KR102450347B1

KR102450347B1 - 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 방법 및 장치

Info

Publication number: KR102450347B1
Application number: KR1020177024381A
Authority: KR
Inventors: 슈중 천; 충진 셰; 쥔잉 팡
Original assignee: 알리바바 그룹 홀딩 리미티드
Priority date: 2015-02-16
Filing date: 2016-02-11
Publication date: 2022-10-04
Also published as: AU2016220331B2; EP3259571B1; US20160241333A1; EP3259571A4; TW201640844A; CA2976447A1; TWI665882B; BR112017017562A2; WO2016133786A1; CN105991188A; JP6730295B2; US10142015B2; BR112017017562B1; EP3259571A1; AU2016220331A1; KR20170117446A; CN105991188B; JP2018514960A; CA2976447C

Abstract

쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 방법과 장치가 개시된다. 본 방법은 프로브 빔을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 내로 각각 주입하는 단계를 포함한다. 본 방법은 제1 백라이트에 대응하는 시변 제1 전력의 제1 곡선과 제2 백라이트에 대응하는 시변 제2 전력의 제2 곡선을 각각 기록하는 단계와, 제1 곡선과 제2 곡선에 대한 유사값을 계산하는 단계와, 및 유사값에 기초하여, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치하는지를 판단하는 단계를 더 포함한다. 본 발명의 실시예에 의해 제공되는 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 방법 및 장치는, 테스트 링크 내의 프로브 빔의 백라이트의 전력 특징을 테스트함에 의해, 그 일차원 전력 특징에 기초하여, 테스트 링크들이 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 판단하고, 이는 종래 기술의 것과 응용 분야에서 더 간단하다.

Description

쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 방법 및 장치

관련된 출원에 대한 상호-참조

본 출원은 2015년 2월 16일에 출원된 중국 특허 출원 번호 201510083681.7에 대한 이익을 청구하고, 이는 그 전체로서 본 명세서에 참조로서 포함된다.

기술 분야

본 발명의 실시예는 일반적으로 광학 네트워크-기반 통신 기술의 분야에 관한 것이고, 좀 더 구체적으로, 쉐어드 리스크 링크 그룹(shared risk link group)을 검출하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.

광학 네트워크-기반 통신 기술의 일관성 있는 성장과 함께, 다양한 종류의 광학 네트워크 서비스, 가령, 클라우드 컴퓨팅, 비디오 온 디멘드, 파장 리싱(wavelength leasing), 광학 층 가상 개인용 네트워크(OVPN) 등이 계속하여 나타난다. 이러한 새로운 네트워크 서비스는 사람들의 삶에 편리함을 가져오면서, 이들 서비스의 신뢰성에 대해 더 엄격한 수요가 도입되고 있다. 광학 네트워크 서비스의 신뢰성을 증가시키기 위해, 광학 네트워크 내의 메인 루트와 함께 백업 루트가 대개 설정된다. 광학 네트워크 내의 메인 루트에 문제가 있을 때, 메인 루트 상의 광학 네트워크 서비스는 백업 루트로 스위칭되어서 이들 서비스의 정상 동작을 유지시킬 수 있다.

최근에, 광학 네트워크의 신뢰성을 평가할 때, 쉐어드 리스크 링크 그룹(SRLG)의 개념이 흔히 사용되었다. SRLG는, 동일한 노드나 동일한 케이블을 공유하는 한 그룹의 링크와 같이, 광학 네트워크 내의 특정한 물리적 자원을 공유하는 한 그룹의 링크를 나타낸다. 그 물리적 자원이 손상될 때, 이러한 물리적 자원을 공유하는 한 그룹의 링크는 고장날 것이다. 가령, 한 그룹의 링크가 동일한 케이블 내에 놓여 있다고 가정할 때, 만일 그 케이블이 손상되면, 그룹 내의 이러한 링크는 동시에 고장날 것이다.

광학 네트워크 내의 메인 루트와 백업 루트 모두가 동일한 SRLG 내에 위치한다면, 그 SRLG의 물리적 자원이 손상되면, 메인 루트와 백업 루트 모두가 동시에 고장이 있을 것이다. 그러므로, 메인 루트와 대응하는 백업 루트가 서로 다른 SRLG에 할당되도록 보장하기 위해, 광학 네트워크 내에 SRLG를 검출하는 것이 필수적이다.

SRLG를 검출하기 위한 종래의 기술은 대개, 광학 링크의 편광 특징을 검출하기 위한 편광 검출 기능을 가진 기구를 사용한다. 따라서, 두 개의 광학 링크의 편광 특징이 동일할 때, 이러한 두 개의 광학 링크는 동일한 SRLG 내에 있는 것으로 고려될 것이다.

그러나, 이들 종래의 기술은 모두 문제점을 가지고 있다. 가령, 광학 신호의 편광 특징은 삼차원 성분을 가진다. 응용예에서, 삼차원 성분을 테스트하고 분석하기는 종종 어렵다. 그러므로, 광학 링크의 편광 특징에 기초하여 동일한 그룹 내의 링크가 동일한 SRLG 내에 있는지의 판단에 기초하는 방법을 실행하는 것이 어렵다. 새로운 접근법이 요구된다.

본 발명의 실시예는, 그룹의 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 용이하게 검출할 수 있는 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 방법 및 장치를 제공한다. 본 발명의 실시예에 따르면, 테스트 링크 내의 프로브 빔의 백라이트의 전력 특징을 테스트하고, 일차원 전력 특징에 기초하여, 테스트 링크들이 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 판단하거나 결정함에 의해, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 방법과 장치가 도입된다. 종래 기술에서 사용되는 삼차원 성분과 비교하여, 일차원 성분을 사용하는 테스트는 비교적 더 용이하다. 본 발명의 실시예는, 일차원 전력 특징에 기초하여, 테스트 링크가 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 검출하기 위한 방법과 장치를 도입하고, 이는 종래 기술보다 응용면에서 더 간단하다.

좀 더 구체적으로, 본 발명의 실시예에서, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 방법은 프로브 빔을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 내로 각각 주입하는 단계를 포함한다. 본 방법은 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크로부터 되돌아온 프로브 빔의 제1 백라이트와 제2 백라이트를 각각 수신하는 단계를 더 포함한다. 여기서, 레일리 후방산란 광과 프레넬 후방-반사 광은 집합적으로 백라이트라고 한다. 또한, 본 방법은 제1 백라이트에 대응하는 시변 제1 전력의 제1 곡선과 제2 백라이트에 대응하는 시변 제2 전력의 제2 곡선을 각각 기록하는 단계와, 제1 곡선과 제2 곡선에 대한 유사값(resemblance value)을 계산하는 단계와, 및 유사값에 기초하여, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치하는지를 판단하는 단계를 포함한다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치는 광 소스 유닛, 송신/수신 유닛, 정보 기록 유닛 및 정보 프로세싱 유닛을 포함한다. 광 소스 유닛은 프로브 빔을 생성하고, 프로브 빔을 송신/수신 유닛 내로 주입한다. 송신/수신 유닛은 광 소스 유닛에 의해 생성된 프로브 빔을 수신하고, 프로브 빔을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 내로 주입하며, 및 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크로부터 각각 되돌아온 프로브 빔의 제1 백라이트와 제2 백라이트를 수신한다. 정보 기록 유닛은 제1 백라이트에 대응하는 시변 제1 전력의 제1 곡선과 제2 백라이트에 대응하는 시변 제2 전력의 제2 곡선을 기록한다. 정보 프로세싱 유닛은 제1 곡선과 제2 곡선에 대한 유사값을 계산하고, 유사값에 기초하여, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치하는지를 판단한다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치는 광 소스 유닛, 송신/수신 유닛 및 맵핑 유닛을 포함한다. 광 소스 유닛은 프로브 빔을 생성하고, 프로브 빔을 송신/수신 유닛 내로 주입한다. 송신/수신 유닛은 광 소스 유닛에 의해 생성된 프로브 빔을 수신하고, 프로브 빔을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 내로 주입하며, 및 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크로부터 각각 되돌아온 프로브 빔의 제1 백라이트와 제2 백라이트를 수신한다. 수신 모듈에 의해 수신된 제1 백라이트와 제2 백라이트의 편광 특징을 각각 제1 전력과 제2 전력으로 맵핑한다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치가 개시되고, 정보 기록 유닛과 정보 프로세싱 유닛을 가진다. 정보 기록 유닛은 제1 백라이트에 대응하는 시변 제1 전력의 제1 곡선과 제2 백라이트에 대응하는 시변 제2 전력의 제2 곡선을 기록한다. 정보 프로세싱 유닛은 제1 곡선과 제2 곡선에 대한 유사값을 계산하고, 유사값에 기초하여, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치하는지를 판단한다.

