KR102471688B1 - Light emitting device package, lighting device and method of manufacturing the same - Google Patents

Light emitting device package, lighting device and method of manufacturing the same Download PDF

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Abstract

발명의 실시 예에 개시된 발광소자 패키지는, 형광체를 갖는 유리 재질의 파장 변환층의 제1영역 위에 접착층을 형성하는 단계; 상기 파장 변환층의 제2영역 위에 반사성 수지 재질의 몸체를 형성하는 단계; 및 상기 접착층 상에 발광소자를 부착하는 단계; 상기 몸체를 적어도 하나의 발광 소자를 갖는 패키지 크기로 다이싱하는 단계를 포함한다. 상기 발광소자는 상부에 제1 및 제2본딩부, 상기 제1 및 제2본딩부 아래에 발광 구조물, 및 상기 발광 구조물 아래에 상기 접착층에 접착된 기판을 포함하며, 상기 몸체는 상면과 하면이 관통되는 개구부를 가지며, 상기 발광소자는 상기 개구부에 배치되며, 상기 파장 변환층의 측면은 상기 몸체의 측면과 같은 수직 평면 상으로 형성될 수 있다.A light emitting device package disclosed in an embodiment of the present invention includes forming an adhesive layer on a first region of a wavelength conversion layer made of glass having a phosphor; forming a body made of a reflective resin material on the second region of the wavelength conversion layer; and attaching a light emitting element on the adhesive layer; and dicing the body to the size of a package having at least one light emitting element. The light emitting element includes first and second bonding parts on an upper part, a light emitting structure under the first and second bonding parts, and a substrate bonded to the adhesive layer under the light emitting structure, and the body has upper and lower surfaces It has an opening through which the light emitting device is disposed, and a side surface of the wavelength conversion layer may be formed on the same vertical plane as a side surface of the body.

Description

발광소자 패키지, 광원장치 및 발광소자 패키지 제조방법{LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE, LIGHTING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}Light emitting device package, light source device and light emitting device package manufacturing method {LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE, LIGHTING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}

실시 예는 발광소자 패키지, 발광소자 패키지 제조방법, 광원 장치에 관한 것이다.The embodiment relates to a light emitting device package, a method for manufacturing a light emitting device package, and a light source device.

GaN, AlGaN 등의 화합물을 포함하는 반도체 소자는 넓고 조정이 용이한 밴드 갭 에너지를 가지는 등의 많은 장점을 가져서 발광소자, 수광 소자 및 각종 다이오드 등으로 다양하게 사용될 수 있다.Semiconductor devices including compounds such as GaN and AlGaN have many advantages, such as having a wide and easily adjustable band gap energy, and can be used in various ways such as light emitting devices, light receiving devices, and various diodes.

특히, 3족-5족 또는 2족-6족 화합물 반도체 물질을 이용한 발광 다이오드(Light Emitting Diode)나 레이저 다이오드(Laser Diode)와 같은 발광소자는 박막 성장 기술 및 소자 재료의 개발로 적색, 녹색, 청색 및 자외선 등 다양한 파장 대역의 빛을 구현할 수 있는 장점이 있다. 또한, 3족-5족 또는 2족-6족 화합물 반도체 물질을 이용한 발광 다이오드나 레이저 다이오드와 같은 발광소자는, 형광 물질을 이용하거나 색을 조합함으로써 효율이 좋은 백색 광원도 구현이 가능하다. 이러한 발광소자는, 형광등, 백열등 등 기존의 광원에 비해 저 소비전력, 반영구적인 수명, 빠른 응답속도, 안전성, 환경 친화성의 장점을 가진다. In particular, light emitting devices such as light emitting diodes or laser diodes using group 3-5 or group 2-6 compound semiconductor materials are developed in thin film growth technology and device materials to produce red, green, It has the advantage of being able to implement light in various wavelength bands such as blue and ultraviolet. In addition, a light emitting device such as a light emitting diode or a laser diode using a group 3-5 or group 2-6 compound semiconductor material can implement a white light source with high efficiency by using a fluorescent material or combining colors. These light emitting devices have advantages of low power consumption, semi-permanent lifespan, fast response speed, safety, and environmental friendliness compared to conventional light sources such as fluorescent lamps and incandescent lamps.

뿐만 아니라, 광검출기나 태양 전지와 같은 수광 소자도 3족-5족 또는 2족-6족 화합물 반도체 물질을 이용하여 제작하는 경우 소자 재료의 개발로 다양한 파장 영역의 빛을 흡수하여 광 전류를 생성함으로써 감마선부터 라디오 파장 영역까지 다양한 파장 영역의 빛을 이용할 수 있다. 또한, 이와 같은 수광 소자는 빠른 응답속도, 안전성, 환경 친화성 및 소자 재료의 용이한 조절의 장점을 가져 전력 제어 또는 초고주파 회로나 통신용 모듈에도 용이하게 이용될 수 있다.In addition, when light receiving devices such as photodetectors or solar cells are manufactured using Group 3-5 or Group 2-6 compound semiconductor materials, photocurrent is generated by absorbing light in various wavelength ranges through the development of device materials. By doing so, it is possible to use light in a wide range of wavelengths from gamma rays to radio wavelengths. In addition, such a light-receiving element has advantages of fast response speed, safety, environmental friendliness, and easy control of element materials, so that it can be easily used in power control or ultra-high frequency circuits or communication modules.

따라서, 반도체 소자는 광 통신 수단의 송신 모듈, LCD(Liquid Crystal Display) 표시 장치의 백라이트를 구성하는 냉음극관(CFL: Cold Cathode Fluorescence Lamp)을 대체하는 발광 다이오드 백라이트, 형광등이나 백열 전구를 대체할 수 있는 백색 발광 다이오드 조명 장치, 자동차 헤드 라이트 및 신호등 및 가스(Gas)나 화재를 감지하는 센서 등에까지 응용이 확대되고 있다. 또한, 반도체 소자는 고주파 응용 회로나 기타 전력 제어 장치, 통신용 모듈에까지 응용이 확대될 수 있다.Therefore, the semiconductor device can replace a transmission module of an optical communication means, a light emitting diode backlight that replaces a Cold Cathode Fluorescence Lamp (CFL) constituting a backlight of an LCD (Liquid Crystal Display) display device, and can replace a fluorescent lamp or an incandescent bulb. Applications are expanding to white light emitting diode lighting devices, automobile headlights and traffic lights, and sensors that detect gas or fire. In addition, applications of semiconductor devices can be expanded to high-frequency application circuits, other power control devices, and communication modules.

발광소자(Light Emitting Device)는 예로서 주기율표상에서 3족-5족 원소 또는 2족-6족 원소를 이용하여 전기에너지가 빛 에너지로 변환되는 특성의 p-n 접합 다이오드로 제공될 수 있고, 화합물 반도체의 조성비를 조절함으로써 다양한 파장 구현이 가능하다.The light emitting device (Light Emitting Device) may be provided as, for example, a p-n junction diode having a characteristic of converting electrical energy into light energy using a group 3-5 element or a group 2-6 element on the periodic table, and a compound semiconductor Various wavelengths can be implemented by adjusting the composition ratio.

예를 들어, 질화물 반도체는 높은 열적 안정성과 폭 넓은 밴드갭 에너지에 의해 광소자 및 고출력 전자소자 개발 분야에서 큰 관심을 받고 있다. 특히, 질화물 반도체를 이용한 청색(Blue) 발광소자, 녹색(Green) 발광소자, 자외선(UV) 발광소자, 적색(RED) 발광소자 등은 상용화되어 널리 사용되고 있다.For example, nitride semiconductors are of great interest in the field of developing optical devices and high-power electronic devices due to their high thermal stability and wide bandgap energy. In particular, blue light emitting devices, green light emitting devices, ultraviolet (UV) light emitting devices, red light emitting devices, and the like using nitride semiconductors are commercialized and widely used.

예를 들어, 자외선 발광소자의 경우, 200nm~400nm의 파장대에 분포되어 있는 빛을 발생하는 발광 다이오드로서, 상기 파장대역에서, 단파장의 경우, 살균, 정화 등에 사용되며, 장파장의 경우 노광기 또는 경화기 등에 사용될 수 있다.For example, in the case of an ultraviolet light emitting device, as a light emitting diode that generates light distributed in a wavelength range of 200 nm to 400 nm, in the wavelength range, in the case of a short wavelength, it is used for sterilization and purification, and in the case of a long wavelength, an exposure machine or a curing machine, etc. can be used

자외선은 파장이 긴 순서대로 UV-A(315nm~400nm), UV-B(280nm~315nm), UV-C (200nm~280nm) 세 가지로 나뉠 수 있다. UV-A(315nm~400nm) 영역은 산업용 UV 경화, 인쇄 잉크 경화, 노광기, 위폐 감별, 광촉매 살균, 특수조명(수족관/농업용 등) 등의 다양한 분야에 응용되고 있고, UV-B(280nm~315nm) 영역은 의료용으로 사용되며, UV-C(200nm~280nm) 영역은 공기 정화, 정수, 살균 제품 등에 적용되고 있다. Ultraviolet light can be divided into three types in order of wavelength: UV-A (315nm ~ 400nm), UV-B (280nm ~ 315nm), and UV-C (200nm ~ 280nm). UV-A (315nm ~ 400nm) area is applied to various fields such as industrial UV curing, printing ink curing, exposure machine, counterfeit money discrimination, photocatalytic sterilization, special lighting (aquarium/agricultural use, etc.), and UV-B (280nm ~ 315nm) ) area is used for medical purposes, and the UV-C (200nm~280nm) area is applied to air purification, water purification, and sterilization products.

한편, 고 출력을 제공할 수 있는 반도체 소자가 요청됨에 따라 고 전원을 인가하여 출력을 높일 수 있는 반도체 소자에 대한 연구가 진행되고 있다. Meanwhile, as semiconductor devices capable of providing high output are requested, research on semiconductor devices capable of increasing output by applying high power is being conducted.

또한, 반도체 소자 패키지에 있어, 반도체 소자의 광 추출 효율을 향상시키고, 패키지 단에서의 광도를 향상시킬 수 있는 방안에 대한 연구가 진행되고 있다. 또한, 반도체 소자 패키지에 있어, 패키지 전극과 반도체 소자 간의 본딩 결합력을 향상시킬 수 있는 방안에 대한 연구가 진행되고 있다.In addition, in a semiconductor device package, research is being conducted on a method capable of improving light extraction efficiency of the semiconductor device and improving light intensity at the package end. In addition, in a semiconductor device package, research into a method for improving a bonding force between a package electrode and a semiconductor device is being conducted.

발광 다이오드를 갖는 패키지는 실리콘과 같은 무기물에 형광체를 분산시켜 제작한다. 그러나, 고출력 패키지의 경우 높은 광 에너지에 의해 유기물 형광체층에 크랙이 발생하는 문제가 있다.A package having a light emitting diode is manufactured by dispersing a phosphor in an inorganic material such as silicon. However, in the case of a high-power package, there is a problem in that cracks occur in the organic phosphor layer due to high light energy.

칩 스케일 패키지의 광원으로 플립칩을 사용하는 경우, 플립칩의 측면 및 하부로 방출되는 광의 색 변환 효율의 개선이 요구되고 있다.When a flip chip is used as a light source for a chip scale package, improvement in color conversion efficiency of light emitted to the side and bottom of the flip chip is required.

발명의 실시 예는 열화 및 변색이 적은 무기물의 파장 변환층을 갖는 발광소자 패키지 및 그 제조방법을 제공한다. An embodiment of the present invention provides a light emitting device package having an inorganic wavelength conversion layer with little deterioration and discoloration and a manufacturing method thereof.

발명의 실시 예는 광 효율이 개선된 발광소자 패키지 및 그 제조방법을 제공한다.An embodiment of the present invention provides a light emitting device package with improved light efficiency and a manufacturing method thereof.

발명의 실시 예는 발광소자 및 상기 발광소자의 둘레에 몸체를 배치하고 상기 발광소자와 몸체 상에 무기물의 파장 변환층을 배치한 발광소자 패키지 및 그 제조방법을 제공한다.An embodiment of the present invention provides a light emitting device package in which a light emitting device and a body are disposed around the light emitting device, and an inorganic wavelength conversion layer is disposed on the light emitting device and the body, and a manufacturing method thereof.

발명의 실시 예는 발광소자와 몸체, 상기 발광소자와 파장 변환층을 접착층으로 접착시킨 발광소자 패키지 및 그 제조방법을 제공한다.An embodiment of the present invention provides a light emitting device package in which a light emitting device and a body, the light emitting device and a wavelength conversion layer are bonded with an adhesive layer, and a manufacturing method thereof.

발명의 실시 예는 균일한 색 분포를 제공할 수 있는 발광소자 패키지 및 그 제조방법을 제공한다.An embodiment of the present invention provides a light emitting device package capable of providing a uniform color distribution and a manufacturing method thereof.

발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법은, 형광체를 갖는 유리 재질의 파장 변환층의 제1영역 위에 접착층을 형성하는 단계; 상기 파장 변환층의 제2영역 위에 반사성 수지 재질의 몸체를 형성하는 단계; 및 상기 접착층 상에 발광소자를 부착하는 단계; 상기 몸체를 적어도 하나의 발광 소자를 갖는 패키지 크기로 다이싱하는 단계를 포함하며, 상기 발광소자는 상부에 제1 및 제2본딩부, 상기 제1 및 제2본딩부 아래에 발광 구조물, 및 상기 발광 구조물 아래에 상기 접착층에 접착된 기판을 포함하며, 상기 몸체는 상면과 하면이 관통되는 개구부를 가지며, 상기 발광소자는 상기 개구부에 배치되며, 상기 파장 변환층의 측면은 상기 몸체의 측면과 같은 수직 평면 상으로 형성될 수 있다.A method of manufacturing a light emitting device package according to an embodiment of the present invention includes forming an adhesive layer on a first region of a wavelength conversion layer made of glass having a phosphor; forming a body made of a reflective resin material on the second region of the wavelength conversion layer; and attaching a light emitting element on the adhesive layer; and dicing the body into a package size having at least one light emitting device, wherein the light emitting device includes first and second bonding portions on top, a light emitting structure below the first and second bonding portions, and the light emitting device. A substrate is attached to the adhesive layer under the light emitting structure, the body has an opening through which upper and lower surfaces pass, the light emitting device is disposed in the opening, and the side surface of the wavelength conversion layer is the same as the side surface of the body. It can be formed on a vertical plane.

실시 예에 의하면, 상기 몸체를 형성하는 단계는, 상기 파장 변환층 상에 레지스트층을 형성하는 단계; 상기 레지스트층 중에서 상기 제1영역과 대응된 영역을 식각하는 단계; 및 상기 제1영역 상에 몸체를 형성하는 단계를 포함하며, 상기 식각되지 않은 레지스트층은 제거되고 상기 접착층이 형성될 수 있다.According to an embodiment, forming the body may include forming a resist layer on the wavelength conversion layer; etching a region corresponding to the first region in the resist layer; and forming a body on the first region, wherein the unetched resist layer is removed and the adhesive layer is formed.

실시 예에 의하면, 상기 몸체를 형성하는 단계는, 상기 파장 변환층의 제2영역 상에 상기 개구부를 갖는 몸체를 형성하거나 인쇄할 수 있다.According to an embodiment, in the forming of the body, the body having the opening may be formed or printed on the second region of the wavelength conversion layer.

실시 예에 의하면, 상기 몸체를 형성하는 단계는, 상기 접착층 상에 상기 발광소자를 부착한 다음 상기 몸체를 상기 파장 변환층의 제2영역 위에 형성하는 단계를 포함하며, 상기 몸체는 상기 접착층 및 상기 발광소자의 측면 상에 배치되며, 상기 몸체의 상부는 상기 발광소자의 상면에 연장될 수 있다.According to an embodiment, the forming of the body includes attaching the light emitting element on the adhesive layer and then forming the body on the second region of the wavelength conversion layer, wherein the body includes the adhesive layer and the body. It is disposed on the side of the light emitting element, and the upper part of the body may extend to the upper surface of the light emitting element.

실시 예에 의하면, 상기 파장 변환층 상에 상기 개구부가 제1방향으로 복수로 배치되며, 상기 복수의 개구부 각각에는 상기 발광소자가 배치되며, 상기 파장 변환층의 측면은 상기 몸체의 측면과 같은 수직 평면 상에 배치될 수 있다. According to the embodiment, a plurality of openings are disposed on the wavelength conversion layer in a first direction, the light emitting element is disposed in each of the plurality of openings, and a side surface of the wavelength conversion layer is perpendicular to a side surface of the body. It can be placed on a flat surface.

실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 하부에 제1 및 제2본딩부, 상기 제1 및 제2본딩부 상에 발광 구조물 및 기판을 포함하는 발광소자; 상기 발광소자의 둘레에 반사성 수지 재질의 몸체; 상기 발광소자와 상기 몸체 상에 파장 변환층; 및 상기 파장 변환층과 상기 발광 소자 사이, 및 상기 발광소자와 상기 몸체 사이에 접착된 접착층을 포함하며, 상기 발광 소자는 상기 파장 변환층의 제1영역과 수직 방향으로 중첩되며, 상기 몸체는 상기 파장 변환층의 제1영역 외측에 배치된 제2영역과 수직 방향으로 중첩되는 개구부를 가지며, 상기 파장 변환층은 형광체를 갖는 유리 재질로 형성되며, 상기 발광소자의 제1 및 제2본딩부는 상기 몸체의 하부로부터 노출될 수 있다. A light emitting device package according to an embodiment includes a light emitting device including a light emitting structure and a substrate on first and second bonding parts, and on the first and second bonding parts; a body made of a reflective resin material around the light emitting element; a wavelength conversion layer on the light emitting element and the body; and an adhesive layer bonded between the wavelength conversion layer and the light emitting element and between the light emitting element and the body, wherein the light emitting element overlaps the first region of the wavelength conversion layer in a vertical direction, and the body comprises the It has an opening overlapping in a vertical direction with a second area disposed outside the first area of the wavelength conversion layer, the wavelength conversion layer is formed of a glass material having a phosphor, and the first and second bonding parts of the light emitting element are It can be exposed from the lower part of the body.

실시 예에 의하면, 상기 접착층은 상기 몸체와 상기 발광소자의 기판 측면 사이에 배치되며, 상기 몸체의 하부와 상기 발광 소자의 하면 사이에 노출될 수 있다.According to the embodiment, the adhesive layer is disposed between the body and the side surface of the substrate of the light emitting device, and may be exposed between the lower portion of the body and the lower surface of the light emitting device.

실시 예에 의하면, 상기 접착층은 상기 몸체와 상기 발광소자의 기판 측면 사이에 배치되며, 상기 몸체의 하부는 상기 발광소자의 하면으로 연장될 수 있다.According to the embodiment, the adhesive layer is disposed between the body and the side surface of the substrate of the light emitting device, the lower portion of the body may extend to the lower surface of the light emitting device.

실시 예에 따른 광원 장치에 의하면, 복수의 프레임; 및 상기 복수의 프레임 상에 하부에 제1 및 제2본딩부가 배치된 하나 이상의 상기 발광소자 패키지를 포함하며, 상기 복수의 프레임은 도전층을 갖고 상기 제1 및 제2본딩부에 대면하는 관통홀을 가질 수 있다.According to the light source device according to the embodiment, a plurality of frames; and at least one light emitting device package having first and second bonding parts disposed below the plurality of frames, wherein the plurality of frames have a conductive layer and face through holes facing the first and second bonding parts. can have

발명의 실시 예에 의하면, 파장 변환층의 열화를 줄일 수 있다.According to an embodiment of the invention, it is possible to reduce deterioration of the wavelength conversion layer.

발명의 실시 예에 의하면, 파장 변환층의 변색을 줄일 수 있다. According to an embodiment of the present invention, discoloration of the wavelength conversion layer can be reduced.

발명의 실시 예에 의하면, 고온 및 고습 환경에 적용될 수 있는 패키지를 제공할 수 있다.According to an embodiment of the invention, a package that can be applied to a high temperature and high humidity environment can be provided.

발명의 실시 예에 의하면, 고출력 패키지로 제공할 수 있다.According to an embodiment of the invention, it can be provided in a high-power package.

발명의 실시 예에 의하면, 발광소자 패키지의 제조공정을 단순화할 수 있고 공정 효율을 개선시켜 줄 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a manufacturing process of a light emitting device package can be simplified and process efficiency can be improved.

발명의 실시 예에 의하면, 파장 변환층에서의 크랙 발생을 줄일 수 있어, 패키지의 신뢰성을 개선시켜 줄 수 있다.According to an embodiment of the present invention, it is possible to reduce the occurrence of cracks in the wavelength conversion layer, thereby improving the reliability of the package.

발명의 실시 예에 의하면, 광 추출 효율 및 전기적 특성과 신뢰성을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.According to an embodiment of the invention, there is an advantage of improving light extraction efficiency, electrical characteristics, and reliability.

발명의 실시 예에 의하면, 공정 효율을 향상시키고 새로운 패키지 구조를 제시하여 제조 단가를 줄이고 제조 수율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.According to an embodiment of the present invention, there is an advantage of reducing manufacturing cost and improving manufacturing yield by improving process efficiency and presenting a new package structure.

발명의 실시 예에 의하면, 반사율이 높은 몸체와 무기물의 파장 변환층을 제공함으로써, 반사 몸체가 변색되지 않도록 방지할 수 있어 패키지의 신뢰성을 개선할 수 있는 장점이 있다.According to an embodiment of the present invention, by providing a body having high reflectivity and an inorganic wavelength conversion layer, it is possible to prevent the reflective body from being discolored, thereby improving the reliability of the package.

발명의 실시 예에 의하면, 패키지가 기판 등에 재 본딩되는 과정에서 반도체 소자 패키지의 본딩 영역에서 리멜팅(re-melting) 현상이 발생되는 것을 방지할 수 있는 장점이 있다.According to an embodiment of the present invention, there is an advantage in preventing a re-melting phenomenon from occurring in a bonding area of a semiconductor device package in a process of re-bonding the package to a substrate or the like.

도 1은 발명의 제1실시 예에 따른 발광소자 패키지를 나타낸 저면도이다.
도 2는 도 1의 발광소자 패키지의 평면도이다.
도 3은 도 1의 발광소자 패키지의 A-A측 단면도이다.
도 4는 도 1의 발광소자 패키지의 제1변형 예이다.
도 5는 도 1의 발광소자 패키지의 제2변형 예이다.
도 6은 도 4 또는 도 5의 발광소자 패키지의 측 단면도의 예이다.
도 7 내지 도 14는 발명의 제1실시 예에 따른 발광소자 패키지의 제조과정을 나타낸 도면이다.
도 15는 발명의 제2실시 예에 따른 발광소자 패키지의 저면도이다.
도 16은 도 15의 발광소자 패키지의 평면도이다.
도 17은 도 15의 발광소자 패키지의 B-B측 단면도이다.
도 18 내지 도 21은 발명의 제2실시 예에 따른 발광소자 패키지의 제조 과정을 나타낸 도면이다.
도 22는 도 21의 웨이퍼 상에서 단위 유닛의 크기를 커팅한 예를 보여주는 도면이다.
도 23은 도 22에 의해 커팅된 패키지의 예이다.
도 24는 도 3의 발광소자 패키지를 갖는 광원장치의 예이다.
도 25는 도 3의 발광소자 패키지를 갖는 광원장치의 다른 예이다.
도 27은 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 갖는 램프의 예이다.
도 27은 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 발광소자의 일 예를 설명하는 평면도이다.
도 28은 도 27에 도시된 발광소자의 F-F 선에 따른 단면도이다.
1 is a bottom view showing a light emitting device package according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view of the light emitting device package of FIG. 1 .
3 is an AA-side cross-sectional view of the light emitting device package of FIG. 1 .
FIG. 4 is a first modified example of the light emitting device package of FIG. 1 .
FIG. 5 is a second modified example of the light emitting device package of FIG. 1 .
6 is an example of a side cross-sectional view of the light emitting device package of FIG. 4 or 5 .
7 to 14 are diagrams illustrating a manufacturing process of a light emitting device package according to a first embodiment of the present invention.
15 is a bottom view of a light emitting device package according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 16 is a plan view of the light emitting device package of FIG. 15 .
17 is a BB-side cross-sectional view of the light emitting device package of FIG. 15 .
18 to 21 are views illustrating a manufacturing process of a light emitting device package according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 22 is a view showing an example in which the size of a unit unit is cut on the wafer of FIG. 21 .
23 is an example of the package cut by FIG. 22 .
FIG. 24 is an example of a light source device having the light emitting device package of FIG. 3 .
25 is another example of a light source device having the light emitting device package of FIG. 3 .
27 is an example of a lamp having a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
27 is a plan view illustrating an example of a light emitting device applied to a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
FIG. 28 is a cross-sectional view of the light emitting device shown in FIG. 27 taken along line FF.

발명의 실시 예는 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 발명의 실시 예의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on/over)"에 또는 "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상/위(on/over)"와 "아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 층을 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 층의 상/위 또는 아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명하나 실시 예가 이에 한정되는 것은 아니다.An embodiment of the invention will be described with reference to the accompanying drawings. In the description of an embodiment of the invention, each layer (film), region, pattern or structure is "on/over" or "under" the substrate, each layer (film), region, pad or pattern. )”, “on/over” and “under” mean “directly” or “indirectly” formed through another layer. All inclusive. In addition, the criterion for the top/top or bottom of each layer will be described based on the drawings, but the embodiment is not limited thereto.

발명의 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지는 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하도록 한다. 발명에서 소자 패키지는 반도체 소자나 자외선, 적외선 또는 가시광선의 광을 발광하는 발광소자를 포함할 수 있다. 이하에서는 반도체 소자의 예로서 발광소자가 적용된 경우를 기반으로 설명하며, 상기 발광소자가 적용된 패키지 또는 광원 장치에 비 발광소자 예컨대, 제너 다이오드와 같은 소자나 파장이나 열을 감시하는 센싱 소자를 포함할 수 있다. 이하에서는 반도체 소자의 예로서 발광소자가 적용된 경우를 기반으로 설명하며, 발광소자 패키지에 대해 상세히 설명하도록 한다. A semiconductor device package according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the present invention, the device package may include a semiconductor device or a light emitting device that emits light of ultraviolet, infrared, or visible light. Hereinafter, a description will be given based on the case where a light emitting element is applied as an example of a semiconductor device, and a package or light source device to which the light emitting element is applied may include a non-light emitting element such as a zener diode or a sensing element for monitoring wavelength or heat. can Hereinafter, a case in which a light emitting device is applied as an example of a semiconductor device will be described, and a light emitting device package will be described in detail.

<제1실시 예><First Embodiment>

도 1은 발명의 제1실시 예에 따른 발광소자 패키지를 나타낸 저면도이며, 도 2는 도 1의 발광소자 패키지의 평면도이고, 도 3은 도 1의 발광소자 패키지의 A-A측 단면도이며, 도 4는 도 1의 발광소자 패키지의 제1변형 예이고, 도 5는 도 1의 발광소자 패키지의 제2변형 예이며, 도 6은 도 4 또는 도 5의 발광소자 패키지의 측 단면도의 예이다.1 is a bottom view showing a light emitting device package according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of the light emitting device package of FIG. 1, FIG. 3 is a cross-sectional view of the light emitting device package of FIG. is a first modified example of the light emitting device package of FIG. 1 , FIG. 5 is a second modified example of the light emitting device package of FIG. 1 , and FIG. 6 is a side cross-sectional view of the light emitting device package of FIG. 4 or 5 .

