KR102272262B1 - Hander for testing electronic components - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다.
본 발명에 따르면 전자부품의 식별자를 인식하는 식별자 인식장치의 인식 방향이 전환될 수 있다. 이에 따라 테스트시스템의 구축비용 및 생산 단가가 절감되고, 핸들러의 가동률이 향상될 수 있다.The present invention relates to a handler for testing electronic components.
According to the present invention, the recognition direction of the identifier recognition device for recognizing the identifier of the electronic component can be switched. Accordingly, the construction cost and production unit cost of the test system can be reduced, and the operation rate of the handler can be improved.
Description
본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것으로, 특히 테스트되는 전자부품들을 개별 관리하는 기술과 관련된다.The present invention relates to a handler for testing electronic components, and more particularly, to a technology for individually managing electronic components to be tested.
생산된 전자부품들은 테스터에 의해 테스트된 후 양품과 불량품으로 나뉘어서 양품만이 출하된다.Produced electronic components are tested by testers and then divided into good and defective products, and only good products are shipped.
전자부품의 테스트 시에 테스터와 전자부품의 전기적인 연결은 전자부품 테스트용 핸들러(이하 '핸들러'라 함)에 의해 이루어진다.When testing an electronic component, the electrical connection between the tester and the electronic component is made by a handler for testing electronic components (hereinafter referred to as a 'handler').
핸들러의 기술과 관련해서는 대한민국 공개특허 10-2016-0135403호(이하 '종래기술'이라 함)등 다수의 특허문헌을 통해 제시되어 있다.Regarding the technology of the handler, it has been suggested through a number of patent documents such as Korean Patent Publication No. 10-2016-0135403 (hereinafter referred to as 'prior art').
일반적으로 도 1에서와 같이 핸들러(100)는 로딩장치(111), 소크챔버(113), 테스트챔버(115), 연결장치(116), 디소크챔버(117), 언로딩장치(119), 공급 스택커(120a, 120b)들, 회수 스택커(121a 내지 121c)들 및 트랜스퍼장치(122)를 포함한다.In general, as in FIG. 1 , the
로딩장치(111)는 공급위치(SP)에 있는 운반용 트레이(CT)로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩위치(LP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로 로딩시킨다.The
소크챔버(113)는 로딩위치(LP)에서 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품들에 열적인 자극을 가하기 위해 마련된다. 생산된 전자부품은 상온에서 테스트되는 경우도 있지만, 열적으로 열악한 사용 환경(고온 또는 저온)을 고려할 필요가 있기 때문에, 대개의 경우 고온 또는 저온 상태에서 테스트된다. 이러한 열적인 자극을 가하기 위해 소크챔버(113)가 구비되는 것이다.The
테스트챔버(115)는 소크챔버(113)를 거쳐 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품들이 테스트될 수 있는 공간을 제공한다. 이를 위해 테스터(TESTER)는 테스트챔버(115) 측으로 결합되어 있다.The
연결장치(116)는 테스트챔버(115) 내의 테스트위치(TP)에 있는 테스트용 트레이(TT)의 전자부품들을 테스터(TERSTER)의 테스트소켓 측으로 가압하여 전자부품들이 테스트소켓에 전기적으로 연결될 수 있게 한다.The
디소크챔버(117)는 테스트챔버(115)에서 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품으로부터 열적인 자극을 제거하기 위해 마련된다. 따라서 디소크챔버(117) 내에서 열적인 자극이 제거된 전자부품은 언로딩장치(119)에 의해 테스트용 트레이(TT)로부터 적절히 언로딩될 수 있게 된다.The
언로딩장치(119)는 언로딩위치(UP)로 온 테스트용 트레이(TT)로부터 전자부품들을 언로딩시키면서 회수위치(RP)에 있는 빈 운반용 트레이(CT)로 이동시킨다.The
참고로, 위의 로딩위치(LP), 테스트위치(TP) 및 언로딩위치(UP)는 테스트용 트레이(TT)의 위치를 기준으로 명칭되며, 테스트용 트레이(TT)에는 다수의 전자부품들이 적재될 수 있고, 이송장치(도시되지 않음)들에 의해 위의 로딩위치(LP), 테스트위치(TP) 및 언로딩위치(UP)를 거쳐 로딩위치(LP)로 이어지는 폐쇄된 순환경로(C)를 따라 이송된다.For reference, the above loading position (LP), test position (TP), and unloading position (UP) are named based on the position of the test tray (TT), and a plurality of electronic components are located in the test tray (TT). A closed circular path C that can be loaded and leads to the loading position LP via the loading position LP, the test position TP and the unloading position UP above by means of transport devices (not shown) ) is transported along the
스택커부분(SPT)에 구비되는 공급 스택커(120a, 120b)에는 테스트되어야 할 전자부품들이 실린 운반용 트레이(CT)들이 적재되어 있고, 회수 스택커(121a 내지 121c)에는 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 운반용 트레이(CT)들이 적재된다.Transport trays CT on which electronic components to be tested are loaded are loaded in the
트랜스퍼장치(122)는 공급 스택커(120a, 120b)들로부터 운반용 트레이(CT)를 인출하여 공급위치(SP)로 공급하거나, 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)를 회수 스택커(121a 내지 121c)들로 회수한다. 이를 위해 트랜스퍼장치(122)는 운반용 트레이(CT)를 이동시키기 위한 적어도 하나의 트랜스퍼를 가진다.The
위와 같은 구성을 가지는 핸들러(100)에서 테스트되어야 할 전자부품들은 운반용 트레이(CT)를 따라서 공급 스택커(120a, 120b)로부터 공급위치(SP)로 공급되고, 테스트가 완료된 전자부품들은 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)를 따라서 회수위치(RP)로부터 회수 스택커(121a 내지 121c)로 회수된다.Electronic components to be tested in the
한편, 근래에는 전자부품들에 구비된 바코드를 인식한 후, 해당 전자부품들의 이력(생산 공장 또는 라인, 랏 정보 등)과 테스트 결과를 개별적으로 관리하게 되었다. 이에 따라 종래기술에서와 같이, 핸들러에는 바코드를 읽을 수 있는 스캐너가 구비된다.Meanwhile, in recent years, after recognizing barcodes provided on electronic components, the history (production plant, line, lot information, etc.) and test results of the corresponding electronic components have been individually managed. Accordingly, as in the prior art, the handler is provided with a scanner capable of reading a barcode.
