KR102386369B1 - Polarizing plate inspection method and inspection apparatus - Google Patents

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슈야 후루사와
다다아키 스기와키
마사히로 야에가시
마키코 기무라
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닛토덴코 가부시키가이샤
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Abstract

[과제] 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판의 외관을 바람직하게 검사하는 방법을 제공하는 것.
[해결 수단] 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판을, 그 장척 방향으로 반송하면서 그 외관을 검사하는 방법으로서, 그 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과, 그 화상 데이터를 해석하여 결함 후보부를 추출하는 공정과, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정과, 결함 후보부의 사이즈에 기초하여 결함을 검출하는 공정을 포함하는 검사 방법.
[Problem] To provide a method for preferably inspecting the appearance of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the long picture direction.
[Solution means] A method of inspecting the appearance of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the long picture direction while conveying it in the long picture direction, the step of imaging the polarizing plate to acquire image data, and the image An inspection method, comprising: a step of analyzing data to extract a candidate defect portion; a step of determining whether the defect candidate portion has a size equal to or less than a reference value; and a step of detecting a defect based on the size of the defect candidate portion.

Description

편광판의 검사 방법 및 검사 장치{POLARIZING PLATE INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS}Inspection method and inspection apparatus of a polarizing plate

본 발명은 비편광부를 갖는 편광판의 검사 방법 및 검사 장치에 관한 것이다. 대표적으로는, 비편광부를 갖는 편광자를 포함하는 편광판의 검사 방법 및 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection method and an inspection apparatus for a polarizing plate having a non-polarization part. Representatively, it relates to the inspection method and inspection apparatus of the polarizing plate containing the polarizer which has a non-polarization part.

휴대 전화, 노트형 퍼스널 컴퓨터 (PC) 등의 화상 표시 장치에는, 카메라 등의 내부 전자 부품이 탑재되어 있는 것이 있다. 이와 같은 화상 표시 장치의 카메라 성능 등의 향상을 목적으로 하여, 여러 가지 검토가 이루어지고 있다 (예를 들어, 특허문헌 1 ∼ 7). 그러나, 스마트 폰, 터치 패널식의 정보 처리 장치의 급속한 보급에 의해서, 카메라 성능 등이 더욱 향상될 것이 요망되고 있다. 또, 화상 표시 장치의 형상의 다양화 및 고기능화에 대응하기 위해서, 부분적으로 편광 성능을 갖는 편광판이 요망되고 있다. 이들 요망을 공업적 및 상업적으로 실현하기 위해서는 허용 가능한 비용으로 화상 표시 장치 및/또는 그 부품을 제조하는 것이 요망되는 바, 그러한 기술을 확립하기 위해서는 여러 가지 검토 사항이 남아 있다.DESCRIPTION OF RELATED ART Some image display apparatuses, such as a cellular phone and a notebook personal computer (PC), are equipped with internal electronic components, such as a camera. For the purpose of improving the camera performance of such an image display apparatus, etc., various examination is made|formed (for example, patent documents 1-7). However, with the rapid spread of smart phones and touch panel type information processing devices, it is desired that camera performance and the like be further improved. Moreover, in order to respond to the diversification of the shape of an image display apparatus, and high functionalization, the polarizing plate which has polarization performance partially is desired. In order to realize these demands industrially and commercially, it is desired to manufacture an image display device and/or its parts at an acceptable cost, and various considerations remain in order to establish such a technology.

일본 공개특허공보 2011-81315호Japanese Patent Laid-Open No. 2011-81315 일본 공개특허공보 2007-241314호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2007-241314 미국 특허출원공개 제2004/0212555호 명세서Specification of US Patent Application Publication No. 2004/0212555 한국 공개특허공보 제10-2012-0118205호Korean Patent Publication No. 10-2012-0118205 한국 특허공보 제10-1293210호Korean Patent Publication No. 10-1293210 일본 공개특허공보 2012-137738호Japanese Patent Laid-Open No. 2012-137738 미국 특허출원공개 제2014/0118826호 명세서Specification of US Patent Application Publication No. 2014/0118826

본 발명자들이, 부분적으로 편광 성능을 갖는 편광판으로서, 비편광부를 갖는 편광자를 사용하여 편광판을 제조하고, 얻어진 편광판을 외관 검사에 제공한 바, 비편광부가 결함으로서 잘못 검출된다는 문제에 직면하였다. 본 발명은, 당해 문제를 해결하기 위해서 이루어진 것으로서, 그 주된 목적은, 비편광부를 갖는 편광자를 포함하여, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판의 외관을 바람직하게 검사하는 방법을 제공하는 것에 있다.When the present inventors partially produced a polarizing plate using a polarizer having a non-polarization part as a polarizing plate having polarization performance, and subjected the obtained polarizing plate to an appearance inspection, they encountered a problem that the non-polarization part was erroneously detected as a defect. The present invention has been made in order to solve the problem, and its main object is a method for preferably inspecting the appearance of a long polarizing plate having a non-polarizing part arranged at predetermined intervals in a long direction, including a polarizer having a non-polarizing part is to provide

본 발명에 의하면, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판을, 그 장척 방향으로 반송하면서 그 외관을 검사하는 방법이 제공된다. 그 검사 방법은, 그 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과, 그 화상 데이터를 해석하여 결함 후보부를 추출하는 공정과, 그 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정과, 그 결함 후보부의 사이즈에 기초하여 결함을 검출하는 공정을 포함한다.ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the method of inspecting the external appearance is provided, conveying the elongate polarizing plate which has a non-polarization part arrange|positioned at predetermined intervals in the direction of a long picture, conveying in the direction of a long picture. The inspection method includes a step of acquiring image data by imaging the polarizing plate, a step of analyzing the image data to extract a defect candidate portion, a step of determining whether the defect candidate portion has a size equal to or less than a reference value; and a step of detecting a defect based on the size of the defect candidate portion.

일 실시형태에 있어서는, 상기 편광판이, 장척 방향 및 폭 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는다.In one embodiment, the said polarizing plate has the non-polarization part arrange|positioned at predetermined intervals in the elongate direction and the width direction.

일 실시형태에 있어서는, 상기 화상 데이터의 취득이, 상기 편광판의 연속적인 촬상에 기초하여 행해진다.In one embodiment, acquisition of the said image data is performed based on continuous imaging of the said polarizing plate.

일 실시형태에 있어서는, 상기 결함 후보부의 추출이, 상기 화상 데이터의 휘도 정보에 기초하여 행해진다.In one embodiment, extraction of the said defect candidate part is performed based on the brightness|luminance information of the said image data.

일 실시형태에 있어서는, 상기 결함 후보부가 상기 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 공정을 추가로 포함하고, 상기 결함을 검출하는 공정이, 상기 결함 후보부의 사이즈 및 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출하는 공정이다.In one embodiment, further comprising the process of determining whether the said defect candidate part has periodicity in the said long direction, The process of detecting the said defect is a defect based on the size of the said defect candidate part, and the presence or absence of periodicity. is the process of detecting

일 실시형태에 있어서는, 상기 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서만, 상기 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단한다.In one Embodiment, it is judged whether it has periodicity in the said elongate direction only about the defect candidate part which has a size exceeding the said reference value.

일 실시형태에 있어서는, 상기 결함 후보부의 주기성 유무의 판단이, 상기 결함 후보부의 장척 방향에 있어서의 위치 좌표에 기초하여 행해진다.In one embodiment, determination of the presence or absence of periodicity of the said defect candidate part is performed based on the positional coordinate in the long direction of the said defect candidate part.

일 실시형태에 있어서는, 상기 결함 후보부의 주기성 유무의 판단이, 판단 대상인 결함 후보부와, 그 반송 방향 상류측에 존재하는 비편광부의 장척 방향의 거리가, 소정 거리인지의 여부에 기초하여 행해진다.In one embodiment, determination of the presence or absence of periodicity of the said defect candidate part is performed based on whether the distance in the long direction of the defect candidate part which is a judgment object, and the non-polarization part which exists upstream in the conveyance direction is a predetermined distance. .

본 발명의 다른 국면에 의하면, 편광판의 제조 방법이 제공된다. 그 제조 방법은, 상기 검사 방법에 의해서 편광판을 검사하는 것을 포함한다.According to another aspect of this invention, the manufacturing method of a polarizing plate is provided. The manufacturing method includes test|inspecting a polarizing plate by the said test|inspection method.

본 발명의 또 다른 국면에 의하면, 장척상의 편광판의 외관 검사 장치가 제공된다. 그 외관 검사 장치는, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 촬상 장치와, 그 화상 데이터를 해석하여 그 편광판의 결함을 검출하는 화상 해석 장치를 구비한다. 그 화상 해석 장치가, 그 화상 데이터에 기초하여 결함 후보부를 추출하는 결함 후보부 추출부와, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 사이즈 판단부와, 결함 후보부가 그 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 주기성 판단부와, 결함 후보부의 사이즈, 또는, 결함 후보부의 사이즈와 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출하는 결함 검출부를 갖는다.According to another aspect of this invention, the external appearance inspection apparatus of a long polarizing plate is provided. The appearance inspection device includes an imaging device that acquires image data by imaging a long polarizing plate having a non-polarizing portion arranged at predetermined intervals in the direction of a long picture, and an image analysis device that analyzes the image data and detects a defect in the polarizing plate. be prepared The image analysis apparatus includes a defect candidate part extraction unit that extracts a defect candidate unit based on the image data, a size determination unit that determines whether the defect candidate unit has a size equal to or less than a reference value, and a defect candidate unit in the elongate direction It has a periodicity determination unit that determines whether or not periodicity is present, and a defect detection unit that detects defects based on the size of the defect candidate portion or the size of the defect candidate portion and the presence or absence of periodicity.

본 발명의 검사 방법에 의하면, 비편광부를 결함으로서 잘못 검출하는 것을 회피할 수 있기 때문에, 비편광부를 갖는 편광자를 포함하여, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판의 외관을 바람직하게 검사할 수 있다.According to the inspection method of the present invention, since it is possible to avoid erroneous detection of a non-polarization part as a defect, the appearance of a long polarizing plate having a non-polarization part arranged at predetermined intervals in the direction of a long picture including a polarizer having a non-polarization part Preferably, it can be inspected.

도 1 은, 본 발명의 검사 방법에 제공될 수 있는 편광판의 개략 단면도이다.
도 2a 는, 비편광부의 배치 패턴의 일례를 설명하는 개략 평면도이다.
도 2b 는, 비편광부의 배치 패턴의 다른 예를 설명하는 개략 평면도이다.
도 2c 는, 비편광부의 배치 패턴의 또 다른 예를 설명하는 개략 평면도이다.
도 3 은, 본 발명의 검사 방법에 사용될 수 있는 검사 장치를 설명하는 개략도이다.
도 4 는, 본 발명의 일 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 플로 차트이다.
도 5 는, 본 발명의 다른 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 플로 차트이다.
도 6 은, 도 5 에서 나타낸 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 개략도이다.
1 is a schematic cross-sectional view of a polarizing plate that can be provided in the inspection method of the present invention.
It is a schematic plan view explaining an example of the arrangement pattern of a non-polarization part.
It is a schematic plan view explaining the other example of the arrangement pattern of a non-polarization part.
2C is a schematic plan view illustrating another example of an arrangement pattern of a non-polarization part.
3 is a schematic diagram illustrating an inspection apparatus that can be used in the inspection method of the present invention.
It is a flowchart explaining the specific procedure of defect detection in one Embodiment of this invention.
It is a flowchart explaining the specific procedure of defect detection in another embodiment of this invention.
FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a specific procedure of defect detection in the embodiment shown in FIG. 5 .

