KR102341745B1 - 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈 및 검사장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈 및 검사장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 검사모듈은 하방에 있는 디스플레이소자의 화면으로부터 복사되는 빛을 감지할 수 있도록 일정한 배열로 구비되는 다수의 포토센서들; 상기 포토센서들이 설치되는 기판; 및 상기 기판을 지지하기 위한 지지프레임; 을 포함하며, 본 발명에 따른 검사장치는 위의 검사모듈과 검사모듈을 승강시키기 위한 승강기를 가지고 있다.
본 발명에 따르면 처리 속도가 빠르면서도 화면에 대한 정확한 정보를 얻을 수 있어서 화면 검사의 신뢰성이 향상된다.

Description

디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈 및 검사장치{MODULE AND APPARATUS FOR INSPECTING SCREEN OF DISPLAY DEVICE}

본 발명은 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 기술에 관한 것으로, 특히 화면의 균일도 검사를 위한 기술과 관련된다.

생산된 디스플레이소자들은 화면의 균일도 검사를 거친 후 양품과 불량품으로 나뉘어서 양품만이 출하된다.

화면의 균일도 검사는 점등된 디스플레이소자의 화면을 카메라로 촬영한 후 화면의 여러 지점들을 상호 비교함으로써 이루어진다. 이렇게 상호 비교하는 이유는 카메라 종류마다 렌즈의 특성이 다를 수 있으며, 동일 종류의 카메라들이라고 하더라도 각종 제작 공차들로 인해 촬영된 이미지 상의 화질이 모두 다를 수 있기 때문이다. 즉, 카메라로 촬영된 이미지로는 특정 지점에 대한 색상 값을 표준 값과 비교하는 단순 비교 작업이 이루어질 수가 없기 때문에, 이미지 내의 여러 지점들의 색상을 상호 비교하는 상대적으로 복잡한 연산절차를 거쳐야 하는 것이다. 이를 위해 상호 비교에 따른 데이터 처리 시간을 확보해야 하고, 이는 처리 속도를 감소시키는 원인이 된다. 그리고 검사를 마친 제품만이 출하될 수 있으므로, 검사의 처리 속도 감소는 제품의 생산 용량 감소와 직결된다.

또한, 카메라마다 촬영된 이미지가 다를 수 있기 때문에, 촬영된 이미지 내의 각각의 지점들에서 표준에 따른 정확한 색위치를 알기가 곤란하다. 여기서 색위치는 빨녹파(red, green, blue)로 조합되는 빛의 X-Y-Z축(빨-녹-파축)에서의 3차원적인 색의 위치를 말한다. 그러다보니, 카메라로 촬영된 이미지 내의 특정 지점들에 대하여 표준에 따른 절대적인 색위치를 파악할 수가 없고, 이는 검사장치마다 검사 결과가 다를 수 있다는 것을 의미하므로, 디스플레이소자에 대한 검사의 신뢰성을 떨어트린다.

무엇보다도, 카메라는 미세한 빛의 세기나 양의 차이에 따른 변화를 인식하기가 곤란하다. 그래서 빛의 세기나 양의 미세한 변화에 따른 휘도의 변화량을 파악할 수가 없는 경우가 있으며, 이는 저휘도 검사에서 종종 검사의 신뢰성을 크게 하락시킨다.

일반적으로 생산된 디스플레이소자는 육안으로 볼 때 고휘도에서 화질 상에 아무런 문제를 발생시키지 않는다. 그러나 저휘도에서는 화면의 일정 영역에서 빨녹파 중 어느 한 색상이 강조되는 번짐 현상이 종종 발생하게 되는데, 이러한 번짐에 따른 밝기 차이가 카메라로 인식할 수 없는 범위 내에 있게 되면, 해당 검사는 잘못된 결과를 가져온다.

특히, 저휘도 검사에서는 검사의 정확성을 위해 카메라가 매우 약한 빛을 인식할 수 있도록 노광 시간을 충분히 늘릴 필요가 있는데, 이렇게 노광시간을 늘리게 되면 그 검사에 따른 시간이 증가되므로 처리 용량은 당연히 하락한다.

