KR102427313B1 - Organic light emitting display device and the method for driving the same - Google Patents

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Abstract

본 발명의 유기발광 표시장치는, 유기발광 다이오드의 열화 정도를 센싱하기 위한 센싱 구동에서 획득한 센싱값들을 토대로 센싱값 분포를 저장하는 저장부, 오버플로우 분포와 언더플로우 분포를 판단하는 판단부, 센싱 시간을 조절하는 제어부를 포함함으로써, 센싱값에 의한 데이터 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지한 효과가 있다.
또한, 본 발명의 유기발광 표시장치 구동방법은, 센싱값 분포가 오버플로우 분포인가 언더플로우 분포인가에 따라 센싱 시간을 조절함으로써, 센싱값에 의한 데이터 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지한 효과가 있다.The organic light emitting display device of the present invention includes a storage unit for storing a distribution of a sensed value based on sensed values obtained in a sensing driving for sensing a degree of deterioration of an organic light emitting diode, a determination unit for determining an overflow distribution and an underflow distribution; By including a control unit for adjusting the sensing time, there is an effect of preventing data compensation errors and screen quality deterioration due to the sensed value.
In addition, the organic light emitting display driving method of the present invention has an effect of preventing data compensation errors and screen quality degradation due to the sensed values by adjusting the sensing time according to whether the sensing value distribution is an overflow distribution or an underflow distribution. .

Figure R1020150152663
Figure R1020150152663

Description

유기발광 표시장치 및 그 구동방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND THE METHOD FOR DRIVING THE SAME}Organic light emitting display device and driving method thereof

본 발명은 유기발광 표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다.The present invention relates to an organic light emitting display device and a driving method thereof.

최근, 표시장치로서 각광받고 있는 유기발광 표시장치는 스스로 발광하는 유기발광 다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답속도가 빠르고, 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 큰 장점이 있다. Recently, an organic light emitting display device, which has been in the spotlight as a display device, has advantages such as fast response speed, luminous efficiency, luminance, and viewing angle by using an organic light emitting diode (OLED) that emits light by itself.

이러한 유기발광표시장치는 유기발광 다이오드가 포함된 서브픽셀을 매트릭스 형태로 배열하고 스캔 신호에 의해 선택된 서브픽셀들의 밝기를 데이터의 계조에 따라 제어한다.In such an organic light emitting display device, sub-pixels including organic light emitting diodes are arranged in a matrix form, and the brightness of the sub-pixels selected by a scan signal is controlled according to a gray level of data.

이러한 유기발광 표시장치의 표시패널에 배치되는 각 서브픽셀은, 기본적으로, 유기발광 다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터, 구동 트랜지스터의 게이트 노드에 데이터 전압을 전달해주는 스위칭 트랜지스터, 한 프레임 시간 동안 일정 전압을 유지해주는 역할을 하는 스토리지 커패시터 등을 포함하여 구성될 수 있다.Each sub-pixel disposed on the display panel of the organic light emitting diode display basically includes a driving transistor for driving an organic light emitting diode, a switching transistor for transferring a data voltage to a gate node of the driving transistor, and maintaining a constant voltage for one frame time. It may be configured to include a storage capacitor, etc., which serves to serve.

이러한 각 서브픽셀 내 구동 트랜지스터는, 구동 시간이 길어짐에 따라 열화(Degradation)가 되어 문턱전압, 이동도 등의 특성치가 변할 수 있다. 또한, 구동 트랜지스터마다 열화 정도가 다를 수 있기 때문에, 각 서브픽셀 내 구동 트랜지스터 간의 특성치 편차가 발생할 수 있다. The driving transistor in each sub-pixel may be deteriorated as the driving time increases, and thus characteristic values such as threshold voltage and mobility may change. In addition, since the degree of deterioration may be different for each driving transistor, a characteristic value deviation may occur between the driving transistors in each subpixel.

각 서브픽셀 내 유기발광 다이오드 또한, 구동 시간의 증가에 따라 열화가 진행되어 문턱전압 등의 특성치가 변할 수 있고, 유기발광 다이오드 간의 열화 정도가 다를 수 있기 때문에, 각 서브픽셀 내 유기발광 다이오드 간의 특성치 편차가 발생할 수 있다.The organic light emitting diodes in each sub-pixel also deteriorate as the driving time increases, so characteristic values such as threshold voltage may change, and the degree of deterioration between the organic light emitting diodes may be different. Deviations may occur.

전술한 바와 같이, 구동 트랜지스터 간의 특성치 편차와 유기발광다이오드 간의 특성치 편차에 의해 생기는 서브픽셀 간의 특성치 편차는, 서브픽셀 간의 휘도 편차를 유발시켜, 화면 잔상 등의 화면 이상 현상을 초래하거나 표시패널의 휘도 불균일을 발생시킬 수 있다.As described above, the characteristic value deviation between sub-pixels caused by the characteristic value deviation between the driving transistors and the characteristic value deviation between the organic light emitting diodes causes the luminance deviation between the sub-pixels to cause a screen abnormality such as a screen afterimage or the luminance of the display panel. may cause unevenness.

이에, 서브픽셀 간의 특성치 편차를 보상해주는 기술이 개발되었다. 보상 방법은 먼저, 유기발광 표시장치를 센싱 구동하여 서브픽셀의 구동 트랜지스터 또는 유기발광 다이오드의 특성치를 센싱한 후, 센싱값(Vsen)을 얻고, 센싱값(Vsen)을 토대로 서브픽셀에 인가할 데이터를 보상하는 방식으로 이루어진다.Accordingly, a technology for compensating for a characteristic value deviation between sub-pixels has been developed. In the compensation method, first, the organic light emitting diode display is sensed and driven to sense the characteristic value of the driving transistor or the organic light emitting diode of the subpixel, and then the sensed value Vsen is obtained, and data to be applied to the subpixel based on the sensed value Vsen. This is done in a way that compensates for

특히, 서브픽셀의 특성치를 센싱하여 얻어지는 센싱값(Vsen)의 전압범위는 소스 드라이버 집적회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)의 제한 등으로 일정한 범위로 고정되어 있다.In particular, the voltage range of the sensing value Vsen obtained by sensing the characteristic value of the sub-pixel is fixed to a certain range due to a limitation of a source driver integrated circuit (SDIC).

하지만, 구동 트랜지스터 간의 특성치 보상과 유기발광 다이오드의 열화로 인한 특성치 보상을 위해 획득한 센싱값들이 센싱 전압범위 내에 있지 않을 수 있다. 특히, 유기발광 다이오드의 경우에는 열화 정도에 따라 센싱값의 기울기가 달라 센싱값들이 센싱 전압범위 내에 포함되지 않는 경우가 빈번히 발생된다.However, the sensed values obtained for compensating the characteristics between the driving transistors and compensating for characteristics due to deterioration of the organic light emitting diode may not be within the sensing voltage range. In particular, in the case of the organic light emitting diode, the slope of the sensing value is different according to the degree of deterioration, so that the sensing value is not included in the sensing voltage range.

이와 같이 센싱값이 센싱 전압범위에 있지 않을 경우, 잘못된 값으로 데이터 보상을 진행하게 되어 보상 오류가 발생되는 문제가 있다. 이러한 보상 오류는 결과적으로 화면 품질을 저하시키는 원인이 된다.As such, when the sensed value is not within the sensed voltage range, data compensation is performed with an incorrect value, thereby causing a compensation error. This compensation error results in deterioration of screen quality.

본 발명은, 센싱값들의 분포가 센싱 전압범위의 상한값을 초과(Overflow) 하거나 하한값 아래(Underflow)에 위치하는 경우에 따라 센싱 단계에서 센싱 시간을 조절함으로써, 센싱값에 의한 데이터 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지한 유기발광 표시장치 및 그 구동방법을 제공하는데 목적이 있다.According to the present invention, by adjusting the sensing time in the sensing step according to the case in which the distribution of the sensing values exceeds the upper limit of the sensing voltage range or is located below the lower limit of the sensing voltage range, data compensation error and screen quality due to the sensed value An object of the present invention is to provide an organic light emitting display device that prevents deterioration and a driving method thereof.

상기와 같은 종래 기술의 과제를 해결하기 위한 본 발명의 유기발광 표시장치는, 유기발광 다이오드, 상기 유기발광 다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 각각 갖는 다수의 서브픽셀들을 포함하는 표시패널, 상기 표시패널에 스캔 신호를 공급하는 게이트 구동부, 상기 표시패널에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부, 상기 게이트 구동부와 데이터 구동부를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하고, 유기발광 다이오드의 열화 정도를 센싱하기 위한 센싱 구동에서 획득한 센싱값들을 토대로 센싱값 분포를 저장하는 저장부와, 상기 저장된 센싱값 분포가 미리 설정된 센싱 전압범위의 상한값 영역에 위치하는 오버플로우 분포인가 하한값 영역에 위치하는 언더플로우 분포인가를 판단하는 판단부와, 상기 저장된 센싱값 분포가 오버플로우 분포인 경우와 언더플로우 분포인 경우에 따라 센싱 시간을 조절하는 제어부를 포함함으로써, 센싱값에 의한 데이터 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지한 효과가 있다.The organic light emitting display device of the present invention for solving the problems of the prior art as described above includes an organic light emitting diode, a display panel including a plurality of sub-pixels each having a driving transistor for driving the organic light emitting diode, and the display panel. It includes a gate driver for supplying a scan signal, a data driver for supplying a data voltage to the display panel, and a timing controller for controlling the gate driver and the data driver. A storage unit for storing a distribution of a sensed value based on the sensed values; , by including a controller for adjusting the sensing time according to the case in which the stored sensing value distribution is an overflow distribution and an underflow distribution, thereby preventing data compensation errors and screen quality deterioration due to the sensed values.

또한, 본 발명의 유기발광 표시장치 구동방법은, 유기발광 다이오드, 상기 유기발광 다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 각각 갖는 다수의 서브픽셀들을 포함하는 표시패널, 상기 표시패널에 스캔 신호를 공급하는 게이트 구동부, 상기 표시패널에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부, 상기 게이트 구동부와 데이터 구동부를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하고, 유기발광 다이오드의 열화 정도를 센싱하기 위한 센싱 구동에서 획득한 센싱값들을 토대로 센싱값 분포를 저장하는 단계와, 상기 저장된 센싱값 분포가 미리 설정된 센싱 전압범위의 상한값 영역에 위치하는 오버플로우 분포인가 하한값 영역에 위치하는 언더플로우 분포인가를 판단하는 단계와, 상기 저장된 센싱값 분포가 오버플로우 분포인 경우와 언더플로우 분포인 경우에 따라 센싱 시간을 조절하는 단계를 포함함으로써, 센싱값에 의한 데이터 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지한 효과가 있다.In addition, the method of driving an organic light emitting display device of the present invention includes an organic light emitting diode, a display panel including a plurality of sub-pixels each having a driving transistor for driving the organic light emitting diode, and a gate driver supplying a scan signal to the display panel , a data driver for supplying a data voltage to the display panel, and a timing controller for controlling the gate driver and the data driver, and a sensing value distribution based on sensing values obtained in a sensing driving for sensing a degree of deterioration of the organic light emitting diode Storing, determining whether the stored sensing value distribution is an overflow distribution located in an upper limit value region of a preset sensing voltage range or an underflow distribution located in a lower limit value region, wherein the stored sensing value distribution overflows By including the step of adjusting the sensing time according to the case of the distribution and the case of the underflow distribution, there is an effect of preventing data compensation errors and screen quality degradation due to the sensed value.

