KR102510529B1

KR102510529B1 - 리드 검사 시스템 및 방법

Info

Publication number: KR102510529B1
Application number: KR1020180023196A
Authority: KR
Inventors: 강민수
Original assignee: 한화정밀기계 주식회사
Priority date: 2018-02-26
Filing date: 2018-02-26
Publication date: 2023-03-15
Also published as: KR20190102623A

Abstract

본 발명의 일 실시예는 전자부품을 지지하는 지지부와, 전자부품의 복수개의 리드에 비스듬히 광을 조사하는 발광부와, 복수개의 리드의 일단부로부터 전자부품과 연결되는 리드의 타단부를 향하는 방향으로 광이 이동하여 입사될 수 있도록 지지부 및 발광부 중 하나 이상을 이동시키는 이동부와, 지지부 및 발광부 중 하나 이상이 이동하는 동안 전자부품의 복수개의 리드를 촬영하여 영상 신호를 생성하는 촬영부를 포함하는 리드 검사 시스템을 개시한다.

Description

리드 검사 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING LEAD}

본 발명의 실시예들은 리드 검사 시스템 및 방법에 관한 것이다.

부품 실장기는 다양한 종류의 전자부품을 PCB(printed circuit board)에 장착하는 장치로, 전자부품의 리드를 PCB 상의 해당 위치에 정확하게 정착할 수 있는 정밀도가 요구된다.

하지만, 부품 실장기의 위치 제어가 아무리 정밀하더라도, 전자부품의 리드가 휘어져있을 경우, 그 리드가 PCB의 접촉점에 정확하게 연결 되지 않아 그 PCB는 불량품이 될 수 밖에 없다.

이러한 문제점을 해결하기 위해 부품 실장기를 이용하여 전자부품을 PCB에 장착하기 이전에, 전자부품의 리드에 불량이 있는지 여부를 먼저 파악하여 불량이 없는 전자부품을 선별하는 작업이 수행될 수 있다.

전술한 배경기술은 발명자가 본 발명의 실시예들의 도출을 위해 보유하고 있었거나, 도출 과정에서 습득한 기술 정보로서, 반드시 본 발명의 실시예들의 출원 전에 일반 공중에게 공개된 공지기술이라 할 수는 없다.

본 발명의 실시예들은 간단하고 저렴한 구성으로도 전자부품의 리드 불량을 정확하고 신속하게 검출할 수 있는 리드 검사 장치 및 방법을 제공하는 것을 주된 과제로 한다.

본 실시예에 있어서, 발광부는 발광부와 전자부품 사이에 설치되어 발광부로부터 방출되는 광을 리드로 인도하는 광학부재를 포함할 수 있다.

본 실시예에 있어서, 촬영부에서 생성된 영상 신호를 수신 및 변환하여, 영상 신호를 사용자가 시각적으로 인식할 수 있는 디스플레이로 출력하는 영상 출력부를 더 포함할 수 있다.

본 실시예에 있어서, 발광부에서 복수개의 리드로 조사되어 복수개의 리드 각각으로부터 반사되는 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하는 영상 분석부를 더 포함할 수 있다.

본 실시예에 있어서, 영상 분석부로부터 에러 신호를 수신하여, 에러 신호를 사용자가 인식할 수 있는 시각적 또는 청각적 신호로 변환하는 알림부를 더 포함할 수 있다.

본 실시예에 있어서, 디스플레이 상에 사용자가 정의하고자 하는 오차허용영역을 설정하도록, 사용자로부터 입력 신호를 수신하여 영상 출력부로 전송하는 사용자 입력부를 더 포함할 수 있다.

본 실시예에 있어서, 영상 분석부는, 오차허용영역 내에서 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하지 않으며, 오차허용영역 바깥에서 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성할 수 있다.

본 발명의 다른 실시예는 전자부품을 흡착하여 소정의 위치에 고정하는 단계와, 전자부품이 이루는 가장 넓은 일 평면에 대해 비스듬한 방향으로 광을 조사하되, 전자부품의 복수개의 리드의 일단부로부터 전자부품과 연결되는 복수개의 리드의 타단부를 향하는 방향으로 광이 이동하는 단계와, 광이 이동하는 동안 복수개의 리드를 촬영하여 영상 신호를 생성하는 단계와, 영상 신호를 변환하여 영상 신호를 사용자가 시각적으로 인식할 수 있는 디스플레이로 출력하는 단계와, 복수개의 리드 각각으로부터 반사되는 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하는 리드 검사 방법을 개시한다.