도 1 내지 도 6을 참조하면, 발광소자 패키지(100)는, 발광소자(151), 상기 발광소자(151)의 둘레에 몸체(120), 및 상기 몸체(120)와 상기 발광소자(151)의 위에 파장 변환층(110)을 포함한다. 발광소자 패키지(100)는 상기 몸체(120)와 상기 발광소자(151)의 사이의 영역과 상기 발광소자(151)와 상기 파장 변환층(110) 사이의 영역에 배치된 접착층(130)을 포함한다.1 to 6, the light emitting device package 100 includes a light emitting device 151, a body 120 around the light emitting device 151, and the body 120 and the light emitting device 151. It includes a wavelength conversion layer 110 on top. The light emitting device package 100 includes an adhesive layer 130 disposed in a region between the body 120 and the light emitting device 151 and in a region between the light emitting device 151 and the wavelength conversion layer 110. do.

상기 발광소자(151)는 청색 광을 발광할 수 있다. 다른 예로서, 상기 발광소자(151)는 녹색 광 또는 적색 광을 발광할 수 있다. 다른 예로서, 상기 발광소자(151)는 자외 광을 발광할 수 있다. 상기 발광소자(151)는 자외선부터 가시광선의 범위 중에서 선택적으로 발광할 수 있다.The light emitting element 151 may emit blue light. As another example, the light emitting device 151 may emit green light or red light. As another example, the light emitting device 151 may emit ultraviolet light. The light emitting element 151 may selectively emit light in the range from ultraviolet to visible light.

상기 발광소자(151)는 상기 몸체(120) 내에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(151)는 상기 몸체(120)의 개구부(R1) 내에 배치될 수 있다. 상기 몸체(120)의 개구부(R1)는 상면과 하면이 관통되는 구멍일 수 있다.The light emitting device 151 may be disposed within the body 120 . The light emitting device 151 may be disposed within the opening R1 of the body 120 . The opening R1 of the body 120 may be a hole through which upper and lower surfaces pass.

상기 발광소자(151)는 하부에 제1 본딩부(51) 및 제2 본딩부(52)를 포함할 수 있다. 상기 제1 및 제2본딩부(51,52)는 제1방향으로 서로 이격될 수 있다. 상기 제1 본딩부(51)와 상기 제2 본딩부(52)는 상기 발광소자(151)의 하부 면에서 서로 이격되고, 상기 몸체(120)의 하면에 노출될 수 있다. The light emitting element 151 may include a first bonding portion 51 and a second bonding portion 52 at a lower portion. The first and second bonding parts 51 and 52 may be spaced apart from each other in a first direction. The first bonding part 51 and the second bonding part 52 may be spaced apart from each other on the lower surface of the light emitting device 151 and exposed on the lower surface of the body 120 .

상기 발광소자(151)는 발광 구조물(50)을 포함할 수 있다. 상기 발광구조물(50)은 상기 제1 및 제2본딩부(51,52) 상에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(151)는 상기 발광 구조물(50) 위에 기판(55)을 포함할 수 있다. 상기 기판(55)은 투광 층으로서, 절연성 재질 또는 반도체 재질로 형성될 수 있다. 상기 기판(55)은 예컨대, 사파이어 기판(Al2O3), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge을 포함하는 그룹 중에서 선택될 수 있다. 예로서, 상기 기판(55)은 표면에 요철 패턴이 형성될 수 있다. 상기 기판(55)는 제거되거나, 다른 수지 재질의 투광층이 배치될 수 있다. 상기 기판(55)은 발광소자(151)의 최상층에 배치되거나, 광 추출 층으로 기능할 수 있다. The light emitting device 151 may include a light emitting structure 50 . The light emitting structure 50 may be disposed on the first and second bonding parts 51 and 52 . The light emitting device 151 may include a substrate 55 on the light emitting structure 50 . The substrate 55 is a light-transmitting layer and may be formed of an insulating material or a semiconductor material. The substrate 55 may be selected from a group including, for example, a sapphire substrate (Al 2 O 3 ), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, and Ge. For example, a concave-convex pattern may be formed on the surface of the substrate 55 . The substrate 55 may be removed, or a light-transmitting layer made of another resin material may be disposed. The substrate 55 may be disposed on the uppermost layer of the light emitting device 151 or function as a light extracting layer.

여기서, 상기 발광소자(151)가 플립 칩으로 배치된 경우, 상기 기판(55)의 상면 및 측면을 통해 대부분의 광이 방출될 수 있다. 상기 기판(55)의 상면으로 진행하는 광은 파장 변환층(110)으로 진행할 수 있으며, 상기 기판(55)의 측면으로 진행하는 광은 반사되지 않을 경우 손실되므로 상기 몸체(120)를 통해 반사시켜 줄 수 있다. 이러한 플립칩 발광소자(151)는 상기 기판(55)의 측면으로 진행하는 광의 반사를 위해, 상기 몸체(120)와 인접한 영역에 배치될 수 있다.Here, when the light emitting device 151 is disposed as a flip chip, most of the light may be emitted through the top and side surfaces of the substrate 55 . Light traveling to the upper surface of the substrate 55 may travel to the wavelength conversion layer 110, and since light traveling to the side surface of the substrate 55 is lost when not reflected, it is reflected through the body 120 can give The flip chip light emitting device 151 may be disposed in an area adjacent to the body 120 to reflect light traveling to the side of the substrate 55 .

상기 발광 구조물(50)은 기판(55)의 아래에 배치될 수 있다. 상기 발광 구조물(50)은 상기 기판(55)이 제거될 경우, 발광소자(151)의 상부에 노출될 수 있다. 실시 예에 의하면, 상기 발광 구조물(50)은 화합물 반도체로 제공될 수 있다. 상기 발광 구조물(50)은 예로서 2족-6족 또는 3족-5족 화합물 반도체로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 발광 구조물(50)은 알루미늄(Al), 갈륨(Ga), 인듐(In), 인(P), 비소(As), 질소(N)로부터 선택된 적어도 두 개 이상의 원소를 포함하여 제공될 수 있다.The light emitting structure 50 may be disposed below the substrate 55 . The light emitting structure 50 may be exposed on top of the light emitting device 151 when the substrate 55 is removed. According to an embodiment, the light emitting structure 50 may be provided as a compound semiconductor. The light emitting structure 50 may be provided as, for example, a Group 2-6 or Group 3-5 compound semiconductor. For example, the light emitting structure 50 includes at least two or more elements selected from aluminum (Al), gallium (Ga), indium (In), phosphorus (P), arsenic (As), and nitrogen (N). It can be.

상기 발광 구조물(50)은 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 제1 도전형 반도체층과 제2 도전형 반도체층 사이에 배치된 활성층을 포함할 수 있다. 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층은 3족-5족 또는 2족-6족의 화합물 반도체 중에서 적어도 하나로 구현될 수 있다. 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층은 예컨대 InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층은 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층은 Si, Ge, Sn, Se, Te 등의 n형 도펀트가 도핑된 n형 반도체층일 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층은 Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 도펀트가 도핑된 p형 반도체층일 수 있다. 상기 제1도전형 반도체층은 상기 기판(55)과 상기 활성층 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2도전형 반도체층은 상기 활성층과 상기 제1,2본딩부(51,52) 사이에 배치될 수 있다. The light emitting structure 50 may include a first conductivity type semiconductor layer, a second conductivity type semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductivity type semiconductor layer and the second conductivity type semiconductor layer. The first and second conductivity-type semiconductor layers may be implemented with at least one of group 3-5 or group 2-6 compound semiconductors. The first and second conductive semiconductor layers are formed of, for example, a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1-xy N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) It can be. For example, the first and second conductivity type semiconductor layers may include at least one selected from a group including GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP, and the like. . The first conductivity-type semiconductor layer may be an n-type semiconductor layer doped with an n-type dopant such as Si, Ge, Sn, Se, or Te. The second conductivity-type semiconductor layer may be a p-type semiconductor layer doped with a p-type dopant such as Mg, Zn, Ca, Sr, or Ba. The first conductive semiconductor layer may be disposed between the substrate 55 and the active layer. The second conductive semiconductor layer may be disposed between the active layer and the first and second bonding parts 51 and 52 .

상기 발광 구조물(50)은 상기 제1도전형 반도체층, 상기 활성층 및 상기 제2도전형 반도체층의 적어도 한 층의 상면 또는/및 하면에 다른 반도체층이 더 배치될 수 있다. In the light emitting structure 50 , another semiconductor layer may be further disposed on an upper surface or/or a lower surface of at least one layer of the first conductive semiconductor layer, the active layer, and the second conductive semiconductor layer.

상기 제1 본딩부(51)는 상기 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 본딩부(52)는 상기 제2 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다. 반대로, 상기 제2 본딩부(52)는 상기 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1 본딩부(51)는 상기 제2 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다.The first bonding part 51 may be electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer. The second bonding part 52 may be electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer. Conversely, the second bonding portion 52 may be electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer. The first bonding part 51 may be electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer.

상기 제1 본딩부(51)는 상기 발광 구조물(53)의 제1영역 아래에 배치될 수 있으며, 상기 제2 본딩부(52)는 상기 발광 구조물(53)의 제2영역 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 본딩부(51)와 상기 제2 본딩부(52)는 금속 재질을 포함할 수 있다. 상기 제1,2본딩부(51,52)는 Ti, Al, Sn, In, Ir, Ta, Pd, Co, Cr, Mg, Zn, Ni, Si, Ge, Ag, Ag alloy, Au, Hf, Pt, Ru, Rh, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, Ni/IrOx/Au/ITO를 포함하는 그룹 중에서 선택된 하나 이상의 물질 또는 합금을 이용하여 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다.The first bonding unit 51 may be disposed below the first area of the light emitting structure 53, and the second bonding unit 52 may be disposed below the second area of the light emitting structure 53. have. The first bonding part 51 and the second bonding part 52 may include a metal material. The first and second bonding parts 51 and 52 are Ti, Al, Sn, In, Ir, Ta, Pd, Co, Cr, Mg, Zn, Ni, Si, Ge, Ag, Ag alloy, Au, Hf, Pt, Ru, Rh, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, Ni/IrOx/Au/ITO are formed using one or more materials or alloys selected from the group consisting of a single layer or multiple layers. It can be.

상기 제1 및 제2본딩부(51,52)는 전극 또는 패드일 수 있다. 상기 제1 및 제2본딩부(51,52)는 회로기판이나 프레임 상에 본딩될 수 있다. 상기 제1 본딩부(51) 및 상기 제2 본딩부(52)을 통하여 공급되는 구동 전원에 의하여 상기 발광소자(151)가 구동될 수 있게 된다. 그리고, 상기 발광소자(151)에서 발광된 빛은 파장 변환층(110)으로 제공될 수 있게 된다.The first and second bonding parts 51 and 52 may be electrodes or pads. The first and second bonding parts 51 and 52 may be bonded on a circuit board or frame. The light emitting element 151 can be driven by driving power supplied through the first bonding part 51 and the second bonding part 52 . In addition, the light emitted from the light emitting element 151 can be provided to the wavelength conversion layer 110 .

상기 제1본딩부(51)는 상기 발광소자(151)의 하면 면적의 20% 이상의 면적으로 배치되어, 방열 효율 및 본딩력을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 제2본딩부(52)는 상기 발광소자(151)의 하면 면적의 20% 이상의 면적으로 배치되어, 방열 효율 및 본딩력을 개선시켜 줄 수 있다.The first bonding portion 51 may be disposed in an area of 20% or more of the area of the lower surface of the light emitting element 151 to improve heat dissipation efficiency and bonding force. The second bonding portion 52 may be disposed in an area of 20% or more of the area of the lower surface of the light emitting element 151 to improve heat dissipation efficiency and bonding force.

발명의 실시 예에 따른 발광소자(151)는 상기 발광 구조물(50)과 상기 제1,2본딩부(51,52) 사이에 반사층이 배치될 수 있다. 상기 반사층은 금속 또는/및 비 금속 재질로 형성될 수 있다. 상기 반사층은 상기 발광 구조물(53)로부터 발생된 광을 기판 방향으로 반사시켜 줄 수 있다. 상기 반사층은 단층 또는 다층 구조로 형성될 수 있다.In the light emitting device 151 according to an embodiment of the present invention, a reflective layer may be disposed between the light emitting structure 50 and the first and second bonding parts 51 and 52 . The reflective layer may be formed of a metal or/and non-metal material. The reflective layer may reflect light generated from the light emitting structure 53 toward the substrate. The reflective layer may be formed in a single-layer or multi-layer structure.

상기 몸체(120)는 상기 발광소자(151)의 둘레에 배치될 수 있다. 상기 몸체(120)는 상기 발광소자(151)의 모든 측면의 외측에 배치될 수 있다. 상기 몸체(120)는 상면 및 하면이 개방된 개구부(R1)을 가지며, 상기 개구부(R1) 내에 상기 발광소자(151)가 배치될 수 있다. 상기 개구부(R1)의 높이 또는 깊이는 상기 몸체(120)의 두께(c)와 동일할 수 있다. 상기 개구부(R1)는 하면 면적이 상기 발광 소자(151)의 하면 면적보다 큰 면적으로 제공되어, 발광소자(151)가 삽입될 수 있다. 상기 개구부(R1)의 하면 면적은 상면 면적과 동일할 수 있다.The body 120 may be disposed around the light emitting element 151 . The body 120 may be disposed outside all sides of the light emitting device 151 . The body 120 has an opening R1 with open top and bottom surfaces, and the light emitting device 151 may be disposed in the opening R1. The height or depth of the opening R1 may be the same as the thickness c of the body 120 . The opening R1 has a lower surface area larger than that of the light emitting element 151 so that the light emitting element 151 can be inserted therein. A lower surface area of the opening R1 may be the same as an upper surface area.

상기 몸체(120)의 하면은 상기 발광소자(151)의 하면과 같은 평면이거나 다른 평면일 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면이 상기 발광소자(151)의 하면과 같은 평면인 경우, 상기 몸체(120)의 하부는 회로 기판에 밀착되어 상기 발광소자(151)의 하 방향으로 누설되는 것을 차단할 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면이 상기 발광소자(151)의 하면보다 돌출된 경우, 상기 제1 및 제2본딩부(51,52) 아래에 배치된 본딩층 예컨대, 솔더 페이스트, Ag 페이스트, SAC(Sn-Ag-Cu) 계열의 물질을 압착 정도를 낮출 수 있어, 상기 발광소자(151)의 본딩부(51,52)와 본딩층 간의 접합 효율이 개선될 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면이 돌출된 경우, 상기 발광소자(151)의 하면을 기준을 100 마이크로 미터(㎛) 이하로 돌출될 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면이 상기 발광소자(151)의 본딩부(51,52)보다 낮게 배치된 경우, 발광소자(151)의 본딩부(51,52)의 정렬에 따른 간섭을 줄여줄 수 있다. 따라서, 상기 몸체(120)의 두께(c)는 상기 발광소자(151)의 두께의 ±100㎛의 범위일 수 있다. 상기 발광소자(151)의 두께는 상기 기판(55)의 상면부터 제1,2본딩부(51,52)의 하면까지의 직선 거리일 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면 위치는 상기 발광소자(151)의 하면을 기준으로 Z 방향으로 ±90㎛의 범위에 배치될 수 있다.The lower surface of the body 120 may be the same plane as the lower surface of the light emitting device 151 or a different plane. When the lower surface of the body 120 is on the same plane as the lower surface of the light emitting element 151, the lower part of the body 120 is in close contact with the circuit board to block leakage of the light emitting element 151 downward. have. When the lower surface of the body 120 protrudes from the lower surface of the light emitting element 151, a bonding layer disposed under the first and second bonding parts 51 and 52, for example, solder paste, Ag paste, SAC ( The bonding efficiency between the bonding parts 51 and 52 of the light emitting device 151 and the bonding layer can be improved by reducing the degree of compression of the Sn-Ag-Cu)-based material. When the lower surface of the body 120 protrudes, the lower surface of the light emitting device 151 may protrude less than 100 micrometers (㎛). When the lower surface of the body 120 is disposed lower than the bonding parts 51 and 52 of the light emitting element 151, interference caused by alignment of the bonding parts 51 and 52 of the light emitting element 151 can be reduced. have. Accordingly, the thickness c of the body 120 may be in the range of ±100 μm of the thickness of the light emitting element 151 . The thickness of the light emitting element 151 may be a straight line distance from the upper surface of the substrate 55 to the lower surface of the first and second bonding parts 51 and 52 . The lower surface of the body 120 may be disposed within a range of ±90 μm in the Z direction based on the lower surface of the light emitting element 151 .

상기 몸체(120)의 폭(b)은 제1방향(X) 또는/및 제2방향(Y)의 폭으로서, 상기 개구부(R1)의 외측과 상기 몸체(120)의 외측 사이의 거리일 수 있다. 상기 몸체(120)의 폭(b)은 50 마이크로 미터 이상 예컨대, 50 내지 300 마이크로 미터의 범위일 수 있다. 상기 몸체(120)의 폭(b)가 상기 범위보다 작은 경우, 광이 투과되어 광 손실이 발생될 수 있고 강성이 저하될 수 있다. 상기 몸체(120)의 폭(b)가 상기 범위보다 큰 경우 웨이퍼 상에서의 패키지 수율이 줄어들 수 있다. The width (b) of the body 120 is the width in the first direction (X) or/and the second direction (Y), and may be the distance between the outside of the opening R1 and the outside of the body 120. have. The width (b) of the body 120 may be 50 micrometers or more, for example, in the range of 50 to 300 micrometers. When the width (b) of the body 120 is smaller than the above range, light may be transmitted and light loss may occur and rigidity may be reduced. When the width (b) of the body 120 is larger than the above range, the yield of packages on the wafer may decrease.

상기 몸체(120)는 절연 재질 또는 수지재질일 수 있다. 상기 몸체(120)는 실리콘, 에폭시, 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC: Epoxy molding compound), 실리콘 몰딩 컴파운드(SMC) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 몸체(120)는 다른 예로서, 폴리프탈아미드(PPA: Polyphthalamide)일 수 있다. 상기 몸체(120)가 수지 재질 내부에 금속 산화물, 예로서 TiO2, SiO2, Al2O3 등을 포함하는 물질로 구성될 수 있다. 상기 몸체(120)는 백색 재질이거나 흑색 재질일 수 있다. 상기 몸체(120)가 백색 재질인 경우, 광을 반사시켜 줄 수 있어 광 반사 효율이 개선될 수 있다. 상기 몸체(120)가 흑색 재질인 경우, 광을 흡수할 수 있어 명암도를 개선시켜 줄 수 있다. 상기 흑색 재질은 카본 블랙, 산화티탄, 산화철, 크롬, 은 미립자를 선택적으로 포함할 수 있다.The body 120 may be made of an insulating material or a resin material. The body 120 may include at least one of silicon, epoxy, epoxy molding compound (EMC), and silicon molding compound (SMC). As another example, the body 120 may be polyphthalamide (PPA). The body 120 may be made of a material containing a metal oxide such as TiO 2 , SiO 2 , Al 2 O 3 and the like inside a resin material. The body 120 may be a white material or a black material. When the body 120 is made of a white material, it can reflect light and thus light reflection efficiency can be improved. When the body 120 is made of a black material, it can absorb light and thus improve the contrast. The black material may selectively include carbon black, titanium oxide, iron oxide, chromium, and silver particles.

파장 변환층(110)은 상기 몸체(120)와 상기 발광소자(151) 위에 배치될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 유기물이 아닌 무기물 재질로 형성될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 예컨대, 유리(glass) 재질을 포함할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 투명한 유리 재질일 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 투명한 무기물의 유리 재질일 수 있다. 차량용 램프와 같은 고출력 패키지에서는 고전류가 인가되고 높은 광 에너지를 방출하게 된다. 이러한 높은 광 에너지를 장시간 조사할 경우, 실리콘과 같은 유기물로 형성된 파장 변환층(110)은 크랙이나 색이 변화되는 문제가 발생될 수 있다. 발명의 실시 예는 유리 분말과 같은 무기물을 소결하여 제작하므로 유기물에 비해 높은 광 에너지를 잘 견딜 수 있다. A wavelength conversion layer 110 may be disposed on the body 120 and the light emitting element 151 . The wavelength conversion layer 110 may be formed of an inorganic material rather than an organic material. The wavelength conversion layer 110 may include, for example, a glass material. The wavelength conversion layer 110 may be a transparent glass material. The wavelength conversion layer 110 may be a transparent inorganic glass material. In a high-power package such as a vehicle lamp, a high current is applied and high light energy is emitted. When such high light energy is irradiated for a long time, the wavelength conversion layer 110 formed of an organic material such as silicon may crack or change color. Since the embodiment of the invention is manufactured by sintering an inorganic material such as glass powder, it can withstand higher light energy than organic materials.

상기 파장 변환층(110)은 유리 재질이므로, 고온 및 장 시간 동안 사용하더라도, 열화 및 변색이 적어, 고출력 및 고효율의 층으로 제공될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 투광성 유리 재질이므로, 에폭시나 실리콘 재질에 비해 광투과율이 저하되지 않을 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 기포를 제거하여, 기포로 인한 광 효율의 저하를 방지할 수 있고 크랙 발생을 발생할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 투광성 유리 재질에 형광체를 균일하게 분포시켜 줄 수 있어, 파장 변환 효율이 개선될 수 있고 색 좌표 분포가 개선될 수 있다. Since the wavelength conversion layer 110 is made of glass, it is less deteriorated and discolored even when used at a high temperature and for a long time, and thus can be provided as a layer with high power and high efficiency. Since the wavelength conversion layer 110 is made of light-transmitting glass, light transmittance may not decrease compared to epoxy or silicon. The wavelength conversion layer 110 removes air bubbles, thereby preventing a decrease in light efficiency due to air bubbles and generating cracks. The wavelength conversion layer 110 can uniformly distribute phosphors on the light-transmissive glass material, so that wavelength conversion efficiency and color coordinate distribution can be improved.

상기 파장 변환층(110)은 내부에 확산제나 형광체와 같은 불순물을 포함할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 형광체나 양자점 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 상기 형광체나 양자점은 상기 발광소자(151)에서 방출된 광을 흡수하여 장 파장으로 여기하여 방출하게 된다. 상기 파장 변환층(110)은 청색, 황색, 녹색, 적색의 광을 발광할 수 있다. 상기 형광체는 녹색 형광체, 적색 형광체, 황색 형광체 및 청색 형광체 중 적어도 한 종류 또는 두 종류를 포함할 수 있다. 상기 형광체는 YAG계, TAG계, Silicate계, Sulfide계 또는 Nitride계 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 상기 발광소자(151)의 일부 광과 상기 형광체에 의해 파장 변환된 일부 광이 혼색되어, 타켓 광을 방출할 수 있다. 상기 타켓 광은 백색 광일 수 있다. 상기 타켓 광은 녹색, 청색 또는 적색 광일 수 있다.The wavelength conversion layer 110 may contain impurities such as a diffusion agent or a phosphor therein. The wavelength conversion layer 110 may include at least one of a phosphor or a quantum dot, and the phosphor or quantum dot absorbs light emitted from the light emitting element 151 to excite it with a long wavelength and emit it. The wavelength conversion layer 110 may emit blue, yellow, green, and red light. The phosphor may include at least one or two types of a green phosphor, a red phosphor, a yellow phosphor, and a blue phosphor. The phosphor may include at least one of YAG-based, TAG-based, silicate-based, sulfide-based, and nitride-based. The wavelength conversion layer 110 may emit target light by mixing some light from the light emitting device 151 and some light wavelength-converted by the phosphor. The target light may be white light. The target light may be green, blue or red light.

상기 파장 변환층(110)은 수평한 하면과 수평한 상면을 가질 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 상면과 하면이 평행할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 상기 발광소자(151)와 수직 방향으로 중첩되는 제1영역(a1)과, 상기 몸체(120)와 수직 방향으로 중첩되는 제2영역(a2)을 포함하며, 상기 파장 변환층(110)의 제1영역(a1)과 상기 제2영역(a2)은 동일한 두께(a)를 가질 수 있다. 상기 제2영역(a2)은 상기 제1영역(a1)의 외측 둘레에 배치될 수 있다. The wavelength conversion layer 110 may have a horizontal lower surface and a horizontal upper surface. The upper and lower surfaces of the wavelength conversion layer 110 may be parallel. The wavelength conversion layer 110 includes a first area a1 overlapping the light emitting element 151 in a vertical direction and a second area a2 overlapping the body 120 in a vertical direction. The first area (a1) and the second area (a2) of the wavelength conversion layer 110 may have the same thickness (a). The second area a2 may be disposed around an outer circumference of the first area a1.

상기 파장 변환층(110)의 두께(a)는 300 마이크로 미터 이하 예컨대, 3 내지 300 마이크로 미터의 범위일 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 두께(a)가 상기 범위보다 큰 경우 파장 변환 효율의 개선이 미미할 수 있고 다이싱(dicing) 공정이 어려울 수 있고 패키지 두께가 증가되거나 재료가 낭비될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 두께(a)가 상기 범위보다 작은 경우 파장 변환 효율이 저하될 수 있고 핸들링이 어려울 수 있으며 강성 저하가 발생될 수 있다.The thickness (a) of the wavelength conversion layer 110 may be less than 300 micrometers, for example, in the range of 3 to 300 micrometers. When the thickness (a) of the wavelength conversion layer 110 is greater than the above range, improvement in wavelength conversion efficiency may be insignificant, a dicing process may be difficult, and package thickness may increase or materials may be wasted. When the thickness (a) of the wavelength conversion layer 110 is smaller than the above range, wavelength conversion efficiency may decrease, handling may be difficult, and rigidity may decrease.

상기 파장 변환층(110)의 하면 면적은 상면 면적과 동일할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 하면 면적은 상기 발광소자(151)의 상면 면적보다 클 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 상면 면적은 상기 발광소자(151)의 하면 면적 및 상면 면적보다 클 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 제1방향의 너비는 상기 발광소자(151)의 제1방향의 너비보다 클 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 제2방향의 너비는 상기 발광소자(151)의 제2방향의 너비보다 클 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 너비는 상면 및 하면이 제1 및 제2방향으로 상기 발광소자(151)의 상면 및 하면의 너비보다 클 수 있다. 이러한 파장 변환층(110)은 상기 발광소자(151)의 영역보다 큰 영역으로 배치되므로, 상기 발광소자(151)의 영역을 벗어난 광들도 파장 변환하여 방출할 수 있다. A lower surface area of the wavelength conversion layer 110 may be the same as an upper surface area. A lower surface area of the wavelength conversion layer 110 may be larger than an upper surface area of the light emitting element 151 . An upper surface area of the wavelength conversion layer 110 may be larger than lower and upper surface areas of the light emitting device 151 . A width of the wavelength conversion layer 110 in the first direction may be greater than a width of the light emitting element 151 in the first direction. A width of the wavelength conversion layer 110 in the second direction may be greater than a width of the light emitting element 151 in the second direction. Widths of the upper and lower surfaces of the wavelength conversion layer 110 may be greater than those of the upper and lower surfaces of the light emitting element 151 in the first and second directions. Since the wavelength conversion layer 110 is disposed in an area larger than the area of the light emitting element 151, light out of the area of the light emitting element 151 can also be wavelength-converted and emitted.

상기 파장 변환층(110)의 상면 및 하면 중 적어도 하나 또는 모두에는 광 추출 구조가 형성될 수 있다. 상기 광 추출 구조는 오목한 부분과 볼록한 부분이 교대로 배치된 구조이거나, 러프한 돌기들이 배치될 수 있다. A light extraction structure may be formed on at least one or both of the upper and lower surfaces of the wavelength conversion layer 110 . The light extracting structure may have a structure in which concave and convex parts are alternately arranged, or rough protrusions may be arranged.

접착층(130)은 상기 파장 변환층(110)과 상기 발광소자(151) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착층(130)은 상기 발광소자(151)와 상기 몸체(120) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착층(130)의 제1부는 상기 파장 변환층(110)의 제1영역 아래에 배치되고, 제2부는 상기 제1부로부터 상기 발광소자(151)와 상기 몸체(120) 사이의 영역으로 연장될 수 있다.An adhesive layer 130 may be disposed between the wavelength conversion layer 110 and the light emitting element 151 . The adhesive layer 130 may be disposed between the light emitting element 151 and the body 120 . The first portion of the adhesive layer 130 is disposed below the first area of the wavelength conversion layer 110, and the second portion extends from the first portion to an area between the light emitting element 151 and the body 120. It can be.