[A. 검사 방법 및 검사 장치][A. Inspection method and inspection device]

본 발명은, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는 장척상의 편광판을, 그 장척 방향으로 반송하면서 그 외관을 검사하는 방법을 제공한다. 본 발명의 검사 방법은, 비편광부를 갖는 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과, 그 화상 데이터를 해석하여 결함 후보부를 추출하는 공정과, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정과, 결함 후보부의 사이즈에 기초하여 결함을 검출하는 공정을 포함한다. 결함을 검출하는 공정에 있어서는, 예를 들어, 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부를 비편광부로 인식하여 구별하고, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 결함 후보부를 결함으로서 검출할 수 있다.This invention provides the method of inspecting the external appearance, conveying the elongate polarizing plate which has a non-polarization part arrange|positioned at predetermined intervals in the direction of a long picture, conveying in the direction of a long picture. The inspection method of the present invention includes a step of acquiring image data by imaging a polarizing plate having a non-polarizing portion, a step of analyzing the image data to extract a defect candidate portion, and determining whether the defect candidate portion has a size less than or equal to a reference value and a step of detecting a defect based on the size of the defect candidate portion. In the process of detecting a defect, the defect candidate part which has a size exceeding a reference value is recognized and distinguished as a non-polarization part, for example, and the defect candidate part which has a size less than a reference value can be detected as a defect.

본 발명의 검사 방법은, 결함 후보부가 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 공정을 추가로 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 결함을 검출하는 공정에 있어서, 결함 후보부의 사이즈 및 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출한다. 보다 구체적으로는, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 결함 후보부를 결함으로서 검출함과 함께, 주기성을 갖지 않는 결함 후보부도 결함으로서 검출한다. 결함 후보부를 사이즈와 주기성의 2 가지 측면에서 평가함으로써, 검사 정밀도를 향상시킬 수 있다. 검사 효율의 관점에서는, 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서만, 주기성의 유무를 판단하는 것이 바람직하다. 이 경우, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 모든 결함 후보부를 결함으로서 검출함과 함께, 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서는, 주기성을 갖지 않는 것만을 결함으로서 검출한다.The inspection method of the present invention may further include a step of determining whether the defect candidate portion has periodicity in the long direction. In this case, in the said defect detection process, a defect is detected based on the size of a defect candidate part, and the presence or absence of periodicity. More specifically, a defect candidate portion having a size equal to or less than a reference value is detected as a defect, and a defect candidate portion having no periodicity is also detected as a defect. By evaluating the defect candidate part from two aspects of size and periodicity, inspection precision can be improved. From the viewpoint of inspection efficiency, it is preferable to determine the presence or absence of periodicity only for the defect candidate portions having a size exceeding the reference value. In this case, all the defect candidate parts having a size equal to or less than the reference value are detected as defects, and only those that do not have periodicity are detected as defects in the defect candidate parts having a size exceeding the reference value.

A-1. 편광판A-1. Polarizer

본 발명의 검사 방법에 제공되는 편광판은 장척상이고, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는다. 그 비편광부는, 대표적으로는, 편광자에 형성된 비편광부에서 기인된다. 또한, 본 명세서에 있어서 「장척상」이란, 폭에 비해서 길이가 충분히 긴 세장 (細長) 형상을 의미하고, 예를 들어, 폭에 비해서 길이가 10 배 이상, 바람직하게는 20 배 이상의 세장 형장을 포함한다.The polarizing plate provided for the inspection method of this invention is elongate, and has the non-polarization part arrange|positioned at predetermined intervals in the direction of a long picture. The non-polarization part originates in the non-polarization part formed in the polarizer typically. In addition, in this specification, "long shape" means an elongate shape with a length sufficiently long compared to the width, for example, 10 times or more in length compared to the width, preferably 20 times or more elongate shape. include

도 1 은, 본 발명의 검사 방법에 제공될 수 있는 편광판의 개략 단면도이다. 편광판 (30) 은, 비편광부를 갖는 편광자 (10) 와, 편광자 (10) 의 양측에 배치된 보호 필름 (11, 12) 을 갖는다. 도시예에서는, 편광자의 양측에 보호 필름이 배치되어 있지만, 편측에만 보호 필름이 배치되어 있어도 된다. 혹은, 편광판은 편광자만으로 구성되어 있어도 된다 (즉, 편광판은 편광자이어도 된다).1 is a schematic cross-sectional view of a polarizing plate that can be provided in the inspection method of the present invention. The polarizing plate 30 has the polarizer 10 which has a non-polarization part, and the protective films 11 and 12 arrange|positioned on the both sides of the polarizer 10. In the example of illustration, although the protective film is arrange|positioned on both sides of a polarizer, the protective film may be arrange|positioned only on one side. Alternatively, the polarizing plate may be composed of only a polarizer (that is, the polarizing plate may be a polarizer).

편광자 (10) 는, 대표적으로는 이색성 물질을 함유하는 수지 필름으로 구성된다. 편광판 (30) 이 장척상인 점에서, 편광자 (10) 역시 장척상이다. 편광자 (10) 는, 장척 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는다. 일 실시형태에 있어서, 편광자 (10) 는, 장척 방향 및 폭 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 갖는다. 비편광부의 배치 패턴은, 목적에 따라서 적절히 설정될 수 있다. 대표적으로는, 상기 비편광부는, 편광자를 소정 사이즈의 화상 표시 장치에 장착하기 위해서 소정 사이즈로 재단 (예를 들어, 장척 방향 및/또는 폭 방향으로의 절단, 타발 (打拔)) 했을 때, 그 화상 표시 장치의 카메라부에 대응하는 위치에 배치될 수 있다. 일 실시형태에 있어서는, 비편광부는 장척 방향 및 폭 방향 중 어느 방향에 있어서도 실질적으로 등간격으로 배치된다. 또한, 「장척 방향 및 폭 방향 중 어느 방향에 있어서도 실질적으로 등간격」이란, 장척 방향의 간격이 등간격이며, 또한, 폭 방향의 간격이 등간격인 것을 의미하고, 장척 방향의 간격과 폭 방향의 간격이 동등할 필요는 없다. 다른 실시형태에 있어서는, 비편광부는 장척 방향으로 실질적으로 등간격으로 배치되며, 또한, 폭 방향으로 상이한 간격으로 배치되어도 된다. 폭 방향에 있어서 비편광부가 상이한 간격으로 배치될 경우, 인접하는 비편광부의 간격은 모두 상이해도 되고, 일부 (특정한 인접하는 비편광부의 간격) 만이 상이해도 된다. 또, 편광자의 장척 방향으로 복수의 영역을 규정하고, 각각의 영역마다 장척 방향 및/또는 폭 방향에 있어서의 비편광부의 간격을 설정해도 된다.The polarizer 10 is typically comprised from the resin film containing a dichroic substance. Since the polarizing plate 30 is a long picture, the polarizer 10 is also a long picture. The polarizer 10 has a non-polarization part arrange|positioned at predetermined intervals in the direction of a long picture. In one embodiment, the polarizer 10 has a non-polarization part arrange|positioned at predetermined intervals in the long direction and the width direction. The arrangement pattern of a non-polarization part can be set suitably according to the objective. Typically, when the said non-polarization part cuts to a predetermined size in order to mount a polarizer to the image display apparatus of a predetermined size (for example, cut|disconnection in the long direction and/or the width direction, and punching), It may be disposed at a position corresponding to the camera unit of the image display device. In one Embodiment, a non-polarization part is arrange|positioned at substantially equal intervals also in any direction of a long direction and a width direction. In addition, "substantially equally spaced in either the direction of the long picture and the width direction" means that the intervals in the long direction are equally spaced, and that the intervals in the width direction are equally spaced, and that the intervals in the long direction and the width direction The spacing need not be equal. In another embodiment, a non-polarization part is arrange|positioned at equal intervals substantially in the direction of a long picture, and may be arrange|positioned at the space|interval different in the width direction. When a non-polarization part is arrange|positioned by the space|interval from which a non-polarization part differs in the width direction, all may differ from the space|interval of an adjacent non-polarization part, and only one part (space|interval of a specific adjacent non-polarization part) may differ. Moreover, a some area|region may be prescribed|regulated by the long direction of a polarizer, and the space|interval of the non-polarization part in a long direction and/or the width direction may be set for every area|region.

도 2a ∼ 도 2c 는 각각, 편광자 (10) 에 있어서의 비편광부의 배치 패턴의 일례를 설명하는 개략 평면도이다. 일 실시형태에 있어서는, 비편광부 (10a) 는, 도 2a 에 나타내는 바와 같이, 장척 방향에 있어서 인접하는 비편광부를 잇는 직선이, 장척 방향에 대해서 실질적으로 평행하고, 그리고, 폭 방향에 있어서 인접하는 비편광부를 잇는 직선이, 폭 방향에 대해서 실질적으로 평행하도록 배치된다.2A-2C are schematic plan views explaining an example of the arrangement pattern of the non-polarization part in the polarizer 10, respectively. In one embodiment, as for the non-polarization part 10a, as shown to FIG. 2A, the straight line which connects the non-polarization part adjacent in a long direction is substantially parallel with respect to a long direction, And adjacent in the width direction It is arrange|positioned so that the straight line which connects a non-polarization part may be substantially parallel with respect to the width direction.

비편광부를 평면에서 보았을 때의 형상은, 목적에 따라서 임의의 적절한 형상이 채용될 수 있다. 예를 들어, 비편광부를 평면에서 보았을 때의 형상은, 편광자가 사용되는 화상 표시 장치의 카메라 성능에 악영향을 주지 않는 한에 있어서, 임의의 적절한 형상이 채용될 수 있다. 도시예의 비편광부는 원형이지만, 예를 들어, 타원형, 정방형, 사각형, 마름모꼴 등으로 형성되어 있어도 된다.Any suitable shape can be employ|adopted as for the shape at the time of planar view of a non-polarization part according to the objective. For example, as long as the shape of a non-polarization part in planar view does not adversely affect the camera performance of the image display apparatus in which a polarizer is used, any suitable shape can be employ|adopted. Although the non-polarization part of the example of illustration is circular, you may form, for example in an ellipse, a square, a quadrangle, a rhombus, etc.

비편광부의 투과율 (예를 들어, 23 ℃ 에 있어서의 파장 550 ㎚ 의 광으로 측정한 투과율) 은, 바람직하게는 50 % 이상이고, 보다 바람직하게는 60 % 이상이며, 더욱 바람직하게는 75 % 이상이고, 특히 바람직하게는 90 % 이상이다. 이와 같은 투과율이면, 예를 들어, 비편광부가 화상 표시 장치의 카메라부에 대응하도록 편광자를 배치했을 경우, 카메라의 촬영 성능에 대한 악영향을 방지할 수 있다.The transmittance|permeability (for example, the transmittance|permeability measured with the light of wavelength 550nm in 23 degreeC) of a non-polarization part becomes like this. Preferably it is 50 % or more, More preferably, it is 60 % or more, More preferably, it is 75 % or more. and particularly preferably 90% or more. If it is such a transmittance|permeability, for example, when a polarizer is arrange|positioned so that a non-polarization part may correspond to the camera part of an image display apparatus, the bad influence to the imaging|photography performance of a camera can be prevented.

