KR102257517B1 - Tensile inspection apparatus of film - Google Patents

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Abstract

실시예에 따른 필름의 인장 검사장치는 필름을 고정하는 지지부와, 상기 지지부 상에 배치되어 상기 필름에 광을 조사하는 광원부와, 상기 광원부와 상기 필름 사이에 배치되며 일면에 패턴이 형성된 투명 플레이트와, 상기 필름에 반사되는 패턴의 이미지를 수집하는 이미지 수집부를 포함할 수 있다.
실시예는 비접촉식으로 도너 필름의 인장 상태를 검사함으로써, 이물에 의한 오염 및 손상을 방지할 수 있는 효과가 있다.The tensile inspection apparatus for a film according to the embodiment includes a support for fixing a film, a light source unit disposed on the support to irradiate light to the film, a transparent plate disposed between the light source unit and the film and having a pattern formed on one surface thereof , It may include an image collection unit for collecting the image of the pattern reflected on the film.
The embodiment has an effect of preventing contamination and damage by foreign substances by inspecting the tensile state of the donor film in a non-contact manner.

Description

필름의 인장 검사장치{TENSILE INSPECTION APPARATUS OF FILM}TENSILE INSPECTION APPARATUS OF FILM {TENSILE INSPECTION APPARATUS OF FILM}

실시예는 도너 필름의 인장 상태를 검사하기 위한 인장 검사장치에 관한 것이다.The embodiment relates to a tensile test apparatus for inspecting a tensile state of a donor film.

일반적으로, 유기발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode; OLED) 표시장치에 사용되는 OLED 소자는 두 개의 전극 사이에 발광층이 형성된 자발광소자이다. OLED 소자는 전자(electron) 주입전극(cathode)과 정공(hole) 주입전극(anode)으로부터 각각 전자와 정공을 발광층 내부로 주입시켜, 주입된 전자와 정공이 결합한 엑시톤(exciton)이 여기 상태로부터 기저상태로 떨어질 때 발광하는 소자이다.In general, an OLED device used in an organic light emitting diode (OLED) display device is a self-luminous device in which a light emitting layer is formed between two electrodes. The OLED device injects electrons and holes into the light emitting layer, respectively, from an electron injection electrode and a hole injection electrode, so that the excitons in which the injected electrons and holes are combined are based on the excitation state. It is a device that emits light when it falls into a state.

OLED 화소 패터닝 기술 중, 도너 필름(Donor Film)을 사용하여 레이저로 패터닝 하는 기술에 있어서, 도너 필름의 인장 상태에 따라 OLED의 품질리 결정될 수 있다.Among OLED pixel patterning technologies, in the technology of laser patterning using a donor film, the quality of the OLED may be determined according to the tensile state of the donor film.

종래 도너 필름의 인장 상태를 검사하기 위한 검사장치는 도너 필름 상에 장력계(Tension Gauge)를 접촉시켜 인장 상태를 검사하고 있으나, 도너 필름에 장력계가 접촉됨으로써 발생되는 이물에 의한 오염 및 손상을 발생시킨다.Conventionally, an inspection device for inspecting the tensile state of a donor film is inspecting the tensile state by contacting a tension gauge on the donor film, but contamination and damage caused by foreign matters generated by contacting the tension gauge with the donor film occur. Let it.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 실시예는 도너 필름의 인장 상태를 검사 시 발생되는 도너 필름의 오염 및 손상을 방지하기 위한 인장 검사장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.In order to solve the above problems, an object of the embodiment is to provide a tensile testing device for preventing contamination and damage of a donor film that occurs when a tensile state of the donor film is inspected.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 실시예에 따른 필름의 인장 검사장치는 필름을 고정하는 지지부와, 상기 지지부 상에 배치되어 상기 필름에 광을 조사하는 광원부와, 상기 광원부와 상기 필름 사이에 배치되며 일면에 패턴이 형성된 투명 플레이트와, 상기 필름에 반사되는 패턴의 이미지를 수집하는 이미지 수집부를 포함할 수 있다.In order to solve the above problems, the tensile inspection apparatus for a film according to an embodiment includes a support for fixing a film, a light source unit disposed on the support and irradiating light to the film, and disposed between the light source unit and the film. And a transparent plate having a pattern formed on one surface thereof, and an image collecting unit for collecting an image of a pattern reflected on the film.