상기 접착층(130)은 투명한 수지 재질일 수 있다. 상기 접착층(130)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 수지 재질일 수 있다. 상기 접착층(130)은 유기물 재질일 수 있다. 상기 접착층(130)의 두께(e)는 50 마이크로 미터 이하 예컨대, 2 내지 50 마이크로 미터의 범위일 수 있다. 상기 접착층(130)의 두께(e)가 상기 범위보다 큰 경우 접착력의 개선보다는 광 손실율이 더 증가될 수 있고 상기 범위보다 작은 경우 접착력의 개선이 저하될 수 있다. 상기 접착층(130)은 상기 발광소자(151)의 상부에 배치된 투광성 재질의 기판(55)의 상면 및 측면에 접촉되어, 상기 기판(55)의 측 방향으로 진행하는 광의 손실을 줄여줄 수 있다.The adhesive layer 130 may be a transparent resin material. The adhesive layer 130 may be made of a resin material such as silicone or epoxy. The adhesive layer 130 may be made of an organic material. The thickness (e) of the adhesive layer 130 may be less than 50 micrometers, for example, in the range of 2 to 50 micrometers. When the thickness (e) of the adhesive layer 130 is larger than the above range, the light loss rate may be more increased than the adhesive strength is improved, and when the thickness (e) of the adhesive layer 130 is smaller than the above range, the improvement of the adhesive strength may be deteriorated. The adhesive layer 130 is in contact with the top and side surfaces of the substrate 55 made of a light-transmitting material disposed above the light emitting element 151, and can reduce loss of light traveling in a lateral direction of the substrate 55. .

상기 접착층(130)은 상기 발광소자(151)의 상면과 측면을 상기 파장 변환층(110)과 상기 몸체(120)에 접착시켜 줄 수 있다. 상기 접착층(130)의 하단부(Ra)는 상기 파장 변환층(110)의 방향으로 오목한 곡면이거나, 그 반대 방향으로 볼록한 곡면일 수 있다. 상기 접착층(130)의 하단부(Ra)는 상기 몸체(120)의 하면과 같거나 상기 몸체(120)의 하면과 이격되게 배치될 수 있다. The adhesive layer 130 may adhere top and side surfaces of the light emitting device 151 to the wavelength conversion layer 110 and the body 120 . The lower end Ra of the adhesive layer 130 may be a concave curved surface in the direction of the wavelength conversion layer 110 or a convex curved surface in the opposite direction. The lower end Ra of the adhesive layer 130 may be disposed the same as or spaced apart from the lower surface of the body 120 .

상기 파장 변환층(110)의 제1영역(a1)은 상기 접착층(130)과 수직 방향으로 중첩될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 상기 접착층(130)을 통해 입사되거나 반사된 광을 파장 변환할 수 있다.The first area a1 of the wavelength conversion layer 110 may overlap the adhesive layer 130 in a vertical direction. The wavelength conversion layer 110 may convert the wavelength of light incident or reflected through the adhesive layer 130 .

상기 몸체(120)의 개구부(R1)는 상기 발광소자(151)의 개수와 동일할 수 있다. 상기 개구부(R1)의 바텀 뷰 형상은 상기 발광소자(151)의 바닥 면에서 외곽 형상과 동일할 수 있다. 상기 개구부(R1)의 바닥 면적은 상기 발광소자(151)의 하면 면적 또는 상면 면적보다 클 수 있다. 발명의 실시 예는 상기 파장 변환층(110)의 제2영역(a2) 아래에 몸체(120)를 배치하고, 상기 제1영역(a1) 아래에 발광소자(151)를 접착층(130)으로 접착시켜 줄 수 있다. 이에 따라 발광소자(151)의 측 방향에서 몸체(120)로 광을 반사시키고 업(up) 방향에서 발광소자(151)의 상면 면적보다 큰 면적을 갖고 광의 파장을 변환시켜 줄 수 있다. The number of openings R1 of the body 120 may be the same as the number of light emitting elements 151 . The bottom view shape of the opening R1 may be the same as the outer shape of the bottom surface of the light emitting device 151 . A bottom area of the opening R1 may be larger than an area of a lower surface or an area of an upper surface of the light emitting device 151 . In an embodiment of the present invention, the body 120 is disposed under the second area a2 of the wavelength conversion layer 110, and the light emitting element 151 is bonded to the adhesive layer 130 under the first area a1. can do it Accordingly, it is possible to reflect light to the body 120 in the lateral direction of the light emitting element 151 and convert the wavelength of light with an area larger than the upper surface area of the light emitting element 151 in the up direction.

발명의 실시 예는 플립 칩 타입의 발광소자(151)의 측면에 개구부(R1)를 갖는 몸체(120)를 배치하고 상기 몸체(120)와 상기 발광소자(151) 상부에 유리 재질의 파장 변환층(110)을 배치하여, 열화 및 변색이 적은 고출력 및 고효율의 패키지로 제공할 수 있다. 발명의 실시 예에 따르면, 발광소자 패키지(100)에서 파장 변환층(110)의 크랙 발생을 줄여, 패키지의 신뢰성을 개선시켜 줄 수 있다. 발명의 실시 예에 의하면, 발광소자 패키지(100)를 고온 및 장시간 사용하더라도, 파장 변환층(110)의 열화 현상이나 변색이 없이 고출력 패키지에서의 성능 저하를 방지할 수 있다.In an embodiment of the present invention, a body 120 having an opening R1 is disposed on the side of a flip chip type light emitting device 151, and a wavelength conversion layer made of glass is placed on the body 120 and the light emitting device 151. By arranging (110), it can be provided as a high-power and high-efficiency package with little deterioration and discoloration. According to an embodiment of the present invention, cracks in the wavelength conversion layer 110 of the light emitting device package 100 may be reduced, thereby improving the reliability of the package. According to an embodiment of the present invention, even when the light emitting device package 100 is used at high temperature and for a long time, deterioration of performance in a high power package can be prevented without deterioration or discoloration of the wavelength conversion layer 110 .

도 4 내지 도 6은 도 1 내지 도 3의 발광소자 패키지의 변형 예이다. 상기 변형 예를 설명함에 있어서, 상기의 구성과 동일한 부분은 중복 설명은 생략하고 선택적으로 적용할 수 있다.4 to 6 are modified examples of the light emitting device package of FIGS. 1 to 3 . In describing the modified example, redundant description of the same parts as the above configuration may be omitted and selectively applied.

도 4 및 도 6을 참조하면, 발광소자 패키지는 파장 변환층(110) 아래에 복수의 발광소자(151,153)가 배치될 수 있다. 상기 복수의 발광소자(151,153)는 제1방향으로 배치될 수 있다. 상기 복수의 발광소자(151,153)의 외측에는 몸체(120)가 배치될 수 있다. 상기 몸체(120)는 상기 각 발광소자(151)의 측면 외측에 배치되어, 상기 발광소자(151)로부터 방출된 광을 반사시켜 줄 수 있다. 상기 몸체(120)는 제1방향으로 배치된 복수의 개구부(R1,R2)를 포함하여, 상기 각 개구부(R1,R2)에 상기 발광소자(151)가 배치될 수 있다.Referring to FIGS. 4 and 6 , in the light emitting device package, a plurality of light emitting devices 151 and 153 may be disposed under the wavelength conversion layer 110 . The plurality of light emitting devices 151 and 153 may be arranged in a first direction. A body 120 may be disposed outside the plurality of light emitting devices 151 and 153 . The body 120 may be disposed outside the side surface of each light emitting element 151 to reflect the light emitted from the light emitting element 151 . The body 120 may include a plurality of openings R1 and R2 disposed in a first direction, and the light emitting device 151 may be disposed in each of the openings R1 and R2.

상기 접착층(130)은 상기 몸체(120)와 상기 발광소자(151,153) 사이, 상기 파장 변환층(110)과 상기 발광소자(151,153) 사이에 접착될 수 있다. 상기 제1방향으로 배열된 복수의 발광소자(151,153)는 상기 파장 변환층(110) 아래에 2개 이상 또는 3개 이상일 수 있다. 상기 2개 또는 3개 이상의 발광소자(151)는 동일한 컬러를 발광할 수 있으며, 또는 동일한 컬러 내에서 동일한 피크 파장을 갖는 소자들이 배치되거나 서로 다른 피크 파장을 갖는 소자들이 배치될 수 있다. 이러한 발광소자(151,153)들 중 적어도 하나는 다른 랭크를 갖게 되므로 발광소자(151)의 사용 효율을 개선시켜 줄 수 있다.The adhesive layer 130 may be bonded between the body 120 and the light emitting elements 151 and 153 and between the wavelength conversion layer 110 and the light emitting elements 151 and 153 . The plurality of light emitting devices 151 and 153 arranged in the first direction may be two or more or three or more under the wavelength conversion layer 110 . The two or three or more light emitting elements 151 may emit the same color, or elements having the same peak wavelength or elements having different peak wavelengths may be disposed within the same color. Since at least one of these light emitting devices 151 and 153 has a different rank, use efficiency of the light emitting device 151 can be improved.

도 5 및 도 6과 같이, 발광소자 패키지는 파장 변환층(110) 아래에 복수의 발광소자(151,153,155,157)가 배치될 수 있다. 상기 발광소자(151,153,155,157)는 제1방향 및 제2방향으로 복수로 배치될 수 있다. 상기 발광소자(151)는 N행과 M열로 배치될 수 있고, 상기 N과 M은 2이상일 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 유리 재질로서, 도 1 내지 도 3의 설명을 참조하기로 한다. 상기 몸체(120)의 재질 및 상기 접착층(130)의 재질은 도 1 내지 도 3의 설명을 참조하기로 한다.As shown in FIGS. 5 and 6 , in the light emitting device package, a plurality of light emitting devices 151 , 153 , 155 , and 157 may be disposed under the wavelength conversion layer 110 . The light emitting devices 151 , 153 , 155 , and 157 may be disposed in plurality in the first direction and the second direction. The light emitting devices 151 may be arranged in N rows and M columns, and N and M may be 2 or more. The wavelength conversion layer 110 is made of glass, and descriptions of FIGS. 1 to 3 will be referred to. The material of the body 120 and the material of the adhesive layer 130 will be described with reference to FIGS. 1 to 3 .

도 4 내지 도 6과 같이, 상기 복수의 발광소자(151,153)는 하부에 제1,2본딩부(51,52)를 갖고 회로 기판에 연결될 수 있고, 직렬로 구동되거나 병렬로 구동될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 하면 면적은 상기 복수의 발광소자(151,153)의 상면 면적의 합보다 큰 면적으로 제공될 수 있고, 무기물 재질로 제공되어, 파장 변환층(110)의 열화 및 변색이 적을 수 있다. As shown in FIGS. 4 to 6 , the plurality of light emitting devices 151 and 153 may have first and second bonding parts 51 and 52 at the bottom, be connected to a circuit board, and may be driven in series or in parallel. The lower surface area of the wavelength conversion layer 110 may be provided with an area greater than the sum of the upper surface areas of the plurality of light emitting elements 151 and 153, and may be made of an inorganic material to prevent deterioration and discoloration of the wavelength conversion layer 110. can write

발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 발광소자(151)의 측면 광을 반사시켜 주어, 타켓 광으로의 변환 효율을 증가시켜 줄 수 있고 광 추출 효율의 저하를 방지할 수 있다. The light emitting device package according to the embodiment of the present invention reflects side light of the light emitting device 151 to increase conversion efficiency into target light and prevent light extraction efficiency from deteriorating.

도 7 내지 도 14는 발명의 제1실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조 과정을 설명한 도면이다. 도 7 내지 도 14를 설명함에 있어서, 상기의 구성과 동일한 부분은 상기의 구성을 선택적으로 적용하기로 한다. 상기 도 7 내지 도 14에서 (a)는 평면도 상에서 본 도면이며, (b)는 (a)의 부분 측 단면도를 나타낸다.7 to 14 are diagrams explaining a process of manufacturing a light emitting device package according to a first embodiment of the present invention. In the description of FIGS. 7 to 14 , the above configuration is selectively applied to the same parts as the above configuration. 7 to 14, (a) is a plan view, and (b) is a partial cross-sectional view of (a).

도 7 및 도 8을 참조하면, 파장 변환층(110)으로 이루어진 웨이퍼(Wafer) 상에 레지스트층(112)을 형성하게 된다. 여기서, 상기 웨이퍼는 유리 재질 내에 형광체를 갖는 층 또는 필름으로 제공될 수 있다. 상기 웨이퍼는 도 2의 파장 변환층(110)의 두께(a)와 동일한 두께로 제공될 수 있다. 상기 레지스트층(110)은 상기 웨이퍼의 상면 전체에 형성되며, 포토 레지스트(PR: Photo resist) 재질로 형성될 수 있다. Referring to FIGS. 7 and 8 , a resist layer 112 is formed on a wafer made of the wavelength conversion layer 110 . Here, the wafer may be provided as a layer or film having a phosphor in a glass material. The wafer may have the same thickness as the thickness (a) of the wavelength conversion layer 110 of FIG. 2 . The resist layer 110 is formed on the entire upper surface of the wafer and may be formed of a photo resist (PR) material.

도 8 및 도 9를 참조하면, 레지스트층(112)이 형성되면, 상기 레지스트층(112)을 마스크 패턴을 이용하여 식각한 후 패턴을 제공한다. 상기 레지스트층(112)의 패턴은 제1방향과 제2방향으로 분리될 수 있다. 상기 식각 공정은 건식 또는/및 습식 식각을 이용할 수 있다. 상기 레지스트층(112)의 패턴의 각 영역은 도 1에서의 개구부(R1)의 크기일 수 있다. 상기 레지스트층(112)의 패턴 둘레에는 상기 웨이퍼인 파장 변환층(110)가 노출될 수 있다. 상기 식각된 영역은 발광 소자가 배치되는 제1영역일 수 있다.Referring to FIGS. 8 and 9 , when the resist layer 112 is formed, the resist layer 112 is etched using a mask pattern and then a pattern is provided. The pattern of the resist layer 112 may be separated into a first direction and a second direction. The etching process may use dry or/and wet etching. Each region of the pattern of the resist layer 112 may have the size of the opening R1 in FIG. 1 . A wavelength conversion layer 110, which is the wafer, may be exposed around the pattern of the resist layer 112 . The etched region may be a first region in which a light emitting element is disposed.

도 9 및 도 10을 참조하면, 상기 레지스트층(112)의 패턴의 외측 즉, 제2영역 상에 몸체(125)가 형성될 수 있다. 상기 몸체(125)는 도 1의 몸체(110)과 동일한 재질일 수 있다. 상기 몸체(125)는 상기 레지스트층(112)의 외측 및 상기 웨이퍼 상에 형성될 수 있다. 상기 몸체(125)은 인쇄 또는 스크린 프린트 방식으로 형성될 수 있다. 상기 몸체(125)는 디스펜싱 방식으로 제공될 수 있다. 상기 몸체(125)의 재질은 수지 재질로서, 백색 수지이거나 흑색 수지 재질일 수 있다. 상기 몸체(125)의 재질은 실리콘 또는 에폭시와 같은 재질에 금속 산화물이 첨가된 층일 수 있으며, 상기의 몸체일 수 있다.Referring to FIGS. 9 and 10 , a body 125 may be formed on the outside of the pattern of the resist layer 112, that is, on the second region. The body 125 may be made of the same material as the body 110 of FIG. 1 . The body 125 may be formed on the outside of the resist layer 112 and on the wafer. The body 125 may be formed by a printing or screen printing method. The body 125 may be provided by a dispensing method. The material of the body 125 is a resin material, and may be a white resin or a black resin material. The material of the body 125 may be a layer in which a metal oxide is added to a material such as silicon or epoxy, and may be the body.

도 10 및 도 11을 참조하면, 상기 몸체(125)가 형성되면, 상기 레지스트층(112)의 패턴을 제거한다. 상기 레지스트층(112)의 패턴 제거는 건식 식각 또는/및습식 식각 공정을 이용할 수 있다. 이에 따라 상기 몸체(125)은 매트릭스 형태로 배열된 복수의 개구부(R1)가 형성되며, 상기 복수의 개구부(R1)를 통해 상기 웨이퍼인 파장 변환층(110)이 노출될 수 있다. Referring to FIGS. 10 and 11 , when the body 125 is formed, the pattern of the resist layer 112 is removed. A dry etching process or/and a wet etching process may be used to remove the pattern of the resist layer 112 . Accordingly, the body 125 has a plurality of openings R1 arranged in a matrix form, and the wavelength conversion layer 110, which is the wafer, may be exposed through the plurality of openings R1.

도 11 및 도 12를 참조하면, 상기 몸체(125)의 각 개구부(R1)에는 접착층(135)이 형성될 수 있다. 상기 접착층(135)은 디스펜싱 공정으로 각 개구부에 도포될 수 있다. 상기 접착층(135)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 투명한 수지 재질일 수 있다.Referring to FIGS. 11 and 12 , an adhesive layer 135 may be formed in each opening R1 of the body 125 . The adhesive layer 135 may be applied to each opening through a dispensing process. The adhesive layer 135 may be a transparent resin material such as silicone or epoxy.

도 12 및 도 13을 참조하면, 상기 몸체(125)의 각 개구부(R1)에 접착층(135)가 형성되면, 상기 각 개구부(R1)에 발광소자(151)를 배치하여, 상기 발광소자(151)를 접착층(135)에 접착시켜 줄 수 있다. 이러한 접착층(135)은 상기 발광소자(151)를 가압시켜 접착할 때, 상기 발광소자(151)의 측면으로 연장되어, 상기 발광소자(151)의 측면과 상기 몸체(125) 사이의 영역으로 연장될 수 있다. 이에 따라 상기 발광소자(151)의 상면 및 측면에 접착층(135)이 배치될 수 있다. 상기 발광소자(151)은 상기 파장 변환층(110)의 제1영역 상에 배치될 수 있다. 12 and 13, when the adhesive layer 135 is formed in each opening R1 of the body 125, a light emitting element 151 is disposed in each opening R1, and the light emitting element 151 ) may be attached to the adhesive layer 135. When the light emitting element 151 is bonded by pressing, the adhesive layer 135 extends to the side surface of the light emitting element 151 and extends to a region between the side surface of the light emitting element 151 and the body 125. It can be. Accordingly, an adhesive layer 135 may be disposed on the top and side surfaces of the light emitting device 151 . The light emitting element 151 may be disposed on the first region of the wavelength conversion layer 110 .

상기 발광소자(151)는 도 3의 발광소자(151)를 180도 방향으로 뒤집은 구조로서, 상부에 제1,2본딩부(51,52)가 배치되고 하부에 발광 구조물 및 기판이 배치된 구성이다. 상기 발광소자(151)의 제1,2본딩부(51,52)는 상부에 노출된 구조이며, 상기 몸체(125)의 상면보다 더 돌출될 수 있다.The light emitting element 151 has a structure in which the light emitting element 151 of FIG. 3 is turned over 180 degrees, and the first and second bonding parts 51 and 52 are disposed on the upper part and the light emitting structure and the substrate are disposed on the lower part. to be. The first and second bonding parts 51 and 52 of the light emitting element 151 have a structure exposed to the top, and may protrude more than the upper surface of the body 125 .

도 13 및 도 14을 참조하면, 발광소자(151)에 접착된 접착층(135)을 경화한 다음, 상기 발광소자(151)를 갖는 패키지 단위(unit)로 다이싱(dicing)하게 된다. 이때 상기 다이싱은 커팅 라인(CL1,CL2)을 따라 상기 몸체(125)부터 상기 웨이퍼인 파장 변환층(110)의 하면까지 커팅하여 개별 패키지 크기로 제공될 수 있다. 여기서, 상기 다이싱 공정시 상기 패키지 크기를 1개의 발광소자(151)를 갖는 패키지, 2개 또는 그 이상의 발광소자(151)를 갖는 패키지 단위로 다이싱할 수 있다. 이에 따라 도 1, 도 3 또는 도 5와 같은 패키지가 제공될 수 있다.Referring to FIGS. 13 and 14 , the adhesive layer 135 attached to the light emitting device 151 is cured and then diced into a package unit having the light emitting device 151 . In this case, the dicing may be provided in an individual package size by cutting from the body 125 to the lower surface of the wavelength conversion layer 110, which is the wafer, along the cutting lines CL1 and CL2. Here, in the dicing process, the size of the package may be diced in units of a package having one light emitting device 151 or a package having two or more light emitting devices 151 . Accordingly, a package as shown in FIG. 1 , FIG. 3 or FIG. 5 may be provided.

발명의 실시 예는 파장 변환층(110)으로 이루어진 웨이퍼 상에 몸체(125)을 형성하여 개구부(R1)를 배열한 다음, 상기 개구부(R1)에 접착층(135)를 도포하고 상기 발광소자(151)를 각 개구부(R1)에 부착시켜 주고 패키지 크기로 다이싱할 수 있다. 이에 따라 발광소자(151)의 측면 방향으로 반사성 수지 재질의 몸체(125)가 배치될 수 있고, 상기 발광소자(151) 및 상기 몸체(125)의 상부 방향 또는 웨이퍼 방향으로 상기 파장 변환층(110)이 배치될 수 있다. 이러한 패키지는 도 1 내지 도 6과 같은 패키지로 제공되어, 유리 재질의 파장 변환층(110)을 갖고 열화 및 변색이 적은 광원으로 제공할 수 있다.In an embodiment of the invention, the body 125 is formed on a wafer made of the wavelength conversion layer 110, the openings R1 are arranged, the adhesive layer 135 is applied to the openings R1, and the light emitting element 151 is applied. ) may be attached to each opening R1 and diced to a package size. Accordingly, the body 125 made of a reflective resin material may be disposed in a lateral direction of the light emitting element 151, and the wavelength conversion layer 110 may be disposed in an upper direction of the light emitting element 151 and the body 125 or in a wafer direction. ) can be placed. Such a package may be provided as a package as shown in FIGS. 1 to 6 , and may be provided as a light source having a wavelength conversion layer 110 made of glass and less deteriorating and discoloring.

발광소자 패키지의 제조 과정의 다른 예로서, 도 7과 도 11 내지 도 14를 참조한다. As another example of the manufacturing process of the light emitting device package, refer to FIGS. 7 and 11 to 14 .

도 7 및 도 11를 참조하면, 파장 변환층(110)으로 이루어진 웨이퍼 상에 개구부(R1)가 배치된 몸체(125)을 형성하게 된다. 상기 몸체(125)은 사출 성형을 통해 개구부(R1)를 갖고 상기 웨이퍼 상에 형성될 수 있다. 상기 개구부(R1)에는 상기 웨이퍼가 노출될 수 있다. Referring to FIGS. 7 and 11 , a body 125 having an opening R1 disposed thereon is formed on a wafer made of the wavelength conversion layer 110 . The body 125 may have an opening R1 and be formed on the wafer through injection molding. The wafer may be exposed through the opening R1.

상기 몸체(125)의 사출 성형 공정은 상기 웨이퍼 상에 상기 개구부(R1)를 제외한 영역에 몸체 재질을 주입하여 형성될 수 있으며, 상기 몸체 재질은 실리콘, 에폭시 또는 실리콘 몰딩 컴파운드, 또는 에폭시 몰딩 컴파운드 재질일 수 있다. 상기 몸체(125)은 반사성 수지 재질로 형성될 수 있다.The injection molding process of the body 125 may be formed by injecting a body material into an area of the wafer except for the opening R1, and the body material may be made of silicon, epoxy, silicone molding compound, or epoxy molding compound. can be The body 125 may be formed of a reflective resin material.

도 11 및 도 12와 같이, 상기 몸체(125)의 개구부(R1)에는 접착층(135)이 형성될 수 있다. 상기 접착층(135)는 실리콘 또는 에폭시와 같은 투명 재질로서, 디스펜싱 공정을 통해 상기 각 개구부(R1)에 형성될 수 있다.As shown in FIGS. 11 and 12 , an adhesive layer 135 may be formed in the opening R1 of the body 125 . The adhesive layer 135 is a transparent material such as silicon or epoxy, and may be formed in each opening R1 through a dispensing process.

도 12 및 도 13을 참조하면, 상기 몸체(125)의 각 개구부(R1)에 접착층(135)이 형성되면, 상기 각 개구부(R1)에 발광소자(151)를 배치하여, 상기 발광소자(151)를 접착층(135)에 접착시켜 줄 수 있다. 이러한 접착층(135)은 상기 발광소자(151)를 가압시켜 접착할 때, 상기 발광소자(151)의 측면으로 연장되어, 상기 발광소자(151)의 측면과 상기 몸체(125) 사이의 영역으로 연장될 수 있다. 이에 따라 상기 발광소자(151)의 상면 및 측면에 접착층(135)이 배치될 수 있다.12 and 13, when the adhesive layer 135 is formed in each opening R1 of the body 125, a light emitting element 151 is disposed in each opening R1, and the light emitting element 151 ) may be attached to the adhesive layer 135. When the light emitting element 151 is bonded by pressing, the adhesive layer 135 extends to the side surface of the light emitting element 151 and extends to a region between the side surface of the light emitting element 151 and the body 125. It can be. Accordingly, an adhesive layer 135 may be disposed on the top and side surfaces of the light emitting device 151 .

상기 발광소자(151)는 도 3의 발광소자(151)를 180도 방향으로 뒤집은 구조로서, 상부에 제1,2본딩부(51,52)가 배치되고 하부에 발광 구조물 및 기판이 배치된 구성이다. 상기 발광소자(151)의 제1,2본딩부(51,52)는 상부에 노출된 구조이며, 상기 몸체(120)의 상면보다 더 돌출될 수 있다.The light emitting element 151 has a structure in which the light emitting element 151 of FIG. 3 is turned over 180 degrees, and the first and second bonding parts 51 and 52 are disposed on the upper part and the light emitting structure and the substrate are disposed on the lower part. to be. The first and second bonding parts 51 and 52 of the light emitting element 151 have a structure exposed to the top, and may protrude more than the upper surface of the body 120 .

도 13 및 도 14을 참조하면, 발광소자(151)에 접착된 접착층(135)을 경화한 다음, 상기 발광소자(151)를 갖는 패키지 단위로 다이싱하게 된다. 이때 상기 다이싱은 커팅 라인(CL1,CL2)을 따라 상기 몸체(125)부터 상기 웨이퍼의 하면까지 커팅하여 개별 패키지 크기로 제공될 수 있다. 여기서, 상기 다이싱 공정시 상기 패키지 크기를 1개의 발광소자(151)를 갖는 패키지, 2개 또는 그 이상의 발광소자(151)를 갖는 패키지 단위로 다이싱할 수 있다. 이에 따라 도 3 및 도 5와 같은 패키지가 제공될 수 있다.Referring to FIGS. 13 and 14 , the adhesive layer 135 attached to the light emitting device 151 is cured, and then diced in units of packages having the light emitting device 151 . In this case, the dicing may be provided in an individual package size by cutting from the body 125 to the lower surface of the wafer along the cutting lines CL1 and CL2. Here, in the dicing process, the size of the package may be diced in units of a package having one light emitting device 151 or a package having two or more light emitting devices 151 . Accordingly, packages such as those shown in FIGS. 3 and 5 may be provided.