본 발명의 실시예에 의해 제공된 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 방법과 장치는, 일차원 전력 특징에 기초하여, 테스트 링크 내의 프로브 빔의 백라이트의 전력 특징을 테스트하고, 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 판단함에 의해, 검출을 수행한다. 종래 기술의 삼차원 성분을 사용하는 테스트와 비교하여, 일차원 성분을 사용하는 테스트는 비교적 수행하기가 더 용이하다. 본 발명의 실시예는, 테스트 링크가 일차원 전력 특징에 기초하여 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 검출하기 위한 방법과 장치를 도입하고, 이는 종래에서 사용된 것보다 응용면에서 더 간단하다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 예시적인 방법의 순서도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 제1 테스트 링크를 테스트하기 위한 장치의 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 제1 백라이트에 대응하는 시변 제1 전력의 제1 곡선의 예시의 개략도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 제1 곡선을 기록하는 광손실 측정기의 블록도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 지연 제1 곡선과 제2 곡선을 나타내는 개략도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 광학 신호의 편광 특징에서의 변화를 나타내는 개략도이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 예시적인 방법의 순서도이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 사전설정 규칙에 따라, 백라이트의 편광 특징을 전력 특징으로 맵핑하기 위한 장치의 블록도이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 제1 곡선을 기록하는 광손실 측정기의 블록도이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치의 블록도이다.
도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 블록도이다.
도 12는 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치 내의 정보 프로세싱 유닛의 블록도이다.
도 13은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치의 블록도이다.
도 14는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치의 블록도이다.
도 15는 본 발명의 아직 또 다른 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치의 블록도이다.
도 16은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치의 블록도이다.
도 17은 본 발명의 아직 또 다른 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치 내의 정보 프로세싱 유닛의 블록도이다.
도 18은 본 발명의 아직 또 다른 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치의 블록도이다.
도 19는 본 발명의 실시예에 따른 편광 분석기에 작동되는 광의 속성을 나타내는 다이어그램이다.
도 20은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 예시적인 방법의 순서도이다.
도 21은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 예시적인 방법의 순서도이다.
도 22는 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 예시적인 방법의 순서도이다.
도 23은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치 내의 제1 함수 맵핑 모듈과 제2 함수 맵핑 모듈의 블록도이다. 그리고,
도 24는 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치 내의 정보 프로세싱 유닛의 블록도이다.

기술 분야의 당업자가 본 발명의 실시예의 기술적인 해결책을 더 잘 이해하도록 돕기 위하여, 본 발명의 실시예에서 발견되는 바와 같은 기술적 해결책의 명확하고 완전한 설명이 첨부 도면을 참조하여 이제 함께 이루어질 것이다. 본 명세서에서 기술되는 실시예는 명백하게, 본 발명의 실시예의 전체가 아닌 일부이다. 본 발명의 실시예에 기초하여, 기술 분야의 당업자에 의해 획득되는 모든 다른 실시예는 어떠한 창의적인 노력 없이, 본 발명의 보호 범위 내에 있다.

광섬유는 광학 네트워크에서 링크 그룹을 위한 흔한 전송 매체이다. 광섬유의 제조 공정 동안에, 침강(sedimentation), 융합(fusion) 및 신선작업(wiredrawing)등과 같은 열 공정은, 광섬유를 제조하는데 사용되는 재료에 국부적 열 교란이 도입되어서, 광섬유 내의 불균형한 굴절률을 야기한다. 이러한 불균형한 굴절률은, 신호 전송 동안에 좌측, 우측, 전방 및 후방 전송을 포함하는 전송 동안에, 광섬유에서 광학 신호 산란을 초래한다. 광섬유 내의 광학 신호 산란의 이러한 현상은 레일리 산란이라고 불린다. 더구나, 광학 신호의 전방 방향과 반대의 광의 산란은 레일리 후방산란 광이라고 불린다. 게다가, 전방 전송으로의 광학 신호는 굴절률에서의 갑작스러운 변화를 가진 지점(spot)과 부딪칠 때, 광학 신호의 세그먼트는 그 지점으로부터 입력 단자로 다시 반사될 것이고, 광학 신호의 이러한 세그먼트는 프레넬 후방-반사 광이라고 불린다. 본 발명의 실시예에서, 레일리 후방산란 광과 프레넬 후방-반사 광 모두는 백라이트라고 언급된다. 백라이트는 링크 내의 전방향 전송 동안에 광학 신호 손실로서 고려될 수 있다. 응용예에서, 광섬유 내의 전방향 전송에서 광학 신호의 전력을 직접적으로 측정하기 어렵다. 그러나, 광섬유의 입력 포트로 되돌아온 백라이트의 전력을 측정하기는 더 용이하다. 본 발명의 실시예에서, 백라이트의 전력은 링크 내의 전방향 전송에서의 광학 신호 손실을 특징짓거나 결정하는데 사용된다. 백라이트의 전력이 증가할 때, 전방향 전송에서의 광학 신호 손실은 증가하는 것을 의미하고, 반대로, 백라이트의 전력이 감소할 때, 전방향 전송에서의 광학 신호 손실은 감소하는 것을 의미한다. 응용예에서, 이웃하는 구조물로부터의 진동과 같은 환경적 요인은 광섬유를 교란시킬 수 있는데, 이는 광섬유의 굴절률에서의 변화를 초래한다. 굴절률의 변화는 광학 신호 손실에서의 변화를 초래하고, 이는 또한, 백라이트의 전력에서의 변화를 야기한다. 본 발명의 실시예는 백라이트의 전력에서의 변화를 사용하여, 링크 주위의 환경에서의 교란을 검출하고 드러낸다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 예시적인 방법의 순서도이다. 본 방법은 다음과 같이 기술된다.

S100에서, 프로브 빔은 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 내로 각각 주입된다.

도 1의 방법은 예시로서 제1 테스트 링크를 사용하여 더욱 설명될 것이다. 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 제1 테스트 링크를 테스트하기 위한 장치의 블록도이다. 도 1 및 도 2 모두를 참조한다. 도 2에 따르면, 레이저(210)는 프로브 빔을 서큘레이터(220)를 통해 제1 테스트 링크(230)의 입력 포트 내로 주입한다. 응용예에서, 대개, 통신 링크로 기능하는 테스트 링크 내에 존재하는 통신 서비스를 송신하는데 사용되는 광학 신호가 있다. 이들 적절한 기능성 광학 신호의 파장은 대개 약 1,550 nm이다. 통신 서비스 내의 테스트 링크의 정상 기능에 간섭하는 것을 피하기 위해, 본 발명에 따른 실시예는, 가령, 1,650 nm의 파장을 가진 프로브 빔과 같이, 1,550 nm와 상이한 파장을 가진 프로브 빔을 사용한다. 그러므로, 프로브 빔과 적절한 기능성 광학 신호 모두가 동일한 테스트 링크 내에서 송신됨에도 불구하고, 이들 사이의 비교적 큰 파장 간격 때문에, 이들은 서로 약간의 영향을 준다. 프로브 빔이 서큘레이터(220)의 포트(1) 내로 주입된 후에, 그것은 포트(2)로 나와서 제1 테스트 링크(230)로 진입한다.

도 1의 S110에서, 프로브 빔의 제1 백라이트는 제1 테스트 링크로부터 되돌아오고, 그리고 나서 수신된다. 유사한 방식으로, 프로브 빔의 제2 백라이트는 제2 테스트 링크(미도시)로부터 되돌아오고, 그리고 나서 수신된다.

좀 더 구체적으로, 프로브 빔이 제1 테스트 링크 내에서 전방으로 송신될 때, 제1 테스트 링크 내에서 백라이트를 생성한다. 백라이트는 레일리 후방산란 광 및 프레넬 후방-반사 광을 포함한다. 백라이트는 후방 전송을 통해 제1 테스트 링크의 주입 포트로 되돌아온다. 구체적으로, 도 2에 도시된 바와 같이, 백라이트는 서큘레이터(220)의 포트(2)로 제1 테스트 링크(230) 내의 후방으로 송신된다. 서큘레이터의 포트(2)로 진입한 후에, 백라이트는 포트(3)로부터 나온다. 본 발명의 실시예에서, 가령, 오실로스코프(240)와 같은 테스팅 장비는 서큘레이터의 포트(3)으로부터 나온 백라이트를 수신하는데 사용될 수 있다.

도 1의 S120에서, 제1 백라이트에 대응하는 시변 제1 전력의 제1 곡선이 기록된다. 유사한 방식으로, 제2 백라이트에 대응하는 시변 제2 전력의 제2 곡선이 기록될 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 오실로스코프(240)와 같은 테스트 장비는 상기 언급된 제1 및 제2 곡선을 획득하기 위해, 시간에 따라 백라이트의 전력의 변화를 디스플레이하는데 사용될 수 있다.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 제1 백라이트에 대응하는 시변 제1 전력의 제1 곡선의 예시의 개략도이다. 도 3에서, 제1 테스트 링크가 가령, 환경적 요인에 의해 간섭받으면, 백라이트의 전력은 갑작스럽게 변하고, 결과적으로, 백라이트의 전력의 그래프는 시간에 따라 변하여 파고점을 생성한다. 도 3의 예시에서, 3개의 파고점과 3개의 파저점이 있다는 것이 관측될 수 있고, 이는 제1 테스트 링크의 검출 동안에 제1 테스트 링크에 영향을 주었던 4개의 교란이 있었다는 것을 의미한다. 파고점과 파저점이 제1 곡선에서 발생하는 시점은 이들 교란이 발생할 때, 각각의 시점을 나타낸다.

