KR102526942B1 - 알판 식별 시스템 및 연관된 방법 - Google Patents

Abstract

알판들의 집합 내의 알판을 식별하기 위한 알판 식별 시스템을 제공한다. 이러한 시스템은 알판에 의해 반송되는 복수의 알의 제1 측정값을 결정하도록 구성된 제1 측정 디바이스를 포함한다. 프로세서는 제1 측정 디바이스와 통신한다. 프로세서는 제1 측정 디바이스로부터 제1 측정값을 수신하도록 구성된다. 제2 측정 디바이스는 알판들의 집합 내의 알들의 제2 측정값을 결정하도록 구성된다. 제2 측정 디바이스는, 프로세서가 제2 측정값을 수신할 수 있도록 프로세서와 통신한다. 프로세서는 제2 측정값을 제1 측정값과 비교하여 알판들의 집합 내의 각 알판을 식별한다.

Description

알판 식별 시스템 및 연관된 방법

본 개시내용은 일반적으로 알 처리 디바이스 및 시스템에 관한 것이다. 더욱 구체적으로, 본 개시내용은, 하나 이상의 처리 스테이션을 통해 복수의 알을 반송하는 알판(egg flat)을 식별하기 위한 시스템 및 연관된 방법에 관한 것이다.

가금류 부화장 관리에 있어서, 성별, 질병, 유전적 성질 등의 다양한 특성에 따라 조류(bird)를 분리하는 것이 바람직할 수도 있다. 예를 들어, 수컷 새를 특정한 백신으로 접종하고 암컷 새는 다른 백신으로 접종하는 것이 바람직할 수도 있다. 부화시 조류의 성별 분리는 다른 이유로도 중요할 수도 있다. 예를 들어, 칠면조는 전통적으로 수컷 칠면조와 암컷 칠면조의 성장 속도 및 영양 요구량의 차이 때문에 성별로 분리된다. 산란란 또는 식용란 업계에서는, 암컷만을 사육하는 것이 바람직하다. 육계 업계에서는, 사료 효율을 높이고, 처리 균일성을 개선하고, 생산 비용을 줄이도록 성별에 따라 조류를 분리하는 것이 바람직하다.

일부 경우에, 원하는 특성의 이러한 결정은, 특성의 결과가 지연되거나 그렇지 않으면 즉시 알려지지 않은 수단(예를 들어, 생물학적 검정 공정)에 의해 부화 전에 수행될 수도 있다. 즉, 원하는 특성을 식별하는 테스트 방법에서는 분석을 완료하는 데 소정의 최소량의 시간이 걸릴 수도 있다. 예를 들어, 생물학적 검정은, 검정 결과가 이용 가능해질 때까지 각 알을 샘플링한 후 수 분 내지 수 시간이 걸릴 수도 있다. 그 간격 동안, 알판에 포함된 샘플링된 알들은 저장되어야 하며 나중의 검정 결과는 샘플링된 각 알판에 연관되어야 한다. 바코드, 페인트, 알 상의 표시, 및 무선 주파수(RFID) 등의 기존의 추적 수단은 고유한 문제점을 나타낼 수도 있는데, 바코드가 벗겨질 수도 있고, 알판 세척에 의해 페인트 또는 표시가 제거될 수도 있고, RFID 태그는 부화장과 농장 간에 순환되는 상당량의 알판으로 인해 매우 큰 비용이 들 수도 있다.

이에 따라, 알에 대하여 결정된 정보가 전체 공정에서 알판 하류에 정확히 연관될 수도 있도록 알판들의 집합 내의 알판을 식별할 수 있는 시스템을 제공하는 것이 바람직할 것이다. 또한, 알판들의 집합 내의 알판을 식별하는 연관된 방법을 제공하는 것이 바람직할 것이다.

상기한 필요성 및 다른 필요성은, 일 양태에 따르면, 알판 식별 시스템을 제공하는 본 개시내용의 양태들에 의해 충족된다. 이 시스템은, 알판의 집합 내의 알판에 의해 반송되는 복수의 알의 제1 측정값을 결정하도록 구성된 제1 측정 디바이스를 포함한다. 프로세서는 제1 측정 디바이스와 통신한다. 프로세서는 제1 측정 디바이스로부터 제1 측정값을 수신하도록 구성된다. 제2 측정 디바이스는, 제1 측정 디바이스로부터 하류에 위치설정되며, 알판들의 집합 내의 알들의 제2 측정값을 결정하도록 구성된다. 제2 측정 디바이스는, 프로세서가 제2 측정값을 수신할 수 있도록 프로세서와 통신한다. 프로세서는 제2 측정값을 제1 측정값과 비교하여 각 알판을 식별하도록 구성된다.

