KR102098652B1 - Apparatus for testing display panel - Google Patents

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KR102098652B1
KR102098652B1 KR1020190096323A KR20190096323A KR102098652B1 KR 102098652 B1 KR102098652 B1 KR 102098652B1 KR 1020190096323 A KR1020190096323 A KR 1020190096323A KR 20190096323 A KR20190096323 A KR 20190096323A KR 102098652 B1 KR102098652 B1 KR 102098652B1
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KR
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guide
block
base plate
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display panel
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KR1020190096323A
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오제헌
이기덕
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주식회사 프로이천
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    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Abstract

The present invention relates to a test apparatus of a display panel which comprises: a base plate; a plurality of blocks coupled to the base plate and arranged in a horizontal direction; and probes individually coupled to the plurality of blocks to contact the panel. The base plate includes guides disposed along left and right directions. The plurality of blocks are movably disposed along the guides, respectively, so that intervals in the left and right directions of the plurality of blocks are adjusted in the test apparatus of the display panel.

Description

디스플레이 패널의 테스트 장치{Apparatus for testing display panel}Display panel test device {Apparatus for testing display panel}
실시예는 디스플레이 패널의 테스트 장치에 관한 것이다.
The embodiment relates to a test device for a display panel.
디스플레이 패널의 테스트 장치는 예컨대 디스플레이의 패널의 에이징 테스트를 위한 장치이다. 에이징은 디스플레이 패널의 제조 과정 중에 수행되는 공정으로, 디스플레이 패널이 제대로 구동되는지 확인하기 위한 신뢰성을 실험하는 공정이다.The test device of the display panel is, for example, a device for aging test of the panel of the display. Aging is a process that is performed during the manufacturing process of the display panel, and is a process of testing the reliability to confirm that the display panel is properly operated.
이러한 에이징 공정에서는 에이징 챔버 내에 디스플레이 패널을 베이스 플레이트에 결합된 복수 개의 블록에 프로브를 장착한 상태에서, 일정 시간 동안 전기적 신호를 인가하여 디스플레이가 정상적으로 작동하는지 검사한다.In this aging process, the probe is mounted on a plurality of blocks coupled to a base plate in a display panel in an aging chamber, and an electrical signal is applied for a period of time to check whether the display is operating normally.
디스플레이 패널의 테스트 장치에는 복수 개의 블록이 정렬되어 배치된다. 각각의 블록에는 디스플레이 패널과 접촉하는 프로브가 장착된다. 프로브와 디스플레이 패널의 접촉 위치는 정렬되어야 한다. 다만, 디스플레이 패널의 종류 및 크기에 따라 접촉 위치가 상이할 수 있다. 따라서, 종류나 크기가 다른 디스플레이 패널로 바뀔 때마다, 디스플레이 패널의 테스트 장치를 교체해야 하는 문제가 있다.
A plurality of blocks are arranged and arranged in the test apparatus of the display panel. Each block is equipped with a probe that contacts the display panel. The position of contact between the probe and the display panel must be aligned. However, the contact position may be different depending on the type and size of the display panel. Therefore, whenever the type or size is changed to a different display panel, there is a problem in that the test device of the display panel needs to be replaced.
대한민국 등록특허 제10-1795615호(2017.11.02. 공고)Republic of Korea Registered Patent No. 10-1795615 (Nov. 02, 2017 announcement)
본 발명은 다양한 종류와 크기를 가지는 디스플레이 패널에 호환 가능한 디스플레이 패널의 테스트 장치를 제공하는 것을 그 해결하고자 하는 과제로 삼는다. The present invention aims to solve the problem of providing a test apparatus for a display panel compatible with a display panel having various types and sizes.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급된 과제에 국한되지 않으며 여기서 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
The problems to be solved by the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned herein will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
실시예는, 베이스 플레이트와, 상기 베이스 플레이트에 결합하며 좌우방향으로 정렬되어 배치되는 복수 개의 블록과, 복수 개의 상기 블록에 각각 결합하여 패널과 접촉하는 프로브를 포함하고, 상기 베이스 플레이트는 좌우방향을 따라 배치되는 가이드를 포함하고, 복수 개의 상기 블록은 각각 상기 가이드를 따라 이동 가능하게 배치되어, 복수 개의 상기 블록의 좌우방향 간격이 조절되는 디스플레이 패널의 테스트 장치를 제공할 수 있다.The embodiment includes a base plate, a plurality of blocks coupled to the base plate and arranged in the left and right directions, and probes coupled to the plurality of blocks to contact the panel, and the base plate has left and right directions. It includes a guide that is disposed along, the plurality of blocks are respectively disposed to be movable along the guide, it is possible to provide a test apparatus for a display panel in which the spacing in the left and right directions of the plurality of blocks is adjusted.
