KR102295340B1 - Magnet Buffering Type Probe Pin Array Unit - Google Patents

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KR102295340B1 KR1020200160653A KR20200160653A KR102295340B1 KR 102295340 B1 KR102295340 B1 KR 102295340B1 KR 1020200160653 A KR1020200160653 A KR 1020200160653A KR 20200160653 A KR20200160653 A KR 20200160653A KR 102295340 B1 KR102295340 B1 KR 102295340B1
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Abstract

The present invention relates to a magnet buffering-type probe pin array unit including: a base frame (3); probe pin blocks (5) inspecting an inspection target (P) with a probe pin (C); and a probe pin adjustment assembly (7) supporting the probe pin block (5) so as to be position-movable on one side of the base frame (3) and connecting the base frame (3) and the probe pin block (5). The probe pin adjustment assembly (7) includes: a body (11) mounted on one side of the base frame (3) so as to be position-movable; a lifting-lowering block (13) mounted on the front of the body (11) so as to be liftable, lowerable, and height-adjustable; and height adjustment means (15) for liftably and lowerably connecting the lifting-lowering block (13) to the body (11). The lifting-lowering block (13) is elastically mounted on the body (11) in order to absorb the shock that is generated when the probe pin (C) comes into contact with a contact end (T) of the inspection target (P). Accordingly, the shock that is generated when the probe pin is brought into contact with the inspection target can be stably and easily absorbed and mitigated using the repulsive forces of first and second magnets. As a result, the inspection target and the probe pin array unit can be effectively protected from a contact shock.

Description

자석 완충식 프로브핀 어레이유닛{Magnet Buffering Type Probe Pin Array Unit}Magnet Buffering Type Probe Pin Array Unit

본 발명은 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛에 관한 것으로, 보다 상세하게는 LCD 패널 등과 같은 검사대상물을 검사하는 프로브핀이 검사대상물의 접촉단에 접촉할 때 발생하는 충격을, 역방향으로 배치된 두 자석의 척력을 이용해 흡수할 수 있도록 한 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛에 관한 것이다.The present invention relates to a magnetic buffer type probe pin array unit, and more particularly, two magnets arranged in opposite directions to the impact generated when a probe pin for inspecting an inspection object such as an LCD panel comes into contact with the contact end of the inspection object. It relates to a magnetic buffer type probe pin array unit that can be absorbed using the repulsive force of

일반적으로 LCD나 LED 패널 또는 휴대폰 기판을 제조하는 과정에는 검사대상물의 이상 유무를 확인하기 위한 각종 테스트가 반드시 필요하며, 최근 들어 회로의 집적도가 높아지고, 화질의 선명도가 높아짐에 따라 검사대상물의 접촉단은 물론, 검사를 위해 이들 접촉단과 접촉하는 검사장비 즉, 프로브핀블록의 프로브핀 또한 위치 및 각도의 정밀한 조정이 요구되고 있다.In general, in the process of manufacturing LCD, LED panel, or mobile phone board, various tests are absolutely necessary to check whether there is any abnormality in the object to be inspected. Of course, it is required to precisely adjust the position and angle of the inspection equipment that comes into contact with these contact ends, that is, the probe pin of the probe pin block for inspection.

그 하나의 예로서, 도 1에 도시된 오토 프로브핀 유니트(공개특허 제10-2009-0026638호)는 검사할 LCD 패널 등의 모델에 따라 유닛플레이트(100)에 구축되는 점등검사부(200)의 각종 프로브핀블록(210)을 자동 조정하여 검사가 가능하도록 함으로써, 장치의 범용성과 빠른 모델 변경에 대한 적응성 및 검사시간 단축 등을 구현할 수 있게 된다.As an example, the auto probe pin unit (Patent Publication No. 10-2009-0026638) shown in FIG. 1 is the lighting inspection unit 200 built on the unit plate 100 according to the model of the LCD panel to be inspected. By automatically adjusting the various probe pin blocks 210 to enable inspection, it is possible to realize the versatility of the device, adaptability to quick model changes, and shortening of inspection time.

그런데, 위와 같은 종래의 오토 프로브 유니트는 프로브핀블록(220)이 프로브핀블록 지지체(210)에 직접 장착되어 있으므로, 프로브핀블록(220)의 프로브핀이 검사를 위해 검사대상물의 접촉단에 접촉할 때 발생하는 충격을 흡수하여 완충할 수 없고, 따라서 검사대상물은 물론, 점등검사부(20) 전체에 손상을 일으키게 되는 문제점이 있다.However, in the conventional auto probe unit as described above, since the probe pin block 220 is directly mounted on the probe pin block support 210, the probe pin of the probe pin block 220 is in contact with the contact end of the object to be inspected for inspection. There is a problem in that it cannot absorb and buffer the shock generated when doing so, thus causing damage to the entire lighting inspection unit 20 as well as the inspection object.