본 실시예에 있어서, 에러 신호를 수신하여, 에러 신호를 사용자가 인식할 수 있는 시각적 또는 청각적 신호로 변환하는 단계를 더 포함할 수 있다.

본 실시예에 있어서, 디스플레이 상에 사용자가 정의하고자 하는 오차허용영역을 설정하도록 사용자로부터 입력 신호를 수신하는 단계를 더 포함할 수 있다.

본 실시예에 있어서, 오차허용영역 내에서 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하지 않고, 오차허용영역 바깥에서 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.

전술한 것 외의 다른 측면, 특징, 이점이 이하의 도면, 특허청구범위 및 발명의 상세한 설명으로부터 명확해질 것이다.

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 관한 리드 검사 시스템 및 방법에 의하면, 간단하고 저렴한 구성으로도 전자부품의 리드 불량을 정확하고 신속하게 검출할 수 있는 리드 검사 시스템 및 방법을 제공할 수 있다.

물론 이러한 효과에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 리드 검사 시스템을 개략적으로 나타내는 개념도이다.
도 2는 도 1의 E 부분을 확대하여 나타내는 부분 확대도이다.
도 3은 도 1의 발광부로부터 방출된 광의 경로에 광학부재가 설치된 모습을 개략적으로 나타내는 개념도이다.
도 4는 도 1의 리드 검사 시스템의 제어 구조를 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 5는 도 4의 영상 출력부에서 출력되는 디스플레이의 제1 예시를 나타내는 개념도이다.
도 6은 도 4의 영상 출력부에서 출력되는 디스플레이의 제2 예시를 나타내는 개념도이다
도 7은 도 4의 영상 출력부에서 출력되는 디스플레이의 제3 예시를 나타내는 개념도이다.
도 8은 도 4의 영상 출력부에서 출력되는 디스플레이의 제4 예시를 나타내는 개념도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 리드 검사 방법을 개략적으로 나타내는 순서도이다.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 본 발명의 효과 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다양한 형태로 구현될 수 있다.

이하의 실시예에서, 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다. 또한, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.

또한, 이하의 실시예에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

또한, 도면에서는 설명의 편의를 위하여 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다. 예컨대, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다.

또한, 본 발명의 실시예들은 기능적인 블록 구성들 및 다양한 처리 단계들로 나타내어질 수 있다. 이러한 기능 블록들은 특정 기능들을 실행하는 다양한 개수의 하드웨어 또는/및 소프트웨어 구성들로 구현될 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 실시예들은 하나 이상의 마이크로프로세서들의 제어 또는 다른 제어 장치들에 의해서 다양한 기능들을 실행할 수 있는, 메모리, 프로세싱, 로직(logic), 룩업 테이블(look-up table) 등과 같은 직접 회로 구성들을 채용할 수 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 도면을 참조하여 설명할 때 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 리드 검사 시스템을 개략적으로 나타내는 개념도이고, 도 2는 도 1의 리드 검사 시스템의 제어 구조를 개략적으로 나타낸 블록도이며, 도 3는 도 1의 E 부분을 확대하여 나타내는 부분 확대도이고, 도 4는 도 1의 발광부로부터 방출된 광의 경로에 광학부재가 설치된 모습을 개략적으로 나타내는 개념도이다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 관한 리드 검사 시스템(100)은 지지부(110)와, 발광부(120)와, 이동부(130)와, 촬영부(140)와, 영상 출력부(150)와, 영상 분석부(160)와, 알림부(170) 사용자 입력부(180)를 포함할 수 있다.

지지부(110)는 전자부품(EC)을 소정의 위치에 고정시켜 지지할 수 있다. 예컨대, 지지부(110)는 일반적인 표면 실장기에서 각종 반도체 디바이스나 전자부품들을 흡착하는 역할을 수행하는 마운트 헤드의 노즐과 유사한 구조일 수 있다. 즉, 바람직하게는 지지부(110)는 전자부품(EC)을 흡착하여 파지할 수 있으며, 또한 후술하겠으나 지지부(110)는 이동부(130)에 의해 전자부품(EC)을 흡착한 상태로 좌우상하로 이동할 수 있다.