또한, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 실시예에 따른 필름의 인장 검사장치는 필름을 고정하는 지지유닛과, 상기 지지유닛 상에 배치된 검사유닛과, 상기 검사유닛을 이동시키는 이동유닛;을 포함하고, 상기 검사유닛은 필름에 광을 조사하는 광원부와, 상기 광원부와 필름 사이에 배치되며 일면에 패턴이 형성된 투명 플레이트와, 상기 필름에 반사되는 패턴의 이미지를 수집하는 이미지 수집부를 포함할 수 있다.In addition, in order to solve the above problems, a film tensile test apparatus according to an embodiment includes: a support unit for fixing a film, an inspection unit disposed on the support unit, and a moving unit for moving the inspection unit; Including, the inspection unit may include a light source unit for irradiating light to the film, a transparent plate disposed between the light source unit and the film and having a pattern formed on one surface thereof, and an image collecting unit collecting an image of a pattern reflected on the film have.

또한, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 실시예에 따른 필름의 인장 검사방법은 필름에 광을 조사하는 단계와, 상기 필름으로부터 반사되는 이미지를 수집하는 단계와, 상기 수집된 이미지로부터 필름의 인장 상태를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.In addition, in order to solve the above problems, the tensile inspection method of the film according to the embodiment includes the steps of irradiating light to the film, collecting the image reflected from the film, and stretching the film from the collected image. It may include the step of determining the state.

실시예는 비접촉식으로 도너 필름의 인장 상태를 검사함으로써, 이물에 의한 오염 및 손상을 방지할 수 있는 효과가 있다.The embodiment has an effect of preventing contamination and damage by foreign substances by inspecting the tensile state of the donor film in a non-contact manner.

또한, 실시예는 소면적의 도너 필름과 대면적의 도너 필름의 인장 상태를 효과적으로 검사할 수 있는 효과가 있다.In addition, the embodiment has an effect of effectively inspecting the tensile state of a small-area donor film and a large-area donor film.

또한, 실시예는 도너 필름의 인장 검사유닛을 이동시키도록 이동 유닛을 구비함으로써, 대면적의 도너 필름에 대해 인장 상태를 효과적으로 검사할 수 있는 효과가 있다. In addition, in the embodiment, by providing the moving unit to move the tensile inspection unit of the donor film, there is an effect of effectively inspecting the tensile state of the donor film having a large area.

도 1은 제1 실시예에 따른 인장 검사장치를 나타낸 개략도이다.
도 2는 제1 실시예에 따른 인장 검사장치의 지지부의 모습을 나타낸 평면도이다.
도 3은 제1 실시예에 따른 인장 검사장치의 투명 플레이트의 모습을 나타낸 사시도이다.
도 4는 제1 실시예에 따른 인장 검사장치의 이미지 수집부로부터 수집된 이미지를 나타낸 도면이다.
도 5는 제2 실시예에 따른 인장 검사장치를 나타낸 개략도이다.
도 6은 제2 실시예에 따른 인장 검사장치의 검사유닛을 나타낸 구성도이다.1 is a schematic diagram showing a tensile test apparatus according to a first embodiment.
2 is a plan view showing a state of a support portion of the tensile testing apparatus according to the first embodiment.
3 is a perspective view showing a state of a transparent plate of the tensile testing apparatus according to the first embodiment.
4 is a view showing an image collected from an image collecting unit of the tensile testing apparatus according to the first embodiment.
5 is a schematic diagram showing a tensile test apparatus according to a second embodiment.
6 is a block diagram showing an inspection unit of a tensile inspection apparatus according to a second embodiment.

이하, 도면을 참조하여 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the drawings.