이러한, 문제를 해결하고자 프로브핀블록(220)과 프로브핀블록 지지체(210) 사이에 완충스프링을 설치하여, 검사를 위한 접촉 시 프로브핀에 발생하는 충격을 흡수하고자 하는 시도가 이루진 바 있으나, 완충스프링의 탄력을 크게 설정할 경우, 스프링홈에 장착되는 완충스프링 자체의 안정성이나 스프링홈의 내마모성 등은 높일 수 있지만 프로브핀의 접촉 충격이 작을 때 충격을 흡수하기 어렵게 되고, 반대로 완충스프링의 탄력을 작게 설정할 경우, 프로브핀에 대한 작은 접촉 충격에 대해서도 응답성을 높여 효과적으로 충격을 흡수할 수 있으나 완충스프링 자체의 강성이 떨어져 스프링이나 스프링홈에 대한 안정성과 내마모성을 확보할 수 없게 되고, 완충스프링이 복수로 사용되는 경우 스프링들 사이에 안정성이나 내마모성의 차이로 인해 완충 편차 즉, 작동 편차가 발생하는 문제점이 있다.In order to solve this problem, an attempt has been made to install a buffer spring between the probe pin block 220 and the probe pin block support 210 to absorb the impact generated on the probe pin during contact for inspection. If the elasticity of the buffer spring is set large, the stability of the buffer spring itself installed in the spring groove or the abrasion resistance of the spring groove can be improved, but it becomes difficult to absorb the shock when the contact impact of the probe pin is small, and conversely, the elasticity of the buffer spring is reduced. If it is set small, it can absorb shock effectively by increasing the responsiveness to small contact shocks on the probe pin. When a plurality of springs are used, there is a problem in that a buffering deviation, that is, an operation deviation, occurs due to a difference in stability or abrasion resistance between the springs.

공개특허 제10-2009-0026638호Patent Publication No. 10-2009-0026638

본 발명은 위와 같은 종래의 프로브 유니트가 가지고 있는 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 검사대상물을 검사하기 위해 프로브핀을 검사대상물의 접촉단에 접촉시킬 때 발생하는 충격을 흡수, 완화시킴으로써, 검사대상물과 프로브핀은 물론, 프로브핀을 지지하는 프로브핀블록을 비롯한 전체 장치를 접촉 충격으로부터 보호하고자 하는 데 그 목적이 있다.The present invention has been proposed to solve the problems of the conventional probe unit as described above, and by absorbing and alleviating the shock generated when the probe pin is brought into contact with the contact end of the object to be inspected to inspect the object, the object to be inspected The purpose of this is to protect the entire device, including the probe pin and the probe pin block supporting the probe pin, from contact impact.

또한, 위와 같이 프로브핀 접촉 충격을 흡수, 완화함에 있어, 충격을 흡수, 완화하는 수단을 간결하면서도, 안정적으로 유지할 수 있도록 하는 데 다른 목적이 있다.In addition, in absorbing and alleviating the impact of the probe pin contact as described above, another object is to keep the means for absorbing and alleviating the impact simple and stable.

또한, 위와 같은 충격 흡수 수단의 충격에 대한 응답성을 높임으로써, 작은 충격에 대해서도 능률적으로 충격을 흡수, 완화할 수 있도록 하는 데 또 다른 목적이 있다.In addition, by increasing the responsiveness to the shock of the shock absorbing means as described above, it is another object to efficiently absorb and mitigate the shock even for a small shock.

또한, 위와 같은 충격 흡수 수단의 충격 흡수 능력을 쉽게 변경할 수 있도록 함으로써, 충격 흡수 성능을 정교하게 제어할 수 있도록 하는 데 또 다른 목적이 있다.In addition, by making it possible to easily change the shock absorbing ability of the above shock absorbing means, it is another object to precisely control the shock absorbing performance.

