KR102259841B1 - 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템 - Google Patents

고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR102259841B1
KR102259841B1 KR1020180135394A KR20180135394A KR102259841B1 KR 102259841 B1 KR102259841 B1 KR 102259841B1 KR 1020180135394 A KR1020180135394 A KR 1020180135394A KR 20180135394 A KR20180135394 A KR 20180135394A KR 102259841 B1 KR102259841 B1 KR 102259841B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
module
sample
high magnification
imaging module
image
Prior art date
Application number
KR1020180135394A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20200052157A (ko
Inventor
이종묵
Original Assignee
(주) 솔
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 솔 filed Critical (주) 솔
Priority to KR1020180135394A priority Critical patent/KR102259841B1/ko
Priority to PCT/KR2019/013001 priority patent/WO2020071834A1/ko
Publication of KR20200052157A publication Critical patent/KR20200052157A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102259841B1 publication Critical patent/KR102259841B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/24—Base structure
    • G02B21/248—Base structure objective (or ocular) turrets
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/24—Base structure
    • G02B21/26—Stages; Adjusting means therefor
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/362—Mechanical details, e.g. mountings for the camera or image sensor, housings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

저배율 촬상 모듈과 고배율 촬상 모듈을 동시에 배치하여, 저배율 이미지로 샘플의 전체 영역을 대략적으로 관찰하는 동시에 샘플의 특징 영역으로 고배율 촬상 모듈을 이동시킴으로써, 특징 영역의 위치 파악 및 초점 맞춤의 번거로움을 해결할 수 있는 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템이 제공된다.
상기 디지털 현미경은 샘플이 안착되는 재물대; 상기 샘플을 촬상하여 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈; 상기 샘플을 촬상하여 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상 모듈; 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고, 상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경되는 것을 특징으로 한다.

