KR102397802B1 - 자각식 검안 장치 및 자각식 검안 프로그램 - Google Patents

Abstract

(과제) 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 양호한 정밀도로 측정한다.
(해결 수단) 시표 광속을 피검안을 향하여 투영하는 투광 광학계의 광로 중에 배치되고, 시표 광속의 광학 특성을 변화시키는 교정 광학계를 갖고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정 수단을 구비하고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 검안 장치로서, 피검안의 안저에 측정광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 측정 광학계를 갖고, 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 타각식 측정 수단과, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 제어 수단을 구비한다.

Description

자각식 검안 장치 및 자각식 검안 프로그램{SUBJECTIVE OPTOMETRIC APPARATUS AND SUBJECTIVE OPTOMETRIC PROGRAM}

본 개시는, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 검안 장치 및 자각식 검안 프로그램에 관한 것이다.

종래, 자각식 검안 장치로는, 예를 들어, 굴절도의 교정이 가능한 교정 광학계를 피검사자의 눈앞에 개별적으로 배치하고, 교정 광학계를 개재하여 검사 시표를 피검안의 안저에 투광하는 것이 알려져 있다 (특허문헌 1 참조). 검사자는, 피검사자의 응답을 받아 그 시표가 피검사자에게 적정하게 보일 때까지 교정 광학계의 조절을 실시하여 교정값을 구하고, 이 교정값에 기초하여 피검안의 굴절력을 측정한다. 또, 예를 들어, 자각식 검안 장치로는, 교정 광학계를 통한 검사 시표가 이미지를 피검사자의 눈앞에 형성하고, 교정 광학계를 눈앞에 배치하지 않고, 피검안의 굴절력을 측정하는 것이 알려져 있다 (특허문헌 2).

일본 공개특허공보 평5-176893호 미국 특허공보 제3874774호

그런데, 자각식 검안 장치에 있어서, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 피검안의 조절 기능이 작용하는 등의 원인에 의해, 피검안의 광학 특성이 변화하는 경우가 있다. 이와 같은 광학 특성이 변화한 상태에서, 자각적인 측정을 실시한 경우, 피검안의 광학 특성을 양호한 정밀도로 측정하는 것은 곤란하였다.

본 개시는, 상기 문제점을 감안하여, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 양호한 정밀도로 측정할 수 있는 자각식 검안 장치를 제공하는 것을 기술 과제로 한다.

상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명은 이하와 같은 구성을 구비하는 것을 특징으로 한다.

(1) 본 발명에 따른 자각식 검안 장치는,

시표 광속을 피검안을 향하여 투영하는 투광 광학계의 광로 중에 배치되고, 상기 시표 광속의 광학 특성을 변화시키는 교정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정 수단을 구비하고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 검안 장치로서,

피검안의 안저에 측정광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 측정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 타각식 측정 수단과,

상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 제어 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

(2) (1) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 제어 수단은, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 1 광학 특성을 취득함과 함께, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 2 광학 특성을 취득하고,

상기 제 1 광학 특성 및 상기 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득하는 취득 수단과,

상기 조절 정보를 출력하는 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

(3) (2) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 제어 수단은, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하기 이전에, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고, 상기 제 1 광학 특성을 취득하는 것을 특징으로 한다.

(4) (2) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 취득 수단은, 상기 제 1 광학 특성과 상기 제 2 광학 특성을 차분 처리함으로써, 상기 조절 정보를 취득하는 것을 특징으로 한다.

(5) (2) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 발생하는 상기 피검안의 조절 상태 변화를 보정하기 위한 보정량을 상기 조절 정보에 기초하여 설정하는 설정 수단과,

상기 설정 수단에 의해 설정된 상기 보정량에 기초하여, 상기 자각식 측정 수단에서 발생하는 상기 피검안의 상기 조절 상태 변화를 캔슬하는 보정을 실시하는 제 1 보정 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

(6) (5) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 교정 광학계는, 상기 제 1 보정 수단을 겸용하는 것을 특징으로 한다.

(7) (1) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 타각식 측정 수단은, 좌우 한 쌍으로 형성된 우피검안용 측정 광학계와 좌피검안용 측정 광학계를 갖는 것을 특징으로 한다.

(8) 본 발명에 따른 자각식 검안 장치는,

시표 광속을 피검안을 향하여 투영하는 투광 광학계의 광로 중으로서, 상기 시표 광속의 광학 특성을 변화시키는 교정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정 수단을 구비하고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 검안 장치로서,

피검안의 안저에 측정광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 측정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 타각식 측정 수단과,

상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 1 광학 특성을 취득함과 함께, 상기 제 1 광학 특성을 취득한 타이밍과는 상이한 타이밍으로, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 2 광학 특성을 취득하는 제어 수단과,

상기 제 1 광학 특성 및 상기 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득하는 취득 수단과,

상기 조절 정보를 출력하는 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

(9) (1) 또는 (8) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 교정 광학계가 상기 측정 광학계의 광로 중에 배치되고,

상기 교정 광학계에 의한 교정 정보에 기초하여, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안을 타각적으로 측정하여 얻어진 측정 결과를 보정하는 제 2 보정 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

(10) 본 발명에 따른 매체에 저장된 자각식 검안 프로그램은,

시표 광속을 피검안을 향하여 투영하는 투광 광학계와, 상기 투광 광학계의 광로 중으로서, 상기 시표 광속의 광학 특성을 변화시키는 교정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정 수단과, 피검안의 안저에 측정광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 측정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 타각식 측정 수단을 구비하고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 검안 장치에서 사용되는 매체에 저장된 자각식 검안 프로그램으로서,

상기 자각식 검안 장치의 프로세서에 의해 실행됨으로써,

상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 제어 스텝을 상기 자각식 검안 장치에 실행시키는 것을 특징으로 한다.

(11) (1) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 제어 수단은, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 개시한 후, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 상기 피검안의 광학 특성을 취득하고,

상기 제어 수단에 의해 타각적으로 측정된 상기 피검안의 광학 특성을, 상기 자각 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때의 상기 교정 광학계의 초기값으로서 설정하는 초기값 설정 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

(12) (11) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 초기값 설정 수단은, 상기 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 상기 피검안의 광학 특성을, 상기 타각식 측정 수단에 의한 타각적인 측정을 개시하기 전에 상기 자각식 측정 수단에 의해 실시되고 있었던 상기 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정에 있어서의 상기 교정 광학계의 초기값으로서 설정하는 것을 특징으로 한다.

(13) (11) 의 자각식 검안 장치에 있어서,

상기 제어 수단은, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 1 자각식 측정을 실행한 후, 재차, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 2 자각식 측정을 실행하는 제어 수단으로서, 상기 제 1 자각식 측정을 개시한 후, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고,

상기 초기값 설정 수단은, 상기 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 상기 피검안의 광학 특성을, 상기 제 2 자각식 측정의 초기값으로서 설정하는 것을 특징으로 한다.

도 1 은, 자각식 검안 장치의 외관도이다.
도 2 는, 측정 수단의 구성에 대해 설명하는 도면이다.
도 3 은, 자각식 검안 장치의 내부를 정면 방향에서 본 개략 구성도이다.
도 4 는, 자각식 검안 장치의 내부를 측면 방향에서 본 개략 구성도이다.
도 5 는, 자각식 검안 장치의 내부를 상면 방향에서 본 개략 구성도이다.
도 6 은, 제어 동작의 흐름에 대해 설명하는 플로 차트이다.
도 7 은, 초기값 설정의 제어 동작의 흐름에 대해 설명하는 플로 차트이다.

이하, 전형적인 실시형태 중 하나에 대해, 도면을 참조하여 설명한다. 도 1 ∼ 도 7 은, 본 실시형태에 관련된 자각식 검안 장치 및 자각식 검안 프로그램에 대해 설명하기 위한 도면이다. 또한, 이하의 설명에 있어서는, 자각식 검안 장치를 예로 들어 설명한다. 또한, 이하의 ＜＞ 로 분류된 항목은, 독립 또는 관련시켜 이용될 수 있다.

또한, 본 개시에 있어서는, 본 실시형태에 기재한 장치에 한정되지 않는다. 예를 들어, 하기 실시형태의 기능을 실시하는 단말 제어 소프트웨어 (프로그램) 을 네트워크 또는 각종 기억 매체 등을 통하여, 시스템 혹은 장치에 공급한다. 그리고, 시스템 혹은 장치의 제어 장치 (예를 들어, CPU 등) 가 프로그램을 판독 출력하고, 실행할 수도 있다.

또한, 이하의 설명에 있어서는, 자각식 검안 장치의 안길이 방향 (피검사자의 측정시의 피검사자의 전후 방향) 을 Z 방향, 안길이 방향에 수직 (피검사자의 측정시의 피검사자의 좌우 방향) 인 평면 상의 수평 방향을 X 방향, 연직 방향 (피검사자의 측정시의 피검사자의 상하 방향) 을 Y 방향으로 하여 설명한다. 또한, 이하 부호에 부여되는 R, L 는 각각 우안용, 좌안용을 나타내는 것으로 한다.

＜개요＞

예를 들어, 본 실시형태에 있어서의 자각식 검안 장치 (예를 들어, 자각식 검안 장치 (1)) 는, 자각식 측정 수단을 구비한다. 또, 예를 들어, 자각식 검안 장치는 타각식 측정 수단을 구비한다. 또, 예를 들어, 제어 수단 (예를 들어, 제어부 (70)) 을 구비한다.

＜자각식 측정 수단＞

예를 들어, 자각식 측정 수단은, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정한다. 예를 들어, 자각적으로 측정되는 피검안의 광학 특성으로는, 안굴절력 (예를 들어, 구면 도수, 난시 도수, 난시축 각도 등), 콘트라스트 감도, 양안시 기능 (예를 들어, 사위량, 입체시 기능 등) 등을 들 수 있다.

예를 들어, 자각식 측정 수단은, 투광 광학계 (예를 들어, 투광 광학계 (30)) 를 구비한다. 또, 예를 들어, 투광 광학계는, 시표 광속 (光束) 을 피검안을 향하여 투영한다. 또, 예를 들어, 자각식 측정 수단은, 교정 광학계 (예를 들어, 교정 광학계 (60), 자각식 측정 광학계 (25)) 를 구비한다. 예를 들어, 교정 광학계는, 투광 광학계의 광로 중에 배치되고, 시표 광속의 광학 특성을 변화시킨다. 또한, 투광 광학계에 대해서는, 자각식 측정 수단에 있어서, 일체적으로 형성되어 있을 필요는 없고, 별도로 투광 광학계를 구비하는 장치가 형성되는 구성이어도 된다. 즉, 본 실시형태에 있어서의 자각식 측정 수단으로는, 적어도 교정 광학계를 구비하는 구성이어도 된다.

＜투광 광학계＞

예를 들어, 투광 광학계는, 시표 광속을 투영하는 광원을 갖는다. 또, 예를 들어, 투광 광학계는, 시표 광속을 투영하는 광원으로부터 투영된 시표 광속을 피검안을 향하여 도광하는 적어도 1 개 이상의 광학 부재 등을 가져도 된다.

예를 들어, 시표 광속을 투영하는 광원으로는, 디스플레이 (예를 들어, 디스플레이 (31)) 를 사용하는 구성이어도 된다. 예를 들어, 디스플레이로는, LCD (Liquid Crystal Display) 나 유기 EL (Electro Luminescence) 등이 사용된다. 예를 들어, 디스플레이에는, 랜돌트 환 시표 등의 검사 시표 등이 표시된다.

예를 들어, 시표 광속을 투영하는 광원으로는, 광원과 DMD (Digital Micromirror Device) 를 사용해도 된다. 일반적으로 DMD 는 반사율이 높고, 밝다. 그 때문에, 편광을 사용하는 액정 디스플레이를 사용한 경우와 비교하여, 시표 광속의 광량을 유지할 수 있다.

예를 들어, 시표 광속을 투영하는 광원으로는, 시표 정시 (呈示) 용 가시광원과 시표판을 갖는 구성이어도 된다. 이 경우, 예를 들어, 시표판은, 회전 가능한 디스크판이며, 복수의 시표를 갖는다. 복수의 시표는, 예를 들어, 자각 측정시에 사용되는 시력 검사용 시표 등을 포함하고 있다. 예를 들어, 시력 검사용 시표는, 시력값마다의 시표 (시력값 0.1, 0.3, …, 1.5) 가 준비되어 있다. 예를 들어, 시표판은 모터 등에 의해 회전되고, 시표는, 피검안에 시표 광속이 도광되는 광로 상에서 전환하여 배치된다. 물론, 시표 광속을 투영하는 광원으로는, 상기 구성 이외의 광원을 사용해도 된다.

＜교정 광학계＞

예를 들어, 교정 광학계는, 시표 광속의 광학 특성 (예를 들어, 구면 도수, 원주 (圓柱) 도수, 원주축, 편광 특성, 및 수차량 등의 적어도 어느 것) 을 변경하는 구성이면 된다. 예를 들어, 시표 광속의 광학 특성을 변경하는 구성으로서, 광학 소자를 제어하는 구성이어도 된다. 예를 들어, 광학 소자로는, 구면 렌즈, 원주 (圓柱) 렌즈, 크로스 실린더 렌즈, 로터리 프리즘, 파면 변조 소자 등의 적어도 어느 것을 사용하는 구성이어도 된다. 물론, 예를 들어, 광학 소자로는, 상기 기재된 광학 소자와는 상이한 광학 소자를 사용하도록 해도 된다.

예를 들어, 교정 광학계는, 피검사자의 눈에 대한 시표의 정시 위치 (정시 거리) 가 광학적으로 바뀜으로써, 피검안의 구면 도수가 교정되는 구성이어도 된다. 이 경우, 예를 들어, 시표의 정시 위치 (정시 거리) 가 광학적으로 변경되는 구성으로는, 광원 (예를 들어, 디스플레이) 을 광축 방향으로 이동시키는 구성이어도 된다. 또, 이 경우, 예를 들어, 광로 중에 배치된 광학 소자 (예를 들어, 구면 렌즈) 를 광축 방향으로 이동시키는 구성이어도 된다. 물론, 교정 광학계는, 광학 소자를 제어하는 구성과 광로 중에 배치된 광학 소자를 광축 방향으로 이동시키는 구성을 조합한 구성이어도 된다.

예를 들어, 교정 광학계로는, 피검안의 눈앞에 배치되는 광학 소자를 전환하여 배치하는 검안 유닛 (포롭터) 이어도 된다. 예를 들어, 검안 유닛은, 복수의 광학 소자가 동일 원주 (圓周) 상에 배치된 렌즈 디스크와, 렌즈 디스크를 회전시키기 위한 구동 수단을 갖고, 구동 수단 (예를 들어, 모터) 의 구동에 의해 광학 소자를 전기적으로 전환하는 구성이어도 된다.

예를 들어, 교정 광학계로는, 투광 광학계로부터 시표 광속을 피검안을 향하여 도광하기 위한 광학 부재와, 시표 정시 수단 사이에 광학 소자를 배치하여, 광학 소자를 제어함으로써, 시표 광속의 광학 특성을 변경하는 구성이어도 된다. 즉, 교정 수단으로는, 팬텀 렌즈 굴절계 (팬텀 교정 광학계) 의 구성이어도 된다. 이 경우, 예를 들어, 교정 광학계에 의해 교정된 시표 광속이 광학 부재를 개재하여 피검안에 도광된다.

＜타각식 측정 수단＞

예를 들어, 본 실시형태에 있어서의 자각식 검안 장치는, 타각식 측정 수단을 구비한다. 예를 들어, 타각식 측정 수단은, 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정한다. 예를 들어, 타각적으로 측정되는 피검안의 광학 특성으로는, 안굴절력 (예를 들어, 구면 도수, 난시 도수, 난시축 각도 등), 편광 특성, 수정체의 두께 정보 등을 들 수 있다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 피검안의 안굴절력을 측정하는 타각식 측정 수단을 예로 들어 설명한다. 또한, 예를 들어, 타각식 측정 수단은, 피검안의 안저에 측정광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 측정 광학계 (예를 들어, 타각식 측정 광학계 (10)) 를 구비한다. 예를 들어, 타각적으로 측정되는 피검안의 광학 특성으로는, 타각식 측정 수단에 의해 촬상된 촬상 결과 (촬상 화상) 및 촬상 결과를 해석 처리함으로써 취득되는 파라미터의 적어도 어느 것이어도 된다. 즉, 타각적으로 측정되는 피검안의 광학 특성으로는, 타각식 측정 수단에 의해 촬상되는 촬상 결과에 기초하는 것이면 된다.

예를 들어, 타각식 측정 수단은, 좌우 한 쌍으로 형성된 우피검안용 측정 광학계와 좌피검안용 측정 광학계를 갖도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 우피검안용 측정 광학계와 좌피검안용 측정 광학계 좌우의 측정을 대략 동시에 실행하도록 해도 된다. 또, 이 경우, 예를 들어, 우피검안용 측정 광학계와 좌피검안용 측정 광학계 좌우의 측정을 상이한 타이밍으로 실시하도록 해도 된다. 예를 들어, 상이한 타이밍은, 우피검안용 측정 광학계와 좌피검안용 측정 광학계의 일방의 측정 광학계의 측정이 완료된 타이밍이어도 된다. 또, 예를 들어, 상이한 타이밍은, 우피검안용 측정 광학계와 좌피검안용 측정 광학계의 일방의 측정 광학계의 측정을 실시하고 있는 동안이어도 된다.

