KR102446242B1 - Test Socket for Testing Electronic Module Having a Flexible Terminal Protecting Structure - Google Patents

Test Socket for Testing Electronic Module Having a Flexible Terminal Protecting Structure Download PDF

Info

Publication number
KR102446242B1
KR102446242B1 KR1020220086065A KR20220086065A KR102446242B1 KR 102446242 B1 KR102446242 B1 KR 102446242B1 KR 1020220086065 A KR1020220086065 A KR 1020220086065A KR 20220086065 A KR20220086065 A KR 20220086065A KR 102446242 B1 KR102446242 B1 KR 102446242B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
connection terminal
flexible terminal
flexible
connection
terminal unit
Prior art date
Application number
KR1020220086065A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
강경훈
Original Assignee
강경훈
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 강경훈 filed Critical 강경훈
Priority to KR1020220086065A priority Critical patent/KR102446242B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102446242B1 publication Critical patent/KR102446242B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441—Details
    • G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863—Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889—Interfaces, e.g. between probe and tester
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/56—Testing of electric apparatus

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

The present invention relates to a test socket for testing an electronic module having a structure for protecting a flexible terminal unit capable of efficiently testing normal performance by being electrically connected to the electronic module equipped with a micro connector, and efficiently replacing the flexible terminal unit while preventing damage to the flexible terminal unit therein. The test socket for testing an electronic module having a structure for protecting a flexible terminal unit comprises: a PCB substrate which prints and forms connection terminal lines on an upper surface; a socket housing which is combined with an upper part of the PCB substrate, which forms a groove-shaped accommodating space therein, and which includes a connector slot connected to an upper part; a guide block which is combined with the upper part of the PCB substrate corresponding to the accommodating space of the socket housing, and which supports a connection of a tested object toward the connector slot; and a flexible terminal unit which is inserted and combined in a mounted state on the guide block, which is pressed and fixed when the socket housing is combined toward the PCB substrate, and which includes a plurality of connecting pins to be electrically connected corresponding to the connector slot and the connection terminal lines. The flexible terminal unit includes: a first connection terminal unit which is faced between the socket housing and the guide block, is pressed and fixed in a horizontal state, and arranges the connecting pins corresponding to the connector slot; a second connection terminal unit which is faced between the socket housing and the PCB substrate, is pressed and fixed in the horizontal state, and arranges the connecting pins corresponding to the connection terminal lines; and an inclined joint unit which connects the first connection terminal unit and the second connection terminal unit, and extends from the first connection terminal unit toward the second connection terminal unit in an outward downward inclined direction.

Description

플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓 {Test Socket for Testing Electronic Module Having a Flexible Terminal Protecting Structure}{Test Socket for Testing Electronic Module Having a Flexible Terminal Protecting Structure}

본 발명은 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 마이크로 커넥터가 실장된 전자모듈에 전기적으로 접속하여 정상적인 성능 여부를 효율적으로 검사하고, 내부에 플렉시블 단말부의 손상을 방지하면서 효율적으로 교체 조립하는 것이 가능한 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a test socket for testing an electronic module having a protective structure for a flexible terminal, and more particularly, to electrically connect to an electronic module on which a micro connector is mounted to efficiently inspect whether the normal performance is present, and to It relates to a test socket for electronic module inspection having a flexible terminal protection structure that can be efficiently replaced and assembled while preventing damage.

일반적으로 소형 디스플레이 모듈과 카메라 모듈 등 마이크로 커넥터(Micro- Connector)를 실장한 전자제품들을 테스트하기 위한 테스트 소켓이 사용되고 있다.In general, test sockets for testing electronic products equipped with micro-connectors such as small display modules and camera modules are used.

기존의 상기 테스트 소켓들은 상기 마이크로 커넥터(Micro- Connector)에 접촉하는 단자를 내장하고 있는데, 상기 단자는 포고 핀(Pogo-Pin)을 이용한 방법과 메일-커넥터(male-connector)를 피메일-커넥터(female-connector)에 직접 삽입하는 방법이 있는데, 상기 직접 삽입하는 테스트 방식은 작업 효율성이 떨어져 현재 거의 이용되고 있지 않다. The existing test sockets have a built-in terminal contacting the micro-connector, and the terminal is a method using a pogo-pin and a male-connector is connected to a female-connector. There is a method of directly inserting into a female-connector, but the direct insertion test method is not used at present due to poor working efficiency.

또한, 포고-핀(Pogo-Pin)을 이용한 방식은 장시간 사용과 물리적인 힘으로 인한 핀의 불량이 자주 발생하는 문제가 있을 뿐만 아니라, 핀의 불량 발생시 마이크로 커넥터 단자부의 함몰 및 들림 현상이 발생함에 따라 테스트 실패로 인한 심각한 품질문제를 야기하며, 상기 포고-핀은 커넥터 단자부의 극히 제한된 부분만 접촉이 이루어지므로 접촉불량으로 인한 검사오류에 따라 역시 품질문제가 있었다.In addition, the method using the pogo-pin has a problem in that pin defects frequently occur due to long-term use and physical force, as well as depression and lift-up of the micro connector terminal when pin defects occur. Accordingly, it causes serious quality problems due to test failure, and since the pogo-pin contacts only a very limited portion of the connector terminal part, there was also a quality problem due to an inspection error due to poor contact.

이러한 문제점들을 해결하기 위하여, 최근에는 테스트 대상 디바이스의 마이크로 커넥터(Micro- Connector)가 상호 대면접촉방식에 의하여 신뢰성이 우수하고, 내구성이 우수하도록 마이크로 커넥터(Micro- Connector)를 실장한 테스트 소켓이 개발되었다.In order to solve these problems, recently, a test socket equipped with a micro-connector has been developed so that the micro-connector of the device under test has excellent reliability and durability by means of a face-to-face contact method. became

상기 마이크로 커넥터(Micro- Connector)를 실장한 테스트 소켓에 관한 종래 기술들을 살펴 보면, 한국등록특허 10-1200502(등록일자 2012년11월06일)에 중앙부분에 관통 홀이 형성되어 있는 가이드 블럭; 및 상기 가이드 블럭의 하부 면으로 결합되되, 상기 관통 홀을 통해 상부 면이 노출되는 러버 커넥터(Rubber Connector);를 포함하고, 상기 러버 커넥터는, 실리콘 러버; 및 개별 단자 핀들에 대응하여 상기 실리콘 러버 내에 형성된 도전 라인들;을 포함하며, 상기 도전 라인들 각각은 상기 실리콘 러버 내에 소정 간격으로 심어진 금속 와이어들로 형성되며, 상기 도전 라인들 각각이 상기 금속 와이어로 형성된 경우, 상기 금속 와이어는 상기 실리콘 러버 수평면에 대하여 수직으로 형성되거나 또는 소정 각도를 가지고 기울어져 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓이 공지되어 있다.Looking at the prior art regarding the test socket on which the micro-connector is mounted, Korean Patent No. 10-1200502 (registration date: November 06, 2012) has a guide block having a through hole formed in the center thereof; and a rubber connector coupled to the lower surface of the guide block, the upper surface of which is exposed through the through hole, wherein the rubber connector includes: silicon rubber; and conductive lines formed in the silicon rubber corresponding to individual terminal pins, wherein each of the conductive lines is formed of metal wires planted at predetermined intervals in the silicon rubber, and each of the conductive lines is the metal wire When formed as a test socket, characterized in that the metal wire is formed perpendicular to the horizontal plane of the silicon rubber or inclined at a predetermined angle is known.

