpoint of improving the resolution, the high-pressure spraying method is most suitable. These wet developing methods may be performed either singly or in combination of two or more methods.

현상액은, 상기 감광성 수지 조성물의 구성에 따라 적절히 선택된다. 예를 들면, 알칼리성 수용액 및 유기용제 현상액을 들 수 있다. The developing solution is appropriately selected according to the constitution of the photosensitive resin composition. Examples thereof include alkaline aqueous solutions and organic solvent developers.

안전 또한 안정하고, 조작성이 양호한 견지에서, 현상액으로서, 알칼리성 수용액을 사용해도 된다. 알칼리성 수용액의 염기로서는, 예를 들면, 리튬, 나트륨 혹은 칼륨의 수산화물 등의 수산화알칼리, 리튬, 나트륨, 칼륨 혹은 암모늄의 탄산염 또는 중탄산염 등의 탄산알칼리, 인산칼륨, 인산나트륨 등의 알칼리 금속 인산염, 피로인산나트륨, 피로인산칼륨 등의 알칼리 금속 피로인산염, 붕산나트륨, 메타규산나트륨, 수산화테트라메틸암모늄, 에탄올아민, 에틸렌디아민, 디에틸렌트리아민, 2-아미노-2-히드록시메틸-1,3-프로판디올, 1,3-디아미노-2-프로판올 및 모르폴린이 사용된다. An alkaline aqueous solution may be used as the developer in terms of safety, stability, and operability. Examples of the base of the alkaline aqueous solution include alkaline hydroxides such as hydroxides of lithium, sodium or potassium, alkali metal carbonates such as carbonates or bicarbonates of lithium, sodium, potassium or ammonium, alkali metal phosphates such as potassium phosphate, sodium phosphate, Alkali metal pyrophosphate such as sodium phosphate, potassium pyrophosphate and the like, sodium borate, sodium metasilicate, tetramethylammonium hydroxide, ethanolamine, ethylenediamine, diethylenetriamine, 2-amino- Propanediol, 1,3-diamino-2-propanol and morpholine are used.

현상에 사용되는 알칼리성 수용액으로서는, 예를 들면, 0.1∼5질량% 탄산나트륨의 희박용액, 0.1∼5질량% 탄산칼륨의 희박용액, 0.1∼5질량% 수산화나트륨의 희박용액, 0.1∼5질량% 4 붕산나트륨의 희박용액 등을 사용할 수 있다. 또한, 현상에 사용되는 알칼리성 수용액의 pH는, 9∼11의 범위로 해도 되고, 알칼리성 수용액의 온도는, 감광층의 현상성에 맞추어 조절할 수 있다. 또한, 알칼리성 수용액 중에는, 예를 들면, 표면활성제, 소포제, 현상을 촉진시키기 위한 소량의 유기용제 등을 혼입시켜도 된다. 또한, 알칼리성 수용액에 사용되는 유기용제로서는, 예를 들면, 3-아세톤알코올, 아세톤, 아세트산에틸, 탄소수 1∼4의 알콕시기를 가지는 알콕시에탄올, 에틸알코올, 이소프로필알코올, 부틸알코올, 디에틸렌글리콜모노메틸에테르, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르 및 디에틸렌글리콜모노부틸에테르를 들 수 있다. Examples of the alkaline aqueous solution used for the development include a diluted solution of 0.1 to 5 mass% sodium carbonate, a diluted solution of 0.1 to 5 mass% potassium carbonate, a diluted solution of 0.1 to 5 mass% sodium hydroxide, A dilute solution of sodium borate, or the like can be used. The pH of the alkaline aqueous solution used for the development may be in the range of 9 to 11, and the temperature of the alkaline aqueous solution may be adjusted in accordance with the developability of the photosensitive layer. The alkaline aqueous solution may contain, for example, a surface active agent, a defoaming agent, and a small amount of an organic solvent for promoting development. Examples of the organic solvent used in the alkaline aqueous solution include acetone, acetone, ethyl acetate, alkoxyethanol having an alkoxy group of 1 to 4 carbon atoms, ethyl alcohol, isopropyl alcohol, butyl alcohol, diethylene glycol mono Methyl ether, diethylene glycol monoethyl ether and diethylene glycol monobutyl ether.

유기용제 현상액에 사용되는 유기용제로서는, 예를 들면, 1,1,1-트리클로로에탄, N-메틸피롤리돈, N,N-디메틸폼아미드, 시클로헥사논, 메틸이소부틸케톤 및 γ-부티로락톤을 들 수 있다. 이들 유기용제는, 인화(引火) 방지의 관점에서, 1∼20질량%의 범위가 되도록 물을 첨가하여 유기용제 현상액으로 해도 된다. Examples of the organic solvent used in the organic solvent developer include organic solvents such as 1,1,1-trichloroethane, N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide, cyclohexanone, methylisobutylketone, Butyrolactone. From the viewpoint of prevention of ignition, these organic solvents may be added with water so as to be in the range of 1 to 20% by mass to be an organic solvent developer.

(그 밖의 공정) (Other processes)

본 실시형태에 관련되는 레지스터 패턴의 형성 방법에서는, 현상 공정에 있어서 미경화부를 제거한 후, 필요에 따라 60∼250℃에서의 가열 또는 0.2∼10J/cm2의 노광량으로의 노광을 실시함으로써 레지스터 패턴을 더욱 경화하는 공정을 포함해도 된다. The method for forming a resist pattern according to this embodiment, the resist pattern was removed by a microscope conversion unit in the developing process, subjected to heating or exposure amount of the exposure to the 0.2~10J / cm 2 at 60~250 ℃ as needed May be further cured.

[프린트 배선판의 제조 방법][Manufacturing method of printed wiring board]

본 실시형태에 관련되는 프린트 배선판의 제조 방법은, 상기 레지스터 패턴의 형성 방법에 의해 레지스터 패턴이 형성된 기판을 에칭 처리 또는 도금 처리하여 도체 패턴을 형성하는 공정을 포함하고, 필요에 따라 레지스터 패턴 제거 공정 등의 그 밖의 공정을 포함해도 된다. 본 실시형태에 관련되는 프린트 배선판의 제조 방법은, 상기 감광성 엘리먼트에 의한 레지스터 패턴의 형성 방법을 사용함으로써, 도체 패턴의 형성에 적합하게 사용할 수 있지만, 그 중에서도, 도금 처리에 의해 도체 패턴을 형성하는 방법에의 응용이 보다 적합하다. 또한, 도체 패턴은, 회로이라고도 할 수 있다. The method of manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment includes a step of forming a conductor pattern by etching or plating a substrate on which a resistor pattern is formed by the method of forming the resistor pattern, And the like. The method of manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment can be suitably used for forming a conductor pattern by using a method of forming a resist pattern by the photosensitive element. Among these methods, a conductor pattern is formed by plating Application to methods is more appropriate. The conductor pattern may be referred to as a circuit.