한편, 카메라에 의해 화면을 촬영하는 경우 화면의 여러 지점들에서 복사된 빛이 퍼지면서 인접한 지점들에 대한 정보에 영향을 미치기 때문에 정확한 정보의 획득에 곤란함이 있고, 그 만큼 검사의 신뢰성은 하락한다.

대한민국 공개특허공보 제10-2014-0111374호

본 발명의 목적은 다음과 같다.

첫째, 화면 정보를 신속하고 정확히 얻을 수 있는 기술을 제공한다.

둘째, 얻어진 화면 정보를 기준 값과 비교함으로써 검사를 수행할 수 있는 기술을 제공한다.

셋째, 외부 빛이나 자체적으로 복사되는 빛에 의해 정보가 왜곡되는 현상을 억제할 수 있는 기술을 제공한다.

본 발명의 제1 형태에 따른 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈은 하방에 있는 디스플레이소자의 화면으로부터 복사되는 빛을 감지할 수 있도록 일정한 배열로 구비되는 다수의 포토센서들; 상기 포토센서들이 설치되는 기판; 및 상기 기판을 지지하기 위한 지지프레임; 을 포함한다.

상기 지지프레임은 테두리가 상기 디스플레이소자 측인 하방으로 상기 포토센서들의 하단보다 더 돌출되고, 상기 테두리는 상기 다수의 포토센서들을 내부에 감싸는 형태를 가짐으로써 상기 포토센서들이 상기 디스플레이소자의 화면으로부터 복사되는 빛을 감지할 때 상기 테두리가 외부의 빛을 차단할 수 있도록 되어 있다.

상기 다수의 포토센서들은 동일한 빛을 감지할 때 동일한 값이 산출되도록 통일되게 설정되어 있다.

상기 다수의 포토센서들이 각각 담당하는 지점들로부터 복사되는 빛이 인접하는 포토센서로 입사되는 것을 억제하기 위한 다수의 억제요소; 를 더 가진다.

상기 억제요소는 상기 디스플레이소자의 화면에 있는 특정 지점에서 복사된 빛이 상방에 있는 상기 포토센서로 입사될 수 있게 하는 경통 형상으로 구비되며, 상기 디스플레이소자와 대면하는 상기 억제요소의 하단은 상단보다 폭이 좁은 통과구멍이 형성되어 있다.

상기 지지프레임에 탈착 가능하게 마련되며, 상기 다수의 억제요소가 설치된 탈착판; 을 더 포함할 수 있다.

본 발명의 제2 형태에 따른 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈은 하방에 있는 디스플레이소자의 화면으로부터 복사되는 빛을 감지할 수 있도록 일정한 배열로 구비되는 다수의 화면인식모듈; 상기 화면인식모듈을 지지하기 위한 지지프레임; 및 상기 다수의 화면인식모듈들이 각각 담당하는 지점들로부터 복사되는 빛이 인접하는 화면인식모듈로 입사되는 것을 억제하기 위한 다수의 억제요소; 포함한다.

상기 억제요소는 상기 디스플레이소자의 화면에 있는 특정 지점에서 복사된 빛이 상방에 있는 상기 화면인식모듈로 입사될 수 있게 하는 경통 형상으로 구비되며, 상기 디스플레이소자와 대면하는 상기 억제요소의 하단은 상단보다 폭이 좁은 통과구멍이 형성되어 있다.

상기 지지프레임에 탈착 가능하게 마련되며, 상기 다수의 억제요소를 구비하는 탈착판; 을 더 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사장치는 상기한 검사모듈; 상기 검사모듈을 승강시키기 위한 승강기; 상기 검사모듈에 의해 검사될 디스플레이소자를 받치는 받침지그; 상기 받침지그에 검사되어야 할 디스플레이소자를 로딩하는 로더; 상기 받침지그로부터 검사가 완료된 디스플레이소자를 언로딩하는 언로더; 및 상기 받침지그에 있는 디스플레이소자를 검사하기 위해 상기 검사모듈을 하강시킨 후, 디스플레이소자에 대한 검사가 완료되면 상기 검사모듈을 상승시키도록 상기 승강기를 제어하며, 상기 검사모듈로부터 온 정보를 분석하여 디스플레이소자에 대한 불량 여부를 판단하는 제어기; 를 포함한다.

상기 승강기에는 모터가 적용되어서 상기 검사모듈의 승강 높이를 조절할 수 있다.

