KR102495593B1 - 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템 - Google Patents
감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102495593B1 KR102495593B1 KR1020210041369A KR20210041369A KR102495593B1 KR 102495593 B1 KR102495593 B1 KR 102495593B1 KR 1020210041369 A KR1020210041369 A KR 1020210041369A KR 20210041369 A KR20210041369 A KR 20210041369A KR 102495593 B1 KR102495593 B1 KR 102495593B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- gamma
- gamma ray
- ray detection
- ray detector
- unit
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/095—Gamma-ray resonance absorption, e.g. using the Mössbauer effect
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/05—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using neutrons
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/09—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being neutrons
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20008—Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
- G01N23/20025—Sample holders or supports therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
- G01N2223/04—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission and measuring absorption
- G01N2223/043—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission and measuring absorption gamma ray resonance absorption (Mossbauer effect)
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1013—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation gamma
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/106—Different kinds of radiation or particles neutrons
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
본 발명의 비파괴 검사 시스템은, 중성자를 발생시키는 중성자 발생장치, 상기 중성자 발생장치와 대향되도록 배치되고, 상기 중성자 발생장치로부터 발생되는 중성자가 조사되는 피검사체가 배치되는 공간이 마련되는 피검사체 지지부, 및 상기 피검사체로부터 발산되는 감마선을 흡수하도록 이루어지는 2 이상의 감마선 검출부를 포함하고, 상기 감마선 검출부는 서로 이격되어 상기 피검사체 지지부를 둘러 싸는 방향으로 배치된다.
Description
본 발명은 중성자 방사화 분석방법을 이용하여 폭발물, 마약 등 위험물의 검출 및 그 위치를 탐지할 수 있는 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템에 관한 것이다.
비파괴 검사란 제품을 파괴하지 않고도 제품 내부의 성질을 외부에서 검사하는 것을 의미한다.
비파괴 검사 시스템이란 비파괴 검사를 구현하는 장비들의 집합을 가리킨다.
비파괴 검사와 비파괴 검사 시스템은 의료, 보안, 검역 등 다양한 분야에서 활용되고 있다.
비파괴 검사에서 형체를 확인할 수 있는 총, 칼, 검류 등은 육안 판별 혹은 자동 판별 기술 등을 활용하여 검출이 가능하다.
그러나, 폭발물 등의 위험물이나 마약 등의 미허가 품목은 형체를 특정하기 어려운 분말 및 액체 등의 물질로 이루어져 있으며, 폭발물이나 마약 등은 그와 유사한 물질로 이루어진 화물과 함께 적재될 경우(예: 밀가루포대 속 폭발물), 폭발물이나 마약 등의 분간이 어려운 단점이 있다.
또한, 고정된 위치를 갖는 감마선 검출기를 사용하는 경우, 피검사체로부터 발산되는 감마선을 흡수 및 감지하는 과정에서 감마선의 이탈이나, 불충분한 감마선의 유입으로 인하여 피검사체를 정확하게 파악하지 못하는 단점이 있다.
본 발명은 중성자 방사화 분석방법을 이용한 폭발물·마약의 검출 및 2, 3차원 위치 탐지가 가능한 구조의 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템을 제공하는데 첫번째 목적이 있다.
본 발명은 이동이 용이한 구조의 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템을 제공하는데 두번째 목적이 있다.
본 발명은 중성자를 이용하여 피검사체만을 방사화시킴에 따라 발생하는 감마선을 계측하여 위험물을 용이하게 검출하며 위험물을 정확히 탐지할 수 있는 구조의 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템을 제공하는데 세번째 목적이 있다.
본 발명은 피검사체 시료를 중심으로 다양한 위치에서 감마선을 검지하여, 시료의 관심영역에 대하여 정확한 탐지가 가능한 구조의 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템을 제공하는데 네번째 목적이 있다.
본 발명은 피검사체 지지부가 전후, 승강, 회전 가능하게 형성되어, 효율성을 높일 수 있는 구조의 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템을 제공하는데 다섯번째 목적이 있다.
이와 같은 본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 다른 일 실시예에 따르는 감마선 검출기는, 피검사체로부터 발생되는 감마선을 흡수하여, 감마선의 발생위치를 파악하는 감마선 검출기에 있어서, 감마선을 흡수 가능하게 이루어지는 복수의 감마선 검출 모듈, 상기 감마선 검출 모듈에서 흡수되는 감마선에 대한 신호를 전달받아, 상기 감마선이 방출되는 위치를 산출하는 제어부, 및 상기 감마선 검출 모듈을 둘러싸도록 배치되고, 상기 감마선 검출 모듈에 흡수되지 않은 감마선이 흡수되도록 이루어지는 감마선 차폐부를 포함하고, 상기 복수의 감마선 검출 모듈은, 상기 감마선 검출기의 표면에 노출되도록 서로 이격되어 배치되거나, 상기 감마선 검출기의 표면으로부터 상기 감마선 검출기의 깊이 방향으로 서로 이격되어 배치된다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 복수의 감마선 검출 모듈은, 서로 일직선을 이루도록 배치될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 복수의 감마선 검출 모듈은, 상기 감마선 검출기의 중심점을 둘러싸며 배치될 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따르는 비파괴 검사 시스템은, 중성자를 발생시키는 중성자 발생장치, 상기 중성자 발생장치와 대향되도록 배치되고, 상기 중성자 발생장치로부터 발생되는 중성자가 조사되는 피검사체가 배치되는 공간이 마련되는 피검사체 지지부, 및 상기 피검사체로부터 발산되는 감마선을 흡수하도록 이루어지는 2 이상의 감마선 검출부를 포함하고, 상기 감마선 검출부는 서로 이격되어 상기 피검사체 지지부를 둘러 싸는 방향으로 배치된다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 피검사체 지지부는, 상기 중성자 발생장치와의 이격 거리가 가까워지거나 멀어지도록 이동 가능하게 형성될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 피검사체 지지부는, 상기 피검사체가 배치가능하게 형성되고, 회전 가능하게 이루어지는 피검사체 플레이트, 상기 피검사체 플레이트를 상하 방향으로 이동 가능하게 형성되는 승강부, 및 상기 피검사체 플레이트를 전후 방향으로 이동 가능하게 형성되는 전후 이동부를 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 중성자 발생장치는, 전류가 통과하는 전류관, 상기 전류관으로부터 발생되는 전자와 충돌하여 중성자를 발생시키는 중성자 발생부, 및 상기 중성자 발생부로부터 발생되는 중성자가 상기 피검사체에 집중되도록 조사되는 각도를 조절가능한 슬릿이 형성되는 콜리메이터를 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 중성자 발생장치는, 상기 중성자 발생부를 둘러싸고 형성되는 중성자 차폐부를 더 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 