발명의 실시 예는 파장 변환층(110)으로 이루어진 웨이퍼 상에 몸체(125)를 포토 레지스트층을 이용하여 인쇄하거나, 사출 성형을 통해 형성하여 개구부(R1)를 배열한 다음, 상기 개구부(R1)에 접착층(135)을 도포하고 상기 발광소자(151)를 각 개구부(R1)에 부착시켜 주고 소정 패키지 크기로 다이싱할 수 있다. 이에 따라 발광소자(151)의 측면 방향으로 반사성 수지 재질의 몸체(125)이 배치될 수 있고, 상기 발광소자(151) 및 상기 몸체(125)의 상부 방향 또는 웨이퍼 방향으로 상기 파장 변환층(110)이 배치될 수 있다. 이러한 패키지는 도 1 내지 도 6과 같은 패키지로 제공되어, 유리 재질의 파장 변환층(110)을 갖고 열화 및 변색이 적은 광원으로 제공할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the body 125 is printed on a wafer made of the wavelength conversion layer 110 using a photoresist layer or formed through injection molding to arrange the openings R1, and then the openings R1 An adhesive layer 135 may be applied to and the light emitting device 151 may be attached to each opening R1 and then diced into a predetermined package size. Accordingly, the body 125 made of a reflective resin material may be disposed in a lateral direction of the light emitting element 151, and the wavelength conversion layer 110 may be disposed in an upper direction of the light emitting element 151 and the body 125 or in a wafer direction. ) can be placed. Such a package may be provided as a package as shown in FIGS. 1 to 6 , and may be provided as a light source having a wavelength conversion layer 110 made of glass and less deteriorating and discoloring.

<제2실시 예><Second Embodiment>

도 15 내지 도 17은 발명의 제2실시 예에 따른 발광소자 패키지를 나타낸 도면이다.15 to 17 are views showing a light emitting device package according to a second embodiment of the present invention.

도 15 내지 도 17을 참조하면, 발광소자 패키지(101)는, 발광소자(151), 상기 발광소자(151)의 둘레에 몸체(120), 및 상기 몸체(120)와 상기 발광소자(151) 위에 파장 변환층(110)을 포함한다. 상기 발광소자 패키지(101)는 상기 몸체(120)와 상기 발광소자(151)의 사이의 영역과 상기 발광소자(151)와 상기 파장 변환층(110) 사이의 영역에 배치된 접착층(130)을 포함한다.15 to 17, the light emitting device package 101 includes a light emitting device 151, a body 120 around the light emitting device 151, and the body 120 and the light emitting device 151. A wavelength conversion layer 110 is included thereon. The light emitting device package 101 includes an adhesive layer 130 disposed in an area between the body 120 and the light emitting device 151 and between the light emitting device 151 and the wavelength conversion layer 110. include

상기 발광소자(151)는 청색 광을 발광할 수 있다. 다른 예로서, 상기 발광소자(151)는 녹색 광 또는 적색 광을 발광할 수 있다. 다른 예로서, 상기 발광소자(151)는 자외 광을 발광할 수 있다. 상기 발광소자(151)는 자외선부터 가시광선의 범위 중에서 선택적으로 발광할 수 있다.The light emitting element 151 may emit blue light. As another example, the light emitting device 151 may emit green light or red light. As another example, the light emitting device 151 may emit ultraviolet light. The light emitting element 151 may selectively emit light in the range from ultraviolet to visible light.

상기 발광소자(151)는 상기 몸체(120) 내에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(151)는 상기 몸체(120) 내에 임베디드(embedded)된 구조로 배치될 수 있다. The light emitting device 151 may be disposed within the body 120 . The light emitting device 151 may be disposed in a structure embedded in the body 120 .

상기 발광소자(151)는 하부에 제1 본딩부(51) 및 제2 본딩부(52)를 포함할 수 있다. 상기 제1 및 제2본딩부(51,52)는 제1방향으로 서로 이격될 수 있다. 상기 제1 본딩부(51)와 상기 제2 본딩부(52)는 상기 발광소자(151)의 하부 면에서 서로 이격되고, 상기 몸체(120)의 하면에 노출될 수 있다. The light emitting element 151 may include a first bonding portion 51 and a second bonding portion 52 at a lower portion. The first and second bonding parts 51 and 52 may be spaced apart from each other in a first direction. The first bonding part 51 and the second bonding part 52 may be spaced apart from each other on the lower surface of the light emitting device 151 and exposed on the lower surface of the body 120 .

상기 발광소자(151)는 발광 구조물(50)을 포함할 수 있다. 상기 발광구조물(50)은 상기 제1 및 제2본딩부(51,52) 상에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(151)는 상기 발광 구조물(50) 위에 기판(55)을 포함할 수 있다. 상기 기판(55)은 투광 층으로서, 절연성 재질 또는 반도체 재질로 형성될 수 있다. 상기 기판(55)은 예컨대, 사파이어 기판(Al2O3), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge을 포함하는 그룹 중에서 선택될 수 있다. 예로서, 상기 기판(55)은 표면에 요철 패턴이 형성될 수 있다. 상기 기판(55)는 제거되거나, 다른 수지 재질의 투광층이 배치될 수 있다. 상기 기판(55)은 발광소자(151)의 최상층에 배치되거나, 광 추출 층으로 기능할 수 있다. The light emitting device 151 may include a light emitting structure 50 . The light emitting structure 50 may be disposed on the first and second bonding parts 51 and 52 . The light emitting device 151 may include a substrate 55 on the light emitting structure 50 . The substrate 55 is a light-transmitting layer and may be formed of an insulating material or a semiconductor material. The substrate 55 may be selected from a group including, for example, a sapphire substrate (Al 2 O 3 ), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, and Ge. For example, a concave-convex pattern may be formed on the surface of the substrate 55 . The substrate 55 may be removed, or a light-transmitting layer made of another resin material may be disposed. The substrate 55 may be disposed on the uppermost layer of the light emitting device 151 or function as a light extracting layer.

여기서, 상기 발광소자(151)가 플립 칩으로 배치된 경우, 상기 기판(55)의 상면 및 측면을 통해 대부분의 광이 방출될 수 있다. 상기 기판(55)의 상면으로 진행하는 광은 파장 변환층(110)으로 진행할 수 있으며, 상기 기판(55)의 측면으로 진행하는 광은 반사되지 않을 경우 손실되므로 상기 몸체(120)을 통해 반사시켜 줄 수 있다. 이러한 플립칩 발광소자(151)는 상기 기판(55)의 측면으로 진행하는 광의 반사를 위해, 상기 몸체(120)와 인접한 영역에 배치될 수 있다.Here, when the light emitting device 151 is disposed as a flip chip, most of the light may be emitted through the top and side surfaces of the substrate 55 . The light traveling to the upper surface of the substrate 55 may travel to the wavelength conversion layer 110, and since the light traveling to the side of the substrate 55 is lost when not reflected, it is reflected through the body 120. can give The flip chip light emitting device 151 may be disposed in an area adjacent to the body 120 to reflect light traveling to the side of the substrate 55 .

상기 발광 구조물(50)은 기판(55)의 아래에 배치될 수 있다. 상기 발광 구조물(50)은 상기 기판(55)이 제거될 경우, 발광소자(151)의 상부에 노출될 수 있다. 실시 예에 의하면, 상기 발광 구조물(50)은 화합물 반도체로 제공될 수 있다. 상기 발광 구조물(50)은 예로서 2족-6족 또는 3족-5족 화합물 반도체로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 발광 구조물(50)은 알루미늄(Al), 갈륨(Ga), 인듐(In), 인(P), 비소(As), 질소(N)로부터 선택된 적어도 두 개 이상의 원소를 포함하여 제공될 수 있다. 상기 발광 구조물(55)는 제1실시 예의 설명을 참조하기로 한다.The light emitting structure 50 may be disposed below the substrate 55 . The light emitting structure 50 may be exposed on top of the light emitting device 151 when the substrate 55 is removed. According to an embodiment, the light emitting structure 50 may be provided as a compound semiconductor. The light emitting structure 50 may be provided as, for example, a Group 2-6 or Group 3-5 compound semiconductor. For example, the light emitting structure 50 includes at least two or more elements selected from aluminum (Al), gallium (Ga), indium (In), phosphorus (P), arsenic (As), and nitrogen (N). It can be. The light emitting structure 55 will refer to the description of the first embodiment.

상기 제1 본딩부(51)는 상기 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 본딩부(52)는 상기 제2 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다. 반대로, 상기 제2 본딩부(52)는 상기 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1 본딩부(51)는 상기 제2 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다.The first bonding part 51 may be electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer. The second bonding part 52 may be electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer. Conversely, the second bonding portion 52 may be electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer. The first bonding part 51 may be electrically connected to the second conductivity type semiconductor layer.

상기 제1 본딩부(51)는 상기 발광 구조물(53)의 제1영역 아래에 배치될 수 있으며, 상기 제2 본딩부(52)는 상기 발광 구조물(53)의 제2영역 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 본딩부(51)와 상기 제2 본딩부(52)는 금속 재질을 포함할 수 있다. 상기 제1,2본딩부(51,52)는 Ti, Al, Sn, In, Ir, Ta, Pd, Co, Cr, Mg, Zn, Ni, Si, Ge, Ag, Ag alloy, Au, Hf, Pt, Ru, Rh, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, Ni/IrOx/Au/ITO를 포함하는 그룹 중에서 선택된 하나 이상의 물질 또는 합금을 이용하여 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다.The first bonding unit 51 may be disposed below the first area of the light emitting structure 53, and the second bonding unit 52 may be disposed below the second area of the light emitting structure 53. have. The first bonding part 51 and the second bonding part 52 may include a metal material. The first and second bonding parts 51 and 52 are Ti, Al, Sn, In, Ir, Ta, Pd, Co, Cr, Mg, Zn, Ni, Si, Ge, Ag, Ag alloy, Au, Hf, Pt, Ru, Rh, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, Ni/IrOx/Au/ITO are formed using one or more materials or alloys selected from the group consisting of a single layer or multiple layers. It can be.

상기 제1 및 제2본딩부(51,52)는 전극 또는 패드일 수 있다. 상기 제1 및 제2본딩부(51,52)는 회로기판이나 프레임 상에 본딩될 수 있다. 상기 제1 본딩부(51) 및 상기 제2 본딩부(52)을 통하여 공급되는 구동 전원에 의하여 상기 발광소자(151)가 구동될 수 있게 된다. 그리고, 상기 발광소자(151)에서 발광된 빛은 파장 변환층(110)으로 제공될 수 있게 된다.The first and second bonding parts 51 and 52 may be electrodes or pads. The first and second bonding parts 51 and 52 may be bonded on a circuit board or frame. The light emitting element 151 can be driven by driving power supplied through the first bonding part 51 and the second bonding part 52 . In addition, the light emitted from the light emitting element 151 can be provided to the wavelength conversion layer 110 .

상기 제1본딩부(51)는 상기 발광소자(151)의 하면 면적의 20% 이상의 면적으로 배치되어, 방열 효율 및 본딩력을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 제2본딩부(52)는 상기 발광소자(151)의 하면 면적의 20% 이상의 면적으로 배치되어, 방열 효율 및 본딩력을 개선시켜 줄 수 있다.The first bonding portion 51 may be disposed in an area of 20% or more of the area of the lower surface of the light emitting element 151 to improve heat dissipation efficiency and bonding force. The second bonding portion 52 may be disposed in an area of 20% or more of the area of the lower surface of the light emitting element 151 to improve heat dissipation efficiency and bonding force.

발명의 실시 예에 따른 발광소자(151)는 상기 발광 구조물(50)과 상기 제1,2본딩부(51,52) 사이에 반사층이 배치될 수 있다. 상기 반사층은 금속 또는/및 비 금속 재질로 형성될 수 있다. 상기 반사층은 상기 발광 구조물(53)로부터 발생된 광을 기판 방향으로 반사시켜 줄 수 있다. 상기 반사층은 단층 또는 다층 구조로 형성될 수 있다.In the light emitting device 151 according to an embodiment of the present invention, a reflective layer may be disposed between the light emitting structure 50 and the first and second bonding parts 51 and 52 . The reflective layer may be formed of a metal or/and non-metal material. The reflective layer may reflect light generated from the light emitting structure 53 toward the substrate. The reflective layer may be formed in a single-layer or multi-layer structure.

상기 몸체(120)는 상기 발광소자(151)의 둘레에 배치될 수 있다. 상기 몸체(120)는 상기 발광소자(151)의 모든 측면의 외측에 배치될 수 있다. 상기 몸체(120)는 상면 및 하면이 개방된 개구부를 가지며, 상기 개구부 내에 상기 발광소자(151)가 배치될 수 있다. 상기 개구부는 상면 면적이 하면 면적보다 클 수 있다.The body 120 may be disposed around the light emitting element 151 . The body 120 may be disposed outside all sides of the light emitting device 151 . The body 120 has an opening in which upper and lower surfaces are open, and the light emitting device 151 may be disposed in the opening. An upper surface area of the opening may be larger than a lower surface area.

상기 몸체(120)의 하면은 상기 발광소자(151)의 하면과 같은 평면이거나 다른 평면일 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면이 상기 발광소자(151)의 하면과 같은 경우, 상기 몸체(120)의 하부는 회로 기판에 밀착되어 상기 발광소자(151)의 하 방향으로 누설되는 것을 차단할 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면이 상기 발광소자(151)의 하면보다 돌출된 경우, 상기 제1 및 제2본딩부(51,52) 아래에 배치된 접합 부재 예컨대, 솔더 페이스트, Ag 페이스트, SAC(Sn-Ag-Cu) 계열의 물질을 압착 정도를 낮출 수 있어, 상기 발광소자(151)의 본딩부(51,52)와 본딩층 간의 접합 효율이 개선될 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면이 돌출된 경우, 상기 발광소자(151)의 하면을 기준을 100 마이크로 미터 이하로 돌출될 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면이 상기 발광소자(151)의 본딩부(51,52)보다 낮게 배치된 경우, 발광소자(151)의 본딩부(51,52)의 정렬에 따른 간섭을 줄여줄 수 있다. 따라서, 상기 몸체(120)의 두께(c)는 상기 발광소자(151)의 두께의 ±100㎛의 범위일 수 있다. 상기 몸체(120)의 하면은 상기 발광소자(151)의 하면을 기준으로 ±90㎛의 범위일 수 있다.The lower surface of the body 120 may be the same plane as the lower surface of the light emitting device 151 or a different plane. When the lower surface of the body 120 is the same as the lower surface of the light emitting element 151, the lower part of the body 120 is in close contact with the circuit board to block leakage of the light emitting element 151 downward. When the lower surface of the body 120 protrudes from the lower surface of the light emitting element 151, a bonding member disposed under the first and second bonding parts 51 and 52, for example, solder paste, Ag paste, SAC ( The bonding efficiency between the bonding parts 51 and 52 of the light emitting device 151 and the bonding layer can be improved by reducing the degree of compression of the Sn-Ag-Cu)-based material. When the lower surface of the body 120 protrudes, the lower surface of the light emitting device 151 may protrude less than 100 micrometers. When the lower surface of the body 120 is disposed lower than the bonding parts 51 and 52 of the light emitting element 151, interference caused by alignment of the bonding parts 51 and 52 of the light emitting element 151 can be reduced. have. Accordingly, the thickness c of the body 120 may be in the range of ±100 μm of the thickness of the light emitting element 151 . The lower surface of the body 120 may be in the range of ±90 μm based on the lower surface of the light emitting device 151 .

상기 발광소자(151)와 상기 몸체(120)의 측면 사이의 거리(d1)는 50 마이크로 미터 이상 예컨대, 50 내지 300 마이크로 미터의 범위로 배치될 수 있다. 상기 거리(d1)는 몸체(120)의 폭으로서, 상기 범위보다 작은 경우 광 투과 손실 및 강성 저하가 발생될 수 있고 상기 범위보다 큰 경우 반사 효율의 개선이 미미할 수 있고 패키지 제조 수율이 줄어들 수 있다. The distance d1 between the light emitting element 151 and the side surface of the body 120 may be greater than or equal to 50 micrometers, for example, in the range of 50 to 300 micrometers. The distance d1 is the width of the body 120. If it is smaller than the above range, light transmission loss and rigidity degradation may occur, and if it is larger than the above range, improvement in reflection efficiency may be insignificant and package manufacturing yield may be reduced. .

상기 몸체(120)는 절연 재질 또는 수지재질일 수 있다. 상기 몸체(120)는 실리콘, 에폭시, 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC: Epoxy molding compound), 실리콘 몰딩 컴파운드(SMC) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 몸체(120)는 다른 예로서, 폴리프탈아미드(PPA: Polyphthalamide)일 수 있다. 상기 몸체(120)가 수지 재질 내부에 금속 산화물, 예로서 TiO2, SiO2, Al2O3 등을 포함하는 물질로 구성될 수 있다. 상기 몸체(120)는 백색 재질이거나 흑색 재질일 수 있다. 상기 몸체(120)가 백색 재질인 경우, 광을 반사시켜 줄 수 있어 광 반사 효율이 개선될 수 있다. 상기 몸체(120)가 흑색 재질인 경우, 광을 흡수할 수 있어 명암도를 개선시켜 줄 수 있다. 상기 흑색 재질은 카본 블랙, 산화티탄, 산화철, 크롬, 은 미립자를 선택적으로 포함할 수 있다.The body 120 may be made of an insulating material or a resin material. The body 120 may include at least one of silicon, epoxy, epoxy molding compound (EMC), and silicon molding compound (SMC). As another example, the body 120 may be polyphthalamide (PPA). The body 120 may be made of a material containing a metal oxide such as TiO 2 , SiO 2 , Al 2 O 3 and the like inside a resin material. The body 120 may be a white material or a black material. When the body 120 is made of a white material, it can reflect light and thus light reflection efficiency can be improved. When the body 120 is made of a black material, it can absorb light and thus improve the contrast. The black material may selectively include carbon black, titanium oxide, iron oxide, chromium, and silver particles.

파장 변환층(110)은 상기 몸체(120)와 상기 발광소자(151) 위에 배치될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 유기물이 아닌 무기물 재질로 형성될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 예컨대, 유리(glass) 재질을 포함할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 투명한 유리 재질일 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 투명한 무기물의 유리 재질일 수 있다. 차량용 램프와 같은 고출력 패키지에서는 고전류가 인가되고 높은 광 에너지를 방출하게 된다. 이러한 높은 광 에너지를 장시간 조사할 경우, 실리콘과 같은 유기물로 형성된 파장 변환층(110)은 크랙이나 색이 변화되는 문제가 발생될 수 있다. 발명의 실시 예는 유리 분말과 같은 무기물을 소결하여 제작하므로 유기물에 비해 높은 광 에너지를 잘 견딜 수 있다. A wavelength conversion layer 110 may be disposed on the body 120 and the light emitting element 151 . The wavelength conversion layer 110 may be formed of an inorganic material rather than an organic material. The wavelength conversion layer 110 may include, for example, a glass material. The wavelength conversion layer 110 may be a transparent glass material. The wavelength conversion layer 110 may be a transparent inorganic glass material. In a high-power package such as a vehicle lamp, a high current is applied and high light energy is emitted. When such high light energy is irradiated for a long time, the wavelength conversion layer 110 formed of an organic material such as silicon may crack or change color. Since the embodiment of the invention is manufactured by sintering an inorganic material such as glass powder, it can withstand higher light energy than organic materials.

상기 파장 변환층(110)은 유리 재질이므로, 고온 및 장 시간 동안 사용하더라도, 열화 및 변색이 적어, 고출력 및 고효율의 층으로 제공될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 투광성 유리 재질이므로, 에폭시나 실리콘 재질에 비해 광투과율이 저하되지 않을 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 기포를 제거하여, 기로로 인한 광 효율의 저하를 방지할 수 있고 크랙 발생을 발생할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 투광성 유리 재질에 형광체를 균일하게 분포시켜 줄 수 있어, 파장 변환 효율이 개선될 수 있고 색 좌표 분포가 개선될 수 있다. Since the wavelength conversion layer 110 is made of glass, it is less deteriorated and discolored even when used at a high temperature and for a long time, and thus can be provided as a layer with high power and high efficiency. Since the wavelength conversion layer 110 is made of light-transmitting glass, light transmittance may not decrease compared to epoxy or silicon. The wavelength conversion layer 110 removes air bubbles, thereby preventing a decrease in light efficiency due to gaps and generating cracks. The wavelength conversion layer 110 can uniformly distribute phosphors on the light-transmissive glass material, so that wavelength conversion efficiency and color coordinate distribution can be improved.

상기 파장 변환층(110)은 내부에 확산제나 형광체와 같은 불순물을 포함할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 형광체나 양자점 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 상기 형광체나 양자점은 상기 발광소자(151)에서 방출된 광을 흡수하여 장 파장으로 여기하여 방출하게 된다. 상기 파장 변환층(110)은 청색, 황색, 녹색, 적색의 광을 발광할 수 있다. 상기 형광체는 녹색 형광체, 적색 형광체, 황색 형광체 및 청색 형광체 중 적어도 한 종류 또는 두 종류를 포함할 수 있다. 상기 형광체는 YAG계, TAG계, Silicate계, Sulfide계 또는 Nitride계 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The wavelength conversion layer 110 may contain impurities such as a diffusion agent or a phosphor therein. The wavelength conversion layer 110 may include at least one of a phosphor or a quantum dot, and the phosphor or quantum dot absorbs light emitted from the light emitting element 151 to excite it with a long wavelength and emit it. The wavelength conversion layer 110 may emit blue, yellow, green, and red light. The phosphor may include at least one or two types of a green phosphor, a red phosphor, a yellow phosphor, and a blue phosphor. The phosphor may include at least one of YAG-based, TAG-based, silicate-based, sulfide-based, and nitride-based.

상기 파장 변환층(110)은 상기 발광소자(151)의 일부 광과 상기 형광체에 의해 파장 변환된 일부 광이 혼색되어, 타켓 광을 방출할 수 있다. 상기 타켓 광은 백색 광일 수 있다. The wavelength conversion layer 110 may emit target light by mixing some light from the light emitting device 151 and some light wavelength-converted by the phosphor. The target light may be white light.

상기 파장 변환층(110)은 수평한 하면과 수평한 상면을 가질 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 상면과 하면이 평행할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 상기 발광소자(151)와 수직 방향으로 중첩되는 제1영역과, 상기 몸체(120)와 수직 방향으로 중첩되는 제2영역을 포함하며, 상기 제1영역과 상기 제2영역은 동일한 두께를 가질 수 있다. 상기 제2영역은 상기 제1영역의 외측 둘레에 배치될 수 있다. The wavelength conversion layer 110 may have a horizontal lower surface and a horizontal upper surface. The upper and lower surfaces of the wavelength conversion layer 110 may be parallel. The wavelength conversion layer 110 includes a first region overlapping the light emitting element 151 in a vertical direction and a second region overlapping the body 120 in a vertical direction, and the first region and the second region overlap each other in a vertical direction. The two regions may have the same thickness. The second area may be disposed on an outer circumference of the first area.

상기 파장 변환층(110)의 두께(a)는 300 마이크로 미터 이하 예컨대, 3 내지 300 마이크로 미터의 범위일 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 두께(a)가 상기 범위보다 큰 경우 파장 변환 효율의 개선이 미미할 수 있고 다이싱 공정이 어려울 수 있고 패키지 두께가 증가되거나 재료가 낭비될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 두께(a)가 상기 범위보다 작은 경우 파장 변환 효율이 저하될 수 있고 핸들링이 어려울 수 있으며 강성 저하가 발생될 수 있다.The thickness (a) of the wavelength conversion layer 110 may be less than 300 micrometers, for example, in the range of 3 to 300 micrometers. When the thickness (a) of the wavelength conversion layer 110 is greater than the above range, the improvement of wavelength conversion efficiency may be insignificant, the dicing process may be difficult, the package thickness may increase, or materials may be wasted. When the thickness (a) of the wavelength conversion layer 110 is smaller than the above range, wavelength conversion efficiency may decrease, handling may be difficult, and rigidity may decrease.

상기 파장 변환층(110)의 하면 면적은 상기 발광소자(151)의 상면면적보다 크다. 상기 파장 변환층(110)의 상면 면적은 상기 발광소자(151)의 하면 면적 및 상면 면적보다 클 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 제1방향의 너비는 상기 발광소자(151)의 제1방향의 너비보다 클 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 제2방향의 너비는 상기 발광소자(151)의 제2방향의 너비보다 클 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 너비는 상면 및 하면이 제1 및 제2방향으로 상기 발광소자(151)의 상면 및 하면의 너비보다 클 수 있다. 이러한 파장 변환층(110)은 상기 발광소자(151)의 영역보다 큰 영역으로 배치되므로, 상기 발광소자(151)의 영역을 벗어난 광들도 파장 변환하여 방출할 수 있다. A lower surface area of the wavelength conversion layer 110 is larger than an upper surface area of the light emitting element 151 . An upper surface area of the wavelength conversion layer 110 may be larger than lower and upper surface areas of the light emitting device 151 . A width of the wavelength conversion layer 110 in the first direction may be greater than a width of the light emitting element 151 in the first direction. A width of the wavelength conversion layer 110 in the second direction may be greater than a width of the light emitting element 151 in the second direction. Widths of the upper and lower surfaces of the wavelength conversion layer 110 may be greater than those of the upper and lower surfaces of the light emitting element 151 in the first and second directions. Since the wavelength conversion layer 110 is disposed in an area larger than the area of the light emitting element 151, light out of the area of the light emitting element 151 can also be wavelength-converted and emitted.

상기 파장 변환층(110)의 상면 및 하면 중 적어도 하나 또는 모두에는 광 추출 구조가 형성될 수 있다. 상기 광 추출 구조는 오목한 부분과 볼록한 부분이 교대로 배치된 구조이거나, 러프한 돌기들이 배치될 수 있다. A light extraction structure may be formed on at least one or both of the upper and lower surfaces of the wavelength conversion layer 110 . The light extracting structure may have a structure in which concave and convex parts are alternately arranged, or rough protrusions may be arranged.

접착층(130)은 상기 파장 변환층(110)과 상기 발광소자(151) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착층(130)은 상기 발광소자(151)와 상기 몸체(120) 사이의 일부 영역에 배치될 수 있다. 상기 접착층(130)의 제1부는 상기 파장 변환층(110)의 제1영역 아래에 배치되고, 제2부는 상기 제1부로부터 상기 발광소자(151)와 상기 몸체(120) 사이의 영역으로 연장될 수 있다.An adhesive layer 130 may be disposed between the wavelength conversion layer 110 and the light emitting element 151 . The adhesive layer 130 may be disposed in a partial area between the light emitting device 151 and the body 120 . The first portion of the adhesive layer 130 is disposed below the first area of the wavelength conversion layer 110, and the second portion extends from the first portion to an area between the light emitting element 151 and the body 120. It can be.

상기 접착층(130)의 상면 면적은 상기 발광소자(151)의 상면 면적보다 클 수 있다. 상기 접착층(130)의 외 측면(Re2)은 상기 발광소자(151)의 하면 방향으로 갈수록 상기 발광소자(151)의 측면과의 간격이 좁아질 수 있다. 상기 접착층(130)의 외 측면(Re2)은 상기 기판(55)의 측면과 대응되는 영역이 상기 발광소자(151)의 하면으로 갈수록 상기 발광소자(151)에 더 인접하게 배치될 수 있다. 상기 접착층(130)의 하단부(Re1)는 상기 발광 구조물(50)의 하단보다 상기 기판 하면에 더 인접하게 배치될 수 있다. 상기 접착층(130)의 하단부(Re1)는 상기 발광소자(151)의 하단으로부터 이격될 수 있다. 상기 접착층(130)의 하단부(Re1)는 상기 발광 구조물(50)에 접촉되거나 비 접촉될 수 있다. An area of the upper surface of the adhesive layer 130 may be larger than that of the upper surface of the light emitting device 151 . A distance between the outer side surface Re2 of the adhesive layer 130 and the side surface of the light emitting device 151 may become narrower toward the lower surface of the light emitting device 151 . The outer side surface Re2 of the adhesive layer 130 may be disposed closer to the light emitting device 151 as the area corresponding to the side surface of the substrate 55 goes toward the lower surface of the light emitting device 151 . The lower end Re1 of the adhesive layer 130 may be disposed closer to the lower surface of the substrate than the lower end of the light emitting structure 50 . The lower end Re1 of the adhesive layer 130 may be spaced apart from the lower end of the light emitting element 151 . The lower end Re1 of the adhesive layer 130 may or may not contact the light emitting structure 50 .