본 발명에 따른 유기발광 표시장치 및 그 구동방법은, 센싱값들의 분포가 센싱 전압범위의 상한값을 초과(Overflow) 하거나 하한값 아래(Underflow)에 위치하는 경우에 따라 센싱 단계에서 센싱 시간을 조절함으로써, 센싱값에 의한 데이터 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지한 효과가 있다.The organic light emitting display device and the driving method thereof according to the present invention, by adjusting the sensing time in the sensing step according to the case in which the distribution of the sensing values exceeds the upper limit of the sensing voltage range or is located below the lower limit of the sensing voltage range, It has the effect of preventing data compensation errors and screen quality deterioration due to the sensed value.

도 1은 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 2는 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 서브픽셀 구조의 예시도이다.
도 3은 유기발광 표시장치의 센싱값의 분포의 종류를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 시간을 조절함으로써, 정상분포의 센싱값을 획득하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 센싱시간 조절부를 도시한 블럭도이다.
도 6은 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 구동에서 각 구간별 제어신호 및 전압 파형을 도시한 도면이다.
도 7a 내지 도 7d는 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 구동을 도시한 도면이다.
도 8은 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 구동에서 센싱 시간을 조절하여 센싱값을 획득하는 모습을 도시한 도면이다.
도 9는 도 8에 따라 센싱 시간을 조절함으로써, 센싱 전압범위 내로 센싱값이 이동하는 모습을 도시한 도면이다.
도 10 및 도 11은 유기발광 다이오드의 열화 정도에 따른 전압 및 전류 변화를 보여주는 도면이다.
도 12는 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 구동을 도시한 플로챠트이다.1 is a schematic system configuration diagram of an organic light emitting display device according to the present invention.
2 is an exemplary diagram of a sub-pixel structure of an organic light emitting diode display according to the present invention.
3 is a diagram illustrating types of distribution of sensing values of an organic light emitting display device.
4 is a diagram for explaining a principle of acquiring a sensed value of a normal distribution by adjusting a sensing time of the organic light emitting display device according to the present invention.
5 is a block diagram illustrating a sensing time adjusting unit according to the present invention.
6 is a diagram illustrating control signals and voltage waveforms for each section in sensing driving of the organic light emitting display device according to the present invention.
7A to 7D are diagrams illustrating sensing driving of an organic light emitting diode display according to the present invention.
8 is a diagram illustrating a state in which a sensing value is acquired by adjusting a sensing time in sensing driving of an organic light emitting display device according to the present invention.
9 is a diagram illustrating a state in which a sensed value moves within a sensing voltage range by adjusting a sensing time according to FIG. 8 .
10 and 11 are diagrams illustrating voltage and current changes according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode.
12 is a flowchart illustrating sensing driving of an organic light emitting diode display according to the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Advantages and features of the present invention and methods of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in various different forms, and only these embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and common knowledge in the technical field to which the present invention belongs It is provided to fully inform the possessor of the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims.

본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다.The shapes, sizes, proportions, angles, numbers, etc. disclosed in the drawings for explaining the embodiments of the present invention are illustrative and the present invention is not limited to the illustrated matters. Like reference numerals refer to like elements throughout. In addition, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known technology may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

본 명세서 상에서 언급한 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.When 'including', 'having', 'consisting', etc. mentioned in this specification are used, other parts may be added unless 'only' is used. When a component is expressed in the singular, the case in which the plural is included is included unless specifically stated otherwise.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the components, it is interpreted as including an error range even if there is no separate explicit description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.In the case of a description of the positional relationship, for example, when the positional relationship of two parts is described as 'on', 'on', 'on', 'beside', etc., 'right' Alternatively, one or more other parts may be positioned between two parts unless 'directly' is used.

시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간 적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.In the case of a description of a temporal relationship, for example, when the temporal relationship is described as 'after', 'following', 'after', 'before', etc., 'immediately' or 'directly' Unless ' is used, cases that are not continuous may be included.

제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.Although the first, second, etc. are used to describe various components, these components are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Accordingly, the first component mentioned below may be the second component within the spirit of the present invention.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.Each feature of the various embodiments of the present invention may be partially or wholly combined or combined with each other, technically various interlocking and driving are possible, and each of the embodiments may be implemented independently of each other or may be implemented together in a related relationship. may be

이하, 본 발명의 실시예들은 도면을 참고하여 상세하게 설명한다. 그리고 도면들에 있어서, 장치의 크기 및 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. And in the drawings, the size and thickness of the device may be exaggerated for convenience. Like reference numerals refer to like elements throughout.

도 1은 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 개략적인 시스템 구성도이다.1 is a schematic system configuration diagram of an organic light emitting display device according to the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 유기발광표시장치(100)는, 다수의 데이터 라인(DL1~DLm, m은 2 이상의 자연수) 및 다수의 게이트 라인(GL1~GLn, n은 2 이상의 자연수)이 배치되고, 다수의 서브픽셀이 매트릭스 타입으로 배치된 표시패널(110)과, 다수의 데이터 라인(DL1~DLm)을 구동하는 데이터 구동부(120)와, 다수의 게이트 라인(GL1~GLn)을 구동하는 게이트 구동부(130)와, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(140) 등을 포함한다.Referring to FIG. 1 , the organic light emitting diode display 100 according to the present invention includes a plurality of data lines (DL1 to DLm, m is a natural number greater than or equal to 2) and a plurality of gate lines (GL1 to GLn, where n is a natural number greater than or equal to 2). is disposed, the display panel 110 in which a plurality of sub-pixels are arranged in a matrix type, the data driver 120 driving the plurality of data lines DL1 to DLm, and the plurality of gate lines GL1 to GLn It includes a gate driver 130 for driving, a data driver 120 , and a timing controller 140 for controlling the gate driver 130 .

데이터 구동부(120)는, 다수의 데이터 라인(DL1~DLm)으로 데이터 전압을 공급함으로써, 다수의 데이터 라인(DL1~DLm)을 구동한다. 여기서, 데이터 구동부(120)는 소스 구동부라고도 한다.The data driver 120 drives the plurality of data lines DL1 to DLm by supplying data voltages to the plurality of data lines DL1 to DLm. Here, the data driver 120 is also referred to as a source driver.

게이트 구동부(130)는, 다수의 게이트 라인(GL1~GLn)으로 스캔 신호를 순차적으로 공급함으로써, 다수의 게이트 라인(GL1~GLn)을 순차적으로 구동한다. 여기서, 게이트 구동부(130)는 스캔 구동부라고도 한다.The gate driver 130 sequentially drives the plurality of gate lines GL1 to GLn by sequentially supplying scan signals to the plurality of gate lines GL1 to GLn. Here, the gate driver 130 is also referred to as a scan driver.

타이밍 컨트롤러(140)는, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)로 각종 제어신호를 공급하여, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어한다.The timing controller 140 supplies various control signals to the data driver 120 and the gate driver 130 to control the data driver 120 and the gate driver 130 .

이러한 타이밍 컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 외부에서 입력되는 입력 영상 데이터를 데이터 구동부(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 통제한다.The timing controller 140 starts scanning according to the timing implemented in each frame, converts input image data input from the outside to match the data signal format used by the data driver 120 , and outputs the converted image data. and control the data operation at an appropriate time according to the scan.

게이트 구동부(130)는, 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 온(On) 전압 또는 오프(Off) 전압의 스캔 신호를 다수의 게이트 라인으로 순차적으로 공급하여 다수의 게이트 라인을 순차적으로 구동한다.The gate driver 130 sequentially drives the plurality of gate lines by sequentially supplying a scan signal of an on voltage or an off voltage to the plurality of gate lines under the control of the timing controller 140 . .

게이트 구동부(130)는, 구동 방식에 따라서, 도 1에서와 같이, 표시패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고, 경우에 따라서는, 양측에 위치할 수도 있다.The gate driver 130 may be positioned on only one side of the display panel 110 as shown in FIG. 1 , or, in some cases, on both sides, according to a driving method.

또한, 게이트 구동부(130)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(GDIC: Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다.Also, the gate driver 130 may include one or more gate driver integrated circuits (GDICs).

게이트 구동부(130)에 포함된 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로 각각은 쉬프트 레지스터, 레벨 쉬프터 등을 포함할 수 있다.Each of the one or more gate driver integrated circuits included in the gate driver 130 may include a shift register, a level shifter, and the like.

데이터 구동부(120)는, 특정 게이트 라인이 열리면, 타이밍 컨트롤러(140)로부터 수신한 영상 데이터를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환하여 데이터 라인들로 공급함으로써, 다수의 데이터 라인을 구동한다.When a specific gate line is opened, the data driver 120 converts the image data received from the timing controller 140 into an analog data voltage and supplies it to the data lines, thereby driving a plurality of data lines.

데이터 구동부(120)는, 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)를 포함하여 다수의 데이터 라인을 구동할 수 있다.The data driver 120 may drive a plurality of data lines including at least one source driver integrated circuit (SDIC).

데이터 구동부(120)에 포함된 각 소스 드라이버 집적회로는, 쉬프트 레지스터, 래치 회로 등을 포함하는 로직부와, 디지털 아날로그 컨버터(DAC: Digital Analog Converter)와, 출력 버퍼 등을 포함할 수 있으며, 경우에 따라서, 서브픽셀의 특성(예: 구동 트랜지스터의 문턱전압 및 이동도, 유기발광 다이오드의 문턱전압, 서브픽셀의 휘도 등)을 보상하기 위하여 서브픽셀의 특성을 센싱하기 위한 센싱부(예: 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog Digital Converter))를 더 포함할 수 있다. Each source driver integrated circuit included in the data driver 120 may include a logic unit including a shift register and a latch circuit, a digital analog converter (DAC), an output buffer, and the like. Accordingly, a sensing unit (eg, an analog It may further include an analog digital converter (ADC).

한편, 타이밍 컨트롤러(140)는, 입력 영상 데이터와 함께, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블(DE: Data Enable) 신호, 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호들을 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.Meanwhile, the timing controller 140 includes a vertical synchronization signal (Vsync), a horizontal synchronization signal (Hsync), an input data enable (DE: Data Enable) signal, a clock signal (CLK), etc. together with the input image data. It receives various timing signals from the outside (eg, host system).

타이밍 컨트롤러(140)는, 외부로부터 입력된 입력 영상 데이터를 데이터 구동부(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하는 것 이외에, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하기 위하여, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 DE 신호, 클럭 신호 등의 타이밍 신호를 입력 받아, 각종 제어 신호들을 생성하여 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)로 출력한다.The timing controller 140 converts the input image data input from the outside to match the data signal format used by the data driver 120 and outputs the converted image data, as well as the data driver 120 and the gate driver 130 . ), the data driver 120 and the gate driver 130 receive timing signals such as a vertical synchronization signal (Vsync), a horizontal synchronization signal (Hsync), an input DE signal, and a clock signal to generate various control signals. ) is output.

예를 들어, 타이밍 컨트롤러(140)는, 게이트 구동부(130)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal)를 출력한다.For example, the timing controller 140 controls the gate driver 130 , a gate start pulse (GSP), a gate shift clock (GSC), and a gate output enable signal (GOE). : Outputs various gate control signals (GCS: Gate Control Signal) including Gate Output Enable).