바람직하게는, 물리적으로 상기 블록과 상기 베이스를 고정시키는 구성과, 전기 신호에 대응하여 발생하는 자력에 의해 상기 블록과 상기 베이스를 결합시키는 구성이 조합된 고정부를 더 포함할 수 있다.Preferably, the block may further include a fixing unit configured to physically fix the block and the base, and a combination of the block and the base by magnetic force generated in response to an electrical signal.
바람직하게는, 전기 신호에 대응하여 발생하는 자력에 의해 상기 베이스 플레이트에 선택적으로 고정될 수 있다.Preferably, it can be selectively fixed to the base plate by a magnetic force generated in response to an electrical signal.
바람직하게는, 상기 블록에 고정되며 상기 베이스 플레이트와 접촉하는 전자석과, 상기 전자석에 전기를 선택적으로 공급하는 스위치부를 포함할 수 있다.Preferably, an electromagnet fixed to the block and contacting the base plate and a switch part selectively supplying electricity to the electromagnet may be included.
바람직하게는, 상하방향으로 상기 블록을 관통하여 상기 베이스 플레이트과 접촉하여, 상기 블록을 상기 베이스 플레이트에 가 고정하는 제2 볼트를 포함할 수 있다.Preferably, it may include a second bolt that penetrates the block in the vertical direction and contacts the base plate to temporarily fix the block to the base plate.
바람직하게는. 상기 가이드는, 상기 제1 LM가이드와 상기 제2 LM가이드를 포함하고, 상기 제1 LM가이드와 상기 제2 LM가이드는 전후방향으로 이격배치될 수 있다.Preferably. The guide may include the first LM guide and the second LM guide, and the first LM guide and the second LM guide may be spaced apart in the front-rear direction.
바람직하게는, 상기 제1 LM가이드의 레일홈은 상면 및 하면에 배치되고, 상기 제2 LM가이드의 레일홈은 전면 및 후면에 배치될 수 있다.Preferably, the rail grooves of the first LM guide are disposed on the upper and lower surfaces, and the rail grooves of the second LM guide can be disposed on the front and rear surfaces.
바람직하게는, 상기 블록은 상기 가이드와 슬라이드 가능하게 결합하는 제1 가이드블록과 제2 가이드블록을 포함하고, 상기 제1 가이드블록과 상기 제2 가이드블록은 전후방향으로 이격배치될 수 있다.Preferably, the block includes a first guide block and a second guide block that are slidably coupled with the guide, and the first guide block and the second guide block can be spaced apart in the front-rear direction.
바람직하게는, 상기 제1 가이드블록은 상기 가이드가 배치되는 제1 홈을 포함하고, 상기 제2 가이드블록은 상기 가이드가 배치되는 제2 홈을 포함하고, 상기 제1 홈은 상기 제1 가이드블록의 후면에 배치되고, 상기 제2 홈은 상기 제2 가이드블록의 하면에 배치될 수 있다.
Preferably, the first guide block includes a first groove in which the guide is disposed, the second guide block includes a second groove in which the guide is disposed, and the first groove is the first guide block The second groove may be disposed on the lower surface of the second guide block.
실시예에 따르면, 다양한 종류와 크기를 가지는 디스플레이 패널에 호환 가능한 유리한 효과를 제공한다.According to an embodiment, it is possible to provide advantageous effects compatible with display panels having various types and sizes.
실시예에 따르면, 프로브의 간격 조정 후, 프로브의 고정이 용이한 이점이 있다.
According to the embodiment, after adjusting the spacing of the probe, there is an advantage that the probe is easily fixed.
도 1은 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 장치를 도시한 도면,
도 2는 도 1에서 도시한 디스플레이 패널의 테스트 장치의 분해도,
도 3은 블록의 도시한 도면,
도 4는 도 3에서 도시한 블록의 분해도,
도 5는 블록의 브라켓을 도시한 도면,
도 6은 가이드를 도시한 도면,
도 7은 제1 가이드블록과 제2 가이드블록이 배치된 브라켓의 측면도,
도 8은 베이스 플레이트에 결합된 블록의 측단면도,
도 9는 블록의 좌우방향 이동을 도시한 도면,
도 10은 제2 볼트를 포함하는 블록의 측단면도,
도 11은 전자석과 스위치부를 포함하는 블록의 측단면도이다.
