KR102549276B1 - 전기 네트워크의 강화된 멀티포인트 커넥터 상의 오류를 감지하기 위한 반사측정 시스템 - Google Patents

전기 네트워크의 강화된 멀티포인트 커넥터 상의 오류를 감지하기 위한 반사측정 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명은 측정 프로브(17)를 포함하는 유형이며 전기 네트워크의 강화된 멀티포인트 커넥터(10)에서 결함을 검출하기 위한 반사측정 시스템으로서, 테스트될 커넥터에 장착하기에 전기적으로 적합한 인터페이스 및 임피던스 정합부(12)를 포함하고, 상기 인터페이스 및 임피던스 정합부(12)는 커넥터의 접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 적어도 하나의 요소(14)와 반사측정 시스템의 프로브를 위한 측정 개구(15)를 구비한 본체(13)를 포함하는 것을 특징으로 하는 반사측정 시스템에 관한 것이다.

Description

전기 네트워크의 강화된 멀티포인트 커넥터 상의 오류를 감지하기 위한 반사측정 시스템
본 발명은 커넥터 상의 결함을 검출하기 위한 반사측정 시스템(reflectometry system)에 관한 것이다.
보다 구체적으로, 본 발명은 전기 네트워크의 강화된 멀티포인트 커넥터 상의 결함을 검출하기에 적합한 그러한 반사측정 시스템에 관한 것이다.
일반적으로, 이러한 반사측정 시스템은 예를 들어 오실로스코프와 연결되는 측정 프로브를 포함하며, 복잡한 시스템 및 가혹한 환경 내에서의 전기적 결함을 검출할 수 있다.
이러한 시스템은 예를 들어 잠수함 시스템, 로켓 또는 항공우주 운송수단에서 발견된다.
실제로, 이러한 시스템 내에서, 복잡하게 설계된 전기적 접속들(소형, 특수 재료, 최적화된 설계, 고밀도 접점)로 인해, 예를 들어 라인 및 접촉 저항, 절연 측정, 또는 절연 강도 측정에 의한 표준 전기 검사로는 결함을 감지하기에 충분하지 않기 때문에 일정 전기 요소들의 전기적인 무결성을 확인하기 위해 이들을 분해하는 것은 불가능할 수 있다.
이러한 경우, 유일하게 생각할 수 있는 비파괴 검사는 전선의 특정 반사 측정(specific reflectometry measurement)이다.
이 검출 기술은 종래기술에 잘 알려져 있으며, 일반적으로 정밀성이 반드시 요구되지 않는 곳(예를 들어 약 1 미터)에서 긴 길이의 케이블에 걸쳐 데드 쇼트(dead short)를 검출하는 데에 사용된다.
가혹 환경에서의 커넥터의 경우, 그 정밀도는 약 밀리미터 수준이고 반사측정 주파수를 증가시켜야 한다(하이퍼 주파수).
따라서, 신호의 품질과 측정의 재현성을 보장하기 위해서는 커넥터에 반사계의 연결을 최적화해야만 한다.
그러나 종래기술에서 이를 달성하기는 어렵다.
따라서 본 발명은 이러한 문제를 해결하는 것을 목표로한다.
이를 위해, 본 발명은 측정 프로브를 포함하는 유형이며 전기 네트워크의 강화된 멀티포인트 커넥터에서 결함을 검출하기 위한 반사측정 시스템으로서, 테스트될 커넥터에 장착하기에 전기적으로 적합한 인터페이스 및 임피던스 정합부를 포함하고, 상기 인터페이스 및 임피던스 정합부는 커넥터의 접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 적어도 하나의 요소와 반사측정 시스템의 프로브를 위한 측정 개구를 구비한 본체를 포함하는 것을 특징으로 하는 반사측정 시스템에 관한 것이다.
본 발명에 따른 반사측정 시스템의 다른 특징들(단독 또는 조합하여 고려됨)에 따르면,
- 상기 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소는 테스트할 커넥터의 접점과 마주하여 측정 프로브를 수용하여 위치시키기 위한 수단과 연결되고,
- 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소는 커넥터의 기능적 내구성을 유지하기 위해 전기 스프링 접점과 연결되고,
- 접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소는 인터페이스부의 본체와 제거 가능하게 결합되고, 이로써 테스트를 위해 상기 커넥터와 다른 접점에 대한 측정 액세스를 위한 개구부를 갖는 매스를 위한 교환 가능한 컬렉터 링 형태의 다른 요소로 대체 될 수 있고,
- 접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소는 이동 및 재조립이 가능하게 상기 인터페이스부의 본체와 별도로 결합되며, 그의 측정 개구가 테스트를 위해 커넥터의 다른 접점들에 대한 접근을 제공하며,