또, 예를 들어, 타각식 측정 수단은, 1 개의 측정 광학계에 의해, 좌우피검안의 측정이 실시되도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 일방의 피검안의 안저에 측정광을 출사하여 피검안의 측정을 실시함과 함께, 일방의 피검안의 측정이 완료된 경우, 타방의 피검안의 안저에 측정광을 출사할 수 있도록 조정을 실시하여, 타방의 피검안의 측정을 실시하는 구성으로 해도 된다.

＜측정 광학계＞

예를 들어, 측정 광학계는, 피검사자의 눈의 안저를 향하여 광원으로부터 측정광을 투광하는 투광 광학계와, 측정광의 안저에서의 반사에 의해 취득되는 반사광을 촬상 소자로 촬상하는 촬상 광학계를 갖는다. 예를 들어, 측정 광학계는, 피검안의 안굴절력을 측정하는 광학계여도 된다. 이 경우, 예를 들어, 측정 광학계로는, 피검안의 동공 중심부를 개재하여 피검안의 안저에 스폿상의 측정 지표를 투영하고, 안저로부터 반사된 안저 반사광을 동공 주변부를 개재시켜 링상으로 취출하고, 촬상 소자에 링상의 안저 반사 이미지를 촬상시키는 구성을 들 수 있다. 또, 이 경우, 예를 들어, 측정 광학계로는, 동공 주변부로부터 안저에 링상의 측정 지표를 투영하고, 동공 중심부로부터 안저 반사광을 취출하고, 촬상 소자에 링상의 안저 반사 이미지를 촬상시키는 구성을 들 수 있다. 또, 이 경우, 예를 들어, 측정 광학계는, 샤크 하트만 센서를 구비한 구성이어도 된다. 또, 이 경우, 예를 들어, 측정 광학계는, 피검안에 슬릿을 투영하는 위상차 방식을 갖는 구성이어도 된다.

＜자각적 측정 동안에 있어서의 타각적 측정 결과의 취득＞

본 실시형태에 있어서, 예를 들어, 제어 수단은, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정한다. 또한, 예를 들어, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정할 때에는, 자각식 측정 수단에 의한 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 계속해도 된다. 또, 예를 들어, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정할 때에는, 자각식 측정 수단에 의한 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 일시적으로 정지시키도록 해도 된다. 이 경우, 타각식 측정 수단에 의해 타각 측정이 완료된 경우, 자각식 측정 수단에 의한 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 재개하도록 해도 된다.

예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 구성을 구비함으로써, 타각적인 측정 결과로부터 자각식의 측정 동안에 있어서의 피검안의 광학 특성의 변화를 파악할 수 있다. 이로써, 검사자는, 자각식의 측정 동안에 있어서의 피검안의 광학 특성의 변화를 고려한 자각적인 측정을 실시할 수 있다. 이 때문에, 검사자는, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 양호한 정밀도로 측정할 수 있다.

예를 들어, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 경우로는, 제어 수단은, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정해도 된다.

예를 들어, 적어도 1 개 이상의 자각 검사란, 1 개의 자각 검사를 실시하고 있는 경우, 복수의 자각 검사를 실시하고 있는 경우를 포함한다. 또한, 예를 들어, 1 개의 자각 검사는, 피검안의 적어도 1 개의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 검사여도 된다.

예를 들어, 1 개의 자각 검사를 실시하고 있는 경우, 제어 수단이, 자각식 측정 수단에 의해 1 개의 자각 검사를 실시하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하도록 해도 된다.

예를 들어, 복수의 자각 검사를 실시하고 있는 경우, 제어 수단은, 자각식 측정 수단에 의해 복수의 자각 검사 중의 1 개의 자각 검사를 실시하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 복수의 자각 검사를 실시하고 있는 경우, 제어 수단은, 자각식 측정 수단에 의해 제 1 자각 검사와 제 2 자각 검사의 검사 사이에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제 1 자각 검사와 제 2 자각 검사가 동일한 광학 특성을 측정하기 위한 자각 검사여도 되고, 제 1 자각 검사와 제 2 자각 검사가 상이한 광학 특성을 측정하기 위한 자각 검사여도 된다.

예를 들어, 자각식 검안 장치는, 타각식 측정 수단에 의한 타각적인 측정을 개시하기 위한 타각 측정 개시 트리거 신호를 송신하는 송신 수단과, 타각 측정 개시 트리거 신호를 수신하는 수신 수단을 구비해도 된다. 예를 들어, 송신 수단에 의해, 타각 측정 개시 트리거 신호가 송신되고, 수신 수단에 의해, 타각 측정 개시 트리거 신호가 수신되면, 제어 수단은, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정한다. 예를 들어, 타각식 측정 수단에 의한 타각적인 측정의 개시는, 수동에 의해 실시되어도 되고, 자동에 의해 실시되어도 된다.

예를 들어, 타각적인 측정의 개시를 수동으로 실시하는 구성인 경우, 타각적인 측정을 개시하기 위한 타각 측정 개시 트리거 신호를 자각식 검안 장치에 송신하는 송신 수단으로서 개시 스위치를 형성한다. 예를 들어, 검사자에 의해 개시 스위치가 선택됨으로써, 타각 측정 개시 트리거 신호가 송신된다. 예를 들어, 수신 수단에 의해 타각 측정 개시 트리거 신호가 수신되면, 제어 수단이 타각식 측정 수단에 의한 측정을 개시하도록 해도 된다. 예를 들어, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 구성으로는, 적어도 1 회의 타각적인 측정이 실시되도록 하면 된다. 즉, 예를 들어, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 구성으로는, 최소의 측정 횟수로서, 1 회의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 되고, 최대의 측정 횟수로서, 상시 (리얼 타임으로) 의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다.

예를 들어, 타각적인 측정을 1 회 실시하고자 하는 경우에는, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 검사자가 개시 스위치를 1 회 선택함으로써, 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다.

또, 예를 들어, 타각적인 측정을 복수회 실시하고자 하는 경우에는, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 검사자가 개시 스위치를 복수회 선택함으로써, 복수회의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 타각적인 측정을 복수회 실시하고자 하는 경우에는, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 검사자가 개시 스위치를 1 회 선택함으로써, 복수회의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다.

또한, 예를 들어, 1 회의 타각 측정 개시 트리거 신호가 출력됨으로써 복수회의 타각적인 측정이 실시되는 경우, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 검사자가 개시 스위치를 1 회 선택함으로써, 미리 설정된 횟수의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 1 회의 타각 측정 개시 트리거 신호가 출력됨으로써 복수회의 타각적인 측정이 실시되는 경우, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 검사자가 개시 스위치를 1 회 선택함으로써, 미리 설정된 타이밍으로 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 1 회의 타각 측정 개시 트리거 신호가 출력됨으로써 복수회의 타각적인 측정이 실시되는 경우, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 검사자가 개시 스위치를 1 회 선택함으로써, 상시 측정을 실시하여, 리얼 타임으로 타각적인 측정이 실시되어 가도록 해도 된다.

예를 들어, 타각적인 측정의 개시를 자동으로 실시하는 구성인 경우, 자각 검사가 개시된 후, 제어 수단이 송신 수단을 제어하여, 미리 설정된 타이밍으로 타각 측정 개시 트리거 신호를 송신한다. 예를 들어, 수신 수단에 의해, 타각 측정 개시 트리거 신호가 수신되면, 제어 수단이 타각식 측정 수단에 의한 측정이 개시되도록 해도 된다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 송신 수단의 제어는, 제어 수단에 의해 실시되고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 제어 수단과는 상이한 제어 수단이 별도로 형성됨으로써 실시되어도 된다.

예를 들어, 미리 설정된 타이밍으로는, 자각적인 측정의 개시시 (예를 들어, 시표 광속의 투영을 개시한 상태, 검사 프로그램을 개시한 상태, 자각식 검사 장치의 조작부의 조작을 개시한 상태, 교정 광학계의 구동을 개시한 상태 등), 미리 설정된 시간의 경과시 (예를 들어, 자각적인 측정의 개시부터 소정 시간 경과시 등), 검사 시표의 전환시, 자각 검사와 자각 검사 사이 (복수의 자각 검사를 실시하는 경우), 피검사자가 자각 검사에 있어서의 회답을 하였을 때 (검사자가 피검사자 회답에 기초하는 조작을 실시하였을 때) 등의 적어도 어느 것이어도 된다. 물론, 상기 기재 이외의 타이밍으로, 타각 측정 개시 트리거 신호가 출력되도록 해도 된다.

예를 들어, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 구성으로는, 적어도 1 회의 타각적인 측정이 실시되도록 하면 된다. 즉, 예를 들어, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 구성으로는, 최소의 측정 횟수로서, 1 회의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 되고, 최대의 측정 횟수로서, 상시 (리얼 타임으로) 의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다.

예를 들어, 타각적인 측정을 1 회 실시하고자 하는 경우에는, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 미리 설정된 타이밍으로 타각 측정 개시 트리거가 출력되도록 하고, 타각식 측정 수단에 의한 측정이 개시되도록 해도 된다.

또, 예를 들어, 타각적인 측정을 복수회 실시하고자 하는 경우에는, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 미리 설정된 타이밍으로 타각 측정 개시 트리거가 출력되도록 하고, 복수회의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 복수회의 타각 측정 개시 트리거 신호가 출력됨으로써 복수회의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 1 회의 타각 측정 개시 트리거 신호가 출력됨으로써 복수회의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다.

또한, 예를 들어, 1 회의 타각 측정 개시 트리거 신호가 출력됨으로써 복수회의 타각적인 측정이 실시되는 경우, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 1 회의 타각 측정 개시 트리거가 출력됨으로써, 미리 설정된 횟수의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 1 회의 타각 측정 개시 트리거 신호가 출력됨으로써 복수회의 타각적인 측정이 실시되는 경우, 적어도 1 개 이상의 자각 검사를 하고 있는 동안에, 1 회의 타각 측정 개시 트리거가 출력됨으로써, 미리 설정된 타이밍으로 복수회의 타각적인 측정이 실시되도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 1 회의 타각 측정 개시 트리거 신호가 출력됨으로써 복수회의 타각적인 측정이 실시되는 경우, 상시 측정을 실시하여, 리얼 타임으로 타각적인 측정이 실시되어 가도록 해도 된다.

＜조절 정보 취득＞

예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 제어 수단은, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 1 광학 특성을 취득함과 함께, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 2 광학 특성을 취득한다.

예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각적 검안 장치는, 취득 수단을 구비해도 된다. 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 자각적 검안 장치는, 출력 수단을 구비해도 된다. 예를 들어, 취득 수단은, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득한다. 예를 들어, 출력 수단은, 조절 정보를 출력한다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 타각적으로 측정하여 제 1 광학 특성을 취득함과 함께, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각적으로 측정한 제 2 광학 특성을 취득한다. 취득한 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득하고, 조절 정보를 출력한다. 이와 같은 구성에 의해, 자각식의 측정 동안에 있어서의 피검안의 광학 특성의 변화를 피검안의 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보로부터 용이하게 취득할 수 있다. 이 때문에, 검사자는, 조절 정보를 사용함으로써, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 용이하게 양호한 정밀도로 측정할 수 있다.

또한, 예를 들어, 조절 정보를 취득할 때의 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성으로는, 피검안의 조절 상태의 변화에 의한 영향이 보다 발생기기 쉬운 안굴절력을 사용함으로써, 보다 광학 특성의 변화를 파악하기 쉽다. 또한, 안굴절력을 사용하는 경우에는, 적어도 구면 도수를 사용하면, 보다 광학 특성의 변화를 파악하기 쉽다. 물론, 조절 정보를 취득할 때에 안굴절력을 사용하는 경우에는, 구면 도수, 난시 도수, 및 난시축 각도의 적어도 어느 것이 사용되는 구성이어도 된다.

예를 들어, 제 1 광학 특성을 취득하는 타이밍으로는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하기 이전에 취득하도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제어 수단은, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하기 이전에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고, 제 1 광학 특성을 취득하도록 해도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하기 이전에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고 있다. 이로써, 자각식 측정 수단에 의한 자각식의 측정 전에 타각식의 측정이 실시되기 때문에, 자각식 측정 수단을 사용하고 있음으로써 발생하는 광학 특성의 변화를 억제한 상태에서, 타각식의 측정에 의한 광학 특성을 취득할 수 있다. 이 때문에, 광학 특성의 변화가 억제된 타각식의 측정에 의한 광학 특성을 취득할 수 있고, 보다 양호한 조절 정보를 취득할 수 있다.

예를 들어, 제 1 광학 특성을 취득하는 타이밍으로는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정한 후에 취득하도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제어 수단은, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정이 완료된 후, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고, 제 1 광학 특성을 취득하도록 해도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정한 후에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고 있다. 이로써, 자각식 측정 수단에 의한 자각식의 측정 후에, 타각식의 측정이 실시되기 때문에, 자각식 측정 수단을 사용하고 있음으로써 발생하는 광학 특성의 변화를 억제한 상태에서, 타각식의 측정에 의한 광학 특성을 취득할 수 있다. 이 때문에, 광학 특성의 변화가 억제된 타각식의 측정에 의한 광학 특성을 취득할 수 있고, 보다 양호한 조절 정보를 취득할 수 있다.

또한, 제 1 광학 특성을 취득하는 경우, 피검안 (E) 에 대해 운무 (雲霧) 를 가하도록 해도 된다. 예를 들어, 제 1 광학 특성을 취득하는 경우의 타각 안굴절력의 측정에 있어서는, 먼저 안굴절력의 예비 측정이 실시되고, 예비 측정의 결과에 기초하여, 피검안 (E) 에 대해 운무가 가해져도 된다. 예를 들어, 예비 측정으로는, 타각식 측정 수단에 의해 측정되는 타각 안굴절력의 측정이어도 되고, 자각식 측정 수단에 의해 측정되는 자각 안굴절력의 측정이어도 된다.

예를 들어, 운무를 가하는 경우에는, 디스플레이 (31) 가 광축 (L2) 방향으로 이동됨으로써, 피검안 (E) 에 대해 운무가 가해져도 된다. 이 경우, 예를 들어, 디스플레이 (31) 가 피검안 (E) 에 대해, 일단 핀트가 맞는 위치로 이동되어도 된다. 또, 예를 들어, 운무를 가하는 경우에는, 광학 부재 (예를 들어, 렌즈 등) 를 광로에 삽탈 (揷脫) 하도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 운무를 가하는 경우에는, 광로에 배치하는 광학 부재 (예를 들어, 렌즈 등) 를 전환하도록 해도 된다. 예를 들어, 운무가 가해진 후, 운무가 가해진 피검안에 대해, 제 1 광학 특성을 취득하기 위한 안굴절력의 본 측정이 실시되어도 된다. 이와 같이, 운무를 가함으로써, 피검안의 조절 기능을 억제할 수 있고, 조정 기능이 억제된 상태에서의 제 1 광학 특성을 취득할 수 있다.

또, 예를 들어, 제 1 광학 특성을 취득하는 타이밍으로는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 취득하도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 제 1 광학 특성을 취득함과 함께, 제 1 광학 특성을 취득한 후에 제 2 광학 특성을 취득하도록 해도 된다.

예를 들어, 조절 정보는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성을 비교할 수 있는 정보이면 된다. 예를 들어, 조절 정보로는, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성을 차분 처리함으로써 취득된 정보여도 된다. 예를 들어, 차분 처리함으로써 취득되는 조절 정보는, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성의 파라미터의 차분 결과, 및 촬상 화상의 차분 화상 등의 적어도 어느 것이어도 된다. 또한, 예를 들어, 상기 파라미터로는, 구면 도수값, 난시 도수값, 난시축 각도값 등의 적어도 어느 수치여도 된다.

예를 들어, 차분 화상으로는, 촬상 화상 사이의 화소마다의 휘도값을 차분 처리한 화상이어도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성에서 변화가 없는 경우에는, 차분 화상에 있어서의 각 화소의 휘도값이 0 이 된다 (동일한 촬상 화상이 되기 때문에, 그 차분이 0 이 된다). 또, 이 경우, 예를 들어, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성에서 변화가 있는 경우에는, 차분 화상에는, 각 촬상 화상의 휘도값이 0 이 되지 않기 때문에 화상 상에 이미지가 나타난다.

또한, 예를 들어, 차분 처리를 실시하는 경우에는, 차분 처리를 실시하기 위한 기준의 광학 특성 (기준 데이터) 으로는, 임의의 광학 특성을 설정할 수 있도록 해도 된다. 예를 들어, 차분 결과로는, 기준 데이터에 대해, 각 광학 특성이 차분 처리됨으로써, 취득되도록 해도 된다.

예를 들어, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성만을 취득한 경우에는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성의 적어도 일방을 기준 데이터로 해도 된다. 예를 들어, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성 외에 추가로 광학 특성을 취득한 경우에는, 취득된 광학 특성 중에서 임의의 광학 특성을 기준 데이터로서 설정하면 된다. 또한, 예를 들어, 광학 특성을 기준 데이터로서 설정하는 경우, 복수의 광학 특성 중에서 검사자에 의해 기준 데이터를 선택해도 된다. 또, 예를 들어, 광학 특성을 기준 데이터로서 설정하는 경우, 취득 수단에 의해, 자동적으로 기준 데이터가 설정되도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 취득 수단은, 복수의 광학 특성 중에서 광학 특성이 최소 (가장 원점측 (눈의 조절이 들어가 있지 않은 측)) 의 것을 기준 데이터로서 설정해도 된다. 또, 예를 들어, 취득 수단은, 복수의 광학 특성 중에서 광학 특성이 새롭게 취득된 기준 데이터 직전에 취득된 광학 특성을 기준 데이터로서 설정해도 된다. 또, 예를 들어, 취득 수단은, 복수의 자각 검사가 실시되고 있는 경우, 복수의 자각 검사 중에서 타각식 측정에 의해 취득된 광학 특성으로부터 임의의 광학 특성을 기준 데이터로서 설정해도 된다.