1 is a view showing a test apparatus of a display panel according to an embodiment,
2 is an exploded view of a test apparatus of the display panel shown in FIG. 1,
3 is a view showing a block,
Figure 4 is an exploded view of the block shown in Figure 3,
5 is a view showing the bracket of the block,
6 is a view showing a guide,
7 is a side view of the bracket in which the first guide block and the second guide block are arranged,
8 is a side cross-sectional view of a block coupled to a base plate,
9 is a view showing a horizontal movement of the block,
10 is a side cross-sectional view of a block including a second bolt,
11 is a side cross-sectional view of a block including an electromagnet and a switch unit.
본 발명의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 명백해질 것이다. 그리고 본 명세서 및 특허청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정하여 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해서 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 관련된 공지기술에 대한 상세한 설명은 생략한다.
The objects, specific advantages and novel features of the present invention will become more apparent from the following detailed description and preferred embodiments associated with the accompanying drawings. In addition, the terms or words used in the present specification and claims should not be interpreted as being limited to ordinary or dictionary meanings, and the inventor appropriately defines the concept of terms in order to explain his or her invention in the best way. Based on the principle of being able to do it, it should be interpreted as a meaning and concept consistent with the technical idea of the present invention. And in describing the present invention, detailed descriptions of related well-known technologies that may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention are omitted.
도 1은 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 장치를 도시한 도면이고, 도 2는 도 1에서 도시한 디스플레이 패널의 테스트 장치의 분해도이다.1 is a diagram illustrating a test apparatus of a display panel according to an embodiment, and FIG. 2 is an exploded view of a test apparatus of a display panel illustrated in FIG. 1.
도 1 및 도 2를 참조하면, 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 장치는, 베이스 플레이트(100)와, 블록(200)과, 프로브(300)와, 가이드(400)를 포함할 수 있다. 이하, 도면에서, x축 방향은 디스플레이 패널의 테스트 장치의 좌우방향이며, y축 방향은 디스플레이 패널의 테스트 장치의 전후방향이며, z축 방향은 디스플레이 패널의 테스트 장치의 상하방향을 나타낸다.
1 and 2, a test apparatus of a display panel according to an embodiment may include a base plate 100, a block 200, a probe 300, and a guide 400. Hereinafter, in the drawings, the x-axis direction is the left-right direction of the test apparatus of the display panel, the y-axis direction is the front-rear direction of the test apparatus of the display panel, and the z-axis direction indicates the vertical direction of the test apparatus of the display panel.
높이방향(z)을 기준으로, 복수 개의 블록(200)이 베이스 플레이트(100)의 전방에 배치된다. 복수 개의 블록(200)은 좌우방향(x)을 따라 베이스 플레이트(100)에 배열될 수 있다. 블록(200)과 베이스 플레이트(100) 사이에는 브라켓(250)이 배치될 수 있다. 프로브(300)는 블록(200)의 하측에 배치된다. 가이드(400)는 베이스 플레이트(100)에 배치될 수 있다. 가이드(400)는 좌우방향(x)을 따라 배치될 수 있다.
Based on the height direction (z), a plurality of blocks 200 are arranged in front of the base plate 100. The plurality of blocks 200 may be arranged in the base plate 100 along the left and right directions (x). A bracket 250 may be disposed between the block 200 and the base plate 100. The probe 300 is disposed under the block 200. The guide 400 may be disposed on the base plate 100. The guide 400 may be disposed along the left and right directions (x).
도 3은 블록(200)의 도시한 도면이고, 도 4는 도 3에서 도시한 블록(200)의 분해도이다.FIG. 3 is a block diagram of block 200 and FIG. 4 is an exploded view of block 200 of FIG. 3.
도 2 및 도 3을 참조하면, 베이스 플레이트(100)는 상면에서 오목하게 형성된 슬롯(110)을 포함한다. 슬롯(110)에는 가이드(400)가 배치될 수 있다. 복수 개의 블록(200)은 가이드(400)에 슬라이드 가능하게 결합한다. 프로브(300)는 블록(200)의 하측에 결합한다. 프로브(300)는 베이스 플레이트(100)의 전방에 위치한다. 블록(200)은 좌우방향(x)으로 가이드(400)를 따라 이동 가능하게 배치된다.