상기 검사모듈에 다수의 포토센서들이 구비된 경우, 상기 다수의 포토센서들 중 일부의 전원을 선택적으로 차단할 수 있는 스위치; 를 더 구비할 수 있다.

본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.

첫째, 포토센서로 화면을 감지하기 때문에 그 처리 속도가 빨라 처리 용량이 늘어난다.

둘째, 통일된 포토센서들을 이용하여 감지된 값을 기준값과 비교하는 단순 연산만을 수행하면 족하기 때문에 그 처리 속도가 더욱 빨라서 처리 용량도 더욱 늘어난다.

셋째, 외부의 빛이나 화면의 여러 지점들에서 복사된 빛에 의해 정보가 왜곡되는 것이 방지되므로 검사의 신뢰성이 향상된다.

넷째, 화면 규격이 서로 다른 디스플레이소자들에 대한 검사를 모두 실시할 수 있기 때문에 그 사용성이 한층 더 증가한다.

다섯째, 화면 균일도 검사 외에도 화면 떨림 검사까지 수행할 수 있어도 그 활용성도 더 증가한다.

도 1은 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈에 대한 개략적인 일부 분해 사시도이다.
도 2는 도 1의 검사모듈에서 포토센서들의 배열에 대한 일 예를 보여주기 위한 참조도이다.
도 3 및 도4는 도 1의 검사모듈이 검사를 위해 디스플레이소자 측으로 하강한 상태를 보여주는 개략적인 단면도이다.
도 5는 도 1의 검사모듈에 적용된 탈착판에 대한 발췌 사시도이다.
도 6은 도 1의 검사모듈에 적용된 억제요소를 설명하기 위한 참조도이다.
도 7은 도 1의 검사모듈이 적용된 본 발명에 따른 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사장치에 대한 개념적인 구성도이다.
도 8은 도 7의 검사장치에 적용된 승강기의 역할을 설명하기 위한 참조도이다.
도 9는 도 7의 검사장치에 적용된 포토센서들의 선별적 작동을 설명하기 위한 참조도이다.
도 10 은 화면 떨림 검사를 설명하기 위한 참조도이다.
도 11은 화면 떨림 검사에서의 포토센서들의 작동 상태를 설명하기 위한 참조도이다.

본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 주지된 기술이나 중복되는 설명은 가급적 생략하거나 압축한다.

<검사모듈에 대한 설명>

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈(10, 이하 '검사모듈'이라 약칭 함)에 대한 개략적인 일부 분해 사시도이다.

본 실시예에 따른 검사모듈(10)은 포토센서(11)들, 기판(12), 지지프레임(13), 탈착판(14) 및 억제요소(15)를 포함한다.

포토센서(11)들은 일정하게 규칙적인 배열로 구비되며, 각각의 포토센서(11)는 디스플레이소자(D)의 화면에서 자기의 수직 하방에 있는 지점으로부터 복사되는 빛을 감지한다. 이러한 포토센서(11)들은 동일한 빛을 감지할 때 동일한 값이 산출되도록 모두 통일되게 설정되어 있다. 즉, 각각의 포토센서(11)들을 화면의 특정 지점의 수직 상방에 번갈아 위치시킨 후, 각각의 포토센서(11)들에 의해 특정 지점으로부터 복사된 광도를 감지시키면, 모든 포토센서(11)들이 동일한 휘도값을 얻어낼 수 있도록 설정된다. 그래서 본 발명에 따르면, 각각의 포토센서(11)들로부터 감지된 값을 상호 비교하는 것이 아니라, 각각의 포토센서(11)들로부터 감지된 값을 설정된 기준값과 단순 비교함으로써 화면의 균일도를 신속하게 판단할 수 있게 된다.

위와 같은 포토센서(11)들은 화면의 균일도 검사를 적절하게 수행할 수 있는 개수로 구비되면 족하며, 화면의 전 면적에 걸쳐서 골고루 배치될 수 있게 구비되는 것이 바람직하다. 도 2는 포토센서(11)들의 배열에 대한 일 예를 보여주고 있다. 도 2에서와 같이 포토센서들은 X-Y 평면상에 설치되며, 감지의 사각 지역을 방지할 목적으로 보다 더 조밀하게 배열시키기 위해 인접하는 열의 포토센서(11)들은 상호 엇갈리게 위치되도록 되어 있다.