에칭 처리에서는, 도체층을 구비한 기판 상에 형성된 레지스터 패턴을 마스크로 하고, 레지스터에 의해 피복되어 있지 않은 기판의 도체층을 에칭 제거하여, 도체 패턴을 형성한다. In the etching process, the conductor pattern of the substrate not covered with the resist is etched off by using the resist pattern formed on the substrate having the conductor layer as a mask, and the conductor pattern is formed.

에칭 처리의 방법은, 제거해야 할 도체층에 따라 적절히 선택된다. 에칭액으로서는, 예를 들면, 염화제2구리 용액, 염화제2철 용액, 알칼리 에칭 용액, 과산화수소계 에칭액 등을 들 수 있고, 에치 팩터(etch factor)가 양호한 점에서, 염화제2철 용액을 사용해도 된다. The method of the etching treatment is appropriately selected according to the conductor layer to be removed. Examples of the etching solution include a cupric chloride solution, a ferric chloride solution, an alkali etching solution, a hydrogen peroxide etching solution, and the like. In view of the excellent etch factor, .

한편, 도금 처리에서는, 도체층을 구비한 기판 상에 형성된 레지스터 패턴을 마스크로 하여, 레지스터에 의해 피복되어 있지 않은 기판의 도체층 상에 구리 또는 땜납 등을 도금한다. 도금 처리 후, 후술하는 레지스터 패턴의 제거에 의해 레지스터를 제거하고, 또한 이 레지스터에 의해 피복되어 있던 도체층을 에칭하여, 도체 패턴을 형성한다. On the other hand, in the plating process, using a resist pattern formed on a substrate having a conductor layer as a mask, copper or solder or the like is plated on a conductor layer of a substrate not covered with a resistor. After the plating process, the resist is removed by removing the resist pattern to be described later, and the conductor layer covered by the resistor is etched to form a conductor pattern.

도금 처리의 방법으로서는, 전해도금 처리이어도, 무전해도금 처리이어도 되지만, 그 중에서도 무전해도금 처리이어도 된다. 무전해도금 처리로서는, 예를 들면, 황산구리 도금, 피로인산구리 도금 등의 구리 도금, 하이 슬로우 땜납 도금 등의 땜납 도금, 와트욕(浴)(황산니켈-염화니켈) 도금, 설퍼아민산니켈 도금 등의 니켈 도금, 하드 금도금, 소프트 금도금 등의 금도금을 들 수 있다. The plating treatment may be an electrolytic plating treatment or an electroless plating treatment, but the plating treatment may be electroless plating treatment. Examples of the electroless plating treatment include copper plating such as copper sulfate plating, copper pyrophosphate plating, solder plating such as high-speed solder plating, watt bath (nickel sulfate-nickel chloride plating), nickel sulfate plating Nickel plating, hard gold plating, and soft gold plating.

상기 에칭 처리 또는 도금 처리 후, 기판 상의 레지스터 패턴은 제거된다. 레지스터 패턴의 제거는, 예를 들면, 상기 현상 공정에 사용된 알칼리성 수용액보다도 더욱 강알칼리성의 수용액에 의해 박리할 수 있다. 이 강알칼리성의 수용액으로서는, 예를 들면, 1∼10질량% 수산화나트륨 수용액, 1∼10질량% 수산화칼륨 수용액 등이 사용된다. 이들 중에서는, 1∼5질량% 수산화나트륨 수용액 또는 수산화칼륨 수용액을 사용해도 된다. After the etching treatment or the plating treatment, the resist pattern on the substrate is removed. The resist pattern can be removed by, for example, a strong alkaline aqueous solution more than the alkaline aqueous solution used in the developing step. As the alkaline aqueous solution, for example, 1 to 10 mass% aqueous sodium hydroxide solution and 1 to 10 mass% potassium hydroxide aqueous solution are used. Among these, an aqueous solution of 1 to 5 mass% sodium hydroxide or an aqueous solution of potassium hydroxide may be used.

레지스터 패턴의 제거 방식으로서는, 예를 들면, 침지 방식 및 스프레이 방식을 들 수 있고, 이들은 단독으로 사용해도 되고, 병용해도 된다. Examples of the resist pattern removing method include an immersion method and a spray method, and these methods may be used alone or in combination.

도금 처리를 실시하고 나서 레지스터 패턴을 제거한 경우, 에칭 처리에 의해 레지스터로 피복되어 있던 도체층을 더 에칭하여, 도체 패턴을 형성함으로써 원하는 프린트 배선판을 제조할 수 있다. 이 때의 에칭 처리의 방법은, 제거해야 할 도체층에 따라 적절히 선택된다. 예를 들면, 상술한 에칭액을 적용할 수 있다. In the case where the resist pattern is removed after the plating process, the conductor layer covered with the resistor by the etching process is further etched to form a conductor pattern, whereby a desired printed wiring board can be manufactured. The method of the etching treatment at this time is appropriately selected according to the conductor layer to be removed. For example, the above-described etching solution can be applied.

본 실시형태에 관련되는 프린트 배선판의 제조 방법은, 단층 프린트 배선판 뿐만 아니라, 다층 프린트 배선판의 제조에도 적용 가능하고, 또한 소경(小徑) 스루홀(through hole)을 가지는 프린트 배선판 등의 제조에도 적용 가능하다. The method of manufacturing a printed wiring board according to the present embodiment is applicable not only to the production of a single-layer printed wiring board but also to the production of a multilayer printed wiring board and also to the production of a printed wiring board having a small-diameter through hole It is possible.

본 실시형태에 관련되는 프린트 배선판의 제조 방법은, 고밀도 패키지 기판의 제조, 특히 세미 애더티브 공법에 의한 배선판의 제조에 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 세미 애더티브 공법에 의한 배선판의 제조 공정의 일례를 도 2에 나타낸다. The method for producing a printed wiring board according to the present embodiment can be suitably used for the production of a high-density package substrate, particularly for the production of a wiring board by a semi-adhesive method. An example of a manufacturing process of the wiring board by the semi-insulating method is shown in Fig.