대개의 경우 핸들러(100)는 서로 다른 랏의 물량들이 섞이는 것을 방지하기 위해 1랏의 물량을 기준으로 1회 가동된다. 그런데, 반도체소자가 수십 개씩 탑재된 모듈램과 같은 대형 전자부품은 최종 생산 제품에 특화되어 제작되기 때문에 1랏의 물량이 적다. 따라서 여러 개의 랏 물량을 테스트하기 위해서는 핸들러(100)를 여러 번 가동해야 되고, 이는 핸들러(100)의 가동률이 떨어트리는데 기여한다.In most cases, the
또한, 기존에는 전자부품들의 특정 면에 바코드를 위치시키고 있지만, 장차 바코드가 특정 면의 반대 면에 위치되는 경우를 배제시킬 수는 없다. 만일 바코드가 반대 면에 위치되면, 반대 면의 바코드를 인식할 수 있는 핸들러를 사용하거나 서로 다른 면의 바코드를 읽을 수 있는 스캐너들을 모두 구비하여야만 할 것이다.In addition, although barcodes are located on a specific side of electronic components in the past, a case in which a barcode is located on the opposite side of the specific side cannot be excluded in the future. If the barcode is located on the opposite side, a handler capable of recognizing the barcode on the opposite side must be used or all scanners capable of reading barcodes on the other side must be provided.
더 나아가 전자부품들이 서로 섞이더라도 여러 랏의 물량을 핸들러의 1회 가동으로 처리하는 것을 가정하면, 바코드의 위치가 서로 다른 면에 있는 랏들은 핸들러로 함께 공급될 수 없고, 이러한 점도 핸들러(100)의 가동률을 떨어트리는 원인이 된다.Furthermore, even if electronic components are mixed with each other, assuming that the quantity of several lots is processed with one operation of the handler, lots with barcode positions on different sides cannot be supplied together to the handler, and this also points to the handler (100) cause a decrease in the operating rate of
본 발명은 다음과 같은 목적을 가진다.The present invention has the following objects.
첫째, 바코드와 같은 식별자가 구비된 면이 서로 다른 랏의 전자부품들을 모두 처리할 수 있는 핸들러를 제시한다.First, a handler capable of handling all electronic components of lots with different sides provided with an identifier such as a barcode is proposed.
둘째, 핸들러의 1회 가동으로 바코드가 구비된 면이 서로 다른 여러 랏의 전자부품들을 처리할 수 있고, 더 나아가 서로 다른 랏의 전자부품들이 섞이는 것을 방지할 수 있는 핸들러를 제시한다.Second, we present a handler that can process electronic components of several lots with different barcode-equipped surfaces by one-time operation of the handler, and can further prevent the electronic components of different lots from being mixed.
본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 공급위치에 있는 운반용 트레이로부터 로딩위치에 있는 테스트용 트레이로 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩시키는 로딩장치; 상기 로딩장치에 의해 이동되는 전자부품들에 개개별로 구비된 식별자를 인식하는 식별자 인식장치; 상기 로딩장치에 의해 로딩이 완료된 후 상기 로딩위치에서 테스트위치로 이동된 테스트용 트레이에 실린 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결장치; 전자부품들의 테스트가 완료된 후 상기 테스트위치에서 언로딩위치로 이동된 테스트용 트레이로부터 테스트가 완료된 전자부품들을 언로딩시켜서 회수위치에 있는 운반용 트레이로 이동시키는 언로딩장치; 상기 공급위치로 테스트되어야 할 전자부품이 실린 운반용 트레이들을 공급하거나 상기 회수위치에서 회수되는 테스트가 완료된 전자부품이 실린 운반용 트레이들을 회수하기 위해 다수의 운반용 트레이들이 적재될 수 있는 스택커부분; 테스트되어야 할 전자부품들이 실린 운반용 트레이를 상기 스택커부분에서 상기 공급위치로 공급하고, 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 운반용 트레이를 상기 회수위치에서 상기 스택커부분으로 회수하는 트랜스퍼장치; 및 상기한 각 구성들을 제어하며, 상기 식별자 인식장치에 의해 식별자가 인식된 전자부품들을 개개별로 관리하는 제어기; 를 포함하고, 상기 식별자 인식장치는 상기 로딩장치에 의해 이동되는 전자부품들에 있는 식별자들을 각각 인식하기 위한 다수개의 인식기; 상기 다수개의 인식기를 소정 각도 회전시켜서 상기 다수개의 인식기들의 인식 방향을 전환하는 전환기; 를 포함하고, 상기 제어기는 식별자를 인식할 수 있는 인식 방향에 따라 상기 다수개의 인식기들의 인식 방향을 전환시키도록 제어한다.A handler for testing electronic components according to the present invention includes: a loading device for loading electronic components to be tested from a transport tray at a supply position to a test tray at a loading position; an identifier recognizing device for recognizing identifiers individually provided to electronic components moved by the loading device; a connection device electrically connecting the electronic components loaded on the test tray moved from the loading position to the test position after the loading by the loading device is completed to the tester; an unloading device for unloading the electronic components that have been tested from the test tray moved from the test position to the unloading position after the test of the electronic components is completed and moving them to the transport tray located at the recovery position; a stacker portion on which a plurality of transport trays can be loaded in order to supply transport trays loaded with electronic components to be tested to the supply position or to collect transport trays loaded with electronic components that have been tested and retrieved from the recovery position; a transfer device for supplying a transport tray loaded with electronic components to be tested from the stacker part to the supply position, and recovering a transport tray loaded with electronic parts for which testing is completed from the recovery position to the stacker part; and a controller for controlling the respective components and individually managing the electronic components whose identifiers are recognized by the identifier recognition device. Including, wherein the identifier recognition device includes a plurality of recognizers for recognizing the identifiers in the electronic components moved by the loading device, respectively; a converter for rotating the plurality of recognizers by a predetermined angle to change the recognition directions of the plurality of recognizers; Including, the controller controls to switch the recognition direction of the plurality of recognizers according to the recognition direction that can recognize the identifier.
상기 식별자 인식장치는 상기 전환기에 의해 인식 방향이 전환된 각각의 인식기가 각각의 전자부품에 있는 식별자를 적절히 인식할 수 있는 위치로 이동하도록 상기 다수개의 인식기를 수평 방향으로 이동시키는 이동기; 를 더 포함한다.The identifier recognition apparatus includes: a mover for moving the plurality of recognizers in a horizontal direction so that each recognizer whose recognition direction is switched by the switcher can move to a position where the identifiers in each electronic component can be properly recognized; further includes
상기 스택커부분은 각각 운반용 트레이들을 수납 적재시킬 수 있는 복수개의 수납스택커를 포함하고, 상기 복수개의 수납스택커 중 적어도 하나의 수납스택커에는 다른 수납스택커와 랏이 다른 전자부품들이 실린 운반용 트레이가 수납 적재될 수 있으며, 상기 제어기는 상기 트랜스퍼장치에 의해 상기 공급위치에서 상기 회수위치를 거쳐 상기 복수개의 수납스택커로 회수될 개개의 운반용 트레이들을 개개의 운반용 트레이들이 각자 인출되었던 수납스택커로 그대로 회수되도록 상기 트랜스퍼장치를 제어하되, 상기 복수개의 수납스택커별로 전자부품의 랏 정보를 파악하여 상기 전환기의 작동 여부를 결정한다.The stacker part includes a plurality of storage stackers capable of receiving and stacking trays for transport, respectively, and at least one storage stacker of the plurality of storage stackers has different storage stackers and different electronic components for transport. Trays can be stored and stacked, and the controller transfers the individual transport trays to be recovered from the supply position through the recovery position to the plurality of storage stackers by the transfer device. The transfer device is controlled so as to be retrieved as it is, but the lot information of the electronic component is determined for each of the plurality of storage stackers to determine whether the converter is operated.
