KR102487522B1

KR102487522B1 - 스터드 홀 검사장치

Info

Publication number: KR102487522B1
Application number: KR1020210168938A
Authority: KR
Inventors: 김창훈
Original assignee: 한전케이피에스 주식회사
Priority date: 2021-11-30
Filing date: 2021-11-30
Publication date: 2023-01-12

Abstract

본 발명은, 스터드 홀의 상부에 위치되는 검사하우징과, 상기 검사하우징의 하단부에 결합되고 상기 스터드 홀에 삽입되어 상기 스터드 홀에 형성된 나사산 검사를 위한 검사용게이지를 구비하는 검사부; 상기 검사부의 하부에 위치되고, 상기 검사부와 결합되도록 설치되며, 상기 스터드 홀에 인접하게 위치된 후 소정 거리만큼 이동 가능한 고정부; 상기 고정부의 일 측에서 상기 검사용게이지를 향해 돌출 형성되고, 스터드 홀 내측면에 접촉하여 상기 스터드 홀의 중심과 상기 검사부의 중심을 서로 일치시키는 가이드바를 포함하는 스터드 홀 검사 장치에 관한 것이다.

Description

스터드 홀 검사장치{APPARATUS FOR STUDHOLE INSPECTION}

본 발명은 스터드 홀을 검사하기 위한 장치에 관한 것이다.

원자력 발전소는 원자로의 내부에서 핵연료를 핵 분열시키면서 생성되는 에너지를 이용해 1차 냉각수를 가열하고 가열된 에너지를 이용해 증기발생기에서 2차 냉각수로 에너지를 전달한 후 발생된 증기를 터빈에서 회전에너지로 변환하고 발전기를 통해 전력을 생산하는 시스템이다.

이러한 원자력 발전 시스템은, 원자로, 발전기, 터빈, 배관 등을 구성으로 포함할 수 있다. 이 중 원자로는 원자로 용기와 원자로 뚜껑을 고정시키기 위해 스터드 볼트가 체결수단으로 사용되며, 원자로의 결합부의 플랜지에는 스터드 볼트를 결합할 수 있는 스터드 홀(stud hole)이 일정한 간격을 두고 형성된다.

스터드 홀에는 스터드 볼트가 체결되어야 하므로 나사산의 치수 변화를 주기적으로 관리하는 것이 필수적이고, 스터드 홀에는 게이지(gage)에 맞는 나사산이 형성되야 하므로 작업자는 한계 게이지를 스터드 홀에 삽입하는 방식으로 스터드 홀의 나사산의 치수 건전성 또는 사용의 적합성을 판단하게 된다.

스터드 홀의 나사산 치수 건전성 또는 사용의 적합성을 판단하기 위해서는 스터드 홀과 검사장치 사이에 축 정렬 및 얼라인이 필수적이며, 스터드 홀과 검사장치 사이의 회전 중심이 일치할 경우에만 적절한 검사 수행이 가능하다.

대형 사이즈의 스터드 홀의 검사를 위한 장치는 그 무게가 무거워 작업자가 해당 장비를 사용해 작업하는 것이 용이하지 않다. 또한, 작업자가 직접 게이지를 스터드 홀에 삽입한 후 회전시키는 방식으로 스터드 홀의 나사산의 치수 건전성을 확인할 경우, 작업자의 피로도가 계속 누적되고 작업 시간도 오래 걸리는 문제점이 있다.

이에, 스터드 홀의 중심과 검사 장치의 중심을 간편한 조작으로 일치시킴으로써 검사의 신뢰성 확보와 함께, 작업자의 작업 수행의 편의성을 확보할 수 있는 검사 장치에 대한 연구가 필요하다.

본 발명의 일 목적은, 원자로에 형성된 스터드 홀의 사용 적합성 검사를 위하여 작업자에게 과도한 부담을 주지 않으면서 검사를 신속 및 정확하게 수행할 수 있는 스터드 홀 검사 장치의 구조를 제공하기 위한 것이다.