여기서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 구동부(130)를 구성하는 하나 이상의 게이트 구동부 집적회로의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭(GSC)은 하나 이상의 게이트 구동부 집적회로에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호(게이트 펄스)의 쉬프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 구동부 집적회로의 타이밍 정보를 지정하고 있다.Here, the gate start pulse GSP controls the operation start timing of one or more gate driver integrated circuits constituting the gate driver 130 . The gate shift clock GSC is a clock signal commonly input to one or more gate driver integrated circuits and controls the shift timing of the scan signal (gate pulse). The gate output enable signal GOE specifies timing information of one or more gate driver integrated circuits.

또한, 타이밍 컨트롤러(140)는, 데이터 구동부(120)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal)를 출력한다.In addition, the timing controller 140 controls the data driver 120 , a source start pulse (SSP), a source sampling clock (SSC), and a source output enable signal (SOE: Source). Output Enable) and output various data control signals (DCS: Data Control Signal).

여기서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 구동부(120)를 구성하는 하나 이상의 소스 드라이버 집적회로의 데이터 샘플링 시작 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 소스 드라이버 집적회로 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 구동부(120)의 출력 타이밍을 제어한다.Here, the source start pulse SSP controls the data sampling start timing of one or more source driver integrated circuits constituting the data driver 120 . The source sampling clock SSC is a clock signal that controls sampling timing of data in each of the source driver integrated circuits. The source output enable signal SOE controls the output timing of the data driver 120 .

도 1을 참조하면, 타이밍 컨트롤러(140)는, 소스 드라이버 집적회로가 본딩된 소스 인쇄회로기판과 연성 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 또는 연성 인쇄 회로(FPC: Flexible Printed Circuit) 등의 연결 매체를 통해 연결된 컨트롤 인쇄회로기판(Control Printed Circuit Board)에 배치될 수 있다.Referring to FIG. 1 , the timing controller 140 includes a source printed circuit board to which a source driver integrated circuit is bonded and a connection medium such as a flexible flat cable (FFC) or a flexible printed circuit (FPC). It may be disposed on a control printed circuit board connected through the .

이러한 컨트롤 인쇄회로기판에는, 표시패널(110), 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 전원 컨트롤러(미도시)가 더 배치될 수 있다. 이러한 전원 컨트롤러는 전원 관리 집적회로(PMIC: Power Management IC)라고도 한다.A power controller (not shown) for supplying various voltages or currents to the display panel 110 , the data driver 120 , the gate driver 130 , or controlling various voltages or currents to be supplied is further disposed on the control printed circuit board can be Such a power controller is also referred to as a power management integrated circuit (PMIC).

본 발명에 따른 표시패널(110)에 배치되는 다수의 서브픽셀 각각은, 일 예로, 유기발광 다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode), 둘 이상의 트랜지스터, 적어도 하나의 커패시터 등의 회로 소자로 구성될 수 있다.Each of the plurality of sub-pixels disposed on the display panel 110 according to the present invention may be composed of, for example, circuit elements such as an organic light emitting diode (OLED), two or more transistors, and at least one capacitor. have.

각 서브픽셀을 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는, 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.The type and number of circuit elements constituting each sub-pixel may be variously determined according to a provided function and a design method.

도 2는 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 서브픽셀 구조의 예시도이다. 2 is an exemplary diagram of a sub-pixel structure of an organic light emitting diode display according to the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 표시패널(110)에 배치된 각 서브픽셀(SP)은, 유기발광 다이오드(OLED), 구동 트랜지스터(DRT: Driving Transistor), 스위칭 트랜지스터(SWT: Switching Transistor), 센싱 트랜지스터(SENT: Sensing Transistor) 및 스토리지 커패시터(Cst: Storage Capacitor) 등을 포함한다. Referring to FIG. 2 , each subpixel SP disposed on the display panel 110 according to the present invention includes an organic light emitting diode (OLED), a driving transistor (DRT), and a switching transistor (SWT). , a sensing transistor (SENT), a storage capacitor (Cst), and the like.

도 2에 도시된 바와 같이, 3개의 트랜지스터(DRT, SWT, SENT)와 1개의 커패시터(Cst)를 포함하는 서브픽셀 구조를 3T(Transistor)1C(Capacitor) 구조라고 한다. As shown in FIG. 2 , a subpixel structure including three transistors DRT, SWT, and SENT and one capacitor Cst is referred to as a 3T (Transistor) 1C (Capacitor) structure.

도 2를 참조하면, 유기발광 다이오드(OLED)는, 일 예로, 제1전극(예: 애노드 전극 또는 캐소드 전극), 유기층 및 제2전극(예: 캐소드 전극 또는 애노드 전극)으로 이루어질 수 있다.Referring to FIG. 2 , an organic light emitting diode (OLED) may include, for example, a first electrode (eg, an anode electrode or a cathode electrode), an organic layer, and a second electrode (eg, a cathode electrode or an anode electrode).

일 예로, 유기발광 다이오드(OLED)의 제1전극은 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드(예: 소스 노드 또는 드레인 노드)가 연결되고, 유기발광 다이오드(OLED)의 제2전극은 기저전압(EVSS)이 인가될 수 있다.For example, the first electrode of the organic light emitting diode (OLED) is connected to an N2 node (eg, a source node or a drain node) of the driving transistor (DRT), and the second electrode of the organic light emitting diode (OLED) is connected to the ground voltage (EVSS). ) can be approved.

도 2를 참조하면, 구동 트랜지스터(DRT)는, 유기발광 다이오드(OLED)로 구동 전류를 공급해주어, 유기발광 다이오드(OLED)를 구동하는 트랜지스터로서, 구동전압(EVDD)을 공급하는 구동전압 라인(DVL)과 유기발광 다이오드(OLED)의 제1전극 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.Referring to FIG. 2 , the driving transistor DRT is a transistor that supplies a driving current to the organic light emitting diode OLED to drive the organic light emitting diode OLED, and a driving voltage line that supplies a driving voltage EVDD. DVL) and the first electrode of the organic light emitting diode (OLED) may be electrically connected.

이러한 구동 트랜지스터(DRT)는, 일 예로, 게이트 노드에 해당하는 N1 노드(제1노드)와, 소스 노드 또는 드레인 노드에 해당하는 N2 노드(제2노드)와, 드레인 노드 또는 소스 노드에 해당하는 N3 노드(제3노드)를 갖는다.The driving transistor DRT, for example, has an N1 node (first node) corresponding to a gate node, an N2 node (second node) corresponding to a source node or a drain node, and a drain node or a source node. It has an N3 node (the third node).

도 2를 참조하면, 스위칭 트랜지스터(SWT)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 N1 노드로 데이터 전압(Vdata)을 전달해주기 위한 트랜지스터로서, 구동 트랜지스터(DRT)의 N1 노드와 데이터 전압(Vdata)을 공급하는 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결된다.Referring to FIG. 2 , the switching transistor SWT is a transistor for transferring the data voltage Vdata to the N1 node of the driving transistor DRT, and supplies the N1 node and the data voltage Vdata of the driving transistor DRT. are electrically connected between the data lines DL.

이러한 스위칭 트랜지스터(SWT)는, 게이트 노드에 인가되는 스캔 신호(SCAN)에 의해 턴 온 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드에 해당하는 N1 노드로 데이터 전압(Vdata)을 전달해줄 수 있다.The switching transistor SWT may be turned on by the scan signal SCAN applied to the gate node to transfer the data voltage Vdata to the N1 node corresponding to the gate node of the driving transistor DRT.

도 2를 참조하면, 스토리지 커패시터(Cst)는, 한 프레임 시간 동안 일정 전압을 유지해주는 역할을 하는 커패시터로서, 구동 트랜지스터(DRT)의 N1 노드와 N2 노드 사이에 전기적으로 연결된다.Referring to FIG. 2 , the storage capacitor Cst is a capacitor that maintains a constant voltage for one frame time, and is electrically connected between the N1 node and the N2 node of the driving transistor DRT.

도 2를 참조하면, 센싱 트랜지스터(SENT)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드에 초기화전압(Vpre)을 인가해주거나, 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드의 전압 센싱에 관여하는 트랜지스터로서, 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드와 초기화전압(Vpre)을 공급하는 기준전압 라인(RVL: Reference Voltage Line) 사이에 전기적으로 연결된다.Referring to FIG. 2 , the sensing transistor SENT applies an initialization voltage Vpre to the N2 node of the driving transistor DRT or is involved in voltage sensing of the N2 node of the driving transistor DRT, and is driven. It is electrically connected between the N2 node of the transistor DRT and a reference voltage line (RVL) supplying the initialization voltage Vpre.

이러한 센싱 트랜지스터(SENT)는, 게이트 노드에 인가되는 스캔 신호의 일종인 센스 신호(SENSE)에 의해 턴 온 되어, 기준전압 라인(RVL)을 통해 공급된 초기화전압(Vpre)을 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드에 인가해줄 수 있다.The sensing transistor SENT is turned on by a sense signal SENSE, which is a type of scan signal applied to the gate node, and applies the initialization voltage Vpre supplied through the reference voltage line RVL to the driving transistor DRT. It can be granted to the N2 node of

한편, 도 2를 참조하면, 스위칭 트랜지스터(SWT)의 게이트 노드와 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드는, 동일한 게이트 라인에 전기적으로 연결될 수 있다. 다시 말해, 스위칭 트랜지스터(SWT)의 게이트 노드 및 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드에는, 1개의 동일 게이트 라인을 통해, 게이트 신호(SCAN, SENSE)를 공통으로 인가 받을 수 있다. 이때, 스캔 신호(SCAN) 및 센스 신호(SENSE)는 동일한 게이트 신호이다.Meanwhile, referring to FIG. 2 , the gate node of the switching transistor SWT and the gate node of the sensing transistor SENT may be electrically connected to the same gate line. In other words, the gate signals SCAN and SENSE may be commonly applied to the gate node of the switching transistor SWT and the gate node of the sensing transistor SENT through one and the same gate line. In this case, the scan signal SCAN and the sense signal SENSE are the same gate signal.

이와는 다르게, 스위칭 트랜지스터(SWT)의 게이트 노드와 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드는, 서로 다른 게이트 라인에 전기적으로 연결될 수도 있다. 이 경우, 스캔 신호(SCAN) 및 센스 신호(SENSE) 각각이 서로 다른 게이트 라인을 통해, 스위칭 트랜지스터(SWT)의 게이트 노드와 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드에 별도로 인가될 수 있다.Alternatively, the gate node of the switching transistor SWT and the gate node of the sensing transistor SENT may be electrically connected to different gate lines. In this case, each of the scan signal SCAN and the sense signal SENSE may be separately applied to the gate node of the switching transistor SWT and the gate node of the sensing transistor SENT through different gate lines.

한편, 도 2에 도시된 바와 같이, 기준전압 라인(RVL)은, 스위치 제어신호(SPRE)에 따라 제1스위치(SW1)를 동작시켜, 초기화전압을 공급받을 수 있다.Meanwhile, as shown in FIG. 2 , the reference voltage line RVL operates the first switch SW1 according to the switch control signal SPRE to receive the initialization voltage.

이러한 기준전압 라인(RVL)에는, 라인 커패시터(Cline)가 형성되어 있을 수 있다.A line capacitor Cline may be formed on the reference voltage line RVL.

한편, 각 구동 트랜지스터(DRT)는, 문턱전압(Vth: Threshold Voltage), 이동도(Mobility) 등의 특성치를 갖는다. 또한, 구동 트랜지스터(DRT)는 구동 시간에 따라 열화(Degradation)가 진행되어 특성치가 변할 수 있다.Meanwhile, each driving transistor DRT has characteristic values such as a threshold voltage (Vth) and mobility. Also, the characteristic value of the driving transistor DRT may be changed as deterioration proceeds according to the driving time.