위와 같이, 본 발명에서의 포토센서(11)는 종래에 화면을 인식하기 위해 구비되던 카메라를 대체하는 화면인식모듈로 구비된다.

기판(12)은 포토센서(11)들로부터 감지된 정보를 후술할 제어기로 보내기 위한 전기 회로들이 구비되어 있으며, 포토센서(11)들은 기판(12)에 설치된다. 또한, 기판(12)에는 후술할 스위치가 설치될 수 있다. 여기서 스위치는 포토센서(11)들 중 일부의 포토센서(11)들만 작동하도록 전원을 선택적으로 차단한다.

지지프레임(13)은 기판(12)을 지지함으로써, 궁극적으로 기판(12)에 설치된 포토센서(11)들도 지지한다.

한편, 디스플레이소자의 화면에서 복사되는 빛에 대한 정보는 외부의 빛에 의해 왜곡(이하 '제1 왜곡'이라 함)될 수 있을 뿐만 아니라, 화면 여러 지점에서 복사되는 빛들에 의해 특정 지점에 대한 정보도 왜곡(이하 '제2 왜곡'이라 함)될 수 있다. 따라서 본 발명은 제1 왜곡 및 제2 왜곡을 최대한 억제하고자 제안되었다.

종래에는 제1 왜곡을 방지하기 위해 별도의 챔버를 구비하여 암실을 형성하고, 해당 암실에 카메라를 위치시키는 구성을 취하였다. 그런데, 이렇게 별도의 챔버를 구성하면, 챔버의 내부로 디스플레이소자를 출입시키는 설계적 곤란함이 있고, 디스플레이소자의 출입을 위한 출입구멍이 필요하므로 외부의 빛에 의한 제1 왜곡을 방지하는 데에 한계가 있다. 물론, 출입구멍을 선택적으로 폐쇄할 수 있도록 구성할 수도 있지만, 디스플레이소자와 이를 받치는 받침지그의 통과 구성에 의해 출입구멍의 완전한 폐쇄는 실질적으로 곤란하다. 그래서 그 만큼 외부의 빛에 의해 제1 왜곡이 발생할 수밖에는 없다.

또한, 종래에는 감도가 낮은 카메라를 사용하기 때문에 제2 왜곡을 고려할 필요가 거의 없었지만, 본 발명에서는 감도가 카메라보다 매우 뛰어난 포토센서를 사용하기 때문에 화면의 각 지점들에서 복사된 빛들에 의한 제2 왜곡도 고려할 필요가 있다. 따라서 본 발명에 따른 검사모듈(10)은 지지프레임(13)을 이용하여 암실을 조성하고, 후술할 억제요소(15)에 의해 제2 왜곡을 방지시키고 있다. 그리고 지지프레임(13)과 억제요소(15)의 기능 실현을 위해 검사모듈(10)을 승강시킬 수 있도록 하고 있다.

도 3에서 참조되는 바와 같이, 제1 왜곡을 방지하기 위하여 지지프레임(13)은 그 테두리(B)가 디스플레이소자(D) 측인 하방으로 포토센서(11)들의 하단보다 더 돌출되고, 테두리(B)가 포토센서(11)들을 내부에 감싸는 형태를 가진다. 이에 따라 검사모듈(10)이 하강하여 그 테두리(B)가 받침지그(30)의 상면에 접하면 디스플레이소자(D)가 지지프레임(13)에 의해 가둬지고, 포토센서(11)들과 디스플레이소자(D)의 화면 사이의 공간은 완벽한 암실이 된다. 즉, 도 3과 같은 상태에서 포토센서(11)들이 디스플레이소자(D)의 화면으로부터 복사되는 빛을 감지할 때, 외부의 빛은 지지프레임(13)의 테두리(B)에 의해 포토센서(11)들과 디스플레이소자(D) 사이의 공간으로 침투되지 못한다. 물론, 지지프레임(13)의 테두리(B)가 받침지그(30)의 상면에 접하는 것이 아니라, 실시하기에 따라서 도 4에서 참조되는 바와 같이 지지프레임(13)의 테두리(B)가 디스플레이소자(D)의 테두리(B', 화면 영역을 벗어나 있는 테두리)에 접하도록 구성되는 것도 충분히 가능할 것이다.