본 발명의 실시예에서, 종래 기술에서 사용되는 비교적 잘 알려진 장비인 광손실 측정기(optical time domain reflectometer)는 도 1의 단계(S100 내지 S120)를 실행하는데 사용될 수 있다.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 상기 언급된 제1 곡선을 기록하는데 사용될 수 있는 광손실 측정기(400)의 개략도이다. 도 4의 예시에서, 광손실 측정기(400)는, 펄스 생성기(410), 광 소스(420)(가령, 도 2의 레이저(210)), 서큘레이터(430)(기능적으로 도 2의 서큘레이터(220)에 대응함), 포토검출기(450), 신호 프로세서(460), 디스플레이(470), 및 내부 클록(480)을 포함한다. 광손실 측정기(400)의 펄스 생성기(410)는 내부 클록(480)에 의해 트리거되는 전기 펄스를 생성한다. 전기 펄스는 광 소스(420)를 변조하여, 광학 펄스를 생성한다. 그 광학 펄스는 일 실시예에서, 도 1의 S100에서 언급된 프로브 빔의 역할을 할 수 있다. 프로브 빔은, 포트(1)(미도시)로 진입하고, 테스트 링크(440)(기능적으로 도 1의 테스트 링크(230)에 대응함) 내로 주입된 후에, 서큘레이터(430)의 포트(2)로부터 나온다.

광학 펄스는 제1 테스트 링크(440)를 따라 전방으로 송신될 때, 백라이트를 생성한다. 백라이트는 레일리 후방산란 광 및 프레넬 후방-반사 광을 포함한다. 백라이트는 후방 송신에 의해 제1 테스트 링크(440)의 주입 포트로 되돌아온다. 구체적으로, 백라이트는 서큘레이터(430)의 포트(2)로 제1 테스트 링크 내에서 후방으로 송신된다. 백라이트는 서큘레이터의 포트(2)에 진입한 후에, 포트(3)로부터 나온다. 포토검출기(450)는 서큘레이터의 포트(3)로부터 나온 백라이트로부터 전기 펄스를 검출하고, 전기 펄스를 신호 프로세서(460)로 송신할 수 있다. 그리고 나서, 신호 프로세서(460)는 내부 클록(480)에 의해 트리거된 전기 펄스에 대응하는 신호를 프로세스하여, 시간에 따라 전기 펄스에서의 변화의 관계를 획득한다. 마지막으로, 디스플레이(470)는 제1 테스트 링크 내의 제1 백라이트에 대응하는 시변 제1 전력의 제1 곡선(가령, 도 3의 예시에서의 곡선)을 디스플레이한다. 유사한 방식으로, 제2 곡선은 제2 테스트 링크 내의 제2 백라이트에 대응하는 시변 제2 전력으로 기록될 수 있다.

도 1의 S130에서, 제1 곡선과 제2 곡선 사이의 유사성이나 유사값이 계산되고, 그 유사값은 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는지를 결정하는데 사용된다.

제1 곡선과 제2 곡선이 획득된 이후에, 두 개의 곡선에 대한 유사값이 계산될 수 있다. 유사값은 제1 곡선과 제2 곡선 사이의 유사성의 정도를 나타낸다. 가령, 더 높은 정도의 유사성은, 제1 테스트 링크 내의 백라이트의 전력과 제2 테스트 링크 내의 백라이트의 전력이 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크의 환경에 의해 교란되고 있는 정도의 더 큰 유사도를 의미한다. 이는 제1 및 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는 더 높은 확률을 의미한다. 유사값은 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 결정하는데 사용될 수 있다는 것을 알 수 있다. 제1 및 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는지를 결정하기 위한 예시적인 프로세스의 실시예가 도 20을 참조하여 다음과 같이 기술된다.

S2001에서, 상기 언급된 제1 및 제2 곡선이 제1 함수 및 제2 함수로서 각각 맵핑된다.

제1 곡선을 예로 들면, 제1 곡선을 획득한 이후에, 제1 곡선의 연속적인 타임라인은 이산 시점으로 변환될 수 있다. 가령, 0부터 100초까지의 타임라인은 0.5 초 시간 간격을 사용하여, 이산 타임라인상에 200 시점, 0.5, 1, 1.5, ..., 100으로 변환될 수 있다. 그 제1 곡선에 기초하여, 이산 타임라인상의 각각의 시점에 대응하는 백라이트의 전력값이 획득될 수 있고, 그 시점에서의 각각의 시점과 전력값 간의 일대일 대응이 획득될 수 있다. 그 시점에서의 시점과 전력값 간의 이러한 일대일 대응은 상기 언급된 제1 함수이고, 다음 공식이다.

여기서, x는 이산 시점을 나타내고, Δt는 인접한 이산 시점들 간의 시간 간격을 나타내며, N은 이산 시점의 수를 나타내고, y₁은 제1 곡선에서의 각각의 이산 시점에 대응하는 전력값을 나타낸다.

동일한 방법을 사용하여, 제2 함수도 다음 공식으로 획득될 수 있다.

여기서, x는 이산 시점을 나타내고, Δt는 인접한 이산 시점들 간의 시간 간격을 나타내며, N은 이산 시점의 수를 나타내고, y₂는 제2 곡선에서의 각각의 이산 시점에 대응하는 전력값을 나타낸다.

S2002에서, 제1 함수와 제2 함수 간의 유사값이 계산된다.

제1 곡선과 제2 곡선이 획득된 이후에, 제1 및 제2 함수에 대한 유사값이 계산될 수 있다. 유사값은 제1 곡선과 제2 곡선 사이의 유사성의 정도를 나타낸다. 더 높은 정도의 유사성은, 제1 테스트 링크 내의 백라이트의 전력과 제2 테스트 링크 내의 백라이트의 전력이 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크의 환경에 의해 교란되고 있는 정도의 더 큰 유사도를 의미한다. 이는 제1 및 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는 더 높은 확률을 의미한다. 일 실시예에서, 유사값을 계산하기 위한 공식은,

여기서, ρ는 제1 곡선과 제2 곡선에 대한 유사값을 나타내고, x는 이산 시점을 나타내고, Δt는 인접한 이산 시점들 간의 시간 간격을 나타내며, N은 이산 시점의 수를 나타내고, f ₁ 은 제1 곡선에서의 이산 시점에 대응하는 백라이트의 전력값을 나타내고, f ₂ 는 제2 곡선에서의 이산 시점에 대응하는 백라이트의 전력값을 나타낸다.

S2003에서, 유사값이 사전설정 스레숄드를 초과하면, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치된 것으로 결정된다.

좀 더 구체적으로, 본 발명의 실시예에서, 본 발명의 실시예에서, 예시적인 스레숄드는 미리정해지거나 사전설정된다. 유사값과 스레숄드를 비교함에 의해, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는 것이 결정될 수 있다. 응용예에서, 측정 오차는 불가피하다. 그러므로, 제1 곡선과 제2 곡선을 측정할 때, 오차가 존재할 수 있는데, 이는 유사값이 더 낮게 계산되는 것을 야기할 수 있다. 게다가, 개개의 광섬유를 제조하는데 사용되는 재료에서의 본질적인 차이점이 있기 때문에, 제1 및 제2 테스트 링크는 환경적 교란에 대해 서로 다른 민감도를 가질 것으로 예상될 것이다. 가령, 지나가는 차에 의해 도입되는 진동은 제1 테스트 링크에서의 광학 전력 손실을 야기할 수 없다. 그러나, 제2 테스트 링크에서는 광학 전력 손실을 야기할 수 있다. 이러한 타입의 차이점은 계산된 유사값을 예상보다 더 낮게 할 수 있다. 상기 기술된 것과 같은 요소를 고려하면, 본 발명의 실시예는 유사값과 0.75(예시로써)의 값을 비교하여 스레숄드를 설정한다. 유사값이 0.75의 스레숄드를 초과할 때, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는 것으로 고려된다. 물론 임의의 적절한 사전설정 값이 사용될 수 있다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 도 1에 도시된 단계(S130)를 구현하기 위해, 다음 단계가 실행될 수 있다.

도 21의 S2101에서, 제1 곡선에 대한 제1 고유벡터 그룹과 제2 곡선에 대한 제2 고유벡터 그룹을 획득하기 위해, 제1 곡선과 제2 곡선에서의 파고점과 파저점이 검출된다.

도 3의 제1 곡선을 예를 들면, 제1 테스트 링크가 본 명세서에 이전에 기술된 바와 같은 환경적 요인에 의해 교란될 수 있다면, 교란에 대응하는 시점에서 파고점이나 파저점이 생성될 것이다. 본 발명의 실시예가 제1 곡선과 제2 곡선의 파고점과 파저점을 검출하여서, 제1 곡선에 대한 제1 고유벡터 그룹과 제2 곡선에 대한 제2 고유벡터 그룹을 각각 획득한다. 이러한 고유벡터 그룹 내의 고유벡터는, 파고점이나 파저점에 대한 대표값 및 파고점이나 파저점이 생성되는 시점으로서 제시될 수 있다.

본 발명의 실시예에서, 파고점을 나타내는 값은 일(1)이고, 파저점을 나타내는 값은 영(0)이고, 파고점이나 파저점이 생성되는 시점은 초 단위로 표현된다. 구체적으로, 제1 곡선에서 열번째 초에서 생성된 파저점이 있다고 가정하면, 그 시점에서 그 파저점에 대응하는 이벤트는 고유벡터 그룹(0,10)에 의해 나타날 수 있다. 제1 곡선의 파고점과 파저점의 검출 이후에, 이들 파고점과 파저점에 대응하는 이벤트와 각각의 시점은 일련의 고유벡터 그룹이나 고유벡터에 의해 나타날 수 있다. 가령, 제1 고유벡터 그룹이 (1, 5), (0, 7), 및 (1, 15)이면, 이는 다섯번째 초에 파고점이 있고, 일곱번째 초에 파저점이 있으며, 열다섯번째 초에 파고점이 있다는 것을 의미한다. 이러한 방식으로, 제1 곡선과 제2 곡선의 제1 고유벡터 그룹과 제2 고유벡터 그룹이 각각 획득될 수 있다.