감마선 검출부는, 상기 피검사체로부터 발생되는 감마선을 검출 가능하도록 이루어지는 감마선 검출 모듈을 포함하는 감마선 검출기, 및 상기 감마선 검출기가 상기 피검사체 지지부과 이루는 거리 및 각도를 조절 가능하도록 상기 감마선 검출기를 3축 방향으로 이동 가능하게 형성되는 감마선 검출기 이동부를 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 감마선 검출 모듈은, 상기 감마선 검출 모듈의 외부에 배치되는 전극을 더 포함하고, 상기 전극은, 상기 감마선 검출 모듈 내부에서 흡수되는 감마선의 위치를 파악하기 위하여, 상기 감마선 검출 모듈 내부에서 흡수되는 감마선으로부터 상기 전극까지 신호가 도달되는 시간을 측정하도록 이루어질 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 감마선 검출 모듈에서 흡수되는 신호를 전달받는 제어부를 더 포함하고, 상기 감마선 검출 모듈은, 하나의 감마선 검출 모듈 내에서 감마선이 진행하며 서로 다른 위치에서 2 이상의 흡수가 이루어지는 경우, 상기 제어부는 각각의 위치에서 흡수된 감마선의 에너지를 파악하여, 감마선이 발생된 예상 영역을 파악 가능하게 이루어질 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 감마선 검출기는, 상기 감마선 검출 모듈을 둘러싸고 형성되는 감마선 차폐부를 포함하고, 상기 감마선 차폐부는, 납(Pb)을 포함하는 제1 층, 상기 제1 층을 둘러싸며, 카드뮴(Cd)을 포함하는 제2 층, 및 상기 제2 층을 둘러싸며, HDPE(High Density Polyethylen)을 포함하는 제3 층을 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 제3 층은 상기 제1 층보다 두껍게 형성되고, 상기 제2 층은 얇은 박형(foil)을 이룰 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 제1 층의 두께는 4cm 이상이고, 상기 제3 층의 두께는 5cm 이상일 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 다른 일 실시예에 따르는 비파괴 검사 시스템은, 중성자를 발생시키는 중성자 발생장치, 상기 중성자 발생장치와 대향되도록 배치되고, 상기 중성자 발생장치로부터 발생되는 중성자가 조사되는 피검사체가 배치되는 공간이 마련되는 피검사체 지지부, 및 상기 피검사체로부터 발산되는 감마선을 흡수하도록 이루어지는 2 이상의 감마선 검출부를 포함하고, 상기 2 이상의 감마선 검출부는, 상기 중성자 발생장치 및 상기 피검사체를 연결하는 선을 중심으로 서로 반대편에 배치될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 감마선 검출부는, 상기 피검사체로부터 발생되는 감마선을 검출 가능하도록 이루어지는 감마선 검출 모듈을 포함하는 감마선 검출기, 및 상기 감마선 검출기가 상기 피검사체 지지부과 이루는 거리 및 각도를 조절 가능하도록 상기 감마선 검출기를 3축 방향으로 이동 가능하게 형성되는 감마선 검출기 이동부를 포함하고, 상기 감마선 검출기는 2 이상의 감마선 검출 모듈을 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 감마선 검출 모듈에서 흡수되는 신호를 전달받는 제어부를 더 포함하고, 상기 제어부는, 상기 하나의 감마선 검출기에 포함되는 상기 2 이상의 감마선 검출 모듈 중 어느 하나의 감마선 검출 모듈에서 감마선이 흡수된 이후에, 다른 하나의 감마선 검출 모듈에서 동일한 감마선이 흡수되는 경우, 흡수된 시간 및 흡수된 위치에 근거하여 감마선이 발생된 예상 영역을 파악 가능하게 이루어질 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 감마선 검출기 이동부는, 상기 감마선 검출기가 배치되고, 상기 감마선 검출기를 회전 가능하게 형성되는 베이스 플레이트, 상기 베이스 플레이트를 상하로 이동시키도록 형성되는 상하 이동부, 상기 상하 이동부를 상기 피검사체와 가깝거나 멀게 이동시키도록 형성되는 평면 이동부를 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 평면 이동부는, 상기 중성자 발생장치 및 상기 피검사체를 연결하는 선을 중심으로 서로 반대편에 배치되는 2 이상의 감마선 검출부가 서로 가까워지거나 멀어지는 방향으로 이동 가능하게 이루어질 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 복수의 감마선 검출기는 상기 피검사체를 둘러싸도록 배치되고, 상기 복수의 감마선 검출기 각각은, 상기 피검사체를 둘러싼 지점에서 이동 가능한 영역이 나뉘고, 해당 영역에서 상기 평면 이동부에 의해 이동 가능하도록 이루어질 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예에 따르면, 상기 제어부에 의해 수신된 신호를 이미지화하여 피검사체에 배치된 물질을 파악하는 컴프턴 이미지 변환부를 더 포함하고, 상기 컴프턴 이미지 변환부는, 상기 복수의 감마선 검출기에서 수신된 신호를 근거로 피검사체 및 피검사체 내부에 포함된 감마선 발생지점을 이미지화할 수 있다.
본 발명에 따른 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템의 효과에 대해 설명하면 다음과 같다.
기존의 폭발물, 마약에 대한 비파괴 검사 장비에 비해 검사효율을 높이고, 분석률을 높이며, 비파괴 검사의 측정 오차율을 줄임으로써, 위험물의 정확한 탐지가 가능하다.
각종 화물의 형체를 특정하기 어려운 위험물질, 예를 들면 폭발물, 마약, 방사선 물질을 용이하게 검출할 수 있다.
차폐부는 납 등의 방사화가 어려운 재질로 형성됨으로써, 배경 감마선을 차폐시켜, 노이즈를 제거할 수 있다.
복수의 감마선 검출 모듈이 서로 페어링되어, 중성자가 피검사체를 통과함으로 발생하는 감마선의 위치, 각도 등에 관한 정보를 공유함으로써, 감마선의 발생 시점의 차이 등을 분석하여, 위험물의 위치를 정확히 파악할 수 있다.
복수의 감마선 검출기는 피검사체를 향해 다양한 영역에서 이동 가능하게 지지됨으로써, 위험물에 대한 관심 영역으로 접근이 용이할 뿐만 아니라, 다양한 위치에서 감마선을 검출함으로써, 검출 효율이나 정확성을 높일 수 있다.
도 1은 중성자 방사화 분석방법을 이용한 위험물질 탐지 기술에 대한 개념도이다.
도 2는 도 1에 따라 디텍팅된 자료를 근거로 원소별 감마선 에너지 그래프를 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템을 개념적으로 표현한 개념도이다.
도 4는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템을 표현한 개념도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 감마선 검출기를 표현한 개념도이다.
도 6은 도 5에 도시된 감마선 검출기에 감마선이 흡수되는 과정을 설명한 개념도이다.
도 7 및 도 8은 복수의 감마선 검출 모듈의 배치된 모습 및 복수의 감마선 검출 모듈에 감마선이 흡수되는 것을 설명하기 위한 개념도이다.
도 9는 도 7 및 도 8에 따른 복수의 감마선 검출 모듈로부터 흡수된 감마선들의 감마선 스펙트럼을 나타낸 예시도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템를 나타낸 사시도이다.
도 11은 도 10의 비파괴 검사 시스템을 위에서 바라본 평면도이다.
도 12는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템을 위에서 바라본 평면도이다.
도 13은 도 10에 도시된 피검사체 지지부를 도시한 사시도이다.
도 14는 도 10에 도시된 감마선 검출기를 도시한 사시도이다.
도 15는 컴프턴 이미지 변환부에 의하여 생성된 이미지가 표시된 것을 도시한 개념도이다.
도 2는 도 1에 따라 디텍팅된 자료를 근거로 원소별 감마선 에너지 그래프를 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템을 개념적으로 표현한 개념도이다.
도 4는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템을 표현한 개념도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 감마선 검출기를 표현한 개념도이다.
도 6은 도 5에 도시된 감마선 검출기에 감마선이 흡수되는 과정을 설명한 개념도이다.
도 7 및 도 8은 복수의 감마선 검출 모듈의 배치된 모습 및 복수의 감마선 검출 모듈에 감마선이 흡수되는 것을 설명하기 위한 개념도이다.
도 9는 도 7 및 도 8에 따른 복수의 감마선 검출 모듈로부터 흡수된 감마선들의 감마선 스펙트럼을 나타낸 예시도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템를 나타낸 사시도이다.
도 11은 도 10의 비파괴 검사 시스템을 위에서 바라본 평면도이다.
도 12는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템을 위에서 바라본 평면도이다.
도 13은 도 10에 도시된 피검사체 지지부를 도시한 사시도이다.
도 14는 도 10에 도시된 감마선 검출기를 도시한 사시도이다.