도 1은 제1 실시예에 따른 인장 검사장치를 나타낸 개략도이고, 도 2는 제1 실시예에 따른 인장 검사장치의 지지부의 모습을 나타낸 평면도이고, 도 3은 제1 실시예에 따른 인장 검사장치의 투명 플레이트의 모습을 나타낸 사시도이고, 도 4는 제1 실시예에 따른 인장 검사장치의 이미지 수집부로부터 수집된 이미지를 나타낸 도면이다.1 is a schematic diagram showing a tensile testing apparatus according to a first embodiment, FIG. 2 is a plan view showing a support portion of a tensile testing apparatus according to a first embodiment, and FIG. 3 is a tensile testing apparatus according to the first embodiment Is a perspective view showing a state of the transparent plate, and FIG. 4 is a view showing an image collected from the image collection unit of the tensile inspection apparatus according to the first embodiment.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 제1 실시예에 따른 인장 검사장치는 도너 필름(S)을 고정하는 지지부(110)와, 상기 지지부(110) 상에 배치되어 도너 필름(S)에 광을 조사하는 광원부(120)와, 상기 광원부(120)와 도너 필름(S) 사이에 배치되며 일면에 격자 무늬 패턴이 형성된 투명 플레이트(130)와, 상기 도너 필름(S)에 반사되는 격자 무늬 패턴의 이미지를 수집하는 이미지 수집부(140)를 포함할 수 있다.1 to 3, the tensile test apparatus according to the first embodiment includes a support 110 for fixing a donor film S, and is disposed on the support 110 to transmit light to the donor film S. The light source unit 120 to be irradiated, a transparent plate 130 disposed between the light source unit 120 and the donor film S and having a grid pattern formed on one surface thereof, and a grid pattern pattern reflected on the donor film S. It may include an image collection unit 140 for collecting images.

지지부(110)는 도너 필름(S)을 고정시키는 역할을 한다. 지지부(110)는 도너 필름(S)의 형상과 대응되는 형상으로 형성될 수 있다. 지지부(110)는 사각 틀 형상으로 형성될 수 있다. 지지부(110)의 형상은 한정되지 않으며, 다양한 형상으로 형성될 수 있다.The support 110 serves to fix the donor film S. The support part 110 may be formed in a shape corresponding to the shape of the donor film S. The support 110 may be formed in a rectangular frame shape. The shape of the support part 110 is not limited, and may be formed in various shapes.

지지부(110)의 상부 일측 및 타측에는 도너 필름(S)을 지지하기 위한 고정부재(131)가 배치될 수 있다. 고정부재(131)는 도너 필름(S)의 양측을 고정하여 장력을 유지하도록 할 수 있다. 지지부(110)의 중심부에는 상하로 관통 형성된 관통홀(103)이 형성될 수 있다. 관통홀(103)은 지지부(110)에 고정된 도너 필름(S)의 하부면이 지지부(110)와 접촉되는 것을 방지할 수 있다. A fixing member 131 for supporting the donor film S may be disposed on one side and the other side of the upper portion of the support part 110. The fixing member 131 may fix both sides of the donor film S to maintain tension. A through hole 103 which is vertically penetrated may be formed in the center of the support part 110. The through hole 103 may prevent the lower surface of the donor film S fixed to the support part 110 from contacting the support part 110.

상기에서는 도너 필름을 실시예로 설명하였으나, 이에 한정되지 않으며, 제조 공정 시, 필름을 인장하여 사용하는 경우, 인장 상태 검사가 필요한 다양한 필름에 적용될 수 있다.In the above, the donor film has been described as an example, but the present invention is not limited thereto, and when the film is stretched and used during the manufacturing process, it may be applied to various films requiring tensile state inspection.

광원부(120)는 지지부(110)의 상부에 배치될 수 있다. 광원부(120)로는 램프, LED 등 다양한 조명부재가 사용될 수 있다. 광원부(120)는 지지부(110)에 고정된 도너 필름(S)을 향해 광(L)을 출사하게 된다.The light source unit 120 may be disposed above the support unit 110. Various lighting members such as lamps and LEDs may be used as the light source unit 120. The light source unit 120 emits light L toward the donor film S fixed to the support unit 110.