S2102에서, 제1 및 제2 고유벡터 그룹 내의 동일한 고유벡터가 추출되고, 동일한 고유벡터로 구성된 제1 고유벡터 그룹의 제1 비율과 동일한 고유 벡터로 구성된 제2 고유벡터 그룹의 제2 비율이 계산된다.

좀 더 구체적으로, 제1 및 제2 곡선의 제1 및 제2 고유벡터 그룹이 각각 획득된 이후에, 동일한 고유벡터가 제1 및 제2 고유벡터 그룹으로부터 예상될 수 있다. 이들 동일한 고유벡터는 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 간의 유사성의 정도를 나타낸 다는 것이 인식된다. 제1 및 제2 고유벡터 그룹에서 동일한 고유벡터가 예상된 이후에, 동일한 고유벡터로 구성된 제1 고유벡터 그룹의 제1 비율과 동일한 고유 벡터로 구성된 제2 고유벡터 그룹의 제2 비율이 계산될 수 있다. 제1 비율과 제2 비율은 상기에서 언급된 유사값을 나타내는데 사용될 수 있다. 제1 및 제2 비율 모두가 사전설정 스레숄드보다 더 높을 때, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크의 환경이 유사하고, 이들 두 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는 확률이 높다.

S2103에서, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크는, 제1 비율과 제2 비율 모두가 미리정하거나 사전설정 스레숄드를 초과하면, 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는 것으로 고려된다.

본 발명의 실시예에서, 예시로서 사용되는 사전설정 스레숄드가 있다. 제1 비율 및 제2 비율을 스레숄드와 비교함에 의해, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지에 관한 결정이 이루어질 수 있다. 응용예에서, 테스트 링크의 광섬유를 제조하는데 사용되는 재료에서의 본질적인 다양성 때문에, 환경적 교란에 대해 테스트 링크의 민감도는 서로 다를 것으로 예상될 것이다. 가령, 지나가는 차에 의해 도입되는 진동은 제1 테스트 링크에서의 광학 편광 특징에서의 변화를 야기할 수 없다. 그러나, 제2 테스트 링크에서는 광학 편광 특징에서의 변화를 야기할 수 있다. 그러므로, 다양한 파고점과 파저점이 제1 및 제2 테스트 링크에 의해 생성될 수 있고, 이는 제1 고유벡터 그룹과 제2 고유벡터 그룹 간의 차이를 야기하고, 계산된 비율에 대해 더 낮은 값을 초래할 수 있다. 상기 기술된 환경에 기초하여, 본 발명의 실시예에서, 비율의 스레숄드가 (가령) 0.75로 설정된다. 물론, 임의의 적절한 값이 사용될 수 있다. 제1 비율과 제2 비율이 0.75를 초과할 때, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는 것으로 고려된다.

측정 동안의 측정 오차 및 테스트 장비에 의해 도입되는 지연 때문에, 제1 및 제2 곡선 간의 지연이 있을 수 있다. 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 제1 곡선과 제2 곡선 사이의 지연을 나타내는 개략도이다. 도 5에서, 제1 및 제2 곡선의 추세가 유사하다는 것이 관측될 수 있다. 가령, 이들은 모두 세 개의 파고점을 가지고, 제1 곡선상의 첫 번째 파고점과 제2 곡선의 첫 번째 파고점을 정렬한 이후에, 이후 두 개의 파고점의 시점이 일치한다. 이에 기초하여, 도 5에 디스플레이된 제1 곡선과 제2 곡선 간의 지연은, 측정 동안의 오차 및 테스팅 장비에서의 지연으로부터 기인된다고 결정될 수 있다. 제1 곡선과 제2 곡선 간의 지연을 교정하기 위한 교정 단계가 없고, 대신에 유사값이 직접 계산된다면, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있지 않다고 틀린 결론을 내리게 될 것이다. 이러한 결과는, 두 곡선들 간의 유사성을 볼 때, 명백하게 정확하지 않다. 그러므로, 본 발명의 실시예에서, 다음 단계가 도 22에 도시된 바와 같이, 도 1의 단계(S120 및 S130) 사이에 추가된다.

S2201에서, 제1 곡선과 제2 곡선은, 교정되거나 수정된 제1 곡선과 교정되거나 수정된 제2 곡선을 획득하기 위해, 시간 지연 교정에 의해 교정된다.

구체적으로, 본 발명의 실시예에서, 지연을 교정하기 위해, 제1 곡선에서 첫 번째 이벤트가 발생하는 시점은 제2 곡선에서 첫 번째 이벤트가 발생하는 시점과 정렬된다. 이벤트가 발생하는 시점은 파고점과 파저점이 출현하는 시점에 대응한다. 특히, 제1 곡선에서 첫 번째 이벤트가 발생하는 시점과 제2 곡선에서 첫 번째 이벤트가 발생하는 시점이 획득되고, 동일한 시점으로 설정된다. 가령, 제1 곡선에서 첫 번째 이벤트가 발생하는 시점이 다섯번째 초에 있고, 제2 곡선에서 첫 번째 이벤트가 발생하는 시점이 열번째 초에 있다고 가정하면, 공통 시점이 제1 곡선과 제2 곡선 모두에서 첫 번째 이벤트에 대해 가령, 다섯번째 초로 설정될 수 있다. 이러한 교정 이후에, 제1 곡선은 영향을 받지 않으나, 제2 곡선은 상기에 따라 5초 앞으로(10-5=5) 이동될 필요가 있다. 그러므로, 제1 및 제2 곡선에 대한 교정 이후에, 첫 번째 이벤트가 발생하는 시점은 제1 곡선과 제2 곡선 모두에 있어서 동일하다. 이후의 계산은 상기 기술된 것과 유사하다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 광섬유에 대한 환경적 교란을 고려하면, 광섬유내에서 송신되고 있는 광학 신호의 편광 특징이 영향을 받을 수 있다. 구체적으로, 도 6을에 도시된 바와 같이, 점선은 수평 방향이다. 광섬유를 따라 전방으로 송신되고 있는 초기 편광된 광학 신호와 수평 방향 간의 수평 각도는 α이다. 광섬유가 환경적 요인에 의해 교란될 때, 광한 신호의 편광 특징이 변하는데, 이는 각도가 α에서 β로 변하는 것을 초래한다. 광섬유에서 송신되는 백라이트는 전방으로 송신되는 광학 신호와 동일한 편광 특징을 가진다. 환경적 변화 때문에 전방으로 송신되는 광학 신호의 편광 특징이 변할 때, 백라이트의 편광 특징은 그것에 따라 변한다는 것을 인식한다. 본 발명의 실시예에서, 백라이트의 편광 특징은 광학 신호 주위의 환경적 요인을 특징짓는데 사용된다. 백라이트의 편광 특징을 직접적으로 검출하기 어렵기 때문에, 이러한 실시예는 백라이트의 편광 특징을 일차원 전력 특징으로 맵핑하고, 게다가 일차원 전력 특징을 테스트하고 분석하여서, 테스트 링크들이 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 결정한다.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 예시적인 방법의 순서도이다. 도 7에 도시된 바와 같이, 도 1에 도시된 단계에 추가하여, 본 방법은 다음 단계를 더 포함한다.

S111에서, 제1 백라이트와 제2 백라이트의 편광 특징들은 제1 전력과 제2 전력으로서 각각 맵핑된다.

도 8은 본 발명의 실시예에 따른 일련의 사전설정되거나 미리정한 규칙에 따라, 백라이트의 편광 특징을 전력 특징으로 맵핑하기 위한 장치(800)의 블록도이다. 도 8에 도시된 바와 같이, 레이저(810)는 서큘레이터(820)를 통해 프로브 빔 펄스를 테스트 링크(830)의 주입 포트(포트 1) 내로 주입한다.

프로브 빔이 테스트 링크에서 전방으로 송신될 때, 그것은 테스트 링크에서 백라이트를 생성한다. 백라이트는 레일리 후방산란 광 및 프레넬 후방-반사 광을 포함한다. 백라이트는 백라이트 전송을 통해 테스트 링크의 주입 포트로 되돌아온다. 구체적으로, 백라이트는 제2 테스트 링크 내에서 서큘레이터(820)의 포트(2)로 후방 송신된다. 백라이트는 서큘레이터(820)의 포트(2)로 진입한 이후에, 포트(3)으로부터 나온다. 서큘레이터(820)의 포트(3)로부터 나온 백라이트의 편광 특징은 테스트 링크(830)를 따라 환경적 교란을 특징짓는다. 본 발명의 실시예에서, 특정한 방향이 편광기(840)를 사용하여 설정되고, 그 특정 방향으로 맵핑된 백라이트의 편광 특징의 프로젝션은 백라이트의 전력 특징으로 설정된다.

도 19는 편광기(가령, 도 8의 편광기(840))에 의해 동작되는 광의 속성을 나타내는 다이어그램이다. 도 19에 도시된 바와 같이, 편광기는 방향(가령, 수평 방향)을 지정된 방향으로 설정하여서, 지정된 방향으로의 백라이트의 성분만 편광기를 통과할 수 있다. 편고아된 백라이트의 방향과 편광기에 의해 설정되어 지정된 방향 간의 각도는 α이고, 백라이트의 전력은 P이라고 가정하면, 백라이트가 편광기를 통과한 이후에, 지정된 방향의 성분만 통과할 수 있다. 편광기를 통과한 이후에 백라이트의 전력은 수학식 1과 같이 표현될 수 있다.

