KR102525844B1 - Contactor assembly and method for manufacturing the same - Google Patents

Contactor assembly and method for manufacturing the same Download PDF

Info

Publication number
KR102525844B1
KR102525844B1 KR1020210040651A KR20210040651A KR102525844B1 KR 102525844 B1 KR102525844 B1 KR 102525844B1 KR 1020210040651 A KR1020210040651 A KR 1020210040651A KR 20210040651 A KR20210040651 A KR 20210040651A KR 102525844 B1 KR102525844 B1 KR 102525844B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
contactor
film
hole
elastic part
elastic
Prior art date
Application number
KR1020210040651A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20220135082A (en
Inventor
구황섭
박종군
윤기상
김경호
Original Assignee
(주)위드멤스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)위드멤스 filed Critical (주)위드멤스
Priority to KR1020210040651A priority Critical patent/KR102525844B1/en
Publication of KR20220135082A publication Critical patent/KR20220135082A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102525844B1 publication Critical patent/KR102525844B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441Details
    • G01R1/0466Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures

Abstract

피검사체의 패드와 검사 장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 컨택터 어셈블리에 있어서, 복수의 필름 홀을 구비하는 절연성의 필름; 전도성 입자를 함유하고 탄성 변형 가능하도록 형성되고, 상기 관통홀 각각에 삽입되어 상기 필름의 두께 방향으로 돌출되도록 배치되는 컨택터; 및 상기 필름 상에 배치되고, 상기 컨택터를 수용 및 지지하도록 형성되는 블록 홀을 구비하는 가이드 블록을 포함한다.A contactor assembly electrically connecting a pad of a test subject and a pad of a test device to each other, comprising: an insulating film having a plurality of film holes; contactors containing conductive particles, formed to be elastically deformable, and inserted into each of the through holes to protrude in the thickness direction of the film; and a guide block disposed on the film and having a block hole formed to accommodate and support the contactor.

Description

컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법{CONTACTOR ASSEMBLY AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME}Contactor assembly and manufacturing method thereof {CONTACTOR ASSEMBLY AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME}

본 발명은 피검사체의 패드와 검사 장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a contactor assembly for electrically connecting a pad of a test subject and a pad of a test device to each other and a manufacturing method thereof.

반도체 소자에 대한 성능 검사 시에는 다수의 프로브 핀이 장착된 프로브 조립체가 사용된다. 프로브 조립체에 장착되어 있는 다수의 프로브 핀은 피검사체의 패드에 접촉하면서 전기를 보내고, 돌아오는 신호에 따라 피검사체의 불량 패드를 선별한다.A probe assembly equipped with a plurality of probe pins is used to test the performance of a semiconductor device. A plurality of probe pins mounted on the probe assembly send electricity while contacting the pads of the subject to be inspected, and select defective pads of the subject to be inspected according to the signals returned.

다수의 프로브 핀으로 포고 핀(Pogo pin) 등을 사용하고 있으며, 탄성력에 의해 피검사체 패드의 단자와의 접촉을 보장하면서 전기적으로 검사 신호를 전달할 수 있다. 그러나, 종래에는, 개별적으로 포고 핀 등의 프로브 핀을 제작하고, 제작된 프로브 핀을 베이스 부재 등에 조립하여 하나의 조립체를 제조하는 복잡한 과정을 필요로 한다. Pogo pins and the like are used as a plurality of probe pins, and test signals can be electrically transmitted while ensuring contact with terminals of the pads under test by elastic force. However, conventionally, a complicated process of individually manufacturing probe pins such as pogo pins and assembling the manufactured probe pins to a base member or the like to manufacture a single assembly is required.

이러한 조립체 구성과 다르게, 선행기술인 한국등록특허공보 제756120호는 하나의 탄성체로 이루어진 프로브 부재를 개시하였고, 전술한 조립 과정이 생략될 수 있다. 선행기술에 개시된 프로브 부재는 도전성 입자가 함유된 복수의 접속용 도전부가 일 방향으로 정렬된 하나의 탄성체로 구성된다. Unlike this assembly structure, Korean Patent Registration No. 756120, which is a prior art, discloses a probe member made of one elastic body, and the above-described assembly process can be omitted. The probe member disclosed in the prior art is composed of one elastic body in which a plurality of conductive parts for connection containing conductive particles are aligned in one direction.

그러나, 이러한 탄성체 구조의 경우, 이웃하는 프로브 핀 간에 힘과 변위가 전달될 수 있고, 전기 신호의 간섭이 일어날 가능성도 있다. 예를 들어, 피검사체와 접촉하여 검사를 진행하는 과정에서 이웃하는 프로브 핀 간에 전기 또는 열이 통하는 등 서로 간의 간섭으로 검사의 정확성이 저하될 수 있다. However, in the case of such an elastic body structure, force and displacement may be transferred between neighboring probe pins, and there is a possibility that electrical signal interference may occur. For example, in the process of contacting an object to be inspected and proceeding with an inspection, accuracy of inspection may be deteriorated due to mutual interference such as electricity or heat passing between neighboring probe pins.

따라서, 종래 기술에 따른 프로브 부재는 정확한 접촉을 보장하는데 문제점, 핀마다 개별적인 오버 드라이브를 정확하게 구현하기 어려운 문제점 등이 존재한다. 예를 들어, 플렉서블한 컨택터는 피검사체 패드와의 접촉 시, 압착에 의해 각각의 컨택터가 휘어질 우려가 있다. 나아가, 하나의 탄성체 구조로는 핀에 해당하는 부위만을 길게, 핀과 핀 사이의 간격(피치)을 좁게 형성하기 어려운 문제점 등이 있다.Therefore, the probe member according to the prior art has problems in ensuring accurate contact and difficulty in accurately implementing individual overdrive for each pin. For example, when a flexible contactor comes into contact with a pad of an object to be inspected, each contactor may be bent due to compression. Furthermore, with one elastic body structure, there is a problem in that it is difficult to form a long portion corresponding to the pin and a narrow gap (pitch) between the pins.

한국등록특허공보 제756120호 (2007. 8. 30. 등록)Korean Registered Patent Publication No. 756120 (2007. 8. 30. Registration)

본 발명은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 컨택터 간의 피치를 미세화하면서도 컨택터 상호간 절연 및 개별적인 동작이 보장될 수 있는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공하고자 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is intended to solve the above-mentioned problems of the related art, and to provide a contactor assembly and a method of manufacturing the same, which can guarantee mutual insulation and individual operation while miniaturizing the pitch between contactors.

또한, 컨택터 간의 피치를 미세화하면서도 컨택터 상호간 열 팽창이나 위치 변화에 의한 간섭이 억제될 수 있는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공하고자 한다.In addition, an object of the present invention is to provide a contactor assembly capable of miniaturizing a pitch between contactors and suppressing interference due to thermal expansion or position change between contactors and a manufacturing method thereof.

또한, 컨택터의 탄성 변형을 가이드 및 지지하고, 피검사체의 패드나 단자 등이 정확하고 안정적으로 접속될 수 있는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공하고자 한다. In addition, it is intended to provide a contactor assembly that guides and supports the elastic deformation of the contactor and can accurately and stably connect a pad or terminal of a subject to be inspected, and a manufacturing method thereof.