도 15는 컴프턴 이미지 변환부에 의하여 생성된 이미지가 표시된 것을 도시한 개념도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에 개시된 실시 예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 유사한 구성요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소에 대한 접미사 "모듈" 및 "부"는 명세서 작성의 용이함만이 고려되어 부여되거나 혼용되는 것으로서, 그 자체로 서로 구별되는 의미 또는 역할을 갖는 것은 아니다. 또한, 본 명세서에 개시된 실시 예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서에 개시된 실시 예의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 첨부된 도면은 본 명세서에 개시된 실시 예를 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것일 뿐, 첨부된 도면에 의해 본 명세서에 개시된 기술적 사상이 제한되지 않으며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.
단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
본 출원에서, "포함한다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 중성자 방사화 분석방법을 이용한 위험물질 탐지 기술에 대한 개념도이다. 도 2는 도 1에 따라 디텍팅된 자료를 근거로 원소별 감마선 에너지 그래프를 나타낸 것이다.
도 1을 참조하면, 전류관(1)을 통과하면서 가속된 전자선(3)이 중성자 발생체(5)에 입사된다. 그리고, 전자선(3)이 중성자 발생체(5)에 입사됨에 따라, 중성자 발생체(5)로부터 중성자(n)가 발생될 수 있다.
발생된 중성자(n)는 피검사체(6)에 조사된다. 중성자가 조사된 피검사체로부터 감마선(7)이 발생될 수 있다. 피검사체로부터 나오는 감마선(7)은 디텍터(9)에 흡수될 수 있다.
도 2를 참조하면, 디텍터에 흡수된 감마선을 근거로 C(탄소), N(질소), O(산소) 등 원소별 감마선 에너지에 대한 정보를 취득할 수 있다. 이때, 얻어진 원소별 감마선 에너지를 근거로 해당 물질에 대해서 파악할 수 있다. 이를 통해, 마약이나 폭발물 등 위험 대상체에 대하여 비파괴 검사가 이루어질 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템(1000)을 개념적으로 표현한 개념도이다. 도 4는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템(1000)을 표현한 개념도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템(1000)은, 중성자 발생장치(100), 피검사체(290) 지지부(200) 및 감마선 검출부(300)를 포함할 수 있다.
중성자 발생장치(100)는 상술한 바와 같이 중성자를 발생시켜 피검사체(290)에 중성자가 조사되도록 할 수 있다. 한편, 중성자 발생장치(100)는 중성자뿐만 아니라, 방사선도 조사될 수도 있다.
중성자 발생장치(100)에서 발생되는 중성자 및 방사선을 통해 피검사체(290)의 외형 및 피검사체(290)의 내부에 있는 검사 대상체에 대해서 조사할 수 있다.
피검사체(290) 지지부(200)는 중성자 발생장치(100)와 대향되도록 배치된다. 피검사체(290) 지지부(200)는 상기 중성자 발생장치(100)로부터 발생되는 중성자가 조사되는 피검사체(290)가 배치되는 공간이 마련될 수 있다. 이에 대해서는 자세하게 후술한다.
감마선 검출부(300)는 피검사체(290)로부터 발산되는 감마선을 흡수하도록 이루어진다. 감마선 검출부(300)는 2 이상으로 배치될 수 있다. 이때, 감마선 검출부(300)는 서로 이격되어 피검사체(290) 지지부(200) 또는 상기 피검사체(290)를 둘러 싸는 방향으로 배치될 수 있다.
구체적으로, 도 3을 참조하면, 중성자 발생장치(100)의 중성자 발생부(120)로부터 중성자가 피검사체(290)를 향해 조사될 수 있다. 이때, 중성자 발생부(120)를 둘러싸고, 중성자가 다른 방향으로 빠져나가는 것을 저감시키도록 형성되는 중성자 차폐부(140)가 배치될 수 있다.
중성자가 조사된 피검사체(290)에서는 감마선이 발생될 수 있다. 감마선은 감마선 검출기(400)의 감마선 검출 모듈(410)에 의해 흡수될 수 있다.
한편, 피검사체(290)를 기준으로 일측에 배치된 감마선 검출기(400)와 타측에 배치된 감마선 검출기(400) 각각은 이동을 통하여 일정 영역 내에서 이동될 수 있다.
구체적으로, 도면을 기준으로 피검사체(290)의 좌측에 배치된 감마선 검출기(400)는 제1 영역(A1)에서 이동될 수 있다. 그리고, 피검사체(290)의 우측에 배치된 감마선 검출기(400)는 제2 영역(A2)에서 이동될 수 있다. 이와 같이 피검사체(290)를 둘러싼 감마선 검출기(400)가 이동됨으로써, 피검사체(290)로부터 나오는 감마선을 효과적으로 흡수할 수 있는 지점을 찾을 수 있다.
또한, 하나의 피검사체(290)로부터 나오는 감마선을 서로 다른 위치에서 흡수함에 따라, 감마선이 발생되는 지점에 대한 정보를 비교적 정확하게 파악할 수 있다.
한편, 본 발명의 다른 일 실시예에 따르는 비파괴 검사 시스템(1000)은 3 이상의 감마선 검출기(400, 또는 감마선 검출부(300))를 포함할 수 있다.
구체적으로, 도 4를 참조하면, 4개의 감마선 검출기(400)가 피검사체(290)를 둘러싸고 배치될 수 있다. 그리고, 4개의 감마선 검출기(400, 또는 감마선 검출부(300))는 서로 다른 영역에 배치될 수 있다.
피검사체(290)의 왼쪽 상단에 배치된 감마선 검출기(400)부터 시계 방향으로, 제1 영역(A1), 제2 영역(A2), 제3 영역(A3), 제4 영역(A4)으로 구획될 수 있다. 각 영역에 배치된 감마선 검출기(400)는 해당 영역에서 피검사체(290)를 대향하는 방향으로 자유롭게 이동 가능하다.
피검사체(290)에서는 사방으로 감마선이 방출될 수 있다. 이에 따라, 3 이상의 감마선 검출기(400)가 피검사체(290)를 둘러싸고 피검사체(290)로부터 발생되는 감마선을 효과적으로 흡수할 수 있다.
한편, 비파괴 검사 시스템(1000)은 감마선 검출 모듈(410)에서 흡수되는 신호를 전달받는 제어부를 더 포함할 수 있다. 제어부는 감마선 검출기(400)에서 흡수되는 감마선의 신호를 파악할 수 있다. 이때, 2 이상의 감마선 검출기(400)에서 각각 흡수되는 감마선에 대하여 제어부는 2 이상의 신호를 조합하여 해당 감마선이 피검사체(290)의 어느 부분에서 발생되었는지를 파악할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 감마선 검출기를 표현한 개념도이다. 도 6은 도 5에 도시된 감마선 검출기에 감마선이 흡수되는 과정을 설명한 개념도이다. 도 7 및 도 8은 복수의 감마선 검출 모듈의 배치된 모습 및 복수의 감마선 검출 모듈에 감마선이 흡수되는 것을 설명하기 위한 개념도이다. 도 9는 도 7 및 도 8에 따른 복수의 감마선 검출 모듈로부터 흡수된 감마선들의 감마선 스펙트럼을 나타낸 예시도이다.
도 5를 참조하면, 감마선 검출기(400)는 감마선을 흡수하는 감마선 검출 모듈(410)과, 감마선 검출 모듈(410)을 둘러싸고 배치되는 감마선 차폐부(420)를 포함한다. 감마선 검출기(400)는 피검사체(290)로부터 발생되는 감마선을 흡수하여, 감마선의 발생위치를 파악할 수 있다.
또한, 감마선 검출기(400)는 감마선 검출 모듈(410)에서 흡수되는 감마선에 대한 신호를 전달받아 감마선이 방출되는 위치를 산출하는 제어부를 더 포함할 수 있다.