투명 플레이트(130)는 광원부(120)와 지지부(110) 사이에 배치될 수 있다. 투명 플레이트(130)는 광(L)이 조사되는 도너 필름(S)의 상부에 배치될 수 있다. 투명 플레이트(130)는 투명 재질의 수지 예컨대, 폴리메틸메타크릴레이트(Polymethly Methacrylate, PMMA), 폴리카보네이트(Polycarbonate, PC), 폴리스틸렌(Polystyrene, PS) 등의 재질을 포함할 수 있다. 투명 플레이트(130)는 삼각, 사각 등의 다각 형상이나, 원, 반구 형상을 모두 포함할 수 있다. 투명 플레이트(130)의 형상은 이에 한정되지 않고, 다각, 원, 반구 외에 다양한 형상으로 형성될 수 있다.The transparent plate 130 may be disposed between the light source unit 120 and the support unit 110. The transparent plate 130 may be disposed on the donor film S to which the light L is irradiated. The transparent plate 130 may include a transparent resin, such as polymethly methacrylate (PMMA), polycarbonate (PC), polystyrene (PS), or the like. The transparent plate 130 may have a polygonal shape such as a triangular shape or a square shape, or a circular shape or a hemispherical shape. The shape of the transparent plate 130 is not limited thereto, and may be formed in various shapes other than polygons, circles, and hemispheres.

도 3에 도시된 바와 같이, 투명 플레이트(130)의 일면에는 패턴(131)이 형성될 수 있다. 예컨대, 투명 플레이트(130)의 일면에는 격자 무늬(Grid)의 패턴(131)이 형성될 수 있다. 상기 패턴(131)은 투명 플레이트(130)의 일면에 잉크를 인쇄하여 형성할 수 있다. 투명 플레이트(130)는 검사되는 도너 필름의 크기에 맞춰 폭을 형성할 수 있다.As shown in FIG. 3, a pattern 131 may be formed on one surface of the transparent plate 130. For example, a grid pattern 131 may be formed on one surface of the transparent plate 130. The pattern 131 may be formed by printing ink on one surface of the transparent plate 130. The transparent plate 130 may have a width according to the size of the donor film to be inspected.

투명 플레이트(130)는 투명 재질의 수지의 일면에 격자 무늬 패턴(131)을 형성하게 되면 매우 간단한 방법으로 제작할 수 있다. 투명 플레이트(130)의 일면에 형성된 패턴(131)은 격자 무늬 형상에 한정되지 않으며, 다양한 형상으로 형성될 수 있다. The transparent plate 130 can be manufactured by a very simple method if the grid pattern 131 is formed on one surface of a transparent resin. The pattern 131 formed on one surface of the transparent plate 130 is not limited to a grid pattern, and may be formed in various shapes.

이미지 수집부(140)는 도너 필름(S)으로부터 반사되는 광(L) 출사 경로에 배치될 수 있다. 이미지 수집부(140)는 도너 필름(S)으로부터 반사되는 이미지를 수집하는 역할을 한다. 이미지 수집부로는 카메라. CCD 센서 등을 포함할 수 있다. 이러한 이미지 수집부(140)는 보다 선명한 이미지를 수집할 수 있는 효과가 있다.The image collection unit 140 may be disposed in an emission path of light L reflected from the donor film S. The image collection unit 140 serves to collect an image reflected from the donor film S. The camera as the image collection unit. It may include a CCD sensor or the like. The image collection unit 140 has an effect of collecting a clearer image.

도 4a에 도시된 바와 같이, 이미지 수집부(140)로부터 수집된 이미지의 패턴이 격자 무늬 형상을 가지면, 도너 필름의 인장 상태는 양호하다고 판단할 수 있다. 반면, 도 4b 및 도 4c에 도시된 바와 같이, 이미지 수집부로부터 수집된 이미지의 패턴이 찌그러진 격자 무늬 형상을 가지게 되면, 도너 필름의 인장 상태는 나쁘다고 판단할 수 있다.As shown in FIG. 4A, if the pattern of the image collected from the image collection unit 140 has a grid pattern, it may be determined that the tensile state of the donor film is good. On the other hand, as shown in FIGS. 4B and 4C, when the pattern of the image collected from the image collection unit has a distorted grid pattern, it may be determined that the tension state of the donor film is bad.

광원부(120)와 투명 플레이트(130) 사이에는 확산 플레이트(150)가 더 배치될 수 있다. 확산 플레이트(150)는 광원부(120)에서 출사된 광(L)의 확산 및 광(L)의 세기를 균일하게 제어할 수 있다. 확산 플레이트(150)로는 수지 재질의 플레이트 내부에 확산제를 첨가함으로써 제작할 수 있다.A diffusion plate 150 may be further disposed between the light source unit 120 and the transparent plate 130. The diffusion plate 150 may uniformly control the diffusion of the light L emitted from the light source unit 120 and the intensity of the light L. The diffusion plate 150 may be manufactured by adding a diffusion agent to the inside of the plate made of a resin material.