다른 일 양태는 알판들의 집합 내의 알판을 식별하는 방법을 제공한다. 이 방법은, 알들을 각각 포함하는 복수의 알판을 제1 측정 디바이스를 통해 운반하는 단계를 포함한다. 방법은, 제1 측정 디바이스에 의해, 각 알판에 의해 반송되는 복수의 알의 제1 측정값을 결정하는 단계를 더 포함한다. 방법은, 프로세서를 사용하여 각 알판의 제1 측정값을 저장하는 단계를 더 포함한다. 방법은, 제1 측정 디바이스에 의해 측정된 알들의 제2 측정값을 결정하도록 구성된 제2 측정 디바이스를 통해 알판들을 운반하는 단계, 및 제2 측정값을 제1 측정값과 비교하여 각 알판을 식별하는 단계를 더 포함한다.

따라서, 본 개시내용의 다양한 양태는 본원에서 달리 설명되어 있는 바와 같이 장점들을 제공한다.

본 개시내용의 다양한 실시예를 일반적으로 기술하였으므로, 이제는 반드시 축적대로 그려진 것은 아닌 첨부 도면을 참조한다.
도 1은 수직 위치에서 복수의 알을 반송할 수 있는 알판의 사시도;
도 2는 복수의 알이 내부에 위치설정된 알판의 개략적 평면도;
도 3은, 본 개시내용의 일 양태에 따라, 소정의 측정 품질을 갖는 것으로서 알판 내의 알들을 식별함으로써 패턴이 결정되는, 알판에 대응하는 패턴;
도 4는 본 발명의 일 양태에 따른 알판 식별 시스템의 개략적 평면도; 및
도 5는 포란(incubation) 18일째의 생란(live egg)과 무수정란(infertile egg)에 대한 불투명도 값의 범위를 도시하는 그래프.

이하에서는, 본 개시내용의 다양한 양태를 본 개시내용의 모든 양태가 아닌 일부 양태가 도시되어 있는 첨부 도면을 참조하여 보다 완전하게 설명한다. 실제로, 본 개시내용은, 많은 상이한 형태로 구체화될 수도 있으며, 본 명세서에서 설명되는 양태들로 한정되는 것으로 해석되어서는 안 되며, 오히려, 이러한 양태들은, 본 개시내용이 적용 가능한 법적 요건들을 충족시킬 수 있도록 제공된 것이다. 유사한 번호는 전체적으로 유사한 요소를 가리킨다.

이제, 본 개시내용의 장치 및 방법을 이제 도면을 참조하여 설명한다. 먼저 도 4를 참조하면, 알판들의 집합 내의 알판을 식별하기 위한 예시적인 시스템(100)이 도시되어 있다. 알판은, 복수의 알이 예를 들어 포란, 샘플 회수, 및/또는 치료 물질의 주입 등의 다양한 알 처리 이벤트를 거칠 때 알들을 유지하는 데 사용되는 컨테이너 또는 트레이형 구조이다. 알판들은, 포란 장비 제조업체에 따라 많은 다양한 형상, 크기, 및 기하학적 구성으로 배열될 수도 있다. 도 1에 도시된 바와 같이, 알판(15)은, 대략 직립 또는 수직 배향으로 복수의 알을 각각 지지하도록 구성된 포켓들의 어레이를 포함할 수도 있다.

예시한 알판(15)은 포켓들(32)의 복수의 행을 포함한다. 각 포켓(32)은, 각 알(20)(도 2)의 일단부를 수용하여 실질적으로 수직인 위치에서 각 알(20)을 지지하도록 구성될 수도 있다. 예시한 알판(15)의 각 포켓(32)은 각 알을 지지하도록 구성된 복수의 탭(34)을 포함한다. 예시한 알판(15)은, 실질적으로 직립 위치에서 복수의 알(20)을 유지하고, 알(20)의 소정 영역에 외부 접근을 제공하도록 구성된다.

전술한 바와 같이, 알을 예를 들어 배아 성별과 같이 부화 전의 식별 가능한 특성을 갖는 것으로서 식별하는 것이 바람직할 수도 있다. 일부 경우에, 부화 전의 성별 결정은, 검정 결과가 이용 가능해질 때까지 각 알을 샘플링한 후 수 분 내지 수 시간이 걸릴 수도 있는 생물학적 검정 공정을 통해 가능할 수도 있다. 따라서, 그 간격 동안, 알판에 포함된 샘플 알을 저장해야 하고 나중의 검정 결과가 샘플링된 각 알판에 연관되어야 한다. 이에 따라, 본원에 개시된 바와 같은 시스템(100)은, 일단 검정 결과가 이용 가능해지고 저장 장치로부터 알판이 제거되면 생물학적 검정 결과가 정확한 알판의 하류에서 정확하게 연관될 수도 있도록 이러한 알판 식별을 제공할 수 있다.