이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명은 베이스프레임; 상기 베이스프레임 일측에 위치이동 가능하게 장착되어, 프로브핀에 의해 검사대상물을 검사하는 복수의 프로브핀블록; 및 상기 프로브핀블록을 상기 베이스프레임 일측에 위치이동 가능하게 지지하면서, 상기 베이스프레임과 상기 프로브핀블록을 연결하는 프로브핀 조정뭉치;를 포함하여 이루어지며, 상기 프로브핀 조정뭉치는, 상기 베이스프레임 일측에 위치이동 가능하게 장착되는 몸체; 상기 몸체의 전방에 높이를 조정할 수 있도록 승강 가능하게 장착되는 승강블록; 및 상기 몸체에 상기 승강블록을 승강 가능하게 연결하는 높이조정수단;을 포함하여 이루어지되, 상기 승강블록은 상기 프로브핀이 상기 검사대상물의 접촉단과 접촉할 때 발생하는 충격을 흡수하도록 상기 몸체에 탄력적으로 장착되는 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛을 제공한다.In order to achieve this object, the present invention provides a base frame; a plurality of probe pin blocks mounted on one side of the base frame to be movably positioned to inspect the object to be inspected by means of probe pins; and a probe pin adjustment bundle connecting the base frame and the probe pin block while supporting the probe pin block to one side of the base frame to be movably positioned. a body which is movably mounted on one side; an elevating block mounted so as to be able to elevate so as to adjust the height in front of the body; and a height adjusting means for connecting the lifting block to the body so as to be able to ascend and descend, wherein the lifting block is elastic to the body to absorb the shock generated when the probe pin comes into contact with the contact end of the object to be inspected. It provides a magnet buffer type probe pin array unit mounted with

또한, 상기 몸체는 상기 승강블록을 향하도록 안착된 제1 자석을 구비하고, 상기 승강블록은 상기 몸체를 향하도록 안착되어, 상기 제1 자석과 대응하는 제2 자석을 구비하되, 상기 제1 자석과 상기 제2 자석은 상호 반발하도록 같은 극성이 마주보도록 배치되는 것이 바람직하다.In addition, the body includes a first magnet seated to face the lifting block, the lifting block is seated to face the body, and having a second magnet corresponding to the first magnet, the first magnet and the second magnet are preferably arranged so that the same polarity faces each other so as to repel each other.

또한, 상기 몸체는 상단에 전방으로 연장된 덮개부를 형성하며, 상기 승강블록은 상기 덮개부 아래에서 상기 몸체 전면에 장착된 승강가이드를 따라 안내되면서 승강하도록 되어 있고, 상기 높이조정수단은 상기 덮개부를 상하로 관통하여 상기 몸체에 나사 체결됨으로써, 상기 몸체가 상기 덮개부 아래에 상대 이동 가능하게 매달리도록 하는 조정볼트인 것이 바람직하다.In addition, the body forms a cover portion extending forwardly at the upper end, the lifting block is guided along the lifting guide mounted on the front of the body under the cover portion to be lifted and lowered, the height adjusting means is the cover portion It is preferable that it is an adjustment bolt that penetrates up and down and is screwed to the body so that the body is movably suspended under the cover part.

본 발명의 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛에 따르면, 검사대상물을 검사하기 위해 프로브핀을 검사대상물의 접촉단에 접촉시킬 때 발생하는 충격을 제1 및 제2 자석의 척력을 이용해 흡수, 완화시킬 수 있으므로, 검사대상물은 물론이고, 프로브핀으로부터 프로브핀블록을 비롯한 전체 장치로 전달되는 접촉 충격을 흡수하여, 완화시킬 수 있게 되고, 따라서 검사대상물과 프로브핀 어레이유닛을 접촉 충격으로부터 보호할 수 있게 된다.According to the magnet buffer type probe pin array unit of the present invention, the shock generated when the probe pin is brought into contact with the contact end of the object to be inspected to inspect the object can be absorbed and mitigated using the repulsive force of the first and second magnets. Therefore, it is possible to absorb and alleviate the contact impact transmitted from the probe pin to the entire device including the probe pin block as well as the object to be inspected, thus protecting the object to be inspected and the probe pin array unit from the contact impact. .

또한, 프로브핀 조정뭉치의 몸체와 승강블록 사이에 제1 및 제2 자석을 서로 대향하도록 배치되는 것으로 간단히 프로브핀 접촉 충격을 흡수, 완화하는 구조를 만들 수 있으므로, 프로브핀 어레이유닛의 제조나 유지관리를 보다 용이하게 할 수 있게 된다.In addition, since the first and second magnets are disposed to face each other between the body of the probe pin adjustment bundle and the elevating block, it is possible to create a structure that simply absorbs and alleviates the impact of the probe pin contact, thus manufacturing or maintaining the probe pin array unit management can be made easier.