광원부(120)로부터 광(L)이 출사되면 출사된 광(L)은 확산 플레이트(150)를 통과하게 된다. 확산 플레이트(150)를 통과한 광(L)은 확산 및 균일한 광을 가질 수 있다. 확산 플레이트(150)를 통과한 광(L)은 격자 무늬 패턴(131)이 형성된 투명 플레이트(130) 통과하게 된다. 투명 플레이트(130)를 통과한 광(L)은 도너 필름(S)의 상부에 조사될 수 있다. 도너 필름(S)의 상부에는 격자 무늬의 패턴 이미지가 생성될 수 있다. 도너 필름(S)의 상부로부터 반사된 패턴 이미지는 이미지 수집부(140)로 수집될 수 있다. 수집된 이미지에 의해 도너 필름(S)의 인장 상태를 최종 결정될 수 있다.When light L is emitted from the light source unit 120, the emitted light L passes through the diffusion plate 150. The light L passing through the diffusion plate 150 may have diffused and uniform light. The light L passing through the diffusion plate 150 passes through the transparent plate 130 on which the grid pattern 131 is formed. The light L passing through the transparent plate 130 may be irradiated onto the donor film S. A pattern image of a grid pattern may be generated on the donor film S. The pattern image reflected from the top of the donor film S may be collected by the image collecting unit 140. The tensile state of the donor film S may be finally determined by the collected image.

상기와 같이, 제1 실시예에 따른 인장 검사장치는 소면적의 도너 필름의 인장을 용이하게 검사할 수 있는 효과가 있다.As described above, the tensile test apparatus according to the first embodiment has an effect of easily inspecting the tensile of a small-area donor film.

또한, 제1 실시예에 따른 인장 검사장치는 비접촉식으로 도너 필름의 인장 상태를 검사함으로써, 이물에 의한 오염 및 파손을 방지할 수 있는 효과가 있다.
In addition, the tensile testing apparatus according to the first embodiment has an effect of preventing contamination and damage due to foreign substances by inspecting the tensile state of the donor film in a non-contact manner.

도 5는 제2 실시예에 따른 인장 검사장치를 나타낸 개략도이고, 도 6은 제2 실시예에 따른 인장 검사장치의 검사유닛을 나타낸 구성도이다. 5 is a schematic diagram showing a tensile testing apparatus according to a second embodiment, and FIG. 6 is a configuration diagram showing an inspection unit of a tensile testing apparatus according to the second embodiment.

도 5 및 도 6을 참조하면, 제2 실시예에 따른 인장 검사장치는 도너 필름(S)을 고정하는 지지유닛(210)과, 상기 지지유닛(210) 상에 배치된 검사유닛(220)과, 상기 검사유닛(220)을 이동시키는 이동유닛(230)을 포함할 수 있다.5 and 6, the tensile test apparatus according to the second embodiment includes a support unit 210 for fixing a donor film S, an inspection unit 220 disposed on the support unit 210, and , It may include a moving unit 230 for moving the inspection unit 220.

지지유닛(210)은 도너 필름(S)을 고정시키는 역할을 한다. 지지유닛(210)은 사각 틀 형상으로 형성될 수 있다. 지지유닛(210)의 상부 일측 및 타측에는 도너 필름(S)을 지지하기 위한 고정부재(211)가 배치될 수 있다. 지지유닛(210)의 중심부에는 상하로 관통 형성된 관통홀(213)이 형성될 수 있다. The support unit 210 serves to fix the donor film (S). The support unit 210 may be formed in a rectangular frame shape. A fixing member 211 for supporting the donor film S may be disposed on the upper side and the other side of the support unit 210. A through hole 213 which is vertically penetrated may be formed in the center of the support unit 210.