탈착판(14)은 지지프레임(13)에 탈착되게 장착(도 3의 장착된 상태이고, 도 1은 분해에 의해 탈거된 상태임)될 수 있으며, 도 5의 발체 사시도에서와 같이 포토센서(11)들을 디스플레이소자(D)의 화면 측으로 노출시키기 위한 노출구멍(EH)들이 형성되어 있다.

억제요소(15)들은 탈착판(14)에 설치됨으로써 탈착판(14)의 탈착에 의해 함께 탈착될 수 있도록 지지프레임(13)에 장착될 수 있다. 이러한 억제요소(15)들은 포토센서(11)들이 각각 담당하는 지점들로부터 복사되는 빛이 인접하는 포토센서(11)로 입사되는 것을 최대한 억제한다. 즉, 억제요소(15)들은 위에서 언급한 제2 왜곡을 방지하기 위해서 구비되며, 도 6의 단면도에서와 같이 디스플레이소자(D)의 특정 지점(P)에서 복사된 빛이 통과되어 특정 지점(P)의 감지를 담당하는 특정 포토센서(11')로 입사될 수 있게 하는 경통 형상으로 구비된다. 그리고 억제요소(15)의 하단은 상단보다 폭이 좁은 통과구멍(TH)이 형성되어 있어서 인접 지점들에서 복사되는 빛이 특정 포토센서(11')로 입사되는 것을 최대한 차단할 수 있도록 되어 있다.

참고로, 억제요소(15)들은 탈착판(14)의 게재 없이 기판(12)에 설치될 수도 있지만, 검사되어야 할 디스플레이소자(D)에 따라서 억제요소(15)의 높이에 변화가 필요할 수 있으므로, 교체를 위해 본 실시예에서와 같이 탈착판(14)에 일체로 형성시키는 것이 보다 바람직할 수 있다. 그리고 탈착판(14)과 억제요소(15)가 일체로 사출 성형되면 그 생산성이나 생산단가 면에서도 바람직하다.

<검사장치에 대한 설명>

도 7은 본 발명에 따른 디스플레이소자(D)의 화면을 검사하기 위한 검사장치(이하 '검사장치'라 약칭 함)에 대한 개념적인 구성도이다.

검사장치(TA)는 검사모듈(10), 승강기(20), 받침지그(30), 로더(40), 언로더(50), 스위치(60) 및 제어기(70)를 포함한다.

검사모듈(10)은 앞서 언급한 본 발명에 따르는 것으로서 승강 가능하게 구비된다.

승강기(20)는 검사모듈(10)을 승강시킨다. 이러한 승강기(20)에 의해 검사모듈(10)이 하강하면, 도 3에서와 같이 지지프레임(13)의 테두리(B)에 의해서 포토센서(11)와 디스플레이소자(D)의 화면 간에 암실이 형성된다. 또한, 검사모듈(10)이 하강하면서 포토센서(11)와 디스플레이소자(D)의 화면 간 거리가 가까워지기 때문에 제2 왜곡도 최소화된다.

본 발명에 따른 검사모듈(10)은 가급적 특정 포토센서(11')의 직하방에 있는 특정 지점(P')에서 복사된 빛만이 포토센서(11)로 입사될 수 있도록 하는 억제요소(15)를 구비하고 있다. 그렇지만, 도 8에서와 같이 억제요소(15)와 디스플레이소자(D)의 화면 간에 거리가 멀면 멀수록 여러 지점들에서 복사된 빛이 특정 포토센서(11')로 입사될 수 있게 된다. 따라서 억제요소(15)의 하단과 디스플레이소자(D)의 화면 간에 최소 간격을 가지도록 설정할 필요가 있다. 그리고 이와 동일한 이유로 특정 지점(P')에서 복사된 빛이 최대한 특정 포토센서(11')에 입사될 수 있도록 억제요소(15)의 하단과 디스플레이소자(D)의 화면 간에 최소 간격을 가지도록 설정할 할 필요가 있다.