본 발명의 다른 일 목적은, 스터드 홀의 사용 적합성 검사를 위해 스터드 홀의 중심과 검사 장치의 중심을 간편한 조작으로 서로 일치시킴으로써 검사의 신뢰성 확보와 함께 작업자의 작업 수행의 편의성을 확보할 수 있는 스터드 홀 검사 장치의 구조를 제공하기 위한 것이다.

본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 예에 따른 스터드 홀 검사장치는, 스터드 홀의 상부에 위치되는 검사하우징과, 상기 검사하우징의 하단부에 결합되고 상기 스터드 홀에 삽입되어 상기 스터드 홀에 형성된 나사산 검사를 위한 검사용게이지를 구비하는 검사부; 상기 검사부의 하부에 위치되고, 상기 검사부와 결합되도록 설치되며, 상기 스터드 홀에 인접하게 위치된 후 소정 거리만큼 이동 가능한 고정부; 및 일 방향으로 연장되는 원통형의 형상으로 이루어지고, 상기 고정부의 일 측에서 상기 검사용게이지를 향해 돌출 형성되는 가이드바를 포함하고, 상기 가이드바는, 상기 스터드 홀 내측면에 접촉하여 상기 스터드 홀의 중심과 상기 검사부의 중심을 서로 일치시킬 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 가이드바는, 복수개로 이루어져 상기 고정부의 서로 다른 개소에 각각 설치될 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 가이드바는 상기 검사용게이지를 향하는 방향으로 가이드바 수용부로부터 인출되거나, 상기 가이드바 수용부를 향해 삽입될 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 상기 고정부는, U자 형상으로 이루어져 상기 스터드 홀을 감싸도록 배치되는 안착부재; 상기 안착부재 상에서 상하로 배치되는 상부디스크와 하부디스크; 및 상기 상부디스크와 하부디스크를 서로 연결하는 디스크기둥을 포함할 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 상기 상부디스크와 하부디스크의 일 측에는, 상기 가이드바가 설치되도록 상기 검사하우징을 향해 플랜지가 돌출 형성될 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 상기 플랜지는, 상기 상부디스크의 일 측으로부터 상기 검사하우징을 향해 돌출 형성되는 상부디스크 플랜지; 및 상기 하부디스크의 일 측으로부터 상기 검사하우징을 향해 돌출 형성되는 하부디스크 플랜지를 포함할 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 고정부는, 상기 상부디스크 플랜지와 상기 하부디스크 플랜지를 관통하도록 설치되고, 상기 가이드바를 수용하는 가이드바 수용부를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 가이드바는, 상기 가이드바 수용부로부터 인출되거나, 상기 가이드바 수용부를 향해 삽입될 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 고정부는, 상기 검사부에 고정되어 하중을 지지하기 위한 지지기둥을 더 포함할 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 검사하우징의 양 측에는, 작업자가 파지하도록 원통형으로 이루어지는 손잡이가 형성될 수 있다.

본 발명의 다른 예에 따르면, 검사부와 전기적으로 연결되어 상기 검사부의 동작을 형성하거나, 상기 스터드 홀의 검사에 의한 데이터를 처리하도록 이루어지는 프로세서를 더 포함할 수 있다.

상기와 같은 구조를 갖는 스터드 홀 검사 장치는, 스터드 홀과 검사 장치의 중심을 가이드바를 통해 정렬시킬 수 있어 검사의 신뢰성 확보와 함께, 스터드 홀과 검사 장치의 중심이 서로 불일치함에 따라 발생하는 문제점을 방지할 수 있다.

또한, 가이드바의 조작을 통한 스터드 홀과 검사 장치의 중심의 신속한 정렬을 통해 작업자의 작업 수행의 편의성을 확보할 수 있으며, 작업 수행의 효율성을 확보할 수 있게 된다.

도 1은, 본 실시예에 따른 스터드 홀 검사장치를 나타내는 사시도이다.
도 2는, 도 1의 스터드 홀 검사장치의 정면도이다.
도 3은, 도 1의 A 부분을 확대한 확대도이다.
도 4의 (a)는 가이드바가 인출되기 전의 모습을 나타내는 개념도이고, 도 4의 (b)는 가이드바가 인출된 후의 모습을 나타내는 개념도이다.
도 5는, 가이드바에 의해 검사부가 스터드 홀에 정렬되는 모습을 나타내는 개념도이다.
도 6의 (a)는, 검사부가 스터드 홀에 정렬되기 전의 모습을 나타내는 개념도이고, 도 6의 (b)는, 검사부가 스터드 홀에 정렬된 후의 모습을 나타내는 개념도이다.