Description

고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템{DIGITAL MICROSCOPE IN WHICH HIGH-MAGNIFICATION IMAGE IS GUIDED BY LOW-MAGNIFICATION IMAGE AND DIGITAL MICROSCOPE SYSTEM}
본 발명은 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템에 관한 것이다.
종래의 현미경은 도 1에서 나타내는 바와 같이, 검체(Sample)가 안착되는 재물대(Stage)와, 촬상된 이미지의 배율을 결정하는 대물 렌즈(Object lens))와, 사용자의 눈으로 검체의 이미징광을 가이드하는 접안 렌즈(Ocular lens)와, 대물 렌즈와 접안 렌즈를 광학적으로 연결하는 튜브 렌즈(Extention tube)로 이뤄졌다.
또한, 종래의 현미경은 상호 다른 배율을 가진 복수의 대물 렌즈가 회전판(Rotating plate)의 회전에 의해 선택되어, 저배율 이미지와 고배율 이미지를 각각 생성하였다.
따라서 종래의 현미경에서는 사용자가 샘플의 특징 영역(특징점이 발견되어 정밀 관찰이 필요한 영역)을 관찰하기 위해서, 저배율 대물 렌즈로 전체 이미지에서 특징 영역의 대략적인 위치를 파악(저배율 이미지)한 후, 고배율 대물 렌즈로 특징 영역의 위치를 다시 찾아 정밀 관찰(고배율 이미지)을 수행하였다.
그 결과, 종래의 현미경에서는 정밀 관찰을 위해 저배율 대물 렌즈를 고배율 대물 렌즈로 스위칭해야 하며, 재물대를 이동시켜 고배율 대물 렌즈와 샘플의 특징 영역을 광학적으로 얼라인(x축, y축: 위치 정렬; z축: 초점 정렬)해야하는 번거로움이 존재하였다.
대한민국 공개실용신안공보 제20-2018-0000430호, 2018.02.14. 공개
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 저배율 촬상 모듈과 고배율 촬상 모듈을 동시에 배치하여, 저배율 이미지로 샘플의 전체 영역을 대략적으로 관찰하는 동시에 샘플의 특징 영역으로 고배율 촬상 모듈을 이동시킴으로써, 특징 영역의 위치 파악 및 초점 맞춤의 번거로움을 해결할 수 있는 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템을 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급된 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 면에 따른 디지털 현미경은 샘플이 안착되는 재물대; 상기 샘플을 촬상하여 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈; 상기 샘플을 촬상하여 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상 모듈; 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고, 상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경될 수 있다.
상기 구동 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 x축과 y축을 기준으로 이동시킬 수 있다.
상기 저배율 촬상 모듈의 광축과 상기 고배율 촬상 모듈의 광축은 z축을 기준으로 배열될 수 있다.
상기 구동 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 x축과 y축과 z축을 기준으로 이동시키고, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역은 상기 구동 모듈의 x축 구동과 y축 구동에 의해 변경되고, 상기 고배율 촬상 모듈의 초점 거리는 상기 구동 모듈의 z축 구동에 의해 변경될 수 있다.
상기 저배율 촬상 모듈과 상기 고배율 촬상 모듈 각각은 대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈이거나 카메라 모듈일 수 있다.
상기 저배율 촬상 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대의 사이에 배치되는 렌즈 프리 이미지 센서 모듈일 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 면에 따른 디지털 현미경 시스템은 디지털 현미경; 저배율 이미지와 고배율 이미지가 재생되는 사용자 기기; 상기 디지털 현미경을 제어하는 전자 제어 모듈을 포함하고, 상기 디지털 현미경은, 샘플이 안착되는 재물대; 상기 샘플을 촬상하여 상기 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈; 상기 샘플을 촬상하여 상기 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상모듈; 및 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고, 상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경되고, 상기 전자 제어 모듈은 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 대응되도록, 상기 구동 모듈을 제어할 수 있다.
상기 전자 제어 모듈은 상기 저배율 이미지를 기준으로 형성한 이미지 좌표계를 상기 샘플이 실재하는 공간을 기준으로 형성한 현미경 좌표계와 매칭시키고, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역과 상기 샘플에서 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 매칭되는 부분을 일치시킬 수 있다.
상기 전자 제어 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 상기 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역과 상기 샘플에서 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 매칭되는 부분을 일치시킬 수 있다.
상기 전자 제어 모듈은 저배율 이미지와 고배율 이미지 중 적어도 하나를 데이터베이스의 표준 데이터와 비교하여 분석할 수 있다.
본 발명의 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템에서는 저배율 이미지와 고배율 이미지를 동시에 생성하므로, 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드됨으로써, 특징 영역의 위치 파악에 따른 시간을 줄일 수 있다.