도 2(a)에서는, 절연층(50) 상에 도체층(40)이 형성된 기판(회로 형성용 기판)을 준비한다. 도체층(40)은, 예를 들면, 구리층이다. 도 2(b)에서는, 상기 감광층 및 배리어층 형성 공정에 의해, 기판의 도체층(40) 상에 감광층(30) 및 배리어층(20)을 형성한다. 도 2(c)에서는, 상기 노광 공정에 의해, 배리어층(20)을 통하여 감광층(30) 상에 포토마스크의 상(像)을 투영시킨 활성 광선(80)을 조사하여, 감광층(30)에 광경화부를 형성한다. 도 2(d)에서는, 현상 공정에 의해, 상기 노광 공정에 의해 형성된 광경화부 이외의 영역(배리어층을 포함한다)을 기판 상으로부터 제거함으로써, 기판 상에 광경화부인 레지스터 패턴(32)을 형성한다. 도 2(e)에서는, 광경화부인 레지스터 패턴(32)을 마스크로 하는 도금 처리에 의해, 레지스터에 의해 피복되어 있지 않은 기판의 도체층(40) 상에 도금층(60)을 형성한다. 도 2(f)에서는, 광경화부인 레지스터 패턴(32)을 강알칼리의 수용액에 의해 박리한 후, 플래시 에칭 처리에 의해, 레지스터 패턴(32)로 마스크되어 있던 도체층(40)을 제거하여, 에칭 처리 후의 도금층(62) 및 에칭 처리 후의 도체층(42)을 포함하는 도체 패턴(70)을 형성한다. 도체층(40)과 도금층(60)은, 재질이 동일해도 되고, 상이해도 된다. 도체층(40)과 도금층(60)이 동일한 재질인 경우, 도체층(40)과 도금층(60)이 일체화되어 있어도 된다. 또한, 도 2에서는 투영 노광 방식에 관하여 설명했지만, 마스크 노광 방식, LDI 노광 방식을 병용하여 레지스터 패턴(32)을 형성해도 된다. 2 (a), a substrate (circuit formation substrate) on which a conductor layer 40 is formed on an insulating layer 50 is prepared. The conductor layer 40 is, for example, a copper layer. 2 (b), the photosensitive layer 30 and the barrier layer 20 are formed on the conductive layer 40 of the substrate by the photosensitive layer and the barrier layer forming process. 2C, the photosensitive layer 30 is irradiated with an actinic ray 80, which is an image of the photomask, projected onto the photosensitive layer 30 through the barrier layer 20 by the exposure process, A light curing portion is formed. 2 (d), a resist pattern 32, which is a photocurable portion, is formed on the substrate by removing a region (including a barrier layer) other than the light-cured portion formed by the exposure process by the developing process from the substrate do. 2E, the plating layer 60 is formed on the conductor layer 40 of the substrate which is not covered with the resist by a plating process using the resist pattern 32 as a photocurable portion as a mask. 2F, the resist pattern 32, which is a photocured portion, is peeled off by a strong alkaline aqueous solution, and then the conductive layer 40 masked by the resist pattern 32 is removed by a flash etching process, The conductor pattern 70 including the plated layer 62 after the treatment and the conductor layer 42 after the etching treatment is formed. The conductor layer 40 and the plating layer 60 may be made of the same material or different. When the conductor layer 40 and the plating layer 60 are made of the same material, the conductor layer 40 and the plating layer 60 may be integrated. Although the projection exposure method is described in FIG. 2, the register pattern 32 may be formed by using the mask exposure method and the LDI exposure method in combination.

이상, 본 개시의 적합한 실시형태에 관하여 설명했지만, 본 개시는 상기 실시형태에 아무런 한정되는 것은 아니다.
While the preferred embodiments of the present disclosure have been described above, the present disclosure is not limited to the above embodiments.

실시예Example

이하, 실시예에 근거하여 본 개시를 보다 구체적으로 설명하지만, 본 개시는 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 특별히 단정짓지 않는 한, "부" 및 "%"는 질량 기준이다. Hereinafter, the present disclosure will be described in more detail based on examples, but the present disclosure is not limited to the following examples. In addition, unless otherwise specified, "parts" and "%" are on a mass basis.

우선, 하기 표 1∼3에 나타내는 바인더 폴리머(A-1)를 합성예 1에 따라 합성했다. First, the binder polymer (A-1) shown in Tables 1 to 3 below was synthesized according to Synthesis Example 1.

<합성예 1>&Lt; Synthesis Example 1 &

중합성 단량체로서 메타크릴산 125g, 메타크릴산메틸 25g, 벤질메타크릴레이트 125g 및 스티렌 225g과, 아조비스이소부티로니트릴 1.5g을 혼합하여, 용액 a를 조제했다. A solution a was prepared by mixing 125 g of methacrylic acid, 25 g of methyl methacrylate, 125 g of benzyl methacrylate, 225 g of styrene and 1.5 g of azobisisobutyronitrile as polymerizable monomers.

또한, 메틸셀로솔브 60g 및 톨루엔 40g의 혼합액(질량비 3:2) 100g에, 아조비스이소부티로니트릴 1.2g을 용해하여, 용액 b를 조제했다. Further, 1.2 g of azobisisobutyronitrile was dissolved in 100 g of a mixed solution of 60 g of methyl cellosolve and 40 g of toluene (weight ratio 3: 2) to prepare solution b.

한편, 교반기, 환류 냉각기, 온도계, 적하 로트 및 질소가스 도입관을 구비한 플라스크에, 질량비 3:2인 메틸셀로솔브 및 톨루엔의 혼합액(이하, "혼합액x"라고도 한다) 400g을 첨가하고, 질소가스를 불어넣으면서 교반하여, 80℃ 까지 가열했다. On the other hand, 400 g of a mixed solution of methylcellosolve and toluene (hereinafter also referred to as "mixed solution x") having a mass ratio of 3: 2 was added to a flask equipped with a stirrer, a reflux condenser, a thermometer, a dropping funnel, The mixture was stirred while blowing nitrogen gas and heated to 80 占 폚.

플라스크 내의 혼합액 x에 상기 용액 a를 4시간 걸쳐 적하 속도를 일정하게 하여 적하한 후, 80℃에서 2시간 교반했다. 이어서, 이 플라스크 내의 용액에, 상기 용액 b를 10분간 걸쳐 적하 속도를 일정하게 하여 적하한 후, 플라스크 내의 용액을 80℃에서 3시간 교반했다. 또한, 플라스크 내의 용액을 30분간 걸쳐 90℃까지 승온시켜, 90℃에서 2시간 보온한 후, 실온까지 냉각하여 바인더 폴리머(A-1)의 용액을 얻었다. 이 바인더 폴리머(A-1)의 용액은, 혼합액 x를 첨가하여 불휘발 성분(고형분)이 50질량%가 되도록 조제했다. The solution a was dropped into the mixed solution x in the flask at a constant dropping rate over 4 hours, followed by stirring at 80 캜 for 2 hours. Subsequently, the solution b was dropped into the solution in the flask at a constant dropping rate over 10 minutes, and then the solution in the flask was stirred at 80 캜 for 3 hours. Further, the solution in the flask was heated to 90 DEG C over 30 minutes, kept at 90 DEG C for 2 hours, and then cooled to room temperature to obtain a solution of the binder polymer (A-1). The solution of the binder polymer (A-1) was prepared by adding the mixed solution x so that the non-volatile component (solid content) became 50% by mass.

