KR102382657B1

KR102382657B1 - 입력 장치와 그 제어 방법 및 프로그램

Info

Publication number: KR102382657B1
Application number: KR1020207022428A
Authority: KR
Inventors: 도모키 야마다
Original assignee: 알프스 알파인 가부시키가이샤
Priority date: 2018-02-09
Filing date: 2018-11-29
Publication date: 2022-04-04
Also published as: JPWO2019155736A1; EP3751397A1; US11644925B2; WO2019155736A1; KR20200103818A; JP6909876B2; CN111684397B; US20200363901A1; EP3751397A4; CN111684397A; EP3751397B1

Abstract

입력 장치는, 물체의 근접 정도에 따른 검출 신호를 반복적으로 생성하는 검출부와, 검출부에 있어서 검출 신호가 반복적으로 생성되는 것에서 기인하는 검출 신호의 드리프트에 대해 상관성을 가진 변동을 일으키는 드리프트 모의 신호를 생성하는 드리프트 모의부와, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성이 개시된 경우, 및, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성의 간격이 변경된 경우의 적어도 일방에 있어서, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따라 검출 신호를 보정하는 보정부를 갖는다.

Description

입력 장치와 그 제어 방법 및 프로그램

본 개시는, 물체의 근접에 따른 정보를 입력하는 입력 장치와 그 제어 방법 및 프로그램에 관한 것으로, 예를 들어, 각종 기기에 있어서 정보의 입력에 사용되는 터치 센서나 터치 패드 등의 입력 장치에 관한 것이다.

손가락 등의 물체가 근접한 것을 검출하고, 검출 결과를 정보로서 입력하는 다양한 장치가 알려져 있다. 이와 같은 입력 장치에는, 예를 들어, 손가락 등의 접촉의 유무를 검출하는 터치 센서나, 접촉 위치의 정보를 얻을 수 있는 터치 패드 등이 있다. 하기 특허문헌 1 에는, 정전 용량의 변화에 기초하여 터치 조작을 검출하는 터치식 조작 버튼이 기재되어 있다.

일본 특허 제5677828호 명세서

정전 용량의 변화 등에 기초하여 물체의 근접 정도를 검출하는 경우, 물체의 근접과는 상이한 요인에 의해 검출 결과가 변동하는 경우가 있다. 상기 서술한 특허문헌 1 에 기재된 장치에서는, 장치의 설치 장소에 있어서의 온도나 습도의 영향에 의해 생기는 정전 용량의 검출 결과의 변동을 보정하기 위해, 온습도 측정 수단에 의한 온도 및 습도의 측정값이 사용된다.

그러나, 물체의 근접 정도의 검출 결과가 변동하는 요인에는, 온도나 습도 등의 외적인 요인뿐만 아니라, 검출 동작이 반복되는 것에 의한 내적인 요인도 존재한다. 예를 들어, 일반적인 정전 용량식의 센서의 경우, 정전 용량의 검출 회로에 있어서 검출 동작이 실시될 때마다 캐패시터의 충방전이 발생한다. 캐패시터의 충방전이 발생하면, 그 전하의 이동에 수반하여 검출 회로의 내부의 저항에 전류가 흐르고, 검출 회로의 내부에서 열이 발생한다. 검출 회로는, 기생적인 요소도 포함하여, 온도 특성을 가진 여러 가지 회로 요소 (저항, 캐패시터 등) 에 의해 구성되는 점에서, 검출 회로의 내부의 온도가 변화하면, 검출 결과에 변동 (드리프트) 이 발생한다. 특히 전원 투입의 직후에는, 검출 회로의 내부의 발열이 제로 상태에 있기 때문에, 검출 동작의 반복에 수반하는 검출 결과의 드리프트가 커지기 쉽다.

상기 서술한 특허문헌 1 에 기재된 장치에서는, 장치가 설치된 장소에 있어서의 온도나 습도를 센서 (온습도 측정 수단) 로 측정하고 있고, 검출 동작이 반복되는 것에서 기인하는 회로 내의 온도 상승 등을 측정하고 있지 않다. 그 때문에, 이와 같은 센서의 측정값에 기초하여 정전 용량의 검출 결과를 보정해도, 검출 동작이 반복되는 것에서 기인하는 검출 결과의 드리프트를 적절히 보정할 수 없다는 불이익이 있다. 또, 센서가 배치된 장소에서 국소적인 온도의 변동이 발생한 경우에는, 불필요한 보정을 실행해 버릴 가능성이 있어, 검출 결과의 정밀도를 오히려 저하시켜 버린다는 불이익도 있다.

그래서, 본 개시는, 물체의 근접 정도의 검출이 반복되는 것에서 기인하는 검출 결과의 드리프트를 적절히 보정할 수 있는 입력 장치와 그 제어 방법 및 프로그램을 제공하는 것을 목적으로 한다.

물체의 근접에 따른 정보를 입력하는 입력 장치로서, 물체의 근접 정도에 따른 검출 신호를 반복적으로 생성하는 검출부와, 상기 검출부에 있어서 상기 검출 신호가 반복적으로 생성되는 것에서 기인하는 상기 검출 신호의 드리프트에 대해 상관성을 가진 변동을 일으키는 드리프트 모의 신호를 생성하는 드리프트 모의부와, 상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성이 개시된 경우, 및, 상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성의 간격이 변경된 경우의 적어도 일방에 있어서, 상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따라 상기 검출 신호를 보정하는 보정부를 갖는다.

본 개시에 의하면, 물체의 근접 정도의 검출이 반복되는 것에서 기인하는 검출 결과의 드리프트를 적절히 보정할 수 있는 입력 장치와 그 제어 방법 및 프로그램을 제공할 수 있다.

도 1 은 제 1 실시형태에 관련된 입력 장치의 구성의 일례를 나타내는 도면이다.
도 2a 는 검출부의 구성의 일례를 나타내는 도면이다.
도 2b 는 드리프트 모의부의 구성의 일례를 나타내는 도면이다.
도 3 은 검출 신호의 드리프트를 설명하기 위한 도면이다.
도 4 는 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서 검출 신호를 반복적으로 생성하는 동작의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 5 는 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 검출 개시 후의 드리프트 보정 동작의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 6 은 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 검출 간격 변경 후의 드리프트 보정 동작의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 7 은 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 드리프트 보정 동작의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 8 은 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 드리프트 보정 동작의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 9 는 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서 검출 신호를 반복적으로 생성하는 동작의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 10 은 제 2 실시형태에 관련된 입력 장치의 구성의 일례를 나타내는 도면이다.
도 11 은 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 보정부의 동작의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 12 는 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 검출 개시 후의 드리프트 보정 동작의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 13 은 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 검출 간격 변경 후의 드리프트 보정 동작의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 14 는 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 드리프트 보정 동작의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 15 는 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 드리프트 보정 동작의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 16 은 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서 검출 신호를 반복적으로 생성하는 동작의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다.

＜제 1 실시형태＞

이하, 제 1 실시형태에 관련된 입력 장치에 대해 도면을 참조하면서 설명한다.

도 1 은, 제 1 실시형태에 관련된 입력 장치의 구성의 일례를 나타내는 도면이다. 도 1 에 나타내는 입력 장치는, n 개의 검출부 (10-1 ∼ 10-n) (이하, 구별하지 않고 「검출부 (10)」로 기재하는 경우가 있다.) 와, 드리프트 모의부 (20) 와, 처리부 (30) 와, 기억부 (40) 와, 인터페이스부 (50) 를 갖는다. 도 2a 는, 검출부 (10) 의 구성의 일례를 나타내는 도면이며, 도 2b 는, 드리프트 모의부 (20) 의 구성의 일례를 나타내는 도면이다.

본 실시형태에 관련된 입력 장치는, 손가락이나 펜 등의 물체의 근접 정도에 따른 정보를 입력하는 장치이며, 예를 들어 터치 센서나 터치 패드 등과 같이, 조작면에 있어서의 물체의 접촉의 유무나 접촉 위치, 근접의 정도 등에 관한 정보를 입력한다. 또한, 본 명세서에 있어서의 「근접」이란 가까이에 있는 것을 의미하고 있고, 접촉의 유무를 한정하지 않는다.

(검출부 (10))

검출부 (10-i) (i 는 1 부터 n 까지의 정수를 나타낸다.) 는, 물체 (1) (손가락 등) 의 근접 정도에 따른 검출 신호 (Si) (이하, 구별하지 않고 「검출 신호 (S)」로 기재하는 경우가 있다.) 를 생성한다. 검출부 (10) 는, 처리부 (30) 의 후술하는 제어부 (301) 의 제어에 따라, 검출 신호 (S) 를 반복적으로 생성한다.