비편광부는 임의의 적절한 형태일 수 있다. 일 실시형태에 있어서는, 비편광부는 부분적으로 탈색된 탈색부이다. 탈색부는, 예를 들어, 레이저 조사 또는 화학 처리에 의해서 형성된다. 다른 실시형태에 있어서는, 비편광부는 관통공이다. 관통공은, 예를 들어, 기계적 타발 (예를 들어, 펀칭, 톰슨날 타발, 플로터, 워터 제트) 또는 소정 부분의 제거 (예를 들어, 레이저 어블레이션 또는 화학적 용해) 에 의해서 형성된다.The non-polarizing portion may be of any suitable shape. In one embodiment, the non-polarization part is the partially decolorized part. The discolored portion is formed by, for example, laser irradiation or chemical treatment. In another embodiment, a non-polarization part is a through-hole. The through hole is formed, for example, by mechanical punching (eg punching, Thomson blade punching, plotter, water jet) or removal of a predetermined portion (eg laser ablation or chemical dissolution).

보호 필름 (11, 12) 의 형성 재료로는, 예를 들어, 디아세틸셀룰로오스, 트리아세틸셀룰로오스 등의 셀룰로오스계 수지, (메트)아크릴계 수지, 시클로올레핀계 수지, 폴리프로필렌 등의 올레핀계 수지, 폴리에틸렌테레프탈레이트계 수지 등의 에스테르계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 이것들의 공중합체 수지 등을 들 수 있다. 목적이나 원하는 구성에 따라서, 보호 필름 (11, 12) 의 일방은 생략해도 된다.As a forming material of the protective films 11 and 12, For example, cellulose resins, such as diacetyl cellulose and triacetyl cellulose, (meth)acrylic-type resin, cycloolefin resin, olefin resin, such as polypropylene, polyethylene Ester-type resins, such as a terephthalate-type resin, polyamide-type resin, polycarbonate-type resin, these copolymer resin, etc. are mentioned. One of the protective films 11 and 12 may be abbreviate|omitted according to the objective or desired structure.

보호 필름의 두께는, 대표적으로는 10 ㎛ ∼ 100 ㎛ 이다. 보호 필름은, 대표적으로는 접착층 (구체적으로는, 접착제층, 점착제층) 을 개재하여 편광자에 적층된다. 접착제층은, 대표적으로는 PVA 계 접착제나 활성 에너지선 경화형 접착제로 형성된다. 점착제층은, 대표적으로는 아크릴계 점착제로 형성된다.The thickness of a protective film is 10 micrometers - 100 micrometers typically. A protective film is typically laminated|stacked on a polarizer via a contact bonding layer (specifically, an adhesive bond layer, an adhesive layer). The adhesive layer is typically formed of a PVA-based adhesive or an active energy ray-curable adhesive. The pressure-sensitive adhesive layer is typically formed of an acrylic pressure-sensitive adhesive.

실용적으로는, 편광판 (30) 은, 최외층으로서 점착제층 (13) 을 갖는다. 점착제층 (13) 은, 대표적으로는 화상 표시 장치측의 최외층이 된다. 점착제층 (13) 에는, 세퍼레이터 (14) 가 박리 가능하게 임시 부착되고, 실제의 사용까지 점착제층을 보호함과 함께, 롤 형성을 가능하게 하고 있다.Practically, the polarizing plate 30 has the adhesive layer 13 as an outermost layer. The pressure-sensitive adhesive layer 13 is typically an outermost layer on the side of the image display device. The separator 14 is temporarily affixed to the adhesive layer 13 so that peeling is possible, and while protecting an adhesive layer until actual use, roll formation is enabled.

편광판 (30) 은, 목적에 따라서 임의의 적절한 광학 기능층을 추가로 갖고 있어도 된다. 광학 기능층의 대표예로는, 위상차 필름 (광학 보상 필름), 표면 처리층을 들 수 있다. 예를 들어, 보호 필름 (12) 과 점착제층 (13) 사이에 위상차 필름이 배치될 수 있다 (도시 생략). 위상차 필름의 광학 특성 (예를 들어, 굴절률 타원체, 면내 위상차, 두께 방향 위상차) 은, 목적, 화상 표시 장치의 특성 등에 따라서 적절히 설정될 수 있다.The polarizing plate 30 may further have arbitrary appropriate optical function layers according to the objective. As a typical example of an optical function layer, retardation film (optical compensation film) and a surface treatment layer are mentioned. For example, a retardation film may be disposed between the protective film 12 and the pressure-sensitive adhesive layer 13 (not shown). The optical properties of the retardation film (eg, refractive index ellipsoid, in-plane retardation, thickness-direction retardation) can be appropriately set according to the purpose, characteristics of an image display device, and the like.

표면 처리층은, 보호 필름 (11) 의 외측에 배치될 수 있다 (도시 생략). 표면 처리층의 대표예로는, 하드 코트층, 반사 방지층, 안티글레어층을 들 수 있다. 표면 처리층은, 예를 들어, 편광자의 가습 내구성을 향상시킬 목적에서 투습도가 낮은 층인 것이 바람직하다. 표면 처리층을 형성하는 대신에, 보호 필름 (11) 의 표면에 동일한 표면 처리를 실시해도 된다.The surface treatment layer may be disposed on the outside of the protective film 11 (not shown). Representative examples of the surface treatment layer include a hard coat layer, an antireflection layer, and an antiglare layer. It is preferable that a surface treatment layer is a layer with low water vapor transmission rate for the purpose of improving the humidification durability of a polarizer, for example. Instead of forming the surface treatment layer, the surface of the protective film 11 may be subjected to the same surface treatment.

A-2. 검사 장치A-2. inspection device

도 3 은, 본 발명의 검사 방법에 사용될 수 있는 검사 장치를 설명하는 개략도이다. 도시한 실시형태에 있어서는, 장척상의 편광판 (30) 이 검사 장치 (100) 에 반송되어 외관 검사가 행해진다. 검사 장치 (100) 는, 편광판 (30) 을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 촬상 장치 (50) 와, 얻어진 화상 데이터를 해석하여 그 편광판 (30) 의 결함을 검출하는 화상 해석 장치 (80) 를 구비한다. 화상 해석 장치 (80) 는, 얻어진 화상 데이터에 기초하여 결함 후보부를 추출하는 결함 후보부 추출부 (82) 와, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 사이즈 판단부 (84) 와, 결함 후보부가 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 주기성 판단부 (86) 와, 결함 후보부의 사이즈, 또는, 결함 후보부의 사이즈와 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출하는 결함 검출부 (88) 를 갖는다.3 is a schematic diagram illustrating an inspection apparatus that can be used in the inspection method of the present invention. In illustrated embodiment, the elongate polarizing plate 30 is conveyed to the inspection apparatus 100, and an external appearance inspection is performed. The inspection apparatus 100 is equipped with the imaging apparatus 50 which acquires image data by imaging the polarizing plate 30, and the image analysis apparatus 80 which analyzes the obtained image data and detects the defect of the polarizing plate 30 do. The image analysis apparatus 80 includes a defect candidate part extraction unit 82 for extracting a defect candidate part based on the obtained image data, and a size judgment part 84 for judging whether the defect candidate part has a size equal to or less than a reference value; , a periodicity determination unit 86 for judging whether the defect candidate portion has periodicity in the long direction, and a defect detection unit 88 for detecting defects based on the size of the defect candidate portion or the size of the defect candidate portion and the presence or absence of periodicity has

A-3. 화상 데이터를 취득하는 공정 (1) A-3. Process of acquiring image data (1)

공정 (1) 은, 촬상 장치 (50) 를 사용하여, 상기 비편광부를 갖는 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 얻음으로써 행해질 수 있다. 촬상 장치 (50) 는, 대표적으로는 조명부 (52) 와 촬상부 (54) 를 구비한다.Process (1) can be performed by imaging the polarizing plate which has the said non-polarization part using the imaging device 50, and obtaining image data. The imaging device 50 typically includes an illumination unit 52 and an imaging unit 54 .

조명부 (52) 는, 임의의 적절한 광원을 사용하여 구성될 수 있다. 광원은 백색 광원이어도 되고, 단색 광원이어도 된다. 광원의 구체예로는, 형광등, 할로겐 램프, 메탈 할라이드 램프, LED 등을 들 수 있다.The lighting unit 52 may be constructed using any suitable light source. A white light source may be sufficient as a light source, and a monochromatic light source may be sufficient as it. A fluorescent lamp, a halogen lamp, a metal halide lamp, LED etc. are mentioned as a specific example of a light source.

촬상부 (54) 는, 대표적으로는, 렌즈 및 이미지 센서를 사용하여 구성된 카메라이다. 촬상부는, 바람직하게는 편광판의 전체 폭을 촬상할 수 있도록 1 개 또는 복수 형성된다. 또, 촬상부는, 바람직하게는 장척 방향으로 연속된 화상을 촬상할 수 있도록 되어 있다. 일 실시형태에 있어서, 촬상부는 라인 센서 카메라이다.The imaging unit 54 is typically a camera configured using a lens and an image sensor. One or more imaging units are preferably formed so that the entire width of the polarizing plate can be imaged. Further, the imaging unit is preferably capable of imaging continuous images in the direction of a long picture. In one embodiment, the imaging unit is a line sensor camera.

도 3 에 나타내는 실시형태에 있어서는, 상기 편광판의 일방의 측에 배치된 조명부 (52) 로부터 편광판 (30) 에 대해서 광을 조사하고, 편광판 (30) 의 타방의 측에 조명부 (52) 와 대향하도록 배치된 촬상부 (54) 에 의해서 편광판 (30) 을 투과한 광을 촬상한다. 투과광을 촬상함으로써, 비편광부에 대응하는 영역의 휘도가, 다른 부분에 대응하는 영역의 휘도보다 높은 이미지가 얻어질 수 있다.In embodiment shown in FIG. 3, light is irradiated to the polarizing plate 30 from the illumination part 52 arrange|positioned on one side of the said polarizing plate, so that the other side of the polarizing plate 30 may face the illumination part 52 The light transmitted through the polarizing plate 30 is imaged by the arranged imaging unit 54 . By imaging the transmitted light, an image in which the luminance of the region corresponding to the non-polarization portion is higher than that of the region corresponding to the other part can be obtained.

다른 실시형태 (도시 생략) 에 있어서는, 상기 편광판의 일방의 측에 조명부와 촬상부를 배치하고, 그 조명부로부터 편광판에 대해서 경사 방향으로부터 광을 조사하여, 조명부와 동일한 측에 배치된 촬상부에 의해서 편광판에 반사된 광을 촬상한다.In another embodiment (not shown), an illumination part and an imaging part are arrange|positioned on one side of the said polarizing plate, light is irradiated with respect to a polarizing plate from the illumination part from the oblique direction, and a polarizing plate by the imaging part arrange|positioned on the same side as the illumination part. The reflected light is imaged.

또 다른 실시형태 (도시 생략) 에 있어서는, 상기 편광판의 일방의 측에 조명부와 촬상부를 배치하고, 그 촬상부의 카메라의 광축과 조사광의 광축이 일치하도록, 편광판에 대해서 수직으로 광을 조사하여, 그 반사광을 촬상한다.In another embodiment (not shown), an illumination unit and an imaging unit are arranged on one side of the polarizing plate, and light is irradiated perpendicularly to the polarizing plate so that the optical axis of the camera of the imaging unit and the optical axis of the irradiated light coincide, Reflected light is captured.