검사유닛(220)은 지지유닛(210)의 상부에 배치될 수 있다. 검사유닛(220)은 도너 필름(S)을 향해 광(L)을 출사하는 광원부(221)와, 상기 광원부(221)와 도너 필름(S) 사이에 배치되며 일면에 격자 무늬 패턴이 형성된 투명 플레이트(222)와, 상기 투명 플레이트(222)와 도너 필름(S) 사이에 배치된 제1 렌즈부(225)와, 상기 제1 렌즈부(225)와 도너 필름(S) 사이에 배치된 빔 스플리터(Beam Splitter, 224)와, 상기 도너 필름(S)으로부터 반사되는 격자 무늬 패턴의 이미지를 수집하는 이미지 수집부(223)와, 상기 이미지 수집부(223)와 빔 스플리터(224) 사이에 배치된 제2 렌즈부(226)를 포함할 수 있다. 빔 스플리터(224)에 의해 광원부(221) 및 이미지 수집부(223)의 설치 위치의 자유도를 확보할 수 있는 효과가 있다.The inspection unit 220 may be disposed above the support unit 210. The inspection unit 220 includes a light source unit 221 that emits light L toward the donor film S, and a transparent plate disposed between the light source unit 221 and the donor film S and having a grid pattern formed on one surface thereof. 222, a first lens unit 225 disposed between the transparent plate 222 and the donor film S, and a beam splitter disposed between the first lens unit 225 and the donor film S (Beam Splitter, 224), an image collecting unit 223 for collecting an image of a grid pattern reflected from the donor film S, and disposed between the image collecting unit 223 and the beam splitter 224 A second lens unit 226 may be included. The beam splitter 224 has an effect of securing a degree of freedom of installation positions of the light source unit 221 and the image collection unit 223.

광원부(221)는 램프, LED 등 다양한 조명부재가 사용될 수 있다. 광원부(221)는 지지유닛(210)에 고정된 도너 필름(S)을 향해 광을 조사하게 된다. 투명 플레이트(222)는 광원부(221)의 광 출사면에 배치될 수 있다. 투명 플레이트(222)의 일면에는 격자 무늬 패턴이 형성될 수 있다. 상기 패턴은 투명 플레이트(222)의 일면에 메탈을 증착하여 형성할 수 있다. 상기 패턴은 격자 무늬 형상에 한정되지 않으며, 다양한 형상으로 형성될 수 있다. As the light source unit 221, various lighting members such as lamps and LEDs may be used. The light source unit 221 irradiates light toward the donor film S fixed to the support unit 210. The transparent plate 222 may be disposed on the light exit surface of the light source unit 221. A grid pattern may be formed on one surface of the transparent plate 222. The pattern may be formed by depositing a metal on one surface of the transparent plate 222. The pattern is not limited to a grid pattern, and may be formed in various shapes.

투명 플레이트(222)의 일측에는 제1 렌즈부(225)가 배치될 수 있다. 제1 렌즈부(225)는 투명 플레이트(222)를 통과한 광(L)의 확산 및 직진성을 향상시키는 역할을 한다. 이를 위해 제1 렌즈부(225)는 오목렌즈(225a)와 볼록렌즈(225b)의 조합으로 구성할 수 있다. 오목렌즈(225a)와 볼록렌즈(225b)는 복수개가 구비될 수 있다.A first lens unit 225 may be disposed on one side of the transparent plate 222. The first lens unit 225 serves to improve diffusion and straightness of the light L passing through the transparent plate 222. To this end, the first lens unit 225 may be formed of a combination of a concave lens 225a and a convex lens 225b. A plurality of concave lenses 225a and convex lenses 225b may be provided.

제1 렌즈부(225)의 일측에는 빔 스플리터(224)가 배치될 수 있다. 빔 스플리터(224)는 제1 렌즈부(225)를 통과한 광(L)은 투과시키고 도너 필름(S)으로부터 반사된 광(L)은 이미지 수집부(223)를 향해 반사시키는 역할을 한다. A beam splitter 224 may be disposed on one side of the first lens unit 225. The beam splitter 224 transmits the light L passing through the first lens unit 225 and reflects the light L reflected from the donor film S toward the image collection unit 223.

이미지 수집부(223)는 빔 스플리터(224)로부터 반사된 광(L)의 이미지를 수집하는 역할을 한다. 이미지 수집부(223)로는 카메라, CCD 센서를 포함할 수 있다. The image collection unit 223 serves to collect an image of the light L reflected from the beam splitter 224. The image collection unit 223 may include a camera and a CCD sensor.

