CN101004426A - 电信号量测探棒之接地线辐射噪声防制装置 - Google Patents

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CN101004426A CN 200610033089 CN200610033089A CN101004426A CN 101004426 A CN101004426 A CN 101004426A CN 200610033089 CN200610033089 CN 200610033089 CN 200610033089 A CN200610033089 A CN 200610033089A CN 101004426 A CN101004426 A CN 101004426A
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余忠刚
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Mitac Computer Shunde Ltd
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Mitac Computer Shunde Ltd
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Abstract

本发明公开了一种电信号量测探棒之接地线辐射噪声防制装置,其在一电信号量测探棒之探针固定区段及延伸区段周环绕设有一噪声防制绕线,该噪声防制绕线之一端连接于该电信号量测探棒之握持区段之接地端,而另一端则沿着该电信号量测探棒之长轴方向经由延伸区段一直延伸至邻近于该探针固定区段前端之接触探针之位置。该噪声防制绕线可作为辐射噪声之导引及屏蔽,可有效防制辐射噪声被收集于该电信号量测探棒之接地线。

Description

电信号量测探棒之接地线辐射噪声防制装置
技术领域
本发明有关于一种电信号量测探棒之噪声防制技术,特别是关于一种在电信号量测探棒之周环绕设有一噪声防制绕线之设计,可有效防制幅射噪声被收集于该电信号量测探棒之接地线。
背景技术
查讯号量测探针固定器是工程师在量测电子讯号时经常使用的辅助工具,举凡在产品之电路设计、研发阶段、以及产品制作、验证、检测、维修等各个阶段皆会用到该讯号量测探针来进行待测电路板之讯号量测。
由于讯号量测探针在整个电子产品之研发、产制、品管过程中占有相当重要的地位,故在先前技术中,业者对于该探针之结构改良亦不遗余力,亦有许多有关于探针之先前专利结构。
图1为一种传统电信号量测探棒在进行待测电路板之电信号量测时之立体示意图。图1所示,一般传统使用之电信号量测探棒1具有一探针固定区段11,其前端结合有一接触探针12,可供勾持或夹持于一待测电路板2之选定受测点21。该探针固定区段11之后端经由一延伸区段13再连结一握持区段14。
该握持区段14具有一接地端141,并可经由一延伸相当长度之接地线15拉引至待测电路板2处,并由该接地线15前端之接地点夹持件16以夹持或其它方式连接于该待测电路板2之接地点22。
该握持区段14之末端经由一信号传输线17连接于一测试设备3,故该电信号量测探棒1所量测出之电信号可经由该信号传输线17传送至该测试设备3,以作为分析、显示、或记录之用。
而在其它的传统电信号量测探棒设计中,亦可见于许多先前公开之专利前案中。例如中国台湾新型专利公告号第573823号中,其揭露出一种导电探针之结构,其结构包括有一外套,具有一贯穿之容置空间,前端冲压有一渐缩部。又例如中国台湾发明专利公告号第567315号中,其揭露出一种测试用探针组件,其结构包括有一测试探针,接触至该被检查体之测试点,一可动片可沿一基准轴在一定的范围内移动。又例如中国台湾新型专利公告号第564949号中,其揭露出一种测试用探针装置,其设有一可配合组装于测试治具之定位套筒。
而在该电信号量测探棒之装置设计方面,亦有许多的先前专利技术,例如中国台湾发明专利公告号第571091号中,其揭露出一种探针检测装置,其结构包括一固定座、一探针基座,以可滑动方式设置于该第一位置与该第二位置之间,其中该探针基座具有一通孔;一光纤连接器,设置于该固定座,通过该探针基座之该通孔;以及一探针,以悬臂方式设置于该探针基座,且该光纤连接器射出之光线投射在该探针上。
发明内容
本发明所欲解决之技术问题:
尽管在先前技术中,已有许多有关于电信号量测探棒结构及装置之设计,但在传统所使用之电信号量测探棒之接地线设计中,都是使用如图1所示之传统接地线设计。在实际之量测作业时,由于其接地线必需延伸拉引相当长度才能连接至待测电路板之接地点,故该电信号量测探棒周围环境中之幅射噪声(Radiated Noise)会被收集于该接地线,使得电信号之量测准确度受到该幅射噪声之影响。
图2为使用传统电信号量测探棒对一待测电路板之电信号进行量测时所得到之信号曲线图。在图2所示之信号曲线图中,其显示量测出之正常电信号曲线Vs1中可能会发生噪声信号Vn1,其噪声信号Vn1之噪声值为552mV,此一噪声信号将会影响到正常电信号之量测准确度。
因此,基于实际之需求,实有必要设计出一种可有效防制幅射噪声影响之电信号量测探棒。
本发明之主要目的即是提供一种电信号量测探棒之接地线幅射噪声防制装置,期能使被收集至电信号量测探棒之幅射噪声能有效地予以降低。
