KR102466267B1 - Tape for electronic device packaging - Google Patents
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Abstract
접착제층이 부착된 금속층을 점착 테이프로부터 픽업할 때에, 픽업 장치에 의해, 픽업하고자 하는 접착제층이 부착된 금속층의 개편을 양호하게 인식할 수 있는 전자 디바이스 패키지용 테이프를 제공한다. 본 발명의 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)는 기재 필름(51)과 점착제층(52)을 갖는 점착 테이프(5)와, 점착제층(52)의 기재 필름(51)과 반대측에 적층하여 설치된 접착제층(4)과, 접착제층(4)의 점착제층(52)과 반대측에 적층하여 설치된 금속층(3)을 갖고, 금속층(3)은 10점 평균 조도에 의한 표면 조도 RzJIS가 5.0㎛ 미만인 것을 특징으로 한다.A tape for electronic device packaging capable of favorably recognizing the separation of the metal layer with an adhesive layer to be picked up by a pick-up device when picking up a metal layer with an adhesive layer from an adhesive tape. The tape 1 for electronic device packaging of the present invention is an adhesive tape 5 having a base film 51 and a pressure-sensitive adhesive layer 52, and an adhesive installed by laminating the pressure-sensitive adhesive layer 52 on the opposite side of the base film 51. It has a layer (4) and a metal layer (3) laminated on the opposite side of the adhesive layer (52) of the adhesive layer (4), and the metal layer (3) has a surface roughness RzJIS of less than 5.0 μm by 10-point average roughness. to be
Description
본 발명은 전자 디바이스 패키지용 테이프에 관한 것으로서, 특히, 금속층을 갖는 전자 디바이스 패키지용 테이프에 관한 것이다.The present invention relates to a tape for electronic device packaging, and more particularly, to a tape for electronic device packaging having a metal layer.
근년, 휴대 전화나 노트북 PC 등의 전자 기기는, 더한층 박형화·소형화가 요구되고 있다. 그래서, 전자 기기에 탑재하는 반도체 패키지 등의 전자 디바이스 패키지를 박형화·소형화하기 위해서, 전자 디바이스나 회로 기판의 전극수를 증가시키고, 또한 피치도 좁게 하고 있다. 이러한 전자 디바이스 패키지에는, 예를 들어, 플립 칩(FC; Flip Chip) 실장 패키지가 있다.BACKGROUND ART In recent years, further thinning and miniaturization of electronic devices such as mobile phones and notebook PCs have been demanded. Then, in order to reduce the thickness and size of electronic device packages such as semiconductor packages mounted on electronic equipment, the number of electrodes of electronic devices and circuit boards is increased, and pitches are also narrowed. Such an electronic device package includes, for example, a flip chip (FC) mounting package.
플립 칩 실장 패키지에 있어서는, 상술한 바와 같이, 전극의 수가 증가하거나 협소 피치화하거나 하고 있기 때문에, 발열량의 증가가 문제로 되어 있다. 그래서, 플립 칩 실장 패키지의 방열 구조로서, 전자 디바이스의 이면에 접착제층을 통하여 금속층을 형성하는 것이 제안되어 있다(예를 들어, 특허문헌 1 참조).As described above, in the flip chip mounting package, since the number of electrodes is increased or the pitch is narrowed, an increase in the amount of heat generated has become a problem. Then, as a heat dissipation structure of a flip-chip mounting package, it is proposed to form a metal layer on the back surface of an electronic device via an adhesive layer (see
또한, 플립 칩 실장 패키지에 있어서는, 전자 디바이스의 선팽창률과 회로 기판의 선팽창률이 크게 상이한 경우가 있다. 이 경우, 전자 디바이스 패키지의 제조 과정에 있어서, 중간 제품이 가열 및 냉각되었을 때에, 전자 디바이스와 회로 기판 사이에는 팽창량 및 수축량에 차가 발생하게 된다. 이 차에 의해, 전자 디바이스 패키지에는 휨이 발생하게 된다. 이러한 휨을 억제하는 구조로서도, 전자 디바이스의 이면에 접착제층을 통하여 금속층을 형성하는 것이 제안되어 있다(예를 들어, 특허문헌 2 참조).In addition, in a flip-chip mounting package, the linear expansion coefficient of an electronic device and the linear expansion coefficient of a circuit board may differ greatly. In this case, in the manufacturing process of the electronic device package, when the intermediate product is heated and cooled, a difference in expansion and contraction occurs between the electronic device and the circuit board. Due to this difference, warpage occurs in the electronic device package. Also as a structure for suppressing such warpage, forming a metal layer on the back surface of an electronic device via an adhesive layer has been proposed (see
또한, 플립 칩 실장 패키지에 있어서, 전자 디바이스의 이면에 접착제층을 통하여 금속층을 설치하고, 이 금속층을 레이저 마킹용의 보호층으로서 사용하는 것도 제안되어 있다(예를 들어, 특허문헌 3 참조).It is also proposed to provide a metal layer on the back surface of an electronic device via an adhesive layer in a flip chip packaging package, and to use this metal layer as a protective layer for laser marking (see
또한, 근년, 반도체 칩 상에 추가로 동일한 사이즈의 다른 반도체 칩을 적층하여, 삼차원 실장을 행하는 경우가 있다. 여기서, 반도체 칩 상에 동일한 사이즈의 다른 반도체 칩을 적층할 수 있도록 하기 위해서는, 양자 사이에 스페이서를 적층해 둘 필요가 있다. 반도체 칩에 있어서의 전극 패드 부분 상에도 다른 반도체 칩이 적층되어버리기 때문이다. 상기한 스페이서로서, 접착제층 부착 금속층을 사용하는 것이 제안되어 있다(예를 들어, 특허문헌 4 참조). 특허문헌 4에는, 스페이서는, 적어도 한쪽 면에 접착제층을 구비한 금속층을 갖는 스페이서용 접착 시트를, 접착제층을 접합면으로 하여 다이싱 시트에 접합하는 공정과, 스페이서용 접착 시트를 다이싱하여, 접착제층을 구비한 칩상의 스페이서를 형성하는 공정과, 스페이서를 핀에 의해 밀어 올리고, 밀어 올려진 스페이서를, 다이싱 시트로부터 접착제층과 함께 반도체 칩을 박리할 때에 사용하는 픽업 장치에 의해, 접착제층과 함께 다이싱 시트로부터 박리하는 공정과, 접착제층을 통하여 스페이서를 피착체에 고정하는 공정에 의해 설치되는 것이 기재되어 있다.Moreover, in recent years, another semiconductor chip of the same size may be further stacked on a semiconductor chip to perform three-dimensional mounting. Here, in order to be able to stack another semiconductor chip of the same size on a semiconductor chip, it is necessary to stack spacers between them. This is because other semiconductor chips are also laminated on the electrode pad portion of the semiconductor chip. As the spacer described above, it has been proposed to use a metal layer with an adhesive layer (see
상술한 바와 같이, 접착제층이 부착된 금속층은, 여러가지 전자 디바이스 패키지에 유용한데, 생산성의 관점에서, 특허문헌 4에 개시되어 있는 바와 같이, 기존의 장치를 사용하여 픽업이나 피착체에의 고정을 행할 것이 요구된다.As described above, the metal layer with an adhesive layer is useful for various electronic device packages, but from the viewpoint of productivity, as disclosed in
기존의 픽업 장치에서는, 반도체 칩을 콜릿으로 진공 흡착하여 픽업을 행한다. 이때, 확실하게 반도체 칩을 픽업할 필요가 있기 때문에, 반도체 칩의 위치를 인식하여 반도체 칩의 어긋남을 검출하여 콜릿의 위치를 보정하여, 반도체 칩을 픽업하는 것이 행하여지고 있다.In an existing pick-up device, pick-up is performed by vacuum adsorbing a semiconductor chip with a collet. At this time, since it is necessary to pick up the semiconductor chip reliably, the position of the semiconductor chip is recognized, the displacement of the semiconductor chip is detected, the position of the collet is corrected, and the semiconductor chip is picked up.
반도체 칩의 인식 방법으로서는, 주로 패턴 인식이 사용되고 있다. 패턴 인식을 사용한 방법은, 반도체 칩의 회로, 얼라인먼트 마크 또는 칩 외형 등을 미리 템플릿으로서 등록해 두고, 이 템플릿과 촬상 장치에 의해 촬상된 반도체 칩의 화상을 매칭하여 반도체 칩의 위치를 인식한다는 것이다. 베어 칩과 같이, 회로나 얼라인먼트 마크가 형성되어 있지 않는 경우에는, 칩 외형과 균일한 칩면을 포함하는 템플릿이 등록된다.As a method for recognizing semiconductor chips, pattern recognition is mainly used. A method using pattern recognition is that a circuit, alignment mark, or chip outline of a semiconductor chip is registered in advance as a template, and the position of the semiconductor chip is recognized by matching the template with an image of the semiconductor chip captured by an imaging device. . When a circuit or alignment mark is not formed, such as a bare chip, a template including a chip outline and a uniform chip surface is registered.
이러한 기존의 픽업 장치를 사용하여, 접착제층이 부착된 금속층을 점착 테이프로부터 픽업하고자 한 경우, 금속층에는 회로가 존재하지 않기 때문에, 베어 칩과 마찬가지로 금속층 외형과 균일한 금속층면을 포함하는 템플릿을 사용하게 된다. 그러나, 금속층의 표면 조도가 큰 경우, 촬상 장치가 표면의 요철을 검출해버려, 촬상된 금속층 표면이 템플릿과 상이하다고 판단되는 결과, 금속층 개편을 인식할 수 없다는 문제가 있었다.When trying to pick up a metal layer to which an adhesive layer is attached from an adhesive tape using such an existing pick-up device, since no circuit exists in the metal layer, a template having the outer shape of the metal layer and a uniform surface of the metal layer is used as in the case of a bare chip. will do However, when the surface roughness of the metal layer is large, the image pickup device detects irregularities on the surface, and as a result of determining that the imaged metal layer surface is different from the template, there is a problem that the metal layer separation cannot be recognized.
그래서, 본원 발명은, 접착제층이 부착된 금속층을 점착 테이프로부터 픽업할 때에, 픽업 장치에 의해, 픽업하고자 하는 접착제층이 부착된 금속층의 개편을 양호하게 인식할 수 있는 전자 디바이스 패키지용 테이프를 제공하는 것을 목적으로 한다.Then, the present invention provides a tape for electronic device packaging capable of favorably recognizing the separation of the metal layer with an adhesive layer to be picked up by a pick-up device when picking up a metal layer with an adhesive layer from an adhesive tape. aims to do
이상의 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 기재 필름과 점착제층을 갖는 점착 테이프와, 상기 점착제층의 상기 기재 필름과 반대측에 적층하여 설치된 접착제층과, 상기 접착제층의 상기 점착제층과 반대측에 적층하여 설치된 금속층을 갖고, 상기 금속층은, 접착제층과 반대측의 면의 10점 평균 조도에 의한 표면 조도 RzJIS가 5.0㎛ 미만인 것을 특징으로 한다.In order to solve the above problems, a tape for electronic device packaging according to the present invention is an adhesive tape having a base film and an adhesive layer, an adhesive layer laminated on the side opposite to the base film of the pressure-sensitive adhesive layer, and the adhesive layer. It has a metal layer laminated and provided on the side opposite to the pressure-sensitive adhesive layer, and the metal layer has a surface roughness RzJIS of less than 5.0 μm by 10-point average roughness on a surface on the opposite side to the adhesive layer.
상기 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 상기 금속층의 입사각 60도에 있어서의 경면 광택도가 100% 미만인 것이 바람직하다.The tape for electronic device packaging preferably has a specular gloss of less than 100% at an incident angle of 60 degrees on the metal layer.
상기 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 금속층의 두께가 5㎛ 이상 200㎛ 미만인 것이 바람직하다.It is preferable that the thickness of the metal layer of the said tape for electronic device packaging is 5 micrometers or more and less than 200 micrometers.
상기 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 상기 점착 테이프로부터 상기 접착제층 및 상기 금속층이 픽업되는 상태에 있어서의 상기 점착 테이프와 상기 접착제층의 점착력이 0.03 내지 0.5N/25mm인 것이 바람직하다.It is preferable that the adhesive force of the adhesive tape and the adhesive layer in the state in which the adhesive layer and the metal layer are picked up from the adhesive tape of the electronic device packaging tape is 0.03 to 0.5 N/25 mm.
상기 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 상기 금속층이 구리 또는 알루미늄을 포함하는 것이 바람직하다.In the tape for electronic device packaging, it is preferable that the metal layer contains copper or aluminum.
또한, 상기 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 상기 접착제층이, (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 아크릴 수지 또는 페녹시 수지, 및 (D) 표면 처리된 무기 충전재를 함유하는 것이 바람직하다.Further, in the tape for electronic device packaging, the adhesive layer preferably contains (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) an acrylic resin or a phenoxy resin, and (D) a surface-treated inorganic filler. do.
또한, 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 상기 점착제층이, CH2=CHCOOR(식 중, R은 탄소수가 4 내지 18인 알킬기이다.)로 표시되는 아크릴산에스테르와, 히드록실기 함유 모노머와, 분자 내에 라디칼 반응성 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 이소시아네이트 화합물을 포함하여 구성되는 아크릴계 폴리머를 함유하는 것이 바람직하다.Further, in the tape for electronic device packaging, the pressure-sensitive adhesive layer contains an acrylic acid ester represented by CH 2 =CHCOOR (wherein R is an alkyl group having 4 to 18 carbon atoms), a hydroxyl group-containing monomer, and in a molecule It is preferable to contain an acrylic polymer composed of an isocyanate compound having a radical reactive carbon-carbon double bond.
본 발명에 따르면, 접착제층이 부착된 금속층을 점착 테이프로부터 픽업할 때에, 픽업 장치에 의해, 픽업하고자 하는 접착제층이 부착된 금속층의 개편을 양호하게 인식할 수 있다.According to the present invention, when the metal layer with an adhesive layer is picked up from the adhesive tape, the separation of the metal layer with an adhesive layer to be picked up can be favorably recognized by the pick-up device.
도 1은 본 발명의 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프의 구조를 모식적으로 도시하는 단면도이다.
도 2의 (a)는 본 발명의 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프의 구조를 모식적으로 도시하는 평면도이며, (b)는 동 단면도이다.
도 3은 본 발명의 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프의 구조를 모식적으로 도시하는 사시도이다.
도 4는 본 발명의 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프의 제조 방법을 모식적으로 도시하는 설명도이며, (A)는 금속층의 접합 공정을 도시하는 긴 변 방향 단면도이며, (B)는 접착제층의 접합 공정을 도시하는 긴 변 방향 단면도이며, (C)는 프리컷 공정을 도시하는 짧은 변 방향 단면도이며, (D)는 불필요 부분의 제거 공정을 도시하는 사시도이다.
도 5는 본 발명의 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프의 제조 방법을 모식적으로 도시하는 설명도이며, (A)는 점착 테이프의 접합 공정을 도시하는 짧은 변 방향 단면도이며, (B)는 프리컷 공정을 도시하는 짧은 변 방향 단면도이며, (C)는 불필요 부분의 제거 공정을 도시하는 짧은 변 방향 단면도이다.
도 6은 본 발명의 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프의 사용 방법을 모식적으로 설명하는 단면도이다.
도 7은 본 발명의 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프의 사용 방법을 모식적으로 설명하는 단면도이다.
도 8은 본 발명의 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프를 사용한 전자 디바이스 패키지의 구조를 모식적으로 도시하는 단면도이다.1 is a cross-sectional view schematically showing the structure of a tape for an electronic device package according to an embodiment of the present invention.
Fig. 2 (a) is a plan view schematically showing the structure of a tape for an electronic device package according to an embodiment of the present invention, and (b) is a cross-sectional view thereof.
3 is a perspective view schematically showing the structure of a tape for electronic device packaging according to an embodiment of the present invention.
4 is an explanatory view schematically showing a manufacturing method of a tape for an electronic device package according to an embodiment of the present invention, (A) is a longitudinal cross-sectional view showing a bonding step of a metal layer, and (B) is an adhesive It is a longitudinal cross-sectional view showing a layer bonding process, (C) is a short-side cross-sectional view showing a precut process, and (D) is a perspective view showing an unnecessary portion removal process.
5 is an explanatory view schematically showing a manufacturing method of a tape for an electronic device package according to an embodiment of the present invention, (A) is a cross-sectional view in a short side direction showing a bonding step of an adhesive tape, and (B) is It is a short side cross-sectional view showing a precut process, and (C) is a short side direction cross-sectional view showing the removal process of an unnecessary part.
6 is a cross-sectional view schematically illustrating a method of using the tape for electronic device packaging according to the embodiment of the present invention.
7 is a cross-sectional view schematically illustrating a method of using a tape for electronic device packaging according to an embodiment of the present invention.
8 is a cross-sectional view schematically showing the structure of an electronic device package using a tape for an electronic device package according to an embodiment of the present invention.
이하에, 본 발명의 실시 형태에 대하여 상세하게 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Below, embodiment of this invention is described in detail.