검출부 (10) 는, 예를 들어 도 2a 에 나타내는 바와 같이, 검출 전극 (101) 과 정전 용량 검출 회로 (102) 를 포함한다. 검출 전극 (101) 은, 물체 (1) 의 근접 정도에 따라 정전 용량이 변화하는 캐패시터 (Cx) 를 형성한다. 캐패시터 (Cx) 는, 교류적으로 접지 전위의 도체로 간주할 수 있는 손가락 등의 물체 (1) 와 검출 전극 (101) 사이에 형성되는 기생적인 용량 성분이다. 캐패시터 (Cx) 의 정전 용량은, 물체 (1) 가 검출 전극 (101) 에 접근할수록 커진다.

정전 용량 검출 회로 (102) 는, 검출 전극 (101) 을 개재하여 전송되는 캐패시터 (Cx) 의 전하에 따른 검출 신호 (S) 를 생성한다. 정전 용량 검출 회로 (102) 는, 예를 들어 도 2a 에 나타내는 바와 같이, 연산 증폭기 (110) 와, 구동 전압 공급부 (111) 와, 캐패시터 (Cf1) 와, 아날로그-디지털 변환기 (이하, 「AD 변환기」 또는 「A/D」로 기재한다.) (112) 와, 복조부 (113) 와, 로우 패스 필터 (LPF) (114) 를 포함한다.

연산 증폭기 (110) 의 반전 입력 단자와 출력 단자 사이에는, 캐패시터 (Cf1) 가 접속된다. 연산 증폭기 (110) 의 비반전 입력 단자에는, 구동 전압 공급부 (111) 에 의해 교류의 구동 전압 (Vd1) 이 공급된다. 검출 전극 (101) 은, 연산 증폭기 (110) 의 반전 입력 단자에 접속된다. 구동 전압 공급부 (111) 의 구동 전압 (Vd1) 은, 예를 들어 정현파의 교류 전압이다. 연산 증폭기 (110) 는, 반전 입력 단자의 전압과 비반전 입력 단자의 전압이 대략 일치하도록, 출력 전압 (Vo1) 을 제어하기 때문에, 캐패시터 (Cx) 에는, 구동 전압 (Vd1) 과 대략 동일한 교류 전압이 발생한다. 캐패시터 (Cx) 에 교류 전압이 발생할 때, 이 교류 전압과 캐패시터 (Cx) 의 정전 용량에 비례한 전하의 변화가 생긴다. 캐패시터 (Cx) 에 있어서의 전하의 변화는, 캐패시터 (Cf1) 에 있어서의 전하의 변화와 대략 동일하다. 그 결과, 캐패시터 (Cf1) 에 생기는 교류 전압은, 캐패시터 (Cx) 의 정전 용량에 대체로 비례한 진폭을 가진다. 연산 증폭기 (110) 의 출력 전압 (Vo1) 은, 캐패시터 (Cf1) 에 생기는 교류 전압과 구동 전압 (Vd1) 의 합에 상당하는 전압이 된다.

AD 변환기 (112) 는, 연산 증폭기 (110) 의 출력 전압 (Vo1) 을 디지털값으로 변환한다. 예를 들어 AD 변환기 (112) 는, 구동 전압 공급부 (111) 의 구동 전압 (Vd1) 과 연산 증폭기 (110) 의 출력 전압 (Vo1) 의 차를 증폭하고, 에일리어싱의 원인이 되는 고주파 성분을 감쇠시켜 출력하는 차동 앰프를 포함한다. AD 변환기 (112) 는, 이 차동 앰프의 출력 신호 (캐패시터 (Cf1) 의 교류 전압에 상당하는 신호) 를 디지털값으로 변환한다.

복조부 (113) 는, AD 변환기 (112) 에 있어서 디지털값으로 변환된 신호로부터, 캐패시터 (Cf1) 의 교류 전압의 진폭에 상당하는 성분, 즉, 캐패시터 (Cx) 의 정전 용량에 비례한 성분을 복조한다. 예를 들어 복조부 (113) 는, AD 변환기 (112) 에 있어서 디지털값으로 변환된 신호에 구동 전압 (Vd1) 과 대략 동상의 교류 신호를 승산한다. 로우 패스 필터 (114) 는, 복조부 (113) 의 승산 처리에 의한 고조파 성분을 제거한다. 이로써, 로우 패스 필터 (114) 로부터 출력되는 검출 신호 (S) 는, 캐패시터 (Cx) 의 정전 용량에 대체로 비례한 신호가 된다.

도 3 은, 검출 신호 (S) 의 드리프트를 설명하기 위한 도면이다. 도 3 의 그래프에 있어서, 세로축은, 검출 전극 (101) 에 물체 (1) 가 근접하고 있지 않은 상태에 있어서의 검출 신호 (S) 의 값을 나타내고, 가로축은, 검출을 개시한 시각 (예를 들어 전원 투입 시) 으로부터의 경과 시간 (초) 을 나타낸다. 도 3 의 예에 있어서, 검출 개시 시각 t1 로부터 6 초가 경과한 시각 t2 까지의 동안, 검출 신호 (S) 는 비교적 큰 변동을 일으키고 있다. 이와 같은 검출 신호 (S) 의 변동을 일으키게 하는 요인의 하나로서, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성에 수반하는 정전 용량 검출 회로 (102) 의 내부의 발열을 들 수 있다.

도 2a 에 나타내는 정전 용량 검출 회로 (102) 에 있어서 캐패시터 (Cx) 의 정전 용량의 검출이 실시되는 경우, 캐패시터 (Cx) 와 캐패시터 (Cf1) 간에서 검출 전극 (101) 을 개재하여 전하가 이동하고, 이 전하의 이동에 수반하는 증폭 동작에 의해 연산 증폭기 (110) 의 내부의 저항에 소비 전류가 흘러, 저항이 발열한다. 저항의 발열에 의해, 정전 용량 검출 회로 (102) 를 구성하는 회로 요소 (저항, 캐패시터 등) 의 온도가 상승하면, 회로 요소의 온도 특성에 따라 소자값 (저항값, 정전 용량값 등) 이 변화하고, 그 결과로서 검출 신호 (S) 의 변동이 발생한다. 또, 예를 들어 정전 용량 검출 회로 (102) 의 연산 증폭기 (110) 의 입력에는, 도 2a 에 나타내는 바와 같은 기생 용량 (Cp1) 이 존재한다. 이 기생 용량 (Cp1) 은 캐패시터 (Cx) 와 병렬로 접속되기 때문에, 검출 신호 (S) 가 나타내는 정전 용량의 값은 기생 용량 (Cp1) 의 분만큼 커진다. 상기 서술한 회로 내부의 발열에 의해 기생 용량 (Cp1) 의 정전 용량이 변화하면 (일반적으로는 온도 상승에 수반하여 정전 용량이 증대한다), 그 변화에 따라 검출 신호 (S) 의 드리프트가 발생한다.

도 3 의 예에 있어서, 시각 t2 이후에는 검출 신호 (S) 의 값이 일정하게 추이하고 있다. 이것은, 회로 내부의 발열과 방열이 평형 상태가 되어, 회로 요소의 온도 변화가 작아지고, 온도 변화에 수반하는 회로 요소의 소자값의 변화가 작아진 것에 의한다.

또 도 3 의 예에서는, 시각 t3 에 있어서, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 간격 Tp 가 1 초로부터 2 초로 길어져 있다. 검출 신호 (S) 의 생성의 간격 Tp 가 길어지면, 정전 용량 검출 회로 (102) 내부의 저항의 발열이 작아지고, 발열과 방열의 밸런스가 무너져, 정전 용량 검출 회로 (102) 를 구성하는 회로 요소의 온도가 저하한다. 회로 요소의 온도가 저하하면, 회로 요소의 온도 특성에 따라 소자값이 변화하고, 검출 신호 (S) 의 변동이 발생한다. 도 3 의 예에서는, 시각 t3 부터 시각 t4 까지 검출 신호 (S) 가 감소하고 있다. 시각 t4 이후에는, 회로 내부의 발열과 방열이 다시 평형 상태가 되고, 온도 변화에 의한 회로 요소의 소자값의 변화가 작아지기 때문에, 검출 신호 (S) 가 일정한 값으로 수속하고 있다.

(드리프트 모의부 (20))

드리프트 모의부 (20) 는, 검출부 (10) 에 있어서 검출 신호 (S) 가 반복적으로 생성되는 것에서 기인하는 검출 신호 (S) 의 드리프트에 대해 상관성을 가진 변동을 일으키는 드리프트 모의 신호 (P) 를 생성한다. 드리프트 모의부 (20) 는, 처리부 (30) 의 후술하는 제어부 (301) 의 제어에 따라, 드리프트 모의 신호 (P) 를 반복적으로 생성한다.