위와 같이 제1 왜곡 및 제2 왜곡을 방지하기 위해서, 본 실시예에 따른 검사장치(TA)는 승강기(20)에 의해 검사모듈(10)을 최대한 하강시킨 상태에서 검사가 실시되도록 하고 있다.

더 나아가, 검사모듈(10)은 그 승강 높이가 조절되도록 구성됨이 바람직하다. 왜냐하면, 검사될 디스플레이소자(D)의 수직 방향으로의 두께가 달라지면, 검사모듈(11)의 하강 거리도 조절될 필요가 있기 때문이다. 이러한 이유로 본 실시예에서는 승강기(20)에 모터(M)가 적용되어서 검사모듈(10)의 승강 높이를 조절할 수 있도록 되어 있다.

받침지그(30)는 검사되어야 할 디스플레이소자(D)를 받치며, 적재된 디스플레이소자(D)를 점등시키기 위한 구성들을 가진다. 이러한 받침지그(D)는 별도의 이송기(MA)에 의해 로딩위치(LP), 검사위치(TP) 및 언로딩위치(UP)에 선택적으로 위치되게 구비되는 것이 바람직하다. 여기서 로딩위치(LP)는 검사되어야 할 디스플레이소자(D)가 받침지그(30)에 놓이는 위치이고, 언로딩위치(UP)는 검사가 완료된 디스플레이소자(D)를 받침지그(30)로부터 부리는 위치이다. 그리고 검사위치(TP)는 검사모듈(10)의 작동에 따라 디스플레이소(D)의 불량 여부를 검사하는 위치이다.

로더(40)는 검사되어야 할 디스플레이소자(D)를 받침지그(30)에 놓는 로딩 작업을 수행하고, 언로더(50)는 검사가 완료된 디스플레이소자(D)를 받침지그(30)로부터 부리는 언로딩 작업을 수행한다. 본 실시예에서는 로더(40)와 언로더(50)가 별개로 구비되고 있지만, 실시하기에 따라서 로딩위치(LP)와 언로딩위치(UP)가 동일한 경우에는 로더와 언로더가 단일한 하나의 이동기로 구비될 수도 있을 것이다.

참고로, 본 실시예에서는 받침지그(30)가 하나만 구비되고, 직선 이동하는 것을 예로 들고 있지만 실시하기에 따라서는 회전하는 원판형의 테이블에 받침지그들이 원주 방향으로 여러 개가 배치되는 인덱스 형태로 구성되는 것도 얼마든지 고려될 수 있다.

스위치(60)는 검사모듈(10)에 구비된 포토센서(11)들 중 일부의 전원을 선택적으로 차단하기 위해 구비된다.

도 9의 (a)와 (b)는 화면 면적이 서로 다를 경우 포토센서(11)들의 선별적 작동 여부를 보여주고 있다. 화면 면적이 큰 (a)의 경우에는 모든 포토센서(11)들이 작동할 필요가 있지만, 화면 면적이 작은 (b)의 경우에는 테두리에 가까운 포토센서들(11, 검은색 표시)은 작동할 필요성이 없다. 따라서 제어기(70)는 스위치(60)를 제어하여 테두리에 인접한 포토센서(11)들에 대한 전원을 차단한다.

물론, 도 9의 (b)와 같은 경우에도, 알고리즘으로 테두리에 인접한 포토센서(11)들로부터 오는 정보를 무시할 수 있도록 구현될 수는 있으나, 이런 경우에도 그 처리 과정에 따른 부하가 발생될 수 있으므로 본 실시예에서와 같이 일부 포토센서(11)들의 전원을 차단시키도록 구현하는 것이 바람직하다.

즉, 본 발명에 따르면, 스위치(60)를 구비함으로써 규격이 다른 여러 종류의 디스플레이소자(D)를 검사하는 데 있어서 처리 작업이 신속히 이루어질 수 있도록 하고 있다.

한편, 디스플레이소자(D)의 화면 검사는 균일도 검사 외에도 화면 떨림 검사가 있다. 예를 들어, 화면은 1초간 시간의 흐름에 따라 수십 개의 화면 프레임이 순차적으로 디스플레이되는 데, 도 10에서와 같이 어느 특정 화면 프레임(SP)이 튀어버리는 경우가 있으며, 이를 화면 떨림(Flicker)이라고 한다. 이렇게 어느 특정 화면 프레임(SP)이 튀어버리면 사람이 육안으로 식별할 수 없다고는 하더라도, 차후 사용에 따른 불량의 증폭에 의해 화면 떨림이 육안으로 관찰될 정도가 될 수 있기 때문에, 이런 경우에는 해당 디스플레이소자(D)를 불량 생산품으로 판정해야만 한다.