이미지 수집부(223)와 빔 스플리터(224) 사이에는 제2 렌즈부(226)를 더 포함할 수 있다. 제2 렌즈부(226)는 광의 수렴 및 직진성을 향상시키는 역할을 한다. 이러한 제2 렌즈부(226)는 복수의 볼록 렌즈(226a)와, 오목 렌즈(226b)의 조합으로 구성할 수 있다.A second lens unit 226 may be further included between the image collection unit 223 and the beam splitter 224. The second lens unit 226 serves to improve light convergence and straightness. The second lens unit 226 may be formed of a combination of a plurality of convex lenses 226a and a concave lens 226b.

이동유닛(230)은 검사유닛(220)을 이동시키는 역할을 한다. 이동 유닛(230)은 제1 이동유닛(231)과 제2 이동유닛(233)을 포함할 수 있다. 제1 이동유닛(231)은 검사유닛(220)을 제1 방향 및 제2 방향으로 이동시킬 수 있다. 제1 방향 및 제2 방향은 서로 90도를 이룰 수 있다. 다시 말해, 제1 이동유닛(231)은 검사유닛(220)을 상하 및 좌우 방향으로 이동시킬 수 있다. 제2 이동유닛(233)은 검사유닛(220)을 제3 방향으로 이동시킬 수 있다. 제3 방향은 제1 방향과 90도를 이루는 방향일 수 있다.The moving unit 230 serves to move the inspection unit 220. The moving unit 230 may include a first moving unit 231 and a second moving unit 233. The first moving unit 231 may move the inspection unit 220 in a first direction and a second direction. The first direction and the second direction may form 90 degrees to each other. In other words, the first moving unit 231 may move the inspection unit 220 in the vertical and horizontal directions. The second moving unit 233 may move the inspection unit 220 in a third direction. The third direction may be a direction forming 90 degrees with the first direction.

상기와 같은 이동 유닛(230)은 검사유닛(220)을 자유롭게 움직이도록 제어함으로써, 대면적의 도너 필름(S)에 대해 인장 상태를 효과적으로 검사할 수 있는 효과가 있다.
The moving unit 230 as described above has the effect of effectively inspecting the tensile state of the donor film S having a large area by controlling the inspection unit 220 to move freely.

상기에서는 도면 및 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 실시예의 기술적 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 실시예는 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음은 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to the drawings and embodiments, those skilled in the art will understand that the embodiments can be variously modified and changed without departing from the technical spirit of the embodiments described in the following claims. I will be able to.

110: 지지부 120: 광원부
130: 투명 플레이트 131: 패턴
140: 이미지 수집부 150: 확산 플레이트
220: 검사장치 224: 빔 스플리터
225: 제1 렌즈부 226: 제2 렌즈부110: support 120: light source
130: transparent plate 131: pattern
140: image acquisition unit 150: diffusion plate
220: inspection device 224: beam splitter
225: first lens unit 226: second lens unit

Claims (12)