또한, 컨택터의 지지 및 조립을 위한 구성요소를 최소화하여, 경제성 및 경량화를 달성할 수 있는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공하고자 한다. In addition, it is intended to provide a contactor assembly capable of achieving economic efficiency and light weight by minimizing components for supporting and assembling the contactor and a manufacturing method thereof.

또한, 컨택터의 길이를 길게 형성하면서 컨택터 간의 피치를 미세화할 수 있도록 구성되는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공하고자 한다. In addition, it is intended to provide a contactor assembly and a method of manufacturing the same configured to make the pitch between the contactors fine while forming the length of the contactor long.

다만, 본 실시예가 이루고자 하는 기술적 과제는 상기된 바와 같은 기술적 과제들로 한정되지 않으며, 또 다른 기술적 과제들이 존재할 수 있다.However, the technical problem to be achieved by the present embodiment is not limited to the technical problems described above, and other technical problems may exist.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 수단으로서, 본 발명의 일 실시예는, 피검사체의 패드와 검사 장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 컨택터 어셈블리에 있어서, 복수의 필름 홀을 구비하는 절연성의 필름; 전도성 입자를 함유하고 탄성 변형 가능하도록 형성되고, 상기 관통홀 각각에 삽입되어 상기 필름의 두께 방향으로 돌출되도록 배치되는 컨택터; 및 상기 필름 상에 배치되고, 상기 컨택터를 수용 및 지지하도록 형성되는 블록 홀을 구비하는 가이드 블록을 포함하는, 컨택터 어셈블리를 제공 할 수 있다. As a means for achieving the above-described technical problem, an embodiment of the present invention is an insulating film having a plurality of film holes in a contactor assembly for electrically connecting a pad of a test subject and a pad of an inspection device to each other. ; contactors containing conductive particles, formed to be elastically deformable, and inserted into each of the through holes to protrude in the thickness direction of the film; and a guide block disposed on the film and having a block hole formed to receive and support the contactor.

본 발명의 다른 실시예는, 피검사체의 패드와 검사 장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 컨택터 어셈블리를 제조하는 방법에 있어서, 필름 홀이 형성되어 있는 필름과 상기 필름 홀에 대응하는 수용부를 구비하는 몰드를 서로 정렬시키는 단계; 상기 수용부에 전도성 입자가 함유된 액상의 컨택터를 채우는 단계; 상기 수용부에 대응하는 위치에 자성체 패드가 형성된 자력 집중 부재를 상기 몰드에 정렬시키고 상기 컨택터를 경화시키는 단계; 상기 몰드로부터 일체로 형성된 상기 필름 및 상기 컨택터를 분리하는 단계; 및 상기 컨택터를 수용하는 블록 홀을 구비하는 가이드 블록을 상기 일체로 형성된 상기 필름 및 상기 컨택터에 조립하는 단계를 포함하는, 컨택터 어셈블리를 제조하는 방법을 제공할 수 있다. Another embodiment of the present invention is a method for manufacturing a contactor assembly for electrically connecting a pad of a test object and a pad of a test device, comprising a film in which a film hole is formed and a receiving portion corresponding to the film hole. aligning the molds to each other; filling the accommodating part with a liquid contactor containing conductive particles; aligning a magnetic force concentrating member having a magnetic pad formed at a position corresponding to the accommodating part to the mold and hardening the contactor; separating the integrally formed film and the contactor from the mold; and assembling a guide block having a block hole accommodating the contactor to the integrally formed film and the contactor.

상술한 과제 해결 수단은 단지 예시적인 것으로서, 본 발명을 제한하려는 의도로 해석되지 않아야 한다. 상술한 예시적인 실시예 외에도, 도면 및 발명의 상세한 설명에 기재된 추가적인 실시예가 존재할 수 있다.The above-described means for solving the problems is only illustrative and should not be construed as limiting the present invention. In addition to the exemplary embodiments described above, there may be additional embodiments described in the drawings and detailed description.

전술한 본 발명의 과제 해결 수단 중 어느 하나에 의하면, 컨택터 간의 피치를 미세화하면서도 컨택터 상호간 절연 및 개별적인 동작이 보장될 수 있는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공할 수 있다.According to any one of the above-described problem solving means of the present invention, it is possible to provide a contactor assembly and a method of manufacturing the contactor assembly capable of ensuring insulation and individual operation between contactors while minimizing the pitch between contactors.

또한, 본 발명의 과제 해결 수단 중 어느 하나에 의하면, 컨택터 간의 피치를 미세화하면서도 컨택터 상호간 열 팽창이나 위치 변화에 의한 간섭이 억제될 수 있는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공할 수 있다.In addition, according to any one of the problem solving means of the present invention, it is possible to provide a contactor assembly and a method of manufacturing the contactor assembly capable of suppressing interference due to thermal expansion or position change between contactors while miniaturizing the pitch between contactors.

또한, 본 발명의 과제 해결 수단 중 어느 하나에 의하면, 컨택터의 탄성 변형을 가이드 및 지지하고, 피검사체의 패드나 단자 등이 정확하고 안정적으로 접속될 수 있는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공할 수 있다. In addition, according to any one of the problem solving means of the present invention, a contactor assembly capable of guiding and supporting the elastic deformation of a contactor and accurately and stably connecting a pad or terminal of an object to be inspected and a method of manufacturing the same are provided. can do.

또한, 본 발명의 과제 해결 수단 중 어느 하나에 의하면, 컨택터의 지지 및 조립을 위한 구성요소를 최소화하여, 경제성 및 경량화를 달성할 수 있는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공할 수 있다. In addition, according to any one of the problem solving means of the present invention, it is possible to provide a contactor assembly capable of achieving economic efficiency and light weight by minimizing components for supporting and assembling the contactor and a manufacturing method thereof.

또한, 본 발명의 과제 해결 수단 중 어느 하나에 의하면, 컨택터의 길이를 길게 형성하면서 컨택터 간의 피치를 미세화할 수 있도록 구성되는 컨택터 어셈블리 및 그 제조 방법을 제공할 수 있다.In addition, according to any one of the problem solving means of the present invention, it is possible to provide a contactor assembly and a manufacturing method configured to make the pitch between the contactors fine while forming the length of the contactor long.

도 1은 본 발명에 따른 컨택터 어셈블리를 도시한 도면이다.
도 2는 도 1에 도시한 가이드 블록의 블록 홀을 자세히 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 컨택터 어셈블리의 제조 방법을 도시한 도면이다.
도 4 내지 도 9는 도 3에 도시한 컨택터 제조 방법의 각 단계를 도시한 도면이다.
1 is a diagram showing a contactor assembly according to the present invention.
2 is a view showing in detail the block hole of the guide block shown in FIG. 1;
3 is a view showing a manufacturing method of a contactor assembly according to the present invention.
4 to 9 are views showing each step of the method of manufacturing the contactor shown in FIG. 3 .