본 개시내용의 일 양태에 따르면, 시스템(100)은 제1 측정 디바이스(110) 및 제2 측정 디바이스(120)를 포함할 수도 있다. 하나 이상의 프로세서(150) 또는 제어기는, 제1 및 제2 측정 디바이스(110, 120)로부터의 측정값이 각 알판 식별을 위해 분석될 수도 있도록 제1 및 제2 측정 디바이스(110, 120)와 통신할 수도 있다. 도 4를 참조하면, 일부 경우에, 컨베이어(105)는 시스템(100)을 통해 알판들(15)을 이동시키도록 제공될 수도 있다. 알판들(15)은, 시스템(100)에 수동으로 또는 자동으로 적재된 다음 처리 방향(200)으로 이송될 수도 있다.

일부 경우에, 알판(15)은, 알을 처리하도록 구성되고 제2 측정 디바이스(120)의 상류에 위치설정된 제1 처리 스테이션(130)에 도달하기 전에 제1 측정 디바이스(110)를 통과할 수도 있다. 그러나, 다른 예들에서, 알판(15)은 제1 측정 디바이스(110)를 통과하기 전에 제1 처리 스테이션(130)에 도달할 수도 있다. 제1 처리 스테이션(130)은, 알을 처리하기 위한 임의의 디바이스, 장치, 또는 시스템, 예를 들어, 치료 물질(예를 들어, 백신)을 주입하기 위한 주입 디바이스, 샘플을 회수/추출하기 위한 샘플링 디바이스, 또는 알판으로부터 알을 제거하기 위한 제거 디바이스를 포함할 수도 있다. 샘플링 디바이스의 예에서, 알판(15)은, 먼저 광학 측정 수단을 구현하는 검란(egg candling) 디바이스를 사용하여 알이 불투명도 등의 측정을 받게끔 제1 측정 디바이스(110)를 통과할 수도 있다. 이어서, 알판(15)은, 분석을 위해 알의 샘플(껍질, 조직, 혈액, 유체 등)이 추출될 수도 있도록 샘플링 디바이스를 만날 수도 있다. 샘플이 소정의 원하는 특성(예를 들어, 성별)에 대해 분석되는 동안, 알판(15)은, 유지 또는 저장 스테이션(140)으로 이송되어, (예를 들어, 성별에 따라 분류된) 식별된 특성에 따라 알을 분류, 제거, 처리, 또는 치료(주입)할 수도 있는 제2 처리 스테이션(160)으로 하류 이동되기 전에 생물학적 검정 또는 진단 키트로부터의 결과를 기다릴 수도 있다. 제2 측정 디바이스(120)는, 주어진 알판(15)의 식별을 확인하여 생물학적 검정 결과를 정확한 알판(15)과 확실하고도 정확하게 일치시키도록, 제2 처리 스테이션에 의한 처리 전에 제2 처리 스테이션(160)의 상류에 위치설정될 수도 있다. 제2 측정 디바이스(120)에 의해 취해진 측정값은, 제1 측정 디바이스(110)에 의해 취해진 측정값과의 비교를 위해 프로세서(150)에 의해 수신될 수도 있다. 이 비교 공정은, 프로세서(150)에 전송되는 생물학적 검정 결과가 적절한 처리를 위해 제2 처리 스테이션(160)으로 또한 정확하게 전송될 수 있도록 알판(15)의 식별을 확인하는 데 사용될 수도 있다.

일부 양태에 따르면, 제1 및 제2 측정 디바이스(110, 120)는, 알판(15)에 반송되는 알의 불투명도(즉, 광원에 의해 조사될 때 알을 통과하는 광량에 관련된 측정값)를 측정하도록 구성된 검란 디바이스들일 수도 있다. 주어진 알의 측정을 위해 검출기에 의해 수신되는 광은, 전압 데이터로서 원시 형태로 검출될 수도 있으며, 이것은 이어서 소정의 측정 단위로 수정, 표준화, 보정, 또는 그 외에는 조작될 수도 있다. 가금류 알에 익숙한 사람들에게는 알려져 있듯이, 알 껍질은, 대부분의 조명 조건 하에서 불투명해 보이지만, 실제로는 다소 반투명하며, 촛불이나 전구와 같은 직접적인 광 앞에 배치되면 알의 내용물을 어느 정도 관찰할 수 있다. 이에 따라, 생란과 비생란을 구별하기 위한 목적으로 다양한 검란 구별 기술 사용할 수도 있다. 생란은, 수정된 알을 포함하며 살아 있는 배아를 포함한다. 비생란은, 무수정란(때로는 "무정"란이라고 함) 또는 배아가 죽은 알일 수 있다. 생란에 비해, 무수정란은, 배아가 존재하지 않으므로, 조명받는 경우 (특히 포란/배아 발달의 후기 단계에서 생란에 비해) 더욱 많은 광이 통과할 수 있게 한다.