드리프트 모의부 (20) 는, 도 1 의 예에 있어서, 모의 회로 (201) 를 포함한다. 모의 회로 (201) 는, 만일 검출 전극 (101) 에 접속되었다면, 검출 전극 (101) 을 개재하여 전송되는 캐패시터 (Cx) 의 전하에 따른 검출 신호 (S) 와 동일한 신호를 생성 가능한 회로이며, 검출 전극 (101) 에 접속되어 있지 않은 상태에서 드리프트 모의 신호 (P) 를 생성한다. 예를 들어 모의 회로 (201), 정전 용량 검출 회로 (102) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 간격과 동일한 간격으로, 드리프트 모의 신호 (P) 를 반복적으로 생성한다.

모의 회로 (201) 는, 예를 들어 도 2b 에 있어서 나타내는 바와 같이, 도 2a 에 나타내는 정전 용량 검출 회로 (102) 와 대략 동일한 구성을 갖는다. 즉, 도 2b 에 나타내는 모의 회로 (201) 에 포함되는 연산 증폭기 (210), 구동 전압 공급부 (211), 캐패시터 (Cf2), AD 변환기 (212), 복조부 (213) 및 로우 패스 필터 (214) 는, 도 2a 에 나타내는 정전 용량 검출 회로 (102) 에 포함되는 연산 증폭기 (110), 구동 전압 공급부 (111), 캐패시터 (Cf1), AD 변환기 (112), 복조부 (113) 및 로우 패스 필터 (114) 에 각각 대응한다.

모의 회로 (201) 는 검출 전극 (101) 에 접속되어 있지 않기 때문에, 검출 전극 (101) 에 물체 (1) 가 근접하는 것에 의한 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동은 발생하지 않는다. 한편, 모의 회로 (201) 는 정전 용량 검출 회로 (102) 와 동일한 구성을 가지고 있기 때문에, 검출 전극 (101) 과 관계가 없는 다른 요인에 의한 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동은, 검출 신호 (S) 와 동일한 경향을 가지기 쉽다. 따라서, 정전 용량 검출 회로 (102) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 간격과 동일한 간격으로 모의 회로 (201) 가 드리프트 모의 신호 (P) 를 생성한 경우, 드리프트 모의 신호 (P) 는 검출 신호 (S) 의 드리프트와 동일한 경향으로 변동을 일으킨다.

(처리부 (30))

처리부 (30) 는, 입력 장치의 전체적인 동작을 제어하는 회로이며, 예를 들어, 기억부 (40) 에 격납된 프로그램 (401) 의 명령 코드에 따라 처리를 실시하는 컴퓨터나, 특정 기능을 실현하도록 구성된 전용의 하드웨어 (로직 회로 등) 를 포함하여 구성된다. 처리부 (30) 의 처리는, 모두 컴퓨터에 있어서 프로그램 (401) 에 기초하여 실현해도 되고, 그 적어도 일부를 전용의 하드웨어에서 실현해도 된다.

도 1 의 예에 있어서, 처리부 (30) 는, 제어부 (301) 와, 보정부 (302) 와, 위치 산출부 (303) 를 갖는다.

제어부 (301) 는, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 에 있어서의 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 생성 및 드리프트 모의부 (20) 에 있어서의 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 제어한다. 예를 들어 제어부 (301) 는 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 와 드리프트 모의 신호 (P) 가 동일한 간격으로 반복적으로 생성되도록, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 및 드리프트 모의부 (20) 를 제어한다. 또, 제어부 (301) 는, 후술하는 보정부 (302) 에 있어서 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 보정값의 갱신이 정지되는 경우, 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 정지하도록 드리프트 모의부 (20) 를 제어한다. 또한 제어부 (301) 는, 후술하는 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력되는 외부의 제어 장치로부터의 커맨드 등에 따라, 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 반복적인 생성 간격을 변경하거나, 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 생성을 정지하거나, 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 생성을 재개하거나 하는 제어를 실시한다.

보정부 (302) 는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따라, 검출 신호 (S) 를 보정하는 처리를 실시한다. 예를 들어 보정부 (302) 는, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 에 있어서의 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 반복적인 생성이 개시된 경우나, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 에 있어서의 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 반복적인 생성의 간격이 변경된 경우에, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따라 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 를 보정한다. 보정부 (302) 는, 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 보정의 정도를 나타내는 양인 보정값을, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따라 갱신한다.

또 보정부 (302) 는, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 에 있어서의 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 반복적인 생성이 개시되고 나서 소정의 시간 T1 이 경과한 경우나, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 에 있어서의 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 반복적인 생성의 간격이 변경되고 나서 소정의 시간 T2 가 경과한 경우, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따른 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 보정값의 갱신을 정지한다.

보정부 (302) 는, 예를 들어, 드리프트 모의부 (20) 에 있어서 생성된 일련의 드리프트 모의 신호 (P) 에 기초하여, 드리프트 모의 신호 (P) 가 증가 혹은 감소한 값을 나타내는 변동값 (ΔP) 을 산출하고, 변동값 (ΔP) 에 따른 보정값 (Sc) 을 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 각각으로부터 감산한다.

변동값 (ΔP) 은, 예를 들어, 보정 개시의 당초에 생성된 드리프트 모의 신호 (P) 를 초기값으로 하고, 그 후에 생성된 드리프트 모의 신호 (P) 로부터 초기값을 감산한 값이다. 다른 예에 있어서, 변동값 (ΔP) 은, 연속적으로 생성된 2 개의 드리프트 모의 신호 (P) 의 차를 순차적으로 적산한 값이어도 된다.

보정값 (Sc) 은, 예를 들어, 변동값 (ΔP) 에 소정의 계수 (α) 를 곱한 값 「α × ΔP」이다. 다른 예에 있어서, 보정값 (Sc) 은, 변동값 (ΔP) 을 변수로 하는 소정의 함수의 값 「f(ΔP)」여도 된다.

위치 산출부 (303) 는, 보정부 (302) 에 의해 보정된 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 에 기초하여, 손가락 등의 물체 (1) 가 근접한 위치를 산출한다. 예를 들어, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 의 각 검출 전극 (101) 은, 물체 (1) 가 근접하는 조작면에 있어서 2 개의 방향 (X 방향, Y 방향) 으로 나란히 배치되어 있다. 위치 산출부 (303) 는, X 방향으로 나란한 검출 전극 (101) 에 대응하는 일군의 검출 신호 (S) 의 분포와, Y 방향으로 나란한 검출 전극 (101) 에 대응하는 일군의 검출 신호 (S) 의 분포에 기초하여, 조작면에 있어서의 물체 (1) 의 근접 위치 (X 방향의 좌표 및 Y 방향의 좌표) 를 산출한다.

(기억부 (40))

기억부 (40) 는, 처리부 (30) 에 있어서 처리에 사용되는 정수 데이터나, 처리의 과정에서 일시적으로 참조되는 변수 데이터를 기억한다. 또 기억부 (40) 는, 처리부 (30) 의 컴퓨터에 의해 실행되는 프로그램 (401) 을 기억한다. 기억부 (40) 는, 예를 들어, DRAM 이나 SRAM 등의 휘발성 메모리, 플래쉬 메모리 등의 불휘발성 메모리, 하드디스크 등의 자기 기억 장치 중 적어도 1 개 포함하여 구성된다.

(인터페이스부 (50))

인터페이스부 (50) 는, 입력 장치와 다른 제어 장치 (입력 장치를 탑재하는 정보 기기의 컨트롤용 IC 등) 간에서 데이터를 교환하기 위한 회로이다. 처리부 (30) 는, 기억부 (40) 에 기억되는 정보 (물체 (1) 의 좌표의 정보 등) 를 인터페이스부 (50) 로부터 도시되지 않은 제어 장치에 출력한다. 또, 인터페이스부 (50) 는, 처리부 (30) 의 컴퓨터에 있어서 실행되는 프로그램 (401) 을, 광 디스크나 USB 메모리 등의 비일시적 기록 매체나 네트워크상의 서버 등으로부터 취득하여, 기억부 (40) 에 로드해도 된다.

(동작)

여기서, 상기 서술한 구성을 갖는 입력 장치의 동작에 대해, 도 4 ∼ 도 6 의 플로우 차트를 참조하여 설명한다.

도 4 는, 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서 검출 신호 (S) 를 반복적으로 생성하는 동작의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 제어부 (301) 는, 전원이 투입된 기동 시나, 검출 동작을 개시시키는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력된 경우에 (ST100 의 예), 검출부 (10) 에 있어서 검출 신호 (S) 를 반복적으로 생성함과 함께, 드리프트 모의부 (20) 에 있어서 검출 신호 (S) 와 동일한 간격으로 드리프트 모의 신호 (P) 를 반복적으로 생성한다 (ST105). 이때, 보정부 (302) 는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따라 검출 신호 (S) 를 보정하는 처리 (이하, 드리프트 보정이라고 부르는 경우가 있다.) 를 실시한다. 스텝 ST105 의 상세한 동작에 대해서는 후술한다.