바인더 폴리머(A-1)의 중량평균분자량은 50,000이며, 산가는 163mgKOH/g이었다. 또한, 산가는, 중화적정법으로 측정했다. 구체적으로는, 바인더 폴리머의 용액 1g에 아세톤 30g을 첨가하고, 더욱 균일하게 용해시킨 후, 지시약인 페놀프탈레인을, 상기 바인더 폴리머의 용액에 적당량 첨가하고, 0.1N의 KOH 수용액을 사용하여 적정을 실시함으로써 측정했다. 중량평균분자량은, 겔 침투 크로마토그래피법(GPC)에 의해 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 사용하여 환산함으로써 도출했다. GPC의 조건은, 이하에 나타낸다. The weight average molecular weight of the binder polymer (A-1) was 50,000, and the acid value was 163 mgKOH / g. The acid value was measured by a neutralization titration method. Specifically, 30 g of acetone was added to 1 g of the binder polymer solution, and the solution was uniformly dissolved. An appropriate amount of phenolphthalein, which is an indicator, was added to the solution of the binder polymer, and titration was performed using a 0.1 N KOH aqueous solution Respectively. The weight average molecular weight was determined by gel permeation chromatography (GPC) and calculated by using a standard polystyrene calibration curve. The conditions of GPC are shown below.

-GPC 조건--GPC condition-

펌프:히타치 L-6000형(가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼제) Pump: Hitachi L-6000 type (manufactured by Hitachi Seisakusho Co., Ltd.)

컬럼:이하의 합계 3개(컬럼 사양:10.7mmφ×300mm, 모두 히타치가세이 가부시키가이샤제)Column: 3 total of the following (column specifications: 10.7 mm phi x 300 mm, all manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.)

Gelpack GL-R420Gelpack GL-R420

Gelpack GL-R430Gelpack GL-R430

Gelpack GL-R440Gelpack GL-R440

용리액:테트라히드로푸란 Eluent: tetrahydrofuran

시료 농도:고형분이 50질량%의 바인더 폴리머를 120mg 채취하고, 5mL의 테트라히드로푸란에 용해하여 시료를 조제했다. Sample concentration: 120 mg of a binder polymer having a solid content of 50 mass% was sampled and dissolved in 5 ml of tetrahydrofuran to prepare a sample.

측정 온도:25℃Measuring temperature: 25 ° C

유량:2.05mL/분 Flow rate: 2.05 mL / min

검출기:히타치 L-3300형RI(가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼제, 제품명)Detector: Hitachi L-3300 Model RI (product name, manufactured by Hitachi Seisakusho Co., Ltd.)

<배리어층 형성용 수지 조성물의 조제><Preparation of a resin composition for forming a barrier layer>

다음으로, 하기 표 1∼표 3에 나타내는 각 성분을 그 표에 나타내는 양(단위:질량부)으로 혼합함으로써, 배리어층 형성용 수지 조성물을 얻었다. 구체적으로는, 수용성 수지를 실온의 물 및 알코올류에 천천히 첨가하고, 전량 첨가 후, 90℃까지 가열했다. 90℃에 도달한 후, 1시간 교반하고, 실온까지 냉각하여, 배리어층 형성용 수지 조성물을 얻었다. 또한, 표 1∼표 3중의 용제 이외의 배합량은, 모두 고형분으로의 배합량이다. Next, the components shown in the following Tables 1 to 3 were mixed in an amount (unit: parts by mass) shown in the table to obtain a resin composition for forming a barrier layer. Specifically, the water-soluble resin was slowly added to water and alcohol at room temperature, and the whole amount was added, followed by heating to 90 占 폚. After reaching 90 캜, the mixture was stirred for 1 hour and cooled to room temperature to obtain a resin composition for forming a barrier layer. In addition, the blending amounts other than the solvents in Tables 1 to 3 are all the blending amounts in the solid content.

 <감광성 수지 조성물의 조제>&Lt; Preparation of Photosensitive Resin Composition &gt;

다음으로, 하기 표 1∼표 3에 나타내는 각 성분을 그 표에 나타내는 양(단위:질량부)으로 혼합함으로써, 감광성 수지 조성물을 얻었다. Next, the components shown in the following Tables 1 to 3 were mixed in an amount (unit: parts by mass) shown in the table to obtain a photosensitive resin composition.

Figure pct00011
Figure pct00011

Figure pct00012
Figure pct00012

Figure pct00013
Figure pct00013

표 1∼표 3 중의 각 성분의 상세(詳細)는 이하와 같다. Details of each component in Tables 1 to 3 are as follows.

(수용성 수지)(Water-soluble resin)

*1:폴리비닐알코올 PVA-205(가부시키가이샤 쿠라레제, 제품명, 비누화도=87몰%, 평균 중합도=500)* 1: Polyvinyl alcohol PVA-205 (product name, saponification degree = 87 mol%, average degree of polymerization = 500)

*2:폴리비닐알코올 PVA-203(가부시키가이샤 쿠라레제, 제품명, 비누화도=87몰%, 평균 중합도=300)* 2: Polyvinyl alcohol PVA-203 (product name, saponification degree = 87 mol%, average degree of polymerization = 300)

*3:폴리비닐알코올 PVA-210(가부시키가이샤 쿠라레제, 제품명, 비누화도=87몰%, 평균 중합도=1000)* 3: Polyvinyl alcohol PVA-210 (product name, saponification degree = 87 mol%, average degree of polymerization = 1000)

*4:폴리비닐피롤리돈 K-30(가부시키가이샤 니혼쇼쿠바이제, 제품명)* 4: Polyvinyl pyrrolidone K-30 (trade name, product of Nippon Shokubai Co., Ltd.)