일부 경우에, 검란 디바이스는, 그 전문이 본 명세서에 참고로 원용되는 Hebrank 등의 미국 특허 제5,900,929호에 개시된 바와 같이 불투명도 측정값이 결정될 수도 있도록 알이 통과하는 복수의 이미터-검출기 쌍을 구현할 수도 있다. 검란 디바이스는, 운반되는 알판(15) 위에 위치설정된 이미터 조립체 및 운반되는 알판 아래에 위치설정된 수신기 조립체를 포함할 수도 있다. 검란 디바이스는, 알을 스캔하고 알을 생란 또는 비생란(예를 들어, 무수정란)으로서 식별할 수도 있다. 이미터 조립체는 각 알을 통해 광을 방출하는 복수의 이미터를 포함할 수도 있고, 수신기 조립체의 각 수신기는 알을 통과한 광을 수광한다. 각 알을 통과하는 광을 측정하여 알이 생란인지 또는 비생란인지를 결정할 수도 있다. 이에 따라, 제1 및 제2 측정 디바이스(110, 120)에 의해 취해진 측정값에 기초하는 정보는 하류 처리 이벤트 이전에 알을 정확하게 식별하는 데 사용될 수도 있다.

본 개시내용에 따르면, 알판(15)의 식별은, 제1 및 제2 측정 디바이스(110, 120)에 의해 취해진 측정값에 기초하여 데이터 패턴을 식별하거나 맵핑함으로써 달성될 수도 있다. 예를 들어, 알판(15)의 식별은 알판 상의 알 불투명도의 패턴을 식별하거나 맵핑함으로써 달성될 수도 있다. 불투명도의 비접촉식 측정은, 기존의 하드웨어를 사용하여 측정을 행하는 동안 알에 표시를 하지 않으며 또는 알판에 어떠한 것도 부착하지 않기 때문에 유리하다. 추가 이점으로는, 부화장이나 알판에 이물질이 유입되지 않으며, 소모품 비용이 없고, 알 건강에 대한 위협이 없으며, 운반에 간섭하는 알판의 기하학적 구조 변화의 위험이 없으며, 선택적으로 제거되거나 백신 접종될 무수정란(무정란) 식별의 일부로서, 인입되는 알판에 대하여 식별 정보의 하나의 세트가 결정된다는 점이다. 일부 예에서, 시스템(100)은, 또한, 알판(15)의 배향이 정확한지를 확인할 수도 있다. 즉, 제1 및 제2 측정 디바이스(110, 120)에 의해 측정된 정보는 알판(15)이 정확하게 배향된 것을 확인하는 데 사용될 수도 있다.

일 양태에서, 알판은, 알판 상의 무수정란(무정란)의 위치에 의해 식별될 수도 있다. 예를 들어, 도 2에 도시된 바와 같이, 복수의 무수정란(25)(대각선으로 도시됨)은 제1 측정 디바이스(11O)(예를 들어, 검란 디바이스)에 의해 식별될 수도 있다. 무수정란 및 이들의 알판(15) 내의 위치에 관한 이러한 정보는 프로세서(150)에 의해 수신되고 저장될 수도 있다. 일부 경우에, 프로세서(150)는, ("X"가 무수정란의 위치를 나타내는 도 2에 예시한 알판(15)에 대응하는 것처럼) 예시를 위해 도 3에 도시된 바와 같이 데이터 패턴을 생성 및 저장할 수도 있으며, 이러한 데이터 패턴은 이후에 복수의 알판의 집합 중의 이러한 상세를 식별하도록 사용될 수 있다. 이와 관련하여, 제2 측정 디바이스(120)로부터의 측정값은 제1 측정 디바이스(110)에 의해 결정된 측정값과의 비교를 위해 사용될 수도 있다. 일부 경우에, 프로세서(150)에 의해 수행되는 바와 같이 패턴 비교를 이용하여 알판을 식별할 수도 있도록 제2 측정값이 또한 패터닝될 수도 있다. 위 예는 알판의 무수정란을 패터닝하는 것을 언급하고 있지만, 생란으로서 식별된 알들이 데이터 패턴을 형성하는 반대의 경우도 사용할 수도 있다. 또한, 패턴은, 제1 및 제2 측정 디바이스(11O, 120)에 의해 식별되는 바와 같은 알의 임의의 부분 집합, 예를 들어 무수정란, 죽은 알, 생란 등에 기초할 수도 있다.

