TW201640844A - 檢測共享風險鏈路組的方法及裝置 - Google Patents

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Abstract

本申請提供一種檢測共享風險鏈路組的方法及裝置。所述方法包括：分別記錄第一待測鏈路和第二待測鏈路中背向光對應的功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線；計算所述第一曲線與第二曲線的相似值，並基於所述相似值判斷所述第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。本申請實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的方法及裝置，透過測試待測鏈路中探測光的背向光的功率特性，並且基於該一維的功率特性判斷待測鏈路組是否處於同一個共享風險鏈路組中，在實際應用中比較簡便。

Description

檢測共享風險鏈路組的方法及裝置
本申請係關於光網路通信技術領域，特別關於一種檢測共享風險鏈路組的方法及裝置。
隨著光網路通信技術的不斷發展，各種新型的光網路業務也不斷湧現，如雲計算、視頻點播、波長租用、光層虛擬私人網路等等。這些新型的光網路業務在給人們的生活帶來方便的同時，也對光網路的可靠性提出了更加嚴格的要求。為了增強光網路的可靠性，一般可以對光網路中的主傳輸路徑設置備份路徑。當光網路中的主傳輸路徑發生故障時，該主傳輸路徑上的光網路業務就可以切換到備份路徑中，以保證光網路業務的正常運行。
近年來，在研究光網路可靠性的過程中，共享風險鏈路組(Shared Risk Link Groups，SRLG)這一概念經常被提起。共享風險鏈路組可以代表光網路中共享某一物理資源的一組鏈路，例如共享同一個節點或者共享同一個管道的一組鏈路。當該物理資源被破壞時，將導致共享該物理資源的這一組鏈路同時發生故障。例如，一組鏈路被鋪設 在同一個管道中，當該管道被破壞時，鋪設在該管道中的這一組鏈路將同時發生故障。
如果光網路中的主傳輸路徑及其備份路徑屬於同一個共享風險鏈路組，那麼當該共享風險鏈路組的物理資源被破壞時，將導致主傳輸路徑及其備份路徑同時發生故障。這樣，備份路徑則無法對主傳輸路徑中的光網路業務起到保護的作用。因此，檢測光網路中的共享風險鏈路組並將主傳輸路徑與其對應的備份路徑劃分到不同的共享風險鏈路組中是比較必要的。
現有技術在檢測共享風險鏈路組時，一般利用帶偏振檢測功能的儀器對光鏈路的偏振特性進行檢測，當兩組光鏈路的偏振特性相同時，則認為這兩組光鏈路處於同一個共享風險鏈路組中。
在實施本申請的過程中，發明人發現現有技術至少存在如下問題：光信號的偏振特性具有三維分量，在實際應用中，要對三維分量進行測試和分析是比較困難的。因此基於偏振特性判斷待測鏈路組是否處於同一個共享風險鏈路組中的方法，實行起來比較困難。
本申請實施例的目的在於提供一種檢測共享風險鏈路組的方法及裝置，能夠簡便地檢測待測鏈路組是否處於同一共享風險鏈路組中。
本申請實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的方法及裝置是這樣實現的：一種檢測共享風險鏈路組的方法，包括：分別向第一待測鏈路和第二待測鏈路中注入探測光；接收第一待測鏈路和第二待測鏈路中分別返回的所述探測光的第一背向光和第二背向光；分別記錄第一背向光對應的第一功率和第二背向光對應的第二功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線；計算所述第一曲線與第二曲線的相似值，並基於所述相似值判斷所述第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
一種檢測共享風險鏈路組的裝置，包括光源單元，收發單元，資訊記錄單元以及資訊處理單元，其中：所述光源單元，用來產生探測光並將所述探測光注入所述收發單元；所述收發單元，用來接收所述光源單元產生的探測光，並將所述探測光分別注入第一待測鏈路和第二待測鏈路；接收第一待測鏈路返回的所述探測光的第一背向光和第二待測鏈路返回的所述探測光的第二背向光；所述資訊記錄單元，用來記錄所述第一背向光對應的第一功率和第二背向光對應的第二功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線；所述資訊處理單元，用來計算第一曲線和第二曲線之間的相似值，並且基於所述相似值，判斷第一待測鏈路與 第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
一種檢測共享風險鏈路組的裝置，包括光源單元，收發單元以及映射單元，其中：所述光源單元，用來產生探測光並將所述探測光注入所述收發單元；所述收發單元，用來接收所述光源單元產生的探測光，並將所述探測光分別注入第一待測鏈路和第二待測鏈路；接收第一待測鏈路返回的所述探測光的第一背向光和第二待測鏈路返回的所述探測光的第二背向光；所述映射單元，用來將所述收發單元接收的第一背向光和第二背向光的極化特性分別映射為第一功率和第二功率。
一種檢測共享風險鏈路組的裝置，包括資訊記錄單元和資訊處理單元，其中：所述資訊記錄單元，用來記錄第一待測鏈路對應的第一功率隨時間變化的第一曲線和第二待測鏈路對應的第二功率隨時間變化的第二曲線；所述資訊處理單元，用來計算第一曲線和第二曲線之間的相似值，並且基於所述相似值，判斷第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
本申請實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的方法及裝置，透過測試待測鏈路中探測光的背向光的功率特性，並且基於該一維的功率特性判斷待測鏈路組是否處於同一個共享風險鏈路組中。相比三維分量而言，對一維分 量的測試和分析相對比較容易。本申請基於一維的功率特性判斷待測鏈路組是否處於同一個共享風險鏈路組中，在實際應用中比較簡便。
100‧‧‧光源單元
110‧‧‧光源單元
120‧‧‧資訊記錄單元
121‧‧‧延時校正單元
200‧‧‧收發單元
210‧‧‧映射單元
220‧‧‧資訊處理單元
221‧‧‧第一函數映射模組
222‧‧‧第二函數映射模組
223‧‧‧函數相似值計算模組
224‧‧‧判斷模組
300‧‧‧資訊記錄單元
301‧‧‧延時校正單元