- 측정 프로브가 오실로스코프에 연결된다.
본 발명은 단지 예로서 제공되고 첨부된 도면을 참조하여 제시된 다음의 설명을 읽을 때 더 잘 이해될 것이며, 여기서,
- 도 1은 종래기술의 반사측정 시스템의 개략 단면도를 도시하고;
- 도 2는 본 발명에 따른 반사측정 시스템의 개략 단면도를 도시하고;
- 도 3은 본 발명에 따른 시스템의 구성에 포함된 인터페이스 및 임피던스 정합부의 단부도를 도시하며;
- 도 4는 본 발명에 따른 시스템에서 사용되는 전기 스프링 접점을 도시한다.
이들 도면, 특히 도 1은 종래기술의 반사측정 시스템을 도시한다.
이 시스템은 전기 네트워크의 강화된 멀티포인트 커넥터 상의 결함을 감지하는 데 사용된다.
이 커넥터는 도 1에서 도면부호 1로 지정되어 있고, 동일 도면에서 도면부호 2로 지정된 컨택트와 같은 여러 개의 전기 접점을 포함한다.
반사측정 시스템은 또한 도면부호 4로 지정된 오실로스코프와 연결된 도면부호 3으로 지정된 측정 프로브를 포함한다.
이 프로브는 커넥터를 테스트하여 잠재적으로 해당 네트워크의 결함을 감지하기 위해 커넥터의 각각의 전기 접점과 접촉하여 위치하는 데에 적합하게 되어 있다.
전술한 바와 같이, 이 구조는 특히 프로브를 정확하게 위치시키는 것이 어렵다는 점, 그리고 그에 따라 상응하는 측정의 품질과 재현성의 측면에서 소정의 수의 단점을 갖는다.
이러한 문제를 해결하기 위해, 본 발명에 따른 반사측정 시스템에서는, 매스(masses)를 위한 컬렉터 링 및 프로브를 위한 측정 개구를 포함하는 인터페이스 및 임피던스 매칭부가 사용된다.
도 2 및 3은 그러한 시스템의 예시적인 실시예를 도시한다.
이들 도면에서, 전기 네트워크의 강화된 멀티포인트 커넥터는 도면부호 10으로 표시되고, 여전히 도면부호 11로 지정된 접점과 같은 접점들을 포함한다.
본 발명에 따른 시스템은 테스트할 커넥터 상에 장착되도록 설계된 인터페이스 및 임피던스 매칭부를 포함하고, 이 인터페이스 및 임피던스 매칭부는 도면부호 12로 지정되어 있다.
이 인터페이스 및 임피던스 정합부는 테스트할 커넥터(10)에 장착하기에 적합하다.
이 부분은 이들 도면에서 도면부호 13으로 지정된 본체를 포함하며, 이 본체에는 커넥터의 접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 적어도 하나의 요소가 제공되고, 이 링은 도면부호 14로 표시된다.
상기 본체와 링은 또한 반사측정 시스템의 프로브의 삽입을 허용하기 위한 측정 개구를 포함하며, 이 개구는 예를 들어 도 3에서 도면부호 15로 지정되어 있다.
실제로, 그리고 도 2에 도시된 바와 같이, 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소는 또한 테스트할 커넥터의 접점의 맞은편에 측정 프로브를 수용하여 위치시키기 위한 수단과 연결된다.
도 2에서, 프로브를 수용 및 배치하기 위한 이들 수단은 도면부호 16으로 지정되고 프로브는 도면부호 17로 지정되어 있다.
통상적으로, 프로브는 여전히 도면부호 18로 지정된 오실로스코프에 연결된다.
이들 도면 및 특히 도 2에 도시된 바와 같이, 접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소(14)는 인터페이스부의 본체(13)와 제거 가능하게 결합된다.
이는 예를 들어 이 요소를 테스트를 위해 커넥터의 다른 접점에 접속되기 위한 측정 개구를 가지는, 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 다른 교환 가능한 요소로 교체할 수 있게 한다.
물론, 다른 실시예들이 고려될 수 있는데, 예를 들면, 접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소는 인터페이싱부의 본체와 분리하여 연결되어 그 위에서 이동 및 재조립될 수 있고, 그로 인해 측정 구멍을 통해 커넥터의 다른 접점에 액세스하여 이들을 테스트 할 수 있다.
마지막으로, 그리고 도 4에 도시된 바와 같이, 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소는 커넥터의 기능적 내구성을 보존하기 위해, 이 도 4의 도면부호 19로 지정된 것과 같은, 전기 스프링 접점과 연결될 수 있음에 유의해야 한다.
이러한 구조는 종래기술의 시스템에 비해 특정한 수의 장점을 가지고 있음을 알 수 있다.
실제로, 전술한 바와 같은 인터페이스부의 사용은 구현이 용이하면서도 접속 품질을 향상시키고 그에 따라 측정 품질 및 그 재현성을 향상시키는 것을 가능하게 한다.
물론, 또 다른 실시예들이 고려될 수 있다.