도 2의 예는 알판 내의 모든 알의 측정을 예시하지만, 본 개시내용에서 알판 내의 알들의 부분 집합의 측정이 제2 측정 디바이스(120)에 의해 알판의 식별을 확인하는 데 필요한 모든 정보를 제공할 수도 있다는 점도 고려할 수 있다. 즉, 일부 경우에는, 하류에서 알판을 식별하는 데 필요한 패턴(또는 다른 식별 기술)을 형성하도록, 알판에 의해 반송되는 모든 알보다 적은 알이 제1 및 제2 측정 디바이스(110, 120)에 의해 측정될 수도 있다. 일부 경우에는, 제1 측정 디바이스(110)에 의한 알들의 단일 행의 측정이, 제2 측정 디바이스(120)에 의해 알판을 정확하게 식별하는 데 필요한 모든 것일 수도 있다.

비교적 오류가 없는 조작을 위해, 다수의 알판이 수용 스테이션(140)에 저장되거나 매우 높은 수정 능력이 존재하는 경우(즉, 극소량의 무수정란), 알 불투명도의 값은, 알판의 더욱 구체적으로 오류 없는 식별을 제공하는 데 사용될 수도 있다. 중복성(redundancy)은, 가끔 있는 불투명도 측정 오류 또는 느슨하게 교정된 식별자 채널에 대한 보정을 허용할 수도 있다.

도 5에 도시한 바와 같이, 생란의 불투명도는, 측정의 반복성이 양호하여 10배 이상으로 다양할 수도 있다. 유사하게, 무수정란(무정란)의 불투명도는 10배 이상의 양만큼 가변적일 수도 있으며, 이는 껍질 두께의 변화에 기인할 수도 있다. 도 5는, 포란 18일째의 생란 및 무수정란에 대한 불투명도 값의 범위를 도시하는, 생란 및 무수정란(무정란)에 대한 불투명도의 도면이다. 이 도면은 약 10배 또는 약 1.0log(불투명도)의 생란의 불투명도의 범위를 예시한다. 이 도면은, 또한, 무수정란에 대한 불투명도의 범위를 10배 또는 1.0log(불투명도)보다 약간 큰 것으로서 도시한다. 생란과 무수정란 간의 이러한 넓고 안정적인 변동은, 밝은 생란이나 무수정란 대 어두운 생란이나 무수정란의 위치에 의해 알판들을 식별하게 할 수도 있다. 60%의 빈(bin) 폭은, 식별에 사용될 수도 있으며, 통상적으로 불투명도 센서 채널들 간의 변동 및 알 변동보다 훨씬 클 수도 있다. 이 도면은, 각 알판 상의 불투명도 패턴을 정의하도록 60%의 빈 폭(log(1.6)이 0.2)이 생란에 대하여 4개 또는 5개의 빈을 제공하고 무수정란에 대하여 5개의 빈을 제공할 수도 있음을 도시한다. 이러한 불투명도 특성의 더욱 미세한 계조에 의해, 알판 식별 시스템이 높은 수정 능력을 지닌 다수의 알과 함께 잘 기능하게 할 수도 있으며, 따라서, 무수정란들이 적을 수도 있고 동일한 패턴의 무수정란의 개수가 적은 잠재적 알판이 하나보다 많을 수도 있다.

일례로, 알판 상의 모든 알에 대한 불투명도 값은 제1 측정 디바이스(110)에 의해 결정될 수도 있다. 알판 상의 모든 알의 불투명도 값은 데이터베이스에 저장될 수도 있다. 이어서, 알판은 몇 분 또는 몇 시간 동안 생물학적 검정 대상이 포란되는 동안 저장될 수도 있다. 검정 또는 진단 결과가 나오는 경우, 제2 측정 디바이스(120)에 의해 알판 상의 모든 알에 대해 측정된 저장 영역 및 불투명도 값으로부터 알판들을 하나씩 제거할 수도 있다. 이어서, 패턴 일치 알고리즘은, 저장 장치 내의 어느 알판의 패턴이 제거된 알판과 가장 매칭되는지를 결정할 수도 있고, 이에 따라 검정 결과가 각 알에 연관된다.