또한, 충격 흡수 구조에 자석을 활용하므로, 충격 흡수 구조를 반영구적으로 사용할 수 있게 되며, 프로브핀 조정뭉치에 장착된 자석이 고정되어 움직임을 전혀 발생시키지 못하므로, 움직이나 흔들림 등으로 인해 자석 자체나 자석이 결합된 홈 부분이 전혀 충격이나 마모를 일으키지 않으므로, 자석을 포함한 프로브핀 조정뭉치 전반에 손상이 발생하거나 복수로 구비된 자석들 간에 완충 성능의 편차가 발생하는 것을 미연에 방지할 수 있게 된다. In addition, since a magnet is used in the shock absorbing structure, the shock absorbing structure can be used semi-permanently. Since the magnet mounted on the probe pin adjustment assembly is fixed and does not generate any movement, the magnet itself or the Since the groove part to which the magnet is coupled does not cause any impact or wear, it is possible to prevent damage to the entire probe pin adjustment assembly including the magnet or the deviation in cushioning performance between a plurality of magnets. .

또한, 제1 및 제2 자석의 자력 세기나 제1 및 제2 자석 사이의 간격을 세밀하면서도 편리하게 변경할 수 있으므로, 제1 및 제2 자석 간의 척력 더 나아가 이로부터 발생되는 몸체와 승강블록 사이의 탄발력을 정교하게 제어할 있게 된다.In addition, since the magnetic force strength of the first and second magnets or the distance between the first and second magnets can be precisely and conveniently changed, the repulsive force between the first and second magnets is further generated between the body and the elevating block. You will be able to precisely control the elasticity.

또한, 제1 및 제2 자석의 자력 세기를 감소시킴으로써, 완충 응답성을 높일 수 있게 되므로, 작은 충격에 대해서도 민감하게 충격을 흡수할 수 있게 되고, 따라서 완충 성능을 높일 수 있게 된다.In addition, by reducing the magnetic force strength of the first and second magnets, it is possible to increase the buffering responsiveness, it is possible to absorb the impact sensitively even to a small impact, thus it is possible to increase the buffering performance.

도 1은 종래의 프로브핀블록을 도시한 사시도.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛의 사시도.
도 3은 도 2에 도시된 프로브핀블록 및 프로브핀 조정뭉치를 도시한 사시도.
도 4는 도 3의 측면도.
도 5는 도 3에 도시된 프로브핀 조정뭉치의 분해 사시도.
도 6은 도 4의 A 부분 확대도.1 is a perspective view showing a conventional probe pin block.
2 is a perspective view of a magnet buffer type probe pin array unit according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a perspective view showing the probe pin block and the probe pin adjustment assembly shown in Figure 2;
Fig. 4 is a side view of Fig. 3;
5 is an exploded perspective view of the probe pin adjustment assembly shown in FIG.
6 is an enlarged view of part A of FIG. 4 ;

이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛을 첨부 도면을 참조로 상세히 설명한다.Hereinafter, a magnetic buffer type probe pin array unit according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛은 도 2에 도면부호 1로 도시된 바와 같이, 크게 베이스프레임(3), 프로브핀블록(5), 및 프로브핀 조정뭉치(7)를 포함하여 이루어진다.As shown by reference numeral 1 in FIG. 2, the magnet buffering probe pin array unit according to the present invention largely includes a base frame 3, a probe pin block 5, and a probe pin adjustment assembly 7 .

여기에서, 먼저 상기 베이스프레임(3)은 어레이유닛(1)의 몸체를 이루는 부분으로, 도 2에 도시된 것처럼, 검사대상물(P)을 따라 횡방향으로 길게 연장되는 장방형의 박스 형태로 되어 있다.Here, first, the base frame 3 is a part constituting the body of the array unit 1, and as shown in FIG. 2, it is in the form of a rectangular box extending long in the transverse direction along the inspection object P. .

상기 복수의 프로브핀블록(5)은 검사대상물(P)의 접촉단(T)을 직접 접촉하여 검사하는 부분으로, 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이, 베이스프레임(3)의 선단에 횡방향으로 나란히 배치되는 바, 선단에 구비된 다수의 프로브핀(C)을 LCD나 LED 또는 휴대폰의 기판 패널과 같은 검사대상물(P)의 전극 단자와 같은 접촉단(T)에 접촉시킴으로써, 검사대상물(P)을 검사한다. 이를 위해, 각각의 프로브핀블록(5)은 검사 시 검사대상물(P)의 복수의 접촉단(T) 중 대응하는 접촉단(T)에 프로브핀(C)을 접촉하기 알맞도록 베이스프레임(3) 선단에 배치, 장착되는 바, 검사대상물(P)의 모서리를 따라 위치이동이 가능하도록 베이스프레임(3) 전면의 조정판(9) 상에 착탈 가능하게 장착된다.The plurality of probe pin blocks 5 are parts inspected by directly contacting the contact end T of the inspection object P, and as shown in FIGS. 2 and 4 , transverse to the tip of the base frame 3 . By contacting a plurality of probe pins (C) provided at the front end to a contact end (T) such as an electrode terminal of an inspection object (P) such as a substrate panel of LCD or LED or mobile phone, the inspection object is arranged side by side in the direction (P) is inspected. To this end, each probe pin block 5 has a base frame 3 suitable for contacting the probe pin C with a corresponding contact end T among a plurality of contact ends T of the inspection object P during inspection. ) disposed and mounted at the tip, it is detachably mounted on the adjustment plate 9 on the front of the base frame 3 so that the position can be moved along the edge of the inspection object P.