310‧‧‧映射單元
400‧‧‧資訊處理單元
401‧‧‧第一函數映射模組
402‧‧‧第二函數映射模組
403‧‧‧函數相似值計算模組
404‧‧‧判斷模組
圖1為本申請一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的方法流程圖；圖2為本申請實施例測試第一待測鏈路的裝置框架示意圖；圖3為本申請實施例第一待測鏈路中背向光的功率隨傳輸時間變化的第一曲線示意圖；圖4為本申請實施例中利用光時域反射儀記錄所述第一曲線的裝置框架示意圖；圖5為本申請一個例子中產生延時的第一曲線與第二曲線的示意圖；圖6為本申請一個例子中極化特性變化的示意圖；圖7為本申請一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的方法流程圖；圖8為本申請實施例按照預設規則將背向光的極化特性映射為功率特性的裝置示意圖；圖9為本申請實施例中利用光時域反射儀記錄所述第一曲線的裝置框架示意圖；圖10為本申請實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖； 圖11為本申請另一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖；圖12為本申請一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置中資訊處理單元的功能模組圖；圖13為本申請另一實施例中提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖；圖14為本申請另一實施例中提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖；圖15為本申請另一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖；圖16為本申請另一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖；圖17為本申請一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置中資訊處理單元的功能模組圖；圖18為本申請另一實施例中提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖；圖19為本申請一個例子中檢偏器的工作原理示意圖。
為了使本技術領域的人員更好地理解本申請中的技術方案，下面將結合本申請實施例中的附圖，對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本申請一部分實施例，而不是全部的實施 例。基於本申請中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都應當屬於本申請保護的範圍。
一般光網路中鏈路組的傳輸媒介為光纖。在光纖的製造過程中，沉澱、熔融、拉絲等各種熱過程會引起製作材料的局部熱擾動，導致製作光纖材料的折射率呈現微觀不均勻性。這種折射率的微觀不均勻性將致使光信號除了在光纖中正向傳輸外，還會向前後左右散射。這種光信號在光纖內部發生散射的現象可以稱為瑞利散射。進一步地，與光信號正向傳輸方向相反的散射光可以稱為瑞利背向散射光。另外，當在光纖中正向傳輸的光信號遇到折射率突變的位置時，可以在折射率突變的位置反射一部分光信號回到入射端。這一部分反射的光可以稱為菲涅爾反射光。在本申請實施例中，瑞利背向散射光與菲涅爾反射光可以統稱為背向光。背向光可以看成正向傳輸的光信號在鏈路中損耗的部分。在實際場景中，若想直接測量在光纖中正向傳輸的光信號功率往往是十分困難的，而測量返回光纖輸入端的背向光的功率卻比較容易。在本申請實施例中，可以透過背向光的功率大小來表徵鏈路中正向傳輸的光信號的損耗大小。當背向光的光功率變大時，可以代表待測鏈路中正向傳輸的光信號的損耗變大；當背向光的光功率變小時，可以代表待測鏈路中正向傳輸的光信號的損耗變小。在實際場景中，光纖可能會受到環境的擾動，例如市政施工帶來的振動，從而導致光纖中的折射率發生變化。 折射率的改變會導致光纖中損耗的變化，進而會導致背向光的功率變化。本申請實施例可以利用鏈路中背向光功率的變化情況來反映鏈路周圍環境的擾動。
圖1為本申請一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的方法流程圖。如圖1所示，所述方法包括：
S100：分別向第一待測鏈路和第二待測鏈路中注入探測光。
下面以第一待測鏈路為例，對本申請實施例的技術方案進行介紹。圖2為本申請實施例測試第一待測鏈路的裝置框架示意圖。如圖2所示，雷射器將探測光經過環行器注入第一待測鏈路的輸入端。在實際測試場景中，待測鏈路作為正常通信所用的鏈路，其內部往往會存在用於傳輸通信業務的正常工作光信號。這些正常工作光信號的波長往往在1550nm附近。為了不影響待測鏈路中通信業務的正常工作，本申請實施例向待測鏈路中注入的探測光的波長可以與1550nm區分開，例如可以將探測光的信號設置為1650nm。這樣儘管探測光與正常工作光信號在同一待測鏈路中傳輸，但由於波長間隔較大，彼此的影響比較小。探測光進入環行器的1埠後，會從環行器的2埠輸出，從而可以進入第一待測鏈路。
S200：接收第一待測鏈路和第二待測鏈路中分別返回的所述探測光的第一背向光和第二背向光。
探測光在第一待測鏈路中正向傳輸時，會在第一待測鏈路的沿途產生背向光。所述背向光包括瑞利背向散射光 和菲涅爾反射光。產生的背向光會在第一待測鏈路中反向傳輸從而返回第一待測鏈路的輸入端。具體地，如圖2所示，產生的背向光在第一待測鏈路中反向傳輸並到達環行器的2埠。背向光進入環行器的2埠後，會從環行器的3埠輸出。本申請實施例中可以利用示波器等檢測設備，在環行器的3埠接收產生的背向光。
S300：分別記錄第一背向光對應的第一功率和第二背向光對應的第二功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線。
本申請實施例可以利用示波器等即時檢測設備，來顯示待測鏈路中背向光的功率隨傳輸時間的變化，從而可以得到背向光的功率隨時間變化的第一曲線。