또한, 본 발명의 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템에서는 원하는 특징점을 데이터베이스에서 찾고 분석을 수행하는데 소요되는 시간을 줄일 수 있는 장점이 있다.
또한, 본 발명의 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템에서는 저배율 촬상 모듈과 고배율 촬상 모듈의 초점 거리가 초기 설정에서 유지되기 때문에 초점을 맞추기가 용이하다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 종래의 현미경을 나타낸 개념도이다.
도 2는 본 발명의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이다.
도 3은 본 발명의 변형례의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이다.
도 4는 본 발명의 다른 변형례의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이다.
도 5는 광원에서 출사된 광이 다이크로익 미러에 의해 샘플을 경유한 후 렌즈 프리 이미지 센서 모듈로 가이드되는 것을 나타낸 개념도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 디지털 현미경 시스템에서 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 것을 나타낸 개념도이다.
도 8은 본 발명의 사용자 기기에서 고배율 이미지와 저배율 이미지가 동시에 재생되는 것을 나타낸 개념도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭하며, "및/또는"은 언급된 구성요소들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. 비록 "제1", "제2" 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.
공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "위(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 구성요소와 다른 구성요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작시 구성요소들의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들어, 도면에 도시되어 있는 구성요소를 뒤집을 경우, 다른 구성요소의 "아래(below)"또는 "아래(beneath)"로 기술된 구성요소는 다른 구성요소의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 구성요소는 다른 방향으로도 배향될 수 있으며, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.
이하, 도면을 참조하여, 본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)을 설명한다. 도 2는 본 발명의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이고, 도 3은 본 발명의 변형례의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이고, 도 4는 본 발명의 다른 변형례의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이고, 도 5는 광원에서 출사된 광이 다이크로익 미러에 의해 샘플을 경유한 후 렌즈 프리 이미지 센서 모듈로 가이드되는 것을 나타낸 개념도이고, 도 6 및 도 7은 본 발명의 디지털 현미경 시스템을 이용하여 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 것을 나타낸 개념도이고, 도 8은 본 발명의 사용자 기기에서 고배율 이미지와 저배율 이미지가 동시에 재생되는 것을 나타낸 개념도이다.
본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)에서는 샘플(s)로부터 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 동시에 생성하며, 고배율 이미지(2)가 저배율 이미지(1)에 의해 가이드되어, 정밀 관찰을 쉽고 빠르게 수행할 수 있다(즉, 사용자는 저배율 이미지로부터 고배율 이미지로 관찰할 특징 영역을 가이드받을 수 있다).
본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)은 디지털 현미경(100), 전자 제어 모듈(200) 및 사용자 기기(300)를 포함할 수 있다.
본 발명의 디지털 현미경(100)은 샘플(s)에 대한 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 동시에 생성하는 기기일 수 있다(즉, 샘플을 동시에 촬상하여 저배율 이미지와 고배율 이미지를 생성). 한편, 샘플(s)은 슬라이드 글라스(Slide glass)와 커버 글라스(Cover glass)에 덮여, 재물대(130)에 안착될 수 있다.
이를 위해, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 저배율 촬상 모듈(110), 고배율 촬상 모듈(120), 재물대(130) 및 구동 모듈(미도시)을 포함할 수 있다. 한편, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 샘플(s)에 광을 조사하는 광원(미도시, Light source)을 더 포함할 수 있다.
광원에서 샘플(s)로 조사된 광은 이미징광으로 전환되어, 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)에 의해 획득될 수 있다. 일 예로, 광원은 레이저광을 출력할 수 있고 샘플(s)에는 조영제가 주입될 수 있다. 광원에서 출력된 여기광(Excitation)은 조영제로 처리된 샘플(s)에서 방출광(Emission)으로 전환되어, 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)에서 형광 이미지를 생성할 수 있다(형광 현미경 구현).
특히, 광원은 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)이 "대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈"인 경우, 대물 렌즈의 외측면을 따라 링 타입으로 배치될 수 있다. 이 경우, 저배율 촬상 모듈(110)에 배치된 광원은 고배율 촬상 모듈(120)의 이미징광을 출력할 수 있고(고배율용 광원), 고배율 촬상 모듈(120)에 배치된 광원은 저배율 촬상 모듈(110)의 이미징광을 출력할 수 있다(저배율용 광원).