또 제어부 (301) 는, 스텝 ST105 의 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지된 후, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 간격을 변경하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력된 경우에 (ST110 의 예), 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 생성의 간격을 변경함과 함께, 드리프트 모의부 (20) 에 있어서 검출 신호 (S) 와 동일한 간격으로 드리프트 모의 신호 (P) 를 반복적으로 생성한다 (ST120). 이 경우에도, 보정부 (302) 는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따른 검출 신호 (S) 의 드리프트 보정을 실시한다. 스텝 ST120 의 상세한 동작에 대해서는 후술한다.

제어부 (301) 는, 검출 신호 (S) 의 생성을 일시적으로 정지하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력된 경우 (ST130 의 예), 상기 서술한 스텝 ST100 으로 돌아가고, 검출 신호 (S) 의 생성을 재개하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력될 때까지, 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 생성을 정지한다. 커맨드에 의한 검출 신호 (S) 의 생성의 정지나 종료가 없고, 전원의 차단도 없는 경우 (ST130 및 ST135 가 모두 아니오), 제어부 (301) 는, 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 생성 (ST125) 을 일정한 간격으로 반복한다.

도 5 는, 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 검출 개시 후의 드리프트 보정 동작 (ST105, 도 4) 의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 검출부 (10) 에 있어서 검출 신호 (S) 가 생성됨과 함께, 드리프트 모의부 (20) 에 있어서 드리프트 모의 신호 (P) 가 생성되면 (ST200), 보정부 (302) 는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동값 (ΔP) 을 산출한다 (ST205). 예를 들어, 보정부 (302) 는, 스텝 ST105 의 처리가 개시된 당초의 드리프트 모의 신호 (P) 를 초기값으로서 기억부 (40) 에 유지하고, 스텝 ST200 에서 신규로 얻어진 드리프트 모의 신호 (P) 로부터 초기값을 감산함으로써 변동값 (ΔP) 을 산출한다.

보정부 (302) 는, 스텝 ST200 에서 얻어진 검출 신호 (S) 를, 스텝 ST205 에서 산출한 변동값 (ΔP) 에 따라 보정한다 (ST210). 예를 들어, 보정부 (302) 는, 변동값 (ΔP) 에 소정의 계수 (α) 를 곱한 보정값 (Sc) (= α × ΔP) 을 산출하고, 스텝 ST200 에서 얻어진 검출 신호 (S) 로부터 보정값 (Sc) 을 감산함으로써, 보정된 검출 신호 (S) 를 취득한다.

그 후, 보정부 (302) 는, 스텝 ST100 (도 4) 에 있어서 검출 신호 (S) 의 생성이 개시되고 나서 소정의 시간 T1 이 경과했는지 여부를 판정하고 (ST215), 시간 T1 이 경과하여 있지 않은 경우에는 스텝 ST200 으로 돌아가, 상기 서술한 처리를 반복한다. 검출 신호 (S) 의 생성의 간격이 변경되고 나서 시간 T1 이 경과한 경우 (ST215 의 예), 제어부 (301) 는, 드리프트 모의부 (20) 에 있어서의 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 정지한다 (ST245). 예를 들어 제어부 (301) 는, AD 변환기 (212) 에 있어서의 아날로그-디지털 변환 동작이나, 복조부 (213) 에 있어서의 복조 처리, 로우 패스 필터 (214) 에 있어서의 필터 처리를 정지한다.

또한, 보정부 (302) 는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성이 정지된 경우, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따른 검출 신호 (S) 의 보정값 (Sc) 의 갱신을 정지하지만, 스텝 ST210 에 있어서 마지막에 산출한 보정값 (Sc) 은 그대로 기억부 (40) 에 유지한다. 보정부 (302) 는, 스텝 ST125 (도 4) 에 있어서 검출 신호 (S) 가 생성된 경우, 기억부 (40) 에 유지한 일정한 보정값 (Sc) 을 검출 신호 (S) 로부터 감산한다.

스텝 ST105 의 처리의 과정에서 검출 신호 (S) 의 생성을 일시적으로 정지하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 입력된 경우 (ST235 의 예), 제어부 (301) 는 상기 서술한 스텝 ST100 으로 돌아간다. 또, 검출 신호 (S) 의 생성을 종료하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 입력된 경우 (ST240 의 예), 처리부 (30) 는 검출 신호 (S) 의 생성에 관련된 처리를 종료한다.

도 6 은, 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 검출 간격 변경 후의 드리프트 보정 동작 (ST120, 도 4) 의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 6 에 나타내는 플로우 차트는, 도 5 에 나타내는 플로우 차트에 있어서의 스텝 ST215 를 스텝 ST220 으로 치환한 것이며, 다른 각 스텝은 도 5 에 나타내는 플로우 차트와 동일하다. 보정부 (302) 는, 스텝 ST110 (도 4) 에 있어서 검출 신호 (S) 의 생성의 간격이 변경되고 나서 소정의 시간 T2 가 경과했는지 여부를 판정하고 (ST220), 시간 T2 가 경과하여 있지 않은 경우에는 스텝 ST200 으로 돌아가, 스텝 ST200 이후의 처리를 반복한다. 검출 신호 (S) 의 생성의 간격이 변경되고 나서 시간 T2 가 경과한 경우 (ST220 의 예), 제어부 (301) 는, 드리프트 모의부 (20) 에 있어서의 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 정지한다 (ST245). 이 경우, 보정부 (302) 는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따른 검출 신호 (S) 의 보정값 (Sc) 의 갱신을 정지한다.

이상 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 관련된 입력 장치에 의하면, 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성에서 기인하여, 검출 신호 (S) 에 드리프트가 생긴다. 드리프트 모의부 (20) 에서는, 이 드리프트에 대해 상관성을 가진 변동을 일으키는 드리프트 모의 신호 (P) 가 생성된다. 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성이 개시된 경우나, 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 간격이 변경된 경우, 검출 신호 (S) 에는 상기 서술한 드리프트가 생기지만, 이들의 경우, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따라 검출 신호 (S) 가 보정된다. 따라서, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성에서 기인하는 검출 신호 (S) 의 드리프트를 적절히 보정할 수 있다.

또, 본 실시형태에 관련된 입력 장치에 의하면, 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성이 개시되고 나서 소정의 시간 T1 이 경과한 경우나, 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 간격이 변경되고 나서 소정의 시간 T2 가 경과한 경우, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따른 검출 신호 (S) 의 보정값의 갱신이 정지되고, 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성도 정지된다. 그 때문에, 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성에 수반하는 소비 전력을 삭감할 수 있다.

(변형예)

다음으로, 제 1 실시형태에 관련된 입력 장치의 변형예에 대해 도 7 ∼ 도 9 의 플로우 차트를 참조하여 설명한다.

도 7 은, 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 드리프트 보정 동작 (도 5, 도 6) 의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 7 에 나타내는 플로우 차트는, 도 5 에 나타내는 플로우 차트에 있어서의 스텝 ST215 를 스텝 ST225 로 치환한 것이며, 다른 각 스텝은 도 5 에 나타내는 플로우 차트와 동일하다. 도 5, 도 6 의 플로우 차트에 의한 드리프트 보정 동작에서는, 검출 개시 시점으로부터의 경과 시간이나 검출 간격 변경 시점으로부터 소정의 시간이 경과한 경우에 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지되어 있지만, 도 7 의 플로우 차트에 의한 드리프트 보정 동작에서는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동이 작아진 경우에 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지된다. 즉, 보정부 (302) 는, 스텝 ST205 에서 산출한 변동값 (ΔP) 이 소정의 미소 범위에 포함되는지 여부를 판정하고 (ST225), 변동값 (ΔP) 이 소정의 미소 범위에 포함되지 않는 경우에는 스텝 ST200 으로 돌아가, 스텝 ST200 이후의 처리를 반복한다. 변동값 (ΔP) 이 소정의 미소 범위에 포함되는 경우 (스텝 ST225 의 예), 제어부 (301) 는, 드리프트 모의부 (20) 에 있어서의 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 정지한다 (ST245). 이와 같이, 변동값 (ΔP) 이 소정의 미소 범위에 포함되었는지 여부를 판정하는 방법으로도, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성에서 기인하는 검출 신호 (S) 의 드리프트가 수속한 것을 적절히 판정할 수 있다.