비편광부의 형태 (탈색부, 관통공 등), 편광판의 구성 등에 따라서 적절한 촬상 방법을 선택하여 편광판을 촬상함으로써, 비편광부에 대응하는 영역의 휘도와 그 밖의 부분에 대응하는 영역의 휘도의 차가 큰 (결과적으로, 콘트라스트비가 큰) 화상이 얻어질 수 있다. 편광판의 촬상은, 상기 실시형태의 어느 하나에 따라서 행해져도 되고, 2 개 이상의 실시형태를 조합하여 행해도 된다.By imaging the polarizing plate by selecting an appropriate imaging method according to the shape of the non-polarizing part (discoloration part, through hole, etc.), the configuration of the polarizing plate, etc., the difference between the luminance of the region corresponding to the non-polarizing part and the luminance of the region corresponding to other parts is large (As a result, an image with a large contrast ratio) can be obtained. Imaging of a polarizing plate may be performed according to any one of the said embodiment, and may be performed combining two or more embodiments.

바람직하게는, 장척상의 편광판을 장척 방향으로 반송하면서 촬상을 행한다. 반송하면서 촬상을 행함으로써, 제조 라인의 정지를 회피하여 제조 효율을 유지할 수 있다.Preferably, imaging is performed, conveying a long polarizing plate in a long direction. By performing imaging while conveying, stoppage of a manufacturing line can be avoided and manufacturing efficiency can be maintained.

A-4. 결함 후보부를 추출하는 공정 (2) A-4. Step (2) for extracting the defect candidate part

촬상 장치 (50) 에 의해서 얻어진 화상 데이터는, 전기 신호로서 화상 해석 장치 (80) 에 송신된다. 송신된 화상 데이터는, 결함 후보부 추출부 (82) 에 의해서 해석되고, 이로써 결함 후보부가 추출된다.The image data obtained by the imaging device 50 is transmitted to the image analysis device 80 as an electric signal. The transmitted image data is analyzed by the defect candidate part extraction unit 82, whereby the defect candidate part is extracted.

일 실시형태에 있어서는, 화상 데이터의 휘도 정보에 기초하여 결함 후보부를 추출한다. 구체적으로는, 미리 정상적인 편광판을 촬상하여 정상으로 판정되는 휘도 기준을 설정하고, 그 기준에 기초하여 결함 후보부를 추출한다. 예를 들어, 정상으로 판정되는 휘도의 상한을 초과하는 고휘도부, 정상으로 판정되는 휘도의 하한을 초과하는 저휘도부 등을 결함 후보부로 판정할 수 있다. 이물질, 기포, 핀홀 등의 외관 불량의 원인이 되는 결함부는, 통상적으로 편광판의 정상 영역과 투과율, 반사율 등이 상이한 점에서, 상기와 같은 휘도 기준에 의해서 결함 후보부로서 추출된다. 한편, 얻어진 화상 데이터에 있어서는, 비편광부에 대응하는 영역도, 그 밖의 부분에 대응하는 영역과 투과율, 반사율 등이 상이한 점에서 결함 후보부로서 추출될 수 있다.In one embodiment, a defect candidate part is extracted based on the luminance information of image data. Specifically, a normal polarizing plate is imaged in advance, a luminance standard determined to be normal is set, and a defect candidate part is extracted based on the reference|standard. For example, a high luminance portion exceeding the upper limit of luminance determined to be normal, a low luminance portion exceeding the lower limit of luminance determined to be normal, or the like can be determined as a defect candidate portion. Defect parts that cause poor appearance, such as foreign substances, bubbles, and pinholes, are usually extracted as defect candidate parts according to the luminance criteria as described above because transmittance, reflectance, etc. are different from the normal region of the polarizing plate. On the other hand, in the obtained image data, the area|region corresponding to a non-polarization part can also be extracted as a defect candidate part at the point which differs from the area|region corresponding to the other part in transmittance|permeability, a reflectance, etc..

결함 후보 추출부 (82) 는, 바람직하게는 결함 후보부의 위치 정보 (예를 들어, 장척 방향으로 연속된 화상에 있어서의 장척 방향 및 폭 방향의 위치 좌표 (X, Y)) 를 기억하여, 주기성 판단부 (86) 에 송신한다.The defect candidate extraction unit 82 preferably stores the positional information of the defect candidate unit (for example, positional coordinates (X, Y) in the long direction and the width direction in images continuous in the long direction), and periodicity transmitted to the determination unit 86 .

A-5. 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정 (3) A-5. Step (3) of judging whether the defect candidate portion has a size equal to or less than a reference value

결함 후보부 추출부 (82) 에 의해서 결함 후보부가 추출되면, 추출된 개개의 결함 후보부에 대해서, 사이즈 판단부 (84) 에서 그 사이즈를 결정하고, 나아가서는, 그 사이즈가 기준치 이하인지의 여부를 판단한다.When a candidate defect part is extracted by the defect candidate part extraction part 82, for each extracted defect candidate part, the size determination part 84 determines the size, and furthermore, whether the size is below a reference value. to judge

결함 후보부의 사이즈의 결정은 임의의 적절한 방법에 의해서 행해질 수 있다. 예를 들어, 화상 데이터 중에 있어서의 결함 후보부의 화소수, 직경, 면적 등에 기초하여 사이즈를 결정할 수 있다. 결함 후보부의 직경은, 대표적으로는 화상 데이터에 있어서, 결함 후보부의 외주상의 임의의 2 점을 잇는 직선 중, 가장 긴 것의 길이가 직경으로서 결정될 수 있다. 면적은 화소수 또는 직경에 기초하여 산출될 수 있다.Determination of the size of the defect candidate portion may be performed by any suitable method. For example, a size can be determined based on the pixel number, diameter, area, etc. of the defect candidate part in image data. As for the diameter of the defect candidate part, typically, in image data, the length of the longest among straight lines connecting two arbitrary points on the outer periphery of a defect candidate part can be determined as a diameter. The area may be calculated based on the number of pixels or the diameter.

상기 기준치는, 임의의 적절한 방법에 의해서 결정될 수 있다. 예를 들어, 상기 기준치는, 비편광부의 사이즈에 기초하여 결정될 수 있다. 예를 들어, 직경에 의해서 사이즈를 판단하는 경우, 상기 기준치 (직경의 기준치) 는, 이하와 같이 하여 결정할 수 있다. 즉, 설계상의 비편광부의 형상 및 치수에 기초하여 비편광부의 직경 (이론치) 을 산출하거나, 혹은, 실제로 편광자에 형성된 비편광부의 직경 (실측치) 을 측정하고, 얻어진 비편광부의 직경의 예를 들어 90 %, 바람직하게는 95 % 를 기준치로 할 수 있다. 또, 예를 들어, 결함의 평균 사이즈가 비편광부의 사이즈에 비해서 충분히 작을 경우 (예를 들어, 결함의 평균 직경이 비편광부의 직경의 1/8 이하인 경우), 상기 기준치는, 비편광부의 직경의 1/4 ∼ 1/2 의 값으로 할 수 있다. 구체예로서, 비편광부의 직경이 2800 ㎛ 정도이고, 결함의 평균 직경이 150 ㎛ ∼ 300 ㎛ 인 경우, 상기 기준치를 1000 ㎛ 정도로 할 수 있다.The reference value may be determined by any suitable method. For example, the reference value may be determined based on the size of the non-polarization part. For example, when judging a size by a diameter, the said reference value (standard value of a diameter) can be determined as follows. That is, the diameter (theoretical value) of the non-polarization part is calculated based on the shape and size of the non-polarization part in design, or the diameter (actual value) of the non-polarization part actually formed in the polarizer is measured, and the diameter of the non-polarization part obtained is an example 90 %, Preferably 95 % can be made into the reference value. Further, for example, when the average size of the defects is sufficiently small compared to the size of the non-polarization part (for example, when the average diameter of the defects is 1/8 or less of the diameter of the non-polarization part), the reference value is the diameter of the non-polarization part It can be set to a value of 1/4 to 1/2 of As a specific example, when the diameter of a non-polarization part is about 2800 micrometers and the average diameter of a defect is 150 micrometers - 300 micrometers, the said reference value can be made into about 1000 micrometers.

A-6. 결함 후보부가 그 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 공정 (4) A-6. Step (4) of judging whether the defect candidate portion has periodicity in the long direction

주기성 판단부 (86) 는, 추출된 결함 후보부 전체를 주기성의 판단 대상으로 해도 되고, 사이즈 판단부 (84) 에 있어서 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 것이 확인된 결함 후보부만을 판단 대상으로 해도 된다. 바람직하게는, 사이즈 판단부 (84) 에 있어서 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 것이 확인된 결함 후보부만을 판단 대상으로 한다.The periodicity determination unit 86 may use the whole extracted defect candidate portions as the object of determination of periodicity, or may only determine the defect candidate portions confirmed to have a size exceeding the reference value in the size determination portion 84 as the determination object. . Preferably, only the defect candidate part confirmed to have a size exceeding the reference value in the size judgment part 84 is made into judgment object.

일 실시형태에 있어서는, 3 개 이상의 결함 후보부가 임의의 방향으로 연장되는 직선 상에 등간격으로 존재할 때, 이들 결함 후보부는 주기성을 갖는다고 판단할 수 있다.In one embodiment, when three or more defect candidate portions exist at equal intervals on a straight line extending in an arbitrary direction, it can be determined that these defect candidate portions have periodicity.

검사 대상의 편광판에 있어서는, 적어도 장척 방향으로 소정 간격으로 비편광부가 배치되어 있는 점에서, 장척 방향에 있어서의 비편광부 사이의 간격에 기초하여 주기성을 판단할 수 있다. 따라서, 편광판 표면에 있어서의 판단 대상인 결함 후보부의 위치를 결정하고, 상기 소정 간격으로 존재하는 것을 스크리닝하거나 함으로써, 주기성의 유무를 효율적으로 판단할 수 있다.In the polarizing plate of an inspection object, since the non-polarization part is arrange|positioned at least at predetermined intervals in a long picture direction, periodicity can be judged based on the space|interval between the non-polarization parts in a long picture direction. Therefore, the presence or absence of periodicity can be efficiently judged by determining the position of the defect candidate part which is a judgment object in the polarizing plate surface, and screening what exists at the said predetermined space|interval.