일 양태에 따르면, 패턴 연관 알고리즘은 알판 상의 각 알의 불투명도가 소정의 빈에 위치하는 것을 제공할 수도 있다. 빈은, 예를 들어, 알에 대한 반복적 불투명도 측정값의 분산의 배수와 같은 폭을 가질 수도 있다. 예를 들어, 불투명도 측정값의 반복성이 15%의 표준 편차를 갖는 경우, 각 빈은 50% 폭을 가져서 1, 1.5, 2.25, 3.5... 의 빈 에지(bin edge)를 제공할 수도 있다. 따라서, 각 알의 불투명도는 예를 들어 50개의 빈 번호 중 하나로 변환될 수도 있다. 작은 분산으로 인해 일부 샘플이 첫 번째 측정에서 하나의 빈에서 두 번째 측정에서 인접 빈에서 발생할 수도 있다. 빈 폭은, 측정 사이에 하나보다 많은 빈이 있는 경우가 드물도록 설정될 수도 있다. 따라서, 84개의 알을 갖는 알판은 1 내지 50에 해당하는 84개의 숫자로 표현될 수도 있다. 일부 경우에, 포켓(32) 또는 알이 없는 알판 위치가, 또한, 빈(비어 있는 빈, 예를 들어, 최고 무정란(clearest egg)의 빈을 지난 하나의 빈)에 있을 수도 있다. 샘플링된 알판들의 그룹(즉, 알로부터 샘플 추출)에 있어서, 라이브러리의 각 알판에 대하여 84개 숫자의 라이브러리가 있을 수도 있다. 그 숫자들의 순서는 알판에 있는 알의 위치와 같을 수도 있다.

알판이 해당 검정 결과와 연결되는 경우, 불투명도는 알판 상의 각 알에 대해 제2 측정 디바이스(120)에 의해 다시 측정될 수도 있으며, 이 데이터는 1 내지 50인 84개의 숫자의 빈 표현으로 변환된다. 이어서, 84개의 숫자로 된 이 패턴을 아카이브의 각 알판과 비교할 수도 있고 아카이브의 각 알판에 대하여 이 알판의 각 열에 대한 오류 번호를 생성할 수도 있다. 일부 경우에는, 최악의 열을 폐기할 수도 있고, 이어서, 동일한 위치에 있는 라이브러리 알과 각 알 빈 간의 차만큼 라이브러리의 각 알판에 대하여 이러한 알판에 대한 나머지 열들의 오류 점수를 생성할 수도 있다. 불투명도가 인접하는 빈에 있으면, 오류가 없다고 평가된다. 최악의 열은, 하나의 식별자 행의 잘못된 조정 또는 가끔 있는 알의 잘못된 판독을 피하도록 폐기될 수도 있다. 일부 경우에는, 작은 오류를 저평가하도록 그 차를 1보다 작게 제곱하는 것이 바람직할 수도 있다. 유사하게, 가끔 있는 잘못 식별된 알을 고려하도록 평가된 최대 오류가 있을 수도 있다. 또한, 열 데이터는 각 행에 대한 통계의 조합에 기초하여 정규화될 수도 있다.

본 개시내용의 추가 양태에 따르면, 각 알과 그 알의 대조물 간의 비교는, 이들의 불투명도의 비율을 계산함으로써 행해질 수도 있다. 예를 들어, 불투명도 값이 로그로 표현되는 경우, 그 비율은 두 값의 산술적 차이다. 이어서, 비율이 최소값보다 큰지(또는 로그들의 차의 절대값이 고정값보다 큰지)에 따라 두 알 간의 오류값을 이진값으로 변환할 수도 있다. 오류값은, 또한, 작은 오류에 대해 0이고 이어서 미리 정해진 임계값을 초과하여 증가하는 숫자 값으로서 표현될 수도 있다.

하나의 행을 제외한 모든 행에 오류가 없는 경우 (행의 모든 알에 대한 오류 값의 합이 0인 경우) 단일 알판을 일치로서 식별할 수도 있다. 오류 값이 모든 비교에 대해 알려질 때까지 한 알판의 제1 행을 다른 각 알판의 제1 행과 비교할 수도 있다. 이어서, 모든 제2 행의 오류 값이 모든 알판에 대하여 계산될 수도 있다. 이어서, 모든 제3 행의 오류 값을 제1 행 또는 제2 행에 대하여 오류 값이 제로였던 모든 알판에 대하여 비교한다.

12개 알이 7개 행으로 있는 84개의 포켓을 갖는 알판으로 30,000개의 알(집합 내의 357개의 알판)의 경우, 한 행 대 다른 모든 제1 행의 비교는 12 x 357 x 2번 합산일 것이다(대략 8,500개의 수학 연산). 알판들에 대한 모든 7개의 행을 계산하려면, (몇 분의 1초 단위로 처리되는) 약 60,000개의 수학 연산이 필요하다. 일부 경우에, 오류 값은 검사된 제1 알판에 대하여 0일 수도 있어서, 시간이 소모되지 않는다. 오류가 0임을 나타내는 일치가 없는 경우, 알들의 행들이 누락되었다고 가정하여 오류가 적은 알판들을 다시 검사할 수도 있다. 통계 테스트는, 가장 효율적인 오류 제거를 결정하도록 실제 알 정보와 불투명도 노이즈에 대한 지식을 이용하여 행해질 수도 있다. 이것은 불투명도 오류로부터의 노이즈와 중복 일치를 찾는 것 사이의 절충이다.