本发明之另一目的是提供一种包括有噪声防制绕线之电信号量测探棒之接地线幅射噪声防制装置,其除了具有接地连接之功能,又具备防制幅射噪声之功能。
本发明解决问题之技术手段:
本发明为解决习知技术之问题所采用之技术手段在电信号量测探棒之探针固定区段及延伸区段周环绕设有一噪声防制绕线,该噪声防制绕线之一端连接于该电信号量测探棒之握持区段之接地端,而另一端则沿着该电信号量测探棒之长轴方向经由延伸区段一直延伸至邻近于该探针固定区段前端之接触探针之位置。在实际之量测作业时,该噪声防制绕线之另一端结合有一接地点夹持件,可夹持或以其它方式接触于受测电路板之接地点。
本发明对照先前技术之功效:
相较于现有技术,本发明有效防制传统电信号量测探棒之接地线会收集幅射噪声之问题,通过本发明之噪声防制绕线设计,使被收集至电信号量测探棒之幅射噪声能有效地予以降低。本发明中所包括之噪声防制绕线可作为幅射噪声之导引及屏蔽,其噪声防制绕线除了具有接地连接之功能,又具备防制幅射噪声之功能,可进而提升电信号量测之准确度。
附图说明
图1为一种传统电信号量测探棒在进行待测电路板之电信号量测时之立体示意图。
图2为使用传统电信号量测探棒对一待测电路板之电信号进行量测时所得到之信号曲线图。
图3为一配置有本发明幅射噪声防制装置之电信号量测探棒之示意图。
图4为使用本发明之电信号量测探棒对一待测电路板之电信号进行量测时所得到之信号曲线图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细的说明。
参阅图3所示,其为一配置有本发明幅射噪声防制装置之电信号量测探棒之示意图。在以下之本发明较佳实施例说明中,若与前述习知电信号量测探棒相同之构件,乃标示以相同之参照编号,以资对应。
图3中显示本发明之电信号量测探棒1具有一探针固定区段11,其前端结合有一接触探针12,可供勾持或夹持于一待测电路板2之选定受测点21。该探针固定区段11之后端经由一延伸区段13再连结一握持区段14,以使操作者在使用该电信号量测探棒1时,可稳定握持。
该握持区段14之末端经由一信号传输线17连接于一测试设备3,故该电信号量测探棒1所量测出之电信号可经由该信号传输线17传送至该测试设备3,以作为分析、显示、或记录之用。该握持区段14设有一接地端141。
本发明中以一噪声防制绕线4绕设在该电信号量测探棒之延伸区段13及探针固定区段11之周环,该噪声防制绕线4之一端连接于该电信号量测探棒1之握持区段14之接地端141,而另一端则沿着该电信号量测探棒1之长轴方向一直延伸至邻近于该探针固定区段11前端之接触探针12之位置,再被导引出一小段长度,并在该噪声防制绕线4之末端可结合一接地点夹持件41。
在实际之量测作业时,该接地点夹持件41可夹持或以其它方式接触于待测电路板2之接地点22。该噪声防制绕线4可采用镀锡单心线或其它导线材料,以作为噪声导引及屏蔽之功能。
通过该噪声防制绕线4之配置,使得本发明之电信号量测探棒1在进行电信号之量测时,可以有效降低周围环境中之幅射噪声(Radiated Noise)被收集于接地线之问题,使得电信号之量测具有较精准之功能。
图4为使用本发明之电信号量测探棒对一待测电路板之电信号进行量测时所得到之信号曲线图,其横坐标为时间,而纵坐标表示量测出之信号电压值,另正常电信号曲线为Vs2,而噪声信号为Vn2。
图4之信号曲线图与图2所示以传统电信号量测探棒对同一个待测电路板之电信号进行量测时所得到之信号曲线图比较之,在尚未采用本发明之技术所量测出之幅射噪声值为552mV,而在采用本发明技术所量测出之幅射噪声值仅为70mV,两者差距达482mV,足证本发明确能将传统技术中被收集于接地线之幅射噪声予以有效防制,进而提升了电信号量测之准确度,故本发明确具产业上之利用价值。

Claims (3)

1.一种电信号量测探棒之接地线幅射噪声防制装置,在一电信号量测探棒之探针固定区段前端设有一接触探针,可供接触于一待测电路板,该电信号量测探棒前端之接触端经由一延伸区段连结于一握持区段,并在该握持区段具有一接地端,其特征在于:所述电信号量测探棒之延伸区段及探针固定区段周环绕设有一用以防制该电信号量测探棒之幅射噪声的噪声防制绕线。
2.根据权力要求1所述的电信号量测探棒之接地线幅射噪声防制装置,其特征在于:所述噪声防制绕线之一端连接于该电信号量测探棒之握持区段之接地端,而另一端则沿着该电信号量测探棒之长轴方向经由延伸区段一直延伸至邻近于该探针固定区段前端之接触探针之位置。
3.根据权力要求1所述的电信号量测探棒之接地线幅射噪声防制装置,其特征在于:所述噪声防制绕线采用镀锡单心线作为幅射噪声之导引及屏蔽。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102279355A (zh) * 2010-06-11 2011-12-14 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 波形测试装置及其使用方法
CN102711361A (zh) * 2011-03-28 2012-10-03 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电路板

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