또한, 한국등록특허 10-1030804(등록일자 2011년04월15일)에 전기적으로 서로 분리된 개별 단자 핀들이 양 사이드에 배치되어 있는 본체; 및 상기 단자 핀들을 소정 위치에 고정하는 지지 테이프;를 포함하고, 상기 본체 및 지지 테이프는 원형 또는 다각형 구조를 가지되, 외곽의 테두리 영역 및 중앙부분에 오픈 영역을 구비하며, 상기 단자 핀들은 상기 테두리 영역으로부터 확장하여 상기 오픈 영역으로 돌출되는 구조를 가지며, 상기 단자 핀들은 단면이 직사각형이고, 일 방향으로 길게 연장된 구조를 가지며, 상기 단자 핀들의 상면에는 요철이 형성되어 있으며, 상기 지지 테이프는, 상기 본체의 상면으로 접착되는 상부 지지 테이프; 및 상기 본체의 하면으로 접착되는 하부 지지 테이프;를 포함하며, 상기 하부 지지 테이프의 오픈 영역이 상기 상부 지지 테이프의 오픈 영역보다 넓고, 상기 상부 지지 테이프의 오픈 영역은 직사각형 구조를 가지며, 상기 단자 핀들은 상기 직사각형의 대향하는 두 변에서 돌출된 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 인터페이스가 공지되어 있다.In addition, in Korean Patent Registration No. 10-1030804 (registration date April 15, 2011), individual terminal pins electrically separated from each other are disposed on both sides of the main body; and a support tape for fixing the terminal pins at predetermined positions, wherein the main body and the support tape have a circular or polygonal structure, and have an open area in an outer edge area and a central portion, and the terminal pins are The terminal pins have a structure that extends from the edge area and protrude into the open area, the terminal pins have a rectangular cross section, have a structure that extends long in one direction, and have irregularities formed on upper surfaces of the terminal pins, and the support tape includes , an upper support tape adhered to the upper surface of the main body; and a lower support tape adhered to the lower surface of the main body, wherein an open area of the lower support tape is wider than an open area of the upper support tape, and an open area of the upper support tape has a rectangular structure, and the terminal pins are is known as an interface, characterized in that it has a structure protruding from two opposite sides of the rectangle.

또한, 한국등록특허 10-1923144(등록일자 2018년11월22일)에는 제1 단자 핀들이 형성된 제1 플레이트, 및 제2 단자 핀들이 형성되고 상기 제1 플레이트와 이격 배치된 제2 플레이트를 구비하고, 중앙에 제1 오픈 영역이 형성되며, 상기 제1 단자 핀들과 상기 제2 단자 핀들이 서로 대향하면서 상기 제1 오픈 영역으로 돌출되도록 배치된, 본체; 상기 제1 및 제2 단자 핀들을 고정하여 지지하고, 상기 본체의 하면을 덮고 상기 제1 오픈 영역에 대응하는 오픈 영역이 형성된 제1 지지 필름, 및 상기 본체의 상면을 덮고 상기 제1 오픈 영역에 대응하는 오픈 영역이 형 성된 제2 지지 필름을 구비한 지지 필름; 및 러버(rubber), 및 상기 러버 내에 배치된 다수의 도전 라인들을 구비하고, 상기 제1 지지 필름의 오픈 영역에 대응하는 사이즈를 가지고 상기 제1 및 제2 단자 핀들 하부에 배치된 제1 러버 커넥터;를 포함하고, 상기 제1 및 제2 단자 핀들의 끝단 부분에 상방으로 돌출된 구조의 접촉부가 형성되며, 상기 접촉부는, ∧ 구조, 90도 벤딩 구조, 및 연결 홈이 형성된 구조 중 어느 하나의 돌출 구조를 구비하며, 상기 연결 홈이 형성된 구조의 경우, 상기 접촉부는 연장부, 상기 연결 홈 및 돌출부를 구비하고, 상기 ∧ 구조의 돌출 부분, 상기 90도 벤딩 구조의 돌출 부분, 및 상기 연결 홈이 형성된 구조의 돌출부 중 적 어도 하나의 상면에 도전성 파티클들이 코팅된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트용 인터페이스가 공지되어 있다.In addition, Korean Patent Registration No. 10-1923144 (registration date of November 22, 2018) includes a first plate on which first terminal pins are formed, and a second plate on which second terminal pins are formed and spaced apart from the first plate. a main body having a first open area formed in the center thereof, the first terminal pins and the second terminal pins facing each other and disposed to protrude into the first open area; a first support film fixing and supporting the first and second terminal pins, covering a lower surface of the main body and having an open area corresponding to the first open area; a support film having a second support film having a corresponding open area formed thereon; and a first rubber connector having a rubber, and a plurality of conductive lines disposed in the rubber, having a size corresponding to the open area of the first support film, and disposed under the first and second terminal pins ; and a contact portion having a structure protruding upward is formed at the end portions of the first and second terminal pins, and the contact portion may be any one of a ∧ structure, a 90 degree bending structure, and a structure in which a connection groove is formed. In the case of a structure having a protrusion structure and the connection groove is formed, the contact part includes an extension part, the connection groove and a protrusion part, and the protrusion part of the ∧ structure, the protrusion part of the 90 degree bending structure, and the connection groove An interface for testing a semiconductor device is known, in which conductive particles are coated on at least one of the protrusions of the formed structure.

또한, 한국등록특허 10-1923145(등록일자 2018년11월22일)에는 인쇄회로기판(Printed Circuit Board: PCB) 상에 배치되고, 상기 PCB의 단자들과 전기적으로 연결된 러버 커넥터(rubber connector); 상기 러버 커넥터 상에 배치되어 상기 러버 커넥터에 전기적으로 연결되고, 양 사이드에 일렬로 배치된 단자 핀들을 구비한 인터페이스; 상기 인터페이스 상에 배치되고, 중앙 부분에 제1 관통홀이 형성된 상부 가이드 블럭; 및 상기 인터페이스 상에 배치되어 상기 인터페이스에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 관통홀을 통해 노출되되 외곽 부분이 상기 가이드 블록에 의해 덮이며, 상기 인터페이스 상에서 이동 가능한 제1 마이크로 커넥터;를 포함하고, 상기 제1 마이크로 커넥터는, 테스트 대상의 제2 마이크로 커넥터의 암(female) 또는 수(male) 커넥터 구조에 대응하여 수 또는 암 커넥터 구조를 갖는, 테스트 소켓이 공지되어 있다.In addition, Korea Patent Registration 10-1923145 (registration date November 22, 2018) has a rubber connector disposed on a printed circuit board (Printed Circuit Board: PCB), and electrically connected to the terminals of the PCB (rubber connector); an interface disposed on the rubber connector, electrically connected to the rubber connector, and having terminal pins arranged in a line on both sides; an upper guide block disposed on the interface and having a first through hole formed in a central portion thereof; and a first micro connector disposed on the interface, electrically connected to the interface, exposed through the first through-hole, the outer portion being covered by the guide block, and movable on the interface; A test socket is known in which the first micro connector has a male or female connector structure corresponding to the female or male connector structure of the second micro connector under test.

그러나, 상기 인터페이스 또는 테스트 소켓들은 마이크로 커넥터가 평면구조의 모듈로 형성되어 있어 PCB의 단자, 반도체 패키지 단자 또는 플레이트 단자 형태의 디바이스 테스트는 가능하나, 비투비 커넥터(Board to Board Connector) 또는 카메라 모듈 등과 같은 모듈 테스트에는 불가능한 문제점이 있었다,However, since the interface or test sockets have a micro connector formed as a module having a flat structure, it is possible to test a device in the form of a PCB terminal, a semiconductor package terminal, or a plate terminal, but such as a Board to Board Connector or a camera module. Module testing had an impossible problem,

이러한 문제점을 해결하기 위하여, 한국등록특허 10-2070302(등록일자 2020년01월20일)에는 적어도 2개의 부분 인터페이스를 포함하고, 상기 적어도 2개의 부분 인터페이스 각각은, 상부 단자 핀들이 제1 방향을 따라 배치된 상부 접촉부; 상기 상부 접촉부의 하부에 배치되고, 하부 단자 핀들이 상기 제1 방향을 따라 배치된 하부 접촉부; 상기 상부 단자 핀들 각각을 대응하는 상기 하부 단자 핀들 각각으로 연결하는 연결 라인들을 구비하고, 상기 연결 라인들 각각은 2개의 벤딩부를 통해 동일 방향으로 2번 벤딩되어 상부 라인, 측면 라인, 및 하부 라인을 갖는, 연결부; 및 상기 상부 단자 핀들, 하부 단자 핀들, 및 연결 라인들을 고정하여 지지하고, 상기 상부 단자 핀들 각각의 적어도 일부와 상기 하부 단자 핀들 각각의 적어도 일부를 노출시키는 지지 테이프;를 포함하고, 상기 상부 단자 핀들 각각은 대응하는 상기 연결 라인들 각각과 상기 하부 단자 핀들 각각에 일체로 연결된, 벤딩 구조의 인터페이스가 개발되었다.In order to solve this problem, Korean Patent Registration No. 10-2070302 (registration date January 20, 2020) includes at least two partial interfaces, and each of the at least two partial interfaces has the upper terminal pins in the first direction. an upper contact portion disposed along; a lower contact portion disposed under the upper contact portion and having lower terminal pins disposed along the first direction; and connecting lines connecting each of the upper terminal pins to each of the corresponding lower terminal pins, wherein each of the connecting lines is bent twice in the same direction through two bending portions to form an upper line, a side line, and a lower line having, a connection part; and a support tape for fixing and supporting the upper terminal pins, the lower terminal pins, and the connection lines, and exposing at least a portion of each of the upper terminal pins and at least a portion of each of the lower terminal pins; An interface of a bending structure, each integrally connected to each of the corresponding connecting lines and each of the lower terminal pins, was developed.