2 and 3, the base plate 100 includes a slot 110 formed concave on the top surface. A guide 400 may be disposed in the slot 110. The plurality of blocks 200 are slidably coupled to the guide 400. The probe 300 is coupled to the lower side of the block 200. The probe 300 is located in front of the base plate 100. The block 200 is disposed to be movable along the guide 400 in the left-right direction (x).
도 4를 참조하면, 블록(200)은 제1 바디(210)와, 제2 바디(220)와, 제3 바디(230)와, 제4 바디(240)와, 브라켓(250)과, 전자석(260)과, 제1 볼트(270)를 포함할 수 있다. 제1 바디(210)는 전후방향(y)으로 길게 배치된다 제2 바디(220)는 제1 바디(210)의 하측에 배치될 수 있다. 제3 바디(230)는 제2 바디(220)의 하측에 배치될 수 있다. 제3 바디(230)의 하측에는 프로브(300)가 배치될 수 있다. 제4 바디(240)는 제1 바디(210)와 제2 바디(220)와 연결한다. 제4 바디(240)는 상하방향(z)으로 슬라이드 가능하게 구성되어, 제2 바디(220)를 상하방향(z)으로 이동시킨다. 브라켓(250)은 제1 바디(210)를 베이스 플레이트(100)에 결합시킨다. 전자석(260)은 제1 바디(210)에 배치된다. 그리고 전자석(260)은 브라켓(250)을 관통하도록 배치된다. 제1 볼트(270)는 제1 바디(210)와 제2 바디(220)에 체결되어, 제4 바디(240)의 상하방향(z) 위치를 조절한다. 체결부재(201)는 제1 바디(210)와 제2 바디(220)를 고정한다.
Referring to FIG. 4, the block 200 includes a first body 210, a second body 220, a third body 230, a fourth body 240, a bracket 250, and an electromagnet 260 and a first bolt 270 may be included. The first body 210 is disposed long in the front-rear direction (y). The second body 220 may be disposed under the first body 210. The third body 230 may be disposed under the second body 220. The probe 300 may be disposed under the third body 230. The fourth body 240 is connected to the first body 210 and the second body 220. The fourth body 240 is configured to be slidable in the vertical direction (z), and moves the second body 220 in the vertical direction (z). The bracket 250 couples the first body 210 to the base plate 100. The electromagnet 260 is disposed on the first body 210. In addition, the electromagnet 260 is disposed to penetrate the bracket 250. The first bolt 270 is fastened to the first body 210 and the second body 220 to adjust the vertical (z) position of the fourth body 240. The fastening member 201 fixes the first body 210 and the second body 220.
도 5는 블록(200)의 브라켓(250)을 도시한 도면이다.5 is a view showing the bracket 250 of the block 200.
도 4 및 도 5를 참조하면, 브라켓(250)은 제1 홀(251)과 제2 홀(252)을 포함할 수 있다. 제1 홀(251)에는 스토퍼(271)와 제2 볼트(272)를 포함할 수 있다. 스토퍼(271)는 제1 볼트(270)와 함께, 베이스 플레이트(100)에 브라켓(250)을 가 고정시키는 역할을 한다. 제2 볼트(272)는 상하방향(z)으로 제1 바디(210)를 관통하여 제1 홀(251)에 삽입된다. 제2 홀(252)에는 전자석(260)이 배치될 수 있다. 브라켓(250)에는 제1 가이드블록(280)과 제2 가이드(290)이 배치될 수 있다.
4 and 5, the bracket 250 may include a first hole 251 and a second hole 252. The first hole 251 may include a stopper 271 and a second bolt 272. The stopper 271 serves to fix the bracket 250 to the base plate 100 together with the first bolt 270. The second bolt 272 penetrates the first body 210 in the vertical direction z and is inserted into the first hole 251. An electromagnet 260 may be disposed in the second hole 252. A first guide block 280 and a second guide 290 may be disposed on the bracket 250.
도 6은 가이드(400)를 도시한 도면이다.6 is a view showing the guide 400.
도 3 및 도 6을 참조하면, 블록(200)은 가이드(400)를 따라 좌우방향(x)으로 이동가능하게 배치된다. 가이드(400)는 제1 LM가이드(410)와 제2 LM가이드(420)를 포함할 수 있다. 제1 LM가이드(410)와 제2 LM가이드(420)는 좌우방향(x)을 따라 나란히 배치될 수 있다. 제1 LM가이드(410)와 제2 LM가이드(420)는 전후방향(y)으로 이격 배치될 수 있다.