일 실시형태에 있어서는, 결함 후보부의 주기성 유무의 판단은, 결함 후보부의 위치 좌표 (예를 들어, 장척 방향에 있어서의 위치 좌표) 에 기초하여 행해진다. 예를 들어, 결함 후보부 추출부로부터 송신되는 결함 후보부 (예를 들어 장척 방향으로 2 개 이상, 바람직하게는 3 개 이상 인접하는 결함 후보부) 의 위치 좌표를, 설계상 (이론상) 의 비편광부의 위치 좌표와 대조하여 위치 좌표가 일치한 경우에는, 그 결함 후보부는 주기성을 갖는다고 판단할 수 있다. 또, 예를 들어, 결함 후보부 추출부로부터 송신되는 결함 후보부의 장척 방향의 위치 좌표에 기초하여, 판단 대상인 결함 후보부와, 그 반송 방향 상류측에 존재하는 비편광부 (결함은 아니라고 판단 완료된 결함 후보부일 수 있다) 의 장척 방향의 거리를 구하고, 그 거리가 소정 거리인지의 여부에 기초하여 행해진다. 그 거리는, 예를 들어, 장척 방향에 있어서의 비편광부의 배치 간격 (즉, 상기 장척 방향에 있어서의 소정 간격), 또는, 그 소정 간격을 정수배한 거리일 수 있다.In one embodiment, determination of the presence or absence of periodicity of a defect candidate part is performed based on the positional coordinate (for example, the positional coordinate in a long direction) of a defect candidate part. For example, the positional coordinates of the defect candidate units transmitted from the defect candidate unit extraction unit (for example, two or more, preferably three or more adjacent defect candidate units in the long picture direction) are calculated (theoretically) as a non-part by design. When the position coordinates coincide with the position coordinates of the miner, it can be determined that the defect candidate part has periodicity. In addition, for example, based on the positional coordinates in the long direction of the defect candidate part transmitted from the defect candidate part extraction part, the defect candidate part to be judged and the non-polarization part existing on the upstream side in the conveyance direction (defect determined not to be a defect) It may be a candidate part), and it is performed based on whether the distance is a predetermined distance or not. The distance may be, for example, an arrangement interval of the non-polarization part in the long direction (that is, a predetermined interval in the long picture direction) or a distance obtained by multiplying the predetermined interval by an integer.

A-7. 결함을 검출하는 공정 (5) A-7. Process of detecting defects (5)

결함 검출부 (88) 는, 결함 후보부의 사이즈, 또는, 결함 후보부의 사이즈와 주기성의 유무에 기초하여 결함을 검출한다. 구체적으로는, 결함 검출부 (88) 는, 사이즈 판단부 (84) 에 있어서 기준치 이하의 사이즈를 갖는다고 판단된 결함 후보부를 결함으로서 검출한다. 결함 검출부 (88) 는 또한, 주기성 판단부 (86) 에 있어서 주기성을 갖는다고 판단된 결함 후보부를 비편광부로 인식하여 결함 후보부와 구별하고, 나머지의 결함 후보부를 결함으로서 검출할 수 있다. 바꾸어 말하면, 결함 검출부 (88) 는, 기준치 이하의 사이즈를 갖는다고 판단된 결함 후보부 및 주기성을 갖지 않는다고 판단된 결함 후보부를 결함으로서 검출할 수 있다.The defect detection part 88 detects a defect based on the size of a defect candidate part, or the size of a defect candidate part, and the presence or absence of periodicity. Specifically, the defect detection part 88 detects the defect candidate part judged by the size judgment part 84 as having a size equal to or less than a reference value as a defect. The defect detection unit 88 can also recognize the defect candidate portion judged to have periodicity in the periodicity determination unit 86 as a non-polarization portion, distinguish it from the defect candidate portion, and detect the remaining defect candidate portions as defects. In other words, the defect detection part 88 can detect the defect candidate part judged to have a size below a reference value, and the defect candidate part judged not to have periodicity as a defect.

도 4 는, 본 발명의 일 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 플로 차트이다. 도 4 에 나타내는 실시형태에서는, 먼저, 편광판의 화상 데이터를 취득한다 (상기 공정 (1)). 이어서, 화상 데이터에 기초하여 결함 후보부를 추출한다 (상기 공정 (2)). 이어서, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하고 (상기 공정 (3)), 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부를 비편광부로 판단하는 한편, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 결함 후보부를 결함으로서 검출한다 (상기 공정 (5)).It is a flowchart explaining the specific procedure of defect detection in one Embodiment of this invention. In embodiment shown in FIG. 4, image data of a polarizing plate is acquired first (the said process (1)). Next, a defect candidate part is extracted based on the image data (the said process (2)). Next, it is determined whether or not the candidate defect portion has a size equal to or less than the reference value (step (3) above), and the defect candidate portion having a size exceeding the reference value is determined as a non-polarization portion, while the defect candidate portion having a size less than or equal to the reference value is determined. Detect as a defect (step (5) above).

도 5 는, 본 발명의 다른 실시형태에 있어서의 결함 검출의 구체적 순서를 설명하는 플로 차트이다. 도 5 에 나타내는 실시형태에서는, 먼저, 편광판의 화상 데이터를 취득한다 (상기 공정 (1)). 이어서, 화상 데이터에 기초하여 결함 후보부를 추출한다 (상기 공정 (2)). 이어서, 결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하고 (상기 공정 (3)), 기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서, 주기성의 유무를 판단한다 (상기 공정 (4)). 얻어진 결과에 기초하여, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 결함 후보부 및 기준치를 초과하는 사이즈를 갖지만, 주기성을 갖지 않는 결함 후보부를 결함으로서 검출한다 (상기 공정 (5)). 또한, 도 6(a) 중의 백색 원은, 당해 실시형태에 의한 공정 (2) 에 있어서 추출된 모든 결함 후보부를 나타내고, 도 6(b) 중의 백색 원은, 기준치를 초과하는 사이즈를 갖고, 주기성 유무의 판단 대상이 되는 결함 후보부를 나타내며, 도 6(c) 중의 흑색 원은 주기성을 갖는다고 판단된 결함 후보부 (비편광부) 를 나타내고, 백색 원은 주기성을 갖지 않는다고 판단된 결함 후보부 (결함) 를 나타내고, 도 6(d) 중의 백색 원은 최종적으로 검출되는 결함을 나타낸다.It is a flowchart explaining the specific procedure of defect detection in another embodiment of this invention. In embodiment shown in FIG. 5, image data of a polarizing plate is acquired first (the said process (1)). Next, a defect candidate part is extracted based on the image data (the said process (2)). Next, it is judged whether or not the defect candidate portion has a size equal to or less than the reference value (step (3) above), and the presence or absence of periodicity is determined for the defect candidate portion having a size exceeding the reference value (step (4) above) . Based on the obtained result, a defect candidate portion having a size equal to or less than the reference value and a defect candidate portion having a size exceeding the reference value but not having periodicity are detected as defects (step (5) above). In addition, the white circle in Fig.6 (a) shows all the defect candidate parts extracted in the process (2) by the said embodiment, and the white circle in Fig.6(b) has a size exceeding a reference value, and periodicity Defect candidate portions to be judged of presence or absence are indicated, black circles in Fig. 6(c) indicate defect candidate portions judged to have periodicity (non-polarization portions), and white circles indicate defect candidate portions determined not to have periodicity (defects). ), and white circles in Fig. 6(d) indicate defects that are finally detected.

A-8. 마킹 공정 (6) A-8. Marking Process (6)

검사 장치 (100) 는, 마킹 장치 (도시 생략) 를 추가로 구비하고 있어도 된다. 마킹 장치는, 화상 처리 장치와 접속되어, 화상 처리 장치 (실질적으로는 결함 검출부) 가 결함을 검출하면, 그 결함의 위치 정보를 마킹 장치에 송신한다. 마킹 장치는, 그 위치 정보에 기초하여 결함부에 마킹을 행한다. 마킹된 영역은, 재단 후에 불량 편광판으로서 용이하게 배제될 수 있다. 마킹으로는, 마커 펜을 사용한 마킹이나 레이저 마킹을 들 수 있다.The inspection apparatus 100 may further be equipped with a marking apparatus (not shown). The marking apparatus is connected to the image processing apparatus, and when an image processing apparatus (substantially a defect detection part) detects a defect, it transmits the positional information of the defect to a marking apparatus. A marking apparatus marks a defect part based on the positional information. The marked area can be easily excluded as a bad polarizer after cutting. As a marking, the marking using a marker pen and laser marking are mentioned.

[B. 편광판의 제조 방법][B. Manufacturing method of polarizing plate]

본 발명의 비편광부를 갖는 편광자를 포함하는 장척상의 편광판의 제조 방법은, 장척상의 편광자에 비편광부를 형성하는 것, 그 비편광부를 갖는 장척상의 편광자를 사용하여 편광판을 제조하는 것, 및, 상기 검사 방법에 의해서 편광판의 외관을 검사하는 것을 포함한다.The manufacturing method of the elongate polarizing plate containing the polarizer which has a non-polarization part of this invention is forming a non-polarization part in a long polarizer, manufacturing a polarizing plate using the long polarizer which has the non-polarization part, and said It includes inspecting the appearance of the polarizing plate by the inspection method.

B-1. 편광자B-1. polarizer

편광자는, 대표적으로는 이색성 물질을 함유하는 수지 필름으로 구성된다. 이색성 물질로는, 예를 들어, 요오드, 유기 염료 등을 들 수 있다. 이것들은 단독으로, 또는 2 종 이상 조합하여 사용될 수 있다. 바람직하게는 요오드가 사용된다.A polarizer is comprised from the resin film containing a dichroic substance typically. As a dichroic substance, an iodine, an organic dye, etc. are mentioned, for example. These may be used individually or in combination of 2 or more types. Preferably iodine is used.

상기 수지 필름을 형성하는 수지로는, 임의의 적절한 수지가 사용될 수 있다. 바람직하게는, 폴리비닐알코올계 수지가 사용된다. 폴리비닐알코올계 수지로는, 예를 들어, 폴리비닐알코올, 에틸렌-비닐알코올 공중합체를 들 수 있다. 폴리비닐알코올은, 폴리아세트산비닐을 비누화함으로써 얻어진다. 에틸렌-비닐알코올 공중합체는, 에틸렌-아세트산비닐 공중합체를 비누화함으로써 얻어진다.Any suitable resin may be used as the resin for forming the resin film. Preferably, a polyvinyl alcohol-type resin is used. As polyvinyl alcohol-type resin, polyvinyl alcohol and an ethylene-vinyl alcohol copolymer are mentioned, for example. Polyvinyl alcohol is obtained by saponifying polyvinyl acetate. The ethylene-vinyl alcohol copolymer is obtained by saponifying the ethylene-vinyl acetate copolymer.

편광자 (비편광부를 제외한다) 는, 바람직하게는 파장 380 ㎚ ∼ 780 ㎚ 의 어느 파장에서 흡수 이색성을 나타낸다. 편광자 (비편광부를 제외한다) 의 단체 투과율은, 바람직하게는 39 % 이상, 보다 바람직하게는 39.5 % 이상, 더욱 바람직하게는 40 % 이상, 특히 바람직하게는 40.5 % 이상이다. 또한, 단체 투과율의 이론상의 상한은 50 % 이고, 실용적인 상한은 46 % 이다. 또, 단체 투과율은 JIS Z8701 의 2 도 시야 (C 광원) 에 의해서 측정하여 시감도 보정을 행한 Y 값으로서, 예를 들어, 현미 분광 시스템 (람다 비전 제조 LVmicro) 을 사용하여 측정할 수 있다. 편광자의 편광도 (비편광부를 제외한다) 는, 바람직하게는 99.9 % 이상, 보다 바람직하게는 99.93 % 이상, 더욱 바람직하게는 99.95 % 이상이다.A polarizer (except a non-polarization part), Preferably it shows absorption dichroism at any wavelength of wavelength 380nm - 780nm. The single transmittance of a polarizer (except a non-polarization part) becomes like this. Preferably it is 39 % or more, More preferably, it is 39.5 % or more, More preferably, it is 40 % or more, Especially preferably, it is 40.5 % or more. In addition, the theoretical upper limit of single transmittance is 50 %, and a practical upper limit is 46 %. In addition, the single transmittance|permeability is a Y value which measured with the 2 degree field of view (C light source) of JIS Z8701, and performed visibility correction|amendment, For example, it can measure using a microscopic spectroscopy system (LVmicro by Lambda Vision). The degree of polarization of the polarizer (excluding the non-polarization portion) is preferably 99.9% or more, more preferably 99.93% or more, still more preferably 99.95% or more.