이하, 본 발명에 관련된 스터드 홀 검사 장치에 대하여 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다.

본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일, 유사한 구성에 대해서는 동일, 유사한 참조번호를 부여하고, 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.

또한, 서로 다른 실시예라도 구조적, 기능적으로 모순이 되지 않는 한 어느 하나의 실시예에 적용되는 구조는 다른 하나의 실시예에도 동일하게 적용될 수 있다.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.

본 명세서에 개시된 실시 예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서에 개시된 실시예의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.

첨부된 도면은 본 명세서에 개시된 실시 예를 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것일 뿐, 첨부된 도면에 의해 본 명세서에 개시된 기술적 사상이 제한되지 않으며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

이하에서 발명의 구체적인 설명에서 전방 또는 전방부는 도면상의 우측을 의미하고, 후방 또는 후방부는 도면상의 좌측을 의미하는 것으로 이해할 수 있다. 또한, 상부 또는 상측은 도면상에서 위쪽을 의미하고, 하부 또는 하측은 도면상에서 아래쪽을 의미하는 것으로 이해할 수 있다.

도 1은, 본 실시예에 따른 스터드 홀 검사 장치(100)를 나타내는 사시도이고, 도 2는, 스터드 홀 검사 장치(100)를 정면에서 바라본 정면도이다. 또한, 도 3은, 도 1의 A 부분을 확대한 도면이다.

스터드 홀 검사 장치(100)는, 원자로에 형성된 스터드 홀(H)의 사용 적합성을 검사하기 위한 것으로, 스터드 홀(H)을 향해 검사용게이지(112)를 삽입한 후 이를 회전시켜 스터드 홀(H)의 내측면에 형성된 나사산의 손상 여부를 판단하게 된다.

본 실시예에 따른 스터드 홀 검사 장치(100)는 검사부(110), 고정부(120) 및 가이드바(130a, 130b)를 구성으로 포함할 수 있다.

검사부(110)는 스터드 홀(H)에 형성된 나사산을 검사하기 위한 것으로 검사하우징(111) 및 검사용게이지(112)를 포함할 수 있다.

검사하우징(111)은 원통형의 형상으로 상하 방향으로 연장되고, 스터드 홀(H)의 상부에 상하방향으로 위치되는 것으로, 스터드 홀(H) 내부에 검사용게이지(112)를 삽입하고 이를 구동시키는 역할을 한다.

또한, 검사하우징(111)의 외측면 일 측에는 검사하우징(111)을 지지기둥(125)에 고정시켜 그 움직임을 제한하기 위한 플런저(116)가 형성될 수 있다. 작업자는 플런저(116)를 누르는 방식으로 검사하우징(111)을 고정부(120)에 고정시킬 수 있다.

검사용게이지(112)는 검사하우징(111)의 하단부에 결합되는 것으로, 스터드 홀(H)에 삽입되어 스터드 홀(H)에 형성된 나사산 검사를 수행하는 역할을 한다. 이때, 검사용게이지(112)는 스터드 홀(H)에 형성된 나사산의 이상을 확인할 수 있는 검사 수단을 포함할 수 있다. 여기서, 검사 수단이란, 스터드 홀(H)에 형성된 암나사산의 이미지를 캡쳐하는 등 이미지 센서를 포함하는 촬영 수단을 의미할 수 있다.

예를 들어, 검사용게이지(112)는 게이지구동부(113)에 의한 구동력을 전달받아 회전될 수 있다. 검사용게이지(112)는 검사하우징(111)에 대해 상대 회전될 수 있으며, 스터드 홀(H)에 삽입되어 회전하면서 상승 또는 하강할 수 있다.