圖3為本申請實施例第一待測鏈路中背向光的功率隨傳輸時間變化的第一曲線示意圖。參見圖3，當第一待測鏈路受到環境影響時，產生的背向光的功率會發生突變，背向光功率隨時間變化的曲線也會產生波峰。從圖3中可以看出第一曲線共產生了3個波峰和一個波谷，這代表在對第一待測鏈路進行測試的這段時間內，第一待測鏈路發生了四次環境擾動。第一曲線中產生波峰和波谷的時間點則可以代表發生這些環境擾動的時間點。
在本申請另一實施例中，可以利用目前比較成熟的光時域反射儀來實現步驟S100至S300。圖4為本申請實施例中利用光時域反射儀記錄所述第一曲線的裝置框架示意圖。如圖4所示，光時域反射儀內部可以集成脈衝發生器、光源、環行器、光電檢測器、信號處理器，內部時鐘 以及顯示器。光時域反射儀中的脈衝發生器可以產生由內部時鐘觸發的電脈衝信號，該電脈衝信號進而可以調製光源，產生光脈衝。該光脈衝就可以為S100中所述的探測光。探測光進入環行器的1埠後，會從環行器的2埠輸出，從而可以進入第一待測鏈路。
光脈衝在第一待測鏈路中正向傳輸時，會在第一待測鏈路的沿途產生背向光。所述背向光包括瑞利背向散射光和菲涅爾反射光。產生的背向光會在第一待測鏈路中反向傳輸從而返回第一待測鏈路的輸入端。具體地，產生的背向光在第一待測鏈路中反向傳輸並到達環行器的2埠。背向光進入環行器的2埠後，會從環行器的3埠輸出。光電檢測器可以從環行器的3埠輸出的背向光中檢測出電脈衝信號，並將該電脈衝信號輸入信號處理器，在同一個內部時鐘的觸發下處理所述電脈衝信號，得到該電脈衝信號隨時間變化的關係。該電脈衝信號隨時間變化的關係即可以代表第一待測鏈路中探測光的背向光功率隨時間變化的關係。最終可以透過顯示器顯示出第一待測鏈路中背向光功率隨時間變化的第一曲線。
S400：計算所述第一曲線與第二曲線的相似值，並基於所述相似值判斷所述第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
得到所述第一曲線和第二曲線後，可以根據所述第一曲線與第二曲線計算得到第一曲線與第二曲線的相似值。該相似值可以體現第一曲線與第二曲線的相似程度，相似 程度越高，說明第一待測鏈路與第二待測鏈路中受到環境擾動的程度越相似，那麼就代表第一待測鏈路與第二待測鏈路處於同一共享風險鏈路組的可能性越大。並基於該相似值來判斷所述第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。本申請一實施例具體實現過程如下所述：
S401：將所述第一曲線與第二曲線分別映射為第一函數與第二函數。
以第一曲線為例：得到第一曲線後，可以透過時間軸離散的方法，將第一曲線中連續的時間軸離散為一個個的時間點。例如可以按照0.5秒的時間間隔，將0至100秒的時間軸離散為0.5，1，1.5，…，100這200個時間點。基於所述第一曲線，可以獲取每個時間點對應的背向光功率的數值，那麼便可以得到所述時間點與功率值的一一對應關係，這種所述時間點與功率值的一一對應關係便可以為所述的第一函數，用公式可以表示為：y 2 =f 1 (x),x=△t,2△t,3△t,...,N△t
其中，x代表離散的時間點，△t代表離散後相鄰時間點的間隔，N代表離散的時間點的個數，y1代表離散時間點對應的第一曲線中背向光功率值。
利用相同的方法，可以得到第二函數，具體地可以用公式表示為：y 2 =f 2 (x),x=△t,2△t,3△t,...,N△t
其中，x代表離散的時間點，△t代表離散後相鄰時間 點的間隔，N代表離散的時間點的個數，y2代表離散時間點對應的第二曲線中背向光功率值。
S402：計算所述第一函數與第二函數的相似值。
得到所述第一函數與第二函數後，可以計算第一函數與第二函數的相似值。該相似值可以體現第一曲線與第二曲線的相似程度，相似程度越高，說明第一待測鏈路與第二待測鏈路中受到環境擾動的程度越相似，那麼就代表第一待測鏈路與第二待測鏈路處於同一共享風險鏈路組的可能性越大。具體計算第一函數與第二函數的公式為：
其中，ρ代表第一函數與第二函數的相似值，x代表離散的時間點，△t代表離散後相鄰時間點的間隔，N代表離散的時間點的個數，f1(x)代表離散時間點對應的第一曲線中背向光功率值，f2(x)代表離散時間點對應的第二曲線中背向光功率值。
S403：當所述相似值大於預設閾值時，判定所述第一鏈路與第二鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
本申請實施例可以預先設置一相似值閾值。透過比較計算所得的相似值與該預設閾值的大小關係，從而可以判定待測的鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。在實際測試環境中，測試誤差往往不可避免，這將導致測試所得的第一曲線與第二曲線本來就存在一定的誤差，這種誤差最終往往會使計算所得的相似值偏低。另外，待測的鏈路由 於光纖材質固有的差異性，對環境擾動的敏感程度也會不同。例如，地面車輛經過時引入的振動，在第一鏈路中可能不會引起光功率的衰減，而在第二鏈路中可能會引起光功率的衰減。這樣生成的第一曲線和第二曲線會產生差異，這種差異同樣會使計算所得的相似值偏低。鑒於上述考慮，本申請一實施例可以將相似值閾值設置為0.75。當計算所得的相似值高於0.75時，可以判定第一待測鏈路與第二待測鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
在本申請另一實施例中，還可以通過下述步驟實現步驟S400：
S411：分別對所述第一曲線與第二曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第一曲線中的第一特徵向量組與第二曲線中的第二特徵向量組。
以第一曲線為例。從圖3中可以看出，當第一待測鏈路受到環境的擾動時，會在發生擾動的時間點產生一個波峰或者波谷。本申請實施例可以對所述第一曲線與第二曲線分別做波峰檢測和波谷檢測，獲取第一曲線中的第一特徵向量組與第二曲線中的第二特徵向量組。所述特徵向量組中的特徵向量可以透過以下形式表示： (波峰或者波谷的代表值，產生波峰或者波谷的時間點)
其中，本申請實施例可以將1作為波峰的代表值，將0作為波谷的代表值，產生波峰或者波谷的時間點均可以用秒做單位。具體地，假設第一曲線中10秒時產生了一個波谷，那麼經過波谷檢測後，可以將該時間點產生波谷 的事件用特徵向量(0,10)來表示。對第一曲線經過波峰檢測和波谷檢測後，便可以用一系列的特徵向量組成特徵向量組來表示不同時間點產生波峰或者波谷的事件。例如，第一特徵向量組為(1,5)，(0,7)，(1,15)，那麼表示第一曲線中第5秒產生了波峰，第7秒產生了波谷以及第15秒產生了波峰。透過這樣的方式，便可以分別得到第一曲線與第二曲線的第一特徵向量組與第二特徵向量組。