화면 떨림 검사는 초당 화면 프레임이 디스플레이되는 속도보다 빠른 속도(예를 들어 초당 50회)로 반복적인 감지를 통해 이루어져야 하고, 그 확인 연산도 매우 빠른 속도로 이루어져야 한다. 따라서 도 11에서와 같이, 제어기(70)는 화면 떨림 검사를 적절히 수행하기 위한 최소 개수의 포토센서(11)들만 작동될 수 있도록 스위치(60)를 제어함으로서 효과적인 화면 떨림 검사를 수행할 수 있도록 하고 있다.

즉, 본 발명에 따른 검사장치(TA)는 스위치(60)를 적용함으로써 화면 균일도 검사 외에도 화면 떨림 검사까지 효과적으로 수행할 수 있게 된다.

제어기(70)는 앞서 언급한 각 구성들을 제어하며, 검사모듈(10)로부터 온 정보를 분석하여 디스플레이소자(D)에 대한 불량 여부를 판단한다. 특히, 제어기(70)는 승강기(20)를 제어하여 화면 검사를 위해 검사모듈(10)을 하강시키거나, 검사가 완료되면 검사모듈(10)을 상승시키고, 화면 규격이나 검사 종류(균일도 검사 또는 화면 떨림 검사)에 따라 포토센서(11)들에 대한 전원을 제어한다.

계속하여 검사장치(TA)의 작동에 대해서 설명한다.

로더(40)가 로딩위치(LP)에 있는 받침지그(30)로 검사되어야 할 디스플레이소자(D)를 적재시키면, 받침지그(30)는 검사위치(TP)로 이동한다. 그리고 검사모듈(10)이 하강하여서 도 3의 상태가 되면, 제어기(7)는 디스플레이소자(D)가 요구되는 휘도 레벨의 화면을 출력시키도록 한다. 이에 따라 포토센서(10)들이 화면의 각 지점들에서 복사된 빛을 감지하고, 감지된 정보는 제어기(70)로 보내진다. 그러면, 제어기(70)는 포토센서(11)들로부터 온 정보를 기준값과 비교하면서 화면의 균일도 검사를 수행한다. 이어서 디스플레이소자(D)에 대한 검사가 완료되면, 제어기(70)는 검사모듈(10)을 상승시키고, 언로더(50)는 디스플레이소자(D)를 받침지그(30)로부터 부린다.

한편, 검사되어야 할 디스플레이소자(D)의 화면 규격이 달라지면, 제어기(70)는 달라진 화면 규격에 대응되는 포토센서(11)들만을 작동시키도록 제어한다. 마찬가지로, 화면 떨림 검사로 검사 방식이 전환될 때에는 그에 따라서 일부의 포토센서(11)들만 작동시킨다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등범위로 이해되어져야 할 것이다.

TA : 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사장치.
10 : 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈
11 : 포토센서 12: 기판
13 : 지지프레임 14 : 탈착판
15 : 억제요소
20 : 승강기
30 : 받침지그
40 : 로더
50 : 언로더
60 : 스위치
70 : 제어기

Claims (12)