아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail so that those skilled in the art can easily practice the present invention with reference to the accompanying drawings. However, the present invention may be embodied in many different forms and is not limited to the embodiments described herein. And in order to clearly explain the present invention in the drawings, parts irrelevant to the description are omitted, and similar reference numerals are attached to similar parts throughout the specification.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미하며, 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. Throughout the specification, when a part is said to be "connected" to another part, this includes not only the case where it is "directly connected" but also the case where it is "electrically connected" with another element interposed therebetween. . In addition, when a part "includes" a certain component, this means that it may further include other components, not excluding other components, unless otherwise stated, and one or more other characteristics. However, it should be understood that it does not preclude the possibility of existence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

이하 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 일 실시예를 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 컨택터 어셈블리를 도시한 도면이고, 도 2는 도 1에 도시한 가이드 블록의 블록 홀을 자세히 도시한 도면이다. 도 1을 참조하면, 컨택터 어셈블리(100)는 절연성의 필름(110), 컨택터(120) 및 가이드 블록(130)을 포함할 수 있다. FIG. 1 is a view showing a contactor assembly according to the present invention, and FIG. 2 is a view showing a block hole of the guide block shown in FIG. 1 in detail. Referring to FIG. 1 , the contactor assembly 100 may include an insulating film 110 , a contactor 120 and a guide block 130 .

본 발명의 일 실시예에 따른 필름(110) 및 컨택터(120)는 상 변화에 의하여 경화되어 서로 일체로 형성될 수 있고, 일체화된 구조체에 가이드 블록(130)을 조립하여 필름(110), 컨택터(120) 및 가이드 블록(130)을 일체화시킨 컨택터 어셈블리(100)를 형성할 수 있다. 예를 들어, 액상의 컨택터(120)는 절연성의 필름(110)을 개재한 채 고체 상으로 상 변화가 일어날 수 있고, 점성(viscosity)이 증가되면서 경화될 수 있다. 상 변화에 의하여 필름(110)과 접합된 컨택터(120)는 가이드 블록(130)과 조립되어 일체화된 구조체, 즉, 컨택터 어셈블리(100)를 형성할 수 있다. 이하, 각 구성에 대해 살펴보도록 한다. The film 110 and the contactor 120 according to an embodiment of the present invention may be cured by a phase change and integrally formed with each other, and the guide block 130 is assembled to the integrated structure to form the film 110, The contactor assembly 100 in which the contactor 120 and the guide block 130 are integrated can be formed. For example, the liquid contactor 120 may undergo a phase change into a solid phase with the insulating film 110 interposed therebetween, and may be cured with increased viscosity. The contactor 120 bonded to the film 110 by the phase change may be assembled with the guide block 130 to form an integrated structure, that is, the contactor assembly 100 . Hereinafter, each configuration will be reviewed.

본 발명의 일 실시예에 따른 필름(110)은 복수의 필름 홀(111)을 구비하는 절연성의 필름(110)이다. 예를 들어, 필름(110)은 복수의 필름 홀(111)에 복수의 컨택터(120)를 각각 수용하여 컨택터(120)와 일체화된 구조체를 형성할 수 있다. The film 110 according to an embodiment of the present invention is an insulating film 110 having a plurality of film holes 111 . For example, the film 110 may form a structure integrated with the contactors 120 by accommodating the plurality of contactors 120 in the plurality of film holes 111 , respectively.

필름(110)은 컨택터(120)에 비하여 열팽창 계수가 작은 재질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 필름(110)은 폴리이미드(polyimide) 재질로 이루어질 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 컨택터 어셈블리(100)는 열팽창 계수가 작은 폴리이미드 재질의 필름(110)에 복수의 컨택터(120)가 나열될 수 있다. 폴리이미드 재질의 필름(110)은 열에 대한 수축 또는 팽창에 따른 위치 변형이 적어 정렬이 틀어지는 것(Mis-Align)을 방지할 수 있다.The film 110 may be formed of a material having a smaller thermal expansion coefficient than that of the contactor 120 . For example, the film 110 may be made of a polyimide material. In the contactor assembly 100 according to an embodiment of the present invention, a plurality of contactors 120 may be arranged on a film 110 made of polyimide having a small thermal expansion coefficient. The film 110 made of polyimide has little positional deformation due to heat shrinkage or expansion, and misalignment can be prevented.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 컨택터(120)는 전도성 입자(121)를 함유하고, 탄성 변형 가능하도록 형성되고, 필름 홀(111) 각각에 삽입되어 필름(110)의 두께 방향으로 돌출되도록 배치될 수 있다. 1 and 2, the contactor 120 according to an embodiment of the present invention contains conductive particles 121, is formed to be elastically deformable, and is inserted into each of the film holes 111 to form a film ( 110) may be disposed to protrude in the thickness direction.

컨택터(120)는 전도성 입자를 함유하는 실리콘(silicone)을 포함하는 재질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 컨택터(120)는 다양한 종류의 고분자 물질을 포함할 수 있다. 컨택터(120)는 실리콘, 폴리부타디엔, 폴리이소프렌, SBR, NBR 등 및 그들의 수소화합물과 같은 디엔형 고무로 형성될 수 있고, 또한, 스티렌부타디엔 블럭코폴리머, 스티렌이소프렌 블럭코폴리머 등 및 그들의 수소 화합물과 같은 블럭코폴리머로 이루어질 수도 있다. 또한, 컨택터(120)는 클로로프렌, 우레탄 고무, 폴리에틸렌형 고무, 에피클로로히드린 고무, 에틸렌-프로필렌 코폴리머, 에틸렌프로필렌디엔 코폴리머 등의 재질로 이루어질 수 있다.The contactor 120 may be made of a material including silicon containing conductive particles. For example, the contactor 120 may include various types of polymer materials. The contactor 120 may be formed of diene rubber such as silicon, polybutadiene, polyisoprene, SBR, NBR, etc., and their hydrogen compounds, and also, styrene-butadiene block copolymer, styrene isoprene block copolymer, etc., and their hydrogen compounds. It may also be made of a block copolymer such as a compound. In addition, the contactor 120 may be made of a material such as chloroprene, urethane rubber, polyethylene rubber, epichlorohydrin rubber, ethylene-propylene copolymer, or ethylene-propylenediene copolymer.

컨택터(120)는 제1 탄성부(122) 및 제2 탄성부(123)를 포함할 수 있다. 제1 탄성부(122)는 필름 홀(111)을 관통하도록 배치될 수 있고, 제2 탄성부(123)는 제1 탄성부(122)에 두께 방향으로 연결될 수 있다. The contactor 120 may include a first elastic part 122 and a second elastic part 123 . The first elastic part 122 may be disposed to pass through the film hole 111 , and the second elastic part 123 may be connected to the first elastic part 122 in a thickness direction.