도 1은, 본 발명의 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)를 도시하는 단면도이다. 이 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)는 기재 필름(51)과 기재 필름(51) 상에 설치된 점착제층(52)을 포함하는 점착 테이프(5)를 갖고 있으며, 점착제층(52) 상에는, 접착제층(4)과, 접착제층(4)에 적층하여 설치된 금속층(3)이 설치되어 있다. 금속층(3)은 접착제층(4)의 밀착성을 좋게 하기 위한 프라이머층 등을 개재하여 간접적으로 접착제층(4) 상에 설치되어 있어도 된다.1 is a cross-sectional view showing a
본 발명의 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)는 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 점착 테이프(5)가 링 프레임(R)(도 7 참조)에 대응하는 형상으로 절단되어 있고, 금속층(3) 및 접착제층(4)도 이것에 대응하여 소정 형상으로 절단(프리컷 가공)되어 있는 것이 바람직하고, 본 실시 형태에 있어서는 프리컷 가공이 이루어져 있다.As shown in FIGS. 2 and 3, in the
본 발명의 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)는 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 금속층(3), 접착제층(4), 링 프레임(R)에 대응하는 형상으로 절단된 점착 테이프(5)(라벨부(5a))가 적층된 적층체가 복수 형성된 긴 기재 테이프(2)를 롤형으로 권취한 형태인 것이 바람직하고, 본 실시 형태에 있어서는 롤형으로 권취되어 있지만, 기재 테이프(2)에 설치된 적층체가 하나씩 절단된 형태여도 된다.As shown in FIGS. 2 and 3, the
프리컷 가공되어 롤형으로 권취되어 있는 경우, 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)는 기재 테이프(2)를 갖고 있으며, 기재 테이프(2) 상에는, 소정의 평면 형상을 갖는 금속층(3)과, 금속층(3)의 기재 테이프(2)측과는 반대측에 금속층(3)과 적층하여 설치되고, 소정의 평면 형상을 갖는 접착제층(4)과, 접착제층(4)을 덮고, 또한, 접착제층(4)의 주위에서 기재 테이프(2)에 접촉하도록 설치된 소정의 평면 형상의 라벨부(5a)와 그 라벨부(5a)의 외측을 둘러싸는 주변부(5b)를 갖는 점착 테이프(5)가 설치되어 있다.When pre-cut and wound into a roll shape, as shown in Figs. 2 and 3, the electronic
라벨부(5a)는 다이싱용의 링 프레임(R)에 대응하는 형상을 갖는다. 다이싱용의 링 프레임(R)의 형상에 대응하는 형상은, 링 프레임(R)의 내측과 대략 동일한 형상이며 링 프레임(R) 내측의 크기보다 큰 상사형인 것이 바람직하다. 또한, 반드시 원형은 아니어도 되지만, 원형에 가까운 형상이 바람직하고, 원형인 것이 더욱 바람직하다. 주변부(5b)는 라벨부(5a)의 외측을 완전히 둘러싸는 형태와, 도시한 바와 같이 완전히는 둘러싸지 않는 형태를 포함한다. 또한, 주변부(5b)는 설치되어 있지 않아도 되지만, 설치되어 있다면 롤형으로 권취한 형태에 있어서, 라벨부(5a)에 관한 감기의 장력을 분산할 수 있다.The
접착제층(4)은 소정의 평면 형상을 갖고 있으며, 이 평면 형상은, 점착 테이프(5)의 라벨부(5a)의 주연부에 링 프레임(R)을 접합하고, 픽업 장치의 밀어 올림 부재로 밀어 올림 가능하도록(도 7의 (C) 참조) 라벨부(5a)보다도 작은 형상으로 되어 있다. 접착제층(4)은 라벨부(5a)와 대략 동일한 형상이며 라벨부(5a)의 크기보다 작은 상사형인 것이 바람직하다. 접착제층(4)은 반드시 원형은 아니어도 되지만, 원형에 가까운 형상이 바람직하고, 원형인 것이 더욱 바람직하다.The
금속층(3)은 접착제층(4)과는 동일한 형상으로 되어 있고, 금속층(3)에 접착제층(4)이 적층되어 있다. 여기에서 말하는 적층은, 주요 부분이 적층되어 있으면 되고, 금속층(3)과 접착제층(4)이 반드시 동일한 크기일 필요는 없지만, 제조의 편리성으로부터, 대략 동일한 형상인 것이 바람직하다. 이하에, 각 구성 요소에 대하여 설명한다.The
<기재 테이프(2)><Base tape (2)>
기재 테이프(2)는 공지된 세퍼레이터로 구성할 수도 있지만, 전자 디바이스 패키지용 테이프의 프리컷 가공에 사용하는 기재 테이프를 그대로 사용할 수도 있다. 전자 디바이스 패키지용 테이프의 프리컷 가공에 사용하는 기재 테이프를 그대로 사용하는 경우, 기재 테이프(2)는 프리컷 가공 시에 금속층(3)을 점착 보유 지지할 필요가 있기 때문에, 예를 들어, 수지 필름과 수지 필름의 편면에 설치된 기재 테이프용 점착제층을 갖는 테이프를 적합하게 사용할 수 있다.Although the
기재 테이프(2)를 구성하는 수지 필름의 소재에는, 공지된 재료를 사용할 수 있는데, 예시한다면, 폴리에스테르(PET, PBT, PEN, PBN, PTT)계, 폴리올레핀(PP, PE)계, 공중합체(EVA, EEA, EBA)계, 또한 이들 재료를 일부 치환하고, 또한 접착성이나 기계적 강도를 향상시킨 필름을 들 수 있다. 또한, 이들 필름의 적층체여도 된다. 내열성, 평활성, 및 입수하기 쉬움의 관점에서, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리프로필렌, 및 폴리에틸렌 중에서 선택되는 것이 바람직하다.Known materials can be used for the material of the resin film constituting the
기재 테이프(2)를 구성하는 수지 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니며, 적절하게 설정해도 되지만, 10 내지 150㎛인 것이 바람직하다.The thickness of the resin film constituting the
기재 테이프용 점착제층에 사용되는 수지로서는, 점착제에 사용되는 공지된 염소화폴리프로필렌 수지, 아크릴 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지, 에폭시 수지 등을 사용할 수 있는데, 아크릴계 폴리머를 베이스 폴리머로 하는 아크릴계 점착제가 바람직하다.As the resin used in the pressure-sensitive adhesive layer for base tape, known chlorinated polypropylene resins, acrylic resins, polyester resins, polyurethane resins, epoxy resins, etc. used for pressure-sensitive adhesives can be used. is preferable
아크릴계 폴리머로서는, 예를 들어, (메트)아크릴산알킬에스테르(예를 들어, 메틸에스테르, 에틸에스테르, 프로필에스테르, 이소프로필에스테르, 부틸에스테르, 이소부틸에스테르, s-부틸에스테르, t-부틸에스테르, 펜틸에스테르, 이소펜틸에스테르, 헥실에스테르, 헵틸에스테르, 옥틸에스테르, 2-에틸헥실에스테르, 이소옥틸에스테르, 노닐에스테르, 데실에스테르, 이소데실에스테르, 운데실에스테르, 도데실에스테르, 트리데실에스테르, 테트라데실에스테르, 헥사데실에스테르, 옥타데실에스테르, 에이코실에스테르 등의 알킬기의 탄소수 1 내지 30, 특히 탄소수 4 내지 18의 직쇄상 또는 분지쇄상의 알킬에스테르 등) 및 (메트)아크릴산시클로알킬에스테르(예를 들어, 시클로펜틸에스테르, 시클로헥실에스테르 등)의 1종 또는 2종 이상을 단량체 성분으로서 사용한 아크릴계 폴리머 등을 들 수 있다. 또한, (메트)아크릴산에스테르란 아크릴산에스테르 및/또는 메타크릴산에스테르를 말하며, 본 발명의 (메트)란 모두 동일한 의미이다.Examples of the acrylic polymer include (meth)acrylic acid alkyl esters (eg, methyl ester, ethyl ester, propyl ester, isopropyl ester, butyl ester, isobutyl ester, s-butyl ester, t-butyl ester, pentyl Esters, isopentyl esters, hexyl esters, heptyl esters, octyl esters, 2-ethylhexyl esters, isooctyl esters, nonyl esters, decyl esters, isodecyl esters, undecyl esters, dodecyl esters, tridecyl esters, tetradecyl esters , hexadecyl esters, octadecyl esters, eicosyl esters, etc. having 1 to 30 carbon atoms, particularly linear or branched chain alkyl esters having 4 to 18 carbon atoms, etc.) and (meth)acrylic acid cycloalkyl esters (for example, cyclopentyl ester, cyclohexyl ester, etc.), acrylic polymers using one or two or more of them as monomer components; and the like. Incidentally, (meth)acrylic acid ester refers to acrylic acid ester and/or methacrylic acid ester, and (meth) in the present invention has the same meaning.
아크릴계 폴리머는, 응집력, 내열성 등의 개질을 목적으로 하고, 필요에 따라, 상기 (메트)아크릴산알킬에스테르 또는 시클로알킬에스테르와 공중합 가능한 다른 모노머 성분에 대응하는 단위를 포함하고 있어도 된다. 이와 같은 모노머 성분으로서, 예를 들어, 아크릴산, 메타크릴산, 카르복시에틸(메트)아크릴레이트, 카르복시펜틸(메트)아크릴레이트, 이타콘산, 말레산, 푸마르산, 크로톤산 등의 카르복실기 함유 모노머; 무수 말레산, 무수 이타콘산 등의 산 무수물 모노머; (메트)아크릴산2-히드록시에틸, (메트)아크릴산2-히드록시프로필, (메트)아크릴산4-히드록시부틸, (메트)아크릴산6-히드록시헥실, (메트)아크릴산8-히드록시옥틸, (메트)아크릴산10-히드록시데실, (메트)아크릴산12-히드록시라우릴, (4-히드록시메틸시클로헥실)메틸(메트)아크릴레이트 등의 히드록실기 함유 모노머; 스티렌술폰산, 알릴술폰산, 2-(메트)아크릴아미드-2-메틸프로판술폰산, (메트)아크릴아미도프로판술폰산, 술포프로필(메트)아크릴레이트, (메트)아크릴로일옥시나프탈렌술폰산 등의 술폰산기 함유 모노머; 2-히드록시에틸아크릴로일포스페이트 등의 인산기 함유 모노머; 아크릴아미드, 아크릴로니트릴 등을 들 수 있다. 이들 공중합 가능한 모노머 성분은, 1종 또는 2종 이상 사용할 수 있다. 이들 공중합 가능한 모노머의 사용량은, 전체 단량체 성분의 40중량% 이하가 바람직하다.The acrylic polymer may contain units corresponding to other monomer components copolymerizable with the above-mentioned (meth)acrylic acid alkyl ester or cycloalkyl ester for the purpose of modification such as cohesive force and heat resistance, as necessary. Examples of such a monomer component include carboxyl group-containing monomers such as acrylic acid, methacrylic acid, carboxyethyl (meth)acrylate, carboxypentyl (meth)acrylate, itaconic acid, maleic acid, fumaric acid, and crotonic acid; acid anhydride monomers such as maleic anhydride and itaconic anhydride; (meth)acrylate 2-hydroxyethyl, (meth)acrylate 2-hydroxypropyl, (meth)acrylate 4-hydroxybutyl, (meth)acrylate 6-hydroxyhexyl, (meth)acrylate 8-hydroxyoctyl, hydroxyl group-containing monomers such as 10-hydroxydecyl (meth)acrylate, 12-hydroxylauryl (meth)acrylate, and (4-hydroxymethylcyclohexyl)methyl (meth)acrylate; Sulfonic acid groups such as styrenesulfonic acid, allylsulfonic acid, 2-(meth)acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid, (meth)acrylamidopropanesulfonic acid, sulfopropyl(meth)acrylate, and (meth)acryloyloxynaphthalenesulfonic acid containing monomers; phosphoric acid group-containing monomers such as 2-hydroxyethyl acryloyl phosphate; Acrylamide, acrylonitrile, etc. are mentioned. These copolymerizable monomer components can be used singly or in combination of two or more. As for the usage-amount of these copolymerizable monomers, 40 weight% or less of all monomer components is preferable.
또한, 아크릴계 폴리머는, 가교되기 때문에, 다관능성 모노머 등도 필요에 따라서 공중합용 모노머 성분으로서 포함할 수 있다. 이와 같은 다관능성 모노머로서, 예를 들어, 헥산디올디(메트)아크릴레이트, (폴리)에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, (폴리)프로필렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨디(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 에폭시(메트)아크릴레이트, 폴리에스테르(메트)아크릴레이트, 우레탄(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들 다관능성 모노머도 1종 또는 2종 이상 사용할 수 있다. 다관능성 모노머의 사용량은, 점착 특성 등의 점에서, 전체 단량체 성분의 30중량% 이하가 바람직하다.In addition, since the acrylic polymer is crosslinked, a polyfunctional monomer or the like can also be included as a monomer component for copolymerization as needed. As such a polyfunctional monomer, for example, hexanediol di(meth)acrylate, (poly)ethylene glycol di(meth)acrylate, (poly)propylene glycol di(meth)acrylate, neopentyl glycol di(meth)acrylate, )Acrylate, pentaerythritol di(meth)acrylate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol tri(meth)acrylate, dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, epoxy(meth)acrylate rate, polyester (meth)acrylate, urethane (meth)acrylate, and the like. These polyfunctional monomers can also be used singly or in combination of two or more. The amount of the polyfunctional monomer used is preferably 30% by weight or less of all monomer components in terms of adhesive properties and the like.
아크릴계 폴리머의 조제는 예를 들어 1종 또는 2종 이상의 성분 모노머의 혼합물에 용액 중합 방식이나 유화 중합 방식, 괴상 중합 방식이나 현탁 중합 방식 등의 적절한 방식을 적용하여 행할 수 있다. 기재 테이프용 점착제층은, 웨이퍼의 오염 방지 등의 점에서 저분자량 물질의 함유를 억제한 조성이 바람직하고, 이러한 점에서 중량 평균 분자량이 30만 이상, 특히 40만 내지 300만인 아크릴계 폴리머를 주성분으로 하는 것이 바람직한 것으로부터 점착제는, 내부 가교 방식이나 외부 가교 방식 등에 의한 적절한 가교 타입으로 할 수도 있다.The preparation of the acrylic polymer can be performed by, for example, applying an appropriate method such as solution polymerization method, emulsion polymerization method, bulk polymerization method or suspension polymerization method to a mixture of one type or two or more types of component monomers. The pressure-sensitive adhesive layer for base tape is preferably a composition in which the content of low-molecular-weight substances is suppressed from the viewpoint of preventing contamination of wafers, etc., and from this point, an acrylic polymer having a weight average molecular weight of 300,000 or more, particularly 400,000 to 3,000,000 as the main component Since it is preferable to do so, the pressure-sensitive adhesive may be of an appropriate crosslinking type such as an internal crosslinking method or an external crosslinking method.
또한, 기재 테이프용 점착제층의 가교 밀도를 제어하여 점착 테이프(5)와의 박리성을 향상시키기 위해서, 예를 들어 다관능 이소시아네이트계 화합물, 다관능 에폭시계 화합물, 멜라민계 화합물, 금속염계 화합물, 금속 킬레이트계 화합물, 아미노 수지계 화합물, 또는 과산화물 등의 적절한 외부 가교제를 사용하여 가교 처리하는 방식이나, 탄소-탄소 이중 결합을 2개 이상 갖는 저분자 화합물을 혼합하여 에너지선의 조사 등에 의해 가교 처리하는 방식 등의 적절한 방식을 채용할 수 있다. 외부 가교제를 사용하는 경우, 그 사용량은, 가교해야 할 베이스 폴리머와의 밸런스에 따라, 나아가, 점착제로서의 사용 용도에 따라 적절히 결정된다. 일반적으로는, 상기 베이스 폴리머 100중량부에 대하여 20중량부 정도 이하, 나아가 0.1중량부 내지 20중량부 배합하는 것이 바람직하다.In addition, in order to control the crosslinking density of the pressure-sensitive adhesive layer for base tape and improve the peelability with the pressure-sensitive
기재 테이프용 점착제층의 두께는, 특별히 제한되지 않고 적절하게 결정할 수 있지만, 일반적으로는 3 내지 200㎛ 정도이다. 또한, 기재 테이프용 점착제층은 단층으로 구성되어도 되고, 복수층으로 구성되어 있어도 된다.The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer for base tape is not particularly limited and can be determined appropriately, but is generally about 3 to 200 µm. In addition, the adhesive layer for base material tapes may be comprised from a single layer, and may be comprised from multiple layers.
<점착 테이프(5)><Adhesive tape (5)>
점착 테이프(5)로서는, 특별히 제한은 없고, 종래의 다이싱 테이프를 사용할 수 있다. 점착 테이프(5)로서, 예를 들어, 기재 필름(51)에 점착제층(52)을 설치한 것을 적합하게 사용할 수 있다.As the
기재 필름(51)으로서는, 종래 공지의 것이기만 하면 특별히 제한하지 않고 사용할 수 있지만, 후술하는 점착제층(52)으로서 방사선 경화성의 재료를 사용하는 경우에는, 방사선 투과성을 갖는 것을 사용하는 것이 바람직하다.The
예를 들어, 그 재료로서, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 에틸렌-프로필렌 공중합체, 폴리부텐-1, 폴리-4-메틸펜텐-1, 에틸렌-아세트산비닐 공중합체, 에틸렌-아크릴산에틸 공중합체, 에틸렌-아크릴산메틸 공중합체, 에틸렌-아크릴산 공중합체, 아이오노머 등의 α-올레핀의 단독중합체 또는 공중합체 또는 이들의 혼합물, 폴리우레탄, 스티렌-에틸렌-부텐 또는 펜텐계 공중합체, 폴리아미드-폴리올 공중합체 등의 열가소성 엘라스토머, 및 이들의 혼합물을 열거할 수 있다. 또한, 기재 필름은 이들의 군에서 선택되는 2종 이상의 재료가 혼합된 것이어도 되고, 이들이 단층 또는 복층화된 것이어도 된다.For example, as the material, polyethylene, polypropylene, ethylene-propylene copolymer, polybutene-1, poly-4-methylpentene-1, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-ethyl acrylate copolymer, ethylene-acrylic acid Homopolymers or copolymers of α-olefins such as methyl copolymers, ethylene-acrylic acid copolymers, and ionomers, or mixtures thereof, polyurethanes, styrene-ethylene-butene or pentene copolymers, polyamide-polyol copolymers, etc. thermoplastic elastomers, and mixtures thereof. In addition, the base film may be a mixture of two or more materials selected from these groups, or may be a single layer or a multi-layered one.