상기 접착층(130)의 외 측면(Re2)은 경사진 면이거나 곡면 또는 각진 면일 수 있다. 상기 접착층(130)의 외 측면(Re2)의 경사진 각도는 상기 기판(55)의 각 측면을 기준으로 45도 이하 예컨대, 30도 이하일 수 있다. 상기 접착층(130)의 외 측면(Re2)은 상단 및 하단부를 연결한 직선이 상기 발광소자(151)의 기판(55)의 측면에 대해 경사진 각도로 제공됨으로써, 상기 기판(55)을 통해 측 방향으로 방출된 광을 파장 변환층(110)으로 반사시켜 줄 수 있다. The outer side surface Re2 of the adhesive layer 130 may be an inclined surface, a curved surface, or an angled surface. An inclined angle of the outer side surface Re2 of the adhesive layer 130 may be 45 degrees or less, for example, 30 degrees or less, based on each side surface of the substrate 55 . In the outer side surface Re2 of the adhesive layer 130, a straight line connecting the upper and lower ends is provided at an inclined angle with respect to the side surface of the substrate 55 of the light emitting element 151, so that the side through the substrate 55 is provided. Light emitted in a direction may be reflected to the wavelength conversion layer 110 .

상기 접착층(130)은 투명한 수지 재질일 수 있다. 상기 접착층(130)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 수지 재질일 수 있다. 상기 접착층(130)은 유기물 재질일 수 있다. 상기 발광 소자(151)과 파장 변환층(11) 사이에 배치된 접착층(130)의 두께(e)는 50 마이크로 미터 이하 예컨대, 2 내지 50 마이크로 미터의 범위일 수 있다. 상기 접착층(130)의 두께(e)가 상기 범위보다 큰 경우 접착력의 개선보다는 광 손실율이 더 증가될 수 있고 상기 범위보다 작은 경우 접착력의 개선이 저하될 수 있다. 상기 접착층(130)은 상기 발광소자(151)의 상부에 배치된 투광성 재질의 기판(55)의 상면 및 측면에 접촉되어, 광 손실을 줄여줄 수 있다. 상기 접착층(130)은 상기 발광소자(151)의 상면과 측면을 상기 파장 변환층(110)과 상기 몸체(120)에 접착시켜 줄 수 있다. 상기 접착층(130)의 하단부는 상기 몸체(120)의 하면에 노출되지 않고 상기 몸체(120)의 하면으로부터 이격될 수 있다. The adhesive layer 130 may be a transparent resin material. The adhesive layer 130 may be a resin material such as silicone or epoxy. The adhesive layer 130 may be made of an organic material. A thickness (e) of the adhesive layer 130 disposed between the light emitting element 151 and the wavelength conversion layer 11 may be 50 micrometers or less, for example, in the range of 2 to 50 micrometers. When the thickness (e) of the adhesive layer 130 is larger than the above range, the light loss rate may be more increased than the adhesive strength is improved, and when the thickness (e) of the adhesive layer 130 is smaller than the above range, the improvement of the adhesive strength may be deteriorated. The adhesive layer 130 may contact the top and side surfaces of the light-transmitting substrate 55 disposed above the light emitting device 151 to reduce light loss. The adhesive layer 130 may adhere top and side surfaces of the light emitting device 151 to the wavelength conversion layer 110 and the body 120 . The lower end of the adhesive layer 130 may be spaced apart from the lower surface of the body 120 without being exposed to the lower surface of the body 120 .

상기 접착층(130)의 하단부(Re1)는 상기 몸체(120)의 하면과 같거나 상기 몸체(120)의 하면과 이격되게 배치될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 제1영역(a1)은 상기 접착층(130)과 수직 방향으로 중첩될 수 있다. 상기 파장 변환층(110)은 상기 접착층(130)을 통해 입사되거나 반사된 광을 파장 변환할 수 있다. 상기 파장 변환층(110)의 제2영역(a2)은 상기 몸체(120)과 수직 방향으로 중첩될 수 있다. The lower end Re1 of the adhesive layer 130 may be disposed the same as the lower surface of the body 120 or may be spaced apart from the lower surface of the body 120 . The first area a1 of the wavelength conversion layer 110 may overlap the adhesive layer 130 in a vertical direction. The wavelength conversion layer 110 may convert the wavelength of light incident or reflected through the adhesive layer 130 . The second area a2 of the wavelength conversion layer 110 may overlap the body 120 in a vertical direction.

상기 접착층(120)의 상면 외곽은 상기 발광소자(151)의 측면으로부터 소정 거리의 폭(d)으로 형성될 수 있다. 상기 폭(d)은 200 마이크로 미터 이하 예컨대, 1 내지 200 마이크로 미터의 범위일 수 있다. 상기 폭(d)가 상기 범위보다 큰 경우 상기 몸체(110)과 파장 변환층(120) 사이의 영역 간의 폭이 줄어들어 광이 누설될 수 있다. An upper outer surface of the adhesive layer 120 may be formed with a width d of a predetermined distance from the side surface of the light emitting device 151 . The width (d) may be less than 200 micrometers, for example, in the range of 1 to 200 micrometers. When the width (d) is larger than the range, the width between the region between the body 110 and the wavelength conversion layer 120 is reduced, and light may leak.

상기 몸체(120)의 개구부는 상기 발광소자(151)의 개수와 동일할 수 있다. 상기 몸체(120)는 상기 발광소자(151)의 측면과 대면할 수 있다. 상기 몸체(120)의 일부는 상기 발광소자(151)의 측면에 접촉될 수 있다. 상기 몸체(120)의 일부는 상기 발광 구조물(50)의 측면에 접촉되거나 제1방향으로 대면하게 배치될 수 있다. 상기 몸체(120)의 하부는 상기 발광소자(151)의 하면과 제3방향으로 대면하거나 접촉될 수 있다. 상기 몸체(120)의 하부는 상기 제1,2본딩부(51,52)에 접촉되거나 제1방향으로 대면하게 배치될 수 있다. 상기 몸체(120)의 하부가 상기 발광소자(151)의 하부에 배치됨으로써, 상기 제1,2본딩부(51,52)의 둘레를 감싸고 상기 제1,2본딩부(51,52)의 외측으로 누설된 광을 반사시켜 줄 수 있다. 상기 몸체(120)의 하부는 상기 제1,2본딩부(51,52) 사이의 분리 영역에 배치될 수 있다. The number of openings of the body 120 may be the same as the number of light emitting devices 151 . The body 120 may face a side surface of the light emitting device 151 . A part of the body 120 may be in contact with a side surface of the light emitting device 151 . A portion of the body 120 may contact a side surface of the light emitting structure 50 or may be disposed to face in a first direction. The lower part of the body 120 may face or come into contact with the lower surface of the light emitting element 151 in the third direction. The lower part of the body 120 may come into contact with the first and second bonding parts 51 and 52 or face each other in the first direction. Since the lower part of the body 120 is disposed below the light emitting element 151, it surrounds the circumferences of the first and second bonding parts 51 and 52 and the outside of the first and second bonding parts 51 and 52. can reflect the leaked light. A lower portion of the body 120 may be disposed in a separation area between the first and second bonding parts 51 and 52 .

상기 몸체(120)의 하면은 상기 제1,2본딩부(51,52)의 하면과 같은 평면에 배치될 수 있다. 상기 몸체(120)의 측면은 상기 파장 변환층(110)의 측면과 같은 수직 평면 상에 배치될 수 있다. The lower surface of the body 120 may be disposed on the same plane as the lower surfaces of the first and second bonding parts 51 and 52 . A side surface of the body 120 may be disposed on the same vertical plane as a side surface of the wavelength conversion layer 110 .

발명의 실시 예는 상기 파장 변환층(110)의 제2영역(a2) 아래에 몸체(120)를 배치하고, 상기 제1영역(a1) 아래에 발광소자(151)를 접착층(130)으로 접착시켜 줄 수 있다. 이에 따라 발광소자(151)의 측 방향에서 몸체(120)로 광을 반사시키고 업 방향에서 발광소자(151)의 상면면적보다 큰 면적을 갖고 광의 파장을 변환시켜 줄 수 있다. In an embodiment of the present invention, the body 120 is disposed under the second area a2 of the wavelength conversion layer 110, and the light emitting element 151 is bonded to the adhesive layer 130 under the first area a1. can do it Accordingly, light can be reflected to the body 120 in the side direction of the light emitting element 151 and the wavelength of light can be converted with an area larger than the upper surface area of the light emitting element 151 in the up direction.

발명의 실시 예는 플립 칩 타입의 발광소자(151)의 측면에 몸체(120)를 배치하고 상기 몸체(120)와 상기 발광소자(151) 상부에 유리 재질의 파장 변환층(110)을 배치하여, 열화 및 변색이 적은 고출력 및 고효율의 패키지로 제공할 수 있다. 발광소자(151) 패키지에서 파장 변환층(110)의 크랙 발생을 줄여, 패키지의 신뢰성을 개선시켜 줄 수 있다. 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 고온 및 장시간 사용하더라도, 파장 변환층(110)의 열화 현상이나 변색이 없이 고출력 패키지에서의 성능 저하를 방지할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the body 120 is disposed on the side of the flip chip type light emitting element 151, and the wavelength conversion layer 110 made of glass is disposed on the body 120 and the light emitting element 151. , it can be provided in a high-power and high-efficiency package with little deterioration and discoloration. Reliability of the package may be improved by reducing cracks in the wavelength conversion layer 110 in the package of the light emitting device 151 . Even if the light emitting device package according to the embodiment of the present invention is used at a high temperature and for a long time, degradation of the wavelength conversion layer 110 or discoloration may be prevented, and performance degradation in a high power package may be prevented.

도 18 내지 도 21을 참조하여, 제2실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조 과정을 설명하기로 한다. 상기 도 18 내지 도 21에서 (a)는 평면도 상에서 본 도면이며, (b)는 (a)의 부분 측 단면도를 나타낸다.Referring to FIGS. 18 to 21 , a process of manufacturing a light emitting device package according to the second embodiment will be described. 18 to 21, (a) is a plan view, and (b) is a partial cross-sectional view of (a).

도 18 및 도 19를 참조하면, 파장 변환층(110)으로 이루어진 웨이퍼 상에 접착층(135)를 발광소자와 중첩되는 제1영역에 대응시켜 형성하게 된다. 상기 접착층(135)은 각 발광소자의 제1영역에 대응되는 위치에 디스펜싱될 수 있다.Referring to FIGS. 18 and 19 , an adhesive layer 135 is formed on the wafer including the wavelength conversion layer 110 to correspond to the first region overlapping the light emitting device. The adhesive layer 135 may be dispensed at a position corresponding to the first region of each light emitting device.

도 19 및 도 20을 참조하면, 상기 접착층(135) 상에 발광소자(151)를 접착시켜 준다. 상기 발광소자(151)는 도 2와 같이, 제1,2본딩부(51,52)와 발광 구조물, 기판을 갖는 구성일 수 있으며, 도 2의 180도 회전 구조로 접착될 수 있다. 즉, 상기 발광소자(151)의 기판이 상기 접착층(135)에 접착될 수 있다.Referring to FIGS. 19 and 20 , a light emitting element 151 is bonded to the adhesive layer 135 . As shown in FIG. 2 , the light emitting device 151 may have a configuration including first and second bonding parts 51 and 52 , a light emitting structure, and a substrate, and may be bonded in a 180 degree rotation structure shown in FIG. 2 . That is, the substrate of the light emitting device 151 may be bonded to the adhesive layer 135 .

도 20 및 도 21를 참조하면, 상기 발광소자(151)가 상기 접착층(135)에 접착된 후, 상기 몸체(125)으로 상기 발광소자(151)의 외측 사이에 형성하게 된다. 상기 몸체(125)는 상기 발광소자(151)를 노출시키는 디스펜싱 방법으로 상기 파장 변환층(110)의 제2영역 상에 형성될 수 있으며, 상기 접착층(135)의 외측과 상기 발광소자(151)의 외측에 배치되어, 상기 발광소자(151)의 외측 둘레를 감싸게 된다. 상기 몸체(125)의 재질은 상기의 몸체 재질일 수 있다. 상기 몸체(125)의 상부는 상기 발광소자(151)의 상면에 연장될 수 있다. 20 and 21 , after the light emitting element 151 is bonded to the adhesive layer 135, the body 125 is formed between the outside of the light emitting element 151. The body 125 may be formed on the second region of the wavelength conversion layer 110 by a dispensing method that exposes the light emitting element 151, and the outer side of the adhesive layer 135 and the light emitting element 151 ), and surrounds the outer circumference of the light emitting element 151. The material of the body 125 may be the above body material. An upper portion of the body 125 may extend to an upper surface of the light emitting device 151 .

도 20 및 도 21를 참조하면, 상기 발광소자(151)의 외측에 배치된 상기 몸체(125)이 경화되면, 커팅 라인(CL1,CL2)을 따라 단위 패키지 크기로 다이싱하게 된다. 이러한 다이싱된 패키지는 도 15 내지 도 17과 같은 패키지로 제공될 수 있다.Referring to FIGS. 20 and 21 , when the body 125 disposed outside the light emitting element 151 is cured, it is diced into a unit package size along the cutting lines CL1 and CL2. Such diced packages may be provided as packages shown in FIGS. 15 to 17 .

도 22 및 도 23과 같이, 도 21과 같이 제조된 구조에서 커팅 라인(CL0)을 통해 2개 또는 3개 이상의 발광소자(151)를 갖는 패키지로 커팅될 수 있다. As shown in FIGS. 22 and 23 , the structure manufactured as shown in FIG. 21 may be cut into a package having two or three or more light emitting devices 151 through the cutting line CL0.

제2실시 예는 파장 변환층으로 이루어진 웨이퍼 상에서 접착층을 미리 도포한 다음, 발광 소자를 플립 칩 형태로 접착시킨 후, 몸체를 인쇄 방식 또는 디스펜싱 공정을 통해 형성하고, 개별 패키지 단위로 커팅할 수 있다. In the second embodiment, an adhesive layer is pre-coated on a wafer made of a wavelength conversion layer, and then a light emitting element is adhered in a flip chip form, and then a body is formed through a printing method or a dispensing process, and can be cut in individual package units. have.

<광원 장치><Light source device>

도 24는 도 3의 발광소자 패키지를 갖는 광원 장치, 광원 패키지 또는 광원 모듈의 예이다.24 is an example of a light source device, a light source package, or a light source module having the light emitting device package of FIG. 3 .

도 24를 참조하면, 발명의 실시 예에 따른 광원 모듈은 회로기판(201) 상에 하나 또는 복수의 발광소자 패키지(100)가 배치될 수 있다.Referring to FIG. 24 , in the light source module according to the embodiment of the present invention, one or a plurality of light emitting device packages 100 may be disposed on a circuit board 201 .

상기 회로기판(201)은 패드(211,213)을 갖는 기판 부재를 포함할 수 있다. 상기 회로기판(201)은 인쇄회로기판(PCB: Printed Circuit Board)을 포함하며, 예를 들어, 수지 계열의 인쇄회로기판(PCB), 메탈 코아(Metal Core) PCB, 연성(Flexible) PCB, 세라믹 PCB, FR-4 기판을 포함할 수 있다. 상기 기판(201)이 바닥에 금속층이 배치된 메탈 코아 PCB로 배치될 경우, 발광소자(151)의 방열 효율은 개선될 수 있다. 상기 회로 기판(201)은 연성 회로 기판 또는 비연성 회로 기판을 포함할 수 있다.The circuit board 201 may include a substrate member having pads 211 and 213 . The circuit board 201 includes a printed circuit board (PCB), for example, a resin-based printed circuit board (PCB), a metal core PCB, a flexible PCB, and a ceramic PCB, FR-4 substrate may be included. When the substrate 201 is disposed as a metal core PCB having a metal layer disposed on the bottom, heat dissipation efficiency of the light emitting element 151 may be improved. The circuit board 201 may include a flexible circuit board or a non-flexible circuit board.

상기 회로 기판(201)에 상기 발광소자(151)의 구동을 제어하는 전원 공급 회로가 제공될 수 있다. 발광소자 패키지(100)의 제1,2본딩부(51,52)와 회로 기판(201)의 각 패드(211,213)들과 본딩층(221,223)으로 연결될 수 있다. 이에 따라 발광소자 패키지(100)의 발광소자(151)는 회로 기판(201)의 각 패드(211,213)들로부터 전원을 공급받을 수 있다. 상기 회로 기판(201)의 각 패드(221,223)는 예컨대, Ti, Cu, Ni, Au, Cr, Ta, Pt, Sn, Ag, P, Fe, Sn, Zn, Al를 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 물질 또는 그 합금을 포함할 수 있다. 상기 본딩층은 솔더 페이스트 재질이거나, Ag 페이스트 재질이거나, Sn와 Ag과 Cu와 같은 금속이 혼합된 페이스트 재질일 수 있다. A power supply circuit for controlling driving of the light emitting device 151 may be provided on the circuit board 201 . The first and second bonding portions 51 and 52 of the light emitting device package 100 and the respective pads 211 and 213 of the circuit board 201 may be connected through bonding layers 221 and 223 . Accordingly, the light emitting device 151 of the light emitting device package 100 may receive power from the respective pads 211 and 213 of the circuit board 201 . Each of the pads 221 and 223 of the circuit board 201 is, for example, at least one selected from the group consisting of Ti, Cu, Ni, Au, Cr, Ta, Pt, Sn, Ag, P, Fe, Sn, Zn, and Al. of or alloys thereof. The bonding layer may be a solder paste material, an Ag paste material, or a paste material in which metals such as Sn, Ag, and Cu are mixed.

도 25는 도 3의 발광소자 패키지를 갖는 광원 패키지, 광원 장치 또는 광원 모듈의 다른 예이다.FIG. 25 is another example of a light source package, light source device or light source module having the light emitting device package of FIG. 3 .

도 25를 참조하면, 발명의 실시 예에 따른 광원 패키지는 발광소자 패키지(100)는 하부에 발광소자(151)의 제1,2본딩부(51,52)가 노출되며, 상기 발광소자(151)의 하부에 복수의 프레임(210,22)이 배치된다. 상기 복수의 프레임 사이에 지지 몸체(250)가 배치될 수 있다. 25, in the light source package according to the embodiment of the present invention, the first and second bonding parts 51 and 52 of the light emitting device 151 are exposed at the bottom of the light emitting device package 100, and the light emitting device 151 ) A plurality of frames 210 and 22 are disposed under the. A support body 250 may be disposed between the plurality of frames.

상기 복수의 프레임(210,220)은 상기 발광소자(151) 아래에 상기 제1본딩부(51)와 대면하는 제1프레임(210)과, 상기 발광소자(151) 아래에 상기 제2본딩부(52)와 대면하는 제2프레임(220)을 포함할 수 있다. 상기 지지 몸체(250)는 상기 발광소자(151) 아래에 상기 발광소자(151)와 대면하게 배치될 수 있다.The plurality of frames 210 and 220 include a first frame 210 facing the first bonding part 51 under the light emitting element 151 and a second bonding part 52 under the light emitting element 151. ) and a second frame 220 facing each other. The support body 250 may be disposed under the light emitting element 151 to face the light emitting element 151 .

상기 복수의 프레임(210,220)은 전도성 프레임일 수 있다. 상기 복수의 프레임(210,220)은 금속 예컨대, 전도성 프레임일 수 있으며, 구리(Cu), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag) 중에서 선택될 수 있으며, 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다. 다른 예로서, 상기 복수의 프레임(210,220)은 절연성 프레임일 수 있다. 상기 절연성 프레임은, 수지 재질 또는 절연 재질일 수 있으며, 예컨대, 폴리프탈아미드(PPA: Polyphthalamide), PCT(Polychloro Tri phenyl), LCP(Liquid Crystal Polymer), PA9T(Polyamide9T), 실리콘, 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC: Epoxy molding compound), 실리콘 몰딩 컴파운드(SMC), 세라믹, PSG(photo sensitive glass), 사파이어(Al2O3) 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나로 형성될 수 있다.The plurality of frames 210 and 220 may be conductive frames. The plurality of frames 210 and 220 may be metal, for example, conductive frames, and include copper (Cu), titanium (Ti), nickel (Ni), gold (Au), chromium (Cr), tantalum (Ta), platinum ( It may be selected from Pt), tin (Sn), and silver (Ag), and may be formed as a single layer or multiple layers. As another example, the plurality of frames 210 and 220 may be insulating frames. The insulating frame may be a resin material or an insulating material, for example, polyphthalamide (PPA), polychloro tri phenyl (PCT), liquid crystal polymer (LCP), polyamide9T (PA9T), silicone, epoxy molding compound ( It may be formed of at least one selected from a group including epoxy molding compound (EMC), silicon molding compound (SMC), ceramic, photo sensitive glass (PSG), sapphire (Al 2 O 3 ), and the like.

상기 복수의 프레임(120,130) 중 적어도 하나 또는 모두는 관통홀(TH1,TH2)을 포함할 수 있다. 상기 관통홀(TH1,TH2)은 상기 제1프레임(120)에 배치된 제1관통홀(TH1), 상기 제2프레임(130)에 배치된 제2관통홀(TH2)을 포함할 수 있다. 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)은 제1방향으로 서로 이격되게 배치될 수 있다. 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)은 상기 제1,2프레임(120,130)의 상면에서 하면까지 관통되는 홀일 수 있다. 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)의 깊이는 상기 제1,2프레임(120,130)의 두께와 동일할 수 있다. At least one or all of the plurality of frames 120 and 130 may include through holes TH1 and TH2. The through holes TH1 and TH2 may include a first through hole TH1 disposed in the first frame 120 and a second through hole TH2 disposed in the second frame 130 . The first and second through holes TH1 and TH2 may be spaced apart from each other in a first direction. The first and second through holes TH1 and TH2 may be holes penetrating from the upper surface to the lower surface of the first and second frames 120 and 130 . The depths of the first and second through holes TH1 and TH2 may be the same as the thicknesses of the first and second frames 120 and 130 .

상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)은 탑뷰 형상이 원형, 다각형 또는 타원 형상이거나, 곡선과 직선을 갖는 형상일 수 있다. 상기 제1,2관통홀(TH1,TH2)의 측 단면은, 상부와 하부 폭이 동일하거나, 하부 폭이 상부 폭보다 넓을 수 있다. 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)의 측 단면은 하부로 갈수록 점차 넓은 폭을 가질 수 있다. 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)은 상부 폭이 하부 폭보다 넓고, 측면이 곡률을 갖는 곡면이거나 서로 다른 곡률을 갖는 곡면이 변곡점을 갖고 배치될 수 있다.The first and second through holes TH1 and TH2 may have circular, polygonal, or elliptical top-view shapes, or may have curved and straight lines. Side end surfaces of the first and second through holes TH1 and TH2 may have the same upper and lower widths, or the lower width may be wider than the upper width. Side end faces of the first and second through holes TH1 and TH2 may have a gradually widening width toward the bottom. The first and second through holes TH1 and TH2 may have upper widths wider than lower widths, and side surfaces having curvature or curved surfaces having different curvatures may be disposed with inflection points.

상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)은 X 방향의 폭이 Y 방향의 길이와 같거나 작을 수 있다. 상기 발광소자(151)의 측면의 길이가 X 방향의 길이가 Y 방향의 길이와 같거나 작게 배치되므로, 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)은 상기 발광소자(151)의 사이즈를 기준으로 관통홀(TH1,TH2)의 크기를 확장할 수 있는 Y방향으로 증가시켜 줄 수 있다. 상기 관통홀(TH1,TH2) 간의 간격은 발광소자(151)의 사이즈에 따라 달라질 수 있다. 이러한 제1,2관통홀(TH1,TH2)의 상부 영역의 폭이 하부 영역의 폭와 같거나 좁게 배치됨으로써, 상기 프레임(210,220)의 강성 저하를 방지할 수 있고 전기적인 경로를 제공할 수 있다. The first and second through holes TH1 and TH2 may have a width in the X direction equal to or less than a length in the Y direction. Since the length of the side surface of the light emitting element 151 is equal to or smaller than the length in the Y direction, the first and second through holes TH1 and TH2 have a size of the light emitting element 151. As a reference, the sizes of the through holes TH1 and TH2 may be increased in the expandable Y direction. The distance between the through holes TH1 and TH2 may vary according to the size of the light emitting element 151 . Since the upper regions of the first and second through holes TH1 and TH2 have the same width as or narrower than the lower regions, a decrease in rigidity of the frames 210 and 220 can be prevented and an electrical path can be provided.

여기서, 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 제1 프레임(210)에 하나 또는 복수로 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 제1 프레임(210)을 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 제1 프레임(210)의 상면과 하면을 Z 방향으로 관통하여 제공될 수 있다. Here, one or a plurality of first through holes TH1 may be provided in the first frame 210 . The first through hole TH1 may be provided through the first frame 210 . The first through hole TH1 may be provided to pass through the upper and lower surfaces of the first frame 210 in the Z direction.

상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(151)의 수직 방향으로 중첩될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(151)의 제1 본딩부(51) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(151)의 상기 제1 본딩부(51)과 Z 방향으로 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 제1 프레임(120)의 상면에서 하면으로 향하는 Z 방향으로 상기 발광소자(151)의 상기 제1 본딩부(51)과 중첩되어 제공될 수 있다. 이러한 제1 관통홀(TH1)을 통해 상기 제1 본딩부(51)를 노출시켜 줌으로써, 상기 제1 관통홀(TH1)에 채워지는 도전성 물질을 통해 전기적인 경로 및 방열 경로로 제공할 수 있다.The first through hole TH1 may overlap the light emitting element 151 in a vertical direction. The first through hole TH1 may be disposed under the first bonding portion 51 of the light emitting element 151 . The first through hole TH1 may overlap the first bonding portion 51 of the light emitting device 151 in the Z direction. The first through hole TH1 may overlap the first bonding portion 51 of the light emitting element 151 in the Z direction from the upper surface to the lower surface of the first frame 120 . By exposing the first bonding portion 51 through the first through hole TH1, an electrical path and a heat dissipation path may be provided through the conductive material filling the first through hole TH1.

상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 제2 프레임(220)에 하나 또는 복수로 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 제2 프레임(220)을 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 제2 프레임(220)의 상면과 하면을 Z 방향으로 관통하여 제공될 수 있다. One or more second through holes TH2 may be provided in the second frame 220 . The second through hole TH2 may be provided through the second frame 220 . The second through hole TH2 may be provided to pass through the upper and lower surfaces of the second frame 220 in the Z direction.

상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(151)의 상기 제2 본딩부(52) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(151)와 수직 방향으로 중첩될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(151)의 상기 제2 본딩부(52)와 수직 방향으로 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 제2 프레임(220)의 상면에서 하면으로 향하는 방향으로 상기 발광소자(151)의 상기 제2 본딩부(52)과 중첩되어 제공될 수 있다. 이러한 제2 관통홀(TH2)을 통해 상기 제2 본딩부(52)를 노출시켜 줌으로써, 상기 제2 관통홀(TH2)에 채워지는 도전성 물질을 통해 전기적인 경로 및 방열 경로로 제공할 수 있다.The second through hole TH2 may be disposed below the second bonding portion 52 of the light emitting element 151 . The second through hole TH2 may overlap the light emitting element 151 in a vertical direction. The second through hole TH2 may overlap with the second bonding portion 52 of the light emitting element 151 in a vertical direction. The second through hole TH2 may overlap the second bonding portion 52 of the light emitting element 151 in a direction from the upper surface to the lower surface of the second frame 220 . By exposing the second bonding portion 52 through the second through hole TH2, an electrical path and a heat dissipation path may be provided through the conductive material filling the second through hole TH2.