또한, 광원은 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)이 "대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈"인 경우, 대물 렌즈와 렌즈 프리 이미지 센서 모듈과 이웃하게 배치될 수 있고, 대물 렌즈와 렌즈 프리 이미지 센서 모듈 사이에는 다이크로익 미러(Dichroic mirror)가 배치될 수 있다. 이 경우, 대물 렌즈와 렌즈 프리 이미지 센서 모듈과 다이크로익 미러는 일체로 패키징될 수 있다.
광원의 출사광은 다이크로익 미러에서 반사(또는 투과)되어 대물 렌즈를 경유하여 샘플(s)에 조사될 수 있고, 샘플(s)을 경유한 광은 대물 렌즈를 경유하고 다이크로익 미러를 투과(또는 반사)하여 렌즈 프리 이미지 센서 모듈에 조사될 수 있다(도 5 참조). 이 경우, 광원의 출사광은 여기광(레이저광)일 수 있고, 샘플(s)을 경율한 광은 조영제 처리된 샘프에 의한 방출광일 수 있다.
또한, 노이즈를 제거하기 위해, 다이크로익 미러에서 광원의 출사광이 입사되는 면에는 광원의 출사광을 선택적으로 투과시키는 필터(일 예로, 여기광 필터)가 배치될 수 있고, 샘플(s)을 경유한 광이 투과되는 면에는 샘플(s)을 경유한 광을 선택적으로 투과시키는 필터(일 예로, 방출광 필터)가 배치될 수 있다. 이 경우, 필터는 특정 파장 대역을 선택적으로 투과시키는 필터(BPF; Band pass filter)일 수 있다.
또한, 저배율 촬상 모듈(110)이 샘플(s)과 재물대(130)의 사이에 배치되는 "렌즈 프리 이미지 센서 모듈"인 경우, 고배율용 광원이 저배율 촬상 모듈(110)에 조사되어 노이즈를 발생시키는 것을 방지하기 위해, 고배율용 광원은 렌즈 프리 이미지 센서 모듈의 기판의 주변에 소정 각도로 경사지게 배치되거나, 투명 면광원(투명하면서도 빛이 전면으로 나오는 조명필름)을 포함하여 렌즈 프리 이미지 센서 모듈과 샘플(s)의 사이에 배치될 수 있다.
저배율 촬상 모듈(110)은 샘플(s)을 촬상하여 저배율 이미지(1)를 생성할 수 있고, 고배율 촬상 모듈(120)은 샘플(s)을 촬상하여 고배율 이미지(2)를 생성할 수 있다.
저배율 촬상 모듈(110)은 촬상 영역이 넓으며(화각이 넓음) 샘플(s)의 영역 전반에 대한 저배율 이미지(1)를 생성할 수 있고, 고배율 촬상 모듈(120)은 촬상 영역이 좁으며(화각이 좁음) 샘플(s)의 영역 중 특징 영역에 대한 고배율 이미지(2)를 생성할 수 있다.
저배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역은 샘플(s)의 영역 전부를 포함하며, 사용자 기기(300)에서 저배율 이미지(1)로 재생되는 영역을 의미할 수 있다. 또한, 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역은 샘플(s)의 영역 중 특징 영역(특징점이 발견된 영역)을 포함하며, 사용자 기기(300)에서 고배율 이미지(2)로 재생되는 영역을 의미할 수 있다.
일 예로, 샘플(s)이 인간의 혈액인 경우, 사용자는 저배율 이미지(1)에서 혈액을 전반적으로 관찰할 수 있고, 고배율 이미지(2)에서 혈액의 특징 영역(일 예로, 특징점이 발견되어 정밀 관찰이 필요한 영역)을 세포 단위(적혈구, 백혈구 등)로 관찰할 수 있다.
즉, 저배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역은 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역의 적어도 일부를 포함할 수 있고, 고배율 이미지(2)의 적어도 일부의 영역은 저배율 이미지(1)의 일부의 영역이 고배율로 확대된 영역일 수 있다.
한편, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)는 이미지 처리 단계에 따라, 전자 신호, 이미지 정보 및 육안으로 인식되는 이미지 등 다양한 형태를 가질 수 있다.
일 예로, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)는 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)에서 샘플(s)의 이미징광이 변환되어 생성되는 전자 신호 형태로 존재할 수 있다. 그 후, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)는 전자 제어 모듈(200)에서 사용자 기기(300)에서 재생되도록 이미지 처리되어, 이미지 정보 형태로 존재할 수 있다. 그 후, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)는 사용자 기기(300)에서 육안으로 인식되는 이미지 형태로 재생될 수 있다.
본 발명의 디지털 현미경(100)에서는 샘플(s)을 기준으로 일측에 저배율 촬상 모듈(110)이 배치될 수 있고 타측에 고배율 촬상 모듈(120)이 배치될 수 있다. 즉, 고배율 촬상 모듈(120)은 샘플(s)을 기준으로 저배율 촬상 모듈(110)의 반대편에 위치할 수 있다.
나아가 저배율 촬상 모듈(110)의 광축(Optical axis)과 고배율 촬상 모듈(120)의 광축은 z축을 기준으로 배열될 수 있다. 이 경우, 저배율 촬상 모듈(110)은 하측에 위치하고 고배율 촬상 모듈(120)은 상측에 위치할 수 있다. 이에 한정되는 것은 아니고, 고배율 촬상 모둘(120)이 하측에 위치하고 저배율 촬상 모듈(110)이 상측에 위치할 수도 있다.
상술한 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)의 위치 및 배열에 의해, 본 발명의 디지털 현미경(100)에서는 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)이 동일한 샘플(s)을 동시에 촬상하여 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 동시에 생성할 수 있다.
한편, 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)에는 다양한 광학 모듈이 사용될 수 있다. 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120) 각각은 대물 렌즈(Object lens)가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈(Lens-free image sensor module)이거나 카메라 모듈(Camera module)일 수 있다.