보다 구체적으로, 상기 벤딩 구조의 인터페이스는, [도 1]에 도시한 바와 같이, 제1 부분 인터페이스(100-1e), 제2 부분 인터페이스(100-2e), 연결 몸체(140)를 포함하여 형성되는 인터페이스 원판을 다수 인쇄하고, 상기 인터페이스 원판에 지지 테이프(150)를 부착하여, [도 2]에 도시한 바와 같이, 제1 부분 인터페이스(100-1e), 제2 부분 인터페이스(100-2e), 연결 몸체(140), 및 지지 테이프(150)를 포함하는 인터페이스 본체(100e)를 형성한다.More specifically, the interface of the bending structure is formed to include a first partial interface 100-1e, a second partial interface 100-2e, and a connection body 140, as shown in FIG. 1 . A plurality of interface disks are printed, and a support tape 150 is attached to the interface disk, as shown in [Fig. 2], a first partial interface 100-1e, a second partial interface 100-2e. , a connection body 140 , and an interface body 100e including a support tape 150 .

그 다음, [도 3]에 도시한 바와 같이, 어댑터(200)를 인터페이스 본체(100f)에 결합하고, 상부 접촉부(110)에 인접하는 벤딩부(134)를 통해 연결 라인들(132)을 수직 하방으로 1차 벤딩한다. 어댑터(200)는 도시된 바와 같이, 단면이 직사 각형 형태를 가질 수 있고, 상면 상에는 결합 돌기(203)가 형성될 수 있다. 어댑터(200)는 결합돌기(203)를 통해 연결 몸체(140)에 형성된 결합홀(H1)에 결합한다.Next, as shown in FIG. 3 , the adapter 200 is coupled to the interface body 100f, and the connection lines 132 are vertically connected through the bending portion 134 adjacent to the upper contact portion 110 . First bend downwards. As shown, the adapter 200 may have a rectangular cross-section, and a coupling protrusion 203 may be formed on the upper surface. The adapter 200 is coupled to the coupling hole H1 formed in the connection body 140 through the coupling protrusion 203 .

또한, [도 4]에 도시한 바와 같이, 상기 1차 벤딩 후, 하부 접촉부(120)에 인접하는 벤딩부(134)를 통해 연결 라인들(132)을 수평 방향으로 2차 벤딩한다. 1차 벤딩과 2차 벤딩은 동일 방향으로 이루어지도록 하여, 인터페이스 본체(100)가 어댑터(200)에 결합한 상태로 인터페이스 어셈블리를 구성하여 테스트 소켓을 구성한다.Also, as shown in FIG. 4 , after the first bending, the connection lines 132 are secondarily bent in the horizontal direction through the bending part 134 adjacent to the lower contact part 120 . The first bending and the second bending are performed in the same direction, so that the interface body 100 is coupled to the adapter 200 to configure the interface assembly to configure the test socket.

그러나, 상기 벤딩 구조의 인터페이스를 갖는 테스트 소켓의 경우에는, 벤딩시 수직 방향 및 수평 방향을 향해 직각으로 굽히는 공정 중 단자핀의 연결라인이 끈어지거나 크랙이 발생하여 쇼트 현상을 초래하며, 다양한 전자모듈에 대한 검사성능을 저하시켜 공정의 검사 신뢰성이 떨어진다는 문제가 있었다.However, in the case of the test socket having the interface of the bending structure, the connection line of the terminal pin is pulled or cracked during the bending process at right angles to the vertical and horizontal directions, resulting in a short circuit, and various electronic modules There was a problem in that the inspection performance was lowered, and the inspection reliability of the process was lowered.

[특허문헌 001] 한국등록특허 10-1200502(등록일자 2012년11월06일)[Patent Document 001] Korean Patent Registration 10-1200502 (Registration Date: November 06, 2012) [특허문헌 002] 한국등록특허 10-1030804(등록일자 2011년04월15일)[Patent Document 002] Korean Patent 10-1030804 (Registration Date: April 15, 2011) [특허문헌 003] 한국등록특허 10-1923144(등록일자 2018년11월22일)[Patent Document 003] Korean Patent 10-1923144 (Registration Date: November 22, 2018) [특허문헌 004] 한국등록특허 10-1923145(등록일자 2018년11월22일)[Patent Document 004] Korean Patent Registration 10-1923145 (Registration Date: November 22, 2018) [특허문헌 005] 한국등록특허 10-2070302(등록일자 2020년01월20일)[Patent Document 005] Korean Patent 10-2070302 (Registration Date January 20, 2020)

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 테스트 소켓의 하우징 내 필름테이프로 부착 보강된 플렉시블 단말부의 조립구조를 개선하므로, 단자 연결라인인 플렉시블 단말부의 쇼트 현상을 방지하고, 장치의 내구성과 검사성능를 높일 수 있는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓을 제공하는데, 그 목적이 있다.The present invention is to solve the above problems, and improves the assembly structure of the flexible terminal part attached and reinforced with film tape in the housing of the test socket, thereby preventing the short circuit of the flexible terminal part, which is a terminal connection line, and improving the durability and quality of the device. An object of the present invention is to provide a test socket for electronic module inspection having a flexible terminal protection structure capable of increasing inspection performance.

본 발명이 제안하는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓은 상면에 접속단자선을 인쇄 형성하는 PCB기판과; 상기 PCB기판의 상부에 결합하되 내측에 홈 형태의 수용공간을 형성하고, 상부에 커넥팅 접속 가능한 커넥터슬롯을 구비하는 소켓하우징과; 상기 소켓하우징의 수용공간에 대응하여 상기 PCB기판의 상부에 안착 결합하고, 상기 커넥터슬롯을 향한 검사대상의 접속을 지지하는 가이드블록과; 상기 가이드블록 상에 안착 상태로 끼움 결합하되 상기 PCB기판을 향한 상기 소켓하우징의 결합시 압착 고정하고, 상기 커넥터슬롯 및 상기 접속단자선에 대응하여 전기적으로 접속 가능하게 복수 개의 접속핀을 구비하는 플렉시블 단말부;를 포함하고, 상기 플렉시블 단말부는, 상기 소켓하우징과 상기 가이드블록의 사이에 대면하여 수평 상태로 압착 고정하고 상기 커넥터슬롯에 대응하여 상기 접속핀을 배열 배치하게 형성하는 제1접속단자부와, 상기 소켓하우징과 상기 PCB기판의 사이에 대면하여 수평 상태로 압착 고정하고 상기 접속단자선에 대응하여 상기 접속핀을 배열 배치하게 형성하는 제2접속단자부와, 상기 제1접속단자부 및 상기 제2접속단자부를 연결하되 상기 제1접속단자부에서 상기 제2접속단자부를 향해 외측 하향 경사방향으로 연장 형성하는 경사이음부를 포함하여 이루어진다.A test socket for testing an electronic module having a flexible terminal protection structure proposed by the present invention includes: a PCB substrate for forming a connection terminal line by printing on an upper surface thereof; a socket housing coupled to the upper part of the PCB board, but having a groove-shaped accommodation space therein, and having a connector slot capable of being connected to the upper part; a guide block which is seated and coupled to the upper portion of the PCB board corresponding to the receiving space of the socket housing and supports the connection of the test target toward the connector slot; Flexible having a plurality of connection pins to be electrically connected in correspondence to the connector slot and the connection terminal wire, and is fitted and coupled in a seated state on the guide block, but is pressed and fixed when the socket housing is coupled toward the PCB board A first connection terminal part, including a terminal part, wherein the flexible terminal part faces between the socket housing and the guide block and is pressed and fixed in a horizontal state to arrange the connection pins in correspondence with the connector slots; , a second connection terminal part facing between the socket housing and the PCB board, pressing and fixing in a horizontal state, and arranging the connection pins corresponding to the connection terminal wire; the first connection terminal part and the second connection terminal part Connecting the connection terminal part, but comprising an inclined joint extending from the first connection terminal part toward the second connection terminal part in an outwardly downward inclination direction.

상기 소켓하우징에는, 양단에 길이 방향으로 연장 형성하고 상기 플렉시블 단말부의 상면을 탄력적으로 누름 압착하여 고정하는 밀착부재를 구비한다.The socket housing is provided with a contact member extending in the longitudinal direction at both ends and elastically pressing and pressing the upper surface of the flexible terminal unit to fix it.