또한, 차분 결과로서, 수치, 그래프 등으로 표시하도록 해도 된다. 예를 들어, 리얼 타임으로 타각식 측정 또는 복수회의 타각식 측정을 실시하는 경우, 그것들의 차분 결과가 연속적으로 표시되도록 해도 된다. 이와 같은 구성으로 하면, 광학 특성의 변동 상태를 확인할 수 있다.

또한, 예를 들어, 차분 결과 및 차분 화상의 적어도 어느 것에 기초하여, 광학 특성의 변화의 양부를 판정하도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 판정 수단이 형성되고, 판정 수단이 차분 결과 및 촬상 화상의 형상 변화 결과 등의 적어도 어느 결과가 미리 설정된 기준을 만족하는지의 여부를 판정하고, 판정 결과를 출력하도록 해도 된다. 예를 들어, 판정 결과로서, 과(過)교정인지의 여부가 출력되도록 해도 된다.

예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 조절 정보가 비교 처리에 의해 취득됨으로써, 자각식의 측정 동안에 있어서의 피검안의 광학 특성의 변화를, 비교 처리된 조절 정보로부터 보다 용이하게 취득할 수 있다. 이 때문에, 검사자는, 조절 정보를 사용함으로써, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 보다 용이하게 양호한 정밀도로 측정할 수 있다.

예를 들어, 조절 정보로는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성이어도 된다. 이 경우, 예를 들어, 조절 정보로는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성이 나열된 정보 (예를 들어, 제 1 광학 특성이 배치된 제 1 영역, 제 1 영역과는 상이한 제 2 영역에 제 2 광학 특성이 배치된 정보) 여도 된다. 또, 이 경우, 조절 정보로는, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성을 전환하여 표시 가능한 정보여도 된다. 또, 이 경우, 예를 들어, 조절 정보로는, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성이 중첩된 정보여도 된다. 또한, 중첩된 정보란, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성 중 적어도 일부가 중첩되어 있는 정보여도 된다. 또한, 예를 들어, 조절 정보로는, 상기 정보가 병용하여 실시되는 구성으로 해도 된다.

예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각적 검안 장치는, 출력 수단을 구비해도 된다. 예를 들어, 출력 수단은, 조절 정보를 출력한다. 예를 들어, 출력 수단은, 조절 정보를 디스플레이에 표시하는 구성이어도 된다. 또, 예를 들어, 출력 수단은, 조절 정보를 인쇄하는 구성이어도 된다. 예를 들어, 출력 수단은, 조절 정보를 다른 장치 (다른 제어 수단) 을 향하여 송신하는 구성이어도 된다. 이 경우, 예를 들어, 다른 장치는, 조절 정보를 수신하고, 수신한 조절 정보에 기초하여 각종 제어가 실시되도록 해도 된다.

또한, 본 실시형태에 있어서, 제어 수단과, 취득 수단 (취득 제어 수단) 과, 출력 수단 (출력 제어 수단) 이 겸용된 구성이어도 된다. 또, 예를 들어, 제어 수단과, 취득 수단과, 출력 수단이 별도로 각각 형성되어 있는 구성이어도 된다. 물론, 상기 각 제어 수단은, 복수의 제어 수단에 의해 구성되어도 된다.

또한, 본 실시형태에 있어서는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 자각식 검안 장치를 예로 들어 설명하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 자각식 검안 장치가 조절 정보를 취득할 수 있는 구성이어도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제어 수단은, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 1 광학 특성을 취득함과 함께, 제 1 광학 특성을 취득한 타이밍과는 상이한 타이밍으로, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 2 광학 특성을 취득하도록 해도 된다. 예를 들어, 취득 수단은, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득하도록 해도 된다. 예를 들어, 출력 수단은, 조절 정보를 출력하도록 해도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 1 광학 특성을 취득함과 함께, 제 1 광학 특성을 취득한 타이밍과는 상이한 타이밍으로, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 2 광학 특성을 취득한다. 취득한 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득하고, 조절 정보를 출력한다. 이와 같은 구성에 의해, 검사자는, 자각식 검안 장치를 사용하는 경우, 피검안의 광학 특성의 변화 상태를 취득할 수 있다. 이로써, 자각식 검안 장치를 사용하여 피검안의 측정을 실시할 때에, 피검안을 양호한 정밀도로 측정할 수 있다.

＜조절 정보에 기초하는 보정 처리＞

예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각식 검안 장치는 설정 수단 (예를 들어, 제어부 (70)) 을 구비해도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각식 검안 장치는 제 1 보정 수단 (예를 들어, 제어부 (70), 교정 광학계 (60)) 을 구비해도 된다. 예를 들어, 설정 수단은, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 발생하는 피검안의 조절 상태 변화를 보정하기 위한 보정량을 조절 정보에 기초하여 설정해도 된다. 또한, 보정량으로는, 발생한 피검안의 조절 상태 변화를 캔슬할 수 있는 보정량으로 설정되는 것이 바람직하지만, 자각 검사에 지장이 나타나지 않는 정도이면, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 제 1 보정 수단은, 설정 수단에 의해 설정된 보정량에 기초하여, 자각식 측정 수단에서 발생하는 피검안의 조절 상태 변화를 캔슬하는 보정을 실시해도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 피검안의 조절 상태 변화를 보정하기 위한 보정량을 조절 정보에 기초하여 설정하고, 보정량에 기초하여, 자각식 측정 수단에서 발생하는 피검안의 조절 상태 변화를 캔슬하는 보정을 실시하고 있다. 이로써, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 피검안의 광학 특성의 변화가 발생한 경우에도, 광학 특성의 변화를 캔슬한 상태에서 측정을 실시할 수 있다. 이로써, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 용이하게 양호한 정밀도로 측정할 수 있다.

예를 들어, 보정량은, 조절 정보의 파라미터마다 미리 설정된 테이블이 작성되어도 되고, 작성된 테이블은, 메모리 (예를 들어, 메모리 (72)) 에 기억되어도 된다. 이 경우, 예를 들어, 설정 수단은, 조절 상태에 대응하는 보정량을 메모리로부터 호출하고, 설정하도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 보정량은, 조절 정보의 파라미터마다의 보정량을 도출하기 위한 연산식이 메모리에 기억되고, 연산식을 사용하여 보정량을 구해도 된다.

예를 들어, 제 1 보정 수단으로는, 교정 광학계가 제 1 보정 수단을 겸용하는 구성이어도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 교정 광학계가 제 1 보정 수단을 겸용함으로써, 복잡한 제어나, 별도로 조절 상태 변화를 캔슬하기 위한 보정 수단을 필요로 하지 않기 때문에, 간이적인 구성으로 광학 수차를 보정할 수 있다. 예를 들어, 제 1 보정 수단으로는, 별도로 전용의 보정 수단을 형성하도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제 1 보정 수단으로는, 구면 렌즈, 원주 렌즈, 크로스 실린더 렌즈, 로터리 프리즘, 파면 변조 소자 등의 적어도 어느 것을 사용하는 구성이어도 된다. 물론, 예를 들어, 제 1 보정 수단으로는, 상기 기재된 부재와는 상이한 부재를 사용하도록 해도 된다.

또한, 본 실시형태에 있어서, 제어 수단과, 설정 수단 (설정 제어 수단) 과, 제 1 보정 수단의 제어 수단이 겸용된 구성이어도 된다. 또, 예를 들어, 제어 수단과, 설정 수단과, 제 1 보정 수단의 제어 수단이 별도로 각각 형성되어 있는 구성이어도 된다. 물론, 상기 각 제어 수단은, 복수의 제어 수단에 의해 구성되어도 된다.

＜교정 광학계의 교정 정보에 기초하는 타각 측정 결과의 보정＞

또한, 본 실시형태에 있어서, 예를 들어, 자각식 검안 장치로는, 교정 광학계가 측정 광학계의 광로 중에 배치되어 있도록 구성되어 있어도 된다. 물론, 자각식 검안 장치로는, 교정 광학계가 측정 광학계의 광로 중에 배치되어 있지 않은 구성이어도 된다.

예를 들어, 교정 광학계가 측정 광학계의 광로 중에 배치되어 있는 경우, 자각식 검안 장치는, 제 2 보정 수단 (예를 들어, 제어부 (70)) 을 구비해도 된다. 예를 들어, 제 2 보정 수단은, 교정 광학계에 의한 교정 정보에 기초하여, 타각식 측정 수단에 의해 피검안을 타각적으로 측정하여 얻어진 측정 결과를 보정하도록 해도 된다. 예를 들어, 제 2 보정 수단은, 교정 광학계에 의한 교정 정보에 기초하여, 교정 광학계에 의한 교정 상태를 캔슬하도록, 타각식 측정 수단에 의해 피검안을 타각적으로 측정하여 얻어진 측정 결과를 보정하도록 해도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 타각 측정 수단의 광로 중에 교정 광학계가 존재하는 경우, 타각을 측정하는 측정 광속이 교정 광학계를 경유함으로써 발생하는 광학 특성의 편차를 보정할 수 있다. 이로써, 교정 광학계에 의해 교정이 실시되고 있는 경우에 타각적인 측정을 실시한 경우에도, 광학 특성을 양호한 정밀도로 취득할 수 있다. 예를 들어, 특히, 타각적인 측정에 의해 취득된 적어도 2 개의 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득할 때에는, 광학 특성 사이에서 편차가 발생함으로써 비교하는 것이 곤란해지는 경우가 있기 때문에, 본 기술이 보다 효과적이다.

예를 들어, 제 2 보정 수단은, 측정 결과로서, 광학 특성을 보정하도록 해도 된다. 또한, 광학 특성으로서, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성이 취득되어 있는 경우에는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성의 적어도 일방을 보정하도록 하면 된다. 또, 예를 들어, 제 2 보정 수단은, 측정 결과로서, 조절 정보를 보정하도록 해도 된다.

또한, 본 실시형태에 있어서, 제어 수단과 제 2 보정 수단 (제 2 보정 제어 수단) 이 겸용된 구성이어도 된다. 또, 예를 들어, 제어 수단과 제 2 보정 수단이 별도로 각각 형성되어 있는 구성이어도 된다. 물론, 상기 각 제어 수단은, 복수의 제어 수단에 의해 구성되어도 된다.

또한, 본 실시형태에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 구성은, 피검안이 안경을 장용하고 있는 상태일 때에 있어서의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각 검사 (전안경 검사) 에 사용하도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 피검안이 안경을 장용하고 있는 상태에 있어서, 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정하여 제 1 광학 특성을 취득함과 함께, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정한 제 2 광학 특성을 취득하도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 취득한 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득하고, 조절 정보를 출력하도록 해도 된다.

예를 들어, 조절 정보로서, 차분 결과 및 차분 화상의 적어도 어느 것을 얻은 경우, 예를 들어, 차분 결과 및 차분 화상의 적어도 어느 것에 기초하여, 광학 특성의 변화의 양부를 판정하도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 판정 결과로서, 과교정인지의 여부가 출력되도록 해도 된다. 예를 들어, 과교정인지의 여부가 출력됨으로써, 현재 장용하고 있는 안경이 과교정이 되지 않았는지의 여부를 확인할 수 있다.

예를 들어, 일례로서, 피검안이 안경을 장용하고 있는 상태일 때에 있어서, 무한원의 원방시용 시표를 정시하여 광학 특성을 취득함과 함께, 무한원의 원방시용 시표보다 플러스 도수의 시표를 정시하여 광학 특성을 취득하도록 해도 된다. 이 경우, 산출된 각 광학 특성에 기초하여, 조정 상태를 취득하도록 해도 된다. 이로써, 현재 장용하고 있는 안경이 과교정이 되지 않았는지의 여부를 확인할 수 있다.

＜자각 검사의 초기값 설정＞

본 실시형태에 있어서, 예를 들어, 자각식 검안 장치는, 초기값 설정 수단 (예를 들어, 제어부 (70)) 을 구비해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제어 수단은, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 개시한 후, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 피검안의 광학 특성을 취득하도록 해도 된다. 예를 들어, 초기값 설정 수단은, 제어 수단에 의해 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 자각 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때의 교정 광학계의 초기값으로서 설정하도록 해도 된다. 또한, 예를 들어, 초기값으로서 설정되는 광학 특성으로는, 구면 도수, 원주 도수, 원주축, 편광 특성, 및 수차량 등의 적어도 어느 것을 들 수 있다. 물론, 상기 이외의 광학 특성이 초기값으로서 설정되는 구성으로 해도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 개시한 후, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 피검안의 광학 특성을 취득한다. 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성이, 자각 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때의 교정 광학계의 초기값으로서 설정된다. 이와 같은 구성에 의해, 타각적인 측정이 완료될 때까지, 자각식 검사 장치에 의한 자각적인 측정의 실시를 대기할 필요가 없어, 피검안의 광학 특성을 신속하게 측정할 수 있다.

예를 들어, 자각적인 측정의 개시란, 자각적인 측정의 제어가 개시되어 있는 상태이면 된다. 보다 상세하게는, 예를 들어, 자각적인 측정의 개시란, 시표 광속의 투영을 개시한 상태, 검사 프로그램을 개시한 상태, 자각식 검사 장치의 조작부의 조작을 개시한 상태, 교정 광학계의 구동을 개시한 상태 등의 적어도 어느 것이어도 된다.

예를 들어, 초기값 설정 수단은, 초기값으로서 설정하는 자각 검사로서, 타각적인 측정을 개시하였을 때에 실시되고 있었던 자각 검사에 있어서, 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을 초기값으로서 설정하는 구성으로 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 초기값 설정 수단은, 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 타각식 측정 수단에 의한 타각적인 측정을 개시하기 전에 자각식 측정 수단에 의해 실시되고 있었던 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정에 있어서의 교정 광학계의 초기값으로서 설정한다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 타각식 측정 수단에 의한 타각적인 측정을 개시하기 전에, 자각식 측정 수단에 의해 실시되고 있었던 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정에 있어서의 교정 광학계의 초기값으로서 설정한다. 이와 같은 구성에 의해, 자각식 검사 장치에 의한 자각적인 측정을 신속하게 실시할 수 있다.

또, 예를 들어, 초기값 설정 수단은, 초기값으로서 설정하는 자각 검사로서, 타각적인 측정을 개시하였을 때에 실시되고 있었던 자각 검사 (제 1 자각 검사) 와는 상이한 자각 검사 (제 2 자각 검사) 에 있어서, 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을 초기값으로서 설정하는 구성으로 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제어 수단은, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 1 자각식 측정을 실행한 후, 재차, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 2 자각식 측정을 실행하도록 해도 된다. 예를 들어, 제어 수단은, 제 1 자각식 측정을 개시한 후, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하도록 해도 된다. 예를 들어, 초기값 설정 수단은, 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 상기 피검안의 광학 특성을, 상기 제 2 자각식 측정의 초기값으로서 설정하도록 해도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 1 자각식 측정을 실행한 후, 재차, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 2 자각식 측정을 실행한다. 제 1 자각식 측정을 개시한 후, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고, 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 제 2 자각식 측정의 초기값으로서 설정한다. 이와 같은 구성에 의해, 재차, 자각 측정을 실시하는 경우에도, 상이한 자각 측정시에 있어서 이미 초기값이 취득되어 있기 때문에, 신속하게 측정을 실시할 수 있다.

예를 들어, 제 1 자각 검사는, 제 2 자각 검사에 의해 측정되는 광학 특성과 동일한 광학 특성을 측정하는 자각 검사여도 된다. 또, 예를 들어, 제 1 자각 검사는, 제 2 자각 검사에 의해 측정되는 광학 특성과 상이한 광학 특성을 측정하는 자각 검사여도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제 1 자각 검사로는, 피검안의 나안시에 있어서의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각 검사 (나안 검사) 여도 된다. 또, 예를 들어, 제 1 자각 검사로는, 피검안이 안경을 장용하고 있는 상태일 때에 있어서의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각 검사 (전안경 검사) 여도 된다. 이러한 경우, 예를 들어, 제 1 자각식 측정은, 교정 광학계에 의해 시표 광속의 광학 특성을 변화시키지 않는 무교정 상태에서, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정이고, 제 2 자각식 측정은, 교정 광학계에 의해 시표 광속의 광학 특성을 변화시켜 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정이어도 된다.

또한, 본 실시형태에 있어서, 자각식 검안 장치는, 투광 광학계에 의한 시표 광속을, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정할 때에, 피검안이 고시하기 위한 고시표로서 사용하는 구성으로 해도 된다. 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각 검출 수단에 있어서의 투광 광학계에 의한 시표 광속을 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정할 때에, 피검안이 고시하기 위한 고시표로 한다. 이와 같은 구성에 의해, 부재를 줄일 수 있어, 간이적인 구성으로 장치를 구성할 수 있다. 또, 여분의 스페이스를 줄일 수 있어, 장치를 소형화할 수 있다.

또한, 본 실시형태에 있어서, 제어 수단과 초기값 설정 수단 (초기값 설정 제어 수단) 이 겸용된 구성이어도 된다. 또, 예를 들어, 제어 수단과 초기값 설정 수단이 별도로 각각 형성되어 있는 구성이어도 된다. 물론, 상기 각 제어 수단은, 복수의 제어 수단에 의해 구성되어도 된다.