도 8 은, 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 드리프트 보정 동작 (도 5, 도 6) 의 다른 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 8 에 나타내는 플로우 차트는, 도 5 에 나타내는 플로우 차트에 있어서의 스텝 ST215 를 스텝 ST230 으로 치환한 것이며, 다른 각 스텝은 도 5 에 나타내는 플로우 차트와 동일하다. 도 8 의 플로우 차트에 의한 드리프트 보정 동작에서는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동이 작아진 상태가 소정 시간 이상 계속된 경우, 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지된다. 즉, 보정부 (302) 는, 스텝 ST205 에서 산출한 변동값 (ΔP) 이 소정의 미소 범위에 포함되는 상태가, 소정의 시간 T3 이상 계속되고 있는지 여부를 판정하고 (ST230), 이 상태가 시간 T3 이상 계속되고 있지 않은 경우에는 스텝 ST200 으로 돌아가, 스텝 ST200 이후의 처리를 반복한다. 변동값 (ΔP) 이 소정의 미소 범위에 포함되는 상태가 시간 T3 이상 계속된 경우 (스텝 ST230 의 예), 제어부 (301) 는, 드리프트 모의부 (20) 에 있어서의 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 정지한다 (ST245). 이와 같이, 변동값 (ΔP) 이 소정의 미소 범위에 포함된 상태의 계속 시간을 판정하는 방법으로도, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성에서 기인하는 검출 신호 (S) 의 드리프트가 수속한 것을 적절히 판정할 수 있다.

도 9 는, 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서 검출 신호를 반복적으로 생성하는 동작 (도 4) 의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 9 에 나타내는 플로우 차트는, 도 4 에 나타내는 플로우 차트에 스텝 ST115 를 추가한 것이며, 다른 각 스텝은 도 4 에 나타내는 플로우 차트와 동일하다. 단, 스텝 ST120 에서는, 상기 서술한 도 7 또는 도 8 의 플로우 차트에 나타내는 처리가 실행된다.

제어부 (301) 는, 스텝 ST105 의 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지된 후, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 간격을 변경하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력된 경우 (ST110 의 예) 에 더하여, 검출 신호 (S) 의 보정이 소정의 시간 T4 이상 계속되어 정지된 경우도 (ST115 의 예), 스텝 ST120 의 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신 (도 7 또는 도 8) 이 재개된다. 이로써, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 개시 (ST100) 나, 검출 신호 (S) 의 생성 간격의 변경 (ST110) 이 없는 경우여도, 검출 신호 (S) 의 보정값의 갱신이 간헐적으로 실행된다. 그 때문에, 검출 신호 (S) 의 드리프트가 보다 적절히 보정되기 쉬워진다.

＜제 2 실시형태＞

다음으로, 제 2 실시형태에 관련된 입력 장치에 대해 설명한다. 도 10 은, 제 2 실시형태에 관련된 입력 장치의 구성의 일례를 나타내는 도면이다. 도 10 에 나타내는 입력 장치는, 도 1 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 를 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) (이하, 구별하지 않고 「검출부 (10A)」로 기재하는 경우가 있다.) 로 치환하고, 드리프트 모의부 (20) 를 생략한 것이며, 다른 구성은 대체로 도 1 에 나타내는 입력 장치와 동일하다.

(스위치 회로 (103))

검출부 (10A) 는, 도 10 에 있어서 나타내는 바와 같이, 검출부 (10) 와 동일한 구성 (검출 전극 (101), 정전 용량 검출 회로 (102)) 에 더하여, 스위치 회로 (103) 를 포함한다. 스위치 회로 (103) 는, 검출 전극 (101) 과 정전 용량 검출 회로 (102) 사이에 있어서 캐패시터 (Cx) 의 전하를 전송하는 경로에 형성되어 있다. 스위치 회로 (103) 는, 보정부 (302) 에 있어서 검출 신호 (S) 의 보정이 실시되는 경우, 제어부 (301) 의 제어에 따라 온 상태와 오프 상태를 교대로 전환한다. 정전 용량 검출 회로 (102) 는, 스위치 회로 (103) 가 온 상태인 경우에 통상적인 검출 신호 (S) 를 생성하는 한편, 스위치 회로 (103) 가 오프 상태인 경우에는, 이미 설명한 모의 회로 (201) 와 동일한 회로로서 동작하고, 드리프트 모의 신호 (P) 를 생성한다.

(동작)

제 2 실시형태에 관련된 입력 장치의 동작에 대해, 도 11 ∼ 도 13 의 플로우 차트를 참조하여 설명한다.

도 11 은, 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서 검출 신호 (S) 를 반복적으로 생성하는 동작의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 제어부 (301) 는, 전원이 투입된 기동 시나, 검출 동작을 개시시키는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력된 경우 (ST300 의 예), 검출 신호 (S) 와 드리프트 모의 신호 (P) 를 교대로 생성한다. 이 경우, 보정부 (302) 는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따른 검출 신호 (S) 의 드리프트 보정을 실시한다 (ST305). 스텝 ST305 의 상세한 동작에 대해서는 후술한다.

또 제어부 (301) 는, 스텝 ST305 의 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지된 후, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 간격을 변경하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력된 경우 (ST310 의 예), 검출 신호 (S) 와 드리프트 모의 신호 (P) 를 교대로 생성한다. 이 경우도, 보정부 (302) 는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따른 검출 신호 (S) 의 드리프트 보정을 실시한다 (ST320). 스텝 ST320 의 상세한 동작에 대해서는 후술한다.

제어부 (301) 는, 검출 신호 (S) 의 생성을 일시적으로 정지하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력된 경우 (ST330 의 예), 상기 서술한 스텝 ST300 으로 돌아가고, 검출 신호 (S) 의 생성을 재개하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력될 때까지, 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 생성을 정지한다. 커맨드에 의한 검출 신호 (S) 의 생성의 정지나 종료가 없고, 전원의 차단도 없는 경우 (ST330 및 ST335 가 모두 아니오), 제어부 (301) 는, 검출부 (10) 에 있어서의 검출 신호 (S) 의 생성 (ST325) 을 일정한 간격으로 반복한다.

도 12 는, 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 검출 개시 후의 드리프트 보정 동작 (ST305, 도 11) 의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 먼저 제어부 (301) 는, 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 스위치 회로 (103) 를 온 상태로 설정하고 (ST400), 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 에 있어서 검출 신호 (S) 를 생성시킨다 (ST405). 이어서 제어부 (301) 는, 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 스위치 회로 (103) 를 오프 상태로 설정하고 (ST410), 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 에 있어서 드리프트 모의 신호 (P) 를 생성시킨다 (ST415). 검출부 (10A -1 ∼ 10A-n) 에 있어서 드리프트 모의 신호 (P) 가 생성되면, 보정부 (302) 는, 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동값 (ΔP) 을 각각 산출한다 (ST420). 예를 들어, 보정부 (302) 는, 스텝 ST305 의 처리가 개시된 당초에 얻어진 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 드리프트 모의 신호 (P) 를 각각 초기값으로서 기억부 (40) 에 유지한다. 보정부 (302) 는, 스텝 ST415 에서 신규로 얻어진 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 드리프트 모의 신호 (P) 로부터 초기값을 각각 감산함으로써, 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 변동값 (ΔP) 을 산출한다.

보정부 (302) 는, 스텝 ST405 에서 얻어진 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 검출 신호 (S) 를, 스텝 ST420 에서 산출한 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 변동값 (ΔP) 에 따라 보정한다 (ST425). 예를 들어, 보정부 (302) 는, 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 을 산출하고, 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 에 소정의 계수 (α) 를 곱한 보정값 (Sc) (= α × Z) 을 산출한다. 보정부 (302) 는, 스텝 ST405 에서 얻어진 검출 신호 (S) 로부터 보정값 (Sc) 을 감산함으로써, 보정된 검출 신호 (S) 를 취득한다.

그 후, 보정부 (302) 는, 스텝 ST300 (도 11) 에 있어서 검출 신호 (S) 의 생성이 개시되고 나서 소정의 시간 T1 이 경과했는지 여부를 판정하고 (ST430), 시간 T1 이 경과하여 있지 않은 경우에는 스텝 ST400 으로 돌아가, 상기 서술한 처리를 반복한다. 검출 신호 (S) 의 생성의 간격이 변경되고 나서 시간 T1 이 경과한 경우 (ST430 의 예), 제어부 (301) 는, 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 스위치 회로 (103) 를 온 상태로 설정하고 (ST460), 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 에 있어서의 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 정지한다 (검출 신호 (S) 의 생성을 유효하게 한다).

또한, 보정부 (302) 는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성이 정지된 경우, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따른 검출 신호 (S) 의 보정을 정지하지만, 스텝 ST425 에 있어서 마지막에 산출한 보정값 (Sc) 은 그대로 기억부 (40) 에 유지한다. 보정부 (302) 는, 스텝 ST325 (도 11) 에 있어서 검출 신호 (S) 가 생성된 경우, 기억부 (40) 에 유지한 일정한 보정값 (Sc) 을 검출 신호 (S) 로부터 감산한다.