상기 다수개의 인식기들은 전자부품들보다 상측에 위치하며, 식별자를 인식하기 위한 인식 방향은 사선 방향이다.The plurality of recognizers are located above the electronic components, and the recognition direction for recognizing the identifier is a diagonal direction.
본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.According to the present invention, there are the following effects.
첫째, 인식기들에 의한 인식 방향의 전환으로 식별자가 구비된 면이 서로 다른 전자부품들도 모두 처리할 수 있도록 하여 구축비용을 절감할 수 있다.First, by changing the recognition direction by the recognizers, it is possible to reduce the construction cost by making it possible to process all electronic components having different surfaces with identifiers.
둘째, 인식기들의 수평 이동이 가능하기 때문에 인식기들의 개수를 늘릴 필요가 없어서 생산 단가를 절감할 수 있다.Second, since it is possible to move the recognizers horizontally, there is no need to increase the number of recognizers, thereby reducing the production cost.
셋째, 식별자가 구비된 면이 서로 다른 랏의 물량들도 연속적으로 처리될 수 있고, 운반용 트레이 및 그에 실린 전자부품들이 원래 인출되었던 수납스택커로 그대로 회수되기 때문에 서로 다른 랏의 물량들이 섞이는 것이 방지된다. 따라서 핸들러의 1회 가동에 의해 여러 랏의 물량이 연속적으로 테스트될 수 있어서 핸들러의 가동률을 향상시킨다.Third, quantities of different lots with different identifiers can be processed continuously, and the transport tray and electronic components loaded therein are returned as they are to the storage stacker from which they were originally drawn, preventing mixing of quantities of different lots do. Therefore, the quantity of several lots can be continuously tested by one operation of the handler, thereby improving the operation rate of the handler.
도 1은 종래의 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개념적인 평면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개념적인 평면도이다.
도 3은 도 2의 핸들러에 구비된 로딩테이블에 전자부품이 적재되어 있는 상태를 평면에서 보여준다.
도 4는 전자부품에서 바코드가 구비된 면을 설명하기 위한 참조도이다.
도 5는 도 2의 핸들러에 적용된 식별자 인식장치에 대한 일부 분해 사시도이다.
도 6은 로딩테이블이 전자부품의 바코드가 인식될 수 있는 인식위치에 위치되어 있는 상태를 정면에서 보여준다.
도 7는 식별자 인식장치의 인식 방향의 전환이 필요한 상황을 설명하기 위한 참조도이다.
도 8은 식별자 인식장치의 인식 방향이 전환된 상태를 보여준다.
도 9는 식별자 인식장치의 인식 영역을 교정한 상태를 보여준다.
도 10 내지 도 13은 식별자 인식장치의 다른 예들을 설명하기 위한 참조도이다.1 is a conceptual plan view of a conventional handler for testing electronic components.
2 is a conceptual plan view of a handler for testing electronic components according to an embodiment of the present invention.
3 is a plan view showing a state in which electronic components are loaded on a loading table provided in the handler of FIG. 2 .
4 is a reference view for explaining a surface provided with a barcode in an electronic component.
5 is a partially exploded perspective view of the identifier recognition device applied to the handler of FIG. 2 .
6 shows a state in which the loading table is positioned at a recognition position where the barcode of the electronic component can be recognized from the front.
7 is a reference diagram for explaining a situation in which the recognition direction of the identifier recognizing apparatus needs to be switched.
8 shows a state in which the recognition direction of the identifier recognizing apparatus is switched.
9 shows a state in which the recognition area of the identifier recognizing apparatus is calibrated.
10 to 13 are reference views for explaining other examples of the identifier recognition apparatus.
본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복 또는 실질적으로 동일한 구성에 대한 설명은 가급적 생략하거나 압축한다.A preferred embodiment according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings, but for the sake of brevity of the description, descriptions of overlapping or substantially the same components are omitted or compressed as much as possible.
<핸들러에 대한 설명><Description of the handler>
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러(200)에 대한 개념적인 평면도이다.2 is a conceptual plan view of a
도 2의 핸들러(200)는 로딩장치(211), 식별자 인식장치(212), 소크챔버(213), 제1 로테이터(214), 테스트챔버(215), 연결장치(216), 디소크챔버(217), 제2 로테이터(218), 언로딩장치(219), 스택커부분(220), 트랜스퍼장치(222), 라벨 프린터(223) 및 제어기(224)를 포함한다.The
로딩장치(211)는 공급위치(SP)에 있는 운반용 트레이(CT)로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩위치(LP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로 로딩시킨다. 이러한 로딩장치(211)는 로더(211a)와 로딩셔틀(211b)을 포함한다.The
로더(211a)는 공급위치(SP)에 있는 운반용 트레이(CT)로부터 로딩셔틀(211b)의 로딩테이블(211b-1)로 전자부품들을 이동시키거나, 로딩테이블(211b-1)로부터 로딩위치(LP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로 전자부품들을 이동시킨다.The
로딩셔틀(211b)은 전후 방향으로 왕복 이동이 가능한 로딩테이블(211b-1)을 가진다.The
로딩테이블(211b-1)은 그 이동에 의해 공급위치(SP)의 좌측에 위치되거나 로딩위치(LP)의 좌측에 위치될 수 있다. 이로 인해 로더(211a)에 의해 이동되는 전자부품들의 이동 거리를 최소화시켜 로딩속도를 향상시킬 수 있게 된다. 만일 신속한 로딩이 더욱 요구되는 경우에는 로딩셔틀(211b)에 복수개의 로딩테이블(211b-1)을 구비시킬 수도 있다. 이러한 로딩테이블(211b-1)은 도 3의 평면도에서와 같이 전후 2열로 8개씩 총 16개의 전자부품(D)을 실을 수 있다.The loading table 211b-1 may be located on the left side of the supply position SP or located on the left side of the loading position LP by its movement. Due to this, it is possible to improve the loading speed by minimizing the moving distance of the electronic components moved by the
식별자 인식장치(212)는 로딩테이블(211b-1)에 실린 전자부품(D)들의 식별자를 인식함으로써 전자부품(D) 개개별로 그 이력 및 테스트 결과 등이 관리될 수 있게 한다. 여기서 식별자는 바코드로 구비되는 것이 바람직하게 고려될 수 있으나, 식별자가 반드시 바코드에 한정될 필요는 없다. 이러한 식별자 인식장치(212)에 대해서는 목차를 나누어 더 자세히 후술한다. The
참고로, 식별자 인식장치(212)에 의해 전자부품(D)들의 식별자가 읽힐 수 있도록, 전자부품(D)들을 실은 로딩테이블(211b-1)은 전방에서 후방으로 이동할 때 식별자 인식장치(212)가 식별자를 인식할 수 있는 위치에 잠시 정지하게 된다.For reference, so that the identifiers of the electronic components (D) can be read by the identifier recognition device (212), the loading table (211b-1) on which the electronic components (D) is moved from the front to the rear identifier recognition device (212) is temporarily stopped at a position where the identifier can be recognized.