3 and 6, the block 200 is disposed to be movable in the left-right direction (x) along the guide 400. The guide 400 may include a first LM guide 410 and a second LM guide 420. The first LM guide 410 and the second LM guide 420 may be arranged side by side along the left-right direction x. The first LM guide 410 and the second LM guide 420 may be spaced apart in the front-rear direction (y).
제1 LM가이드(410)에는 제1 가이드블록(280)이 슬라이드 가능하게 결합한다. 제2 LM가이드(420)에는 제2 가이드블록(290)이 슬라이드 가능하게 결합한다. 제1 LM가이드(410)와 제1 가이드블록(280)의 결합방향과, 제2 LM가이드(420)와 제2 가이드(290)의 결합방향이 상이할 수 있다. 예를 들어, 제1 LM가이드(410)의 레일홈(413)은 제1 LM가이드(410)의 상면(411) 및 하면(412)에 배치될 수 있다. 반면에, 제2 LM가이드(420)의 레일홈(423)은 제2 LM가이드(420)의 전면(421) 및 후면(422)에 배치될 수 있다. 이는 제1 LM가이드(410)와 제1 가이드블록(280)의 결합방향과, 제2 LM가이드(420)와 제2 가이드(290)의 결합방향이 동일하면, 제1 LM가이드(410)와 제1 가이드블록(280) 사이 또는 제2 LM가이드(420)와 제2 가이드블록(290)에 배치되는 볼과의 유격에서 발생하는 공차가 누적되어 프로브(300)의 위치에 오차가 발생하는 것을 방지하기 위함이다.
The first guide block 280 is slidably coupled to the first LM guide 410. The second guide block 290 is slidably coupled to the second LM guide 420. The coupling direction of the first LM guide 410 and the first guide block 280 may be different from the coupling direction of the second LM guide 420 and the second guide 290. For example, the rail groove 413 of the first LM guide 410 may be disposed on the upper surface 411 and the lower surface 412 of the first LM guide 410. On the other hand, the rail groove 423 of the second LM guide 420 may be disposed on the front 421 and rear 422 of the second LM guide 420. This, if the coupling direction of the first LM guide 410 and the first guide block 280 and the coupling direction of the second LM guide 420 and the second guide 290 are the same, the first LM guide 410 Tolerance that occurs in the clearance between the first guide block 280 or the ball disposed in the second LM guide 420 and the second guide block 290 accumulates to generate an error in the position of the probe 300 This is to prevent.
도 7은 제1 가이드블록(280)과 제2 가이드블록(290)이 배치된 브라켓(250)의 측면도이다.7 is a side view of the bracket 250 in which the first guide block 280 and the second guide block 290 are disposed.
도 7을 참조하면, 제1 가이드블록(280)과 제2 가이드블록(290)은 브라켓(250)의 하면에 결합될 수 있다. 제1 가이드블록(280)은 후면(281)에 제1 홈(282)이 배치될 수 있다. 제2 가이드블록(290)은 하면(291)에 제2 홈(292)이 배치될 수 있다. 제1 홈(282)은 제1 LM가이드(410)과 결합을 위한 것이며, 제2 홈(292)은 제2 LM가이드(420)와 결합을 위한 것이다.
Referring to FIG. 7, the first guide block 280 and the second guide block 290 may be coupled to the lower surface of the bracket 250. The first guide block 280 may have a first groove 282 disposed on the rear surface 281. A second groove 292 may be disposed on the lower surface 291 of the second guide block 290. The first groove 282 is for coupling with the first LM guide 410, and the second groove 292 is for coupling with the second LM guide 420.
도 8은 베이스 플레이트(100)에 결합된 블록(200)의 측단면도이다.8 is a side cross-sectional view of the block 200 coupled to the base plate 100.
도 8을 참조하면, 스토퍼(271)와 제2 볼트(272)가 브라켓(250)의 내측에 배치된다. 제2 볼트(272)는 브라켓(250)을 관통하여 베이스 플레이트(100)와 접촉하도록 배치될 수 있다. 전자석(260)은 브라켓(250)의 내측에 배치된다. 전자석(260)도 브라켓(250)을 관통하여 베이스 플레이트(100)와 접촉하도록 배치될 수 있다. 프로브(300)는 상하방향(z)으로 베이스 플레이트(100)의 하측에 배치될 수 있다.
Referring to FIG. 8, a stopper 271 and a second bolt 272 are disposed inside the bracket 250. The second bolt 272 may be disposed to penetrate the bracket 250 and contact the base plate 100. The electromagnet 260 is disposed inside the bracket 250. The electromagnet 260 may also be disposed to penetrate the bracket 250 and contact the base plate 100. The probe 300 may be disposed below the base plate 100 in the vertical direction z.