스텝 ST305 의 처리의 과정에서 검출 신호 (S) 의 생성을 일시적으로 정지하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 입력된 경우 (ST450 의 예), 제어부 (301) 는 상기 서술한 스텝 ST300 으로 돌아간다. 또, 검출 신호 (S) 의 생성을 종료하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 입력된 경우 (ST455 의 예), 처리부 (30) 는 검출 신호 (S) 의 생성에 관련된 처리를 종료한다.

도 13 은, 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 검출 간격 변경 후의 드리프트 보정 동작 (ST320, 도 11) 의 일례를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 13 에 나타내는 플로우 차트는, 도 12 에 나타내는 플로우 차트에 있어서의 스텝 ST430 을 스텝 ST435 로 치환한 것이며, 다른 각 스텝은 도 12 에 나타내는 플로우 차트와 동일하다.

보정부 (302) 는, 스텝 ST310 (도 11) 에 있어서 검출 신호 (S) 의 생성의 간격이 변경되고 나서 소정의 시간 T2 가 경과했는지 여부를 판정하고 (ST435), 시간 T2 가 경과하여 있지 않은 경우에는 스텝 ST400 으로 돌아가, 스텝 ST400 이후의 처리를 반복한다. 검출 신호 (S) 의 생성의 간격이 변경되고 나서 시간 T2 가 경과한 경우 (ST435 의 예), 제어부 (301) 는, 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 스위치 회로 (103) 를 온 상태로 설정하고 (ST460), 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 에 있어서의 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 정지한다 (검출 신호 (S) 의 생성을 유효하게 한다).

이상 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 관련된 입력 장치에 의하면, 검출 전극 (101) 과 정전 용량 검출 회로 (102) 사이에 있어서 캐패시터 (Cx) 의 전하를 전송하는 경로에 스위치 회로 (103) 가 형성된다. 스위치 회로 (103) 가 온 상태가 되면, 정전 용량 검출 회로 (102) 에 있어서 검출 신호 (S) 가 생성되고, 스위치 회로 (103) 가 오프 상태가 되면, 정전 용량 검출 회로 (102) 에 있어서 드리프트 모의 신호 (P) 가 생성된다. 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따른 검출 신호 (S) 의 보정이 실시되는 경우, 스위치 회로 (103) 의 온 상태와 오프 상태가 교대로 전환되므로, 정전 용량 검출 회로 (102) 에서는, 검출 신호 (S) 와 드리프트 모의 신호 (P) 가 교대로 생성된다. 이로써, 정전 용량 검출 회로 (102) 를 검출 신호 (S) 의 생성과 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성에 겸용할 수 있기 때문에, 회로 구성을 간이화할 수 있다.

또, 본 실시형태에 관련된 입력 장치에 의하면, 복수의 검출부 (10A) 의 정전 용량 검출 회로 (102) 에 있어서 생성된 복수의 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동값 (ΔP) 이 각각 산출되고, 산출된 복수의 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 에 따라 검출 신호 (S) 의 보정이 실시된다. 복수의 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동값 (ΔP) 을 더함으로써 얻어진 합 (Z) 은, 1 개의 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동값 (ΔP) 과 비교해 큰 값이 되기 때문에, 이 합 (Z) 에 따라 검출 신호 (S) 를 보정함으로써, 드리프트 보정의 정밀도를 높일 수 있다.

(변형예)

다음으로, 제 2 실시형태에 관련된 입력 장치의 변형예에 대해 도 14 ∼ 도 16 의 플로우 차트를 참조하여 설명한다.

도 14 는, 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 드리프트 보정 동작 (도 12, 도 13) 의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 14 에 나타내는 플로우 차트는, 도 12 에 나타내는 플로우 차트에 있어서의 스텝 ST430 을 스텝 ST440 으로 치환한 것이며, 다른 각 스텝은 도 12 에 나타내는 플로우 차트와 동일하다. 도 12, 도 13 의 플로우 차트에 의한 드리프트 보정 동작에서는, 검출 개시 시점으로부터의 경과 시간이나 검출 간격 변경 시점으로부터 소정의 시간이 경과한 경우에 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지되어 있지만, 도 14 의 플로우 차트에 의한 드리프트 보정 동작에서는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동이 작아진 경우에 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지된다. 즉, 보정부 (302) 는, 스텝 ST425 에서 산출한 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 이 소정의 미소 범위에 포함되는지 여부를 판정하고 (ST440), 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 이 소정의 미소 범위에 포함되지 않는 경우에는 스텝 ST400 으로 돌아가, 스텝 ST400 이후의 처리를 반복한다. 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 이 소정의 미소 범위에 포함되는 경우 (스텝 ST440 의 예), 제어부 (301) 는 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 스위치 회로 (103) 를 온 상태로 설정하고, 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 정지시킨다 (ST460). 이와 같이, 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 이 소정의 미소 범위에 포함되었는지 여부를 판정하는 방법으로도, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성에서 기인하는 검출 신호 (S) 의 드리프트가 수속한 것을 적절히 판정할 수 있다.

도 15 는, 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서의 드리프트 보정 동작 (도 12, 도 13) 의 다른 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 15 에 나타내는 플로우 차트는, 도 12 에 나타내는 플로우 차트에 있어서의 스텝 ST430 을 스텝 ST445 로 치환한 것이며, 다른 각 스텝은 도 12 에 나타내는 플로우 차트와 동일하다. 도 15 의 플로우 차트에 의한 드리프트 보정 동작에서는, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동이 작아진 상태가 소정 시간 이상 계속된 경우에 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지된다. 즉, 보정부 (302) 는, 스텝 ST425 에서 산출한 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 이 소정의 미소 범위에 포함되는 상태가, 소정의 시간 T3 이상 계속되고 있는지 여부를 판정하고 (ST445), 이 상태가 시간 T3 이상 계속되고 있지 않는 경우에는 스텝 ST400 으로 돌아가, 스텝 ST400 이후의 처리를 반복한다. 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 이 소정의 미소 범위에 포함되는 상태가 시간 T3 이상 계속된 경우 (스텝 ST445 의 예), 제어부 (301) 는, 검출부 (10A-1 ∼ 10A-n) 의 스위치 회로 (103) 를 온 상태로 설정하고, 드리프트 모의 신호 (P) 의 생성을 정지시킨다 (ST460). 이와 같이, 변동값 (ΔP) 의 합 (Z) 이 소정의 미소 범위에 포함된 상태의 계속 시간을 판정하는 방법으로도, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성에서 기인하는 검출 신호 (S) 의 드리프트가 수속한 것을 적절히 판정할 수 있다.

도 16 은, 도 10 에 나타내는 입력 장치에 있어서 검출 신호를 반복적으로 생성하는 동작 (도 11) 의 일 변형예를 설명하기 위한 플로우 차트이다. 도 16 에 나타내는 플로우 차트는, 도 11 에 나타내는 플로우 차트에 스텝 ST315 를 추가한 것이며, 다른 각 스텝은 도 11 에 나타내는 플로우 차트와 동일하다. 단, 스텝 ST320 에서는, 상기 서술한 도 14 또는 도 15 의 플로우 차트에 나타내는 처리가 실행된다.

제어부 (301) 는, 스텝 ST305 의 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신이 정지된 후, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 간격을 변경하는 커맨드가 인터페이스부 (50) 에 있어서 입력된 경우 (ST310 의 예) 에 더하여, 검출 신호 (S) 의 보정값의 갱신이 소정의 시간 T4 이상 계속해 정지된 경우도 (ST315 의 예), 스텝 ST320 의 드리프트 보정에 의한 보정값의 갱신 (도 14 또는 도 15) 이 재개된다. 이로써, 검출 신호 (S) 의 반복적인 생성의 개시 (ST300) 나, 검출 신호 (S) 의 생성 간격의 변경 (ST310) 이 없는 경우여도, 검출 신호 (S) 의 보정값의 갱신이 간헐적으로 실행된다. 그 때문에, 검출 신호 (S) 의 드리프트가 보다 적절히 보정되기 쉬워진다.

또한, 본 발명은 상기 서술한 실시형태로만 한정되는 것이 아니고, 여러 가지 배리에이션을 포함하고 있다.

예를 들어, 상기 서술한 예에 있어서 나타낸 검출부 (10, 10A) 에서는, 검출 전극 (101) 과 물체 (1) 간에 생기는 캐패시터 (Cx) 의 정전 용량 (자기 용량이라고도 불린다) 이 검출되고 있지만, 본 발명은 이 예로 한정되지 않는다. 본 발명의 다른 실시형태에 있어서, 검출부는, 전극과 전극 간에 형성되는 캐패시터의 정전 용량 (상호 용량이라고도 불린다) 을 검출해도 된다.