S412：提取所述第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算所述相同的特徵向量的數量分別在第一特徵向量組與第二特徵向量組中所占的第一比重與第二比重。
得到第一曲線與第二曲線中的第一特徵向量組與第二特徵向量組後，可以從第一特徵向量組與第二特徵向量組中提取相同的特徵向量。這些相同的特徵向量可以代表第一待測鏈路與第二待測鏈路所處環境的相似程度。得到第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量後，可以計算這些相同的特徵向量的數量分別在第一特徵向量組與第二特徵向量組中所占的第一比重與第二比重。這裡的第一比重與第二比重可以表示所述的相似值。當相同的特徵向量的數量在第一特徵向量組與第二特徵向量組中所占的比重越大時，代表第一待測鏈路與第二待測鏈路所處的環境越相似，這兩個待測鏈路在同一個共享風險鏈路組中的可能性也越高。
S413：當所述第一比重與第二比重均大於預設閾值時，判定所述第一鏈路與第二鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
本申請實施例可以預先設置一比重閾值。透過比較計算所得的第一比重及第二比重與該預設閾值的大小關係，從而可以判定待測的鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。在實際測試環境中，待測的鏈路由於光纖材質固有的差異性，對環境擾動的敏感程度也會不同。例如，地面車輛經過時引入的振動，在第一鏈路中可能不會引起光極化特性的改變，而在第二鏈路中可能會引起光極化特性的改變。這樣生成的第一曲線和第二曲線會產生不同的波峰或者波谷，從而導致第一特徵向量組與第二特徵向量組之間存在差異，這種差異同樣會使計算所得的比重值偏低。鑒於上述考慮，本申請一實施例可以將比重閾值設置為0.75。當計算所得的第一比重與第二比重高於0.75時，可以判定第一待測鏈路與第二待測鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
需要指出的是，由於實際測試過程的誤差或者測試儀器本身存在的延時性，可能會導致測試的第一曲線與第二曲線存在延時。圖5為本申請一個例子中產生延時的第一曲線與第二曲線的示意圖。如圖5所示，第一曲線與第二曲線呈現的趨勢均相同，例如均存在3個波峰，並且如果將第一曲線產生的第一個波峰與第二曲線產生的第一個波峰對應的時間點對齊後，後續的兩個波峰對應的時間點也 剛好吻合。這就說明如圖5所示的第一曲線和第二曲線是由於實際測試過程的誤差或者測試儀器本身存在的延時性，導致最終測試所得的第一曲線與第二曲線之間存在延時。如果不對存在延時的第一曲線和第二曲線進行校正，而是直接計算兩條曲線的相似值，便會得出兩個待測鏈路不在同一共享風險鏈路組的結論。顯然，這樣的結論是不準確的。因此，在本申請一較佳實施例中，可以在步驟S300與S400之間，增加下述步驟：
S310：對所述第一曲線與第二曲線進行延時校正，得到校正後的第一曲線與第二曲線。
具體地，本申請實施例可以透過將第一曲線產生第一個事件的時間點與第二曲線產生第一個事件的時間點對齊，來達到延時校正的目的。這裡產生事件的時間點對應著波峰或者波谷的時間點。具體地，可以獲取第一曲線產生第一個事件的時間點與第二曲線產生第一個事件的時間點，並將兩個時間點設置為相同的時間點。例如，第一曲線中產生第一個事件的時間點為第5秒，第二曲線中產生第一個事件的時間點為第10秒。那麼可以設置一個時間點，例如第5秒，將第一曲線與第二曲線產生第一個事件的時間點均設置為第5秒。經過這樣的處理，第一曲線沒有影響，第二曲線的時間軸需要提前10-5=5秒。這樣，經過延時校正後的第一曲線與第二曲線的第一個事件對應的時間點均相同，然後可以進行後續計算相似值的過程，這裡不再贅述。
在本申請另一實施例中，考慮到當光纖受到外界環境的影響時，在光纖內部傳輸的光信號的極化特性也會受到影響。具體地，如圖6所示，虛線為水平方向。在光纖內部正向傳輸的光信號的初始極化與水平方向的夾角為α。當光纖受到外界環境擾動時，光信號的極化特性發生改變，與水平方向的夾角變為β。光纖內部傳輸的背向光與正向傳輸光擁有相同的極性特性。當正向傳輸光受到環境影響導致極化特性改變時，背向光的極化特性也隨之改變。本申請實施例可以透過背向光的極化特性來表徵待測鏈路周圍的環境變化。由於直接測試背向光的極性特性比較困難，本申請實施例可以按照預設規則將背向光的極化特性映射為一維的功率特性，並透過測試和分析該一維的功率特性判斷待測鏈路組是否處於同一個共享風險鏈路組中。圖7為本申請一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的方法流程圖。如圖7所示，所述方法除了包括如圖1所示的步驟外，還包括：
S210：將第一背向光和第二背向光的極化特性分別映射為第一功率和第二功率。
圖8為本申請實施例按照預設規則將背向光的極化特性映射為功率特性的裝置示意圖。如圖8所示，雷射器將探測光脈衝經過環行器注入待測鏈路的輸入端。
探測光在待測鏈路中正向傳輸時，會在待測鏈路的沿途產生背向光。所述背向光包括瑞利背向散射光和菲涅爾反射光。產生的背向光與探測光的極化特性相同。產生的 背向光會在待測鏈路中反向傳輸從而返回待測鏈路的輸入端。具體地，產生的背向光在待測鏈路中反向傳輸並到達環行器的2埠。背向光進入環行器的2埠後，會從環行器的3埠輸出。從環行器的3埠輸出的背向光中的極化特性表徵了待測鏈路沿途的環境擾動。本申請實施例可以利用檢偏器設置一特定方向，將背向光中的極化特性在該特定方向映射的投影作為該背向光的功率特性。圖19為本申請一個例子中檢偏器的工作原理示意圖。從圖19中可以看出，檢偏器將水平方向設置為特定方向，使得背向光中僅有水平方向的分量光可以通過該檢偏器。假設背向光的極化方向與檢偏器設置的水平方向的夾角為α，背向光的功率為P，那麼背向光經過該檢偏器之後，只有水平方向的分量光能夠通過。通過檢偏器後的背向光的功率可以透過式1表示：P 1 =P．cosα 式1