＜실시예＞

이하, 본 실시예의 자각식 검안 장치에 대해 설명한다. 예를 들어, 도 1 은, 본 실시예에 관련된 자각식 검안 장치 (1) 의 외관도이다. 예를 들어, 본 실시예에 있어서의 자각식 검안 장치 (1) 는, 케이싱 (2), 정시창 (3), 조작부 (모니터) (4), 악대 (顎臺) (5), 기대 (基臺) (6), 촬상 광학계 (100) 등을 구비한다. 예를 들어, 케이싱 (2) 은, 내부에 부재를 수납한다. 예를 들어, 케이싱 (2) 의 내부에는, 측정 수단 (도 1 의 점선부) (7) 을 구비한다 (상세는 후술한다). 예를 들어, 측정 수단 (7) 은, 우안용 측정 수단 (7R) 과 좌안용 측정 수단 (7L) 을 구비한다. 본 실시형태에 있어서는, 우안용 측정 수단 (7R) 과 좌안용 측정 수단 (7L) 은, 동일한 부재를 구비하고 있다. 즉, 자각식 검안 장치 (1) 는, 좌우 한 쌍의 자각식 측정 수단과, 좌우 한 쌍 타각식 측정 수단을 갖는다. 물론, 우안용 측정 수단 (7R) 과 좌안용 측정 수단 (7L) 은, 부재의 적어도 일부가 상이한 구성이어도 된다.

예를 들어, 정시창 (3) 은, 피검사자에게 시표를 정시하기 위해 사용된다. 예를 들어, 우안용 측정 수단 (7R) 과 좌안용 측정 수단 (7L) 으로부터의 시표 광속이 정시창 (3) 을 개재하여 피검안 (E) 에 투영된다.

예를 들어, 모니터 (디스플레이) (4) 는 터치 패널이다. 즉, 본 실시형태에 있어서, 모니터 (4) 가 조작부 (컨트롤러) 로서 기능한다. 모니터 (4) 는, 입력된 조작 지시에 따른 신호를 후술하는 제어부 (70) 에 출력한다. 물론, 모니터 (4) 와 조작부가 따로 형성된 구성이어도 된다. 예를 들어, 조작부에는, 마우스, 조이스틱, 키보드 등의 조작 수단의 적어도 어느 것을 사용하는 구성을 들 수 있다.

예를 들어, 모니터 (4) 는, 자각식 검안 장치 (1) 의 본체에 탑재된 디스플레이여도 되고, 자각식 검안 장치 (1) 의 본체에 접속된 디스플레이여도 된다. 물론, 터치 패널식이 아니어도 된다. 예를 들어, 퍼스널 컴퓨터 (이하,「PC」라고 한다) 의 디스플레이를 사용해도 된다. 또, 예를 들어, 복수의 디스플레이가 병용되어도 된다. 예를 들어, 모니터 (4) 에는 측정 결과가 표시된다.

예를 들어, 악대 (5) 는, 피검안 (E) 과 자각식 검안 장치 (1) 의 거리를 일정하게 유지하기 위해, 또는 얼굴의 큰 흔들림을 억제하기 위해 사용된다. 예를 들어, 기대 (6) 에는, 악대 (5) 와 케이싱 (2) 이 고정되어 있다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 피검안 (E) 과 자각식 검안 장치 (1) 의 거리를 일정하게 유지하기 위해 악대 (5) 를 사용하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 피검안 (E) 과 자각식 검안 장치 (1) 의 거리를 일정하게 유지하기 위한 구성이면 된다. 예를 들어, 피검안 (E) 과 자각식 검안 장치 (1) 의 거리를 일정하게 유지하기 위한 구성으로는, 이마 받침대, 얼굴 받침대 등을 사용하는 구성을 들 수 있다.

예를 들어, 촬상 광학계 (100) 는, 도시 생략한 촬상 소자와 렌즈에 의해 구성된다. 예를 들어, 촬상 광학계는, 피검안의 얼굴을 촬영하기 위해 사용된다.

＜측정 수단＞

도 2 는, 측정 수단 (7) 의 구성에 대해 설명하는 도면이다. 본 실시형태에 있어서는, 좌안용 측정 수단 (7L) 을 예로 들어 설명한다. 본 실시형태에 있어서, 우안용 측정 수단 (7R) 은, 좌안용 측정 수단 (7L) 과 동일한 구성이기 때문에, 설명은 생략한다. 예를 들어, 좌안용 측정 수단 (7L) 은, 자각식 측정 광학계 (25) 와, 타각식 측정 광학계 (10) 와, 제 1 지표 투영 광학계 (45), 제 2 지표 투영 광학계 (46), 관찰 광학계 (50) 를 구비한다.

＜자각식 광학계＞

예를 들어, 자각 측정 광학계 (25) 는, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정 수단의 구성의 일부로서 사용된다 (상세는 후술한다). 예를 들어, 피검안의 광학 특성으로는, 안굴절력, 콘트라스트 감도, 양안시 기능 (예를 들어, 사위량, 입체시 기능 등) 등을 들 수 있다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 피검안의 안굴절력을 측정하는 자각식 측정 수단을 예로 들어 설명한다. 예를 들어, 자각식 측정 광학계 (25) 는, 투광 광학계 (시표 투광계) (30) 와, 교정 광학계 (60), 보정 광학계 (90) 로 구성된다.

예를 들어, 투광 광학계 (30) 는, 시표 광속을 피검안 (E) 을 향하여 투영한다. 예를 들어, 투광 광학계 (30) 는, 디스플레이 (31), 투광 렌즈 (33), 투광 렌즈 (34), 반사 미러 (36), 다이크로익 미러 (35), 다이크로익 미러 (29), 대물 렌즈 (14) 를 구비한다. 예를 들어, 디스플레이 (31) 로부터 투영된 시표 광속은, 투광 렌즈 (33), 투광 렌즈 (34), 반사 미러 (36), 다이크로익 미러 (35), 다이크로익 미러 (29), 대물 렌즈 (14) 의 순서로 광학 부재를 경유하여 피검안 (E) 에 투영된다.

예를 들어, 디스플레이 (31) 에는, 랜돌트 환 시표 등의 검사 시표, 피검안 (E) 을 고시시키기 위한 고시표 (후술하는 타각 측정시 등에 사용된다) 등이 표시된다. 예를 들어, 디스플레이 (31) 로부터의 시표 광속이 피검안 (E) 을 향하여 투영된다. 본 실시예에 있어서는, 디스플레이 (31) 로서 LCD 를 사용한 경우를 예로 들어, 이하의 설명을 실시한다.

예를 들어, 교정 광학계 (60) 는, 난시 교정 광학계 (63), 구동 기구 (39) 를 구비한다.

예를 들어, 난시 교정 광학계 (63) 는, 투광 렌즈 (34) 와 투광 렌즈 (33) 사이에 배치되어 있다. 예를 들어, 난시 교정 광학계 (63) 는, 피검안의 원주 도수, 원주축 등을 교정하기 위해 사용된다. 예를 들어, 난시 교정 광학계 (63) 는, 초점 거리가 동등한 2 장의 정의 원주 렌즈 (61a, 61b) 로 구성된다. 원주 렌즈 (61a, 61b) 는, 각각 회전 기구 (62a, 62b) 의 구동에 의해, 광축 (L2) 을 중심으로 각각 독립적으로 회전된다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 난시 교정 광학계 (63) 는, 2 장의 정의 원주 렌즈 (61a, 61b) 를 사용하는 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이것에 한정되지 않는다. 난시 교정 광학계 (63) 는, 원주 도수, 원주축 등을 교정할 수 있는 구성이면 된다. 예를 들어, 교정 렌즈를 투광 광학계 (30) 의 광로에 출납하는 구성이어도 된다.

예를 들어, 디스플레이 (31) 는, 모터 및 슬라이드 기구로 이루어지는 구동 기구 (39) 에 의해 광축 (L2) 의 방향으로 일체적으로 이동된다. 예를 들어, 자각 측정시에 있어서, 디스플레이 (31) 가 이동됨으로써, 피검사자의 눈에 대한 시표의 정시 위치 (정시 거리) 가 광학적으로 바뀜으로써, 피검안의 구면 굴절력이 교정된다. 즉, 디스플레이 (31) 의 이동에 의해, 구면 도수의 교정 광학계가 구성된다. 또, 예를 들어, 타각 측정시에 있어서, 디스플레이 (31) 가 이동됨으로써, 피검사자의 눈 (E) 에 운무가 가해진다. 또한, 구면 도수의 교정 광학계로는, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 구면 도수의 교정 광학계는, 다수의 광학 소자를 갖고, 광로 중에 광학 소자가 배치됨으로써 교정을 실시하는 구성이어도 된다. 또, 예를 들어, 광로 중에 배치된 렌즈를 광축 방향으로 이동시키는 구성이어도 된다.

또한, 본 실시형태에 있어서는, 구면 도수, 원주 도수, 원주축을 교정하는 교정 광학계를 예로 들어 설명하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 프리즘값이 교정되는 교정 광학계를 형성해도 된다. 프리즘값의 교정 광학계를 형성함으로써, 피검사자가 사위안이어도, 시표 광속이 피검안에 투영되도록 교정할 수 있다.

또한, 본 실시형태에 있어서는, 원주 도수 및 원주축의 난시 교정 광학계 (63) 와, 구면 도수의 교정 광학계 (예를 들어, 구동 수단 (39)) 가 별도로 형성되어 있는 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 교정 광학계로서, 구면 도수, 원주 도수, 원주축이 교정되는 교정 광학계를 구비하는 구성이면 된다. 예를 들어, 교정 광학계가 파면을 변조시키는 광학계여도 된다. 또, 예를 들어, 교정 광학계가 구면 도수, 원주 도수, 원주축 등을 교정하는 광학계여도 된다. 이 경우, 예를 들어, 교정 광학계는, 다수의 광학 소자 (구면 렌즈, 원주 렌즈, 분산 프리즘 등) 가 동일 원주 상에 배치되어 있는 렌즈 디스크를 구비하는 구성을 들 수 있다. 렌즈 디스크가 구동부 (액추에이터 등) 에 의해 회전 제어됨으로써, 검사자가 원하는 광학 소자가 광축 (L2) 에 배치된다.

또, 광축 (L2) 에 배치된 광학 소자 (예를 들어, 원주 렌즈, 크로스 실린더 렌즈, 로터리 프리즘 등) 가 구동부에 의해 회전 제어됨으로써, 검사자가 원하는 회전 각도로 광학 소자가 광축 (L2) 에 배치된다. 광축 (L2) 에 배치되는 광학 소자의 전환 등은, 모니터 (4) 등의 입력 수단 (조작 수단) 의 조작에 의해 실시되어도 된다.

렌즈 디스크는, 1 개의 렌즈 디스크, 또는 복수의 렌즈 디스크로 이루어진다. 복수의 렌즈 디스크가 배치된 경우, 각 렌즈 디스크에 대응하는 구동부가 각각 형성된다. 예를 들어, 렌즈 디스크군으로서, 각 렌즈 디스크가 개구 (또는 0 D 의 렌즈) 및 복수의 광학 소자를 구비한다. 각 렌즈 디스크의 종류로는, 도수가 상이한 복수의 구면 렌즈를 갖는 구면 렌즈 디스크, 도수가 상이한 복수의 원주 렌즈를 갖는 원주 렌즈 디스크, 복수 종류의 보조 렌즈를 갖는 보조 렌즈 디스크가 대표적이다. 보조 렌즈 디스크에는, 적색 필터/녹색 필터, 프리즘, 크로스 실린더 렌즈, 편광판, 마독스 렌즈, 오토 크로스 실린더 렌즈의 적어도 어느 것이 배치된다. 또, 원주 렌즈는, 구동부에 의해 광축 (L2) 을 중심으로 회전 가능하게 배치되고, 로터리 프리즘 및 크로스 실린더 렌즈는, 구동부에 의해 각 광축을 중심으로 회전 가능하게 배치되어도 된다.

예를 들어, 보정 광학계 (90) 는, 대물 렌즈 (14) 와 후술하는 편향 미러 (81) 사이에 배치된다. 예를 들어, 보정 광학계 (90) 는, 자각식 측정 수단에서 발생하는 광학 수차를 보정하기 위해 사용된다. 예를 들어, 보정 광학계 (90) 는, 광학 수차에 있어서의 비점 수차를 보정하기 위해 사용된다. 예를 들어, 보정 광학계 (90) 는, 초점 거리가 동등한 2 장의 정의 원주 렌즈 (91a, 91b) 로 구성된다. 예를 들어, 보정 광학계 (90) 는, 원주 도수와 원주축을 조정함으로써, 비점 수차를 보정한다. 원주 렌즈 (91a, 91b) 는, 각각 회전 기구 (92a, 92b) 의 구동에 의해, 광축 (L3) 을 중심으로 각각 독립적으로 회전된다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 보정 광학계 (90) 는, 2 장의 정의 원주 렌즈 (91a, 91b) 를 사용하는 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이것에 한정되지 않는다. 보정 광학계 (90) 는, 비점 수차를 교정할 수 있는 구성이면 된다. 예를 들어, 보정 렌즈를 광축 (L3) 에 출납하는 구성이어도 된다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 별도로 보정 광학계 (90) 를 배치하는 구성을 예로 들고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 교정 광학계 (60) 가 보정 광학계 (90) 를 겸용하는 구성이어도 된다. 이 경우, 피검안의 원주 도수, 원주축을, 비점 수차량에 따라 보정한다. 즉, 비점 수차량을 고려한 (보정한) 원주 도수, 원주축을 교정하도록 교정 광학계 (60) 를 구동시킨다. 이와 같이, 교정 광학계 (60) 가 보정 광학계 (90) 를 겸용함으로써, 예를 들어, 복잡한 제어나, 별도로 광학 수차용의 보정 광학계를 필요로 하지 않기 때문에, 간이적인 구성으로 광학 수차를 보정할 수 있다.

＜타각식 광학계＞

예를 들어, 타각식 측정 광학계 (10) 는, 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 타각식 측정 수단의 구성의 일부로서 사용된다 (상세는 후술한다). 예를 들어, 피검안의 광학 특성으로는, 안굴절력, 안축 길이, 각막 형상 등을 들 수 있다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 피검안의 안굴절력을 측정하는 타각식 측정 수단을 예로 들어 설명한다.

예를 들어, 타각식 측정 광학계 (10) 는, 투영 광학계 (10a), 수광 광학계 (10b), 보정 광학계 (90) 로 구성된다. 예를 들어, 투영 광학계 (투광 광학계) (10a) 는, 피검안 (E) 의 동공 중심부를 개재하여 피검안 (E) 의 안저에 스폿상의 측정 지표를 투영한다. 예를 들어, 수광 광학계 (10b) 는, 안저로부터 반사된 안저 반사광을 동공 주변부를 개재하여 링상으로 취출하고, 이차원 촬상 소자에 링상의 안저 반사 이미지를 촬상시킨다.

예를 들어, 투영 광학계 (10a) 는, 타각식 측정 광학계 (10) 의 광축 (L1) 상에 배치된, 측정 광원 (11), 릴레이 렌즈 (12), 홀 미러 (13), 프리즘 (15), 구동부 (모터) (23), 다이크로익 미러 (35), 다이크로익 미러 (29), 및 대물 렌즈 (14) 를 포함한다. 예를 들어, 프리즘 (15) 은 광속 편향 부재이다. 예를 들어, 구동부 (23) 는, 프리즘 (15) 을 광축 (L1) 을 중심으로 회전 구동시키는 회전 수단이다. 예를 들어, 광원 (11) 은 피검안의 안저와 공액의 관계로 되어 있고, 홀 미러 (13) 의 홀부는 동공과 공액의 관계로 되어 있다. 예를 들어, 프리즘 (15) 은 피검안 (E) 의 동공과 공액의 위치에서 벗어난 위치에 배치되어 있고, 통과하는 광속을 광축 (L1) 에 대해 편심시킨다. 또한, 프리즘 (15) 을 대신하여 광속 편향 부재로서 평행 평면판을 광축 (L1) 상에 비스듬하게 배치하는 구성이어도 된다.

예를 들어, 다이크로익 미러 (35) 는, 자각식 측정 광학계 (25) 의 광로와, 타각식 측정 광학계 (10) 의 광로를 공통으로 한다. 즉, 예를 들어, 다이크로익 미러 (35) 는, 자각식 측정 광학계 (25) 의 광축 (L2) 과, 타각식 측정 광학계 (10) 의 광축 (L1) 을 동축으로 한다. 예를 들어, 광로 분기 부재인 빔 스플리터 (29) 는, 자각 측정 광학계 (25) 에 의한 광속 및 투영 광학계 (10a) 에 의한 측정광을 반사시켜 피검안에 유도한다.

예를 들어, 수광 광학계 (10b) 는, 투영 광학계 (10a) 의 대물 렌즈 (14), 다이크로익 미러 (29), 다이크로익 미러 (35), 프리즘 (15) 및 홀 미러 (13) 를 공용하고, 홀 미러 (13) 의 반사 방향의 광로에 배치된 릴레이 렌즈 (16), 미러 (17), 미러 (17) 의 반사 방향의 광로에 배치된 수광 조리개 (18), 콜리메이터 렌즈 (19), 링 렌즈 (20), CCD 등의 이차원 촬상 소자 (22) (이하, 촬상 소자 (22) 라고 기재한다) 를 구비한다. 예를 들어, 수광 조리개 (18) 및 촬상 소자 (22) 는, 피검안의 안저와 공액의 관계로 되어 있다. 예를 들어, 링 렌즈 (20) 는, 링상으로 형성된 렌즈부와, 렌즈부 이외의 영역에 차광용의 코팅을 실시한 차광부로 구성되고, 피검안의 동공과 광학적으로 공액의 위치 관계로 되어 있다. 예를 들어, 촬상 소자 (22) 로부터의 출력은, 연산 제어부 (70) (이하, 제어부 (70)) 에 입력된다.