상기 소켓하우징에는, 상기 플렉시블 단말부의 제2접속단자부와 상기 경사이음부의 경계부분을 접촉 지지하되 외측으로 볼록한 곡선형으로 형성하는 곡면접촉부를 구비한다.The socket housing is provided with a curved contact portion formed in a convex curve to the outside while contacting and supporting the boundary portion of the second connection terminal portion and the inclined joint portion of the flexible terminal portion.

상기 가이드블록에는, 상부에 설치하고 상기 플렉시블 단말부를 탄력적으로 접촉 지지하는 밀착블록부재를 구비한다.The guide block has an adhesion block member installed on the upper portion and elastically contacting and supporting the flexible terminal part.

상기 가이드블록에는, 상기 플렉시블 단말부의 제1접속단자부와 상기 경사이음부의 경계부분을 접촉 지지하되 외측으로 볼록한 곡선형으로 형성하는 곡면지지부를 구비한다.The guide block is provided with a curved support portion forming a convex curve to the outside while contacting and supporting the boundary portion of the first connection terminal portion and the inclined joint portion of the flexible terminal portion.

상기 플렉시블 단말부에는, 상/하부 표면 중 적어도 어느 한쪽 표면에 대면하여 부착 형성하는 필름테이프를 구성한다.The flexible terminal part comprises a film tape that is attached and formed to face at least one of the upper/lower surfaces.

상기 필름테이프는, 두께 0.02~0.05㎜를 이루게 형성한다.The film tape is formed to have a thickness of 0.02 to 0.05 mm.

상기 플렉시블 단말부는, 적어도 2개 이상이 상하로 적층 형성된 다층단말구조로 이루어진다.The flexible terminal part has a multi-layer terminal structure in which at least two or more are stacked vertically.

또한, 본 발명은 상기 PCB기판과 상기 가이드블록의 사이에 배치하고 상기 가이드블록을 상하 유동 가능하게 탄력적으로 지지하는 탄성수단을 더 포함하여 구성하는 것도 가능하다.In addition, the present invention may be configured to further include an elastic means disposed between the PCB substrate and the guide block and elastically supporting the guide block so as to be movable up and down.

본 발명에 따른 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓에 의하면 소켓하우징과 PCB기판의 사이에 플렉시블 단말부를 탄력적으로 접속시키면서 접속단자 간에 경사이음부를 확보하게 구성하므로, 플렉시블 단말부의 교체 조립이 용이하고, 접속단자의 쇼트 현상을 방지하여 내구성을 향상시키면서 검사대상의 검사성능을 향상시키며, 검사공정의 우수한 신뢰도를 도모할 수 있는 효과를 얻는다.According to the test socket for electronic module inspection having a flexible terminal protection structure according to the present invention, since it is configured to secure an inclined joint between the connection terminals while elastically connecting the flexible terminal portion between the socket housing and the PCB substrate, the replacement assembly of the flexible terminal portion It is easy to use, and the short circuit of the connection terminal is prevented, the durability is improved, the inspection performance of the inspection object is improved, and the effect of achieving excellent reliability of the inspection process is obtained.

도 1은 종래의 벤딩 구조의 인터페이스 어셈블리를 나타내는 도면
도 2는 종래의 벤딩 구조의 인터페이스 어셈블리를 나타내는 도면
도 3은 종래의 벤딩 구조의 인터페이스 어셈블리를 나타내는 도면
도 4는 종래의 벤딩 구조의 인터페이스 어셈블리를 나타내는 도면
도 5는 본 발명에 따른 일실시예를 나타내는 분리 사시도.
도 6은 본 발명에 따른 일실시예를 나타내는 사시도.
도 7은 본 발명에 따른 일실시예를 나타내는 단면도.
도 8은 본 발명에 따른 일실시예의 조립과정을 나타내는 분리 단면도.
도 9는 본 발명에 따른 일실시예에서 플렉시블 단말부의 다른 실시예를 나타내는 분리 사시도.
도 10은 본 발명에 따른 다른 실시예를 나타내는 단면도.1 is a view showing an interface assembly having a conventional bending structure;
2 is a view showing an interface assembly having a conventional bending structure;
3 is a view showing an interface assembly having a conventional bending structure;
4 is a view showing an interface assembly having a conventional bending structure;
5 is an exploded perspective view showing an embodiment according to the present invention.
6 is a perspective view showing an embodiment according to the present invention.
7 is a cross-sectional view showing an embodiment according to the present invention.
8 is an exploded cross-sectional view showing an assembling process of an embodiment according to the present invention.
Figure 9 is an exploded perspective view showing another embodiment of the flexible terminal in one embodiment according to the present invention.
10 is a cross-sectional view showing another embodiment according to the present invention.

본 발명은 상면에 접속단자선을 인쇄 형성하는 PCB기판과; 상기 PCB기판의 상부에 결합하되 내측에 홈 형태의 수용공간을 형성하고, 상부에 커넥팅 접속 가능한 커넥터슬롯을 구비하는 소켓하우징과; 상기 소켓하우징의 수용공간에 대응하여 상기 PCB기판의 상부에 안착 결합하고, 상기 커넥터슬롯을 향한 검사대상의 접속을 지지하는 가이드블록과; 상기 가이드블록 상에 안착 상태로 끼움 결합하되 상기 PCB기판을 향한 상기 소켓하우징의 결합시 압착 고정하고, 상기 커넥터슬롯 및 상기 접속단자선에 대응하여 전기적으로 접속 가능하게 복수 개의 접속핀을 구비하는 플렉시블 단말부;를 포함하고, 상기 플렉시블 단말부는, 상기 소켓하우징과 상기 가이드블록의 사이에 대면하여 수평 상태로 압착 고정하고 상기 커넥터슬롯에 대응하여 상기 접속핀을 배열 배치하게 형성하는 제1접속단자부와, 상기 소켓하우징과 상기 PCB기판의 사이에 대면하여 수평 상태로 압착 고정하고 상기 접속단자선에 대응하여 상기 접속핀을 배열 배치하게 형성하는 제2접속단자부와, 상기 제1접속단자부 및 상기 제2접속단자부를 연결하되 상기 제1접속단자부에서 상기 제2접속단자부를 향해 외측 하향 경사방향으로 연장 형성하는 경사이음부를 포함하는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓을 기술구성의 특징으로 한다.The present invention comprises: a PCB substrate for forming a connection terminal wire printed on the upper surface; a socket housing coupled to the upper part of the PCB board, but having a groove-shaped accommodation space therein, and having a connector slot capable of being connected to the upper part; a guide block which is seated and coupled to the upper portion of the PCB board corresponding to the receiving space of the socket housing and supports the connection of the test target toward the connector slot; Flexible having a plurality of connection pins to be electrically connected in correspondence to the connector slot and the connection terminal wire, and is fitted and coupled in a seated state on the guide block, but is pressed and fixed when the socket housing is coupled toward the PCB board A first connection terminal part, including a terminal part, wherein the flexible terminal part faces between the socket housing and the guide block and is pressed and fixed in a horizontal state to arrange the connection pins in correspondence with the connector slots; , a second connection terminal part facing between the socket housing and the PCB board, pressing and fixing in a horizontal state, and arranging the connection pins to correspond to the connection terminal wire, the first connection terminal part and the second A test socket for electronic module inspection having a flexible terminal protection structure including a slanted joint that connects the connection terminal and extends in an outwardly downward inclined direction from the first connection terminal to the second connection terminal as a feature of the technical configuration do.

이하에서는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예 및/또는 도면을 통하여 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 여기에서 설명하는 실시예 및/또는 도면에 한정되지 않는다.Hereinafter, embodiments and/or drawings of the present invention will be described in detail so that those of ordinary skill in the art can easily carry out the present invention. However, the present invention may be embodied in many different forms, and is not limited to the embodiments and/or drawings described herein.

다음으로 본 발명에 따른 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓의 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.Next, a preferred embodiment of the test socket for electronic module inspection having a flexible terminal protection structure according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

먼저 본 발명에 따른 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓의 일실시예는 도 5에 나타낸 바와 같이, PCB기판(10)과, 소켓하우징(20)과, 가이드블록(30)과, 플렉시블 단말부(40)를 포함하여 이루어진다.First, as shown in FIG. 5, an embodiment of a test socket for electronic module inspection having a flexible terminal protection structure according to the present invention includes a PCB substrate 10, a socket housing 20, a guide block 30 and , including a flexible terminal unit 40 .

상기 PCB기판(10)은 다양한 유형의 전자모듈을 검사하기 위한 검사장치와 연결하면서 전기적으로 접속하게 구성한다.The PCB substrate 10 is configured to be electrically connected while being connected to an inspection device for inspecting various types of electronic modules.