1. 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈로서,
   하방에 있는 디스플레이소자의 화면으로부터 복사되는 빛을 감지할 수 있도록 일정한 배열로 구비되는 다수의 포토센서들;
   상기 포토센서들이 설치되는 기판; 및
   상기 기판을 지지하기 위한 지지프레임; 을 포함하고,
   상기 기판은 상기 포토센서들로부터 감지된 정보를 제어기로 보내기 위한 전기 회로들을 포함하고,
   상기 지지프레임은 테두리가 상기 디스플레이소자 측인 하방으로 상기 포토센서들의 하단보다 더 돌출되고, 상기 테두리는 상기 다수의 포토센서들을 내부에 감싸는 형태를 가짐으로써 상기 포토센서들이 상기 디스플레이소자의 화면으로부터 복사되는 빛을 감지할 때 상기 테두리가 외부의 빛을 차단할 수 있도록 되어 있으며,
   상기 검사모듈에 의해 상기 디스플레이소자의 화면을 검사할 때, 상기 지지프레임은 상기 지지프레임의 테두리가 상기 디스플레이소자의 받침지그 상면에 접하거나, 상기 디스플레이소자의 테두리에 접하도록 배치될 수 있는
   디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈.
2. 삭제
3. 제1 항에 있어서,
   상기 다수의 포토센서들은 동일한 빛을 감지할 때 동일한 값이 산출되도록 통일되게 설정되어 있는
   디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈.
4. 제1 항에 있어서,
   상기 다수의 포토센서들이 각각 담당하는 지점들로부터 복사되는 빛이 인접하는 포토센서로 입사되는 것을 억제하기 위한 다수의 억제요소; 를 더 가지는
   디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈.
5. 제4 항에 있어서,
   상기 억제요소는 상기 디스플레이소자의 화면에 있는 특정 지점에서 복사된 빛이 상방에 있는 상기 포토센서로 입사될 수 있게 하는 경통 형상으로 구비되며,
   상기 디스플레이소자와 대면하는 상기 억제요소의 하단은 상단보다 폭이 좁은 통과구멍이 형성되어 있는
   디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈.
6. 제4 항에 있어서,
   상기 지지프레임에 탈착 가능하게 마련되며, 상기 다수의 억제요소가 설치된 탈착판; 을 더 포함하는
   디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈.
7. 디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈로서,
   하방에 있는 디스플레이소자의 화면으로부터 복사되는 빛을 감지할 수 있도록 일정한 배열로 구비되는 다수의 화면인식모듈들;
   상기 다수의 화면인식모듈들이 설치되는 기판;
   상기 기판을 지지하기 위한 지지프레임; 및
   상기 다수의 화면인식모듈들이 각각 담당하는 지점들로부터 복사되는 빛이 인접하는 화면인식모듈로 입사되는 것을 억제하기 위한 다수의 억제요소;를 포함하고,
   상기 기판은 상기 다수의 화면인식모듈들 중 일부의 전원을 선택적으로 차단할 수 있는 스위치를 더 포함하는
   디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈.
8. 제7 항에 있어서,
   상기 억제요소는 상기 디스플레이소자의 화면에 있는 특정 지점에서 복사된 빛이 상방에 있는 상기 화면인식모듈로 입사될 수 있게 하는 경통 형상으로 구비되며,
   상기 디스플레이소자와 대면하는 상기 억제요소의 하단은 상단보다 폭이 좁은 통과구멍이 형성되어 있는
   디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈.
9. 제8 항에 있어서,
   상기 지지프레임에 탈착 가능하게 마련되며, 상기 다수의 억제요소를 구비하는 탈착판; 을 더 포함하는
   디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사모듈.
10. 제1 항 또는 제3 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 따른 검사모듈;
    상기 검사모듈을 승강시키기 위한 승강기;
    상기 검사모듈에 의해 검사될 디스플레이소자를 받치는 받침지그;
    상기 받침지그에 검사되어야 할 디스플레이소자를 로딩하는 로더;
    상기 받침지그로부터 검사가 완료된 디스플레이소자를 언로딩하는 언로더; 및
    상기 받침지그에 있는 디스플레이소자를 검사하기 위해 상기 검사모듈을 하강시킨 후, 디스플레이소자에 대한 검사가 완료되면 상기 검사모듈을 상승시키도록 상기 승강기를 제어하며, 상기 검사모듈로부터 온 정보를 분석하여 디스플레이소자에 대한 불량 여부를 판단하는 제어기; 를 포함하는
    디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사장치.
11. 제10 항에 있어서,
    상기 승강기에는 모터가 적용되어서 상기 검사모듈의 승강 높이를 조절할 수 있는
    디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사장치.
12. 제10 항에 있어서,
    상기 검사모듈에 다수의 포토센서들이 구비된 경우, 상기 다수의 포토센서들 중 일부의 전원을 선택적으로 차단할 수 있는 스위치; 를 더 구비하는
    디스플레이소자의 화면을 검사하기 위한 검사장치.
    

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