예를 들어, 다이크로익 미러 (29) 는, 피검안의 안저에 의한 투영 광학계 (10a) 로부터의 측정광의 반사광을 수광 광학계 (10) 를 향하여 반사한다. 또, 예를 들어, 다이크로익 미러 (29) 는, 전안부 관찰광 및 얼라인먼트광을 투과시켜 관찰 광학계 (50) 에 유도한다. 또, 예를 들어, 다이크로익 미러 (35) 는, 피검안의 안저에 의한 투영 광학계 (10a) 로부터의 측정광의 반사광을 수광 광학계 (10) 를 향하여 반사한다.

또한, 타각식 측정 광학계 (10) 는 상기한 것에 한정되지 않고, 동공 주변부로부터 안저에 링상의 측정 지표를 투영하고, 동공 중심부로부터 안저 반사광을 취출하고, 이차원 촬상 소자에 링상의 안저 반사 이미지를 수광시키는 구성 등, 주지의 것을 사용할 수 있다.

또한, 타각식 측정 광학계 (10) 는 상기한 것에 한정되지 않고, 피검사자의 눈의 안저를 향하여 측정광을 투광하는 투광 광학계와, 측정광의 안저에서의 반사에 의해 취득되는 반사광을 수광 소자에 의해 수광하는 수광 광학계를 갖는 측정 광학계이면 된다. 예를 들어, 안굴절력 측정 광학계는, 샤크 하트만 센서를 구비한 구성이어도 된다. 물론, 다른 측정 방식의 장치가 이용되어도 된다 (예를 들어, 슬릿을 투영하는 위상차 방식의 장치).

예를 들어, 투영 광학계 (10a) 의 광원 (11) 과, 수광 광학계 (10b) 의 수광 조리개 (18), 콜리메이터 렌즈 (19), 링 렌즈 (20), 촬상 소자 (22) 는, 광축 방향으로 일체적으로 이동 가능하게 되어 있다. 본 실시형태에 있어서, 예를 들어, 투영 광학계 (10a) 의 광원 (11) 과, 수광 광학계 (10b) 의 수광 조리개 (18), 콜리메이터 렌즈 (19), 링 렌즈 (20), 촬상 소자 (22) 는, 디스플레이 (31) 를 구동시키는 구동 기구 (39) 에 의해 광축 (L1) 의 방향으로 일체적으로 이동된다. 즉, 디스플레이 (31), 투영 광학계 (10a) 의 광원 (11) 과, 수광 광학계 (10b) 의 수광 조리개 (18), 콜리메이터 렌즈 (19), 링 렌즈 (20), 촬상 소자 (22) 는, 구동 유닛 (95) 으로서 동기하여 일체적으로 이동한다. 물론, 별도로 각각이 구동되는 구성으로 해도 된다. 예를 들어, 구동 유닛 (95) 은, 외측의 링 광속이 각 경선 방향에 관하여 촬상 소자 (22) 상에 입사되도록 타각식 측정 광학계 (10) 의 일부를 광축 방향으로 이동시킨다. 즉, 타각식 측정 광학계 (10) 의 일부를 피검안의 구면 굴절 오차 (구면 굴절력) 에 따라 광축 (L1) 방향으로 이동시킴으로써, 구면 굴절 오차를 보정하고, 피검안의 안저에 대해 광원 (11), 수광 조리개 (18) 및 촬상 소자 (22) 가 광학적으로 공액이 되도록 한다. 구동 기구 (39) 의 이동 위치는, 도시 생략한 포텐셔미터에 의해 검출된다. 또한, 홀 미러 (13) 와 링 렌즈 (20) 는, 가동 유닛 (25) 의 이동량에 상관없이, 피검안의 눈동자와 일정한 배율로 공액이 되도록 배치되어 있다.

상기 구성에 있어서, 광원 (11) 으로부터 출사된 측정광은, 릴레이 렌즈 (12), 홀 미러 (13), 프리즘 (15), 다이크로익 미러 (35), 빔 스플리터 (29), 대물 렌즈 (14) 를 거쳐, 피검안의 안저 상에 스폿상의 점광원 이미지를 형성한다. 이 때, 광축 둘레로 회전하는 프리즘 (15) 에 의해, 홀 미러 (13) 의 홀부의 눈동자 투영 이미지 (눈동자 상에서의 투영 광속) 는, 고속으로 편심 회전된다. 안저에 투영된 점광원 이미지는 반사·산란되어 피검안을 사출하고, 대물 렌즈 (14) 에 의해 집광되고, 빔 스플리터 (29), 다이크로익 미러 (35), 고속 회전하는 프리즘 (15), 홀 미러 (13), 릴레이 렌즈 (16), 미러 (17) 를 개재하여 수광 조리개 (18) 의 위치에 다시 집광되고, 콜리메이터 렌즈 (19) 와 링 렌즈 (20) 에 의해 촬상 소자 (22) 에 링상의 이미지가 결상된다.

예를 들어, 프리즘 (15) 은, 투영 광학계 (10a) 와 수광 광학계 (10b) 와 공통 광로에 배치되어 있다. 이 때문에, 안저로부터의 반사 광속은, 투영 광학계 (10a) 와 동일한 프리즘 (15) 을 통과하기 때문에, 그 이후의 광학계에서는 마치 동공 상에 있어서의 투영 광속·반사 광속 (수광 광속) 의 편심이 없었던 것처럼 역주사된다.

예를 들어, 보정 광학계 (90) 는, 자각식 측정 광학계 (25) 와 겸용된다. 물론, 별도로 타각식 측정 광학계 (10) 에서 사용하는 보정 광학계를 형성하는 구성으로 해도 된다.

＜제 1 지표 투영 광학계 및 제 2 지표 투영 광학계＞

본 실시형태에 있어서, 제 1 지표 투영 광학계 (45) 및 제 2 지표 투영 광학계 (46) 는, 보정 광학계 (90) 와 편향 미러 (81) 사이에 배치된다. 물론, 제 1 지표 투영 광학계 (45) 및 제 2 지표 투영 광학계 (46) 의 배치 위치는, 이것에 한정되지 않는다.

제 1 지표 투영 광학계 (45) 는, 광축 (L3) 을 중심으로 하여 동심원 상에 45 도 간격으로 적외광원이 복수개 배치되어 있고, 광축 (L3) 을 지나는 수직 평면을 사이에 두고 좌우 대칭으로 배치되어 있다. 제 1 지표 투영 광학계 (45) 는, 피검안의 각막에 얼라인먼트 지표를 투영하기 위한 근적외광을 발한다. 제 2 지표 투영 광학계 (46) 는, 제 1 지표 투영 광학계 (45) 와는 상이한 위치에 배치되고 6 개의 적외광원을 구비한다. 이 경우, 제 1 지표 투영 광학계 (45) 는, 피검사자의 눈 (E) 의 각막에 무한원의 지표를 좌우 방향으로부터 투영하고, 제 2 지표 투영 광학계 (46) 는 피검사자의 눈 (E) 의 각막에 유한원의 지표를 상하 방향 혹은 사선 방향으로부터 투영하는 구성으로 되어 있다. 또한, 도 2 의 본 도면에는, 편의상, 제 1 지표 투영 광학계 (45) 와, 제 2 지표 투영 광학계 (46) 의 일부만이 도시되어 있다. 또한, 제 2 지표 투영 광학계 (46) 는, 피검안의 전안부를 조명하는 전안부 조명으로서도 사용된다. 또, 각막 형상 측정용의 지표로서도 이용할 수 있다. 또, 제 1 지표 투영 광학계 (45) 및 제 2 지표 투영 광학계 (46) 는, 점상 광원에 한정되지 않는다. 예를 들어, 링상 광원, 라인상의 광원이어도 된다.

＜관찰 광학계＞

관찰 광학계 (촬상 광학계) (50) 는, 자각식 측정 광학계 (25) 및 타각식 측정 광학계 (10) 에 있어서의, 대물 렌즈 (14), 다이크로익 미러 (29) 가 공용되고, 촬상 렌즈 (51) 및 이차원 촬상 소자 (52) 를 구비한다. 예를 들어, 촬상 소자 (52) 는, 피검안 전안부와 대략 공액의 위치에 배치된 촬상면을 갖는다. 예를 들어, 촬상 소자 (52) 로부터의 출력은, 제어부 (70) 에 입력된다. 이로써, 피검안의 전안부 이미지는 이차원 촬상 소자 (52) 에 의해 촬상되고, 모니터 (4) 상에 표시된다. 또한, 이 관찰 광학계 (50) 는, 제 1 지표 투영 광학계 (45) 및 제 2 지표 투영 광학계 (46) 에 의해, 피검안의 각막에 형성되는 얼라인먼트 지표 이미지를 검출하는 광학계를 겸하고, 제어부 (70) 에 의해 얼라인먼트 지표 이미지의 위치가 검출된다.

＜자각식 검안 장치 내부 구성＞

이하, 자각식 검안 장치 (1) 의 내부 구성에 대해 설명한다. 도 3 은, 본 실시예에 관련된 자각식 검안 장치 (1) 의 내부를 정면 방향 (도 1 의 A 방향) 에서 본 개략 구성도이다. 도 4 는, 본 실시예에 관련된 자각식 검안 장치 (1) 의 내부를 측면 방향 (도 1 의 B 방향) 에서 본 개략 구성도이다. 도 5 는, 본 실시예에 관련된 자각식 검안 장치 (1) 의 내부를 상면 방향 (도 1 의 C 방향) 에서 본 개략 구성도이다. 또한, 도 3 에서는, 설명의 편의상, 하프 미러 (84) 의 반사를 나타내는 광축에 대해 생략하였다. 또한, 도 4 에서는, 설명의 편의상, 좌안용 측정 수단 (7L) 의 광축만을 나타내고 있다. 또한, 도 5 에서는, 설명의 편의상, 좌안용 측정 수단 (7L) 의 광축만을 나타내고 있다.

예를 들어, 자각식 검안 장치 (1) 는, 자각식 측정 수단과 타각식 측정 수단을 구비한다. 예를 들어, 자각식 측정 수단은, 측정 수단 (7), 편향 미러 (81), 구동 수단 (83), 구동 수단 (82), 하프 미러 (84), 오목면 미러 (85) 로 구성된다. 물론, 자각식 측정 수단은, 이 구성에 한정되지 않는다. 일례로서, 하프 미러 (84) 를 갖지 않는 구성이어도 된다. 이 경우, 오목면 미러 (85) 의 광축에 대해 광속을 사선 방향으로부터 조사하여, 그 반사 광속을 피검안 (E) 에 도광하도록 해도 된다. 예를 들어, 타각식 측정 수단은, 측정 수단 (7), 편향 미러 (81), 하프 미러 (84), 오목면 미러 (85) 로 구성된다. 물론, 타각식 측정 수단은, 이 구성에 한정되지 않는다. 일례로서, 하프 미러 (84) 를 갖지 않는 구성이어도 된다. 이 경우, 오목면 미러 (85) 의 광축에 대해 광속을 사선 방향으로부터 조사하여, 그 반사 광속을 피검안 (E) 에 도광하도록 해도 된다.

또한, 자각식 검안 장치 (1) 는, 우안용 구동 수단 (9R), 좌안용 구동 수단 (9L) 을 갖고, 우안용 측정 수단 (7R) 및 좌안용 측정 수단 (7L) 을 각각 X 방향으로 이동시킬 수 있다. 예를 들어, 우안용 측정 수단 (7R) 및 좌안용 측정 수단 (7L) 이 이동됨으로써, 편향 미러 (81) 와 측정 수단 (7) 사이의 거리가 변경되고, Z 방향에 있어서의 시표 광속의 정시 위치가 변경된다. 이로써, 교정 광학계 (60) 에 의해 교정된 시표 광속을 피검안에 도광하고, 교정 광학계 (60) 에 의해 교정된 시표 광속의 이미지가 피검안의 안저에 형성되도록 Z 방향에 있어서의 조정이 가능하다.

예를 들어, 편향 미러 (81) 는, 좌우 한 쌍으로 각각 형성된 우안용의 편향 미러 (81R), 좌안용의 편향 미러 (81L) 를 갖는다. 예를 들어, 편향 미러 (81) 는, 교정 광학계 (60) 와 피검안 사이에 배치된다. 즉, 교정 광학계 (60) 는, 좌우 한 쌍으로 형성된 우안용 교정 광학계와 좌안용 교정 광학계를 갖고 있고, 우안용의 편향 미러 (81R) 는, 우안용 교정 광학계와 우안 (ER) 사이에 배치되고, 좌안용의 편향 미러 (81L) 는, 좌안용 교정 광학계와 좌안 (EL) 사이에 배치된다. 예를 들어, 편향 미러 (81) 는, 눈동자 공액 위치에 배치되는 것이 바람직하다.

예를 들어, 우안용의 편향 미러 (81R) 는, 우안용 측정 수단 (7R) 으로부터 투영되는 광속을 반사시켜 우안 (ER) 에 도광한다. 또, 예를 들어, 우안 (ER) 에서 반사된 반사광을 반사시켜 우안용 측정 수단 (7R) 에 도광한다. 예를 들어, 좌안용의 편향 미러 (81L) 는, 좌안용 측정 수단 (7L) 으로부터 투영되는 광속을 반사시켜 좌안 (EL) 에 도광한다. 또, 예를 들어, 좌안 (EL) 에서 반사된 반사광을 반사시켜 좌안용 측정 수단 (7L) 에 도광한다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 측정 수단 (7) 으로부터 투영되는 광속을 반사시켜 피검안 (E) 에 도광하는 편향 부재로서, 편향 미러 (81) 를 사용하는 구성을 예로 들어 설명하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 측정 수단 (7) 으로부터 투영되는 광속을 반사시켜 피검안 (E) 에 도광하는 편향 부재이면 된다. 예를 들어, 편향 부재로는, 프리즘, 렌즈 등을 들 수 있다.

예를 들어, 구동 수단 (83) 은, 모터 (구동부) 등으로 이루어진다. 예를 들어, 구동 수단 (83) 은, 우안용의 편향 미러 (81R) 를 구동하기 위한 구동 수단 (83R), 좌안용의 편향 미러 (81L) 를 구동하기 위한 구동 수단 (83L) 을 갖는다. 예를 들어, 구동 수단 (83) 의 구동에 의해, 편향 미러 (81) 는 X 방향으로 이동할 수 있다. 예를 들어, 우안용의 편향 미러 (81R) 및 좌안용의 편향 미러 (81L) 가 이동됨으로써, 우안용의 편향 미러 (81R) 및 좌안용의 편향 미러 (81L) 사이의 거리가 변경되고, 피검안의 동공간 거리에 맞추어 우안용 광로와 좌안용 광로 사이의 X 방향에 있어서의 거리를 변경할 수 있다.

예를 들어, 구동 수단 (82) 은, 모터 (구동부) 등으로 이루어진다. 예를 들어, 구동 수단 (82) 은, 우안용의 편향 미러 (81R) 를 구동하기 위한 구동 수단 (82R), 좌안용의 편향 미러 (81L) 를 구동하기 위한 구동 수단 (82L) 을 갖는다. 예를 들어, 구동 수단 (82) 의 구동에 의해, 편향 미러 (81) 는 회전 이동한다. 예를 들어, 구동 수단 (82) 은, 수평 방향 (X 방향) 의 회전축, 및 연직 방향 (Y 방향) 의 회전축에 대해 편향 미러 (81) 를 회전시킨다. 즉, 구동 수단 (82) 은 편향 미러 (81) 를 XY 방향으로 회전시킨다. 또한, 편향 미러 (81) 의 회전은, 수평 방향 또는 연직 방향의 일방이어도 된다. 또한, 우안용 광로와 좌안용 광로에서 각각, 편향 미러가 복수 형성된 구성이어도 된다. 예를 들어, 우안용 광로와 좌안용 광로에서, 2 개의 편향 미러가 각각 형성되는 (예를 들어, 우안용 광로에서 2 개의 편향 미러 등) 구성을 들 수 있다. 이 경우, 일방의 편향 미러가 X 방향으로 회전되고, 타방의 편향 미러가 Y 방향으로 회전되어도 된다. 예를 들어, 편향 미러 (81) 가 회전 이동됨으로써, 교정 광학계 (60) 의 이미지를 피검안의 눈앞에 형성하기 위한 외관의 광속을 편향시킴으로써 이미지의 형성 위치를 광학적으로 보정할 수 있다.

예를 들어, 오목면 미러 (85) 는, 우안용 측정 수단 (7R) 과 좌안용 측정 수단 (7L) 에서 공유된다. 예를 들어, 오목면 미러 (85) 는, 우안용 교정 광학계를 포함하는 우안용 광로와, 좌안용 교정 광학계를 포함하는 좌안용 광로에서 공유된다. 즉, 오목면 미러 (85) 는, 우안용 교정 광학계를 포함하는 우안용 광로와, 좌안용 교정 광학계를 포함하는 좌안용 광로와 함께 통과하는 위치에 배치되어 있다. 물론, 오목면 미러 (85) 는, 공유되는 구성이 아니어도 된다. 우안용 교정 광학계를 포함하는 우안용 광로와, 좌안용 교정 광학계를 포함하는 좌안용 광로에서 각각 오목면 미러가 형성되는 구성이어도 된다. 예를 들어, 오목면 미러 (85) 는, 교정 광학계를 통과한 시표 광속을 피검안에 도광하고, 교정 광학계를 통과한 시표 광속의 이미지를 피검안의 눈앞에 형성한다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 오목면 미러 (85) 를 사용하는 구성을 예로 들고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 여러 가지 광학 부재를 사용할 수 있다. 예를 들어, 광학 부재로는, 렌즈, 평면 미러 등을 사용할 수 있다.