상기 프로브핀 조정뭉치(7)는 베이스프레임(3) 즉, 어레이 유닛(1) 전체에 대해 프로브핀블록(5)을 지지하는 부분으로, 도 2 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 각각의 프로브핀블록(5)을 베이스프레임(3) 모서리를 따라 위치이동이 가능하게 장착함으로써 베이스프레임(3)과 프로브핀블록(5)을 연결하는 동시에, 일단 베이스프레임(3)에 장착, 고정된 이후에는 프로브핀블록(5)의 위치를 미세 조정할 수 있도록 한다.The probe pin adjustment bundle 7 is a part that supports the probe pin block 5 with respect to the base frame 3, that is, the entire array unit 1, and as shown in FIGS. 2 to 4, each probe By mounting the pin block 5 to be movable along the edge of the base frame 3, the base frame 3 and the probe pin block 5 are connected, and once mounted and fixed to the base frame 3, The position of the probe pin block (5) can be finely adjusted.

이를 위해, 프로브핀 조정뭉치(7)는 다시 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 크게 몸체(11), 승강블록(13), 및 높이조정수단(15)을 포함하여 이루어진다.To this end, the probe pin adjustment bundle 7 again includes a body 11 , a lifting block 13 , and a height adjustment means 15 , as shown in FIGS. 3 to 5 .

여기에서, 상기 몸체(11)는 프로브핀 조정뭉치(7)의 몸통을 이루는 부분으로, 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 선단 하부에 승강블록(13)을 배치하기 위한 설치공간(S)이 형성된 블록으로서, 설치공간(S)을 형성하기 위해 상단 부분이 전방으로 연장되어 덮개부(25)를 형성한다. 또한, 몸체(11)는 베이스프레임(3)의 선단의 받침대(21) 위에 LM 가이드(23) 등을 통해 위치이동 가능하게 즉, 전후, 좌우 또는 피벗 가능하게 장착되는 바, 이 받침대(21)는 베이스프레임(3) 선단 상면에 볼팅 등에 의해 착탈 가능하게 고정된다.Here, the body 11 is a part forming the body of the probe pin adjustment bundle 7, and as shown in FIGS. 3 to 5, an installation space (S) for arranging the lifting block 13 at the lower end of the tip ) is formed as a block, the upper portion is extended forward to form the installation space (S) to form the cover (25). In addition, the body 11 is mounted on the pedestal 21 of the distal end of the base frame 3 so as to be movable in position through the LM guide 23 or the like, that is, to be able to move forward, backward, left and right, or pivotally. is detachably fixed to the top surface of the base frame 3 by bolting or the like.

상기 승강블록(13)은 프로브핀블록(5)을 몸체(11)에 연결하면서 프로브핀(C)을 승강시키는 부분으로, 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 선단 하부가 ㄴ자 단면 갖도록 앞쪽으로 연장된 사각 통체로 되어 있으며, 몸체(11) 전방의 설치공간(S)에 승강 가능하게 장착되는 바, 검사대상물(P) 즉 접촉단(T)의 높이에 따라 높이조정수단(15)을 통해 높이를 조정할 수 있도록 하고, 더 나아가 프로브핀(C)의 높이를 조정한다.The lifting block 13 is a part for elevating the probe pin C while connecting the probe pin block 5 to the body 11, and as shown in FIGS. It has a rectangular cylindrical body extending to the body 11, and is mounted so as to be lifted in the installation space (S) in front of the body (11). To adjust the height through, and further adjust the height of the probe pin (C).

이를 위해, 승강블록(13)은 몸체(11) 덮개부(25) 아래에서 몸체(11) 전면에 장착된 LM 가이드나 크로스롤러 가이드 등과 같은 승강가이드(27)를 따라 안내되어 승강하도록 되어 있다.To this end, the elevating block 13 is guided along the elevating guide 27 such as an LM guide or a cross roller guide mounted on the front of the body 11 under the cover 25 of the body 11 to elevate.