편광자의 두께는, 임의의 적절한 값으로 설정될 수 있다. 두께는, 바람직하게는 30 ㎛ 이하, 보다 바람직하게는 25 ㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 20 ㎛ 이하, 특히 바람직하게는 10 ㎛ 이하이다. 한편으로, 두께는, 바람직하게는 0.5 ㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 1 ㎛ 이상이다.The thickness of the polarizer can be set to any appropriate value. The thickness is preferably 30 µm or less, more preferably 25 µm or less, still more preferably 20 µm or less, particularly preferably 10 µm or less. On the other hand, thickness becomes like this. Preferably it is 0.5 micrometer or more, More preferably, it is 1 micrometer or more.

편광자의 흡수축은, 목적에 따라서 임의의 적절한 방향으로 설정될 수 있다. 흡수축의 방향은, 예를 들어 장척 방향이어도 되고 폭 방향이어도 된다. 장척 방향으로 흡수축을 갖는 편광자는, 예를 들어, 제조 효율이 우수하다는 이점이 있다. 폭 방향으로 흡수축을 갖는 편광자는, 예를 들어, 장척 방향으로 지상축을 갖는 위상차 필름과 롤 투 롤로 적층할 수 있다는 이점이 있다. 일 실시형태에 있어서는, 흡수축은 장척 방향 또는 폭 방향으로 실질적으로 평행하며, 또한, 편광자의 폭 방향 양단은 장척 방향으로 평행하게 슬릿 가공되어 있다. 이와 같은 구성에 의하면, 편광자의 단변 (端邊) 을 기준으로 재단할 수 있고, 원하는 위치에 비편광부를 가지며, 또한 적절한 방향으로 흡수축을 갖는 복수의 편광자를 용이하게 제조할 수 있다. 또한, 편광자의 흡수축은, 후술하는 연신 처리에 있어서의 연신 방향에 대응할 수 있다.The absorption axis of the polarizer can be set in any suitable direction according to the purpose. The direction of the absorption axis may be, for example, a long direction or a width direction. The polarizer which has an absorption axis in a long direction has the advantage that it is excellent in manufacturing efficiency, for example. The polarizer which has an absorption axis in the width direction has the advantage that it can laminate|stack by roll-to-roll and the retardation film which has a slow axis in a long direction, for example. In one embodiment, the absorption axis is substantially parallel to the direction of a long picture or the width direction, and the width direction both ends of a polarizer are slit-processed parallel to the direction of a long picture. According to such a structure, it can cut on the basis of the short side of a polarizer, has a non-polarization part at a desired position, and can manufacture easily the some polarizer which has an absorption axis in an appropriate direction. In addition, the absorption axis of a polarizer can respond to the extending|stretching direction in the extending|stretching process mentioned later.

편광자는, 대표적으로는 상기 수지 필름에 팽윤 처리, 연신 처리, 상기 이색성 물질에 의한 염색 처리, 가교 처리, 세정 처리, 건조 처리 등의 각종 처리를 실시함으로써 얻어진다. 각종 처리를 실시할 때, 수지 필름은 기재 상에 형성된 수지층이어도 된다. 상기 비편광부의 형성은, 편광자의 제조 공정 도중이어도 행할 수 있다.A polarizer is typically obtained by performing various processes, such as a swelling process, an extending|stretching process, the dyeing process by the said dichroic substance, a crosslinking process, a washing process, a drying process, to the said resin film. When performing various processes, the resin layer formed on the base material may be sufficient as a resin film. Formation of the said non-polarization part can be performed also in the middle of the manufacturing process of a polarizer.

B-2. 비편광부의 형성B-2. Formation of non-polarization part

바람직하게는 비편광부는 탈색부이다. 이와 같은 구성에 의하면, 기계적으로 (예를 들어, 톰슨날 타발, 플로터, 워터 제트 등을 사용하여 기계적으로 빼내는 방법에 의해서) 관통공이 형성되어 있는 경우에 비해서, 크랙, 디라미네이션 (층간 박리), 접착 물질의 비어져 나옴 등의 품질상의 문제가 회피된다. 탈색부는, 바람직하게는, 편광자 (이색성 물질을 함유하는 수지 필름) 의 원하는 위치에 염기성 용액을 접촉시킴으로써 형성된다. 이와 같은 방법에 의해서 형성되는 비편광부는, 다른 부위 (비접촉부) 보다 이색성 물질의 함유량이 낮은 저농도부가 될 수 있다. 저농도부는 이색성 물질 자체의 함유량이 낮기 때문에, 레이저광 등에 의해서 이색성 물질을 분해하여 탈색부가 형성되어 있는 경우에 비해서, 비편광부의 투명성이 양호하게 유지된다.Preferably, a non-polarization part is a discoloration part. According to this configuration, compared to the case in which the through hole is formed mechanically (for example, by a method of mechanically extracting using a Thomson blade punch, a floater, a water jet, etc.), cracks, delamination (delamination), Quality problems such as sticking out of the adhesive material are avoided. A discoloration part is preferably formed by making a basic solution contact the desired position of a polarizer (resin film containing a dichroic substance). The non-polarization part formed by such a method can become a low concentration part with a lower content of a dichroic substance than another site|part (non-contact part). Since content of the dichroic substance itself is low in a low concentration part, compared with the case where the decolorization part is formed by decomposing|disassembling a dichroic substance with a laser beam etc., transparency of a non-polarization part is maintained favorably.

상기 저농도부의 이색성 물질의 함유량은, 바람직하게는 1.0 중량% 이하, 보다 바람직하게는 0.5 중량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.2 중량% 이하이다. 저농도부의 이색성 물질의 함유량의 하한치는, 통상적으로 검출 한계치 이하이다. 상기 다른 부위에 있어서의 이색성 물질의 함유량과 저농도부에 있어서의 이색성 물질의 함유량의 차는, 바람직하게는 0.5 중량% 이상, 더욱 바람직하게는 1 중량% 이상이다. 이색성 물질로서 요오드를 사용하는 경우, 요오드 함유량은, 예를 들어, 형광 X 선 분석으로 측정한 X 선 강도로부터, 미리 표준 시료를 사용하여 작성한 검량선에 의해서 구해진다.Content of the dichroic substance in the said low concentration part becomes like this. Preferably it is 1.0 weight% or less, More preferably, it is 0.5 weight% or less, More preferably, it is 0.2 weight% or less. The lower limit of content of a dichroic substance in a low concentration part is below a detection limit normally. The difference between content of the dichroic substance in the said other site|part and content of the dichroic substance in a low concentration part becomes like this. Preferably it is 0.5 weight% or more, More preferably, it is 1 weight% or more. When using an iodine as a dichroic substance, iodine content is calculated|required from the X-ray intensity measured by fluorescence X-ray analysis with the analytical curve previously prepared using the standard sample, for example.

상기 염기성 용액에 함유되는 염기성 화합물로는, 임의의 적절한 화합물이 사용될 수 있다. 염기성 화합물로는, 예를 들어, 수산화나트륨, 수산화칼륨, 수산화리튬 등의 알칼리 금속의 수산화물, 수산화칼슘 등의 알칼리 토금속의 수산화물, 탄산나트륨 등의 무기 알칼리 금속염, 아세트산나트륨 등의 유기 알칼리 금속염, 암모니아수 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 바람직하게는 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 수산화물이 사용되고, 더욱 바람직하게는 수산화나트륨, 수산화칼륨, 수산화리튬이 사용된다. 이색성 물질을 효율적으로 이온화할 수 있고, 보다 간편하게 탈색부를 형성할 수 있다. 이들 염기성 화합물은 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.Any suitable compound may be used as the basic compound contained in the basic solution. Examples of the basic compound include hydroxides of alkali metals such as sodium hydroxide, potassium hydroxide and lithium hydroxide, hydroxides of alkaline earth metals such as calcium hydroxide, inorganic alkali metal salts such as sodium carbonate, organic alkali metal salts such as sodium acetate, aqueous ammonia, etc. can be heard Among these, hydroxides of alkali metals and/or alkaline earth metals are preferably used, and sodium hydroxide, potassium hydroxide and lithium hydroxide are more preferably used. It is possible to efficiently ionize the dichroic material, and it is possible to form a discolored part more conveniently. These basic compounds may be used independently and may be used in combination of 2 or more type.

염기성 용액의 용매로는, 물, 알코올이 바람직하게 사용된다. 염기성 용액의 농도는, 예를 들어 0.01 N ∼ 5 N 이고, 바람직하게는 0.05 N ∼ 3 N 이며, 더욱 바람직하게는 0.1 N ∼ 2.5 N 이다. 염기성 용액의 액온은, 예를 들어 20 ℃ ∼ 50 ℃ 이다. 염기성 용액의 접촉 시간은, 편광자의 두께, 염기성 용액에 함유되는 염기성 화합물의 종류나 농도에 따라서 설정될 수 있다. 접촉 시간은, 예를 들어 5 초 ∼ 30 분이고, 바람직하게는 5 초 ∼ 5 분이다.As a solvent of a basic solution, water and alcohol are used preferably. The concentration of the basic solution is, for example, 0.01 N to 5 N, preferably 0.05 N to 3 N, and more preferably 0.1 N to 2.5 N. The liquid temperature of the basic solution is, for example, 20°C to 50°C. The contact time of a basic solution can be set according to the thickness of a polarizer, and the kind and concentration of the basic compound contained in a basic solution. The contact time is, for example, 5 seconds to 30 minutes, and preferably 5 seconds to 5 minutes.

염기성 용액의 접촉 방법으로는, 임의의 적절한 방법이 채용될 수 있다. 예를 들어, 편광자에 대해서, 염기성 용액을 적하, 도공, 스프레이하는 방법, 편광자를 염기성 용액에 침지하는 방법을 들 수 있다. 염기성 용액의 접촉시에, 원하는 부위 이외에 염기성 용액이 접촉하지 않도록 임의의 적절한 보호재로 편광자를 보호해도 된다. 이와 같은 보호재로는, 예를 들어, 보호 필름, 표면 보호 필름이 사용된다. 보호 필름은, 편광자의 보호 필름으로서 그대로 이용될 수 있는 것이다. 표면 보호 필름은, 편광자의 제조시에 일시적으로 사용되는 것이다. 표면 보호 필름은, 임의의 적절한 타이밍에서 편광자로부터 제거되기 때문에, 대표적으로는 편광자에 점착제층을 개재하여 첩합 (貼合) 된다. 보호재의 다른 구체예로는, 포토레지스트 등을 들 수 있다. 또, 상기 편광자의 제조 공정에서 사용되는 기재도 보호재로서 사용할 수 있다.As a method of contacting the basic solution, any suitable method may be employed. For example, about a polarizer, the method of dripping, coating, and spraying a basic solution, and the method of immersing a polarizer in a basic solution are mentioned. At the time of contact of a basic solution, you may protect a polarizer with arbitrary suitable protective materials so that a basic solution may not contact other than a desired site|part. As such a protective material, a protective film and a surface protective film are used, for example. A protective film can be used as it is as a protective film of a polarizer. A surface protection film is temporarily used at the time of manufacture of a polarizer. Since a surface protection film is removed from a polarizer at arbitrary appropriate timings, it is typically bonded to a polarizer through an adhesive layer. As another specific example of a protective material, a photoresist etc. are mentioned. Moreover, the base material used in the manufacturing process of the said polarizer can also be used as a protective material.