예를 들어, 오목면 미러 (85) 는, 자각식 측정 수단과 타각식 측정 수단에서 겸용된다. 예를 들어, 자각 측정 광학계 (25) 로부터 투영된 시표 광속은, 오목면 미러 (85) 를 개재하여 피검안에 투영된다. 또, 예를 들어, 타각 측정 광학계 (10) 로부터 투영된 측정광은, 오목면 미러 (85) 를 개재하여 피검안에 투영된다. 또, 예를 들어, 타각 측정 광학계 (10) 로부터 투영된 측정광의 반사광은, 오목면 미러 (85) 를 개재하여 타각 측정 광학계 (10) 의 수광 광학계 (10b) 에 도광된다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 타각 측정 광학계 (10) 에 의한 측정광의 반사광은, 오목면 미러 (85) 를 개재하여 타각 측정 광학계 (10) 의 수광 광학계 (10b) 에 도광되는 구성을 예로 들고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 타각 측정 광학계 (10) 에 의한 측정광의 반사광은, 오목면 미러 (85) 를 개재하지 않는 구성이어도 된다.

보다 상세하게는, 예를 들어, 본 실시형태에 있어서, 자각식 측정 수단에 있어서의, 오목면 미러 (85) 에서 피검안 (E) 까지의 사이의 광축과, 타각식 측정 수단에 있어서의, 오목면 미러 (85) 에서 피검안 (E) 까지의 사이의 광축이 적어도 동축으로 구성되어 있다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 다이크로익 미러 (35) 에 의해, 자각식 측정 광학계 (25) 의 광축 (L2) 과 타각식 측정 광학계 (10) 의 광축 (L1) 이 합성되어, 동축으로 되어 있다.

이하, 자각 측정 수단의 광로에 대해 설명한다. 예를 들어, 자각 측정 수단은, 교정 광학계 (60) 를 통과한 시표 광속을 오목면 미러 (85) 에 의해, 피검안 방향으로 반사함으로써 피검안에 시표 광속을 도광하고, 교정 광학계 (60) 를 통과한 시표 광속의 이미지를 광학적으로 소정의 검사 거리가 되도록 피검안의 눈앞에 형성한다. 즉, 오목면 미러 (85) 는, 시표 광속을 대략 평행 광속으로 하도록 반사한다. 이 때문에, 피검사자로부터 본 시표 이미지는, 피검안 (E) 에서 디스플레이 (31) 까지의 실제 거리보다 원방에 있는 것처럼 보인다. 즉, 오목면 미러 (85) 를 사용함으로써, 소정의 검사 거리의 위치에 시표 광속의 이미지가 보이도록, 피검사자에게 시표 이미지를 정시할 수 있다.

보다 상세하게 설명한다. 또한, 이하의 설명에 있어서는, 좌안용 광로를 예로 들어 설명한다. 우안용 광로에 있어서도, 좌안용 광로와 동일한 구성으로 되어 있다. 예를 들어, 좌안용의 자각 측정 수단에 있어서, 좌안용 측정 수단 (7L) 의 디스플레이 (31) 로부터 투영된 시표 광속은, 투광 렌즈 (33) 를 개재하여 난시 교정 광학계 (63) 에 입사된다. 난시 교정 광학계 (63) 를 통과한 시표 광속은, 반사 미러 (36), 다이크로익 미러 (35), 다이크로익 미러 (29), 대물 렌즈 (14) 를 경유하여, 보정 광학계 (90) 에 입사된다. 보정 광학계 (90) 를 통과한 시표 광속은, 좌안용 측정 수단 (7L) 으로부터 좌안용의 편향 미러 (81L) 를 향하여 투영된다. 좌안용 측정 수단 (7L) 으로부터 출사되어 좌안용의 편향 미러 (81) 에서 반사된 시표 광속은, 하프 미러 (84) 에 의해 오목면 미러 (85) 를 향하여 반사된다. 오목면 미러에 의해 반사된 시표 광속은, 하프 미러 (84) 를 투과하여 좌안 (EL) 에 도달한다.

이로써, 좌안 (EL) 의 안경 장용 위치 (예를 들어, 각막 정점으로부터 12 ㎜ 정도) 를 기준으로 하여 교정 광학계 (60) 에 의해 교정된 시표 이미지가 좌안 (EL) 의 안저 상에 형성된다. 따라서, 난시 교정 광학계 (63) 가 마치 눈앞에 배치된 것, 및 구면 도수의 교정 광학계 (본 실시형태에 있어서는, 구동 기구 (39) 의 구동) 에 의한 구면 도수의 조정이 눈앞에서 실시된 것과 등가로 되어 있어, 피검사자는 오목면 미러 (85) 를 개재하여 자연의 상태에서 시표의 이미지를 시준할 수 있다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 우안용 광로에 있어서도, 좌안용 광로와 동일한 구성이며, 양 피검안 (ER, EL) 의 안경 장용 위치 (예를 들어, 각막 정점으로부터 12 ㎜ 정도) 를 기준으로 하여, 좌우 한 쌍의 교정 광학계 (60) 에 의해 교정된 시표 이미지가 양 피검안의 안저 상에 형성되도록 되어 있다. 이와 같이 하여, 피검사자는 자연시의 상태에서 시표를 직시하면서 검사자에 대한 응답을 실시하고, 검사 시표가 적정하게 보일 때까지 교정 광학계 (60) 에 의한 교정을 도모하여, 그 교정값에 기초하여 자각적으로 피검안의 광학 특성의 측정을 실시한다.

이어서, 타각 측정 수단의 광로에 대해 설명한다. 또한, 이하의 설명에 있어서는, 좌안용 광로를 예로 들어 설명한다. 우안용 광로에 있어서도, 좌안용 광로와 동일한 구성으로 되어 있다. 예를 들어, 좌안용의 타각 측정 수단에 있어서, 타각식 측정 광학계 (10) 에 있어서의 투영 광학계 (10a) 의 광원 (11) 으로부터 출사된 측정광은, 릴레이 렌즈 (12) 로부터 대물 렌즈 (14) 까지를 개재하여 보정 광학계 (90) 에 입사된다. 보정 광학계 (90) 를 통과한 측정광은, 좌안용 측정 수단 (7L) 으로부터 좌안용의 편향 미러 (81L) 를 향하여 투영된다. 좌안용 측정 수단 (7L) 으로부터 출사되어 좌안용의 편향 미러 (81) 에서 반사된 측정광은, 하프 미러 (84) 에 의해 오목면 미러 (85) 를 향하여 반사된다. 오목면 미러에 의해 반사된 측정광은, 하프 미러 (84) 를 투과하여 좌안 (EL) 에 도달하고, 좌안 (EL) 의 안저 상에 스폿상의 점광원 이미지를 형성한다. 이 때, 광축 둘레로 회전하는 프리즘 (15) 에 의해, 홀 미러 (13) 의 홀부의 눈동자 투영 이미지 (눈동자 상에서의 투영 광속) 는, 고속으로 편심 회전된다.

좌안 (EL) 의 안저 상에 형성된 점광원 이미지의 광은, 반사·산란되어 피검안 (E) 을 사출하고, 측정광이 통과한 광로를 경유하여 대물 렌즈 (14) 에 의해 집광되고, 다이크로익 미러 (29), 다이크로익 미러 (35), 프리즘 (15), 홀 미러 (13), 릴레이 렌즈 (16), 미러 (17) 까지를 개재한다. 미러 (17) 까지를 개재한 반사광은, 수광 조리개 (18) 의 개구 상에서 다시 집광되고, 콜리메이터 렌즈 (19) 에서 대략 평행 광속 (정시안의 경우) 이 되고, 링 렌즈 (20) 에 의해 링상 광속으로서 취출되고, 링 이미지로서 촬상 소자 (22) 에 수광된다. 수광한 링 이미지를 해석함으로써, 타각적으로 피검안의 광학 특성을 측정할 수 있다.

＜제어부＞

예를 들어, 제어부 (70) 는, CPU (프로세서), RAM, ROM 등을 구비한다. 예를 들어, 제어부 (70) 의 CPU 는, 자각식 검안 장치 (1) 의 각 부재의 제어를 담당한다. 예를 들어, RAM 은 각종 정보를 일시적으로 기억한다. 제어부 (70) 의 ROM 에는, 자각식 검안 장치 (1) 의 동작을 제어하기 위한 각종 프로그램, 각종 검사를 위한 시표 데이터, 초기값 등이 기억되어 있다. 또한, 제어부 (70) 는, 복수의 제어부 (요컨대, 복수의 프로세서) 에 의해 구성되어도 된다.

예를 들어, 제어부 (70) 에는, 불휘발성 메모리 (기억부) (72), 및 모니터 (본 실시형태에 있어서는, 조작부를 겸한다) (4), 각종 부재 등이 전기적으로 접속되어 있다. 불휘발성 메모리 (이하, 메모리라고 기재) (72) 는, 전원의 공급이 차단되어도 기억 내용을 유지할 수 있는 비일과성의 기억 매체이다. 예를 들어, 하드 디스크 드라이브, 플래시 ROM, OCT 디바이스 (1) 및 자각식 검안 장치 (1) 에 착탈 가능하게 장착되는 USB 메모리 등을 불휘발성 메모리 (72) 로서 사용할 수 있다. 예를 들어, 메모리 (72) 에는, 자각식 측정 수단 및 타각식 측정 수단을 제어하기 위한 제어 프로그램이 기억되어 있다.

＜제어 동작＞

이하, 자각식 검안 장치 (1) 의 제어 동작에 대해 설명한다. 도 6 은, 본 실시예에 있어서의 제어 동작의 흐름에 대해 설명하는 플로 차트이다. 검사자는, 악대 (5) 에 피검사자의 턱을 받치게 하고, 정시창 (3) 을 관찰하도록 지시한다. 검사자는, 피검사자에게 디스플레이 (31) 에 표시된 고시표를 고시하도록 지시한 후, 피검안에 대한 얼라인먼트를 실시한다.

＜얼라인먼트 동작 (S1)＞

검사자에 의해, 얼라인먼트 개시 스위치가 선택되면, 제어부 (70) 는, 자동 얼라인먼트 (S1) 를 개시한다. 또한, 본 실시예에 있어서는, 원용시에 있어서의 피검안의 광학 특성을 측정하는 경우를 예로 들어 설명한다. 근용시에 있어서도 원용시와 동일하게 하여 피검안의 광학 특성을 측정할 수 있다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 촬상 광학계 (100) 에 의해 촬상된 얼굴 화상으로부터 좌우의 피검안의 동공 위치를 검출한다. 예를 들어, 동공 위치가 검출되면, 제어부 (70) 는, 전안부 이미지가 모니터 (4) 에 표시되도록 자각식 검안 장치 (1) 를 제어한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 우안용의 편향 미러 (81R), 좌안용의 편향 미러 (81L) 를 각각 구동시키고, XY 방향으로 회전시킨다. 또, 예를 들어, 동공 위치가 검출되면, 제어부 (70) 는, 우안용 측정 수단 (7R) 및 좌안용 측정 수단 (7L) 을 각각 X 방향으로 이동시킬 수 있다. 즉, 제어부 (70) 는, 편향 미러 (81) 를 구동시킴으로써 XY 방향의 얼라인먼트를 실시하고, 측정 수단 (7) 을 구동시킴으로써 Z 방향의 얼라인먼트를 실시한다.

또한, 본 실시형태에 있어서는, 편향 미러 (81) 와 측정 수단 (7) 의 구동에 의해 XYZ 방향의 얼라인먼트를 조정하는 구성을 예로 들어 설명하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 피검안과 자각식 측정 수단 및 타각식 측정 수단의 위치 관계를 조정할 수 있는 구성이면 된다. 즉, 교정 광학계 (60) 에 의해 교정된 이미지가 피검안의 안저 상에 형성되도록 XYZ 방향을 조정할 수 있는 구성이면 된다. 예를 들어, 악대 (5) 에 대해, 자각식 검안 장치 (1) 를 XYZ 방향으로 이동 가능한 구성을 형성하여, 자각식 검안 장치 (1) 를 이동시키는 구성이어도 된다. 또, 예를 들어, 편향 미러 (81) 와 측정 유닛을 일체적으로 XYZ 방향으로 이동 가능한 구성으로서, XYZ 방향의 조정을 실시할 수 있는 구성으로 해도 된다. 또, 예를 들어, 편향 미러 (81) 에 의해서만 XYZ 방향의 조정을 실시할 수 있는 구성으로 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 편향 미러 (81) 는, 회전 구동함과 함께, 측정 유닛과의 사이의 거리가 변경되도록, 편향 미러 (81) 가 Z 방향 이동하는 구성을 들 수 있다. 또한, 예를 들어, 얼라인먼트 제어에 있어서는, 양 피검안이 모니터 (4) 상에 표시되고, 동일 화면 상에서 양 피검안의 얼라인먼트 제어가 실시되어도 된다. 또, 예를 들어, 얼라인먼트 제어에 있어서는, 모니터 (4) 상에 일방의 피검안이 표시되고, 일방의 피검안의 얼라인먼트 제어가 완료된 후, 타방의 피검안이 모니터 (4) 상에 표시되고, 타방의 피검안의 얼라인먼트 제어가 실시되도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 일방의 피검안의 얼라인먼트 제어 결과에 기초하여, 타방의 피검안의 얼라인먼트 제어가 실시되는 구성으로 해도 된다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 피검안에 대한 교정 광학계 (60) 의 이미지의 위치 편차를 검출한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 검출된 검출 결과에 기초하여, 구동 수단을 제어하고, 교정 광학계 (60) 의 이미지를 피검안에 도광하기 위한 외관의 광속을 편향시킴으로써 이미지의 형성 위치를 광학적으로 보정한다. 이와 같이, 본 실시형태에 있어서의 자각식 검안 장치 (1) 는, 피검안과 교정 광학계의 위치 편차를 검출하고, 이미지의 형성 위치를 광학적으로 보정하는 구성을 구비한다. 이로써, 피검안과 교정 광학계의 위치 편차를 보정함으로써, 적정한 위치에서 장치의 사용이 가능해져, 양호한 정밀도로 측정을 실시할 수 있다.

＜타각식 측정 (S2)＞

제어부 (70) 는, 얼라인먼트 완료 신호의 출력에 기초하여, 타각식 측정 (타각 측정) (S2) 을 개시하기 위한 타각 측정 개시 트리거 신호 (이하, 트리거 신호라고 기재) 를 발한다. 타각 측정을 개시하기 위한 트리거 신호가 발해지면, 제어부 (70) 는, 타각식 측정 광학계 (10) 로부터 측정 광속을 출사한다. 이 경우, 각 측정 광속은, 편향 미러 (81R, 81L) 를 개재하여 오목면 미러 (85) 에 의해 반사된 후, 피검안의 안저에 투영된다. 안저로부터 반사된 측정광은, 오목면 미러 (85) 를 개재하여 편향 미러 (81R (81L)) 에 의해 반사된 후, 촬상 소자 (22) 에 의해 측정 화상이 촬상된다.

예를 들어, 타각 안굴절력의 측정에 있어서는, 먼저 안굴절력의 예비 측정이 실시되고, 예비 측정의 결과에 기초하여 디스플레이 (31) 가 광축 (L2) 방향으로 이동됨으로써, 피검안 (E) 에 대해 운무가 가해져도 된다. 즉, 디스플레이 (31) 가 피검안 (E) 에 대해, 일단 핀트가 맞는 위치로 이동되어도 된다. 그 후, 운무가 가해진 피검안에 대해 안굴절력의 본 측정이 실시되어도 된다. 본측정에서는, 측정 화상은 촬상 소자 (22) 에 촬상되고, 촬상 소자 (22) 로부터의 출력 신호는, 메모리 (72) 에 화상 데이터 (측정 화상) 로서 기억된다. 그 후, 제어부 (70) 는, 메모리 (72) 에 기억된 링 이미지를 화상 해석하여 각 경선 방향의 굴절력의 값을 구한다. 제어부 (70) 는, 이 굴절력에 소정의 처리를 실시함으로써 원용시에서의 피검사자의 눈의 S (구면 도수), C (난시 도수), A (난시축 각도) 의 타각 안굴절력 (타각값) 을 얻는다. 얻어진 원용시에서의 타각값은 메모리 (72) 에 기억된다.

상기 타각 안굴절력의 측정에 있어서, 제어부 (70) 는, 보정 광학계 (90) 를 제어하여, 타각식 측정 광학계 (10) 의 광로에서 발생하는 광학 수차를 보정해도 된다. 이 경우, 타각식 측정 광학계 (10) 에 의해 측정된 굴절 도수에 따른 보정량을 메모리 (72) 로부터 취득하고, 취득된 수차 보정량에 기초하여 보정 광학계 (90) 를 제어한다.

보다 구체적으로는, 예비 측정에서 얻어진 안굴절력에 따라 보정량이 설정되고, 설정된 보정량에 기초하여 보정 광학계 (90) 가 구동된다. 이로써, 본 측정은, 타각식 측정 광학계 (10) 의 광로에서 발생하는 수차가 보정된 상태에 있어서 본 측정이 실시되므로, 타각 안굴절력을 양호한 정밀도로 측정할 수 있다. 또한, 안굴절력을 연속적으로 측정하는 경우 (예를 들어, 본 측정을 복수 실시한다), 각 측정 결과에 기초하여 보정 광학계 (90) 가 제어되어도 된다.