이때, 승강블록(13)은 몸체(11)의 설치공간(S)에 상하방향으로 탄력을 갖도록 장착되는 바, 검사를 위해 함께 하강하는 프로브핀(C)이 검사대상물(P)의 접촉단(T)에 접촉할 때 발생하는 충격을 흡수하도록 되어 있다.At this time, the lifting block 13 is mounted so as to have elasticity in the vertical direction in the installation space (S) of the body 11, the probe pin (C) descending together for the inspection is the contact end of the inspection object (P) ( It is designed to absorb the shock generated when it comes into contact with T).

이를 위해, 몸체(11)는 승강블록(13)을 향하는 저면에 제1 자석(31)이 함입되어 구비되고, 승강블록(13)은 승강블록(13)은 몸체(11)를 향한 상면에 제2 자석(33)이 함입되어 구비된다. 이때, 제1 자석(31)과 제2 자석(33)은 같은 극성끼리 서로 마주보면서 인접하도록 배치되므로, 상호 간에 반발력을 갖게 되며, 따라서 몸체(11)는 승강블록(13)을 탄력적으로 지지할 수 있게 되고, 승강블록(13)은 프로브핀(C)을 통해 가해지는 충격을 흡수, 완충하게 된다.To this end, the body 11 is provided with a first magnet 31 embedded in the bottom surface facing the lifting block 13, and the lifting block 13 is placed on the upper surface of the lifting block 13 facing the body 11. 2 magnets 33 are embedded in the provided. At this time, since the first magnet 31 and the second magnet 33 are disposed to be adjacent to each other while facing each other, the first magnet 31 and the second magnet 33 have a repulsive force with each other, and thus the body 11 can elastically support the lifting block 13 . and the lifting block 13 absorbs and buffers the shock applied through the probe pin (C).

다만, 제1 및 제2 자석(31,33)은 상호 간의 이격거리를 변경하거나 자력의 세기가 다른 자석으로 교체됨으로써, 몸체(11)와 승강블록(13) 간에 발생하는 탄력 즉, 프로브핀(C)에 대한 완충특성을 조정할 수 있게 된다.However, the first and second magnets 31 and 33 are resilient generated between the body 11 and the elevating block 13 by changing the separation distance between each other or replacing the magnet with a different magnetic force strength, that is, the probe pin ( It becomes possible to adjust the buffering characteristics for C).

상기 높이조정수단(15)은 몸체(11)에 승강 가능하게 장착된 승강블록(13)을 승강시켜 승강블록(13)의 높이를 조정하는 수단으로서, 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 예컨대 조정볼트의 형태로 구비되는 바, 덮개부(25)를 상하로 관통하여 몸체(11)에 나사 체결된다. 이에 따라, 승강블록(13)은 높이조정수단(15)을 회전시키면 높이조정수단(15)에 대해 상대 회전을 하게 되고, 그 회전방향에 따라 승강을 하게 된다. 따라서, 승강블록(13)은 덮개부(25) 아래쪽에서 몸체(11)에 대해 상대 이동이 가능하게 승강가이드(27)를 따라 매달린다. 결과적으로, 높이조정수단(15)은 승강블록(13)을 몸체(11)의 덮개부(25) 아래에 승강 가능하게 연결되도록 한다.The height adjusting means 15 is a means for adjusting the height of the elevating block 13 by elevating the elevating block 13 mounted to the body 11 so as to be elevating, as shown in Figs. For example, a bar provided in the form of an adjustment bolt is screwed to the body 11 by penetrating the cover part 25 up and down. Accordingly, when the height adjustment means 15 is rotated, the lifting block 13 is rotated relative to the height adjustment means 15, and the lifting block 13 is raised and lowered according to the rotation direction. Accordingly, the elevating block 13 is suspended along the elevating guide 27 to enable relative movement with respect to the body 11 under the cover portion 25 . As a result, the height adjustment means 15 allows the lifting block 13 to be connected to the lower cover portion 25 of the body 11 so as to be elevating.

더욱이, 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛(1)은 몸체(11)와 승강블록(13)을 안정적으로 유지하기 위해서 덮개부(25)의 일측면에 돌출된 걸림돌기(35)를 구비하며, 승강블록(13)의 일측면에 이 걸림돌기(35)와 결합되도록 돌출된 걸림편(37)을 구비한다. 이때, 걸림편(37)의 일단 즉, 상단에 걸림구멍이나 걸림홈 형태의 걸림부(39)가 형성되며, 조립 시 이 걸림부(39)가 걸림돌기(35)에 걸릴 수 있도록 위쪽으로 연장되다. 또, 걸림편(37)의 타단은 승강블록(13)의 일측면에 볼팅 등에 의해 결합된다.Furthermore, the magnetic buffer type probe pin array unit (1) is provided with a locking projection (35) protruding from one side of the cover part (25) in order to stably maintain the body (11) and the lifting block (13). A locking piece 37 protruding to be coupled to the locking projection 35 is provided on one side of the block 13 . At this time, one end of the locking piece 37, that is, a locking part 39 in the form of a locking hole or a locking groove is formed on the upper end, and when assembling, the locking part 39 extends upward so that it can be caught by the locking protrusion 35. to be. In addition, the other end of the engaging piece 37 is coupled to one side of the lifting block 13 by bolting or the like.