이러한 점 때문에, 각 서브픽셀 내 구동 트랜지스터(DRT) 간에는 열화 정도의 차이가 존재할 수 있고, 각 서브픽셀 내 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차가 존재할 수 있다. For this reason, a difference in the degree of deterioration may exist between the driving transistors DRT in each sub-pixel, and a deviation in characteristic values between the driving transistors DRT in each sub-pixel may exist.

각 서브픽셀 내 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차는, 각 서브픽셀 간 휘도 편차를 야기하여 화질 저하를 발생시키는 주요 요인이 될 수 있다.A characteristic value deviation between the driving transistors DRT in each sub-pixel may cause a luminance deviation between each sub-pixel, which may be a major factor causing image quality deterioration.

이러한 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차(예: 문턱전압 편차, 이동도 편차)뿐만 아니라, 각 서브픽셀 내 유기발광 다이오드(OLED) 간의 열화 정도의 차이로 인한 유기발광 다이오드(OLED) 간의 특성치 편차(예: 문턱전압 편차 등)도 존재할 수 있다.In addition to the characteristic deviation (eg, threshold voltage deviation, mobility deviation) between the driving transistors (DRT), the characteristic value deviation ( For example, threshold voltage deviation, etc.) may also exist.

전술한 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차와 유기발광다이오드(OLED) 간의 특성치 편차는, 서브픽셀 특성치 편차에 해당하는 것으로서, 서브픽셀 간의 휘도 편차를 발생시켜, 휘도의 균일도(Uniformity)를 저해하는 요인이 된다.The above-described deviation in characteristic values between the driving transistors DRT and the deviation in characteristic values between the organic light emitting diodes (OLEDs) corresponds to the deviation in the characteristic values of sub-pixels, and causes luminance deviation between sub-pixels, which is a factor that inhibits luminance uniformity. becomes this

따라서, 화상 품질을 향상시키기 위해서, 서브픽셀 특성치 편차에 대한 보상이 필요하다.Therefore, in order to improve the image quality, compensation for the sub-pixel characteristic value deviation is required.

이에, 본 발명에 따른 표시패널(110)에서의 각 서브픽셀은, 도 2에 도시된 바와 같이, 센싱 가능한 서브픽셀 구조를 갖는다.Accordingly, each sub-pixel in the display panel 110 according to the present invention has a sub-pixel structure capable of being sensed, as shown in FIG. 2 .

또한, 본 발명에 따른 유기발광 표시장치(100)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 각 서브픽셀의 특성치 또는 특성치 편차를 센싱하기 위한 센싱 구성으로서, 제2스위치(SW2)가 샘플링 제어신호(SAM)에 따라 동작하여, 기준전압 라인(RVL)과 전기적으로 연결되는 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog Digital Converter)를 더 포함할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 2 , the organic light emitting display device 100 according to the present invention is a sensing configuration for sensing a characteristic value or a characteristic value deviation of each sub-pixel, and the second switch SW2 is configured to transmit a sampling control signal ( SAM) and may further include an analog-to-digital converter (ADC) electrically connected to the reference voltage line RVL.

이러한 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는, 기준전압 라인(RVL)의 전압을 센싱하고, 센싱된 센싱값(Vsen: 센싱 전압값)을 디지털 값으로 컨버팅하여, 센싱 데이터를 생성하고, 생성된 센싱 데이터를 타이밍 컨트롤러(140)로 전송할 수 있다. The analog-to-digital converter (ADC) senses the voltage of the reference voltage line (RVL), converts the sensed sensed value (Vsen: sensed voltage value) to a digital value, generates sensed data, and converts the generated sensed data to a digital value. may be transmitted to the timing controller 140 .

아날로그 디지털 컨버터(ADC)가 기준전압 라인(RVL)의 전압을 센싱하는 것은, 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴 온 된 경우, 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드의 전압을 센싱하는 것과 동일한 효과를 갖는다.Sensing the voltage of the reference voltage line RVL by the analog-to-digital converter ADC has the same effect as sensing the voltage of the N2 node of the driving transistor DRT when the sensing transistor SENT is turned on.

여기서, 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드의 전압은, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(예: 문턱전압, 이동도)와, 유기발광 다이오드(OLED)의 특성치(예: 문턱전압 등)를 반영하는 전압일 수 있다. 본 발명에서는 유기발광 다이오드(OLED)의 열화로 인하여 특성치가 변경되는 경우를 보상하기 위한 유기발광 다이오드(OLED) 열화 센싱 구동을 중심으로 설명한다.Here, the voltage at the N2 node of the driving transistor DRT reflects the characteristic values (eg, threshold voltage, mobility) of the driving transistor DRT and the characteristic values (eg, threshold voltage) of the organic light emitting diode (OLED). It can be voltage. In the present invention, the organic light emitting diode (OLED) deterioration sensing driving for compensating for a case in which a characteristic value is changed due to deterioration of the organic light emitting diode (OLED) will be mainly described.

도 3은 유기발광 표시장치의 센싱값의 분포의 종류를 도시한 도면이다.3 is a diagram illustrating types of distribution of sensing values of an organic light emitting display device.

도 3을 참조하면, 일반적으로 유기발광 표시장치의 서브픽셀의 특성치를 센싱할 수 있는 센싱 전압범위는 소스 드라이버 집적회로(SDIC)의 전압범위 제한으로 인하여 일정한 범위를 가지고 있다. 따라서, 센싱 구동을 통하여 획득한 센싱값(Vsen)이 상기 센싱 전압범위 내에 위치할 경우에는 정확한 보상이 이루어지나, 센싱 전압범위를 넘어설 경우에는 잘못된 보상값으로 데이터 보상이 이루어지는 보상 오류가 발생한다.Referring to FIG. 3 , in general, a sensing voltage range capable of sensing a characteristic value of a subpixel of an organic light emitting display device has a certain range due to a voltage range limitation of the source driver integrated circuit SDIC. Therefore, when the sensing value (Vsen) obtained through sensing driving is located within the sensing voltage range, correct compensation is performed, but when it exceeds the sensing voltage range, a compensation error occurs in which data compensation is performed with an incorrect compensation value. .

도 3에 도시된 바와 같이, 센싱값(Vsen)의 분포가 정상분포인 경우에는 센싱 전압범위의 상한값과 하한값 사이에 센싱값(Vsen)들이 분포되어 있다. 하지만, 센싱값의 분포가 오버플로우인 경우에는 센싱값(Vsen)의 분포 중심이 센싱 전압범위의 상한값 영역에 위치하고, 일부 분포 영역이 센싱 전압범위의 상한값을 초과한다.As shown in FIG. 3 , when the distribution of the sensing value Vsen is a normal distribution, the sensing values Vsen are distributed between the upper limit value and the lower limit value of the sensing voltage range. However, when the distribution of the sensed values is overflow, the distribution center of the sensed value Vsen is located in the upper limit region of the sensing voltage range, and some distribution regions exceed the upper limit of the sensing voltage range.

또한, 센싱값의 분포가 언더플로우인 경우에는 센싱값(Vsen)의 분포 중심이 센싱 전압범위의 하한값 영역에 위치하고, 일부 분포 영역이 센싱 전압범위의 하한값 아래에 위치한다.In addition, when the distribution of the sensing value is underflow, the distribution center of the sensing value Vsen is located in the lower limit of the sensing voltage range, and some distribution areas are located below the lower limit of the sensing voltage range.

따라서, 센싱값(Vsen) 분포가 오버플로우 분포인 경우에는 센싱값(Vsen)의 일부가 센싱 전압범위의 상한값을 초과하는 값으로 센싱될 수 있고, 언더플로우 분포인 경우에는 센싱값(Vsen)의 일부가 센싱 전압범위의 하한값 보다 낮은 값으로 센싱될 수 있다.Accordingly, when the distribution of the sensed value Vsen is an overflow distribution, a part of the sensed value Vsen may be sensed as a value exceeding the upper limit of the sensing voltage range, and in the case of an underflow distribution, the sensed value Vsen is A portion may be sensed as a value lower than the lower limit of the sensing voltage range.

이와 같이, 센싱값들이 센싱 전압범위의 상한값 또는 하한값 밖에 존재하게 되면, 센싱값(Vsen)에 대응하는 정확한 보상값을 획득할 수 없어 보상 오류가 발생한다.As such, when the sensed values are outside the upper limit or lower limit of the sensing voltage range, an accurate compensation value corresponding to the sensed value Vsen cannot be obtained, and a compensation error occurs.

이와 같이, 센싱값(Vsen)의 오버플로우(Overflow) 또는 언더플로우(Underflow)로 인하여 보상 오류가 발생되면, 유기발광 다이오드의 열화에 대한 정확한 보상 데이터를 획득할 수 없어 화면 품질이 저하된다.As such, when a compensation error occurs due to overflow or underflow of the sensing value Vsen, accurate compensation data for deterioration of the organic light emitting diode cannot be obtained, and thus screen quality is deteriorated.

도 4는 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 시간을 조절함으로써, 정상분포의 센싱값을 획득하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.4 is a diagram for explaining the principle of obtaining a sensed value of a normal distribution by adjusting a sensing time of the organic light emitting display device according to the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명의 유기발광 표시장치 구동은 영상을 디스플레이 하는 디스플레이 구동과 서브픽셀의 특성치를 센싱하는 센싱 구동을 포함한다.Referring to FIG. 4 , driving of the organic light emitting diode display according to the present invention includes driving a display for displaying an image and driving for sensing a characteristic value of a sub-pixel.

본 발명에서는 센싱 구동을 진행한 후, 획득한 센싱값(Vsen)들을 분포 정보로 저장한 후, 센싱값들의 분포가 오버플로우 분포를 가질 경우에는 센싱 구동에서의 센싱 시간을 줄이고, 언더플로우 분포를 가질 경우에는 센싱 구동에서의 센싱 시간을 늘려 오버플로우 분포를 가진 센싱값과 언더플로우 분포를 가진 센싱값들이 센싱 전압범위 내에서 획득될 수 있도록 하였다. 이로 인하여, 센싱값(Vsen)이 센싱 전압범위 외에 위치함으로써 발생되는 데이터 보상 오류 및 화질 저하를 방지하였다.In the present invention, after the sensing operation is performed, the acquired sensing values Vsen are stored as distribution information, and when the distribution of the sensing values has an overflow distribution, the sensing time in the sensing operation is reduced, and the underflow distribution is reduced. In this case, the sensing time in the sensing operation is increased so that the sensing values having the overflow distribution and the sensing values having the underflow distribution can be obtained within the sensing voltage range. As a result, data compensation errors and image quality degradation caused by the sensing value Vsen being located outside the sensing voltage range were prevented.

이는 도 6에 도시된 바와 같이, 센싱값(Vsen)의 전압은 유기발광 다이오드(OLED)의 열화가 작은 경우와 큰 경우에 관계 없이 센싱 시간(Tsen)에 따라 기울기는 다르지만 증가한다. 예를 들어, 센싱값들이 오버플로우 분포를 가질 경우, 센싱값의 충전 전압의 기울기가 크기 때문에 정해진 센싱 시간으로 센싱할 경우, 센싱값이 센싱 전압범위를 초과할 가능성이 높다. 따라서, 센싱값들의 분포가 오버플로우 분포를 가질 경우에는 센싱 시간을 감소시켜 보다 낮은 전압에서 센싱값(Vsen)을 획득하는 것이 바람직하다. 이와 관련해서는 도 9에서 상세히 설명한다.As shown in FIG. 6 , the voltage of the sensing value Vsen has a different slope but increases according to the sensing time Tsen regardless of whether the deterioration of the organic light emitting diode (OLED) is small or large. For example, when the sensed values have an overflow distribution, since the slope of the charging voltage of the sensed value is large, when the sensed value is sensed for a predetermined sensing time, there is a high possibility that the sensed value exceeds the sensing voltage range. Accordingly, when the distribution of the sensed values has an overflow distribution, it is preferable to reduce the sensing time to obtain the sensed value Vsen at a lower voltage. This will be described in detail with reference to FIG. 9 .