또한, 상기 설명에 있어서는, 원용에서의 타각 안굴절력이 측정되었지만, 이것에 한정되지 않고, 근용 거리에서 시표가 정시된 상태에서의 안굴절력인 근용에서의 타각 안굴절력이 측정되어도 된다. 또한, 타각 안굴절력 측정은, 좌우안 동시에 실행되어도 되고, 좌우안 각각의 타이밍으로 실시되어도 된다.

＜자각식 측정 (S3)＞

이어서, 자각식 측정 (S3) 이 실시된다. 타각 굴절력 측정이 완료되고, 모니터 (본 실시형태에 있어서는, 조작부를 겸한다) (4) 가 조작되면, 자각의 원용 시력 측정 모드 (자각 굴절력 측정) 모드로 전환된다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 디스플레이 (31) 를 제어하여, 광축 (L2) 상에 소요 시력값 시표를 표시해도 된다 (예를 들어, 시력값 0.8 의 시표). 피검안에 초기 정시 시표가 정시되면, 검사자는, 피검사자의 원용 시력 측정을 실시한다. 모니터 (4) 의 소정의 스위치가 눌리면, 정시되는 시력값 시표가 전환된다.

예를 들어, 검사자는, 피검사자의 회답이 정답인 경우에는, 1 단계 높은 시력값의 시표로 전환한다. 한편, 피검사자의 회답이 오답인 경우에는, 1 단계 낮은 시력값의 시표로 전환한다. 요컨대, 제어부 (70) 는, 모니터 (4) 로부터의 시력값 변경의 신호에 기초하여 시표를 전환해도 된다.

또, 검사자는, 모니터 (4) 를 사용하여, 교정 광학계 (60) 의 교정 도수를 변경하고, 피검안의 원용 자각값 (구면 도수 S, 난시 도수 C, 난시축 각도 A) 을 구해도 된다.

또한, 교정 광학계 (60) 의 교정 도수는, 좌우안 각각의 도수로 설정되어도 되고, 좌우안에서의 동일한 도수로 설정되어도 된다. 또한, 자각 안굴절력 측정은, 좌우안 동시에 실행되어도 되고, 좌우안 각각의 타이밍으로 실시되어도 된다. 또한, 각각의 타이밍인 경우, 비측정안의 디스플레이 (31) 에 시표를 표시하지 않도록 해도 되고, 교정 광학계 (60) 에 의해 포그 (예를 들어, 타각값에 대해 일정한 굴절 도수가 부가된다) 가 실시되어도 된다.

원용에서의 자각값이 구해진 후, 자각의 근용 시력 측정 모드로 전환되어도 된다. 근용 측정 모드로 설정되면, 제어부 (70) 는, 투광 광학계 (30) 를 제어하여, 편향 미러 (81) 에 의한 폭주각을 변경하고, 근용 위치에 시표를 정시해도 된다. 또한, 근용 검사에서의 시표의 정시 거리는, 조작부 (4) 로부터의 조작 신호에 기초하여 임의로 변경되어도 된다. 그 결과, 시표의 정시 거리가 원용 위치로부터 근용 위치로 변경된다. 또한, 근용 검사에 있어서는, 근용 위치에 있어서 시표의 정시 거리를 변경함으로써, 가입도·조절력을 자각적으로 구하도록 해도 된다.

이 경우, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 시표의 정시 거리에 따른 수차 보정량을 메모리 (72) 로부터 취득하고, 취득된 수차 보정량에 기초하여 보정 광학계 (90) 를 제어해도 된다. 또, 시표의 정시 거리가 변경되는 경우, 제어부 (70) 는, 변경되는 시표 정시 거리에 따라, 보정 광학계 (90) 에 의한 수차 보정량을 변경해도 된다. 이로써, 시표 정시 거리에 변경이 있었던 경우에도, 수차가 경감된 시표가 정시된다. 이 경우, 제어부 (70) 는, 시표의 정시 거리가 부가된 교정 도수에 따라 수차 보정량을 변화시켜도 된다.

또한, 제어부 (70) 는, 시표의 정시 위치의 변경에 따라, 광 편향 부재를 제어하여, 좌우의 시표 광속의 폭주 각도를 변경해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 폭주 각도에 대응하는 광 편향 부재의 편향 각도에 따른 수차 보정량을 메모리 (72) 로부터 취득하고, 취득된 수차 보정량에 기초하여 보정 광학계 (90) 를 제어해도 된다. 또, 시표 광속의 폭주 각도가 변경되는 경우, 제어부 (70) 는, 변경되는 폭주 각도에 따라, 보정 광학계 (90) 에 의한 수차 보정량을 변경해도 된다. 이로써, 폭주 각도에 변경이 있었던 경우에도, 수차가 경감된 시표가 정시된다.

근용 검사에 있어서는, 원용 검사와 마찬가지로, 예를 들어, 검사자는, 조작부 (4) 의 소정의 스위치를 사용하여 교정 광학계 (60) 의 교정 도수를 변경하고, 근용 시표가 정시된 상태에서의 자각적 안굴절력 (근용 자각값) 을 측정해도 된다. 근용 검사에 있어서, 제어부 (70) 는, 교정 도수의 변경에 따라 보정 광학계 (90) 의 수차 보정량을 변경해도 된다.

＜조절 정보의 취득 (S5)＞

여기서, 본 실시예에 있어서, 자각식 검안 장치 (1) 는, 자각식 측정을 실시하고 있는 동안에 타각식 측정을 실시하여, 피검안의 광학 특성의 변화를 파악하는 구성을 구비한다. 예를 들어, 본 실시예에 있어서는, 자각식 측정을 실시하고 있는 동안에 타각식 측정 수단에 의해 측정된 피검안의 광학 특성에 기초하여 조절 정보를 취득한다. 예를 들어, 조절 정보는, 자각식 측정을 실시하고 있는 동안의 피검안의 광학 특성의 변화를 파악하기 위해 사용할 수 있다.

이하, 조절 정보의 취득 (S5) 에 대해 설명한다. 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 제어부 (70) 는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 (S3) 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정한다.

보다 상세하게는, 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 제어부 (70) 는, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 1 광학 특성을 취득한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 제 2 광학 특성을 취득한다. 또한, 타각식 측정 수단에 의해 측정된 광학 특성은 메모리 (72) 에 기억되어도 된다.

예를 들어, 본 실시예에 있어서는, 제 1 광학 특성은, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하기 이전에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고, 제 1 광학 특성을 취득한다. 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 자각식 측정 전에 실시된 타각식 측정 (S2) 에 의해 취득된 광학 특성이 제 1 광학 특성 (예를 들어, 구면 도수, 난시 도수, 난시축 각도) 으로서 사용된다. 물론, 제 1 광학 특성으로는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하기 이전에, 별도로 타각식 측정 수단에 의해 취득되는 구성이어도 된다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 제 2 광학 특성은, 자각식 측정을 개시한 후, 미리 설정된 시간이 경과하였을 때 (예를 들어, 자각식 측정의 개시부터 1 분 후 등) 에 측정하도록 해도 된다. 또한, 제 2 광학 특성이 취득되는 타이밍으로서 설정된 시간이 경과하였을 때에 제 2 광학 특성이 취득되는 구성에 한정되지 않는다. 제 2 광학 특성은, 여러 가지 구성을 트리거로 하여 취득할 수 있다. 예를 들어, 제 2 광학 특성이 취득되는 타이밍으로는, 자각적인 측정의 개시시 (예를 들어, 시표 광속의 투영을 개시한 상태, 검사 프로그램을 개시한 상태, 자각식 검사 장치의 조작부의 조작을 개시한 상태, 교정 광학계의 구동을 개시한 상태 등), 검사 시표의 전환시, 자각 검사와 자각 검사 사이 (복수의 자각 검사를 실시하는 경우) 등의 적어도 어느 것이어도 된다. 물론, 상기 기재 이외의 타이밍으로, 타각 측정 개시의 트리거 신호가 출력되도록 해도 된다.

또한, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 복수의 광학 특성이 취득되도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 자각식 측정을 개시한 후, 미리 설정된 시간이 경과하였을 때에 제 2 광학 특성이 취득되고, 그 후, 미리 설정된 시간이 경과할 때마다 광학 특성 (예를 들어, 제 3 광학 특성, 제 4 광학 특성 등) 이 취득되도록 해도 된다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득한다. 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 제어부 (70) 는, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성을 차분 처리함으로써, 조절 정보를 취득한다. 또한, 이하의 설명에 있어서는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성으로서, 안굴절력의 구면 도수를 사용하는 경우를 예로 들어 설명한다. 또한, 본 실시예에 있어서는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성으로서, 안굴절력에 있어서의 구면 도수에 대해 설명을 하였지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성으로는, 안굴절력에 한정되지 않는다. 또, 예를 들어, 안굴절력으로는, 구면 도수, 난시 도수, 및 난시축 각도의 적어도 어느 것을 사용하도록 해도 된다.

보다 상세하게는, 본 실시예에 있어서, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하기 이전에 취득된 제 1 안굴절력과, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 취득된 제 2 안굴절력의 차분으로부터 조절 정보를 취득한다. 예를 들어, 제 1 안굴절력의 구면 도수가 1.0 디옵터 (D) 이고, 제 2 안굴절력의 구면 도수가 3.0 D 인 경우, 제어부 (70) 는 차분 처리를 실시하여, 조절 정보로서 구면 도수 2.0 D 를 취득한다.

이 때, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 교정 광학계에 의한 교정 정보에 기초하여, 타각식 측정 수단에 의해 피검안을 타각적으로 측정하여 얻어진 측정 결과를 보정하도록 해도 된다. 예를 들어, 자각식 검안 장치가 타각적 측정 수단에 의한 측정 광속이 자각적 측정 수단의 교정 광학계를 경유하는 구성인 경우, 제 1 광학 특성을 취득하였을 때의 교정 광학계 (60) 의 교정 상태 (광학 부재의 배치 상태) 와, 제 2 광학 특성을 취득하였을 때의 교정 광학계 (60) 의 교정 상태가 상이한 경우가 있다. 이 때문에, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성을 비교할 때에, 교정 광학계의 교정 상태를 고려하지 않고 비교를 실시한 경우에는, 조절 정보로서 정밀도가 양호한 결과를 취득하는 것이 곤란해진다.

이하의 설명에 있어서는, 교정 광학계에 의한 교정 정보에 기초하여, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성을 보정하는 경우를 예로 들어 설명한다. 또한, 본 실시형태에 있어서, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성을 교정 정보에 기초하여 보정하는 구성을 예로 들어 설명하지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 조절 정보를 교정 정보에 기초하여 보정하도록 해도 된다.

예를 들어, 본 실시예에 있어서, 제어부 (70) 는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성을 교정 광학계에 의한 교정 정보에 기초하여 보정한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 보정에 사용하기 위한 교정 정보를 취득한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 제 1 광학 특성을 취득하였을 때의 교정 광학계에 의한 교정 정보 (예를 들어, 구면 도수, 원주 도수, 원주축) 를 메모리 (72) 로부터 호출한다. 또, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 제 2 광학 특성을 취득하였을 때의 교정 광학계에 의한 교정 정보 (예를 들어, 구면 도수, 원주 도수, 원주축) 를 호출한다. 또한, 교정 광학계의 교정 정보는, 제어부 (70) 가 각 광학 특성의 취득시에 있어서의 교정 광학계의 교정 정보를 각 광학 특성과 관련지어, 메모리 (72) 에 기억시키도록 하면 된다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 제 1 광학 특성 취득시의 제 1 교정 정보와 제 2 광학 특성 취득시의 제 2 교정 정보를 메모리 (72) 로부터 호출한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 제 1 교정 정보에 기초하여 제 1 광학 특성을 보정하고, 제 2 교정 정보에 기초하여 제 2 광학 특성을 보정하도록 해도 된다. 예를 들어, 제 1 교정 정보의 구면 도수가 1.0 D, 제 2 교정 정보의 구면 도수가 4.0 D, 제 1 광학 특성의 구면 도수가 1.0 D, 제 2 광학 특성의 구면 도수가 5.0 D 인 경우, 교정 광학계의 영향이 없는 경우의 제 1 광학 특성의 구면 도수는 0 D 가 되고, 교정 광학계의 영향이 없는 경우의 제 2 광학 특성의 구면 도수는 1.0 D 가 된다. 이것으로부터, 교정 광학계의 영향이 없는 경우에 있어서, 제 1 광학 특성의 구면 도수와 제 2 광학 특성의 구면 도수를 차분 처리하면, 조절 정보로는 1.0 D 가 된다. 즉, 자각식 측정을 실시하는 동안에, 1.0 D 의 구면 도수의 변화가 발생한 것을 알 수 있다. 또한, 상기 구성에 있어서는, 교정 정보에 대해 구면 도수를 예로 들어 설명을 하였지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 교정 정보로서, 구면 도수, 난시 도수, 및 난시축 각도의 적어도 어느 것을 사용하도록 해도 된다.

또한, 제 1 광학 특성을 취득할 때에 교정 광학계에 의한 구동이 되고 있지 않고 (교정이 되고 있지 않고), 제 2 광학 특성을 취득할 때에만 교정 광학계에 의한 구동이 실시되고 있었던 (교정이 실시되고 있었던) 경우에는, 제 2 광학 특성만을 제 2 교정 정보에 의해 보정함으로써, 교정 광학계를 고려한 조절 정보의 취득이 가능해진다. 물론, 제 2 광학 특성을 취득할 때에 교정 광학계에 의한 구동이 되고 있지 않고 (교정이 되고 있지 않고), 제 1 광학 특성을 취득할 때에만 교정 광학계에 의한 구동이 실시되고 있었던 (교정이 실시되고 있었던) 경우에는, 제 1 광학 특성만을 제 1 교정 정보에 의해 보정함으로써, 교정 광학계를 고려한 조절 정보의 취득이 가능해진다.

또한, 본 실시형태에 있어서는, 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성을 교정 정보에 기초하여 보정하는 경우를 예로 들어 설명하였지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 조절 정보를 교정 정보에 기초하여 보정하도록 해도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 제 1 교정 정보와 제 2 교정 정보를 차분 처리하여 보정에 사용하기 위한 교정 정보를 취득한다. 예를 들어, 제 1 교정 정보의 구면 도수가 1.0 D, 제 2 교정 정보의 구면 도수가 4.0 D, 제 1 광학 특성의 구면 도수가 1.0 D, 제 2 광학 특성의 구면 도수가 5.0 D 인 경우, 보정에 사용하기 위해 취득되는 교정 정보로는 제 1 교정 정보와 제 2 교정 정보의 차분으로부터 3.0 D 가 된다. 또, 예를 들어, 조절 정보로는, 제 1 광학 특성과 제 2 광학 특성의 차분으로부터 4.0 D 가 된다. 이 때문에, 조절 정보를 교정 정보로 보정함으로써, 교정 광학계의 영향을 고려한 조절 정보로는, 1.0 D 가 된다.

상기와 같이, 교정 정보에 기초하여, 피검안을 타각적으로 측정하여 얻어진 측정 결과를 보정함으로써, 타각식 측정을 측정하기 위한 측정 광속이 교정 광학계를 경유함으로써 발생하는 광학 특성의 편차를 보정할 수 있다. 이로써, 교정 광학계에 의해 교정이 실시되고 있는 경우에 타각적인 측정을 실시한 경우에도, 광학 특성을 양호한 정밀도로 취득할 수 있다. 예를 들어, 특히, 타각적인 측정에 의해 취득된 적어도 2 개의 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득할 때에는, 광학 특성 사이에서 편차가 발생함으로써 비교하는 것이 곤란해지는 경우가 있기 때문에, 본 기술이 보다 효과적이다.

＜조절 정보에 기초하는 보정 처리 (S6)＞

예를 들어, 조절 정보가 취득되면, 제어부 (70) 는, 조절 정보를 출력한다. 본 실시예에 있어서, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 조절 상태 변화를 보정하기 위한 보정량을 설정하는 설정 수단에 조절 정보를 송신한다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 제어부 (70) 가 설정 수단을 겸한다. 물론, 제어부 (70) 와 상이한 구성으로서, 별도로 설정 수단 (설정 제어 수단) 이 형성되는 구성이어도 된다. 또한, 본 실시예에 있어서는, 조절 정보를 출력하는 구성으로서, 설정 수단에 조절 정보를 송신하는 구성을 예로 들어 설명하지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 조절 정보를 모니터 (4) 에 표시하도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 조절 정보를 인쇄하도록 해도 된다. 이 경우, 검사자는, 모니터 (4) 또는 인쇄물을 확인함으로써, 조절 상태를 확인할 수 있다.