도 9는 블록(200)의 좌우방향 이동을 도시한 도면이다.9 is a view showing the movement of the block 200 in the left and right directions.
도 9를 참조하면, 블록(200)은 가이드(400)를 따라 좌우방향(x)으로 이동한다. 따라서 작업자는 디스플레이 패널의 패드 위치에 대응하여, 블록(200)의 좌우방향 간격을 조절할 수 있다. 블록(200)이 좌우방향 간격이 조절되면, 프로브(300)의 위치도 조절되기 때문에, 다양한 디스플레이 패널을 테스트할 수 있는 이점이 있다.
Referring to FIG. 9, the block 200 moves in the left-right direction (x) along the guide 400. Therefore, the operator can adjust the spacing in the left and right directions of the block 200 in response to the pad position of the display panel. When the distance between the blocks 200 is adjusted in the left-right direction, the position of the probe 300 is also adjusted, which is advantageous in testing various display panels.
도 10은 제2 볼트(272)를 포함하는 블록(200)의 측단면도이고, 도 11은 전자석(260)과 스위치부를 포함하는 블록(200)의 측단면도이다.10 is a side cross-sectional view of a block 200 including a second bolt 272, and FIG. 11 is a side cross-sectional view of a block 200 including an electromagnet 260 and a switch.
도 9 내지 도 11을 참조하면, 프로브(300)의 하부에는 핀(310)이 배치된다. 핀(310)은 디스플레이 패널의 패드와 접촉하는 부분이다. 핀(310)은 복수 개가 배치될 수 있다. 복수 개의 핀(310)은 좌우방향(x)을 따라 배열될 수 있다.
9 to 11, a pin 310 is disposed under the probe 300. The pin 310 is a portion in contact with the pad of the display panel. A plurality of pins 310 may be disposed. The plurality of pins 310 may be arranged along the left and right directions (x).
디스플레이 패널의 테스트가 진행되는 동안, 각각의 블록(200)에 배치된 전자석(260)에는 전기가 공급될 수 있다. 전자석(260)과 전기적으로 연결된 스위치부(S)가 마련될 수 있다. 전자석(260)에 전기가 공급되면 전자석(260)은 자성을 가진다. 전자석(260)의 자력으로 블록(200)은 해당 위치에서 베이스 플레이트(100)에 고정된다.
During the test of the display panel, electricity may be supplied to the electromagnet 260 disposed in each block 200. A switch part S electrically connected to the electromagnet 260 may be provided. When electricity is supplied to the electromagnet 260, the electromagnet 260 is magnetic. With the magnetic force of the electromagnet 260, the block 200 is fixed to the base plate 100 at the corresponding position.
디스플레이 패널의 패드의 위치에 대응하여, 블록(200)의 좌우방향(x) 위치의 조절이 필요한 경우, 스위치부(S)를 통해 전자석(260)에 대한 공급되는 전기를 차단하고, 제2 볼트(272)를 느슨하게 풀러, 블록(200)과 가이드(400) 사이의 구속을 해제한다.
In response to the position of the pad of the display panel, if adjustment of the left and right direction (x) position of the block 200 is necessary, the electricity supplied to the electromagnet 260 is cut through the switch unit S, and the second bolt Loosen 272 to release the restraint between block 200 and guide 400.
이후, 작업자는 디스플레이 패널의 패드의 위치에 대응하여, 블록(200)의 좌우방향 위치를 변경한다. 다음으로, 작업자는 제2 볼트(272)를 조여 해당 블록(200)과 베이스 플레이트(100)를 가 고정한다. 모든 블록(200)에 대한 좌우방향 위치가 변경 된 후, 작업자는 스위치부(S)를 통해 각각의 블록(200)에 배치된 전자석(260)에 전기를 공급할 수 있다. 전자석(260)에 전기가 공급되면, 자력을 통해 블록(200)과 베이스 플레이트(100)가 구속된다. 이렇게 프로브(300)의 위치가 고정된 상태에서, 디스플레이 패널의 테스트가 수행된다.
Thereafter, the operator changes the position in the left and right directions of the block 200 in response to the position of the pad of the display panel. Next, the operator tightens the second bolt 272 to temporarily fix the block 200 and the base plate 100. After the positions in the left and right directions for all the blocks 200 are changed, the operator can supply electricity to the electromagnets 260 disposed in each block 200 through the switch unit S. When electricity is supplied to the electromagnet 260, the block 200 and the base plate 100 are constrained through magnetic force. In this way, while the position of the probe 300 is fixed, a test of the display panel is performed.