발광부(120)는 전자부품(EC)의 복수개의 리드(LF)에 비스듬히 광(L)을 조사할 수 있다. 여기서, 리드(LF)은 전자부품(EC)과 외부 회로를 연결하는 전선(lead)의 역할과, 전자부품(EC)을 기판(미도시)에 고정시키는 프레임(frame)의 역할을 동시에 수행하는 구성요소로써, 전자부품(EC)을 사각형이라고 가정할 경우 도 1에 도시된 바와 같이 전자부품(EC)의 좌우변에 형성될 수 있고, 한편 도 5 내지 도 8에 도시된 바와 같이 전자부품의 각 변에 모두 형성될 수도 있다.

여기서, 도 1에 도시된 리드(LF)의 배치구조와 도 5 내지 도 8에 도시된 리드(LF)의 배치구조는 도면에서 확인할 수 있는 바와 같이 서로 다르나, 이러한 차이점은 서로 상충되는 의미가 아니라 전자부품(EC) 상에서 리드(LF)이 다양한 위치에 형성될 수 있음을 나타내는 일종의 예시로써 각 도면에 다르게 도시하였음을 밝혀둔다.

발광부(120)에 대해 더 구체적으로 설명하면, 발광부(120)는 전자부품(EC)의 리드(LF)을 향해 평행광을 방출하도록 콜리메이터(미도시)를 포함할 수도 있다. 도 1에 도시된 광(L)의 경로는 발광부(120)가 콜리메이터를 포함하는 경우를 나타내는 도면으로, 도면에서 확인할 수 있는 바와 같이 광(L)은 전자부품(EC)의 리드(LF)을 향해 직선적으로 조사될 수 있다.

한편, 도 4는 발광부(120)가 일반적인 산란광을 조사하는 광원일 경우를 나타내는 도면으로, 도 4를 참조하면 발광부(120)는 발광부(120)와 전자부품(EC) 사이에 설치되어 발광부(120)로부터 방출되는 광(L)을 리드(LF)으로 인도하는 광학부재(121)를 포함할 수 있다. 이러한 광학부재(121)는 반사율이 우수한 소재를 포함할 수 있으며, 바람직하게는 알루미늄과 같이 가볍고 설치가 편리한 소재를 사용할 수 있다.

이러한 광학부재(121)를 발광부(120)와 전자부품(EC) 사이에 설치할 경우, 발광부(120)에서 산란광이 방출되더라도 전자부품(EC)의 리드(LF) 측으로 조사되는 광(L)의 경로는 도 1과 도 3에 도시된 바와 같이 직선적으로 형성될 수 있다. 상세히, 발광부(120)로부터 리드(LF) 측으로 조사되는 광(L)이 직선적으로 형성된다는 것은 곧 리드(LF)의 들뜸 현상을 정밀하게 검출해낼 수 있음을 의미한다.

다음으로, 이동부(130)는 복수개의 리드(LF)의 일단부(도 3의 S1 참조)로부터 전자부품(EC)과 연결되는 리드(LF)의 타단부(도 3의 S2 참조)를 향하는 방향으로 광(L)이 이동하면서(도 3의 L3, L1 및 L2 순서로) 리드(LF)에 입사될 수 있도록, 지지부(110) 및 발광부(120) 중 하나 이상을 이동시킬 수 있다.

즉, 이동부(130)는 지지부(110) 및 발광부(120)와 연결되어, 제어 가능한 전기 모터(미도시)로부터 구동력을 제공받아 지지부(110) 및 발광부(120) 중 하나 이상을 지지부(110)와 발광부(120)가 서로 가까워지는 방향과 멀리 떨어지는 방향으로 이동시킬 수 있다.

상세히, 도면에 도시하지는 않았으나, 지지부(110)와 발광부(120)는 가이드 레일(미도시)과 같은 트랙(track)에 설치될 수 있으며, 가이드 레일을 따라 전기 모터에 의해 이동할 수 있다. 다만, 이동부(130)의 구체적인 형상이나 설치 위치는 도면이나 전술한 설명에 의해 한정되는 것은 아니며, 예컨대 전자부품(EC)의 리드(LF)을 향해 발광부(120)가 접근하는 기능을 수행할 수 있는 그 어떠한 구조로도 이동부(130)는 구성될 수 있다.