반대로 센싱값들이 언더플로우 분포를 가질 경우에는 센싱 시간을 증가시켜 보다 높은 전압에서 센싱값(Vsen)을 획득하는 것이 바람직하다.Conversely, when the sensing values have an underflow distribution, it is preferable to increase the sensing time to obtain the sensing value Vsen at a higher voltage.

이와 같이, 본 발명의 유기발광 표시장치는 센싱값(Vsen)들이 오버플로우 분포를 가질 경우와 언더플로우 분포를 가질 경우에 따라 센싱 시간을 조절함으로써, 센싱 전압범위(정상분포) 내의 센싱값을 획득하여 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지하였다.As described above, the organic light emitting display device of the present invention obtains a sensing value within a sensing voltage range (normal distribution) by adjusting the sensing time according to the case in which the sensing values Vsen have an overflow distribution and an underflow distribution. This prevents compensation errors and screen quality degradation.

도 5는 본 발명에 따른 센싱시간 조절부를 도시한 블럭도이다.5 is a block diagram illustrating a sensing time adjusting unit according to the present invention.

도 1과 함께 도 5를 참조하면, 본 발명의 유기발광 표시장치(100)는 센싱시간 조절부(500)를 더 포함하고, 상기 센싱시간 조절부(500)는 타이밍 컨트롤러(140) 내측 또는 외측에 배치될 수 있다.Referring to FIG. 5 together with FIG. 1 , the organic light emitting display device 100 of the present invention further includes a sensing time adjusting unit 500 , and the sensing time adjusting unit 500 is located inside or outside the timing controller 140 . can be placed in

상기 센싱시간 조절부(500)는, 유기발광 다이오드의 열화 정도를 센싱하기 위한 센싱 구동에서 획득한 센싱값들을 토대로 센싱값 분포를 저장하는 저장부(501)와, 상기 저장된 센싱값 분포가 미리 설정된 센싱 전압범위의 상한값 영역에 위치하는 오버플로우 분포인가 하한값 영역에 위치하는 언더플로우 분포인가를 판단하는 판단부(502)와, 상기 저장된 센싱값 분포가 오버플로우 분포인 경우와 언더플로우 분포인 경우에 따라 센싱 시간을 조절하는 제어부(503)를 포함한다.The sensing time control unit 500 includes a storage unit 501 that stores a distribution of a sensing value based on sensing values obtained in a sensing driving for sensing the degree of deterioration of the organic light emitting diode, and a preset distribution of the stored sensing value. A determination unit 502 for determining whether an overflow distribution located in the upper limit region of the sensing voltage range or an underflow distribution located in the lower limit region of the sensing voltage range, and when the stored sensing value distribution is an overflow distribution and an underflow distribution and a control unit 503 that adjusts the sensing time accordingly.

보다 구체적으로, 본 발명의 유기발광 표시장치는 센싱 구동으로 인하여 얻어진 센싱값(Vsen)들의 분포를 저장한 후, 이를 토대로 센싱 시간을 조절한다. 그런 다음, 조절된 센싱 시간으로 센싱 구동을 진행하여 센싱 전압범위 내의 센싱값(Vsen)을 획득하여 보상을 진행함으로써, 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지하도록 하였다.More specifically, the organic light emitting display device of the present invention stores the distribution of the sensed values Vsen obtained by sensing driving, and then adjusts the sensing time based on this. Then, the sensing operation is performed with the adjusted sensing time to obtain a sensing value (Vsen) within the sensing voltage range and compensation is performed to prevent compensation errors and screen quality degradation.

따라서, 상기 판단부(502)는 상기 저장부(501)에 저장된 센싱값 분포가 언더플로우 분포인가 오버플로우 분포인가를 판단한다. 예를 들면, 저장된 센싱값 분포의 중심을 기준으로 상한값과 하한값의 센싱값(전압값)을 취한 후, 이를 평균한 값이 미리 설정된 센싱전압 범위의 중앙값보다 높으면 오버플로우 분포로 판단하고, 낮으면 언더플로우 분포로 판단할 수 있다.Accordingly, the determination unit 502 determines whether the distribution of the sensing values stored in the storage unit 501 is an underflow distribution or an overflow distribution. For example, after taking the sensing value (voltage value) of the upper limit value and the lower limit value based on the center of the stored sensing value distribution, if the average value is higher than the median value of the preset sensing voltage range, it is determined as an overflow distribution; It can be judged by the underflow distribution.

즉, 미리 설정된 센싱 전압범위가 0.5[V]~3.5[V]라면 이의 중심 전압값은 2[V]이다. 따라서, 센싱값 분포의 상한값과 하한값의 평균이 2[V] 이상일 경우, 해당 센싱값 분포는 오버플로우 분포로 판단한다. 반대로 2[V] 이하인 경우, 언더플로우 분포로 판단한다.That is, if the preset sensing voltage range is 0.5 [V] to 3.5 [V], its central voltage value is 2 [V]. Therefore, when the average of the upper and lower limits of the distribution of the sensed values is 2 [V] or more, the distribution of the sensed values is determined to be an overflow distribution. Conversely, if it is 2 [V] or less, it is determined as an underflow distribution.

또한, 다른 방법으로 저장부(501)에 저장된 센싱값 분포의 상한값과 센싱 전압범위의 상한값을 비교하여, 센싱값 분포의 상한값이 센싱 전압범위의 상한값 보다 더 크면 오버플로우 분포로 판단할 수 있다. 마찬가지 방법으로 센싱값 분포의 하한값과 센싱 전압범위의 하한값을 비교하여, 센싱값 분포의 하한값이 더 작으면 언더플로우 분포로 판단할 수 있다.In addition, by comparing the upper limit of the sensing voltage range stored in the storage unit 501 by another method, the upper limit of the sensing voltage range is greater than the upper limit of the sensing voltage range, it can be determined as an overflow distribution. In the same way, by comparing the lower limit of the sensing value distribution with the lower limit of the sensing voltage range, if the lower limit of the sensing value distribution is smaller, it may be determined as an underflow distribution.

상기와 같이, 판단부(502)에 의해 오버플로우 분포 또는 언더플로우 분포를 판단하면, 제어부(503)는 이를 토대로 센싱 시간을 조절한다. 보다 구체적으로 제어부(503)는 저장된 센싱값 분포가 오버플로우 분포인 경우에는 센싱 시간을 감소시키고, 언더플로우 분포인 경우에는 센싱 시간을 증가시킨다. 이로 인하여, 오버플로우 분포 또는 언더플로우 분포가 발생되더라도 센싱 시간 조절로 센싱값(Vsen)이 센싱 전압범위 내에 위치할 수 있도록 함으로써, 보상 오류를 방지하였다.As described above, when the overflow distribution or the underflow distribution is determined by the determination unit 502 , the control unit 503 adjusts the sensing time based thereon. More specifically, the controller 503 decreases the sensing time when the stored sensing value distribution is an overflow distribution, and increases the sensing time when the stored sensing value distribution is an underflow distribution. For this reason, even when an overflow distribution or an underflow distribution occurs, a compensation error is prevented by allowing the sensing value Vsen to be located within the sensing voltage range by adjusting the sensing time.

따라서, 본 발명의 유기발광 표시장치는, 유기발광 다이오드의 다양한 열화 정도에도 불구하고, 센싱값 분포 정보를 토대로 센싱 시간을 조절함으로써, 데이터 보상 오류 및 이로 인한 화질 저하를 방지한 효과가 있다.Accordingly, the organic light emitting diode display device of the present invention has an effect of preventing data compensation errors and image quality degradation by adjusting the sensing time based on the sensing value distribution information, despite various degrees of deterioration of the organic light emitting diodes.

도 6은 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 구동에서 각 구간별 제어신호 및 전압 파형을 도시한 도면이고, 도 7a 내지 도 7d는 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 구동을 도시한 도면이다.6 is a view showing control signals and voltage waveforms for each section in sensing driving of the organic light emitting display device according to the present invention, and FIGS. 7A to 7D are views showing sensing driving of the organic light emitting display device according to the present invention. to be.

도 6 내지 도 7d를 참조하면, 본 발명에 따른 유기발광 표시장치(100)의 유기발광 다이오드(OLED) 열화 센싱 구동은, 초기화 단계가 이뤄지는 초기화 구간(Tint), 부스팅 단계가 이뤄지는 트랙킹 구간(Ttrac), 센싱 단계가 이루어지는 센싱 구간(Tsen) 및 센싱값(Vsen)을 획득하는 샘플링 구간(Tsam)을 포함한다.6 to 7D , in the organic light emitting diode (OLED) degradation sensing driving of the organic light emitting diode display 100 according to the present invention, an initialization section (Tint) in which an initialization step is performed, and a tracking section (Ttrac) in which the boosting step is performed ), a sensing section Tsen in which the sensing step is performed, and a sampling section Tsam in which the sensing value Vsen is obtained.

초기화 구간(Tint)에서, 스캔 신호(SCAN), 센스 신호(SENSE), 및 스위치 제어신호(SPRE)는 온 레벨로 인가되고, 샘플링 제어신호(SAM)는 오프 레벨로 인가된다. 그 결과, 도 7a에서와 같이 구동 트랜지스터(DRT)의 N1 노드(N1)에 센싱 데이터전압(Vdata_SEN)이 인가되고 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드(N2)에 초기화 전압(Vpre)이 기준전압 라인(RVL)과 센싱 트랜지스터(SENT)를 통해 인가된다.In the initialization period Tint, the scan signal SCAN, the sense signal SENSE, and the switch control signal SPRE are applied at an on level, and the sampling control signal SAM is applied at an off level. As a result, as shown in FIG. 7A , the sensing data voltage Vdata_SEN is applied to the N1 node N1 of the driving transistor DRT, and the initialization voltage Vpre is applied to the N2 node N2 of the driving transistor DRT. It is applied through (RVL) and the sensing transistor (SENT).

트랙킹 구간(Ttrac)에서, 스위치 제어신호(SPRE)만 온 레벨로 인가되고, 스캔 신호(SCAN), 센스 신호(SENSE), 및 샘플링 제어신호(SAM)는 오프레벨로 인가된다.In the tracking period Ttrac, only the switch control signal SPRE is applied at the on level, and the scan signal SCAN, the sense signal SENSE, and the sampling control signal SAM are applied at the off level.