컨택터(120)는 제1 탄성부(122)와 제2 탄성부(123)의 두께 방향에서 바라본 단면 형상이 상이한 것을 특징으로 할 수 있다. 예를 들어, 제2 탄성부(123)의 두께 방향에서 바라본 단면 형상은 제1 탄성부(122)의 두께 방향에서 바라본 단면 형상보다 작게 설계할 수 있다. 양 단부에 배치된 제2 탄성부(123)는 피검사체(10, 또는 검사 장치의 패드)에 접촉되므로, 상대적으로 직경을 작게, 즉, 단면 형상을 작게 형성하여 미세 피치의 패드(11) 또는 단자 등에 대응시킬 수 있고, 상대물과의 조립 시 접촉 면적을 넓히고 형상을 다양하게 할 수 있다. 또한, 양 단부에 배치된 제2 탄성부(123)는 중심부에 배치된 제1 탄성부(122)에 비해 직경을 작게 설계함으로써, 주변 부품과의 간섭을 피할 수 있고, 인접한 핀 간의 누설 전류를 최소화할 수 있다. The contactor 120 may be characterized in that the cross-sectional shapes of the first elastic part 122 and the second elastic part 123 viewed from the thickness direction are different. For example, the cross-sectional shape of the second elastic part 123 viewed from the thickness direction may be designed to be smaller than the cross-sectional shape of the first elastic part 122 viewed from the thickness direction. Since the second elastic part 123 disposed at both ends is in contact with the inspected object 10 (or the pad of the inspection device), it is formed to have a relatively small diameter, that is, a small cross-sectional shape, to form a fine pitch pad 11 or It can correspond to a terminal, etc., and when assembling with a counterpart, the contact area can be widened and the shape can be varied. In addition, the second elastic part 123 disposed at both ends is designed to have a smaller diameter than the first elastic part 122 disposed at the center, thereby avoiding interference with peripheral components and reducing leakage current between adjacent pins. can be minimized.

반면, 필름 홀(111)을 관통하도록 중심부에 배치된 제1 탄성부(122)는 상대적으로 직경을 크게, 즉 넓은 단면적을 가지도록 형성하여 테스트 시 요구되는 전기 전도도를 확보할 수 있다.On the other hand, the first elastic part 122 disposed at the center to pass through the film hole 111 may have a relatively large diameter, that is, a large cross-sectional area, so as to secure electrical conductivity required during testing.

다시 도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 컨택터(120)는 필름 홀(111)을 관통한 상태로 고정되어, 컨택터(120)와 필름(110)이 서로 일체로 형성될 수 있다. 예를 들어, 컨택터(120)는 별도의 접착 물질 또는 체결 부품 등을 포함하는 결합을 위한 매개물 없이 필름 홀(111)을 관통한 상태로 고정되어 필름(110)과 결합될 수 있다. 컨택터(120)는 필름 홀(111)에 삽입된 상태에서 상 변화에 의하여 경화되어 필름(110)과 일체로 직접 접합된 구조체를 형성할 수 있다. 구체적으로, 필름 홀(111)에 삽입된 액상의 컨택터(120)는 고체 상으로 상 변화가 일어날 수 있고, 점성(viscosity)이 증가되고 경화될 수 있다.Referring back to FIG. 1 , the contactor 120 according to an embodiment of the present invention is fixed while passing through the film hole 111 so that the contactor 120 and the film 110 are integrally formed with each other. can For example, the contactor 120 may be fixed and coupled to the film 110 while penetrating the film hole 111 without a coupling medium including a separate adhesive material or fastening part. The contactor 120 may be cured by a phase change in a state of being inserted into the film hole 111 to form a structure integrally and directly bonded to the film 110 . Specifically, the liquid contactor 120 inserted into the film hole 111 may undergo a phase change into a solid phase, increase viscosity, and harden.

본 발명의 일 실시예에 따른 가이드 블록(130)은 필름(110) 상에 배치되고, 컨택터(120)를 수용 및 지지하도록 형성될 수 있다. 가이드 블록(130)은 컨택터(120)에 비하여 열팽창 계수가 작은 재질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 가이드 블록(130)은 FR4, 울템(Ultem), 피크(Peek) 및 톨론(Torlon) 등과 같은 기타 엔지니어링 플라스틱(Engineering Plastic) 재질로 이루어질 수 있다. 가이드 블록(130)은 컨택터(120)를 측면에서 지지할 수 있어, 연질의 실리콘 등으로 플렉서블한 컨택터(120)의 내구성을 향상시킬 수 있다.The guide block 130 according to an embodiment of the present invention may be disposed on the film 110 and may be formed to accommodate and support the contactor 120 . The guide block 130 may be formed of a material having a lower thermal expansion coefficient than that of the contactor 120 . For example, the guide block 130 may be made of other engineering plastic materials such as FR4, Ultem, Peek, and Torlon. The guide block 130 can support the contactor 120 from the side, so that the durability of the flexible contactor 120 made of soft silicon or the like can be improved.

도 2를 참조하면, 가이드 블록(130)은 블록 홀(131)을 구비할 수 있고, 블록 홀(131)을 통해 컨택터(120)를 수용할 수 있다. 블록 홀(131)은 제1 홀 부분(131a) 및 제2 홀 부분(131b)을 포함할 수 있다. 제1 홀 부분(131a)은 컨택터(120)의 제1 탄성부(122)를 수용하도록 형성될 수 있고, 제2 홀 부분(131b)은 컨택터(120)의 제2 탄성부(123)를 수용하도록 형성될 수 있다. 즉, 컨택터(120)의 제1 탄성부(122)는 제1 홀 부분(131a)에 삽입되고, 제2 탄성부(123)는 제2 홀 부분(131b)에 삽입되어 가이드 블록(130)에 컨택터(120)가 수용될 수 있다. Referring to FIG. 2 , the guide block 130 may have a block hole 131 and may accommodate the contactor 120 through the block hole 131 . The block hole 131 may include a first hole part 131a and a second hole part 131b. The first hole part 131a may be formed to accommodate the first elastic part 122 of the contactor 120, and the second hole part 131b may be formed to accommodate the second elastic part 123 of the contactor 120. It can be formed to accommodate. That is, the first elastic part 122 of the contactor 120 is inserted into the first hole part 131a, and the second elastic part 123 is inserted into the second hole part 131b so that the guide block 130 The contactor 120 may be accommodated in.

블록 홀(131)의 일 단부에는 챔퍼부(132)가 형성될 수 있다. 챔퍼부(132)는 가이드 블록(130)의 표면과 블록 홀(131)의 일 단부를 연결하는 오목한 면을 갖도록 형성될 수 있다. 예를 들어, 챔퍼부(132)는 피검사체(10)의 패드(11)와 직접적으로 접촉하는 컨택터(120)의 제2 탄성부(123)를 수용하는 제2 홀 부분(131b)의 단부에 오목한 면으로 형성될 수 있다. A chamfer portion 132 may be formed at one end of the block hole 131 . The chamfer portion 132 may be formed to have a concave surface connecting the surface of the guide block 130 and one end of the block hole 131 . For example, the chamfer portion 132 is an end of the second hole portion 131b accommodating the second elastic portion 123 of the contactor 120 directly contacting the pad 11 of the object 10 under test. It can be formed as a concave surface.

블록 홀(131)의 일 단부에 형성된 챔퍼부(132)는 피검사체(10) 또는 피검사체(10)의 패드(11)의 적어도 일부분을 수용 및 지지할 수 있다. 예를 들어, 피검사체(10)의 패드(11)와 접촉시, 압축에 의해 탄성 변형되는 복수의 컨택터(120)는 각각 챔퍼부(132)에 의해 지지될 수 있다. The chamfer portion 132 formed at one end of the block hole 131 may accommodate and support at least a portion of the inspected object 10 or the pad 11 of the inspected object 10 . For example, each of the plurality of contactors 120 elastically deformed by compression when in contact with the pad 11 of the object 10 under test may be supported by the chamfer portion 132 .