일 예로, 도 2에서 나타내는 바와 같이, 본 발명의 디지털 현미경(100)에서는 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120) 모두가 "대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈"일 수 있다.
또한, 도 3에서 나타내는 바와 같이, 본 발명의 변형례의 디지털 현미경(100)에서는 저배율 촬상 모듈(110)이 "카메라 모듈"일 수 있고 고배율 촬상 모듈(120)이 "대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서"일 수 있다.
이 경우, 대물 렌즈와 렌즈 프리 이미지 센서 모듈은 별개의 광학 부품으로 커넥터에 의해 연결될 수도 있고, 단일의 광학 부품으로 일체로 패키징(Packaging)될 수도 있다.
또한, "렌즈 프리 이미지 센서 모듈"은 기판(PCB, Printed circuit board)과 기판에 실장되는 이미지 센서(Image sensor)로 이루어질 수 있으며, 촬상 이미지의 배율을 결정하는 대물 렌즈가 마운트된 것 외에 다른 광학 렌즈(일 예로, 접안 렌즈, 튜브 렌즈 등)가 생략될 수 있다. 그 결과, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 전장 길이(z축 길이)가 최소화되어 소형 제작될 수 있는 장점이 있다.
또한, "카메라 모듈"은 렌즈 홀더와, 렌즈 홀더에 배치되는 렌즈 어레이와, 기판과, 렌즈 어레이를 투과한 광이 조사되며 기판에 실장되는 이미지 센서로 이루어질 수 있다. 카메라 모듈의 렌즈 어레이는 촬상 이미지의 배율을 결정하는 대물 렌즈 외에 다른 광학 렌즈가 생략될 수 있다. 그 결과, 카메라 모듈은 렌즈 프리 이미지 센서 모듈과 마찬가지로 본 발명의 디지털 현미경(100)의 전장 길이를 최소화할 수 있다.
다만, 본 발명의 디지털 현미경(100)의 실시예가 상술한 실시예로 한정되는 것은 아니다.
일 예로, 도 4에서 나타내는 바와 같이, 본 발명의 다른 변형례의 디지털 현미경(100)에서는 저배율 촬상 모듈(110)이 대물 렌즈를 포함한 다양한 광학 렌즈가 생략된 "렌즈 프리 이미지 센서 모듈"일 수 있다.
이 경우, 저배율 촬상 모듈(110)은 샘플(s)과 재물대(130)의 사이에 배치될 수 있다. 그 결과, 저배율 촬상 모듈(110)은 샘플(s)과 인접하여(슬라이드 글라스나 커버 글라스와 접촉) 샘플(s)을 접사하므로, 대물 렌즈가 생략되었음에도 불구하고 저배율 이미지(1)를 생성할 수 있다.
재물대(130)는 샘플(s)이 안착되는 부분일 수 있다. 좀 더 상세히, 재물대(130)에는 샘플(s)이 슬라이드 글라스와 커버 글라스로 덮인 프레파라트(Preparat)가 안착될 수 있다. 재물대(130)에서 샘플(s)이 안착되는 부분에는 샘플(s)의 이미징광의 광 경로를 제공하기 위한 홀(Hole)이 형성될 수 있다.
구동 모듈(미도시)은 샘플(s)과 고배율 촬상 모듈(120)과 재물대(130) 중 적어도 하나를 x축과 y축과 z축 중 적어도 하나의 축을 기준으로 이동시키는 모듈일 수 있다. 이 경우, x축과 y축과 z축은 샘플(s)이 실재하는 공간을 기준으로 형성된 현미경 좌표계를 구성하는 축일 수 있다.
"구동 모듈의 x축과 y축 구동"에 의해 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역이 변경될 수 있다. 따라서 "구동 모듈의 x축과 y축 구동"에 의해 샘플(s)의 영역 중 고배율 이미지(2)로 정밀하게 관찰하고자 하는 특징 영역을 변경할 수 있다. 일 예로, 구동 모듈은 고배율 촬상 모듈(120)을 x축과 y축을 기준으로 이동시켜 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역을 변경할 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니고, 구동 모듈은 샘플(s)을 이동(일 예로, 프레파라트를 이동시킴으로써 구현)시키거나 재물대(130)를 이동시켜 실질적으로 재물대(130)를 이동시키는 것과 동일한 효과를 나타낼 수 있다. 한편, 구동 모듈이 고배율 촬상 모듈(120)만을 x축과 y축을 기준으로 이동시키는 경우, 저배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역은 변경되지 않고 고정되는 효과(즉, 저배율 이미지가 변경되지 않는 효과)를 나타낼 수 있다.
"구동 모듈의 z축 구동"에 의해 고배율 촬상 모듈(120)의 초점 거리가 변경될 수 있다. 따라서 "구동 모듈의 z축 구동"에 의해 고배율 촬상 모듈(120)의 포커싱 스텝(Focusing step)이 결정될 수 있다.
한편, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 고배율 촬상 모듈(120)의 초점 거리가 초기 설정에서 유지되는 장점을 가진다. 즉, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 종래의 현미경과 같이 다양한 배율을 가지는 대물 렌즈의 스위칭(Swiching)에 의해 초점 거리가 초기 설정에서 변경되지 않는다. 따라서 본 발명의 디지털 현미경(100)에서는 초점을 맞추기가 용이한 장점이 있다.
한편, 구동 모듈에는 다양한 종류의 구동 기기가 이용될 수 있다. 일 예로, 본 발명의 디지털 현미경(1000)은 리드 스크류 방식(Lead screw type)이나 볼 스크류 방식(Ball screw type)으로 구동될 수 있다.
전자 제어 모듈(200)은 디지털 현미경(100)과 송신 및 수신하고, 디지털 현미경(100)으로부터 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 전달받아 분석을 수행하며, 디지털 현미경(100)을 제어하는 모듈일 수 있다.
사용자 기기(300)는 전자 제어 모듈(200)과 송신 및 수신하며, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)가 재생되는 기기일 수 있다.
사용자 기기(300)는 스마트폰, 태블릿, PDA, 랩톱 등과 같은 전기 통신 장치, 리모트 콘트롤러 중 하나 이상을 포함할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
사용자 기기(300)의 디스플레이 패널에서는 사용자의 선택에 따라, 도 6 및 도 7에서 나타내는 바와 같이 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2) 중 하나만 재생될 수도 있고, 도 8에서 나타내는 바와 같이 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)가 동시에 재생될 수도 있다.