상기 PCB기판(10)은 도 5 및 도 7에 나타낸 바와 같이, 본 발명의 테스트 소켓에서 하부에 구비토록 구성하고, 상면에 접속단자선(15)을 인쇄 형성한다. 즉, 상기 PCB기판(10)의 접속단자선(15)은 상기 플렉시블 단말부(40)가 접촉하여 전기적으로 접속한다.5 and 7, the PCB substrate 10 is configured to be provided in the lower part of the test socket of the present invention, and the connection terminal wire 15 is printed on the upper surface. That is, the connection terminal wire 15 of the PCB substrate 10 is electrically connected to the flexible terminal part 40 in contact.

상기 PCB기판(10)에는 상기 가이드블록(30)을 결속 결합시킬 수 있게 끼움홀을 구비하며, 상기 소켓하우징(20)을 일체로 고정토록 볼트 결합 가능한 볼트공을 형성한다.A fitting hole is provided in the PCB substrate 10 to bind and couple the guide block 30 , and a bolt hole capable of bolting the socket housing 20 is formed integrally.

상기 소켓하우징(20)은 도 6 및 도 7에 나타낸 바와 같이, 상기 PCB기판(10)의 상부에 일체로 연결 결합하고, 상기 플렉시블 단말부(40)를 압착 고정하게 구성한다.As shown in FIGS. 6 and 7 , the socket housing 20 is integrally connected to the upper portion of the PCB substrate 10 and configured to press and fix the flexible terminal unit 40 .

상기 소켓하우징(20)은 내측에 홈 형태의 수용공간(21)을 형성한다. 즉, 상기 소켓하우징(20)은 상기 PCB기판(10)의 상부에 결합시 상기 PCB기판(10)의 상측에 돌출 상태로 결합된 상기 가이드블록(30)을 수용할 수 있는 공간을 확보한다.The socket housing 20 forms a receiving space 21 in the form of a groove inside. That is, the socket housing 20 secures a space for accommodating the guide block 30 coupled to the upper side of the PCB substrate 10 in a protruding state when coupled to the upper portion of the PCB substrate 10 .

상기 소켓하우징(20)에는 도 7 및 도 8에 나타낸 바와 같이, 상기 PCB기판(10)의 접속단자선(15)에 대응하여 양단에 길이 방향으로 연장 형성하는 밀착부재(25)를 구성한다.As shown in FIGS. 7 and 8 , the socket housing 20 includes a contact member 25 extending in the longitudinal direction at both ends corresponding to the connection terminal wire 15 of the PCB substrate 10 .

상기 밀착부재(25)는 원형 또는 사각형의 단면을 갖는 막대형상으로 이루어지고, 상기 소켓하우징(20)이 상기 PCB기판(10)을 향해 결합할 때 상기 플렉시블 단말부(40)의 상면을 탄력적으로 누름 압착하여 고정한다.The contact member 25 is made of a rod shape having a circular or rectangular cross section, and when the socket housing 20 is coupled toward the PCB substrate 10, the upper surface of the flexible terminal unit 40 is elastically secured. Press and press to fix.

상기에서 밀착부재(25)로 사용 가능한 소재로는 기본적으로 탄성을 갖으며 내열성 및 절연성이 우수한 실리콘 고무를 사용한다.As a material that can be used as the contact member 25 in the above, a silicone rubber having elasticity and excellent heat resistance and insulation is used.

상기 소켓하우징(20)에는 수용공간(21)의 상부에 연통하여 검사 대상 디바이스인 전자모듈을 커넥팅 접속 가능한 커넥터슬롯(23)을 구비한다.The socket housing 20 includes a connector slot 23 that communicates with the upper portion of the accommodation space 21 to connect and connect an electronic module, which is a device to be inspected.

상기 커넥터슬롯(23)은 전자모듈의 커넥터가 삽입될 수 있는 구조로서, 상부에 한 쌍의 리드가이드(도면에 미도시)가 연결되어 돌출 형성한다.The connector slot 23 has a structure into which the connector of the electronic module can be inserted, and a pair of lead guides (not shown in the drawing) are connected to the upper portion to protrude.

또한, 상기 소켓하우징(20)에는 상기 PCB기판(10)에 대응된 하부면에서 홈 형태의 상기 수용공간(21)을 이루는 모서리 부분에 외측으로 볼록한 곡선형의 곡면접촉부(27)를 형성한다.In addition, in the socket housing 20, a curved contact portion 27 of a convex curve to the outside is formed at a corner portion constituting the receiving space 21 in the form of a groove on the lower surface corresponding to the PCB substrate 10.

상기 곡면접촉부(27)는 상기 플렉시블 단말부(40)와의 접촉 상태에서 상기 PCB기판(10)을 향해 누름 접촉할 때, 상기 플렉시블 단말부(40)와의 접촉면적을 확장하면서 곡면 상태로 접촉하여 플렉시블 단말부(40)의 손상을 방지할 수 있게 보호한다. 즉, 상기 곡면접촉부(27)는 상기 플렉시블 단말부(40)에서 하기 제2접속단자부(43)와 하기 경사이음부(45)의 경계부분을 접촉 지지한다.The curved contact part 27 is in contact with the flexible terminal part 40 when in pressing contact with the PCB substrate 10 in a contact state with the flexible terminal part 40 while expanding the contact area with the flexible terminal part 40 in a curved state. Protect the terminal unit 40 to prevent damage. That is, the curved contact portion 27 contacts and supports the boundary portion between the second connection terminal portion 43 and the inclined joint portion 45 below in the flexible terminal portion 40 .

상기 가이드블록(30)은 상기 커넥터슬롯(23)을 향한 검사대상의 접속을 받침 지지하는 기능을 수행한다.The guide block 30 serves to support and support the connection of the inspection target toward the connector slot 23 .

상기 가이드블록(30)은 도 5 및 도 7에 나타낸 바와 같이, 상기 소켓하우징(20)의 수용공간(21)에 대응하여 위치하되, 상기 PCB기판(10)의 상부에 안착 결합하게 구성한다.As shown in FIGS. 5 and 7 , the guide block 30 is positioned to correspond to the receiving space 21 of the socket housing 20 , and is configured to be seated and coupled to the upper portion of the PCB substrate 10 .

상기 가이드블록(30)의 상부에는 내측으로 오목한 끼움홈(31)을 구비하고, 상기 끼움홈(31) 내 고정 설치하여 상기 플렉시블 단말부(40)를 탄력적으로 접촉 지지하는 밀착블록부재(35)를 구성한다.The upper portion of the guide block 30 is provided with an inwardly concave fitting groove 31, and is fixedly installed in the fitting groove 31 to elastically contact and support the flexible terminal unit 40 in contact with the contact block member 35. make up

상기 밀착블록부재(35)는 상기한 밀착부재(25)와 마찬가지로 원형 또는 사각형의 단면을 갖는 막대형상으로 이루어지고, 상기 플렉시블 단말부(40)의 하부를 탄력적으로 접촉 지지한다.The close contact block member 35 is made of a rod shape having a circular or rectangular cross section, similar to the contact member 25, and elastically contacts and supports the lower portion of the flexible terminal unit 40 .

상기에서 밀착블록부재(35)로 사용 가능한 소재로는 기본적으로 탄성을 갖으며 내열성 및 절연성이 우수한 실리콘 고무를 사용한다.As a material usable as the close contact block member 35 in the above, a silicone rubber having elasticity and excellent heat resistance and insulation is used.

또한, 상기 가이드블록(30)에는 양측 모서리 부분에 외측으로 볼록한 곡선형의 곡면지지부(37)를 형성한다.In addition, the guide block 30 is formed with a curved surface support portion 37 of the convex outwardly convex at both corners.

상기 곡면지지부(37)는 상기 플렉시블 단말부(40)를 접촉 지지한 상태에서 상기 PCB기판(10)을 향해 상기 소켓하우징(20)이 누름 접촉할 때, 상기 플렉시블 단말부(40)와의 접촉면적을 확장하면서 곡면 상태로 접촉하여 플렉시블 단말부(40)의 손상을 방지하는 것이 가능하다. 즉, 상기 곡면지지부(37)는 상기 플렉시블 단말부(40)에서 하기 제1접속단자부(41)와 하기 경사이음부(45)의 경계부분을 접촉 지지한다.The curved support part 37 has a contact area with the flexible terminal part 40 when the socket housing 20 is pressed into contact with the PCB substrate 10 in a state where the flexible terminal part 40 is supported in contact. It is possible to prevent damage to the flexible terminal unit 40 by contacting in a curved state while expanding. That is, the curved support part 37 contacts and supports the boundary portion between the first connection terminal part 41 and the inclined joint part 45 below in the flexible terminal part 40 .