필름을 고정하는 지지부;
상기 지지부 상에 배치되어 상기 필름에 광을 조사하는 광원부;
상기 광원부와 상기 필름 사이에 배치되며 일면에 패턴이 형성된 투명 플레이트;
상기 필름에 반사되는 패턴의 이미지를 수집하는 이미지 수집부; 및
상기 투명 플레이트와 상기 필름 사이에 빔 스플리터를 포함하는 필름의 인장 검사장치.A support for fixing the film;
A light source unit disposed on the support unit to irradiate light onto the film;
A transparent plate disposed between the light source unit and the film and having a pattern formed on one surface thereof;
An image collection unit collecting an image of a pattern reflected on the film; And
Tensile inspection apparatus for a film comprising a beam splitter between the transparent plate and the film. 제 1 항에 있어서,
상기 광원부와 상기 투명 플레이트 사이에는 확산 플레이트가 더 배치되는 것을 특징으로 하는 필름의 인장 검사장치.The method of claim 1,
A film tensile inspection apparatus, characterized in that a diffusion plate is further disposed between the light source unit and the transparent plate. 제 1 항에 있어서,
상기 투명 플레이트는 폴리메틸메타크릴레이트(Polymethly Methacrylate, PMMA), 폴리카보네이트(Polycarbonate, PC), 폴리스틸렌(Polystyrene, PS)을 포함하는 것을 특징으로 하는 필름의 인장 검사장치.The method of claim 1,
The transparent plate is a tensile testing apparatus for a film, characterized in that it comprises polymethyl methacrylate (PMMA), polycarbonate (PC), polystyrene (PS). 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 이미지 수집부는 카메라 또는 CCD 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 필름의 인장 검사장치.The method according to any one of claims 1 to 3,
The image collection unit tensile inspection apparatus of a film, characterized in that it comprises a camera or a CCD sensor. 필름을 고정하는 지지유닛;
상기 지지유닛 상에 배치된 검사유닛; 및
상기 검사유닛을 이동시키는 이동유닛;을 포함하고,
상기 검사유닛은 상기 필름에 광을 조사하는 광원부와, 상기 광원부와 상기 필름 사이에 배치되며 일면에 패턴이 형성된 투명 플레이트와, 상기 필름에 반사되는 패턴의 이미지를 수집하는 이미지 수집부, 및
상기 투명 플레이트와 상기 필름 사이에 빔 스플리터를 포함하는 것을 특징으로 하는 필름의 인장 검사장치.A support unit for fixing the film;
An inspection unit disposed on the support unit; And
Including; a moving unit for moving the inspection unit,
The inspection unit includes a light source unit for irradiating light to the film, a transparent plate disposed between the light source unit and the film and having a pattern formed on one surface thereof, and an image collection unit collecting an image of a pattern reflected on the film, and
Tensile inspection apparatus for a film comprising a beam splitter between the transparent plate and the film. 삭제delete 제 5 항에 있어서,
상기 투명 플레이트와 상기 필름 사이에는 광을 확산시키는 제1 렌즈부가 더 배치되고, 상기 빔 스플리터와 상기 이미지 수집부 사이에는 광을 수렴시키는 제2 렌즈부가 더 배치된 것을 특징으로 하는 필름의 인장 검사장치.The method of claim 5,
A first lens unit for diffusing light is further disposed between the transparent plate and the film, and a second lens unit for converging light is further disposed between the beam splitter and the image collecting unit. . 제 7 항에 있어서,
상기 제1 렌즈부 및 상기 제2 렌즈부는 오목 렌즈 및 볼록 렌즈의 조합으로 이루어진 것을 특징으로 하는 필름의 인장 검사장치.The method of claim 7,
The first lens portion and the second lens portion tensile inspection apparatus of a film, characterized in that the combination of a concave lens and a convex lens. 제 5 항 및 제7항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 이동유닛은 상기 검사유닛을 제1 방향 및 제2 방향으로 이동시키기 위한 제1 이동유닛과, 상기 제1 방향과 수직인 제3 방향으로 상기 검사유닛을 이동시키기 위한 제2 이동유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 필름의 인장 검사장치.The method according to any one of claims 5 and 7 to 8,
The moving unit includes a first moving unit for moving the inspection unit in a first direction and a second direction, and a second moving unit for moving the inspection unit in a third direction perpendicular to the first direction. A film tensile test apparatus, characterized in that. 필름에 광을 조사하는 단계;
상기 필름으로부터 반사되는 이미지를 수집하는 단계; 및
상기 수집된 이미지로부터 상기 필름의 인장 상태를 판단하는 단계; 를 포함하고,
상기 수집하는 단계는 상기 필름에 조사되는 광은 투과시키고, 상기 필름으로부터 반사되는 광은 반사시키는 빔 스플리터를 사용하는 단계를 포함하는 필름의 인장 검사방법.Irradiating the film with light;
Collecting an image reflected from the film; And
Determining a tensile state of the film from the collected image; Including,
The collecting step includes using a beam splitter that transmits light irradiated to the film and reflects light reflected from the film. 제 10 항에 있어서,
상기 필름에 광을 조사하는 단계는 격자 무늬가 포함된 광을 조사하는 것을 특징으로 하는 필름의 인장 검사방법.The method of claim 10,
Irradiating light to the film is a tensile inspection method of a film, characterized in that irradiating light including a grid pattern. 제 11 항에 있어서,
상기 필름의 인장 상태는 격자 무늬 패턴의 찌그러진 정도에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 필름의 인장 검사방법.The method of claim 11,
The tensile state of the film is a tensile test method of a film, characterized in that determined according to the degree of distortion of the grid pattern.
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