다음으로, 촬영부(140)는 지지부(110) 및 발광부(120) 중 하나 이상이 이동하는 동안 복수개의 리드(LF)을 촬영하여 영상 신호를 생성할 수 있다. 촬영부(140)는 일반적인 CCD 또는 CMOS 센서를 포함하는 카메라를 포함할 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 예컨대 적외선 카메라를 포함할 수 있다.

도 2를 참조하면, 리드 검사 시스템(100)은 영상 출력부(150)를 더 포함할 수 있다. 영상 출력부(150)는 촬영부(140)에서 생성된 영상 신호를 수신 및 변환하여, 영상 신호를 사용자가 시각적으로 인식할 수 있는 디스플레이(도 5 내지 도 8의 DP 참조)로 출력할 수 있다. 예컨대, 영상 출력부(150)는 CRT, LCD, PDP 및 OLED 등의 표시 장치일 수 있다.

또한, 리드 검사 시스템(100)은 영상 분석부(160)를 더 포함할 수 있다. 영상 분석부(160)는 촬영부(140)에서 촬영되어 영상 출력부(150)에서 출력되는 디스플레이(DP)를 분석하는 구성요소로써, 발광부(120)에서 복수개의 리드(LF)으로 조사되어 복수개의 리드(LF) 각각으로부터 반사되는 복수개의 반사광(도 5 내지 도 8의 R 참조)들 중 하나 이상의 반사광(R)이 다른 반사광(R)들보다 먼저 디스플레이(DP)에 표시될 경우, 에러 신호를 생성할 수 있다. 이러한 영상 분석부(160)의 구체적인 기능에 대해서는 이하 도 5 내지 도 8을 참조하여 더 자세하게 설명하기로 한다.

다음으로, 리드 검사 시스템(100)은 알림부(170)를 더 포함할 수 있다. 알림부(170)는 영상 분석부(160)로부터 에러 신호를 수신하여 에러 신호를 사용자가 인식할 수 있는 시각적 또는 청각적 신호로 변환할 수 있다.

여기서, 에러 신호를 시각적 신호로 변경할 수 있다는 것은 영상 출력부(150)의 디스플레이(DP)에 직접적으로 에러 신호가 발생하였음을 표시할 수 있음을 의미할 뿐만 아니라, 아울러 영상 출력부(150)와는 별도의 다른 표시 장치나 빛을 방출할 수 있는 전구, 다이오드 등 사용자에게 시각적으로 자극을 줄 수 있는 그 어떠한 구조로도 구성이 가능함을 의미한다. 또한, 알림부(170)는 상술한 바와 같은 시각적인 장치로 구현하지 않더라도 사용자가 소리로 에러 발생 여부를 파악할 수 있는 스피커와 같은 음향 시스템으로도 구현이 가능하다.

또한, 리드 검사 시스템(100)은 사용자 입력부(180)를 더 포함할 수 있다. 사용자 입력부(180)는 디스플레이(DP) 상에 사용자가 정의하고자 하는 오차허용영역(도 7 및 도 8의 TL 참조)을 설정하도록, 사용자로부터 입력 신호를 수신하여 영상 출력부로 전송할 수 있다. 이러한 오차허용영역(TL)에 대해서는 도 7 및 도 8을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.

상술한 바와 같은 리드 검사 시스템(100)에 의하면, 다수의 렌즈와 고가의 센서를 사용하지 않는 대신, 간단하고 저렴하게 리드 검사 시스템을 구성할 수 있으며, 아울러 작업 공정을 획기적으로 단축하여 신속하고도 정확하고 리드(LF)의 불량을 검출할 수 있다.

다음으로, 도 5 내지 도 8을 참조하여 실제 디스플레이(DP) 상에 표시되는 전자부품(EC)과 리드(LF), 광(L) 및 반사광(R)의 예시들을 통해 본 발명의 실시예들에 따른 리드 검사 시스템(100)의 작동에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.