더욱이, 걸림편(37)의 걸림부(39)는 걸림돌기(35)와 걸림편(37)에 의한 걸림을 유지하면서, 승강블록(13)의 탄성적인 상대 이동과 높이조정수단(15)에 의한 높이 조정을 허용하도록, 걸림돌기(35)가 상대 이동할 수 있는 정도의 유격(g)을 두고 있다.Furthermore, while maintaining the locking by the locking projection 35 and the locking piece 37, the locking portion 39 of the locking piece 37 is elastic relative movement of the lifting block 13 and the height adjustment means 15. In order to allow the height adjustment by the locking projection 35, there is a gap (g) to the extent that it can move relative to each other.

이제, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛(1)의 작용을 설명하면 다음과 같다.Now, the operation of the magnetic buffer type probe pin array unit 1 according to a preferred embodiment of the present invention will be described as follows.

본 발명의 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛(1)에 의하면, 도 2에 도시된 것처럼, 프로브핀블록(5)에 의해 검사대상물(P)을 검사하고자 할 때, 프로브핀(C)과 검사대상물(P) 접촉단(T)의 이격 거리를 감안하여 프로브핀 조정뭉치(7)를 통해 프로브핀(C)의 높이를 조정하게 된다. 이때, 프로브핀(C)의 높이는 승강블록(13)의 높이에 따라 결정되므로, 프로브핀(C)의 높이는 결과적으로 높이조정수단(15)의 조작을 통해 조정된다. 즉, 사용자는 높이조정수단(15)을 회전시켜 승강블록(13)이 높이조정수단(15)에 대해 상대 회전하면서 승강하도록 하며, 이에 따라 승강블록(13)의 높이가 조정된다.According to the magnet buffer type probe pin array unit 1 of the present invention, as shown in FIG. 2 , when the test object P is to be inspected by the probe pin block 5, the probe pin C and the object to be inspected (P) The height of the probe pin (C) is adjusted through the probe pin adjustment bundle (7) in consideration of the separation distance of the contact end (T). At this time, since the height of the probe pin (C) is determined according to the height of the lifting block (13), the height of the probe pin (C) is consequently adjusted through the operation of the height adjustment means (15). That is, the user rotates the height adjusting means 15 so that the elevating block 13 is elevated while rotating relative to the height adjusting means 15 , and accordingly, the height of the elevating block 13 is adjusted.

한편, 승강블록(13)은 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 및 제2 자석(31,33)의 척력에 따라 덮개부(25)에 대해 탄력적으로 지지되는 바, 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛(1) 전체가 하강하여 프로브핀(C)이 검사대상물(P)의 검사대상 터미널 등 접촉단(T)에 접촉할 때 발생할 수 있는 충격을 제1 및 제2 자석(31,33) 간의 척력에 의해 흡수할 수 있게 된다.On the other hand, as shown in FIG. 6 , the lifting block 13 is elastically supported with respect to the cover part 25 according to the repulsive force of the first and second magnets 31 and 33 , and a magnet buffer type probe pin array. When the entire unit (1) is lowered and the probe pin (C) comes into contact with the contact end (T), such as the terminal to be inspected (P), an impact that may occur is generated between the first and second magnets (31, 33). It can be absorbed by the repulsive force.

이에 따라, 접촉 시 1㎏f 이하의 충격이 발생하더라도, 완충이 가능하며, 충격을 흡수하는 과정에서 제1 및 제2 자석(31,33)은 전혀 움직이지 않으므로 그로 인한 손상을 염려할 필요가 없게 된다.Accordingly, even if an impact of 1 kgf or less occurs during contact, it is possible to buffer, and in the process of absorbing the impact, the first and second magnets 31 and 33 do not move at all, so there is no need to worry about damage caused by it. there will be no