이상으로 본 발명의 바람직한 하나의 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 장치에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 살펴보았다. As described above, the test apparatus of the display panel according to an exemplary embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the accompanying drawings.
전술된 본 발명의 일 실시예는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 본 발명의 범위는 전술된 상세한 설명보다는 후술될 특허청구범위에 의해 나타내어질 것이다. 그리고 이 특허청구범위의 의미 및 범위는 물론 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형 가능한 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.It should be understood that the above-described embodiment of the present invention is illustrative and not restrictive in all respects, and the scope of the present invention will be indicated by the claims below, rather than the detailed description above. And it should be interpreted that the meaning and scope of the claims, as well as any alterable or deformable forms derived from the equivalent concept, are included in the scope of the present invention.
100: 플레이트
200: 블록
210: 제1 바디
220: 제2 바디
230: 제3 바디
240: 제4 바디
250: 브라켓
260: 전자석
270: 제1 볼트
300: 프로브
400: 가이드
410: 제1 LM가이드
420: 제2 LM가이드
100: plate
200: block
210: first body
220: second body
230: third body
240: fourth body
250: bracket
260: electromagnet
270: first bolt
300: probe
400: guide
410: first LM guide
420: Second LM Guide

Claims (9)

  1. 베이스 플레이트;
    상기 베이스 플레이트에 결합하며 좌우방향으로 정렬되어 배치되는 복수 개의 블록;
    복수 개의 상기 블록에 각각 결합하여 패널과 접촉하는 프로브를 포함하고,
    상기 베이스 플레이트는 좌우방향을 따라 배치되는 가이드를 포함하고,
    복수 개의 상기 블록은 각각 상기 가이드를 따라 이동 가능하게 배치되어,
    복수 개의 상기 블록의 좌우방향 간격이 조절되고,
    물리적으로 상기 블록을 상기 베이스 플레이트에 고정시키는 구성으로서, 상하방향으로 상기 블록을 관통하여 상기 베이스 플레이트와 접촉하여, 상기 블록을 상기 베이스 플레이트에 가 고정하는 볼트를 포함하고,
    전기 신호에 대응하여 발생하는 자력에 의해 상기 블록을 상기 베이스 플레이트에 선택적으로 고정시키는 구성으로서, 상기 블록에 고정되며 상기 베이스 플레이트와 접촉하는 전자석과, 상기 전자석에 전기를 선택적으로 공급하는 스위치부를 포함하여,
    상기 블록의 좌우방향 위치의 조절을 위해 상기 스위치부를 통해 상기 전자석에 공급되는 전기를 차단하고, 상기 볼트를 느슨하게 풀러 상기 베이스 플레이트에 대한 상기 블록의 구속을 해제하고, 상기 블록의 좌우방향 위치가 변경된 후 상기 볼트를 조여 상기 베이스 플레이트에 상기 블록을 가 고정하고, 상기 스위치부를 통해 상기 전자석에 전기를 공급하여 상기 베이스 플레이트에 상기 블록이 구속되도록 하며,
    상기 가이드는, 제1 LM가이드와 제2 LM가이드를 포함하고
    상기 제1 LM가이드와 상기 제2 LM가이드는 전후방향으로 이격배치되고,
    상기 제1 LM가이드의 레일홈은 상면 및 하면에 배치되고,
    상기 제2 LM가이드의 레일홈은 전면 및 후면에 배치되고,
    상기 블록은 상기 가이드와 슬라이드 가능하게 결합하는 제1 가이드블록과 제2 가이드블록을 포함하고,
    상기 제1 가이드블록과 상기 제2 가이드블록은 전후방향으로 이격배치되고,
    상기 제1 가이드블록은 상기 가이드가 배치되는 제1 홈을 포함하고,
    상기 제2 가이드블록은 상기 가이드가 배치되는 제2 홈을 포함하고,
    상기 제1 홈은 상기 제1 가이드블록의 후면에 배치되고,
    상기 제2 홈은 상기 제2 가이드블록의 하면에 배치되는 디스플레이 패널의 테스트 장치.