Claims (6)

  1. 측정 프로브(17)를 포함하는 유형이며, 전기 네트워크의 강화된 멀티포인트 커넥터(10)에서 결함을 검출하기 위한 반사측정 시스템으로서, 테스트할 커넥터에 장착하기에 전기적으로 적합한 인터페이스 및 임피던스 정합부(12)를 포함하고, 상기 인터페이스 및 임피던스 정합부(12)는 커넥터의 접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 적어도 하나의 요소(14)와 반사측정 시스템의 프로브를 위한 측정 개구(15)를 구비한 본체(13)를 포함하는 것을 특징으로 하는 반사측정 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소(14)는 테스트할 커넥터의 접점(11)의 맞은편에 측정 프로브를 수용하여 위치시키기 위한 수단(16)과 연결되는 것을 특징으로 하는 반사 측정 시스템.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소(14)는 커넥터(10)의 기능적 내구성을 유지하기 위해 전기 스프링 접점(19)과 연결되는 것을 특징으로 하는 반사 측정 시스템.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소(14)는 인터페이스 및 임피던스 정합부(12)의 본체(13)와 제거 가능하게 결합되고, 이로써 테스트를 위해 상기 커넥터와 다른 접점에 대한 측정 액세스를 위한 개구부를 갖는 매스를 위한 교환 가능한 컬렉터 링 형태의 다른 요소로 대체 될 수 있는 것을 특징으로 하는 반사 측정 시스템.
  5. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    접촉 매스를 위한 컬렉터 링 형태의 요소(14)는 이동 및 재조립이 가능하게 상기 인터페이스 및 임피던스 정합부(12)의 본체(13)와 별도로 결합되며, 그의 측정 개구(15)는 테스트를 위해 커넥터의 다른 접점들에 대한 접근을 제공하는 것을 특징으로 하는 반사 측정 시스템.
  6. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    측정 프로브(17)는 오실로스코프(18)에 연결되는 것을 특징으로 하는 반사 측정 시스템.
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