기재 필름(51)의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니며, 적절하게 설정해도 되지만, 픽업할 때의 익스팬드 공정을 고려하면 50 내지 200㎛인 것이 바람직하다.The thickness of the
기재 필름(51)과 점착제층(52)의 밀착성을 향상시키기 위해서, 기재 필름(51)의 표면에, 크롬산 처리, 오존 폭로, 화염 폭로, 고압 전격 폭로, 이온화 방사선 처리 등의 화학적 또는 물리적 표면 처리를 실시해도 된다.In order to improve adhesion between the
또한, 본 실시 형태에 있어서는, 기재 필름(51) 상에 직접적으로 점착제층(52)을 설치했지만, 밀착성을 높이기 위한 프라이머층이나, 다이싱 시의 절삭성 향상을 위한 앵커층, 응력 완화층, 정전 방지층 등을 통하여 간접적으로 설치해도 된다.In this embodiment, although the pressure-
점착 테이프(5)의 점착제층(52)에 사용되는 수지로서는, 특별히 한정되는 것은 아니며, 점착제에 사용되는 공지된 염소화폴리프로필렌 수지, 아크릴 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지, 에폭시 수지 등을 사용할 수 있는데, 아크릴계 폴리머를 베이스 폴리머로 하는 아크릴계 점착제가 바람직하다.The resin used for the pressure-
아크릴계 폴리머로서는, 예를 들어, (메트)아크릴산알킬에스테르(예를 들어, 메틸에스테르, 에틸에스테르, 프로필에스테르, 이소프로필에스테르, 부틸에스테르, 이소부틸에스테르, s-부틸에스테르, t-부틸에스테르, 펜틸에스테르, 이소펜틸에스테르, 헥실에스테르, 헵틸에스테르, 옥틸에스테르, 2-에틸헥실에스테르, 이소옥틸에스테르, 노닐에스테르, 데실에스테르, 이소데실에스테르, 운데실에스테르, 도데실에스테르, 트리데실에스테르, 테트라데실에스테르, 헥사데실에스테르, 옥타데실에스테르, 에이코실에스테르 등의 알킬기의 탄소수 1 내지 30, 특히 탄소수 4 내지 18의 직쇄상 또는 분지쇄상의 알킬에스테르 등) 및 (메트)아크릴산시클로알킬에스테르(예를 들어, 시클로펜틸에스테르, 시클로헥실에스테르 등)의 1종 또는 2종 이상을 단량체 성분으로서 사용한 아크릴계 폴리머 등을 들 수 있다. 또한, (메트)아크릴산에스테르란 아크릴산에스테르 및/또는 메타크릴산에스테르를 말하며, 본 발명의 (메트)란 모두 동일한 의미이다.Examples of the acrylic polymer include (meth)acrylic acid alkyl esters (eg, methyl ester, ethyl ester, propyl ester, isopropyl ester, butyl ester, isobutyl ester, s-butyl ester, t-butyl ester, pentyl Esters, isopentyl esters, hexyl esters, heptyl esters, octyl esters, 2-ethylhexyl esters, isooctyl esters, nonyl esters, decyl esters, isodecyl esters, undecyl esters, dodecyl esters, tridecyl esters, tetradecyl esters , hexadecyl esters, octadecyl esters, eicosyl esters, etc. having 1 to 30 carbon atoms, particularly linear or branched chain alkyl esters having 4 to 18 carbon atoms, etc.) and (meth)acrylic acid cycloalkyl esters (for example, cyclopentyl ester, cyclohexyl ester, etc.), acrylic polymers using one or two or more of them as monomer components; and the like. Incidentally, (meth)acrylic acid ester refers to acrylic acid ester and/or methacrylic acid ester, and (meth) in the present invention has the same meaning.
아크릴계 폴리머는, 응집력, 내열성, 가교성 등의 개질을 목적으로 하고, 필요에 따라, 상기 (메트)아크릴산알킬에스테르 또는 시클로알킬에스테르와 공중합 가능한 다른 모노머 성분에 대응하는 단위를 포함하고 있어도 된다. 이와 같은 모노머 성분으로서, 예를 들어, 아크릴산, 메타크릴산, 카르복시에틸(메트)아크릴레이트, 카르복시펜틸(메트)아크릴레이트, 이타콘산, 말레산, 푸마르산, 크로톤산 등의 카르복실기 함유 모노머; 무수 말레산, 무수 이타콘산 등의 산 무수물 모노머; (메트)아크릴산2-히드록시에틸, (메트)아크릴산2-히드록시프로필, (메트)아크릴산4-히드록시부틸, (메트)아크릴산6-히드록시헥실, (메트)아크릴산8-히드록시옥틸, (메트)아크릴산10-히드록시데실, (메트)아크릴산12-히드록시라우릴, (4-히드록시메틸시클로헥실)메틸(메트)아크릴레이트 등의 히드록실기 함유 모노머; 스티렌술폰산, 알릴술폰산, 2-(메트)아크릴아미드-2-메틸프로판술폰산, (메트)아크릴아미도프로판술폰산, 술포프로필(메트)아크릴레이트, (메트)아크릴로일옥시나프탈렌술폰산 등의 술폰산기 함유 모노머; 2-히드록시에틸아크릴로일포스페이트 등의 인산기 함유 모노머; 아크릴아미드, 아크릴로니트릴 등을 들 수 있다. 이들 공중합 가능한 모노머 성분은, 1종 또는 2종 이상 사용할 수 있다. 이들 공중합 가능한 모노머의 사용량은, 전체 단량체 성분의 40중량% 이하가 바람직하다.The acrylic polymer is aimed at modifying cohesive force, heat resistance, crosslinkability, etc., and may contain units corresponding to other monomer components copolymerizable with the above-mentioned (meth)acrylic acid alkyl ester or cycloalkyl ester, if necessary. Examples of such a monomer component include carboxyl group-containing monomers such as acrylic acid, methacrylic acid, carboxyethyl (meth)acrylate, carboxypentyl (meth)acrylate, itaconic acid, maleic acid, fumaric acid, and crotonic acid; acid anhydride monomers such as maleic anhydride and itaconic anhydride; (meth)acrylate 2-hydroxyethyl, (meth)acrylate 2-hydroxypropyl, (meth)acrylate 4-hydroxybutyl, (meth)acrylate 6-hydroxyhexyl, (meth)acrylate 8-hydroxyoctyl, hydroxyl group-containing monomers such as 10-hydroxydecyl (meth)acrylate, 12-hydroxylauryl (meth)acrylate, and (4-hydroxymethylcyclohexyl)methyl (meth)acrylate; Sulfonic acid groups such as styrenesulfonic acid, allylsulfonic acid, 2-(meth)acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid, (meth)acrylamidopropanesulfonic acid, sulfopropyl(meth)acrylate, and (meth)acryloyloxynaphthalenesulfonic acid containing monomers; phosphoric acid group-containing monomers such as 2-hydroxyethyl acryloyl phosphate; Acrylamide, acrylonitrile, etc. are mentioned. These copolymerizable monomer components can be used singly or in combination of two or more. As for the usage-amount of these copolymerizable monomers, 40 weight% or less of all monomer components is preferable.
또한, 아크릴계 폴리머는, 가교되기 때문에, 다관능성 모노머 등도 필요에 따라서 공중합용 모노머 성분으로서 포함할 수 있다. 이와 같은 다관능성 모노머로서, 예를 들어, 헥산디올디(메트)아크릴레이트, (폴리)에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, (폴리)프로필렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨디(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 에폭시(메트)아크릴레이트, 폴리에스테르(메트)아크릴레이트, 우레탄(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들 다관능성 모노머도 1종 또는 2종 이상 사용할 수 있다. 다관능성 모노머의 사용량은, 점착 특성 등의 점에서, 전체 단량체 성분의 30중량% 이하가 바람직하다.In addition, since the acrylic polymer is crosslinked, a polyfunctional monomer or the like can also be included as a monomer component for copolymerization as needed. As such a polyfunctional monomer, for example, hexanediol di(meth)acrylate, (poly)ethylene glycol di(meth)acrylate, (poly)propylene glycol di(meth)acrylate, neopentyl glycol di(meth)acrylate, )Acrylate, pentaerythritol di(meth)acrylate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol tri(meth)acrylate, dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, epoxy(meth)acrylate rate, polyester (meth)acrylate, urethane (meth)acrylate, and the like. These polyfunctional monomers can also be used singly or in combination of two or more. The amount of the polyfunctional monomer used is preferably 30% by weight or less of all monomer components in terms of adhesive properties and the like.
아크릴계 폴리머의 조제는 예를 들어 1종 또는 2종 이상의 성분 모노머의 혼합물에 용액 중합 방식이나 유화 중합 방식, 괴상 중합 방식이나 현탁 중합 방식 등의 적절한 방식을 적용하여 행할 수 있다. 점착제층(52)은 저분자량 물질의 함유를 억제한 조성이 바람직하고, 이러한 점에서 중량 평균 분자량이 30만 이상, 특히 40만 내지 300만인 아크릴계 폴리머를 주성분으로 하는 것이 바람직한 것으로부터 점착제는, 내부 가교 방식이나 외부 가교 방식 등에 의한 적절한 가교 타입으로 할 수도 있다.The preparation of the acrylic polymer can be performed by, for example, applying an appropriate method such as solution polymerization method, emulsion polymerization method, bulk polymerization method or suspension polymerization method to a mixture of one type or two or more types of component monomers. The pressure-
또한, 점착제층(52)의 가교 밀도를 제어하여 픽업성을 향상시키기 위해서, 예를 들어 다관능 이소시아네이트계 화합물, 다관능 에폭시계 화합물, 멜라민계 화합물, 금속염계 화합물, 금속 킬레이트계 화합물, 아미노 수지계 화합물, 또는 과산화물 등의 적절한 외부 가교제를 사용하여 가교 처리하는 방식이나, 탄소-탄소 이중 결합을 2개 이상 갖는 저분자 화합물을 혼합하여 에너지선의 조사 등에 의해 가교 처리하는 방식 등의 적절한 방식을 채용할 수 있다. 외부 가교제를 사용하는 경우, 그 사용량은, 가교해야 할 베이스 폴리머와의 밸런스에 따라, 나아가, 점착제로서의 사용 용도에 따라 적절히 결정된다. 일반적으로는, 상기 베이스 폴리머 100중량부에 대하여 20중량부 정도 이하, 나아가 0.1중량부 내지 20중량부 배합하는 것이 바람직하다. 또한, 점착제에는, 열화 방지 등의 관점에서, 필요에 따라, 상기 성분 외에, 각종 점착 부여제, 노화 방지제 등의 첨가제를 사용해도 된다.In addition, in order to control the crosslinking density of the pressure-
점착제층(52)을 구성하는 점착제로서는, 방사선 경화형 점착제가 바람직하다. 방사선 경화형 점착제로서는, 전술한 점착제에, 방사선 경화성의 모노머 성분이나 방사선 경화성의 올리고머 성분을 배합한 첨가형의 방사선 경화형 점착제를 예시할 수 있다.As the pressure-sensitive adhesive constituting the pressure-
배합하는 방사선 경화성의 모노머 성분으로서는, 예를 들어, 우레탄(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄테트라(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨모노히드록시펜타(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 1,4-부탄디올디(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들 모노머 성분은, 1종 또는 2종 이상 병용할 수 있다.As a radiation curable monomer component to be blended, for example, urethane (meth)acrylate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, tetramethylolmethane tetra(meth)acrylate, pentaerythritol tri(meth)acrylate , pentaerythritol tetra(meth)acrylate, dipentaerythritol monohydroxypenta(meth)acrylate, dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, 1,4-butanediol di(meth)acrylate, etc. can These monomer components can be used singly or in combination of two or more.
또한, 방사선 경화성의 올리고머 성분은 우레탄계, 폴리에테르계, 폴리에스테르계, 폴리카르보네이트계, 폴리부타디엔계 등 여러가지의 올리고머를 들 수 있고, 그 분자량이 100 내지 30000 정도의 범위의 것이 적당하다. 방사선 경화성의 모노머 성분이나 올리고머 성분의 배합량은, 상기 점착제층(52)의 종류에 따라, 점착제층(52)의 점착력을 저하할 수 있는 양을 적절하게 결정할 수 있다. 일반적으로는, 점착제를 구성하는 아크릴계 폴리머 등의 베이스 폴리머 100중량부에 대하여 예를 들어 5중량부 내지 500중량부, 바람직하게는 70중량부 내지 150중량부 정도이다.In addition, the radiation curable oligomer component includes various oligomers such as urethane, polyether, polyester, polycarbonate, and polybutadiene, and those having a molecular weight in the range of about 100 to 30,000 are suitable. The blending amount of the radiation-curable monomer component or oligomer component can be appropriately determined according to the type of the pressure-
또한, 방사선 경화형 점착제로서는, 상기 첨가형의 방사선 경화형 점착제 이외에, 베이스 폴리머로서 탄소-탄소 이중 결합을 폴리머 측쇄 또는 주쇄 중 또는 주쇄 말단에 갖는 것을 사용한 내재형의 방사선 경화형 점착제도 들 수 있다. 내재형의 방사선 경화형 점착제는, 저분자 성분인 올리고머 성분 등을 함유할 필요가 없거나, 또는 많이 포함하지는 않기 때문에, 경시적으로 올리고머 성분 등이 점착제 중에서 이동하지 않고, 안정된 층 구조의 점착제층(52)을 형성할 수 있기 때문에 바람직하다.Further, as the radiation curable pressure sensitive adhesive, in addition to the above addition type radiation curable pressure sensitive adhesive, an intrinsic type radiation curable pressure sensitive adhesive using a base polymer having a carbon-carbon double bond in the side or main chain of the polymer or at the main chain terminal may also be mentioned. Intrinsic radiation-curable pressure-sensitive adhesive does not need to contain or does not contain a low molecular weight oligomer component or the like, so the oligomer component or the like does not migrate in the pressure-sensitive adhesive over time, and the pressure-
탄소-탄소 이중 결합을 갖는 베이스 폴리머는, 탄소-탄소 이중 결합을 갖고, 또한 점착성을 갖는 것을 특별히 제한없이 사용할 수 있다. 이와 같은 베이스 폴리머로서는, 아크릴계 폴리머를 기본 골격으로 하는 것이 바람직하다. 아크릴계 폴리머의 기본 골격으로서는, 상기 예시한 아크릴계 폴리머를 들 수 있다.As the base polymer having a carbon-carbon double bond, those having a carbon-carbon double bond and having adhesiveness can be used without particular limitation. As such a base polymer, it is preferable to use an acrylic polymer as a basic skeleton. As a basic frame|skeleton of an acrylic polymer, the acrylic polymer illustrated above is mentioned.
아크릴계 폴리머에의 탄소-탄소 이중 결합의 도입법은 특별히 제한되지 않고, 여러가지 방법을 채용할 수 있지만, 탄소-탄소 이중 결합은 폴리머 측쇄에 도입하는 것이 분자 설계상 용이하다. 예를 들어, 미리, 아크릴계 폴리머에 관능기를 갖는 모노머를 공중합한 후, 이 관능기와 반응할 수 있는 관능기 및 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 화합물을, 탄소-탄소 이중 결합의 방사선 경화성을 유지한 채 축합 또는 부가 반응시키는 방법을 들 수 있다.The method for introducing the carbon-carbon double bond into the acrylic polymer is not particularly limited, and various methods can be employed. However, it is easy in terms of molecular design to introduce the carbon-carbon double bond into the side chain of the polymer. For example, after copolymerizing a monomer having a functional group with an acrylic polymer in advance, a compound having a functional group capable of reacting with the functional group and a carbon-carbon double bond is condensed while maintaining the radiation curability of the carbon-carbon double bond. Or the method of making an addition reaction is mentioned.
이들 관능기의 조합의 예로서는, 카르복실산기와 에폭시기, 카르복실산기와 아지리딜기, 히드록실기와 이소시아네이트기 등을 들 수 있다. 이들 관능기의 조합 중에서도 반응 추적의 용이함 때문에, 히드록실기와 이소시아네이트기의 조합이 바람직하다. 또한, 이들 관능기의 조합에 의해, 상기 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 아크릴계 폴리머를 생성하는 조합이기만 하면, 관능기는 아크릴계 폴리머와 상기 화합물의 어느 측에 있어도 되지만, 상기한 바람직한 조합에서는, 아크릴계 폴리머가 히드록실기를 갖고, 상기 화합물이 이소시아네이트기를 갖는 경우가 바람직하다. 이 경우, 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들어, 메타크릴로일이소시아네이트, 2-메타크릴로일옥시에틸이소시아네이트, m-이소프로페닐-α,α-디메틸벤질이소시아네이트 등을 들 수 있다. 또한, 아크릴계 폴리머로서는, 상기 예시된 히드록시기 함유 모노머나 2-히드록시에틸비닐에테르, 4-히드록시부틸비닐에테르, 디에틸렌글리콜모노비닐에테르 등의 에테르계 화합물 등을 공중합한 것이 사용된다.Examples of combinations of these functional groups include a carboxylic acid group and an epoxy group, a carboxylic acid group and an aziridyl group, a hydroxyl group and an isocyanate group. Among the combinations of these functional groups, a combination of a hydroxyl group and an isocyanate group is preferable because of the ease of tracking the reaction. In addition, the functional group may be present on either side of the acrylic polymer and the compound as long as the combination of these functional groups produces the acrylic polymer having the carbon-carbon double bond. It has a oxyl group, and the case where the said compound has an isocyanate group is preferable. In this case, examples of the isocyanate compound having a carbon-carbon double bond include methacryloyl isocyanate, 2-methacryloyloxyethyl isocyanate, m-isopropenyl-α,α-dimethylbenzyl isocyanate, and the like. can In addition, as an acrylic polymer, what copolymerized the hydroxyl group containing monomer mentioned above, 2-hydroxyethyl vinyl ether, 4-hydroxybutyl vinyl ether, diethylene glycol monovinyl ether, etc. ether type compounds etc. are used.
내재형의 방사선 경화형 점착제는, 상기 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 베이스 폴리머(특히 아크릴계 폴리머)를 단독으로 사용할 수 있지만, 특성을 악화시키지 않을 정도로 상기 방사선 경화성의 모노머 성분이나 올리고머 성분 등의 광중합성 화합물을 배합할 수도 있다. 당해 광중합성 화합물의 배합량은, 통상 베이스 폴리머 100중량부에 대하여 30중량부 이하의 범위 내이며, 바람직하게는 0 내지 10중량부의 범위 내이다.In the intrinsic type radiation-curable pressure-sensitive adhesive, the base polymer (particularly, an acrylic polymer) having a carbon-carbon double bond can be used alone, but a photopolymerizable compound such as the radiation-curable monomer component or oligomer component to the extent that the properties are not deteriorated. can also be combined. The compounding amount of the photopolymerizable compound is usually in the range of 30 parts by weight or less, preferably in the range of 0 to 10 parts by weight, based on 100 parts by weight of the base polymer.