스터드 홀(H)의 내측면에는 암나사산이 형성되고, 검사용게이지(112)의 외측면에는 이에 대응하는 수나사산이 형성될 수 있다. 검사용게이지(112)가 스터드 홀(H)에 삽입된 상태에서 회전하게 되면, 스터드 홀(H)의 내측면에 형성된 암나사산은 검사용게이지(112)의 수나사산과 맞물리면서 검사용게이지(112)의 승강을 형성할 수 있게 된다.

검사용게이지(112)는 스터드 홀(H)의 암나사산에 맞물려 회전을 할 수 있으며, 만일 암나사산에 이상이 있을 경우, 검사용게이지(112)를 회전시키는 게이지구동부(113)에 과도한 토크가 걸리게 된다. 게이지구동부(113)는 프로세서(140)와 전기적으로 연결되어, 게이지구동부(113)에 걸리는 부하 정보를 통해 스터드 홀(H)의 나사산 이상 여부를 판단할 수 있게 될 것이다.

검사부(110)는 배선가이드(115)를 포함할 수 있다. 배선가이드(115)는 검사용게이지(112)에 구동력을 전달하기 위해 전원을 공급하는 역할을 하는 것으로, 복수의 분절된 부분이 연결된 체인과 같은 형태로 이루어질 수 있다.

고정부(120)는 검사부(110)의 하부에서 검사부(110)와 결합되도록 설치되며, 스터드 홀(H)에 인접한 위치에 안착된 후 소정 거리만큼 이동할 수 있다.

고정부(120)는, 안착부재(121), 상부디스크(122)와 하부디스크(123) 및 디스크기둥(124)을 포함할 수 있다.

안착부재(121)는 U자 형상으로 이루어져 스터드 홀(H)을 감싸도록 배치될 수 있다. 안착부재(121)는 스터드 홀(H)의 주변 영역과 접촉한 상태로 밀착되게 설치될 수 있다. 이때, 안착부재(121)는 전원의 인가로 자성을 띄는 전자석으로 이루어져 별도의 고정제어수단(미도시)을 조작해 전원이 인가(ON) 또는 제거(OFF)됨에 따른 자기력으로 고정부(120)의 이동을 제한하는 힘을 제공할 수 있다.

상부디스크(122)와 하부디스크(123)는 안착부재(121)에 대응하게 배치되고, 안착부재(121)의 형상에 대응하도록 각각 'U'자형의 형상으로 이루어질 수 있다. 상부디스크(122)와 하부디스크(123)는 안착부재(121)의 상부에서 상하 방향으로 서로 이격되게 배치될 수 있다.

디스크기둥(124)은 상부디스크(122)와 하부디스크(123)를 서로 연결하는 역할하는 것으로, 상부디스크(122)와 하부디스크(123) 사이에서 상하 방향으로 설치될 수 있다.

상부디스크(122)와 하부디스크(123)의 일 측에는 검사하우징(111)을 향하는 방향으로 플랜지(122a, 123a)가 돌출 형성될 수 있다. 플랜지는 상부디스크(122)의 일 측으로부터 상기 검사하우징(111)을 향해 돌출 형성되는 상부디스크 플랜지(122a)와, 하부디스크(123)의 일 측으로부터 검사하우징(111)을 향해 돌출 형성되는 하부디스크 플랜지(123a)를 포함할 수 있다.

상부디스크 플랜지(122a) 및 하부디스크 플랜지(123a)가 상하로 중첩된 위치에는 가이드바(130a, 130b)가 위치될 수 있다.

상부디스크 플랜지(122a)와 하부디스크 플랜지(123a)에는 각각 상부디스크 홀(122b)과 하부디스크 홀(123b)이 형성될 수 있으며, 상부디스크 홀(122b)과 하부디스크 홀(123b)에는 지지기둥(125)이 위치될 수 있다.

고정부(120)는 가이드바(130a, 130b)를 수용하기 위한 가이드바 수용부(131a, 131b)를 더 포함할 수 있다.