其中，P1表示通過檢偏器後的背向光的功率，α表示背向光的極化方向與檢偏器設置的方向的夾角。從式1中可以看出，當背向光的極化特性改變時，將導致背向光的極化方向與檢偏器設置的方向之間的夾角發生變化，從而導致cosα的值就發生變化，那麼通過檢偏器之後背向光的功率也會發生變化。這樣，便可以將背向光極化特性的改變透過功率特性的改變來表徵。進一步地，待測鏈路周圍的環境擾動可以引起鏈路內部光信號的極化特性發生改變，從而導致經過檢偏器後的功率特性也發生改變。透過 觀測經過檢偏器後的背向光的功率變化情況，便可以得知待測鏈路周圍的環境是否發生了擾動。
將背向光的極化特性映射為功率特性後，本申請實施例中可以利用示波器等檢測設備，接收經過檢偏器之後的背向光。示波器可以即時顯示經過檢偏器之後的背向光的功率隨時間的變化，從而可以得到背向光的功率隨時間變化的曲線。本申請實施例可以分別記錄待測鏈路組中的第一待測鏈路和第二待測鏈路的背向光的功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線。
當待測鏈路受到環境影響時，背向光的極化特性會發生改變，極化方向與檢偏器設置的特定方向之間的夾角發生改變，從而導致經過檢偏器的背向光的功率會發生變化，背向光功率隨時間變化的曲線就可以會產生如圖3所示的波峰或者波谷。
同樣，在本申請另一實施例中，可以利用目前比較成熟的光時域反射儀來記錄第一背向光對應的第一功率和第二背向光對應的第二功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線。圖9為本申請實施例中利用光時域反射儀記錄所述第一曲線的裝置框架示意圖。如圖9所示，光時域反射儀內部可以集成脈衝發生器、光源、光電檢測器、信號處理器，內部時鐘以及顯示器。光時域反射儀中的脈衝發生器可以產生由內部時鐘觸發的電脈衝信號，該電脈衝信號進而可以調製光源，產生光脈衝。該光脈衝就可以為S100中所述的探測光。探測光進入環行器的1埠後，會從環行 器的2埠輸出，從而可以進入第一待測鏈路。
光脈衝在第一待測鏈路中正向傳輸時，會在第一待測鏈路的沿途產生背向光。所述背向光包括瑞利背向散射光和菲涅爾反射光。產生的背向光會在第一待測鏈路中反向傳輸從而返回第一待測鏈路的輸入端。具體地，產生的背向光在第一待測鏈路中反向傳輸並到達環行器的2埠。產生的背向光與探測光的極化特性相同。產生的背向光會在待測鏈路中反向傳輸從而返回待測鏈路的輸入端。具體地，產生的背向光在待測鏈路中反向傳輸並到達環行器的2埠。背向光進入環行器的2埠後，會從環行器的3埠輸出。從環行器的3埠輸出的背向光中的極化特性表徵了待測鏈路沿途的環境擾動。本申請實施例可以利用檢偏器設置一特定方向，將背向光中的極化特性在該特定方向映射的投影作為該背向光的功率特性。
光電檢測器可以從環行器的3埠輸出的背向光中檢測出電脈衝信號，並將該電脈衝信號輸入信號處理器，在同一個內部時鐘的觸發下處理所述電脈衝信號，得到該電脈衝信號隨時間變化的關係。該電脈衝信號隨時間變化的關係即可以代表第一待測鏈路中探測光的背向光功率隨時間變化的關係。最終可以透過顯示器顯示出第一待測鏈路中背向光功率隨時間變化的第一曲線。記錄第二待測鏈路中背向光功率隨時間變化的第二曲線同理，這裡不再贅述。
本申請該實施例中，具體計算所述第一曲線與第二曲線的相似值，並基於所述相似值判斷所述第一待測鏈路與 第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中的方法與上述實施例中步驟S400相同，這裡不再贅述。
同樣，在本申請一較佳實施例中，可以在步驟S300與S400之間，增加下述步驟：
S310：對所述第一曲線與第二曲線進行延時校正，得到校正後的第一曲線與第二曲線。
本申請實施例還提供一種檢測共享風險鏈路組的裝置。圖10為本申請實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖。如圖10所示，所述裝置包括：光源單元100，用來產生探測光並將所述探測光注入所述收發單元；收發單元200，用來接收所述光源單元產生的探測光，並將所述探測光分別注入第一待測鏈路和第二待測鏈路；接收第一待測鏈路返回的所述探測光的第一背向光和第二待測鏈路返回的所述探測光的第二背向光；資訊記錄單元300，用來記錄所述第一背向光對應的的第一功率和第二背向光對應的第二功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線；資訊處理單元400，用來計算第一曲線和第二曲線之間的相似值，並且基於所述相似值，判斷第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
在具體實現過程中，所述光源單元可以為雷射器，所述收發單元可以為環行器。上述的探測光的背向光包括瑞利背向散射光和菲涅爾反射光。
在本申請另一實施例中還提供一種檢測共享風險鏈路組的裝置。圖11為本申請另一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖。如圖11所示，所述裝置除了包括圖10中的功能模組之外，還包括：映射單元210，用來將收發單元接收的第一背向光和第二背向光的極化特性分別映射為第一功率和第二功率。
具體地，所述光源單元可以為雷射器，所述收發單元可以為環行器，所述映射單元可以為檢偏器。上述的探測光的背向光包括瑞利背向散射光和菲涅爾反射光。
圖12為本申請一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置中資訊處理單元的功能模組圖。如圖12所示，所述資訊處理單元400具體包括：第一函數映射模組401，用來將所述第一曲線映射為第一函數；第二函數映射模組402，用來將所述第二曲線映射為第二函數；函數相似值計算模組403，用來計算所述第一函數與第二函數的相似值；判斷模組404，用來基於所述相似值，判斷第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
進一步地，在本申請一較佳實施例中，所述第一函數映射模組401包括：第一時間軸離散模組4011，用來利用時間軸離散的方法，將所述第一曲線映射為第一函數； 相應地，所述第二函數映射模組402包括：第二時間軸離散模組4021，用來利用時間軸離散的方法，將所述第二曲線映射為第二函數。