본 개시내용의 추가 양태에 따르면, 불투명도가 로그로서 저장될 때 측정 알고리즘이 달성될 수도 있다. 이어서, 비율은 하나의 불투명도에 대한 다른 하나의 불투명도의 감산에 의해 결정될 수도 있다. 양호함의 척도는, 1의 값이 주어진 사전 설정 값보다 작은 차 및 0의 값이 주어진 사전 설정된 값보다 큰 차를 갖는 이진수일 수 있다. 전술한 바와 같이, 이것은, 또한, 최악의 합의로 고정된 개수의 알을 제거하고 나머지 알들을 합산하여 불투명도 측정 시스템에 의해 알이 잘못 측정되는 상황을 피함으로써 달성될 수도 있다. 유사하게, 중복성은 열들을 독립적으로 비교하여 일치를 확인함으로써 달성될 수도 있다.

본 개시내용의 다른 일 양태에 따르면, 2개의 알판 간의 대응 메트릭을 개발하는 알고리즘은 각 알 불투명도의 로그를 사용할 수도 있다. 비율은 불투명도 값을 감산함으로써 결정될 수도 있다. 두 알판에 대한 대응 메트릭은, 한 개의 알판 상의 알들과 제2 알판 상의 동일한 위치에 있는 알들의 불투명도 차의 RMS(평균 제곱근) 값으로서 계산될 수도 있다. RMS 기능은, 작은 차를 저평가하면서 양의 차 및 음의 차를 동일하게 취급할 수도 있다. 알판 상의 한 개 또는 두 개의 알의 불투명도 오판독으로 인한 불량한 알판 대응을 피하도록, 최고 차가 있는 알판 상의 두 개의 알을 RMS 계산으로부터 생략할 수도 있다. 계산에 있어서, 하나의 식별자 채널(이미터-검출기 쌍)이 결함 있는 상황을 위해 양호한 대응 데이터를 제공할 필요가 있다면, RMS 계산으로부터 최고 차를 갖는 M개의 알을 생략할 수도 있다(여기서, 임의의 하나의 불투명도 채널에 의해 판독되는 알판당 M은 ?품오? 개수이다). 많은 검색에 대한 계산 시간을 줄이기 위해, 각 알판 상의 알들의 제1 행에 대한 RMS 값을, 알들의 제1 행들의 양호한 대응을 갖는 알판들의 각 알판 상의 모든 알에 대한 계산이 후속하는 초기 선별(screen)로서 테스트되고 있는 알판과 비교할 수도 있다.

구체적인 일 양태에 따르면, 각 알판이 N개의 알을 갖는 한 쌍의 알판에 대한 대응 메트릭을 생성하는 방법을 이제 설명한다. 한 개의 알판 상의 각 알과 제2 알판 상의 동일한 위치에 있는 알 간의 차는, 제1 알판 상의 제1 알의 불투명도의 로그를 제2 알판 상의 제2 알의 불투명도의 로그로부터 감산함으로써 생성될 수도 있으며, 이는 N개의 차를 생성한다. 이어서, 방금 생성된 N개의 차 중 최고 M개의 차를 제거할 수도 있다. 일부 경우에, M은, 1, 2, 또는 한 개의 식별자 채널을 통과하는 알들의 개수와 동일한 개수로 설정될 수도 있다. 알판들의 쌍들에 대한 대응 메트릭은, 앞에서 계산된 N-M 불투명도 차들의 제곱들의 합의 제곱근을 취함으로써 생성될 수도 있다. 복수의 알판 중 어느 것이 구체적인 알판과 일치하는지를 식별하는 경우, 복수의 알판의 각각 및 그 구체적인 알판에 대한 최저 대응 메트릭을 선택할 수도 있다.

본 명세서에 기재된 본 개시내용의 많은 변형예 및 다른 양태는, 상기한 설명 및 연관된 도면에 제시된 교시의 이점을 갖는 본 개시내용과 관련된 통상의 기술자에게 명백할 것이다. 따라서, 본 개시내용은 개시된 특정 양태들에 한정되어서는 안 되며 수정예 및 다른 양태들을 첨부된 청구범위 내에 포함시키고자 한다는 점을 이해해야 한다. 본 명세서에서는 특정 용어들이 사용되고 있지만, 이들은 제한적인 목적이 아니라 일반적이고 기술적인 의미로만 사용된 것이다.