방사선 경화형 점착제에는, 자외선 등에 의해 경화시킨 경우에는 광중합 개시제를 함유시키는 것이 바람직하다.It is preferable to incorporate a photopolymerization initiator into the radiation-curable pressure-sensitive adhesive when it is cured by ultraviolet rays or the like.
상술한 아크릴계 폴리머 중에서도, 특히 CH2=CHCOOR(식 중, R은 탄소수가 4 내지 18인 알킬기이다.)로 표시되는 아크릴산에스테르와, 히드록실기 함유 모노머와, 분자 내에 라디칼 반응성 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 이소시아네이트 화합물을 포함하여 구성되는 아크릴계 폴리머 A가 바람직하다.Among the above-mentioned acrylic polymers, in particular, an acrylic acid ester represented by CH 2 =CHCOOR (wherein R is an alkyl group having 4 to 18 carbon atoms), a hydroxyl group-containing monomer, and a radical reactive carbon-carbon double bond in the molecule An acrylic polymer A comprising an isocyanate compound having
아크릴산알킬에스테르의 알킬기의 탄소수가 4 미만이면 극성이 높아 박리력이 너무 커져서 픽업성이 저하하는 경우가 있다. 한편, 아크릴산알킬에스테르의 알킬기의 탄소수가 18을 초과하면, 점착제층(52)의 유리 전이 온도가 너무 높아져서, 상온에서의 접착 특성이 저하되고, 그 결과, 다이싱 시에 접착제층(4) 및 금속층(3)의 박리가 발생하는 경우가 있다.When the number of carbon atoms in the alkyl group of the alkyl acrylate ester is less than 4, the polarity is high, and the peeling force becomes too large, and pick-up properties may decrease. On the other hand, when the carbon number of the alkyl group of the alkyl acrylate ester exceeds 18, the glass transition temperature of the pressure-
상기 아크릴계 폴리머 A는, 필요에 따라, 다른 모노머 성분에 대응하는 단위를 포함하고 있어도 된다.The said acrylic polymer A may contain the unit corresponding to another monomer component as needed.
아크릴계 폴리머 A에서는, 라디칼 반응성 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 이소시아네이트 화합물이 사용된다. 즉, 아크릴 중합체는, 상기 아크릴산에스테르나 히드록실기 함유 모노머 등의 모노머 조성물에 의한 폴리머에, 이중 결합 함유 이소시아네이트 화합물이 부가 반응된 구성을 갖고 있는 것이 바람직하다. 따라서, 아크릴계 폴리머는, 그 분자 구조 내에, 라디칼 반응성 탄소-탄소 이중 결합을 갖고 있는 것이 바람직하다. 이에 의해, 활성 에너지선(자외선 등)의 조사에 의해 경화되는 활성 에너지선 경화형 점착제층(자외선 경화형 점착제층 등)으로 할 수 있어, 금속층(3)과 점착제층(52)의 박리력을 저하시킬 수 있다.In the acrylic polymer A, an isocyanate compound having a radical reactive carbon-carbon double bond is used. That is, it is preferable that the acrylic polymer has a structure in which an isocyanate compound having a double bond is added to a polymer by a monomer composition such as the above-mentioned acrylic acid ester or hydroxyl group-containing monomer. Therefore, it is preferable that the acrylic polymer has a radical reactive carbon-carbon double bond in its molecular structure. As a result, an active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive layer (ultraviolet ray-curable pressure-sensitive adhesive layer, etc.) that is cured by irradiation with active energy rays (ultraviolet rays, etc.) can be obtained, and the peeling force between the
이중 결합 함유 이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들어, 메타크릴로일이소시아네이트, 아크릴로일이소시아네이트, 2-메타크릴로일옥시에틸이소시아네이트, 2-아크릴로일옥시에틸이소시아네이트, m-이소프로페닐-α,α-디메틸벤질이소시아네이트 등을 들 수 있다. 이중 결합 함유 이소시아네이트 화합물은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Examples of the double bond-containing isocyanate compound include methacryloyl isocyanate, acryloyl isocyanate, 2-methacryloyloxyethyl isocyanate, 2-acryloyloxyethyl isocyanate, m-isopropenyl-α,α -Dimethylbenzyl isocyanate etc. are mentioned. A double bond containing isocyanate compound can be used individually or in combination of 2 or more types.
또한, 활성 에너지선 경화형 점착제에는, 활성 에너지선 조사 전의 점착력이나, 활성 에너지선 조사 후의 점착력을 조정하기 위해서, 외부 가교제를 적절하게 사용할 수도 있다. 외부 가교 방법의 구체적 수단으로서는, 폴리이소시아네이트 화합물, 에폭시 화합물, 아지리딘 화합물, 멜라민계 가교제 등의 소위 가교제를 첨가하여 반응시키는 방법을 들 수 있다.Moreover, in order to adjust the adhesive force before active energy ray irradiation and the adhesive force after active energy ray irradiation, an external crosslinking agent can also be used suitably for an active energy ray-curable adhesive. As a specific means of the external crosslinking method, a method in which a so-called crosslinking agent such as a polyisocyanate compound, an epoxy compound, an aziridine compound, or a melamine-based crosslinking agent is added and reacted is exemplified.
상기 폴리이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들어, 1,2-에틸렌디이소시아네이트, 1,4-부틸렌디이소시아네이트, 1,6-헥사메틸렌디이소시아네이트 등의 저급 지방족 폴리이소시아네이트류; 시클로펜틸렌디이소시아네이트, 시클로헥실렌디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트, 수소 첨가 톨릴렌디이소시아네이트, 수소 첨가 크실렌디이소시아네이트 등의 지환족 폴리이소시아네이트류; 2,4-톨릴렌디이소시아네이트, 2,6-톨릴렌디이소시아네이트, 4,4'-디페닐메탄디이소시아네이트, 크실릴렌디이소시아네이트 등의 방향족 폴리이소시아네이트류 등을 들 수 있고, 기타, 트리메틸올프로판/톨릴렌디이소시아네이트 삼량체 부가물[도소 가부시키가이샤제, 상품명 「코로네이트 L」], 트리메틸올프로판/헥사메틸렌디이소시아네이트 삼량체 부가물[도소 가부시키가이샤제, 상품명 「코로네이트 HL」] 등도 사용된다. 또한, 상기 에폭시 화합물로서는, 예를 들어, N,N,N',N'-테트라글리시딜-m-크실렌디아민, 디글리시딜아닐린, 1,3-비스(N,N-글리시딜아미노메틸)시클로헥산, 1,6-헥산디올디글리시딜에테르, 네오펜틸글리콜디글리시딜에테르, 에틸렌글리콜디글리시딜에테르, 프로필렌글리콜디글리시딜에테르, 폴리에틸렌글리콜디글리시딜에테르, 폴리프로필렌글리콜디글리시딜에테르, 소르비톨폴리글리시딜에테르, 글리세롤폴리글리시딜에테르, 펜타에리트리톨폴리글리시딜에테르, 폴리글리세롤폴리글리시딜에테르, 소르비탄폴리글리시딜에테르, 트리메틸올프로판폴리글리시딜에테르, 아디프산디글리시딜에스테르, o-프탈산디글리시딜에스테르, 트리글리시딜-트리스(2-히드록시에틸)이소시아누레이트, 레조르신디글리시딜에테르, 비스페놀-S-디글리시딜에테르 외에, 분자 내에 에폭시기를 2개 이상 갖는 에폭시계 수지 등을 들 수 있다.Examples of the polyisocyanate compound include lower aliphatic polyisocyanates such as 1,2-ethylene diisocyanate, 1,4-butylene diisocyanate, and 1,6-hexamethylene diisocyanate; alicyclic polyisocyanates such as cyclopentylene diisocyanate, cyclohexylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, hydrogenated tolylene diisocyanate, and hydrogenated xylene diisocyanate; aromatic polyisocyanates such as 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 4,4'-diphenylmethane diisocyanate, and xylylene diisocyanate; A rendiisocyanate trimer adduct [manufactured by Tosoh Corporation, trade name "Coronate L"], a trimethylolpropane/hexamethylene diisocyanate trimer adduct [manufactured by Tosoh Corporation, trade name "Coronate HL"], etc. are also used. . Moreover, as said epoxy compound, N,N,N',N'-tetraglycidyl-m-xylenediamine, diglycidylaniline, 1,3-bis (N,N-glycidyl), for example Aminomethyl)cyclohexane, 1,6-hexanediol diglycidyl ether, neopentyl glycol diglycidyl ether, ethylene glycol diglycidyl ether, propylene glycol diglycidyl ether, polyethylene glycol diglycidyl ether , polypropylene glycol diglycidyl ether, sorbitol polyglycidyl ether, glycerol polyglycidyl ether, pentaerythritol polyglycidyl ether, polyglycerol polyglycidyl ether, sorbitan polyglycidyl ether, trimethyl All-propane polyglycidyl ether, adipic acid diglycidyl ester, o-phthalic acid diglycidyl ester, triglycidyl-tris (2-hydroxyethyl) isocyanurate, resorcin diglycidyl ether, In addition to bisphenol-S-diglycidyl ether, epoxy-based resins having two or more epoxy groups in the molecule may be used.
외부 가교제를 사용하는 경우, 그 사용량은, 가교해야 할 베이스 폴리머와의 밸런스에 따라, 나아가, 점착제로서의 사용 용도에 따라 적절히 결정된다. 외부 가교제의 사용량은, 일반적으로는, 상기 베이스 폴리머 100중량부에 대하여 20 중량부 이하(바람직하게는 0.1중량부 내지 10중량부)이다. 또한, 활성 에너지선 경화형 점착제에는, 필요에 따라, 상기 성분 외에, 종래 공지된 각종 점착 부여제, 노화 방지제, 발포제 등의 첨가제가 배합되어 있어도 된다.When an external crosslinking agent is used, its usage amount is appropriately determined depending on the balance with the base polymer to be crosslinked and furthermore depending on the intended use as an adhesive. The amount of external crosslinking agent used is generally 20 parts by weight or less (preferably 0.1 to 10 parts by weight) based on 100 parts by weight of the base polymer. In addition, additives such as conventionally known various tackifiers, anti-aging agents, and foaming agents may be blended with the active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive, in addition to the above components, as needed.
또한, 본 발명에서는, 가교제를 사용하는 대신, 또는, 가교제를 사용함과 함께, 전자선이나 자외선 등의 조사에 의해 가교 처리를 실시하는 것도 가능하다.In the present invention, instead of using a crosslinking agent or while using a crosslinking agent, it is also possible to perform a crosslinking treatment by irradiation with electron beams, ultraviolet rays, or the like.
점착제층(52)의 두께는, 특별히 제한되지 않고 적절하게 결정할 수 있지만, 일반적으로는 5 내지 200㎛ 정도이다. 또한, 점착제층(52)은 단층으로 구성되어도 되고, 복수층으로 구성되어 있어도 된다.The thickness of the pressure-
<금속층(3)><Metal layer (3)>
금속층(3)을 구성하는 금속으로서는 특별히 한정되지 않고 예를 들어, 스테인리스, 알루미늄, 철, 티타늄, 주석, 니켈 및 구리로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것이 방열성, 전자 디바이스 패키지(8)의 휨 방지의 점에서 바람직하다. 이들 중에서도, 열전도성이 높고 방열의 효과가 얻어진다는 관점에서, 구리를 포함하는 것이 특히 바람직하다. 또한, 전자 디바이스 패키지(8)의 휨 방지의 관점에서는, 알루미늄을 포함하는 것이 특히 바람직하다.The metal constituting the
금속층(3)의 두께는, 5㎛ 이상 200㎛ 미만인 것이 바람직하다. 5㎛ 이상으로 함으로써, 익스팬드를 양을 크게 해도 금속층이 휘거나 점착 테이프로부터 벗겨지는 것을 억제할 수 있으므로, 인접하는 금속층끼리의 간격을 크게 할 수 있고, 경계가 식별이 용이해진다. 또한, 200㎛ 미만이라면 가공이 용이하고, 또한 권취나 접합에 있어서 코어나 접합 롤을 따르게 하여 구부릴 필요가 있을 때에, 금속층의 웨이스트(waist)가 너무 강해서 접힘 주름이 생겨버려, 픽업 장치에서 인식 에러가 되는 현상을 억제할 수 있다.It is preferable that the thickness of the
금속층(3)의 접착제층(4)과 반대측의 면의 10점 평균 조도에 의한 표면 조도 RzJIS는, 5.0㎛ 미만이다. 금속층(3)의 10점 평균 조도에 의한 표면 조도 RzJIS를 5.0㎛ 미만으로 함으로써, 표면의 요철이 검출되어버림으로써 촬상된 금속층(3)이 템플릿과 상이하다고 판단되는 문제를 억제할 수 있다. 그 때문에, 등록된 템플릿과 픽업을 위하여 촬상된 금속층(3)의 개편의 화상과의 사이의 매칭이 취해져, 당해 개편이 픽업 대상으로서 인식된다. 또한, 본 명세서에 있어서의 표면 조도 RzJIS는, JIS B 0601: 2013의 부속서 JA에 규정되는 10점 평균 조도이다.The surface roughness RzJIS by the 10-point average roughness of the surface of the
이러한 금속층(3)으로서는, 금속박을 사용할 수 있고, 금속박은, 접착제층(4)과 반대측의 면이 되는 면의 표면 조도 RzJIS가 5.0㎛ 미만이면 전해박이어도 되고, 압연박이어도 된다. 표면 조도 RzJIS는, 전해박인 경우에는, 전해 조건(액 조성·액온·전류·첨가제 등)에 의해 조절할 수 있다.As such a
금속층(3)의 입사각 60도에 있어서의 경면 광택도는 100% 미만인 것이 바람직하다. 경면 광택도가 너무 높으면, 픽업 장치의 조명 각도나 양에 따라서는, 픽업하려고 하는 금속층(3)의 개편이나 인접하는 개편으로부터의 반사광이 반사(glare)가 되어, 픽업하려고 하는 금속층(3)의 개편의 외형이 인식되기 어려워진다. 금속층(3)의 광택도가 100% 미만이면 반사(glare)를 억제하여 금속층(3)의 개편의 외형이 양호하게 인식된다. 광택도는, JIS Z 8741에 준거하여 측정된 값이다. 광택도의 측정은 시판하고 있는 광택도계로 측정하는 것이 가능하고, 예를 들어 닛본 덴쇼꾸 가부시키가이샤제 광택도계 핸디 글로스 미터 PG-1 등을 사용할 수 있다.It is preferable that the specular gloss of the
경면 광택도를 조절하는 경우에는, 공지된 표면 처리를 단독 또는 조합하여 행하면 된다. 예를 들어, Cu 도금 등의 조면화 처리를 행한 후, PR 펄스 전해 등에 의해, 조면화 입자의 소형화, 조면화 입자수의 증대, 조면화 입자 표면의 평활화를 행하면 된다. 또한 필요에 따라, 제박용 첨가제 등의 표면 오염물의 잔사 제거나 조면화 입자 표면의 평활화를 목적으로 하여, 알칼리 침지 처리를 행해도 된다.In the case of adjusting the specular gloss, known surface treatments may be performed alone or in combination. For example, what is necessary is just to perform size reduction of a roughened particle, increase in the number of roughened particles, and smoothing of the surface of a roughened particle by PR pulse electrolysis etc. after performing a roughening process, such as Cu plating. Further, if necessary, an alkali immersion treatment may be performed for the purpose of removing residues of surface contaminants such as additives for foil making or smoothing the surface of the roughened particles.
<접착제층(4)><Adhesive layer (4)>
접착제층(4)은 접착제를 미리 필름화한 것이다.The
접착제층(4)은 적어도 열경화성 수지에 의해 형성되어 있고, 적어도 열경화성 수지와 열가소성 수지에 의해 형성되어 있는 것이 바람직하다.The
열가소성 수지로서는, 예를 들어, 천연 고무, 부틸 고무, 이소프렌 고무, 클로로프렌 고무, 에틸렌-아세트산비닐 공중합체, 에틸렌-아크릴산 공중합체, 에틸렌-아크릴산에스테르 공중합체, 폴리부타디엔 수지, 폴리카르보네이트 수지, 열가소성 폴리이미드 수지, 6-나일론이나 6,6-나일론 등의 폴리아미드 수지, 페녹시 수지, 아크릴 수지, PET(폴리에틸렌테레프탈레이트)나 PBT(폴리부틸렌테레프탈레이트) 등의 포화 폴리에스테르 수지, 폴리아미드이미드 수지, 또는 불소 수지 등을 들 수 있다. 열가소성 수지는 단독으로 또는 2종 이상을 병용하여 사용할 수 있다. 이들 열가소성 수지 중, 이온성 불순물이 적고 응력 완화성이 우수한 점에서 아크릴 수지가, 가요성과 강도를 양립하며 고인성인 점에서 페녹시 수지가, 각각의 관점에서 반도체 소자의 신뢰성을 확보하기 쉽게 할 수 있기 때문에, 특히 바람직하다.Examples of the thermoplastic resin include natural rubber, butyl rubber, isoprene rubber, chloroprene rubber, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-acrylic acid copolymer, ethylene-acrylic acid ester copolymer, polybutadiene resin, polycarbonate resin, Thermoplastic polyimide resins, polyamide resins such as 6-nylon and 6,6-nylon, phenoxy resins, acrylic resins, saturated polyester resins such as PET (polyethylene terephthalate) and PBT (polybutylene terephthalate), poly Amidimide resin or a fluororesin, etc. are mentioned. A thermoplastic resin can be used individually or in combination of 2 or more types. Among these thermoplastic resins, acrylic resins have low ionic impurities and excellent stress relaxation properties, and phenoxy resins have both flexibility and strength and high toughness. Because there is, it is particularly preferable.