바람직하게는, 염기성 용액의 접촉시에, 편광자 표면은, 그 적어도 일부가 노출되도록 표면 보호 필름으로 피복되어 있다. 도시예와 같은 비편광부의 배치 패턴을 갖는 편광자는, 당해 배치 패턴에 대응하는 위치에, 원하는 비편광부 사이즈에 대응하는 작은 원형의 관통공이 형성된 표면 보호 필름을 편광자의 편측에 첩합하여 편광 필름 적층체를 준비하고, 이것에 염기성 용액을 접촉시킴으로써 제조된다. 그 때, 편광자의 또 다른 편측 (관통공이 형성된 표면 보호 필름 (제 1 보호 필름) 이 배치되어 있지 않은 측) 도 보호되어 있는 것이 바람직하다. 보호 필름이나 표면 보호 필름의 첩합은, 롤 투 롤에 의해서 행해지는 것이 바람직하다. 본 명세서에 있어서, 「롤 투 롤」이란, 롤상의 필름을 반송하면서 서로의 장척 방향을 정렬하여 적층하는 것을 말한다.Preferably, at the time of contact of a basic solution, the polarizer surface is coat|covered with the surface protection film so that the at least one part may be exposed. The polarizer having an arrangement pattern of a non-polarization part like the example of illustration bonds the surface protection film in which the small circular through-hole corresponding to the desired non-polarization part size was formed in the position corresponding to the said arrangement pattern on one side of a polarizer, and a polarizing film laminated body It is prepared by preparing and contacting it with a basic solution. In that case, it is preferable that the other side (the side on which the surface protection film (1st protective film) in which the through-hole was formed) is also not arrange|positioned of the polarizer is also protected. It is preferable that bonding of a protective film or a surface protection film is performed with a roll-to-roll. In this specification, a "roll-to-roll" means aligning and laminating|stacking a mutual elongate direction, conveying a roll-shaped film.

상기 표면 보호 필름의 형성 재료로는, 폴리에틸렌테레프탈레이트계 수지 등의 에스테르계 수지, 노르보르넨계 수지 등의 시클로올레핀계 수지, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 올레핀계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 이것들의 공중합체 수지 등을 들 수 있다. 바람직하게는, 에스테르계 수지 (특히, 폴리에틸렌테레프탈레이트계 수지) 이다. 탄성률이 충분히 높고, 예를 들어, 반송 및/또는 첩합시에 장력을 가해도 관통공의 변형이 잘 발생되지 않기 때문이다. 표면 보호 필름의 두께는, 대표적으로는 20 ㎛ ∼ 250 ㎛ 이고, 바람직하게는 30 ㎛ ∼ 150 ㎛ 이다.Examples of the material for forming the surface protection film include ester-based resins such as polyethylene terephthalate-based resins, cycloolefin-based resins such as norbornene-based resins, olefin-based resins such as polyethylene and polypropylene, polyamide-based resins, and polycarbonate-based resins Resin, these copolymer resins, etc. are mentioned. Preferably, it is an ester-type resin (especially polyethylene terephthalate-type resin). This is because the elastic modulus is sufficiently high and, for example, deformation of the through hole is less likely to occur even if tension is applied at the time of conveyance and/or bonding. The thickness of a surface protection film is typically 20 micrometers - 250 micrometers, Preferably they are 30 micrometers - 150 micrometers.

제 1 표면 보호 필름은, 소정 패턴으로 배치된 관통공을 갖는다. 관통공의 위치는, 비편광부가 형성되는 위치에 대응한다. 관통공의 형상은, 원하는 비편광부의 형상에 대응한다. 관통공은, 예를 들어, 기계적 타발 (예를 들어, 펀칭, 톰슨날 타발, 플로터, 워터 제트) 또는 필름의 소정 부분의 제거 (예를 들어, 레이저 어블레이션 또는 화학적 용해) 에 의해서 형성된다.A 1st surface protection film has the through-hole arrange|positioned in a predetermined pattern. The position of the through hole corresponds to the position where the non-polarization part is formed. The shape of a through hole corresponds to the shape of a desired non-polarization part. The through hole is formed, for example, by mechanical punching (eg punching, Thomson blade punching, plotter, water jet) or removal of a portion of the film (eg laser ablation or chemical dissolution).

일 실시형태에 있어서는, 상기 염기성 용액은, 편광자와 접촉 후, 임의의 적절한 수단에 의해서 편광자로부터 제거된다. 이와 같은 실시형태에 의하면, 예를 들어, 편광자의 사용에 수반하는 비편광부의 투과율의 저하를 보다 확실하게 방지할 수 있다. 염기성 용액의 제거 방법의 구체예로는, 세정, 웨스 등에 의한 닦아냄 제거, 흡인 제거, 자연 건조, 가열 건조, 송풍 건조, 감압 건조 등을 들 수 있다. 바람직하게는, 염기성 용액은 세정된다. 세정에 사용하는 세정액으로는, 예를 들어, 물 (순수), 메탄올, 에탄올 등의 알코올, 및, 이것들의 혼합 용매 등을 들 수 있다. 바람직하게는, 물이 사용된다. 세정 횟수는 특별히 한정되지 않고, 복수 회 행해도 된다. 염기성 용액을 건조에 의해서 제거하는 경우, 그 건조 온도는, 예를 들어 20 ℃ ∼ 100 ℃ 이다.In one embodiment, the said basic solution is removed from a light polarizer by arbitrary appropriate means after contacting with a light polarizer. According to such embodiment, for example, the fall of the transmittance|permeability of the non-polarization part accompanying use of a polarizer can be prevented more reliably. As a specific example of the removal method of a basic solution, washing|cleaning, wiping removal by a wet etc., suction removal, natural drying, heat drying, ventilation drying, reduced pressure drying, etc. are mentioned. Preferably, the basic solution is washed. As a washing|cleaning liquid used for washing|cleaning, alcohol, such as water (pure water), methanol, and ethanol, and these mixed solvents, etc. are mentioned, for example. Preferably, water is used. The number of times of washing|cleaning is not specifically limited, You may carry out in multiple times. When removing a basic solution by drying, the drying temperature is 20 degreeC - 100 degreeC, for example.

바람직하게는, 상기 염기성 용액과의 접촉 후, 염기성 용액을 접촉시킨 접촉부에 있어서, 수지 필름에 함유되는 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속을 저감시킨다. 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속을 저감시킴으로써, 치수 안정성이 우수한 비편광부를 얻을 수 있다. 구체적으로는, 가습 환경 하에서도 염기성 용액과의 접촉에 의해서 형성된 비편광부의 형상을 그대로 유지할 수 있다.Preferably, the alkali metal and/or alkaline-earth metal contained in the resin film are reduced in the contact part which made the basic solution contact after the contact with the said basic solution. By reducing an alkali metal and/or an alkaline-earth metal, the non-polarization part excellent in dimensional stability can be obtained. Specifically, even in a humidified environment, the shape of the non-polarization part formed by contact with a basic solution can be maintained as it is.

염기성 용액을 접촉시킴으로써, 접촉부에 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 수산화물이 잔존할 수 있다. 또, 염기성 용액을 접촉시킴으로써, 접촉부에 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 금속염 (예를 들어, 붕산염) 을 생성할 수 있다. 이것들은 수산화물 이온을 생성할 수 있고, 생성된 수산화물 이온은, 접촉부 주위에 존재하는 이색성 물질 (예를 들어, 요오드 착물) 에 작용 (분해·환원) 하여 비편광 영역을 넓힐 수 있다. 따라서, 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속염을 저감시킴으로써, 시간 경과적으로 비편광 영역이 넓어지는 것을 억제하여, 원하는 비편광부 형상이 유지될 수 있다고 생각할 수 있다.By contacting the basic solution, hydroxides of alkali metals and/or alkaline earth metals may remain in the contact portion. Moreover, by making a basic solution contact, the metal salt (for example, borate) of an alkali metal and/or alkaline-earth metal can be produced|generated in a contact part. These can generate hydroxide ions, and the generated hydroxide ions can act (decompose/reduce) on a dichroic substance (for example, an iodine complex) existing around the contact portion to widen the non-polarization region. Therefore, by reducing the alkali metal and/or alkaline earth metal salt, it is considered that the non-polarization region can be suppressed from spreading over time, and the desired non-polarization portion shape can be maintained.

상기 비편광부는, 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 함유량이 3.6 중량% 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 2.5 중량% 이하이며, 더욱 바람직하게는 1.0 중량% 이하이고, 특히 바람직하게는 0.5 중량% 이하이다. 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 함유량은, 예를 들어, 형광 X 선 분석에 의해서 측정한 X 선 강도로부터, 미리 표준 시료를 사용하여 작성한 검량선에 의해서 구할 수 있다.It is preferable that content of the said non-polarization part is 3.6 weight% or less of an alkali metal and/or alkaline-earth metal, More preferably, it is 2.5 weight% or less, More preferably, it is 1.0 weight% or less, Especially preferably, it is 0.5 weight%. is below. Content of an alkali metal and/or alkaline-earth metal can be calculated|required with the analytical curve previously prepared using the standard sample from the X-ray intensity measured by fluorescence X-ray analysis, for example.

상기 저감시키는 방법으로는, 바람직하게는 염기성 용액과의 접촉부에 산성 용액을 접촉시키는 방법이 이용된다. 이와 같은 방법에 의하면, 산성 용액에 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속을 효율적으로 이행시켜, 그 함유량을 저감시킬 수 있다. 산성 용액과의 접촉은, 상기 염기성 용액의 제거 후에 행해도 되고, 염기성 용액을 제거하지 않고 행해도 된다.As a method for the said reduction, Preferably, the method of making an acidic solution contact the contact part with a basic solution is used. According to such a method, an alkali metal and/or alkaline-earth metal can be efficiently transferred to an acidic solution, and the content can be reduced. Contact with an acidic solution may be performed after removal of the said basic solution, and may be performed without removing a basic solution.

상기 산성 용액에 함유되는 산성 화합물로는, 임의의 적절한 산성 화합물을 사용할 수 있다. 산성 화합물로는, 예를 들어, 염산, 황산, 질산, 불화수소 등의 무기산, 포름산, 옥살산, 시트르산, 아세트산, 벤조산 등의 유기산 등을 들 수 있다. 산성 용액에 함유되는 산성 화합물은, 이 중에서도, 바람직하게는 무기산이고, 더욱 바람직하게는 염산, 황산, 질산이다. 이들 산성 화합물은 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.Any suitable acidic compound can be used as the acidic compound contained in the acidic solution. Examples of the acidic compound include inorganic acids such as hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid and hydrogen fluoride, and organic acids such as formic acid, oxalic acid, citric acid, acetic acid and benzoic acid. Among these, the acidic compound contained in the acidic solution is preferably an inorganic acid, and more preferably hydrochloric acid, sulfuric acid or nitric acid. These acidic compounds may be used independently and may be used in combination of 2 or more type.