    Base plate;
    A plurality of blocks coupled to the base plate and arranged in a horizontal direction;
    Each of the plurality of blocks is coupled to each of the probes in contact with the panel,
    The base plate includes a guide disposed along the left and right directions,
    Each of the plurality of blocks is disposed to be movable along the guide,
    The left and right spacing of the plurality of blocks is adjusted,
    As a configuration for physically fixing the block to the base plate, and includes a bolt that penetrates the block in the vertical direction and contacts the base plate to temporarily fix the block to the base plate,
    A configuration for selectively fixing the block to the base plate by a magnetic force generated in response to an electrical signal, and includes an electromagnet fixed to the block and contacting the base plate, and a switch part for selectively supplying electricity to the electromagnet So,
    In order to adjust the position of the block in the left-right direction, the electricity supplied to the electromagnet is cut off through the switch part, the bolt is loosened to release the block from the block relative to the base plate, and the left-right position of the block is changed. After tightening the bolt, the block is temporarily fixed to the base plate, and electricity is supplied to the electromagnet through the switch so that the block is constrained to the base plate.
    The guide includes a first LM guide and a second LM guide,
    The first LM guide and the second LM guide are spaced apart in the front-rear direction,
    Rail grooves of the first LM guide are disposed on the upper and lower surfaces,
    The rail groove of the second LM guide is disposed on the front and rear,
    The block includes a first guide block and a second guide block slidably coupled with the guide,
    The first guide block and the second guide block are spaced apart in the front-rear direction,
    The first guide block includes a first groove in which the guide is disposed,
    The second guide block includes a second groove in which the guide is disposed,
    The first groove is disposed on the rear side of the first guide block,
    The second groove is a test apparatus for a display panel disposed on a lower surface of the second guide block.
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Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020065103A (en) * 2001-02-05 2002-08-13 메카텍스 (주) Panel Sending Apparatus of Liquid Crystal Display Inspection System
JP2004170239A (en) * 2002-11-20 2004-06-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Lighting inspection device for display panel
KR100604416B1 (en) * 2006-04-10 2006-07-25 주식회사 코디에스 Apparatus for inspection of flat display panel
KR100913188B1 (en) * 2008-05-02 2009-08-20 (주)유비프리시젼 Support for all sizes panel of worktable usingtesting device for display panel
KR20100051269A (en) * 2008-11-07 2010-05-17 주식회사 크라또 Probe unit being capable of delicate adjustment of probe
KR20100058395A (en) * 2008-11-24 2010-06-03 주식회사 코디에스 Testing apparatus for flat panel display
KR20110138652A (en) * 2010-06-21 2011-12-28 주식회사 디엠엔티 Probe unit for inspecting display panel
KR101732629B1 (en) * 2016-03-04 2017-05-04 가온솔루션 주식회사 Alignment device for multi probe unit
KR101795615B1 (en) 2017-08-14 2017-11-09 주식회사 프로이천 Probe block for aging test of display panel
KR101958206B1 (en) * 2018-07-31 2019-07-02 가온솔루션 주식회사 Alignment device for multi probe unit
KR101961692B1 (en) * 2018-08-03 2019-07-17 주식회사 프로이천 Apparatus for testing display panel

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020065103A (en) * 2001-02-05 2002-08-13 메카텍스 (주) Panel Sending Apparatus of Liquid Crystal Display Inspection System
JP2004170239A (en) * 2002-11-20 2004-06-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Lighting inspection device for display panel
KR100604416B1 (en) * 2006-04-10 2006-07-25 주식회사 코디에스 Apparatus for inspection of flat display panel
KR100913188B1 (en) * 2008-05-02 2009-08-20 (주)유비프리시젼 Support for all sizes panel of worktable usingtesting device for display panel
KR20100051269A (en) * 2008-11-07 2010-05-17 주식회사 크라또 Probe unit being capable of delicate adjustment of probe
KR20100058395A (en) * 2008-11-24 2010-06-03 주식회사 코디에스 Testing apparatus for flat panel display
KR20110138652A (en) * 2010-06-21 2011-12-28 주식회사 디엠엔티 Probe unit for inspecting display panel
KR101732629B1 (en) * 2016-03-04 2017-05-04 가온솔루션 주식회사 Alignment device for multi probe unit
KR101795615B1 (en) 2017-08-14 2017-11-09 주식회사 프로이천 Probe block for aging test of display panel
KR101958206B1 (en) * 2018-07-31 2019-07-02 가온솔루션 주식회사 Alignment device for multi probe unit
KR101961692B1 (en) * 2018-08-03 2019-07-17 주식회사 프로이천 Apparatus for testing display panel

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