그 결과, 도 7b에서와 같이 구동 트랜지스터(DRT)의 N1 노드(N1) 및 N2 노드(N2)가 플로팅되고 구동 트랜지스터(DRT)의 N3 노드(N3)-N2 노드(드레인-소스 노드) 간 전류(Ids)가 유기발광 다이오드(OLED)에 인가된다. 이러한 구동 트랜지스터(DRT)의 드레인-소스 노드 간 전류(Ids)에 의해 N2 노드(N2: 소스 노드)의 전위는 부스팅되고, 소스 노드(N2)와 전기적으로 커플링되어 있는 N1 노드(N1)도 부스팅된다. 소스 노드(N2)의 전위가 유기발광 다이오드(OLED)의 동작점 전압보다 높아지면 유기발광 다이오드(OLED)가 턴 온 된다.As a result, as shown in FIG. 7B , the N1 node N1 and the N2 node N2 of the driving transistor DRT float, and the current between the N3 node N3 and the N2 node (drain-source node) of the driving transistor DRT (Ids) is applied to the organic light emitting diode (OLED). The potential of the N2 node N2 (source node) is boosted by the current Ids between the drain-source node of the driving transistor DRT, and the N1 node N1 electrically coupled to the source node N2 is also boosted. is boosted When the potential of the source node N2 is higher than the operating point voltage of the organic light emitting diode OLED, the organic light emitting diode OLED is turned on.

유기발광 다이오드(OLED)가 턴 온 될 때, N2 노드(N2)의 전위는 열화 정도에 따라 달라지고 또한, N1 노드(N1)의 전위도 열화 정도에 따라 달라지게 된다.When the organic light emitting diode (OLED) is turned on, the potential of the N2 node N2 varies according to the degree of degradation, and the potential of the N1 node N1 also varies according to the degree of degradation.

한편, 트랙킹 구간(Ttrac)에서, 스캔 신호(SCAN)가 센스 신호(SENSE)와 동시에 오프 레벨로 인가될 수도 있으나, 도 6에 도시된 바와 같이 스캔 신호(SCAN)가 센스 신호(SENSE)보다 늦게 오프 레벨로 인가될 수도 있다.Meanwhile, in the tracking section Ttrac, the scan signal SCAN may be applied to the off level simultaneously with the sense signal SENSE, but as shown in FIG. 6 , the scan signal SCAN is delayed than the sense signal SENSE. It may be applied at an off level.

이렇게 하면, 부스팅 단계의 초기 시점에서 유기발광 다이오드(OLED)의 열화 정도가 N2 노드(소스 노드)에 어느 정도 미리 반영되는 효과가 있다.In this way, there is an effect that the degree of deterioration of the organic light emitting diode (OLED) is reflected in advance to some extent in the N2 node (source node) at the initial point of the boosting step.

센싱 구간(Tsen)에서, 센스 신호(SENSE)는 온 레벨로 인가되고, 스위치 제어신호(SPRE)는 일정 기간 동안 온 레벨을 유지한 후 오프 레벨로 반전된다. 그리고, 스캔 신호(SCAN)와 샘플링 제어신호(SAM)는 오프 레벨로 인가된다.In the sensing period Tsen, the sense signal SENSE is applied to an on level, and the switch control signal SPRE maintains an on level for a predetermined period and then is inverted to an off level. In addition, the scan signal SCAN and the sampling control signal SAM are applied at an off level.

그 결과, 도 7c에서와 같이 유기발광 다이오드(OLED)의 열화 정도에 따라 구동 트랜지스터(DRT)의 N1 노드-N2 노드 간 전압(VN1N2)이 셋팅되고, 셋팅된 N1 노드-N2 노드 간 전압(VN1N2)에 따라 결정되는 구동 트랜지스터(DRT)의 N3 노드-N2 노드 간 전류(Ids)가 기준전압 라인(RVL)의 라인 커패시터(Cline)에 저장된다.As a result, as shown in FIG. 7C , the voltage VN1N2 between the N1 node and the N2 node of the driving transistor DRT is set according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED, and the set voltage between the N1 node and N2 node VN1N2 is set. ), the current Ids between the N3 node and the N2 node of the driving transistor DRT is stored in the line capacitor Cline of the reference voltage line RVL.

구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드(소스 노드)는 초기화 전압(Vpre)을 재차 인가 받은 후 플로팅되기 때문에, N2 노드(N2)의 전위가 낮아질 때 스토리지 커패시터(Cst)의 커플링 영향으로 N1 노드의 전위도 낮아진다. 이때, N1 노드(N1)의 전위가 낮아지는 정도는 유기발광 다이오드(OLED)의 열화 정도에 따라 달라 질 수 있다.Since the N2 node (source node) of the driving transistor DRT is floated after the initialization voltage Vpre is applied again, when the potential of the N2 node N2 is lowered, the N1 node is affected by the coupling effect of the storage capacitor Cst. The potential is also lowered. In this case, the degree to which the potential of the N1 node N1 is lowered may vary depending on the degree of deterioration of the organic light emitting diode (OLED).

다시 말해, 유기발광 다이오드(OLED)의 열화 정도는 N1 노드(N1)의 전위차이로 나타나게 되며, 이러한 N1 노드(N1)의 전압차는 구동 트랜지스터(DRT)의 VN1N2의 전압차이를 유발하여 열화 정도에 따라 기준전압 라인(RVL)에 흐르는 전류가 달라진다.In other words, the degree of degradation of the organic light emitting diode (OLED) is represented by the potential difference of the N1 node N1, and the voltage difference at the N1 node N1 induces a voltage difference between VN1N2 of the driving transistor DRT and depends on the degree of degradation. The current flowing through the reference voltage line RVL varies.

이 전류는 기준전압 라인(RVL)의 라인 커패시터(Cline)에 저장되는데, 기준전압 라인(RVL)에 흐르는 전류가 열화에 비례하여 줄어들면 라인 커패시터 (Cline)에 저장되는 전압도 작아진다. 라인 커패시터(Cline)에 저장되는 전압의 충전 기울기가 크면 기준전압 라인(RVL)에 흐르는 전류가 크다는 것이고, 이는 유기발광 다이오드(OLED)의 열화 정도가 작다는 것을 의미한다.This current is stored in the line capacitor Cline of the reference voltage line RVL. When the current flowing through the reference voltage line RVL decreases in proportion to deterioration, the voltage stored in the line capacitor Cline also decreases. When the charging slope of the voltage stored in the line capacitor Cline is large, the current flowing through the reference voltage line RVL is large, which means that the deterioration degree of the organic light emitting diode OLED is small.

반대로 라인 커패시터(Cline)에 저장되는 전압의 충전 기울기가 작으면 기준전압 라인(RVL)에 흐르는 전류가 작다는 것이고, 이는 유기발광 다이오드(OLED)의 열화 정도가 크다는 것을 의미한다.Conversely, when the charging slope of the voltage stored in the line capacitor Cline is small, the current flowing through the reference voltage line RVL is small, which means that the degree of deterioration of the organic light emitting diode OLED is large.

따라서, 도 6을 참조하면, 유기발광 다이오드(OLED)의 열화가 작은 경우에는 라인 커패시터(Cline)에 충전되는 전압 기울기가 크고, 열화가 큰 경우에는 라인 커패시터(Cline)에 충전되는 전압 기울기가 작은 것을 볼 수 있다.Accordingly, referring to FIG. 6 , when the deterioration of the organic light emitting diode OLED is small, the voltage gradient charged in the line capacitor Cline is large, and when the deterioration is large, the voltage gradient charged in the line capacitor Cline is small. you can see

샘플링 구간(Tsam)에서는 도 7d에 도시된 바와 같이, 샘플링 제어신호(SAM)만 온 레벨로 인가되고, 스캔 신호(SCAN), 센스 신호(SENSE) 및 스위치 제어신호(SPRE)는 오프 레벨로 인가된다. 따라서, 라인 커패시터(Cline)에 저장된 전압이 센싱값(Vsen: 센싱 전압)으로 출력된다.In the sampling period Tsam, as shown in FIG. 7D , only the sampling control signal SAM is applied at an on level, and the scan signal SCAN, the sense signal SENSE, and the switch control signal SPRE are applied at an off level. do. Accordingly, the voltage stored in the line capacitor Cline is output as a sensing value Vsen (sensing voltage).

위에서 설명한 바와 같이, 유기발광 다이오드(OLED)의 열화 정도(열화 작음, 열화 큼)에 따라 센싱 구간(Tsen)에서의 충전 전압의 기울기가 서로 상이하다.As described above, the slope of the charging voltage in the sensing section Tsen is different depending on the degree of deterioration (small deterioration, greater deterioration) of the organic light emitting diode (OLED).

따라서, 충전 전압의 기울기가 큰 것은 열화가 작은 것을 의미하므로 정해진 센싱 구간(Tsen)의 센싱 시간으로 센싱 구동을 하면 센싱값(Vsen)들이 오버플로우 분포를 가질 가능성이 높다. 반대로 충전 전압의 기울기가 작은 경우에는 열화가 큰 것을 의미하므로 센싱값(Vsen)들이 언더플로우 분포를 가질 가능성이 높다.Accordingly, since the large slope of the charging voltage means small degradation, the sensing value Vsen is highly likely to have an overflow distribution when the sensing operation is performed with the sensing time of the predetermined sensing period Tsen. Conversely, when the slope of the charging voltage is small, it means that the deterioration is large, so the sensed values Vsen are highly likely to have an underflow distribution.

이와 같이, 센싱값(Vsen)들이 오버플로우 분포를 갖는 경우와 언더플로우 분포를 갖는 경우에는 정해진 센싱 시간으로 센싱을 하면 획득된 센싱값(Vsen)이 센싱 전압범위를 초과하거나 아래에 위치할 가능성이 높아져 보상 오류가 발생한다.As such, when the sensing values Vsen have an overflow distribution and an underflow distribution, there is a possibility that the obtained sensing value Vsen exceeds or is located below the sensing voltage range when sensing is performed with a predetermined sensing time. high, resulting in a compensation error.

본 발명에서는 센싱 구동으로 획득한 센싱값(Vsen)들의 분포 정보를 저장하여 오버플로우 분포를 가질 경우에는 센싱 구간(Tsen)의 센싱 시간을 감소시키고 언더플로우 분포를 가질 경우에는 센싱 구간(Tsen)의 센싱 시간을 증가시킴으로써, 센싱값(Vsen)이 센싱 전압범위 내에 위치하여 데이터 보상 오류가 발생되지 않도록 하였다.In the present invention, by storing the distribution information of the sensing values (Vsen) acquired by sensing driving, the sensing time of the sensing section Tsen is reduced when the overflow distribution is obtained, and the sensing section Tsen is reduced when the underflow distribution is obtained. By increasing the sensing time, the sensing value Vsen is located within the sensing voltage range so that a data compensation error does not occur.

도 8은 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 구동에서 센싱 시간을 조절하여 센싱값을 획득하는 모습을 도시한 도면이고, 도 9는 도 8에 따라 센싱 시간을 조절함으로써, 센싱 전압범위 내로 센싱값이 이동하는 모습을 도시한 도면이며, 도 10 및 도 11은 유기발광 다이오드의 열화 정도에 따른 전압 및 전류 변화를 보여주는 도면이다.8 is a diagram illustrating a state in which a sensing value is obtained by adjusting a sensing time in sensing driving of an organic light emitting diode display according to the present invention, and FIG. 9 is a sensing within a sensing voltage range by adjusting the sensing time according to FIG. 8 . It is a view showing the movement of values, and FIGS. 10 and 11 are views showing changes in voltage and current according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode.

먼저, 도 7c와 함께 도 10 및 도 11을 참조하면, 유기발광 다이오드(OLED)는 구동 트랜지스터(DRT)의 N1 노드-N2 노드 간 전압(VN1N2)에 의해 발광하는데, 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드(N2) 전압은 구동 트랜지스터(DRT)의 제1저항(R1)과 유기발광 다이오드(OLED)의 제2저항(R2)의 전압 분배 법칙에 따라 결정된다.First, referring to FIGS. 10 and 11 together with FIG. 7C , the organic light emitting diode OLED emits light by the voltage VN1N2 between the N1 node and N2 node of the driving transistor DRT, and N2 of the driving transistor DRT. The voltage at the node N2 is determined according to a voltage division rule between the first resistor R1 of the driving transistor DRT and the second resistor R2 of the organic light emitting diode OLED.