나아가 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)가 동시에 재생되는 경우, 도 8의 (1)에서 나타내는 바와 같이 저배율 이미지(1)가 메인 화면으로 재생되는 동시에 고배율 이미지(2)가 서브 화면으로 재생될 수도 있고, 도 8의 (2)에서 나타내는 바와 같이 고배율 이미지(2)가 메인 화면으로 재생되는 동시에 저배율 이미지(1)가 서브 화면으로 재생될 수도 있다.
본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)은 인공지능(AI, Artificial intelligence)을 이용하여 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 데이터베이스에 저장된 표준 데이터와 비교하여 분석할 수 있다. 이 경우, 전자 제어 모듈(200)에는 비교 분석을 위한 인공지능이 프로그래밍되어 있을 수 있다.
일 예로, 본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)은 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 분석하여 암세포를 진단할 수 있다.
이 경우, 저배율 이미지(1)를 표준 데이터와 비교하여 특징점(암세포 의심 영역)을 도출한 후, 고배율 이미지(2)로 특징점(암세포)을 더욱 정밀하게 분석할 수 있다(저배율 이미지 분석 후 고배율 이미지 분석).
또한, 고배율 이미지(2)를 표준 데이터와 비교하여 특징점(암세포)을 도출한 후, 저배율 이미지(1)로 고배율 이미지(2)에서 도출된 특징점(암세포)의 주변 영역을 분석하여 특징점(암세포 의심 영역)을 추가로 발견할 수 있다(고배율 이미지 분석 후 저배율 이미지 분석).
나아가 사용자는 사용자 기기(300)를 통해 저배율 이미지(1)에서 고배율 이미지(2)로 관찰할 영역을 선택할 수 있다. 일 예로, 사용자는 사용자 기기(300)를 통해 저배율 이미지(1)를 관찰하다가 특징점이나 문제점이 발생한 특정 영역에 대해, 고배율 이미지(2)로 관찰할 수 있다.
즉, 본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)에서는 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)가 동시에 생성되기 때문에, 저배율 이미지(1)에 의해 고배율 이미지(2)가 가이드될 수 있다.
이하, 도 6와 도 7을 참조하여, 고배율 이미지(2)가 저배율 이미지(1)에 의해 가이드되는 것을 설명한다. 도 6와 도 7의 (1)은 사용자 기기(300)의 저배율 이미지(1)에서 특정 영역이 선택되는 것을 나타낸 개념도이고, 도 6와 도 7의 (2)는 사용자 기기(300)에서 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역이 재생되는 것을 나타낸 개념도이다.
사용자는 일 예로, 터치 스크린 방식으로 저배율 이미지(1)에서 특정 영역을 선택할 수 있다. 사용자 기기(300)는 사용자의 선택에 따른 콘트롤 신호를 전자 제어 모듈(200)로 송신할 수 있고, 전자 제어 모듈(200)은 사용자 기기(300)의 콘트롤 신호에 따라 디지털 현미경(100)을 제어할 수 있다.
이 경우, 전자 제어 모듈(200)은 고배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역이 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역(10)과 대응되도록, 디지털 현미경(100)의 구동 모듈을 제어할 수 있다.
이를 구현하기 위한 일 예로, 전자 제어 모듈(200)은 저배율 이미지(1)를 기준으로 형성한 이미지 좌표계(Image coordinate system)를 샘플(s)이 실재하는 공간을 기준으로 형성한 현미경 좌표계(Microscope coordinate system)와 매칭시키고, 고배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역(High magnification image pickup filed)과 샘플(s)에서 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역(10)과 매칭되는 부분(20)을 일치시킬 수 있다.
전자 제어 모듈(200)은 샘플(s)과 재물대(130)와 고배율 촬상 모듈(120) 중 적어도 하나를 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써, 고배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역(High magnification image pickup filed)과 샘플(s)에서 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역(10)과 매칭되는 부분(20)을 일치시킬 수 있다.
즉, 저배율 이미지(1) 상의 이미지 좌표계를 샘플(s)이 실재하는 공간 상의 현미경 좌표계와 매칭시킴으로써, 현미경 좌표계에 실재하는 샘플(s)에서 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역(10)과 매칭되는 부분(20)을 도출할 수 있다.
그 후, 샘플(s), 재물대(130) 및 고배율 촬상 모듈(120) 중 적어도 하나를 이동시켜, 샘플(s)의 선택 영역(10)과 고배율 촬상 영역을 일치시킴으로써, 저배율 이미지(1)에 의해서 가이드된 고배율 이미지(2)를 얻을 수 있다. 일 예로, 도 6에서 나타내는 바와 같이 샘플(s) 및 재물대(130) 중 적어도 하나를 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써 샘플(s)의 선택 영역(10)과 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역을 일치시키거나, 도 7에서 나타내는 바와 같이 고배율 촬상 모듈(120)을 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써 샘플(s)의 선택 영역(10)과 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역을 일치시킬 수 있다.
상술한 바에 따르면, 본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)에서 사용자는 저배율 이미지(1)에 의해 가이드되어 샘플(s)의 특징 영역에 대한 고배율 이미지(2)를 재생할 수 있다.
이상, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며, 제한적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.