예를 들어, 본 실시예에 있어서는, 제어부 (70) 는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 발생하는 피검안의 조절 상태 변화를 보정하기 위한 보정량을 조절 정보에 기초하여 설정한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 교정 광학계 (60) 를 제어하여, 설정된 보정량에 기초하여, 자각식 측정 수단에서 발생하는 피검안의 조절 상태 변화를 캔슬하는 보정을 실시한다 (S6). 또한, 자각식 측정 수단에서 발생하는 피검안의 조절 상태 변화를 캔슬하는 보정을 실시하기 위한 구성으로는, 교정 광학계 (60) 에 한정되지 않는다. 별도 상이한 보정용의 광학계가 형성되는 구성이어도 된다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 취득된 조절 상태에 기초하여 보정량을 설정한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 교정 광학계를 제어한다. 예를 들어, 보정량은, 조절 정보의 파라미터마다 미리 설정된 테이블이 작성되어도 되고, 작성된 테이블은, 메모리 (예를 들어, 메모리 (72)) 에 기억되어도 된다. 이 경우, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 조절 상태에 대응하는 보정량을 메모리 (72) 로부터 호출하고, 설정하도록 해도 된다. 또, 예를 들어, 보정량은, 조절 정보의 파라미터마다의 보정량을 도출하기 위한 연산식이 메모리 (72) 에 기억되고, 연산식을 사용하여 보정량을 구해도 된다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 자각 측정시에 있어서의 교정 광학계의 교정 상태에 대해, 보정을 실시한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 보정량을 부가하는 보정을 실시한다. 예를 들어, 자각식 측정시에 있어서의 교정 광학계의 구면 도수가 2.0 D 이고, 조절 정보의 구면 도수가 1.0 인 경우, 보정량을 1.0 D 로 설정한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 교정 광학계 (60) 의 구면 도수를 보정량 1.0 D 로 보정한다. 즉, 제어부 (70) 는, 교정 광학계 (60) 를 제어함으로써, 교정 광학계의 구면 도수를 1.0 D 가 되도록 보정한다.

또한, 본 실시예에 있어서는, 조절 정보에 기초하여, 피검안의 조절 상태 변화를 캔슬하는 보정을 실시하는 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 조절 정보에 기초하여, 조절 정보의 양부가 판정되고, 판정 결과가 모니터 (4) 또는 인쇄물에 표시되도록 해도 된다. 이 경우, 검사자는, 판정 결과를 확인하고, 판정 결과에 따른 처리를 실시하도록 해도 된다. 예를 들어, 검사자는, 조절 상태를 개선하기 위한 동작을 실시해도 된다.

이상과 같이, 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정함으로써, 자각식의 측정 동안에 있어서의 피검안의 광학 특성의 변화를 확인할 수 있다. 이로써, 검사자는, 자각식의 측정 동안에 있어서의 피검안의 광학 특성의 변화를 고려하여, 자각적인 측정을 실시해 갈 수 있다. 이 때문에, 검사자는, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 양호한 정밀도로 측정할 수 있다.

또, 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 타각적으로 측정하여 제 1 광학 특성을 취득함과 함께, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각적으로 측정한 제 2 광학 특성을 취득한다. 취득한 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보를 취득하고, 조절 정보를 출력한다. 이와 같은 구성에 의해, 자각식의 측정 동안에 있어서의 피검안의 광학 특성의 변화를 피검안의 제 1 광학 특성 및 제 2 광학 특성에 기초하는 조절 정보로부터 용이하게 취득할 수 있다. 이 때문에, 검사자는, 조절 정보를 사용함으로써, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 용이하게 양호한 정밀도로 측정할 수 있다.

또, 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하기 이전에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고 있다. 이로써, 자각식 측정 수단에 의한 자각식의 측정 전에 타각식의 측정이 실시되기 때문에, 자각식 측정 수단을 사용하고 있음으로써 발생하는 광학 특성의 변화를 억제한 상태에서, 타각식의 측정에 의한 광학 특성을 취득할 수 있다. 이 때문에, 광학 특성의 변화가 억제된 타각식의 측정에 의한 광학 특성을 취득할 수 있고, 보다 양호한 조절 정보를 취득할 수 있다.

또, 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 조절 정보가 비교 처리에 의해 취득됨으로써, 자각식의 측정 동안에 있어서의 피검안의 광학 특성의 변화를, 비교 처리된 조절 정보로부터 보다 용이하게 취득할 수 있다. 이 때문에, 검사자는, 조절 정보를 사용함으로써, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 보다 용이하게 양호한 정밀도로 측정할 수 있다.

또, 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 피검안의 조절 상태 변화를 보정하기 위한 보정량을 조절 정보에 기초하여 설정하고, 보정량에 기초하여, 자각식 측정 수단에서 발생하는 피검안의 조절 상태 변화를 캔슬하는 보정을 실시하고 있다. 이로써, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 피검안의 광학 특성의 변화가 발생한 경우에도, 광학 특성의 변화를 캔슬한 상태에서 측정을 실시할 수 있다. 이로써, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 용이하게 양호한 정밀도로 측정할 수 있다.

＜초기값 설정＞

예를 들어, 본 실시예에 있어서, 자각식 검안 장치 (1) 는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 개시한 후에, 타각적인 측정을 실시하고, 취득된 측정 결과를, 자각 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때의 교정 광학계 (60) 의 초기값으로서 설정하도록 해도 된다.

도 7 은, 본 실시예에 있어서의 초기값 설정의 제어 동작의 흐름에 대해 설명하는 플로 차트이다. 이하, 초기값 설정에 대해 설명한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 자각식 측정 (S11) 을 개시한다. 예를 들어, 검사자에 의해 모니터 (본 실시형태에 있어서는, 조작부를 겸한다) (4) 가 조작되면, 예를 들어, 제어부 (70) 는, 디스플레이 (31) 를 제어하여, 광축 (L2) 상에 필요한 시력값 시표를 표시한다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 개시한 후, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 피검안의 광학 특성을 취득한다 (S12). 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 제어부 (70) 는, 디스플레이 (31) 에 초기 정시 시표가 정시되면, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 피검안의 광학 특성을 취득한다. 즉, 본 실시예에 있어서, 자각적인 측정의 개시의 타이밍으로서, 초기 정시 시표가 정시된 타이밍을 사용하고 있다. 물론, 자각적인 측정 개시의 타이밍으로는, 초기 정시 시표가 정시된 타이밍에 한정되지 않는다.

예를 들어, 자각적인 측정의 개시의 타이밍으로는, 자각적인 측정의 제어가 개시되어 있는 상태이면 된다. 예를 들어, 자각적인 측정의 개시의 타이밍으로는, 검사 프로그램을 개시한 타이밍, 자각식 검사 장치 (1) 의 모니터 (본 실시형태에 있어서는, 조작부를 겸한다) (4), 교정 광학계 (60) 의 구동을 개시한 타이밍 등의 적어도 어느 것이어도 된다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 자각 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때의 교정 광학계 (60) 의 초기값으로서 설정한다 (S13). 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 초기값 설정에 사용되는 광학 특성으로서, 안굴절력 (예를 들어, 구면 도수, 난시 도수, 난시축 각도) 을 예로 들어 설명한다. 또한, 본 실시예에 있어서는, 초기값 설정에 사용되는 광학 특성으로서, 안굴절력을 예로 들어 설명하지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 초기값 설정에 사용되는 광학 특성으로는, 상이한 광학 특성이어도 된다. 또, 예를 들어, 초기값 설정에 사용되는 안굴절력으로는, 구면 도수, 난시 도수, 및 난시축 각도의 적어도 어느 것을 사용하도록 해도 된다.

예를 들어, 본 실시예에 있어서, 제어부 (70) 는, 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 타각식 측정 수단에 의한 타각적인 측정을 개시하기 전에 자각식 측정 수단에 의해 실시되고 있었던 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정 (S11) 에 있어서의 교정 광학계의 초기값으로서 설정한다. 또한, 타각 측정 수단에 의해, 피검안의 광학 특성을 취득하고 있는 동안, 자각식 측정이 계속해서 실시되고 있어도 된다. 또, 타각 측정 수단에 의해, 피검안의 광학 특성을 취득하고 있는 동안, 자각식 측정이 일시적으로 정지되어도 된다. 이 경우, 초기값이 설정됨과 함께, 제어부 (70) 는, 자각식 측정을 재개하도록 해도 된다. 또, 이 경우, 초기값이 설정된 후, 검사자에 의해, 자각식 측정을 개시하는 스위치가 선택됨으로써, 자각식 측정이 재개되도록 해도 된다.

예를 들어, 제어부 (70) 는, 타각 측정 수단에 의해, 피검안의 안굴절력을 취득한다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 피검안의 안굴절력을 취득하면, 안굴절력에 기초하여 교정 광학계 (60) 를 구동하고, 자각식 검사의 초기값으로서 설정한다. 예를 들어, 타각 측정 수단에 의해, 피검안의 안굴절력에 기초하여, 피검안의 굴절 오차를 교정하도록 교정 광학계 (60) 가 제어된다.

예를 들어, 교정 광학계 (60) 가 제어되고, 초기값의 설정이 완료되면, 검사자는, 초기값의 설정이 완료된 상태로부터 모니터 (4) 를 사용하여, 교정 광학계 (60) 의 교정 도수를 변경하고, 피검안의 자각적인 광학 특성을 구해 나간다 (S15). 즉, 초기값의 설정이 완료된 상태로부터 자각식 측정이 실시된다.

예를 들어, 본 실시예에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 개시한 후, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하여 피검안의 광학 특성을 취득한다. 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성이, 자각 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때의 교정 광학계의 초기값으로서 설정된다. 이와 같은 구성에 의해, 타각적인 측정이 완료될 때까지, 자각식 검사 장치에 의한 자각적인 측정의 실시를 대기할 필요가 없어, 피검안의 광학 특성을 신속하게 측정할 수 있다.

또, 예를 들어, 본 실시예에 있어서, 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 타각식 측정 수단에 의한 타각적인 측정을 개시하기 전에 자각식 측정 수단에 의해 실시되고 있었던 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정에 있어서의 교정 광학계의 초기값으로서 설정한다. 이와 같은 구성에 의해, 자각식 검사 장치에 의한 자각적인 측정을 신속하게 실시할 수 있다.

또한, 본 실시예에 있어서는, 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 타각식 측정 수단에 의한 타각적인 측정을 개시하기 전에, 자각식 측정 수단에 의해 실시되고 있었던 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정에 있어서의 교정 광학계의 초기값으로서 설정하는 구성을 예로 들어 설명하였지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 제어부 (70) 는, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 1 자각식 측정을 실행한 후, 재차, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 2 자각식 측정을 실행한다. 제어부 (70) 는, 제 1 자각식 측정을 개시한 후, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정한다. 제어부 (70) 는, 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 제 2 자각식 측정의 초기값으로서 설정한다. 또한, 예를 들어, 제 1 자각식 측정은, 제 2 자각식 측정에 의해 취득되는 광학 특성과는 상이한 광학 특성을 취득하는 측정이다. 이 경우, 예를 들어, 제 1 자각식 측정은, 교정 광학계에 의해 시표 광속의 광학 특성을 변화시키지 않는 무교정 상태에서, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정이어도 된다. 즉, 제 1 자각식 측정은, 나안 검사여도 된다. 예를 들어, 제 2 자각식 측정은, 상기 교정 광학계에 의해 상기 시표 광속의 광학 특성을 변화시켜 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정이어도 된다.

예를 들어, 본 실시예에 있어서, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 1 자각식 측정을 실행한 후, 재차, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 2 자각식 측정을 실행한다. 제 1 자각식 측정을 개시한 후, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하고, 타각적으로 측정된 피검안의 광학 특성을, 제 2 자각식 측정의 초기값으로서 설정한다. 이와 같은 구성에 의해, 재차, 자각 측정을 실시하는 경우에도, 상이한 자각 측정시에 있어서 이미 초기값이 취득되어 있기 때문에, 신속하게 측정을 실시할 수 있다.

1 : 자각식 검안 장치
2 : 케이싱
3 : 정시창
4 : 모니터
5 : 악대
6 : 기대
7 : 측정 수단
10 : 타각식 측정 광학계
25 : 자각식 측정 광학계
30 : 투광 광학계
45 : 제 1 지표 투영 광학계
46 : 제 2 지표 투영 광학계
50 : 관찰 광학계
60 : 교정 광학계
70 : 제어부
72 : 메모리
81 : 편향 미러
84 : 하프 미러
85 : 오목면 미러
90 : 보정 광학계
100 : 촬상 광학계

Claims (13)

1. 시표 광속을 피검안을 향하여 투영하는 투광 광학계의 광로 중에 배치되고, 상기 시표 광속의 광학 특성을 변화시키는 교정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정 수단을 구비하고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 검안 장치로서,
   피검안의 안저에 측정광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 측정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하는 타각식 측정 수단과,
   상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하는 제어 수단을 구비하고,
   상기 제어 수단은, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하여 제 1 안굴절력을 취득함과 함께, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하여 제 2 안굴절력을 취득하고,
   상기 제 1 안굴절력 및 상기 제 2 안굴절력에 기초하는 조절 정보를 취득하는 취득 수단과,
   상기 조절 정보를 출력하는 출력 수단을 구비하고,
   상기 조절 정보는 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 있어서의 상기 피검안의 안굴절력의 변화를 나타내는, 자각식 검안 장치.
2. 삭제
3. 제 1 항에 있어서,
   상기 제어 수단은, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하기 이전에, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하고, 상기 제 1 안굴절력을 취득하는, 자각식 검안 장치.
4. 제 1 항에 있어서,
   상기 취득 수단은, 상기 제 1 안굴절력과 상기 제 2 안굴절력을 차분 처리함으로써, 상기 조절 정보를 취득하는 것을 특징으로 하는 자각식 검안 장치.
5. 제 1 항에 있어서,
   상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 발생하는 상기 피검안의 조절 상태 변화를 보정하기 위한 보정량을 상기 조절 정보에 기초하여 설정하는 설정 수단과,
   상기 설정 수단에 의해 설정된 상기 보정량에 기초하여, 상기 자각식 측정 수단에서 발생하는 상기 피검안의 상기 조절 상태 변화를 캔슬하는 보정을 실시하는 제 1 보정 수단을 구비하는, 자각식 검안 장치.
6. 제 5 항에 있어서,
   상기 교정 광학계는, 상기 제 1 보정 수단을 겸용하는 것을 특징으로 하는 자각식 검안 장치.
7. 제 1 항에 있어서,
   상기 타각식 측정 수단은, 좌우 한 쌍으로 형성된 우피검안용 측정 광학계와 좌피검안용 측정 광학계를 갖는 것을 특징으로 하는 자각식 검안 장치.
8. 시표 광속을 피검안을 향하여 투영하는 투광 광학계의 광로 중으로서, 상기 시표 광속의 광학 특성을 변화시키는 교정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정 수단을 구비하고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 검안 장치로서,
   피검안의 안저에 측정광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 측정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하는 타각식 측정 수단과,
   상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하여 제 1 안굴절력을 취득함과 함께, 상기 제 1 안굴절력을 취득한 타이밍과는 상이한 타이밍으로, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하여 제 2 안굴절력을 취득하는 제어 수단과,
   상기 제 1 안굴절력 및 상기 제 2 안굴절력에 기초하는 조절 정보를 취득하는 취득 수단과,
   상기 조절 정보를 출력하는 출력 수단을 구비하고,
   상기 조절 정보는 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 있어서의 상기 피검안의 안굴절력의 변화를 나타내는, 자각식 검안 장치.
9. 제 1 항 또는 제 8 항에 있어서,
   상기 교정 광학계가 상기 측정 광학계의 광로 중에 배치되고,
   상기 교정 광학계에 의한 교정 정보에 기초하여, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안을 타각적으로 측정하여 얻어진 측정 결과를 보정하는 제 2 보정 수단을 구비하는, 자각식 검안 장치.
10. 시표 광속을 피검안을 향하여 투영하는 투광 광학계와, 상기 투광 광학계의 광로 중으로서, 상기 시표 광속의 광학 특성을 변화시키는 교정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정 수단과, 피검안의 안저에 측정광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 측정 광학계를 갖고, 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하는 타각식 측정 수단을 구비하고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 검안 장치에서 사용되는 매체에 저장된 자각식 검안 프로그램으로서,
    상기 자각식 검안 장치의 프로세서에 의해 실행됨으로써,
    상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하는 제어 스텝으로서, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하여 제 1 안굴절력을 취득함과 함께, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하여 제 2 안굴절력을 취득하는 제어 스텝과,
    상기 제 1 안굴절력 및 상기 제 2 안굴절력에 기초하는 조절 정보를 취득하는 취득 스텝과,
    상기 조절 정보를 출력하는 출력 스텝을 상기 자각식 검안 장치에 실행시키고,
    상기 조절 정보는 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에 있어서의 상기 피검안의 안굴절력의 변화를 나타내는 것을 특징으로 하는 매체에 저장된 자각식 검안 프로그램.
11. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어 수단은, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정을 개시한 후, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하여 상기 피검안의 안굴절력을 취득하고,
    상기 제어 수단에 의해 타각적으로 측정된 상기 피검안의 안굴절력을, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때의 상기 교정 광학계의 초기값으로서 설정하는 초기값 설정 수단을 구비하는, 자각식 검안 장치.
12. 제 11 항에 있어서,
    상기 초기값 설정 수단은, 상기 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 상기 피검안의 안굴절력을, 상기 타각식 측정 수단에 의한 타각적인 측정을 개시하기 전에 상기 자각식 측정 수단에 의해 실시되고 있었던 상기 피검안의 광학 특성의 자각적인 측정에 있어서의 상기 교정 광학계의 초기값으로서 설정하는, 자각식 검안 장치.
13. 제 11 항에 있어서,
    상기 제어 수단은, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 1 자각식 측정을 실행한 후, 재차, 상기 자각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 제 2 자각식 측정을 실행하는 제어 수단으로서, 상기 제 1 자각식 측정을 개시한 후, 상기 타각식 측정 수단에 의해 상기 피검안의 안굴절력을 타각적으로 측정하고,
    상기 초기값 설정 수단은, 상기 타각식 측정 수단에 의해 타각적으로 측정된 상기 피검안의 안굴절력을, 상기 제 2 자각식 측정의 초기값으로서 설정하는, 자각식 검안 장치.

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