進一步地，在本申請一較佳實施例中，所述資訊處理單元400具體包括：第一特徵向量組模組410，用來對所述第一曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第一曲線中的第一特徵向量組；第二特徵向量組模組420，用來對所述第二曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第二曲線中的第二特徵向量組；第一比重模組430，用來提取所述第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算所述相同的特徵向量的數量在第一特徵向量組中所占的第一比重；第二比重模組440，用來提取所述第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算所述相同的特徵向量的數量在第二特徵向量組中所占的第二比重；比重判定模組450，用來當所述第一比重與第二比重均大於預設閾值時，判定所述第一鏈路與第二鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
進一步地，圖13為本申請另一實施例中提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖。所述裝置在如圖10所示的裝置的基礎上，還包括：延時校正單元301，用來對所述第一曲線與第二曲線進行延時校正，得到校正後的第一曲線與第二曲線，並將 所述校正後的第一曲線與第二曲線發送至所述資訊處理單元。
圖14為本申請另一實施例中提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖。所述裝置在如圖11所示的裝置的基礎上，還包括：延時校正單元301，用來對所述第一曲線與第二曲線進行延時校正，得到校正後的第一曲線與第二曲線，並將所述校正後的第一曲線與第二曲線發送至所述資訊處理單元。
本申請另一實施例還提供一種檢測共享風險鏈路組的裝置。圖15為本申請另一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖。如圖15所示，所述裝置包括：光源單元110，用來產生探測光並將所述探測光注入所述收發單元；收發單元200，用來接收所述光源單元產生的探測光，並將所述探測光分別注入第一待測鏈路和第二待測鏈路；接收第一待測鏈路返回的所述探測光的第一背向光和第二待測鏈路返回的所述探測光的第二背向光；映射單元310，用來將所述第一背向光和第二背向光的極化特性分別映射為第一功率和第二功率。
具體地，在實際應用場景中，所述光源單元可以為雷射器，所述收發單元可以為環行器，所述映射單元可以為檢偏器。各個單元的具體工作方式與上述裝置實施例相 似，這裡不再贅述。
本申請另一實施例還提供一種檢測共享風險鏈路組的裝置。圖16為本申請另一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖。如圖16所示，所述裝置包括：資訊記錄單元120，用來記錄第一待測鏈路對應的第一功率隨時間變化的第一曲線和第二待測鏈路對應的第二功率隨時間變化的第二曲線；資訊處理單元220，用來計算第一曲線和第二曲線之間的相似值，並且基於所述相似值，判斷第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
圖17為本申請一實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置中資訊處理單元的功能模組圖。如圖17所示，所述資訊處理單元220具體包括：第一函數映射模組221，用來將所述第一曲線映射為第一函數；第二函數映射模組222，用來將所述第二曲線映射為第二函數；函數相似值計算模組223，用來計算所述第一函數與第二函數的相似值；判斷模組224，用來基於所述相似值，判斷第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
進一步地，在本申請一較佳實施例中，所述第一函數映射模組221包括： 第一時間軸離散模組2211，用來利用時間軸離散的方法，將所述第一曲線映射為第一函數；相應地，所述第二函數映射模組222包括：第二時間軸離散模組2221，用來利用時間軸離散的方法，將所述第二曲線映射為第二函數。
進一步地，在本申請一較佳實施例中，所述資訊處理單元220具體包括：第一特徵向量組模組230，用來對所述第一曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第一曲線中的第一特徵向量組；第二特徵向量組模組240，用來對所述第二曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第二曲線中的第二特徵向量組；第一比重模組250，用來提取所述第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算所述相同的特徵向量的數量在第一特徵向量組中所占的第一比重；第二比重模組260，用來提取所述第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算所述相同的特徵向量的數量在第二特徵向量組中所占的第二比重；比重判定模組270，用來當所述第一比重與第二比重均大於預設閾值時，判定所述第一鏈路與第二鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
進一步地，圖18為本申請另一實施例中提供的一種檢測共享風險鏈路組的裝置功能模組圖。如圖18所示，所述裝置還包括： 延時校正單元121，用來對所述第一曲線與第二曲線進行延時校正，得到校正後的第一曲線與第二曲線，並將所述校正後的第一曲線與第二曲線發送至所述資訊處理單元。
本申請實施例提供的一種檢測共享風險鏈路組的方法及裝置，透過測試待測鏈路中探測光的背向光的功率特性，並且基於該一維的功率特性判斷待測鏈路組是否處於同一個共享風險鏈路組中。相比三維分量而言，對一維分量的測試和分析相對比較容易。本申請基於一維的功率特性判斷待測鏈路組是否處於同一個共享風險鏈路組中，在實際應用中比較簡便。