Claims (10)

  1. 샘플이 안착되는 재물대;
    상기 샘플을 촬상하여 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈;
    상기 샘플을 촬상하여 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상 모듈; 및
    상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고,
    상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경되고,
    상기 고배율 촬상 모듈은 대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈이고,
    상기 대물 렌즈의 외측면을 따라 상기 저배율 촬상 모듈의 이미징을 위한 광을 출력하는 링 타입의 광원이 배치되는 것을 특징으로 하는 디지털 현미경.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 구동 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 x축과 y축을 기준으로 이동시키는 디지털 현미경.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 저배율 촬상 모듈의 광축과 상기 고배율 촬상 모듈의 광축은 z축을 기준으로 배열되는 디지털 현미경.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 구동 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 x축과 y축과 z축을 기준으로 이동시키고,
    상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역은 상기 구동 모듈의 x축 구동과 y축 구동에 의해 변경되고, 상기 고배율 촬상 모듈의 초점 거리는 상기 구동 모듈의 z축 구동에 의해 변경되는 디지털 현미경.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 저배율 촬상 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대의 사이에 배치되는 렌즈 프리 이미지 센서 모듈인 디지털 현미경.
  7. 디지털 현미경;
    저배율 이미지와 고배율 이미지가 재생되는 사용자 기기; 및
    상기 디지털 현미경을 제어하는 전자 제어 모듈을 포함하고,
    상기 디지털 현미경은,
    샘플이 안착되는 재물대;
    상기 샘플을 촬상하여 상기 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈;
    상기 샘플을 촬상하여 상기 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상 모듈; 및
    상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고,
    상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경되고,
    상기 전자 제어 모듈은,
    상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 대응되도록, 상기 구동 모듈을 제어하고,
    상기 고배율 촬상 모듈은 대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈이고,
    상기 대물 렌즈의 외측면을 따라 상기 저배율 촬상 모듈의 이미징을 위한 광을 출력하는 링 타입의 광원이 배치되는 것을 특징으로 하는 디지털 현미경 시스템.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 전자 제어 모듈은 상기 저배율 이미지를 기준으로 형성한 이미지 좌표계를 상기 샘플이 실재하는 공간을 기준으로 형성한 현미경 좌표계와 매칭시키고, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역과 상기 샘플에서 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 매칭되는 부분을 일치시키는 디지털 현미경 시스템.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 전자 제어 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 상기 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역과 상기 샘플에서 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 매칭되는 부분을 일치시키는 디지털 현미경 시스템.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 전자 제어 모듈은 저배율 이미지와 고배율 이미지 중 적어도 하나를 데이터베이스의 표준 데이터와 비교하여 분석하는 디지털 현미경 시스템.
KR1020180135394A 2018-10-04 2018-11-06 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템 KR102259841B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180135394A KR102259841B1 (ko) 2018-11-06 2018-11-06 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템
PCT/KR2019/013001 WO2020071834A1 (ko) 2018-10-04 2019-10-04 이미지 센서 모듈, 소형 디지털 현미경 및 소형 디지털 현미경 어레이 시스템, 실시간 3차원 디지털 현미경, 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180135394A KR102259841B1 (ko) 2018-11-06 2018-11-06 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200052157A KR20200052157A (ko) 2020-05-14
KR102259841B1 true KR102259841B1 (ko) 2021-06-02