(수학식 1)

여기서, P ₁ 은 편광기를 통과한 이후의 백라이트의 전력을 나타내고, α는 편광된 백라이트의 방향과 편광기에 의해 설정되어 지정된 방향 간의 각도를 나타낸다. 백라이트의 편광 특징이 변할 때, 편광된 백라이트의 방향과 편광기에 의해 설정되어 지정된 방향 간의 각도는 그에 따라 변한다는 것이 관측되고, 이는 cosα의 값에서의 변화를 야기하고, 최종적으로, 그것이 편광기를 통과한 이후에 백라이트의 전력도 변한다. 그러므로, 백라이트의 편광 특징에서의 변화는 백라이트의 전력 특징에서의 변화를 특징으로 할 수 있다는 것이 인식된다. 더구나, 테스트 링크 주위의 환경적 교란은 테스트 링크에서의 광학 신호의 편광 특징에서의 변화를 도입하며, 이는 백라이트가 편광기를 통과한 이후에, 그것의 전력 특징에서의 변화를 야기한다. 백라이트가 편광기를 통과한 이후에, 그것의 전력 특징의 변화의 상태를 모니터링함에 의해, 테스트 링크 주위의 환경적 교란이 있는지가 결정될 수 있다.

본 발명의 실시예에서, 백라이트의 편광 특징이 전력 특징으로 맵핑된 이후에, 테스트 장비(가령, 오실로스코프(850))는 백라이트가 편광기를 통과한 이후에 백라이트를 수신하는데 사용될 수 있다. 오슬로스코프(850)는, 백라이트가 편광기를 통과한 이후에, 시간에 따라 백라이트의 전력에서의 실시간 변화를 디스플레이하고, 시간에 따라 백라이트의 전력에서의 변화를 추적하는 곡선을 생성한다. 본 발명의 실시예에서, 시간에 따라 제1 테스트 링크에서 백라이트의 전력에서의 변화를 추적하는 제1 곡선과 시간에 따라 제2 테스트 링크에서 백라이트의 전력에서의 변화를 추적하는 제2 곡선이 기록된다.

테스트 링크가 환경적 요인에 의해 교란될 때(백라이트의 편광 특징이 변하고, 편광된 백라이트의 방향과 편광기에 의해 설정된 방향 간의 각도가 변할 때), 이는 백라이트가 편광기를 통과한 이후에 그것의 전력에서의 변화를 야기한다. 그리고 나서, 시간에 따라 백라이트의 전력에서의 그래프 변화는 도 3의 예시에 도시된 것과 같은 파고점과 파저점을 가진다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 광손실 측정기는, 시간에 따라 제1 테스트 링크 내의 백라이트의 전력에서의 특징의 제1 그래프와 시간에 따라 제2 테스트 링크 내의 백라이트의 전력에서의 특징의 제2 그래프를 기록하는데 사용될 수 있다. 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 시간에 걸쳐 제1 테스트 링크에서 백라이트의 전력의 제1 곡선을 기록하기 위해 광손실 측정기를 사용할 수 있는 장치의 블록도이다. 도 9의 예시에서, 광손실 측정기(900)는 펄스 생성기(910), 광 소스(920), 포토검출기(960), 신호 프로세서(970), 내부 클록(990) 및 디스플레이(980)를 포함한다. 광손실 측정기(900) 내의 펄스 생성기(910)는 내부 클록(990)에 의해 트리거된 전기 펄스를 생성하고, 그 전기 펄스는 광 소스(920)를 변조하여 광학 펄스를 생성한다. 그 광학 펄스는 도 1의 S100에서 언급된 프로브 빔의 역할을 할 수 있다. 프로브 빔은 포트(1)로 진입한 이후에 서큘레이터(930)의 포트(2)로 나와서 제1 테스트 링크(940)으로 주입된다.

광학 펄스는, 제1 테스트 링크를 따라 전방으로 송신될 때, 백라이트를 생성한다. 백라이트는 레일리 후방산란 광 및 프레넬 후방-반사 광을 포함한다. 백라이트는 후방 전송에 의해 제1 테스트 링크의 주입 포트로 되돌아온다. 구체적으로, 백라이트는 제1 테스트 링크 내에서, 서큘레이터의 포트(2)로 후방 송신된다. 백라이트의 편광 특징은 프로브 빔의 것과 실질적으로 일치한다. 생성된 백라이트는 테스트 링크 내에서 후방으로 송신되어 테스트 링크의 주입 포트로 되돌아온다. 구체적으로, 백라이트는 테스트 링크 내에서 후방으로 송신되어서 서큘레이터(930)의 포트(2)로 되돌아온다. 백라이트는 서큘레이터의 포트(2)로 진입한 이후에, 포트(3)으로 나온다. 서큘레이터의 포트(3)로부터 나온 백라이트의 편광 특징은 테스트 링크(940) 주위의 환경적 교란을 특징짓는다. 실시예에서, 편광기(950)는 특정 방향을 설정하는데 사용되고, 그 백라이트의 전력 특징으로서 그 방향으로 맵핑된 백라이트의 편광 특징의 프로젝션으로 설정된다.

포토검출기(960)가 서큘레이터의 포트(3)로부터 나온 백라이트로부터 전기 펄스를 검출하고, 그 전기 펄스를 신호 프로세서(970)로 제공할 수 있다. 그리고 나서, 신호 프로세서(970)는 내부 클록(990)에 의해 트리거된 전기 펄스의 신호를 프로세스하여, 시간에 따른 전기 펄스에서의 변화들 간의 관계를 회득한다. 마지막으로, 디스플레이(980)는 시간에 따라 제1 테스트 링크 내의 백라이트의 전력에서의 변화를 추적하는 제1 곡선을 디스플레이한다. 시간에 따른 백라이트의 제2 전력 변화의 제2 그래프를 기록하는 프로세스가 유사하다.

제1 곡선과 제2 곡선에 대한 유사값이 계산될 수 있고, 제1 곡선과 제2 곡선이, 도 1의 단계(S130)와 유사한 방식으로 그 유사값에 기초하여, 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지에 관한 결정이 이루어질 수 있다.

본 발명의 실시예에서, 추가적인 단계가 다음과 같이, 단계(S120)과 단계(S130) 사이에 추가된다.

단계(S201)에서, 제1 곡선과 제2 곡선은, 교정된 제1 곡선과 교정된 제2 곡선을 획득하기 위해, 시간 지연 교정에 의해 교정된다.

본 발명의 실시예에서, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치(1000)(도 10)가 있다. 도 10은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치(1000)의 블록도이다. 도 10의 예시로 도시된 바와 같이, 장치는 광선을 생성하고, 수신-전송 유닛(1002) 내로 주입하는데 사용되는 광 소스 유닛(1001)을 포함한다. 장치는, 광 소스 유닛(1001)에 의해 생성된 광을 수신하고, 광선을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크(두 링크는 집합적으로 요소 번호 1003으로 식별됨) 내로 주입하는데 사용되는 수신-전송 유닛(1002)을 더 포함한다. 또한, 수신 유닛(1002)은 제1 테스트 링크에 의해 되돌아온 광선의 제1 백라이트와, 제2 테스트 링크에 의해 되돌아온 광선의 제2 백라이트를 수신하는데 사용된다. 또한, 장치는 시간에 따라 제1 백라이트에 대응하는 제1 전력에서의 변화를 나타내는 제1 곡선을 기록하고, 시간에 따라 제2 백라이트에 대응하는 제2 전력에서의 변화를 나타내는 제2 곡선을 기록하는데 사용된다. 또한, 장치는, 제1 및 제2 곡선에 대한 유사값을 계산하고, 본 명세서에서 이전에 기술된 유사값에 기초하여, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는지를 결정하는데 사용되는 정보 프로세싱 유닛(1005)을 포함한다. 실시예에서, 광 소스 유닛은 레이저일 수 있고, 수신 유닛은 가령 서큘레이터 일 수 있다. 광선의 백라이트는 레일리 후방산란 광 및 프레넬 후방-반사 광을 포함한다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치(1100)가 있다. 도 11의 예시로 도시된 바와 같이, 도 10에 제시된 블록에 추가하여, 장치(1100)는 수신 유닛(1002)에 의해 수신된 제1 백라이트의 편광 특징을 제1 전력으로 맵핑하고, 제2 백라이트의 편광 특징을 제2 전력으로 맵핑하는데 사용되는 맵핑 유닛(1006)도 포함한다. 실시예에서, 광 소스 유닛은 레이저일 수 있고, 수신 유닛은 가령 서큘레이터 일 수 있다. 광선의 백라이트는 레일리 후방산란 광 및 프레넬 후방-반사 광을 포함한다.

도 12는 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치 내의 컴퓨터 제어된 정보 프로세싱 유닛(1005)의 블록도이다. 정보 프로세싱 유닛(1005)은 제1 곡선을 제1 함수로 맵핑하는데 사용되는 제1 함수 맵핑 모듈(1201)을 포함하고, 제2 곡선을 제2 함수로 맵핑하는데 사용되는 제2 함수 맵핑 모듈(1202)도 포함한다. 정보 프로세싱 유닛(1005)은 제1 함수와 제2 함수에 대한 유사값을 계산하는데 사용되는 유사값 계산 모듈(1203)을 더 포함한다. 또한, 정보 프로세싱 유닛(1005)은, 본 명세서에서 이전에 기술된 유사값에 따라, 제1 및 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는지를 판단하는데 사용되는 판단 또는 결정 모듈(1204)을 포함한다.