1 : 프로브핀 어레이유닛 3 : 베이스프레임
5 : 프로브핀블록 7 : 프로브핀 조정뭉치
11 : 몸체 13 : 승강블록
15 : 높이조정수단 21 : 받침대
23 : LM 가이드 25 : 덮개부
27 : 승강가이드 31, 33 : 제1 및 제2 자석
35 : 걸림돌기 37 : 걸림편
39 : 걸림부 C : 프로브핀
g : 유격 P : 검사대상물
S : 설치공간 T : 접촉단1: probe pin array unit 3: base frame
5 : probe pin block 7 : probe pin adjustment assembly
11: body 13: elevating block
15: height adjustment means 21: pedestal
23: LM guide 25: cover part
27: elevating guide 31, 33: first and second magnets
35: jamming projection 37: jamming piece
39: locking part C: probe pin
g : clearance P : object to be inspected
S : Installation space T : Contact end

Claims (3)

삭제delete 베이스프레임(3);
상기 베이스프레임(3) 일측에 위치이동 가능하게 장착되어, 프로브핀(C)에 의해 검사대상물(P)을 검사하는 복수의 프로브핀블록(5); 및
상기 프로브핀블록(5)을 상기 베이스프레임(3) 일측에 위치이동 가능하게 지지하면서, 상기 베이스프레임(3)과 상기 프로브핀블록(5)을 연결하는 프로브핀 조정뭉치(7);를 포함하여 이루어지며,
상기 프로브핀 조정뭉치(7)는,
상기 베이스프레임(3) 일측에 위치이동 가능하게 장착되는 몸체(11);
상기 몸체(11)의 전방에 높이를 조정할 수 있도록 승강 가능하게 장착되는 승강블록(13); 및
상기 몸체(11)에 상기 승강블록(13)을 승강 가능하게 연결하는 높이조정수단(15);을 포함하여 이루어지되,
상기 승강블록(13)은 상기 프로브핀(C)이 상기 검사대상물(P)의 접촉단(T)과 접촉할 때 발생하는 충격을 흡수하도록 상기 몸체(11)에 탄력적으로 장착되며,
상기 몸체(11)는 상기 승강블록(13)을 향하도록 안착된 제1 자석(31)을 구비하고,
상기 승강블록(13)은 상기 몸체(11)를 향하도록 안착되어, 상기 제1 자석(31)과 대응하는 제2 자석(33)을 구비하되,
상기 제1 자석(31)과 상기 제2 자석(33)은 상호 반발하도록 같은 극성이 마주보며 배치되는 것을 특징으로 하는 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛.base frame (3);
A plurality of probe pin blocks (5) mounted on one side of the base frame (3) to be movably positioned to inspect the object (P) to be inspected by the probe pin (C); and
and a probe pin adjustment bundle 7 connecting the base frame 3 and the probe pin block 5 while supporting the probe pin block 5 to be movably positioned on one side of the base frame 3 . is done by
The probe pin adjustment assembly (7),
a body 11 that is movably mounted on one side of the base frame 3;
an elevating block 13 mounted so as to be able to elevate so as to adjust the height in front of the body 11; and
A height adjustment means (15) for connecting the lifting block (13) to the body (11) so as to be lifted and lowered;
The lifting block 13 is elastically mounted on the body 11 to absorb the shock generated when the probe pin C comes into contact with the contact end T of the inspection object P,
The body 11 is provided with a first magnet 31 seated to face the lifting block 13,
The elevating block 13 is seated toward the body 11 and includes a second magnet 33 corresponding to the first magnet 31,
The first magnet (31) and the second magnet (33) are magnet-buffered probe pin array unit, characterized in that the same polarity is arranged to face each other so as to repel each other. 청구항 2에 있어서,
상기 몸체(11)는 상단에 전방으로 연장된 덮개부(25)를 형성하며,
상기 승강블록(13)은 상기 덮개부(25) 아래에서 상기 몸체(11) 전면에 장착된 승강가이드(27)를 따라 안내되면서 승강하도록 되어 있고,
상기 높이조정수단(15)은 상기 덮개부(25)를 상하로 관통하여 상기 몸체(11)에 나사 체결됨으로써, 상기 몸체(11)가 상기 덮개부(25) 아래에 상대 이동 가능하게 매달리도록 하는 조정볼트인 것을 특징으로 하는 자석 완충식 프로브핀 어레이유닛.3. The method according to claim 2,
The body 11 forms a cover portion 25 extending forward at the top,
The elevating block 13 is guided along the elevating guide 27 mounted on the front of the body 11 under the cover part 25 to elevate and elevate,
The height adjustment means 15 penetrates the cover part 25 up and down and is screwed to the body 11 so that the body 11 is movably suspended under the cover part 25 . Magnet buffer type probe pin array unit, characterized in that it is an adjustment bolt.
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