아크릴 수지로서는, 특별히 한정되는 것은 아니며, 탄소수 30 이하(바람직하게는 탄소수 1 내지 18)의 직쇄 또는 분지의 알킬기를 갖는 아크릴산 또는 메타크릴산의 에스테르 1종 또는 2종 이상을 성분으로 하는 중합체 등을 들 수 있다. 즉, 본 발명에서는, 아크릴 수지란, 메타크릴 수지도 포함하는 광의의 의미이다. 상기 알킬기로서는, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, t-부틸기, 이소부틸기, 펜틸기, 이소펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 2-에틸헥실기, 옥틸기, 이소옥틸기, 노닐기, 이소노닐기, 데실기, 이소데실기, 운데실기, 도데실기(라우릴기), 트리데실기, 테트라데실기, 스테아릴기, 옥타데실기 등을 들 수 있다.The acrylic resin is not particularly limited, and polymers containing one or two or more esters of acrylic acid or methacrylic acid having a straight-chain or branched alkyl group having 30 or less carbon atoms (preferably 1 to 18 carbon atoms) are used as components. can be heard That is, in the present invention, an acrylic resin is a broad meaning including a methacrylic resin. Examples of the alkyl group include methyl, ethyl, propyl, isopropyl, n-butyl, t-butyl, isobutyl, pentyl, isopentyl, hexyl, heptyl, and 2-ethylhex. Sil group, octyl group, isooctyl group, nonyl group, isononyl group, decyl group, isodecyl group, undecyl group, dodecyl group (lauryl group), tridecyl group, tetradecyl group, stearyl group, octadecyl group, etc. can be heard
또한, 아크릴 수지를 형성하기 위한 다른 모노머(알킬기의 탄소수가 30 이하인 아크릴산 또는 메타크릴산의 알킬에스테르 이외의 모노머)로서는, 특별히 한정되는 것은 아니며, 예를 들어, 아크릴산, 메타크릴산, 카르복시에틸아크릴레이트, 카르복시펜틸아크릴레이트, 이타콘산, 말레산, 푸마르산 또는 크로톤산 등과 같은 카르복실기 함유 모노머, 무수 말레산 또는 무수 이타콘산 등과 같은 산 무수물 모노머, (메트)아크릴산2-히드록시에틸, (메트)아크릴산2-히드록시프로필, (메트)아크릴산4-히드록시부틸, (메트)아크릴산6-히드록시헥실, (메트)아크릴산8-히드록시옥틸, (메트)아크릴산10-히드록시데실, (메트)아크릴산12-히드록시라우릴 또는 (4-히드록시메틸시클로헥실)-메틸아크릴레이트 등과 같은 히드록실기 함유 모노머, 스티렌술폰산, 알릴술폰산, 2-(메트)아크릴아미드-2-메틸프로판술폰산, (메트)아크릴아미도프로판술폰산, 술포프로필(메트)아크릴레이트 또는 (메트)아크릴로일옥시나프탈렌술폰산 등과 같은 술폰산기 함유 모노머, 2-히드록시에틸아크릴로일포스페이트 등과 같은 인산기 함유 모노머 또는 아크릴로니트릴 등을 들 수 있다. 또한, (메트)아크릴산이란 아크릴산 및/또는 메타크릴산을 말하며, 본 발명의 (메트)란 모두 동일한 의미이다.In addition, the other monomers for forming the acrylic resin (monomers other than alkyl esters of acrylic acid or methacrylic acid having 30 or less carbon atoms in the alkyl group) are not particularly limited, and examples thereof include acrylic acid, methacrylic acid, and carboxyethyl acryl. Carboxyl group-containing monomers such as late, carboxypentyl acrylate, itaconic acid, maleic acid, fumaric acid or crotonic acid, acid anhydride monomers such as maleic anhydride or itaconic anhydride, (meth)acrylic acid 2-hydroxyethyl, (meth)acrylic acid 2-Hydroxypropyl, (meth)acrylate 4-hydroxybutyl, (meth)acrylate 6-hydroxyhexyl, (meth)acrylate 8-hydroxyoctyl, (meth)acrylate 10-hydroxydecyl, (meth)acrylic acid hydroxyl group-containing monomers such as 12-hydroxylauryl or (4-hydroxymethylcyclohexyl)-methylacrylate, styrenesulfonic acid, allylsulfonic acid, 2-(meth)acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid, (meth) ) A sulfonic acid group-containing monomer such as acrylamidopropanesulfonic acid, sulfopropyl (meth)acrylate or (meth)acryloyloxynaphthalenesulfonic acid, a phosphoric acid group-containing monomer such as 2-hydroxyethylacryloylphosphate, or acrylonitrile, etc. can be heard Incidentally, (meth)acrylic acid refers to acrylic acid and/or methacrylic acid, and (meth) in the present invention has the same meaning.
또한, 열경화성 수지로서는, 에폭시 수지, 페놀 수지 외에, 아미노 수지, 불포화 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지, 실리콘 수지, 열경화성 폴리이미드 수지 등을 들 수 있다. 열경화성 수지는, 단독으로 또는 2종 이상 병용하여 사용할 수 있다. 열경화성 수지로서는, 특히, 반도체 소자를 부식시키는 이온성 불순물 등 함유가 적은 에폭시 수지가 바람직하다. 또한, 에폭시 수지의 경화제로서는 페놀 수지를 적합하게 사용할 수 있다.Moreover, as a thermosetting resin, an amino resin, an unsaturated polyester resin, a polyurethane resin, a silicone resin, a thermosetting polyimide resin etc. other than an epoxy resin and a phenol resin are mentioned. A thermosetting resin can be used individually or in combination of 2 or more types. As the thermosetting resin, an epoxy resin containing less ionic impurities or the like that corrodes semiconductor elements is particularly preferable. Moreover, as a curing agent for an epoxy resin, a phenol resin can be suitably used.
에폭시 수지로서는, 특별히 한정은 없고, 예를 들어, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 브롬화비스페놀 A형 에폭시 수지, 수소 첨가 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 플루올렌형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 오르토크레졸노볼락형 에폭시 수지, 트리스히드록시페닐메탄형 에폭시 수지, 테트라페닐올에탄형 에폭시 수지 등의 2관능 에폭시 수지나 다관능 에폭시 수지, 또는 히단토인형 에폭시 수지, 트리스글리시딜이소시아누레이트형 에폭시 수지 또는 글리시딜아민형 에폭시 수지 등의 에폭시 수지를 사용할 수 있다.The epoxy resin is not particularly limited, and examples thereof include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol S type epoxy resins, brominated bisphenol A type epoxy resins, hydrogenated bisphenol A type epoxy resins, and bisphenol AF type epoxy resins. Resins, biphenyl type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, fluorene type epoxy resins, phenol novolac type epoxy resins, orthocresol novolac type epoxy resins, trishydroxyphenylmethane type epoxy resins, tetraphenylolethane type epoxy resins Epoxy resins such as bifunctional epoxy resins and polyfunctional epoxy resins such as the like, or hydantoin type epoxy resins, trisglycidyl isocyanurate type epoxy resins, and glycidylamine type epoxy resins can be used.
에폭시 수지로서는, 예시 중 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 트리스히드록시페닐메탄형 에폭시 수지, 테트라페닐올에탄형 에폭시 수지가 특히 바람직하다. 이들 에폭시 수지는, 경화제로서의 페놀 수지와의 반응성이 많고, 내열성 등이 우수하기 때문이다.As the epoxy resin, among the examples, a novolac type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, a trishydroxyphenylmethane type epoxy resin, and a tetraphenylolethane type epoxy resin are particularly preferable. This is because these epoxy resins are highly reactive with a phenol resin as a curing agent and have excellent heat resistance and the like.
또한, 페놀 수지는, 에폭시 수지의 경화제로서 작용하는 것이며, 예를 들어, 페놀노볼락 수지, 페놀아르알킬 수지, 크레졸노볼락 수지, tert-부틸페놀노볼락 수지, 노닐페놀노볼락 수지 등의 노볼락형 페놀 수지, 레졸형 페놀 수지, 폴리파라옥시스티렌 등의 폴리옥시스티렌 등을 들 수 있다. 페놀 수지는 단독으로 또는 2종 이상을 병용하여 사용할 수 있다. 이들 페놀 수지 중 페놀노볼락 수지, 페놀아르알킬 수지가 특히 바람직하다. 반도체 장치의 접속 신뢰성을 향상시킬 수 있기 때문이다.Further, the phenol resin acts as a curing agent for an epoxy resin, and includes, for example, furnaces such as phenol novolak resins, phenol aralkyl resins, cresol novolac resins, tert-butyl phenol novolac resins, and nonyl phenol novolak resins. and polyoxystyrenes such as rockfish-type phenolic resins, resol-type phenolic resins, and polyparaoxystyrene. A phenol resin can be used individually or in combination of 2 or more types. Among these phenol resins, phenol novolak resins and phenol aralkyl resins are particularly preferred. It is because connection reliability of a semiconductor device can be improved.
에폭시 수지와 페놀 수지의 배합 비율은, 예를 들어, 에폭시 수지 성분 중의 에폭시기 1당량당 페놀 수지 중의 수산기가 0.5당량 내지 2.0당량이 되도록 배합하는 것이 바람직하다. 보다 바람직한 것은, 0.8당량 내지 1.2당량이다. 즉, 양자의 배합 비율이 상기 범위를 벗어나면, 충분한 경화 반응이 진행되지 않아, 에폭시 수지 경화물의 특성이 열화되기 쉬워지기 때문이다.It is preferable to mix|blend so that the compounding ratio of an epoxy resin and a phenol resin may become 0.5 equivalent - 2.0 equivalent of the hydroxyl group in a phenol resin per 1 equivalent of epoxy groups in an epoxy resin component, for example. More preferably, it is 0.8 equivalent - 1.2 equivalent. That is, if the mixing ratio of both is out of the above range, sufficient curing reaction does not proceed, and the properties of the cured epoxy resin material deteriorate easily.
또한, 에폭시 수지와 페놀 수지의 열경화 촉진 촉매가 사용되고 있어도 된다. 열경화 촉진 촉매로서는, 특별히 제한되지 않고, 공지된 열경화 촉진 촉매 중에서 적절히 선택하여 사용할 수 있다. 열경화 촉진 촉매는 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 열경화 촉진 촉매로서는, 예를 들어, 아민계 경화 촉진제, 인계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 붕소계 경화 촉진제, 인-붕소계 경화 촉진제 등을 사용할 수 있다.In addition, a catalyst for accelerating thermal curing of an epoxy resin and a phenol resin may be used. The catalyst for accelerating thermal curing is not particularly limited, and can be appropriately selected and used from known thermal curing accelerating catalysts. A thermosetting acceleration catalyst can be used individually or in combination of 2 or more types. As the thermal curing accelerator, amine-based curing accelerators, phosphorus-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, boron-based curing accelerators, phosphorus-boron-based curing accelerators, and the like can be used, for example.
에폭시 수지의 경화제로서는, 상술한 바와 같이 페놀 수지를 사용하는 것이 바람직하지만, 이미다졸류, 아민류, 산 무수물류 등의 공지된 경화제를 사용할 수도 있다.As the curing agent for the epoxy resin, it is preferable to use a phenol resin as described above, but known curing agents such as imidazoles, amines, and acid anhydrides can also be used.
접착제층(4)은 전자 디바이스 등의 피착체(9)에 대하여 접착성(밀착성)을 갖고 있는 것이 중요하다. 그래서, 접착제층(4)을 미리 어느 정도 가교시켜 두기 위해서, 중합체의 분자쇄 말단의 관능기 등과 반응하는 다관능성 화합물을 가교제로서 첨가시켜 두어도 된다. 이에 의해, 고온 하에서의 접착 특성을 향상시켜, 내열성의 개선을 도모할 수 있다.It is important that the
가교제로서는, 특별히 제한되지 않고, 공지된 가교제를 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어, 이소시아네이트계 가교제, 에폭시계 가교제, 멜라민계 가교제, 과산화물계 가교제 외에, 요소계 가교제, 금속 알콕시드계 가교제, 금속 킬레이트계 가교제, 금속염계 가교제, 카르보디이미드계 가교제, 옥사졸린계 가교제, 아지리딘계 가교제, 아민계 가교제 등을 들 수 있다. 가교제로서는, 이소시아네이트계 가교제나 에폭시계 가교제가 바람직하다. 또한, 상기 가교제는 단독으로 또는 2종 이상 조합하여 사용할 수 있다.The crosslinking agent is not particularly limited, and a known crosslinking agent can be used. Specifically, for example, isocyanate crosslinking agent, epoxy crosslinking agent, melamine crosslinking agent, peroxide crosslinking agent, urea crosslinking agent, metal alkoxide crosslinking agent, metal chelate crosslinking agent, metal salt crosslinking agent, carbodiimide crosslinking agent, oxa A zoline-type crosslinking agent, an aziridine-type crosslinking agent, an amine-type crosslinking agent, etc. are mentioned. As a crosslinking agent, an isocyanate type crosslinking agent and an epoxy type crosslinking agent are preferable. In addition, the above crosslinking agents may be used alone or in combination of two or more.
또한, 본 발명에서는, 가교제를 사용하는 대신, 또는, 가교제를 사용함과 함께, 전자선이나 자외선 등의 조사에 의해 가교 처리를 실시하는 것도 가능하다.In the present invention, instead of using a crosslinking agent or while using a crosslinking agent, it is also possible to perform a crosslinking treatment by irradiation with electron beams, ultraviolet rays, or the like.
접착제층(4)에는, 필요에 따라 다른 첨가제를 적절하게 배합할 수 있다. 다른 첨가제로서는, 예를 들어, 충전제(필러), 난연제, 실란 커플링제, 이온 트랩제 외에, 증량제, 노화 방지제, 산화 방지제, 계면 활성제 등을 들 수 있다.In the
충전제로서는, 무기 충전제, 유기 충전제 중 어느 것이어도 되지만, 무기 충전제가 바람직하다. 무기 충전제 등의 충전제의 배합에 의해, 접착제층(4)에 열전도성의 향상, 탄성률의 조절 등을 도모할 수 있다. 무기 충전제로서는, 예를 들어, 실리카, 클레이, 석고, 탄산칼슘, 황산바륨, 알루미나, 산화베릴륨, 탄화규소, 질화알루미늄, 질화규소 등의 세라믹류, 알루미늄, 구리, 은, 금, 니켈, 크롬, 납, 주석, 아연, 팔라듐, 땜납 등의 금속, 또는 합금류, 기타 카본 등을 포함하는 여러가지 무기 분말 등을 들 수 있다. 충전제는 단독으로 또는 2종 이상을 병용하여 사용할 수 있다. 충전제로서는, 그 중에서도, 실리카 또는 알루미나가, 실리카로서는 특히 용융 실리카가 바람직하다. 또한, 무기 충전제의 평균 입경은 0.001㎛ 내지 80㎛의 범위 내인 것이 바람직하다. 무기 충전제의 평균 입경은, 예를 들어, 레이저 회절형 입도 분포 측정 장치에 의해 측정할 수 있고, 본원에 있어서는 입도 분포에 있어서의 누적 체적이 50%일 때의 입자 직경을 평균 입경이라고 한다.As a filler, either an inorganic filler or an organic filler may be sufficient, but an inorganic filler is preferable. By blending fillers such as inorganic fillers, the
충전제(특히 무기 충전제)의 배합량은, 유기 수지 성분에 대하여 98중량% 이하(0중량% 내지 98중량%)인 것이 바람직하고, 특히 실리카의 경우에는 0중량% 내지 70중량%, 열전도나 도전 등의 기능성 무기 충전제의 경우에는 10중량% 내지 98중량%인 것이 바람직하다.The compounding amount of the filler (especially inorganic filler) is preferably 98% by weight or less (0% by weight to 98% by weight) with respect to the organic resin component, and particularly in the case of silica, 0% by weight to 70% by weight, heat conduction or conductivity, etc. In the case of a functional inorganic filler of , it is preferably 10% by weight to 98% by weight.
또한, 난연제로서는, 예를 들어, 삼산화안티몬, 오산화안티몬, 브롬화에폭시 수지 등을 들 수 있다. 난연제는, 단독으로, 또는 2종 이상을 병용하여 사용할 수 있다. 실란 커플링제로서는, 예를 들어, β-(3,4-에폭시시클로헥실)에틸트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필메틸디에톡시실란 등을 들 수 있다. 실란 커플링제는, 단독으로 또는 2종 이상을 병용하여 사용할 수 있다. 이온 트랩제로서는, 예를 들어 히드로탈사이트류, 수산화비스무트 등을 들 수 있다. 이온 트랩제는, 단독으로 또는 2종 이상을 병용하여 사용할 수 있다.Moreover, as a flame retardant, antimony trioxide, antimony pentoxide, a brominated epoxy resin etc. are mentioned, for example. A flame retardant can be used individually or in combination of 2 or more types. Examples of the silane coupling agent include β-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, and γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane. can A silane coupling agent can be used individually or in combination of 2 or more types. As an ion trapping agent, hydrotalcites, bismuth hydroxide, etc. are mentioned, for example. Ion trap agents can be used individually or in combination of 2 or more types.
접착제층(4)은 접착성과 신뢰성의 관점에서, 특히 (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 아크릴 수지 또는 페녹시 수지, 및 (D) 표면 처리된 무기 충전재를 함유하는 것이 바람직하다.The
(A) 에폭시 수지를 사용함으로써, 높은 접착성, 내수성, 내열성을 얻을 수 있다. 에폭시 수지로서는, 상술한 공지의 에폭시 수지를 사용할 수 있다. (B) 경화제는 상술한 공지된 경화제를 사용할 수 있다.(A) By using an epoxy resin, high adhesiveness, water resistance, and heat resistance can be obtained. As an epoxy resin, the above-mentioned well-known epoxy resin can be used. (B) As the curing agent, the aforementioned known curing agents may be used.