도 5는 도 4의 영상 출력부에서 출력되는 디스플레이의 제1 예시를 나타내는 개념도이고, 도 6은 도 4의 영상 출력부에서 출력되는 디스플레이의 제2 예시를 나타내는 개념도이며, 도 7은 도 4의 영상 출력부에서 출력되는 디스플레이의 제3 예시를 나타내는 개념도이고, 도 8은 도 4의 영상 출력부에서 출력되는 디스플레이의 제4 예시를 나타내는 개념도이다.

도 5는 하나의 리드(도 3의 LF_c 참조)에서 반사광(R)이 검출되는 경우를 도시한다. 도 3 및 도 5를 참조하면, 전자부품(EC)으로 조사되는 광(L)은 리드(LF)의 일단부(S1)로부터 타단부(S2)를 향하는 방향, 즉 전자부품(EC)에서 멀리 떨어져 있는 위치에서 전자부품(EC)으로 접근하는 방향으로 이동하면서 조사될 수 있다(L3, L2 및 L1 순서로).

여기서, 광(L)은 발광부(120)로부터 리드(LF)을 향해 비스듬히 조사되므로, 리드(LF) 측으로 이동하며 조사되는 광(L3)은 아래로 들뜬 하나의 리드(LF_c)에 가장 먼저 조사될 수 있다. 이에 따라, 아래로 들뜬 하나의 리드(LF_c)에서는 광(L3)에 대한 반사광(R)이 발생하며, 반사광(R)은 영상 출력부(150)에서 출력되는 디스플레이(DP)에 가장 먼저 표시될 수 있다.

도면에 별도로 도시하지는 않았으나, 아래로 들뜬 하나의 리드(LF_c)에서 반사광(R)이 발생한 시점 이후, 광(L)은 리드(LF)의 타단부(S2) 측으로 계속해서 이동하며 조사될 수 있으며, 이러한 경우 광(L)은 정상 위치의 리드(LF_a)과 위로 들뜬 리드(LF_b)에 차례대로 조사되어(L1 및 L2의 순서대로) 반사광(R)을 발생시킬 수 있다.

즉, 아래로 들뜬 하나의 리드(LF_c)에서 발생하는 반사광(R)은, 발광부(120)에서 복수개의 리드(LF)으로 조사되어 복수개의 리드(LF) 각각으로부터 반사될 수 있는 모든 반사광(미도시)들 중 가장 먼저 발생되는 반사광(R)이다. 이렇게 하나의 반사광(R)이 다른 반사광(미도시)들 보다 먼저 디스플레이(DP)에 표시될 경우, 영상 분석부(160)는 이를 감지하여 에러 신호를 생성하여 이를 일림부(170)로 전달할 수 있으며, 알림부(170)는 에러 신호를 사용자가 인식할 수 있는 시각적 또는 청각적인 신호로 변환시킬 수 있다.

한편, 도 6은 하나의 리드(LF_b)을 제외한 나머지 모든 리드(LF_a 참조)에서 반사광(R)이 검출되는 경우를 도시한다. 즉, 도 6은 하나의 리드(LF_b)이 위로 들뜬 경우, 정상 위치의 다른 모든 리드(LF_a)에서 반사광(R)이 형성되는 모습을 나타내는 도면으로, 도 3에 도시된 바와 같이, 전자부품(EC)으로 조사되는 광(L)은 리드(LF)의 일단부(S1)로부터 타단부(S2)를 향하는 방향, 즉 전자부품(EC)에서 멀리 떨어져 있는 위치에서 전자부품(EC)으로 접근하는 방향으로 이동하면서 조사되므로(L3, L2 및 L1 순서로), 정상 위치에 있는 리드(LF_a)들에 먼저 광(L1)이 조사되어 반사광(R)이 발생하고(도 6 참조), 도면에 별도로 도시하지 않았으나 이후 위로 들뜬 하나의 리드(LF_b)에 순차적으로 광(L2)이 조사되어 반사광(미도시)이 발생할 수 있음을 의미한다.

정리하면, 도 5와 도 6에 도시된 바와 같이, 리드(LF)이 들뜬 방향에 따라 반사광(R)이 발생하는 시점이 달라질 수 있다. 만약 리드(LF)이 모두 정상 위치에 형성될 경우, 즉 위로나 아래로 들뜬 리드(LF)이 존재하지 않을 경우, 다시 말해 불량 리드(LF)이 존재하지 않을 경우 리드(LF)에서 발생하는 반사광(R)은 동시에 형성될 수 있으며, 이러한 경우 영상 분석부(160)는 에러 신호를 생성하지 않으므로 사용자는 전자부품(EC)에 불량이 없음을 인지할 수 있다.