소크챔버(213)는 로딩위치(LP)에서 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품(D)들에 열적인 자극을 가하기 위해 마련된다.The soak
제1 로테이터(214)는 수평 상태의 테스트용 트레이(TT)를 수직 상태로 자세 변환시킨다. 즉, 본 실시예에 따른 핸들러(100)는 제1 로테이터(214)에 의해 테스트용 트레이(TT)가 수직으로 세워진 상태에서 테스트용 트레이(TT)에 실린 전자부품(D)들이 테스터(TESTER)에 전기적으로 연결될 수 있게 하는 수직식 핸들러이다.The
테스트챔버(215)는 소크챔버(213)를 거쳐 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품(D)들이 테스트될 수 있는 공간을 제공한다.The
연결장치(216)는 테스트챔버(215) 내의 테스트위치(TP)에 있는 테스트용 트레이(TT)의 전자부품(D)들을 테스터(TESTER)의 테스트소켓 측으로 가압하여 전자부품(D)들이 테스트소켓에 전기적으로 연결될 수 있게 한다.The
디소크챔버(217)는 테스트챔버(215)에서 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품(D)으로부터 열적인 자극을 제거하기 위해 마련된다.The
제2 로테이터(218)는 테스트용 트레이(TT)로부터 테스트가 완료된 전자부품(D)들을 언로딩시키기에 앞서 수직 상태의 테스트용 트레이(TT)를 다시 수평 상태로 자세 변환시킨다. 물론, 테스트용 트레이(TT)가 수평인 상태에서 전자부품(D)들이 테스터에 전기적으로 연결되는 수평식 핸들러에서는 제2 로테이터(218)과 앞서 언급한 제1 로테이터(214)가 생략된다.The
언로딩장치(219)는 언로딩위치(UP)로 온 테스트용 트레이(TT)로부터 전자부품(D)들을 언로딩시키면서 테스트 결과에 따라 분류하여 회수위치(RP)에 있는 빈 운반용 트레이(CT)로 이동시킨다. 이러한 언로딩장치(219)도 언로더(219a) 및 언로딩셔틀(219b)을 구비한다.The
언로더(219)는 언로딩위치(UP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로부터 테스트가 완료된 전자부품(D)을 테스트 결과에 따라 분류하면서 언로딩셔틀(219b)의 언로딩테이블(219b-1)로 이동시키거나, 언로딩테이블(219b-1)로부터 테스트가 완료된 전자부품(D)들을 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)로 이동시킨다. 만일 언로딩 속도를 높이고자 하는 경우에는 언로딩위치(UP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로부터 테스트가 완료된 전자부품(D)을 언로딩테이블(219b-1)로 이동시키는 제1 언로더와 언로딩테이블(219b-1)로부터 테스트가 완료된 전자부품(D)들을 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)로 이동시키는 제2 언로더로 나뉘어 구비될 수도 있을 것이다.The
언로딩셔틀(219b)은 전후 방향으로 왕복 이동이 가능한 언로딩테이블(219b-1)을 가진다. 물론, 언로딩테이블(219b-1)은 그 이동에 의해 언로딩위치(UP)의 좌측에 위치되거나 회수위치(RP)의 후방에 인접하게 위치될 수 있다. 또한, 언로딩 속도를 높이기 위해 언로딩테이블(219b-1)도 복수개로 구비될 수 있다.The unloading
본 실시예에 따른 핸들러(200)에서도 테스트용 트레이(TT)는 도시되지 않은 이송장치들에 의해 로딩위치(LP), 테스트위치(TP) 및 언로딩위치(UP)를 거쳐 로딩위치(LP)로 이어지는 폐쇄된 순환경로(C)를 따라 이송된다.Even in the
스택커부분(220)은 운반용 트레이(CT)들을 수납 적재하기 위해 마련된다. 이러한 스택커부분(220)은 4개의 수납스택커(220a 내지 220d)와 1개의 대기스택커(220e)를 가지며, 수납스택커(220a 내지 220d)들은 대기스택커(220e)를 사이에 두고 2개씩 나뉘어 배치된다. 물론, 실시하기에 따라서 수납스택커(220a 내지 220d)들은 2개 이상 구비되면 족하며, 대기스택커(220e)를 사이에 두고 나뉘는 개수도 다를 수 있다.The
수납스택커(220a 내지 220d)는 각자 공급위치(SP)로 공급될 운반용 트레이(CT)들을 수납 적재하거나 회수위치(RP)에서 회수되는 운반용 트레이(CT)들을 수납 적재하기 위해 마련된다. 그리고 수납스택커별(220a 내지 220d)로 서로 다른 랏의 전자부품(D)들이 실린 운반용 트레이(CT)가 적재될 수도 있다. 예를 들면 부호 220a 및 220b의 수납스택커에는 1랏의 전자부품(D)들이 실린 운반용 트레이(CT)들이 적재되고, 부호 220c 및 200d의 수납스택커에는 2랏의 전자부품(D)들이 실린 운반용 트레이(CT)들이 적재될 수 있다. 물론, 각각의 수납스택커(220a 내지 220d)들에 모두 서로 다른 랏의 전자부품(D)들이 실린 운반용 트레이(CT)들이 적재될 수도 있다. 이 때, 도 4의 (a)에서와 같이 1랏의 전자부품(D1)들은 좌측면에 식별자로서 마련되는 바코드(B)가 구비되고, 도 4의 (b)에서와 같이 2랏의 전자부품(D2)들은 우측면에 바코드(B)가 구비될 수 있다. 즉, 1랏의 전자부품(D1)들과 2랏의 전자부품(D2)들은 서로 반대 면에 바코드(B)를 구비하고 있는 것이다. The
대기스택커(220e)는 트랜스퍼장치(222)에 의한 운반용 트레이(CT)의 이송 작업을 원활하게하기 위해 운반용 트레이(CT)들이 잠시 대기할 수 있는 공간을 제공한다. 대기스택커(221)에는 빈 운반용 트레이(CT)를 소정 개수 미리 적재시켜 놓을 수 있으며, 이러한 경우 빈 운반용 트레이(CT)는 불량 판정된 전자부품(D)들이나 리테스트가 필요한 전자부품(D)들을 담아 놓을 수 있는 용도로 활용될 수 있다.The
트랜스퍼장치(222)는 운반용 트레이(CT)의 물류를 담당한다. 즉, 트랜스퍼장치(222)는 테스트되어야 할 전자부품(D)들이 실린 운반용 트레이(CT)를 공급위치(SP)로 공급하고, 공급위치(SP)에서 전자부품(D)들이 비워진 빈 운반용 트레이(CT)를 회수위치(RP)로 공급하며, 테스트가 완료된 전자부품(D)들이 실린 운반용 트레이(CT)를 회수위치(RP)로부터 해당 운반용 트레이(CT)가 인출되었던 수납스택커(220a 내지 220d)로 그대로 회수한다. 이러한 동작을 신속하고 원활하게 진행하기 위해 트랜스퍼장치(222)는 운반용 트레이(CT)들을 이동시키는 과정에서 필요에 따라 선택적으로 운반용 트레이(CT)를 대기스택커(220e)에 잠시 적재 시켜놓을 수도 있다.The
라벨 프린터(223)는 랏 정보나 테스트 결과에 따른 정보를 라벨에 인쇄하고, 해당 라벨을 테스트가 완료된 전자부품(D)들이 실린 운반용 트레이(CT)에 부착시킨다. 라벨이 운반용 트레이(CT)에 부착될 때 운반용 트레이(CT)는 트렌스퍼장치(222)에 의해 파지된 상태를 유지한다. 여기서 테스트가 완료된 전자부품(D)들은 라벨 프린터(223)에 의해 라벨이 부착된 운반용 트레이(CT)에 담긴 채로 고객들에게 납품된다. 이러한 라벨 프린터(2230)의 작업을 가능하게하기 위해 트랜스퍼장치(222)는 회수위치(RP)에서 파지한 운반용 트레이(CT)를 라벨 프린터(223) 측을 거쳐 수납스택커(220a 내지 220d)로 이동시킨다. The