또, 검출부에 있어서의 물체의 근접 정도의 검출 방식은, 정전 용량 방식으로 한정되는 것이 아니고, 다른 방식 (저항 방식, 전자 유도 방식 등) 이어도 된다.

본 개시의 제 1 측면은, 입력 장치는, 물체 (1) 의 근접 정도에 따른 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 를 반복적으로 생성하는 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 와, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 에 있어서 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 가 반복적으로 생성되는 것에서 기인하는 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 드리프트에 대해 상관성을 가진 변동을 일으키는 드리프트 모의 신호 (P) 를 생성하는 드리프트 모의부 (20) 와, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 에 있어서의 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 반복적인 생성이 개시된 경우, 및, 검출부 (10-1 ∼ 10-n) 에 있어서의 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 의 반복적인 생성의 간격이 변경된 경우의 적어도 일방에 있어서, 드리프트 모의 신호 (P) 의 변동에 따라 검출 신호 (S1 ∼ Sn) 를 보정하는 보정부 (302) 를 갖는다.

제 1 측면에 관련된 입력 장치에 의하면, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성에서 기인하여, 검출 신호에 드리프트가 생긴다. 드리프트 모의부에서는, 이 드리프트에 대해 상관성을 가진 변동을 일으키는 드리프트 모의 신호가 생성된다. 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성이 개시된 경우나, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성의 간격이 변경된 경우, 검출 신호에는 상기 서술한 드리프트가 생기지만, 이들 경우의 적어도 일방에 있어서, 드리프트 모의 신호의 변동에 따라 검출 신호가 보정된다. 따라서, 검출 신호의 반복적인 생성에서 기인하는 검출 신호의 드리프트가 적절히 보정된다.

바람직하게, 보정부는, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성이 개시되고 나서 제 1 시간이 경과한 경우, 및, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성의 간격이 변경되고 나서 제 2 시간이 경과한 경우의 적어도 일방에 있어서, 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지해도 된다.

바람직하게, 드리프트 모의부는, 보정부에 있어서 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신이 정지되는 경우, 드리프트 모의 신호의 생성을 정지해도 된다.

이 구성에 의하면, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성이 개시되고 나서 제 1 시간이 경과한 경우나, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성의 간격이 변경되고 나서 제 2 시간이 경과한 경우, 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신이 정지되고, 드리프트 모의 신호의 생성도 정지된다. 그 때문에, 드리프트 모의 신호의 생성에 수반하는 소비 전력이 삭감된다.

바람직하게, 보정부는, 드리프트 모의 신호의 변동이 소정의 미소 범위에 포함되는 경우, 또는, 드리프트 모의 신호의 변동이 미소 범위에 포함되는 상태가 제 3 시간 이상 계속된 경우에, 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지해도 된다.

이 구성에 의하면, 드리프트 모의 신호의 변동이 소정의 미소 범위에 포함되는 경우나, 드리프트 모의 신호의 변동이 미소 범위에 포함되는 상태가 제 3 시간 이상 계속된 경우, 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신이 정지되고, 드리프트 모의 신호의 생성도 정지된다. 그 때문에, 드리프트 모의 신호의 생성에 수반하는 소비 전력이 삭감된다.

바람직하게, 보정부는, 검출 신호의 보정값의 갱신을 제 4 시간 이상 계속해서 정지한 경우, 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신을 재개해도 된다.

이 구성에 의하면, 검출 신호의 보정이 제 4 시간 이상 계속해서 정지한 경우에 검출 신호의 보정값의 갱신이 재개되고, 드리프트 모의 신호의 변동이 소정의 미소 범위에 포함되는 경우나, 드리프트 모의 신호의 변동이 미소 범위에 포함되는 상태가 제 3 시간 이상 계속된 경우, 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신이 다시 정지된다. 즉, 검출 신호의 반복적인 생성의 개시나, 검출 신호의 생성 간격의 변경이 없는 경우여도, 검출 신호의 보정값의 갱신이 간헐적으로 실행된다. 그 때문에, 검출 신호의 드리프트가 보다 적절히 보정되기 쉬워진다.

바람직하게, 검출부는, 물체의 근접 정도에 따라 정전 용량이 변화하는 캐패시터를 형성하는 검출 전극과, 검출 전극을 개재하여 전송되는 캐패시터의 전하에 따른 검출 신호를 반복적으로 생성하는 정전 용량 검출 회로를 포함해도 된다. 드리프트 모의부는, 검출 전극에 접속되었다면, 당해 검출 전극을 개재하여 전송되는 캐패시터의 전하에 따른 검출 신호를 생성 가능한 모의 회로를 포함해도 된다. 모의 회로는, 검출 전극에 접속되어 있지 않은 상태에서 드리프트 모의 신호를 반복적으로 생성해도 된다.

이 구성에 의하면, 검출 전극에 있어서, 물체의 근접 정도에 따라 정전 용량이 변화하는 캐패시터가 형성된다. 정전 용량 검출 회로에서는, 검출 전극을 개재하여 전송되는 캐패시터의 전하에 따른 검출 신호가 반복적으로 생성된다. 모의 회로에서는, 검출 전극에 접속되었다면 당해 검출 전극을 개재하여 전송되는 캐패시터의 전하에 따른 검출 신호의 생성이 가능하지만, 드리프트 모의 신호의 생성은, 검출 전극에 접속되어 있지 않은 상태에서 반복적으로 실시된다. 그 때문에, 드리프트 모의 신호가 반복적으로 생성된 경우, 검출 전극에의 물체의 근접에 따른 드리프트 모의 신호의 변동이 생기지 않는 한편, 검출 신호의 반복적인 생성에서 기인하는 검출 신호의 드리프트에 대해 상관성을 가진 드리프트 모의 신호의 변동이 생긴다.

바람직하게, 모의 회로는, 정전 용량 검출 회로에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성의 간격과 동일한 간격으로 드리프트 모의 신호를 반복적으로 생성해도 된다.

이 구성에 의하면, 정전 용량 검출 회로에 있어서의 검출 신호의 생성의 간격과, 모의 회로에 있어서의 드리프트 모의 신호가 생성의 간격이 동일하기 때문에, 검출 신호의 드리프트와 드리프트 모의 신호의 변동의 상관성이 높아진다.

바람직하게, 검출부는, 검출 전극과 정전 용량 검출 회로 간에 있어서 캐패시터의 전하를 전송하는 경로에 형성되고, 보정부에 있어서 검출 신호의 보정이 실시되는 경우에 온 상태와 오프 상태를 교대로 전환하는 스위치 회로를 포함해도 된다. 정전 용량 검출 회로는, 스위치 회로가 온 상태인 경우에 검출 신호를 생성하는 한편, 스위치 회로가 오프 상태인 경우에는 모의 회로로서 드리프트 모의 신호를 생성해도 된다.

이 구성에 의하면, 검출 전극과 정전 용량 검출 회로 사이에 있어서 캐패시터의 전하를 전송하는 경로에 스위치 회로가 형성된다. 스위치 회로가 온 상태가 되면, 정전 용량 검출 회로에 있어서 검출 신호가 생성되고, 스위치 회로가 오프 상태가 되면, 정전 용량 검출 회로에 있어서 드리프트 모의 신호가 생성된다. 검출 신호의 보정이 실시되는 경우, 스위치 회로의 온 상태와 오프 상태가 교대로 전환되므로, 정전 용량 검출 회로에서는, 검출 신호와 드리프트 모의 신호가 교대로 생성된다. 이로써, 정전 용량 검출 회로가 검출 신호의 생성과 드리프트 모의 신호의 생성에 겸용되기 때문에, 회로 구성이 간이하게 된다.

바람직하게, 상기 입력 장치는, 복수의 검출부를 가져도 된다. 복수의 검출부의 스위치 회로는, 동일한 기간에 오프 상태가 되어도 된다. 보정부는, 스위치 회로가 오프 상태가 되는 기간마다, 복수의 검출부의 정전 용량 검출 회로가 생성한 복수의 드리프트 모의 신호의 변동을 각각 산출하고, 산출한 복수의 드리프트 모의 신호의 변동의 합에 따라 검출 신호를 보정해도 된다.

이 구성에 의하면, 복수의 검출부의 정전 용량 검출 회로에 있어서 생성된 복수의 드리프트 모의 신호의 변동이 각각 산출되고, 산출된 복수의 드리프트 모의 신호의 변동의 합에 따라 검출 신호가 보정된다. 복수의 드리프트 모의 신호의 변동의 합은, 1 개의 드리프트 모의 신호의 변동과 비교해 큰 값이 되기 때문에, 이 변동의 합에 따라 검출 신호를 보정함으로써, 보정의 정밀도가 향상된다.