상기 플렉시블 단말부(40)는 도 7 및 도 8에 나타낸 바와 같이, 상기 PCB기판(10)을 향한 상기 소켓하우징(20)의 결합시 상기 가이드블록(30) 상에 안착 상태로 끼움 결합하여 압착 고정되게 구성한다.As shown in FIGS. 7 and 8 , the flexible terminal part 40 is fitted and pressed on the guide block 30 when the socket housing 20 is coupled to the PCB substrate 10 in a seated state. configured to be fixed.

상기 플렉시블 단말부(40)는 검사대상 제품의 전극과 검사장치의 전극에 전기적으로 접속 연결하는 기능을 수행한다. 즉, 상기 플렉시블 단말부(40)에서는 상기 커넥터슬롯(23) 및 상기 접속단자선(15)에 대응하여 전기적으로 접속 가능하게 복수 개의 접속핀(47)을 구비한다.The flexible terminal unit 40 performs a function of electrically connecting and connecting the electrode of the product to be inspected and the electrode of the inspection device. That is, the flexible terminal unit 40 includes a plurality of connection pins 47 to be electrically connected to the connector slot 23 and the connection terminal wire 15 .

상기 플렉시블 단말부(40)에는 상/하부 표면 중 적어도 어느 한쪽 표면에 대면하여 부착 형성하는 필름테이프(49)를 구비한다. 즉, 상기 플렉시블 단말부(40)의 상/하부 양면에 상기 필름테이프(49)를 부착하여 구성하는 것이 가능하고, 상기 플렉시블 단말부(40)의 상부 면 또는 하부 면에 대응된 한쪽 표면에만 상기 필름테이프(49)를 부착하여 구성하는 것이 가능하다.The flexible terminal unit 40 is provided with a film tape 49 to be attached and formed to face at least one of the upper/lower surfaces. That is, it is possible to attach the film tape 49 to both upper and lower surfaces of the flexible terminal unit 40, and only one surface corresponding to the upper surface or the lower surface of the flexible terminal unit 40. It is possible to configure by attaching a film tape 49 .

상기 필름테이프(49)는 절연성 재질을 사용하여 구성하고, 상기 플렉시블 단말부(40)의 일정 간격으로 배열된 상기 접속핀(47)을 서로 절연된 상태로 연결 및 지지한다.The film tape 49 is made of an insulating material, and the connection pins 47 arranged at regular intervals of the flexible terminal unit 40 are connected and supported in an insulated state from each other.

또한, 상기에서 플렉시블 단말부(40)의 일면에만 상기 필름테이프(49)를 부착 형성하는 경우, 상기 플렉시블 단말부(40)의 일면에 상기 필름테이프(49)를 2중으로 적층 부착하여 구성하는 것도 가능하다.In addition, in the case where the film tape 49 is attached to only one surface of the flexible terminal unit 40 in the above, the film tape 49 is laminated and attached to one surface of the flexible terminal unit 40 in a double layer. It is possible.

상기 필름테이프(49)는 두께 0.02~0.05㎜를 이루게 형성한다.The film tape 49 is formed to have a thickness of 0.02 to 0.05 mm.

상기에서 플렉시블 단말부(40)의 양면에 상기 필름테이프(49)를 부착 구성하는 경우, 상기 플렉시블 단말부(40)의 상/하부 표면에 대응된 상기 필름테이프(49)는 각각 두께 0.05㎜로 적용하여 구성하고, 상기 플렉시블 단말부(40)의 단면에만 상기 필름테이프(49)를 부착 구성하는 경우, 상기 플렉시블 단말부(40)의 표면에 대응된 상기 필름테이프(49)는 두께 0.05㎜로 적용하면서 덧대에 2중으로 적층 부착하는 상기 필름테이프(49)는 두께 0.02㎜로 적용하여 구성한다.In the case of attaching the film tape 49 to both sides of the flexible terminal unit 40 in the above, the film tape 49 corresponding to the upper and lower surfaces of the flexible terminal unit 40 has a thickness of 0.05 mm, respectively. When the configuration is applied and the film tape 49 is attached only to the end surface of the flexible terminal part 40, the film tape 49 corresponding to the surface of the flexible terminal part 40 has a thickness of 0.05 mm. The film tape 49, which is laminated and attached to the pad in a double layer while applying, is configured to have a thickness of 0.02 mm.

상기 플렉시블 단말부(40)는 도 5 및 도 7에 나타낸 바와 같이, 상기 커넥터슬롯(23)에 대응하여 상기 접속핀(47)을 배열 배치하게 형성하는 제1접속단자부(41)와, 상기 접속단자선(15)에 대응하여 상기 접속핀(47)을 배열 배치하게 형성하는 제2접속단자부(43)와, 상기 제1접속단자부(41) 및 상기 제2접속단자부(43)를 연결하는 경사이음부(45)를 구비토록 구성한다.5 and 7, the flexible terminal part 40 includes a first connection terminal part 41 formed to arrange and arrange the connection pins 47 in correspondence with the connector slots 23, and the connection The second connection terminal part 43 for arranging the connection pins 47 to correspond to the terminal wire 15, and the inclination connecting the first connection terminal part 41 and the second connection terminal part 43 It is configured to be provided with a pubic part (45).

상기 제1접속단자부(41)는 상기 소켓하우징(20)과 상기 가이드블록(30)의 사이에 대면하여 수평 상태로 압착 고정하고, 상기 제2접속단자부(43)는 상기 가이드블록(30)을 기준으로 양측 대층된 위치에서 상기 소켓하우징(20)과 상기 PCB기판(10)의 사이에 대면하여 수평 상태로 압착 고정하게 구성한다.The first connection terminal part 41 faces between the socket housing 20 and the guide block 30 and is pressed and fixed in a horizontal state, and the second connection terminal part 43 is the guide block 30 . As a reference, it is configured to face between the socket housing 20 and the PCB substrate 10 at both sides of the stacked position and to be pressed and fixed in a horizontal state.

상기 경사이음부(45)는 상기 제1접속단자부(41)에서 상기 제2접속단자부(43)를 향해 외측 하향 경사방향으로 연장 형성한다. 즉, 상기 플렉시블 단말부(40)에서는 상기 제1접속단자부(41)와 상기 제2접속단자부(43)를 경사방향으로 연결하여 쇼트 현상을 방지하는 것이 가능하다.The inclined joint portion 45 extends from the first connection terminal portion 41 toward the second connection terminal portion 43 in an outwardly downward inclined direction. That is, in the flexible terminal part 40 , it is possible to prevent a short circuit by connecting the first connection terminal part 41 and the second connection terminal part 43 in an inclined direction.

상기 경사이음부(45)는 상기 제1접속단자부(41) 또는 상기 제2접속단자부(43)와의 경사각도가 둔각을 이루게 형성한다.The inclined joint portion 45 is formed such that an inclination angle with the first connection terminal portion 41 or the second connection terminal portion 43 forms an obtuse angle.

또한, 상기 플렉시블 단말부(40)는 도 9에 나타낸 바와 같이, 적어도 2개 이상이 상하로 적층 형성된 다층단말구조로 구성하는 것도 가능하다. 즉, 상기 플레시블 단말부(40)는 복수 개가 겹겹이 적층 형성되고, 최상단 및 최하단에 대응된 상/하부 표면 중 적어도 어느 한쪽 표면에 필름테이프(49)를 부착 형성하게 구성한다.In addition, as shown in FIG. 9 , the flexible terminal unit 40 may have a multi-layer terminal structure in which at least two or more are stacked vertically. That is, a plurality of the flexible terminal unit 40 is stacked and formed so that the film tape 49 is attached to at least one of the upper and lower surfaces corresponding to the uppermost and lowermost ends.

상기와 같이 다층단말구조를 갖는 플렉시블 단말부(40)를 구성하게 되면, 복수의 플레시블 단말부(40) 중 어느 하나가 단선되어도 정상적인 검사 구동을 도모하는 것이 가능하다.When the flexible terminal unit 40 having the multi-layer terminal structure is configured as described above, it is possible to achieve normal test driving even if any one of the plurality of flexible terminal units 40 is disconnected.