가이드바 수용부(131a, 131b)는 상부디스크 플랜지(122a)와 하부디스크 플랜지(123a)를 관통하도록 설치되고 가이드바(130a, 130b)를 수용하는 역할을 한다. 가이드바 수용부(131a, 131b)는 가이드바(130a, 130b)를 상하 방향으로 지지하는 역할을 하며, 가이드바(130a, 130b)는 가이드바 수용부(131a, 131b)를 향해 삽입 또는 인출되면서 상하 방향으로 이동할 수 있다. 이때, 가이드바 수용부(131a, 131b)의 상부에는 가이드바 고정핀(미도시)이 설치되어 가이드바(130a, 130b)의 움직임을 제한할 수 있다. 가이드바 고정핀(미도시)은 상부디스크 플랜지(122a)에 설치되어 가이드바(130a, 130b)가 움직이지 않도록 고정하는 역할을 한다.

고정부(120)는 검사부(110)와 고정부(120)가 서로 결합되고, 하중을 지지하기 위한 지지기둥(125)을 더 포함할 수 있다. 지지기둥(125)은 상하 방향으로 연장 형성되는 것으로 검사하우징(111)의 둘레를 따라 설치되는 복수개로 이루어질 수 있다. 복수의 지지기둥(125)은 도시된 것과 같이 4개로 이루어질 수 있으나, 이는 하나의 예시일 뿐이며 그 개수는 제한되지 않을 것이다.

본 실시예 따른 스터드 홀 검사 장치(100)는 가이드바(130a, 130b)를 포함하여, 스터드 홀(H)과 검사 장치의 중심을 상하 방향으로 정렬시킬 수 있어 검사의 신뢰성 확보와 함께 스터드 홀(H)과 검사 장치의 중심이 서로 불일치함에 따라 발생하는 문제점을 방지할 수 있게 된다.

가이드바(130a, 130b)는 일 방향으로 연장된 바(bar)의 형상으로 이루어져, 고정부(120)의 일 측에 설치되며, 가이드바 수용부(131a, 131b)에 수용된 상태에서 검사용게이지(112)를 향해 돌출될 수 있다. 가이드바(130a, 130b)는 돌출된 상태에서 외력을 받아 스터드 홀 내측면(H1)에 접촉되도록 이동될 수 있으며, 이 경우 스터드 홀(H)의 중심과 검사부(110)의 중심은 서로 일치될 수 있게 된다.

가이드바(130a, 130b)는 검사부(110)와 서로 연결되어 있어 검사부(110)의 이동을 형성할 수 있다. 가이드바(130a, 130b)가 외력을 받아 스터드 홀 내측면(H1)에 접촉하도록 이동하게 되면, 가이드바(130a, 130b)와 연결된 검사부(110) 또한, 소정 거리만큼 이동하면서, 스터드 홀(H)의 중심과 상기 검사부(110)의 중심이 서로 중첩하게 배치될 수 있게 된다.

스터드 홀(H) 검사를 위해서는 스터드 홀(H)과 검사장치 사이에 축 정렬 및 얼라인이 필수적이므로, 가이드바(130a, 130b)는 스터드 홀(H)의 중심과 검사부(110)의 중심을 상하 방향으로 정렬시키는 역할을 수행할 수 있다.

가이드바(130a, 130b)는, 복수개로 이루어질 수 있으며, 고정부(120)의 서로 다른 개소에 각각 설치될 수 있다.

복수개의 가이드바(130a, 130b)는 외력을 받아 각각 스터드 홀 내측면(H1)에 접촉하게 이동할 수 있으며, 이 경우 각 가이드바(130a, 130b)와 연결된 검사부(110) 역시 소정 거리만큼 이동하게 될 것이다. 여기서, 외력은 주로 작업자가 발을 이용하여 하중을 가하는 방법으로 형성되게 된다.

각 스터드 홀(H)이 스터드 홀 내측면(H1)에 접촉하게 될 경우, 스터드 홀(H)의 중심과 검사부(110)의 중심은 자연스럽게 정렬될 수 있게 된다. 이에, 장비의 미세 이동 및 확인 작업을 거치지 않아도 자연스럽고 효율적으로 장비를 위치시킬 수 있는데 그 장점이 있다.

가이드바(130a, 130b)는 상기 검사용게이지(112)를 향하는 방향으로 인출 또는 삽입 가능하도록 움직임이 구현될 수 있다. 또한, 가이드바 수용부(131a, 131b)에 장착된 가이드바(130a, 130b)의 움직임은 프로세서(140)에 의해 제어될 수 있다.