다음으로, 도 7과 도 8은 사용자가 사용자 입력부(180)를 통해 디스플레이(DP) 상에 오차허용영역(TL)을 정의한 경우를 묘사하는 도면들이다.

디스플레이(DP) 상에 오차허용영역(TL)이 정의된 경우, 영상 분석부(160)는 복수개의 반사광(R)들 중 하나 이상의 반사광(R)이 다른 반사광(R)들보다 먼저 디스플레이(DP)에 표시될 경우에도, 만약 반사광(R)이 오차허용영역(TL) 내에서 감지되는 경우 에러 신호를 생성하지 않을 수 있다.

구체적으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 리드 검사 시스템(100)은 복수개의 반사광(R)들 중 하나 이상의 반사광(R)이 다른 반사광(R)들보다 먼저 디스플레이(DP)에 표시될 경우, 이를 리드(LF)에 들뜸 현상이 발생한 것으로 간주하여 에러 신호를 발생시키는 것으로 설정되어 있으나, 이에 한정되지 않고 사용자의 설정을 통해 소정 영역, 즉 오차허용영역(TL)만큼 리드(LF)의 들뜸 현상을 허용할 수 있음을 의미한다.

이러한 경우는 도 7에 자세히 묘사되어 있다. 도 7은 복수개의 리드(LF)들 중 세 개의 리드(LF_c)에서 먼저 반사광(R)이 발생한 경우를 나타낸다. 즉, 도 3에 도시된 바와 같이 복수개의 리드(LF)들 중 아래로 들뜬 리드(LF_c)에 광(L3)이 가장 먼저 조사되고, 이들 리드(LF_c)에서 먼저 반사광(R)이 발생할 수 있다.

만약 사용자에 의해 오차허용영역(TL)이 설정되지 않은 경우에는, 세 개의 아래로 들뜬 리드(LF_c)에서 반사광(R)이 먼저 발생할 경우 영상 분석부(160)에서는 에러 신호를 생성하나, 도 7에 도시된 바와 같이 디스플레이(DP) 상에 정의된 오차허용범위(TL) 내에 반사광(R)이 감지될 경우 영상 분석부(160)는 에러 신호를 생성하지 않는다.

이는 곧 오차허용영역(TL)의 바깥에서 복수개의 반사광(R)들 중 하나 이상의 반사광(R)이 다른 반사광(R)들보다 먼저 디스플레이(DP)에 표시될 경우 에러 신호를 생성하는 것을 의미하며, 이러한 경우는 도 8에 묘사되어 있다.

도 8은 도 7에 도시된 아래로 들뜬 세 개의 리드(LF_c)들 중 하나의 리드(LF_ca)에서 발생한 반사광(R_a)이 오차허용범위(TL)의 바깥에 표시되는 경우를 나타낸다. 이는, 아래로 들뜬 세 개의 리드(LF_c)들 중 하나의 리드(LF_ca)이 다른 두 개의 리드(LF_cb)들보다 더 아래로 들뜬 것을 의미하며, 이는 어느 특정 시점에 하나의 리드(LF_ca)이 광(L)에 노출된 시간이 가장 긴 것을 의미한다. 따라서, 하나의 리드(LF_ca)에서 반사되는 반사광(R_a)의 면적이 가장 크게 나타나며, 이는 하나의 리드(LF_ca)에서 발생하는 반사광(R_a)이 가장 먼저 오차허용범위(TL)를 벗어나는 것을 의미한다.

이렇게 리드(LF)들에서 발생할 수 있는 반사광(R)들 중 하나 이상의 반사광(R_a)이 오차허용영역(TL) 바깥에서 다른 반사광(R)들보다 먼저 디스플레이(DP)에 표시될 경우, 영상 분석부(160)는 에러 신호를 생성할 수 있으며, 생성된 에러 신호는 알림부(170)에서 사용자에게 시각적 또는 청각적으로 인식할 수 있도록 변환될 수 있다.