더구나, 본 발명의 실시예에서, 도 23을 참조하면, 제1 함수 맵핑 모듈(1201)은 제1 곡선을 제1 함수로 맵핑(이산 타임라인에 따라)하는데 사용되는 제1 타임라인 이산화 모듈(2301)을 더 포함한다. 관련된 제2 함수 맵핑 모듈(1202)은 제2 곡선을 제2 함수로 맵핑(이산 타임라인에 따라)하는데 사용되는 제2 타임라인 이산화 모듈(2302)을 더 포함한다.

게다가, 본 발명의 또 다른 실시예에서, 정보 프로세싱 유닛(1602)(도 24)은 제1 곡선의 제1 고유벡터 그룹을 획득하기 위해, 제1 곡선의 파고점과 파저점을 검출하는데 사용되는 제1 고유벡터 그룹 획득 모듈(2401)을 더 포함한다. 그리고, 또한, 제2 곡선의 제2 고유벡터 그룹을 획득하기 위해, 제2 곡선의 파고점과 파저점을 검출하는데 사용되는 제2 고유벡터 그룹 획득 모듈(2402)을 포함한다. 또한, 정보 프로세싱 유닛(1602)은 제1 및 제2 고유벡터 그룹으로부터 동일한 고유벡터를 추출하고, 제1 고유벡터 그룹 내의 동일한 고유벡터의 제1 비율을 계산하는데 사용되는 제1 비율 획득 모듈(2403)을 포함한다. 또한, 정보 프로세싱 유닛(1602)은 제1 및 제2 고유벡터 그룹으로부터 동일한 고유벡터를 추출하고, 제2 고유벡터 그룹 내의 동일한 고유벡터의 제2 비율을 계산하는데 사용되는 제2 비율 획득 모듈(2404)을 포함한다. 또한, 정보 프로세싱 유닛(1602)은, 제1 및 제2 비율 모두가 사전설정 스레숄드를 초과할 때, 제1 및 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는지를 판단하거나 결정하는데 사용되는 판단 모듈(2405)을 포함한다.

도 13은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치(1000A)의 블록도이다. 장치(1000A)는 도 10에 기술된 장치에 비해 추가적인 모듈을 포함한다. 장치(1000A)는 제1 및 제2 곡선에서 지연 교정을 수행하는데 사용되는 지연 교정 모듈(1301)을 포함하여, 제1 수정된 곡선과 제2 수정된 곡선을 획득하고, 제1 수정된 곡선과 제2 수정된 곡선을 정보 프로세싱 유닛(1005)으로 전송한다.

도 14는 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치(1000B)의 블록도이다. 이러한 장치(1000B)는 도 11에 기술된 장치에 비해 추가적인 모듈을 포함한다. 장치(1000B)는 제1 및 제2 곡선에서 지연 교정을 수행하는데 사용되는 지연 교정 모듈(1301)을 포함하여, 제1 수정된 곡선과 제2 수정된 곡선을 획득하고, 제1 수정된 곡선과 제2 수정된 곡선을 정보 프로세싱 유닛(1005)으로 전송한다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치(1500)의 블록도가 도 15에 도시된다. 도 15의 예시에 따르면, 장치(1500)는 송신/수신 유닛(1502) 내로 주입되는 광선을 생성하는데 사용되는 광 소스 유닛(1501)을 포함한다. 송신/수신 유닛(1502)은 광 소스 유닛에 의해 생성된 광선을 수신하고, 광선을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크(두 링크는 집합적으로 요소 번호 1504로 식별됨) 내로 주입하며, 제1 테스트 링크에 의해 되돌아온 광선의 제1 백라이트와 제2 테스트 링크에 의해 되돌아온 광선의 제2 백라이트를 수신하는데 사용된다. 또한, 장치는, 제1 백라이트의 편광 특징을 제1 전력으로 맵핑하고, 제2 백라이트의 편광 특징을 제2 전력으로 맵핑하는데 사용되는 맵핑 유닛(1503)을 포함한다. 특히, 광 소스 유닛(1501)은 레이저일 수 있고, 수신 유닛은 일 실시예에서, 서큘레이터일 수 있으며, 맵핑 유닛은 편광기 일 수 있다.광선의 제1 및 제2 백라이트는 레일리 후방산란 광 및 프레넬 후방-반사 광을 포함한다.

본 발명의 또 다른 실시예에서, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치(1600)가 도 16에 도시된다. 도 16의 예시에 따르면, 장치(1600)는 제1 테스트 링크에 대응하는 시변 제1 전력의 제1 곡선과, 제2 테스트 링크에 대응하는 시변 제2 전력의 제2 곡선을 기록하는데 사용되는 정보 기록 유닛(1601)을 포함한다. 또한, 장치는 제1 곡선과 제2 곡선에 대한 유사값을 계산하고, 본 명세서의 이전에 기술된 유사값에 기초하여, 제1 및 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는지를 판단하는데 사용되는 정보 프로세싱 유닛(1602)을 포함한다.

도 17은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치 내에 포함된 정보 프로세싱 유닛(1602)의 블록도이다. 정보 프로세싱 유닛(1602)은 제1 곡선을 제1 함수로 맵핑하는데 사용되는 제1 함수 맵핑 모듈(1701)과, 제2 곡선을 제2 함수로 맵핑하는데 사용되는 제2 함수 맵핑 모듈(1702)을 포함한다. 정보 프로세싱 유닛(1602)은 제1 함수와 제2 함수에 대한 유사값을 계산하는데 사용되는 유사값 계산 모듈(1703)을 더 포함한다. 또한, 정보 프로세싱 유닛(1602)은, 본 명세서에서 이전에 기술된 유사값에 따라, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는지를 판단 또는 결정하는데 사용되는 판단 모듈(1704)을 포함한다.

더구나, 본 발명의 실시예에서, 제1 함수 맵핑 유닛(1701)은 이산 타임라인에 따라, 제1 곡선을 제1 함수로 맵핑하는데 사용되는 제1 타임라인 이산화 모듈(2301)을 더 포함한다. 관련된 제2 함수 맵핑 모듈(1702)은 이산 타임라인에 따라, 제2 곡선을 제2 함수로 맵핑하는데 사용되는 제2 타임라인 이산화 모듈(2302)을 더 포함한다.

게다가, 본 발명의 또 다른 실시예에서, 그리고 도 24를 참조하면, 정보 프로세싱 유닛(1602)은 제1 곡선의 제1 고유벡터 그룹을 획득하기 위해, 제1 곡선의 파고점과 파저점을 검출하는데 사용되는 제1 고유벡터 그룹 획득 모듈(2401)과, 제2 곡선의 제2 고유벡터 그룹을 획득하기 위해, 제2 곡선의 파고점과 파저점을 검출하는데 사용되는 제2 고유벡터 그룹 획득 모듈(2402)을 포함한다. 또한, 정보 프로세싱 유닛(1602)은 제1 및 제2 고유벡터 그룹으로부터 동일한 고유벡터를 추출하고, 제1 고유벡터 그룹 내의 동일한 고유벡터의 제1 비율을 계산하는데 사용되는 제1 비율 획득 모듈(2403)을 포함한다. 또한, 정보 프로세싱 유닛(1602)은 제1 및 제2 고유벡터 그룹으로부터 동일한 고유벡터를 추출하고, 제2 고유벡터 그룹 내의 동일한 고유벡터의 제2 비율을 계산하는데 사용되는 제2 비율 획득 모듈(2404)을 포함한다. 또한, 정보 프로세싱 유닛(1602)은, 제1 비율과 제2 비율 모두가 사전설정 스레숄드를 초과할 때, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치되는지를 판단하거나 결정하는데 사용되는 판단 모듈(2405)을 포함한다.

도 18은 본 발명의 실시예에 따른 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치(1800)의 블록도이다. 도 18의 예시에 따르면, 장치(1800)는 도 16에 기술된 장치(1600)에 비해 추가적인 모듈을 포함한다. 장치(1800)는 제1 및 제2 곡선에서 지연 교정을 수행하는데 사용되는 지연 교정 모듈(1801)을 포함하여, 제1 수정된 곡선과 제2 수정된 곡선을 획득하고, 제1 수정된 곡선과 제2 수정된 곡선을 정보 프로세싱 유닛(1602)으로 전송한다.

본 발명의 실시예에 따르면, 테스트 링크 내의 프로브 빔의 백라이트의 전력 특징을 테스트하고, 일차원 전력 특징에 기초하여, 테스트 링크들이 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 판단하거나 결정함에 의해, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 방법과 장치가 도입된다. 종래 기술에서 사용되는 삼차원 성분과 비교하여, 일차원 성분을 사용하는 테스트는 비교적 더 용이하다. 본 발명의 실시예는, 일차원 전력 특징에 기초하여, 테스트 링크가 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 있는지를 검출하기 위한 방법과 장치를 도입하고, 이는 종래 기술보다 응용면에서 더 간단하다.