유기발광 다이오드(OLED)가 열화 되면 제2저항(R2)이 증가 되고, 증가된 제2저항(R2)에 따라 구동 트랜지스터(DRT)의 N2 노드의 전압을 검출한다. 또한, 도 11에 도시된 바와 같이, 열화로 인하여 구동 트랜지스터(DRT)의 N3 노드-N2 노드 간 전류(Ids)가 감소하기 때문에 VN1N2간 전압은 열화가 작은 경우보다 열화가 큰 경우에 작아진다(A->B).When the organic light emitting diode OLED is deteriorated, the second resistance R2 is increased, and the voltage of the N2 node of the driving transistor DRT is detected according to the increased second resistance R2. In addition, as shown in FIG. 11, since the current Ids between the N3 node and the N2 node of the driving transistor DRT decreases due to the deterioration, the voltage between VN1N2 becomes smaller when the deterioration is greater than when the deterioration is small ( A->B).

따라서, 기준전압 라인(RVL)의 라인 커패시터(Cline)에 저장되는(충전되는) 전압의 크기도 열화 정도가 클수록 작은 값으로 충전되기 때문에 도 8에 도시된 바와 같이, 열화가 작은 경우가 열화가 큰 경우보다 라인 커패시터(Cline)에 충전되는 전압이 더 큰 것을 볼 수 있다.Accordingly, since the magnitude of the voltage stored (charged) in the line capacitor Cline of the reference voltage line RVL is also charged to a smaller value as the degree of degradation increases, as shown in FIG. 8 , when the degradation is small, the degradation occurs. It can be seen that the voltage charged in the line capacitor Cline is larger than that in the large case.

이와 같이, 정해진 센싱 시간(Tsen)으로 센싱 구동을 하면, 열화가 작은 경우에는 라인 커패시터(Cline)에 충전되는 전압 기울기가 커서 센싱값(Vsen)들이 오버플로우 분포가 될 가능성이 크다. 따라서, 센싱 시간을 감소시키면 보다 낮은 충전 전압에서 센싱값(Vsen1: X)을 획득할 수 있기 때문에 센싱값(Vsen1)이 센싱 전압범위를 초과하는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 센싱값으로 인한 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지할 수 있다. As described above, when sensing is driven for a predetermined sensing time Tsen, when the deterioration is small, the voltage gradient charged in the line capacitor Cline is large, so that the sensing values Vsen are highly likely to have an overflow distribution. Accordingly, since the sensing value Vsen1: X can be obtained at a lower charging voltage by reducing the sensing time, it is possible to prevent the sensing value Vsen1 from exceeding the sensing voltage range. Accordingly, it is possible to prevent compensation errors and screen quality deterioration due to the sensed value.

또한, 열화가 큰 경우에는 라인 커패시터(Cline)에 충전되는 전압 기울기가 작아 센싱값(Vsen)들이 언더플로우가 발생될 가능성이 크다. 따라서, 센싱 시간을 증가시키면 보다 높은 충전 전압에서 센싱값(Vsen2)을 획득할 수 있기 때문에 센싱값(Vsen2)이 센싱 전압범위 아래에서 센싱되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 센싱값으로 인한 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지할 수 있다.In addition, when the deterioration is large, the voltage gradient charged in the line capacitor Cline is small, so that the underflow of the sensing values Vsen is high. Accordingly, since the sensing value Vsen2 can be obtained at a higher charging voltage by increasing the sensing time, it is possible to prevent the sensing value Vsen2 from being sensed below the sensing voltage range. Accordingly, it is possible to prevent compensation errors and screen quality deterioration due to the sensed value.

도 9를 참조하여, 센싱 시간 조절에 따른 센싱값 변화를 구체적으로 보면 다음과 같다.Referring to FIG. 9 , a change in a sensing value according to a sensing time adjustment is described in detail.

정해진 센싱 구간(Tsen)에서의 센싱 시간을 t라고 하면, 위에서 설명한 바와 같이, 유기발광 다이오드의 열화가 작은 경우(센싱값들이 오버플로우 분포)에는 라인 커패시터(Cline)에 충전되는 전압 기울기가 크므로 센싱값(X1)이 센싱 전압범위를 초과한다. 하지만, 본 발명의 유기발광 표시장치의 센싱 구동에 따라 센싱 시간을 t1으로 감소시켜 센싱 구동을 하면 센싱 전압범위 내의 센싱값(X)을 획득할 수 있다.If the sensing time in the predetermined sensing period Tsen is t, as described above, when the degradation of the organic light emitting diode is small (sensing values are overflow distribution), the voltage gradient charged in the line capacitor Cline is large. The sensing value X1 exceeds the sensing voltage range. However, if the sensing driving is performed by reducing the sensing time to t1 according to the sensing driving of the organic light emitting diode display of the present invention, the sensing value X within the sensing voltage range may be obtained.

또한, 유기발광 다이오드의 열화가 큰 경우(센싱값들이 언더플로우 분포)에는 라인 커패시터(Cline)에 충전되는 전압 기울기가 작으므로 센싱값(Y1)이 센싱 전압범위 아래에 위치하게 된다. 하지만, 본 발명의 유기발광 표시장치의 센싱 구동에 따라 센싱 시간을 t2로 증가시켜 센싱 구동을 하면 센싱 전압범위 내의 센싱값(Y)을 획득할 수 있다.In addition, when the degradation of the organic light emitting diode is large (sensed values are distributed underflow), since the voltage gradient charged in the line capacitor Cline is small, the sensed value Y1 is located below the sensing voltage range. However, if the sensing driving is performed by increasing the sensing time to t2 according to the sensing driving of the organic light emitting diode display of the present invention, the sensing value Y within the sensing voltage range may be obtained.

이와 같이, 본 발명에서는 센싱값들이 오버플로우 분포를 가질 경우, 센싱값(Vsen)의 전압 기울기가 큰 점을 이용하여, 센싱 시간을 줄여 보상 오류 및 화질 저하를 방지하였다. As described above, in the present invention, when the sensed values have an overflow distribution, the sensing time is reduced by using the point where the voltage gradient of the sensed value Vsen is large, thereby preventing compensation errors and deterioration of image quality.

또한, 본 발명에서는 센싱값들이 언더플로우 분포를 가질 경우, 센싱값(Vsen)의 전압 기울기가 작은 점을 이용하여 센싱 시간을 늘림으로써, 보상 오류 및 화질 저하를 방지하였다.In addition, in the present invention, when the sensed values have an underflow distribution, the sensing time is increased by using a point where the voltage slope of the sensed value Vsen is small, thereby preventing compensation errors and deterioration of image quality.

도 12는 본 발명에 따른 유기발광 표시장치의 센싱 구동을 도시한 플로챠트이다.12 is a flowchart illustrating sensing driving of an organic light emitting diode display according to the present invention.

도 12를 참조하면, 본 발명의 유기발광 표시장치의 센싱 구동은, 유기발광 다이오드(OLED)의 열화 정도를 센싱하기 위한 센싱 단계에서 획득한 센싱값들을 토대로 센싱값 분포를 저장한다(S1201).Referring to FIG. 12 , in the sensing driving of the organic light emitting diode display according to the present invention, the sensing value distribution is stored based on the sensing values obtained in the sensing step for sensing the deterioration degree of the organic light emitting diode (OLED) (S1201).

그런 다음, 상기 저장된 센싱값 분포가 미리 설정된 센싱 전압범위의 상한값 영역에 위치하는 오버플로우 분포인가 하한값 영역에 위치하는 언더플로우 분포인가를 판단한다(S1202). 이때, 오버플로우 분포인가 언더플로우 분포인가는 상기 저장된 센싱값 분포의 중심을 기준으로 상한값과 하한값의 센싱값을 취한 후, 이의 평균값이 미리 설정된 센싱 전압범위의 중앙값보다 높으면 오버플로우 분포로 판단하고, 낮으면 언더플로우 분포로 판단할 수 있다.Then, it is determined whether the stored sensing value distribution is an overflow distribution located in an upper limit region of a preset sensing voltage range or an underflow distribution located in a lower limit value region (S1202). At this time, whether the overflow distribution or the underflow distribution is an overflow distribution if the average value is higher than the median value of the preset sensing voltage range after taking the sensing value of the upper limit value and the lower limit value based on the center of the stored sensing value distribution, If it is low, it can be judged as an underflow distribution.

또한, 상기 저장된 센싱값 분포의 상한값이 미리 설정된 센싱 전압범위의 상한값 보다 크면 오버플로우 분포로 판단하고, 상기 저장된 센싱값 분포의 하한값이 미리 설정된 센싱 전압범위의 하한값 보다 작으면 언더플로우 분포로 판단할 수 있다.In addition, if the upper limit of the stored sensing value distribution is greater than the upper limit of the preset sensing voltage range, it is determined as an overflow distribution, and if the lower limit of the stored sensing value distribution is smaller than the lower limit of the preset sensing voltage range, it is determined as an underflow distribution. can

상기의 판단기준에 따라 저장된 센싱값 분포가 오버플로우 분포로 판단된 경우, 센싱 시간을 감소시켜 센싱 구동을 진행한다(S1203). 하지만, 언더플로우 분포로 판단되면 센싱 시간을 증가시켜 센싱 구동을 진행한다(S1204). 여기서, 센싱 시간의 증감은 저장된 센싱값 분포를 획득하기 위한 센싱 시간을 기준으로 오버플로우 분포인 경우에는 센싱 시간을 감소시키고 언더플로우 분포인 경우에는 센싱 시간을 증가시키는 것을 의미한다.When the stored sensing value distribution is determined to be an overflow distribution according to the above determination criteria, the sensing operation is performed by reducing the sensing time (S1203). However, if it is determined as the underflow distribution, the sensing operation is performed by increasing the sensing time (S1204). Here, the increase/decrease in the sensing time means decreasing the sensing time in the case of the overflow distribution and increasing the sensing time in the case of the underflow distribution based on the sensing time for obtaining the stored sensing value distribution.

상기와 같이, 센싱 시간이 조절되어, 센싱값이 획득되면, 이를 토대로 데이터 보상을 진행한다(S1205).As described above, when the sensing time is adjusted and a sensing value is obtained, data compensation is performed based on this (S1205).

이와 같이, 본 발명에 따른 유기발광 표시장치 및 그 구동방법은, 센싱값들의 분포가 센싱 전압범위의 상한값을 초과(Overflow) 하거나 하한값 아래(Underflow)에 위치하는 경우에 따라 센싱 단계에서 센싱 시간을 조절함으로써, 센싱값에 의한 데이터 보상 오류 및 화면 품질 저하를 방지한 효과가 있다.As described above, in the organic light emitting display device and the driving method thereof according to the present invention, the sensing time is reduced in the sensing step depending on the case where the distribution of the sensing values exceeds the upper limit of the sensing voltage range or is located below the lower limit of the sensing voltage range. By adjusting, there is an effect of preventing data compensation errors and screen quality deterioration due to the sensed value.

이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description and the accompanying drawings are merely illustrative of the technical idea of the present invention, and those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains may combine the configuration within a range that does not depart from the essential characteristics of the present invention. , various modifications and variations such as separation, substitution and alteration will be possible. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical spirit of the present invention, but to illustrate, and the scope of the technical spirit of the present invention is not limited by these embodiments. The protection scope of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be construed as being included in the scope of the present invention.