즉 상기와 같이 구성되는 본 발명에 따른 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓에 의하면, 소켓하우징과 PCB기판의 사이에 플렉시블 단말부를 탄력적으로 접속시키면서 접속단자 간에 경사이음부를 확보하게 구성하므로, 플렉시블 단말부의 교체 조립이 용이하고, 접속단자의 쇼트 현상을 방지하여 내구성을 향상시키면서 검사대상의 검사성능을 향상시키며, 검사공정의 우수한 신뢰도를 도모하는 것이 가능하다.That is, according to the test socket for electronic module inspection having a flexible terminal part protection structure according to the present invention configured as described above, the flexible terminal part is elastically connected between the socket housing and the PCB board and the inclined joint is secured between the connection terminals. Therefore, it is possible to easily replace and assemble the flexible terminal part, to prevent a short circuit of the connection terminal, to improve the durability while improving the inspection performance of the inspection object, and to achieve excellent reliability of the inspection process.

그리고 본 발명에 따른 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓의 다른 실시예는 도 10에 나타낸 바와 같이, 상기 PCB기판(10)과 상기 가이드블록(30)의 사이에 배치하고 상기 가이드블록(30)을 상하 유동 가능하게 탄력적으로 지지하는 탄성수단(50)을 더 포함하여 이루어진다.And another embodiment of the test socket for electronic module inspection having a flexible terminal protection structure according to the present invention is disposed between the PCB substrate 10 and the guide block 30, as shown in FIG. 10, and the guide It further comprises an elastic means 50 for elastically supporting the block 30 so as to be movable up and down.

상기 탄성수단(50)은 상기 가이드블록(30)의 하부에 상부가 끼움 결합하고, 상기 PCB기판(10)의 상면에 하면이 접촉 지지되게 구성한다. 즉, 상기 탄성수단(50)은 상기 가이드블록(30)에 가해지는 하중을 탄력적으로 접촉 지지한다.The elastic means 50 is configured such that the upper portion is fitted to the lower portion of the guide block 30 , and the lower surface is supported in contact with the upper surface of the PCB substrate 10 . That is, the elastic means 50 elastically contact and support the load applied to the guide block 30 .

상기 탄성수단(50)은 소정을 탄성력을 갖는 소재로서, 스프링 및 실리콘 고무, 발포수지 등을 적용하여 구성한다.The elastic means 50 is a material having a predetermined elastic force, and is configured by applying a spring, silicone rubber, foamed resin, and the like.

즉, 상기한 다른 실시예와 같이 본 발명을 구성하면, 플렉시블 단말부에 가해지는 접촉충격을 순간적으로 완충하여 보다 안정적인 검사를 도모하는 것이 가능하다.That is, if the present invention is configured as in the other embodiments described above, it is possible to achieve a more stable inspection by momentarily buffering the contact shock applied to the flexible terminal unit.

상기한 다른 실시예에 있어서도 상기한 구성 이외에는 상기한 일실시예와 마찬가지의 구성으로 실시하는 것이 가능하므로, 상세한 설명은 생략한다.Also in the above-described other embodiment, it is possible to implement in the same configuration as in the above-described embodiment except for the above-described configuration, so a detailed description thereof will be omitted.

이상의 설명은 본 발명의 기술사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예 및/또는 도면들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예 및/또는 도면에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and a person skilled in the art to which the present invention pertains will be able to make various modifications and variations without departing from the essential characteristics of the present invention. Accordingly, the embodiments and/or drawings disclosed in the present invention are not intended to limit the technical spirit of the present invention, but to illustrate, and the scope of the technical spirit of the present invention is not limited by these embodiments and/or drawings. . The protection scope of the present invention should be construed by the following claims, and all technical ideas within the equivalent range should be construed as being included in the scope of the present invention.

10 : PCB기판 15 : 접속단자선
20 : 소켓하우징 21 : 수용공간
23 : 커넥터슬롯 25 : 밀착부재
27 : 곡면접촉부 30 : 가이드블록
31 : 끼움홈 35 : 밀착블록부재
37 : 곡면지지부 40 : 플렉시블 단말부
41 : 제1접속단자부 43 : 제2접속단자부
45 : 경사이음부 49 : 필름테이프
50 : 탄성수단10: PCB board 15: connection terminal wire
20: socket housing 21: accommodation space
23: connector slot 25: close contact member
27: curved contact part 30: guide block
31: fitting groove 35: close contact block member
37: curved support part 40: flexible terminal part
41: first connection terminal part 43: second connection terminal part
45: inclined joint 49: film tape
50: elastic means

Claims (9)

상면에 접속단자선을 인쇄 형성하는 PCB기판과;
상기 PCB기판의 상부에 결합하되 내측에 홈 형태의 수용공간을 형성하고, 상부에 커넥팅 접속 가능한 커넥터슬롯을 구비하는 소켓하우징과;
상기 소켓하우징의 수용공간에 대응하여 상기 PCB기판의 상부에 안착 결합하고, 상기 커넥터슬롯을 향한 검사대상의 접속을 지지하는 가이드블록과;
상기 가이드블록 상에 안착 상태로 끼움 결합하되 상기 PCB기판을 향한 상기 소켓하우징의 결합시 압착 고정하고, 상기 커넥터슬롯 및 상기 접속단자선에 대응하여 전기적으로 접속 가능하게 복수 개의 접속핀을 구비하는 플렉시블 단말부;를 포함하고,
상기 플렉시블 단말부는, 상기 소켓하우징과 상기 가이드블록의 사이에 대면하여 수평 상태로 압착 고정하고 상기 커넥터슬롯에 대응하여 상기 접속핀을 배열 배치하게 형성하는 제1접속단자부와, 상기 소켓하우징과 상기 PCB기판의 사이에 대면하여 수평 상태로 압착 고정하고 상기 접속단자선에 대응하여 상기 접속핀을 배열 배치하게 형성하는 제2접속단자부와, 상기 제1접속단자부 및 상기 제2접속단자부를 연결하되 상기 제1접속단자부에서 상기 제2접속단자부를 향해 외측 하향 경사방향으로 연장 형성하는 경사이음부를 포함하여 이루어지는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓.
a PCB substrate for printing and forming connection terminal lines on the upper surface;
a socket housing coupled to the upper part of the PCB board, but having a groove-shaped accommodation space therein, and having a connector slot capable of being connected to the upper part;
a guide block which is seated and coupled to the upper portion of the PCB board corresponding to the receiving space of the socket housing and supports the connection of the test target toward the connector slot;
Flexible having a plurality of connection pins to be electrically connected in correspondence to the connector slot and the connection terminal wire, and is fitted and coupled in a seated state on the guide block, but is pressed and fixed when the socket housing is coupled toward the PCB board Including; terminal unit;
The flexible terminal part faces between the socket housing and the guide block, and is pressed and fixed in a horizontal state, and a first connection terminal part formed to arrange and arrange the connection pins corresponding to the connector slots, the socket housing and the PCB A second connection terminal part facing between the substrates by pressing and fixing in a horizontal state and forming the connection pins to be arranged in an arrangement corresponding to the connection terminal wire, and the first connection terminal part and the second connection terminal part are connected, but the first connection terminal part A test socket for testing an electronic module having a flexible terminal protection structure comprising an inclined joint extending from the first connection terminal part in an outwardly downward inclined direction toward the second connection terminal part.
 청구항 1에 있어서,
상기 소켓하우징에는, 양단에 길이 방향으로 연장 형성하고 상기 플렉시블 단말부의 상면을 탄력적으로 누름 압착하여 고정하는 밀착부재를 포함하여 이루어지는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓.
The method according to claim 1,
The socket housing, the test socket for testing an electronic module having a flexible terminal part protection structure comprising a contact member extending in the longitudinal direction at both ends and elastically pressing and pressing the upper surface of the flexible terminal part to fix it.
 청구항 1에 있어서,
상기 소켓하우징에는, 상기 플렉시블 단말부의 제2접속단자부와 상기 경사이음부의 경계부분을 접촉 지지하되 외측으로 볼록한 곡선형으로 형성하는 곡면접촉부를 포함하여 이루어지는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓.
The method according to claim 1,
In the socket housing, the flexible terminal part protective structure comprising a curved contact part formed in a convex curved shape to the outside while contacting and supporting the boundary part of the second connection terminal part and the inclined joint part of the flexible terminal part. socket.
 청구항 1에 있어서,
상기 가이드블록에는, 상부에 설치하고 상기 플렉시블 단말부를 탄력적으로 접촉 지지하는 밀착블록부재를 포함하여 이루어지는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓.
The method according to claim 1,
The guide block, the test socket for electronic module inspection having a flexible terminal protection structure comprising a close contact block member installed on the upper portion and elastically contacting and supporting the flexible terminal portion.
 청구항 1에 있어서,
상기 가이드블록에는, 상기 플렉시블 단말부의 제1접속단자부와 상기 경사이음부의 경계부분을 접촉 지지하되 외측으로 볼록한 곡선형으로 형성하는 곡면지지부를 포함하여 이루어지는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓.
The method according to claim 1,
The guide block has a flexible terminal part protective structure comprising a curved surface support part that contacts and supports the boundary part of the first connection terminal part and the inclined joint part of the flexible terminal part in a convex curved shape to the outside. socket.
 청구항 1에 있어서,
상기 플렉시블 단말부에는, 상/하부 표면 중 적어도 어느 한쪽 표면에 대면하여 부착 형성하는 필름테이프를 포함하여 이루어지는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓.
The method according to claim 1,
The flexible terminal portion, the test socket for electronic module inspection having a flexible terminal portion protective structure comprising a film tape to be attached and formed to face at least one of the upper and lower surfaces.
 청구항 6에 있어서,
상기 필름테이프는, 두께 0.02~0.05㎜를 이루게 형성하는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓.
7. The method of claim 6,
The film tape is a test socket for electronic module inspection having a flexible terminal protective structure that is formed to have a thickness of 0.02 to 0.05 mm.
 청구항 1에 있어서,
상기 플렉시블 단말부는, 적어도 2개 이상이 상하로 적층 형성된 다층단말구조로 이루어지는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓.
The method according to claim 1,
The flexible terminal unit, at least two or more electronic module inspection test socket having a flexible terminal protection structure consisting of a multi-layer terminal structure formed by stacking up and down.
 청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서,
상기 PCB기판과 상기 가이드블록의 사이에 배치하고 상기 가이드블록을 상하 유동 가능하게 탄력적으로 지지하는 탄성수단을 더 포함하여 이루어지는 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
A test socket for testing an electronic module having a flexible terminal protection structure, which is disposed between the PCB substrate and the guide block and further includes an elastic means for elastically supporting the guide block so as to be movable up and down.
KR1020220086065A 2022-07-13 2022-07-13 Test Socket for Testing Electronic Module Having a Flexible Terminal Protecting Structure KR102446242B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220086065A KR102446242B1 (en) 2022-07-13 2022-07-13 Test Socket for Testing Electronic Module Having a Flexible Terminal Protecting Structure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220086065A KR102446242B1 (en) 2022-07-13 2022-07-13 Test Socket for Testing Electronic Module Having a Flexible Terminal Protecting Structure