감마선 검출 모듈(410)은 감마선을 흡수하도록 형성된다. 이때, 감마선 검출 모듈(410)은, 하나의 감마선 검출 모듈(410) 내에서 감마선이 진행하며 서로 다른 위치에서 2 이상의 흡수가 이루어지는 경우, 제어부는 각각의 위치에서 흡수된 감마선의 에너지를 파악하여, 감마선이 발생된 예상 영역을 파악 가능하게 이루어질 수 있다.
구체적으로, 도 6을 참조하여 설명하면 다음과 같다. 먼저 도 6의 (a)를 참조하면, 피검사체(290)로부터 발산된 감마선이 감마선 검출 모듈(410)로 인입된다.
피검사체(290)에서 발산된 감마선 중 어느 하나인 제1 감마선(7a)이 흡수 영역(408)에서 제1 흡수(P11)될 수 있다. 그리고, 피검사체(290)에서 발산된 감마선 중 어느 하나인 제2 감마선(7b)도 흡수 영역(408)에서 제1 흡수(P21)될 수 있다. 이 경우에는, 제1 감마선(7a) 및 제2 감마선(7b) 모두 감마선 검출 모듈(410)에서 한번씩만 흡수된 경우이다.
이때, 감마선 검출 모듈(410)의 배면과 상면에 각각 전극부(430)가 형성될 수 있다. 구체적으로, 감마선 검출 모듈(410)의 배면에 제1 전극부(431)가 배치되고, 감마선 검출 모듈(410)의 상면에 제2 전극부(432)가 배치될 수 있다.
제어부는 감마선이 흡수된 지점에서부터 감마선 검출 모듈(410)의 배면 및 감마선 검출 모듈(410)의 상면까지의 도달 시간을 통해, 감마선이 감마선 검출 모듈(410)의 어느 정도 위치에서 흡수되었는지 파악할 수 있다.
구체적으로, 도 6의 (a)를 참조하면, 제어부는 제1 전극부(431)는 제1 감마선(7a)의 흡수된 때로부터 제1 전극부(431)에 도달되는 시간을 계산하여 제1 감마선(7a)의 제1 흡수 위치와 제1 전극부(431) 사이의 거리(d1)이 측정할 수 있다.
그리고, 제어부는 제1 감마선(7a)이 흡수된 때로부터 제2 전극부(432)에 흡수된 신호가 도달되는 시간에 의하여 제1 감마선(7a)의 제1 흡수 위치와 제2 전극부(432) 사이의 거리(d2)를 측정할 수 있다.
상술한 바와 같이, 감마선 검출 모듈(410)을 둘러싼 전극부(430)를 통하여, 감마선이 흡수된 위치에서 전극부(430)에 신호가 도달되는 때까지의 시간에 근거하여 감마선 검출 모듈(410)의 내부 어느 위치에서 감마선이 흡수되었는지를 파악할 수 있다.
도 6의 (b)를 참조하면, 제1 감마선(7a)은 감마선 검출 모듈(410)의 내부에서 제1 흡수(P11)를 하고, 계속해서 진행될 수 있다. 그리고, 제1 감마선(7a)은 감마선 검출 모듈(410)의 내부에서 제2 흡수(P12)될 수 있다.
그리고, 감마선 검출 모듈(410)로 유입된 제2 감마선(7b)은 제1 흡수(P21)가 된 후에 산란되어, 제2 흡수(P22)될 수 있다.
도 6의 (c)를 참조하면, 제1 감마선(7a)의 제1 흡수의 위치, 제1 흡수에서 흡수된 에너지의 양 및 제1 감마선(7a)의 제2 흡수의 위치, 제2 흡수에서 흡수된 에너지의 양을 고려하여, 제1 흡수의 위치에서 감마선이 발생될 수 있는 제1 감마선(7a)이 어디서부터 왔는지 제1 예상 범위(P1)을 산정할 수 있다.
구체적으로, 제1 감마선(7a)의 제1 흡수(P11) 위치에서부터 각도(θ1)를 산정하여, 제1 감마선(7a)의 제1 예상 범위(P1)를 파악할 수 있다.
그리고, 도 6의 (c)를 계속해서 참조하면, 제2 감마선(7b)의 제1 흡수(P21)의 위치, 제1 흡수(P21)에서 흡수된 에너지의 양 및 제2 감마선(7b)의 제2 흡수(P22)의 위치, 제2 흡수(P22)에서 흡수된 에너지의 양을 고려하여, 제2 감마선(7b)의 제1 흡수(P21) 위치에서부터 각도(θ2)를 산정하여, 감마선이 발생될 수 있는 제2 감마선(7b)이 어디서부터 왔는지 제2 예상 범위(P2)을 산정할 수 있다.
이때, 제1 예상 범위(P1) 및 제2 예상 범위(P2)가 공통으로 겹치는 영역에 피검사체(290)가 배치되었다고 판단할 수 있다. 그리고, 제1 감마선(7a) 및 제2 감마선(7b)의 예상 범위를 결정함에 있어서 감마선 이미징 알고리즘, 예를 들어, 컴프턴 이미징 알고리즘이 사용될 수 있다.
나아가, 2개의 감마선이 아니라, 이와 같이 감지되는 감마선의 수가 늘어남에 따라, 각각의 예상 범위를 설정할 수 있다. 이러한 예상 범위가 서로 공통되는 영역에 목적하는 피검사체(290)가 배치된 것을 알 수 있다.
이에 따라, 감마선의 2 이상의 흡수가 늘어날수록 피검사체(290)의 위치를 보다 정확하게 측정할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 감마선 검출기(400)는, 감마선을 흡수 가능하게 이루어지는 복수의 감마선 검출 모듈(410)을 포함할 수 있다.
그리고, 복수의 감마선 검출 모듈(410)은, 감마선 검출기(400)의 표면에 노출되도록 서로 이격되어 배치되거나, 감마선 검출기(400)의 표면으로부터 상기 감마선 검출기(400)의 깊이 방향으로 서로 이격되어 배치될 수 있다.
그리고, 제어부는 감마선 검출기(400)에 포함되는 2 이상의 감마선 검출 모듈(410) 중 어느 하나의 감마선 검출 모듈(410)에서 감마선이 흡수된 이후에, 다른 하나의 감마선 검출 모듈(410)에서 동일한 감마선이 흡수되는 경우, 흡수된 시간 및 흡수된 위치에 근거하여 감마선이 발생된 예상 영역을 파악 가능하게 이루어질 수 있다.
예를 들어, 도 7 및 도 8의 (a)를 참조하면, 복수의 감마선 검출 모듈(410)은, 서로 일직선을 이루도록 배치될 수 있다. 즉, 도 8의 (a)를 참조하면, 제1 감마선 검출 모듈(411), 제2 감마선 검출 모듈(412), 제3 감마선 검출 모듈(413) 및 제4 감마선 검출 모듈(414)이 일직선으로 배치될 수 있다.
그리고 도 7의 (a)를 참조하면, 피검사체(290)로부터 발생된 감마선은 제2 감마선 검출 모듈(412), 제3 감마선 검출 모듈(413) 및 제4 감마선 검출 모듈(414)에 순차적으로 흡수(P11, P12, P13)될 수 있다. 이와 같이 하나의 감마선 검출기(400)에 배치된 복수의 감마선 검출 모듈(410)에서 순차적으로 감마선이 흡수될 수 있다.
이러한 순차적인 흡수된 정보는 제어부를 통하여 상술한 바와 같이 감마선 이미징 알고리즘을 통해 해당 감마선이 어디서 발산되었는지 파악될 수 있다.