상기 각 관통홀(TH1,TH2)의 상부 면적은 상기 각 본딩부(51,52)의 하면 면적의 30% 이상 예컨대, 30% 내지 100%의 범위를 가질 수 있다. 또한 상기 각 관통홀(TH1,TH2)과 각 본딩부(51,52)는 대면하는 영역을 가질 수 있다. 따라서, 상기 발광소자(151)의 상기 제1 본딩부(51)과 상기 제1 프레임(210)이 상기 제1관통홀(TH1)에 의해 제공되는 물질에 의해 부착될 수 있다. 상기 발광소자(151)의 상기 제2 본딩부(52)과 상기 제2 프레임(220)이 상기 제1관통홀(TH1)에 의해 제공되는 물질에 의해 부착될 수 있다.An upper area of each of the through holes TH1 and TH2 may be 30% or more of a lower surface area of each of the bonding parts 51 and 52, for example, in a range of 30% to 100%. Also, each of the through holes TH1 and TH2 and each of the bonding parts 51 and 52 may have a facing area. Therefore, the first bonding portion 51 of the light emitting device 151 and the first frame 210 may be attached by a material provided by the first through hole TH1. The second bonding portion 52 of the light emitting element 151 and the second frame 220 may be attached by a material provided by the first through hole TH1.

상기 제1,2 관통홀(TH1,TH2)의 상부 영역으로부터 X 방향으로 상기 제1 및 제2 본딩부(51,52)의 측면 끝단까지의 거리는 40 마이크로 미터 이상 예컨대, 40 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 거리가 40 마이크로 미터 이상일 때 상기 제1 및 제2 본딩부(51,52)이 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1,TH2)의 저면에서 노출되지 않도록 하기 위한 공정 마진을 확보할 수 있다. 또한, 상기 거리가 60 마이크로 미터 이하일 때 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1,TH2)에 노출되는 상기 제1 및 제2 본딩부(51,52)의 면적을 확보할 수 있고, 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1,TH2)에 의해 노출되는 제1 및 제2 본딩부(51,52)의 저항을 낮출 수 있어 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1,TH2)에 의해 노출되는 상기 제1 및 제2 본딩부(51,52)로 전류 주입을 원활히 할 수 있다.The distance from the upper regions of the first and second through holes TH1 and TH2 to the side ends of the first and second bonding parts 51 and 52 in the X direction is 40 micrometers or more, for example, 40 to 60 micrometers. can be provided. When the distance is 40 micrometers or more, a process margin for preventing the first and second bonding parts 51 and 52 from being exposed on the bottom surfaces of the first and second through holes TH1 and TH2 may be secured. . In addition, when the distance is 60 micrometers or less, the area of the first and second bonding parts 51 and 52 exposed to the first and second through holes TH1 and TH2 may be secured. and the resistance of the first and second bonding parts 51 and 52 exposed by the second through holes TH1 and TH2 can be lowered, thereby reducing the exposure of the first and second through holes TH1 and TH2. Current can be smoothly injected into the first and second bonding parts 51 and 52 .

상기 지지 몸체(250)는 상기 제1 및 제2프레임(210,220) 사이에 배치되고, 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2) 사이에 배치될 수 있다. 상기 몸체(250)는 상기 제1 및 제2프레임(210,220)의 두께와 동일한 두께로 형성될 수 있다. The support body 250 may be disposed between the first and second frames 210 and 220 and may be disposed between the first and second through holes TH1 and TH2. The body 250 may be formed to have the same thickness as that of the first and second frames 210 and 220 .

도전층(321,323)은 상기 제1 및 제2 관통 홀(TH1,TH2) 내에 제공될 수 있다. 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)에 배치된 도전층(321,323)은 상기 제1 및 제2 본딩부(51,52) 아래에 배치될 수 있다. 상기 도전층(321,323)은 상기 제1관통홀(TH1)에 배치된 제1도전층(321)과 상기 제2관통홀(TH2)에 배치된 제2도전층(323)을 포함한다. 상기 제1 및 제2 도전층(321,323)의 상부 및 하부 폭은 상기 제1 및 제2 본딩부(51,52)의 상부 및 하부 폭에 비해 작게 제공될 수 있다. The conductive layers 321 and 323 may be provided in the first and second through holes TH1 and TH2. The conductive layers 321 and 323 disposed in the first and second through holes TH1 and TH2 may be disposed below the first and second bonding parts 51 and 52 . The conductive layers 321 and 323 include a first conductive layer 321 disposed in the first through hole TH1 and a second conductive layer 323 disposed in the second through hole TH2. Upper and lower widths of the first and second conductive layers 321 and 323 may be smaller than upper and lower widths of the first and second bonding parts 51 and 52 .

상기 도전층(321,323)은 상기 제1 및 제2 본딩부(51,52)의 하면과 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 도전층(321,323)은 상기 제1 및 제2본딩부(51,52)와 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 도전층(321,323)은 상기 프레임(210,220)에 의하여 둘러 싸이게 배치될 수 있다.The conductive layers 321 and 323 may be disposed in direct contact with lower surfaces of the first and second bonding parts 51 and 52 . The conductive layers 321 and 323 may be electrically connected to the first and second bonding parts 51 and 52 . The conductive layers 321 and 323 may be disposed to be surrounded by the frames 210 and 220 .

상기 도전층(321,323)은 Ag, Au, Pt, Sn, Cu 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 하나의 물질 또는 그 합금을 포함할 수 있다. 다만 이에 한정하지 않고, 상기 도전층(321,323)으로 전도성 기능을 확보할 수 있는 물질이 사용될 수 있다.The conductive layers 321 and 323 may include one material selected from a group including Ag, Au, Pt, Sn, Cu, and the like, or an alloy thereof. However, it is not limited thereto, and a material capable of securing a conductive function may be used as the conductive layers 321 and 323 .

상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)에는 도전층(321,323)으로서, 전도성 기능을 확보할 수 있는 물질이 사용될 수 있다. 상기 도전층(321,323)은 솔더 페이스트로서, 파우더 입자 또는 파티클 입자와 플럭스의 혼합으로 형성될 수 있다. 예로서, 상기 도전층(321,323)은 도전성 페이스트를 이용하여 형성될 수 있다. 상기 도전성 페이스트는 솔더 페이스트(solder paste), 실버 페이스트(silver paste) 등을 포함할 수 있고, 서로 다른 물질로 구성되는 다층 또는 합금으로 구성된 다층 또는 단층으로 구성될 수 있다. 예로서, 상기 도전층(321,323)은 SAC(Sn-Ag-Cu) 물질 또는 SAC 계열의 물질을 포함할 수 있다.As the conductive layers 321 and 323 in the first and second through holes TH1 and TH2, a material capable of securing a conductive function may be used. The conductive layers 321 and 323 are solder paste and may be formed by mixing powder particles or particle particles and flux. For example, the conductive layers 321 and 323 may be formed using a conductive paste. The conductive paste may include solder paste, silver paste, and the like, and may be composed of multiple layers composed of different materials or multiple layers or single layers composed of alloys. For example, the conductive layers 321 and 323 may include a Sn-Ag-Cu (SAC) material or a SAC-based material.

상기 각 본딩부(51,52) 중 적어도 하나는 금속간 화합물층에 의해 결합될 수 있다. 상기 금속간 화합물은 CuxSny, AgxSny, AuxSny 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 상기 x는 0<x<1, y=1-x, x>y의 조건을 만족할 수 있다. 본 발명의 발광소자 패키지는 상기 관통홀(TH1,TH2) 중 적어도 하나 또는 모두에 도전성 물질 예컨대, 도전층(321,323) 또는 도전성 페이스트가 형성될 수 있다. 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)에 배치된 도전층(321)은 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)의 체적의 30% 이상 예컨대, 30% 내지 100%의 범위로 채워질 수 있고, 상기 범위보다 작은 경우 전기적인 신뢰성이 저하될 수 있고 상기 범위보다 큰 경우 도전층(321,323)의 돌출로 인해 회로 기판과의 본딩력이 저하될 수 있다.At least one of the respective bonding parts 51 and 52 may be bonded by an intermetallic compound layer. The intermetallic compound may include at least one of Cu x Sn y , Ag x Sn y , and Au x Sn y , wherein x satisfies the conditions of 0<x<1, y=1-x, x>y can In the light emitting device package of the present invention, a conductive material, for example, conductive layers 321 and 323 or a conductive paste may be formed in at least one or both of the through holes TH1 and TH2. The conductive layer 321 disposed in the first and second through holes TH1 and TH2 occupies 30% or more of the volume of the first and second through holes TH1 and TH2, for example, in a range of 30% to 100%. If it is smaller than the above range, electrical reliability may be lowered, and if it is larger than the above range, bonding force with the circuit board may be lowered due to protrusion of the conductive layers 321 and 323.

상기 발광소자(151)의 제1본딩부(51)는 상기 제1도전층(321)을 구성하는 물질과 상기 제1도전층(321)을 형성되는 과정 또는 상기 제1도전층(321)이 제공된 후 열처리 과정에서, 상기 제1도전층(321)과 제1프레임(210) 또는/및 제1본딩부(51) 사이에 금속간 화합물(IMC; intermetallic compound)을 갖는 합금층이 형성될 수 있다. 상기 합금층이 AgSn, CuSn, AuSn 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 금속간 화합물층을 포함할 수 있다. 상기 금속간 화합물층은 제1 물질과 제2 물질의 결합으로 형성될 수 있으며, 제1 물질은 도전층(321)으로부터 제공될 수 있고, 제2 물질은 상기 제1본딩부(51)로부터 제공될 수 있다.The first bonding part 51 of the light emitting element 151 is formed by forming the first conductive layer 321 with the material constituting the first conductive layer 321 or the first conductive layer 321 is formed. In a heat treatment process after being provided, an alloy layer having an intermetallic compound (IMC) may be formed between the first conductive layer 321 and the first frame 210 or/and the first bonding part 51. have. The alloy layer may include at least one intermetallic compound layer selected from a group including AgSn, CuSn, AuSn, and the like. The intermetallic compound layer may be formed by combining a first material and a second material, the first material may be provided from the conductive layer 321, and the second material may be provided from the first bonding part 51. can

상기 발광소자(151)의 제2본딩부(52)는 상기 제2도전층(323)을 구성하는 물질과 상기 제2도전층(323)을 형성되는 과정 또는 상기 제2도전층(323)이 제공된 후 열처리 과정에서, 상기 제2도전층(323)과 제2프레임(220) 또는/및 제2본딩부(52) 사이에 금속간 화합물(IMC; intermetallic compound)을 갖는 합금층이 형성될 수 있다. 상기 합금층은 AgSn, CuSn, AuSn 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 금속간 화합물층을 포함할 수 있다. 상기 금속간 화합물층은 제1 물질과 제2 물질의 결합으로 형성될 수 있으며, 제1 물질은 제2도전층(323)으로부터 제공될 수 있고, 제2 물질은 상기 제2본딩부(52)로부터 제공될 수 있다.The second bonding part 52 of the light emitting element 151 is formed by the material constituting the second conductive layer 323 and the process of forming the second conductive layer 323 or the second conductive layer 323 In a heat treatment process after being provided, an alloy layer having an intermetallic compound (IMC) may be formed between the second conductive layer 323 and the second frame 220 or/and the second bonding part 52. have. The alloy layer may include at least one intermetallic compound layer selected from a group including AgSn, CuSn, AuSn, and the like. The intermetallic compound layer may be formed by combining a first material and a second material, the first material may be provided from the second conductive layer 323, and the second material may be provided from the second bonding part 52. can be provided.

상기 제1,2도전층(321,323)이 Sn 물질을 포함하고 상기 도전층(321,323)에 접촉된 금속층이 Ag 물질을 포함하는 경우, 상기 도전층(321,323)이 제공되는 과정 또는 제공된 후의 열처리 과정에서 Sn 물질과 Ag 물질의 결합에 의하여 AgSn의 금속간 화합물층이 형성될 수 있다.When the first and second conductive layers 321 and 323 contain a Sn material and the metal layer in contact with the conductive layers 321 and 323 includes an Ag material, in the process of providing the conductive layers 321 and 323 or in the heat treatment process after being provided An intermetallic compound layer of AgSn may be formed by combining a Sn material and an Ag material.

또는, 상기 도전층(321,323)이 Sn 물질을 포함하고 상기 도전층(321,323)에 접촉된 금속층이 Au 물질을 포함하는 경우, 상기 도전층(321,323)이 제공되는 과정 또는 제공된 후의 열처리 과정에서 Sn 물질과 Au 물질의 결합에 의하여 AuSn의 금속간 화합물층이 형성될 수 있다. Alternatively, when the conductive layers 321 and 323 include a Sn material and the metal layer in contact with the conductive layers 321 and 323 includes an Au material, during the process of providing the conductive layers 321 and 323 or the heat treatment process after the provision of the Sn material An intermetallic compound layer of AuSn may be formed by the combination of and Au material.

또는, 상기 도전층(321,323)이 Sn 물질을 포함하고 상기 도전층(321,323)에 접촉된 금속층이 Cu 물질을 포함하는 경우, 상기 도전층(321,323)이 제공되는 과정 또는 제공된 후의 열처리 과정에서 Sn 물질과 Cu 물질의 결합에 의하여 CuSn의 금속간 화합물층이 형성될 수 있다.Alternatively, when the conductive layers 321 and 323 include a Sn material and the metal layer in contact with the conductive layers 321 and 323 includes a Cu material, during the process of providing the conductive layers 321 and 323 or the heat treatment process after the provision of the Sn material An intermetallic compound layer of CuSn may be formed by the combination of and Cu material.

또는 상기 도전층(321,323)이 Ag 물질을 포함하고 상기 도전층(321,323)에 접촉된 금속층의 일부 층이 Sn 물질을 포함하는 경우, 상기 도전층(321,323)이 제공되는 과정 또는 제공된 후의 열처리 과정에서 Ag 물질과 Sn 물질의 결합에 의하여 AgSn의 금속간 화합물층이 형성될 수 있다.Alternatively, when the conductive layers 321 and 323 include an Ag material and some of the metal layers in contact with the conductive layers 321 and 323 include a Sn material, in the process of providing the conductive layers 321 and 323 or in the heat treatment process after being provided. An intermetallic compound layer of AgSn may be formed by combining Ag and Sn materials.

이상에서 설명된 금속간 화합물층은 다른 본딩 물질에 비해 더 높은 용융점을 가질 수 있다. 또한, 상기 금속한 화합물층이 형성되는 열처리 공정은 일반적인 본딩 물질의 용융점에 비해 더 낮은 온도에서 수행될 수 있다. 따라서, 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 메인 기판 등에 리플로우(reflow) 공정을 통해 본딩되는 경우에도 리멜팅(re-melting) 현상이 발생되지 않으므로 전기적 연결 및 물리적 본딩력이 열화되지 않는 장점이 있다.The intermetallic compound layer described above may have a higher melting point than other bonding materials. In addition, the heat treatment process for forming the metallic compound layer may be performed at a lower temperature than the melting point of a general bonding material. Therefore, the light emitting device package according to the embodiment has the advantage of not deteriorating electrical connection and physical bonding force because re-melting does not occur even when bonded to a main substrate or the like through a reflow process. .

또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 의하면, 발광소자 패키지를 제조하는 공정에서 패키지 몸체가 고온에 노출될 필요가 없게 된다. 따라서, 실시 예에 의하면, 패키지 몸체가 고온에 노출되어 손상되거나 변색이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 지지 몸체(250)를 구성하는 물질에 대한 선택 폭이 넓어질 수 있게 된다. 실시 예에 의하면, 상기 지지 몸체(250)는 세라믹 등의 고가의 물질뿐만 아니라, 상대적으로 저가의 수지 물질을 이용하여 제공될 수도 있다.In addition, according to the light emitting device package according to the embodiment, the package body does not need to be exposed to high temperatures in a process of manufacturing the light emitting device package. Therefore, according to the embodiment, it is possible to prevent the package body from being damaged or discolored due to exposure to high temperatures. Accordingly, the range of selection for the material constituting the support body 250 can be widened. According to the embodiment, the support body 250 may be provided using a relatively inexpensive resin material as well as an expensive material such as ceramic.

실시 예에 의하면, 상기 제1관통홀(TH1)의 제1도전층(321)이 상기 제1본딩부(51)에 전기적으로 연결될 수 있고, 상기 제2관통홀(TH2)의 제2도전층(323)이 상기 제2 본딩부(52)에 전기적으로 연결될 수 있다. 예로서, 상기 제1 및 제2관통홀(TH1,TH2)에 배치된 제1 및 제2도전층(321,323)에 외부 전원이 공급될 수 있고, 이에 따라 상기 발광소자(151)가 구동될 수 있다. 상기 발광소자(151)의 제1 및 제2본딩부(51,52)는 상기 제1,2도전층(321,323)과 상기 제1,2프레임(210,220)와 전기적으로 연결될 수 있다.According to the embodiment, the first conductive layer 321 of the first through hole TH1 may be electrically connected to the first bonding part 51, and the second conductive layer of the second through hole TH2. 323 may be electrically connected to the second bonding part 52 . For example, external power may be supplied to the first and second conductive layers 321 and 323 disposed in the first and second through holes TH1 and TH2, and thus the light emitting element 151 may be driven. have. The first and second bonding parts 51 and 52 of the light emitting device 151 may be electrically connected to the first and second conductive layers 321 and 323 and the first and second frames 210 and 220 .

상기 발광소자(151)의 상부 방향에서 보았을 때, 상기 도전층(321,323)이 상기 발광소자(151)의 외측 방향으로 이동되는 경우, 상기 도전층(321,323)이 상기 발광소자(151)의 측면을 타고 확산될 수도 있다. 이와 같이, 상기 도전층(321,323)이 상기 발광소자(151)의 측면으로 이동되는 경우, 상기 발광소자(151)의 제1 도전형 반도체층과 제2 도전형 반도체층이 전기적으로 단락될 수도 있다. 상기 제1 도전층(321,323)이 상기 발광소자(151)의 측면으로 이동되는 경우, 상기 발광소자(151)의 광 추출 효율이 저하될 수도 있다. 이를 위해, 상기 발광소자(151)의 하부 둘레에 수지(162,164)가 배치되어, 상기 도전층(321,323)이 영역을 벗어나 외부 방향으로 이동되는 것이 방지될 수 있다. 따라서, 상기 수지(162,164)는 상기 도전층(321,323)이 상기 발광소자(151)의 측면으로 이동되는 것이 방지될 수 있으며, 상기 발광소자(151)가 전기적으로 단락되는 것이 방지되고 광 추출 효율이 향상될 수 있다. When viewed from the top of the light emitting element 151, when the conductive layers 321 and 323 move outward from the light emitting element 151, the conductive layers 321 and 323 cover the side of the light emitting element 151. may spread and spread. As such, when the conductive layers 321 and 323 are moved to the side of the light emitting element 151, the first conductivity type semiconductor layer and the second conductivity type semiconductor layer of the light emitting element 151 may be electrically shorted. . When the first conductive layers 321 and 323 are moved to the side of the light emitting element 151, light extraction efficiency of the light emitting element 151 may decrease. To this end, resins 162 and 164 are disposed around the lower circumference of the light emitting element 151 to prevent the conductive layers 321 and 323 from moving outwardly out of the region. Therefore, the resins 162 and 164 can prevent the conductive layers 321 and 323 from moving to the side of the light emitting element 151, prevent the light emitting element 151 from being electrically shorted, and improve light extraction efficiency. can be improved

상기 지지 몸체(250)는 절연 재질 또는 수지재질일 수 있다. 상기 몸체(250)는 폴리프탈아미드(PPA: Polyphthalamide), PCT(Polychloro Tri phenyl), LCP(Liquid Crystal Polymer), PA9T(Polyamide9T), 실리콘, 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC: Epoxy molding compound), 실리콘 몰딩 컴파운드(SMC), 세라믹, PI(Poly Imide), PSG(photo sensitive glass), 사파이어(Al2O3) 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나로 형성될 수 있다. 상기 지지 몸체(250)가 수지 재질인 경우, 내부에 금속 산화물, 예로서 TiO2, SiO2, Al2O3 등을 포함하는 물질로 구성될 수 있다. The support body 250 may be made of an insulating material or a resin material. The body 250 includes polyphthalamide (PPA), polychloro tri phenyl (PCT), liquid crystal polymer (LCP), polyamide9T (PA9T), silicone, epoxy molding compound (EMC), and silicone molding compound. (SMC), ceramic, polyimide (PI), photo sensitive glass (PSG), sapphire (Al 2 O 3 ), and the like. When the support body 250 is made of a resin material, it may be made of a material containing a metal oxide therein, for example, TiO 2 , SiO 2 , Al 2 O 3 , and the like.

상기 지지 몸체(250)에는 제1리세스(160)를 포함할 수 있다. 상기 제1리세스(160)는 상기 지지 몸체(250)의 하면으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 제1리세스(160)는 상기 지지 몸체(250)에 제공될 수 있다. 상기 제1리세스(160)는 상기 지지 몸체(250)의 상부에 하나 또는 복수로 배치될 수 있다. The support body 250 may include a first recess 160 . The first recess 160 may be provided concavely on the lower surface of the support body 250 . The first recess 160 may be provided in the support body 250 . One or a plurality of first recesses 160 may be disposed above the support body 250 .

상기 제1리세스(160)는 상기 제1,2관통홀(TH1,TH2) 사이에 배치되거나, 적어도 일부 영역 또는 모든 영역이 상기 발광소자(151)과 수직 방향으로 중첩되게 배치될 수 있다. 상기 제1리세스(160)는 상기 지지 몸체(250)의 상부가 오목하게 함몰된 영역으로서, 상기 지지 몸체(250)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 제1리세스(160)의 일부는 상기 발광소자(151) 아래에 배치될 수 있다. The first recess 160 may be disposed between the first and second through holes TH1 and TH2, or may be disposed such that at least a part or all of the area overlaps the light emitting element 151 in a vertical direction. The first recess 160 is a region in which the upper portion of the support body 250 is concavely depressed, and may be provided concavely from the upper surface to the lower surface of the support body 250 . A part of the first recess 160 may be disposed below the light emitting device 151 .

상기 발광소자(151)의 상부 방향에서 보았을 때, 상기 제1리세스(160)는 상기 제1 본딩부(51)와 상기 제2 본딩부(52) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제1리세스(160)의 깊이는 상기 제1 관통 홀(TH1)의 깊이에 비해 작게 제공될 수 있다. 상기 제1리세스(160)의 깊이는 상기 지지 몸체(250)의 안정적인 강도를 고려하거나 및/또는 상기 발광소자(151)에서 방출되는 열에 의해 상기 지지 몸체(250)에 크랙이 발생하지 않도록 결정될 수 있다. When viewed from the top of the light emitting device 151 , the first recess 160 may be disposed between the first bonding part 51 and the second bonding part 52 . The depth of the first recess 160 may be provided smaller than that of the first through hole TH1. The depth of the first recess 160 may be determined considering the stable strength of the supporting body 250 and/or preventing cracks from occurring in the supporting body 250 due to heat emitted from the light emitting device 151. can

제1수지(162)는 제1리세스(160)에 배치될 수 있다. 상기 제1수지(162)는 상기 발광소자(151)와 상기 지지 몸체(250) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제1수지(162)는 상기 발광소자(151)의 하면과 상기 지지 몸체(250)의 상면에 접착될 수 있다. 상기 제1수지(162)는 상기 발광소자(151)의 하면과 제1 및 제2프레임(210,220)의 상면에 접착될 수 있다. 상기 제1수지(162)는 상기 제1 본딩부(52)와 상기 제2본딩부(52) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제1수지(162)는 상기 제1 본딩부(51)의 측면과 상기 제2 본딩부(52)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다. The first resin 162 may be disposed in the first recess 160 . The first resin 162 may be disposed between the light emitting element 151 and the support body 250 . The first resin 162 may be adhered to the lower surface of the light emitting element 151 and the upper surface of the support body 250 . The first resin 162 may be adhered to the lower surface of the light emitting device 151 and the upper surfaces of the first and second frames 210 and 220 . The first resin 162 may be disposed between the first bonding part 52 and the second bonding part 52 . For example, the first resin 162 may be disposed in contact with the side surfaces of the first bonding part 51 and the side surface of the second bonding part 52 .

상기 제1수지(162)는 상기 발광소자(151)와 상기 지지 몸체(250) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다. 상기 제1수지(162)는 예로서 상기 지지 몸체(250)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 제1수지(162)는 상기 발광소자(151)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제1수지(162)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1수지(162)는 상기 발광소자(151)에서 방출하는 광을 반사할 수 있다. 상기 제1수지(162)가 반사 기능을 포함하는 경우, 상기 제1수지는 화이트 실리콘(white silicone)을 포함할 수 있다. 상기 제1수지(162)가 반사 기능을 포함하는 경우, 상기 제1수지(162)는 예로서 TiO2, SiO2, Al2O3 등을 포함하는 물질로 구성될 수 있다. The first resin 162 may provide a stable fixing force between the light emitting element 151 and the support body 250 . For example, the first resin 162 may be placed in direct contact with the upper surface of the support body 250 . The first resin 162 may be placed in direct contact with the lower surface of the light emitting element 151 . For example, the first resin 162 may include at least one of an epoxy-based material, a silicone-based material, and a hybrid material including an epoxy-based material and a silicone-based material. can In addition, the first resin 162 may reflect light emitted from the light emitting element 151 . When the first resin 162 has a reflective function, the first resin may include white silicone. When the first resin 162 includes a reflective function, the first resin 162 may be made of a material including, for example, TiO 2 , SiO 2 , Al 2 O 3 , and the like.

상기 제1리세스(160)는 상기 발광소자(151) 하부에 일종의 언더필 공정이 수행될 수 있는 적정 공간을 제공할 수 있다. 상기 제1리세스(160)는 상기 발광소자(151)의 하면과 상기 지지 몸체(250)의 상면 사이에 상기 제1수지(162)가 충분히 제공될 수 있도록 제1 깊이 이상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 제1리세스(160)는 상기 지지 몸체(250)의 안정적인 강도를 제공하기 위하여 제2 깊이 이하로 제공될 수 있다.The first recess 160 may provide an appropriate space in which a kind of underfill process can be performed under the light emitting device 151 . The first recess 160 may be provided with a depth equal to or greater than a first depth so that the first resin 162 can be sufficiently provided between the lower surface of the light emitting device 151 and the upper surface of the support body 250. . In addition, the first recess 160 may be provided with a second depth or less to provide stable strength of the support body 250 .

상기 제1리세스(160)의 깊이와 폭은 상기 제1수지(162)의 형성 위치 및 고정력에 영향을 미칠 수 있다. 상기 제1리세스(160)의 깊이와 폭은 상기 지지 몸체(250)와 상기 발광소자(151) 사이에 배치되는 상기 제1수지(162)에 의하여 충분한 고정력이 제공될 수 있도록 결정될 수 있다. 예로서, 상기 제1리세스(160)의 깊이는 20 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 또한, 상기 제1리세스(160)의 폭은 140 마이크로 미터 내지 160 마이크로 미터로 제공될 수 있다.The depth and width of the first recess 160 may affect the formation position and fixing force of the first resin 162 . The depth and width of the first recess 160 may be determined so that sufficient fixing force can be provided by the first resin 162 disposed between the support body 250 and the light emitting element 151 . For example, the depth of the first recess 160 may be 20 micrometers to 60 micrometers. Also, the width of the first recess 160 may be 140 micrometers to 160 micrometers.

제2수지(164)는 상기 발광소자(151)의 하면 둘레에 배치될 수 있다. 상기 제2수지(164)는 제1,2프레임(210,220)과 상기 발광소자 패키지(100) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2수지(164)의 내측부는 제1,2프레임(210,220)과 상기 발광소자(151) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2수지(164)의 외측부는 제1,2프레임(210,220)과 상기 몸체(120) 사이에 배치될 수 있다. The second resin 164 may be disposed around the lower surface of the light emitting element 151 . The second resin 164 may be disposed between the first and second frames 210 and 220 and the light emitting device package 100 . An inner portion of the second resin 164 may be disposed between the first and second frames 210 and 220 and the light emitting element 151 . The outer portion of the second resin 164 may be disposed between the first and second frames 210 and 220 and the body 120 .