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR102446242B1 true KR102446242B1 (en) 2022-09-21

Family

ID=83452756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020220086065A KR102446242B1 (en) 2022-07-13 2022-07-13 Test Socket for Testing Electronic Module Having a Flexible Terminal Protecting Structure

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102446242B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102573867B1 (en) * 2023-07-03 2023-09-04 주식회사 위드웨이브 probe device
CN116840072A (en) * 2023-08-31 2023-10-03 佺冠科技(深圳)有限公司 Automatic checking system for electronic connector

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005513443A (en) * 2001-12-14 2005-05-12 インテスト　アイピー　コーポレイション Connection module for use with test head, interface test head system providing interconnection between test head and device under test, method for connecting test head to device under test, method for changing test head system, and test head system How to assemble
KR101030804B1 (en) 2010-04-09 2011-04-27 이승룡 Interface, method for fabricating the same interface, test socket comprising the same interface, and test apparatus comprising the test socket
KR101200502B1 (en) 2010-04-09 2012-11-12 이승룡 Test socket comprising rubber connector, and test apparatus comprising the same test socket
KR20160113492A (en) * 2015-03-20 2016-09-29 주식회사 오킨스전자 Flexible composite contact and test Socket using the same
KR20160124347A (en) * 2015-04-17 2016-10-27 주식회사 이노글로벌 Bi-directional conductive socket for testing high frequency device, bi-directional conductive module for testing high frequency device, and manufacturing method thereof
KR20180103241A (en) * 2017-03-09 2018-09-19 에이엠티 주식회사 Auto Socket for Testing Camera Module
KR101923144B1 (en) 2017-05-18 2018-11-28 이승용 Interface for testing semiconductor device
KR101923145B1 (en) 2018-03-02 2019-02-20 이승용 Test socket comprising movable connector and test apparatus comprising the test socket
KR102002518B1 (en) * 2018-04-27 2019-07-22 이승용 Test socket and apparatus for testing FPCB(Flexible Printed Circuit Board) and display panel
KR102070302B1 (en) 2019-07-15 2020-01-28 이승용 Interface of vending structure, interface assembly and test socket comprising the interface, and method for manufacturing the interface
KR102071479B1 (en) * 2019-02-07 2020-03-02 이승용 Test socket comprising movable PCB(Printed Circuit Board) connector and test apparatus comprising the test socket

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005513443A (en) * 2001-12-14 2005-05-12 インテスト　アイピー　コーポレイション Connection module for use with test head, interface test head system providing interconnection between test head and device under test, method for connecting test head to device under test, method for changing test head system, and test head system How to assemble
KR101030804B1 (en) 2010-04-09 2011-04-27 이승룡 Interface, method for fabricating the same interface, test socket comprising the same interface, and test apparatus comprising the test socket
KR101200502B1 (en) 2010-04-09 2012-11-12 이승룡 Test socket comprising rubber connector, and test apparatus comprising the same test socket
KR20160113492A (en) * 2015-03-20 2016-09-29 주식회사 오킨스전자 Flexible composite contact and test Socket using the same
KR20160124347A (en) * 2015-04-17 2016-10-27 주식회사 이노글로벌 Bi-directional conductive socket for testing high frequency device, bi-directional conductive module for testing high frequency device, and manufacturing method thereof
KR20180103241A (en) * 2017-03-09 2018-09-19 에이엠티 주식회사 Auto Socket for Testing Camera Module
KR101923144B1 (en) 2017-05-18 2018-11-28 이승용 Interface for testing semiconductor device
KR101923145B1 (en) 2018-03-02 2019-02-20 이승용 Test socket comprising movable connector and test apparatus comprising the test socket
KR102002518B1 (en) * 2018-04-27 2019-07-22 이승용 Test socket and apparatus for testing FPCB(Flexible Printed Circuit Board) and display panel
KR102071479B1 (en) * 2019-02-07 2020-03-02 이승용 Test socket comprising movable PCB(Printed Circuit Board) connector and test apparatus comprising the test socket
KR102070302B1 (en) 2019-07-15 2020-01-28 이승용 Interface of vending structure, interface assembly and test socket comprising the interface, and method for manufacturing the interface

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102573867B1 (en) * 2023-07-03 2023-09-04 주식회사 위드웨이브 probe device
CN116840072A (en) * 2023-08-31 2023-10-03 佺冠科技(深圳)有限公司 Automatic checking system for electronic connector
CN116840072B (en) * 2023-08-31 2023-11-17 佺冠科技(深圳)有限公司 Automatic checking system for electronic connector

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102446242B1 (en) Test Socket for Testing Electronic Module Having a Flexible Terminal Protecting Structure
US6658729B2 (en) Method of controlling shock and vibration of electrical interconnects
US5879172A (en) Surface mounted adapter using elastomeric conductors
US6231353B1 (en) Electrical connector with multiple modes of compliance
US8821191B2 (en) Electrical connector assembly
US20060024987A1 (en) Contact module with connectors
US20030003782A1 (en) Contact pin assembly, contact pin assembly manufacturing method, contact pin assembling structure, contact pin assembling structure manufacturing method, and socket for electrical parts
KR102002518B1 (en) Test socket and apparatus for testing FPCB(Flexible Printed Circuit Board) and display panel
KR101923144B1 (en) Interface for testing semiconductor device
US7537462B2 (en) Connector of a double-sided connection type with a flexible internal mechanism
JPH07147172A (en) Contact connection device
CN110221191A (en) Test jack including movable connector and the test device including the test jack
TWI538313B (en) Electrical interconnect device
US10908182B2 (en) Electrical connecting apparatus and contact
EP0572736B1 (en) IC test clip with flexible contacts
KR102086391B1 (en) Apparatus for inspecting circuit suing the same
KR102430924B1 (en) Connector and connector assembly
US7445463B2 (en) Land grid array electrical connector
KR102145239B1 (en) Foldable bending type test connecter module comprising 3D printed bending guide adapter block and the manufacturing the same and the built-in test socket
US7950933B1 (en) Electrical socket having contact terminals floatably arranged therein
CN111446568A (en) Multi-contact socket capable of preventing pins from being damaged
KR20200128576A (en) connector
CN111880067B (en) Chip testing assembly and electric connection module thereof
KR20100130935A (en) Test contact module
KR101183614B1 (en) Probe card