검사하우징(111)의 양 측에는, 작업자가 파지하도록 원통형으로 이루어지는 손잡이(114)가 형성될 수 있다.

손잡이(114)는 복수의 지지기둥(125) 중 서로 인접하게 배치되는 두 개의 지지기둥(125)의 사이의 공간을 통해, 검사하우징(111)의 연장 방향과 교차된 방향으로 검사 하우징으로부터 돌출 형성될 수 있다. 손잡이(114)부는 지지기둥(125)에 접촉해 지지될 수 있다.

본 실시예에 따른 스터드 홀 검사 장치(100)는 프로세스를 더 포함할 수 있다. 프로세서(140)는, 검사부(110)와 전기적으로 연결될 수 있으며, 이를 제어하는 제어 신호를 생성해 전달할 수 있으며, 검사용게이지(112)를 회전시켜, 스터드 홀(H)을 향해 하강하거나 이로부터 승강할 수 있으며, 이를 정지시키는 것도 가능할 것이다.

프로세서(140)는 논리적 연산이 가능한 구성으로, CPU(Central Processing Unit), FPGA(Field Programmable Gate Array), ASIC(Application Specific Integrated Circuit) 등을 의미할 수 있다.

프로세서(140)가 수행하는 제어명령은 저장매체에 저장되어 활용될 수 있고, 저장매체는 HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Drive), 서버, 휘발성 매체, 비휘발성 매체 등과 같은 장치일 수 있으며, 작업을 수행하기 위해 필요로 하는 데이터 등에 저장하는 것도 가능할 것이다.

프로세서(140)는 검사부(110)에 제어신호를 전기적 신호의 형태로 전달하는 역할을 하는 것으로, 검사용게이지(112)를 회전시켜 검사가 이루어지도록 제어함으로써 회전하며 하강하여 정지하거나, 회전하며 상승시킬 수 있다.

프로세서(140)는 검사용게이지(112)의 회전에 따라 오버토크가 발생한 경우, 나사산에 이상이 있는 것으로 판단할 수 있으며, 설정된 횟수 이상의 오버토크가 발생할 경우, 나사산에 이상 있는 것으로 판단할 수 있을 것이다.

도 4의 (a)는 가이드바(130a, 130b)가 인출되기 전의 모습을 나타내는 개념도이고, 도 4의 (b)는 가이드바(130a, 130b)가 인출된 후의 모습을 나타내는 개념도이다. 도 5는, 가이드바(130a, 130b)에 의해 검사부(110)가 스터드 홀(H)에 정렬되는 모습을 나타내는 개념도이다.

스터드 홀(H) 검사를 위해서는 스터드 홀(H)과 검사장치 사이에 축 정렬 또는 얼라인이 필요하며, 이는 가이드바(130a, 130b)를 통해 간편하게 수행될 수 있다.

가이드바(130a, 130b)는 스터드 홀(H)의 중심과 검사부(110)의 중심을 상하 방향으로 정렬시키는 역할을 하는 것으로, 고정부(120)의 일 측에 설치되어 검사용게이지(112)를 향해 인출되도록 형성될 수 있다.

스터드 홀(H)에 인접한 위치에 고정부(120)를 위치시킨 후, 검사용게이지(112)를 스터드 홀(H) 상부에 삽입하게 되면, 고정부(120)의 일 측으로부터 하부를 향해 인출된 가이드바(130a, 130b)는 하강하여 검사용게이지(112)의 상단부에 위치하게 된다. 이때, 작업자가 안착부재(121)에 외력을 작용하게 되면, 가이드바(130a, 130b)는 스터드 홀(H)의 상부에 구성된 단차면에 접하면서 검사부(110)의 중심과 스터드 홀(H)의 중심이 자연스럽게 일치될 수 있게 된다.

가이드바(130a, 130b)의 외측면이 스터드 홀 내측면(H1)에 접하도록 이동하게 될 경우, 가이드바(130a, 130b)와 연결된 검사부(110)는 소정 거리만큼 이동하면서 스터드 홀(H)의 중심과 검사부(110)의 중심은 서로 상하방향으로 중첩될 수 있게 된다.