상기 제2수지(164)는 상기 발광소자(151)의 하면, 상기 몸체(120)의 하면 및 상기 접착층(130)의 하면에 접촉될 수 있다. 이러한 제2수지(164)는 하 방향으로 누설되는 광을 반사시키고 상기 발광소자(151)의 하부로 침투하는 습기를 차단할 수 있다. The second resin 164 may contact the lower surface of the light emitting element 151 , the lower surface of the body 120 , and the lower surface of the adhesive layer 130 . The second resin 164 may reflect light leaking downward and block moisture penetrating into the lower portion of the light emitting element 151 .

상기 제2수지(164)는 상기 제1수지(162)와 동일할 수 있다. 상기 제2수지(164)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1,2수지(162,164)은 상기 발광소자(151)에서 방출하는 광을 반사할 수 있다. 상기 제1,2수지(162,164)이 반사 기능을 포함하는 경우, 화이트 실리콘(white silicone)을 포함할 수도 있다.The second resin 164 may be the same as the first resin 162 . The second resin 164 may include at least one of an epoxy-based material, a silicone-based material, and a hybrid material including an epoxy-based material and a silicone-based material. In addition, the first and second resins 162 and 164 may reflect light emitted from the light emitting element 151 . When the first and second resins 162 and 164 have a reflective function, they may also include white silicone.

상기한 광원 장치, 광원 모듈 또는 광원 패키지 상에는 광학 시트 또는 광학 렌즈가 배치될 수 있다. An optical sheet or an optical lens may be disposed on the light source device, the light source module, or the light source package.

도 26은 발명의 실시 예(들)에 따른 발광소자 패키지가 적용된 램프의 예이다.26 is an example of a lamp to which a light emitting device package according to an embodiment(s) of the present invention is applied.

도 26을 참조하면, 램프는 스탑 램프, 안개등, 방향 지시등, 리어 램프, 후진등, 안개등, 차폭등, 상향등, 하향등과 같은 차량 램프에 선택적으로 적용될 수 있다. 차량용 램프는 브라켓(20), 상기 브라켓(20) 상에 배치되는 실시 예에 따른 발광소자 패키지(10), 상기 발광소자 패키지(20)를 덮는 렌즈(20)를 포함할 수 있다. 이러한 차량용 램프에서 발광소자 패키지(20)는 고전류가 인가되는 고출력 램프에 적용되어 크랙 발생이 개선될 수 있고 열화나 변색이 감소될 수 있다. Referring to FIG. 26 , lamps may be selectively applied to vehicle lamps such as stop lamps, fog lamps, turn signal lamps, rear lamps, reversing lamps, fog lamps, side lamps, high lamps, and low lamps. The vehicle lamp may include a bracket 20 , a light emitting device package 10 according to the embodiment disposed on the bracket 20 , and a lens 20 covering the light emitting device package 20 . In such a vehicle lamp, the light emitting device package 20 is applied to a high-power lamp to which a high current is applied, so crack generation can be improved and deterioration or discoloration can be reduced.

도 27는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자의 일 예를 나타낸 평면도이고, 도 28는 도 27에 도시된 발광소자의 F-F 선에 따른 단면도이다.27 is a plan view illustrating an example of a light emitting device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 28 is a cross-sectional view of the light emitting device shown in FIG. 27 taken along line F-F.

한편, 이해를 돕기 위해, 도 27를 도시함에 있어, 제1 본딩부(1171)와 제2 본딩부(1172) 아래에 배치되지만, 상기 제1 본딩부(1171)에 전기적으로 연결된 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 본딩부(1172)에 전기적으로 연결된 제2 서브전극(1142)이 보일 수 있도록 도시되었다.Meanwhile, for better understanding, in FIG. 27 , the first sub-electrode is disposed under the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172, but is electrically connected to the first bonding part 1171. 1141 and the second sub-electrode 1142 electrically connected to the second bonding portion 1172 are shown so that they can be seen.

실시 예에 따른 발광소자(1000)는, 도 28과 같이, 기판(1105) 위에 배치된 발광 구조물(1110)을 포함할 수 있다. 상기 기판(1105)은 사파이어 기판(Al2O3), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge을 포함하는 그룹 중에서 선택될 수 있다. 예로서, 상기 기판(1105)은 상부 면에 요철 패턴이 형성된 PSS(Patterned Sapphire Substrate)로 제공될 수 있다.As shown in FIG. 28 , the light emitting device 1000 according to the embodiment may include a light emitting structure 1110 disposed on a substrate 1105 . The substrate 1105 may be selected from a group including a sapphire substrate (Al 2 O 3 ), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, and Ge. For example, the substrate 1105 may be provided as PSS (Patterned Sapphire Substrate) having a concavo-convex pattern formed on an upper surface thereof.

상기 발광 구조물(1110)은 제1 도전형 반도체층(1111), 활성층(1112), 제2 도전형 반도체층(1113)을 포함할 수 있다. 상기 활성층(1112)은 상기 제1 도전형 반도체층(1111)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제1 도전형 반도체층(1111) 위에 상기 활성층(1112)이 배치되고, 상기 활성층(1112) 위에 상기 제2 도전형 반도체층(1113)이 배치될 수 있다.The light emitting structure 1110 may include a first conductivity type semiconductor layer 1111 , an active layer 1112 , and a second conductivity type semiconductor layer 1113 . The active layer 1112 may be disposed between the first conductivity type semiconductor layer 1111 and the second conductivity type semiconductor layer 1113 . For example, the active layer 1112 may be disposed on the first conductivity-type semiconductor layer 1111 , and the second conductivity-type semiconductor layer 1113 may be disposed on the active layer 1112 .

실시 예에 따른 발광소자(1000)는, 투광성 전극층(1130)을 포함할 수 있다. 상기 투광성 전극층(1130)은 전류 확산을 향상시켜 광출력을 증가시킬 수 있다. 예로서, 상기 투광성 전극층(1130)은 금속, 금속 산화물, 금속 질화물을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 투광성 전극층(1130)은 투광성의 물질을 포함할 수 있다. 상기 투광성 전극층(1130)은, 예를 들어 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZON(IZO nitride), IZTO (indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, Ni/IrOx/Au/ITO, Pt, Ni, Au, Rh, Pd를 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다.The light emitting device 1000 according to the embodiment may include a light-transmitting electrode layer 1130 . The light-transmitting electrode layer 1130 may increase light output by improving current diffusion. For example, the light-transmitting electrode layer 1130 may include at least one selected from a group including a metal, a metal oxide, and a metal nitride. The light-transmitting electrode layer 1130 may include a light-transmitting material. The light-transmitting electrode layer 1130 may be, for example, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), IZO nitride (IZON), indium zinc tin oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IAZO), or indium IGZO (IGZO). gallium zinc oxide), indium gallium tin oxide (IGTO), aluminum zinc oxide (AZO), antimony tin oxide (ATO), gallium zinc oxide (GZO), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, Ni/ It may include at least one selected from the group including IrOx/Au/ITO, Pt, Ni, Au, Rh, and Pd.

실시 예에 따른 발광소자(1000)는, 반사층(1160)을 포함할 수 있다. 상기 반사층(1160)은 제1 반사층(1161), 제2 반사층(1162), 제3 반사층(1163)을 포함할 수 있다. 상기 반사층(1160)은 상기 투광성 전극층(1130) 위에 배치될 수 있다. 상기 제2 반사층(1162)은 상기 투광성 전극층(1130)을 노출시키는 제1 개구부(h1)를 포함할 수 있다. 상기 제2 반사층(1162)은 상기 투광성 전극층(1130) 위에 배치된 복수의 제1 개구부(h1)를 포함할 수 있다. 상기 제1 반사층(1161)은 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상부 면을 노출시키는 복수의 제2 개구부(h2)를 포함할 수 있다.The light emitting device 1000 according to the embodiment may include a reflective layer 1160 . The reflective layer 1160 may include a first reflective layer 1161 , a second reflective layer 1162 , and a third reflective layer 1163 . The reflective layer 1160 may be disposed on the light-transmitting electrode layer 1130 . The second reflective layer 1162 may include a first opening h1 exposing the light-transmitting electrode layer 1130 . The second reflective layer 1162 may include a plurality of first openings h1 disposed on the light-transmissive electrode layer 1130 . The first reflective layer 1161 may include a plurality of second openings h2 exposing an upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 1111 .

상기 제3 반사층(1163)은 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제3 반사층(1163)은 상기 제1 반사층(1161)과 연결될 수 있다. 또한, 상기 제3 반사층(1163)은 상기 제2 반사층(1162)과 연결될 수 있다. 상기 제3 반사층(1163)은 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)에 물리적으로 직접 접촉되어 배치될 수 있다.The third reflective layer 1163 may be disposed between the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 . For example, the third reflective layer 1163 may be connected to the first reflective layer 1161 . Also, the third reflective layer 1163 may be connected to the second reflective layer 1162 . The third reflective layer 1163 may be disposed in direct physical contact with the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 .

실시 예에 따른 상기 반사층(1160)은 상기 투광성 전극층(1130)에 제공된 복수의 컨택홀을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 접촉될 수 있다. 상기 반사층(1160)은 상기 투광성 전극층(1130)에 제공된 복수의 컨택홀을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)의 상부 면에 물리적으로 접촉될 수 있다.The reflective layer 1160 according to the embodiment may contact the second conductivity-type semiconductor layer 1113 through a plurality of contact holes provided in the light-transmissive electrode layer 1130 . The reflective layer 1160 may physically contact the upper surface of the second conductivity type semiconductor layer 1113 through a plurality of contact holes provided in the light-transmissive electrode layer 1130 .

상기 반사층(1160)은 절연성 반사층으로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 반사층(1160)은 DBR(Distributed Bragg Reflector)층으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 반사층(1160)은 ODR(Omni Directional Reflector)층으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 반사층(1160)은 DBR층과 ODR층이 적층되어 제공될 수도 있다.The reflective layer 1160 may be provided as an insulating reflective layer. For example, the reflective layer 1160 may be provided as a Distributed Bragg Reflector (DBR) layer. In addition, the reflective layer 1160 may be provided as an Omni Directional Reflector (ODR) layer. In addition, the reflective layer 1160 may be provided by stacking a DBR layer and an ODR layer.

실시 예에 따른 발광소자(1000)는, 제1 서브전극(1141)과 제2 서브전극(1142)을 포함할 수 있다. 상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제2 개구부(h2) 내부에서 상기 제1 도전형 반도체층(1111)과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제1 도전형 반도체층(1111) 위에 배치될 수 있다. 예로서, 실시 예에 따른 발광소자(1000)에 의하면, 상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제2 도전형 반도체층(1113), 상기 활성층(1112)을 관통하여 제1 도전형 반도체층(1111)의 일부 영역까지 배치되는 리세스 내에서 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상면에 배치될 수 있다. The light emitting device 1000 according to the embodiment may include a first sub-electrode 1141 and a second sub-electrode 1142 . The first sub-electrode 1141 may be electrically connected to the first conductive semiconductor layer 1111 within the second opening h2. The first sub-electrode 1141 may be disposed on the first conductive semiconductor layer 1111 . For example, according to the light emitting device 1000 according to the embodiment, the first sub-electrode 1141 penetrates the second conductivity-type semiconductor layer 1113 and the active layer 1112 to form the first conductivity-type semiconductor layer ( 1111) may be disposed on the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 1111 in a recess extending to a partial region.

상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제1 반사층(1161)에 제공된 제2 개구부(h2)를 통하여 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상면에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 개구부(h2)와 상기 리세스는 수직으로 중첩할 수 있고 예로서, 상기 제1 서브전극(1141)은, 복수의 리세스 영역에서 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상면에 직접 접촉될 수 있다.The first sub-electrode 1141 may be electrically connected to the upper surface of the first conductive semiconductor layer 1111 through the second opening h2 provided in the first reflective layer 1161 . The second opening h2 and the recess may vertically overlap. For example, the first sub-electrode 1141 may be formed on the upper surface of the first conductive semiconductor layer 1111 in a plurality of recess regions. can be contacted directly.

상기 제2 서브전극(1142)은 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 서브전극(1142)은 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 위에 배치될 수 있다. 실시 예에 의하면, 상기 제2 서브전극(1142)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 사이에 상기 투광성 전극층(1130)이 배치될 수 있다.The second sub-electrode 1142 may be electrically connected to the second conductive semiconductor layer 1113 . The second sub-electrode 1142 may be disposed on the second conductive semiconductor layer 1113 . According to the embodiment, the translucent electrode layer 1130 may be disposed between the second sub-electrode 1142 and the second conductivity-type semiconductor layer 1113 .

상기 제2 서브전극(1142)은 상기 제2 반사층(1162)에 제공된 제1 개구부(h1)를 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)과 전기적으로 연결될 수 있다. 예로서, 상기 제2 서브전극(1142)은, 복수의 P 영역에서 상기 투광성 전극층(1130)을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 전기적으로 연결될 수 있다.The second sub-electrode 1142 may be electrically connected to the second conductive semiconductor layer 1113 through the first opening h1 provided in the second reflective layer 1162 . For example, the second sub-electrode 1142 may be electrically connected to the second conductivity-type semiconductor layer 1113 through the transmissive electrode layer 1130 in a plurality of P regions.

상기 제2 서브전극(1142)은, 복수의 P 영역에서 상기 제2 반사층(1162)에 제공된 복수의 제1 개구부(h1)를 통하여 상기 투광성 전극층(1130)의 상면에 직접 접촉될 수 있다. 실시 예에 의하면, 상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)은 서로 극성을 가질 수 있고, 서로 이격되어 배치될 수 있다. The second sub-electrode 1142 may directly contact the upper surface of the light-transmitting electrode layer 1130 through the plurality of first openings h1 provided in the second reflective layer 1162 in the plurality of P regions. According to the embodiment, the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may have polarities and may be spaced apart from each other.

상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)은 단층 또는 다층 구조로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)은 오믹 전극일 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)은 ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 중 적어도 하나 또는 이들 중 2개 이상의 물질의 합금일 수 있다. 도 28에서 영역 R11,R12,R13은 각 서브 전극의 영역별 중첩 영역을 구분하기 위해 나타낸다. The first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may have a single-layer or multi-layer structure. For example, the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may be ohmic electrodes. For example, the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may be ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, Ni/IrOx/Au/ITO, Ag , Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, and Hf, or at least one or an alloy of two or more of these materials. In FIG. 28, regions R11, R12, and R13 are indicated to distinguish overlapping regions for each region of each sub-electrode.

실시 예에 따른 발광소자(1000)는, 보호층(1150)을 포함할 수 있다. 상기 보호층(1150)은 상기 제2 서브전극(1142)을 노출시키는 복수의 제3 개구부(h3)를 포함할 수 있다. 상기 복수의 제3 개구부(h3)는 상기 제2 서브전극(1142)에 제공된 복수의 PB 영역에 대응되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 보호층(1150)은 상기 제1 서브전극(1141)을 노출시키는 복수의 제4 개구부(h4)를 포함할 수 있다. 상기 복수의 제4 개구부(h4)는 상기 제1 서브전극(1141)에 제공된 복수의 NB 영역에 대응되어 배치될 수 있다. 상기 보호층(1150)은 상기 반사층(1160) 위에 배치될 수 있다. 상기 보호층(1150)은 상기 제1 반사층(1161), 상기 제2 반사층(1162), 상기 제3 반사층(1163) 위에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 보호층(1150)은 절연물질로 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(1150)은 SixOy, SiOxNy, SixNy, AlxOy 를 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 물질로 형성될 수 있다.The light emitting device 1000 according to the embodiment may include a protective layer 1150. The protective layer 1150 may include a plurality of third openings h3 exposing the second sub-electrode 1142 . The plurality of third openings h3 may be disposed to correspond to the plurality of PB regions provided in the second sub-electrode 1142 . In addition, the protective layer 1150 may include a plurality of fourth openings h4 exposing the first sub-electrode 1141 . The plurality of fourth openings h4 may be disposed to correspond to the plurality of NB regions provided in the first sub-electrode 1141 . The protective layer 1150 may be disposed on the reflective layer 1160 . The protective layer 1150 may be disposed on the first reflective layer 1161 , the second reflective layer 1162 , and the third reflective layer 1163 . For example, the protective layer 1150 may be provided with an insulating material. For example, the protective layer 1150 is Si x O y , SiO x N y , Si x N y , Al x O y It may be formed of at least one material selected from the group including.

실시 예에 따른 발광소자(1000)는, 상기 보호층(1150) 위에 배치된 제1 본딩부(1171)와 제2 본딩부(1172)를 포함할 수 있다. 상기 제1 본딩부(1171)는 상기 제1 반사층(1161) 위에 배치될 수 있다. 또한, 상기 제2 본딩부(1172)는 상기 제2 반사층(1162) 위에 배치될 수 있다. 상기 제2 본딩부(1172)는 상기 제1 본딩부(1171)와 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제1 본딩부(1171)는 복수의 NB 영역에서 상기 보호층(1150)에 제공된 복수의 상기 제4 개구부(h4)를 통하여 상기 제1 서브전극(1141)의 상부 면에 접촉될 수 있다. 상기 복수의 NB 영역은 상기 제2 개구부(h2)와 수직으로 어긋나도록 배치될 수 있다. 상기 복수의 NB 영역과 상기 제2 개구부(h2)가 서로 수직으로 어긋나는 경우, 상기 제1 본딩부(1171)로 주입되는 전류가 상기 제1 서브전극(1141)의 수평 방향으로 골고루 퍼질 수 있고, 따라서 상기 복수의 NB 영역에서 전류가 골고루 주입될 수 있다. The light emitting device 1000 according to the embodiment may include a first bonding part 1171 and a second bonding part 1172 disposed on the protective layer 1150 . The first bonding part 1171 may be disposed on the first reflective layer 1161 . Also, the second bonding part 1172 may be disposed on the second reflective layer 1162 . The second bonding part 1172 may be spaced apart from the first bonding part 1171 . The first bonding portion 1171 may contact the upper surface of the first sub-electrode 1141 through the plurality of fourth openings h4 provided in the protective layer 1150 in the plurality of NB regions. The plurality of NB areas may be arranged to be vertically offset from the second opening h2. When the plurality of NB regions and the second opening h2 are vertically displaced from each other, current injected into the first bonding part 1171 can be evenly spread in the horizontal direction of the first sub-electrode 1141, Accordingly, current may be evenly injected in the plurality of NB regions.

또한, 상기 제2 본딩부(1172)는 복수의 PB 영역에서 상기 보호층(1150)에 제공된 복수의 상기 제3 개구부(h3)를 통하여 상기 제2 서브전극(1142)의 상부 면에 접촉될 수 있다. 상기 복수의 PB 영역과 상기 복수의 제1 개구부(h1)가 수직으로 중첩되지 않도록 하는 경우 상기 제2 본딩부(1172)로 주입되는 전류가 상기 제2 서브전극(1142)의 수평 방향으로 골고루 퍼질 수 있고, 따라서 상기 복수의 PB 영역에서 전류가 골고루 주입될 수 있다. 복수의 영역을 통해 전원이 공급될 수 있으므로, 접촉 면적 증가 및 접촉 영역의 분산에 따라 전류 분산 효과가 발생되고 동작전압이 감소될 수 있는 장점이 있다.In addition, the second bonding part 1172 may contact the upper surface of the second sub-electrode 1142 through the plurality of third openings h3 provided in the protective layer 1150 in a plurality of PB regions. have. When the plurality of PB regions and the plurality of first openings h1 are not vertically overlapped, the current injected into the second bonding part 1172 spreads evenly in the horizontal direction of the second sub-electrode 1142. Therefore, current can be evenly injected in the plurality of PB regions. Since power can be supplied through a plurality of areas, there is an advantage in that a current dissipation effect occurs and an operating voltage can be reduced according to the contact area increase and the contact area distribution.

이에 따라, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 상기 발광 구조물(1110)의 활성층(1112)에서 발광되는 빛을 반사시켜 제1 서브전극(1141)과 제2 서브전극(1142)에서 광 흡수가 발생되는 것을 최소화하여 광도(Po)를 향상시킬 수 있다. 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 굴절률이 다른 물질이 서로 반복하여 배치된 DBR 구조를 이룰 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 TiO2, SiO2, Ta2O5, HfO2 중 적어도 하나 이상을 포함하는 단층 또는 적층 구조로 배치될 수 있다. 또한, 다른 실시 예에 의하면, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 ODR층으로 제공될 수도 있다. 또 다른 실시 예에 의하면, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 DBR층과 ODR층이 적층된 일종의 하이브리드(hybrid) 형태로 제공될 수도 있다.Accordingly, the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 reflect light emitted from the active layer 1112 of the light emitting structure 1110 to form a first sub-electrode 1141 and a second sub-electrode ( 1142), the luminous intensity Po may be improved by minimizing light absorption. The first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 may form a DBR structure in which materials having different refractive indices are repeatedly disposed. For example, the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 are TiO 2 , SiO 2 , Ta 2 O 5 , HfO 2 It may be arranged in a single-layer or laminated structure including at least one of them. Also, according to another embodiment, the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 may be provided as ODR layers. According to another embodiment, the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 may be provided in a kind of hybrid form in which a DBR layer and an ODR layer are stacked.

실시 예에 따른 발광소자가 플립칩 본딩 방식으로 실장되어 발광소자 패키지로 구현되는 경우, 상기 발광 구조물(1110)에서 제공되는 빛은 상기 기판(1105)을 통하여 방출될 수 있다. 상기 발광 구조물(1110)에서 방출되는 빛은 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)에서 반사되어 상기 기판(1105) 방향으로 방출될 수 있다. When the light emitting device according to the embodiment is implemented as a light emitting device package by being mounted in a flip chip bonding method, light provided from the light emitting structure 1110 may be emitted through the substrate 1105 . Light emitted from the light emitting structure 1110 may be reflected by the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 and emitted toward the substrate 1105 .

또한, 상기 발광 구조물(1110)에서 방출되는 빛은 상기 발광 구조물(1110)의 측면 방향으로도 방출될 수 있다. 또한, 상기 발광 구조물(1110)에서 방출되는 빛은, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)가 배치된 면 중에서, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)가 제공되지 않은 영역을 통하여 외부로 방출될 수 있다. In addition, light emitted from the light emitting structure 1110 may also be emitted in a lateral direction of the light emitting structure 1110 . In addition, light emitted from the light emitting structure 1110 is bonded to the first bonding unit 1171 and the second bonding unit among the surfaces on which the first bonding unit 1171 and the second bonding unit 1172 are disposed. The portion 1172 may be emitted to the outside through an area not provided.

이에 따라, 실시 예에 따른 발광소자(1000)는 상기 발광 구조물(1110)을 둘러싼 6면 방향으로 빛을 방출할 수 있게 되며, 광도를 현저하게 향상시킬 수 있다.Accordingly, the light emitting device 1000 according to the embodiment can emit light in six directions surrounding the light emitting structure 1110, and can significantly improve the luminous intensity.

한편, 실시 예에 따른 발광소자에 의하면, 발광소자(1000)의 상부 방향에서 보았을 때, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)의 면적의 합은, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)가 배치된 상기 발광소자(1000)의 상부 면 전체 면적의 60%에 비해 같거나 작게 제공될 수 있다.Meanwhile, according to the light emitting device according to the embodiment, when viewed from the upper direction of the light emitting device 1000, the sum of the areas of the first bonding portion 1171 and the second bonding portion 1172 is The portion 1171 and the second bonding portion 1172 may be provided equal to or smaller than 60% of the total area of the upper surface of the light emitting device 1000 .

예로서, 상기 발광소자(1000)의 상부 면 전체 면적은 상기 발광 구조물(1110)의 제1 도전형 반도체층(1111)의 하부 면의 가로 길이 및 세로 길이에 의하여 정의되는 면적에 대응될 수 있다. 또한, 상기 발광소자(1000)의 상부 면 전체 면적은 상기 기판(1105)의 상부 면 또는 하부 면의 면적에 대응될 수 있다.For example, the total area of the upper surface of the light emitting device 1000 may correspond to an area defined by the horizontal length and the vertical length of the lower surface of the first conductivity type semiconductor layer 1111 of the light emitting structure 1110. . Also, the entire area of the upper surface of the light emitting device 1000 may correspond to the area of the upper or lower surface of the substrate 1105 .

이와 같이, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1000)의 전체 면적의 60%에 비해 같거나 작게 제공되도록 함으로써, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)가 배치된 면으로 방출되는 빛의 양이 증가될 수 있게 된다. 이에 따라, 실시 예에 의하면, 상기 발광소자(1000)의 6면 방향으로 방출되는 빛의 양이 많아지게 되므로 광 추출 효율이 향상되고 광도(Po)가 증가될 수 있게 된다.In this way, the sum of the areas of the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172 is provided equal to or smaller than 60% of the total area of the light emitting device 1000, so that the first bonding The amount of light emitted to the surface where the portion 1171 and the second bonding portion 1172 are disposed can be increased. Accordingly, according to the embodiment, since the amount of light emitted in the direction of the six surfaces of the light emitting device 1000 increases, the light extraction efficiency can be improved and the luminous intensity Po can be increased.

또한, 상기 발광소자(1000)의 상부 방향에서 보았을 때, 상기 제1 본딩부(1171)의 면적과 상기 제2 본딩부(1172)의 면적의 합은 상기 발광소자(1000)의 전체 면적의 30%에 비해 같거나 크게 제공될 수 있다.In addition, when viewed from the upper direction of the light emitting element 1000, the sum of the area of the first bonding part 1171 and the area of the second bonding part 1172 is 30 of the total area of the light emitting element 1000. may be given equal to or greater than the %.

이와 같이, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1000)의 전체 면적의 30%에 비해 같거나 크게 제공되도록 함으로써, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)를 통하여 안정적인 실장이 수행될 수 있고, 상기 발광소자(1000)의 전기적인 특성을 확보할 수 있게 된다.In this way, the sum of the areas of the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172 is equal to or larger than 30% of the total area of the light emitting device 1000, so that the first bonding Stable mounting can be performed through the unit 1171 and the second bonding unit 1172, and electrical characteristics of the light emitting device 1000 can be secured.

실시 예에 따른 발광소자(1000)는, 광 추출 효율 및 본딩의 안정성 확보를 고려하여, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1000)의 전체 면적의 30% 이상이고 60% 이하로 선택될 수 있다.In the light emitting device 1000 according to the embodiment, in consideration of light extraction efficiency and bonding stability, the sum of the areas of the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172 is the light emitting element 1000 ) can be selected to be 30% or more and 60% or less of the total area of ).

즉, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1000)의 전체 면적의 30% 이상 내지 100% 이하인 경우, 상기 발광소자(1000)의 전기적 특성을 확보하고, 발광소자 패키지에 실장되는 본딩력을 확보하여 안정적인 실장이 수행될 수 있다.That is, when the sum of the areas of the first bonding portion 1171 and the second bonding portion 1172 is greater than or equal to 30% and less than or equal to 100% of the total area of the light emitting device 1000, the light emitting device 1000 Stable mounting can be performed by securing electrical characteristics and securing bonding force to be mounted on the light emitting device package.

또한, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1000)의 전체 면적의 0% 초과 내지 60% 이하인 경우, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)가 배치된 면으로 방출되는 광량이 증가하여 상기 발광소자(1000)의 광추출 효율이 향상되고, 광도(Po)가 증가될 수 있다.In addition, when the sum of the areas of the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172 is more than 0% and less than 60% of the total area of the light emitting device 1000, the first bonding part 1171 ) and the second bonding unit 1172 are disposed, the light extraction efficiency of the light emitting device 1000 may be improved and the light intensity Po may be increased.