방법에 있어서의 많은 개선 사항들은 기존 기술에서 하드웨어 회로 컨피규레이션의 직접적인 개선 사항으로 고려될 수 있다. 설계자는 개선된 방법을 다양한 하드웨어 회로 컨피규레이션으로 프로그램화하여서, 관련된 하드웨어 회로 컨피규레이션을 획득한다. 가령, 프로그램가능한 논리 장치(PLD)와, 특히, 필드 프로그램가능한 게이트 어레이(FPGA)는 논리적 함수가 장치의 프로그래밍에 의해 결정되는 집적 회로의 타입이다. 설계자는, 칩 제조자 설계와 제조자 특정 집적 회로 칩을 가지는 것 대신에, 디지털 시스템을 PLD 상에 집적하도록 프로그램한다. 게다가, 이러한 타입의 프로그래밍은, 논리적 컴파일러와 같은 소프트웨어를 사용하여 실행된다. 논리적 컴파일러는 프로그램을 개발하고 라이팅하는데 사용되는 소프트웨어 컴파일러와 유사한데, 특수 프로그래밍 언어(하드웨어 기술 언어, HDL)도 원래의 코드를 컴파일할 때, 요구된다. ABEL(아벨 프로그래밍 언어(Advanced Boolean Expression Language)), AHDL(진보된 하드웨어 기술 언어), 콘플루언스(Confluence), CUPL(코넬 대학 프로그래밍 언어), HDCal, JHDL(자바 하드웨어 기술 언어), Lava, Lola, MyDHL, PALASM, RHDL(루비 하드웨어 기술 언어) 등과 같은 복수의 HDL이 있다. 가장 흔히 사용되는 언어는 VHDL(매우-높은-속도 집적 회로 하드웨어 기술 언어) 및 Verilog 2이다. 기술 분야에서의 당업자는, 논리적 방법을 실행하기 위한 하드웨어 회로가 상기 기술된 언어를 집적 회로에 논리적 프로그래밍함에 의해 용이하게 획득될 수 있다는 것을 인식할 것이다.

하드웨어 회로와 연관된 컨트롤러는 임의의 적절한 장치 내에 구현될 수 있다. 가령, 컨트롤러는 마이크로-컨트롤러, 컨트롤러, 비-일시적 컴퓨터-판독가능한 매체로 구현될 수 있는데, 이는 마이크로-컨트롤러나 컨트롤러, 논리 게이트, 스위치, 응용 주문형 집적 회로(ASIC), 프로그램가능한 논리 컨트롤러나 내장형 마이크로-컨트롤러에 의해 실행될 수 있는 소프트웨어나 펌웨어와 같은 컴프터-판독가능한 프로그래밍 코드를 포함한다. 컨트롤러의 예시는 ARC 625D, 아트멜 AT91SAM, 마이크로칩 PIC18F26K20, 및 실리콘 랩스 C8051F320와 같은 컨트롤러를 포함하나, 이에 제한되지 않는다. 저장 컨트롤러는 저장 장치의 컨트롤링 논리의 일부로 구현될 수 있다.

기술 분야에서의 당업자는, 컴퓨터-판독가능한 프로그래밍 코드 단독으로 컨트롤러를 실행하는 것 이외에, 그것은 이들 단계와 방법이 논리 게이트, 스위치, ASIC, 프로그램가능한 논리 컨트롤러를 가지도록 논리 프로그래밍에 의해 구현되거나, 내장형 마이크로-컨트롤러가 동일한 기능을 구현하도록 할 수 있다. 그러므로, 이러한 컨트롤러는 하드웨어로 고려될 수 있고, 그 안에 포함되는 장치는 하드웨어의 내부 구조물로 고려될 수 있다. 게다가, 다양한 기능을 실행하기 위한 장치는 실시예의 소프트웨어 모듈과 하드웨어의 내부 구조물 모두로 고려될 수 있다.

컴퓨터 칩, 관련 개체, 또는 특정한 기능을 가진 제품은, 상기 기술된 시스템, 장치, 방법 및 모듈을 구체적으로 구현할 수 있다.

설명을 위해, 장치는 이들이 수행하는 다양한 기능에 기초하여 별도의 모듈로서 기술된다. 그러나, 모듈의 기능은 하나 또는 복수의 소프트웨어/하드웨어 모듈 내로 집적되어서, 본 발명을 구현할 수 있다.

상기 설명에 기초하여, 기술 분야의 당업자는 본 발명의 실시예를 이해하고, 일반적인 하드웨어 플랫폼과 결합된 소프트웨어를 사용하는 것을 인식해야 한다. 이러한 이해에 따라서, 본 발명의 본질이나 기여도는 소프트웨어 형태로 제시될 수 있다. 이러한 컴퓨팅 소프트웨어는 ROM/RAM, 자기 디스크 또는 일련의 커맨드를 포함하는 CD와 같은 저장 매체 내에 저장될 수 있는데, 이는 가령, 개인용 컴퓨터, 서버 또는 네트워크 장치와 같은 컴퓨팅 장비가 본 발명의 실시예나 실시예들의 일부를 실행하도록 한다.

본 발명의 청구항 및 명세서에서, "제1" 및 "제2" 와 같은 용어는 실시예나 동작을 다른 실시예나 동작과 구별하기 위함일 뿐이다. 이들 실시예나 동작이 임의의 이러한 실제 관계나 순서를 가지는 것을 요하거나 의미하지 않는다. 또한, 용어 "포함하는", "포함한" 또는 비한정적 포함을 다루도록 의도된 임의의 다른 변형예가 본 명세서에서 사용된 바와 같은, 구성 요소 리스트를 포함하는 프로세스, 방법, 제품 또는 장치는 이들 구성 요소만 포함하는 것이 아니라, 이러한 프로세스, 방법, 제품 또는 장치에 내포하거나, 명시적으로 리스트되지 않는 다른 구성 요소도 포함할 수 있다. 추가적인 제한 없이, 어구 "하나를 포함하는"에 의해 나열된 구성 요소는 이러한 구성 요소를 포함하는 프로세스, 방법, 제품 또는 장치는 다른 동일한 구성요소를 포함하는 것으로부터 배제되지 않는다.

본 발명의 실시예는 다양한 실시예들 중에서 유사한 부분은 상호 참조되고, 차이점만 강조하는 방식으로 기술된다.

본 발명의 실시예는, 개인용 컴퓨터, 서버 컴퓨터, 휴대용 장치, 포터블 장치, 태블릿 장치, 복수의 프로세서 시스템, 마이크로컨트롤러-기반의 시스템, 셋-톱 박스, 프로그램가능한 소비자 전기 장치, 네트워크 PC, 소형 컴퓨터, 대형 컴퓨터와 같은 복수의 일반 또는 개인용 컴퓨팅 환경이나 컨피규레이션 및 이들 시스템이나 장치를 포함하는 임의의 분산형 컴퓨팅 환경에서 사용될 수 있다.

본 발명의 실시예는 컴퓨터-실행되는 커맨드의 맥락에서 기술될 수 있다. 가령, 프로그램 모듈은 대개, 어떤 기능을 실행하거나 어떤 추상적인 데이터 타입을 실행하는, 루틴, 프로그램, 오브젝트, 모듈, 데이터 구조물 등을 포함한다. 또한, 본 발명은 통신 네트워크를 통해 연결된 원격 프로세싱 장치를 사용하여 분산된 컴퓨팅 환경내에서 구현될 수 있다. 분산된 컴퓨팅 환경에서, 프로그램 모듈은 저장 장치를 포함하는 로컬 또는 원격 컴퓨터 저장 매체내에 위치될 수 있다.

그러므로, 본 발명에 따른 실시예가 기술된다. 본 발명이 특정한 실시예로 기술되었지만, 본 개시물은 이러한 실시예에 의해 제한되는 것으로 해석되어서는 아니되고, 이하의 청구항에 따라 해석되어야 한다는 것을 인식해야 한다.