이때, 가이드바(130a, 130b)는 복수개로 이루어질 수 있으며, 고정부(120)의 서로 다른 개소에 각각 설치될 수 있다. 검사용게이지(112)를 스터드 홀(H) 상부에 삽입하게 되면, 고정부(120)의 일 측으로부터 하부를 향해 인출된 복수개의 가이드바(130a, 130b)는 하강하여 검사용게이지(112)의 상단부에 위치하게 된다. 이때, 작업자가 안착부재(121)에 외력을 작용하게 되면, 각 가이드바(130a, 130b)는 스터드 홀(H)의 상부에 구성된 단차면에 접하면서 검사부(110)의 중심과 스터드 홀(H)의 중심이 일치되게 된다. 이때, 가이드바(130a, 130b)의 움직임은 프로세서(140)에 의해 이루어질 수 있다.

도 6의 (a)는, 검사부(110)가 스터드 홀(H)에 정렬되기 전의 모습을 나타내는 개념도이고, 도 6의 (b)는, 검사부(110)가 스터드 홀(H)에 정렬된 후의 모습을 나타내는 개념도이다.

스터드 홀(H)의 검사 과정을 살펴보면, 작업자는 검사가 필요한 스터드 홀(H)을 향해 스터드 홀 검사 장치(100)를 이동시킨 후, 고정부(120)와 검사부(110)가 결합된 상태에서 손잡이(114)를 이용하여 스터드 홀 검사 장치(100)를 들어올리거나 내려 놓는 방식을 통해, 검사부(110)와 스터드 홀(H)의 중심을 최대한 동심을 이루도록 위치시킨다. 이 경우, 고정부(120)의 안착부재(121)는 스터드 홀(H)에 인접하게 위치될 것이다. 다만, 도 6의 (a)에서 보는 바와 같이, 검사하우징(111)의 중심(C2)과 스터드 홀(H)의 중심(C1)은 불일치하여 그 위치가 서로 다르게 된다.

그 후, 작업자는 손잡이(114)를 이용하여 스터드 홀 검사 장치(100)의 검사용게이지(112)를 스터드 홀(H)에 안착시키고, 가이드바(130a, 130b)를 이용해 검사부(110)의 중심(C2)과 스터드 홀(H)의 중심(C2)을 서로 일치시키는 작업을 하게 된다.

구체적으로, 작업자는 스터드 홀(H)에 인접한 위치에 고정부(120)를 위치시킨 후, 검사용게이지(112)를 스터드 홀(H) 상부에 삽입시키면 고정부(120)의 일 측으로부터 하부를 향해 인출된 가이드바(130a, 130b)가 하강하여 검사용게이지(112)의 상단부에 위치하게 된다. 이때, 작업자는 안착부재(121)를 발을 사용에 툭툭 치는 등의 외력을 작용시키면, 가이드바(130a, 130b)는 스터드 홀(H)의 상부에 구성된 단차면에 접하면서 검사부(110)의 중심(C2)과 스터드 홀(H)의 중심(C1)이 자연스럽게 정렬될 수 있게 된다.

즉, 가이드바(130a, 130b)의 외측면이 스터드 홀 내측면(H1)에 접촉되면서, 가이드바(130a, 130b)와 연결된 검사부(110)는 소정 거리만큼 그 위치가 변동되면서 스터드 홀(H)의 중심(C1)과 검사부(110)의 중심(C2)은 상하방향으로 서로 중첩될 수 있게 된다. 이에, 작업자는 스터드 홀(H)과 검사 장치의 중심을 간편한 조작으로 서로 일치시킴으로써 검사의 신뢰성 확보와 함께 작업 수행의 편의성을 확보할 수 있게 된다.

이상에서 설명한 것은 본 발명에 따른 스터드 홀 검사 장치를 실시하기 위한 실시예들에 불과한 것으로서, 본 발명은 이상의 실시예들에 한정되지 않고, 이하의 청구범위에서 청구하는 바와 같이 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 사상이 있다고 할 것이다.