한편, 도면에 도시하지는 않았으나 도 7과 도 8에 도시된 바와 같이 세 개의 리드(LF)이 아래로 들뜬 경우뿐만 아니라, 하나 이상의 리드(LF)이 위로 들뜬 경우에도 영상 분석부(160)는 에러 신호를 생성할 수 있다. 이러한 경우에도, 다른 반사광(R)들보다 먼저 발생하는 하나 이상의 반사광(R)이 사용자에 설정된 오차허용범위(TL)의 이내에서 감지되는지 여부에 따라 에러 신호가 생성되는지 여부가 결정될 수 있다.

더 구체적으로, 리드(LF)이 위로 들떴는지, 아니면 반대로 아래로 들떴는지는 반사광(R)이 발생하는 시점만을 달리할 뿐, 모든 반사광(R)이 오차허용범위(TL) 이내에서 동시에 발생하는 경우를 제외한 나머지 경우에 에러 신호를 발생시킬 수 있다는 점에서 상술한 본 발명의 실시예들에 따른 리드 검사 장치(100)의 작용에 의해 동일한 효과를 얻을 수 있다.

전술한 본 발명의 일 실시예에 따른 리드 검사 장치(100)의 구성에 따른 작용 및 효과를 하기 도 9를 참조하여 방법적으로 설명하기로 한다.

도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 리드 검사 방법을 개략적으로 나타내는 순서도이다.

도 9를 참조하면, 사용자는 먼저 지지부(110)를 조작하여 전자부품(EC)을 흡착하여 소정의 위치에 고정시킬 수 있다(S901).

다음으로, 사용자는 지지부(110)와 발광부(120) 중 하나 이상을 이동부(130)를 구동하여 이동시킬 수 있으며, 이러한 구동을 통해 전자부품(EC)의 리드(LF)을 향하는 방향으로 이동시키며 비스듬히 광(L)을 조사할 수 있다(S902).

다음으로, 촬영부(140)는 전자부품(EC)의 리드(LF)을 촬영하여 영상 신호를 생성할 수 있다(S903).

그리고, 영상 출력부(150)는 촬영부(140)에서 생성된 영상신호를 변환하여 디스플레이(DP)로 출력할 수 있다. 사용자는 디스플레이(DP)를 확인하여 전자부품(EC)을 시각적으로 확인할 수 있다(S904).

다음으로, 사용자는 사용자 입력부(180)를 통해 디스플레이(DP)에 오차허용영역(TL)을 설정할 수 있다. 여기서, 오차허용영역(TL)은 영상 신호를 변환하여 디스플레이(DP)로 출력하는 단계(S905) 이후에 설정되는 것으로 묘사되어 있으나, 본 발명의 다른 실시예는 이에 한정되지 않는다.

즉, 오차허용영역(TL)을 설정하는 단계(S905)는 전자부품(EC)을 흡착하여 소정의 위치에 고정하는 단계(901) 이전에 사용자 입력부(180)에 기설정할 수도 있다. 또한, 오차허용영역(TL)을 설정하는 단계(S905)는 이 다음 단계인 복수개의 반사광(R)들 중 하나 이상의 반사광(R)이 다른 반사광(R)들보다 먼저 디스플레이(DP)에 출력하는지 여부를 확인하는 단계(S906) 이전 그 어떠한 시점에도 수행될 수 있다.

다만, 설명의 편의를 위해 이하에서는 오차허용영역(TL)을 설정하는 단계(S905)는 영상 신호를 변환하여 디스플레이(DP)로 출력하는 단계(S904) 이후에 수행되는 것으로 설명하기로 한다.

전술한 바와 같이, 오차허용영역(TL)을 설정하는 단계(S905) 이후, 영상 분석부(160)는 복수개의 반사광(R)들 중 하나 이상의 반사광(R)이 다른 반사광(R)들보다 먼저 디스플레이(DP)에 출력되는지 여부를 확인할 수 있다(S906).

만약 디스플레이(DP)에 하나 이상의 반사광(R)이 다른 반사광(R)들보다 먼저 표시될 경우, 영상 분석부(160)는 먼저 디스플레이(DP)에 표시된 하나 이상의 반사광(R)이 오차허용영역(TL) 이내에 위치하는지 여부를 확인하여(S907), 하나 이상의 반사광(R)이 오차허용영역(TL) 바깥에서 감지되는 경우 영상 분석부(160)는 에러 신호를 생성하여(S908) 이를 알림부(170)에 전달할 수 있으며, 에러 신호를 수신한 알림부(170)는 리드(LF)에 불량이 있음을 사용자에게 알릴 수 있다.