제어기(224)는 상기한 각각의 구성들을 제어하며, 식별자 인식장치(212)에 의해 인식된 전자부품(D)들을 개개별로 관리한다. 즉, 제어기(224)는 임의의 전자부품(D)에 대한 이력과 테스트 결과를 모두 파악한 상태에서 위의 각 구성들을 제어할 수 있다. 또한, 제어기(224)는 공급위치(SP)에서 회수위치(RP)를 거쳐 수납스택커(220a 내지 220d)로 회수될 개개의 운반용 트레이(CT)들을 개개의 운반용 트레이(CT)들이 각자 인출되었던 수납스택커(220a 내지 220d)로 그대로 회수되도록 트랜스퍼장치(222b)를 제어한다. 이러한 제어기(224)는 실시하기에 따라서 테스트 지원에 필요한 일반적인 공정과 전자부품(D)들을 관리하는 제1 제어기와, 식별자 인식장치(212)의 인식 방향을 전환시키는 등의 제어를 수행하는 제2 제어기로 나뉠 수도 있다.The
<핸들러의 운반용 트레이 이송방법에 대한 설명><Description of how to transport the handler's transport tray>
각각의 수납스택커(220a 내지 220d)에 적재된 운반용 트레이(CT)는 공급위치(SP)로 공급된 후 회수위치(SP)를 거쳐 다시 인출되었던 수납스택커(220a 내지 220d)로 회수된다.The transport trays CT loaded on each of the
1. 공급위치(SP)로 공급되는 과정에 대한 설명1. Description of the process of supplying to the supply location (SP)
공급위치(SP)의 전방에 있는 부호 220a 및 220b의 수납스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 직접 공급위치(SP)로 공급된다.The transport trays CT loaded on the
반면에 회수위치(RP)의 전방에 있는 부호 220c 및 220d의 수납스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 현재의 작업 상황, 공급위치(SP)에 다른 운반용 트레이(CT)가 위치하고 있는지 여부, 수납스택커(220c 및 220d)의 위치 등에 따라 대기스택커(220e)를 거쳐 공급위치(SP)로 공급될 수 있다. 예를 들어 부호 220c의 수납스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 직접 공급위치(SP)로 이송될 수도 있고, 대기 스택커(220e)를 거쳐 공급위치(SP)로 이송될 수도 있다. 그러나 공급위치(SP)와 가장 멀리 위치된 부호 220d의 수납스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 대기스택커(220e)로 먼저 옮겨져서 대기하고 있다가 공급위치(SP)로 공급되는 것이 바람직하다.On the other hand, the transport tray CT loaded on the storage stacker of
2. 회수위치(RP)로 공급되는 과정에 대한 설명2. Description of the process of supplying to the recovery location (RP)
공급위치(SP)에서 전자부품(D)들이 비워진 빈 운반용 트레이(CT)는 현재 회수위치(RP)의 상황이나 다른 작업들의 상황들에 따라서 트랜스퍼장치(222)에 의해 직접 회수위치(RP)로 이송되거나 대기스택커(220e)를 거쳐 이송될 수 있다. 이렇게 공급위치(SP)에서 전자부품(D)들이 비워진 운반용 트레이(CT)가 순차적으로 회수위치(RP)로 이송되기 때문에, 테스트가 완료된 전자부품(D)들은 테스트가 이루어지기 전에 그들을 실고 있었던 운반용 트레이(CT)로 그대로 다시 실리게 된다.The empty transport tray CT in which the electronic components D are emptied from the supply position SP is directly returned to the recovery position RP by the
3. 수납스택커(220a 내지 220d)로 회수되는 과정에 대한 설명3. Description of the process of recovery to the
회수위치(RP)에서 테스트가 완료된 전자부품(D)으로 채워진 운반용 트레이(CT)는 트랜스퍼장치(222)에 의해 라벨프린터(223) 측을 거쳐 각자 인출되었던 수납스택커(220a 내지 220d)로 회수된다.The transport tray CT filled with the electronic component D that has been tested at the recovery position RP is recovered to the
<식별자 인식장치에 대한 구체적인 설명><Specific description of the identifier recognition device>
식별자 인식장치(212)는 도 5의 일부 분해사시도에서와 같이 8개의 인식기(212a), 전환기(212b) 및 이동기(212c)를 포함한다.The
8개의 인식기(212a)는 좌우 방향으로 배치되며, 각각 인식모듈(212a-1)과 회전축(212a-2)을 가진다.The eight
인식모듈(212a-1)은 하방에 있는 전자부품(D)의 좌측면 또는 우측면에 있는 식별자를 인식한다.The
회전축(212a-2)은 인식모듈(212a-1)을 소정 각도 회전시키기 위해 구비되며, 후방으로 길게 뻗어 있다.The
전환기(212b)는 인식기(212a)들을 소정 각도(예를 들면 90도)만큼 회전시킴으로써 인식기(212a)들의 인식 방향을 전환시킨다. 이를 위해 전환기(212b)는 전환실린더(212b-1), 전환막대(212b-2), 8개의 회전부재(212b-3) 및 설치부재(212b-4)를 포함한다.The
전환실린더(212b-1)는 인식기(212a)들을 소정 각도 회전시키기 위한 동력을 제공하는 동력원으로써 마련된다.The
전환막대(212b-2)는 전환실린더(212b-1)에 의해 좌우 방향으로 소정 간격 이동됨으로써 전환실린더(212b-1)의 동력을 회전부재(212b-3)로 전달한다.The switching
회전부재(212b-3)는 하단이 전환막대(212b-2)에 힌지 결합되고, 상단이 회전축(212a-2)과 결합되어 있다. 따라서 회전부재(212b-3)는 전환막대(212b-2)가 좌우 수평 방향으로 이동하면 회전축(212a-2)을 기준으로 소정 각도 회전된다. 그리고 회전축(212a-2)에 의해 회전부재(212b-3)에 결합된 인식기(212a)들도 회전부재(212b-3)의 회전에 연동하여 함께 회전된다. The rotating member (212b-3) is hinged to the lower end of the conversion bar (212b-2), the upper end is coupled to the rotating shaft (212a-2). Accordingly, the
설치부재(212b-4)는 전환실린더(212b-1)를 설치하기 위해 구비되며, 좌우 방향으로 이동 가능하게 마련된다.The installation member (212b-4) is provided to install the conversion cylinder (212b-1), it is provided to be movable in the left and right direction.