또한, 도 7 및 도 8의 (b)에 도시된 바와 같이, 복수의 감마선 검출 모듈(410)은 감마선 검출기(400)의 중심점을 둘러싸며 배치될 수 있다. 도 7의 (b)를 참조하면, 감마선은 제1 감마선 검출 모듈(411)에 제1 흡수(P11)되고, 제1 흡수(P11)된 이후에 산란되어, 제2 감마선 검출 모듈(412)에 제2 흡수(P12)될 수 있다.
그리고, 이러한 제1 흡수(P11) 및 제2 흡수(P12)를 통해 제어부는 감마선 이미징 알고리즘을 통하여 해당 감마선이 어디서부터 발산되었는지 그 위치를 파악할 수 있다.
그리고, 도 8의 (c)를 참조하면, 복수의 감마선 검출 모듈(410)은 감마선 검출기(400)의 깊이 방향을 따라 일직선으로 배치될 수 있다. 도 7의 (c)를 참조하면, 피검사체(290)로부터 발산된 감마선은 제1 감마선 검출 모듈(411), 제2 감마선 검출 모듈(412), 제3 감마선 검출 모듈(413) 및 제4 감마선 검출 모듈(414)에 순차적으로 흡수(P11, P12, P13, P14)될 수 있다.
그리고 제어부는 이러한 4번의 흡수된 각각의 위치 및 에너지 양을 감마선 이미징 알고리즘을 통해, 감마선의 위치를 파악할 수 있다.
이때, 상술한 복수의 감마선 검출 모듈(410)은 서로 페어링(Pairing)될 수 있다. 구체적으로, 도 7의 (a)를 예를 들면, 제2 감마선 검출 모듈(412)에서 제1 흡수(P11)이 일어난 이후, 제3 감마선 검출 모듈(413)에서 제2 흡수(P12)가 일어나고, 제4 감마선 검출 모듈(414)에서 제3 흡수(P13)가 일어난다.
이때, 제2 감마선 검출 모듈(412), 제3 감마선 검출 모듈(413) 및 제4 감마선 검출 모듈(414)은 서로 제어부와 페어링 되어 해당 흡수가 일어난 시각, 흡수의 위치 및 흡수된 감마선 에너지 양 등을 측정할 수 있다.
이를 통해, 제어부는 이미지 알고리즘을 통하여 해당 감마선이 어디서 조사되었는지를 알 수 있다.
한편, 도 9는 상술한 복수의 감마선 검출 모듈(410)이 페어링 됨에 따라, 각각의 감마선 검출 모듈(410)에서 흡수된 감마선의 양에 근거하여 해당 감마선의 전체 에너지를 파악할 수 있다.
예를 들어, 도 9에 도시된 바와 같이, 페어링된 정보들을 묶어 전체 에너지 피크의 정확성을 높일 수 있다.
구체적으로, 감마선이 하나의 감마선 검출 모듈(410)에만 흡수되고, 감마선 검출기(400)를 빠져나가는 경우, 해당 감마선이 포함하는 에너지의 크기에 대해서 오차가 발생될 수 있다.
그리고, 하나의 감마선이 2 이상 흡수될 때 각각의 흡수 에너지 정보를 페어링 하지 않는 경우, 해당 감마선이 가지고 있는 에너지를 정확하게 파악하지 못할 수 있다.
그런데, 상술한 바와 같이, 복수의 감마선 검출 모듈(410)이 서로 페어링되어, 흡수된 에너지의 양이 공유되는 경우 해당 감마선이 가지는 에너지의 전체 양이 더욱 정확하게 파악될 수 있다.
감마선 검출기(400)는 감마선 차폐부(420)를 더 포함할 수 있다. 감마선 차폐부(420)는 감마선 검출 모듈(410)을 둘러싸도록 배치된다. 감마선 차폐부(420)는 감마선 검출 모듈(410)에 흡수되지 않은 감마선이 흡수되도록 이루어진다.
도 5를 참조하면, 감마선 검출기(400)는 감마선 검출 모듈(410)을 둘러싸고 형성되는 감마선 차폐부(420)를 포함한다.
감마선 차폐부(420)는 납(Pb)을 포함하는 제1 층(421), 제1 층(421)을 둘러싸며, 카드뮴(Cd)을 포함하는 제2 층(422), 및 제2 층(422)을 둘러싸며, HDPE(High Density Polyethylen)을 포함하는 제3 층(423)을 포함할 수 있다.
이때, 제3 층(423)은 제1 층(421)보다 두껍게 형성되고, 제2 층(422)은 얇은 박형(foil)을 이룰 수 있다. 구체적으로, 제1 층(421)의 두께는 4cm 이상인 것이 바람직하고, 제3 층(423)의 두께는 5cm 이상인 것이 바람직하다.
구체적으로, 납을 포함하는 제1 층(421)은 감마선이 감마선 검출 모듈(410)의 외측으로 빠져나가는 것을 저감시킬 수 있다. 그리고, HDPE를 포함하는 제3 층(423)은 중성자가 감마선 검출 모듈(410)쪽으로 유입되어 노이즈를 발생시키는 것을 저감시킬 수 있다. 한편, 카드뮴을 포함하는 제2 층(422)은 중성자가 제3 층(423)과 만나서 발생되는 파를 흡수, 차단할 수 있다.
이와 같은 감마선 차폐부(420)를 통하여, 감마선 검출 모듈(410)의 내부로 유입된 감마선이 외부로 빠져나가거나, 감마선 검출 모듈(410)의 외부로부터 감마선 검출 모듈(410)로 중성자 등이 유입되는 것을 차단하여, 노이즈를 제거하고 보다 정확성이 높은 측정결과를 얻을 수 있다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템(1000)를 나타낸 사시도이다. 도 11은 도 10의 비파괴 검사 시스템(1000)을 위에서 바라본 평면도이다. 도 12는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템(1000)을 위에서 바라본 평면도이다. 도 13은 도 10에 도시된 피검사체(290) 지지부(200)를 도시한 사시도이다. 도 14는 도 10에 도시된 감마선 검출기(400)를 도시한 사시도이다. 도 15는 컴프턴 이미지 변환부(500)에 의하여 생성된 이미지가 표시된 것을 도시한 개념도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템(1000)은 중성자 발생장치(100), 피검사체(290) 지지부(200), 감마선 검출부(300)를 포함한다.
중성자 발생장치(100)는 중성자를 발생시킬 수 있다. 중성자 발생장치(100)는 전류가 통과하는 전류관(110), 전류관(110)으로부터 발생되는 전자와 충돌하여 중성자를 발생시키는 중성자 발생부(120), 및 중성자 발생부(120)로부터 발생되는 중성자가 피검사체(290)에 집중되도록 조사되는 각도를 조절가능한 슬릿이 형성되는 콜리메이터(130)를 포함할 수 있다.
피검사체(290) 지지부(200)는 중성자 발생장치(100)와 대향되도록 배치되고, 중성자 발생장치(100)로부터 발생되는 중성자가 조사되는 피검사체(290)가 배치되는 공간이 마련될 수 있다.
감마선 검출부(300)는 피검사체(290)로부터 발산되는 감마선을 흡수하도록 이루어질 수 있다. 그리고, 감마선 검출부(300)는 2 이상으로 구비될 수 있다. 이때, 2 이상의 감마선 검출부(300)는 중성자 발생장치(100) 및 피검사체(290)를 연결하는 선을 중심으로 서로 반대편에 배치될 수 있다.
감마선 검출부(300)는, 감마선 검출기(400) 및 감마선 검출기(400) 이동부(310)를 포함할 수 있다.
감마선 검출기(400)는 피검사체(290)로부터 발생되는 감마선을 검출 가능하도록 이루어지는 감마선 검출 모듈(410)을 포함할 수 있다.