(C) 아크릴 수지는, 가요성과 강도를 양립하며 고인성이다. 바람직한 아크릴 수지는, Tg(유리 전이 온도)가 -50℃ 내지 50℃이며, 에폭시기, 글리시딜기, 알코올성 수산기, 페놀성 수산기 또는 카르복실기를 가교성 관능기로서 갖는 모노머를 중합하여 얻은 가교성 관능기 함유 (메트)아크릴 공중합체이다. 또한, 아크릴로니트릴 등을 함유하여 고무 특성을 나타내면 보다 고인성이 얻어진다.(C) An acrylic resin has both flexibility and strength and high toughness. A preferable acrylic resin has a Tg (glass transition temperature) of -50°C to 50°C, and contains a crosslinkable functional group obtained by polymerizing a monomer having an epoxy group, a glycidyl group, an alcoholic hydroxyl group, a phenolic hydroxyl group, or a carboxyl group as a crosslinkable functional group ( It is a meth)acrylic copolymer. In addition, higher toughness is obtained when rubber properties are exhibited by containing acrylonitrile or the like.
또한, (C) 페녹시 수지는 분자쇄가 길어 에폭시 수지와 구조가 유사하며, 고가교 밀도의 조성물 중에서 가요성 재료로서 작용하고, 고인성을 부여하므로 고강도이면서 터프니스한 조성물이 얻어진다. 바람직한 페녹시 수지는, 주골격이 비스페놀 A형의 것이지만, 그 밖에 비스페놀 F형 페녹시 수지, 비스페놀 A/F 혼합형 페녹시 수지나 브롬화 페녹시 수지 등 시판되는 페녹시 수지를 바람직한 것으로서 들 수 있다.In addition, (C) phenoxy resin has a long molecular chain and is similar in structure to an epoxy resin, acts as a flexible material in a composition having a high crosslinking density, and imparts high toughness, so that a composition having high strength and toughness is obtained. Preferred phenoxy resins have a main skeleton of bisphenol A type. In addition, commercially available phenoxy resins such as bisphenol F type phenoxy resins, bisphenol A/F mixed type phenoxy resins, and brominated phenoxy resins are mentioned as preferable ones.
(D) 표면 처리된 무기 충전재로서는, 커플링제로 표면 처리된 무기 충전제를 들 수 있다. 무기 충전재로서는, 상술한 공지된 무기 충전제를 사용할 수 있는, 예를 들어, 실리카, 알루미나이다. 커플링제로 표면 처리되어 있음으로써, 무기 충전제의 분산성이 양호해진다. 이 때문에, 유동성이 우수한 접착제층이 얻어지므로 금속층(3)과의 접착력을 향상시킬 수 있다. 또한, 무기 충전제를 고충전시킬 수 있게 되므로, 흡수율을 낮추어 내습성을 향상시킬 수 있다.(D) As an inorganic filler surface-treated, the inorganic filler surface-treated with the coupling agent is mentioned. As an inorganic filler, it is a silica and an alumina which can use the above-mentioned well-known inorganic filler, for example. By surface treatment with a coupling agent, dispersibility of the inorganic filler becomes good. For this reason, since the adhesive layer excellent in fluidity is obtained, the adhesive force with the
예를 들어 실란 커플링제에 의한 무기 충전재의 표면 처리는, 공지된 방법에 의해, 실란 커플링제 용액 중에 무기 충전재를 분산시킴으로써, 무기 충전제의 표면에 존재하는 수산기와 실란 커플링제의 알콕시기 등의 가수분해기가 가수분해된 실라놀기를 반응시켜서 무기 충전제의 표면에 Si-O-Si 결합을 생성함으로써 행하여진다.For example, the surface treatment of the inorganic filler with a silane coupling agent is performed by dispersing the inorganic filler in a silane coupling agent solution by a known method, thereby dispersing the hydroxyl groups present on the surface of the inorganic filler and the alkoxy groups of the silane coupling agent. This is done by allowing the decomposition group to react with hydrolyzed silanol groups to form Si-O-Si bonds on the surface of the inorganic filler.
접착제층(4)의 두께는 특별히 제한되는 것은 아니지만, 금속층과 피착체의 접착을 충분히 행하는 관점에서, 3㎛ 이상이 바람직하고, 5㎛ 이상이 보다 바람직하고, 반도체 패키지의 박형화에 기여하기 위해서 150㎛ 이하가 바람직하고, 100㎛ 이하가 보다 바람직하다. 접착제층(4)은 단층으로 구성되어도 되고, 복수층으로 구성되어 있어도 된다.The thickness of the
또한, 접착제층(4)은 25℃, 50% RH에 있어서의 손실 정접 tanδ가 0.4 이상인 것이 바람직하다. 또한, 25℃, 50% RH에 있어서의 접착제층(4)의 손실 정접 tanδ는 3 이하인 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the loss tangent tanδ of the
손실 정접 tanδ는, 동적 점탄성 측정 장치를 사용하여, 0℃부터 승온 속도 5℃/min으로 승온하고, 측정 주파수 1Hz로 측정하여, 25℃에 달했을 때의 값이다.The loss tangent tan δ is a value when the temperature is raised from 0°C at a heating rate of 5°C/min using a dynamic viscoelasticity measuring device, measured at a measurement frequency of 1 Hz, and reaches 25°C.
25℃, 50% RH에 있어서의 접착제층(4)의 손실 정접 tanδ가 0.4 이상이면, 접착제층(4)이 픽업 장치의 핀의 밀어 올림에 의한 응력을 완화할 수 있다. 따라서, 핀의 밀어 올림량이 커졌다고 해도, 금속층(3)에 핀의 흔적이 발생하는 것을 억제할 수 있다. 손실 정접 tanδ가 3 이하이면 핀의 들어 올리기에 의한 응답성도 손상시키지 않고 양호하게 픽업할 수 있다.If the loss tangent tan δ of the
손실 정접 tanδ를 높게 하기 위해서는, 에폭시 수지나 페놀 수지 등의 저분자량 성분을 많게 하고, 아크릴 수지 등의 고분자량 성분을 적게 하면 된다. 또한, 필러를 배합하는 경우에는 필러 배합량을 적게 해도 된다.In order to increase the loss tangent tan δ, low molecular weight components such as epoxy resins and phenol resins may be increased, and high molecular weight components such as acrylic resins may be decreased. In addition, when mix|blending a filler, you may reduce the filler compounding quantity.
또한, 접착제층(4)은 B 스테이지(미경화 상태 또는 반경화 상태)에 있어서 금속층(3)과의 점착력(23℃, 박리 각도 180도, 선 속도 300mm/분)이 0.3N/25mm 이상인 것이 바람직하고, 0.5N/25mm 이상인 것이 보다 바람직하고, 1.0N/25mm 이상인 것이 더욱 바람직하다. 점착력이 0.3N/25mm 미만이면 개편화된 샘플을 익스팬드했을 때에, 접착제층(4)과 금속층(3) 사이에서 박리가 발생해버릴 우려가 있다.In addition, the
접착제층(4)의 흡수율은, 1.5vol% 이하인 것이 바람직하다. 흡수율의 측정 방법은 다음과 같다. 즉, 50×50mm의 크기의 접착제층(4)(필름상 접착제)을 샘플로 하여, 샘플을 진공 건조기 중에서, 120℃, 3시간 건조시키고, 데시케이터 중에서 방냉 후, 건조 질량을 측정하여 M1로 한다. 샘플을 증류수에 실온에서 24시간 침지하고 나서 취출하고, 샘플 표면을 여과지로 닦아내고, 신속하게 칭량하여 M2로 한다. 흡수율은, 다음 식 (1)에 의해 산출된다.The water absorption of the
여기서, d는 필름의 밀도이다.where d is the density of the film.
흡수율이 1.5vol%를 초과하면, 흡수한 수분에 의해 땜납 리플로우 시에 패키지 크랙을 발생시킬 우려가 있다.When the water absorption rate exceeds 1.5 vol%, there is a risk that package cracks may occur during solder reflow due to absorbed moisture.
접착제층(4)의 포화 흡습률은, 1.0vol% 이하인 것이 바람직하다. 포화 흡습률의 측정 방법은 다음과 같다. 즉, 직경 100mm의 원형의 접착제층(4)(필름상 접착제)을 샘플로 하여, 샘플을 진공 건조기 중에서 120℃, 3시간 건조시키고, 데시케이터 중에서 방냉 후, 건조 질량을 측정하여 M1로 한다. 샘플을 85℃, 85% RH의 항온항습조 중에서 168시간 흡습하고 나서 취출하고, 신속하게 칭량하여 M2로 한다. 포화 흡습률은, 다음 식 (2)에 의해 산출된다.The saturated moisture absorption rate of the
여기서, d는 필름의 밀도이다.where d is the density of the film.
포화 흡습률이 1.0vol%를 초과하면, 리플로우 시의 흡습에 의해 증기압의 값이 높아져서, 양호한 리플로우 특성을 얻지 못할 우려가 있다.If the saturated moisture absorptivity exceeds 1.0 vol%, the value of the vapor pressure increases due to moisture absorption during reflow, and there is a risk that good reflow characteristics may not be obtained.
접착제층(4)의 잔존 휘발분은, 3.0wt% 이하인 것이 바람직하다. 잔존 휘발 성분의 측정 방법은 다음과 같다. 즉, 50×50mm의 크기의 접착제층(4)(필름 접착제)을 샘플로 하여, 샘플의 초기 질량을 측정하여 M1로 하고, 샘플을 열풍 순환 항온조 중에서 200℃, 2시간 가열 후, 칭량하여 M2로 한다. 잔존 휘발분은, 다음 식 (3)에 의해 산출된다.It is preferable that the remaining volatile content of the
잔존 휘발분이 3.0wt%를 초과하면, 패키징 시의 가열에 의해 용매가 휘발하여, 접착제층(4)의 내부에 보이드가 발생하여, 패키지 크랙이 발생할 우려가 있다.When the remaining volatile content exceeds 3.0 wt%, the solvent volatilizes due to heating during packaging, and voids are generated inside the
또한, 점착 테이프(5)로부터 접착제층(4) 및 금속층(3)이 픽업되는 상태에 있어서의 점착 테이프(5)와 접착제층(4)의 점착력은 0.03 내지 0.5N/25mm이다. 점착 테이프(5)로부터 접착제층(4) 및 금속층(3)이 픽업되는 상태에 있어서의 점착 테이프(5)와 접착제층(4)의 점착력이기 때문에, 점착 테이프(5)의 점착제층(52)이 방사선 경화형의 점착제를 포함하고, 점착 테이프(5)에 방사선을 조사하여 점착력을 저하시킨 후에 접착제층(4) 및 금속층(3)을 픽업하는 경우에는, 방사선 조사 후에 있어서의 점착력이라고 하게 된다.Moreover, the adhesive force of the
점착력은, JIS Z0237에 준거하여, 23℃, 50% RH의 환경 하에서, 폭 25mm 사이즈로 커트한 점착 테이프(5)와 접착제층(4)을 접합하고, 만능형 인장 시험기를 사용하여 박리 각도 180°, 박리 속도 300mm/min에서 측정한다.The adhesive strength was determined by bonding the
점착력을 상기 범위로 하기 위해서는, 점착 테이프(5)의 점착제층(52)이나 접착제층(4) 각각의 점탄성이나 표면 에너지를 조정하거나, 그 조합을 조정하면 된다.In order to make the adhesive force within the above range, the viscoelasticity or surface energy of the pressure-
점착 테이프(5)와 접착제층(4)의 점착력이 0.5N/25mm 이하이면 접착제층 및 금속층(3)을 점착 테이프(5)로부터 픽업할 때에, 핀의 밀어 올림 속도나 밀어 올림량을 저하시켜서 금속층에 부여하는 힘을 작게 해도 픽업할 수 있기 때문에, 금속층(3)에 핀의 흔적이 발생하는 것을 억제할 수 있다. 점착 테이프(5)와 접착제층(4)의 점착력이 0.03N/25mm 이상이면, 금속층(3) 및 접착제층(4)을 익스팬드할 때에 금속층(3) 및 접착제층(4)이 점착 테이프(5)로부터 박리되지 않고, 양호하게 보유 지지된다.When the adhesive force between the
이어서, 본 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)의 제조 방법의 일례에 대하여 설명한다. 먼저, 긴 금속층(3)을 준비한다. 금속층(3)으로서는, 시판하고 있는 금속박을 사용하면 된다. 이어서, 도 4의 (A)에 도시하는 바와 같이, 금속층(3)을 긴 기재 테이프(2)의 점착면에 접합 롤러(r) 등을 사용하여 접합한다.Next, an example of the manufacturing method of the
별도로, 긴 필름상의 접착제층(4)을 형성한다. 접착제층(4)은 수지 조성물을 조제하고, 필름상의 층에 형성하는 관용의 방법을 이용하여 형성할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어, 적당한 세퍼레이터(박리지 등) 상에 상기 수지 조성물을 도포하고 건조하여(열경화가 필요한 경우 등에서는, 필요에 따라 가열 처리를 실시하여 건조하여), 접착제층(4)을 형성하는 방법 등을 들 수 있다. 상기 수지 조성물은, 용액이어도 되고, 분산액이어도 된다.Separately, a long film-like
이어서, 도 4의 (B)에 도시하는 바와 같이, 기재 테이프(2)에 접합된 금속층(3) 상에 세퍼레이터로부터 박리된 접착제층(4)을 접합 롤러(r) 등을 사용하여 접합한다.Next, as shown in FIG. 4(B), the
또한, 상술에서는, 기재 테이프(2)에 금속층(3)을 접합한 후, 금속층(3) 상에 접착제층(4)을 접합하도록 했지만, 금속층(3)과 접착제층(4)을 접합한 후, 금속층(3)측의 면을 기재 테이프(2)에 접합해도 된다.In addition, in the above, after bonding the
이어서, 도 4의 (C)에 도시하는 바와 같이, 접착제층(4) 및 금속층(3)을 소정 형상(여기서는 원형 형상)으로 가압 절단날 등을 사용하여 프리컷하고, 도 4의 (D)에 도시하는 바와 같이, 주변의 불필요 부분(6)을 기재 테이프(2)로부터 박리하여 제거한다. 또한, 프리컷은, 상기에 한하지 않고, 외측 테두리가 원형 형상이며 격자상의 가압 절단 톱니를 사용하여, 접착제층(4) 및 금속층(3)을 반도체 칩(C)에 대응하는 크기 등의 소정의 크기로 미리 개편화해 두어도 된다.Next, as shown in FIG. 4(C), the
또한, 기재 테이프(2) 상에 소정 형상의 금속층(3) 및 접착제층(4)을 형성하는 방법으로서는, 상기에 한정되는 것은 아니며, 긴 금속층(3)을 긴 기재 테이프(2)에 접합하고, 소정 형상으로 펀칭하여, 불필요 부분(6)을 제거한 후, 소정 형상으로 형성된 접착제층(4)을 소정 형상의 금속층(3) 상에 접합해도 되고, 미리 각각 소정 형상으로 형성된 금속층(3)과 접착제층(4)을 기재 테이프(2)에 접합해도 되는데, 제조 공정의 간편성의 점에서, 상술한 도 4의 (A) 내지 (D)에 도시하는 공정에 의해 제조하는 것이 바람직하다.In addition, as a method of forming the
또한 별도로, 점착 테이프(5)를 제작한다. 기재 필름은, 종래 공지된 제막 방법에 의해 제막할 수 있다. 당해 제막 방법으로서는, 예를 들어 캘린더 제막법, 유기 용매 중에서의 캐스팅법, 밀폐계에서의 인플레이션 압출법, T다이 압출법, 공압출법, 드라이 라미네이트법 등을 예시할 수 있다. 이어서, 기재 필름(51) 상에 점착제층 조성물을 도포하고, 건조시켜서(필요에 따라 가열 가교시켜) 점착제층(52)을 형성한다. 도포 방식으로서는, 롤 도포 시공, 스크린 도포 시공, 그라비아 도포 시공 등을 들 수 있다. 또한, 점착제층 조성물을 직접 기재 필름에 도포하여, 기재 필름상(51)에 점착제층(52)을 형성해도 되고, 또한, 점착제층 조성물을 표면에 박리 처리를 행한 박리지 등에 도포하여 점착제층(52)을 형성시킨 후, 그 점착제층을 기재 필름(51)에 전사시켜도 된다. 이에 의해, 기재 필름(51) 상에 점착제층(52)이 형성된 점착 테이프(5)가 제작된다.Furthermore, the
그 후, 도 5의 (A)에 도시하는 바와 같이, 기재 테이프(2) 상에 설치된 소정 형상의 금속층(3) 및 접착제층(4)의 접착제층(4)측의 면에, 점착 테이프(5)의 점착제층(52)측의 면이 접하도록 점착 테이프(5)를 라미네이트한다.Then, as shown in FIG. 5(A), the adhesive tape ( 5) The
이어서, 도 5의 (B)에 도시하는 바와 같이, 점착 테이프(5)를 소정 형상으로 가압 절단날 등을 사용하여 프리컷하고, 도 5의 (C)에 도시하는 바와 같이, 주변의 불필요 부분(7)을 기재 테이프(2)로부터 박리하여 제거함으로써, 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)가 만들어진다. 또한, 그 후, 프리컷 가공에 사용한 기재 테이프(2)를 박리하고, 공지된 세퍼레이터를 점착 테이프(5)의 점착제층(52)과 접합하게 해도 된다.Next, as shown in FIG. 5(B), the
<사용 방법><How to use>
이어서, 본 실시 형태의 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)를 사용하여 전자 디바이스 패키지(8)를 제조하는 방법에 대해서, 도 6 내지 도 8을 참조하면서 설명한다. 또한, 본 실시 형태에 있어서는, 전자 디바이스 패키지(8)로서, 피착체(9) 상에 플립 칩 접속된 반도체 칩(C)을 예로 하여 설명한다.Next, the method of manufacturing the electronic device package 8 using the
[반도체 웨이퍼(W)의 마운트 공정][Mount process of semiconductor wafer (W)]
우선, 본 발명의 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)의 점착 테이프(5)와 동일한 별체의 다이싱 테이프(D)를 준비하고, 그 다이싱 테이프(D) 상의 중앙부에, 도 6의 (A)에서 도시된 바와 같이, 반도체 웨이퍼(W)를 접착하고, 이것을 점착 보유 지지시켜 고정함(반도체 웨이퍼(W)의 마운트 공정)과 함께, 다이싱 테이프(D)의 주연부에 링 프레임(R)을 접합한다. 이때, 다이싱 테이프(D)는, 반도체 웨이퍼(W)의 이면에 접착된다. 반도체 웨이퍼(W)의 이면이란, 회로면과는 반대측의 면(비회로면, 비전극 형성면 등으로도 칭해진다)을 의미한다. 접착 방법은 특별히 한정되지 않지만, 가열 압착에 의한 방법이 바람직하다. 압착은, 통상, 압착 롤 등의 압박 수단에 의해 압박하면서 행하여진다.First, a separate dicing tape D identical to the
[반도체 웨이퍼(W)의 다이싱 공정][Dicing process of semiconductor wafer W]
이어서, 도 6의 (B)에서 도시된 바와 같이, 반도체 웨이퍼(W)의 다이싱을 행한다. 이에 의해, 반도체 웨이퍼(W)를 소정의 크기로 절단하여 개편화(소편화)하여, 반도체 칩(C)을 제조한다. 다이싱은, 예를 들어, 반도체 웨이퍼(W)의 회로면측에서 통상의 방법에 따라서 행하여진다. 또한, 본 공정에서는, 예를 들어, 다이싱 테이프(D)까지 절입을 행하는 풀컷이라고 불리는 절단 방식 등을 채용할 수 있다. 본 공정에서 사용하는 다이싱 장치로서는 특별히 한정되지 않고 종래 공지된 것을 사용할 수 있다. 또한, 다이싱 테이프(D)의 익스팬드를 행하는 경우, 그 익스팬드는 종래 공지된 익스팬드 장치를 사용하여 행할 수 있다.Next, as shown in FIG. 6(B), dicing of the semiconductor wafer W is performed. In this way, the semiconductor wafer W is cut into a predetermined size and separated into pieces (small pieces) to manufacture the semiconductor chip C. Dicing is performed according to a conventional method on the circuit surface side of the semiconductor wafer W, for example. In addition, in this process, the cutting method called full-cut etc. which perform incision up to the dicing tape D are employable, for example. The dicing device used in this process is not particularly limited, and conventionally known ones can be used. In the case of expanding the dicing tape D, the expansion can be performed using a conventionally known expander.