100: 유기발광 표시장치
110: 표시패널
120: 데이터 구동부
130: 게이트 구동부
140: 타이밍 컨트롤러
500: 센싱시간 조절부100: organic light emitting display device
110: display panel
120: data driving unit
130: gate driver
140: timing controller
500: sensing time control unit

Claims (10)

유기발광 다이오드, 상기 유기발광 다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 각각 갖는 다수의 서브픽셀들을 포함하는 표시패널;
상기 표시패널에 스캔 신호를 공급하는 게이트 구동부;
상기 표시패널에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부; 및
상기 게이트 구동부와 데이터 구동부를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하고,
유기발광 다이오드의 열화 정도를 센싱하기 위한 센싱 구동에서 획득한 센싱값들을 토대로 센싱값 분포를 저장하는 저장부와,
상기 저장된 센싱값 분포가 미리 설정된 센싱 전압범위의 상한값 영역에 위치하는 오버플로우 분포인가 하한값 영역에 위치하는 언더플로우 분포인가를 판단하는 판단부와,
상기 저장된 센싱값 분포가 오버플로우 분포인 경우와 언더플로우 분포인 경우에 따라 센싱 시간을 조절하는 제어부를 포함하며,
상기 구동 트랜지스터는 구동전압을 공급하는 구동전압 라인과 상기 유기발광 다이오드의 제1전극 사이에 전기적으로 연결되고,
상기 다수의 서브픽셀들 각각은,
스캔 신호에 의해 제어되고, 상기 구동 트랜지스터의 제1 노드에 데이터 전압을 전달해주기 위해 구성되는 스위칭 트랜지스터; 및
센스 신호에 의해 제어되고, 상기 구동 트랜지스터의 제2 노드에 초기화 전압을 전달해주기 위해 구성되는 센싱 트랜지스터를 더 포함하고,
상기 센싱 구동 기간은,
상기 스위칭 트랜지스터에 턴-오프 전압 레벨의 스캔 신호가 인가되고, 상기 센싱 트랜지스터에 턴-온 전압 레벨의 센스 신호가 인가되는 센싱 구간을 포함하며,
상기 제어부는 상기 저장된 센싱값 분포가 오버플로우인 경우와 언더플로우인 경우에 따라 상기 센싱 구간 동안 상기 턴-오프 전압 레벨의 스캔 신호가 인가되는 기간과 상기 턴-온 전압 레벨의 센스 신호가 인가되는 기간을 조절하는 유기발광 표시장치.a display panel including an organic light emitting diode and a plurality of sub-pixels each having a driving transistor for driving the organic light emitting diode;
a gate driver supplying a scan signal to the display panel;
a data driver supplying a data voltage to the display panel; and
a timing controller for controlling the gate driver and the data driver;
a storage unit for storing a distribution of sensing values based on sensing values obtained in sensing driving for sensing the degree of deterioration of the organic light emitting diode;
a determination unit for determining whether the stored sensing value distribution is an overflow distribution located in an upper limit value region of a preset sensing voltage range or an underflow distribution located in a lower limit value region;
A control unit for adjusting the sensing time according to the case in which the stored sensing value distribution is an overflow distribution and an underflow distribution,
The driving transistor is electrically connected between a driving voltage line for supplying a driving voltage and a first electrode of the organic light emitting diode,
Each of the plurality of sub-pixels,
a switching transistor controlled by a scan signal and configured to transfer a data voltage to a first node of the driving transistor; and
Further comprising a sensing transistor controlled by a sense signal and configured to transmit an initialization voltage to a second node of the driving transistor,
The sensing driving period is,
a sensing section in which a scan signal of a turn-off voltage level is applied to the switching transistor and a sense signal of a turn-on voltage level is applied to the sensing transistor,
The control unit is configured to include a period during which the scan signal of the turn-off voltage level is applied and a sense signal of the turn-on voltage level during the sensing period according to cases in which the stored sensing value distribution is overflow and underflow. An organic light emitting display device that controls the period. 제1항에 있어서,
상기 제어부는 상기 저장된 센싱값 분포가 오버플로우 분포인 경우에는 센싱 시간을 감소시키는 유기발광 표시장치.According to claim 1,
The control unit decreases the sensing time when the stored sensing value distribution is an overflow distribution. 제1항에 있어서,
상기 제어부는 상기 저장된 센싱값 분포가 언더플로우 분포인 경우에는 센싱 시간을 증가시키는 유기발광 표시장치.According to claim 1,
The control unit increases the sensing time when the stored sensing value distribution is an underflow distribution. 제1항에 있어서,
상기 판단부는 상기 저장된 센싱값 분포의 중심을 기준으로 상한값과 하한값의 센싱값을 취한 후, 이의 평균값이 미리 설정된 센싱 전압범위의 중앙값보다 높으면 오버플로우 분포로 판단하고, 낮으면 언더플로우 분포로 판단하는 유기발광 표시장치.According to claim 1,
The determination unit takes the sensing value of the upper limit value and the lower limit value based on the center of the stored sensing value distribution, and if the average value thereof is higher than the median value of the preset sensing voltage range, it is determined as an overflow distribution, and when it is lower, it is determined as an underflow distribution organic light emitting display device. 제1항에 있어서,
상기 판단부는 상기 저장된 센싱값 분포의 상한값이 미리 설정된 센싱 전압범위의 상한값 보다 크면 오버플로우 분포로 판단하고, 상기 저장된 센싱값 분포의 하한값이 미리 설정된 센싱 전압범위의 하한값 보다 작으면 언더플로우 분포로 판단하는 유기발광 표시장치.According to claim 1,
If the upper limit of the stored sensing value distribution is greater than the upper limit of the preset sensing voltage range, the determination unit determines the overflow distribution, and when the lower limit of the stored sensing value distribution is smaller than the lower limit of the preset sensing voltage range, it is determined as an underflow distribution. organic light emitting display device. 유기발광 다이오드, 상기 유기발광 다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 각각 갖는 다수의 서브픽셀들을 포함하는 표시패널;
상기 표시패널에 스캔 신호를 공급하는 게이트 구동부;
상기 표시패널에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부; 및
상기 게이트 구동부와 데이터 구동부를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하고,
유기발광 다이오드의 열화 정도를 센싱하기 위한 센싱 구동에서 획득한 센싱값들을 토대로 센싱값 분포를 저장하는 단계와,
상기 저장된 센싱값 분포가 미리 설정된 센싱 전압범위의 상한값 영역에 위치하는 오버플로우 분포인가 하한값 영역에 위치하는 언더플로우 분포인가를 판단하는 단계와,
상기 저장된 센싱값 분포가 오버플로우 분포인 경우와 언더플로우 분포인 경우에 따라 센싱 시간을 조절하는 단계를 포함하며,
상기 구동 트랜지스터는 구동전압을 공급하는 구동전압 라인과 상기 유기발광 다이오드의 제1전극 사이에 전기적으로 연결되고,
상기 다수의 서브픽셀들 각각은,
스캔 신호에 의해 제어되고, 상기 구동 트랜지스터의 제1 노드에 데이터 전압을 전달해주기 위해 구성되는 스위칭 트랜지스터; 및
센스 신호에 의해 제어되고, 상기 구동 트랜지스터의 제2 노드에 초기화 전압을 전달해주기 위해 구성되는 센싱 트랜지스터를 더 포함하고,
상기 센싱 구동 기간은,
상기 스위칭 트랜지스터에 턴-오프 전압 레벨의 스캔 신호가 인가되고, 상기 센싱 트랜지스터에 턴-온 전압 레벨의 센스 신호가 인가되는 센싱 구간을 포함하며,
상기 저장된 센싱값 분포가 오버플로우인 경우와 언더플로우인 경우에 따라 상기 센싱 구간 동안 상기 턴-오프 전압 레벨의 스캔 신호가 인가되는 기간과 상기 턴-온 전압 레벨의 센스 신호가 인가되는 기간을 조절하는 유기발광 표시장치 구동방법.a display panel including an organic light emitting diode and a plurality of sub-pixels each having a driving transistor for driving the organic light emitting diode;
a gate driver supplying a scan signal to the display panel;
a data driver supplying a data voltage to the display panel; and
a timing controller for controlling the gate driver and the data driver;
Storing a sensing value distribution based on sensing values obtained in sensing driving for sensing the degree of deterioration of the organic light emitting diode;
determining whether the stored sensing value distribution is an overflow distribution located in an upper limit value region of a preset sensing voltage range or an underflow distribution located in a lower limit value region;
Comprising the step of adjusting the sensing time according to the case in which the stored sensing value distribution is an overflow distribution and an underflow distribution,
The driving transistor is electrically connected between a driving voltage line for supplying a driving voltage and a first electrode of the organic light emitting diode,
Each of the plurality of sub-pixels,
a switching transistor controlled by a scan signal and configured to transfer a data voltage to a first node of the driving transistor; and
Further comprising a sensing transistor controlled by a sense signal and configured to transmit an initialization voltage to a second node of the driving transistor,
The sensing driving period is,
a sensing section in which a scan signal of a turn-off voltage level is applied to the switching transistor and a sense signal of a turn-on voltage level is applied to the sensing transistor,
The period during which the scan signal of the turn-off voltage level is applied and the period during which the sense signal of the turn-on voltage level is applied during the sensing period are adjusted according to the case where the stored sensing value distribution is overflow and underflow. A method of driving an organic light emitting display device. 제6항에 있어서,
상기 저장된 센싱값 분포가 오버플로우 분포인 경우에는 센싱 시간을 감소시키는 유기발광 표시장치 구동방법.7. The method of claim 6,
A method of driving an organic light emitting display device for reducing a sensing time when the stored sensing value distribution is an overflow distribution. 제6항에 있어서,
상기 저장된 센싱값 분포가 언더플로우 분포인 경우에는 센싱 시간을 증가시키는 유기발광 표시장치 구동방법.7. The method of claim 6,
An organic light emitting display driving method for increasing a sensing time when the stored sensing value distribution is an underflow distribution. 제6항에 있어서,
상기 저장된 센싱값 분포의 중심을 기준으로 상한값과 하한값의 센싱값을 취한 후, 이의 평균값이 미리 설정된 센싱 전압범위의 중앙값보다 높으면 오버플로우 분포로 판단하고, 낮으면 언더플로우 분포로 판단하는 유기발광 표시장치 구동방법.7. The method of claim 6,
After taking the sensing values of the upper and lower limit values based on the center of the stored sensing value distribution, if the average value thereof is higher than the median value of the preset sensing voltage range, it is determined as an overflow distribution, and when it is lower, the organic light emitting display is determined as an underflow distribution How to drive the device. 제6항에 있어서,
상기 저장된 센싱값 분포의 상한값이 미리 설정된 센싱 전압범위의 상한값 보다 크면 오버플로우 분포로 판단하고, 상기 저장된 센싱값 분포의 하한값이 미리 설정된 센싱 전압범위의 하한값 보다 작으면 언더플로우 분포로 판단하는 유기발광 표시장치 구동방법.7. The method of claim 6,
If the upper limit of the stored sensing value distribution is greater than the upper limit of the preset sensing voltage range, it is determined as an overflow distribution, and when the lower limit of the stored sensing value distribution is smaller than the lower limit of the preset sensing voltage range, organic light emitting is determined as an underflow distribution. Display device driving method.
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