감마선 검출기(400) 이동부(310)는 감마선 검출기(400)가 피검사체(290) 지지부(200)과 이루는 거리 및 각도를 조절 가능하도록 감마선 검출기(400)를 3축 방향으로 이동 가능하게 형성될 수 있다.
평면 이동부(340)는, 중성자 발생장치(100) 및 피검사체(290)를 연결하는 선을 중심으로 서로 반대편에 배치되는 2 이상의 감마선 검출부(300)가 서로 가까워지거나 멀어지는 방향으로 이동 가능하게 이루어질 수 있다.
예를 들어, 도 11을 참조하면, 감마선 검출부(300)의 평면 이동부(340)는 중성자 발생장치(100) 및 피검사체(290)를 연결하는 선(l)을 중심으로 서로 반대편에 배치되는 2 이상의 감마선 검출부(300)가 서로 가까워지거나, 멀어지는 방향으로 이동 가능하게 이루어질 수 있다.
구체적으로, 도 11의 중성자 발생장치(100) 및 피검사체(290)를 연결하는 선(l)의 오른쪽에 도시된 감마선 검출부(300)는 제1 영역(A1) 내에서 자유롭게 이동될 수 있다. 그리고, 도 11의 중성자 발생장치(100) 및 피검사체(290)를 연결하는 선(l)의 왼쪽에 도시된 감마선 검출부(300)는 제2 영역(A2) 내에서 자유롭게 이동될 수 있다.
이때, 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2) 내에서 각각 감마선 검출부(300)가 자유롭게 이동될 수 있다. 다만, 각 감마선 검출부(300)의 이동이 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)에 제한되는 것은 아니다. 그리고, 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)은 도시된 것과 다른 형상을 형성될 수 있다.
그리고, 복수의 감마선 검출기(400)는 피검사체(290)를 둘러싸도록 배치된다. 그리고, 복수의 감마선 검출기(400) 각각은, 피검사체(290)를 둘러싼 지점에서 이동 가능한 영역이 나뉘고, 해당 영역에서 평면 이동부(340)에 의해 이동 가능하도록 이루어질 수 있다.
예를 들어, 도 12는 감마선 검출부(300)가 4개소 구비되는 실시예를 나타낸 것이다. 도 12를 참조하면, 4개의 감마선 검출부(300)가 각각 제1 영역(A1), 제2 영역(A2), 제3 영역(A3) 및 제4 영역(A4) 내에서 각각의 평면 이동부(340)에 의하여 이동될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템(1000)은 복수의 감마선 검출부(300) 각각의 평면 이동부(340)가, 해당 감마선 검출부(300)가 배치된 영역내에서 이동됨에 따라, 피검사체(290)로부터 발산되는 감마선을 보다 효과적으로 감지할 수 있어, 감마선 검지의 효율을 높이고, 분석률을 높이며 오차를 줄일 수 있다.
피검사체(290) 지지부(200)는, 중성자 발생장치(100)와의 이격 거리가 가까워지거나 멀어지도록 이동 가능하게 형성될 수 있다.
도 13을 참조하면, 피검사체(290) 지지부(200)는 피검사체(290) 플레이트(210), 승강부(220), 전후 이동부(230)를 포함할 수 있다.
피검사체(290) 플레이트(210)는 피검사체(290)가 배치가능하게 형성되고, 회전 가능하게 이루어진다.
구체적으로, 피검사체(290) 플레이트(210) 상에는 피검사체(290)가 배치된다. 이때, 피검사체(290)를 둘러싸고 중성자 및 감마선이 고르게 방사될 수 있도록 피검사체(290)를 둘러싸고 세로벽(218)이 형성될 수 있다.
피검사체(290) 플레이트(210) 상에는 피검사체(290)를 회전시킬 수 있는 회전부(215)가 형성될 수 있다. 이에 따라, 피검사체(290)를 회전시키며 중성자를 조사시키고, 감마선이 방사될 수 있도록 이루어질 수 있다.
승강부(220)는 피검사체(290) 플레이트(210)를 상하 방향으로 이동 가능하게 형성될 수 있다. 구체적으로, 승강부(220)는 피검사체(290) 플레이트(210) 양 측에 배치되는 바디부(221), 바디부(221)의 양 측에 형성되는 레일(222), 레일(222)을 따라 상하로 이동되는 조절부(223)를 통해 피검사체(290) 플레이트(210)를 상하로 이동시킬 수 있다. 피검사체(290) 플레이트(210)는 바디부(221)에 세로로 형성되는 가이드관(224)을 따라 상하로 이동될 수 있다.
전후 이동부(230)는 바닥 플레이트(232)와, 바닥 플레이트(232) 상에 배치되는 레일부(234)를 포함한다. 지지 플레이트(240)이 하부에 형성되는 전후 이동수단(미도시) 예를 들어 바퀴 등은, 상술한 레일부(234)를 따라 전후로 이동될 수 있다. 이에 따라, 지지 플레이트(240)가 전후로 이동될 수 있다.
이와 같이, 피검사체(290) 지지부(200)는 피검사체(290)를 상하, 전후 방향으로 이동시킬 수 있다. 그리고, 피검사체(290) 지지부(200)는 피검사체(290)를 회전시킬 수 있다. 이를 통해, 피검사체(290)에 보다 효과적으로 중성자를 조사하거나, 피검사체(290)로부터 방사되는 감마선이 효과적으로 방사되도록 피검사체(290)의 위치를 자유롭게 조절할 수 있다. 또한, 감마선 검출부(300)와의 거리나 위치 관계를 용이하게 조절할 수 있다.
감마선 검출부(300)는 감마선 검출기(400), 감마선 검출기(400) 이동부(310)를 포함할 수 있다.
도 14를 참조하면, 감마선 검출기(400)는 피검사체(290)로부터 발생되는 감마선을 검출 가능하도록 이루어지는 감마선 검출 모듈(410)을 포함한다. 이때, 상술한 바와 같이, 감마선 검출기(400)는 2 이상의 감마선 검출 모듈(410)을 포함할 수 있다.
감마선 검출기(400) 이동부(310)는 감마선 검출기(400)가 피검사체(290) 지지부(200)과 이루는 거리 및 각도를 조절 가능하도록 감마선 검출기(400)를 3축 방향으로 이동 가능하게 형성된다.
구체적으로, 감마선 검출기(400) 이동부(310)는, 베이스 플레이트(320), 상하 이동부(330) 및 평면 이동부(340)를 포함할 수 있다.
베이스 플레이트(320)는 감마선 검출기(400)가 배치되고, 감마선 검출기(400)를 회전 가능하게 형성된다. 베이스 플레이트(320)는 상하 바디부(221)와 연결 플레이트(321)로 연결될 수 있다.
상하 이동부(330)는 베이스 플레이트(320)를 상하로 이동시키도록 형성된다. 구체적으로, 상하 이동부(330)는 상하 이동부 바디(331)에 형성되는 레일부(332)와, 레일부(332)에 연결되어 베이스 플레이트(320)를 상하로 이동시키기 위해 상하로 이동되는 조절부(333)에 의하여 베이스 플레이트(320)를 상하로 이동시킬 수 있다.
평면 이동부(340)는, 상하 이동부(330)를 피검사체(290)와 가깝거나 멀게 이동시키도록 형성될 수 있다.
구체적으로, 평면 이동부(340)는 상하 이동부 바디(331)의 하부에 형성된다. 평면 이동부(340)는 전후 좌우 방향으로 바닥에 대하여 이동 가능하게 형성되는 캐스터(342)를 포함할 수 있다. 상기 캐스터(342)는 모터 등에 의하여 제어될 수 있다. 이에 따라, 제어부는 평면 이동부(340)의 캐스터(342)를 구동시킴으로써, 상술한 감마선 검출부(300)가 배치되는 영역 내에서 감마선 검출부(300)를 이동시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사 시스템(1000)의 감마선 검출부(300)는 감마선 검출기(400)를 상하, 좌우, 전후 방향으로 이동시킬 수 있을 뿐만 아니라, 감마선 검출기(400)를 높이 방향 축을 중심으로 회전시킬 수 있다. 이를 통해, 피검사체(290)와의 거리 및 감마선의 입사 각도를 조절할 수 있다. 이에 따라, 비파괴 검사 시스템(1000)의 감마선 검출부(300)는 보다 효과적으로 감마선을 감지할 수 있다.