[반도체 칩(C)의 픽업 공정][Pick-up process of semiconductor chip (C)]
도 6의 (C)에서 도시된 바와 같이, 반도체 칩(C)의 픽업을 행하여, 반도체 칩(C)을 다이싱 테이프(D)로부터 박리시킨다. 픽업의 방법으로서는 특별히 한정되지 않고 종래 공지된 다양한 방법을 채용할 수 있다. 예를 들어, 반도체 칩(C) 및 링 프레임(R)이 접합된 다이싱 테이프(D)를, 기재 필름측을 아래로 하여, 픽업 장치의 스테이지(S) 상에 적재하고, 링 프레임(R)을 고정한 상태에서, 중공 원기둥 형상의 밀어 올림 부재(T)를 상승시켜서, 다이싱 테이프(D)를 확장한다. 이 상태에서, 개개의 반도체 칩(C)을 다이싱 테이프(D)의 기재 필름측으로부터 핀(N)에 의해 밀어 올리고, 밀어 올려진 반도체 칩(C)을 픽업 장치에 의해 픽업하는 방법 등을 들 수 있다.As shown in FIG. 6(C), the semiconductor chip C is picked up and the semiconductor chip C is separated from the dicing tape D. The pick-up method is not particularly limited, and conventionally known various methods can be employed. For example, the dicing tape D to which the semiconductor chip C and the ring frame R are bonded is placed with the base film side down on the stage S of the pick-up device, and the ring frame R ) is fixed, the hollow columnar pushing member T is raised to expand the dicing tape D. In this state, a method of pushing up each semiconductor chip C from the base film side of the dicing tape D with a pin N and picking up the pushed semiconductor chip C by a pick-up device, etc. can be heard
[플립 칩 접속 공정][Flip chip connection process]
픽업한 반도체 칩(C)은, 도 6의 (D)에서 도시된 바와 같이, 기판 등의 피착체(9)에, 플립 칩 본딩 방식(플립 칩 실장 방식)에 의해 고정시킨다. 구체적으로는, 반도체 칩(C)을, 반도체 칩(C)의 회로면(표면, 회로 패턴 형성면, 전극 형성면 등으로도 칭해진다)이 피착체(9)와 대향하는 형태로, 피착체(9)에 통상의 방법에 따라서 고정시킨다. 예를 들어, 먼저 반도체 칩(C)의 회로면측에 형성되어 있는 접속부로서의 범프(10)에 플럭스를 부착시킨다. 이어서, 반도체 칩(C)의 범프(10)를 피착체(9)의 접속 패드에 피착된 접합용의 도전재(11)(땜납 등)에 접촉시켜서 압박하면서 범프(10) 및 도전재(11)를 용융시킴으로써, 반도체 칩(C)과 피착체(9)의 전기적 도통을 확보하여, 반도체 칩(C)을 피착체(9)에 고정시킬 수 있다(플립 칩 본딩 공정). 이때, 반도체 칩(C)과 피착체(9) 사이에는 공극이 형성되어 있고, 그 공극간 거리는, 일반적으로 30㎛ 내지 300㎛ 정도이다. 반도체 칩(C)과 피착체(9)의 대향면이나 간극에 잔존하는 플럭스는 세정 제거한다.As shown in FIG. 6(D), the picked-up semiconductor chip C is fixed to an
피착체(9)로서는, 리드 프레임이나 회로 기판(배선 회로 기판 등) 등의 각종 기판을 사용할 수 있다. 이러한 기판의 재질로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 세라믹 기판이나, 플라스틱 기판을 들 수 있다. 플라스틱 기판으로서는, 예를 들어, 에폭시 기판, 비스말레이미드트리아진 기판, 폴리이미드 기판 등을 들 수 있다. 또한, 다른 반도체 칩을 피착체(9)로 하여 상기 반도체 칩(C)을 플립 칩 접속함으로써, 칩 온 칩 구조로 할 수도 있다.As the
이어서, 도 7의 (A)에 도시하는 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)의 기재 테이프(2)를 박리하고, 금속층(3) 및 점착 테이프(5)의 점착제층(52)을 노출시키고, 점착제층(52)의 주연부를 링 프레임(R)에 고정한다.Subsequently, as shown in FIG. 7(A), the
이어서, 도 7의 (B)에 도시하는 바와 같이, 금속층(3) 및 접착제층(4)을 반도체 칩(C)에 대응하는 크기로 절단하여 개편화한다. 절단은, 상술한 반도체 웨이퍼(W)의 다이싱 공정과 동일한 공정에서 행할 수 있다. 또한, 금속층(3) 및 접착제층(4)을 미리 개편화하는 프리컷 가공이 되어 있는 경우에는, 본 공정은 행하지 않는다.Subsequently, as shown in FIG. 7(B), the
이어서, 도 7의 (C)에 도시하는 바와 같이, 개편화된 금속층(3) 및 접착제층(4)을 픽업하여, 점착 테이프(5)로부터 박리시킨다. 픽업은, 상술한 반도체 칩(C)의 픽업 공정과 동일한 공정에서 행할 수 있다.Subsequently, as shown in FIG. 7(C), the
이어서, 픽업된 금속층(3) 및 접착제층(4)의 접착제층(4)측을, 도 8에 도시하는 바와 같이, 플립 칩 접속된 반도체 칩(C)의 이면에 접합한다. 그 후, 금속층(3) 부착 반도체 칩(C)의 주변 및 반도체 칩(C)과 피착체(9)의 간극에 밀봉재(밀봉 수지 등)를 충전시켜서 밀봉한다. 밀봉은, 통상의 방법에 따라서 행하여진다. 이때, 반도체 칩(C)의 이면에 금속층(3)이 설치되어 있기 때문에, 플립 칩 본딩 공정에 있어서 반도체 칩(C)과 피착체(9)의 열팽창률차에 의해 발생한 휨이, 반도체 칩(C)과 금속층(3)의 열팽창률차에 의해 상쇄된다. 또한, 반도체 칩(C)의 이면에 금속층(3)이 설치되어 있기 때문에, 전자 디바이스로서의 사용 시의 발열이 금속층(3)에 의해 방열된다.Then, as shown in FIG. 8, the
또한, 상술에서는, 금속층(3)을 반도체 칩(C)의 이면에 접착제층(4)을 통하여 직접 설치하고, 금속층(3)도 반도체 칩(C)과 함께 밀봉하는 패키지 구조에 대하여 설명했지만, 반도체 칩(C)을 밀봉한 후, 밀봉체의 상면에 금속층(3)을, 접착제층(4)을 통하여 설치하도록 해도 된다. 전자 디바이스 패키지(8)는 밀봉 시에도 휨을 발생시키기 때문에, 밀봉체의 상면에 금속층(3)을 설치함으로써, 밀봉 시의 휨을 상쇄할 수 있다.In the above description, the package structure in which the
또한, 상술에서는, 전자 디바이스 패키지(8)로서, 피착체(9) 상에 플립 칩 접속된 반도체 칩(C)을 예로 하여 설명했지만, 이것에 한정되는 것은 아니며, 예를 들어, 반도체 칩 상에 동일한 사이즈의 다른 반도체 칩을 적층한 전자 디바이스 패키지 구조에 있어서, 양쪽 칩 사이의 스페이서로서 본 발명의 전자 디바이스 패키지용 테이프(1)의 금속층(3)을 사용하기 위해서, 접착제층(4)을 통하여 하측의 반도체 칩 상에 금속층(3)을 설치하도록 해도 된다.In the above description, as the electronic device package 8, the semiconductor chip C flip-chip connected on the
<실시예><Example>
이어서, 본 발명의 효과를 더욱 명확히 하기 위해서, 실시예 및 비교예에 대하여 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다.Next, in order to further clarify the effects of the present invention, Examples and Comparative Examples will be described in detail, but the present invention is not limited to these Examples.
(1) 점착 테이프의 제작(1) Production of adhesive tape
<점착제층 조성물 (1)><Adhesive layer composition (1)>
관능기를 갖는 아크릴계 공중합체 (A1)로서, 2-에틸헥실아크릴레이트, 2-히드록시에틸아크릴레이트 및 아크릴산을 포함하고, 2-에틸헥실아크릴레이트의 비율이 80몰%, 질량 평균 분자량 70만의 공중합체를 조제하였다. 이어서, 요오드가가 15로 되도록, 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트를 첨가하여, 유리 전이 온도 -70℃, 수산기가 20mgKOH/g, 산가 5mgKOH/g의 아크릴계 공중합체 (a-1)을 조제하였다.As an acrylic copolymer (A1) which has a functional group, it contains 2-ethylhexyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, and acrylic acid, and the ratio of 2-ethylhexyl acrylate is 80 mol% and the air of a mass average molecular weight of 700,000 A composite was prepared. Next, 2-isocyanatoethyl methacrylate was added so that the iodine value was 15 to prepare an acrylic copolymer (a-1) having a glass transition temperature of -70°C, a hydroxyl value of 20 mgKOH/g, and an acid value of 5 mgKOH/g did
아크릴계 공중합체 (a-1) 100질량부에 대하여 폴리이소시아네이트로서 코로네이트 L(도소 가부시키가이샤제)을 10질량부 첨가하고, 광중합 개시제로서 이르가큐어―184(BASF사제)를 3질량부 첨가한 혼합물을, 아세트산에틸에 용해시키고, 교반하여 점착제층 조성물 (1)을 얻었다.10 parts by mass of Coronate L (manufactured by Tosoh Corporation) was added as a polyisocyanate based on 100 parts by mass of the acrylic copolymer (a-1), and 3 parts by mass of Irgacure-184 (manufactured by BASF) was added as a photopolymerization initiator The mixture was dissolved in ethyl acetate and stirred to obtain the pressure-sensitive adhesive layer composition (1).
<점착제층 조성물 (2)><Adhesive layer composition (2)>
관능기를 갖는 아크릴계 공중합체 (A1)로서, 부틸아크릴레이트, 2-에틸헥실아크릴레이트, 2-히드록시에틸아크릴레이트 및 아크릴산을 포함하고, 2-에틸헥실아크릴레이트의 비율이 50몰%이며, 질량 평균 분자량 65만, 유리 전이 온도 -60℃, 수산기가 25mgKOH/g, 산가 6mgKOH/g의 아크릴계 공중합체 (a-2)를 조제하였다.As the acrylic copolymer (A1) having a functional group, butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate and acrylic acid are included, the ratio of 2-ethylhexyl acrylate is 50 mol%, and the mass An acrylic copolymer (a-2) having an average molecular weight of 650,000, a glass transition temperature of -60°C, a hydroxyl value of 25 mgKOH/g, and an acid value of 6 mgKOH/g was prepared.
아크릴계 공중합체 (a-2) 100질량부에 대하여 폴리이소시아네이트로서 코로네이트 L(도소 가부시키가이샤제)을 10질량부 첨가한 혼합물을, 아세트산에틸에 용해시키고, 교반하여 점착제층 조성물 (2)를 얻었다.A mixture obtained by adding 10 parts by mass of Coronate L (manufactured by Tosoh Corporation) as a polyisocyanate based on 100 parts by mass of the acrylic copolymer (a-2) was dissolved in ethyl acetate and stirred to obtain an adhesive layer composition (2) got it
<점착제층 조성물 (3)><Adhesive layer composition (3)>
아크릴계 공중합체 (a-2) 100질량부에 대하여 폴리이소시아네이트로서 코로네이트 L(도소 가부시키가이샤제)을 8질량부 첨가한 혼합물을, 아세트산에틸에 용해시키고, 교반하여 점착제층 조성물 (3)을 얻었다.A mixture obtained by adding 8 parts by mass of Coronate L (manufactured by Tosoh Corporation) as a polyisocyanate based on 100 parts by mass of the acrylic copolymer (a-2) was dissolved in ethyl acetate and stirred to obtain an adhesive layer composition (3) got it
기재 필름으로서 이하의 것을 제작하였다.As a base film, the following were produced.
<기재 필름 (1)><Base film (1)>
폴리프로필렌 PP 및 열가소성 엘라스토머 HSBR의 혼합물(PP: HSBR=80: 20)의 수지 비즈를 200℃에서 용융하고, 압출기를 사용하여 두께 80㎛의 긴 필름상으로 성형하여 기재 필름 (1)을 제작하였다. 폴리프로필렌 PP로서는, 이데미쯔 세끼유 가가꾸 가부시끼가이샤제의 F-300SP(상품명)를 열가소성 엘라스토머 HSBR로서는, JSR 가부시키가이샤제의 다이나론 1320P(상품명)를 사용하였다.Resin beads of a mixture of polypropylene PP and thermoplastic elastomer HSBR (PP: HSBR = 80: 20) were melted at 200 ° C and formed into a long film with a thickness of 80 μm using an extruder to prepare a base film (1). . As the polypropylene PP, F-300SP (trade name) manufactured by Idemitsu Sekiyu Chemical Co., Ltd. was used, and Dynaron 1320P (trade name) manufactured by JSR Corporation was used as the thermoplastic elastomer HSBR.
<점착 테이프 (1)><Adhesive tape (1)>
이형 처리한 폴리에틸렌-테레프탈레이트 필름을 포함하는 박리 라이너에, 상기 점착제층 조성물 (1)을 건조 후의 두께가 10㎛로 되도록 도포 시공하고, 110℃에서 3분간 건조시켜서 점착제층으로 한 후, 상기 기재 필름 (1)과 접합하여, 점착 테이프 (1)을 제작하였다.On a release liner made of a polyethylene-terephthalate film subjected to release treatment, the pressure-sensitive adhesive layer composition (1) was coated so that the thickness after drying was 10 μm, dried at 110° C. for 3 minutes to form a pressure-sensitive adhesive layer, and then the substrate It bonded together with the film (1), and produced the adhesive tape (1).
<점착 테이프 (2)><Adhesive tape (2)>
점착제층 조성물 (2)를 사용한 것 이외에는 점착 테이프 (1)과 마찬가지로 점착 테이프 (2)를 제작하였다.The adhesive tape (2) was produced similarly to the adhesive tape (1) except having used the adhesive layer composition (2).
<점착 테이프 (3)><Adhesive tape (3)>
점착제층 조성물 (3)을 사용한 것 이외에는 점착 테이프 (1)과 마찬가지로 점착 테이프 (3)을 제작하였다.The adhesive tape (3) was produced similarly to the adhesive tape (1) except having used the adhesive layer composition (3).