이와 같이, 본 발명에 따른 컨택터 어셈블리(100)는 챔퍼부(132)에 의해 피검사체(10)의 볼 형상의 패드(11) 등을 수용 및 지지함으로써, 챔퍼부(132)에서 돌출되어 있는 컨택터(120)와의 안정적인 접속을 구현할 수 있다. 특히, 패키징이 완료된 피검사체(10)의 볼 형상 등의 패드(11)를 수용하여 지지할 수 있어, 칩 레벨의 반도체 검사 장치에도 효과적으로 응용될 수 있다. In this way, the contactor assembly 100 according to the present invention accommodates and supports the ball-shaped pad 11 of the inspected object 10 by the chamfer portion 132, thereby protruding from the chamfer portion 132. A stable connection with the contactor 120 can be implemented. In particular, it can accommodate and support the ball-shaped pad 11 of the inspected object 10 whose packaging is completed, so it can be effectively applied to a chip-level semiconductor inspection device.

도 3은 본 발명에 따른 컨택터 어셈블리의 제조 방법을 도시한 도면이다. 도 3에 도시된 컨택터 어셈블리의 제조 방법(S100)은 도 1 및 도 2에 도시된 실시예에 따라 시계열적으로 처리되는 단계들을 포함한다. 따라서, 이하 생략된 내용이라고 하더라도 도 1 및 도 2에 도시된 실시예에 따른 컨택터 어셈블리의 제조 방법(S100)에도 적용된다. 3 is a view showing a manufacturing method of a contactor assembly according to the present invention. The manufacturing method S100 of the contactor assembly shown in FIG. 3 includes steps processed time-sequentially according to the embodiment shown in FIGS. 1 and 2 . Therefore, even if the contents are omitted below, they are also applied to the manufacturing method ( S100 ) of the contactor assembly according to the embodiment shown in FIGS. 1 and 2 .

단계 S110에서 컨택터 어셈블리 제조 방법은 필름 홀이 형성되어 있는 필름과 필름 홀에 대응하는 수용부를 구비하는 몰드를 서로 정렬시킬 수 있다.In step S110, the method of manufacturing the contactor assembly may align the film in which the film hole is formed and the mold having the accommodating portion corresponding to the film hole with each other.

단계 S120에서 컨택터 어셈블리 제조 방법은 수용부에 전도성 입자가 함유된 액상의 컨택터를 채울 수 있다.In the method of manufacturing the contactor assembly in step S120, a liquid contactor containing conductive particles may be filled in the accommodating part.

단계 S130에서 컨택터 어셈블리 제조 방법은 수용부에 대응하는 위치에 자성체 패드가 형성된 자력 집중 부재를 몰드에 정렬시키고 컨택터를 경화시킬 수 있다.In step S130, the contactor assembly manufacturing method may align a magnetic force concentrating member having a magnetic material pad formed at a position corresponding to the accommodating part to a mold and harden the contactor.

단계 S140에서 컨택터 어셈블리 제조 방법은 몰드로부터 일체로 형성된 필름 및 컨택터를 분리할 수 있다.In step S140, the contactor assembly manufacturing method may separate the integrally formed film and the contactor from the mold.

단계 S150에서 컨택터 어셈블리 제조 방법은 컨택터를 수용하는 블록 홀을 구비하는 가이드 블록을 일체로 형성된 필름 및 컨택터에 조립할 수 있다.In the method of manufacturing the contactor assembly in step S150, a guide block having a block hole accommodating the contactor may be assembled to the integrally formed film and the contactor.

상술한 설명에서, 단계 S110 내지 S150은 본 발명의 구현 예에 따라서, 추가적인 단계들로 더 분할되거나, 더 적은 단계들로 조합될 수 있다. 또한, 일부 단계는 필요에 따라 생략될 수도 있고, 단계 간의 순서가 전환될 수도 있다.In the above description, steps S110 to S150 may be further divided into additional steps or combined into fewer steps, depending on an implementation example of the present invention. Also, some steps may be omitted as needed, and the order of steps may be switched.

이하, 각 단계를 구체적으로 살펴보도록 한다. 도 4 내지 도 9는 도 3에 도시한 컨택터 제조 방법의 각 단계를 도시한 도면이다. 도 4 및 도 5를 참조하면, 컨택터 어셈블리 제조 방법(S100)은 단계 S110에서 필름 홀(111)이 형성되어 있는 필름(110)과 필름 홀(111)에 대응하는 수용부(211)를 구비하는 몰드(210)를 서로 정렬시킬 수 있다. 예를 들어, 필름(110)의 필름 홀(111)과 몰드(210)의 수용부(211)를 서로 대응시켜 필름(110)과 몰드(210)를 정렬시킬 수 있다. 여기서, 몰드(210)는 자성이 없는 금속이나 수지로 이루어질 수 있다. 일 예로, 알루미늄(Al) 및 토론(Torlon) 등을 포함할 수 있다. Hereinafter, each step will be described in detail. 4 to 9 are views showing each step of the method of manufacturing the contactor shown in FIG. 3 . 4 and 5, in the method of manufacturing the contactor assembly (S100), in step S110, the film 110 having the film hole 111 formed therein and the accommodating part 211 corresponding to the film hole 111 are provided. It is possible to align the molds 210 to each other. For example, the film 110 and the mold 210 may be aligned by making the film hole 111 of the film 110 and the accommodating portion 211 of the mold 210 correspond to each other. Here, the mold 210 may be made of non-magnetic metal or resin. For example, it may include aluminum (Al) and torlon.

단계 S110에서 복수의 플레이트(212)를 적층하여 수용부(211)를 형성할 수 있다. 예를 들어, 수용부(211)를 구비한 각 플레이트(212)를 여러 층으로 적층하여 컨택터(120)의 길이가 긴 형상을 용이하게 제조할 수 있다. 다층의 플레이트(212)를 적층하여 컨택터(120)의 길이를 늘려나감으로써, 단면적은 미세하게 유지하면서 길이가 긴 형상의 컨택터(120)를 효과적으로 제조할 수 있다. In step S110, the plurality of plates 212 may be stacked to form the accommodating portion 211. For example, the long shape of the contactor 120 can be easily manufactured by stacking each plate 212 having the accommodating portion 211 in several layers. By increasing the length of the contactor 120 by stacking the multi-layer plates 212, it is possible to effectively manufacture the long-shaped contactor 120 while maintaining a small cross-sectional area.

단계 S120에서 수용부(211)에 전도성 입자(121)가 함유된 액상의 컨택터(120)를 채울 수 있다. 예를 들어, 필름(110)을 개재한 채 복수의 플레이트(212)를 순차적으로 적층한 후 형성된 수용부(211)에 전도성 입자(121)가 함유된 액상의 컨택터(120)를 채울 수 있다. 다른 예를 들어, 필름(110)을 개재한 채 플레이트(212)를 한 층씩 적층할 때마다 수용부(211)에 전도성 입자(121)가 함유된 액상의 컨택터(120)를 채운 후 다음 층의 플레이트(212)를 적층해 나갈 수 있다. In step S120 , the accommodating portion 211 may be filled with the liquid contactor 120 containing the conductive particles 121 . For example, the liquid contactor 120 containing the conductive particles 121 may be filled in the accommodating portion 211 formed after sequentially stacking the plurality of plates 212 with the film 110 interposed therebetween. . For another example, whenever the plates 212 are stacked layer by layer with the film 110 interposed therebetween, after filling the accommodating portion 211 with the liquid contactor 120 containing the conductive particles 121, the next layer The plates 212 of can be stacked.