Claims

쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하는 방법에 있어서, 상기 방법은,
프로브 빔들을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 내로 주입하는 단계와,
상기 제1 테스트 링크와 상기 제2 테스트 링크로부터 되돌아온 상기 프로브 빔들의 제1 백라이트와 제2 백라이트를 각각 수신하는 단계와,
제1 지정된 방향의 광이 제1 편광기를 통과할 수 있도록 상기 제1 백라이트를 상기 제1 편광기로 필터링하고, 제2 지정된 방향의 광이 제2 편광기를 통과할 수 있도록 상기 제2 백라이트를 상기 제2 편광기로 필터링하는 단계와,
상기 제1 편광기를 통과한 광의 전력 레벨의 제1 시변 응답을 검출 및 기록하고, 상기 제2 편광기를 통과한 광의 전력 레벨의 제2 시변 응답을 검출 및 기록하는 단계와,
상기 제1 시변 응답에서의 제1 파고점의 시간을 상기 제2 시변 응답에서의 제1 파고점의 시간과 정렬하는 단계와,
상기 제1 시변 응답과 상기 제2 시변 응답에 대한 유사값(resemblance value)을 계산하는 단계와,
상기 유사값에 기초하여, 상기 제1 테스트 링크와 상기 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치하는지를 결정하는 단계를 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하는 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 유사값을 계산하는 단계는:
상기 제1 시변 응답 및 상기 제2 시변 응답을 타임라인과 연관시키는 단계와,
상기 타임라인을 일련의 이산 시점들로 변환하는 단계와,
상기 제1 시변 응답으로부터의 제1 전력 값 및 상기 제2 시변 응답으로부터의 제2 전력 값을 상기 이산 시점들과 연관시키는 단계를 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하는 방법.
삭제
제 1 항에 있어서, 상기 프로브 빔들의 백라이트는 레일리 후방산란 광(Rayleigh backscattered light) 및 프레넬 후방-반사 광(Fresnel back-reflected light)을 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하는 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 제1 시변 응답과 상기 제2 시변 응답은 광손실 측정기(optical time domain reflectometer)에 의해 획득되는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하는 방법.
제 2 항에 있어서, 상기 방법은:
상기 이산 시점들과 연관된 상기 제1 전력 값 및 상기 제2 전력 값으로부터 상기 유사값을 계산하는 단계를 더 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하는 방법.
제 2 항에 있어서, 상기 방법은 상기 유사값이 미리정한 스레숄드를 초과할 때 상기 제1 테스트 링크와 상기 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치한다고 결론을 내리는 단계를 더 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하는 방법.
제 2 항에 있어서,
상기 제1 시변 응답의 제1 고유벡터 그룹과 상기 제2 시변 응답의 제2 고유벡터 그룹을 획득하기 위해, 상기 제1 시변 응답과 상기 제2 시변 응답에서의 파고점과 파저점을 검출하는 단계와,
상기 제1 고유벡터 그룹과 상기 제2 고유벡터 그룹으로부터 동일한 고유벡터를 추출하고, 상기 제1 고유벡터 그룹 내의 동일한 고유벡터의 제1 비율을 계산하고, 상기 제2 고유벡터 그룹 내의 동일한 고유벡터의 제2 비율을 계산하는 단계와,
제1 비율과 제2 비율이 모두 미리정한 스레숄드를 초과할 때, 상기 제1 테스트 링크와 상기 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치한다고 결정하는 단계를 더 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하는 방법.
제 2 항에 있어서, 상기 제1 시변 응답 및 상기 제2 시변 응답에 대한 유사값을 계산하는 단계와, 상기 유사값에 기초하여, 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치하는지를 결정하는 단계 이전에,
제1 수정된 응답과 제2 수정된 응답을 획득하기 위해, 상기 제1 시변 응답 및 상기 제2 시변 응답에 대한 지연 교정(delay calibration)을 수행하는 단계를 더 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하는 방법.
쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치에 있어서, 상기 장치는,
광선을 생성하기 위한 광 소스 유닛과,
상기 광 소스 유닛에 의해 생성된 광선을 수신하여 상기 광선을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 내로 주입하고, 상기 제1 테스트 링크에 의해 되돌아온 상기 광선의 제1 백라이트와 상기 제2 테스트 링크에 의해 되돌아온 상기 광선의 제2 백라이트를 수신하는 송신/수신 유닛과,
제1 지정된 방향의 광이 제1 편광기를 통과할 수 있도록 상기 제1 백라이트를 필터링하는 상기 제1 편광기, 및 제2 지정된 방향의 광이 제2 편광기를 통과할 수 있도록 상기 제2 백라이트를 필터링하는 상기 제2 편광기와,
상기 제1 편광기를 통과한 광의 전력 레벨의 제1 시변 응답을 검출 및 기록하고, 상기 제2 편광기를 통과한 광의 전력 레벨의 제2 시변 응답을 검출 및 기록하는 정보 기록 유닛과,
상기 제1 시변 응답에서의 제1 파저점의 시간을 상기 제2 시변 응답에서의 제1 파저점의 시간과 정렬하는 지연 유닛과,
상기 제1 시변 응답과 상기 제2 시변 응답에 대한 유사값(resemblance value)을 계산하고, 상기 유사값에 기초하여, 상기 제1 테스트 링크와 상기 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치하는지를 결정하는 정보 프로세싱 유닛을 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
제 10 항에 있어서,
상기 유사값을 계산하는 것은:
상기 제1 시변 응답 및 상기 제2 시변 응답을 타임라인과 연관시키고, 상기 타임라인을 일련의 이산 시점들로 변환하고, 상기 제1 시변 응답으로부터의 제1 전력 값 및 상기 제2 시변 응답으로부터의 제2 전력 값을 각각의 이산 시점과 연관시키는 것과,
각각의 이산 시점과 연관된 상기 제1 전력 값 및 상기 제2 전력 값으로부터 상기 유사값을 계산하는 것을 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
제 10 항에 있어서,
상기 지연 유닛은 제1 수정된 응답과 제2 수정된 응답을 획득하고,
상기 제1 수정된 응답을 상기 제1 시변 응답으로서 상기 정보 프로세싱 유닛에 전송하고, 상기 제2 수정된 응답을 상기 제2 시변 응답으로서 상기 정보 프로세싱 유닛에 전송하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
제 10 항에 있어서, 상기 광 소스 유닛은 레이저를 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
제 10 항에 있어서, 상기 송신/수신 유닛은 서큘레이터를 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
제 10 항에 있어서, 상기 광선의 제1 및 제2 백라이트는 레일리 후방산란 광 및 프레넬 후방-반사 광인, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치로서,
광선을 생성하기 위한 광 소스 유닛과,
상기 광 소스 유닛에 의해 생성된 광선을 수신하여 상기 광선을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 내로 주입하고, 상기 제1 테스트 링크에 의해 되돌아온 상기 광선의 제1 백라이트와 상기 제2 테스트 링크에 의해 되돌아온 상기 광선의 제2 백라이트를 수신하는 송신/수신 유닛과,
상기 제1 백라이트에 대응하는 제1 시변 전력의 제1 곡선, 및 상기 제2 백라이트에 대응하는 제2 시변 전력의 제2 곡선을 기록하는 정보 기록 유닛과,
상기 제1 곡선에서의 제1 파고점의 시간을 상기 제2 곡선에서의 제1 파고점의 시간과 정렬하는 지연 유닛과,
상기 제1 곡선 및 상기 제2 곡선에 대해 유사값을 계산하고, 상기 유사값에 기초하여, 상기 제1 테스트 링크와 상기 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치하는지를 결정하는 정보 프로세싱 유닛
을 포함하고, 상기 정보 프로세싱 유닛은 또한:
상기 제1 곡선 및 상기 제2 곡선을 타임라인과 연관시키고, 상기 타임라인을 일련의 이산 시점들로 변환하고, 상기 제1 곡선으로부터의 제1 전력 값 및 상기 제2 곡선으로부터의 제2 전력 값을 각각의 이산 시점과 연관시키고,
각각의 이산 시점과 연관된 상기 제1 전력 값 및 상기 제2 전력 값에 대한 상기 유사값을 계산하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
제 16 항에 있어서,
상기 정보 프로세싱 유닛은 상기 유사값이 미리정한 스레숄드를 초과할 때 상기 제1 테스트 링크와 상기 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치한다고 결론을 내리는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치로서,
광선을 생성하기 위한 광 소스 유닛과,
상기 광 소스 유닛에 의해 생성된 광선을 수신하여 상기 광선을 제1 테스트 링크와 제2 테스트 링크 내로 주입하고, 상기 제1 테스트 링크에 의해 되돌아온 상기 광선의 제1 백라이트와 상기 제2 테스트 링크에 의해 되돌아온 상기 광선의 제2 백라이트를 수신하는 송신/수신 유닛과,
상기 제1 백라이트에 대응하는 제1 시변 전력의 제1 응답, 및 상기 제2 백라이트에 대응하는 제2 시변 전력의 제2 응답을 기록하는 정보 기록 유닛과,
정보 프로세싱 유닛
을 포함하고, 상기 정보 프로세싱 유닛은:
상기 제1 응답에서의 파고점과 파저점을 제1 고유벡터 그룹으로 그룹화하고,
상기 제2 응답에서의 파고점과 파저점을 제2 고유벡터 그룹으로 그룹화하고,
상기 제1 고유벡터 그룹과 상기 제2 고유벡터 그룹으로부터 유사한 고유벡터를 추출하고, 상기 제1 고유벡터 그룹 내의 유사한 고유벡터의 제1 비율을 계산하고,
상기 제1 고유벡터 그룹과 상기 제2 고유벡터 그룹으로부터 유사한 고유벡터를 추출하고, 상기 제2 고유벡터 그룹 내의 유사한 고유벡터의 제2 비율을 계산하고,
상기 제1 비율과 상기 제2 비율이 모두 미리정한 스레숄드를 초과할 때, 상기 제1 테스트 링크와 상기 제2 테스트 링크가 동일한 쉐어드 리스크 링크 그룹 내에 위치한다고 결정하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
제 18 항에 있어서,
상기 제1 응답에서의 제1 파고점의 시간을 상기 제2 응답에서의 제1 파고점의 시간과 정렬하여, 제1 수정된 응답과 제2 수정된 응답을 획득하고,
상기 제1 수정된 응답을 상기 제1 응답으로서 상기 정보 프로세싱 유닛에 전송하고, 상기 제2 수정된 응답을 상기 제2 응답으로서 상기 정보 프로세싱 유닛에 전송하는 지연 유닛을 더 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.
제18항에 있어서,
상기 제1 응답에서의 제1 파저점의 시간을 상기 제2 응답에서의 제1 파저점의 시간과 정렬하여 제1 수정된 응답과 제2 수정된 응답을 획득하고,
상기 제1 수정된 응답을 상기 제1 응답으로서 상기 정보 프로세싱 유닛에 전송하고, 상기 제2 수정된 응답을 상기 제2 응답으로서 상기 정보 프로세싱 유닛에 전송하는 지연 유닛을 더 포함하는, 쉐어드 리스크 링크 그룹을 검출하기 위한 장치.