(2) 접착제층의 제작(2) Production of adhesive layer
<접착제층 (1)><Adhesive layer (1)>
아크릴 수지(나가세 켐텍스 가부시키가이샤제, 상품명 「테이산 레진 SG-P3」, Mw 85만, Tg 12℃) 80질량부와, 나프탈렌형 에폭시 수지(DIC 가부시키가이샤제, 상품명 「HP-4700」) 10질량부, 경화제로서의 페놀 수지(메이와 가세이 가부시키가이샤제, 상품명 「MEH7851」) 10질량부를 메틸에틸케톤에 용해시켜, 접착제층 조성물 용액을 조제하였다. 이 접착제층 조성물 용액을, 실리콘 이형 처리한 두께가 50㎛인 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름을 포함하는 이형 처리 필름(박리 라이너) 상에 도포한 후, 130℃에서 5분간 건조시켰다. 이에 의해, 두께 20㎛의 접착제층 (1)을 제작하였다.Acrylic resin (manufactured by Nagase Chemtex Co., Ltd., trade name "Teisan Resin SG-P3", Mw 850,000, Tg 12 ° C.) 80 parts by mass, and a naphthalene type epoxy resin (manufactured by DIC Co., Ltd., trade name "HP-4700 ]) 10 parts by mass, 10 parts by mass of a phenol resin (manufactured by Maywa Kasei Co., Ltd., trade name "MEH7851") as a curing agent was dissolved in methyl ethyl ketone to prepare an adhesive layer composition solution. This adhesive layer composition solution was coated on a release treatment film (release liner) made of a polyethylene terephthalate film having a thickness of 50 μm subjected to silicone release treatment, and then dried at 130° C. for 5 minutes. In this way, an
<접착제층 (2)><Adhesive layer (2)>
비스페놀 A형 페녹시 수지(신닛테츠스미킨 가가쿠 가부시키가이샤제, 상품명 「YP-50S」, Mw 6만, Tg 84℃) 100질량부와, 크레졸노볼락형 에폭시 수지(니혼 가야쿠 가부시키가이샤제, 상품명 「EOCN-1020」, 에폭시 당량 198, 연화점 64℃) 40질량부, 액체 비스페놀 A형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨 가가쿠 가부시키가이샤, 상품명 「YD-128」, Mw 400, 에폭시 당량 190) 100질량부, 경화제로서의 이미다졸(시꼬꾸 가세이 고교 가부시키가이샤제, 상품명 「2PHZ-PW」) 1.5질량부, 실리카 필러(가부시키가이샤 애드마텍스제, 상품명 「SO-C2」, 평균 입경 0.5㎛) 20질량부를 메틸에틸케톤에 용해 또는 분산시켜서, 접착제층 조성물 용액을 조제하였다. 이 접착제층 조성물 용액을 사용하여, 접착제층 (1)과 동일한 방법으로 두께 20㎛의 접착제층 (2)를 제작하였다.100 parts by mass of bisphenol A-type phenoxy resin (manufactured by Nippon-Sumikin Chemical Co., Ltd., trade name "YP-50S", Mw 60,000, Tg 84 ° C.), and a cresol novolak-type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd. Kaisha product, trade name "EOCN-1020", epoxy equivalent 198, softening point 64 ° C.) 40 parts by mass, liquid bisphenol A type epoxy resin (Nittetsu Sumikin Chemical Co., Ltd., trade name "YD-128", Mw 400, epoxy Equivalent 190) 100 parts by mass, imidazole as a curing agent (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., trade name "2PHZ-PW") 1.5 parts by mass, silica filler (manufactured by Admatex Co., Ltd., trade name "SO-C2", An adhesive layer composition solution was prepared by dissolving or dispersing 20 parts by mass (average particle size: 0.5 µm) in methyl ethyl ketone. Using this adhesive layer composition solution, an adhesive layer (2) having a thickness of 20 µm was produced in the same manner as in the adhesive layer (1).
금속층으로서 이하의 것을 준비하였다.As the metal layer, the following were prepared.
<금속층 (1)><Metal layer (1)>
F3-WS(후루카와 덴키 고교, 구리박, 두께 12㎛, 표면 조도 RzJIS2.8㎛) F3-WS (Furukawa Denki Kogyo, copper foil, thickness 12㎛, surface roughness RzJIS 2.8㎛)
<금속층 (2)><Metal layer (2)>
GTS(후루카와 덴키 고교, 구리박, 두께 9㎛, 표면 조도 RzJIS6.0㎛) GTS (Furukawa Denki Kogyo, copper foil,
<금속층 (3)><Metal layer (3)>
1085(UACJ, 알루미늄박, 두께 20㎛, 표면 조도 RzJIS1.9㎛) 1085 (UACJ, aluminum foil, thickness 20㎛, surface roughness RzJIS 1.9㎛)
<금속층 (4)><Metal layer (4)>
1085(UACJ, 알루미늄박, 두께 20㎛, 표면 조도 RzJIS4.9㎛) 1085 (UACJ, aluminum foil, thickness 20㎛, surface roughness RzJIS 4.9㎛)
<금속층 (5)><Metal layer (5)>
SUS304(신닛테츠스미킨 머티리얼즈, 스테인리스박, 두께 20㎛, 표면 조도 RzJIS2.1um)SUS304 (Nittetsu Sumikin Materials, stainless steel foil, thickness 20㎛, surface roughness RzJIS2.1um)
<금속층 (6) 내지 (11)><Metal layers (6) to (11)>
두께 35㎛, M면의 광택도가 230%, S면의 광택도가 100%인 전해 구리박을 탈지·산세한 후, 하기 표 1 및 2에 나타내는 조건에서 조면화 처리, PR 펄스 전해, 알칼리 침지 처리를 행하고, 금속층 (6) 내지 (11)을 준비하였다.After degreasing and pickling an electrolytic copper foil with a thickness of 35 μm and an M-surface gloss of 230% and an S-surface glossiness of 100%, roughening treatment under the conditions shown in Tables 1 and 2 below, PR pulse electrolysis, alkali Immersion treatment was performed to prepare metal layers (6) to (11).
또한, 금속층 (1) 내지 (11)에 있어서 표면 조도 RzJIS는, 금속층의 접착제층에 접합되지 않는 면의 10점 평균 조도에 의한 표면 조도 RzJIS이다. 또한, 금속층 (6) 내지 (11)에 있어서 광택도는, JIS Z 8741에 준거하여 닛본 덴쇼꾸 가부시키가이샤제 광택도계 핸디 글로스 미터 PG-1을 사용하여 측정한, 금속층의 접착제층에 접합되지 않는 면의 입사각 60도에 있어서의 경면 광택도이다.In addition, in metal layers (1)-(11), surface roughness RzJIS is the surface roughness RzJIS by the 10-point average roughness of the surface which is not bonded to the adhesive bond layer of a metal layer. In addition, the glossiness of the metal layers (6) to (11) was measured using a gloss meter handy gloss meter PG-1 manufactured by Nippon Denshoku Co., Ltd. in accordance with JIS Z 8741, and the metal layer was not bonded to the adhesive layer. It is the specular gloss at an angle of incidence of 60 degrees on the non-polished surface.
(5) 전자 디바이스 패키지용 테이프의 제작(5) Production of tape for electronic device packaging
<실시예 1><Example 1>
상술한 박리 라이너 상에 형성된 접착제층 (1)과 금속층 (1)을 접합 각도 120°, 압력 0.2MPa, 속도 10mm/s의 조건에서 접합하여 편면 접착 필름을 제작하였다. 점착 테이프 (1)를 링 프레임에 접합할 수 있도록 원형 형상으로, 편면 접착 필름을 점착 테이프 (1)보다 작은 원형 형상으로 프리컷하였다. 상기 편면 접착 필름의 이형 처리 필름을 박리하여 노출시킨 접착제층 (1)측과 상기 점착 테이프 (1)의 점착제층을, 편면 접착 필름의 주위에 점착제층이 노출되도록 접합하여, 도 1에 도시한 바와 같은 실시예 1에 관한 전자 디바이스 패키지용 테이프를 제작하였다.The adhesive layer (1) and the metal layer (1) formed on the release liner were bonded under conditions of a bonding angle of 120°, a pressure of 0.2 MPa, and a speed of 10 mm/s to prepare a single-sided adhesive film. The adhesive tape (1) was precut into a circular shape so that it could be bonded to the ring frame, and the single-sided adhesive film was precut into a circular shape smaller than the adhesive tape (1). The adhesive layer (1) side exposed by peeling off the release treatment film of the single-sided adhesive film and the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive tape (1) are bonded so that the pressure-sensitive adhesive layer is exposed around the single-sided adhesive film, as shown in FIG. A tape for an electronic device package according to Example 1 was prepared.
<실시예 2 내지 12, 비교예 1><Examples 2 to 12, Comparative Example 1>
점착 테이프, 접착제층 조성물, 금속층의 조합을 표 3, 4에 기재된 조합으로 한 이외에는, 실시예 1과 동일한 방법에 의해, 실시예 2 내지 12, 비교예 1의 전자 디바이스 패키지용 테이프를 제작하였다.Tapes for electronic device packaging of Examples 2 to 12 and Comparative Example 1 were prepared in the same manner as in Example 1, except that the combination of the adhesive tape, the adhesive layer composition, and the metal layer was set to the combination described in Tables 3 and 4.
실시예 1 내지 12 및 비교예 1에 관한 전자 디바이스 패키지용 테이프에 대하여 이하의 측정 및 평가를 행하였다. 그 결과를 표 3, 4에 나타내었다.The following measurement and evaluation were performed about the tape for electronic device packages concerning Examples 1-12 and Comparative Example 1. The results are shown in Tables 3 and 4.
(점착 테이프와 접착제층의 점착력)(adhesive strength of adhesive tape and adhesive layer)
각 실시예 및 비교예에 관한 접착제층을 박리 라이너로부터 박리하고, 접착제층의 표면에 형상 유지 테이프(세끼스이 가가꾸 고교 가부시키가이샤제, 상품명 「forte」)를 2kg의 롤러에 의해 접합하고, 25mm 폭의 직사각형으로 잘라내고, 기재 필름과 점착제층과 접착제층과 형상 유지 테이프가 이 순서대로 적층된 시험편을 제작하였다. 제작한 시험편 중, 실시예 1, 3, 4 및 7 내지 12는 자외선을 공냉식 고압 수은등(80W/cm, 조사 거리 100mm)에 의해 200mJ/㎠ 조사하였다. 그 후, 가부시키가이샤 도요 세끼 세이사꾸쇼제의 스트로그래프(상품명 「VE10」)에 의해 「기재 필름 및 점착제층」의 적층체와, 「접착제층 및 형상 유지 테이프」의 적층체로 나누어서 파지하고, 선 속도 300mm/min에서 점착제층과 접착제층 사이의 점착력을 측정하였다. 또한, 점착력의 단위는 [N/25mm]이다. 측정은, 180° 박리법에 의한 것으로 하고, 측정 온도는 23℃, 측정 습도는 50%였다. 또한, 「기재 필름 및 점착제층」의 적층체와, 「접착제층 및 형상 유지 테이프」의 적층체로 나누고, 「기재 필름 및 점착제층」으로부터 「접착제층 및 형상 유지 테이프」를 박리시키는 것은, 접착제층만을 파지하여 박리하면 접착제층이 늘어날 우려가 있기 때문이다.The adhesive layer according to each Example and Comparative Example was peeled off from the release liner, and a shape-retaining tape (manufactured by Sekisui Chemical Kogyo Co., Ltd., trade name "forte") was bonded to the surface of the adhesive layer with a 2 kg roller, It was cut out into a rectangle with a width of 25 mm, and a test piece was prepared in which a base film, an adhesive layer, an adhesive layer, and a shape-retaining tape were laminated in this order. Among the prepared test pieces, Examples 1, 3, 4, and 7 to 12 were irradiated with ultraviolet rays of 200 mJ/
(접착제층의 손실 정접 tanδ)(loss tangent tanδ of adhesive layer)
각 실시예 및 비교예에 관한 접착제층을 5.0cm×5.0cm의 사이즈로 잘라내서 적층하고, 스테이지 70℃의 열판 상에서, 핸드 롤러로 접합하여, 두께가 약 1.0mm인 시험편을 얻었다. 이 시험편에 대해서, Haake사제의 레오미터(상품명 「RS6000」)를 사용하여, 온도 범위 10 내지 150℃, 승온 속도 5℃/min으로 승온하고, 25℃에서의 손실 정접 tanδ를 구하였다. 측정은, 50% RH, 측정 주파수 1Hz로 행하였다.The adhesive layer according to each Example and Comparative Example was cut out to a size of 5.0 cm x 5.0 cm, laminated, and bonded with a hand roller on a hot plate at 70 ° C. to obtain a test piece having a thickness of about 1.0 mm. The test piece was heated at a temperature range of 10 to 150°C and a temperature increase rate of 5°C/min using a rheometer manufactured by Haake (trade name "RS6000"), and the loss tangent tan δ at 25°C was determined. The measurement was performed at 50% RH and a measurement frequency of 1 Hz.
(인식성)(recognition)
상기 실시예 및 비교예의 각 샘플의 전자 디바이스 패키지용 테이프의 금속층 및 접착제층을, 5mm×5mm의 크기의 샘플로 개편화하였다. 그 후, 기재 필름측으로부터 점착제층에 공냉식 고압 수은등(80W/cm, 조사 거리 10cm)에 의해 자외선을 200mJ/㎠ 조사하였다. 전자 디바이스 패키지용 테이프 중앙부의 개편 샘플 100개에 대해서, 캐논 머시너리 가부시키가이샤제의 다이스 피커 장치(상품명 「CAP-300II」)를 사용하여, 실리콘 웨이퍼 칩과 동일하게 개편화 샘플의 인식이 얻어지는지 확인하였다. 칩과 동일한 인식이 얻어진 것을 양품으로 하여 ○, 광의 조사 각도 또는 조사량을 변경함으로써 칩과 동일한 인식이 얻어진 것을 허용품으로 하여 △, 인식이 얻어지지 않은 것을 불량품으로 하여 ×로 평가하였다. 그 결과를 표 3, 4에 나타내었다.The metal layer and the adhesive layer of the tape for electronic device packaging of each sample of the above Examples and Comparative Examples were singulated into samples having a size of 5 mm x 5 mm. Then, 200 mJ/cm<2> of ultraviolet rays were irradiated to the adhesive layer from the base film side by the air-cooled high-pressure mercury-vapor lamp (80 W/cm,
(픽업성)(pickup)
상기 인식성의 시험 후, 상기 개편 샘플 250개에 대해서, 하기 픽업 조건에서 픽업 시험을 행하고, 200개 이상의 샘플을 픽업을 할 수 있었던 핀의 높이(핀 하이트)를 산출하였다. 또한, 핀 하이트의 상한은 400㎛로 하였다. 그 결과를 표 3, 4에 나타내었다. 실시예 6에 관한 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 점착 테이프와 접착제층의 점착력이 너무 높아, 본 시험 조건에 있어서는 개편 샘플을 픽업할 수 없었기 때문에, 핀 하이트를 산출할 수 없었다. 단, 개편화 샘플의 인식은 가능하고, 핀 하이트를 400㎛보다 높게 설정하면 픽업 가능하기 때문에, 문제는 없다. 또한, 핀 하이트가 높아지면 금속층에 핀흔이 발생할 우려가 있지만, 핀흔이 발생한 경우에는, 금속층 및 접착제층을 반도체 칩의 이면에 접합할 때에 금속층을 압박하여 핀흔을 평평하게 하도록 하면 된다. 또한, 비교예 1에 관한 자(子) 디바이스 패키지용 테이프는, 개편 샘플을 인식할 수 없어, 픽업할 수 없었기 때문에, 핀 하이트를 산출할 수 없었다.After the recognizable test, a pick-up test was conducted on the 250 pieces of the shredded samples under the following pick-up conditions, and the pin height (pin height) at which 200 or more samples could be picked up was calculated. In addition, the upper limit of the pin height was 400 μm. The results are shown in Tables 3 and 4. In the tape for electronic device packaging according to Example 6, the adhesive strength between the adhesive tape and the adhesive layer was too high, and the individual sample could not be picked up under this test condition, so the pin height could not be calculated. However, there is no problem because the singularized sample can be recognized and picked up if the pin height is set higher than 400 μm. In addition, there is a possibility that pin marks may occur in the metal layer when the pin height is increased. In the case where pin marks are generated, the metal layer may be pressed to flatten the pin marks when bonding the metal layer and the adhesive layer to the back surface of the semiconductor chip. Further, in the tape for child device package according to Comparative Example 1, the pin height could not be calculated because the individual sample could not be recognized and could not be picked up.
<픽업 조건><Pick-up conditions>
픽업 장치: 캐논 머시너리사제 CAP-300IIPickup device: CAP-300II manufactured by Canon Machinery Co., Ltd.
밀어 올림 핀 형상: 반경 0.7mm, 선단 곡률 반경 R=0.25mm, 선단 θ=15Push-up pin shape: radius 0.7mm, tip curvature radius R=0.25mm, tip θ=15
핀의 밀어 올림 스피드: 50mm/secPin push-up speed: 50 mm/sec
표 3, 4에 나타내는 바와 같이, 실시예 1 내지 12에 관한 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 금속층의 접착제층과 반대측의 면의 10점 평균 조도에 의한 표면 조도 RzJIS가 5.0㎛ 미만이기 때문에, 인식성 평가에 있어서 양호한 결과가 되었다. 또한, 표 4에 나타낸 바와 같이, 실시예 8에 관한 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 금속층의 입사각 60도에 있어서의 경면 광택도가 117%이기 때문에, 광의 조사 각도와 조사량을 변경할 필요가 있었으나, 조사 각도와 양의 조절 후에는 개편화 샘플을 인식할 수 있었으므로, 허용 범위이다.As shown in Tables 3 and 4, since the tapes for electronic device packaging according to Examples 1 to 12 have a surface roughness RzJIS of less than 5.0 μm by 10-point average roughness on the surface of the metal layer opposite to the adhesive layer, In the evaluation, it became a good result. In addition, as shown in Table 4, since the tape for electronic device packaging according to Example 8 had a specular gloss of 117% at an incident angle of 60 degrees on the metal layer, it was necessary to change the light irradiation angle and irradiation amount. After adjusting the angle and amount, it was possible to recognize the segmentation sample, so it is an acceptable range.
이에 반해, 비교예 1에 관한 전자 디바이스 패키지용 테이프는, 금속층의 접착제층과 반대측의 면의 10점 평균 조도에 의한 표면 조도 RzJIS가 6.0㎛이기 때문에, 인식성 평가에 있어서 떨어지는 결과가 되었다.On the other hand, since the tape for electronic device packaging according to Comparative Example 1 had a surface roughness RzJIS of 6.0 µm based on the 10-point average roughness of the surface opposite to the adhesive layer of the metal layer, it was inferior in recognition evaluation.
1: 전자 디바이스 패키지용 테이프
2: 기재 테이프
3: 금속층
4: 접착제층
5: 점착 테이프
5a: 라벨부
5b: 주변부1: tape for electronic device packaging
2: base tape
3: metal layer
4: adhesive layer
5: adhesive tape
5a: label part
5b: periphery
Claims (7)
상기 점착제층의 상기 기재 필름과 반대측에 적층하여 설치된 접착제층과,
상기 접착제층의 상기 점착제층과 반대측에 적층하여 설치된 금속층을 갖고,
상기 금속층은, 접착제층과 반대측의 면의 10점 평균 조도에 의한 표면 조도 RzJIS가 5.0㎛ 미만인 것을 특징으로 하는 전자 디바이스 패키지용 테이프.An adhesive tape having a base film and an adhesive layer;
An adhesive layer laminated and installed on the opposite side of the base film of the pressure-sensitive adhesive layer;
A metal layer laminated and installed on the opposite side of the adhesive layer to the pressure-sensitive adhesive layer,
The metal layer has a surface roughness RzJIS of less than 5.0 μm by 10-point average roughness of a surface opposite to the adhesive layer.
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