도 6을 참조하면, 컨택터 어셈블리 제조 방법(S100)은, 단계 S130에서 수용부(211)에 대응하는 위치에 자성체 패드(221)가 형성된 자력 집중 부재(220)를 몰드(210)에 정렬시킬 수 있다. 자력 집중 부재(220)는 일정 간격을 두고 복수의 자성체 패드(221)를 포함할 수 있다. 여기서, 자성체 패드(221)는, 일 예로, 니켈(Ni), 니켈-코발트 합금(NiCo) 및 철(Fe) 등과 같은 자성체 금속으로 이루어질 수 있다. 자력 집중 부재(220)는 약자성체 재질로 형성함으로써, 자성체 패드(221)에 자력이 집중되도록 유도할 수 있다.Referring to FIG. 6 , in the method of manufacturing the contactor assembly (S100), in step S130, the magnetic force concentrating member 220 having the magnetic pad 221 formed at a position corresponding to the accommodating portion 211 is aligned with the mold 210. can The magnetic force concentrating member 220 may include a plurality of magnetic pads 221 at regular intervals. Here, the magnetic pad 221 may be made of, for example, a magnetic metal such as nickel (Ni), nickel-cobalt alloy (NiCo), and iron (Fe). The magnetic force concentrating member 220 may induce magnetic force to be concentrated on the magnetic pad 221 by being formed of a weak magnetic material.

도 7을 참조하면, 컨택터 어셈블리 제조 방법(S100)은, 단계 S130에서 기설정된 압력 및 온도 조건에서 컨택터(120)를 경화시킬 수 있다. 컨택터(120)는 필름 홀(111)에 삽입된 상태로 상 변화에 의하여 경화되어 필름(110)과 일체로 직접 접합된 구조체를 형성할 수 있다. 예를 들어, 컨택터(120)는 수용부(211)에 채워질 때 적어도 일부분이 액체상일 수 있고, 수용부(211) 내에서 수용부(211) 및 필름(110)과 접촉되면서 그 형태가 고정될 수 있다. 이후, 컨택터(120)는 고체 상으로 상 변화가 일어날 수 있고, 점성이 증가되고 경화될 수 있다. Referring to FIG. 7 , in the method of manufacturing the contactor assembly ( S100 ), the contactor 120 may be cured under preset pressure and temperature conditions in step S130 . The contactor 120 may be cured by a phase change while being inserted into the film hole 111 to form a structure integrally and directly bonded to the film 110 . For example, when the contactor 120 is filled in the accommodating part 211, at least a portion thereof may be in a liquid state, and the contactor 120 is fixed in shape while being in contact with the accommodating part 211 and the film 110 within the accommodating part 211. It can be. Then, the contactor 120 may undergo a phase change to a solid phase, increase in viscosity, and harden.

실시예에 따라, 컨택터(120)는 외부의 압력에 의해 필름(110)과 일체로 결합되는 형상으로 경화될 수 있고, 컨택터(120)는 외부에서 가해지는 열에 의해 필름(110)과 일체로 결합될 수 있다. 다만, 추가로 열이나 압력을 가하지 않더라도, 기설정된 온도 및 압력 범위에서 필름(110)과 접촉 상태를 유지하면서 경화되도록 할 수 있다.Depending on the embodiment, the contactor 120 may be cured into a shape integrally coupled to the film 110 by external pressure, and the contactor 120 may be integrally bonded to the film 110 by heat applied from the outside. can be combined with However, even if heat or pressure is not additionally applied, it may be cured while maintaining contact with the film 110 within a preset temperature and pressure range.

단계 S130에서, 자력 집중 부재(220)에 의하여 열 및 압력 중 적어도 하나가 컨택터(120)에 가해질 수 있다. 예를 들어, 자성체 패드(221)에 의하여 수용부(211)가 폐쇄되도록 자력 집중 부재(220)가 몰드(210)에 밀착될 수 있다. 수용부(211)에 액상의 컨택터(120)가 채워진 몰드(210)의 상단과 하단에 자력 집중 부재(220)를 밀착시킬 수 있다. 이때, 도 7에 예시한 것처럼, 자력에 의하여 길이 방향을 따라 전도성 입자가 재배치 및 정렬될 수 있다. 자성체 패드(221)는 컨택터(120)의 자력을 집중시키기 위함이다. In step S130 , at least one of heat and pressure may be applied to the contactor 120 by the magnetic force concentrating member 220 . For example, the magnetic force concentrating member 220 may come into close contact with the mold 210 so that the accommodating portion 211 is closed by the magnetic pad 221 . The magnetic force concentrating member 220 may be brought into close contact with upper and lower ends of the mold 210 in which the liquid contactor 120 is filled in the accommodating portion 211 . At this time, as illustrated in FIG. 7 , the conductive particles may be rearranged and aligned along the longitudinal direction by magnetic force. The magnetic pad 221 is for concentrating the magnetic force of the contactor 120 .

도 8을 참조하면, 컨택터 어셈블리 제조 방법(S100)은, 단계 S140에서 몰드(210)로부터 일체로 형성된 필름(110) 및 컨택터(120)를 분리할 수 있다. 예를 들어, 몰드(210)에 밀착된 자력 집중 부재(220)를 몰드(210)로부터 먼저 분리한 후, 필름(110)과 일체로 형성된 복수의 컨택터(120)를 몰드(210)로부터 분리할 수 있다. Referring to FIG. 8 , in the method of manufacturing the contactor assembly ( S100 ), in step S140 , the integrally formed film 110 and the contactor 120 may be separated from the mold 210 . For example, after first separating the magnetic force concentrating member 220 in close contact with the mold 210 from the mold 210, the plurality of contactors 120 integrally formed with the film 110 are separated from the mold 210. can do.

단계 S140에서, 적층된 복수의 플레이트(212)를 한 층씩 제거할 수 있어, 필름(110)과 일체로 제조가 완료된 컨택터(120)를 몰드(210)로부터 쉽게 분리시킬 수 있을 뿐만 아니라, 손상이 가지 않게 분리시킬 수 있다. In step S140, the plurality of plates 212 stacked can be removed layer by layer, so that the contactor 120, which has been integrally manufactured with the film 110, can be easily separated from the mold 210 and damaged. It can be separated without this.

도 9를 참조하면, 컨택터 어셈블리 제조 방법(S100)은, 단계 S150에서 컨택터(120)를 수용하는 블록 홀(131)을 구비하는 가이드 블록(130)을 일체로 형성된 필름(110) 및 컨택터(120)에 조립할 수 있다. 예를 들어, 단계 S150에서 필름(110)과 직접 접합되어 하나의 구조체로 일체화된 복수의 컨택터(120)를 가이드 블록(130)의 블록 홀(131)에 삽입하여 조립할 수 있다. 이 때, 가이드 블록(130)은 표면과 이어지는 블록 홀(131)의 일 단부에 오목한 면을 갖는 챔퍼부(132)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 9 , in the method of manufacturing the contactor assembly (S100), in step S150, the guide block 130 having the block hole 131 accommodating the contactor 120 is integrally formed with the film 110 and the contact It can be assembled to the filter 120. For example, in step S150 , the plurality of contactors 120 , which are directly bonded to the film 110 and integrated into one structure, may be inserted into the block hole 131 of the guide block 130 and assembled. At this time, the guide block 130 may include a chamfer portion 132 having a concave surface at one end of the block hole 131 connected to the surface.