(A)성분:바인더 폴리머(A) Component: Binder polymer

*5:(A-1)(합성예 1에서 얻어진 바인더 폴리머(A-1)) * 5: (A-1) (the binder polymer (A-1) obtained in Synthesis Example 1)

메타크릴산/메타크릴산메틸/벤질메타크릴레이트/스티렌Methacrylic acid / methyl methacrylate / benzyl methacrylate / styrene

=25/5/25/45(질량비), 중량평균분자량=50,000, 고형분 =50질량%, 메틸셀로솔브/톨루엔=3/2(질량비) 용액= 25/5/25/45 (mass ratio), weight average molecular weight = 50,000, solid content = 50% by mass, methylcellosolve / toluene = 3/2

(B)성분:에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물Component (B): Photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond

*6:FA-321M(히타치가세이 가부시키가이샤제, 제품명)* 6: FA-321M (product name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.)

2,2-비스(4-(메타크릴옥시펜타에톡시)페닐)프로판2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane

*7:FA-024M(히타치가세이 가부시키가이샤제, 제품명)* 7: FA-024M (product name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.)

EOPO 변성 디메타크릴레이트EOPO-modified dimethacrylate

*8:BPE-200(신나카무라가가쿠고교 가부시키가이샤제, 제품명)* 8: BPE-200 (product name of Shin-Nakamura Kagaku Kogyo K.K.)

2,2-비스(4-(메타크릴옥시디에톡시)페닐)프로판2,2-bis (4- (methacryloxy diethoxy) phenyl) propane

*9:BP-2 EM(쿄에이샤가가쿠 가부시키가이샤제, 제품명)* 9: BP-2 EM (product name, manufactured by Kyowa Chemical Industry Co., Ltd.)

2,2-비스(4-(메타크릴옥시폴리에톡시)페닐)프로판2,2-bis (4- (methacryloxypolyethoxy) phenyl) propane

*10:DPEA-12(니폰가야쿠 가부시키가이샤제, 제품명) * 10: DPEA-12 (product name, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)

에틸렌옥사이드 변성 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트Ethylene oxide-modified dipentaerythritol hexaacrylate

(C)성분:광중합 개시제(C): Photopolymerization initiator

*11:B-CIM(호도가야가가쿠고교 가부시키가이샤제, 제품명)* 11: B-CIM (product name, manufactured by Hodogaya Chemical Industry Co., Ltd.)

2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐비스이미다졸2,2'-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ', 5,5'-tetraphenylbisimidazole

(D)성분:광증감제(D) Component: Photosensitizer

*12:EAB(호도가야가가쿠고교 가부시키가이샤제, 제품명)* 12: EAB (product name, manufactured by Hodogaya Chemical Industry Co., Ltd.)

4,4'-비스(디에틸아미노)벤조페논4,4'-bis (diethylamino) benzophenone

(E)성분:중합 금지제Component (E): Polymerization inhibitor

*13:TBC(DIC 가부시키가이샤제)* 13: TBC (manufactured by DIC Corporation)

4-tert-부틸카테콜
4-tert-butylcatechol

[실시예 1∼15 및 비교예 1∼7][Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7]

<감광성 엘리먼트의 제작>&Lt; Preparation of Photosensitive Element &gt;

감광성 엘리먼트의 지지 필름으로서, 표 1∼표 3에 나타낸 PET 필름을 준비했다. As the supporting film of the photosensitive element, PET films shown in Tables 1 to 3 were prepared.

표 1∼표 3에 나타낸 PET 필름의 상세는 이하와 같다. Details of the PET films shown in Tables 1 to 3 are as follows.

FB40:활제층을 표리(表裏)에 가지는 3층 구조의 2축 배향 PET 필름(도레이 가부시키가이샤제, 제품명, 두께:16㎛) FB40: biaxially oriented PET film (product name, thickness: 16 mu m, made by TORAY KABUSHIKI KAISHA) having an active layer on the front and back sides,

A1517:활제층(滑劑層)을 편면(片面)에 가지는 2층 구조의 2축 배향 PET 필름(토요보우세키 가부시키가이샤제, 제품명, 두께:16㎛)A1517: A biaxially oriented PET film (product name, thickness: 16 mu m, made by TOYOBO SEIKI KABUSHIKI CO., LTD.) Having a two-layer structure having a lubricant layer on one side,

G2H:활제(滑劑)를 함유하는 단층 구조(활제 혼련(kneading) 타입)의 2축 배향 PET 필름(테이진 듀퐁 필름 가부시키가이샤제, 제품명, 두께:15.5㎛m)G2H: biaxially oriented PET film (manufactured by Teijin DuPont Film Co., Ltd., thickness: 15.5 占 퐉 m) having a single layer structure (lubricant kneading type) containing a lubricant,

(배리어층의 제작) (Fabrication of barrier layer)

이어서, PET 필름(지지 필름) 상에 두께가 균일하게 되도록, 배리어층 형성용 수지 조성물을 도포하고, 95℃의 열풍 대류식 건조기로 10분간 건조하고, 건조 후의 두께가 5㎛인 배리어층을 형성했다. 또한, PET 필름의 양면에서 활제의 밀도가 상이한 경우에는, PET 필름의 활제가 적은 면에 배리어층을 형성하고, PET 필름의 편면에 활제층을 가지는 경우에는, PET 필름의 활제층측의 면에 배리어층을 형성했다. Subsequently, a resin composition for forming a barrier layer was applied on the PET film (support film) so as to have a uniform thickness, and dried with a hot air convection type drier at 95 캜 for 10 minutes to form a barrier layer having a thickness of 5 탆 after drying did. When the barrier layer is formed on the surface of the PET film having less lubricant and the active layer is provided on one side of the PET film when the density of the lubricant is different on both sides of the PET film, Layer.

(감광층의 제작) (Preparation of photosensitive layer)

다음으로, 지지 필름의 배리어층 상에, 두께가 균일하게 되도록 감광성 수지 조성물을 도포하고, 100℃의 열풍 대류식 건조기로 10분간 건조하고, 건조 후의 두께가 10㎛인 감광층을 형성했다. Next, on the barrier layer of the support film, the photosensitive resin composition was coated so as to have a uniform thickness, and dried with a hot air convection type dryer at 100 캜 for 10 minutes to form a photosensitive layer having a thickness of 10 탆 after drying.

다음으로, 이 감광층 상에, 폴리에틸렌제 보호 필름(보호층)(타마폴리 가부시키가이샤제, 제품명 "NF-15")를 첩합하고, PET 필름(지지 필름)과, 배리어층과, 감광층과, 보호층이 이 순서로 적층된 감광성 엘리먼트를 얻었다. Next, a polyethylene protective film (protective layer) (product name: "NF-15 ", manufactured by TAMARO POLYMER LTD.) Was stuck on this photosensitive layer, and a PET film (support film), a barrier layer, And a protective layer were laminated in this order.