한편, 만약 디스플레이(DP)에 하나 이상의 반사광(R)이 다른 반사광(R)들보다 먼저 표시되어, 영상 분석부(160)에서 먼저 디스플레이(DP)에 표시된 하나 이상의 반사광(R)이 오차허용영역(TL) 이내에 위치하는지 여부를 확인하여(S907), 먼저 디스플레이(DP)에 표시된 하나 이상의 반사광(R)이 오차허용영역(TL) 이내에 위치하는 것으로 확인될 경우에는 영상 분석부(160)는 에러 신호를 생성하지 않는다. 여기서, 에러 신호를 생성하지 않는 것은 곧 리드(LF)이 모두 정상 위치에 형성된 것을 의미하고, 다시 말해 전자부품(EC)에 불량이 없음을 의미한다.

본 발명의 일 측면들은 첨부된 도면에 도시된 실시예들을 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.

100: 리드 검사 시스템 140: 촬영부
110: 지지부 150: 영상 출력부
120: 발광부 160: 영상 분석부
121: 광학부재 170: 알림부
130: 이동부 180: 사용자 입력부

Claims

전자부품을 지지하는 지지부;
상기 전자부품의 복수개의 리드에 비스듬히 광을 조사하는 발광부;
상기 복수개의 리드의 일단부로부터 상기 전자부품과 연결되는 상기 리드의 타단부를 향하는 방향으로 상기 광이 이동하여 입사될 수 있도록 상기 지지부 및 상기 발광부 중 하나 이상을 이동시키는 이동부;
상기 지지부 및 상기 발광부 중 하나 이상이 이동하는 동안 상기 전자부품의 상기 복수개의 리드를 촬영하여 영상 신호를 생성하는 촬영부;
상기 촬영부에서 생성된 상기 영상 신호를 수신 및 변환하여, 상기 영상 신호를 사용자가 시각적으로 인식할 수 있는 디스플레이로 출력하는 영상 출력부; 및
상기 발광부에서 상기 복수개의 리드로 조사되어 상기 복수개의 리드 각각으로부터 반사되는 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 상기 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하는 영상 분석부를 포함하는, 리드 검사 시스템.
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제1 항에 있어서,
상기 디스플레이 상에 사용자가 정의하고자 하는 오차허용영역을 설정하도록, 상기 사용자로부터 입력 신호를 수신하여 상기 영상 출력부로 전송하는 사용자 입력부를 더 포함하며,
상기 영상 분석부는,
상기 오차허용영역 내에서 상기 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 상기 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하지 않으며,
상기 오차허용영역 바깥에서 상기 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 상기 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하는, 리드 검사 시스템.
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전자부품을 흡착하여 소정의 위치에 고정하는 단계;
상기 전자부품이 이루는 가장 넓은 일 평면에 대해 비스듬한 방향으로 광을 조사하되, 상기 전자부품의 복수개의 리드의 일단부로부터 상기 전자부품과 연결되는 상기 복수개의 리드의 타단부를 향하는 방향으로 상기 광이 이동하는 단계;
상기 광이 이동하는 동안 상기 복수개의 리드를 촬영하여 영상 신호를 생성하는 단계;
상기 영상 신호를 변환하여 상기 영상 신호를 사용자가 시각적으로 인식할 수 있는 디스플레이로 출력하는 단계; 및
상기 복수개의 리드 각각으로부터 반사되는 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 상기 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하는, 리드 검사 방법.
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제8 항에 있어서,
상기 디스플레이 상에 사용자가 정의하고자 하는 오차허용영역을 설정하도록 상기 사용자로부터 입력 신호를 수신하는 단계를 더 포함하며,
상기 오차허용영역 내에서 상기 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 상기 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하지 않고,
상기 오차허용영역 바깥에서 상기 복수개의 반사광들 중 하나 이상의 반사광이 다른 반사광들보다 먼저 상기 디스플레이에 표시될 경우 에러 신호를 생성하는 단계를 더 포함하는, 리드 검사 방법.
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