따라서, 가이드 블록(130)을 포함하는 본 발명에 따른 컨택터 어셈블리(100)는 플렉서블한 컨택터(120)의 탄성 변형을 가이드 및 지지하며 피검사체의 패드나 단자 등에 정확하게 안정적으로 접속될 수 있다. Therefore, the contactor assembly 100 according to the present invention including the guide block 130 guides and supports the elastic deformation of the flexible contactor 120 and can be accurately and stably connected to a pad or terminal of an object to be inspected. .

전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다. The above description of the present invention is for illustrative purposes, and those skilled in the art can understand that it can be easily modified into other specific forms without changing the technical spirit or essential features of the present invention. will be. Therefore, the embodiments described above should be understood as illustrative in all respects and not limiting. For example, each component described as a single type may be implemented in a distributed manner, and similarly, components described as distributed may be implemented in a combined form.

본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The scope of the present invention is indicated by the following claims rather than the detailed description above, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and equivalent concepts should be construed as being included in the scope of the present invention. do.

100: 컨택터 어셈블리
110: 필름
120: 컨택터
130: 가이드 블록
100: contactor assembly
110: film
120: contactor
130: guide block

Claims (12)

피검사체의 패드와 검사 장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 컨택터 어셈블리에 있어서,
복수의 필름 홀을 구비하는 절연성의 필름;
전도성 입자를 함유하고 탄성 변형 가능하도록 형성되고, 상기 필름 홀 각각에 삽입되어 상기 필름의 두께 방향으로 돌출되도록 배치되는 컨택터; 및
상기 필름 상에 배치되고, 상기 컨택터를 수용 및 지지하도록 형성되는 블록 홀을 구비하는 가이드 블록을 포함하고,
상기 컨택터는,
상기 필름 홀을 관통하여 양방향으로 돌출되게 배치되는 제1 탄성부; 및
상기 제1 탄성부의 양단부에 상기 두께 방향으로 연결되고, 상기 두께 방향에서 바라본 단면 형상이 상기 제1 탄성부와 상이한 제2 탄성부를 구비하고,
상기 제1 탄성부의 직경에 비해 상기 제2 탄성부의 직경이 작게 형성되고,
상기 블록 홀은,
상기 제1 탄성부를 수용하도록 형성되는 제1 홀 부분; 및
상기 제2 탄성부를 수용하도록 형성되는 제2 홀 부분을 구비하고,
상기 블록 홀의 일 단부에는 챔퍼부가 형성되고,
상기 챔퍼부는,
상기 제2 홀 부분의 단부에 형성되고, 상기 가이드 블록의 표면과 상기 블록 홀의 일 단부를 연결하는 오목한 면을 갖도록 형성되며,
상기 제2 탄성부의 적어도 일부는 상기 챔퍼부 및 상기 가이드 블록의 표면으로부터 돌출되게 배치되는, 컨택터 어셈블리.
In the contactor assembly for electrically connecting a pad of a test subject and a pad of a test device to each other,
an insulating film provided with a plurality of film holes;
a contactor containing conductive particles, formed to be elastically deformable, inserted into each of the film holes, and arranged to protrude in a thickness direction of the film; and
A guide block disposed on the film and having a block hole formed to receive and support the contactor;
The contactor is
a first elastic part disposed to protrude in both directions through the film hole; and
A second elastic part connected to both ends of the first elastic part in the thickness direction and having a cross-sectional shape viewed from the thickness direction different from that of the first elastic part,
The diameter of the second elastic part is smaller than the diameter of the first elastic part,
The block hole,
a first hole portion formed to accommodate the first elastic portion; and
A second hole portion formed to accommodate the second elastic portion,
A chamfer is formed at one end of the block hole,
The chamfer part,
It is formed at an end of the second hole portion and has a concave surface connecting the surface of the guide block and one end of the block hole,
At least a portion of the second elastic portion is disposed to protrude from surfaces of the chamfer portion and the guide block.
삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 챔퍼부는 상기 피검사체 또는 상기 피검사체의 패드의 적어도 일부분을 수용 및 지지하는 것을 특징으로 하는, 컨택터 어셈블리.
According to claim 1,
The contactor assembly, characterized in that the chamfer portion accommodates and supports at least a portion of the inspected object or a pad of the inspected object.
삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 컨택터는 상기 필름 홀을 관통한 상태로 고정되어, 상기 컨택터와 상기 필름이 서로 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는, 컨택터 어셈블리.
According to claim 1,
The contactor assembly is characterized in that the contactor is fixed while penetrating the film hole, so that the contactor and the film are integrally formed with each other.
제 1 항에 있어서,
상기 컨택터는 상기 필름 홀에 삽입된 상태에서 상 변화에 의하여 경화되어 상기 필름과 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는, 컨택터 어셈블리.
According to claim 1,
The contactor assembly is characterized in that the contactor is formed integrally with the film by curing by a phase change in a state of being inserted into the film hole.
제 1 항에 있어서,
상기 필름 및 상기 가이드 블록은 상기 컨택터에 비하여 열팽창 계수가 작은 재질로 형성되는 것을 특징으로 하는, 컨택터 어셈블리.
According to claim 1,
The contactor assembly, wherein the film and the guide block are formed of a material having a smaller coefficient of thermal expansion than that of the contactor.
피검사체의 패드와 검사 장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 컨택터 어셈블리를 제조하는 방법에 있어서,
필름 홀이 형성되어 있는 필름과 상기 필름 홀에 대응하는 수용부를 구비하는 몰드를 서로 정렬시키는 단계;
상기 수용부에 전도성 입자가 함유된 액상의 컨택터를 채우는 단계;
상기 수용부에 대응하는 위치에 자성체 패드가 형성된 자력 집중 부재를 상기 몰드에 정렬시키고 상기 컨택터를 경화시키는 단계;
상기 몰드로부터 일체로 형성된 상기 필름 및 상기 컨택터를 분리하는 단계; 및
상기 컨택터를 수용하는 블록 홀을 구비하는 가이드 블록을 상기 일체로 형성된 상기 필름 및 상기 컨택터에 조립하는 단계를 포함하고,
상기 컨택터는,
상기 필름 홀을 관통하여 양방향으로 돌출되게 배치되는 제1 탄성부; 및
상기 제1 탄성부의 양단부에 두께 방향으로 연결되고, 상기 두께 방향에서 바라본 단면 형상이 상기 제1 탄성부와 상이한 제2 탄성부를 구비하고,
상기 제1 탄성부의 직경에 비해 상기 제2 탄성부의 직경이 작게 형성되고,
상기 블록 홀은,
상기 제1 탄성부를 수용하도록 형성되는 제1 홀 부분; 및
상기 제2 탄성부를 수용하도록 형성되는 제2 홀 부분을 구비하고,
상기 블록 홀의 일 단부에는 챔퍼부가 형성되고,
상기 챔퍼부는,
상기 제2 홀 부분의 단부에 형성되고, 상기 가이드 블록의 표면과 상기 블록 홀의 일 단부를 연결하는 오목한 면을 갖도록 형성되며,
상기 제2 탄성부의 적어도 일부는 상기 챔퍼부 및 상기 가이드 블록의 표면으로부터 돌출되게 배치되는, 컨택터 어셈블리를 제조하는 방법.
A method of manufacturing a contactor assembly for electrically connecting a pad of a test subject and a pad of a test device to each other,
aligning a film in which a film hole is formed and a mold having an accommodating portion corresponding to the film hole;
filling the accommodating part with a liquid contactor containing conductive particles;
aligning a magnetic force concentrating member having a magnetic pad formed at a position corresponding to the accommodating part to the mold and curing the contactor;
separating the integrally formed film and the contactor from the mold; and
assembling a guide block having a block hole accommodating the contactor to the integrally formed film and the contactor;
The contactor is
a first elastic part disposed to protrude in both directions through the film hole; and
A second elastic part connected to both ends of the first elastic part in a thickness direction and having a cross-sectional shape viewed from the thickness direction different from that of the first elastic part,
The diameter of the second elastic part is formed smaller than the diameter of the first elastic part,
The block hole,
a first hole portion formed to accommodate the first elastic portion; and
A second hole portion formed to accommodate the second elastic portion,
A chamfer is formed at one end of the block hole,
The chamfer part,
It is formed at an end of the second hole portion and has a concave surface connecting the surface of the guide block and one end of the block hole,
At least a portion of the second elastic portion is disposed to protrude from surfaces of the chamfer portion and the guide block.
삭제delete 제 10 항에 있어서,
상기 몰드를 정렬시키는 단계에서는, 복수의 플레이트를 적층하여 상기 수용부를 형성하는 것을 특징으로 하는, 컨택터 어셈블리를 제조하는 방법.
According to claim 10,
In the step of aligning the mold, a plurality of plates are stacked to form the accommodating portion.
KR1020210040651A 2021-03-29 2021-03-29 Contactor assembly and method for manufacturing the same KR102525844B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210040651A KR102525844B1 (en) 2021-03-29 2021-03-29 Contactor assembly and method for manufacturing the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210040651A KR102525844B1 (en) 2021-03-29 2021-03-29 Contactor assembly and method for manufacturing the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20220135082A KR20220135082A (en) 2022-10-06
KR102525844B1 true KR102525844B1 (en) 2023-04-28