<잔존 알코올류량의 측정>&Lt; Measurement of Residual Alcohol Content &gt;

형성된 배리어층에 있어서의 잔존 알코올류의 양은, 가스 크로마토그래피 질량분석법에 의해 측정되었다. 가스 크로마토그래피 질량 분석의 측정 조건은, 하기와 같다. 또한, 표 1, 표 2 및 표 3의 항목 "배리어층에 있어서의 잔존 알코올류량"은, 탄소수 3 이상의 알코올류의 양을 나타낸다. 또한, "<1.0"은, 0을 초과하고 1.0 미만을 의미한다. The amount of residual alcohol in the formed barrier layer was measured by gas chromatography mass spectrometry. The measurement conditions of the gas chromatography mass spectrometry are as follows. The item "amount of residual alcohol in the barrier layer" in Table 1, Table 2 and Table 3 indicates the amount of the alcohol having 3 or more carbon atoms. "&Lt; 1.0" means more than 0 and less than 1.0.

(가스 크로마토그래피 질량 분석의 측정 조건) (Measurement conditions of gas chromatography mass spectrometry)

측정 장치:GC/MS QP-2010(시마즈세이사쿠쇼제, 제품명) Measurement apparatus: GC / MS QP-2010 (product name of Shimadzu Corporation)

컬럼:HP-5MS(아지렌트·테크놀로지 가부시키가이샤제, 제품명)Column: HP-5MS (product name, manufactured by Agilent Technologies, Inc.)

Oven Temp:40℃에서 5분간 가열 후, 15℃/min의 비율로 300℃까지 승온 Oven Temp: After heating at 40 占 폚 for 5 minutes, the temperature was raised to 300 占 폚 at a rate of 15 占 폚 / min

캐리어 가스:헬륨, 1.0mL/minCarrier gas: helium, 1.0 mL / min

인터페이스 온도:280℃Interface temperature: 280 ℃

이온 소스 온도:250℃Ion source temperature: 250 ° C

샘플 주입량:0.1mLSample injection amount: 0.1 mL

<적층체의 제작>&Lt; Preparation of laminate &

두께 12㎛의 구리박을 양면에 적층한 유리 에폭시재인 동장적층판(銅張積層板)(기판, 히타치가세이 가부시키가이샤제, 제품명 "MCL-E-67")의 구리 표면을, 산처리하여 수세한 후, 공기류로 건조했다. 동장적층판을 80℃로 가온하고, 보호층을 벗기면서, 감광층이 구리 표면에 접하도록 상기 감광성 엘리먼트를 각각 동장적층판에 압착했다. 압착은, 110℃의 히트롤을 사용하여, 0.40MPa의 압력으로 1.0m/분의 롤 속도로 실시했다. 이렇게 하여, 기판과, 감광층과, 배리어층과, 지지 필름의 순서로 적층된 적층체를 얻었다. 이들 적층체는, 이하에 나타내는 시험에 있어서의 시험편으로서 사용했다. 라미네이터로서, HLM-3000(타이세이라미네이터 가부시키가이샤제, 제품명)을 사용했다. The copper surface of a copper-clad laminate (substrate: MCL-E-67, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), which is a glass epoxy laminated on both sides of copper foil having a thickness of 12 탆, After washing with water, it was air-dried. The copper clad laminate was heated to 80 DEG C and the photosensitive element was pressed onto the copper clad laminate so that the photosensitive layer was in contact with the copper surface while peeling off the protective layer. The pressing was performed at a roll speed of 1.0 m / min at a pressure of 0.40 MPa using a heat roll at 110 캜. Thus, a laminate obtained by laminating the substrate, the photosensitive layer, the barrier layer, and the supporting film in this order was obtained. These laminated bodies were used as test specimens in the following tests. As the laminator, HLM-3000 (product name, manufactured by Taihei Laminator Co., Ltd.) was used.

<지지 필름 박리성의 평가><Evaluation of peelability of support film>

시험편을 23℃ 및 습도 50%의 환경하에서 1시간 방치했다. 그 후, 시험편으로부터 지지 필름인 PET 필름을 박리 각도 135도, 박리 속도 500mm/초의 조건하에서 박리하고, 이하의 평가 기준으로 지지 필름 박리성을 평가했다. 평가의 결과를 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. The test piece was allowed to stand in an environment of 23 캜 and 50% humidity for 1 hour. Thereafter, a PET film as a support film was peeled off from the test piece under the conditions of a peeling angle of 135 degrees and a peeling rate of 500 mm / sec, and the peelability of the support film was evaluated on the following evaluation criteria. The results of the evaluation are shown in Tables 4 to 6 below.

A:지지 필름인 PET 필름만이 용이하게 박리되었다. A: Only the PET film as the supporting film was easily peeled off.

B:박리된 지지 필름의 일부에 배리어층이 부착되어 있거나, 또는, 지지 필름의 박리가 불가(不可)하였다. B: The barrier layer was adhered to a part of the peeled support film, or peeling of the support film was impossible (impossible).

<해상도의 평가><Evaluation of resolution>

해상도를 조사하기 위해, 시험편으로부터 지지 필름을 박리한 후, 시험편의 배리어층 상에, 히타치 41단 스텝 타블렛을 재치(載置)하고, 해상도 평가용 패턴으로서 라인폭/스페이스폭이 z/z(z=2∼20(1㎛ 간격으로 변화))(단위:㎛)의 배선 패턴을 가지는 유리 마스크를 두고, 파장 365nm의 고압 수은등 램프를 가지는 투영 노광기(우시오덴키 가부시키가이샤제, 제품명 UX-2240SM-XJ01)를 사용하여, 히타치 41단 스텝 타블렛의 현상 후의 잔존 스텝 단수가 8단이 되는 조사 에너지량으로, 배리어층을 통하여 감광층을 노광했다. 노광 후, 시험편을 실온에서 수세하여, 배리어층을 제거했다. 다음으로, 30℃에서 1질량%의 탄산나트륨 수용액을 사용하고, 감광층을 최단 현상 시간의 2배의 시간으로 스프레이 현상하여, 미노광부를 제거했다. 여기서, 최단 현상 시간은, 미노광부가 상기의 현상 처리에 의해 완전하게 제거되는 시간을 측정함으로써 구했다. 현상 처리에 의해 미노광부가 깨끗하게 제거된 라인 부분(노광부) 사이의 스페이스폭 중, 가장 작은 값(단위:㎛)을 해상도 평가의 지표로 했다. 또한, 이 수치가 작을수록, 해상도가 양호한 것을 의미한다. 결과를 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. In order to investigate the resolution, a support film was peeled off from the test piece, and then a Hitachi 41-step tablet was placed on the barrier layer of the test piece, and a line width / space width of z / z ( (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., product name UX-2240SM (trade name, manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) having a high-pressure mercury lamp with a wavelength of 365 nm was placed in a glass mask having a wiring pattern of z = 2 to 20 -XJ01) was used to expose the photosensitive layer through the barrier layer with an irradiation energy amount that the number of remaining steps after development of the Hitachi 41-step tablet was eight stages. After the exposure, the test piece was rinsed at room temperature to remove the barrier layer. Next, a 1% by mass aqueous sodium carbonate solution was used at 30 캜, and the photosensitive layer was spray-developed for twice the shortest developing time to remove the unexposed portion. Here, the shortest developing time was obtained by measuring the time when the unexposed portion was completely removed by the above developing process. The smallest value (unit: 占 퐉) among the space widths between the line portions (exposed portions) from which the unexposed portions are cleanly removed by the developing process is taken as an index of resolution evaluation. The smaller the numerical value, the better the resolution. The results are shown in Tables 4 to 6 below.