이동기(212c)는 인식기(212a)들, 전환기(212b) 및 설치부재(212b-3)를 좌우 수평 방향으로 이동시킨다. 이를 위해 이동기(212c)는 구동모터(212c-1), 구동풀리(212c-2), 피동풀리(212c-3), 회전벨트(212c-4), 이동플레이트(212c-5) 및 안내레일(212c-6)을 포함한다.The
구동모터(212c-1)는 이동플레이트(212c-5)를 좌우 수평 방향으로 이동시키기 위한 동력을 제공하는 동력원이다.The driving
회전벨트(212c-4)는 구동풀리(212c-2)와 피동풀리(212c-3)를 회전 반환점으로 하여 정역 회전하게 된다.The
이동플레이트(212c-5)는 구동모터(212c-1)의 정역 작동에 의해 정역 회전하는 회전벨트(212c-4)에 연동하여 좌우 방향으로 이동한다. 이러한 이동플레이트(212c-5)는 파지부분(GP)과 결합부분(JP)으로 나뉠 수 있다.The moving plate (212c-5) moves in the left and right direction in association with the rotating belt (212c-4) which rotates forward and reverse by the forward and reverse operation of the driving motor (212c-1). The
파지부분(GP)은 수평 방향으로 배열된 8개의 파지구멍(GH)들을 가진다. 파지구멍(GH)으로는 인식기(212a)의 회전축(212a-2)이 통과한다. 즉, 회전축(212a-2)은 파지구멍(GH)을 통과하여 회전부재(212b-3)에 결합된다. 이러한 파지부분(GP)의 하단은 설치부재(212b-4)에 결합된다.The gripping portion GP has eight gripping holes GH arranged in a horizontal direction. The
결합부분(JP)은 파지부분(GP)의 상측에서 후방으로 연장되어서 회전벨트(212c-4)의 상측 부위와 결합된다.The coupling portion JP extends from the upper side of the gripping portion GP to the rear and is coupled to the upper portion of the
안내레일(212b-6)은 이동플레이트(212c-5)의 좌우 이동을 안내한다.The
계속하여 위와 같은 구성을 가지는 식별자 인식장치(212)의 작동에 대하여 설명한다. 이하의 설명부터는 식별자를 식별자의 구체적인 한 형태인 바코드로 명칭한다.Next, the operation of the
도 6은 로딩테이블(211b-1)이 전자부품(D1)의 바코드(B)가 인식될 수 있는 인식위치에 위치되어 있는 상태를 정면에서 보여주며, 테스트되어야 할 전자부품(D1)들의 바코드(B)가 전자부품(D1)의 좌측면에 구비되어 있다.6 shows a state in which the loading table 211b-1 is located at a recognition position where the barcode B of the electronic component D 1 can be recognized from the front, and the electronic component D 1 to be tested A barcode (B) is provided on the left side of the electronic component (D 1 ).
도 6과 같은 상태에서는 이미 인식기(212a)들이 전자부품(D1)들의 좌측면을 향하도록 인식 방향(점선 화살표 'a' 참조)이 설정되어 있기 때문에, 인식기(212a)들의 회전이나 수평 이동이 필요하지 않고, 해당 상태에서 로딩테이블(211b-1)에 적재된 전자부품(D1)들의 바코드(B)가 인식기(212a)들에 의해 읽힐 수 있다.In the state shown in FIG. 6 , since the recognition direction (refer to the dotted arrow 'a') is already set so that the
그러나 도 7에서와 같이 테스트되어야 할 전자부품(D2)들의 바코드(B)가 우측면에 구비된 경우에는 인식기(212a)들의 인식 방향이 전환되어야 한다.However, as shown in FIG. 7 , when the barcode B of the electronic component D 2 to be tested is provided on the right side, the recognition direction of the recognizers 212a must be switched.
따라서 도 7의 상태에서 제어기(224)가 전환실린더(212b-1)를 동작시켜 도 8에서와 같이 인식기(212a)들이 전자부품(D2)의 우측면을 향하도록 인식 방향(점선 화살표 'b' 참조)을 전환시킨다. 그런데, 도 8의 상태에서는 인식기(212a)들이 회전된 각도만큼 인식 영역이 좌측으로 이동하게 되기 때문에, 우측에 있는 전자부품(D2)들이 식별자 인식장치(212)에 의한 인식 영역을 벗어나게 된다. 이에 따라 제어기(224)는 이동기(212c)를 작동시켜서 도 9에서와 같이 인식기(212a)들을 우측 방향으로 필요한 거리만큼 이동시킴으로써 8개의 인식기(212a)들이 8개의 전자부품(D2)에 각각 대응될 수 있게 한다.Therefore, in the state of FIG. 7 , the
위와 같은 작동에 따라 식별자 인식장치(212)는 바코드(B)가 좌측면에 구비된 전자부품(D1)이나 바코드(B)가 우측면에 구비된 전자부품(D2)들을 모두 인식할 수 있게 된다.According to the above operation, the
위의 설명에서는 설명의 명확함을 위해 도 7 내지 도 9를 통해 인식 방향을 전환시키는 과정과 인식기(212a)를 수평 이동시키는 과정을 순차적으로 나누어서 설명하고 있지만, 수평 이동이 먼저 이루어지고 방향 전환이 이루어지도록 구현되거나, 인식 방향을 전환시키는 동작과 인식기(212a)를 수평 이동시키는 동작이 동시에 이루어지도록 구현될 수도 있다.In the above description, for clarity of explanation, the process of switching the recognition direction and the process of horizontally moving the
더 나아가 방향 전환과 수평 이동 중 어느 하나만을 선택하여 작동되도록 구현될 수도 있는데 이에 대해서 이어서 설명한다.Furthermore, it may be implemented to operate by selecting only one of direction change and horizontal movement, which will be described next.