한편, 비파괴 검사 시스템(1000)은 상술한 제어부에 의해 수신된 신호를 이미지화하여 피검사체(290)에 배치된 물질을 파악하는 컴프턴 이미지 변환부(500)를 더 포함할 수 있다.
컴프턴 이미지 변환부(500)는, 복수의 감마선 검출기(400)에서 수신된 신호를 근거로 피검사체(290) 및 피검사체(290) 내부에 포함된 감마선 발생지점을 이미지화될 수 있다.
구체적으로, 도 15를 참조하면, 모니터(600)에는 피검사체(290)의 형상(610)이 보일 수 있다. 그리고, 피검사체(290)의 형상(610)에서 감마선이 발생된 타겟 감마선 발생 대상체(620), 예를 들어 마약이나 폭발물 같은 것이 감지될 수 있다.
본 발명은 이와 같은 컴프턴 이미지 변환부(500)를 통하여, 피검사체(290)의 일 부분에서 타겟팅된 감마선 발생 대상체에 대한 이미지를 얻을 수 있다. 이에 따라, 기존의 비파괴검사장비보다 그 효율을 높이고, 분석률을 높이며 오차를 줄일 수 있다. 이에 따라, 타겟팅한 위험물의 정확한 탐지가 가능하도록 이루어질 수 있다. 특히 각장 화물의 형체를 특정하기 어려운 위험물질들(폭발물, 마약, 방사선 물질 등)을 용이하게 검출할 수 있는 장점이 있다.
이상에서 설명된 비파괴 검사 시스템은 상기 설명된 실시예들의 구성과 방법에 한정되는 것이 아니라, 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.
Claims (21)
- 피검사체로부터 발생되는 감마선을 흡수하여, 감마선의 발생위치를 파악하는 감마선 검출기에 있어서,
감마선을 흡수 가능하게 이루어지는 복수의 감마선 검출 모듈,
상기 감마선 검출 모듈에서 흡수되는 감마선에 대한 신호를 전달받아, 상기 감마선이 방출되는 위치를 산출하는 제어부, 및
상기 감마선 검출 모듈을 둘러싸도록 배치되고, 상기 감마선 검출 모듈에 흡수되지 않은 감마선이 흡수되도록 이루어지는 감마선 차폐부를 포함하고,
상기 감마선 검출기는 높이방향 축을 중심으로 회전가능하도록 이루어지고,
상기 복수의 감마선 검출 모듈은,
상기 감마선 검출기의 표면에 노출되도록 서로 이격되어 배치되거나, 상기 감마선 검출기의 표면으로부터 상기 감마선 검출기의 깊이 방향으로 서로 이격되어 배치되며, 상기 감마선 검출기의 중심점을 둘러싸도록 배치되고,
상기 복수의 감마선 검출 모듈 각각의 배면과 상면에 제1전극부 및 제2전극부가 배치되고,
상기 제어부는, 상기 제1전극부와 상기 제2전극부를 통해, 흡수된 감마선이 상기 배면에서 상기 상면까지 도달한 시간을 기초로 감마선의 흡수 위치를 측정하는 감마선 검출기.
- 삭제
- 삭제
- 중성자를 발생시키는 중성자 발생장치,
상기 중성자 발생장치와 대향되도록 배치되고, 상기 중성자 발생장치로부터 발생되는 중성자가 조사되는 피검사체가 배치되는 공간이 마련되는 피검사체 지지부, 및
상기 피검사체로부터 발산되는 감마선을 흡수하도록 이루어지는 2 이상의 감마선 검출부를 포함하고,
상기 감마선 검출부는 높이방향 축을 중심으로 회전가능하도록 이루어지고,
상기 감마선 검출부는 서로 이격되어 상기 피검사체 지지부를 둘러 싸는 방향으로 배치되며, 상기 2이상의 감마선 검출부 각각의 배면과 상면에는 제1전극부 및 제2전극부가 배치되고,
상기 제1전극부와 상기 제2전극부를 통해, 흡수된 감마선이 상기 배면에서 상기 상면까지 도달한 시간을 기초로 감마선의 흡수 위치를 산출하는 제어부를 더 포함하는 비파괴 검사 시스템.
- 제4항에 있어서,
상기 피검사체 지지부는,
상기 중성자 발생장치와의 이격 거리가 가까워지거나 멀어지도록 이동 가능하게 형성되는, 비파괴 검사 시스템.
- 제5항에 있어서,
상기 피검사체 지지부는,
상기 피검사체가 배치가능하게 형성되고, 회전 가능하게 이루어지는 피검사체 플레이트;
상기 피검사체 플레이트를 상하 방향으로 이동 가능하게 형성되는 승강부; 및
상기 피검사체 플레이트를 전후 방향으로 이동 가능하게 형성되는 전후 이동부를 포함하는, 비파괴 검사 시스템.
- 제4항에 있어서,
상기 중성자 발생장치는,
전류가 통과하는 전류관;
상기 전류관으로부터 발생되는 전자와 충돌하여 중성자를 발생시키는 중성자 발생부; 및
상기 중성자 발생부로부터 발생되는 중성자가 상기 피검사체에 집중되도록 조사되는 각도를 조절가능한 슬릿이 형성되는 콜리메이터를 포함하는 비파괴 검사 시스템.
- 제7항에 있어서,
상기 중성자 발생장치는, 상기 중성자 발생부를 둘러싸고 형성되는 중성자 차폐부를 더 포함하는 비파괴 검사 시스템.
- 제4항에 있어서,
상기 감마선 검출부는,
상기 피검사체로부터 발생되는 감마선을 검출 가능하도록 이루어지는 감마선 검출 모듈을 포함하는 감마선 검출기; 및
상기 감마선 검출기가 상기 피검사체 지지부과 이루는 거리 및 각도를 조절 가능하도록 상기 감마선 검출기를 3축 방향으로 이동 가능하게 형성되는 감마선 검출기 이동부를 포함하는 비파괴 검사 시스템.
- 삭제
- 제9항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 감마선 검출 모듈에서 흡수되는 신호를 전달받고,
상기 감마선 검출 모듈은,
하나의 감마선 검출 모듈 내에서 감마선이 진행하며 서로 다른 위치에서 2 이상의 흡수가 이루어지는 경우, 상기 제어부는 각각의 위치에서 흡수된 감마선의 에너지를 파악하여, 감마선이 발생된 예상 영역을 파악 가능하게 이루어지는, 비파괴 검사 시스템.
- 제9항에 있어서,
상기 감마선 검출기는, 상기 감마선 검출 모듈을 둘러싸고 형성되는 감마선 차폐부를 포함하고,
상기 감마선 차폐부는,
납(Pb)을 포함하는 제1 층;
상기 제1 층을 둘러싸며, 카드뮴(Cd)을 포함하는 제2 층; 및
상기 제2 층을 둘러싸며, HDPE(High Density Polyethylen)을 포함하는 제3 층을 포함하는 비파괴 검사 시스템.
- 제12항에 있어서,
상기 제3 층은 상기 제1 층보다 두껍게 형성되고,
상기 제2 층은 얇은 박형(foil)을 이루는 비파괴 검사 시스템.
- 제13항에 있어서,
상기 제1 층의 두께는 4cm 이상이고,
상기 제3 층의 두께는 5cm 이상인 비파괴 검사 시스템.