<레지스터 패턴 형상의 평가><Evaluation of Resistor Pattern Shape>

상기 해상도의 평가에서 평가된 기판에 있어서, 라인폭/스페이스폭이 10/10(단위:㎛)의 레지스터 패턴의 단면 형상을 주사형 전자현미경(SEM)에 의해 관찰했다. 레지스터 패턴의 단면 형상을 레지스터 패턴 형상의 평가로서 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. The cross-sectional shape of the resist pattern with a line width / space width of 10/10 (unit: 占 퐉) was observed by a scanning electron microscope (SEM) on the substrate evaluated in the evaluation of the resolution. The sectional shapes of the resistor patterns are shown in the following Tables 4 to 6 as evaluation of the register pattern shape.

비교예 1∼7의 감광성 엘리먼트에서는, 지지 필름 박리성이 열화(劣化)되어 있어, 레지스터 패턴이 형성되어 있지 않기 때문에, 해상도 및 레지스터 패턴 형상의 평가는 할 수 없었다. In the photosensitive elements of Comparative Examples 1 to 7, the resolution and the resist pattern shape could not be evaluated because the support film peelability deteriorated and no resistor pattern was formed.

<배리어층 용액 투명성의 평가>&Lt; Evaluation of transparency of barrier layer solution &

참조 시료로서, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서의 알코올류를 사용하지 않는 이외, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물과 동일하게 조성물을 준비했다. 그 후, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물 용액(이하 "배리어층 용액"이라고도 한다)과 참조 시료의 투명성에 관하여, 육안으로 관찰하고, 이하와 같이 평가했다. 평가 결과를 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. As the reference samples, the same procedures as those of the examples 1 to 15 and the comparative examples 1 to 7 except for using the alcohols in the barrier layer forming resin compositions of the examples 1 to 15 and the comparative examples 1 to 7 The composition was prepared in the same manner as the composition. Thereafter, the transparency of the resin composition solution for barrier layer formation (hereinafter also referred to as "barrier layer solution ") and the reference sample of Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7 was visually observed and evaluated as follows . The evaluation results are shown in Tables 4 to 6 below.

A:참조 시료와 비교하여, 배리어층 용액의 흐림이 동등 이하이다. A: The fog of the barrier layer solution is equal to or less than that of the reference sample.

B:참조 시료와 비교하여, 배리어층 용액에 흐림이 많이 발생되어 있다. B: As compared with the reference sample, a large amount of fogging occurred in the barrier layer solution.

<배리어층 투명성의 평가>&Lt; Evaluation of barrier layer transparency &gt;

지지 필름 상에 두께가 균일하게 되도록, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물을 도포하고, 95℃의 열풍 대류식 건조기로 10분간 건조하고, 건조 후의 두께가 5㎛인 배리어층을 형성했다. 참조 시료로서, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물에 있어서의 알코올류를 사용하지 않는 이외, 실시예 1∼15 및 비교예 1∼7의 배리어층 형성용 수지 조성물과 동일하게 조제한 조성물을 사용하여, 배리어층을 형성했다. 그 후, 배리어층의 외관에 관하여 육안으로 관찰하고, 이하와 같이 평가했다. 평가 결과를 하기 표 4∼표 6에 나타낸다. The barrier layer forming resin compositions of Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 7 were applied on the support film so that the thickness became uniform and dried for 10 minutes in a hot air convection type dryer at 95 캜 to give a thickness of 5 Mu m. As the reference samples, the same procedures as those of the examples 1 to 15 and the comparative examples 1 to 7 except for using the alcohols in the barrier layer forming resin compositions of the examples 1 to 15 and the comparative examples 1 to 7 Using the composition prepared in the same manner as the composition, a barrier layer was formed. Thereafter, the appearance of the barrier layer was visually observed and evaluated as follows. The evaluation results are shown in Tables 4 to 6 below.

A:참조 시료와 비교하여, 배리어층에 흐림 및 보이드(void)의 발생 정도가 동등 이하이다. A: As compared with the reference sample, the degree of occurrence of clouding and voids in the barrier layer is equal or less.

B:참조 시료와 비교하여, 배리어층의 일부 또는 전체에 흐림 또는 보이드가 대부분 발생하고 있다. B: As compared with the reference sample, a part or all of the barrier layer is mostly cloudy or voids.

Figure pct00014
Figure pct00014

Figure pct00015
Figure pct00015

Figure pct00016
Figure pct00016

고해상성인 투영 노광기를 사용하여, 잔존 스텝 단수가 8단이 되는, 에너지량이 적은 조건에서 노광한 경우, 실시예 1∼15에서는, 지지 필름과 배리어층과의 박리성이 높은데 대하여, 비교예 1∼7에서는, 지지 필름과 배리어층과의 박리성이 낮은 것을 확인할 수 있었다.
In Examples 1 to 15, when the exposure was performed under a condition that the number of remaining steps was eight and the amount of energy was low using a high resolution image projection exposure apparatus, peeling properties between the support film and the barrier layer were high, 7, it was confirmed that the separability between the support film and the barrier layer was low.

산업상의 이용 가능성Industrial availability

이상 설명한 바와 같이, 본 개시에 의하면, 박리촉진제를 사용하지 않아도 배리어층과 지지 필름과의 박리성을 향상시킬 수 있는 감광성 엘리먼트, 배리어층 형성용 수지 조성물, 레지스터 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공할 수 있다.
INDUSTRIAL APPLICABILITY As described above, according to the present disclosure, it is possible to provide a photosensitive element capable of improving the peelability of a barrier layer and a support film without using a release promoter, a resin composition for forming a barrier layer, a method of forming a resistor pattern, Method can be provided.