예를 들어 이동기(212c)가 구비되지 않는다면, 도 10의 (a) 및 (b)에서와 같이 전자부품(D1, D2)의 1열 개수보다 더 많은 인식기(212a)들이 구비되어야 할 것이다. 이러할 경우 수평 이동의 필요성은 없다.For example, if the
그리고 도 11의 (a)에서와 같이 로딩테이블(211b-1)에 1열로 실린 전자부품(D)들의 개수(16개)가 인식기(212a)들의 개수(8개)보다 더 많을 경우를 상정할 수 있다. 이러한 경우 도 11의 (a)에서와 같이 인식기(212a)들이 좌측 8개의 전자부품(D)들의 바코드(B)를 인식하면, 도 11의 (b)에서와 같이 인식기(212a)들을 우측으로 수평 이동시킨 다음 우측의 나머지 8개의 전자부품(D)들의 바코드(B)를 인식한다. 따라서 본 예에 따를 경우 인식기(212a)의 방향 전환은 필요하지 않고 인식기(212a)의 수평 이동만이 이루어진다.And it is assumed that the number (16 pieces) of the electronic components (D) loaded in one row on the loading table (211b-1) is more than the number (8 pieces) of the recognizers (212a) as shown in (a) of FIG. can In this case, when the
또는 도 12의 (a)에서와 같이 인식기(212a)들의 간격을 전자부품(D)들의 간격의 2배로 하고, 도 12의 (a) 상태에서 먼저 홀수 번째의 전자부품(D)들에 있는 바코드(B)를 인식하고, 도 12의 (b) 상태로 된 상태에서 짝수 번째의 전자부품(D)들에 있는 바코드(B)를 인식하도록 구현될 수도 있다.Alternatively, as in (a) of FIG. 12, the interval of the
한편, 본 발명에 따르면 수납스택커(220a 내지 220d) 별로 서로 다른 랏의 전자부품(D)들이 수납될 수 있음을 이미 살펴본 바 있다. 이러한 경우 제어기(224)는 운반용 트레이(CT)의 이송이 시작되는 수납스택커(220a 내지 220d)에 있는 전자부품(D)의 랏 정보를 파악하여 전환기(212b)의 작동 여부를 결정한다. 예를 들어, 부호 220a의 수납스택커에 있는 1랏의 전자부품(D1, 좌측면에 바코드를 구비함)들에 이어서 부호 220b의 수납스택커에 있는 2랏의 전자부품(D2, 우측면에 바코드를 구비함)들이 테스트용 트레이(TT)로 로딩되어야 할 때, 제어기(224)는 2랏의 랏 정보를 미리 파악하여 1랏의 전자부품(D1)에 대한 식별자 인식이 완료되면 식별자 인식장치(212)를 작동시켜 도 9의 상태로 되게 하는 것이다. 여기서, 랏 정보에는 해당 랏의 전자부품(D)이 어느 면에 바코드(B)를 구비하고 있는지에 대한 정보도 포함되어 있다. 물론, 1랏의 전자부품(D1)과 2랏의 전자부품(D2)이 동일한 면에 바코드(B)를 구비하고 있는 경우에 식별자 인식장치(212)는 종전 상태대로 유지된다. 이 때, 수납스택커(220a 내지 220d)별 랏 정보(바코드의 부착 위치에 대한 정보를 포함함)는 관리자가 물량 투입 전 또는 물량 투입 후 입력장치(도시되지 않음)를 통해 입력<입력단계>시키고, 그러한 입력 정보에 따라서 제어기(224)가 식별자 인식장치(212)를 제어<제어단계>하게 된다.On the other hand, according to the present invention, it has already been described that different lots of electronic components (D) can be accommodated for each storage stacker (220a to 220d). In this case, the
본 발명에 따르면 수납스택커(220a 내지 220d)들에 모두 동일 랏의 물량들이 수납되어 있거나 랏이 다르더라도 테스트되어야 할 모든 전자부품(D)들이 동일한 면에 바코드(B)를 구비한 경우에는, 해당 가동 과정에서 식별자 인식장치(212)의 인식 방향의 전환이 요구되지 않으며, 수납스택커(220a 내지 220d)에 새로운 전자부품(D)들이 수납된 후의 다음 가동 시에 새로운 전자부품(D)의 랏 정보에 따라 인식 방향의 전환이 선택적으로 요구될 수 있다. 그러나 적어도 하나의 수납스택커(220a/220b/220c/220d)에 랏이 다른 물량들이 수납되어 있으면서 바코드(B)가 구비된 면도 다를 경우에는 해당 가동 과정에서 식별자 인식장치(212)의 인식 방향의 전환이 이루어져야만 하며, 이러한 경우 제어기(224)는 수납스택커(220a/220b/220c/220d)별로 전자부품(D)의 랏 정보를 파악하여 전환기의 작동 여부를 결정한다.According to the present invention, when the quantity of the same lot is stored in all of the receiving
<참고적인 사항><References>
위의 실시예에서는 인식기(212a)가 로딩테이블(211b-1)에 실린 전자부품(D)들보다 상측에 위치하며, 그로 인해 인식기(212a)들의 바코드(B)를 인식하기 위한 인식 방향이 수직선에 일정 각을 이루는 사선 방향임을 알 수 있다. 그리고 이러한 기술적 구현으로 인해 로딩테이블(211b-1)의 폭이나 식별자 인식장치(212)의 폭을 크게 줄일 수 있고, 인식기(212a)들의 회전각을 최소화시킬 수 있음을 알아야 한다.In the above embodiment, the
예를 들어 도 13에서와 같이 인식기(212a)가 전자부품(D)에 있는 바코드(B)와 대면하게 구비되면, 바코드(B)의 위치 전환에 따라 인식기(212a)의 회전각이 180도가 되어야할뿐더러, 전자부품(D)들 간의 간격도 많이 넓어져야만 하고, 인식기(212a)들의 간격도 많이 넓어져야만 한다. 이렇게 되면 식별자 인식장치(212)와 로딩테이블(211b-1)의 폭이 대폭 넓어져야만 할 뿐만 아니라, 인식기(212a)들을 회전시키기 위한 구조도 훨씬 더 복잡해지게 된다. 그래서 장비의 크기가 커지고, 생산 비용이 올라갈 수 있다. 그렇다고 만일 장비의 크기를 줄이기 위해 로딩테이블(211b-1)에 실릴 수 있는 전자부품(D)의 개수를 줄이면 처리 속도가 느려지는 문제가 발생한다. 그런데 본 발명에서는 인식기(212a)의 인식 방향을 사선 방향으로 가져감으로써 도 13과 같은 구성에서 올 수 있는 문제점들을 모두 해소시키고 있는 것이다.For example, if the
상술한 바와 같이, 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등범위로 이해되어져야 할 것이다.As described above, the detailed description of the present invention has been made by the embodiments with reference to the accompanying drawings, but since the above-described embodiments have only been described with preferred examples of the present invention, the present invention is limited to the above embodiments only. It should not be construed as being limited, and the scope of the present invention should be understood as the following claims and their equivalents.