산성 용액의 용매로는, 물, 알코올이 바람직하게 사용된다. 산성 용액의 농도는, 예를 들어 0.01 N ∼ 5 N 이고, 바람직하게는 0.05 N ∼ 3 N 이며, 더욱 바람직하게는 0.1 N ∼ 2.5 N 이다. 산성 용액의 액온은, 예를 들어 20 ℃ ∼ 50 ℃ 이다. 산성 용액의 접촉 시간은, 예를 들어 5 초 ∼ 5 분이다. 또한, 산성 용액의 접촉 방법은, 상기 염기성 용액의 접촉 방법과 동일한 방법이 채용될 수 있다. 또, 산성 용액은 편광자로부터 제거될 수 있다. 산성 용액의 제거 방법은, 상기 염기성 용액의 제거 방법과 동일한 방법이 채용될 수 있다.As a solvent of an acidic solution, water and alcohol are used preferably. The concentration of the acidic solution is, for example, 0.01 N to 5 N, preferably 0.05 N to 3 N, and more preferably 0.1 N to 2.5 N. The liquid temperature of the acidic solution is, for example, 20°C to 50°C. The contact time of an acidic solution is 5 second - 5 minutes, for example. In addition, as the method of contacting the acidic solution, the same method as the method of contacting the basic solution may be employed. In addition, the acidic solution can be removed from the polarizer. As the method for removing the acidic solution, the same method as the method for removing the basic solution may be employed.

대표적으로는, 상기와 같이 하여 비편광부가 형성된 후 (바람직하게는, 알칼리 금속 및/또는 알칼리 토금속의 저감 후), 표면 보호 필름은 박리 제거될 수 있다.Typically, after the non-polarization portion is formed as described above (preferably after reduction of alkali metal and/or alkaline earth metal), the surface protection film can be peeled off.

B-3. 편광판의 제조B-3. manufacture of polarizer

상기와 같이 하여 얻어지는 비편광부를 갖는 장척상의 편광자는, 대표적으로는 편광자/보호 필름의 적층체를 구성하고 있다. 그 적층체는, 그대로 편광판으로서 사용할 수 있는 한편, 목적 등에 따라서, 그 적층체에 보호 필름 등의 다른 구성 부재를 적층함으로써, 최종 제품으로서의 임의의 적절한 구성을 갖는 편광판이 얻어질 수 있다. 또, 단일한 수지 필름으로 이루어지는 편광자가 얻어지는 경우도 마찬가지로, 용도 등에 따라서 그 편측 또는 양측에 보호 필름 등의 다른 구성 부재를 적층함으로써, 최종 제품으로서의 임의의 적절한 구성을 갖는 편광판이 얻어질 수 있다. 적층되는 다른 구성 부재에 대해서는, A-1 항에서 기재한 대로이다.The elongate polarizer which has a non-polarization part obtained by making it above typically comprises the laminated body of a polarizer/protective film. While the laminate can be used as it is as a polarizing plate, a polarizing plate having any suitable configuration as a final product can be obtained by laminating other structural members such as a protective film on the laminate according to the purpose or the like. Similarly, when a polarizer composed of a single resin film is obtained, a polarizing plate having any appropriate configuration as a final product can be obtained by laminating other structural members such as a protective film on one or both sides thereof depending on the use or the like. About the other structural members to be laminated|stacked, it is as described in Section A-1.

상기 다른 구성 부재의 적층은, 이른바 롤 투 롤로 행해질 수 있다.The lamination|stacking of the said other structural member can be performed by what is called a roll-to-roll.

B-4. 편광판의 외관 검사B-4. Visual inspection of polarizer

상기와 같이 하여 얻어진 편광판을 A 항에 기재된 검사 방법에 제공한다. A 항에 기재된 검사 방법으로, 비편광부를 갖는 편광판의 외관을 검사함으로써, 비편광부를 결함으로서 잘못 검출하지 않고, 목적으로 하는 결함 (이물질, 기포, 핀홀 등) 을 검출할 수 있기 때문에, 검사 효율과 검사 정밀도를 고차로 양립할 수 있게 된다. 그 결과, 고품질의 편광판이, 우수한 제조 효율로 얻어질 수 있다.The polarizing plate obtained by making it above is used for the test|inspection method of A term. By inspecting the external appearance of the polarizing plate having the non-polarization part by the inspection method according to the item A, the target defect (foreign substance, bubble, pinhole, etc.) can be detected without erroneously detecting the non-polarization part as a defect, so inspection efficiency It becomes possible to achieve high degree of compatibility with inspection precision. As a result, a high-quality polarizing plate can be obtained with excellent manufacturing efficiency.

B-5. 편광판의 재단B-5. Cutting of the polarizer

본 발명의 편광판의 제조 방법은, 장척상의 편광판을 원하는 사이즈로 재단하는 공정을 추가로 포함할 수 있다. 재단은, 절단, 타발 등에 의해서 행해질 수 있다. 장척상의 편광판은, 바람직하게는 장착되는 화상 표시 장치에 대응하는 사이즈를 가짐과 함께, 화상 표시 장치에 장착되었을 때, 그 카메라부와 대응하는 위치에 비편광부를 갖도록 재단된다.The manufacturing method of the polarizing plate of this invention may further include the process of cutting a long polarizing plate to a desired size. Cutting may be performed by cutting, punching, or the like. The elongate polarizing plate is preferably cut so as to have a non-polarizing part at a position corresponding to the camera part while having a size corresponding to the mounted image display device and mounted on the image display device.

재단되는 편광판은, 바람직하게는 결함부에 마킹이 실시되어 있기 때문에, 재단 후에 그 마킹에 기초하여 불량품인 편광판이 용이하게 배제될 수 있다.Since the polarizing plate to be cut is preferably marked on the defective portion, the polarizing plate, which is a defective product, can be easily excluded based on the marking after cutting.

본 발명의 검사 방법은, 예를 들어, 스마트 폰 등의 휴대 전화, 노트형 PC, 태블릿 PC 등의 카메라 부착 화상 표시 장치 (액정 표시 장치, 유기 EL 디바이스) 에 구비되는 편광판을 제조할 때 바람직하게 사용된다.When manufacturing the polarizing plate provided in camera-equipped image display apparatuses (liquid crystal display apparatus, organic electroluminescent device), such as mobile phones, such as a smart phone, notebook PCs, tablet PCs, for example, the inspection method of this invention is preferable, for example used

10 : 편광자
10a : 비편광부
30 : 편광판
50 : 촬상 장치
80 : 화상 해석 장치
82 : 결함 후보부 추출부
84 : 사이즈 판단부
86 : 주기성 판단부
88 : 결함 검출부
100 : 검사 장치
10: polarizer
10a: non-polarization part
30: polarizer
50: imaging device
80: image analysis device
82: defect candidate part extraction unit
84: size determination unit
86: periodicity judgment unit
88: defect detection unit
100: inspection device

Claims (10)

장척상의 편광자에 장척 방향으로 소정의 간격으로 배치된 비편광부를 형성하는 것, 그 비편광부를 갖는 장척상의 편광자를 사용하여 장척상의 편광판을 제조하는 것, 및, 그 장척상의 편광판을 장척 방향으로 반송하면서 그 외관을 검사하는 것을 포함하는, 편광판의 제조 방법으로서,
그 장척상의 편광판의 외관을 검사하는 것이,
그 편광판을 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과,
그 화상 데이터를 해석하여 결함 후보부를 추출하는 공정과,
결함 후보부가 기준치 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정과,
기준치를 초과하는 사이즈를 갖는 결함 후보부에 대해서만, 그 결함 후보부가 장척 방향으로 주기성을 갖는지의 여부를 판단하는 공정과,
결함을 검출하는 공정을 포함하고,
그 결함을 검출하는 공정은, 기준치 이하의 사이즈를 갖는 결함 후보부 및 기준치를 초과하는 사이즈를 갖고, 또한 주기성을 갖지 않는 결함 후보부를 결함으로 검출하는 것을 포함하는, 편광판의 제조 방법.
Forming a non-polarizing part arranged at a predetermined interval in a long polarizer in a long picture direction, manufacturing a long polarizing plate using a long polarizer having the non-polarizing part, and conveying the long polarizing plate in a long picture direction As a manufacturing method of a polarizing plate comprising inspecting the appearance while
Inspecting the appearance of the long polarizing plate,
A process of acquiring image data by imaging the polarizing plate;
analyzing the image data to extract a defect candidate part;
a step of determining whether the defect candidate portion has a size equal to or less than a reference value;
a step of judging whether or not the defect candidate portion has periodicity in the elongate direction only for the defect candidate portion having a size exceeding the reference value;
a process for detecting defects;
The process of detecting the defect has a defect candidate part which has a size below a reference value, and a size exceeding a reference value, and includes detecting as a defect the defect candidate part which does not have periodicity.
제 1 항에 있어서,
상기 장척상의 편광자에, 장척 방향 및 폭 방향으로 소정 간격으로 배치된 비편광부를 형성하는, 편광판의 제조 방법.
The method of claim 1,
The manufacturing method of the polarizing plate which forms the non-polarization part arrange|positioned at predetermined intervals in the elongate direction and the width direction in the said elongate polarizer.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 화상 데이터의 취득이, 상기 편광판의 연속적인 촬상에 기초하여 행해지는, 편광판의 제조 방법.
3. The method of claim 1 or 2,
The manufacturing method of the polarizing plate in which acquisition of the said image data is performed based on continuous imaging of the said polarizing plate.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 결함 후보부의 추출이, 상기 화상 데이터의 휘도 정보에 기초하여 행해지는, 편광판의 제조 방법.
3. The method of claim 1 or 2,
The manufacturing method of the polarizing plate in which extraction of the said defect candidate part is performed based on the luminance information of the said image data.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 결함 후보부의 주기성 유무의 판단이, 상기 결함 후보부의 장척 방향에 있어서의 위치 좌표에 기초하여 행해지는, 편광판의 제조 방법.
3. The method of claim 1 or 2,
The manufacturing method of the polarizing plate in which judgment of the periodicity of the said defect candidate part is performed based on the positional coordinate in the long direction of the said defect candidate part.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 결함 후보부의 주기성 유무의 판단이, 판단 대상인 결함 후보부와, 그 반송 방향 상류측에 존재하는 비편광부의 장척 방향의 거리가, 장척 방향에 있어서의 상기 비편광부의 배치 간격 또는 그 간격을 정수배한 거리인지의 여부에 기초하여 행해지는, 편광판의 제조 방법.
3. The method of claim 1 or 2,
The distance in the long direction of the defect candidate part to which the judgment of the periodicity of the defect candidate part is determined and the non-polarization part existing upstream in the conveyance direction is an integer multiple of the arrangement interval of the non-polarization part in the long direction or the interval The manufacturing method of a polarizing plate which is performed based on whether it is one distance.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
외관을 검사한 후에, 상기 장척상의 편광판을 원하는 사이즈로 재단하는 것을 추가로 포함하는, 편광판의 제조 방법.
3. The method of claim 1 or 2,
After inspecting the appearance, the method for producing a polarizing plate, further comprising cutting the long polarizing plate to a desired size.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
염기성 용액과의 접촉에 의해 상기 장척상의 편광자에 상기 비편광부를 형성하는, 편광판의 제조 방법.
3. The method of claim 1 or 2,
The manufacturing method of a polarizing plate which forms the said non-polarization part in the said elongate light polarizer by contact with a basic solution.
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