Family

ID=83597046

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210040651A KR102525844B1 (en) 2021-03-29 2021-03-29 Contactor assembly and method for manufacturing the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102525844B1 (en)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030040139A1 (en) * 2001-08-21 2003-02-27 Canella Robert L. Spring contact for establishing non-permanent electrical connection between an integrated circuit device lead element and a substrate, apparatus including same and method of use
JP2010157472A (en) 2009-01-05 2010-07-15 Shin Etsu Polymer Co Ltd Connector with guide for ball grid array package
JP2015518255A (en) 2012-04-27 2015-06-25 株式会社アイエスシーIsc Co., Ltd. Easy-to-align test socket
KR101593936B1 (en) 2014-10-08 2016-02-26 (주)티에스이 Silicon rubber connector
KR101779172B1 (en) 2015-08-04 2017-09-15 주식회사 아이에스시 Test socket for micro pitch
KR101823006B1 (en) 2016-08-01 2018-01-31 (주)티에스이 Semiconductor test socket and manufacturing method there of
KR102114110B1 (en) 2018-08-28 2020-05-25 주식회사 이노글로벌 By-directional electrically conductive module and manufacturing method thereof
KR102153221B1 (en) 2019-05-21 2020-09-07 주식회사 새한마이크로텍 Anisotropic conductive sheet

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11204178A (en) * 1998-01-07 1999-07-30 Jsr Corp Anisotropic conductive sheet
US7311531B2 (en) 2003-03-26 2007-12-25 Jsr Corporation Anisotropic conductive connector, conductive paste composition, probe member, wafer inspection device and wafer inspection method
KR20180049425A (en) * 2016-11-01 2018-05-11 솔브레인멤시스(주) Anisotropic conductive sheet
KR20190121493A (en) * 2018-04-18 2019-10-28 화송주식회사 Method of manufacturing semiconductor test socket
KR20200075204A (en) * 2018-12-17 2020-06-26 주식회사 아이에스시 Contact Pin Interchangeable Test Socket

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030040139A1 (en) * 2001-08-21 2003-02-27 Canella Robert L. Spring contact for establishing non-permanent electrical connection between an integrated circuit device lead element and a substrate, apparatus including same and method of use
US7045889B2 (en) 2001-08-21 2006-05-16 Micron Technology, Inc. Device for establishing non-permanent electrical connection between an integrated circuit device lead element and a substrate
JP2010157472A (en) 2009-01-05 2010-07-15 Shin Etsu Polymer Co Ltd Connector with guide for ball grid array package
JP2015518255A (en) 2012-04-27 2015-06-25 株式会社アイエスシーIsc Co., Ltd. Easy-to-align test socket
KR101593936B1 (en) 2014-10-08 2016-02-26 (주)티에스이 Silicon rubber connector
KR101779172B1 (en) 2015-08-04 2017-09-15 주식회사 아이에스시 Test socket for micro pitch
KR101823006B1 (en) 2016-08-01 2018-01-31 (주)티에스이 Semiconductor test socket and manufacturing method there of
KR102114110B1 (en) 2018-08-28 2020-05-25 주식회사 이노글로벌 By-directional electrically conductive module and manufacturing method thereof
KR102153221B1 (en) 2019-05-21 2020-09-07 주식회사 새한마이크로텍 Anisotropic conductive sheet

Also Published As

Publication number Publication date
KR20220135082A (en) 2022-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101266124B1 (en) Test socket with high density conduction section and fabrication method thereof
TWI400451B (en) Probe card
US11131707B1 (en) Test socket and test apparatus having the same, manufacturing method for the test socket
KR101769882B1 (en) Test Socket
KR101985445B1 (en) Conductive sheet for electrical test
KR102169836B1 (en) Test socket and method of manufacturing the same
KR102153221B1 (en) Anisotropic conductive sheet
KR102357723B1 (en) Signal Loss Prevented Test Socket
KR102301835B1 (en) Contactor and manufacturing method thereof
US20230411889A1 (en) Flexible contactor and method of manufacturing the same
KR102525844B1 (en) Contactor assembly and method for manufacturing the same
KR101204940B1 (en) Electrical contactor and fabrication method of electrical contactor
KR101779172B1 (en) Test socket for micro pitch
JP3675812B1 (en) Anisotropic conductive connector and circuit device inspection method
KR101920855B1 (en) Electrical test socket
KR101735774B1 (en) Rubber socket for test
KR102511313B1 (en) Contactor array and manufacturing method thereof
KR20170108655A (en) Test socket and fabrication method thereof
KR101038270B1 (en) Anisotropic Conductive Connector And The Manufacturing Method Thereof
KR102046283B1 (en) Anisotropic conductive sheet
TW202133500A (en) Connector
JP2005300279A (en) Anisotropic conductive connector device, its manufacturing method, and inspection device of circuit device
KR102427089B1 (en) Connector for electrical connection
KR102575597B1 (en) Contactor and method for manufacturing the same
KR102388678B1 (en) Test socket

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right