200 : 전자부품 테스트용 핸들러
211 : 로딩장치
212 : 식별자 인식장치
212a : 인식기 212b : 전환기
212c : 이동기
216 : 연결장치
219 : 언로딩장치
220a 내지 220d : 수납스택커
222 : 트랜스퍼장치
224 : 제어기200: Handler for testing electronic components
211: loading device
212: identifier recognition device
212a:
212c : mover
216: connection device
219: unloading device
220a to 220d: storage stacker
222: transfer device
224: controller
Claims (4)
상기 로딩장치에 의해 이동되는 전자부품들에 개개별로 구비된 식별자를 인식하는 식별자 인식장치;
상기 로딩장치에 의해 로딩이 완료된 후 상기 로딩위치에서 테스트위치로 이동된 테스트용 트레이에 실린 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결장치;
전자부품들의 테스트가 완료된 후 상기 테스트위치에서 언로딩위치로 이동된 테스트용 트레이로부터 테스트가 완료된 전자부품들을 언로딩시켜서 회수위치에 있는 운반용 트레이로 이동시키는 언로딩장치;
상기 공급위치로 테스트되어야 할 전자부품이 실린 운반용 트레이들을 공급하거나 상기 회수위치에서 회수되는 테스트가 완료된 전자부품이 실린 운반용 트레이들을 회수하기 위해 다수의 운반용 트레이들이 적재될 수 있는 스택커부분;
테스트되어야 할 전자부품들이 실린 운반용 트레이를 상기 스택커부분에서 상기 공급위치로 공급하고, 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 운반용 트레이를 상기 회수위치에서 상기 스택커부분으로 회수하는 트랜스퍼장치; 및
상기한 각 구성들을 제어하며, 상기 식별자 인식장치에 의해 식별자가 인식된 전자부품들을 개개별로 관리하는 제어기; 를 포함하고,
상기 식별자 인식장치는,
상기 로딩장치에 의해 이동되는 전자부품들에 있는 식별자들을 각각 인식하기 위한 다수개의 인식기;
상기 다수개의 인식기를 소정 각도 회전시켜서 상기 다수개의 인식기들의 인식 방향을 전환하는 전환기; 를 포함하고,
상기 제어기는 식별자를 인식할 수 있는 인식 방향에 따라 상기 다수개의 인식기들의 인식 방향을 전환시키도록 제어하는
전자부품 테스트용 핸들러.a loading device for loading electronic components to be tested from the transport tray at the supply position to the test tray at the loading position;
an identifier recognizing device for recognizing identifiers individually provided to electronic components moved by the loading device;
a connecting device electrically connecting the electronic components loaded on the test tray moved from the loading position to the test position after the loading is completed by the loading device to the tester;
an unloading device for unloading the electronic components that have been tested from the test tray moved from the test position to the unloading position after the testing of the electronic components is completed and moving them to the transport tray located at the recovery position;
a stacker portion on which a plurality of transport trays can be loaded in order to supply transport trays loaded with electronic components to be tested to the supply position or to collect transport trays loaded with electronic components that have been tested and retrieved from the recovery position;
a transfer device for supplying a transport tray loaded with electronic components to be tested from the stacker part to the supply position, and recovering a transport tray loaded with electronic parts for which testing is completed from the recovery position to the stacker part; and
a controller controlling each of the above-described components and individually managing electronic components whose identifiers are recognized by the identifier recognition device; including,
The identifier recognition device,
a plurality of recognizers for recognizing the identifiers in the electronic components moved by the loading device, respectively;
a converter for rotating the plurality of recognizers by a predetermined angle to change the recognition directions of the plurality of recognizers; including,
The controller controls to switch the recognition direction of the plurality of recognizers according to a recognition direction capable of recognizing the identifier.
Handler for testing electronic components.
상기 식별자 인식장치는 상기 전환기에 의해 인식 방향이 전환된 각각의 인식기가 각각의 전자부품에 있는 식별자를 적절히 인식할 수 있는 위치로 이동하도록 상기 다수개의 인식기를 수평 방향으로 이동시키는 이동기; 를 더 포함하는
전자부품 테스트용 핸들러. According to claim 1,
The identifier recognition device includes: a mover for moving the plurality of recognizers in a horizontal direction so that each recognizer whose recognition direction is switched by the switcher can move to a position where the identifiers in each electronic component can be properly recognized; further comprising
Handler for testing electronic components.
상기 스택커부분은 각각 운반용 트레이들을 수납 적재시킬 수 있는 복수개의 수납스택커를 포함하고,
상기 복수개의 수납스택커 중 적어도 하나의 수납스택커에는 다른 수납스택커와 랏이 다른 전자부품들이 실린 운반용 트레이가 수납 적재될 수 있으며,
상기 제어기는 상기 트랜스퍼장치에 의해 상기 공급위치에서 상기 회수위치를 거쳐 상기 복수개의 수납스택커로 회수될 개개의 운반용 트레이들을 개개의 운반용 트레이들이 각자 인출되었던 수납스택커로 그대로 회수되도록 상기 트랜스퍼장치를 제어하되, 상기 복수개의 수납스택커별로 전자부품의 랏 정보를 파악하여 상기 전환기의 작동 여부를 결정하는
전자부품 테스트용 핸들러.According to claim 1,
The stacker part includes a plurality of storage stackers that can accommodate and load trays for transport, respectively,
In at least one storage stacker among the plurality of storage stackers, a transport tray loaded with electronic components having different lots from other storage stackers may be accommodated and stacked,
The controller controls the transfer device so that the individual transport trays to be recovered to the plurality of storage stackers from the supply position through the recovery position by the transfer device are directly recovered to the storage stacker from which the individual transport trays have been drawn out. Control, but determine whether to operate the converter by determining the lot information of the electronic component for each of the plurality of storage stackers
Handler for testing electronic components.
상기 다수개의 인식기들은 전자부품들보다 상측에 위치하며, 식별자를 인식하기 위한 인식 방향은 사선 방향인
전자부품 테스트용 핸들러.
According to claim 1,
The plurality of recognizers are located above the electronic components, and the recognition direction for recognizing the identifier is a diagonal direction.
Handler for testing electronic components.
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100792488B1 (en) | 2006-09-07 | 2008-01-10 | (주)테크윙 | Test support method of test handler and test handler |
KR100809918B1 (en) | 2006-09-07 | 2008-03-06 | (주)테크윙 | Test support method of test handler and test handler |
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