在20世紀90年代，對於一個技術的改進可以很明顯地區分是硬體上的改進(例如，對二極體、電晶體、開關等電路結構的改進)還是軟體上的改進(對於方法流程的改進)。然而，隨著技術的發展，當今的很多方法流程的改進已經可以視為硬體電路結構的直接改進。設計人員幾乎都透過將改進的方法流程程式設計到硬體電路中來得到相應的硬體電路結構。因此，不能說一個方法流程的改進就不能用硬體實體模組來實現。例如，可程式設計邏輯裝置(Programmable Logic Device,PLD)(例如現場可程式設計閘陣列(Field Programmable Gate Array，FPGA))就是這樣一種積體電路，其邏輯功能由使用者對裝置程式設計來確定。由設計人員自行程式設計來把一個數位系統“集成”在一片PLD上，而不需要請晶片製造廠商來設計 和製作專用的積體電路晶片。而且，如今，取代手工地製作積體電路晶片，這種程式設計也多半改用“邏輯編譯器(logic compiler)”軟體來實現，它與程式開發撰寫時所用的軟體編譯器相類似，而要編譯之前的原始代碼也得用特定的程式設計語言來撰寫，此稱之為硬體描述語言(Hardware Description Language，HDL)，而HDL也並非僅有一種，而是有許多種，如ABEL(Advanced Boolean Expression Language)、AHDL(Altera Hardware Description Language)、Confluence、CUPL(Cornell University Programming Language)、HDCal、JHDL(Java Hardware Description Language)、Lava、Lola、MyHDL、PALASM、RHDL(Ruby Hardware Description Language)等，目前最普遍使用的是VHDL(Very-High-Speed Integrated Circuit Hardware Description Language)與Verilog2。本領域技術人員也應該清楚，只需要將方法流程用上述幾種硬體描述語言稍作邏輯程式設計並程式設計到積體電路中，就可以很容易得到實現該邏輯方法流程的硬體電路。
控制器可以按任何適當的方式實現，例如，控制器可以採取例如微處理器或處理器以及儲存可由該(微)處理器執行的電腦可讀程式碼(例如軟體或韌體)的電腦可讀媒體、邏輯門、開關、專用積體電路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、可程式設計邏輯控制器和嵌入微控制器的形式，控制器的例子包括但不限於 以下微控制器：ARC 625D、Atmel AT91SAM、Microchip PIC18F26K20以及Silicone Labs C8051F320，記憶體控制器還可以被實現為記憶體的控制邏輯的一部分。
本領域技術人員也知道，除了以純電腦可讀程式碼方式實現控制器以外，完全可以透過將方法步驟進行邏輯程式設計來使得控制器以邏輯門、開關、專用積體電路、可程式設計邏輯控制器和嵌入微控制器等的形式來實現相同功能。因此這種控制器可以被認為是一種硬體部件，而對其內包括的用於實現各種功能的裝置也可以視為硬體部件內的結構。或者甚至，可以將用於實現各種功能的裝置視為既可以是實現方法的軟體模組又可以是硬體部件內的結構。
上述實施例闡明的系統、裝置、模組或單元，具體可以由電腦晶片或實體實現，或者由具有某種功能的產品來實現。
為了描述的方便，描述以上裝置時以功能分為各種單元分別描述。當然，在實施本申請時可以把各單元的功能在同一個或多個軟體和/或硬體中實現。
透過以上的實施方式的描述可知，本領域的技術人員可以清楚地瞭解到本申請可借助軟體加必需的通用硬體平台的方式來實現。基於這樣的理解，本申請的技術方案本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分可以以軟體產品的形式體現出來，該電腦軟體產品可以儲存在儲存媒體中，如ROM/RAM、磁碟、光碟等，包括若干指令用以使得一 台電腦設備(可以是個人電腦，伺服器，或者網路設備等)執行本申請各個實施例或者實施例的某些部分所述的方法。
本說明書中的各個實施例均採用遞進的方式描述，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處。尤其，對於系統實施例而言，由於其基本相似於方法實施例，所以描述的比較簡單，相關之處參見方法實施例的部分說明即可。
本申請可用於眾多通用或專用的電腦系統環境或配置中。例如：個人電腦、伺服器電腦、手持設備或可擕式設備、平板型設備、多處理器系統、基於微處理器的系統、機頂盒、可程式設計的消費電子設備、網路PC、小型電腦、大型電腦、包括以上任何系統或設備的分散式運算環境等等。
本申請可以在由電腦執行的電腦可執行指令的一般上下文中描述，例如程式模組。一般地，程式模組包括執行特定任務或實現特定抽象資料類型的常式、程式、物件、元件、資料結構等等。也可以在分散式運算環境中實踐本申請，在這些分散式運算環境中，由透過通信網路而被連接的遠端處理設備來執行任務。在分散式運算環境中，程式模組可以位於包括存放裝置在內的本地和遠端電腦儲存媒體中。
雖然透過實施例描繪了本申請，本領域普通技術人員知道，本申請有許多變形和變化而不脫離本申請的精神， 希望所附的申請專利範圍包括這些變形和變化而不脫離本申請的精神。

Claims (15)

  1. 一種檢測共享風險鏈路組的方法，其特徵在於，包括：分別向第一待測鏈路和第二待測鏈路中注入探測光；接收該第一待測鏈路和第二待測鏈路中分別返回的該探測光的第一背向光和第二背向光；分別記錄該第一背向光對應的第一功率和該第二背向光對應的第二功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線；計算該第一曲線與第二曲線的相似值，並基於該相似值判斷該第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的一種檢測共享風險鏈路組的方法，其中，分別記錄該第一背向光對應的第一功率和該第二背向光對應的第二功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線之前還包括：將該第一背向光和該第二背向光的極化特性分別映射為第一功率和第二功率。
  3. 如申請專利範圍第1或2項所述的一種檢測共享風險鏈路組的方法，其中，該探測光的背向光包括瑞利背向散射光和菲涅爾反射光。
  4. 如申請專利範圍第1或2項所述的一種檢測共享風險鏈路組的方法，其中，計算該第一曲線與第二曲線的相似值，並基於該相似值判斷該第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中具體包括： 將該第一曲線與第二曲線分別映射為第一函數與第二函數；計算該第一函數與第二函數的相似值；當該相似值大於預設閾值時，判定該第一鏈路與第二鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