부호의 설명Explanation of symbols

1…감광성 엘리먼트, 2…지지 필름, 3, 20…배리어층, 4, 30…감광층, 5…보호층, 32…레지스터 패턴, 40…도체층, 42…에칭 처리 후의 도체층, 50…절연층, 60…도금층, 62…에칭 처리 후의 도금층, 70…도체 패턴, 80…활성 광선. One… Photosensitive element, 2 ... Support film, 3, 20 ... Barrier layer, 4, 30 ... Photosensitive layer, 5 ... Protective layer, 32 ... Register pattern, 40 ... Conductor layer, 42 ... Conductor layer after etching treatment, 50 ... Insulation layer, 60 ... Plated layer, 62 ... Plating layer after etching treatment, 70 ... Conductor pattern, 80 ... Active rays.

Claims (13)

지지 필름과, 배리어층과, 감광층을 이 순서로 구비하는 감광성 엘리먼트로서, 상기 배리어층이, 수용성 수지와 탄소수 3 이상의 알코올류를 함유하는, 감광성 엘리먼트. A photosensitive element comprising a support film, a barrier layer, and a photosensitive layer in this order, wherein the barrier layer contains a water-soluble resin and an alcohol having 3 or more carbon atoms. 청구항 1에 있어서,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류가, 하기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 하기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유하는, 감광성 엘리먼트.
Figure pct00017

Figure pct00018

Figure pct00019

Figure pct00020

[일반식(4) 중, R11은 알킬기를 나타내고, R12는 알킬렌기를 나타내고, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은 3 이상이다.]
The method according to claim 1,
Wherein the alcohol having at least 3 carbon atoms contains at least one member selected from the group consisting of a compound represented by the following Chemical Formulas (1) to (3) and a compound represented by the following Chemical Formula (4).
Figure pct00017

Figure pct00018

Figure pct00019

Figure pct00020

[In the general formula (4), R 11 represents an alkyl group, R 12 represents an alkylene group, and the sum of the carbon number of the group of R 11 and the group of R 12 is 3 or more.]
청구항 1 또는 2에 있어서,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도가, 300mL/물 100mL 이상인, 감광성 엘리먼트.
The method according to claim 1 or 2,
Wherein the solubility of the alcohol having 3 or more carbon atoms in water at 20 DEG C is 300 mL / 100 mL or more.
청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,
상기 배리어층에 있어서의 상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량이, 상기 배리어층의 총량을 기준으로 하여 0질량% 초과, 2.0질량% 이하인, 감광성 엘리먼트.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
Wherein the content of the alcohol having 3 or more carbon atoms in the barrier layer is more than 0 mass% and 2.0 mass% or less based on the total amount of the barrier layers.
청구항 1 내지 4 중 어느 한 항에 있어서,
상기 수용성 수지가, 폴리비닐알코올을 함유하는, 감광성 엘리먼트.
5. The method according to any one of claims 1 to 4,
Wherein the water-soluble resin contains polyvinyl alcohol.
청구항 1 내지 5 중 어느 한 항에 있어서,
상기 지지 필름이, 폴리에스테르 필름인, 감광성 엘리먼트.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein the support film is a polyester film.
수용성 수지와, 탄소수 3 이상의 알코올류와, 물을 함유하는, 배리어층 형성용 수지 조성물. A resin composition for forming a barrier layer, which comprises a water-soluble resin, an alcohol having 3 or more carbon atoms, and water. 청구항 7에 있어서,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류가, 하기 화학식(1)∼(3)으로 표시되는 화합물 및 하기 일반식(4)로 표시되는 화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유하는, 배리어층 형성용 수지 조성물.
Figure pct00021

Figure pct00022

Figure pct00023

Figure pct00024

[일반식(4) 중, R11은 알킬기를 나타내고, R12는 알킬렌기를 나타내고, R11의 기와 R12의 기의 탄소수의 합은 3 이상이다.]
The method of claim 7,
Wherein the alcohol having 3 or more carbon atoms is at least one compound selected from the group consisting of compounds represented by the following formulas (1) to (3) and compounds represented by the following formula (4) Composition.
Figure pct00021

Figure pct00022

Figure pct00023

Figure pct00024

[In the general formula (4), R 11 represents an alkyl group, R 12 represents an alkylene group, and the sum of the carbon number of the group of R 11 and the group of R 12 is 3 or more.]
청구항 7 또는 8에 있어서,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 20℃의 물에 대한 용해도가, 300mL/물 100mL 이상인, 배리어층 형성용 수지 조성물.
The method according to claim 7 or 8,
Wherein the solubility of the alcohol having 3 or more carbon atoms in water at 20 DEG C is 300 mL / 100 mL or more of water.
청구항 7 내지 9 중 어느 한 항에 있어서,
상기 탄소수 3 이상의 알코올류의 함유량이, 물 500질량부에 대하여 100∼500질량부인, 배리어층 형성용 수지 조성물.
The method according to any one of claims 7 to 9,
Wherein the content of the alcohol having 3 or more carbon atoms is 100 to 500 parts by mass based on 500 parts by mass of water.
청구항 7 내지 10 중 어느 한 항에 있어서,
상기 수용성 수지가, 폴리비닐알코올을 함유하는, 배리어층 형성용 수지 조성물.
The method according to any one of claims 7 to 10,
Wherein the water-soluble resin contains polyvinyl alcohol.
청구항 1 내지 6 중 어느 한 항에 기재된 감광성 엘리먼트를 사용하여, 기판 상에, 그 기판측으로부터 감광층과 배리어층과 지지 필름을 이 순서로 배치하는 공정과,
상기 지지 필름을 제거하여, 상기 배리어층을 통하여 상기 감광층을 활성 광선에 의해 노광하는 공정과,
상기 배리어층 및 상기 감광층의 미경화부를 상기 기판 상으로부터 제거하는 공정
을 구비하는, 레지스터 패턴의 형성 방법.
A step of disposing a photosensitive layer, a barrier layer and a supporting film in this order on a substrate from the substrate side using the photosensitive element according to any one of claims 1 to 6,
Removing the support film to expose the photosensitive layer by an actinic ray through the barrier layer,
Removing the unlayered portions of the barrier layer and the photosensitive layer from the substrate;
And a step of forming the resist pattern.
청구항 12에 기재된 레지스터 패턴의 형성 방법에 의해 레지스터 패턴이 형성된 기판을 에칭 처리 또는 도금 처리하여 도체 패턴을 형성하는 공정을 구비하는, 프린트 배선판의 제조 방법. A manufacturing method of a printed wiring board comprising the step of forming a conductor pattern by etching or plating a substrate on which a resistor pattern is formed by the method of forming a resist pattern according to claim 12.
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