본 개시의 제 2 측면은, 물체의 근접에 따른 정보를 입력하는 입력 장치의 제어 방법에 관한 것이다. 이 제어 방법에 있어서, 입력 장치는, 물체의 근접 정도에 따른 검출 신호를 생성하는 검출부와, 검출부에 있어서 검출 신호가 반복적으로 생성되는 것에서 기인하는 검출 신호의 드리프트에 대해 상관성을 가진 변동을 일으키는 드리프트 모의 신호를 생성하는 드리프트 모의부를 갖는다. 제어 방법은, 검출부에 있어서 검출 신호를 반복적으로 생성하는 것과, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성을 개시한 경우, 및, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성의 간격을 변경한 경우의 적어도 일방에 있어서, 드리프트 모의 신호의 변동에 따라 검출 신호를 보정하는 것을 갖는다.

바람직하게, 상기 제어 방법은, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성을 개시하고 나서 제 1 시간이 경과한 경우, 및, 검출부에 있어서의 검출 신호의 반복적인 생성의 간격을 변경하고 나서 제 2 시간이 경과한 경우의 적어도 일방에 있어서, 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지하는 것을 가져도 된다.

바람직하게, 상기 제어 방법은, 드리프트 모의 신호의 변동이 소정의 미소 범위에 포함되는 경우, 또는, 드리프트 모의 신호의 변동이 미소 범위에 포함되는 상태가 제 3 시간 이상 계속된 경우에, 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지하는 것을 가져도 된다.

바람직하게, 상기 제어 방법은, 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지한 경우에, 드리프트 모의부에 있어서의 드리프트 모의 신호의 생성을 정지하는 것을 가져도 된다.

본 개시의 제 3 측면은, 상기 제 2 측면에 관련된 입력 장치의 제어 방법을 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램에 관한 것이다.

이상, 본 발명을 실시예에 기초하여 설명했지만, 본 발명은 상기 실시예로 한정되는 것이 아니고, 특허 청구 범위에 기재된 범위 내에서 여러 가지 변형이 가능하다.

본원은, 일본 특허청에 2018년 2월 9일에 출원된 기초 출원 2018-022391호의 우선권을 주장하는 것이며, 그 전체 내용을 참조에 의해 여기에 원용한다.

1 : 물체
10-1 ∼ 10n, 10A-1 ∼ 10A-n : 검출부
101 : 검출 전극
102 : 정전 용량 검출 회로
103 : 스위치 회로
110 : 연산 증폭기
111 : 구동 전압 공급부
112 : AD 변환기
113 : 복조부
114 : 로우 패스 필터
20 : 드리프트 모의부
201 : 모의 회로
210 : 연산 증폭기
211 : 구동 전압 공급부
212 : AD 변환기
213 : 복조부
214 : 로우 패스 필터
30 : 처리부
301 : 제어부
302 : 보정부
303 : 위치 산출부
40 : 기억부
401 : 프로그램
50 : 인터페이스부
S1 ∼ Sn : 검출 신호
P : 드리프트 모의 신호

Claims

물체의 근접에 따른 정보를 입력하는 입력 장치로서,
물체의 근접 정도에 따른 검출 신호를 반복적으로 생성하는 검출부와,
상기 검출부에 있어서 상기 검출 신호가 반복적으로 생성되는 것에서 기인하는 상기 검출 신호의 드리프트에 대해 상관성을 가진 변동을 일으키는 드리프트 모의 신호를 생성하는 드리프트 모의부와,
상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성이 개시된 경우, 및, 상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성의 간격이 변경된 경우의 적어도 하나에 있어서,
상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따라 상기 검출 신호를 보정하는 보정부를 갖는, 입력 장치.
제 1 항에 있어서,
상기 보정부는, 상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성이 개시되고 나서 제 1 시간이 경과한 경우, 및, 상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성의 간격이 변경되고 나서 제 2 시간이 경과한 경우의 적어도 하나에 있어서, 상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 상기 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지하는,
입력 장치.
제 1 항에 있어서,
상기 보정부는, 상기 드리프트 모의 신호의 변동이 소정의 미소 범위에 포함되는 경우, 또는, 상기 드리프트 모의 신호의 변동이 상기 미소 범위에 포함되는 상태가 제 3 시간 이상 계속된 경우에, 상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 상기 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지하는,
입력 장치.
제 3 항에 있어서,
상기 보정부는, 상기 검출 신호의 보정값의 갱신을 제 4 시간 이상 계속해서 정지한 경우, 상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 상기 검출 신호의 보정값의 갱신을 재개하는,
입력 장치.
제 2 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 드리프트 모의부는, 상기 보정부에 있어서 상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 상기 검출 신호의 보정값의 갱신이 정지되는 경우, 상기 드리프트 모의 신호의 생성을 정지하는,
입력 장치.
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 검출부는,
물체의 근접 정도에 따라 정전 용량이 변화하는 캐패시터를 형성하는 검출 전극과,
상기 검출 전극을 개재하여 전송되는 상기 캐패시터의 전하에 따른 상기 검출 신호를 반복적으로 생성하는 정전 용량 검출 회로를 포함하고,
상기 드리프트 모의부는, 상기 검출 전극에 접속되었다면, 당해 검출 전극을 개재하여 전송되는 상기 캐패시터의 전하에 따른 상기 검출 신호를 생성 가능한 모의 회로를 포함하고,
상기 모의 회로는, 상기 검출 전극에 접속되어 있지 않은 상태에서 상기 드리프트 모의 신호를 반복적으로 생성하는,
입력 장치.
제 6 항에 있어서,
상기 모의 회로는, 상기 정전 용량 검출 회로에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성의 간격과 동일한 간격으로 상기 드리프트 모의 신호를 반복적으로 생성하는,
입력 장치.
제 6 항에 있어서,
상기 검출부는, 상기 검출 전극과 상기 정전 용량 검출 회로 사이에 있어서 상기 캐패시터의 전하를 전송하는 경로에 형성되고, 상기 보정부에 있어서 상기 검출 신호의 보정이 실시되는 경우에 온 상태와 오프 상태를 교대로 전환하는 스위치 회로를 포함하고,
상기 정전 용량 검출 회로는, 상기 스위치 회로가 온 상태인 경우에 상기 검출 신호를 생성하는 한편, 상기 스위치 회로가 오프 상태인 경우에는 상기 모의 회로로서 상기 드리프트 모의 신호를 생성하는,
입력 장치.
제 8 항에 있어서,
상기 검출부를 복수 갖고,
상기 복수의 검출부의 상기 스위치 회로가 동일한 기간에 오프 상태가 되고,
상기 보정부는, 상기 스위치 회로가 오프 상태가 되는 기간마다, 상기 복수의 검출부의 상기 정전 용량 검출 회로가 생성한 복수의 상기 드리프트 모의 신호의 변동을 각각 산출하고, 산출한 복수의 상기 드리프트 모의 신호의 변동의 합에 따라 상기 검출 신호를 보정하는,
입력 장치.
물체의 근접에 따른 정보를 입력하는 입력 장치의 제어 방법으로서,
상기 입력 장치는,
물체의 근접 정도에 따른 검출 신호를 생성하는 검출부와,
상기 검출부에 있어서 상기 검출 신호가 반복적으로 생성되는 것에서 기인하는 상기 검출 신호의 드리프트에 대해 상관성을 가진 변동을 일으키는 드리프트 모의 신호를 생성하는 드리프트 모의부를 갖고,
상기 제어 방법은,
상기 검출부에 있어서 상기 검출 신호를 반복적으로 생성하는 것과,
상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성을 개시한 경우, 및, 상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성의 간격을 변경한 경우의 적어도 하나에 있어서,
상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따라 상기 검출 신호를 보정하는 것을 갖는,
입력 장치의 제어 방법.
제 10 항에 있어서,
상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성을 개시하고 나서 제 1 시간이 경과한 경우, 및, 상기 검출부에 있어서의 상기 검출 신호의 반복적인 생성의 간격을 변경하고 나서 제 2 시간이 경과한 경우의 적어도 하나에 있어서, 상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 상기 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지하는 것을 갖는,
입력 장치의 제어 방법.
제 10 항에 있어서,
상기 드리프트 모의 신호의 변동이 소정의 미소 범위에 포함되는 경우, 또는, 상기 드리프트 모의 신호의 변동이 상기 미소 범위에 포함되는 상태가 제 3 시간 이상 계속된 경우에, 상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 상기 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지하는 것을 갖는,
입력 장치의 제어 방법.
제 12 항에 있어서,
상기 드리프트 모의 신호의 변동에 따른 상기 검출 신호의 보정값의 갱신을 정지한 경우에, 상기 드리프트 모의부에 있어서의 상기 드리프트 모의 신호의 생성을 정지하는 것을 갖는,
입력 장치의 제어 방법.
제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 기재된 입력 장치의 제어 방법을 컴퓨터에 실행시키기 위한, 기록 매체에 격납된 컴퓨터 프로그램.