Family

ID=70737042

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180135394A KR102259841B1 (ko) 2018-10-04 2018-11-06 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102259841B1 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102223433B1 (ko) * 2020-11-24 2021-03-05 주식회사 트랙스원 디지털 현미경
KR102291166B1 (ko) 2021-06-02 2021-08-19 김진호 필름 이물질 고속 자동 검출 장치
WO2023121414A1 (ko) * 2021-12-24 2023-06-29 주식회사 자비스옵틱스 3차원 엑스선 현미경의 해상도 듀얼모드 변환 장치
KR102485850B1 (ko) 2022-08-18 2023-01-09 주식회사 제덱스 광산란과 이미지 분석을 이용한 광학 이물질 검출 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001117018A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Olympus Optical Co Ltd 画像表示装置
JP2005166991A (ja) 2003-12-03 2005-06-23 Disco Abrasive Syst Ltd アライメント装置及び加工装置
KR101706180B1 (ko) 2016-03-28 2017-02-16 재단법인대구경북과학기술원 투명한 무채색의 복합 물질을 가시적으로 관찰할 수 있는 것을 특징으로 하는 세포 관측 장치 및 세포 관측 방법
WO2018060619A1 (fr) * 2016-09-30 2018-04-05 Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives Dispositif d'observation d'un échantillon et procédé d'observation d'un échantillon

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120075883A (ko) * 2010-12-29 2012-07-09 전남대학교산학협력단 어류질병 진단시스템
KR20180000430U (ko) 2016-08-03 2018-02-14 주식회사 다해레이저 백라이트가 구비된 현미경

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001117018A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Olympus Optical Co Ltd 画像表示装置
JP2005166991A (ja) 2003-12-03 2005-06-23 Disco Abrasive Syst Ltd アライメント装置及び加工装置
KR101706180B1 (ko) 2016-03-28 2017-02-16 재단법인대구경북과학기술원 투명한 무채색의 복합 물질을 가시적으로 관찰할 수 있는 것을 특징으로 하는 세포 관측 장치 및 세포 관측 방법
WO2018060619A1 (fr) * 2016-09-30 2018-04-05 Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives Dispositif d'observation d'un échantillon et procédé d'observation d'un échantillon

Also Published As

Publication number Publication date
KR20200052157A (ko) 2020-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102259841B1 (ko) 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템
US8982457B2 (en) Microscope system and illumination intensity adjusting method
US20220361737A1 (en) Fluorescence Imaging Scope With Dual Mode Focusing Structures
US10116848B2 (en) Illumination and imaging system for imaging raw samples with liquid in a sample container
US8791427B2 (en) Biological-specimen observation apparatus
CN102871634A (zh) 激光内窥镜系统及其诊断与治疗的方法
US9906698B2 (en) Imaging apparatus and imaging method
US10222597B2 (en) Medical optical observation instrument and method for contrasting polarization-rotating tissue
US9772540B2 (en) Autofocus for imaging system
CN113383270B (zh) 照明装置以及摄像装置
US11921277B2 (en) Image acquisition device and image acquisition method
JP7137422B2 (ja) 顕微鏡装置
JP4063469B2 (ja) 超微小空隙から内部を観察するための装置
US20120050512A1 (en) Image capturing apparatus and endoscope system
JP7251957B2 (ja) 拡大観察装置
US20160018631A1 (en) High versatile combinable microscope base and microscope having the same
EP3961285A1 (en) Microscope, microscope system and method for imaging an object using a microscope
KR102579029B1 (ko) 광전자소자의 결함 분석용 현미경
US20230258918A1 (en) Digital microscope with artificial intelligence based imaging
JP3234921U (ja) マイクロスコープ
US20240236467A9 (en) Image acquisition apparatus, image acquisition method, and medium
US20240137637A1 (en) Image acquisition apparatus, image acquisition method, and medium
JP3115100U (ja) 顕微鏡
JP2000235147A (ja) 生体試料観察装置
JP2008170873A (ja) 顕微鏡鏡筒

Legal Events

Date Code Title Description
AMND Amendment
X091 Application refused [patent]
AMND Amendment
X601 Decision of rejection after re-examination
J201 Request for trial against refusal decision
J301 Trial decision

Free format text: TRIAL NUMBER: 2020101001346; TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20200518

Effective date: 20210412

GRNO Decision to grant (after opposition)
GRNT Written decision to grant