Claims (17)

1. 알판(egg flat) 식별 시스템으로서,
   알판들의 집합 내의 알판에 의해 반송되는 복수의 알의 제1 측정값을 결정하도록 구성된 제1 측정 디바이스;
   상기 제1 측정 디바이스와 통신하며, 상기 제1 측정 디바이스로부터 상기 제1 측정값을 수신하고, 상기 알판들의 집합 내의 각 알판에 연관되며 상기 제1 측정값에 따른 데이터 패턴을 생성 및 저장하도록 구성된 프로세서; 및
   상기 알판들의 집합 내의 상기 알들의 제2 측정값을 결정하도록 구성되고, 상기 제1 측정 디바이스로부터 하류에 위치설정되고, 상기 프로세서가 상기 제1 측정값으로부터 생성되는 데이터 패턴과 비교하기 위해 각 알판의 상기 제2 측정값으로부터 비교 데이터 패턴을 생성하기 위해 상기 제2 측정값을 수신할 수 있도록 상기 프로세서와 통신하는 제2 측정 디바이스를 포함하되,
   상기 프로세서는, 상기 데이터 패턴을 상기 비교 데이터 패턴과 비교하여 상기 알판들의 집합 내의 각 알판을 식별하도록 구성된, 알판 식별 시스템.
2. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 측정값은 상기 알들의 불투명도 측정값을 포함하는, 알판 식별 시스템.
3. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 측정 디바이스는 검란(egg candling) 디바이스를 포함하는, 알판 식별 시스템.
4. 삭제
5. 삭제
6. 제1항에 있어서, 상기 알들을 처리하도록 구성되고 상기 제2 측정 디바이스의 상류에 위치설정된 제1 처리 스테이션을 더 포함하는, 알판 식별 시스템.
7. 제6항에 있어서, 상기 알들을 처리하도록 구성되고 상기 제2 측정 디바이스의 하류에 위치설정된 제2 처리 스테이션을 더 포함하는, 알판 식별 시스템.
8. 제7항에 있어서, 상기 제1 측정 디바이스와 상기 제2 측정 디바이스 사이에 상기 알판들을 유지하도록 구성된 유지 스테이션을 더 포함하는, 알판 식별 시스템.
9. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 측정값은 원시 형태와 수정된 형태 중 적어도 하나로 비교되는, 알판 식별 시스템.
10. 알판들의 집합 내의 알판을 식별하는 방법으로서,
    알들을 각각 포함하고 있는 복수의 알판을 제1 측정 디바이스를 통해 운반하는 단계;
    상기 제1 측정 디바이스에 의해, 각 알판에 의해 반송되는 복수의 알에 대한 제1 측정값을 결정하는 단계;
    프로세서를 사용하여 각 알판의 상기 제1 측정값을 저장하는 단계;
    상기 프로세서에 의해 상기 제1 측정값을 처리하여 상기 알판들의 집합 내의 각 알판에 연관된 데이터 패턴을 생성 및 저장하는 단계;
    상기 제1 측정 디바이스에 의해 측정된 알들의 제2 측정값을 결정하도록 구성된 제2 측정 디바이스를 통해 상기 알판들을 운반하는 단계;
    상기 프로세서에 의해 상기 제2 측정값을 처리하여 각 알판에 연관된 비교 데이터 패턴을 생성하는 단계; 및
    상기 데이터 패턴을 상기 비교 데이터 패턴과 비교하여 각 알판을 식별하는 단계를 포함하는, 방법.
11. 제10항에 있어서, 상기 제1 및 제2 측정값을 결정하는 단계는 제1 검란 디바이스와 제2 검란 디바이스를 사용하여 상기 알들의 제1 불투명도 측정값과 제2 불투명도 측정값을 각각 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
12. 삭제
13. 제10항에 있어서, 상기 알판들을 상기 제2 측정 디바이스를 통해 운반하기 전에 상기 알들을 처리하여 각 알의 특성을 결정하는 단계; 및
    결정된 상기 특성에 따라 상기 제2 측정 디바이스의 하류에서 상기 알들을 처리하는 단계를 더 포함하는, 방법.
14. 제13항에 있어서, 상기 알판들을 상기 제2 측정 디바이스를 통해 운반하기 전에 상기 알들을 처리하는 단계는, 상기 알들로부터 샘플을 추출하고 상기 샘플을 검정하여 각 알의 특성을 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
15. 제13항에 있어서, 상기 제2 측정 디바이스의 하류에서 상기 알들을 처리하는 단계는, 상기 각 알의 특성에 따라 상기 알판으로부터 알들을 제거하는 단계, 상기 각 알의 특성에 따라 상기 알들을 정렬하는 단계, 및 상기 각 알의 특성에 따라 상기 알들을 치료하는 단계 중 적어도 하나를 포함하는, 방법.
16. 제13항에 있어서, 상기 알판들을, 상기 제1 측정 디바이스를 통과한 후 상기 제2 측정 디바이스를 통과하기 전에 유지 영역으로 운반하는 단계를 더 포함하고, 상기 알판들과 각 알들은, 알판의 각 알의 특성이 결정될 때까지 상기 유지 영역에서 유지되는, 방법.
17. 제13항에 있어서, 상기 특성은 배아 성별인, 방법.

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