  5. 如申請專利範圍第1或2項所述的一種檢測共享風險鏈路組的方法，其中，計算該第一曲線與第二曲線的相似值，並基於該相似值判斷該第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中具體包括：分別對該第一曲線與第二曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第一曲線中的第一特徵向量組與第二曲線中的第二特徵向量組；提取該第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算該相同的特徵向量的數量分別在該第一特徵向量組與第二特徵向量組中所占的第一比重與第二比重；當該第一比重與第二比重均大於預設閾值時，判定該第一鏈路與第二鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
  6. 如申請專利範圍第1或2項所述的一種檢測共享風險鏈路組的方法，其中，在計算該第一曲線與第二曲線的相似值，並基於該相似值判斷該第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中之前還包括：對該第一曲線與第二曲線進行延時校正，得到校正後的第一曲線與第二曲線。
  7. 一種檢測共享風險鏈路組的裝置，其特徵在於，包括光源單元，收發單元，資訊記錄單元以及資訊處理單元，其中：該光源單元，用來產生探測光並將該探測光注入該收發單元；該收發單元，用來接收該光源單元產生的探測光，並將該探測光分別注入第一待測鏈路和第二待測鏈路；接收該第一待測鏈路返回的該探測光的第一背向光和第二待測鏈路返回的該探測光的第二背向光；該資訊記錄單元，用來記錄該第一背向光對應的第一功率和該第二背向光對應的第二功率隨時間變化的第一曲線和第二曲線；該資訊處理單元，用來計算該第一曲線和第二曲線之間的相似值，並且基於該相似值，判斷該第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
  8. 如申請專利範圍第7項所述的一種檢測共享風險鏈路組的裝置，其中，該裝置還包括：映射單元，用來將該收發單元接收的該第一背向光和第二背向光的極化特性分別映射為第一功率和第二功率。
  9. 如申請專利範圍第7或8項所述的一種檢測共享風險鏈路組的裝置，其中，該探測光的背向光包括瑞利背向散射光和菲涅爾反射光。
  10. 如申請專利範圍第7或8項所述的一種檢測共享風險鏈路組的裝置，其中，該資訊處理單元具體包括： 第一函數映射模組，用來將該第一曲線映射為第一函數；第二函數映射模組，用來將該第二曲線映射為第二函數；函數相似值計算模組，用來計算該第一函數與第二函數的相似值；判斷模組，用來基於該相似值，判斷第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
  11. 如申請專利範圍第7或8項所述的一種檢測共享風險鏈路組的裝置，其中，該資訊處理單元具體包括：第一特徵向量組模組，用來對該第一曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第一曲線中的第一特徵向量組；第二特徵向量組模組，用來對該第二曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第二曲線中的第二特徵向量組；第一比重模組，用來提取該第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算該相同的特徵向量的數量在第一特徵向量組中所占的第一比重；第二比重模組，用來提取該第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算該相同的特徵向量的數量在第二特徵向量組中所占的第二比重；比重判定模組，用來當該第一比重與第二比重均大於預設閾值時，判定該第一鏈路與第二鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
  12. 如申請專利範圍第7或8項所述的一種檢測共享 風險鏈路組的裝置，其中，該裝置還包括：延時校正單元，用來對該第一曲線與第二曲線進行延時校正，得到校正後的第一曲線與第二曲線，並將該校正後的第一曲線與第二曲線發送至該資訊處理單元。
  13. 一種檢測共享風險鏈路組的裝置，其特徵在於，包括光源單元，收發單元以及映射單元，其中：該光源單元，用來產生探測光並將該探測光注入該收發單元；該收發單元，用來接收該光源單元產生的探測光，並將該探測光分別注入第一待測鏈路和第二待測鏈路；接收該第一待測鏈路返回的該探測光的第一背向光和該第二待測鏈路返回的該探測光的第二背向光；該映射單元，用來將該收發單元接收的該第一背向光和第二背向光的極化特性分別映射為第一功率和第二功率。
  14. 一種檢測共享風險鏈路組的裝置，其特徵在於，包括資訊記錄單元和資訊處理單元，其中：該資訊記錄單元，用來記錄第一待測鏈路對應的第一功率隨時間變化的第一曲線和第二待測鏈路對應的第二功率隨時間變化的第二曲線；該資訊處理單元，用來計算該第一曲線和第二曲線之間的相似值，並且基於該相似值，判斷該第一待測鏈路與第二待測鏈路是否處於同一共享風險鏈路組中。
  15. 如申請專利範圍第14項所述的一種檢測共享風 險鏈路組的裝置，其中，該資訊處理單元具體包括：第一特徵向量組模組，用來對該第一曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第一曲線中的第一特徵向量組；第二特徵向量組模組，用來對該第二曲線做波峰檢測和波谷檢測，獲取第二曲線中的第二特徵向量組；第一比重模組，用來提取該第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算該相同的特徵向量的數量在第一特徵向量組中所占的第一比重；第二比重模組，用來提取該第一特徵向量組與第二特徵向量組中相同的特徵向量，並計算該相同的特徵向量的數量在第二特徵向量組中所占的第二比重；比重判定模組，用來當該第一比重與第二比重均大於預設閾值時，判定該第一鏈路與第二鏈路處於同一共享風險鏈路組中。
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