KR102489319B1 - Connector for electrical connection - Google Patents
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Abstract
개시된 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터는, 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이에 배치되고 피검사 디바이스와 테스트 장비를 서로 전기적으로 연결시키도록 상하 방향으로 도전하는 전기 접속용 커넥터이며, 격자 패턴으로 배치된 복수의 격자 영역을 구획하며 상하 방향으로 연장하는 차폐부; 상기 격자 영역에서 상하 방향으로 연장하며 상기 격자 영역의 상단과 상기 격자 영역의 하단을 도전시키는 도전부; 및 상기 격자 영역에서 상기 도전부와 상기 차폐부를 절연하는 절연부를 포함한다.A connector for electrical connection according to the disclosed embodiment is disposed between a device under test and test equipment and conducts in a vertical direction so as to electrically connect the device under test and the test equipment to each other, and is arranged in a lattice pattern. a shielding portion that partitions a plurality of lattice areas and extends in a vertical direction; a conductive part extending vertically from the grating area and conducting conduction between an upper end of the grating area and a lower end of the grating area; and an insulating portion that insulates the conductive portion and the shielding portion in the lattice region.
Description
본 개시는 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이에 배치되는 전기 접속용 커넥터에 관한 것이다.The present disclosure relates to a connector for electrical connection disposed between a device under test and test equipment.
제조된 반도체 디바이스와 같은 피검사 디바이스의 불량 여부를 판단하기 위한 검사 공정에서, 피검사 디바이스와 테스트(test) 장비의 사이에 전기 접속용 커넥터가 배치된다. 전기 접속용 커넥터는 피검사 디바이스와 테스트 장비를 전기적으로 연결시켜, 피검사 디바이스와 테스트 장비의 통전 여부를 기초로 피검사 디바이스의 불량 여부를 판단하는 검사 방법이 알려져 있다.In an inspection process for determining whether a device under test, such as a manufactured semiconductor device, is defective, a connector for electrical connection is disposed between the device under test and test equipment. A test method is known in which a connector for electrical connection electrically connects a device under test and test equipment, and determines whether the device under test is defective based on whether the device under test and the test equipment are energized.
만약 전기 접속용 커넥터가 없이 피검사 디바이스의 단자가 테스트 장비의 단자에 직접 접촉하게 되면, 반복적인 검사 과정에서 테스트 장비의 단자가 마모 또는 파손되어 테스트 장비 전체를 교체해야 하는 소요가 발생할 수 있다. 전기 접속용 커넥터를 이용하여 테스트 장비 전체를 교체하는 소요의 발생을 막을 수 있다.If the terminals of the device under test directly come into contact with the terminals of the test equipment without a connector for electrical connection, the terminals of the test equipment may be worn out or damaged during repetitive testing, and the entire test equipment needs to be replaced. The need to replace the entire test equipment can be prevented by using connectors for electrical connection.
전기 접속용 커넥터는 고주파 신호인 RF(Radio Frequency) 신호를 이용한 검사 방법에 사용될 수 있다. RF 신호를 이용한 검사 방법의 경우, RF 신호의 주파수 영역에 따라 전기 접속용 커넥터의 임피던스 값을 매칭시킬 필요가 있다.Connectors for electrical connection may be used in an inspection method using a radio frequency (RF) signal, which is a high frequency signal. In the case of an inspection method using an RF signal, it is necessary to match the impedance value of the connector for electrical connection according to the frequency domain of the RF signal.
전기 접속용 커넥터는, 피검사 디바이스의 단자와 접촉하는 복수의 도전부를 포함할 수 있다. 복수의 도전부에 RF 신호가 인가됨으로써 피검사 디바이스와 테스트 장비의 통전 여부를 확인할 수 있다. 복수의 도전부에 RF 신호가 인가되면 복수의 도전부는 서로에 대해 전자기적으로 영향을 미칠 수 있다.The connector for electrical connection may include a plurality of conductive parts that come into contact with terminals of the device under test. By applying an RF signal to the plurality of conductive parts, it is possible to check whether the device under test and the test equipment are energized. When an RF signal is applied to a plurality of conductive parts, the plurality of conductive parts may electromagnetically affect each other.
본 개시의 실시예들은 피검사 디바이스와의 안정적인 전기적인 연결을 제공하며, 임피던스 값을 매칭하기 용이한 전기 접속용 커넥터를 제공한다.Embodiments of the present disclosure provide a connector for electrical connection that provides a stable electrical connection with a device under test and easily matches an impedance value.
또한, 본 개시의 실시예들은 복수의 도전부가 서로에 대하여 미칠 수 있는 전자기적 영향을 감소시키는 전기 접속용 커넥터를 제공한다.In addition, embodiments of the present disclosure provide a connector for electrical connection that reduces electromagnetic influence that a plurality of conductive parts may have on each other.
RF 신호를 이용한 검사 방법에서 전기 접속용 커넥터는 검사 방법의 조건에 따라 매칭되는 임피던스 값을 가질 필요가 있다. 전기 접속용 커넥터는 검사 방법의 조건에 따라 임피던스 값을 매칭시킴과 동시에 피검사 디바이스와의 안정적인 전기적 연결을 제공할 필요가 있다. 적절한 임피던스 매칭이 제공되지 않으면 검사 신호의 반사 등으로 신뢰성 있는 검사에 한계가 있을 수 있다.In an inspection method using an RF signal, a connector for electrical connection needs to have an impedance value matched according to conditions of the inspection method. A connector for electrical connection needs to match an impedance value according to conditions of a test method and at the same time provide a stable electrical connection with a device under test. If proper impedance matching is not provided, reliable inspection may be limited due to reflection of the inspection signal.
전기 접속용 커넥터는 도전부의 횡단면 면적 내지는 크기가 클수록 피검사 디바이스와 전기 접속용 커넥터 사이의 전기적 연결이 안정적으로 제공될 수 있다. 그러나 피검사 디바이스의 미세화 경향, 하기에 설명할 전자기적 간섭 내지는 크로스 토크 등을 고려할 때 도전부의 크기를 원하는 수준으로 하는데에는 기술적 어려움이 있다. Electrical connection between the device under test and the connector for electrical connection may be stably provided as the cross-sectional area or size of the conductive portion of the connector for electrical connection increases. However, it is technically difficult to make the size of the conductive part to a desired level in consideration of the miniaturization trend of the device under test, electromagnetic interference or crosstalk, which will be described below.
RF 신호를 이용한 테스트에서 복수의 도전부는 서로 전자기적으로 간섭될 수 있다. 전기 접속용 커넥터에 크로스 토크(cross talk; 신호 간섭)가 발생할 수 있다. 전기 접속용 커넥터에 크로스 토크가 발생할 경우, 전기 접속용 커넥터의 통전 여부가 제대로 측정되지 않을 수 있다. 크로스 토크가 발생할 경우, 전기 접속용 커넥터를 이용한 검사 방법의 신뢰도가 낮아질 수 있다. 본 개시의 실시예들은 이러한 문제를 해결한다.In a test using an RF signal, a plurality of conductive parts may electromagnetically interfere with each other. Cross talk (signal interference) may occur in connectors for electrical connection. When crosstalk occurs in the connector for electrical connection, whether or not the connector for electrical connection is energized may not be properly measured. When crosstalk occurs, the reliability of an inspection method using a connector for electrical connection may be lowered. Embodiments of the present disclosure address this problem.
본 개시의 실시예들은 이러한 문제를 해결하여, 임피던스 값을 용이하게 매칭시키며 피검사 디바이스와의 안정적인 전기적 연결을 제공할 수 있다.Embodiments of the present disclosure can solve these problems, easily match impedance values, and provide a stable electrical connection with a device under test.
본 개시의 실시예들은 도전부의 크기에 대해 더 많은 설계 마진을 제공할 수 있다.Embodiments of the present disclosure may provide more design margin for the size of the conductive portion.
또한, 본 개시의 실시예들은 전기 접속용 커넥터의 복수의 도전부가 서로 전자기적으로 간섭되는 것을 방지할 수 있다.In addition, embodiments of the present disclosure can prevent electromagnetic interference between a plurality of conductive parts of a connector for electrical connection.
본 개시의 일 측면은 전기 접속용 커넥터의 실시예들을 제공한다.One aspect of the present disclosure provides embodiments of a connector for electrical connection.
일 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터는, 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이에 배치되고 피검사 디바이스와 테스트 장비를 서로 전기적으로 연결시키도록 상하 방향으로 도전하는 전기 접속용 커넥터이며, 격자 패턴으로 배치된 복수의 격자 영역을 구획하며 상하 방향으로 연장하는 차폐부; 상기 격자 영역에서 상하 방향으로 연장하며 상기 격자 영역의 상단과 상기 격자 영역의 하단을 도전시키는 도전부; 및 상기 격자 영역에서 상기 도전부와 상기 차폐부를 절연하는 절연부를 포함한다.A connector for electrical connection according to an embodiment is a connector for electrical connection disposed between a device under test and test equipment and conductive in a vertical direction so as to electrically connect the device under test and the test equipment to each other, and is arranged in a lattice pattern. a shielding portion that partitions a plurality of lattice areas and extends in a vertical direction; a conductive part extending vertically from the grating area and conducting conduction between an upper end of the grating area and a lower end of the grating area; and an insulating portion that insulates the conductive portion and the shielding portion in the lattice region.
상기 차폐부는 일 측으로 연장하고 상기 일 측을 가로지르는 타 측으로 서로 이격된 복수의 제1 차폐벽; 및 상기 타 측으로 연장하고 상기 일 측으로 서로 이격된 복수의 제2 차폐벽을 포함할 수 있다.A plurality of first shielding walls spaced apart from each other to the other side that extends to the shielding unit and crosses the one side; and a plurality of second shielding walls extending to the other side and spaced apart from each other to the one side.
상기 차폐부는 상기 절연부의 상단으로부터 상기 절연부의 하단까지 상하 방향으로 연장할 수 있다.The shielding part may extend from an upper end of the insulating part to a lower end of the insulating part in a vertical direction.
상기 차폐부의 상하 방향 길이는 상기 도전부의 상하 방향 길이와 같거나 상기 도전부의 상하 방향 길이보다 클 수 있다.A length of the shielding portion in a vertical direction may be equal to or greater than a length of the conductive portion in a vertical direction.
상기 차폐부는 금속 재료로 형성될 수 있다.The shielding part may be formed of a metal material.
상기 차폐부는 상기 복수의 격자 영역 각각에 위치하는 상기 도전부로의 전자기적 간섭을 감소시키도록 횡방향에서 상기 도전부의 외면을 에워쌀 수 있다.The shielding portion may surround an outer surface of the conductive portion in a lateral direction to reduce electromagnetic interference to the conductive portion located in each of the plurality of grid areas.
상기 격자 영역의 횡방향 단면은 직사각형 형상일 수 있다.A transverse cross-section of the grating region may have a rectangular shape.
상기 도전부는 도전성 입자와 도전성 와이어 중 적어도 하나를 포함하고, 상기 도전성 입자와 도전성 와이어 중 적어도 하나는 실리콘 고무에 의해 유지되며, 상기 절연부는 상기 실리콘 고무와 동일한 재질일 수 있다.The conductive part may include at least one of conductive particles and a conductive wire, at least one of the conductive particle and the conductive wire may be held by silicone rubber, and the insulating part may be made of the same material as the silicone rubber.
상기 도전부의 횡방향 단면의 직경 길이와 상기 격자 영역의 횡방향 단면의 단변 길이의 비율은 1:2 내지 1:5일 수 있다.A ratio of the length of the diameter of the cross section of the conductive portion to the length of a short side of the cross section of the grating region may be 1:2 to 1:5.
상기 도전부의 횡방향 단면의 직경 길이와 상기 격자 영역의 횡방향 단면의 대각선 길이의 비율은 1:4 내지 1:7일 수 있다.A ratio of a length of a diameter of a cross section of the conductive portion to a length of a diagonal line of a cross section of the grating region may be 1:4 to 1:7.
상기 차폐부는 구리, 알루미늄, 스테인리스강, 구리 합금, 알루미늄 합금 및 스테인리스강 합금 중 적어도 하나를 포함하고, 상기 절연부는 실리콘 고무를 포함할 수 있다.The shielding part may include at least one of copper, aluminum, stainless steel, a copper alloy, an aluminum alloy, and a stainless steel alloy, and the insulating part may include silicone rubber.
상기 절연부는 다공성 폼 구조를 형성할 수 있다.The insulating part may form a porous foam structure.
상기 도전부의 상단에 부착되는 상단 필름; 및 상기 도전부의 하단에 부착되는 하단 필름을 더 포함할 수 있다.an upper film attached to an upper end of the conductive part; and a lower film attached to a lower end of the conductive part.
상기 상단 필름은 상기 도전부의 상부와 전기적으로 연결되는 상단 패드를 포함하고, 상기 하단 필름은 상기 도전부의 하부와 전기적으로 연결되는 하단 패드를 포함하며, 상기 상단 패드, 상기 도전부 및 상기 하단 패드는 상하 방향으로 도전하는 도전 채널을 형성하고, 상기 도전 채널의 상하 방향 길이는 상기 차폐부의 상하 방향 길이보다 클 수 있다.The upper film includes an upper pad electrically connected to an upper portion of the conductive portion, and the lower film includes a lower pad electrically connected to a lower portion of the conductive portion, and the upper pad, the conductive portion, and the lower pad are A conductive channel conducting in a vertical direction may be formed, and a length of the conductive channel in a vertical direction may be greater than a length of the shielding portion in a vertical direction.
본 개시의 실시예들에 의하면, 피검사 디바이스와의 안정적인 전기적인 연결이 제공될 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, a stable electrical connection with a device under test may be provided.
본 개시의 실시예들에 의하면, 전기 접속용 커넥터의 임피던스 값을 매칭하기 용이할 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, it may be easy to match the impedance value of a connector for electrical connection.
본 개시의 실시예들에 의하면, 전기 접속용 커넥터의 도전부는 크기에 대한 설계 마진이 더 클 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, a design margin for a size of a conductive portion of a connector for electrical connection may be larger.
본 개시의 실시예들에 의하면, 전기 접속용 커넥터의 복수의 도전부가 서로에 대하여 미칠 수 있는 전자기적 영향을 감소시킬 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, it is possible to reduce the electromagnetic influence that a plurality of conductive parts of a connector for electrical connection may have on each other.
도 1은 일 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터의 상하 방향 단면도이다.
도 2는 도 1의 'A' 방향에서 바라본 전기 접속용 커넥터의 평면도의 일 예시이다.
도 3은 도 1의 'A' 방향에서 바라본 전기 접속용 커넥터의 평면도의 다른 예시이다.
도 4는 도 3에 도시된 전기 접속용 커넥터의 일 부분의 사시도이다.
도 5는 도 4의 'B' 방향에서 바라본 전기 접속용 커넥터의 일 부분의 평면도이다.
도 6은 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터의 일 부분의 사시도이다.
도 7은 또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터의 상하 방향 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a connector for electrical connection according to an embodiment in a vertical direction.
FIG. 2 is an example of a plan view of a connector for electrical connection viewed from a direction 'A' in FIG. 1 .
FIG. 3 is another example of a plan view of a connector for electrical connection viewed from the direction 'A' of FIG. 1 .
Figure 4 is a perspective view of a portion of the connector for electrical connection shown in Figure 3;
FIG. 5 is a plan view of a portion of a connector for electrical connection viewed from a direction 'B' in FIG. 4 .
6 is a perspective view of a portion of a connector for electrical connection according to another embodiment.
7 is a cross-sectional view in a vertical direction of a connector for electrical connection according to another embodiment.
본 개시의 실시예들은 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이다. 본 개시에 따른 권리범위가 이하에 제시되는 실시예들이나 이들 실시예들에 대한 구체적 설명으로 한정되는 것은 아니다.Embodiments of the present disclosure are illustrated for the purpose of explaining the technical idea of the present disclosure. The scope of rights according to the present disclosure is not limited to the specific description of the embodiments or these embodiments presented below.
본 개시에서 '실시예'는 본 개시의 기술적 사상을 용이하게 설명하기 위한 임의의 구분으로서, 실시예 각각이 서로 배타적일 필요는 없다. 예를 들어, 일 실시예에 개시된 구성들은 다른 실시예에 적용 및 구현될 수 있으며, 본 개시의 범위를 벗어나지 않는 한도에서 변경되어 적용 및 구현될 수 있다.In the present disclosure, 'embodiment' is an arbitrary division for easily explaining the technical idea of the present disclosure, and each of the embodiments need not be mutually exclusive. For example, configurations disclosed in one embodiment may be applied and implemented in other embodiments, and may be applied and implemented with changes without departing from the scope of the present disclosure.
본 개시에 사용되는 모든 기술적 용어들 및 과학적 용어들은, 달리 정의되지 않는 한, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 의미를 갖는다. 본 개시에 사용되는 모든 용어들은 본 개시를 더욱 명확히 설명하기 위한 목적으로 선택된 것이며 본 개시에 따른 권리범위를 제한하기 위해 선택된 것이 아니다.All technical terms and scientific terms used in this disclosure have meanings commonly understood by those of ordinary skill in the art to which this disclosure belongs, unless otherwise defined. All terms used in this disclosure are selected for the purpose of more clearly describing the disclosure and are not selected to limit the scope of rights according to the disclosure.
본 개시에서 사용되는 "포함하는", "구비하는", "갖는" 등과 같은 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 달리 언급되지 않는 한, 다른 실시예를 포함할 가능성을 내포하는 개방형 용어(open-ended terms)로 이해되어야 한다.Expressions such as "comprising", "including", "having", etc. used in this disclosure are open-ended terms that imply the possibility of including other embodiments, unless otherwise stated in the phrase or sentence in which the expression is included. (open-ended terms).
본 개시에서 사용되는 해당 구성 "만으로 구성되는" 등과 같은 표현은, 해당 구성 외에 다른 구성을 포함할 가능성을 배제하는 폐쇄형 용어(closed-ended terms)로 이해되어야 한다.Expressions such as "consisting only of" a corresponding component used in this disclosure should be understood in closed-ended terms excluding the possibility of including other components other than the corresponding component.
본 개시에서 기술된 단수형의 표현은 달리 언급하지 않는 한 복수형의 의미를 포함할 수 있으며, 이는 청구범위에 기재된 단수형의 표현에도 마찬가지로 적용된다.Expressions in the singular form described in this disclosure may include plural meanings unless otherwise stated, and this applies equally to expressions in the singular form described in the claims.
본 개시에서 사용되는 "제1", "제2" 등의 표현들은 복수의 구성요소들을 상호 구분하기 위해 사용되며, 해당 구성요소들의 순서 또는 중요도를 한정하는 것은 아니다.Expressions such as "first" and "second" used in the present disclosure are used to distinguish a plurality of elements from each other, and do not limit the order or importance of the elements.
본 개시에서 사용되는 "상측", "상" 등의 방향지시어는 전기 접속용 커넥터(100)를 기준으로 피검사 디바이스가 접촉되도록 설정된 방향을 의미하고, "하측", "하" 등의 방향지시어는 상측 방향의 반대 방향을 의미한다. 도 1을 참조하면 상측 방향은 "U"로 표시된 방향일 수 있으며, 하측 방향은 "D"로 표시된 방향일 수 있다. 또한, 본 개시에서 "횡방향"은 "상하 방향"을 가로지르는 방향을 의미한다. 이는 어디까지나 본 개시가 명확하게 이해될 수 있도록 설명하기 위한 기준이며, 기준을 어디에 두느냐에 따라 상측 및 하측을 다르게 정의할 수도 있음은 물론이다.Direction indicators such as “upper” and “upper” used in the present disclosure refer to a direction in which a device under test is set to be in contact with the
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 개시의 실시예들을 설명한다. 첨부된 도면에서, 동일하거나 대응하는 구성요소에는 동일한 참조부호가 부여되어 있다. 또한, 이하의 실시예들의 설명에 있어서, 동일하거나 대응하는 구성요소를 중복하여 기술하는 것이 생략될 수 있다. 그러나, 구성요소에 관한 기술이 생략되어도, 그러한 구성요소가 어떤 실시예에 포함되지 않는 것으로 의도되지는 않는다.Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described with reference to the accompanying drawings. In the accompanying drawings, identical or corresponding elements are given the same reference numerals. In addition, in the description of the following embodiments, overlapping descriptions of the same or corresponding components may be omitted. However, omission of a description of a component does not intend that such a component is not included in an embodiment.
도 1은 일 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(100)의 상하 방향 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a
일 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(100)는 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이에 배치될 수 있다. 전기 접속용 커넥터(100)는 피검사 디바이스와 테스트 장비를 서로 전기적으로 연결시킬 수 있다. 전기 접속용 커넥터(100)는 상하 방향으로 도전하는 이방성일 수 있다.The
전기 접속용 커넥터(100)는 복수의 영역(115)을 구획하는 차폐부(110)를 포함할 수 있다. 차폐부(110)는 상하 방향으로 연장할 수 있다. 차폐부(110)는 상하 방향으로 연장하며 복수의 영역(115)을 구획할 수 있다.The
차폐부(110)에 의해 둘러싸이며 구획된 영역(115)은 편의를 위해 차폐부(110)와 소정 간격 이격된 것으로 도시될 수 있지만, 이에 제한되지 않고 영역(115)은 차폐부(110)의 내면과 접하는 영역일 수 있다. 복수의 영역(115)은 각각 분리될 수 있다. 복수의 영역(115)은 동일한 간격으로 이격될 수 있다. 복수의 영역(115)의 이격 거리는 차폐부(110)의 횡방향 두께일 수 있다. 복수의 영역(115)의 배치 및 이에 따른 전기 접속용 커넥터(100)의 형상은 이하에서 도 2 및 도 3을 참조한다.The
전기 접속용 커넥터(100)는 전기 전도성의 도전부(120)를 포함할 수 있다. 도전부(120)는 영역(115)에서 상하 방향으로 연장하며 영역(115)의 상단과 영역(115)의 하단을 도전시킬 수 있다. 도전부(120)의 상단은 피검사 디바이스의 단자와 접촉할 수 있다. 도전부(120)의 하단은 테스트 장비의 단자와 접촉할 수 있다. 도전부(120)의 상단과 피검사 디바이스의 단자 사이에는 전기 전도성이 있는 구성, 예를 들어 탄성 도전체, 금속판 등이 추가로 배치될 수 있다. 이러한 구성은 테스트 장비와의 전기적 접촉을 추가적으로 개선할 수 있다. 도전부(120)의 하단과 테스트 장비의 단자 사이에는 전기 전도성이 있는 구성이 동일하거나 유사한 형태로 추가 배치될 수 있다.The
도전부(120)는 복수의 영역(115)에 각각 배치될 수 있다. 복수의 영역(115)에 각각 배치된 복수의 도전부(120) 중 일부는 피검사 디바이스의 그라운드 단자와 접촉하는 그라운드 도전부일 수 있다. 그라운드 도전부는 피검사 디바이스에서 발생할 수 있는 누설 전류, 정전기 등을 전기 접속용 커넥터(100) 밖으로 내보낼 수 있다. 그라운드 도전부(120)는 누설 전류, 정전기 등을 전기 접속용 커넥터(100) 밖으로 내보내 전기 접속용 커넥터(100)에서 크로스 토크(crosstalk; 신호 간섭)가 발생하는 것을 방지할 수 있다. 그라운드 도전부가 도전부 사이의 전자기적 간섭이나 크로스 토크를 제거할 수 있음은 물론이다.The
전기 접속용 커넥터(100)는 영역(115)에서 도전부(120)와 차폐부(110)를 절연하는 절연부(130)를 포함할 수 있다. 절연부(130)는 절연성의 절연 물질을 포함할 수 있다. 절연부(130)는 영역(115)에서 도전부(120)와 차폐부(110) 사이에 채워질 수 있다. 절연부(130)는 횡방향에서 도전부(120)의 외면 및 차폐부(110)의 내면과 접촉할 수 있다.The
도 2는 도 1의 'A' 방향에서 바라본 전기 접속용 커넥터(100)의 평면도의 일 예시이다.FIG. 2 is an example of a plan view of the
전기 접속용 커넥터(100)의 일 예시로서, 도 2에 도시된 바와 같이, 차폐부(110)는 원통형의 영역(115)을 구획할 수 있다. 원통형의 영역(115)은 차폐부(110)에 의해 둘러 싸일 수 있다. 영역(115)이 원통형일 때 영역(115)은 원형 형상의 횡방향 단면을 가질 수 있다. 영역(115)에 배치된 도전부(120)의 횡방향 단면은 원형 형상일 수 있다.As an example of the
영역(115)과 도전부(120)가 모두 원형 형상의 횡방향 단면을 가질 때, 도전부(120)와 차폐부(110)는 소정 거리 이격될 수 있다. 횡방향에서 도전부(120)의 외면과 차폐부(110)의 내면은 동일한 간격으로 이격될 수 있다. 도전부(120)의 외면과 차폐부(110)의 내면 사이의 거리는 도전부(120)의 외주를 따라 일정할 수 있다. 도전부(120)의 외면은 도전성 입자 및/또는 도전성 와이어가 배치된 가상의 경계면일 수 있다. 가상의 경계면은 도전성 입자 및/또는 도전성 와이어가 배치된 가상의 경계면의 평균 크기에 기초하여 정해질 수 있다.When both the
전기 접속용 커넥터(100)는 도전부(120)와 차폐부(110) 사이에 도전부(120)와 차폐부(110)를 절연하는 절연부(130)를 포함할 수 있다. 절연부(130)의 횡방향 단면은 내부 공동이 형성된 실린더 형상일 수 있다. 절연부(130)의 횡방향 두께는 도전부(120)의 외주를 따라 일정할 수 있다. 절연부(130)의 횡방향 두께는 도전부(120)의 외면과 차폐부(110)의 내면 사이의 횡방향 거리일 수 있다. 절연부(130)는 횡방향에서 도전부(120)의 외면과 차폐부(110)의 내면과 접촉할 수 있다. 절연부(130)의 내면은 도전부(120)의 외면과 접촉하고 절연부(130)의 외면은 차폐부(110)의 내면과 접촉할 수 있다.The
도 3은 도 1의 'A' 방향에서 바라본 전기 접속용 커넥터(100)의 평면도의 다른 예시이다.FIG. 3 is another example of a plan view of the
전기 접속용 커넥터(100)의 다른 예시로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 차폐부(110)는 직사각 기둥(정사각 기둥을 포함한다)의 영역(115)을 구획할 수 있다. 격자 패턴을 가진 영역(115)은 격자 영역(115)이라 지칭될 수 있다. 직사각 기둥의 영역(115)은 차폐부(110)에 의해 둘러싸일 수 있다. 영역(115)은 직사각형(정사각형을 포함한다) 형상의 횡방향 단면을 가질 수 있다. 이때, 영역(115) 내부에 배치된 도전부(120)의 횡방향 단면은 원형 형상일 수 있다.As another example of the
차폐부(110)가 직사각 기둥의 영역(115)을 구획할 때, 차폐부(110)는 상하 방향으로 연장하는 벽을 포함할 수 있다. 차폐부(110)는 횡방향에서 일 측으로 연장하고, 일 측을 가로지르는 타 측으로 서로 이격된 복수의 제1 차폐벽(110a)을 포함할 수 있다. 차폐부(110)는 타 측으로 연장하고 일 측으로 서로 이격된 복수의 제2 차폐벽(110b)을 포함할 수 있다.When the shielding
복수의 제1 차폐벽(110a)이 서로 이격되는 거리와, 복수의 제2 차폐벽(110b)이 서로 이격되는 거리는 동일할 수 있다. 복수의 제1 차폐벽(110a)과 복수의 제2 차폐벽(110b)은 서로를 가로지르도록 배치될 수 있다. 영역(115)은 복수의 제1 차폐벽(110a)과 복수의 제2 차폐벽(110b)에 의해 구획될 수 있다.The distance at which the plurality of
전기 접속용 커넥터(100)에서 영역(115)은 격자 패턴으로 배치될 수 있다. 영역(115)은 서로에 대하여 동일한 간격으로 배치될 수 있다. 영역(115)은 서로에 대하여 나란하게 배치될 수 있다.In the
영역(115)이 직사각형 형상의 횡방향 단면을 가질 때, 도전부(120)와 차폐부(110)는 사이의 거리는 도전부(120)의 외주를 따라 달라질 수 있다. 횡방향에서 도전부(120)의 외면과 차폐부(110)의 내면은 도전부(120)의 외주를 따라 서로 다른 간격으로 이격될 수 있다. 도전부(120)와 차폐부(110) 사이의 이격 간격의 변화에 따라 임피던스 값의 매칭이 보다 용이할 수 있다. 도전부(120)와 차폐부(110) 사이의 이격 간격의 변화에 따른 임피던스 값의 매칭은 도 5를 참조하여 이하에서 보다 상세히 살펴보도록 한다.When the
전기 접속용 커넥터(100)는 도전부(120)와 차폐부(110) 사이에 도전부(120)와 차폐부(110)를 절연하는 절연부(130)를 포함할 수 있다. 절연부(130)의 횡방향 단면은 내부에 원형 공간이 형성된 직사각형 형상일 수 있다. 절연부(130)의 횡방향 두께는 도전부(120)의 외주를 따라 변경될 수 있다. 절연부(130)는 도전부(120)의 외면과 차폐부(110)의 내면과 접촉할 수 있다. 절연부(130)의 내면은 도전부(120)의 외면과 접촉하고 절연부(130)의 외면은 차폐부(110)의 내면과 접촉할 수 있다. 절연부(130)의 내면은 도전부(120)가 형성된 가상의 경계면인 도전부(120)의 외면과 접촉할 수 있다.The
도 4는 도 3에 도시된 전기 접속용 커넥터(100)의 일 부분의 사시도이다.FIG. 4 is a perspective view of a portion of the
도 4에 도시된 전기 접속용 커넥터(100)의 일 부분은 전기 접속용 커넥터(100)의 상측과 전기 접속용 커넥터(100)의 하측을 도전시키는 전기 접속용 커넥터(100)의 일 단위 구성일 수 있다.One part of the
전기 접속용 커넥터(100)의 차폐부(110)는 금속 재료로 형성될 수 있다. 금속 재료는 예를 들어, 구리, 알루미늄, 스테인리스 강, 구리 합금, 알루미늄 합금 및 스테인리스 강 합금 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 금속 재료로 형성된 차폐부(110)는 횡방향에서 복수의 영역(115) 각각에 위치하는 도전부(120)의 외면을 에워쌀 수 있다.The shielding
복수의 영역(115) 각각에 위치하는 복수의 도전부(120)는 서로에 대해 전자기적으로 영향을 미칠 수 있다. 금속 재료로 형성된 차폐부(110)는 복수의 도전부(120) 각각의 외면을 횡방향에서 에워싸 도전부(120) 각각에 발생할 수 있는 전자기적 영향을 감소시킬 수 있다. 차폐부(110)는 접지되어 전자기적인 간섭을 감소시키는 영역을 형성할 수 있다.The plurality of
차폐부(110)는 도전부(120)의 외면을 횡방향에서 에워싸 도전부(120)로의 전자기적 간섭을 감소시킬 수 있다. 도전부(120)는 차폐부(110)에 의해 전자기적으로 일정 비율 차폐될 수 있다. 차폐부(110)가 도전부(120)로의 전자기적 간섭을 감소시킴에 따라 전기 접속용 커넥터(100)에 전자기적 노이즈와 같은 크로스 토크가 발생하는 것이 방지될 수 있다. 이에 따라, 전기 접속용 커넥터(100)를 이용한 검사 방법의 신뢰도가 향상될 수 있다.The shielding
전기 접속용 커넥터(100)의 도전부(120)는 도전성 입자 및/또는 도전성 와이어(121)를 포함할 수 있다. 도전부(120)는 도전성 입자 및/또는 도전성 와이어(121)를 유지시키는 유지부(122)를 포함할 수 있다. 유지부(122)는 실리콘 고무를 포함할 수 있다. 도전부(120)가 유지부(122)로서 실리콘 고무를 포함함에 따라, 탄성을 가질 수 있다.The
전기 접속용 커넥터(100)의 절연부(130)는 실리콘 고무와 동일한 재질일 수 있다. 전기 접속용 커넥터(100)의 절연부(130)는 절연 물질을 포함할 수 있다. 절연부(130)는 절연 물질로서 실리콘 고무를 포함할 수 있다. 절연부(130)의 절연 물질은 도전성 입자 및/또는 도전성 와이어(121)를 유지하는 도전부(120)의 유지부(122)와 동일한 재질일 수 있다. 절연부(130)가 절연 물질로서 실리콘 고무를 포함함에 따라 절연부(130)가 탄성을 가질 수 있다.The insulating
전기 접속용 커넥터(100)의 차폐부(110)는 절연부(130)의 상단으로부터 절연부(130)의 하단까지 연장할 수 있다. 차폐부(110)의 상단은 절연부(130)의 상단과 같은 높이에 위치할 수 있다. 차폐부(110)의 하단은 절연부(130)의 하단과 같은 높이에 위치할 수 있다. 차폐부(110)는 횡방향에서 절연부(130)의 외면과 접촉하며 절연부(130)의 상하 방향 전체에 대해 연장할 수 있다.The shielding
차폐부(110)의 상하 방향 길이는 도전부(120)의 상하 방향 길이와 같을 수 있다. 도전부(120)가 절연부(130)의 상단으로부터 절연부(130)의 하단까지 연장할 때 차폐부(110)는 절연부(130)의 상단으로부터 절연부(130)의 하단까지 연장할 수 있다. 여기서, 도전부(120)의 상하 방향 길이와 차폐부(110)의 상하 방향 길이는 동일할 수 있다.A length of the shielding
차폐부(110)의 상하 방향 길이는 도전부(120)의 상하 방향 길이보다 클 수 있다. 도전부(120)는 절연부(130)의 상하 방향 길이의 일 부분만큼 연장할 수 있다. 예를 들어, 도전부(120)는 절연부(130)의 상하 방향 길이의 0.2 배 내지 0.8 배만큼 연장할 수 있다. 차폐부(110)는 절연부(130)의 상단으로부터 절연부(130)의 하단까지 연장할 수 있다. 여기서, 차폐부(110)의 상하 방향 길이는 도전부(120)의 상하 방향 길이보다 클 수 있다.A vertical length of the shielding
차폐부(110)의 상하 방향 길이가 도전부(120)의 상하 방향 길이와 같거나, 도전부(120)의 상하 방향 길이보다 더 클 수 있음에 따라, 차폐부(110)는 횡방향에서 도전부(120)를 상하 방향 길이 전체에 대하여 감쌀 수 있다.As the length of the
도 5는 도 4의 'B' 방향에서 바라본 전기 접속용 커넥터(100)의 일 부분의 평면도이다. 도 5를 참조하여 전기 접속용 커넥터(100)의 임피던스 값의 매칭에 대해 보다 상세히 개시한다.FIG. 5 is a plan view of a portion of the
전기 접속용 커넥터(100)가 고주파 신호인 RF(Radio Frequency) 신호를 이용한 검사 방법에 사용될 때, 전력 전송 효율을 상승시키고 신호 파형 왜곡의 감소를 위해, RF 신호의 주파수 영역에 따라 전기 접속용 커넥터(100)의 임피던스 값을 매칭시킬 필요가 있다. 전기 접속용 커넥터(100)의 임피던스 값은 피검사 디바이스의 단자와 접촉하는 일 구성인 영역(115)의 임피던스 값에 기초할 수 있다.When the
전기 접속용 커넥터(100)는 임피던스 값을 매칭시킴과 동시에 피검사 디바이스와의 안정적인 전기적 연결을 제공할 필요가 있다. 전기 접속용 커넥터(100)가 접촉하는 피검사 디바이스는 기 설계된 단자 사이의 거리인 피치(pitch)에 따라 단자의 크기가 다를 수 있다. 피검사 디바이스와의 안정적인 전기적 연결을 위해 전기 접속용 커넥터(100)는 피검사 디바이스의 단자의 크기에 대응되는 크기의 도전부(120)를 가질 필요가 있다.The
도 5를 참조하면, 도전부(120)의 횡방향 단면의 직경 길이는 a일 수 있다. 도전부(120)의 횡방향 단면의 직경은 도전부(120)의 도전성 입자 및/또는 도전성 와이어(121; 도 4 참조)가 배치된 가상의 경계면인 도전부(120)의 외면을 기준으로 측정되는 직경 길이의 평균일 수 있다.Referring to FIG. 5 , the diameter of the cross section of the
영역(115)의 횡방향 단면은 직사각형 형상일 수 있다. 예를 들어, 영역(115)의 횡방향 단면의 형상은 정사각형일 수 있다. 영역(115)의 횡방향 단면의 단변 길이는 b1일 수 있다. 영역(115)의 횡방향 단면의 대각선 길이는 b2일 수 있다. 대각선은 영역(115)의 횡방향 단면에서 서로 이웃하지 않는 두 꼭지점을 잇는 선일 수 있다. 영역(115)이 정사각형일 때, 영역(115)의 횡방향 단면의 4개의 변의 길이는 동일하므로 영역상기 단변 길이는 상기 4개의 변 중 임의의 하나의 변의 길이를 의미한다.A transverse cross-section of
전기 접속용 커넥터(100)에서 영역(115)의 임피던스 값은 다음의 수식에 의해 구해질 수 있다.The impedance value of the
수학식 1에서 a는 횡방향 단면에서 도전부(120)의 직경 길이일 수 있으며, b는 횡방향 단면에서 도전부(120)를 감싸는 부분, 즉 절연부(130)가 채워진 영역(115)의 평균 변 길이일 수 있다. 또한, 수학식 1에서 ε은 유전율(permittivity; εγ은 유전 상수), μ는 투과율(permeability), L은 유도용량(inductance), C는 전기용량(capacitance)일 수 있다.In Equation 1, a may be the diameter length of the
이하에서는 영역(115)이 원형 형상의 단면을 가질 경우와 영역(115)이 직사각형 형상의 단면을 가질 경우를 비교하여 본다.Hereinafter, a case where the
도 2를 참조하면, 영역(115)이 원형 형상의 단면을 가질 경우, 영역(115)의 평균 변 길이 b는 영역(115)의 직경일 수 있다.Referring to FIG. 2 , when the
도 2에 도시된 바와 같이, 도전부(120)에서 차폐부(110)까지의 거리가 도전부(120)의 외주를 따라 동일하다. 따라서 영역(115)의 평균 변 길이 b가 정해지면, 임피던스 값을 매칭시키기 위한 도전부(120)의 직경 길이 a 또한 b에 따라 정해질 수 있다.As shown in FIG. 2 , the distance from the
피검사 디바이스와의 안정적인 전기적 연결을 위해 전기 접속용 커넥터(100)는 피검사 디바이스의 단자의 크기에 대응되는 도전부(120)의 크기를 가질 필요가 있다. 임피던스 값 Z0가 정해졌을 때, 도전부(120)의 직경 길이 a는 영역(115)의 평균 변 길이(영역(115)의 원형 단면의 직경) b에 따라 정해진다. 이에 따라, 도전부(120)의 직경을 변경할 수 있는 설계 마진이 줄어들 수 있어, 도전부(120)의 직경을 크게 하는데 어려움이 있을 수 있다. 따라서, 피검사 디바이스와의 안정적인 전기적 연결이 어려울 수 있다.For stable electrical connection with the device under test, the
도 3을 참조하면, 영역(115)이 직사각형 형상의 단면을 가질 경우, 영역(115)의 평균 변 결이 b는 영역(115)의 단변 길이, 장변 길이 및 대각선 길이에 기초하여 구해질 수 있다.Referring to FIG. 3 , when the
도 5에 도시된 바와 같이, 도전부(120)에서 차폐부(110)까지의 거리는 도전부(120)의 외주를 따라 변경될 수 있다. 영역(115)의 횡방향 단면의 단변 길이는 b1일 수 있고, 영역(115)의 횡방향 단면의 대각선 길이는 b2일 수 있다. 영역(115)의 평균 변 길이 b는 도 5에 도시된 b1과 b2 사이의 값으로 정해질 수 있다. 영역(115)의 횡방향 단면의 대각선 길이 b2는 단변 길이 b1보다 길다. 따라서, 영역(115)의 평균 변 길이 b는 단변 길이 b1보다 클 수 있다.As shown in FIG. 5 , the distance from the
종합하면, 영역(115)이 정사각형 형상의 단면을 가지면, 영역(115)이 원형 형상의 단면을 가지는 경우보다 더 큰 영역(115)의 평균 변 길이 b를 가질 수 있다. 따라서, 임피던스 값을 매칭시키기 위한 도전부(120)의 직경 a가 더 커질 수 있다.In summary, when the
피검사 디바이스와의 안정적인 전기적 연결을 위해 전기 접속용 커넥터(100)는 피검사 디바이스의 단자의 크기에 대응되는 도전부(120)의 크기를 가질 필요가 있다. 영역(115)이 직사각형 형상의 단면을 가지는 경우, 평균 변 길이 b가 상대적으로 커질 수 있으므로, 설계 임피던스 Zo가 설정되기 위한 도전부(120)의 직경 a도 더 커질 수 있다. 이에 따라, 피검사 디바이스와의 안정적인 전기 연결이 제공될 수 있다. 또한, 전기 접속용 커넥터(100)의 설계 마진이 더 클 수 있다.For stable electrical connection with the device under test, the
전기 접속용 커넥터(100)의 적정 임피던스 값 Z0가 기 결정될 때, 도전부(120)의 횡방향 단면의 직경 길이 a와 영역(115)의 횡방향 단면의 단변 길이 b1의 비율은 1:2 내지 1:5일 수 있다.When the appropriate impedance value Z 0 of the
전기 접속용 커넥터(100)의 적정 임피던스 값 Z0가 기 결정될 때, 도전부(120)의 횡방향 단면의 직경 길이 a와 영역(115)의 횡방향 단면의 대각선 길이 b2의 비율은 1:4 내지 1:7일 수 있다.When the appropriate impedance value Z 0 of the
도 6은 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(100)의 일 부분의 사시도이다.6 is a perspective view of a portion of a
다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(100)는 일 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(100)의 구성 요소를 동일하게 포함할 수 있다. 도면에서 동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 의미할 수 있다.A
다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(100)에서 절연부(130)는 다공성 폼 구조를 형성할 수 있다. 절연부(130)의 다공성 폼 구조에는 복수의 기공이 형성될 수 있다. 절연부(130)가 다공성 폼 구조를 형성함에 따라 절연부(130)의 유전율(誘電率; permittivity)이 낮아질 수 있다. 절연부(130)의 유전율이 낮아질 경우 전기 접속용 커넥터(100)의 복수의 도전부(120)가 서로 전자기적으로 간섭되는 것이 보다 효과적으로 방지될 수 있다. 절연부(130)가 다공성 폼 구조를 형성함에 따라 절연부(130)는 탄성을 가질 수 있다.In the
도 7은 또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(100)의 상하 방향 단면도이다.7 is a cross-sectional view in a vertical direction of a
또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(100)는 도전부(120)의 상단에 부착되는 상단 필름(140)을 포함할 수 있다. 상단 필름(140)은 도전부(120)의 상부와 전기적으로 연결되는 상단 패드(141)를 포함할 수 있다. 상단 필름(140)은 도전부(120)의 상부와 접촉할 수 있다. 상단 패드(141)는 도전부(120)의 형상 및 크기와 대응되는 형상 및 크기를 가질 수 있다. 상단 패드(141)는 전기 전도성일 수 있다. 상단 패드(141)는 도전성 입자를 포함할 수 있다. 상단 필름(140)은 상단 패드(141)를 유지하는 상단 유지 시트(142)를 포함할 수 있다. 상단 유지 시트(142)는 실리콘, 실리콘 고무 및 합성 수지(예를 들어 폴리이미드) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 유지 시트(142)는 필름 형상으로서 실리콘, 실리콘 고무 및 합성 수지를 포함할 수 있다.The
또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(100)는 도전부(120)의 하단에 부착되는 하단 필름(150)을 포함할 수 있다. 하단 필름(150)은 도전부(120)의 상부와 전기적으로 연결되는 하단 패드(151)를 포함할 수 있다. 하단 필름(150)은 도전부(120)의 상부와 접촉할 수 있다. 하단 패드(151)는 도전부(120)의 형상 및 크기와 대응되는 형상 및 크기를 가질 수 있다. 하단 패드(151)는 전기 전도성일 수 있다. 하단 패드(151)는 도전성 입자를 포함할 수 있다. 하단 필름(150)은 하단 패드(151)를 유지하는 하단 유지 시트(152)를 포함할 수 있다. 하단 유지 시트(152)는 실리콘, 실리콘 고무 및 합성 수지(예를 들어 폴리이미드) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The
상단 패드(141), 도전부(120) 및 하단 패드(151)는 상하 방향으로 도전하는 도전 채널(160)을 형성할 수 있다. 전기 접속용 커넥터(100)의 상단과 전기 접속용 커넥터(100)의 하단은 도전 채널(160)을 통하여 전도될 수 있다.The
도전부(120)의 상하 방향 길이는 차폐부(110)의 상하 방향 길이와 같거나, 차폐부(110)의 상하 방향 길이보다 작을 수 있다. 상단 패드(141), 도전부(120) 및 하단 패드(151)를 포함하는 도전 채널(160)의 상하 방향 길이는 차폐부(110)의 상하 방향 길이보다 클 수 있다.The length of the
실시예들은 피검사 디바이스와의 안정적인 전기적인 연결이 제공하는 전기 접속용 커넥터(100)를 제공한다. 본 개시의 실시예들에 의하면, 전기 접속용 커넥터(100)의 임피던스 값을 매칭하기 용이할 수 있다. 또한, 본 개시의 실시예들에 의하면, 전기 접속용 커넥터(100)의 복수의 도전부(120)가 서로에 대하여 미칠 수 있는 전자기적 영향을 감소시킬 수 있다.Embodiments provide a
이상 일부 실시예들과 첨부된 도면에 도시된 예에 의해 본 개시의 기술적 사상이 설명되었지만, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이해할 수 있는 본 개시의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 이루어질 수 있다는 점을 알아야 할 것이다. 또한, 그러한 치환, 변형 및 변경은 첨부된 청구범위 내에 속하는 것으로 생각되어야 한다.Although the technical spirit of the present disclosure has been described by examples shown in some embodiments and the accompanying drawings, those skilled in the art can understand the technical spirit and scope of the present disclosure to which the present disclosure belongs. It will be appreciated that various substitutions, modifications and alterations may be made within the range. Moreover, such substitutions, modifications and alterations are intended to fall within the scope of the appended claims.
100: 전기 접속용 커넥터, 110: 차폐부, 110a: 제1 차폐벽, 110b: 제2 차폐벽, 115: 영역, 120: 도전부: 121: 도전성 입자 및/또는 도전성 와이어, 130: 절연부, 140: 상단 필름, 141: 상단 패드, 142: 상단 유지 시트, 150: 하단 필름, 151: 하단 패드, 152: 하단 유지 시트, 160: 도전 채널100: connector for electrical connection, 110: shielding part, 110a: first shielding wall, 110b: second shielding wall, 115: region, 120: conductive part: 121: conductive particle and/or conductive wire, 130: insulator, 140 upper film, 141 upper pad, 142 upper retaining sheet, 150 lower film, 151 lower pad, 152 lower retaining sheet, 160 conductive channel
Claims (14)
격자 패턴으로 배치된 복수의 격자 영역을 구획하며 상하 방향으로 연장하는 차폐부;
상기 격자 영역에서 상하 방향으로 연장하며 상기 격자 영역의 상단과 상기 격자 영역의 하단을 도전시키는 도전부; 및
상기 격자 영역에서 상기 도전부와 상기 차폐부를 절연하는 절연부를 포함하고,
상기 격자 영역의 횡방향 단면은 직사각형 형상이고,
상기 도전부의 횡방향 단면의 직경 길이와 상기 격자 영역의 횡방향 단면의 단변 길이의 비율은 1:2 내지 1:5인,
전기 접속용 커넥터.An electrical connection connector disposed between the device under test and the test equipment and conducting in the vertical direction so as to electrically connect the device under test and the test equipment to each other,
a shielding portion that divides a plurality of lattice areas arranged in a lattice pattern and extends in a vertical direction;
a conductive part extending vertically from the grating area and conducting conduction between an upper end of the grating area and a lower end of the grating area; and
An insulating portion insulating the conductive portion and the shielding portion in the grid region;
The transverse cross-section of the grid area is rectangular in shape,
The ratio of the length of the diameter of the cross section of the conductive portion to the length of the short side of the cross section of the grating region is from 1:2 to 1:5.
Connector for electrical connection.
상기 차폐부는 일 측으로 연장하고 상기 일 측을 가로지르는 타 측으로 서로 이격된 복수의 제1 차폐벽; 및
상기 타 측으로 연장하고 상기 일 측으로 서로 이격된 복수의 제2 차폐벽을 포함하는,
전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
A plurality of first shielding walls spaced apart from each other to the other side that extends to the shielding unit and crosses the one side; and
Including a plurality of second shielding walls extending to the other side and spaced apart from each other to the one side,
Connector for electrical connection.
상기 차폐부는 상기 절연부의 상단으로부터 상기 절연부의 하단까지 상하 방향으로 연장하는,
전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The shield extends in a vertical direction from an upper end of the insulating portion to a lower end of the insulating portion,
Connector for electrical connection.
상기 차폐부의 상하 방향 길이는 상기 도전부의 상하 방향 길이와 같거나 상기 도전부의 상하 방향 길이보다 큰,
전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The vertical length of the shield is equal to or greater than the vertical length of the conductive portion,
Connector for electrical connection.
상기 차폐부는 금속 재료로 형성되는,
전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The shield is formed of a metal material,
Connector for electrical connection.
상기 차폐부는 상기 복수의 격자 영역 각각에 위치하는 상기 도전부로의 전자기적 간섭을 감소시키도록 횡방향에서 상기 도전부의 외면을 에워싸는,
전기 접속용 커넥터.According to claim 5,
The shielding portion surrounds an outer surface of the conductive portion in a lateral direction to reduce electromagnetic interference to the conductive portion located in each of the plurality of grid areas.
Connector for electrical connection.
상기 도전부는 도전성 입자와 도전성 와이어 중 적어도 하나를 포함하고,
상기 도전성 입자와 도전성 와이어 중 적어도 하나는 실리콘 고무에 의해 유지되며,
상기 절연부는 상기 실리콘 고무와 동일한 재질인,
전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The conductive part includes at least one of conductive particles and a conductive wire,
At least one of the conductive particles and the conductive wire is held by silicone rubber,
The insulating part is the same material as the silicone rubber,
Connector for electrical connection.
격자 패턴으로 배치된 복수의 격자 영역을 구획하며 상하 방향으로 연장하는 차폐부;
상기 격자 영역에서 상하 방향으로 연장하며 상기 격자 영역의 상단과 상기 격자 영역의 하단을 도전시키는 도전부; 및
상기 격자 영역에서 상기 도전부와 상기 차폐부를 절연하는 절연부를 포함하고,
상기 격자 영역의 횡방향 단면은 직사각형 형상이고,
상기 도전부의 횡방향 단면의 직경 길이와 상기 격자 영역의 횡방향 단면의 대각선 길이의 비율은 1:4 내지 1:7인,
전기 접속용 커넥터.An electrical connection connector disposed between the device under test and the test equipment and conducting in the vertical direction so as to electrically connect the device under test and the test equipment to each other,
a shielding portion that divides a plurality of lattice areas arranged in a lattice pattern and extends in a vertical direction;
a conductive part extending vertically from the grating area and conducting conduction between an upper end of the grating area and a lower end of the grating area; and
An insulating portion insulating the conductive portion and the shielding portion in the grid region;
The transverse cross-section of the grid area is rectangular in shape,
The ratio of the diameter length of the transverse cross section of the conductive portion to the diagonal length of the transverse cross section of the grating region is 1:4 to 1:7,
Connector for electrical connection.
상기 차폐부는 구리, 알루미늄, 스테인리스강, 구리 합금, 알루미늄 합금 및 스테인리스 강 합금 중 적어도 하나를 포함하고,
상기 절연부는 실리콘 고무를 포함하는,
전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The shield includes at least one of copper, aluminum, stainless steel, copper alloy, aluminum alloy and stainless steel alloy,
The insulating part includes silicone rubber,
Connector for electrical connection.
상기 절연부는 다공성 폼 구조를 형성하는,
전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The insulating part forms a porous foam structure,
Connector for electrical connection.
상기 도전부의 상단에 부착되는 상단 필름; 및
상기 도전부의 하단에 부착되는 하단 필름을 더 포함하는
전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
an upper film attached to an upper end of the conductive part; and
Further comprising a lower film attached to the lower end of the conductive part
Connector for electrical connection.
상기 상단 필름은 상기 도전부의 상부와 전기적으로 연결되는 상단 패드를 포함하고,
상기 하단 필름은 상기 도전부의 하부와 전기적으로 연결되는 하단 패드를 포함하며,
상기 상단 패드, 상기 도전부 및 상기 하단 패드는 상하 방향으로 도전하는 도전 채널을 형성하고,
상기 도전 채널의 상하 방향 길이는 상기 차폐부의 상하 방향 길이보다 큰,
전기 접속용 커넥터.According to claim 13,
The top film includes a top pad electrically connected to an upper portion of the conductive part,
The lower film includes a lower pad electrically connected to a lower portion of the conductive part,
The upper pad, the conductive portion, and the lower pad form a conductive channel conducting in a vertical direction;
The length of the conductive channel in the vertical direction is greater than the length of the shield in the vertical direction,
Connector for electrical connection.
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