100: 스터드 홀 검사장치
110: 검사부
111: 검사하우징
112: 검사용게이지
113: 게이지구동부
114: 손잡이
115: 배선가이드
120: 고정부
121: 안착부재
122: 상부디스크
122a: 상부디스크 플랜지
122b: 상부디스크홀
123: 하부디스크
123a: 하부디스크 플랜지
123b: 하부디스크홀
124: 디스크 기둥
125: 지지기둥
130a, 130b: 가이드바
131a, 131b: 가이드바수용부
140: 프로세서
H: 스터드 홀

Claims

스터드 홀의 상부에 위치되는 검사하우징과, 상기 검사하우징의 하단부에 결합되고 상기 스터드 홀에 삽입되어 상기 스터드 홀에 형성된 나사산 검사를 위한 검사용게이지를 구비하는 검사부;
상기 검사부의 하부에 위치되고, 상기 검사부와 결합되도록 설치되며, 상기 스터드 홀에 인접하게 위치된 후 소정 거리만큼 이동 가능한 고정부; 및
일 방향으로 연장되는 원통형의 형상으로 이루어지고, 상기 고정부의 일 측에서 상기 검사용게이지를 향해 돌출 형성되는 복수의 가이드바를 포함하고,
상기 복수의 가이드바는, 상기 검사용게이지가 하강하여 상기 스터드 홀에 삽입될 때, 하강하여 상기 검사용게이지의 상단부에서 상기 스터드 홀의 내측면에 접촉하여 상기 스터드 홀의 중심과 상기 검사부의 중심을 서로 일치시키되,
상기 고정부는,
U자 형상으로 이루어져 상기 스터드 홀을 감싸도록 배치되는 안착부재;
상기 안착부재 상에서 상하로 배치되는 상부디스크와 하부디스크; 및
상기 상부디스크와 하부디스크를 서로 연결하는 디스크기둥을 포함하고,

상기 상부디스크와 하부디스크의 일 측에는, 상기 가이드바가 설치되도록 상기 검사하우징을 향해 플랜지가 돌출 형성되며,
상기 플랜지는,
상기 상부디스크의 일 측으로부터 상기 검사하우징을 향해 돌출 형성되는 상부디스크 플랜지; 및
상기 하부디스크의 일 측으로부터 상기 검사하우징을 향해 돌출 형성되는 하부디스크 플랜지를 포함하고,
상기 고정부는, 상기 검사부에 고정되어 하중을 지지하기 위한 지지기둥을 포함하며,
상기 상부디스크 플랜지 및 상기 하부디스크 플랜지가 상하로 중첩된 위치에는 상기 가이드바가 위치되고,
상기 상부디스크 플랜지와 상기 하부디스크 플랜지에는 각각 상부디스크 홀과 하부디스크 홀이 형성되며, 상기 상부디스크 홀과 상기 하부디스크 홀에는 상기 지지기둥이 위치되는 것을 특징으로 하는 스터드 홀 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 가이드바는, 복수개로 이루어져 상기 고정부의 서로 다른 개소에 각각 설치되는 것을 특징으로 하는 스터드 홀 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 가이드바는 상기 검사용게이지를 향하는 방향으로 가이드바 수용부로부 터 인출되거나, 상기 가이드바 수용부를 향해 삽입되는 것을 특징으로 하는 스터드 홀 검사 장치.
삭제
삭제
삭제
제1항에 있어서,
상기 고정부는,
상기 상부디스크 플랜지와 상기 하부디스크 플랜지를 관통하도록 설치되고, 상기 가이드바를 수용하는 가이드바 수용부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스터드 홀 검사 장치.
제7항에 있어서,
상기 가이드바는, 상기 가이드바 수용부로부터 인출되거나, 상기 가이드바 수용부를 향해 삽입되는 것을 특징으로 하는 스터드 홀 검사 장치.
삭제
제1항에 있어서,
상기 검사하우징의 양 측에는, 작업자가 파지하도록 원통형으로 이루어지는 손잡이가 형성되는 것을 특징으로 하는 스터드 홀 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 검사부와 전기적으로 연결되어 상기 검사부의 동작을 형성하거나, 상기 스터드 홀의 검사에 의한 데이터를 처리하도록 이루어지는 프로세서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스터드 홀 검사 장치.