실시 예에서는 상기 발광소자(1000)의 전기적 특성과 발광소자 패키지에 실장되는 본딩력을 확보하고, 광도를 증가시키기 위해, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1000)의 전체 면적의 30% 이상 내지 60% 이하로 선택하였다.In the embodiment, the areas of the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172 are secured in order to secure the electrical characteristics of the light emitting device 1000 and the bonding force mounted on the light emitting device package, and to increase the light intensity. The sum of was selected to be 30% or more to 60% or less of the total area of the light emitting device 1000.

또한, 실시 예에 따른 발광소자(1000)에 의하면, 상기 제3 반사층(1163)이 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제3 반사층(1163)의 상기 발광소자(1000)의 장축 방향에 따른 길이는 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172) 사이의 간격에 대응되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 제3 반사층(1163)의 면적은 예로서 상기 발광소자(1000)의 상부 면 전체의 10% 이상이고 25% 이하로 제공될 수 있다.Also, according to the light emitting device 1000 according to the embodiment, the third reflective layer 1163 may be disposed between the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172 . For example, the length of the third reflective layer 1163 along the long axis direction of the light emitting element 1000 may be disposed corresponding to the distance between the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172. have. Also, the area of the third reflective layer 1163 may be 10% or more and 25% or less of the entire upper surface of the light emitting device 1000, for example.

상기 제3 반사층(1163)의 면적이 상기 발광소자(1000)의 상부 면 전체의 10% 이상일 때, 상기 발광소자의 하부에 배치되는 패키지 몸체가 변색되거나 균열의 발생을 방지할 수 있고, 25% 이하일 경우 상기 발광소자의 6면으로 발광하도록 하는 광추출효율을 확보하기에 유리하다. When the area of the third reflective layer 1163 is 10% or more of the total upper surface of the light emitting device 1000, discoloration or cracking of the package body disposed under the light emitting device can be prevented, and 25% In the case of the following, it is advantageous to secure light extraction efficiency to emit light from the six sides of the light emitting device.

또한, 다른 실시 예에서는 이에 한정하지 않고 상기 광추출효율을 더 크게 확보하기 위해 상기 제3 반사층(1163)의 면적을 상기 발광소자(1000)의 상부 면 전체의 0% 초과 내지 10% 미만으로 배치할 수 있고, 상기 패키지 몸체에 변색 또는 균열의 발생을 방지하는 효과를 더 크게 확보하기 위해 상기 제3 반사층(1163)의 면적을 상기 발광소자(1000)의 상부 면 전체의 25% 초과 내지 100% 미만으로 배치할 수 있다.In addition, in another embodiment, the area of the third reflective layer 1163 is disposed to be greater than 0% to less than 10% of the entire upper surface of the light emitting device 1000 in order to secure a higher light extraction efficiency without being limited thereto. In order to further secure an effect of preventing discoloration or cracking in the package body, the area of the third reflective layer 1163 is greater than 25% to 100% of the entire upper surface of the light emitting device 1000. Can be placed below.

또한, 상기 발광소자(1000)의 장축 방향에 배치된 측면과 이웃하는 상기 제1 본딩부(1171) 또는 상기 제2 본딩부(1172) 사이에 제공된 제2 영역으로 상기 발광 구조물(1110)에서 생성된 빛이 투과되어 방출될 수 있다. In addition, a second region provided between the side surface disposed in the long axis direction of the light emitting element 1000 and the first bonding part 1171 or the second bonding part 1172 adjacent to the light emitting structure 1110 is generated. Light can be transmitted and emitted.

또한, 상기 발광소자(1000)의 단축 방향에 배치된 측면과 이웃하는 상기 제1 본딩부(1171) 또는 상기 제2 본딩부(1172) 사이에 제공된 제3 영역으로 상기 발광구조물에서 생성된 빛이 투과되어 방출될 수 있다. In addition, the light generated by the light emitting structure is transmitted to a third area provided between the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172 adjacent to the side surface disposed in the direction of the short axis of the light emitting element 1000. It can be permeated and released.

실시 예에 의하면, 상기 제1 반사층(1161)의 크기는 상기 제1 본딩부(1171)의 크기에 비하여 수 마이크로 미터 더 크게 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 반사층(1161)의 면적은 상기 제1 본딩부(1171)의 면적을 완전히 덮을 수 있을 정도의 크기로 제공될 수 있다. 공정 오차를 고려할 때, 상기 제1 반사층(1161)의 한 변의 길이는 상기 제1 본딩부(1171)의 한 변의 길이에 비해 예로서 4 마이크로 미터 내지 10 마이크로 미터 정도 더 크게 제공될 수 있다.According to an embodiment, the size of the first reflective layer 1161 may be several micrometers larger than that of the first bonding part 1171 . For example, the area of the first reflective layer 1161 may be provided with a size sufficient to completely cover the area of the first bonding part 1171 . Considering the process error, the length of one side of the first reflective layer 1161 may be greater than the length of one side of the first bonding part 1171 by, for example, about 4 micrometers to about 10 micrometers.

또한, 상기 제2 반사층(1162)의 크기는 상기 제2 본딩부(1172)의 크기에 비하여 수 마이크로 미터 더 크게 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 반사층(1162)의 면적은 상기 제2 본딩부(1172)의 면적을 완전히 덮을 수 있을 정도의 크기로 제공될 수 있다. 공정 오차를 고려할 때, 상기 제2 반사층(1162)의 한 변의 길이는 상기 제2 본딩부(1172)의 한 변의 길이에 비해 예로서 4 마이크로 미터 내지 10 마이크로 미터 정도 더 크게 제공될 수 있다.Also, the size of the second reflective layer 1162 may be several micrometers larger than that of the second bonding portion 1172 . For example, the area of the second reflective layer 1162 may be provided to a size sufficient to completely cover the area of the second bonding portion 1172 . Considering the process error, the length of one side of the second reflective layer 1162 may be greater than the length of one side of the second bonding part 1172 by, for example, about 4 micrometers to about 10 micrometers.

실시 예에 의하면, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)에 의하여, 상기 발광 구조물(1110)로부터 방출되는 빛이 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)에 입사되지 않고 반사될 수 있게 된다. 이에 따라, 실시 예에 의하면, 상기 발광 구조물(1110)에서 생성되어 방출되는 빛이 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)에 입사되어 손실되는 것을 최소화할 수 있다.According to the embodiment, the light emitted from the light emitting structure 1110 is transmitted to the first bonding unit 1171 and the second bonding unit 1172 by the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162. ) and can be reflected without incident. Accordingly, according to the embodiment, the light emitted from the light emitting structure 1110 is incident on the first bonding unit 1171 and the second bonding unit 1172, and loss thereof can be minimized.

또한, 실시 예에 따른 발광소자(1000)에 의하면, 상기 제3 반사층(1163)이 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172) 사이에 배치되므로, 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172) 사이로 방출되는 빛의 양을 조절할 수 있게 된다. In addition, according to the light emitting device 1000 according to the embodiment, since the third reflective layer 1163 is disposed between the first bonding unit 1171 and the second bonding unit 1172, the first bonding unit ( 1171) and the second bonding portion 1172 can adjust the amount of light emitted.

앞에서 설명된 바와 같이, 실시 예에 따른 발광소자(1000)는 예를 들어 플립칩 본딩 방식으로 실장되어 발광소자 패키지 형태로 제공될 수 있다. 이때, 발광소자(1000)가 실장되는 패키지 몸체가 수지 등으로 제공되는 경우, 상기 발광소자(1000)의 하부 영역에서, 상기 발광소자(1000)로부터 방출되는 단파장의 강한 빛에 의하여 패키지 몸체가 변색되거나 균열이 발생될 수 있다. As described above, the light emitting device 1000 according to the embodiment may be mounted in a flip chip bonding method and provided in the form of a light emitting device package. At this time, when the package body in which the light emitting device 1000 is mounted is made of resin or the like, the package body is discolored by strong short-wavelength light emitted from the light emitting device 1000 in the lower region of the light emitting device 1000. or cracks may occur.

그러나, 실시 예에 따른 발광소자(1000)에 의하면 상기 제1 본딩부(1171)와 상기 제2 본딩부(1172)가 배치된 영역 사이로 방출되는 빛의 양을 조절할 수 있으므로, 상기 발광소자(1000)의 하부 영역에 배치된 패키지 몸체가 변색되거나 균열되는 것을 방지할 수 있다. However, according to the light emitting device 1000 according to the embodiment, since the amount of light emitted between the regions where the first bonding part 1171 and the second bonding part 1172 are disposed can be adjusted, the light emitting element 1000 ) It is possible to prevent discoloration or cracking of the package body disposed in the lower region.

실시 예에 의하면, 상기 제1 본딩부(1171), 상기 제2 본딩부(1172), 상기 제3 반사층(1163)이 배치된 상기 발광소자(1000)의 상부 면의 20% 이상 면적에서 상기 발광 구조물(1110)에서 생성된 빛이 투과되어 방출될 수 있다.According to the embodiment, the light is emitted from an area of 20% or more of the upper surface of the light emitting device 1000 on which the first bonding part 1171, the second bonding part 1172, and the third reflective layer 1163 are disposed. Light generated by the structure 1110 may be transmitted and emitted.

이에 따라, 실시 예에 의하면, 상기 발광소자(1000)의 6면 방향으로 방출되는 빛의 양이 많아지게 되므로 광 추출 효율이 향상되고 광도(Po)가 증가될 수 있게 된다. 또한, 상기 발광소자(1000)의 하부 면에 근접하게 배치된 패키지 몸체가 변색되거나 균열되는 것을 방지할 수 있게 된다.Accordingly, according to the embodiment, since the amount of light emitted in the direction of the six surfaces of the light emitting device 1000 increases, the light extraction efficiency can be improved and the luminous intensity Po can be increased. In addition, discoloration or cracking of the package body disposed close to the lower surface of the light emitting device 1000 can be prevented.

또한, 실시 예예 따른 발광소자(1000)에 의하면, 상기 투광성 전극층(1130)에 복수의 컨택홀(C1, C2, C3)이 제공될 수 있다. 상기 투광성 전극층(1130)에 제공된 복수의 컨택홀(C1, C2, C3)을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)과 상기 반사층(1160)이 접착될 수 있다. 상기 반사층(1160)이 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 직접 접촉될 수 있게 됨으로써, 상기 반사층(1160)이 상기 투광성 전극층(1130)에 접촉되는 것에 비하여 접착력이 향상될 수 있게 된다.In addition, according to the light emitting device 1000 according to the embodiment, a plurality of contact holes C1 , C2 , and C3 may be provided in the light-transmitting electrode layer 1130 . The second conductive semiconductor layer 1113 and the reflective layer 1160 may be bonded through the plurality of contact holes C1 , C2 , and C3 provided in the light-transmissive electrode layer 1130 . Since the reflective layer 1160 can directly contact the second conductivity-type semiconductor layer 1113, adhesive strength can be improved compared to when the reflective layer 1160 contacts the translucent electrode layer 1130.

상기 반사층(1160)이 상기 투광성 전극층(1130)에만 직접 접촉되는 경우, 상기 반사층(1160)과 상기 투광성 전극층(1130) 간의 결합력 또는 접착력이 약화될 수도 있다. 예를 들어, 절연층과 금속층이 결합되는 경우, 물질 상호 간의 결합력 또는 접착력이 약화될 수도 있다. When the reflective layer 1160 directly contacts only the light-transmissive electrode layer 1130, bonding strength or adhesive strength between the reflective layer 1160 and the light-transmitting electrode layer 1130 may be weakened. For example, when the insulating layer and the metal layer are bonded, bonding strength or adhesive strength between materials may be weakened.

예로서, 상기 반사층(1160)과 상기 투광성 전극층(1130) 간의 결합력 또는 접착력이 약한 경우, 두 층 간에 박리가 발생될 수 있다. 이와 같이 상기 반사층(1160)과 상기 투광성 전극층(1130) 사이에 박리가 발생되면 발광소자(1000)의 특성이 열화될 수 있으며, 또한 발광소자(1000)의 신뢰성을 확보할 수 없게 된다.For example, when the bonding or adhesive strength between the reflective layer 1160 and the light-transmissive electrode layer 1130 is weak, separation may occur between the two layers. In this way, when separation occurs between the reflective layer 1160 and the light-transmitting electrode layer 1130, the characteristics of the light emitting device 1000 may be deteriorated, and reliability of the light emitting device 1000 cannot be secured.

그러나, 실시 예에 의하면, 상기 반사층(1160)이 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 직접 접촉될 수 있으므로, 상기 반사층(1160), 상기 투광성 전극층(1130), 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 간의 결합력 및 접착력이 안정적으로 제공될 수 있게 된다.However, according to the embodiment, since the reflective layer 1160 may directly contact the second conductivity type semiconductor layer 1113, the reflective layer 1160, the translucent electrode layer 1130, and the second conductivity type semiconductor layer The bonding force and adhesive force between (1113) can be stably provided.

따라서, 실시 예에 의하면, 상기 반사층(1160)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 간의 결합력이 안정적으로 제공될 수 있으므로, 상기 반사층(1160)이 상기 투광성 전극층(1130)으로부터 박리되는 것을 방지할 수 있게 된다. 또한, 상기 반사층(1160)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 간의 결합력이 안정적으로 제공될 수 있으므로 발광소자(1000)의 신뢰성을 향상시킬 수 있게 된다.Therefore, according to the embodiment, since the bonding force between the reflective layer 1160 and the second conductivity-type semiconductor layer 1113 can be stably provided, the reflective layer 1160 is prevented from being separated from the translucent electrode layer 1130. You will be able to do it. In addition, since the bonding strength between the reflective layer 1160 and the second conductivity type semiconductor layer 1113 can be stably provided, the reliability of the light emitting device 1000 can be improved.

한편, 이상에서 설명된 바와 같이, 상기 투광성 전극층(1130)에 복수의 컨택홀(C1, C2, C3)이 제공될 수 있다. 상기 활성층(1112)으로부터 발광된 빛은 상기 투광성 전극층(1130)에 제공된 복수의 컨택홀(C1, C2, C3)을 통해 상기 반사층(1160)에 입사되어 반사될 수 있게 된다. 이에 따라, 상기 활성층(1112)에서 생성된 빛이 상기 투광성 전극층(1130)에 입사되어 손실되는 것을 감소시킬 수 있게 되며 광 추출 효율이 향상될 수 있게 된다. 이에 따라, 실시 예에 따른 발광소자(1000)에 의하면 광도가 향상될 수 있게 된다.Meanwhile, as described above, a plurality of contact holes C1 , C2 , and C3 may be provided in the light-transmissive electrode layer 1130 . Light emitted from the active layer 1112 is incident on the reflective layer 1160 through the plurality of contact holes C1 , C2 , and C3 provided in the light-transmissive electrode layer 1130 and can be reflected. Accordingly, loss of light generated in the active layer 1112 incident to the translucent electrode layer 1130 can be reduced and light extraction efficiency can be improved. Accordingly, according to the light emitting device 1000 according to the embodiment, the luminous intensity can be improved.

발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 발광소자는 발광 구조물이 단일 개 또는 하나의 발광 셀을 갖는 구조로 설명되었다. 이는 발광 셀이 상기의 발광 구조물을 포함하는 경우, 발광소자의 구동 전압은 하나의 발광 셀에 걸리는 전압일 수 있다. 실시 예에 개시된 발광소자의 예로서, 하나의 패키지 내에 2개 또는 3개 이상의 발광 셀을 갖는 발광소자를 포함할 수 있다. 이에 따라 고전압의 발광소자 패키지를 제공할 수 있다. 이러한 고전압의 발광소자 패키지는 전압 조절이 가능하여, 디밍 효과를 줄 수 있다.The light emitting device of the light emitting device package according to the embodiment of the present invention has been described as a structure in which the light emitting structure has a single light emitting structure or a single light emitting cell. When the light emitting cell includes the above light emitting structure, the driving voltage of the light emitting device may be the voltage applied to one light emitting cell. As an example of the light emitting device disclosed in the embodiment, a light emitting device having two or three or more light emitting cells in one package may be included. Accordingly, a high voltage light emitting device package can be provided. Such a high-voltage light-emitting device package can be voltage-controlled, and thus can give a dimming effect.

한편, 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 하나 또는 복수개가 회로 기판에 배치되어 광원 장치에 적용될 수 있다. 또한, 광원 장치는 산업 분야에 따라 표시 장치, 조명 장치, 헤드 램프 등을 포함할 수 있다. Meanwhile, one or a plurality of light emitting device packages according to an embodiment of the present invention may be disposed on a circuit board and applied to a light source device. In addition, the light source device may include a display device, a lighting device, a head lamp, and the like according to industrial fields.

광원 장치의 예로, 표시 장치는 바텀 커버와, 바텀 커버 위에 배치되는 반사판과, 광을 방출하며 발광소자를 포함하는 발광 모듈과, 반사판의 전방에 배치되며 발광 모듈에서 발산되는 빛을 전방으로 안내하는 도광판과, 도광판의 전방에 배치되는 프리즘 시트들을 포함하는 광학 시트와, 광학 시트 전방에 배치되는 디스플레이 패널과, 디스플레이 패널과 연결되고 디스플레이 패널에 화상 신호를 공급하는 화상 신호 출력 회로와, 디스플레이 패널의 전방에 배치되는 컬러 필터를 포함할 수 있다. 여기서 바텀 커버, 반사판, 발광 모듈, 도광판, 및 광학 시트는 백라이트 유닛(Backlight Unit)을 이룰 수 있다. 또한, 표시 장치는 컬러 필터를 포함하지 않고, 적색(Red), 녹색(Gren), 청색(Blue) 광을 방출하는 발광소자가 각각 배치되는 구조를 이룰 수도 있다.As an example of the light source device, the display device includes a bottom cover, a reflector disposed on the bottom cover, a light emitting module including a light emitting element that emits light, and a light emitting module disposed in front of the reflector and guiding light emitted from the light emitting module forward. A light guide plate, an optical sheet including prism sheets disposed in front of the light guide plate, a display panel disposed in front of the optical sheet, an image signal output circuit connected to the display panel and supplying image signals to the display panel, A color filter disposed on the front side may be included. Here, the bottom cover, the reflector, the light emitting module, the light guide plate, and the optical sheet may form a backlight unit. In addition, the display device may have a structure in which light emitting elements emitting red, green, and blue light are respectively disposed without including a color filter.

광원 장치의 또 다른 예로, 헤드 램프는 기판 상에 배치되는 발광소자 패키지를 포함하는 발광 모듈, 발광 모듈로부터 조사되는 빛을 일정 방향, 예컨대, 전방으로 반사시키는 리플렉터(reflector), 리플렉터에 의하여 반사되는 빛을 전방으로 굴절시키는 렌즈, 및 리플렉터에 의하여 반사되어 렌즈로 향하는 빛의 일부분을 차단 또는 반사하여 설계자가 원하는 배광 패턴을 이루도록 하는 쉐이드(shade)를 포함할 수 있다.As another example of a light source device, a headlamp includes a light emitting module including a light emitting device package disposed on a substrate, a reflector for reflecting light emitted from the light emitting module in a predetermined direction, for example, forward, and a light reflected by the reflector. It may include a lens that refracts light forward, and a shade that blocks or reflects a part of the light reflected by the reflector and directed to the lens to achieve a light distribution pattern desired by a designer.

광원 장치의 다른 예인 조명 장치는 커버, 광원 모듈, 방열체, 전원 제공부, 내부 케이스, 소켓을 포함할 수 있다. 또한, 발명의 실시 예에 따른 광원 장치는 부재와 홀더 중 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈은 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 포함할 수 있다.A lighting device, which is another example of a light source device, may include a cover, a light source module, a radiator, a power supply unit, an inner case, and a socket. In addition, the light source device according to an embodiment of the present invention may further include any one or more of a member and a holder. The light source module may include a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.

이상에서 실시 예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 적어도 하나의 실시 예에 포함되며, 반드시 하나의 실시 예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시 예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시 예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시 예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 실시 예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, etc. described in the embodiments above are included in at least one embodiment, and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, the features, structures, effects, etc. illustrated in each embodiment can be combined or modified with respect to other embodiments by a person having ordinary knowledge in the field to which the embodiments belong. Therefore, contents related to these combinations and variations should be interpreted as being included in the scope of the embodiments.

이상에서 실시 예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 실시 예를 한정하는 것이 아니며, 실시 예가 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시 예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시 예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 특허청구범위에서 설정하는 실시 예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Although the above has been described centering on the embodiment, this is only an example and is not intended to limit the embodiment, and those skilled in the art to which the embodiment belongs may find various things not exemplified above to the extent that they do not deviate from the essential characteristics of the present embodiment. It will be appreciated that variations and applications of branches are possible. For example, each component specifically shown in the embodiment can be modified and implemented. And differences related to these modifications and applications should be interpreted as being included in the scope of the embodiments set forth in the appended claims.

Claims (14)

발광소자 패키지 제조방법에 있어서,
형광체를 포함하는 유리 재질의 파장 변환층의 제1영역 위에 접착층을 형성하는 단계;
상기 파장 변환층의 제2영역 위에 반사성 수지 재질의 몸체를 형성하는 단계;
상기 접착층 상에 발광소자를 부착하는 단계; 및
상기 몸체를 적어도 하나의 발광 소자를 갖는 패키지 크기로 다이싱하는 단계를 포함하며,
상기 발광소자는 상부에 제1 및 제2본딩부, 상기 제1 및 제2본딩부 아래에 발광 구조물, 및 상기 발광 구조물 아래에 상기 접착층에 접착된 기판을 포함하며,
상기 몸체는 상면과 하면이 관통되는 개구부를 가지며,
상기 발광소자는 상기 개구부에 배치되며,
상기 파장 변환층의 측면은 상기 몸체의 측면과 같은 수직 평면 상으로 형성되고,
상기 발광소자 패키지 제조방법은,
상기 파장 변환층의 상면에, 오목한 부분과 볼록한 부분이 교대로 배치되거나 또는 러프한 돌기들이 배치되는, 광 추출 구조를 형성하는 단계
를 더 포함하고,
상기 접착층은 상기 몸체와 상기 발광소자의 기판 측면 사이에 배치되며,
상기 접착층의 하단부는 상기 발광 구조물의 하단보다 상기 기판 하면에 더 인접하고,
상기 접착층의 외 측면은 경사진 면이거나 또는 각진 면이고,
상기 접착층의 외 측면이 경사진 면일 경우, 상기 접착층의 외 측면의 경사진 각도는 상기 기판의 측면을 기준으로 45도 이하인
발광소자 패키지 제조방법.
In the light emitting device package manufacturing method,
forming an adhesive layer on a first region of a wavelength conversion layer made of glass including a phosphor;
forming a body made of a reflective resin material on the second region of the wavelength conversion layer;
attaching a light emitting element on the adhesive layer; and
dicing the body to the size of a package having at least one light emitting element;
The light emitting element includes first and second bonding parts on top, a light emitting structure under the first and second bonding parts, and a substrate bonded to the adhesive layer under the light emitting structure,
The body has an opening through which upper and lower surfaces pass,
The light emitting element is disposed in the opening,
The side surface of the wavelength conversion layer is formed on the same vertical plane as the side surface of the body,
The light emitting device package manufacturing method,
Forming a light extraction structure on an upper surface of the wavelength conversion layer, in which concave and convex portions are alternately disposed or rough protrusions are disposed.
Including more,
The adhesive layer is disposed between the body and the substrate side of the light emitting device,
The lower end of the adhesive layer is more adjacent to the lower surface of the substrate than the lower end of the light emitting structure,
The outer side of the adhesive layer is an inclined surface or an angled surface,
When the outer side of the adhesive layer is an inclined surface, the inclined angle of the outer side of the adhesive layer is 45 degrees or less with respect to the side of the substrate.
A method for manufacturing a light emitting device package.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 하부에 제1 및 제2본딩부, 상기 제1 및 제2본딩부 상에 발광 구조물 및 기판을 포함하는 발광소자;
상기 발광소자의 둘레에 반사성 수지 재질의 몸체;
상기 발광소자와 상기 몸체 상에 파장 변환층; 및
상기 파장 변환층과 상기 발광 소자 사이, 및 상기 발광소자와 상기 몸체 사이에 접착된 접착층을 포함하고,
광 추출 구조는, 상기 파장 변환층의 상면에 형성되고, 러프한 돌기들이 배치되거나 또는 오목한 부분과 볼록한 부분이 교대로 배치되는 구조를 가지고,
상기 접착층은 상기 몸체와 상기 발광소자의 기판 측면 사이에 배치되며,
상기 접착층의 하단부는 상기 발광 구조물의 하단보다 상기 기판 하면에 더 인접하고,
상기 접착층의 외 측면은 경사진 면이거나 또는 각진 면이고,
상기 접착층의 외 측면이 경사진 면일 경우, 상기 접착층의 외 측면의 경사진 각도는 상기 기판의 측면을 기준으로 45도 이하인
발광소자 패키지.
A light emitting device including a light emitting structure and a substrate on the first and second bonding parts, the first and second bonding parts on the lower part;
a body made of a reflective resin material around the light emitting element;
a wavelength conversion layer on the light emitting element and the body; and
An adhesive layer bonded between the wavelength conversion layer and the light emitting element and between the light emitting element and the body,
The light extraction structure is formed on the upper surface of the wavelength conversion layer and has a structure in which rough protrusions are arranged or concave and convex parts are alternately arranged,
The adhesive layer is disposed between the body and the substrate side of the light emitting device,
The lower end of the adhesive layer is more adjacent to the lower surface of the substrate than the lower end of the light emitting structure,
The outer side of the adhesive layer is an inclined surface or an angled surface,
When the outer side of the adhesive layer is an inclined surface, the inclined angle of the outer side of the adhesive layer is 45 degrees or less with respect to the side of the substrate.
Light emitting device package.
삭제delete 제6항에 있어서,
상기 몸체의 하부는 상기 발광소자의 하면으로 연장되는 발광소자 패키지.
According to claim 6,
A light emitting device package wherein a lower portion of the body extends to a lower surface of the light emitting device.
삭제delete 제6항에 있어서,
상기 파장 변환층은 형광체를 갖는 유리 재질로 형성되는 발광소자 패키지.
According to claim 6,
The wavelength conversion layer is a light emitting device package formed of a glass material having a phosphor.
제6항에 있어서,
상기 발광소자의 제1 및 제2본딩부는 상기 몸체의 하부로부터 노출되는 발광소자 패키지.
According to claim 6,
The first and second bonding parts of the light emitting device are exposed from the lower portion of the body.
제6항에 있어서,
상기 접착층의 외곽, 및 상기 발광소자의 측면 사이의 거리는 200 마이크로 미터 이하인 발광소자 패키지.
According to claim 6,
The light emitting device package of claim 1 , wherein a distance between an outer portion of the adhesive layer and a side surface of the light emitting device is 200 micrometers or less.
복수의 프레임; 및
상기 복수의 프레임 상에 하부에 제1 및 제2본딩부가 배치된 하나 이상의 발광소자 패키지를 포함하며,
상기 발광소자 패키지는 제6항과 제8항 및 제10항 내지 제12항 중 어느 하나이며,
상기 복수의 프레임은 도전층을 갖고 상기 제1 및 제2본딩부에 대면하는 관통홀을 갖는 광원장치.
multiple frames; and
Including one or more light emitting device packages having first and second bonding parts disposed on lower portions of the plurality of frames,
The light emitting device package is any one of claims 6, 8, and 10 to 12,
The plurality of frames have a conductive layer and have through holes facing the first and second bonding parts.
제13항에 있어서,
상기 복수의 프레임 사이에 배치되는 지지 몸체
를 더 포함하고,
상기 지지 몸체는, 상기 지지 몸체의 상면에서 하면 방향으로 오목한 제1리세스를 포함하고,
상기 제1리세스의 적어도 일부는 상기 발광소자 아래에 배치되는 광원장치.
According to claim 13,
A support body disposed between the plurality of frames
Including more,
The support body includes a first recess concave in a direction from the upper surface of the support body to the lower surface,
At least a portion of the first recess is disposed under the light emitting element.
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