- 중성자를 발생시키는 중성자 발생장치;
상기 중성자 발생장치와 대향되도록 배치되고, 상기 중성자 발생장치로부터 발생되는 중성자가 조사되는 피검사체가 배치되는 공간이 마련되는 피검사체 지지부; 및
상기 피검사체로부터 발산되는 감마선을 흡수하도록 이루어지는 2 이상의 감마선 검출부를 포함하고,
상기 2 이상의 감마선 검출부는,
높이방향 축을 중심으로 회전가능하도록 이루어지고,
상기 중성자 발생장치 및 상기 피검사체를 연결하는 선을 중심으로 서로 반대편에 배치되며,
상기 2이상의 감마선 검출부 각각의 배면과 상면에는 제1전극부 및 제2전극부가 배치되고,
상기 제1전극부와 상기 제2전극부를 통해, 흡수된 감마선이 상기 배면에서 상기 상면까지 도달한 시간을 기초로 감마선의 흡수 위치를 산출하는 제어부를 더 포함하는 비파괴 검사 시스템.
- 제15항에 있어서,
상기 감마선 검출부는,
상기 피검사체로부터 발생되는 감마선을 검출 가능하도록 이루어지는 2 이상의 감마선 검출 모듈을 포함하는 감마선 검출기; 및
상기 감마선 검출기가 상기 피검사체 지지부과 이루는 거리 및 각도를 조절 가능하도록 상기 감마선 검출기를 3축 방향으로 이동 가능하게 형성되는 감마선 검출기 이동부를 포함하는 비파괴 검사 시스템.
- 제16항에 있어서,
상기 제어부는, 상기 감마선 검출 모듈에서 흡수되는 신호를 전달받고,
상기 2 이상의 감마선 검출 모듈 중 어느 하나의 감마선 검출 모듈에서 감마선이 흡수된 이후에, 다른 하나의 감마선 검출 모듈에서 동일한 감마선이 흡수되는 경우, 흡수된 시간 및 흡수된 위치에 근거하여 감마선이 발생된 예상 영역을 파악 가능하게 이루어지는 비파괴 검사 시스템.
- 제16항에 있어서,
상기 감마선 검출기 이동부는,
상기 감마선 검출기가 배치되고, 상기 감마선 검출기를 회전 가능하게 형성되는 베이스 플레이트;
상기 베이스 플레이트를 상하로 이동시키도록 형성되는 상하 이동부;
상기 상하 이동부를 상기 피검사체와 가깝거나 멀게 이동시키도록 형성되는 평면 이동부를 포함하는 비파괴 검사 시스템.
- 제18항에 있어서,
상기 평면 이동부는,
상기 중성자 발생장치 및 상기 피검사체를 연결하는 선을 중심으로 서로 반대편에 배치되는 2 이상의 감마선 검출부가 서로 가까워지거나 멀어지는 방향으로 이동 가능하게 이루어지는 비파괴 검사 시스템.
- 제19항에 있어서,
상기 2 이상의 감마선 검출 모듈은 상기 피검사체를 둘러싸도록 배치되고,
상기 2 이상의 감마선 검출 모듈 각각은,
상기 피검사체를 둘러싼 지점에서 이동 가능한 영역이 나뉘고, 해당 영역에서 상기 평면 이동부에 의해 이동 가능하도록 이루어지는, 비파괴 검사 시스템.
- 제20항에 있어서,
상기 제어부에 의해 수신된 신호를 이미지화하여 피검사체에 배치된 물질을 파악하는 컴프턴 이미지 변환부를 더 포함하고,
상기 컴프턴 이미지 변환부는,
상기 2 이상의 감마선 검출 모듈에서 수신된 신호를 근거로 피검사체 및 피검사체 내부에 포함된 감마선 발생지점을 이미지화하는, 비파괴 검사 시스템.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210041369A KR102495593B1 (ko) | 2021-03-30 | 2021-03-30 | 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210041369A KR102495593B1 (ko) | 2021-03-30 | 2021-03-30 | 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20220135550A KR20220135550A (ko) | 2022-10-07 |
| KR102495593B1 true KR102495593B1 (ko) | 2023-02-06 |
Family
ID=83595943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020210041369A KR102495593B1 (ko) | 2021-03-30 | 2021-03-30 | 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102495593B1 (ko) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101209518B1 (ko) | 2012-02-23 | 2012-12-07 | 테크밸리 주식회사 | 헬리컬 ｃｔ장치 |
| JP2016114385A (ja) | 2014-12-11 | 2016-06-23 | 三菱重工メカトロシステムズ株式会社 | 中性子断層撮影装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100395886B1 (ko) * | 1999-10-29 | 2003-08-27 | 한국수력원자력 주식회사 | 감마핵종분석기의 방사선 차폐체 |
| KR101921136B1 (ko) * | 2017-02-27 | 2018-11-23 | 한국생산기술연구원 | 3차원 타겟 검출물 분석장치 및 분석방법 |
-
2021
- 2021-03-30 KR KR1020210041369A patent/KR102495593B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101209518B1 (ko) | 2012-02-23 | 2012-12-07 | 테크밸리 주식회사 | 헬리컬 ｃｔ장치 |
| JP2016114385A (ja) | 2014-12-11 | 2016-06-23 | 三菱重工メカトロシステムズ株式会社 | 中性子断層撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20220135550A (ko) | 2022-10-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6535067B2 (ja) | セキュリティ及びポータル監視における粒子検出及びアプリケーション | |
| RU2428680C2 (ru) | Способ определения характеристик объекта | |
| KR102208231B1 (ko) | 뮤온 검출기 어레이 스테이션들 | |
| KR102065318B1 (ko) | 조합형 산란 및 투과 멀티-뷰 이미징 시스템 | |
| RU2305829C1 (ru) | Способ и устройство для распознавания материалов с помощью быстрых нейтронов и непрерывного спектрального рентгеновского излучения | |
| US7486760B2 (en) | Compact systems and methods for generating a diffraction profile | |
| US7756249B1 (en) | Compact multi-focus x-ray source, x-ray diffraction imaging system, and method for fabricating compact multi-focus x-ray source | |
| US7539283B2 (en) | Combined computed tomography and nuclear resonance fluorescence cargo inspection system and method | |
| US9588064B2 (en) | Charged particle tomography with improved momentum estimation | |
| WO2001007900A1 (fr) | Dispositif de detection photographique numerique de rayonnement pour objets de grande dimension | |
| WO2014015490A1 (zh) | 组合式射线无损检测方法及系统 | |
| KR101862692B1 (ko) | 검사 설비, 검사 방법 및 검사 시스템 | |
| US11921252B2 (en) | Security screening device capable of detecting and locating dangerous objects by using radiation | |
| KR102284602B1 (ko) | 중성자선과 엑스선을 이용하는 보안 검색 장치 | |
| KR102495593B1 (ko) | 감마선 검출기 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템 | |
| KR102157233B1 (ko) | 중성자선과 엑스선을 이용하는 비파괴 검사 시스템 | |
| KR20200007591A (ko) | 중성자선과 엑스선을 이용하는 비파괴 검사 시스템 | |
| US20220381710A1 (en) | A sample inspection system | |
| KR102488521B1 (ko) | 감마선 측정장치 및 이를 구비한 비파괴 검사 시스템 | |
| KR100306502B1 (ko) | 질소검출기및검출방법 | |
| KR20200030985A (ko) | 동기화 신호를 이용하여 검사대상체의 영상 정보 획득을 하는 비파괴 검사 시스템 | |
| JPH05107384A (ja) | 簡易密度補正法による放射能測定装置およびその方法 | |
| CN111856605A (zh) | 一种多视角垂直底照x射线安检机 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant |