KR102254781B1 - An adhesive composition, a laminate, a method of manufacturing a laminate - Google Patents

An adhesive composition, a laminate, a method of manufacturing a laminate Download PDF

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Abstract

(과제) 팬 아웃형 기술에 의해, 봉지체를 형성하기 위한 적층체에 사용되는 접착제 조성물로서, 높은 약품 내성을 갖추고, 고온에 있어서 높은 점탄성을 유지할 수 있는 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물을 제공한다.
(해결 수단) 접착제 조성물은, 소자가 실장되는 배선층과, 소자와, 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체에 있어서의, 접착층을 형성하기 위한 접착제 조성물로서, 접착제 조성물은, 블록 공중합체와, 중합성 모노머와, 중합 개시제를 포함하고 있다.
(Task) Provide an adhesive composition capable of forming an adhesive layer capable of maintaining high chemical resistance and maintaining high viscoelasticity at high temperatures as an adhesive composition used in a laminate for forming an encapsulant by means of a fan-out type technology. do.
(Solution means) The adhesive composition is a laminate formed by laminating an encapsulant including a wiring layer on which an element is mounted, an element, and an encapsulant for encapsulating the element, on a support supporting the encapsulant through an adhesive layer. In the adhesive composition for forming the adhesive layer, the adhesive composition contains a block copolymer, a polymerizable monomer, and a polymerization initiator.

Description

접착제 조성물, 적층체 및 적층체의 제조 방법 {AN ADHESIVE COMPOSITION, A LAMINATE, A METHOD OF MANUFACTURING A LAMINATE}Adhesive composition, laminate, and manufacturing method of laminate {AN ADHESIVE COMPOSITION, A LAMINATE, A METHOD OF MANUFACTURING A LAMINATE}

본 발명은 접착제 조성물, 적층체 및 적층체의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an adhesive composition, a laminate, and a method for producing a laminate.

반도체 소자 (전자 부품) 를 포함하는 반도체 패키지 (반도체 장치) 로는, WLP (Wafer Level Package) 등이 알려져 있다. WLP 및 PLP 등의 반도체 패키지에는, 베어 칩의 단부 (端部) 에 있는 단자를 칩 에어리어 내에 재배치하는, 팬 인형 WLP (Fan-in Wafer Level Package) 등의 팬 인형 기술과, 칩 에어리어 외에 단자를 재배치하는, 팬 아웃형 WLP (Fan-out Wafer Level Package) 등의 팬 아웃형 기술이 알려져 있다. 특히, 팬 아웃형 기술은, 패널 상에 반도체 소자를 배치하여 패키지화하는 팬 아웃형 PLP (Fan-out Panel Level Package) 에 응용되고 있고, 반도체 장치의 집적화, 박형화 및 소형화 등을 실현하기 때문에, 이들과 같은 팬 아웃형 기술이 주목을 받고 있다.As a semiconductor package (semiconductor device) containing a semiconductor element (electronic component), a wafer level package (WLP) or the like is known. In semiconductor packages such as WLP and PLP, a fan doll technology such as fan doll WLP (Fan-in Wafer Level Package), in which terminals at the ends of bare chips are rearranged in the chip area, and terminals other than the chip area are provided. A fan-out type technology such as a fan-out type WLP (Fan-out Wafer Level Package) for rearrangement is known. In particular, the fan-out type technology is applied to a fan-out type PLP (Fan-out Panel Level Package) in which semiconductor elements are arranged and packaged on a panel, and because it realizes integration, thinness and miniaturization of semiconductor devices, these Fan-out-type technology such as is attracting attention.

특허문헌 1 에는, 아크릴계 공중합체로 이루어지는 폴리머 입자를 포함하는 수계 에멀션과, 유기계 미립자와, 상기 아크릴계 공중합체를 경화시킬 수 있는 경화제와, 4 급 암모늄 화합물을 함유하는 광 확산성 점착제 조성물이 기재되어 있다.Patent Document 1 describes an aqueous emulsion containing polymer particles made of an acrylic copolymer, organic fine particles, a curing agent capable of curing the acrylic copolymer, and a light diffusing pressure-sensitive adhesive composition containing a quaternary ammonium compound. have.

특허문헌 2 에는, 스티렌-올레핀계 블록 공중합체와, (메트)아크릴산에스테르와, 용제를 필수 성분으로서 포함하는 경화성 조성물이 기재되어 있다.Patent Document 2 describes a curable composition comprising a styrene-olefin block copolymer, a (meth)acrylic acid ester, and a solvent as essential components.

특허문헌 3 에는, 연쇄적 중합성 모노머와, 축차적 반응으로 가교하는 가교제와, 당해 가교제와 반응하는 피가교성기를 갖는 피가교성 폴리머를 함유하는 수지 조성물을, 연쇄적 중합 그리고 축차적 가교 반응에 의해 가교한 가교 릴리프 형성층을 지지체 상에 갖고, 상기 가교 릴리프 형성층의, 25 ℃ 에 있어서의 주파수 100 ㎐ 에서의 저장 탄성률 E' (㎫) 가 1 ≤ E' ≤ 30 의 관계를 충족하고, 또한, 25 ℃ 에 있어서의 인장 파단시의 최대 신장률 L (%) 이 30 ≤ L ≤ 300 의 관계를 충족하는 레이저 조각형 플렉소 인쇄판 원판이 기재되어 있다.In Patent Document 3, a resin composition containing a chain polymerizable monomer, a crosslinking agent that crosslinks through a sequential reaction, and a crosslinkable polymer having a crosslinkable group reacting with the crosslinking agent is prepared by chain polymerization and sequential crosslinking reaction. Having a crosslinked crosslinked relief forming layer on a support, the storage modulus E'(MPa) of the crosslinked relief forming layer at a frequency of 100 Hz at 25°C satisfies the relationship of 1 ≤ E'≤ 30, and 25 A laser engraving type flexographic printing plate original plate has been described in which the maximum elongation L (%) at the time of tensile fracture in °C satisfies the relationship of 30≦L≦300.

특허문헌 4 에는, 피연삭 기재와, 상기 피연삭 기재와 접해 있는 접합층과, 광 흡수제 및 열분해성 수지를 포함하는 광열 변환층과, 광 투과성 지지체를 포함하고, 단, 상기 광열 변환층은, 상기 접합층과는 반대측의 상기 피연삭 기재의 표면을 연삭한 후에, 방사 에너지가 조사되었을 때에 분해하여, 연삭 후의 기재와 상기 광 투과성 지지체를 분리하는 것인, 적층체가 기재되어 있다.Patent Document 4 includes a substrate to be ground, a bonding layer in contact with the substrate to be ground, a light-to-heat conversion layer containing a light absorber and a thermally decomposable resin, and a light-transmitting support, provided that the light-to-heat conversion layer, A laminate is described in which the surface of the substrate on the opposite side to the bonding layer is ground and then decomposed when irradiated with radiant energy to separate the ground substrate and the light-transmitting support.

특허문헌 5 에는, 시클로올레핀 구조를 갖는 폴리머와, 당해 폴리머에 상용하는 (메트)아크릴레이트 모노머를 포함하는 것을 특징으로 하는 접착제 조성물이 기재되어 있다.Patent Document 5 describes an adhesive composition comprising a polymer having a cycloolefin structure and a (meth)acrylate monomer compatible with the polymer.

일본 공개특허공보 2010-053347호 (2010년 3월 11일 공개)Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-053347 (published on March 11, 2010) 일본 공개특허공보 2010-077384호 (2010년 4월 8일 공개)Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-077384 (published on April 8, 2010) 일본 공개특허공보 2011-206931호 (2011년 10월 20일 공개)Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2011-206931 (published on October 20, 2011) 일본 공개특허공보 2004-64040호 (2004년 2월 26일 공개)Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-64040 (published on February 26, 2004) 일본 공개특허공보 2014-105316호 (2014년 6월 9일 공개)Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-105316 (published on June 9, 2014)

그러나, 특허문헌 1 ∼ 5 에는, 팬 아웃형 기술에 있어서, 봉지체 (封止體) 를 제조할 때에 요구되는 높은 약품 내성을 갖추고, 고온으로 가열했을 때에 있어서, 높은 점탄성을 유지할 수 있는 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물에 관해서, 조금도 개시하고 있지 않다.However, in Patent Documents 1 to 5, in the fan-out type technology, an adhesive layer capable of maintaining high viscoelasticity when heated to a high temperature and having high chemical resistance required when manufacturing a sealing member is provided. No disclosure has been made regarding the adhesive composition that can be formed.

본 발명자들은, 팬 아웃형 기술에 있어서, 블록 공중합체와 중합성 모노머를 포함한 경화형 접착제 조성물을 사용함으로써, 높은 약품 내성을 갖추고, 고온으로 가열했을 때에 높은 점탄성을 유지할 수 있는 접착층을 형성할 수 있고, 당해 접착층이 봉지체를 형성하기 위해서 유용한 것을 알아내어, 본원 발명을 완성시켰다.In the fan-out type technology, the present inventors have high chemical resistance and can form an adhesive layer capable of maintaining high viscoelasticity when heated to a high temperature by using a curable adhesive composition containing a block copolymer and a polymerizable monomer. , The adhesive layer was found to be useful in order to form a sealing body, and the present invention was completed.

본 발명은, 상기 서술한 문제점을 감안하여 이루어진 것이며, 그 목적은, 팬 아웃형 기술에 의해, 봉지체를 형성하기 위한 적층체에 사용되는 접착제 조성물로서, 높은 약품 내성을 갖추고, 고온에 있어서 높은 점탄성을 유지할 수 있는 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물 및 그 관련 기술을 제공하는 것에 있다.The present invention has been made in view of the above-described problems, and its object is an adhesive composition used in a laminate for forming an encapsulant by a fan-out type technology, which has high chemical resistance and is high at high temperatures. It is to provide an adhesive composition capable of forming an adhesive layer capable of maintaining viscoelasticity and a related technology thereof.

상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에 관련된 접착제 조성물은, 소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 상기 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체에 있어서의, 상기 접착층을 형성하기 위한 접착제 조성물로서, 상기 접착제 조성물은, 블록 공중합체와, 중합성 모노머와, 중합 개시제를 포함하고 있는 것을 특징으로 하고 있다.In order to solve the above problem, the adhesive composition according to the present invention comprises a wiring layer on which an element is mounted, and an encapsulant including an encapsulant for encapsulating the element and the element, on a support for supporting the encapsulant. An adhesive composition for forming the adhesive layer in a laminate formed by laminating through an adhesive layer, wherein the adhesive composition contains a block copolymer, a polymerizable monomer, and a polymerization initiator.

또, 본 발명에 관련된 적층체는, 소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 상기 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체로서, 상기 접착층은, 블록 공중합체와, 중합성 모노머의 중합체와, 중합 개시제를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하고 있다.In addition, in the laminate according to the present invention, an encapsulant including a wiring layer on which an element is mounted, and an encapsulant for encapsulating the element and the element is laminated on a support for supporting the encapsulant via an adhesive layer. As a laminate thus obtained, the adhesive layer is characterized in that it comprises a block copolymer, a polymer of a polymerizable monomer, and a polymerization initiator.

본 발명에 의하면, 팬 아웃형 기술에 의해, 봉지체를 형성하기 위한 적층체에 사용되는 접착제 조성물로서, 높은 약품 내성을 갖추고, 고온에 있어서 높은 점탄성을 유지할 수 있는 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물 및 그 관련 기술을 제공할 수 있다는 효과를 발휘한다.According to the present invention, as an adhesive composition used in a laminate for forming an encapsulant by a fan-out type technology, an adhesive composition capable of forming an adhesive layer capable of having high chemical resistance and maintaining high viscoelasticity at high temperatures And the related technology can be provided.

도 1 은, 본 발명의 실시형태 1 에 관련된 적층체의 제조 방법에 대해 설명하는 도면이다.
도 2 는, 본 발명의 실시형태 2 에 관련된 적층체의 제조 방법에 대해 설명하는 도면이다.
도 3 은, 본 발명의 실시형태 3 에 관련된 적층체의 제조 방법에 대해 설명하는 도면이다.
도 4 는, 본 발명의 실시형태 4 에 관련된 적층체의 제조 방법에 대해 설명하는 도면이다.
1 is a diagram illustrating a method of manufacturing a laminate according to Embodiment 1 of the present invention.
2 is a diagram illustrating a method of manufacturing a laminate according to Embodiment 2 of the present invention.
3 is a diagram for explaining a method of manufacturing a laminate according to Embodiment 3 of the present invention.
4 is a diagram illustrating a method of manufacturing a laminate according to Embodiment 4 of the present invention.

<접착제 조성물><Adhesive composition>

본 발명에 관련된 접착제 조성물은, 소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 상기 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체에 있어서의, 상기 접착층을 형성하기 위한 접착제 조성물이다. 바꿔 말하면, 소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를 지지체 상에 형성하기 위한 접착층을, 당해 지지체 상에 형성하기 위한 접착제 조성물이다.The adhesive composition according to the present invention is formed by laminating an encapsulant comprising a wiring layer on which an element is mounted, and an encapsulant for encapsulating the element and the element, on a support supporting the encapsulant via an adhesive layer. It is an adhesive composition for forming the said adhesive layer in a laminated body. In other words, it is an adhesive composition for forming on the support a wiring layer on which an element is mounted, and an adhesive layer for forming an encapsulation body including the element and an encapsulant for sealing the element on the support.

접착제 조성물은, 접착층을 형성하기 위한 수지 조성으로서, 블록 공중합체와 중합성 모노머를 포함하고 있으며, 당해 중합성 모노머를 중합시키는 중합 개시제와, 당해 수지 조성의 도포 작업성을 조정하기 위한 희석 용제를 포함하고 있다. 또한, 접착제 조성물은, 접착층을 형성하기 위한 수지 조성으로서, 블록 공중합체와 중합성 모노머로 이루어지는 수지 조성을 채용하는 것이 보다 바람직하다.The adhesive composition contains a block copolymer and a polymerizable monomer as a resin composition for forming an adhesive layer, a polymerization initiator that polymerizes the polymerizable monomer, and a diluting solvent for adjusting the coating workability of the resin composition. Includes. In addition, it is more preferable that the adhesive composition employs a resin composition composed of a block copolymer and a polymerizable monomer as a resin composition for forming an adhesive layer.

접착제 조성물은, 가열 또는 감압 환경 등에 둠으로써 희석 용제를 제거하고, 블록 공중합체 중에 있어서 중합 개시제에 의해 중합성 모노머를 중합시킴으로써 접착층을 형성한다. 접착층은, 블록 공중합체를 포함하고 있음으로써, 높은 약품 내성을 갖추고 있고, 중합성 모노머를 중합시킴으로써, 고온으로 가열했을 때에 있어서, 높은 점탄성, 즉, 높은 동적 복소 탄성률을 유지할 수 있다. 따라서, 다양한 레지스트 용제를 사용하여 배선층을 형성하는 것, 및, 고온에 있어서 봉지재에 의해 소자를 봉지하는 것이 요구되는 팬 아웃형 기술에 있어서 적합하게 사용할 수 있는 접착층을 형성할 수 있다.The adhesive composition is placed in a heated or pressure-sensitive environment to remove a diluting solvent, and polymerizable monomers are polymerized with a polymerization initiator in a block copolymer to form an adhesive layer. Since the adhesive layer contains a block copolymer, it has high chemical resistance, and by polymerizing a polymerizable monomer, when heated to a high temperature, high viscoelasticity, that is, a high dynamic complex elastic modulus can be maintained. Accordingly, it is possible to form an adhesive layer that can be suitably used in a fan-out type technique that requires forming a wiring layer using various resist solvents and sealing an element with an encapsulant at high temperature.

[블록 공중합체][Block copolymer]

블록 공중합체는, 모노머 단위가 연속해서 결합한 블록 부위가 2 종 이상 결합한 중합체이며, 전형적으로는, 중합체 블록을 갖는 열가소성 엘라스토머이다. 블록 공중합체를 포함하고 있음으로써, 높은 세정성 및 높은 내약품성을 구비한 접착층을 형성할 수 있다.The block copolymer is a polymer in which two or more types of block sites in which monomer units are continuously bonded are bonded, and typically, it is a thermoplastic elastomer having a polymer block. By containing the block copolymer, it is possible to form an adhesive layer having high cleaning properties and high chemical resistance.

블록 공중합체는, 디블록 공중합체 또는 트리블록 공중합체인 것이 바람직하고, 트리블록 공중합체인 것이 보다 바람직하다. 또, 디블록 공중합체와 트리블록 공중합체를 조합하여 사용해도 된다.The block copolymer is preferably a diblock copolymer or a triblock copolymer, and more preferably a triblock copolymer. Further, a diblock copolymer and a triblock copolymer may be used in combination.

또, 블록 공중합체는, 변성제를 사용함으로써, 당해 블록 공중합체의 말단이 관능기에 의해 변성되어 있어도 된다. 여기서, 관능기로는, 예를 들어, 아미노기, 산 무수물기 (바람직하게는 무수 말레산기), 이미드기, 우레탄기, 에폭시기, 이미노기, 수산기, 카르복실기, 실란올기 및 알콕시실란기 (당해 알콕시기는 탄소수 1 ∼ 6 인 것이 바람직하다) 를 들 수 있다. 이와 같이, 변성제에 의해 변성된 블록 공중합체는, 엘라스토머이며, 또한, 극성을 가져오는 관능기를 갖고 있다. 이 때문에, 접착층의 유연성 및 접착성을 향상시킬 수 있다.Moreover, in the block copolymer, the terminal of the block copolymer may be modified with a functional group by using a modifier. Here, as the functional group, for example, an amino group, an acid anhydride group (preferably a maleic anhydride group), an imide group, a urethane group, an epoxy group, an imino group, a hydroxyl group, a carboxyl group, a silanol group, and an alkoxysilane group (the alkoxy group has carbon number of It is preferable that it is 1-6). In this way, the block copolymer modified with the modifier is an elastomer and has a functional group having polarity. For this reason, the flexibility and adhesion of the adhesive layer can be improved.

또, 블록 공중합체는, 스티렌 블록을 포함하고 있는 것이 바람직하고, 주사슬의 양 말단이 스티렌 블록인 트리블록 공중합체인 것이 보다 바람직하다. 스티렌 블록을 양 말단에 배치한 트리블록 공중합체를 사용함으로써, 접착층의 열안정성을 높일 수 있다.Moreover, it is preferable that the block copolymer contains a styrene block, and it is more preferable that it is a triblock copolymer in which both ends of a main chain are styrene blocks. By using a triblock copolymer in which styrene blocks are disposed at both ends, the thermal stability of the adhesive layer can be improved.

스티렌 블록을 포함하고 있는 블록 공중합체로는, 예를 들어, 스티렌-올레핀계 블록 공중합체를 들 수 있다.As a block copolymer containing a styrene block, a styrene-olefin type block copolymer is mentioned, for example.

스티렌-올레핀계 블록 공중합체로는, 예를 들어, 폴리스티렌-폴리(에틸렌/프로필렌) 블록 코폴리머 (SEP), 스티렌-이소프렌-스티렌 블록 코폴리머 (SIS), 스티렌-부타디엔-스티렌 블록 코폴리머 (SBS), 스티렌-부타디엔-부틸렌-스티렌 블록 코폴리머 (SBBS), 및, 이들의 수소 첨가물, 스티렌-에틸렌-부틸렌-스티렌 블록 코폴리머 (SEBS), 스티렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 코폴리머 (스티렌-이소프렌-스티렌 블록 코폴리머) (SEPS), 스티렌-에틸렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 코폴리머 (SEEPS), 스티렌 블록이 반응 가교형인 스티렌-에틸렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 코폴리머 (SeptonV9461 (주식회사 쿠라레 제조), SeptonV9475 (주식회사 쿠라레 제조)), 스티렌 블록이 반응 가교형인 스티렌-에틸렌-부틸렌-스티렌 블록 코폴리머 (반응성의 폴리스티렌계 하드 블록을 갖는, SeptonV9827 (주식회사 쿠라레 제조)), 및, 폴리스티렌-폴리(에틸렌-에틸렌/프로필렌) 블록-폴리스티렌 블록 코폴리머 (SEEPS-OH:말단 수산기 변성) 등을 들 수 있다.As the styrene-olefin block copolymer, for example, polystyrene-poly(ethylene/propylene) block copolymer (SEP), styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS ), styrene-butadiene-butylene-styrene block copolymer (SBBS), and hydrogenated products thereof, styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer ( Styrene-isoprene-styrene block copolymer) (SEPS), styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS), styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer in which the styrene block is a reactive crosslinked type (Septon V9461 ( Kuraray Co., Ltd.), Septon V9475 (Kuraray Co., Ltd.)), a styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer in which a styrene block is a reactive crosslinked type (Septon V9827 (manufactured by Kuraray Co., Ltd.), having a reactive polystyrene hard block) , And polystyrene-poly(ethylene-ethylene/propylene) block-polystyrene block copolymer (SEEPS-OH: terminal hydroxyl group modification), and the like.

또, 블록 공중합체는, 수소 첨가물인 것이 바람직하고, 보다 구체적으로는, 스티렌 블록 및 공액 디엔 블록의 블록 공중합체의 수소 첨가물인 것이 보다 바람직하다. 블록 공중합체의 수소 첨가물을 사용함으로써, 열에 대한 안정성을 향상시킬 수 있어, 분해나 중합 등의 변질을 일어나기 어렵게 할 수 있다. 또한, 탄화수소계 용제에 대한 높은 상용성을 가져올 수 있고, 레지스트 용제에 대한 낮은 상용성, 즉, 레지스트 용제에 대한 높은 내성을 가져올 수 있다.Moreover, it is preferable that a block copolymer is a hydrogenated substance, More specifically, it is more preferable that it is a hydrogenated substance of a block copolymer of a styrene block and a conjugated diene block. By using the hydrogenated product of the block copolymer, the stability against heat can be improved, and deterioration such as decomposition or polymerization can be made difficult to occur. In addition, it can bring about high compatibility with hydrocarbon-based solvents, and can bring about low compatibility with resist solvents, that is, high resistance to resist solvents.

블록 공중합체로서 사용될 수 있는 시판품으로는, 예를 들어, 주식회사 쿠라레 제조 「셉톤 (상품명)」, 주식회사 쿠라레 제조 「하이브라 (상품명)」, 아사히 화성 주식회사 제조 「터프텍 (상품명)」 및 JSR 주식회사 제조 「다이나론 (상품명)」 등을 들 수 있다.As a commercial item that can be used as a block copolymer, for example, Kuraray Co., Ltd. ``Cepton (brand name)'', Kuraray Co., Ltd. ``Hybra (brand name)'', Asahi Chemical Co., Ltd. ``Tuftec (brand name)'' and "Dynaron (brand name)" manufactured by JSR Corporation.

블록 공중합체의 스티렌 블록의 함유량은 10 중량% 이상, 65 중량% 이하인 것이 바람직하고, 13 중량% 이상, 45 중량% 이하인 것이 보다 바람직하다. 블록 공중합체는, 스티렌 블록의 함유량이 보다 많아질수록, 높은 온도로 가열했을 때에 있어서 높은 동적 복소 탄성률을 유지할 수 있는 경향을 나타낸다. 또, 스티렌 블록의 함유량이 보다 적어질수록, 탄화수소계 용제에 대한 높은 상용성을 얻을 수 있는 경향을 나타낸다.The content of the styrene block in the block copolymer is preferably 10% by weight or more and 65% by weight or less, and more preferably 13% by weight or more and 45% by weight or less. The block copolymer exhibits a tendency to maintain a high dynamic complex modulus when heated to a high temperature as the content of the styrene block increases. In addition, the smaller the content of the styrene block is, the higher the compatibility with the hydrocarbon-based solvent can be obtained.

또, 블록 공중합체의 중량 평균 분자량은 50,000 이상, 150,000 이하인 것이 바람직하고, 60,000 이상, 120,000 이하인 것이 보다 바람직하다. 블록 공중합체는, 중량 평균 분자량이 보다 클수록 높은 온도로 가열했을 때에 있어서 높은 동적 복소 탄성률을 유지할 수 있는 경향을 나타낸다. 또, 중량 평균 분자량이 보다 작을수록, 예를 들어, 탄화수소계 용제에 대한 높은 상용성을 얻을 수 있는 경향을 나타낸다.Moreover, it is preferable that it is 50,000 or more and 150,000 or less, and, as for the weight average molecular weight of a block copolymer, it is more preferable that it is 60,000 or more and 120,000 or less. The block copolymer exhibits a tendency to maintain a high dynamic complex modulus when heated to a higher temperature as the weight average molecular weight is larger. Moreover, as the weight average molecular weight is smaller, the tendency to obtain high compatibility with, for example, a hydrocarbon-based solvent is exhibited.

또, 블록 공중합체는, 스티렌 블록의 함유량이 10 중량% 이상, 65 중량% 이하이고, 또한, 중량 평균 분자량이 50,000 이상, 150,000 이하이도록 조정되어 있는 것이, 가장 바람직하다. 접착제 조성물은, 스티렌 블록의 함유량이 상기 범위 내이며, 중량 평균 분자량이 상기 범위 내인 1 개의 블록 공중합체를 사용해도 되고, 복수 종류의 블록 공중합체를 혼합함으로써 스티렌 블록의 함유량을 상기 범위 내가 되도록 조정함과 함께, 중량 평균 분자량이 상기 범위 내가 되도록 조정되어 있어도 된다.Moreover, it is most preferable that the block copolymer is adjusted so that the content of a styrene block is 10 weight% or more and 65 weight% or less, and a weight average molecular weight is 50,000 or more and 150,000 or less. In the adhesive composition, one block copolymer having a styrene block content within the above range and a weight average molecular weight within the above range may be used, or by mixing a plurality of types of block copolymers, the content of the styrene block is adjusted to be within the above range. In addition, the weight average molecular weight may be adjusted so as to fall within the above range.

예를 들어, 스티렌 단위의 함유량이 30 중량% 인 주식회사 쿠라레 제조의 셉톤 (상품명) 의 Septon4033 과, 스티렌 단위의 함유량이 13 중량% 인 셉톤 (상품명) 의 Septon2063 을 중량비 1 대 1 로 혼합하면, 접착제에 포함되는 블록 공중합체 전체에 대한 스티렌 함유량은 21 ∼ 22 중량% 가 되고, 따라서 10 중량% 이상이 된다. 또, 예를 들어, 스티렌 단위가 10 중량% 인 것과 60 중량% 인 것을 중량비 1 대 1 로 혼합하면, 35 중량% 가 되어, 상기 범위 내가 된다. 본 발명은 이와 같은 형태여도 된다. 또, 접착제 조성물에 포함되는 복수 종류의 엘라스토머는, 모두 상기 범위 내에서 스티렌 블록을 포함하고, 또한, 상기 범위 내의 중량 평균 분자량인 것이 가장 바람직하다.For example, when Septon4033 of Cepton (brand name) manufactured by Kuraray Co., Ltd., having a styrene unit content of 30% by weight, and Septon2063 of Septon (brand name), having a styrene unit content of 13% by weight, are mixed at a weight ratio of 1 to 1, The styrene content with respect to the entire block copolymer contained in the adhesive is 21 to 22% by weight, and therefore, is 10% by weight or more. Further, for example, when a styrene unit of 10% by weight and 60% by weight are mixed at a weight ratio of 1 to 1, it becomes 35% by weight, and falls within the above range. The present invention may be in such a form. Moreover, it is most preferable that the plural kinds of elastomers contained in the adhesive composition all contain a styrene block within the above range, and have a weight average molecular weight within the above range.

블록 공중합체에 있어서의 스티렌 블록의 함유량을 상기 범위 내로 조정함과 함께, 중량 평균 분자량을 상기 범위 내로 조정함으로써, 접착층을 탄화수소계 용제에 의해, 팽윤시키고, 부분적으로 용해시킬 수 있고, 용이하게 제거할 수 있다. 또한, 레지스트 리소그래피에 사용되는 레지스트 용제 (예를 들어, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 (PGMEA) 등), 산 (불화수소산 등) 그리고 알칼리테트라메틸암모늄하이드록시드 (TMAH) 등에 대한 높은 내성을 얻을 수 있다. 또, 블록 공중합체에 있어서의 스티렌 블록의 함유량을 상기 범위 내로 조정함과 함께, 중량 평균 분자량을 상기 범위 내로 조정함으로써, 베이스가 되는 수지인 블록 공중합체 자체의 내열성 및 고온에 있어서의 점탄성을 향상시킴으로써, 후술하는 중합성 모노머의 배합량을 줄일 수 있다.By adjusting the content of the styrene block in the block copolymer within the above range and adjusting the weight average molecular weight within the above range, the adhesive layer can be swelled and partially dissolved with a hydrocarbon-based solvent, and is easily removed. can do. In addition, high resistance to resist solvents used in resist lithography (e.g., propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), etc.), acids (hydrofluoric acid, etc.), and alkali tetramethylammonium hydroxide (TMAH) can be obtained. have. In addition, by adjusting the content of the styrene block in the block copolymer within the above range and adjusting the weight average molecular weight within the above range, the heat resistance of the block copolymer itself, which is a base resin, and viscoelasticity at high temperatures are improved. By doing so, it is possible to reduce the blending amount of the polymerizable monomer described later.

접착제 조성물에 포함되는 블록 공중합체의 양으로는, 예를 들어, 블록 공중합체와 중합성 모노머의 합계량을 100 중량% 로 하여, 50 중량% 이상, 99 중량% 이하의 범위 내가 바람직하고, 60 중량% 이상, 95 중량% 이하의 범위 내가 보다 바람직하고, 80 중량% 이상, 95 중량% 이하의 범위 내가 가장 바람직하다. 접착제 조성물에 포함되는 블록 공중합체의 양이, 50 중량% 이상, 99 중량% 이하의 범위 내임으로써, 접착층에 있어서, 블록 공중합에서 유래하는 탄화수소계 용제에 대한 높은 상용성을 유지할 수 있고, 접착층의 세정에 의한 제거를 용이하게 할 수 있다.As the amount of the block copolymer contained in the adhesive composition, for example, the total amount of the block copolymer and the polymerizable monomer is 100% by weight, preferably within the range of 50% by weight or more and 99% by weight or less, and 60% by weight. The inside of the range of at least 95% by weight is more preferable, and the inside of at least 80% by weight and at most 95% by weight is most preferable. When the amount of the block copolymer contained in the adhesive composition is in the range of 50% by weight or more and 99% by weight or less, in the adhesive layer, high compatibility with a hydrocarbon-based solvent derived from block copolymerization can be maintained, and Removal by washing can be facilitated.

[중합성 모노머][Polymerizable monomer]

접착제 조성물에는, 중합성 모노머가 포함되어 있다. 중합성 모노머는, 라디칼 중합에 의해 고분자화하는 모노머인 것이 바람직하고, 전형적으로는, 다관능 (메트)아크릴산에스테르를 들 수 있다.The adhesive composition contains a polymerizable monomer. The polymerizable monomer is preferably a monomer polymerized by radical polymerization, and typically, a polyfunctional (meth)acrylic acid ester is exemplified.

다관능 (메트)아크릴산에스테르로는, 2 관능 이상의 (메트)아크릴산에스테르여도 되고, 3 관능 이상인 다관능의 (메트)아크릴산에스테르여도 된다. 2 관능 또는 3 관능 이상인 (메트)아크릴산에스테르를 사용함으로써, 접착층의 블록 공중합체 중에 있어서, (메트)아크릴산에스테르의 중합체에 의한 삼차원 망목 구조를 적합하게 형성할 수 있고, 접착층에 있어서의 약품 내성을 높일 수 있고, 고온으로 가열했을 때에 있어서의 당해 접착층의 점탄성, 즉, 동적 복소 탄성률을 높일 수 있다.As the polyfunctional (meth)acrylic acid ester, a bifunctional or higher (meth)acrylic acid ester may be used, or a trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylic acid ester may be used. By using a bifunctional or trifunctional or higher (meth)acrylic acid ester, in the block copolymer of the adhesive layer, a three-dimensional network structure by the polymer of the (meth)acrylic acid ester can be suitably formed, and chemical resistance in the adhesive layer can be improved. It can be improved, and the viscoelasticity of the adhesive layer when heated to a high temperature, that is, the dynamic complex elastic modulus can be improved.

2 관능의 (메트)아크릴산에스테르로는, 주사슬에 있어서의 중량 평균 분자량이 200 이상 1000 이하인 폴리에틸렌글리콜디아크릴레이트, 폴리프로필렌글리콜 주사슬에 있어서의 중량 평균 분자량 50 이상, 700 이하인 폴리프로필렌글리콜디아크릴레이트, 옥시에틸렌 구성 단위의 중합도가 1 이상, 23 이하인 폴리에틸렌글리콜디메타크릴레이트 등의 폴리에테르디(메트)아크릴레이트를 들 수 있으며, 옥시에틸렌 구성 단위의 중합도가 3 이상, 30 이하인 에톡시화 비스페놀 A 디아크릴레이트, 옥시에틸렌 구성 단위의 중합도가 2.3 이상 30 이하인 에톡시화 비스페놀 A 디메타크릴레이트, 프로폭시화 비스페놀 A 디아크릴레이트, 프로폭시화 에톡시화 비스페놀 A 디아크릴레이트 등의 비스페놀형 디(메트)아크릴레이트를 들 수 있다. 또, 에톡시화 폴리프로필렌글리콜디메타크릴레이트, 2-하이드록시-3-아크릴로일옥시프로필메타크릴레이트, 2,2비스[4-(메타크릴옥시에톡시)페닐]프로판, 9,9-비스[4-(2-아크릴로일옥시에톡시)페닐]플루오렌, 글리세린디메타크릴레이트, 폴리테트라메틸렌글리콜디아크릴레이트 등의 에테르 골격을 갖는 디(메트)아크릴레이트를 들 수 있으며, 트리시클로데칸디메탄올디(메트)아크릴레이트, 1,10-데칸디올디(메트)아크릴레이트, 1,6-헥산디올디(메트)아크릴레이트, 1,9-노난디올디(메트)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트 등의 탄소 골격, 또는 고리형 탄화수소 골격을 갖는 디(메트)아크릴레이트를 들 수 있다.As the bifunctional (meth)acrylic acid ester, polyethylene glycol diacrylate having a weight average molecular weight of 200 or more and 1000 or less in the main chain, and polypropylene glycol diacrylate having a weight average molecular weight of 50 or more and 700 or less in the polypropylene glycol main chain. Acrylate and polyether di(meth)acrylates such as polyethylene glycol dimethacrylate having a degree of polymerization of 1 or more and 23 or less of the oxyethylene constituent units, and ethoxylation in which the polymerization degree of the oxyethylene constituent units is 3 or more and 30 or less Bisphenol-type diacrylates such as bisphenol A diacrylate, ethoxylated bisphenol A dimethacrylate, propoxylated bisphenol A diacrylate, propoxylated ethoxylated bisphenol A diacrylate with a polymerization degree of 2.3 or more and 30 or less. (Meth)acrylate is mentioned. Further, ethoxylated polypropylene glycol dimethacrylate, 2-hydroxy-3-acryloyloxypropyl methacrylate, 2,2bis[4-(methacryloxyethoxy)phenyl]propane, 9,9- Di(meth)acrylates having an ether skeleton such as bis[4-(2-acryloyloxyethoxy)phenyl]fluorene, glycerin dimethacrylate, and polytetramethylene glycol diacrylate. Cyclodecanedimethanoldi(meth)acrylate, 1,10-decanedioldi(meth)acrylate, 1,6-hexanedioldi(meth)acrylate, 1,9-nonanedioldi(meth)acrylate, And di(meth)acrylates having a carbon skeleton such as neopentyl glycol di(meth)acrylate or a cyclic hydrocarbon skeleton.

또한, 블록 공중합체와의 상용성의 관점에서, 상기 서술한 다관능 (메트)아크릴산에스테르 중, 탄화수소 골격을 구비하고 있는 에스테르가 바람직하고, 고리형 탄화수소 골격을 구비하고 있는 에스테르가 보다 바람직하다.In addition, from the viewpoint of compatibility with a block copolymer, among the polyfunctional (meth)acrylic acid esters described above, an ester having a hydrocarbon skeleton is preferable, and an ester having a cyclic hydrocarbon skeleton is more preferable.

2 관능의 (메트)아크릴산에스테르로서 사용될 수 있는 시판품으로는, 예를 들어, 신나카무라 화학 주식회사 제조 「701A (상품명)」, 「A-200 (상품명)」, 「A-400 (상품명)」, 「A-600 (상품명)」, 「A-1000 (상품명)」, 「A-B1206PE (상품명)」, 「ABE-300 (상품명)」, 「A-BPE-10 (상품명)」, 「A-BPE-20 (상품명)」, 「A-BPE-30 (상품명)」, 「A-BPE-4 (상품명)」, 「A-BPEF (상품명)」, 「A-BPP-3 (상품명)」, 「A-DCP (상품명)」, 「A-DOD-N (상품명)」, 「A-HD-N (상품명)」, 「A-NOD-N (상품명)」, 「APG-100 (상품명)」, 「APG-200 (상품명)」, 「APG-400 (상품명)」, 「APG-700 (상품명)」, 「A-PTMG-65 (상품명)」, 「1G (상품명)」, 「2G (상품명)」, 「3G (상품명)」, 「4G (상품명)」, 「9G (상품명)」, 「14G (상품명)」, 「23G (상품명)」, 「BPE-80N (상품명)」, 「BPE-100 (상품명)」, 「BPE-200 (상품명)」, 「BPE-500 (상품명)」, 「BPE-900 (상품명)」, 「BPE-1300N (상품명)」, 「DCP (상품명)」, 「DOD-N (상품명)」, 「HD-N (상품명)」, 「NOD-N (상품명)」, 「NPG-N (상품명)」, 「1206PE (상품명)」, 「701 (상품명)」 및 「9PG (상품명)」 등을 들 수 있다. As a commercial item that can be used as a bifunctional (meth)acrylic acid ester, for example, Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd. ``701A (brand name)'', ``A-200 (brand name)'', ``A-400 (brand name)'', ``A-600 (brand name)'', ``A-1000 (brand name)'', ``A-B1206PE (brand name)'', ``ABE-300 (brand name)'', ``A-BPE-10 (brand name)'', ``A- BPE-20 (brand name)'', ``A-BPE-30 (brand name)'', ``A-BPE-4 (brand name)'', ``A-BPEF (brand name)'', ``A-BPP-3 (brand name)'', ``A-DCP (brand name)'', ``A-DOD-N (brand name)'', ``A-HD-N (brand name)'', ``A-NOD-N (brand name)'', ``APG-100 (brand name)'' , ``APG-200 (brand name)'', ``APG-400 (brand name)'', ``APG-700 (brand name)'', ``A-PTMG-65 (brand name)'', ``1G (brand name)'', ``2G (brand name) )'', ``3G (brand name)'', ``4G (brand name)'', ``9G (brand name)'', ``14G (brand name)'', ``23G (brand name)'', ``BPE-80N (brand name)'', ``BPE- 100 (brand name)'', ``BPE-200 (brand name)'', ``BPE-500 (brand name)'', ``BPE-900 (brand name)'', ``BPE-1300N (brand name)'', ``DCP (brand name)'', `` DOD-N (brand name)", "HD-N (brand name)", "NOD-N (brand name)", "NPG-N (brand name)", "1206PE (brand name)", "701 (brand name)" and " 9PG (brand name)", etc. are mentioned.

다관능의 (메트)아크릴산에스테르로서 사용될 수 있는 시판품으로는, 예를 들어, 신나카무라 화학 주식회사 제조 「A-9300 (상품명)」, 「A-9300-1CL (상품명)」, 「A-GLY-9E (상품명)」, 「A-GLY-20E (상품명)」, 「A-TMM-3 (상품명)」, 「A-TMM-3-L (상품명)」, 「A-TMM-3LM-N (상품명)」, 「A-TMPT (상품명)」, 「AD-TMP (상품명)」, 「ATM-35E (상품명)」, 「A-TMMT (상품명)」, 「A-9550 (상품명)」, 「A-DPH (상품명)」 및 「TMPT (상품명)」 등을 들 수 있다.As a commercial item that can be used as a polyfunctional (meth)acrylic acid ester, for example, Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd. "A-9300 (brand name)", "A-9300-1CL (brand name)", and "A-GLY- 9E (brand name)'', ``A-GLY-20E (brand name)'', ``A-TMM-3 (brand name)'', ``A-TMM-3-L (brand name)'', ``A-TMM-3LM-N ( ``A-TMPT (brand name)'', ``AD-TMP (brand name)'', ``ATM-35E (brand name)'', ``A-TMMT (brand name)'', ``A-9550 (brand name)'', `` A-DPH (brand name)" and "TMPT (brand name)", etc. are mentioned.

접착제 조성물에 포함되는 중합성 모노머의 양으로는, 예를 들어, 블록 공중합체와 중합성 모노머의 합계량을 100 중량% 로 하여, 1 중량% 이상, 50 중량% 이하의 범위 내가 바람직하고, 1 중량% 이상, 20 중량% 보다 적은 범위 내가 보다 바람직하다. 중합성 모노머의 양이 많아질수록 접착층을 고온으로 가열했을 때에 있어서의 동적 복소 탄성률을 높일 수 있다. 또, 접착층의 약품 내성을 높일 수 있으며, 특히, PGMEA 뿐만 아니라, 시클로헥사논, 시클로펜타논, 및 N-메틸-2-피롤리돈 (NMP) 등의 레지스트 용제에 대한 내성을 높일 수 있다. 또, 중합성 모노머의 양이 적어질수록, 접착층은, 블록 공중합체에서 유래하는, 탄화수소계 용제를 사용했을 때의 높은 세정성을 유지할 수 있다. 따라서, 접착제 조성물은, 블록 공중합체에 있어서의 스티렌 블록의 함유량 및 중량 평균 분자량을 조정함으로써, 블록 공중합체 자체의 동적 복소 탄성률을 높이고, 비교적 소량의 중합성 모노머를 배합함으로써 동적 복소 탄성률을 높이는 것이 바람직하다. 특히, 블록 공중합체와 중합성 모노머의 합계량을 100 중량% 로 하여, 1 중량% 이상, 20 중량% 보다 적은 범위 내의 중합성 모노머를 배합함으로써 높은 점탄성을 유지하는 것, 및, 용제에 의해 용이하게 제거하는 것이라 하는, 일견, 트레이드 오프의 관계를 취할 수 있는 과제의 양방을 해결할 수 있다.As the amount of the polymerizable monomer contained in the adhesive composition, for example, the total amount of the block copolymer and the polymerizable monomer is 100% by weight, preferably within a range of 1% by weight or more and 50% by weight or less, and 1% by weight In the range less than% or more and 20% by weight, it is more preferable. As the amount of the polymerizable monomer increases, the dynamic complex elastic modulus can be increased when the adhesive layer is heated to a high temperature. In addition, it is possible to increase the chemical resistance of the adhesive layer, and in particular, resistance to resist solvents such as cyclohexanone, cyclopentanone, and N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) as well as PGMEA can be improved. In addition, as the amount of the polymerizable monomer decreases, the adhesive layer can maintain high cleaning properties when a hydrocarbon-based solvent derived from a block copolymer is used. Therefore, the adhesive composition is to increase the dynamic complex modulus of the block copolymer itself by adjusting the content and weight average molecular weight of the styrene block in the block copolymer, and to increase the dynamic complex modulus by mixing a relatively small amount of polymerizable monomer. desirable. In particular, high viscoelasticity is maintained by mixing a polymerizable monomer within a range of 1% by weight or more and less than 20% by weight by making the total amount of the block copolymer and the polymerizable monomer 100% by weight, and easily by a solvent. At first glance, it is possible to solve both of the problems that can be taken as a trade-off.

또한, 다관능 (메트)아크릴산에스테르에는, 고온으로 가열했을 때에 있어서의 점탄성을 저하시키지 않을 정도에 있어서, 단관능 (메트)아크릴산에스테르, 그리고, 예를 들어, 우레탄(메트)아크릴레이트, 에폭시(메트)아크릴레이트, 스티렌, 디비닐벤젠, 및, 아세트산비닐 등의 중합성 모노머를 병용해도 된다.In addition, in polyfunctional (meth)acrylic acid ester, monofunctional (meth)acrylic acid ester, and, for example, urethane (meth)acrylate, epoxy ( You may use together polymerizable monomers, such as meth)acrylate, styrene, divinylbenzene, and vinyl acetate.

(접착층의 복소 탄성률) (Complex modulus of elasticity of the adhesive layer)

접착제 조성물에 의해 형성되는 접착층은, 블록 공중합체 및 중합성 모노머의 중합체에 의해, 고온으로 가열했을 때에 있어서의 복소 탄성률이 높아져 있다. 이 때문에, 접착층 상에 있어서, 봉지체를 형성할 때에 있어서의, 고온 (100 ℃ 이상, 400 ℃ 이하), 고압 (10 kgf 이상) 의 환경하에 있어서 접착층이 변형되는 것을 방지할 수 있다. 여기서, 접착제 조성물에 의해 형성되는 접착층의 복소 탄성률 (E*) 은, 적응되는 온도 조건에 따라 상이하지만, 예를 들어, 1000 ㎩ 이상인 것이 바람직하고, 10000 ㎩ 이상인 것이 보다 바람직하다. 봉지체를 형성할 때에 적응되는 온도에 있어서, 접착층의 동적 복소 탄성률 (E*) 이 10000 ㎩ 이상이면, 그 고온 프로세스에 있어서, 압력이 가해졌을 때에 접착층이 변형되는 것을 보다 적합하게 방지할 수 있다. 또한, 동적 복소 탄성률 (E*) 은, 6 인치 Si 웨이퍼에 대하여 접착제 조성물을 스핀 코트하고, 소정 두께의 막 (접착층) 을 형성한다. 그 막을 박리하여 소정 크기로 컷함으로써 시료를 제조하면 된다. 또, 당해 시료를 주파수 1 ㎐ 의 조건으로, 5 ℃/분의 승온 속도로, 봉지체를 형성할 때에 상정되는 온도 이상의 온도까지 승온시키면서, 동적 복소 탄성률 (E*) 을 측정하면 된다. 예를 들어, 봉지체를 형성할 때에 상정되는 온도가 100 ∼ 200 ℃ 정도이면, 예를 들어, 50 ℃ 에서 250 ℃ 까지 온도를 상승시키면서, 동적 복소 탄성률 (E*) 을 측정하면 된다.The adhesive layer formed from the adhesive composition has a high complex elastic modulus when heated at a high temperature by a block copolymer and a polymer of a polymerizable monomer. For this reason, on the adhesive layer, deformation of the adhesive layer can be prevented in an environment of high temperature (100°C or higher, 400°C or lower) and high pressure (10 kgf or higher) when forming the sealing body. Here, although the complex elastic modulus (E*) of the adhesive layer formed by the adhesive composition varies depending on the temperature conditions to be adapted, for example, it is preferably 1000 Pa or more, and more preferably 10000 Pa or more. When the dynamic complex modulus (E*) of the adhesive layer is 10000 Pa or more at a temperature adapted for forming the encapsulant, in the high-temperature process, deformation of the adhesive layer when pressure is applied can be more suitably prevented. . In addition, the dynamic complex elastic modulus (E*) spin coats the adhesive composition on a 6-inch Si wafer to form a film (adhesive layer) of a predetermined thickness. A sample may be prepared by peeling the film and cutting it into a predetermined size. In addition, the dynamic complex elastic modulus (E*) may be measured while heating the sample under conditions of a frequency of 1 Hz and at a temperature rising rate of 5° C./min to a temperature equal to or higher than the temperature assumed at the time of forming the sealing body. For example, if the temperature assumed at the time of forming the sealing body is about 100 to 200°C, for example, the dynamic complex elastic modulus (E*) may be measured while increasing the temperature from 50°C to 250°C.

(희석 용제) (Dilution solvent)

접착제 조성물에 포함되는 희석 용제는, 블록 공중합체 및 중합성 모노머를 용해할 수 있는 것이면 되고, 예를 들어, 비극성의 탄화수소계 용제, 극성 및 무극성의 석유계 용제 등을 사용할 수 있다.The diluting solvent contained in the adhesive composition may be any one capable of dissolving a block copolymer and a polymerizable monomer, and for example, a non-polar hydrocarbon-based solvent, a polar and non-polar petroleum-based solvent, and the like can be used.

바람직하게는, 희석 용제는, 축합 다고리형 탄화수소를 포함할 수 있다. 용제가 축합 다고리형 탄화수소를 포함함으로써, 접착제 조성물을 액상 형태로 (특히 저온에서) 보존했을 경우에 발생할 수 있는 백탁화를 피할 수 있고, 제품 안정성을 향상시킬 수 있다.Preferably, the diluting solvent may contain a condensed polycyclic hydrocarbon. When the solvent contains a condensed polycyclic hydrocarbon, clouding that may occur when the adhesive composition is stored in a liquid form (especially at low temperatures) can be avoided and product stability can be improved.

탄화수소계 용제로는, 직사슬형, 분기형 또는 고리형의 탄화수소를 들 수 있다. 예를 들어, 헥산, 헵탄, 옥탄, 노난, 메틸옥탄, 데칸, 운데칸, 도데칸, 트리데칸 등의 직사슬형의 탄화수소, 탄소수 3 내지 15 의 분기형 탄화수소;p-멘탄, o-멘탄, m-멘탄, 디페닐멘탄, 1,4-테르핀, 1,8-테르핀, 보르난, 노르보르난, 피난, 투얀, 카란, 롱기폴렌 등의 포화 지방족 탄화수소, α-테르피넨, β-테르피넨, γ-테르피넨, α-피넨, β-피넨, α-투욘, β-투욘 등을 들 수 있다.Examples of the hydrocarbon-based solvent include linear, branched or cyclic hydrocarbons. For example, linear hydrocarbons such as hexane, heptane, octane, nonane, methyloctane, decane, undecane, dodecane, and tridecane, branched hydrocarbons having 3 to 15 carbon atoms; p-mentane, o-mentane, Saturated aliphatic hydrocarbons such as m-mentane, diphenylmentane, 1,4-terpine, 1,8-terpine, bornane, norbornane, refuge, tuyan, karan, and longipolene, α-terpinene, β- Terpinene, γ-terpinene, α-pinene, β-pinene, α-twoon, β-twoon, and the like.

또, 석유계 용제로는, 예를 들어, 시클로헥산, 시클로헵탄, 시클로옥탄, 나프탈렌, 데카하이드로나프탈렌, 테트라하이드로나프탈렌 등을 들 수 있다.Moreover, as a petroleum solvent, cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, naphthalene, decahydronaphthalene, tetrahydronaphthalene, etc. are mentioned, for example.

또, 축합 다고리형 탄화수소란, 2 개 이상의 단고리가 각각의 고리의 변을 서로 1 개만 공유하여 생기는 축합 고리의 탄화수소이며, 2 개의 단고리가 축합되어 이루어지는 탄화수소를 사용하는 것이 바람직하다.In addition, the condensed polycyclic hydrocarbon is a condensed ring hydrocarbon formed by two or more monocycles sharing only one side of each ring, and it is preferable to use a hydrocarbon formed by condensation of two monocyclic rings.

그러한 탄화수소로는, 5 원자 고리 및 6 원자 고리의 조합, 또는 2 개의 6 원자 고리의 조합을 들 수 있다. 5 원자 고리 및 6 원자 고리를 조합한 탄화수소로는, 예를 들어, 인덴, 펜탈렌, 인단, 테트라하이드로인덴 등을 들 수 있으며, 2 개의 6 원자 고리를 조합 탄화수소로는, 예를 들어, 나프탈렌, 테트라하이드로나프탈렌 (테트랄린) 및 데카하이드로나프탈렌 (데칼린) 등을 들 수 있다.Examples of such hydrocarbons include a combination of a five-membered ring and a six-membered ring, or a combination of two six-membered rings. Examples of the hydrocarbon in which a five-membered ring and a six-membered ring are combined include indene, pentalene, indane, tetrahydroindene, and the like, and as a combination hydrocarbon of two six-membered rings, for example, Naphthalene, tetrahydronaphthalene (tetraline), decahydronaphthalene (decalin), and the like.

또, 희석 용제가 상기 축합 다고리형 탄화수소를 포함하는 경우, 용제에 포함되는 성분은 상기 축합 다고리형 탄화수소만이어도 되며, 예를 들어, 포화 지방족 탄화수소 등의 다른 성분을 함유하고 있어도 된다. 이 경우, 축합 다고리형 탄화수소의 함유량은, 탄화수소계 용제의 전체량을 100 중량부로 했을 때, 40 중량부 이상인 것이 바람직하고, 60 중량부 이상인 것이 보다 바람직하다. 축합 다고리형 탄화수소의 상기 함유량이 40 중량부 이상인 경우에는, 상기 수지에 대한 높은 용해성을 발휘할 수 있다. 탄화수소계 용제가 축합 다고리형 탄화수소와 포화 지방족 탄화수소를 함유하는 경우에는, 축합 다고리형 탄화수소의 악취를 완화시킬 수 있다.In addition, when the diluting solvent contains the condensed polycyclic hydrocarbon, the component contained in the solvent may be only the condensed polycyclic hydrocarbon, and may contain other components such as, for example, a saturated aliphatic hydrocarbon. In this case, the content of the condensed polycyclic hydrocarbon is preferably 40 parts by weight or more, and more preferably 60 parts by weight or more, when the total amount of the hydrocarbon-based solvent is 100 parts by weight. When the content of the condensed polycyclic hydrocarbon is 40 parts by weight or more, high solubility in the resin can be exhibited. When the hydrocarbon-based solvent contains a condensed polycyclic hydrocarbon and a saturated aliphatic hydrocarbon, the odor of the condensed polycyclic hydrocarbon can be alleviated.

또한, 본 발명의 접착제 조성물에 있어서의 용제의 함유량은, 당해 접착제 조성물을 사용하여 성막하는 접착층의 두께에 따라 적절히 조정하면 되는데, 예를 들어, 접착제 조성물의 전체량을 100 중량부로 했을 때, 20 중량부 이상, 90 중량부 이하의 범위인 것이 바람직하다. 희석 용제의 함유량이 상기 범위 내이면, 점도 조정이 용이해진다.In addition, the content of the solvent in the adhesive composition of the present invention may be appropriately adjusted according to the thickness of the adhesive layer formed by using the adhesive composition. For example, when the total amount of the adhesive composition is 100 parts by weight, 20 It is preferably in the range of not less than 90 parts by weight and not more than 90 parts by weight. When the content of the diluting solvent is within the above range, viscosity adjustment becomes easy.

[중합 개시제][Polymerization initiator]

중합 개시제는, 상기 서술한 중합성 모노머를 중합시킬 수 있으면 되고, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 열 중합 개시제 또는 광 중합 개시제 등이 바람직하고, 열 중합 개시제인 것이 보다 바람직하다.The polymerization initiator may polymerize the above-described polymerizable monomer, and is not particularly limited, but a thermal polymerization initiator or a photopolymerization initiator is preferable, and a thermal polymerization initiator is more preferable.

(열 중합 개시제) (Thermal polymerization initiator)

열 중합 개시제로는, 예를 들어, 과산화물 및 아조계 중합 개시제 등을 들 수 있다. 이들 열 중합 개시제는, 가열됨으로써 발생하는 라디칼에 의해 중합성 모노머를 중합시킨다.As a thermal polymerization initiator, a peroxide, an azo polymerization initiator, etc. are mentioned, for example. These thermal polymerization initiators polymerize a polymerizable monomer by radicals generated by heating.

과산화물로는, 예를 들어, 케톤퍼옥사이드, 퍼옥시케탈, 하이드로퍼옥사이드, 디알킬퍼옥사이드, 퍼옥시에스테르, 퍼옥시카보네이트 및 퍼옥시케탈 등을 들 수 있다. 구체적으로는, 과산화아세틸, 과산화디쿠밀, 과산화tert-부틸, 과산화tert-부틸쿠밀, 과산화프로피오닐, 과산화벤조일 (BPO), 과산화2-클로로벤조일, 과산화3-클로로벤조일, 과산화4-클로로벤조일, 과산화2,4-디클로로벤조일, 과산화4-브로모메틸벤조일, 과산화라우로일, 과황산칼륨, 퍼옥시탄산디이소프로필, 테트랄린하이드로퍼옥사이드, 1-페닐-2-메틸프로필-1-하이드로퍼옥사이드, 과트리페닐아세트산-tert-부틸, tert-부틸하이드로퍼옥사이드, 과포름산tert-부틸, 과아세트산tert-부틸, 과벤조산tert-부틸, 과페닐아세트산tert-부틸, 과4-메톡시아세트산tert-부틸 및 과N-(3-톨루일)카르바민산tert-부틸, 디쿠밀-퍼옥사이드, tert-부틸-퍼옥시-2-에틸헥실-모노카보네이트, 디(4-tert-부틸시클로헥실)퍼옥시디카보네이트, 2,5-디메틸-2,5-디(tert-부틸퍼옥시)헥산 및 1,1-디(tert-부틸퍼옥시)시클로헥산 등을 들 수 있다.Examples of the peroxide include ketone peroxide, peroxy ketal, hydroperoxide, dialkyl peroxide, peroxy ester, peroxy carbonate and peroxy ketal. Specifically, acetyl peroxide, dicumyl peroxide, tert-butyl peroxide, tert-butylcumyl peroxide, propionyl peroxide, benzoyl peroxide (BPO), 2-chlorobenzoyl peroxide, 3-chlorobenzoyl peroxide, 4-chlorobenzoyl peroxide, 2,4-dichlorobenzoyl peroxide, 4-bromomethylbenzoyl peroxide, lauroyl peroxide, potassium persulfate, diisopropyl peroxycarbonate, tetraline hydroperoxide, 1-phenyl-2-methylpropyl-1- Hydroperoxide, pertriphenylacetate-tert-butyl, tert-butyl hydroperoxide, tert-butyl performate, tert-butyl peracetate, tert-butyl perbenzoate, tert-butyl perphenylacetate, and 4-methoxy Tert-butyl acetate and tert-butyl perN-(3-toluyl)carbamic acid, dicumyl-peroxide, tert-butyl-peroxy-2-ethylhexyl-monocarbonate, di(4-tert-butylcyclo Hexyl)peroxydicarbonate, 2,5-dimethyl-2,5-di(tert-butylperoxy)hexane, and 1,1-di(tert-butylperoxy)cyclohexane, etc. are mentioned.

시판되고 있는 과산화물로는, 예를 들어, 닛폰 유지 주식회사 제조의 상품명 「퍼쿠밀 (등록상표)」, 상품명 「퍼부틸 (등록상표)」, 상품명 「퍼옥타 (등록상표)」, 「퍼로일 (등록상표)」 및 「퍼헥사 (등록상표)」 등을 들 수 있다.As a commercially available peroxide, for example, the brand name "Percumyl (registered trademark)" manufactured by Nippon Oil Co., Ltd., the brand name "Perbutyl (registered trademark)", the brand name "Perocta (registered trademark)", and "Perroil ( Registered trademark)" and "Perhexa (registered trademark)", and the like.

아조계 중합 개시제로는, 예를 들어, 2,2'-아조비스프로판, 2,2'-디클로로-2,2'-아조비스프로판, 1,1'-아조(메틸에틸)디아세테이트, 2,2'-아조비스(2-아미디노프로판)염산염, 2,2'-아조비스(2-아미노프로판)질산염, 2,2'-아조비스이소부탄, 2,2'-아조비스이소부틸아미드, 2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 2,2'-아조비스-2-메틸프로피온산메틸, 2,2'-디클로로-2,2'-아조비스부탄, 2,2'-아조비스-2-메틸부티로니트릴, 2,2'-아조비스이소부티르산디메틸, 1,1'-아조비스(1-메틸부티로니트릴-3-술폰산나트륨), 2-(4-메틸페닐아조)-2-메틸말로노디니트릴4,4'-아조비스-4-시아노발레르산, 3,5-디하이드록시메틸페닐아조-2-알릴말로노디니트릴, 2,2'-아조비스-2-메틸발레로니트릴, 4,4'-아조비스-4-시아노발레르산디메틸, 2,2'-아조비스-2,4-디메틸발레로니트릴, 1,1'-아조비스시클로헥산니트릴, 2,2'-아조비스-2-프로필부티로니트릴, 1,1'-아조비스시클로헥산니트릴, 2,2'-아조비스-2-프로필부티로니트릴, 1,1'-아조비스-1-클로로페닐에탄, 1,1'-아조비스-1-시클로헥산카르보니트릴, 1,1'-아조비스-1-시클로헵탄니트릴, 1,1'-아조비스-1-페닐에탄, 1,1'-아조비스쿠멘, 4-니트로페닐아조벤질시아노아세트산에틸, 페닐아조디페닐메탄, 페닐아조트리페닐메탄, 4-니트로페닐아조트리페닐메탄, 1,1'-아조비스-1,2-디페닐에탄, 폴리(비스페놀 A-4,4'-아조비스-4-시아노펜타노에이트) 및 폴리(테트라에틸렌글리콜-2,2'-아조비스이소부티레이트) 등을 들 수 있다.As an azo polymerization initiator, for example, 2,2'-azobispropane, 2,2'-dichloro-2,2'-azobispropane, 1,1'-azo (methylethyl) diacetate, 2 ,2'-azobis(2-amidinopropane) hydrochloride, 2,2'-azobis(2-aminopropane) nitrate, 2,2'-azobisisobutane, 2,2'-azobisisobutylamide , 2,2'-azobisisobutyronitrile, 2,2'-azobis-2-methylpropionate methyl, 2,2'-dichloro-2,2'-azobisbutane, 2,2'-azobis -2-Methylbutyronitrile, 2,2'-dimethyl azobisisobutyrate, 1,1'-azobis(1-methylbutyronitrile-3-sodium sulfonate), 2-(4-methylphenylazo)-2 -Methylmalonodinitrile 4,4'-azobis-4-cyanovaleric acid, 3,5-dihydroxymethylphenylazo-2-allylmalonodinitrile, 2,2'-azobis-2-methylvalero Nitrile, 4,4'-azobis-4-dimethyl cyanovalerate, 2,2'-azobis-2,4-dimethylvaleronitrile, 1,1'-azobiscyclohexanenitrile, 2,2' -Azobis-2-propylbutyronitrile, 1,1'-azobiscyclohexanenitrile, 2,2'-azobis-2-propylbutyronitrile, 1,1'-azobis-1-chlorophenylethane , 1,1'-azobis-1-cyclohexanecarbonitrile, 1,1'-azobis-1-cycloheptanenitrile, 1,1'-azobis-1-phenylethane, 1,1'-azobi Scumene, 4-nitrophenylazobenzylcyanoethyl acetate, phenylazodiphenylmethane, phenylazotriphenylmethane, 4-nitrophenylazotriphenylmethane, 1,1'-azobis-1,2-diphenylethane And poly(bisphenol A-4,4'-azobis-4-cyanopentanoate) and poly(tetraethylene glycol-2,2'-azobisisobutyrate).

열 중합 개시제의 배합량은, 100 중량부의 중합성 모노머에 대하여, 0.1 중량부 이상, 20 중량부 이하인 것이 바람직하고, 1 중량부 이상, 5 중량부 이하인 것이 보다 바람직하다. 이에 따라, 접착층에 포함되어 있는 중합성 모노머를 적합하게 중합시킬 수 있다. 또한, 열 중합 개시제는, 접착제 조성물을 사용하기 직전에 있어서, 공지된 방법에 의해 접착제 조성물에 배합하면 된다. 또, 열 중합 개시제는, 후술하는 첨가 용제에 희석하고 나서, 접착제 조성물에 배합해도 된다.The blending amount of the thermal polymerization initiator is preferably 0.1 parts by weight or more and 20 parts by weight or less, more preferably 1 part by weight or more and 5 parts by weight or less, based on 100 parts by weight of the polymerizable monomer. Accordingly, the polymerizable monomer contained in the adhesive layer can be suitably polymerized. In addition, the thermal polymerization initiator may be blended into the adhesive composition by a known method immediately before using the adhesive composition. In addition, the thermal polymerization initiator may be mixed with the adhesive composition after being diluted in an additive solvent described later.

열 중합 개시제의 1 분간 반감 온도는, 90 ℃ 이상, 200 ℃ 이하인 것이 바람직하고, 120 ℃ 이상, 180 ℃ 이하인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that it is 90 degreeC or more and 200 degreeC or less, and, as for the 1 minute half-life temperature of a thermal polymerization initiator, it is more preferable that it is 120 degreeC or more and 180 degreeC or less.

또, 열 중합 개시제의 1 시간 반감 온도는, 50 ℃ 이상, 140 ℃ 이하인 것이 바람직하고, 80 ℃ 이상, 140 ℃ 이하인 것이 보다 바람직하다.Moreover, it is preferable that it is 50 degreeC or more and 140 degreeC or less, and, as for the 1 hour half-life temperature of a thermal polymerization initiator, it is more preferable that it is 80 degreeC or more and 140 degreeC or less.

열 중합 개시제의 1 분간 반감 온도가 90 ℃ 이상, 200 ℃ 이하이고, 1 시간 반감 온도가 50 ℃ 이상, 140 ℃ 이하임으로써, 열 중합 개시제를 배합한 후부터, 중합성 모노머가 중합하고, 겔화할 때까지의 시간을 길게 할 수 있다. 이에 따라, 지지체 상에 접착제 조성물을 도포할 때의 작업 가능 시간을 길게 할 수 있다. 또, 열 중합 개시제의 1 분간 반감 온도가 90 ℃ 이상, 200 ℃ 이하이고, 1 시간 반감 온도가 50 ℃ 이상, 140 ℃ 이하임으로써, 지지체 상에 접착제 조성물을 도포하고, 가열함으로써 희석 용제를 제거할 때에, 동시에, 라디칼을 발생시키고, 중합성 모노머의 중합을 예비적으로 개시시킬 수 있다. 작업 가능 시간을 길게 할 수 있다는 관점에서는, 열 중합 개시제의 1 분 반감 온도 및 1 시간 반감 온도는 보다 높은 편이 바람직하다. 또, 신속하게 겔화시킨다는 관점에서는, 열 중합 개시제의 1 분 반감 온도 및 1 시간 반감 온도는 보다 낮은 편이 바람직하다.Since the one-minute half-life temperature of the thermal polymerization initiator is 90°C or higher and 200°C or lower, and the one-hour half-life temperature is 50°C or higher and 140°C or lower, the polymerizable monomer is polymerized and gelled after the thermal polymerization initiator is blended. You can lengthen the time until. Accordingly, it is possible to lengthen the workable time when applying the adhesive composition on the support. In addition, when the one-minute half-time temperature of the thermal polymerization initiator is 90°C or higher and 200°C or lower, and the one-hour half-life temperature is 50°C or higher and 140°C or lower, the adhesive composition is applied on the support and heated to remove the diluted solvent. At the same time, radicals can be generated and polymerization of the polymerizable monomer can be preliminarily started. From the viewpoint of extending the workable time, the one-minute half-life temperature and the 1-hour half-life temperature of the thermal polymerization initiator are preferably higher. Further, from the viewpoint of rapidly gelling, the one-minute half-life temperature and the 1-hour half-life temperature of the thermal polymerization initiator are preferably lower.

또한, 열 중합 개시제의 이론 활성 산소량은 3.0 % 이상, 13.0 % 이하인 것이 바람직하고, 이론 활성 산소량에 따라, 열 중합 개시제의 배합량을 적절히 조정하면 된다.Moreover, it is preferable that the theoretical amount of active oxygen of the thermal polymerization initiator is 3.0% or more and 13.0% or less, and the compounding amount of the thermal polymerization initiator may be appropriately adjusted according to the theoretical active oxygen amount.

(광 중합 개시제) (Photopolymerization initiator)

접착제 조성물은, 광 중합 개시제에 의해 중합성 모노머를 중합시킴으로써, 높은 내약품성 및 높은 내열성을 갖추고, 또한, 높은 세정성을 갖춘 접착층을 형성할 수 있다. 또한, 중합 개시제로서 광 중합 개시제를 사용하는 경우에는, 차광 상태를 유지할 수 있도록 접착제 조성물을 포장하면, 광 중합 개시제를 배합한 상태로 당해 접착제 조성물을 제품화 할 수 있다.The adhesive composition has high chemical resistance and high heat resistance by polymerizing a polymerizable monomer with a photoinitiator, and can form an adhesive layer having high cleaning properties. In addition, when a photopolymerization initiator is used as the polymerization initiator, if the adhesive composition is packaged so as to maintain a light-shielding state, the adhesive composition can be commercialized in a state in which the photopolymerization initiator is blended.

광 중합 개시제로는, 구체적으로는, 예를 들어, 1-하이드록시시클로헥실페닐 케톤, 2-하이드록시-2-메틸-1-페닐프로판-1-온, 1-[4-(2-하이드록시에톡시)페닐]-2-하이드록시-2-메틸-1-프로판-1-온, 1-(4-이소프로필페닐)-2-하이드록시-2-메틸프로판-1-온, 1-(4-도데실페닐)-2-하이드록시-2-메틸프로판-1-온, 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온, 비스(4-디메틸아미노페닐)케톤, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판-1-온, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄-1-온, 에타논1-[9-에틸-6-(2-메틸벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(o-아세틸옥심), 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드, 4-벤조일-4'-메틸디메틸술파이드, 4-디메틸아미노벤조산, 4-디메틸아미노벤조산메틸, 4-디메틸아미노벤조산에틸, 4-디메틸아미노벤조산부틸, 4-디메틸아미노-2-에틸헥실벤조산, 4-디메틸아미노-2-이소아밀벤조산, 벤질-β-메톡시에틸아세탈, 벤질디메틸케탈, 1-페닐-1,2-프로판디온-2-(o-에톡시카르보닐)옥심, o-벤조일벤조산메틸, 2,4-디에틸티오잔톤, 2-클로로티오잔톤, 2,4-디메틸티오잔톤, 1-클로로-4-프로폭시티오잔톤, 티오잔텐, 2-클로로티오잔텐, 2,4-디에틸티오잔텐, 2-메틸티오잔텐, 2-이소프로필티오잔텐, 2-에틸안트라퀴논, 옥타메틸안트라퀴논, 1,2-벤즈안트라퀴논, 2,3-디페닐안트라퀴논, 아조비스이소부티로니트릴, 벤조일퍼옥사이드, 쿠멘퍼옥사이드, 2-메르캅토벤조이미다졸, 2-메르캅토벤조옥사졸, 2-메르캅토벤조티아졸, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2 량체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디(메톡시페닐)이미다졸 2 량체, 2-(o-플루오로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2 량체, 2-(o-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2 량체, 2-(p-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2 량체, 2,4,5-트리아릴이미다졸 2 량체, 벤조페논, 2-클로로벤조페논, 4,4'-비스디메틸아미노벤조페논 (즉, 미힐러 케톤), 4,4'-비스디에틸아미노벤조페논 (즉, 에틸 미힐러 케톤), 4,4'-디클로로벤조페논, 3,3-디메틸-4-메톡시벤조페논, 벤질, 벤조인, 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인이소프로필에테르, 벤조인-n-부틸에테르, 벤조인이소부틸에테르, 벤조-t-부틸에테르, 아세토페논, 2,2-디에톡시아세토페논, p-디메틸아세토페논, p-디메틸아미노프로피오페논, 디클로로아세토페논, 트리클로로아세토페논, p-t-부틸아세토페논, p-디메틸아미노아세토페논, p-t-부틸트리클로로아세토페논, p-t-부틸디클로로아세토페논, α,α-디클로로-4-페녹시아세토페논, 티오잔톤, 2-메틸티오잔톤, 2-이소프로필티오잔톤, 벤조수베론, 펜틸-4-디메틸아미노벤조에이트, 9-페닐아크리딘, 1,7-비스-(9-아크리디닐)헵탄, 1,5-비스-(9-아크리디닐)펜탄, 1,3-비스-(9-아크리디닐)프로판, p-메톡시트리아진, 2,4,6-트리스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-메틸-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-[2-(5-메틸푸란-2-일)에테닐]-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-[2-(푸란-2-일)에테닐]-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-[2-(4-디에틸아미노-2-메틸페닐)에테닐]-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-[2-(3,4-디메톡시페닐)에테닐]-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-(4-메톡시페닐)-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-(4-에톡시스티릴)-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-(4-n-부톡시페닐)-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2,4-비스-트리클로로메틸-6-(3-브로모-4-메톡시)페닐-s-트리아진, 2,4-비스-트리클로로메틸-6-(2-브로모-4-메톡시)페닐-s-트리아진, 2,4-비스-트리클로로메틸-6-(3-브로모-4-메톡시)스티릴페닐-s-트리아진 및 2,4-비스-트리클로로메틸-6-(2-브로모-4-메톡시)스티릴페닐-s-트리아진 등을 들 수 있다. 또, 광 중합 개시제로서, 시판품인 「IRGACURE OXE02」, 「IRGACURE OXE01」, 「IRGACURE 369」, 「IRGACURE 651」 및 「IRGACURE 907」 (상품명:모두 BASF 사 제조) 그리고 「NCI-831」 (상품명:ADEKA 사 제조) 등도 사용할 수 있다.As a photoinitiator, specifically, for example, 1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, 1-[4-(2-hydro Roxyethoxy)phenyl]-2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 1-(4-isopropylphenyl)-2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 1- (4-Dodecylphenyl)-2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethan-1-one, bis(4-dimethylaminophenyl)ketone , 2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl]-2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)-butane- 1-one, ethanol 1-[9-ethyl-6-(2-methylbenzoyl)-9H-carbazol-3-yl]-1-(o-acetyloxime), 2,4,6-trimethylbenzoyldi Phenylphosphine oxide, 4-benzoyl-4'-methyldimethyl sulfide, 4-dimethylaminobenzoic acid, 4-dimethylaminobenzoic acid methyl, 4-dimethylaminobenzoic acid ethyl, 4-dimethylaminobenzoic acid butyl, 4-dimethylamino-2 -Ethylhexylbenzoic acid, 4-dimethylamino-2-isoamylbenzoic acid, benzyl-β-methoxyethylacetal, benzyldimethylketal, 1-phenyl-1,2-propanedione-2-(o-ethoxycarbonyl) Oxime, methyl o-benzoylbenzoate, 2,4-diethylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, 1-chloro-4-propoxythioxanthone, thioxanthene, 2-chlorothioxanthene , 2,4-diethylthioxanthene, 2-methylthioxanthene, 2-isopropylthioxanthene, 2-ethylanthraquinone, octamethylanthraquinone, 1,2-benzanthraquinone, 2,3-diphenylanthraquinone , Azobisisobutyronitrile, benzoyl peroxide, cumene peroxide, 2-mercaptobenzoimidazole, 2-mercaptobenzooxazole, 2-mercaptobenzothiazole, 2-(o-chlorophenyl)-4 ,5-diphenylimidazole dimer, 2-(o-chlorophenyl)-4,5-di(methoxyphenyl)imidazole dimer, 2-(o-fluorophenyl)-4,5-di Phenylimidazole dimer, 2-(o-methoxyphenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer, 2-(p-methoxyphenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer , 2,4,5-triarylimidazole dimer, benzophenone, 2-chlorobenzophenone, 4,4'-bisdimethylaminobenzophenone (I.e. Michler's ketone), 4,4'-bisdiethylaminobenzophenone (i.e., ethyl Michler's ketone), 4,4'-dichlorobenzophenone, 3,3-dimethyl-4-methoxybenzophenone, Benzyl, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin-n-butyl ether, benzoin isobutyl ether, benzo-t-butyl ether, acetophenone, 2,2-die Toxyacetophenone, p-dimethylacetophenone, p-dimethylaminopropiophenone, dichloroacetophenone, trichloroacetophenone, pt-butylacetophenone, p-dimethylaminoacetophenone, pt-butyltrichloroacetophenone, pt- Butyldichloroacetophenone, α,α-dichloro-4-phenoxyacetophenone, thioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, benzosuberone, pentyl-4-dimethylaminobenzoate, 9-phenyl Acridine, 1,7-bis-(9-acridinyl)heptane, 1,5-bis-(9-acridinyl)pentane, 1,3-bis-(9-acridinyl)propane, p -Methoxytriazine, 2,4,6-tris(trichloromethyl)-s-triazine, 2-methyl-4,6-bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2-[2-( 5-methylfuran-2-yl)ethenyl]-4,6-bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2-[2-(furan-2-yl)ethenyl]-4,6-bis (Trichloromethyl)-s-triazine, 2-[2-(4-diethylamino-2-methylphenyl)ethenyl]-4,6-bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2-[ 2-(3,4-dimethoxyphenyl)ethenyl]-4,6-bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2-(4-methoxyphenyl)-4,6-bis(trichloromethyl )-s-triazine, 2-(4-ethoxystyryl)-4,6-bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2-(4-n-butoxyphenyl)-4,6- Bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2,4-bis-trichloromethyl-6-(3-bromo-4-methoxy)phenyl-s-triazine, 2,4-bis-trichloro Methyl-6-(2-bromo-4-methoxy)phenyl-s-triazine, 2,4-bis-trichloromethyl-6-(3-bromo-4-methoxy)styrylphenyl-s -Triazine and 2,4-bis-trichloromethyl-6-(2-bromo-4-methoxy)styrylphenyl-s-triazine. In addition, as a photopolymerization initiator, commercially available products "IRGACURE OXE02", "IRGACURE OXE01", "IRGACURE 369", "IRGACURE 651" and "IRGACURE 907" (brand names: all manufactured by BASF) and "NCI-831" (brand names: ADEKA), etc. can also be used.

광 중합 개시제의 배합량은, 100 중량부의 중합성 모노머에 대하여, 0.1 중량부 이상, 20 중량부 이하인 것이 바람직하고, 1 중량부 이상, 5 중량부 이하인 것이 보다 바람직하다.The blending amount of the photopolymerization initiator is preferably 0.1 parts by weight or more and 20 parts by weight or less, more preferably 1 part by weight or more and 5 parts by weight or less, based on 100 parts by weight of the polymerizable monomer.

(첨가 용제) (Additive solvent)

열 중합 개시제 및 광 중합 개시제는, 첨가 용제에 용해하여 접착제 조성물에 배합하는 것이 바람직하다. 첨가 용제로는, 특별히 한정되지 않지만, 접착제 조성물에 포함되는 성분을 용해하는 유기 용제를 사용할 수 있다.It is preferable that a thermal polymerization initiator and a photopolymerization initiator are dissolved in an additive solvent and blended into the adhesive composition. Although it does not specifically limit as an additive solvent, An organic solvent which dissolves the component contained in an adhesive composition can be used.

유기 용제로는, 예를 들어, 접착제 조성물의 각 성분을 용해하고, 균일한 용액으로 할 수 있으면 되고, 1 개의 유기 용제만을 사용해도 되고, 2 개 이상의 유기 용제를 조합하여 사용해도 된다.As the organic solvent, for example, each component of the adhesive composition may be dissolved and a homogeneous solution may be used, and only one organic solvent may be used, or two or more organic solvents may be used in combination.

유기 용제의 구체예로는, 예를 들어, 극성기로서 산소 원자, 카르보닐기 또는 아세톡시기 등을 갖는 테르펜 용제를 들 수 있으며, 예를 들어, 게라니올, 네롤, 리날롤, 시트럴, 시트로네롤, 멘톨, 이소멘톨, 네오멘톨, α-테르피네올, β-테르피네올, γ-테르피네올, 테르피넨-1-올, 테르피넨-4-올, 디하이드로터피닐아세테이트, 1,4-시네올, 1,8-시네올, 보르네올, 카르본, 요논, 투욘, 캠퍼를 들 수 있다. 또, γ-부티로락톤 등의 락톤류;아세톤, 메틸에틸케톤, 시클로헥사논 (CH), 메틸-n-펜틸케톤, 메틸이소펜틸케톤, 2-헵타논 등의 케톤류;에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 디프로필렌글리콜 등의 다가 알코올류;에틸렌글리콜모노아세테이트, 디에틸렌글리콜모노아세테이트, 프로필렌글리콜모노아세테이트, 또는 디프로필렌글리콜모노아세테이트 등의 에스테르 결합을 갖는 화합물, 상기 다가 알코올류 또는 상기 에스테르 결합을 갖는 화합물의 모노메틸에테르, 모노에틸에테르, 모노프로필에테르, 모노부틸에테르 등의 모노알킬에테르 또는 모노페닐에테르 등의 에테르 결합을 갖는 화합물 등의 다가 알코올류의 유도체 (이들 중에서는, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 (PGMEA), 프로필렌글리콜모노메틸에테르 (PGME) 가 바람직하다);디옥산과 같은 고리형 에테르류나, 락트산메틸, 락트산에틸 (EL), 아세트산메틸, 아세트산에틸, 아세트산부틸, 피루브산메틸, 피루브산에틸, 메톡시프로피온산메틸, 에톡시프로피온산에틸 등의 에스테르류;아니솔,에틸벤질에테르, 크레질메틸에테르, 디페닐에테르, 디벤질에테르, 페네톨, 부틸페닐에테르 등의 방향족계 유기 용제 등을 들 수 있다.Specific examples of the organic solvent include, for example, a terpene solvent having an oxygen atom, a carbonyl group, or an acetoxy group as a polar group. For example, geraniol, nerol, linalol, citral, citrone Lol, menthol, isomentol, neomentol, α-terpineol, β-terpineol, γ-terpineol, terpinen-1-ol, terpinen-4-ol, dihydroterpinyl acetate, 1, 4-cineol, 1,8-cineol, borneol, carbon, yonone, tuyon, and camphor are mentioned. In addition, lactones such as γ-butyrolactone; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone (CH), methyl-n-pentyl ketone, methyl isopentyl ketone, and 2-heptanone; ethylene glycol, diethylene Polyhydric alcohols such as glycol, propylene glycol, and dipropylene glycol; compounds having an ester bond such as ethylene glycol monoacetate, diethylene glycol monoacetate, propylene glycol monoacetate, or dipropylene glycol monoacetate, the polyhydric alcohols or the above Derivatives of polyhydric alcohols, such as monoalkyl ethers of compounds having an ester bond, monomethyl ether, monoethyl ether, monopropyl ether, and monobutyl ether, or compounds having ether bonds such as monophenyl ether (in particular, propylene Glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) and propylene glycol monomethyl ether (PGME) are preferred); cyclic ethers such as dioxane, methyl lactate, ethyl lactate (EL), methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, and pyruvic acid Esters such as methyl, ethyl pyruvate, methyl methoxypropionate, ethyl ethoxypropionate, etc.; Aromatic organics such as anisole, ethylbenzyl ether, cresylmethyl ether, diphenyl ether, dibenzyl ether, phenetol and butylphenyl ether Solvents, etc. are mentioned.

첨가 용제의 함유량은, 열 중합 개시제 및 광 중합 개시제의 종류 등에 따라 적절히 조정하면 되는데, 예를 들어, 수지 성분을 용해하는 희석 용제 (주용제) 와 첨가 용제의 합계를 100 중량부로 했을 때, 첨가 용제의 함유량은, 1 중량부 이상, 50 중량부 이하인 것이 바람직하고, 1 중량부 이상, 30 중량부 이하인 것이 보다 바람직하다. 첨가 용제의 함유량이 상기 범위 내이면, 열 중합 개시제 및 광 중합 개시제를 충분히 용해할 수 있다.The content of the additive solvent may be appropriately adjusted according to the type of the thermal polymerization initiator and the photopolymerization initiator. For example, when the total of the diluting solvent (main solvent) and the additive solvent that dissolves the resin component is 100 parts by weight, it is added. The content of the solvent is preferably 1 part by weight or more and 50 parts by weight or less, and more preferably 1 part by weight or more and 30 parts by weight or less. When the content of the additive solvent is within the above range, the thermal polymerization initiator and the photopolymerization initiator can be sufficiently dissolved.

<적층체><Laminate>

본 발명의 일 실시형태에 관련된 적층체는, 소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 상기 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체로서, 상기 접착층은, 블록 공중합체와, 중합성 모노머의 중합체와, 중합 개시제를 포함하여 이루어진다. 또, 지지체와 접착층의 사이에 분리층을 구비하고 있다.A laminate according to an embodiment of the present invention includes a wiring layer on which an element is mounted, an encapsulant including an encapsulant for encapsulating the element and the element, and an adhesive layer interposed on a support for supporting the encapsulant. As a laminate obtained by laminating, the adhesive layer comprises a block copolymer, a polymer of a polymerizable monomer, and a polymerization initiator. Further, a separation layer is provided between the support and the adhesive layer.

본 발명의 일 실시형태에 관련된 적층체는, 본 발명의 일 실시형태에 관련된 접착제 조성물을 사용하여 접착층이 형성되어 있다. 이 때문에, 지지체에 형성된 접착층 상에 있어서, 적합하게 배선층을 형성하고, 적합하게 소자를 봉지할 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시형태에 관련된 접착제 조성물을 사용하여 접착층이 형성되어 있는 적층체도 본 발명의 범주이다.In a laminate according to an embodiment of the present invention, an adhesive layer is formed using the adhesive composition according to an embodiment of the present invention. For this reason, on the adhesive layer formed on a support body, a wiring layer can be formed suitably, and an element can be sealed suitably. Accordingly, a laminate in which an adhesive layer is formed using the adhesive composition according to an embodiment of the present invention is also a scope of the present invention.

[봉지체][Enclosure]

봉지체는, 소자가 실장되는 배선층과, 소자와, 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있다. 봉지체는 복수의 소자를 구비하고 있는 것이 바람직하고, 이와 같은 봉지체를 다이싱함으로써, 복수의 전자 부품을 얻을 수 있다.The sealing member includes a wiring layer on which an element is mounted, an element, and a sealing material that seals the element. It is preferable that the sealing member is provided with a plurality of elements, and by dicing such a sealing member, a plurality of electronic components can be obtained.

(배선층) (Wiring layer)

배선층은, RDL (Redistribution Layer:재배선층) 이라고도 불리고, 소자에 접속하는 배선을 구성하는 박막의 배선체이고, 단층 또는 복수 층의 구조를 가질 수 있다. 일 실시형태에 있어서, 배선층은, 유전체 (예를 들어, 산화실리콘 (SiOx), 감광성 에폭시 등의 감광성 수지 등) 에, 도전체 (예를 들어, 알루미늄, 구리, 티탄, 니켈, 금 및 은 등의 금속 그리고 은-주석 합금 등의 합금) 에 의해 배선이 형성된 것일 수 있지만, 이것에 한정되지 않는다.The wiring layer is also called RDL (Redistribution Layer: redistribution layer), is a thin-film wiring body constituting a wiring connected to an element, and may have a single-layer or multiple-layer structure. In one embodiment, the wiring layer is a dielectric (e.g., a photosensitive resin such as silicon oxide (SiOx), a photosensitive epoxy, etc.), a conductor (e.g., aluminum, copper, titanium, nickel, gold, silver, etc.) The wiring may be formed by a metal and an alloy such as a silver-tin alloy), but is not limited thereto.

(소자) (device)

소자는, 반도체 소자 또는 그 밖의 소자이며, 단층 또는 복수 층의 구조를 가질 수 있다. 또한, 소자가 반도체 소자인 경우, 봉지체를 다이싱함으로써 얻어지는 전자 부품은, 반도체 장치가 된다.The device is a semiconductor device or other device, and may have a single-layer or multiple-layer structure. In addition, when the element is a semiconductor element, the electronic component obtained by dicing the sealing member becomes a semiconductor device.

(봉지재) (Encapsulation)

봉지재로는, 예를 들어, 에폭시 수지를 함유하는 봉지재 등을 사용할 수 있다. 봉지재는, 소자마다 형성되어 있는 것이 아니라, 배선층에 실장된 복수의 소자 전부를 일체적으로 봉지하고 있는 것인 것이 바람직하다.As the sealing material, for example, a sealing material containing an epoxy resin can be used. It is preferable that the encapsulant is not formed for each element, but integrally encapsulates all of the plurality of elements mounted on the wiring layer.

[지지체][Support]

지지체는, 봉지체의 형성시에, 봉지체의 각 구성 요소의 파손 또는 변형을 방지하기 위해서 필요한 강도를 갖고 있으면 된다. 또, 지지체는, 당해 지지체 상에 형성된 분리층을 변질시킬 수 있는 파장의 광을 투과시키는 재료에 의해 형성되어 있다.The support should have the necessary strength to prevent damage or deformation of each constituent element of the sealing body at the time of formation of the sealing body. Further, the support is formed of a material that transmits light having a wavelength capable of deteriorating the separation layer formed on the support.

지지체의 재료로는, 예를 들어, 유리, 실리콘 및 아크릴계 수지 등을 사용할 수 있지만, 이들에 한정되지 않는다. 지지체의 형상으로는, 예를 들어, 판상의 원형 지지체를 사용할 수 있지만, 이것에 한정되지 않는다.As the material of the support, for example, glass, silicone, acrylic resin, etc. can be used, but the material is not limited thereto. As the shape of the support, for example, a plate-shaped circular support can be used, but is not limited thereto.

[접착층][Adhesive layer]

접착층은, 블록 공중합체와, 중합성 모노머의 중합체와, 중합 개시제를 포함하여 이루어지며, 봉지체를 지지체 상에 고정시키기 위해서, 그리고, 분리층을 보호하기 위해서 사용된다.The adhesive layer comprises a block copolymer, a polymer of a polymerizable monomer, and a polymerization initiator, and is used to fix the encapsulant on the support and to protect the separation layer.

여기서, 접착층을 형성하기 위한 접착제 조성물은, 상기 서술한 바와 같으며, 블록 중합체, 중합성 모노머 및 중합 개시제는, 상기 서술한 것과 동일하기 때문에, 그 설명을 생략한다.Here, the adhesive composition for forming the adhesive layer is as described above, and since the block polymer, the polymerizable monomer, and the polymerization initiator are the same as those described above, the explanation is omitted.

또한, 중합성 모노머의 중합체로는, 다관능 (메트)아크릴산에스테르의 중합체인 것이 바람직하다. 다관능 (메트)아크릴산에스테르는, 상기 서술한 것과 동일하기 때문에, 설명을 생략한다.Moreover, as a polymer of a polymerizable monomer, it is preferable that it is a polymer of polyfunctional (meth)acrylic acid ester. Since the polyfunctional (meth)acrylic acid ester is the same as that described above, explanation is omitted.

접착층의 두께는, 지지체 및 봉지체의 종류, 그리고 봉지체를 형성할 때에 실시하는 처리 등에 따라 적절히 설정하면 되는데, 0.1 ㎛ 이상, 50 ㎛ 이하인 것이 바람직하고, 1 ㎛ 이상, 10 ㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 1 ㎛ 이상임으로써, 봉지체를 지지체 상에 적합하게 고정시킬 수 있다. 10 ㎛ 이하임으로써, 후의 공정에 있어서 접착층의 제거를 용이하게 할 수 있다.The thickness of the adhesive layer may be appropriately set according to the type of the support and the encapsulant, and the treatment performed when forming the encapsulation, but it is preferably 0.1 µm or more and 50 µm or less, and more preferably 1 µm or more and 10 µm or less. Do. When it is 1 micrometer or more, the sealing body can be suitably fixed on a support body. By being 10 micrometers or less, it is possible to facilitate the removal of the adhesive layer in a subsequent step.

[분리층][Separation layer]

분리층은, 광을 조사함으로써 변질되는 층이다. 지지체를 통해서 분리층에 광을 조사하여 분리층을 변질시킴으로써, 지지체를 봉지체로부터 분리시킬 수 있다.The separation layer is a layer that is deteriorated by irradiation with light. The support can be separated from the encapsulant by irradiating light to the separating layer through the support to denature the separating layer.

또한, 본 명세서에 있어서, 분리층이 「변질된다」 는 것은, 분리층이 약간의 외력을 받아 파괴될 수 있는 상태, 또는 분리층과 접하는 층과의 접착력이 저하된 상태가 되는 현상을 의미한다. 광을 흡수함으로써 발생하는 분리층의 변질의 결과로, 분리층은, 광의 조사를 받기 전의 강도 또는 접착성을 잃는다. 즉, 광을 흡수함으로써, 분리층은 물러진다. 분리층의 변질이란, 분리층이, 흡수한 광의 에너지에 의한 분해, 입체 배치의 변화 또는 관능기의 해리 등을 발생하는 것일 수 있다. 분리층의 변질은, 광을 흡수하는 것의 결과로 발생한다.In addition, in the present specification, the ``deterioration'' of the separating layer means a state in which the separating layer can be destroyed by receiving a slight external force, or a phenomenon in which the adhesion between the layer in contact with the separating layer is lowered. . As a result of the deterioration of the separating layer caused by absorbing light, the separating layer loses strength or adhesiveness before being irradiated with light. That is, by absorbing light, the separation layer is softened. The deterioration of the separation layer may mean that the separation layer causes decomposition by energy of absorbed light, changes in three-dimensional arrangement, or dissociation of functional groups. Deterioration of the separation layer occurs as a result of absorbing light.

따라서, 예를 들어, 서포트 플레이트를 들어 올리는 것만으로 분리층이 파괴되도록 변질시켜, 서포트 플레이트와 기판을 용이하게 분리할 수 있다. 보다 구체적으로는, 예를 들어, 지지체 분리 장치 등에 의해, 적층체에 있어서의 기판 및 서포트 플레이트의 일방을 재치대 (載置臺) 에 고정시키고, 흡착 수단을 구비한 흡착 패드 (흡착부) 등에 의해 타방을 유지하여 들어 올림으로써, 서포트 플레이트와 기판을 분리하거나, 또는 서포트 플레이트의 둘레가장자리 부분 단부의 모따기 부위를, 클램프 (폴부) 등을 구비한 분리 플레이트에 의해 파지함으로써 힘을 가하여, 기판과 서포트 플레이트를 분리하면 된다. 또, 예를 들어, 접착제를 박리하기 위한 박리액을 공급하는 박리 수단을 구비한 지지체 분리 장치에 의해, 적층체에 있어서의 기판으로부터 서포트 플레이트를 박리해도 된다. 당해 박리 수단에 의해 적층체에 있어서의 접착층의 둘레 단부의 적어도 일부에 박리액을 공급하고, 적층체에 있어서의 접착층을 팽윤시킴으로써, 당해 접착층이 팽윤한 곳으로부터 분리층에 힘이 집중하도록 하여, 기판과 서포트 플레이트에 힘을 가할 수 있다. 이 때문에, 기판과 서포트 플레이트를 적합하게 분리할 수 있다.Thus, for example, the support plate and the substrate can be easily separated by deforming so that the separation layer is destroyed just by lifting the support plate. More specifically, for example, one of the substrate and the support plate in the laminate is fixed to a mounting table by means of a support separation device or the like, and an adsorption pad (adsorption unit) provided with adsorption means, etc. The support plate and the substrate are separated by holding the other side by lifting the support plate, or the chamfered portion at the end of the circumferential edge portion of the support plate is grasped by a separating plate equipped with a clamp (pole portion), and a force is applied to the substrate. Just remove the support plate. Further, for example, the support plate may be peeled from the substrate in the laminate by means of a support body separating device provided with a peeling means for supplying a peeling solution for peeling the adhesive. By supplying a peeling solution to at least a part of the peripheral end of the adhesive layer in the laminate by the peeling means, and swelling the adhesive layer in the laminate, the force is concentrated on the separation layer from the place where the adhesive layer swells, Force can be applied to the substrate and support plate. For this reason, it is possible to suitably separate the substrate and the support plate.

적층체에 가하는 힘은, 적층체의 크기 등에 따라 적절히 조정하면 되고, 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 직경이 300 ㎜ 정도의 적층체이면, 0.1 ∼ 5 kgf 정도의 힘을 가함으로써, 기판과 서포트 플레이트를 적합하게 분리할 수 있다.The force applied to the laminate may be appropriately adjusted according to the size of the laminate, but is not limited, for example, if a laminate having a diameter of about 300 mm, by applying a force of about 0.1 to 5 kgf, the substrate and the substrate The support plate can be properly removed.

분리층의 두께는, 예를 들어, 0.05 ㎛ 이상, 50 ㎛ 이하의 범위 내인 것이 보다 바람직하고, 0.3 ㎛ 이상, 1 ㎛ 이하의 범위 내인 것이 더욱 바람직하다. 분리층의 두께가 0.05 ㎛ 이상, 50 ㎛ 이하의 범위에 들어가 있으면, 단시간의 광의 조사 및 저에너지의 광의 조사에 의해, 분리층에 원하는 변질을 발생시킬 수 있다. 또, 분리층의 두께는, 생산성의 관점에서 1 ㎛ 이하의 범위에 들어가 있는 것이 특히 바람직하다.The thickness of the separation layer is, for example, more preferably in the range of 0.05 µm or more and 50 µm or less, and still more preferably in the range of 0.3 µm or more and 1 µm or less. If the thickness of the separating layer falls within the range of 0.05 µm or more and 50 µm or less, desired deterioration can be caused in the separating layer by irradiation of light for a short period of time and light of low energy. Moreover, it is particularly preferable that the thickness of the separation layer falls within the range of 1 µm or less from the viewpoint of productivity.

또한, 분리층과 지지체의 사이에 다른 층이 추가로 형성되어 있어도 된다. 이 경우, 다른 층은 광을 투과하는 재료로 구성되어 있으면 된다. 이에 따라, 분리층으로의 광의 입사를 방해하는 일 없이, 바람직한 성질 등을 갖는 층을 적절히 추가할 수 있다. 분리층을 구성하고 있는 재료의 종류에 따라, 사용할 수 있는 광의 파장이 상이하다. 따라서, 다른 층을 구성하는 재료는, 모든 광을 투과시킬 필요는 없고, 분리층을 구성하는 재료를 변질시킬 수 있는 파장의 광을 투과시킬 수 있는 재료에서 적절히 선택할 수 있다.Further, another layer may be further formed between the separation layer and the support. In this case, the other layer may be made of a material that transmits light. Accordingly, a layer having desirable properties or the like can be appropriately added without interfering with the incidence of light to the separation layer. Depending on the type of material constituting the separation layer, the wavelength of light that can be used is different. Therefore, the material constituting the other layer does not need to transmit all light, and can be appropriately selected from materials capable of transmitting light of a wavelength capable of deteriorating the material constituting the separation layer.

또, 분리층은, 광을 흡수하는 구조를 갖는 재료만으로 형성되어 있는 것이 바람직하지만, 본 발명에 있어서의 본질적인 특성을 저해하지 않는 범위에 있어서, 광을 흡수하는 구조를 갖고 있지 않은 재료를 첨가하여, 분리층을 형성해도 된다. 또, 분리층에 있어서의 접착층에 대향하는 측의 면이 평탄한 (요철이 형성되어 있지 않은) 것이 바람직하고, 이에 따라, 분리층의 형성을 용이하게 실시할 수 있고, 또한 첩부 (貼付) 에 있어서도 균일하게 첩부하는 것이 가능해진다.In addition, the separation layer is preferably formed of only a material having a light-absorbing structure, but within a range that does not impair the essential properties in the present invention, a material not having a light-absorbing structure is added. , You may form a separation layer. In addition, it is preferable that the surface of the separation layer on the side opposite to the adhesive layer is flat (no irregularities are formed), and thus, the separation layer can be easily formed, and also in affixing. It becomes possible to apply uniformly.

(플루오로카본) (Fluorocarbon)

분리층은, 플루오로카본으로 되어 있어도 된다. 분리층은, 플루오로카본에 의해 구성됨으로써, 광을 흡수함으로써 변질되게 되어 있으며, 그 결과로, 광의 조사를 받기 전의 강도 또는 접착성을 잃는다. 따라서, 약간의 외력을 가함으로써 (예를 들어, 지지체를 들어 올리는 등), 분리층이 파괴되어, 지지체와 봉지체를 분리하기 쉽게 할 수 있다. 분리층을 구성하는 플루오로카본은, 플라즈마 CVD (화학 기상 퇴적) 법에 의해 적합하게 성막할 수 있다.The separation layer may be made of fluorocarbon. The separating layer is made of fluorocarbon, so that it is deteriorated by absorbing light, and as a result, it loses the strength or adhesiveness before being irradiated with light. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support, etc.), the separation layer is destroyed, and the support and the sealing member can be easily separated. The fluorocarbon constituting the separation layer can be suitably formed by a plasma CVD (chemical vapor deposition) method.

플루오로카본은, 그 종류에 따라 고유 범위의 파장을 갖는 광을 흡수한다. 분리층에 사용한 플루오로카본이 흡수하는 범위의 파장의 광을 분리층에 조사함으로써, 플루오로카본을 적합하게 변질시킬 수 있다. 또한, 분리층에 있어서의 광의 흡수율은 80 % 이상인 것이 바람직하다.Fluorocarbon absorbs light having a wavelength in its own range, depending on its type. By irradiating the separation layer with light having a wavelength in a range absorbed by the fluorocarbon used in the separation layer, the fluorocarbon can be suitably denatured. In addition, it is preferable that the absorption rate of light in the separation layer is 80% or more.

분리층에 조사하는 광으로는, 플루오로카본이 흡수 가능한 파장에 따라, 예를 들어, YAG 레이저, 루비 레이저, 유리 레이저, YVO4 레이저, LD 레이저, 파이버 레이저 등의 고체 레이저, 색소 레이저 등의 액체 레이저, CO2 레이저, 엑시머 레이저, Ar 레이저, He-Ne 레이저 등의 기체 레이저, 반도체 레이저, 자유 전자 레이저 등의 레이저 광, 또는, 비레이저 광을 적절히 사용하면 된다. 플루오로카본을 변질시킬 수 있는 파장으로는, 이것에 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 600 ㎚ 이하 범위의 파장을 사용할 수 있다.As the light irradiated to the separation layer, depending on the wavelength at which the fluorocarbon can be absorbed, for example, YAG laser, ruby laser, glass laser, YVO 4 laser, LD laser, solid laser such as fiber laser, dye laser, etc. Liquid laser, CO 2 laser, excimer laser, Ar laser, gas laser such as He-Ne laser, laser light such as semiconductor laser, free electron laser, or non-laser light may be appropriately used. The wavelength at which the fluorocarbon can be deteriorated is not limited to this, but for example, a wavelength in the range of 600 nm or less can be used.

(광 흡수성을 갖고 있는 구조를 그 반복 단위에 포함하고 있는 중합체) (Polymer containing a structure having light absorbing property in its repeating unit)

분리층은, 광 흡수성을 갖고 있는 구조를 그 반복 단위에 포함하고 있는 중합체를 함유하고 있어도 된다. 그 중합체는, 광의 조사를 받아 변질된다. 그 중합체의 변질은, 상기 구조가 조사된 광을 흡수함으로써 발생한다. 분리층은, 중합체 변질의 결과로, 광의 조사를 받기 전의 강도 또는 접착성을 잃고 있다. 따라서, 약간의 외력을 가함으로써 (예를 들어, 지지체를 들어 올리는 등), 분리층이 파괴되어, 지지체와 봉지체를 분리하기 쉽게 할 수 있다.The separation layer may contain a polymer containing a structure having light absorbing property in its repeating unit. The polymer is deteriorated when irradiated with light. The deterioration of the polymer occurs when the structure absorbs the irradiated light. The separation layer loses strength or adhesiveness before being irradiated with light as a result of polymer deterioration. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support, etc.), the separation layer is destroyed, and the support and the sealing member can be easily separated.

광 흡수성을 갖고 있는 상기 구조는, 광을 흡수하여, 반복 단위로서 그 구조를 포함하고 있는 중합체를 변질시키는 화학 구조이다. 그 구조는, 예를 들어, 치환 혹은 비치환의 벤젠 고리, 축합 고리 또는 복소 고리로 이루어지는 공액 π 전자계를 포함하고 있는 원자단이다. 보다 상세하게는, 그 구조는, 카르도 구조, 또는 상기 중합체의 측사슬에 존재하는 벤조페논 구조, 디페닐술폭시드 구조, 디페닐술폰 구조 (비스페닐술폰 구조), 디페닐 구조 혹은 디페닐아민 구조일 수 있다.The structure having light absorption is a chemical structure that absorbs light and denatures a polymer containing the structure as a repeating unit. The structure is, for example, an atomic group containing a conjugated π electron system composed of a substituted or unsubstituted benzene ring, a condensed ring, or a heterocycle. More specifically, the structure is a cardo structure or a benzophenone structure present in the side chain of the polymer, a diphenyl sulfoxide structure, a diphenyl sulfone structure (bisphenylsulfone structure), a diphenyl structure or diphenylamine. It can be a structure.

상기 구조가 상기 중합체의 측사슬에 존재하는 경우, 그 구조는 이하의 식에 의해 나타낼 수 있다.When the structure is present in the side chain of the polymer, the structure can be represented by the following formula.

[화학식 1][Formula 1]

Figure 112017021350610-pat00001
Figure 112017021350610-pat00001

(식 중, R 은 각각 독립적으로, 알킬기, 아릴기, 할로겐, 수산기, 케톤기, 술폭시드기, 술폰기 또는 N(R4)(R5) 이고 (여기서, R4 및 R5 는 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 탄소수 1 ∼ 5 의 알킬기이다), Z 는, 존재하지 않거나, 또는 -CO-, -SO2-, -SO- 혹은 -NH- 이며, n 은 0 또는 1 ∼ 5 의 정수이다.) (Wherein, R is each independently an alkyl group, an aryl group, halogen, hydroxyl group, ketone group, sulfoxide group, sulfone group or N(R 4 )(R 5 ), wherein R 4 and R 5 are each independently Is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms), Z is not present or is -CO-, -SO 2 -, -SO- or -NH-, and n is 0 or an integer of 1 to 5 .)

또, 상기 중합체는, 예를 들어, 이하의 식 중, (a) ∼ (d) 중 어느 것에 의해 나타내는 반복 단위를 포함하고 있거나, (e) 에 의해 나타내거나, 또는 (f) 의 구조를 그 주사슬에 포함하고 있다.In addition, the polymer contains, for example, a repeating unit represented by any of (a) to (d) in the following formulas, or is represented by (e), or the structure of (f) is Included in the main chain.

[화학식 2][Formula 2]

Figure 112017021350610-pat00002
Figure 112017021350610-pat00002

(식 중, l 은 1 이상의 정수이고, m 은 0 또는 1 ∼ 2 의 정수이고, X 는, (a) ∼ (e) 에 있어서 상기 “화학식 1” 에 나타낸 식 중 어느 것이고, (f) 에 있어서 상기 “화학식 1” 에 나타낸 식 중 어느 것이거나, 또는 존재하지 않고, Y1 및 Y2 는 각각 독립적으로, -CO- 또는 -SO2- 이다. l 은 바람직하게는 10 이하의 정수이다.) (Wherein, l is an integer greater than or equal to 1, m is an integer of 0 or 1 to 2, X is any of the formulas shown in the above "formula 1" in (a) to (e), and in (f) In the above, any of the formulas shown in "Formula 1" or not present, Y 1 and Y 2 are each independently -CO- or -SO 2 -l is preferably an integer of 10 or less. )

상기 “화학식 1” 에 나타내는 벤젠 고리, 축합 고리 및 복소 고리의 예로는, 페닐, 치환 페닐, 벤질, 치환 벤질, 나프탈렌, 치환 나프탈렌, 안트라센, 치환 안트라센, 안트라퀴논, 치환 안트라퀴논, 아크리딘, 치환 아크리딘, 아조벤젠, 치환 아조벤젠, 플루오림, 치환 플루오림, 플루오리몬, 치환 플루오리몬, 카르바졸, 치환 카르바졸, N-알킬카르바졸, 디벤조푸란, 치환 디벤조푸란, 페난트렌, 치환 페난트렌, 피렌 및 치환 피렌을 들 수 있다. 예시한 치환기가 추가로 치환기를 갖고 있는 경우, 그 치환기는, 예를 들어, 알킬, 아릴, 할로겐 원자, 알콕시, 니트로, 알데히드, 시아노, 아미드, 디알킬아미노, 술폰아미드, 이미드, 카르복실산, 카르복실산에스테르, 술폰산, 술폰산에스테르, 알킬아미노 및 아릴아미노에서 선택된다.Examples of the benzene ring, condensed ring and heterocycle represented by the above "Formula 1" include phenyl, substituted phenyl, benzyl, substituted benzyl, naphthalene, substituted naphthalene, anthracene, substituted anthracene, anthraquinone, substituted anthraquinone, acridine, Substituted acridine, azobenzene, substituted azobenzene, fluorim, substituted fluorim, fluorimone, substituted fluorimone, carbazole, substituted carbazole, N-alkylcarbazole, dibenzofuran, substituted dibenzofuran, phenanthrene , Substituted phenanthrene, pyrene, and substituted pyrene. When the exemplified substituent further has a substituent, the substituent is, for example, alkyl, aryl, halogen atom, alkoxy, nitro, aldehyde, cyano, amide, dialkylamino, sulfonamide, imide, carboxyl It is selected from acid, carboxylic acid ester, sulfonic acid, sulfonic acid ester, alkylamino and arylamino.

상기 “화학식 1” 에 나타내는 치환기 중, 페닐기를 2 개 갖고 있는 5 번째의 치환기로서, Z 가 -SO2- 인 경우의 예로는, 비스(2,4-디하이드록시페닐)술폰, 비스(3,4-디하이드록시페닐)술폰, 비스(3,5-디하이드록시페닐)술폰, 비스(3,6-디하이드록시페닐)술폰, 비스(4-하이드록시페닐)술폰, 비스(3-하이드록시페닐)술폰, 비스(2-하이드록시페닐)술폰, 및 비스(3,5-디메틸-4-하이드록시페닐)술폰 등을 들 수 있다.Among the substituents represented by the above "Chemical Formula 1", examples of the case where Z is -SO 2 -as the fifth substituent having two phenyl groups are bis(2,4-dihydroxyphenyl)sulfone, bis(3 ,4-dihydroxyphenyl)sulfone, bis(3,5-dihydroxyphenyl)sulfone, bis(3,6-dihydroxyphenyl)sulfone, bis(4-hydroxyphenyl)sulfone, bis(3- Hydroxyphenyl)sulfone, bis(2-hydroxyphenyl)sulfone, and bis(3,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl)sulfone, and the like.

상기 “화학식 1” 에 나타내는 치환기 중, 페닐기를 2 개 갖고 있는 5 번째의 치환기로서, Z 가 -SO- 인 경우의 예로는, 비스(2,3-디하이드록시페닐)술폭시드, 비스(5-클로로-2,3-디하이드록시페닐)술폭시드, 비스(2,4-디하이드록시페닐)술폭시드, 비스(2,4-디하이드록시-6-메틸페닐)술폭시드, 비스(5-클로로-2,4-디하이드록시페닐)술폭시드, 비스(2,5-디하이드록시페닐)술폭시드, 비스(3,4-디하이드록시페닐)술폭시드, 비스(3,5-디하이드록시페닐)술폭시드, 비스(2,3,4-트리하이드록시페닐)술폭시드, 비스(2,3,4-트리하이드록시-6-메틸페닐)-술폭시드, 비스(5-클로로-2,3,4-트리하이드록시페닐)술폭시드, 비스(2,4,6-트리하이드록시페닐)술폭시드, 비스(5-클로로-2,4,6-트리하이드록시페닐)술폭시드 등을 들 수 있다.Among the substituents represented by the above "Chemical Formula 1", examples of the case where Z is -SO- as the fifth substituent having two phenyl groups are bis(2,3-dihydroxyphenyl)sulfoxide, bis(5 -Chloro-2,3-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (2,4-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (2,4-dihydroxy-6-methylphenyl) sulfoxide, bis (5- Chloro-2,4-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (2,5-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (3,4-dihydroxyphenyl) sulfoxide, bis (3,5-dihydro) Roxyphenyl)sulfoxide, bis(2,3,4-trihydroxyphenyl)sulfoxide, bis(2,3,4-trihydroxy-6-methylphenyl)-sulfoxide, bis(5-chloro-2, 3,4-trihydroxyphenyl)sulfoxide, bis(2,4,6-trihydroxyphenyl)sulfoxide, bis(5-chloro-2,4,6-trihydroxyphenyl)sulfoxide, etc. are mentioned. I can.

상기 “화학식 1” 에 나타내는 치환기 중, 페닐기를 2 개 갖고 있는 5 번째의 치환기로서, Z 가 -C(=O)- 인 경우의 예로는, 2,4-디하이드록시벤조페논, 2,3,4-트리하이드록시벤조페논, 2,2',4,4'-테트라하이드록시벤조페논, 2,2',5,6'-테트라하이드록시벤조페논, 2-하이드록시-4-메톡시벤조페논, 2-하이드록시-4-옥톡시벤조페논, 2-하이드록시-4-도데실옥시벤조페논, 2,2'-디하이드록시-4-메톡시벤조페논, 2,6-디하이드록시-4-메톡시벤조페논, 2,2'-디하이드록시-4,4'-디메톡시벤조페논, 4-아미노-2'-하이드록시벤조페논, 4-디메틸아미노-2'-하이드록시벤조페논, 4-디에틸아미노-2'-하이드록시벤조페논, 4-디메틸아미노-4'-메톡시-2'-하이드록시벤조페논, 4-디메틸아미노-2',4'-디하이드록시벤조페논, 및 4-디메틸아미노-3',4'-디하이드록시벤조페논 등을 들 수 있다.Among the substituents represented by the above "Chemical Formula 1", examples of the case where Z is -C(=O)- as the fifth substituent having two phenyl groups are 2,4-dihydroxybenzophenone, 2,3 ,4-trihydroxybenzophenone, 2,2',4,4'-tetrahydroxybenzophenone, 2,2',5,6'-tetrahydroxybenzophenone, 2-hydroxy-4-methoxy Benzophenone, 2-hydroxy-4-octoxybenzophenone, 2-hydroxy-4-dodecyloxybenzophenone, 2,2'-dihydroxy-4-methoxybenzophenone, 2,6-dihydro Roxy-4-methoxybenzophenone, 2,2'-dihydroxy-4,4'-dimethoxybenzophenone, 4-amino-2'-hydroxybenzophenone, 4-dimethylamino-2'-hydroxy Benzophenone, 4-diethylamino-2'-hydroxybenzophenone, 4-dimethylamino-4'-methoxy-2'-hydroxybenzophenone, 4-dimethylamino-2',4'-dihydroxy Benzophenone, and 4-dimethylamino-3',4'-dihydroxybenzophenone, etc. are mentioned.

상기 구조가 상기 중합체의 측사슬에 존재하고 있는 경우, 상기 구조를 포함하고 있는 반복 단위의, 상기 중합체에서 차지하는 비율은, 분리층의 광의 투과율이 0.001 % 이상, 10 % 이하가 되는 범위 내에 있다. 그 비율이 이와 같은 범위에 들어가도록 중합체가 조제되어 있으면, 분리층이 충분히 광을 흡수하여, 확실하게 또한 신속히 변질될 수 있다. 즉, 봉지체로부터의 지지체의 제거가 용이하고, 그 제거에 필요한 광의 조사 시간을 단축시킬 수 있다.When the structure is present in the side chain of the polymer, the proportion of the repeating unit containing the structure in the polymer is within a range in which the light transmittance of the separation layer is 0.001% or more and 10% or less. If the polymer is prepared so that the ratio falls within such a range, the separating layer sufficiently absorbs light, so that it can be deteriorated reliably and quickly. That is, removal of the support body from the sealing body is easy, and the light irradiation time required for the removal can be shortened.

상기 구조는, 그 종류의 선택에 따라, 원하는 범위의 파장을 갖고 있는 광을 흡수할 수 있다. 예를 들어, 상기 구조가 흡수 가능한 광의 파장은 100 ㎚ 이상, 2,000 ㎚ 이하의 범위 내인 것이 보다 바람직하다. 이 범위 내 중, 상기 구조가 흡수 가능한 광의 파장은, 보다 단파장측이며, 예를 들어, 100 ㎚ 이상, 500 ㎚ 이하의 범위 내이다. 예를 들어, 상기 구조는, 바람직하게는 대략 300 ㎚ 이상, 370 ㎚ 이하의 범위 내의 파장을 갖고 있는 자외광을 흡수함으로써, 그 구조를 포함하고 있는 중합체를 변질시킬 수 있다.The above structure can absorb light having a desired range of wavelengths depending on the type of selection. For example, the wavelength of light that can be absorbed by the structure is more preferably in the range of 100 nm or more and 2,000 nm or less. Within this range, the wavelength of light that the structure can absorb is on the shorter wavelength side, for example, in the range of 100 nm or more and 500 nm or less. For example, the structure can deteriorate the polymer containing the structure by absorbing ultraviolet light having a wavelength in a range of preferably about 300 nm or more and 370 nm or less.

상기 구조가 흡수 가능한 광은, 예를 들어, 고압 수은 램프 (파장:254 ㎚ 이상, 436 ㎚ 이하), KrF 엑시머 레이저 (파장:248 ㎚), ArF 엑시머 레이저 (파장:193 ㎚), F2 엑시머 레이저 (파장:157 ㎚), XeCl 레이저 (파장:308 ㎚), XeF 레이저 (파장:351 ㎚) 혹은 고체 UV 레이저 (파장:355 ㎚) 로부터 발해지는 광, 또는 g 선 (파장:436 ㎚), h 선 (파장:405 ㎚) 혹은 i 선 (파장:365 ㎚) 등이다.Light that the above structure can absorb is, for example, a high-pressure mercury lamp (wavelength: 254 nm or more, 436 nm or less), KrF excimer laser (wavelength: 248 nm), ArF excimer laser (wavelength: 193 nm), F2 excimer laser Light emitted from (wavelength: 157 nm), XeCl laser (wavelength: 308 nm), XeF laser (wavelength: 351 nm) or solid UV laser (wavelength: 355 nm), or g-line (wavelength: 436 nm), h It is a line (wavelength: 405 nm) or i-line (wavelength: 365 nm).

상기 서술한 분리층은, 반복 단위로서 상기 구조를 포함하고 있는 중합체를 함유하고 있지만, 분리층은 또한, 상기 중합체 이외의 성분을 포함할 수 있다. 그 성분으로는, 필러, 가소제 및 지지체의 박리성을 향상시킬 수 있는 성분 등을 들 수 있다. 이들 성분은, 상기 구조에 의한 광의 흡수 및 중합체의 변질을 방해하지 않거나, 또는 촉진하는, 종래 공지된 물질 또는 재료에서 적절히 선택된다.The separation layer described above contains a polymer containing the structure as a repeating unit, but the separation layer may further contain components other than the polymer. Examples of the component include a filler, a plasticizer, and a component capable of improving the peelability of the support. These components are appropriately selected from known substances or materials that do not interfere with or promote the absorption of light and deterioration of the polymer by the above structure.

(무기물) (Inorganic)

분리층은, 무기물로 이루어져 있어도 된다. 분리층은, 무기물에 의해 구성됨으로써, 광을 흡수함으로써 변질되도록 되어 있고, 그 결과로, 광의 조사를 받기 전의 강도 또는 접착성을 잃는다. 따라서, 약간의 외력을 가함으로써 (예를 들어, 지지체 (1) 를 들어 올리는 등), 분리층이 파괴되어, 지지체와 봉지체를 분리하기 쉽게 할 수 있다.The separation layer may be made of an inorganic material. The separation layer is made of an inorganic material, so that it is deteriorated by absorbing light, and as a result, it loses strength or adhesiveness before being irradiated with light. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support 1), the separation layer is destroyed, and the support and the sealing member can be easily separated.

상기 무기물은, 광을 흡수함으로써 변질되는 구성이면 되고, 예를 들어, 금속, 금속 화합물 및 카본으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종류 이상의 무기물을 적합하게 사용할 수 있다. 금속 화합물이란, 금속 원자를 포함하는 화합물을 가리키며, 예를 들어, 금속 산화물, 금속 질화물일 수 있다. 이와 같은 무기물의 예시로는, 이것에 한정되는 것은 아니지만, 금, 은, 동, 철, 니켈, 알루미늄, 티탄, 크롬, SiO2, SiN, Si3N4, TiN 및 카본으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종류 이상의 무기물을 들 수 있다. 또한, 카본이란, 탄소의 동소체도 포함될 수 있는 개념이며, 예를 들어, 다이아몬드, 풀러렌, 다이아몬드 라이크 카본, 카본 나노 튜브 등일 수 있다.The inorganic material may have a configuration that is deteriorated by absorbing light, and for example, one or more types of inorganic materials selected from the group consisting of metals, metal compounds, and carbon can be suitably used. The metal compound refers to a compound containing a metal atom, and may be, for example, a metal oxide or a metal nitride. Examples of such inorganic substances are not limited thereto, but are selected from the group consisting of gold, silver, copper, iron, nickel, aluminum, titanium, chromium, SiO 2 , SiN, Si 3 N 4 , TiN, and carbon. One or more types of inorganic substances can be mentioned. In addition, the term carbon is a concept in which an allotrope of carbon may also be included, and for example, it may be diamond, fullerene, diamond-like carbon, carbon nanotube, or the like.

상기 무기물은, 그 종류에 따라 고유 범위의 파장을 갖는 광을 흡수한다. 분리층에 사용한 무기물이 흡수하는 범위의 파장의 광을 분리층에 조사함으로써, 상기 무기물을 적합하게 변질시킬 수 있다.The inorganic material absorbs light having a wavelength in an inherent range depending on the type. By irradiating the separation layer with light having a wavelength in a range absorbed by the inorganic material used in the separation layer, the inorganic material can be suitably denatured.

무기물로 이루어지는 분리층에 조사하는 광으로는, 상기 무기물이 흡수 가능한 파장에 따라, 예를 들어, YAG 레이저, 루비 레이저, 유리 레이저, YVO4 레이저, LD 레이저, 파이버 레이저 등의 고체 레이저, 색소 레이저 등의 액체 레이저, CO2 레이저, 엑시머 레이저, Ar 레이저, He-Ne 레이저 등의 기체 레이저, 반도체 레이저, 자유 전자 레이저 등의 레이저 광, 또는, 비레이저 광을 적절히 이용하면 된다.As the light irradiated to the separation layer made of inorganic material, depending on the wavelength at which the inorganic material can be absorbed, for example, solid-state lasers such as YAG laser, ruby laser, glass laser, YVO 4 laser, LD laser, fiber laser, and dye laser A liquid laser such as a CO 2 laser, an excimer laser, an Ar laser, a gas laser such as a He-Ne laser, a laser light such as a semiconductor laser or a free electron laser, or a non-laser light may be appropriately used.

무기물로 이루어지는 분리층은, 예를 들어 스퍼터, 화학 증착 (CVD), 도금, 플라즈마 CVD, 스핀 코트 등의 공지된 기술에 의해 지지체 상에 형성될 수 있다. 무기물로 이루어지는 분리층의 두께는 특별히 한정되지 않고, 사용하는 광을 충분히 흡수할 수 있는 막두께이면 되는데, 예를 들어, 0.05 ㎛ 이상, 10 ㎛ 이하의 범위 내의 막두께로 하는 것이 보다 바람직하다. 또, 분리층을 구성하는 무기물로 이루어지는 무기막 (예를 들어, 금속막) 의 양면 또는 편면에 미리 접착제를 도포하고, 지지체에 첩부해도 된다.The separation layer made of an inorganic material can be formed on the support by known techniques such as sputtering, chemical vapor deposition (CVD), plating, plasma CVD, and spin coating. The thickness of the separation layer made of inorganic material is not particularly limited, and any film thickness capable of sufficiently absorbing the light to be used may be sufficient. For example, it is more preferable to set it as a film thickness within the range of 0.05 µm or more and 10 µm or less. Further, an adhesive may be previously applied to both sides or one side of an inorganic film (eg, a metal film) made of an inorganic material constituting the separation layer, and adhered to the support.

또한, 분리층으로서 금속막을 사용하는 경우에는, 분리층의 막질, 레이저 광원의 종류, 레이저 출력 등의 조건에 따라서는, 레이저의 반사나 막으로의 대전 등이 일어날 수 있다. 그 때문에, 반사 방지막이나 대전 방지막을 분리층의 상하 또는 어느 일방에 형성함으로써, 그들의 대책을 도모하는 것이 바람직하다.In addition, when a metal film is used as the separation layer, depending on conditions such as the film quality of the separation layer, the type of laser light source, and laser output, the reflection of the laser or charging to the film may occur. Therefore, it is preferable to take countermeasures against them by forming an antireflection film or an antistatic film above or below the separation layer or on either side.

(적외선 흡수성 구조를 갖는 화합물)(Compound having an infrared absorbing structure)

분리층은, 적외선 흡수성 구조를 갖는 화합물에 의해 형성되어 있어도 된다. 그 화합물은, 적외선을 흡수함으로써 변질된다. 분리층은, 화합물의 변질의 결과로, 적외선의 조사를 받기 전의 강도 또는 접착성을 잃고 있다. 따라서, 약간의 외력을 가함으로써 (예를 들어, 지지체를 들어 올리는 등), 분리층이 파괴되어, 지지체와 봉지체를 분리하기 쉽게 할 수 있다.The separation layer may be formed of a compound having an infrared absorbing structure. The compound is deteriorated by absorbing infrared rays. As a result of the deterioration of the compound, the separation layer loses strength or adhesiveness before being irradiated with infrared rays. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support, etc.), the separation layer is destroyed, and the support and the sealing member can be easily separated.

적외선 흡수성을 갖고 있는 구조, 또는 적외선 흡수성을 갖고 있는 구조를 포함하는 화합물로는, 예를 들어, 알칸, 알켄 (비닐, 트랜스, 시스, 비닐리덴, 3 치환, 4 치환, 공액, 쿠물렌, 고리형), 알킨 (1 치환, 2 치환), 단고리형 방향족 (벤젠, 1 치환, 2 치환, 3 치환), 알코올 및 페놀류 (자유 OH, 분자내 수소 결합, 분자간 수소 결합, 포화 제 2 급, 포화 제 3 급, 불포화 제 2 급, 불포화 제 3 급), 아세탈, 케탈, 지방족 에테르, 방향족 에테르, 비닐에테르, 옥시란 고리 에테르, 과산화물 에테르, 케톤, 디알킬카르보닐, 방향족 카르보닐, 1,3-디케톤의 에놀, o-하이드록시아릴케톤, 디알킬알데히드, 방향족 알데히드, 카르복실산 (2 량체, 카르복실산 아니온), 포름산에스테르, 아세트산에스테르, 공액 에스테르, 비공액 에스테르, 방향족 에스테르, 락톤 (β-, γ-, δ-), 지방족 산 염화물, 방향족 산 염화물, 산 무수물 (공액, 비공액, 고리형, 비고리형), 제 1 급 아미드, 제 2 급 아미드, 락탐, 제 1 급 아민 (지방족, 방향족), 제 2 급 아민 (지방족, 방향족), 제 3 급 아민 (지방족, 방향족), 제 1 급 아민염, 제 2 급 아민염, 제 3 급 아민염, 암모늄 이온, 지방족 니트릴, 방향족 니트릴, 카르보디이미드, 지방족 이소니트릴, 방향족 이소니트릴, 이소시안산에스테르, 티오시안산에스테르, 지방족 이소티오시안산에스테르, 방향족 이소티오시안산에스테르, 지방족 니트로 화합물, 방향족 니트로 화합물, 니트로아민, 니트로소아민, 질산에스테르, 아질산에스테르, 니트로소 결합 (지방족, 방향족, 단량체, 2 량체), 메르캅탄 및 티오페놀 및 티올산 등의 황 화합물, 티오카르보닐기, 술폭시드, 술폰, 염화술포닐, 제 1 급 술폰아미드, 제 2 급 술폰아미드, 황산에스테르, 탄소-할로겐 결합, Si-A1 결합 (A1 은, H, C, O 또는 할로겐), P-A2 결합 (A2 는, H, C 또는 O), 또는 Ti-O 결합일 수 있다.As a compound containing a structure having infrared absorption or a structure having infrared absorption, for example, alkanes, alkenes (vinyl, trans, cis, vinylidene, trisubstituted, tetrasubstituted, conjugated, cumulene, cyclic Type), alkyne (1-substituted, 2-substituted), monocyclic aromatic (benzene, 1-substituted, 2-substituted, 3-substituted), alcohols and phenols (free OH, intramolecular hydrogen bonds, intermolecular hydrogen bonds, saturated secondary, saturated Tertiary, unsaturated secondary, unsaturated tertiary), acetal, ketal, aliphatic ether, aromatic ether, vinyl ether, oxirane cyclic ether, peroxide ether, ketone, dialkylcarbonyl, aromatic carbonyl, 1,3 -Enol of diketone, o-hydroxyaryl ketone, dialkylaldehyde, aromatic aldehyde, carboxylic acid (dimer, carboxylic acid anion), formic acid ester, acetic acid ester, conjugated ester, non-conjugated ester, aromatic ester, Lactone (β-, γ-, δ-), aliphatic acid chloride, aromatic acid chloride, acid anhydride (conjugated, non-conjugated, cyclic, acyclic), primary amide, secondary amide, lactam, primary Amine (aliphatic, aromatic), secondary amine (aliphatic, aromatic), tertiary amine (aliphatic, aromatic), primary amine salt, secondary amine salt, tertiary amine salt, ammonium ion, aliphatic nitrile , Aromatic nitrile, carbodiimide, aliphatic isonitrile, aromatic isonitrile, isocyanic acid ester, thiocyanic acid ester, aliphatic isothiocyanic acid ester, aromatic isothiocyanic acid ester, aliphatic nitro compound, aromatic nitro compound, nitroamine , Nitrosoamine, nitrate ester, nitrite ester, nitroso bond (aliphatic, aromatic, monomer, dimer), mercaptan and sulfur compounds such as thiophenol and thiol acid, thiocarbonyl group, sulfoxide, sulfone, sulfonyl chloride, Primary sulfonamide, secondary sulfonamide, sulfuric ester, carbon-halogen bond, Si-A 1 bond (A 1 is, H, C, O or halogen), PA 2 bond (A 2 is, H, C Or O), or It may be a Ti-O bond.

상기 탄소-할로겐 결합을 포함하는 구조로는, 예를 들어, -CH2Cl, -CH2Br, -CH2I, -CF2-, -CF3, -CH=CF2, -CF=CF2, 불화아릴 및 염화아릴 등을 들 수 있다.As a structure including the carbon-halogen bond, for example, -CH 2 Cl, -CH 2 Br, -CH 2 I, -CF 2 -, -CF 3 , -CH=CF 2 , -CF=CF 2 , aryl fluoride, and aryl chloride.

상기 Si-A1 결합을 포함하는 구조로는, SiH, SiH2, SiH3, Si-CH3, Si-CH2-, Si-C6H5, SiO-지방족, Si-OCH3, Si-OCH2CH3, Si-OC6H5, Si-O-Si, Si-OH, SiF, SiF2 및 SiF3 등을 들 수 있다. Si-A1 결합을 포함하는 구조로는, 특히, 실록산 골격 및 실세스퀴옥산 골격을 형성하고 있는 것이 바람직하다.As a structure including the Si-A 1 bond, SiH, SiH 2 , SiH 3 , Si-CH 3 , Si-CH 2 -, Si-C 6 H 5 , SiO-aliphatic, Si-OCH 3 , Si- OCH 2 CH 3 , Si-OC 6 H 5 , Si-O-Si, Si-OH, SiF, SiF 2 and SiF 3 etc. are mentioned. As a structure containing a Si-A 1 bond, it is particularly preferable to form a siloxane skeleton and a silsesquioxane skeleton.

상기 P-A2 결합을 포함하는 구조로는, PH, PH2, P-CH3, P-CH2-, P-C6H5, A3 3-P-O (A3 은 지방족 또는 방향족), (A4O)3-P-O (A4 는 알킬), P-OCH3, P-OCH2CH3, P-OC6H5, P-O-P, P-OH 및 O=P-OH 등을 들 수 있다.As a structure including the PA 2 bond, PH, PH 2 , P-CH 3 , P-CH 2 -, PC 6 H 5 , A 3 3 -PO (A 3 is aliphatic or aromatic), (A 4 O ) 3- PO (A 4 is alkyl), P-OCH 3 , P-OCH 2 CH 3 , P-OC 6 H 5 , POP, P-OH and O=P-OH.

상기 구조는, 그 종류의 선택에 따라, 원하는 범위의 파장을 갖고 있는 적외선을 흡수할 수 있다. 구체적으로는, 상기 구조가 흡수 가능한 적외선의 파장은, 예를 들어 1 ㎛ 이상, 20 ㎛ 이하의 범위 내이며, 2 ㎛ 이상, 15 ㎛ 이하의 범위 내를 보다 적합하게 흡수할 수 있다. 또한, 상기 구조가 Si-O 결합, Si-C 결합 및 Ti-O 결합인 경우에는, 9 ㎛ 이상, 11 ㎛ 이하의 범위 내일 수 있다. 또한, 각 구조를 흡수할 수 있는 적외선의 파장은 당업자이면 용이하게 이해할 수 있다. 예를 들어, 각 구조에 있어서의 흡수대로서, 비특허문헌:SILVERSTEIN·BASSLER·MORRILL 저 「유기 화합물의 스펙트럼에 의한 동정법 (제 5 판) -MS, IR, NMR, UV 의 병용-」 (1992년 발행) 제 146 페이지 ∼ 제 151 페이지의 기재를 참조할 수 있다.The above structure can absorb infrared rays having a desired range of wavelengths depending on the type of selection. Specifically, the wavelength of infrared rays that the structure can absorb is within a range of, for example, 1 µm or more and 20 µm or less, and more suitably absorbs within a range of 2 µm or more and 15 µm or less. In addition, when the structure is a Si-O bond, a Si-C bond, and a Ti-O bond, it may be in the range of 9 µm or more and 11 µm or less. In addition, the wavelength of infrared rays capable of absorbing each structure can be easily understood by those skilled in the art. For example, as the absorption band in each structure, non-patent literature: SILVERSTEIN, BASSLER, MORRILL, "Identification method by spectrum of organic compounds (5th edition) -Combination of MS, IR, NMR, and UV-" (1992 Published in the year) You can refer to the description on pages 146 to 151.

분리층의 형성에 사용되는, 적외선 흡수성 구조를 갖는 화합물로는, 상기 서술한 바와 같은 구조를 갖고 있는 화합물 중, 도포를 위해서 용매에 용해할 수 있고, 고화되어 고층 (固層) 을 형성할 수 있는 것이면, 특별히 한정되는 것은 아니다. 그러나, 분리층에 있어서의 화합물을 효과적으로 변질시키고, 지지체와 봉지체의 분리를 용이하게 하려면, 분리층에 있어서의 적외선의 흡수가 큰 것, 즉, 분리층에 적외선을 조사했을 때의 적외선의 투과율이 낮은 것이 바람직하다. 구체적으로는, 분리층에 있어서의 적외선의 투과율이 90 % 보다 낮은 것이 바람직하고, 적외선의 투과율이 80 % 보다 낮은 것이 보다 바람직하다.As a compound having an infrared absorbing structure used for formation of the separation layer, among the compounds having the structure as described above, it can be dissolved in a solvent for application and solidified to form a high-rise. If there is one, it is not particularly limited. However, in order to effectively deteriorate the compound in the separation layer and facilitate separation of the support and the encapsulant, the absorption of infrared rays in the separation layer is large, that is, the transmittance of infrared rays when the separation layer is irradiated with infrared rays. It is desirable that this is low. Specifically, the infrared transmittance in the separation layer is preferably lower than 90%, and more preferably the infrared transmittance is lower than 80%.

일례를 들어 설명하면, 실록산 골격을 갖는 화합물로는, 예를 들어, 하기 화학식 (1) 로 나타내는 반복 단위 및 하기 화학식 (2) 로 나타내는 반복 단위의 공중합체인 수지, 혹은 하기 화학식 (1) 로 나타내는 반복 단위 및 아크릴계 화합물 유래의 반복 단위의 공중합체인 수지를 사용할 수 있다.For example, as a compound having a siloxane skeleton, for example, a resin which is a copolymer of a repeating unit represented by the following formula (1) and a repeating unit represented by the following formula (2), or a resin represented by the following formula (1) A resin which is a copolymer of a repeating unit and a repeating unit derived from an acrylic compound can be used.

[화학식 3][Formula 3]

Figure 112017021350610-pat00003
Figure 112017021350610-pat00003

(화학식 (2) 중, R6 은, 수소, 탄소수 10 이하의 알킬기, 또는 탄소수 10 이하의 알콕시기이다.) (In Formula (2), R 6 is hydrogen, an alkyl group having 10 or less carbon atoms, or an alkoxy group having 10 or less carbon atoms.)

그 중에서도, 실록산 골격을 갖는 화합물로는, 상기 화학식 (1) 로 나타내는 반복 단위 및 하기 화학식 (3) 으로 나타내는 반복 단위의 공중합체인 t-부틸스티렌 (TBST)-디메틸실록산 공중합체가 보다 바람직하고, 상기 화학식 (2) 로 나타내는 반복 단위 및 하기 화학식 (3) 으로 나타내는 반복 단위를 1:1 로 포함하는, TBST-디메틸 실록산 공중합체가 더욱 바람직하다.Among them, as the compound having a siloxane skeleton, t-butylstyrene (TBST)-dimethylsiloxane copolymer, which is a copolymer of the repeating unit represented by the above formula (1) and the repeating unit represented by the following formula (3), is more preferred, A TBST-dimethyl siloxane copolymer comprising 1:1 of the repeating unit represented by the above formula (2) and the repeating unit represented by the following formula (3) is more preferred.

[화학식 4][Formula 4]

Figure 112017021350610-pat00004
Figure 112017021350610-pat00004

또, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 화합물로는, 예를 들어, 하기 화학식 (4) 로 나타내는 반복 단위 및 하기 화학식 (5) 로 나타내는 반복 단위의 공중합체인 수지를 사용할 수 있다.Further, as the compound having a silsesquioxane skeleton, for example, a resin which is a copolymer of a repeating unit represented by the following formula (4) and a repeating unit represented by the following formula (5) can be used.

[화학식 5][Formula 5]

Figure 112017021350610-pat00005
Figure 112017021350610-pat00005

(화학식 (4) 중, R7 은, 수소 또는 탄소수 1 이상, 10 이하의 알킬기이며, 화학식 (5) 중, R8 은, 탄소수 1 이상, 10 이하의 알킬기, 또는 페닐기이다.) (In formula (4), R 7 is hydrogen or an alkyl group having 1 or more and 10 or less carbon atoms, and in formula (5), R 8 is an alkyl group having 1 or more and 10 or less carbon atoms, or a phenyl group.)

실세스퀴옥산 골격을 갖는 화합물로는, 이 밖에도, 일본 공개특허공보 2007-258663호 (2007년 10월 4일 공개), 일본 공개특허공보 2010-120901호 (2010년 6월 3일 공개), 일본 공개특허공보 2009-263316호 (2009년 11월 12일 공개), 및 일본 공개특허공보 2009-263596호 (2009년 11월 12일 공개) 에 있어서 개시되어 있는 각 실세스퀴옥산 수지를 적합하게 이용할 수 있다.In addition, as a compound having a silsesquioxane skeleton, Japanese Unexamined Patent Publication No. 2007-258663 (published on October 4, 2007), Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-120901 (published on June 3, 2010), Each silsesquioxane resin disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-263316 (published on November 12, 2009) and Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-263596 (published on November 12, 2009) suitably Can be used.

그 중에서도, 실세스퀴옥산 골격을 갖는 화합물로는, 하기 화학식 (6) 으로 나타내는 반복 단위 및 하기 화학식 (7) 로 나타내는 반복 단위의 공중합체가 보다 바람직하고, 하기 화학식 (6) 으로 나타내는 반복 단위 및 하기 화학식 (7) 로 나타내는 반복 단위를 7:3 으로 포함하는 공중합체가 더욱 바람직하다.Among them, as the compound having a silsesquioxane skeleton, a copolymer of a repeating unit represented by the following formula (6) and a repeating unit represented by the following formula (7) is more preferable, and a repeating unit represented by the following formula (6) And a copolymer containing a repeating unit represented by the following general formula (7) at 7:3.

[화학식 6][Formula 6]

Figure 112017021350610-pat00006
Figure 112017021350610-pat00006

실세스퀴옥산 골격을 갖는 중합체로는, 랜덤 구조, 래더 구조 및 바구니형 구조가 있을 수 있는데, 어느 구조여도 된다.As a polymer having a silsesquioxane skeleton, there may be a random structure, a ladder structure, and a basket structure, but any structure may be used.

또, Ti-O 결합을 포함하는 화합물로는, 예를 들어, (i) 테트라-i-프로폭시티탄, 테트라-n-부톡시티탄, 테트라키스(2-에틸헥실옥시)티탄, 및 티타늄-i-프로폭시옥틸렌글리콜레이트 등의 알콕시티탄;(ii) 디-i-프로폭시·비스(아세틸아세토나토)티탄, 및 프로판디옥시티탄비스(에틸아세토아세테이트) 등의 킬레이트 티탄;(iii) i-C3H7O-[-Ti(O-i-C3H7)2-O-]n-i-C3H7, 및 n-C4H9O-[-Ti(O-n-C4H9)2-O-]n-n-C4H9 등의 티탄 폴리머;(iv) 트리-n-부톡시티탄모노스테아레이트, 티타늄스테아레이트, 디-i-프로폭시티탄디이소스테아레이트, 및 (2-n-부톡시카르보닐벤조일옥시)트리부톡시티탄 등의 아실레이트티탄;(v) 디-n-부톡시·비스(트리에탄올아미나토)티탄 등의 수용성 티탄 화합물 등을 들 수 있다.In addition, as a compound containing a Ti-O bond, for example, (i) tetra-i-propoxytitanium, tetra-n-butoxytitanium, tetrakis(2-ethylhexyloxy) titanium, and titanium Alkoxy titanium, such as -i-propoxy octylene glycolate; (ii) Chelate titanium, such as di-i-propoxy bis (acetylacetonato) titanium, and propanedioxy titanium bis (ethylacetoacetate); (iii ) iC 3 H 7 O-[-Ti(OiC 3 H 7 ) 2 -O-] n -iC 3 H 7 , and nC 4 H 9 O-[-Ti(OnC 4 H 9 ) 2 -O-] n Titanium polymers such as -nC 4 H 9 ; (iv) tri-n-butoxytitanium monostearate, titanium stearate, di-i-propoxytitanium diisostearate, and (2-n-butoxycarbonyl Acylate titanium, such as benzoyloxy) tributoxy titanium; (v) Water-soluble titanium compounds, such as di-n-butoxy bis (triethanol aminato) titanium, etc. are mentioned.

그 중에서도, Ti-O 결합을 포함하는 화합물로는, 디-n-부톡시·비스(트리에탄올아미나토)티탄 (Ti(OC4H9)2[OC2H4N(C2H4OH)2]2) 가 바람직하다.Among them, as a compound containing a Ti-O bond, di-n-butoxy bis(triethanol aminato) titanium (Ti(OC 4 H 9 ) 2 [OC 2 H 4 N(C 2 H 4 OH)) 2 ] 2 ) is preferred.

상기 서술한 분리층은, 적외선 흡수성 구조를 갖는 화합물을 함유하고 있지만, 분리층은 또한, 상기 화합물 이외의 성분을 포함할 수 있다. 그 성분으로는, 필러, 가소제, 및 지지체의 박리성을 향상시킬 수 있는 성분 등을 들 수 있다. 이들 성분은, 상기 구조에 의한 적외선의 흡수 및 화합물의 변질을 방해하지 않거나, 또는 촉진하는, 종래 공지된 물질 또는 재료에서 적절히 선택된다.The separation layer described above contains a compound having an infrared absorbing structure, but the separation layer may further contain components other than the above compound. Examples of the component include a filler, a plasticizer, and a component capable of improving the peelability of the support. These components are appropriately selected from conventionally known substances or materials that do not interfere with or promote the absorption of infrared rays by the above structure and deterioration of the compound.

(적외선 흡수 물질) (Infrared absorbing material)

분리층은, 적외선 흡수 물질을 함유하고 있어도 된다. 분리층은, 적외선 흡수 물질을 함유하여 구성됨으로써, 광을 흡수함으로써 변질되게 되어 있고, 그 결과로, 광의 조사를 받기 전의 강도 또는 접착성을 잃는다. 따라서, 약간의 외력을 가함으로써 (예를 들어, 지지체를 들어 올리는 등), 분리층이 파괴되어, 지지체와 봉지체를 분리하기 쉽게 할 수 있다.The separation layer may contain an infrared absorbing material. The separation layer is composed of an infrared absorbing material, so that it is deteriorated by absorbing light, and as a result, it loses the strength or adhesiveness before being irradiated with light. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support, etc.), the separation layer is destroyed, and the support and the sealing member can be easily separated.

적외선 흡수 물질은, 적외선을 흡수함으로써 변질되는 구성이면 되고, 예를 들어, 카본 블랙, 철 입자, 또는 알루미늄 입자를 적합하게 사용할 수 있다. 적외선 흡수 물질은, 그 종류에 따라 고유 범위의 파장을 갖는 광을 흡수한다. 분리층에 사용한 적외선 흡수 물질이 흡수하는 범위의 파장의 광을 분리층에 조사함으로써, 적외선 흡수 물질을 적합하게 변질시킬 수 있다.The infrared-absorbing material may have a configuration that changes by absorbing infrared rays, and, for example, carbon black, iron particles, or aluminum particles can be suitably used. The infrared absorbing material absorbs light having a wavelength in its own range depending on its type. By irradiating the separation layer with light having a wavelength in a range absorbed by the infrared absorbing material used for the separation layer, the infrared absorbing material can be suitably denatured.

(반응성 폴리실세스퀴옥산) (Reactive polysilsesquioxane)

분리층은, 반응성 폴리실세스퀴옥산을 중합시킴으로써 형성할 수 있다. 이에 따라, 분리층은 높은 내약품성과 높은 내열성을 구비하고 있다.The separation layer can be formed by polymerizing reactive polysilsesquioxane. Accordingly, the separation layer has high chemical resistance and high heat resistance.

본 명세서 중에 있어서, 반응성 폴리실세스퀴옥산이란, 폴리실세스퀴옥산 골격의 말단에 실란올기, 또는, 가수 분해함으로써 실란올기를 형성할 수 있는 관능기를 갖는 폴리실세스퀴옥산이며, 당해 실란올기 또는 실란올기를 형성할 수 있는 관능기를 축합함으로써, 서로 중합할 수 있는 것이다. 또, 반응성 폴리실세스퀴옥산은, 실란올기, 또는, 실란올기를 형성할 수 있는 관능기를 구비하고 있으면, 랜덤 구조, 바구니형 구조, 래더 구조 등의 실세스퀴옥산 골격을 구비하고 있는 반응성 폴리실세스퀴옥산을 채용할 수 있다.In the present specification, the reactive polysilsesquioxane is a polysilsesquioxane having a silanol group at the end of the polysilsesquioxane skeleton or a functional group capable of forming a silanol group by hydrolysis, and the silanol group Alternatively, they can be polymerized with each other by condensing a functional group capable of forming a silanol group. In addition, the reactive polysilsesquioxane is a reactive poly having a silsesquioxane skeleton such as a random structure, a cage structure, and a ladder structure, provided that it has a silanol group or a functional group capable of forming a silanol group. Silsesquioxane can be employed.

또, 반응성 폴리실세스퀴옥산은, 하기 화학식 (8) 에 나타내는 구조를 갖고 있는 것이 보다 바람직하다.Moreover, it is more preferable that the reactive polysilsesquioxane has a structure represented by the following general formula (8).

[화학식 7][Formula 7]

Figure 112017021350610-pat00007
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화학식 (8) 중, R" 는, 각각 독립적으로, 수소 및 탄소수 1 이상, 10 이하의 알킬기로 이루어지는 군에서 선택되고, 수소 및 탄소수 1 이상, 5 이하의 알킬기로 이루어지는 군에서 선택되는 것이 보다 바람직하다. R" 가, 수소 또는 탄소수 1 이상, 10 이하의 알킬기이면, 분리층 형성 공정에 있어서의 가열에 의해, 화학식 (8) 에 의해 나타내는 반응성 폴리실세스퀴옥산을 적합하게 축합시킬 수 있다.In formula (8), R′ is each independently selected from the group consisting of hydrogen and an alkyl group having 1 or more and 10 or less carbon atoms, and more preferably selected from the group consisting of hydrogen and an alkyl group having 1 or more and 5 or less carbon atoms. Do. When R'is hydrogen or an alkyl group having 1 or more and 10 or less carbon atoms, the reactive polysilsesquioxane represented by the general formula (8) can be suitably condensed by heating in the separation layer forming step.

화학식 (8) 중, p 는, 1 이상, 100 이하의 정수인 것이 바람직하고, 1 이상, 50 이하의 정수인 것이 보다 바람직하다. 반응성 폴리실세스퀴옥산은, 화학식 (8) 로 나타내는 반복 단위를 구비함으로써, 다른 재료를 사용하여 형성하는 것보다도 Si-O 결합의 함유량이 높고, 적외선 (0.78 ㎛ 이상, 1,000 ㎛ 이하), 바람직하게는 원적외선 (3 ㎛ 이상, 1,000 ㎛ 이하), 더욱 바람직하게는 파장 9 ㎛ 이상, 11 ㎛ 이하에 있어서의 흡광도가 높은 분리층을 형성할 수 있다.In the general formula (8), p is preferably an integer of 1 or more and 100 or less, and more preferably an integer of 1 or more and 50 or less. Reactive polysilsesquioxane has a higher content of Si-O bonds than those formed using other materials, and is preferably infrared (0.78 µm or more, 1,000 µm or less), by having a repeating unit represented by the formula (8). Preferably, a separation layer having high absorbance at a far infrared ray (3 µm or more and 1,000 µm or less), more preferably 9 µm or more and 11 µm or less, can be formed.

또, 화학식 (8) 중, R' 는, 각각 독립적으로, 서로 동일하거나, 또는 상이한 유기기이다. 여기서, R 은, 예를 들어, 아릴기, 알킬기, 및, 알케닐기 등이며, 이들 유기기는 치환기를 갖고 있어도 된다.In addition, in the general formula (8), R'is each independently the same or different organic groups. Here, R is, for example, an aryl group, an alkyl group, an alkenyl group, and the like, and these organic groups may have a substituent.

R' 가 아릴기인 경우, 페닐기, 나프틸기, 안트릴기, 페난트릴기 등을 들 수 있으며, 페닐기인 것이 보다 바람직하다. 또, 아릴기는, 탄소수 1 ∼ 5 의 알킬렌기를 통해서 폴리실세스퀴옥산 골격에 결합하고 있어도 된다.When R'is an aryl group, a phenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, a phenanthryl group, etc. are mentioned, and it is more preferable that it is a phenyl group. Further, the aryl group may be bonded to the polysilsesquioxane skeleton through an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms.

R' 가 알킬기인 경우, 알킬기로는, 직사슬형, 분기사슬형, 또는 고리형의 알킬기를 들 수 있다. 또, R 이 알킬기인 경우, 탄소수는 1 ∼ 15 인 것이 바람직하고, 1 ∼ 6 인 것이 보다 바람직하다. 또, R 이 고리형의 알킬기인 경우, 단고리형 또는 2 ∼ 4 고리형의 구조를 한 알킬기여도 된다.When R'is an alkyl group, examples of the alkyl group include a linear, branched, or cyclic alkyl group. Moreover, when R is an alkyl group, it is preferable that it is 1-15, and, as for carbon number, it is more preferable that it is 1-6. Moreover, when R is a cyclic alkyl group, an alkyl group having a monocyclic or 2-4 cyclic structure may be used.

R' 가 알케닐기인 경우, 알킬기의 경우와 마찬가지로, 직사슬형, 분기사슬형, 또는 고리형의 알케닐기를 들 수 있으며, 알케닐기는, 탄소수가 2 ∼ 15 인 것이 바람직하고, 2 ∼ 6 인 것이 보다 바람직하다. 또, R 이, 고리형의 알케닐기인 경우, 단고리형 또는 2 ∼ 4 고리형의 구조를 한 알케닐기여도 된다. 알케닐기로는, 예를 들어, 비닐기 및 알릴기 등을 들 수 있다.When R'is an alkenyl group, as in the case of an alkyl group, a linear, branched, or cyclic alkenyl group is exemplified, and the alkenyl group preferably has 2 to 15 carbon atoms, and 2 to 6 It is more preferable that it is. Moreover, when R is a cyclic alkenyl group, an alkenyl group having a monocyclic or 2-4 cyclic structure may be used. As an alkenyl group, a vinyl group, an allyl group, etc. are mentioned, for example.

또, R' 가 가질 수 있는 치환기로는, 수산기 및 알콕시기 등을 들 수 있다. 치환기가 알콕시기인 경우, 직사슬형, 분기사슬형, 또는 고리형의 알킬알콕시기를 들 수 있으며, 알콕시기에 있어서의 탄소수는 1 ∼ 15 인 것이 바람직하고, 1 ∼ 10 인 것이 보다 바람직하다.Moreover, as a substituent which R'may have, a hydroxyl group, an alkoxy group, etc. are mentioned. When the substituent is an alkoxy group, a linear, branched, or cyclic alkylalkoxy group is exemplified, and the number of carbon atoms in the alkoxy group is preferably 1 to 15, and more preferably 1 to 10.

또, 하나의 관점에 있어서, 반응성 폴리실세스퀴옥산의 실록산 함유량은, 70 몰% 이상, 99 몰% 이하인 것이 바람직하고, 80 몰% 이상, 99 몰% 이하인 것이 보다 바람직하다. 반응성 폴리실세스퀴옥산의 실록산 함유량이 70 몰% 이상, 99 몰% 이하이면, 적외선 (바람직하게는 원적외선, 더욱 바람직하게는 파장 9 ㎛ 이상, 11 ㎛ 이하의 광) 을 조사함으로써 적합하게 변질시킬 수 있는 분리층을 형성할 수 있다.In addition, in one aspect, the siloxane content of the reactive polysilsesquioxane is preferably 70 mol% or more and 99 mol% or less, and more preferably 80 mol% or more and 99 mol% or less. When the siloxane content of the reactive polysilsesquioxane is 70 mol% or more and 99 mol% or less, it is appropriately deteriorated by irradiating infrared rays (preferably far-infrared rays, more preferably light having a wavelength of 9 µm or more and 11 µm or less). It is possible to form a possible separation layer.

또, 하나의 관점에 있어서, 반응성 폴리실세스퀴옥산의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 500 이상, 50,000 이하인 것이 바람직하고, 1,000 이상, 10,000 이하인 것이 보다 바람직하다. 반응성 폴리실세스퀴옥산의 중량 평균 분자량 (Mw) 이 500 이상, 50,000 이하이면, 용제에 적합하게 용해시킬 수 있고, 서포트 플레이트 상에 적합하게 도포할 수 있다.Further, in one aspect, the weight average molecular weight (Mw) of the reactive polysilsesquioxane is preferably 500 or more and 50,000 or less, and more preferably 1,000 or more and 10,000 or less. When the weight average molecular weight (Mw) of the reactive polysilsesquioxane is 500 or more and 50,000 or less, it can be suitably dissolved in a solvent and can be suitably applied on a support plate.

반응성 폴리실세스퀴옥산으로서 사용할 수 있는 시판품으로는, 예를 들어, 코니시 화학 공업 주식회사 제조의 SR-13, SR-21, SR-23 및 SR-33 등을 들 수 있다.Commercially available products that can be used as reactive polysilsesquioxane include, for example, SR-13, SR-21, SR-23 and SR-33 manufactured by Konishi Chemical Industries, Ltd., and the like.

<적층체의 제조 방법 및 봉지체의 제조 방법><The manufacturing method of a laminated body and the manufacturing method of a sealing body>

본 발명의 일 실시형태에 관련된 적층체의 제조 방법은, 소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 상기 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체의 제조 방법으로서, 상기 지지체 상에, 상기 서술한 접착제 조성물을 도포함으로써 상기 접착층을 형성하는 접착층 형성 공정을 포함하고 있다. 여기서, 상기 지지체는, 광을 투과하는 재료로 이루어지는 지지체이며, 상기 접착층 형성 공정 전에, 상기 지지체 상에 광을 조사함으로써 변질되는 분리층이 형성되어 있다.In a method for manufacturing a laminate according to an embodiment of the present invention, an encapsulant including a wiring layer on which an element is mounted, the element, and an encapsulant for encapsulating the element is provided on a support for supporting the encapsulant. A method for producing a laminate formed by laminating through an adhesive layer, comprising a step of forming an adhesive layer by applying the adhesive composition described above on the support. Here, the support is a support made of a material that transmits light, and before the bonding layer forming step, a separation layer that is deteriorated by irradiating light is formed on the support.

또, 본 발명의 일 실시형태에 관련된 봉지체의 제조 방법은, 본 발명의 일 실시형태에 관련된 적층체의 제조 방법에 의해, 상기 적층체를 제조하는 적층체 제조 공정과, 상기 적층체 형성 공정 후, 상기 지지체를 통해서 광을 조사함으로써, 상기 분리층을 변질시킴으로써, 상기 적층체로부터 상기 지지체를 분리하는 분리 공정과, 분리 공정 후, 상기 봉지체측에 남는 상기 접착층의 잔류물을 탄화수소계 용제에 의해 제거하는 접착층 제거 공정을 포함하고 있다.In addition, the manufacturing method of the encapsulation body according to the embodiment of the present invention includes a layered body manufacturing step of manufacturing the layered body and the layered body forming step by the production method of the layered body according to the embodiment of the present invention. Thereafter, by irradiating light through the support, the separation layer is denatured, thereby separating the support from the laminate, and after the separation step, the residue of the adhesive layer remaining on the side of the encapsulant is removed from a hydrocarbon-based solvent. It includes an adhesive layer removing step to remove by.

[실시형태 1][Embodiment 1]

도 1 은, 본 발명의 실시형태 1 의 봉지체의 제조 방법의 각 공정을 설명하는 도면이다. 본 실시형태에 관련된 봉지체의 제조 방법은, 분리층 형성 공정, 접착층 형성 공정, 봉지체 형성 공정, 및 접착층 제거 공정을 이 순서로 실시한다.1: is a figure explaining each process of the manufacturing method of a sealing body of Embodiment 1 of this invention. In the method of manufacturing a sealing member according to the present embodiment, a separation layer forming step, an adhesive layer forming step, a sealing member forming step, and an adhesive layer removing step are performed in this order.

[분리층 형성 공정][Separation layer formation process]

도 1 의 (a) 에 나타내는 바와 같이, 분리층 형성 공정에서는, 광을 투과하는 지지체 (1) 의 일방의 평면부 (1a) 에, 예를 들어, 화학 기상 성장 (CVD) 법 등에 의해, 광을 조사함으로써 변질되는 분리층 (2) 을 형성한다. 또한, 「일방의 평면부」 란, 지지체 (1) 가 갖는 평면부 중 하나를 가리킨다. 또, 「평면부」 는, 실질적으로 평면으로 간주할 수 있는 정도의 미세한 요철을 갖고 있어도 된다.As shown in Fig. 1(a), in the separation layer formation step, light is applied to one plane portion 1a of the support 1 that transmits light, for example, by chemical vapor deposition (CVD) method or the like. The separation layer 2 which is deteriorated by irradiation is formed. In addition, "one plane part" refers to one of the plane parts which the support body 1 has. Moreover, the "planar part" may have minute irregularities of a degree that can be regarded as a substantially flat surface.

[접착층 형성 공정][Adhesive layer formation process]

도 1 의 (b) 에 나타내는 바와 같이, 접착층 형성 공정에서는, 예를 들어, 스핀 코트, 딥핑, 롤러 블레이드, 스프레이 도포, 슬릿 도포 등의 방법에 의해 상기 서술한 접착제 조성물을 도포하고, 가열하거나, 또는, 감압 환경하에 둠으로써, 접착제 조성물에 포함되어 있는 희석 용제를 제거한다. 그 후, 접착층이 열 중합 개시제를 포함하고 있는 경우, 가열함으로써, 당해 접착층이 포함하고 있는 중합성 모노머를 중합시키면 된다. 또한, 접착층 (3) 을 가열하는 조건은, 열 중합 개시제에 있어서의 1 분간 반감 온도, 및, 1 시간 반감 온도에 기초하여, 적절히 설정하면 되는데, 예를 들어, 50 ℃ 이상, 300 ℃ 이하의 범위 내의 온도에 있어서, 진공하 또는 질소 가스 등의 불활성 가스 분위기하에서 실시하는 것이 바람직하고, 질소 가스 등의 불활성 가스 분위기하에서 실시하는 것이 보다 바람직하다.As shown in (b) of FIG. 1, in the adhesive layer formation step, the adhesive composition described above is applied and heated by, for example, a method such as spin coating, dipping, roller blade, spray coating, slit coating, or the like, Alternatively, the diluted solvent contained in the adhesive composition is removed by placing it in a pressure-sensitive environment. Thereafter, when the adhesive layer contains a thermal polymerization initiator, the polymerizable monomer contained in the adhesive layer may be polymerized by heating. In addition, conditions for heating the adhesive layer 3 may be appropriately set based on the 1 minute half-life temperature and the 1-hour half-time temperature in the thermal polymerization initiator, for example, 50°C or more and 300°C or less. At a temperature within the range, it is preferable to perform under vacuum or in an inert gas atmosphere such as nitrogen gas, and more preferably under an inert gas atmosphere such as nitrogen gas.

또, 접착층이 광 중합 개시제를 포함하고 있는 경우, 질소 가스 등의 불활성 가스 분위기하에서 노광함으로써, 당해 접착층이 포함하고 있는 중합성 모노머를 중합시키면 된다. 또한, 노광하는 조건은, 광 중합 개시제의 종류에 따라 적절히 설정하면 된다.In addition, when the adhesive layer contains a photoinitiator, the polymerizable monomer contained in the adhesive layer may be polymerized by exposure under an inert gas atmosphere such as nitrogen gas. In addition, the conditions for exposure may be appropriately set according to the kind of the photoinitiator.

[봉지체 형성 공정][Encapsulation Formation Process]

도 1 의 (c) ∼ (f) 에 나타내는 바와 같이, 봉지체 형성 공정에서는, 배선층 (4) 상에 봉지체 (7) 를 형성한다. 본 실시형태에 있어서의 봉지체 형성 공정에서는, 배선층 형성 공정, 실장 공정, 봉지 공정, 박화 (薄化) 공정, 및 접착층 제거 공정을 이 순서로 실시한다.As shown to (c) to (f) of FIG. 1, in the sealing body forming step, the sealing body 7 is formed on the wiring layer 4. In the sealing body forming process in this embodiment, a wiring layer forming process, a mounting process, a sealing process, a thinning process, and an adhesive layer removal process are performed in this order.

[배선층 형성 공정][Wiring layer formation process]

도 1 의 (c) 에 나타내는 바와 같이, 배선층 형성 공정에서는, 접착층 (3) 상에 배선층 (4) 을 형성한다.As shown in FIG. 1(c), in the wiring layer formation process, the wiring layer 4 is formed on the adhesive layer 3.

일 실시형태에 있어서, 배선층 (4) 의 형성 순서로는, 먼저, 접착층 (3) 상에, 산화실리콘 (SiOx), 감광성 수지 등의 유전체층을 형성한다. 산화실리콘으로 이루어지는 유전체층은, 예를 들어, 스퍼터법, 진공 증착법 등에 의해 형성할 수 있다. 감광성 수지로 이루어지는 유전체층은, 예를 들어, 스핀 코트, 딥핑, 롤러 블레이드, 스프레이 도포 및 슬릿 도포 등의 방법에 의해 감광성 수지를 도포함으로써 형성할 수 있다.In one embodiment, in the order of formation of the wiring layer 4, first, a dielectric layer such as silicon oxide (SiOx) and a photosensitive resin is formed on the adhesive layer 3. The dielectric layer made of silicon oxide can be formed by, for example, a sputtering method, a vacuum evaporation method, or the like. The dielectric layer made of a photosensitive resin can be formed by applying a photosensitive resin by a method such as spin coating, dipping, roller blade, spray coating and slit coating.

계속해서, 유전체층에, 금속 등의 도전체에 의해 배선을 형성한다. 배선의 형성 수법으로는, 예를 들어, 포토리소그래피 (레지스트 리소그래피) 등의 리소그래피 처리, 에칭 처리 등의 공지된 반도체 프로세스 수법을 이용할 수 있다.Subsequently, wiring is formed on the dielectric layer by a conductor such as metal. As a method of forming the wiring, for example, a known semiconductor process method such as a lithography treatment such as photolithography (resist lithography) and an etching treatment can be used.

이와 같이, 포토리소그래피 처리 및 에칭 처리 등을 실시할 때에 있어서, 접착층 (3) 은, 불화수소산 등의 산, TMAH 등의 알칼리, 및, 레지스트 용제에 노출된다. 특히, 팬 아웃형 기술에 있어서는, 레지스트 용제로서, PGMEA 이외에, 시클로펜타논 및 시클로헥사논 등이 사용된다. 그러나, 접착층 (3) 은, 블록 공중합체 중에 있어서 중합성 모노머를 중합시킴으로써 내약품성이 높아져 있다. 이 때문에, 산, 알칼리 뿐만 아니라, 레지스트 용제에 노출됨으로써 접착층 (3) 이 용해 또는 박리되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 접착층 (3) 상에 배선층 (4) 을 적합하게 형성할 수 있다.In this way, when performing a photolithography treatment, an etching treatment, or the like, the adhesive layer 3 is exposed to an acid such as hydrofluoric acid, an alkali such as TMAH, and a resist solvent. In particular, in the fan-out type technology, as a resist solvent, in addition to PGMEA, cyclopentanone, cyclohexanone, and the like are used. However, the adhesive layer 3 has improved chemical resistance by polymerizing a polymerizable monomer in the block copolymer. For this reason, it is possible to prevent dissolution or peeling of the adhesive layer 3 by exposure to not only acids and alkalis, but also a resist solvent. Accordingly, the wiring layer 4 can be suitably formed on the adhesive layer 3.

도 1 의 (d) 에 나타내는 바와 같이, 실장 공정에서는, 배선층 (4) 상에 소자 (5) 를 실장한다. 배선층 (4) 상으로의 소자 (5) 의 실장은, 예를 들어, 칩마운터 등을 사용하여 실시할 수 있다.As shown in FIG. 1(d), in the mounting process, the element 5 is mounted on the wiring layer 4. Mounting of the element 5 onto the wiring layer 4 can be performed using, for example, a chip mounter or the like.

도 1 의 (e) 에 나타내는 바와 같이, 봉지 공정에서는, 소자 (5) 를 봉지재 (6) 에 의해 봉지한다. 특별히 한정되는 것은 아니고, 참고로, 봉지재 (6) 는, 예를 들어, 100 ℃ 이상으로 가열된 상태에서, 고점도 상태를 유지하면서, 성형형을 사용하여 사출 성형된다. 이 때문에, 소자 (5) 를 봉지재 (6) 에 의해 봉지할 때에, 접착층 (3) 은 100 ℃ 이상의 온도에서 가압된다. 그러나, 접착층 (3) 은, 블록 공중합체 중에 있어서 중합성 모노머를 중합시킴으로써, 고온으로 가열되었을 때에 있어서의 동적 복소 탄성률이 높아져 있다. 이 때문에, 100 ℃ 이상의 온도에서 가압됨으로써, 소자 (5) 를 봉지재 (6) 에 의해 봉지함으로써 형성되는 봉지체 (7) 에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 접착층 (3) 상에 있어서, 봉지체 (7) 를 적합하게 형성할 수 있다.As shown in FIG. 1(e), in the sealing process, the element 5 is sealed with the sealing material 6. It is not particularly limited, and for reference, the sealing material 6 is injection-molded using a molding die while maintaining a high viscosity state while being heated to, for example, 100° C. or higher. For this reason, when sealing the element 5 with the sealing material 6, the adhesive layer 3 is pressed at a temperature of 100°C or higher. However, the adhesive layer 3 has a high dynamic complex elastic modulus when heated to a high temperature by polymerizing a polymerizable monomer in the block copolymer. For this reason, by pressing at a temperature of 100° C. or higher, it is possible to prevent deformation from occurring in the sealing member 7 formed by sealing the element 5 with the sealing material 6. Therefore, on the adhesive layer 3, the sealing body 7 can be formed suitably.

도 1 의 (f) 에 나타내는 바와 같이, 박화 공정에서는, 봉지재 (6) 를 박화한다. 봉지재 (6) 는, 예를 들어, 소자 (5) 와 동등한 두께로까지 박화해도 된다.As shown in FIG. 1(f), in the thinning process, the sealing material 6 is thinned. The sealing material 6 may be thinned to a thickness equal to that of the element 5, for example.

또, 박화 공정 후에 봉지재 상으로의 범프의 형성, 및, 절연층의 형성 등의 처리를 추가로 실시해도 된다.Further, after the thinning step, treatments such as formation of bumps on the sealing material and formation of an insulating layer may be further performed.

이상의 공정에 의해 얻어진 도 1 의 (g) 에 나타내는 적층체 (8) 는, 광을 투과하는 지지체 (1) 와, 광을 조사함으로써 변질되는 분리층 (2) 과, 접착층 (3) 과, 봉지체 (7) 가 이 순서로 적층되어 이루어지고, 봉지체 (7) 는, 소자 (5) 를 실장하는 배선층 (4) 과, 소자 (5) 와, 소자 (5) 를 봉지하는 봉지재 (6) 를 구비하고 있고, 분리층 (2) 은, 지지체 (1) 에 접해 있는 부분 이외가 접착층 (3) 에 의해 피복되어 있다. 이와 같은 적층체 (8) 는, 본 발명에 관련된 적층체의 제조 방법의 과정에 있어서만 제조되는 것이며, 단리된 봉지체 (7) 를 제조하기 위해서 적합하게 이용할 수 있다.The laminate 8 shown in Fig. 1(g) obtained by the above process includes a support 1 that transmits light, a separation layer 2 that is deteriorated by irradiation with light, an adhesive layer 3, and a rod. The retainer 7 is laminated in this order, and the encapsulant 7 includes a wiring layer 4 for mounting the element 5, an element 5, and a sealing material 6 that seals the element 5 ), and the separation layer 2 is covered with an adhesive layer 3 except for a portion in contact with the support 1. Such a layered product 8 is manufactured only in the process of the manufacturing method of the layered product according to the present invention, and can be suitably used in order to manufacture the isolated encapsulant 7.

[분리 공정][Separation process]

도 1 의 (h) 에 나타내는 바와 같이, 분리 공정에서는, 지지체 (1) 를 통해서, 분리층 (2) 에 광 (L) 을 조사함으로써 분리층 (2) 을 변질시킨다. 조사하는 광 (L) 의 종류 및 파장은, 지지체 (1) 의 투과성 및 분리층 (2) 의 재질에 따라 적절히 선택하면 되고, 예를 들어, YAG 레이저, 루비 레이저, 유리 레이저, YVO4 레이저, LD 레이저, 파이버 레이저 등의 고체 레이저, 색소 레이저 등의 액체 레이저, CO2 레이저, 엑시머 레이저, Ar 레이저, He-Ne 레이저 등의 기체 레이저, 반도체 레이저, 자유 전자 레이저 등의 레이저 광, 또는, 비레이저 광을 사용할 수 있다. 이에 따라, 분리층 (2) 을 변질시켜, 지지체 (1) 와 봉지체 (7) 를 용이하게 분리 가능한 상태로 할 수 있다.As shown in FIG. 1(h), in the separation step, the separation layer 2 is deteriorated by irradiating light L to the separation layer 2 through the support 1. The type and wavelength of the light L to be irradiated may be appropriately selected according to the transmittance of the support 1 and the material of the separation layer 2, for example, YAG laser, ruby laser, glass laser, YVO 4 laser, Solid-state lasers such as LD lasers and fiber lasers, liquid lasers such as dye lasers, CO 2 lasers, excimer lasers, Ar lasers, gas lasers such as He-Ne lasers, laser light such as semiconductor lasers, free electron lasers, or non- Laser light can be used. Thereby, the separating layer 2 can be deteriorated, and the support 1 and the sealing body 7 can be easily separated from each other.

또, 레이저 광을 조사하는 경우의 레이저 광 조사 조건의 일례로는, 이하의 조건을 들 수 있지만, 이것에 한정되지 않는다:레이저 광의 평균 출력값은, 1.0 W 이상, 5.0 W 이하인 것이 바람직하고, 3.0 W 이상, 4.0 W 이하인 것이 보다 바람직하다;레이저 광의 반복 주파수는, 20 ㎑ 이상, 60 ㎑ 이하인 것이 바람직하고, 30 ㎑ 이상, 50 ㎑ 이하인 것이 보다 바람직하다;레이저 광의 주사 속도는, 100 ㎜/s 이상, 10,000 ㎜/s 이하인 것이 바람직하다.In addition, examples of the laser light irradiation conditions in the case of irradiating laser light include the following conditions, but are not limited thereto: The average output value of the laser light is preferably 1.0 W or more and 5.0 W or less, and 3.0 It is more preferable that it is W or more and 4.0 W or less; The repetition frequency of laser light is preferably 20 kHz or more and 60 kHz or less, and more preferably 30 kHz or more and 50 kHz or less; The scanning speed of laser light is 100 mm/s It is more preferably 10,000 mm/s or less.

그 후, 도 1 의 (i) 에 나타내는 바와 같이, 분리 공정에서는, 지지체 (1) 와 봉지체 (7) 를 분리한다. 예를 들어, 지지체 (1) 와 봉지체 (7) 가 서로 떨어지는 방향으로 힘을 가함으로써, 지지체 (1) 와 봉지체 (7) 를 분리한다. 예를 들어, 지지체 (1) 및 봉지체 (7) 의 일방을 스테이지에 고정시킨 상태에서, 타방을 벨로우즈 패드 등의 흡착 패드를 구비한 분리 플레이트에 의해 흡착 유지하면서 들어 올림으로써, 지지체 (1) 와 봉지체 (7) 를 분리할 수 있다.Thereafter, as shown in Fig. 1(i), in the separation step, the support 1 and the sealing member 7 are separated. For example, the support 1 and the sealing body 7 are separated by applying a force in a direction in which the support 1 and the sealing body 7 are separated from each other. For example, in a state in which one of the support 1 and the sealing member 7 is fixed to the stage, the other is lifted while being sucked and held by a separating plate provided with an adsorption pad such as a bellows pad. And the sealing member 7 can be separated.

(세정 공정) (Washing process)

도 1 의 (h) 에 나타내는 바와 같이, 세정 공정에서는, 지지체 (1) 가 분리된 봉지체 (7) 에 잔류하고 있는 접착층 (3) 과 분리층 (2) 을 제거한다. 예를 들어, 유기 용제를 포함하고 있는 세정액 등에 의해 접착층 (3) 및 분리층 (2) 의 잔류물을 제거하는 세정 공정을 실시한다. 접착층 (3) 은, 세정액으로서, 접착제 조성물에 사용되는 희석 용제, 즉, 탄화수소계 용제를 바람직하게 사용할 수 있으며, 특히, p-멘탄 등의 테르펜계 용제, 및, 테트라하이드로나프탈렌 등의 축합 고리 탄화수소를 사용하는 것이 보다 바람직하다.As shown in FIG. 1(h), in the washing step, the adhesive layer 3 and the separation layer 2 remaining on the sealing member 7 from which the support 1 has been separated are removed. For example, a washing step of removing residues of the adhesive layer 3 and the separation layer 2 is performed with a washing liquid containing an organic solvent or the like. The adhesive layer (3) may preferably use a diluting solvent used in the adhesive composition, that is, a hydrocarbon-based solvent, as a cleaning liquid, and in particular, a terpene-based solvent such as p-mentane, and a condensed cyclic hydrocarbon such as tetrahydronaphthalene. It is more preferable to use.

이상에 의해, 단리된 봉지체 (7) 를 얻을 수 있다.By the above, the isolated sealing body 7 can be obtained.

또, 추가로, 봉지체 (7) 에 대하여, 솔더 볼 형성, 다이싱 처리, 및, 산화막 형성 등의 처리를 실시해도 된다.Further, the sealing member 7 may be subjected to treatments such as solder ball formation, dicing treatment, and oxide film formation.

[실시형태 2][Embodiment 2]

본 발명의 다른 실시형태 (실시형태 2) 에 대해 설명하면 이하와 같다. 또한, 설명의 편의상, 상기 실시형태에서 설명한 부재와 동일한 기능을 갖는 부재에 대해서는, 동일한 부호를 부기하고, 그 설명을 생략한다. 실시형태 2 에 관련된 적층체의 제조 방법 및 봉지체의 제조 방법은, 분리층 형성 공정, 접착층 형성 공정, 봉지체 형성 공정, 및 분리 공정 세정 공정을 이 순서로 실시하고, 봉지체 형성 공정에서는, 접착층 (3) 상에 소자를 배치한다.Another embodiment (Embodiment 2) of the present invention will be described below. In addition, for convenience of description, members having the same functions as those described in the above embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted. In the manufacturing method of the laminated body and the sealing body according to the second embodiment, a separation layer forming step, an adhesive layer forming step, a sealing member forming step, and a separation step washing step are performed in this order, and in the sealing body forming step, An element is placed on the adhesive layer (3).

[분리층 형성 공정 ∼ 접착층 형성 공정][Separation layer formation process-adhesive layer formation process]

도 2 의 (a) 및 (b) 에 나타내는 바와 같이, 분리층 형성 공정, 분리층 둘레가장자리 부분 제거 공정 및 접착층 형성 공정은, 실시형태 1 과 동일하기 때문에, 그 설명을 생략한다.As shown in FIGS. 2A and 2B, since the separation layer forming step, the separation layer circumferential portion removing step, and the adhesive layer forming step are the same as those of the first embodiment, their descriptions are omitted.

[봉지체 형성 공정][Encapsulation Formation Process]

도 2 의 (c) ∼ (f) 에 나타내는 바와 같이, 봉지체 형성 공정에서는, 접착층 (3) 상에 봉지체 (7) 를 형성한다. 본 실시형태에 있어서의 봉지체 형성 공정에서는, 소자 배치 공정, 봉지 공정, 박화 공정, 및 배선층 형성 공정을 이 순서로 실시한다.As shown in FIG. 2(c)-(f), in the sealing body formation process, the sealing body 7 is formed on the adhesive layer 3. In the sealing body formation process in this embodiment, an element arrangement process, a sealing process, a thinning process, and a wiring layer formation process are performed in this order.

도 2 의 (c) 에 나타내는 바와 같이, 소자 배치 공정에서는, 접착층 (3) 상에 소자 (5) 를 배치한다. 접착층 (3) 상으로의 소자 (5) 의 배치는, 접착층 (3) 을 가열한 상태에서, 예를 들어, 칩마운터 등을 사용하여 실시할 수 있다.As shown in FIG. 2C, in the element arrangement process, the element 5 is placed on the adhesive layer 3. Arrangement of the element 5 on the adhesive layer 3 can be performed in a state where the adhesive layer 3 is heated, for example, using a chip mounter or the like.

도 2 의 (d) 에 나타내는 바와 같이, 봉지 공정에서는, 소자 (5) 를 봉지재 (6) 에 의해 봉지한다. 봉지재 (6) 는, 예를 들어, 성형형을 사용하여 사출 성형한다. 또한, 실시형태 1 의 경우와 마찬가지로, 봉지 공정에 있어서 소자 (5) 를 봉지할 때에, 접착층 (3) 에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있는 것은 말할 필요도 없다.As shown in FIG. 2D, in the sealing process, the element 5 is sealed with the sealing material 6. The sealing material 6 is injection-molded using, for example, a molding die. In addition, as in the case of the first embodiment, it is needless to say that deformation can be prevented from occurring in the adhesive layer 3 when sealing the element 5 in the sealing step.

도 2 의 (e) 에 나타내는 바와 같이, 박화 공정에서는, 봉지재 (6) 를 박화한다. 봉지재 (6) 는, 예를 들어, 소자 (5) 의 단자부가 봉지재 (6) 로부터 노출될 때까지 박화하면 된다.As shown in FIG. 2(e), in the thinning process, the sealing material 6 is thinned. The sealing material 6 may be thinned until, for example, the terminal portion of the element 5 is exposed from the sealing material 6.

도 2 의 (f) 에 나타내는 바와 같이, 배선층 형성 공정에서는, 봉지재 (6) 에 의해 봉지된 소자 (5) 상에 배선층 (4) 을 형성한다.As shown in FIG. 2F, in the wiring layer formation process, the wiring layer 4 is formed on the element 5 sealed by the sealing material 6.

일 실시형태에 있어서, 배선층 (4) 의 형성 순서로는, 실시형태 1 과 동일하게 실시할 수 있기 때문에, 그 설명을 생략한다.In one embodiment, since the wiring layer 4 can be formed in the same manner as in the first embodiment, the description thereof will be omitted.

이상의 공정에 의해, 실시형태 1 과 마찬가지로, 적층체 (9) 를 얻을 수 있다.By the above process, the laminated body 9 can be obtained like Embodiment 1.

그 후, 도 2 의 (g) 및 (h) 에 나타내는 바와 같이, 분리 공정에 있어서, 지지체 (1) 로부터 분리층 (2) 을 향해 광을 조사함으로써, 분리층 (2) 을 변질시킴으로써 지지체 (1) 를 적층체 (9) 로부터 분리한다. 또, 그 후, 세정 공정에 있어서, 실시형태 1 과 마찬가지로, 탄화수소계 용제를 사용하여 접착층 (3) 을 제거함으로써, 봉지체 (7) 를 얻을 수 있다 (도 2 의 (i)).Thereafter, as shown in (g) and (h) of FIG. 2, in the separation step, by irradiating light from the support 1 toward the separation layer 2 to denature the separation layer 2, the support ( 1) is separated from the laminate (9). In addition, after that, in the washing step, as in the first embodiment, the sealing member 7 can be obtained by removing the adhesive layer 3 using a hydrocarbon-based solvent (FIG. 2(i)).

[실시형태 3][Embodiment 3]

본 발명의 실시형태 3 에 대해 설명하면 이하와 같다. 또한, 설명의 편의상, 상기 서술한 실시형태 1 및 2 에서 설명한 부재와 동일한 기능을 갖는 부재에 대해서는, 동일한 부호를 부기하고, 그 설명을 생략한다. 실시형태 3 에 관련된 적층체의 제조 방법 및 봉지체의 제조 방법은, 분리층 형성 공정, 분리층 둘레가장자리 부분 제거 공정, 접착층 형성 공정, 봉지체 형성 공정, 및 접착층 제거 공정을 이 순서로 실시한다.It is as follows when Embodiment 3 of this invention is demonstrated. In addition, for convenience of explanation, members having the same functions as those described in the first and second embodiments are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted. In the manufacturing method of the laminated body and the sealing body according to the third embodiment, a separation layer forming step, a separation layer circumferential part removal step, an adhesive layer forming step, an encapsulant forming step, and an adhesive layer removing step are performed in this order. .

[분리층 형성 공정][Separation layer formation process]

도 3 의 (a) 에 나타내는 바와 같이, 분리층 형성 공정은, 실시형태 1 및 2 와 동일하기 때문에, 그 설명을 생략한다.As shown in FIG. 3(a), since the separation layer formation process is the same as that of the first and second embodiments, the description thereof will be omitted.

[분리층 둘레가장자리 부분 제거 공정][Separation layer peripheral edge removal process]

도 3 의 (b) 에 나타내는 바와 같이, 분리층 둘레가장자리 부분 제거 공정에서는, 예를 들어, EBR (Edge Bead Removal) 처리에 의해, 지지체 (1) 의 둘레가장자리 부분 (1b) 전체 둘레에 형성된 분리층 (2) 을 제거한다. 둘레가장자리 부분 (1b) 은, 평면부 (1a) 의 둘레가장자리 부분이다. 이에 따라, 도 3 의 (b) 에 나타내는 바와 같이, 평면부 (1a) 상에는, 분리층 (2) 이 제거된 둘레가장자리 부분 (1b) 에 둘러싸인 부분에, 분리층 (2) 이 형성되어 있는 상태가 된다. EBR 처리의 상세한 내용에 대해서는 후술한다.As shown in (b) of FIG. 3, in the separation layer peripheral edge portion removal step, separation formed around the entire peripheral edge portion 1b of the support 1 by, for example, EBR (Edge Bead Removal) treatment. Remove layer (2). The peripheral edge portion 1b is a peripheral edge portion of the flat portion 1a. Accordingly, as shown in Fig. 3(b), the separation layer 2 is formed on the flat portion 1a in a portion surrounded by the peripheral edge portion 1b from which the separation layer 2 has been removed. Becomes. Details of the EBR process will be described later.

[접착층 형성 공정][Adhesive layer formation process]

도 3 의 (c) 에 나타내는 바와 같이, 접착층 형성 공정에서는, 지지체 (1) 에 있어서의 둘레가장자리 부분 (1b) 전체 둘레의 분리층 (2) 을 제거한 측의 면에, 접착층 (3) 을 형성한다. 이에 따라, 지지체 (1) 상에 형성된 분리층 (2) 의 전체면을 접착층 (3) 에 의해 피복한다. 또한, 접착층 (3) 을 형성하는 방법은, 실시형태 1 ∼ 2 와 동일하기 때문에, 그 설명을 생략한다.As shown in (c) of FIG. 3, in the adhesive layer forming step, the adhesive layer 3 is formed on the surface of the support 1 on the side from which the separation layer 2 around the entire circumference 1b is removed. do. Accordingly, the entire surface of the separation layer 2 formed on the support 1 is covered with the adhesive layer 3. In addition, since the method of forming the adhesive layer 3 is the same as that of the first and second embodiments, the description thereof will be omitted.

[봉지체 형성 공정][Encapsulation Formation Process]

도 3 의 (d) ∼ (g) 에 나타내는 바와 같이, 봉지체 형성 공정에서는, 접착층 (3) 상에 봉지체 (7') 를 형성한다. 본 실시형태에 있어서의 봉지체 형성 공정에서는, 배선층 형성 공정, 소자 배치 공정, 봉지 공정, 및 박화 공정을 이 순서로 실시한다.As shown in FIGS. 3D to 3G, in the sealing body forming step, the sealing body 7 ′ is formed on the adhesive layer 3. In the sealing body formation process in this embodiment, a wiring layer formation process, an element arrangement process, a sealing process, and a thinning process are performed in this order.

도 3 의 (d) 에 나타내는 바와 같이, 실시형태 3 에서는, 배선층 형성 공정에 있어서, 접착층 (3) 상에 형성된 배선층 (4) 의 외주 단부를 트리밍 처리에 의해 제거한다. 또한, 배선층 (4) 의 트리밍에는, 그라인더 등의 공지된 수단에 의해 연삭함으로써 제거하면 된다. 이에 따라, 후의 공정에 있어서, 적층체 (8') (도 3) 에 있어서 EBR 처리를 적합하게 실시할 수 있다.As shown in FIG. 3D, in the third embodiment, in the wiring layer forming step, the outer peripheral end of the wiring layer 4 formed on the adhesive layer 3 is removed by a trimming treatment. In addition, the trimming of the wiring layer 4 may be removed by grinding by a known means such as a grinder. Thereby, in the subsequent process, EBR treatment can be suitably performed in the laminated body 8'(FIG. 3).

또한, 배선층 (4) 을 형성하는 방법은, 실시형태 1 및 2 와 동일하기 때문에, 그 설명을 생략한다.In addition, since the method of forming the wiring layer 4 is the same as that of the first and second embodiments, the description thereof will be omitted.

도 3 의 (e) ∼ (g) 에 나타내는 바와 같이, 실시형태 3 에 있어서도, 소자 배치 공정, 봉지 공정, 및 박화 공정를 실시한다. 또한, 실시형태 3 에 있어서의, 소자 배치 공정, 봉지 공정, 및 박화 공정은, 실시형태 1 과 동일하게 실시할 수 있기 때문에, 그 설명을 생략한다.As shown to (e)-(g) of FIG. 3, also in Embodiment 3, an element arrangement process, a sealing process, and a thinning process are implemented. In addition, since the element arrangement process, the sealing process, and the thinning process in Embodiment 3 can be implemented similarly to Embodiment 1, the description is abbreviate|omitted.

[접착층 제거 공정][Adhesive layer removal process]

도 3 의 (h) 에 나타내는 바와 같이, 접착층 제거 공정에서는, 예를 들어, EBR 처리에 의해, 지지체 (1) 의 둘레가장자리 부분 (1b) 전체 둘레에 형성된 접착층 (3) 을 제거한다. 접착층 (3) 중, 지지체 (1) 의 둘레가장자리 부분 (1b) 전체 둘레에 형성된 부분은, 분리층 (2) 을 개재하지 않고, 지지체 (1) 와 봉지체 (7') 를 접착하고 있기 때문에, 당해 부분을 제거해 둠으로써, 분리층 (2) 을 변질시켰을 때에, 지지체 (1) 와 봉지체 (7') 를 원활하게 분리할 수 있다.As shown in FIG. 3(h), in the adhesive layer removing step, the adhesive layer 3 formed around the entire circumference 1b of the support 1 is removed by, for example, EBR treatment. Of the adhesive layer 3, the portion formed around the entire circumferential edge portion 1b of the support 1 adheres the support 1 and the sealing member 7 ′ without the separation layer 2 interposed therebetween. , When the separation layer 2 is deteriorated by removing the portion, the support 1 and the sealing member 7'can be smoothly separated.

특히, 지지체 (1) 상에 형성되어 있는 분리층 (2) 의 외주 단부 (2a) 보다 외측에 형성된 접착층 (3) 을 제거해 둠으로써, 지지체 (1) 와 봉지체 (7') 가 반드시 분리층 (2) 을 개재하여 접착되어 있는 상태로 할 수 있기 때문에, 분리층 (2) 을 변질시켰을 때에, 지지체 (1) 와 봉지체 (7') 를 보다 원활하게 분리할 수 있다.In particular, by removing the adhesive layer 3 formed outside the outer circumferential end 2a of the separating layer 2 formed on the support 1, the support 1 and the encapsulant 7'must be separated from each other. (2) Since it can be made into a state of being bonded via the interposition, when the separation layer 2 is deteriorated, the support 1 and the sealing member 7'can be separated more smoothly.

[분리 공정 ∼ 세정 공정][Separation process-washing process]

도 3 의 (i) ∼ (k) 에 나타내는 바와 같이, 실시형태 1 과 마찬가지로, 분리 공정 및 세정 공정을 실시함으로써 봉지체 (7') 를 제조할 수 있다.As shown to (i)-(k) of FIG. 3, similarly to Embodiment 1, the sealing body 7'can be manufactured by performing a separation process and a washing process.

(EBR 처리) (EBR treatment)

상기 서술한 (A) 분리층 둘레가장자리 부분 제거 공정에 있어서, 지지체 (1) 의 둘레가장자리 부분 (1b) 전체 둘레에 형성된 분리층 (2) 을 제거하기 위한 EBR 처리, 및, (B) 접착층 제거 공정에 있어서, 지지체 (1) 의 둘레가장자리 부분 (1b) 전체 둘레에 형성된 접착층 (3) 을 제거하기 위한 EBR 처리는, 예를 들어, (i) 용제에 의해 용해하여 제거하는 방법, (ii) 커터 또는 블레이드 등을 사용하여 물리적으로 절단하여 제거하는 방법, (iii) 대기압하에서의 애싱에 의해 제거하는 방법 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 강도 및 실용성의 관점에서, 용제에 의해 제거하는 방법이 바람직하다.In the above-described (A) separation layer peripheral edge portion removal step, EBR treatment for removing the separation layer (2) formed around the entire peripheral edge portion (1b) of the support (1), and (B) adhesive layer removal In the step, the EBR treatment for removing the adhesive layer 3 formed around the entire circumference 1b of the support 1 is, for example, (i) a method of dissolving and removing with a solvent, (ii) A method of physically cutting and removing using a cutter or a blade, (iii) a method of removing by ashing under atmospheric pressure, and the like. Among these, from the viewpoint of strength and practicality, a method of removing with a solvent is preferable.

용제에 의해 제거하는 방법에 있어서 사용되는 용제로는, 제거 대상이 되는 분리층 (2) 또는 접착층 (3) 을 용해할 수 있는 것이면 되고, 특별히 한정되지 않기 때문에, 당업자는 제거 대상의 조성에 따라 적절히 선택할 수 있다. 예를 들어, 접착층 (3) 에 대하여, 특히, p-멘탄 등의 테르펜계 용제, 및, 테트라하이드로나프탈렌 등의 축합 고리 탄화수소를 사용할 수 있다. 또, 분리층 (2) 에 대해서는, 예를 들어, 모노이소프로판올아민 (MIPA) 등의 제 1 급 지방족 아민, 2-(메틸아미노)에탄올 (MMA) 등의 제 2 급 지방족 아민, 트리에탄올아민 등의 제 3 급 지방족 아민, 시클로헥실아민 등의 지환식 아민, 벤질아민 등의 방향족 아민 및 N-하이드록시에틸피페리딘 등의 복소 고리형 아민으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종의 아민류, 또는, 그것들을 포함하는 용제 등을 사용할 수 있다. 또한, 용제에는, 상기 서술한 (첨가 용제) 의 란에 예시된 것 중, 테르펜 용제 이외의 유기 용제를 적합하게 사용할 수 있다.The solvent used in the method of removing with a solvent may be any one capable of dissolving the separation layer 2 or the adhesive layer 3 to be removed, and is not particularly limited. You can choose appropriately. For example, for the adhesive layer 3, in particular, terpene-based solvents such as p-mentane, and condensed cyclic hydrocarbons such as tetrahydronaphthalene can be used. In addition, for the separation layer 2, for example, primary aliphatic amines such as monoisopropanolamine (MIPA), secondary aliphatic amines such as 2-(methylamino)ethanol (MMA), triethanolamine, etc. At least one amine selected from the group consisting of tertiary aliphatic amines, alicyclic amines such as cyclohexylamine, aromatic amines such as benzylamine, and heterocyclic amines such as N-hydroxyethylpiperidine, or, A solvent or the like containing them can be used. In addition, organic solvents other than a terpene solvent can be used suitably among what was illustrated in the column of the above-mentioned (additive solvent) as a solvent.

용제를 공급하는 방법으로는, 예를 들어, 용제의 분출에 의해, 제거 대상에 용제를 공급하는 방법, 제거 대상을 용제 중에 침지시키는 방법을 들 수 있다.As a method of supplying a solvent, a method of supplying a solvent to an object to be removed by spraying of the solvent, and a method of immersing the object to be removed in a solvent are mentioned, for example.

용제의 분출에 의해, 제거 대상에 용제를 공급하는 방법으로는, 균일하게 용제를 공급하기 위해서, 지지체 (1) 를 회전시키면서, 제거 대상에 용제를 공급하는 방법이 바람직하다. 지지체 (1) 를 회전시키면서, 용제를 공급하는 방법으로는, 예를 들어, 용제를 분출하는 노즐을 지지체 (1) 의 둘레가장자리 부분 (1b) 의 바로 외측의 바로 위에 배치하고, 용제를 지지체 (1) 의 둘레가장자리 부분 (1b) 의 바로 외측에 적하하면서, 지지체 (1) 를 스피너를 사용하여 회전시키는 방법을 들 수 있다. 이에 따라, 용제를 지지체 (1) 의 둘레가장자리 부분 (1b) 의 전체 둘레의 바로 외측에 공급할 수 있다. 또한, 배치하는 노즐의 수에 제한은 없고, 1 개 이상이면 된다.As a method of supplying the solvent to the object to be removed by spraying the solvent, a method of supplying the solvent to the object to be removed while rotating the support 1 is preferable in order to supply the solvent uniformly. As a method of supplying the solvent while rotating the support 1, for example, a nozzle for ejecting the solvent is disposed immediately on the outside of the circumferential edge portion 1b of the support 1, and the solvent is placed on the support ( A method of rotating the support 1 using a spinner is mentioned while dropping it on the immediately outside of the circumferential edge portion 1b of 1). Thereby, the solvent can be supplied just outside the entire circumference of the circumferential edge portion 1b of the support 1. In addition, there is no limit to the number of nozzles to be arranged, and one or more may be sufficient.

지지체 (1) 의 회전 및 용제의 분출을 수반하는 상기 방법에 있어서, 지지체 (1) 의 회전 속도, 용제를 노즐로부터 공급할 때의 용제의 유량, 및 용제의 공급 시간은, 제거 대상의 조성, 제거 대상의 두께, 사용하는 용제의 종류, 및 제거의 정도에 따라 상이할 수 있지만, 당업자이면, 그 최적 조건을 곤란없이 검토 및 결정할 수 있다.In the above method involving rotation of the support 1 and ejection of the solvent, the rotation speed of the support 1, the flow rate of the solvent when supplying the solvent from the nozzle, and the supply time of the solvent are determined by the composition of the object to be removed and the removal time. Although it may differ depending on the thickness of the object, the kind of solvent to be used, and the degree of removal, those skilled in the art can examine and determine the optimum conditions without difficulty.

또, 용제에 의한 제거 대상의 용해 후에는, 지지체 (1) 등을 건조시키는 것이 바람직하다. 건조 공정을 거침으로써, 불필요한 용제, 제거 대상 부분이 아닌 분리층 (2) 또는 접착층 (3) 에 침입한 용제를 제거할 수 있다.In addition, it is preferable to dry the support 1 or the like after dissolution of the object to be removed with a solvent. By passing through the drying process, it is possible to remove an unnecessary solvent and a solvent that has penetrated into the separation layer 2 or the adhesive layer 3 that is not a part to be removed.

건조 방법으로는, 스피너 등을 사용하여 지지체 (1) 를 회전시키는 것에 의한 털어내기 건조, N2 가스 등의 분무에 의한 에어 블로우에 의한 건조, 베이크에 의한 건조, 및 감압에 의한 건조 등을 들 수 있다. 또한, 이들 건조 방법으로는, 어느 방법을 단독으로 사용하는 방법, 혹은 임의의 2 개 이상의 방법을 조합하여 사용하는 방법 모두 가능하다.As a drying method, the support body 1 is rotated using a spinner, etc., and drying by air blow by spraying of N 2 gas, drying by baking, drying by reduced pressure, etc. I can. In addition, as these drying methods, any method may be used alone, or any two or more methods may be used in combination.

[실시형태 4][Embodiment 4]

본 발명의 실시형태 4 에 대해 설명하면 이하와 같다. 또한, 설명의 편의상, 상기 서술한 실시형태 1 ∼ 3 에서 설명한 부재와 동일한 기능을 갖는 부재에 대해서는, 동일한 부호를 부기하고, 그 설명을 생략한다. 실시형태 4 에 관련된 적층체의 제조 방법 및 봉지체의 제조 방법은, 분리층 형성 공정, 분리층 둘레가장자리 부분 제거 공정, 접착층 형성 공정, 봉지체 형성 공정, 및 접착층 제거 공정을 이 순서로 실시한다.It is as follows when Embodiment 4 of this invention is demonstrated. In addition, for convenience of explanation, members having the same functions as those described in the above-described Embodiments 1 to 3 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted. In the manufacturing method of the laminated body and the sealing body according to the fourth embodiment, a separation layer forming step, a separation layer circumferential part removal step, an adhesive layer forming step, an encapsulant forming step, and an adhesive layer removing step are performed in this order. .

[분리층 형성 공정 ∼ 접착층 형성 공정][Separation layer formation process-adhesive layer formation process]

분리층 형성 공정, 분리층 둘레가장자리 부분 제거 공정, 및, 접착층 형성 공정은, 실시형태 3 과 동일하기 때문에, 그 설명을 생략한다.Since the separation layer formation process, the separation layer circumference part removal process, and the adhesive layer formation process are the same as those of the third embodiment, their explanations are omitted.

[봉지체 형성 공정][Encapsulation Formation Process]

봉지체 형성 공정에서는, 접착층 (3) 상에, 소자 (5) 를 배치하여 봉지한다. 즉, 실시형태 2 와 동일한 공정에 의해 봉지체 (7') 를 형성한다. 그 후, 도 4 의 (a) 에 나타내는 바와 같이, 봉지체 (7') 의 외주 단부를 트리밍 처리에 의해 제거한다. 또한, 봉지체 (4) 의 트리밍에는, 그라인더 등의 공지된 수단에 의해 연삭함으로써 제거하면 된다. 이에 따라, 후의 공정에 있어서, 적층체 (9') (도 4) 에 있어서 EBR 처리를 적합하게 실시할 수 있다.In the sealing body formation process, the element 5 is arrange|positioned on the adhesive layer 3, and it seals. That is, the sealing body 7'is formed by the same process as Embodiment 2. After that, as shown in Fig. 4A, the outer peripheral end of the sealing member 7'is removed by a trimming treatment. In addition, the trimming of the sealing member 4 may be removed by grinding by a known means such as a grinder. Accordingly, in the subsequent step, the EBR treatment can be suitably performed in the layered product 9'(FIG. 4).

[접착층 제거 공정][Adhesive layer removal process]

도 4 의 (b) 에 나타내는 바와 같이, 실시형태 3 과 동일하게, 실시형태 4 에 있어서도, 봉지체 (7') 의 외주 단부를 트리밍 처리함으로써, 분리층 (2) 의 외주 단부 (2a) 보다 외측에 형성된 접착층 (3) 을 제거할 수 있다. 이 때문에, 분리층 (2) 을 변질시켰을 때에, 지지체 (1) 와 봉지체 (7') 를 보다 원활하게 분리할 수 있다.As shown in (b) of FIG. 4, in the same manner as in the third embodiment, in the fourth embodiment, by trimming the outer peripheral end of the sealing member 7', more than the outer peripheral end 2a of the separating layer 2 The adhesive layer 3 formed on the outside can be removed. For this reason, when the separation layer 2 is deteriorated, the support 1 and the sealing member 7'can be separated more smoothly.

그 후, 실시형태 1 ∼ 3 과 마찬가지로, 접착층 (3) 을 탄화수소계 용제에 의해 제거함으로써, 봉지체 (7') 를 제조할 수 있다.Thereafter, similarly to Embodiments 1 to 3, the sealing body 7'can be manufactured by removing the adhesive layer 3 with a hydrocarbon-based solvent.

[다른 실시형태][Other embodiments]

본 발명의 일 실시형태에 관련된, 접착제 조성물, 적층체, 적층체의 제조 방법, 및 봉지체의 제조 방법은, 상기 서술한 실시형태에 한정되지 않는다. 상기 서술한 실시형태 1 ∼ 4 에 있어서, WLP 기술에서는, 지지체 (1) 로서, 상면에서 보았을 때의 형상이 원형인 지지체 (1) 가 적합하게 사용될 수 있다. 그러나, 반도체 장치의 기술 분야에서는, 더나은 고밀도 집적화나 생산 효율의 향상을 위해서, 원형인 지지체 (1) 의 사이즈 대형화 외에, 상면에서 보았을 때의 형상이 사각형인 대형 패널을 지지체로서 사용하는 것이 검토되고 있다. 이와 같은 사각형 대형 패널을 사용하여 반도체 장치를 제조하는 방법은, PLP (Panel level Package) 기술로서 알려져 있으며, 팬 아웃형 기술에 의해 실시될 수 있다. 여기서, 본원의 일 실시형태에 관련된 접착제 조성물은, 블록 공중합체와 중합성 모노머를 포함한 경화형 접착제 조성물을 사용함으로써, 고온으로 가열했을 때에 높은 점탄성을 유지할 수 있다. 이 때문에, 패널 상에 있어서 소자를 배치하여 봉지하는 PLP (Panel level Package) 기술에 있어서도, 봉지체에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 팬 아웃형의 PLP 기술에 있어서 사용하는 실시형태도, 일 실시형태에 관련된 접착제 조성물, 적층체, 적층체의 제조 방법 및 봉지체의 제조 방법도 본 발명의 범주이다. 또한, PLP 기술에 있어서, 패널에는, 유리 또는 실리콘 등의 재료에 의해 형성된 패널을 적합하게 사용할 수 있다.The adhesive composition, the laminated body, the production method of the laminated body, and the sealing body production method according to one embodiment of the present invention are not limited to the above-described embodiment. In the above-described Embodiments 1 to 4, in the WLP technology, as the support 1, the support 1 having a circular shape as viewed from the top surface can be suitably used. However, in the technical field of semiconductor devices, in addition to increasing the size of the circular support 1, it is considered to use a large-sized panel having a rectangular shape when viewed from the top as a support for higher density integration and improved production efficiency. Has become. A method of manufacturing a semiconductor device using such a large rectangular panel is known as a panel level package (PLP) technology, and can be implemented by a fan-out type technology. Here, the adhesive composition according to the embodiment of the present application can maintain high viscoelasticity when heated to a high temperature by using a curable adhesive composition containing a block copolymer and a polymerizable monomer. For this reason, also in the PLP (Panel level Package) technology in which elements are arranged and sealed on a panel, it is possible to prevent deformation from occurring in the sealing member. Therefore, the embodiment used in the fan-out type PLP technology, the adhesive composition, the laminated body, the production method of the laminated body, and the sealing body according to the embodiment are also the scope of the present invention. In addition, in the PLP technology, a panel formed of a material such as glass or silicon can be suitably used for the panel.

본 발명은 상기 서술한 각 실시형태에 한정되는 것이 아니라, 청구항에 나타낸 범위에서 여러 가지 변경이 가능하고, 상이한 실시형태에 각각 개시된 기술적 수단을 적절히 조합하여 얻어지는 실시형태에 대해서도 본 발명의 기술적 범위에 포함된다.The present invention is not limited to each of the above-described embodiments, but various modifications are possible within the scope indicated in the claims, and the technical scope of the present invention also applies to embodiments obtained by appropriately combining the technical means disclosed in each of the different embodiments. Included.

실시예Example

<실시예><Example>

이하에 나타내는 베이스 폴리머 (블록 공중합체), 경화 모노머 (중합성 모노머), 및 중합 개시제를 사용하여 접착제 조성물을 조제하고, 당해 접착제 조성물을 사용하여 형성한 접착층의 약품 내성 및 세정성의 평가, 및, 동적 복소 탄성률의 측정을 실시하였다.An adhesive composition was prepared using a base polymer (block copolymer), a curing monomer (polymerizable monomer), and a polymerization initiator shown below, and evaluation of chemical resistance and cleaning properties of the adhesive layer formed using the adhesive composition, and, The dynamic complex elastic modulus was measured.

[접착제 조성물의 조제 및 접착층의 형성][Preparation of adhesive composition and formation of adhesive layer]

[실시예 1][Example 1]

먼저, 실시예 1 의 접착제 조성물로서, 80 중량부의 Septon 2002 (베이스 폴리머:주식회사 쿠라레 제조, SEPS:스티렌-이소프렌-스티렌의 트리블록 공중합체, 스티렌 함유량 30 %, 분자량 53,000) 와, 20 중량부의 트리시클로데칸디메탄올디아크릴레이트 (경화 모노머:신나카무라 화학 주식회사 제조, 「A-DCP (상품명)」) 를 데카하이드로나프탈렌 280 중량부에 용해함으로써, 접착제 조성물의 주제 (主劑) 를 조제하였다. 이어서, 경화제로서, 트리시클로데칸디메탄올디아크릴레이트 20 중량부에 대한 배합량이 0.4 중량부가 되도록, 디알킬퍼옥사이드 (열 중합 개시제:닛폰 유지 주식회사 제조, 「퍼쿠밀 D (상품명)」) 를 아세트산부틸 20 중량부에 용해하였다. 그 후, 상기 주제에 상기 경화제를 배합함으로써 접착제 조성물을 조제하였다.First, as the adhesive composition of Example 1, 80 parts by weight of Septon 2002 (base polymer: manufactured by Kuraray Co., Ltd., SEPS: styrene-isoprene-styrene triblock copolymer, styrene content 30%, molecular weight 53,000), and 20 parts by weight Tricyclodecanedimethanol diacrylate (curing monomer: manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., "A-DCP (brand name)") was dissolved in 280 parts by weight of decahydronaphthalene to prepare the main body of the adhesive composition. Subsequently, as a curing agent, dialkyl peroxide (thermal polymerization initiator: Nippon Oil Co., Ltd. make, "Percumyl D (brand name)") is acetic acid so that the blending amount with respect to 20 parts by weight of tricyclodecane dimethanol diacrylate is 0.4 parts by weight. It was dissolved in 20 parts by weight of butyl. Thereafter, an adhesive composition was prepared by blending the curing agent in the main body.

이어서, 실시예 1 의 접착제 조성물을, 스핀 코트법에 의해, 유리 지지체 (유리 지지체, 8 인치, 두께 700 ㎛) 에 도포하고, 90 ℃ 및 140 ℃ 의 각각에 있어서 5 분간씩 베이크함으로써 접착층에 포함되어 있는 용제를 제거하였다. 이어서, 질소 가스 분위기하에서, 200 ℃, 1 시간의 조건으로, 접착층을 가열함으로써, 경화 모노머를 중합시켰다. 이에 따라, 실시예 1 의 접착층을 형성하였다 (막두께 5 ㎛). 또한, 동일한 조건에 있어서, 4 매의 유리 지지체 상에 접착층을 형성하고, 각각을 내약품성의 평가 및 세정성의 평가에 사용하였다.Subsequently, the adhesive composition of Example 1 was applied to a glass support (glass support, 8 inches, 700 μm in thickness) by a spin coating method, and baked at 90° C. and 140° C. for 5 minutes to be included in the adhesive layer. The used solvent was removed. Subsequently, the cured monomer was polymerized by heating the adhesive layer in a nitrogen gas atmosphere at 200° C. for 1 hour. Thereby, the adhesive layer of Example 1 was formed (film thickness 5 micrometers). In addition, under the same conditions, an adhesive layer was formed on the four glass supports, and each was used for evaluation of chemical resistance and cleaning property.

(약품 내성의 평가) (Evaluation of drug resistance)

약품 내성의 평가는, 23 ℃, 5 분간의 조건에 있어서, 시클로펜타논, 시클로헥사논 및 PGMEA 의 각각에 1 매씩 접착층을 형성한 유리 지지체를 침지하고, 그 후, 각 약품에 대한 적층체의 중량 변화 및 외관 변화에 기초하여 평가하였다. 내약품성의 평가는, 중량 및 외관에 변화가 보이지 않는 경우에는 「○」 로 하고, 중량 변화 또는 외관 변화 (크랙 유무) 가 보인 경우에는 「×」 로 판정하였다. 결과를 표 1 에 나타낸다.The evaluation of drug resistance was performed by immersing a glass support having an adhesive layer formed on each of cyclopentanone, cyclohexanone, and PGMEA at 23° C. for 5 minutes, and thereafter, the laminate for each drug. It evaluated based on the change in weight and the change in appearance. Chemical resistance was evaluated as "○" when no change in weight and appearance was observed, and "x" when a change in weight or appearance (with or without cracks) was observed. Table 1 shows the results.

(세정성의 평가) (Evaluation of cleanliness)

실시예 1 의 접착층을 형성한 유리 지지체를 1,000 rpm 의 조건으로 회전시키고, 박리액으로서 p-멘탄을 공급함으로써, 당해 유리 지지체를 스핀 세정하였다. 세정 후의 유리 지지체에 있어서의 잔류물의 유무를 현미경에 의해 확인하였다. 또한, 잔류물이 있으면, 눈으로, 현미경으로부터 나오는 고휘도의 광에 의해 잔류물 부분이 난반사되어 하얗게 보인다. 잔류물이 많이 보인 경우에는, 세정성을 「×」 로 평가하고, 잔류물이 거의 보이지 않은 경우에, 세정성을 「△」 로 평가하고, 잔류물이 전혀 보이지 않은 경우에, 세정성을 「○」 로 평가하였다. 결과를 표 1 에 나타낸다.The glass support on which the adhesive layer of Example 1 was formed was rotated under conditions of 1,000 rpm, and p-mentane was supplied as a peeling solution to spin-wash the glass support. The presence or absence of a residue in the glass support after washing was confirmed with a microscope. In addition, if there is a residue, the residue part is scattered and reflected by the high-intensity light emitted from the microscope to the eye and looks white. When a large amount of residue is seen, the cleaning property is evaluated as "x", when almost no residue is seen, the cleaning property is evaluated as "△", and when no residue is seen, the cleaning property is " ○". Table 1 shows the results.

[실시예 2 ∼ 32][Examples 2 to 32]

실시예 2 ∼ 32 로서, 실시예 1 과 상이한 조성에 있어서, 베이스 수지, 경화 모노머, 및 중합 개시제를 배합하고, 이들 접착제 조성물을 사용하여, 접착층을 형성하였다. 그 후, 실시예 1 과 동일한 조건으로, 약품 내성 및 세정성의 평가를 실시하였다. 실시예 2 ∼ 32 의 조성의 상세 및 각 평가 결과를 표 1 ∼ 4 에 나타낸다.As Examples 2 to 32, in a composition different from Example 1, a base resin, a curing monomer, and a polymerization initiator were blended, and an adhesive layer was formed using these adhesive compositions. Then, under the same conditions as in Example 1, chemical resistance and detergency were evaluated. The details of the compositions of Examples 2 to 32 and each evaluation result are shown in Tables 1 to 4.

[비교예 1, 2][Comparative Examples 1 and 2]

비교예 1, 2 로서, 경화 모노머 및, 중합 개시제를 포함하지 않은 접착제 조성물을 조제하고, 실시예 1 에 있어서의 200 ℃, 1 시간의 조건으로, 접착층을 가열하지 않는 것 이외에는, 실시예 1 과 동일한 순서로 유리 지지체 상에 접착층을 형성하였다. 또, 실시예 1 과 동일한 조건으로, 약품 내성 및 세정성의 평가를 실시하였다. 비교예 1 및 비교예 2 의 조성의 상세 및 각 평가 결과를 표 5 에 나타낸다.As Comparative Examples 1 and 2, an adhesive composition not containing a curing monomer and a polymerization initiator was prepared, except that the adhesive layer was not heated under the conditions of 200°C and 1 hour in Example 1. An adhesive layer was formed on the glass support in the same procedure. Moreover, chemical resistance and cleaning property were evaluated under the same conditions as in Example 1. Table 5 shows the details of the composition of Comparative Example 1 and Comparative Example 2 and each evaluation result.

또한, 실시예 2 ∼ 32, 그리고, 비교예 1, 2 에 있어서 사용한 베이스 폴리머, 경화 모노머 및 개시제는 이하에 나타내는 바와 같다.In addition, the base polymer, curing monomer, and initiator used in Examples 2 to 32 and Comparative Examples 1 and 2 are as shown below.

[베이스 폴리머][Base polymer]

·이하의 화학식 (9) 로 나타내는 스티렌-이소프렌-스티렌의 트리블록 공중합체:SEPS (쿠라레사 제조, 「Septon 2002 (상품명)」, 스티렌 함유량 30 %, 분자량 53000) Styrene-isoprene-styrene triblock copolymer represented by the following general formula (9): SEPS (Kuraray, "Septon 2002 (brand name)", styrene content 30%, molecular weight 53000)

·이하의 화학식 (9) 로 나타내는 스티렌-이소프렌-스티렌의 트리블록 공중합체:SEPS (쿠라레사 제조, 「Septon 2004 (상품명)」, 스티렌 함유량 18 %, 분자량 90000) Styrene-isoprene-styrene triblock copolymer represented by the following general formula (9): SEPS (Kurare Corporation make, "Septon 2004 (brand name)", styrene content 18%, molecular weight 90000)

[화학식 8][Formula 8]

Figure 112017021350610-pat00008
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[경화 모노머][Cured monomer]

·이하의 화학식 (10) 으로 나타내는 트리시클로데칸디메탄올디아크릴레이트 (신나카무라 화학 주식회사 제조, 「A-DCP (상품명)」) Tricyclodecanedimethanol diacrylate represented by the following formula (10) (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., ``A-DCP (trade name)'')

·이하의 화학식 (11) 로 나타내는 트리시클로데칸디메탄올디메타크릴레이트 (신나카무라 화학 주식회사 제조, 「DCP (상품명)」) ・Tricyclodecanedimethanoldimethacrylate represented by the following formula (11) (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., ``DCP (brand name)'')

[화학식 9][Formula 9]

Figure 112017021350610-pat00009
Figure 112017021350610-pat00009

[화학식 10][Formula 10]

Figure 112017021350610-pat00010
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[개시제][Initiator]

·디알킬퍼옥사이드 (1 분간 반감 온도/175.2 ℃, 1 시간 반감 온도/135.7 ℃, 이론 활성 산소량/5.92 % : 닛폰 유지 주식회사 제조, 「퍼쿠밀 D (상품명)」) Dialkyl peroxide (1 minute half-time temperature/175.2° C., 1 hour half-time temperature/135.7° C., theoretical active oxygen content/5.92%: Nippon Oil Co., Ltd. product, “Percumyl D (brand name)”)

·퍼옥시에스테르 (1 분간 반감 온도/124.3 ℃, 1 시간 반감 온도/84.4 ℃, 이론 활성 산소량/5.87 % : 닛폰 유지 주식회사 제조, 「퍼옥타 O (상품명)」) Peroxyester (1 minute half temperature/124.3° C., 1 hour half temperature/84.4° C., theoretical active oxygen content/5.87%: Nippon Oil Co., Ltd. product, “Perocta O (brand name)”)

Figure 112017021350610-pat00011
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Figure 112017021350610-pat00015
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(각 평가 결과) (Each evaluation result)

표 1 ∼ 5 에 나타내는 바와 같이, 실시예 1 ∼ 32 의 접착층은 모두, 레지스트 용제인 시클로펜타논, 시클로헥사논, 및, PGMEA 에 대한 약품 내성이 양호하였다 (○). 이에 반해, 경화 모노머를 포함하지 않는 비교예 1 및 2 의 접착층은, PGMEA 에 대한 약품 내성은 양호하기는 했지만, 시클로펜타논 및 시클로헥사논에 대한 약품 내성은 낮았다 (×). 이들 결과로부터, 실시예 1 ∼ 32 의 접착층을 형성한 유리 지지체 상에 있어서, 포토리소그래피 처리를 실시하고, 배선층을 형성할 수 있는 것을 확인할 수 있었다.As shown in Tables 1 to 5, all of the adhesive layers of Examples 1 to 32 had good chemical resistance to resist solvents such as cyclopentanone, cyclohexanone, and PGMEA (○). On the other hand, the adhesive layers of Comparative Examples 1 and 2 that did not contain a curing monomer had good drug resistance against PGMEA, but low drug resistance against cyclopentanone and cyclohexanone (×). From these results, it was confirmed that on the glass support on which the adhesive layer of Examples 1 to 32 was formed, a photolithography process was performed and a wiring layer could be formed.

또, 경화 모노머의 함유량이 15 중량% 이하인 실시예 2 ∼ 4, 6 ∼ 8, 10 ∼ 12, 14 ∼ 16, 18 ∼ 20, 22 ∼ 24, 26 ∼ 28 및 30 ∼ 32 는, 약품 내성 뿐만 아니라, p-멘탄에 의한 세정성도 우수하였다 (○). 따라서, 베이스 폴리머의 함유량을 80 중량% 보다 많게 하고, 경화 모노머의 함유량을 20 중량% 보다 적게 함으로써, 높은 약품 내성 뿐만 아니라, 높은 세정성을 구비한 접착층을 형성할 수 있는 것을 확인할 수 있었다.In addition, Examples 2 to 4, 6 to 8, 10 to 12, 14 to 16, 18 to 20, 22 to 24, 26 to 28 and 30 to 32 in which the content of the curing monomer is 15% by weight or less are not only chemical resistance , p-mentane was also excellent in cleaning properties (○). Therefore, it was confirmed that by increasing the content of the base polymer to more than 80% by weight and reducing the content of the curing monomer to less than 20% by weight, it was possible to form an adhesive layer having not only high chemical resistance but also high cleaning properties.

<접착층의 동적 복소 탄성률 측정 시험><Test for measuring dynamic complex elastic modulus of adhesive layer>

상기 서술한 실시예 2, 6 의 접착층제 조성물과, 비교예 1, 2 의 접착제 조성물에 대해, 각각에 의해 형성되는 접착층에 있어서의 동적 복소 탄성률 (E*) 을 측정하였다.About the adhesive layer composition of Examples 2 and 6 mentioned above, and the adhesive composition of Comparative Examples 1 and 2, the dynamic complex elastic modulus (E*) in the adhesive layer formed by each was measured.

실시예 2 의 접착제 조성물을, 고형분 농도 25 % 이상이 되도록 조정하고, 6 인치의 Si 웨이퍼에 대하여 스핀 코트하고, 90 ℃ 및 140 ℃ 에서 각 5 분간 베이크하고, 질소 분위기하, 200 ℃ 에서 1 시간 처리하여 50 ㎛ 의 접착층 (막) 을 형성하였다. 그 막을 20 ㎜ (측정폭은 10 ㎜ 에 맞춘다) × 5 ㎜ 의 크기로 잘라내어 시험편으로 하였다. 동적 복소 탄성률 (E*) 은, 동적 점탄성 측정 장치 Rheologel-E4000 (UBM 주식회사 제조) 을 사용하여, 주파수 1 ㎐ 의 조건으로, 5 ℃/분의 승온 속도로, 50 ℃ 에서 250 ℃ 까지 온도를 상승시키면서, 측정하였다. 결과를 표 9 에 나타낸다. 또한, 실시예 6, 비교예 1, 및 비교예 2 의 접착제 조성물을 사용한 접착층에 대해서도, 실시예 2 의 접착제 조성물과 동일한 조건으로, 동적 복소 탄성률을 측정하였다. 측정 결과를 이하의 표 6 에 나타낸다.The adhesive composition of Example 2 was adjusted so as to have a solid content concentration of 25% or more, spin-coated on a 6-inch Si wafer, and baked at 90°C and 140°C for 5 minutes each, and under a nitrogen atmosphere at 200°C for 1 hour Treatment to form a 50 µm adhesive layer (film). The film was cut out to a size of 20 mm (measured width is adjusted to 10 mm) x 5 mm to obtain a test piece. The dynamic complex elastic modulus (E*), using a dynamic viscoelasticity measuring device Rheologel-E4000 (manufactured by UBM Co., Ltd.), increases the temperature from 50°C to 250°C at a heating rate of 5°C/min under conditions of a frequency of 1 Hz While making the measurement. Table 9 shows the results. In addition, about the adhesive layer using the adhesive composition of Example 6, Comparative Example 1, and Comparative Example 2, the dynamic complex elastic modulus was measured under the same conditions as the adhesive composition of Example 2. The measurement results are shown in Table 6 below.

Figure 112017021350610-pat00016
Figure 112017021350610-pat00016

표 6 에 나타내는 바와 같이, 실시예 2, 6 에 대해서는, 250 ℃ 라는 고온에 있어서 높은 동적 복소 탄성률을 유지할 수 있는 것을 확인할 수 있었다. 한편, 비교예 1, 2 의 접착제 조성물을 사용하여 형성한 접착층은, 200 ℃ 이상의 고온에 있어서, 샘플의 연화가 현저하여, 동적 복소 탄성률을 정확하게 측정할 수 없었다. 이에 따라, 경화 모노머를 경화시킨 접착층은, 경화 모노머를 첨가하고 있지 않은 접착층과 비교하여, 특히, 200 ℃ 이상의 고온 환경에 있어서 압력이 가해져도, 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있는 것을 확인할 수 있었다.As shown in Table 6, for Examples 2 and 6, it was confirmed that a high dynamic complex elastic modulus can be maintained at a high temperature of 250°C. On the other hand, in the adhesive layer formed using the adhesive composition of Comparative Examples 1 and 2, at a high temperature of 200°C or higher, the sample was remarkably softened, and the dynamic complex elastic modulus could not be accurately measured. Accordingly, it was confirmed that the adhesive layer obtained by curing the curing monomer can prevent deformation even when pressure is applied in a high-temperature environment of 200°C or higher compared to the adhesive layer to which the curing monomer is not added. .

<접착층에 포함되는 베이스 폴리머의 평가><Evaluation of the base polymer contained in the adhesive layer>

비교예 2 에 있어서의 베이스 폴리머인 S2004 를 시클로올레핀 폴리머로 치환한 비교예 3 의 접착제 조성물, 및, 실시예 22 에 있어서의 베이스 폴리머인 S2004 를 시클로올레핀 폴리머로 치환한 비교예 4 의 접착제 조성물을 조제하였다. 또, 실시예 22 와 동일한 순서로 비교예 4 의 접착층을 형성하고, 비교예 2 와 동일한 순서로 비교예 3 의 접착층을 형성하였다. 그 후, 실시예 22 및 비교예 2 ∼ 4 의 접착층에 있어서의 동적 복소 탄성률 (E*) 의 측정을 실시하였다. 또, 비교예 2 의 접착제 조성물과, 비교예 3 의 접착제 조성물에 대해, 각각에 의해 형성되는 접착층에 있어서의 용해 속도를 측정하였다.The adhesive composition of Comparative Example 3 in which S2004, which is the base polymer in Comparative Example 2, was substituted with a cycloolefin polymer, and the adhesive composition of Comparative Example 4, in which S2004, which is the base polymer in Example 22, was substituted with a cycloolefin polymer. Prepared. Further, the adhesive layer of Comparative Example 4 was formed in the same procedure as in Example 22, and the adhesive layer of Comparative Example 3 was formed in the same procedure as in Comparative Example 2. Then, the dynamic complex elastic modulus (E*) in the adhesive layer of Example 22 and Comparative Examples 2-4 was measured. Moreover, about the adhesive composition of Comparative Example 2 and the adhesive composition of Comparative Example 3, the dissolution rate in the adhesive layer formed by each was measured.

비교예 3 및 4 의 접착제 조성물의 조성을 표 7 에 나타낸다. 또한, 비교예 3 및 4 의 베이스 폴리머로는, 이하의 화학식 (12) 로 나타내내는 시클로올레핀 폴리머:미츠이 화학 주식회사 제조, 「APL8008T (상품명)」 (하기 화학식 (12), Mw = 100,000, Mw/Mn = 2.1, m:n = 80:20 (몰비)) 를 사용하였다.The composition of the adhesive composition of Comparative Examples 3 and 4 is shown in Table 7. In addition, as the base polymer of Comparative Examples 3 and 4, a cycloolefin polymer represented by the following general formula (12): manufactured by Mitsui Chemicals, "APL8008T (brand name)" (the following general formula (12), Mw = 100,000, Mw/ Mn = 2.1, m:n = 80:20 (molar ratio)) was used.

[화학식 11][Formula 11]

Figure 112017021350610-pat00017
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Figure 112017021350610-pat00018
Figure 112017021350610-pat00018

(접착층의 동적 복소 탄성률 측정 시험)(Test for measuring dynamic complex elastic modulus of adhesive layer)

실시예 22, 비교예 3 및 비교예 4 의 접착제 조성물을 사용한 접착층에 대해, 상기 서술한 비교예 2 의 접착제 조성물과 동일한 조건으로, 동적 복소 탄성률을 측정하였다. 측정 결과를 이하의 표 8 에 나타낸다.For the adhesive layers using the adhesive compositions of Example 22, Comparative Example 3, and Comparative Example 4, the dynamic complex modulus was measured under the same conditions as those of the adhesive composition of Comparative Example 2 described above. The measurement results are shown in Table 8 below.

Figure 112017021350610-pat00019
Figure 112017021350610-pat00019

표 8 에 나타내는 바와 같이, 실시예 22 및 비교예 4 의 접착층에 있어서의 동적 복소 탄성률을 비교하면, 50 ℃ 의 조건에서는, 비교예 4 의 접착층 쪽이 보다 높은 동적 복소 탄성률을 나타내고 있지만, 보다 높은 온도인 150 ℃ 의 조건에서는, 실시예 22 의 접착층 쪽이, 보다 높은 동적 복소 탄성률을 나타내고 있다. 이로부터, 실시예 22 의 접착층 쪽이, 보다 높은 온도 조건에 있어서도, 높은 동적 복소 탄성률을 유지할 수 있는 것을 확인할 수 있었다. 또한, 비교예 2 와 비교예 3 에 있어서의 접착층의 동적 복소 탄성률을 비교해도, 블록 공중합체를 사용한 비교예 2 의 접착층 쪽이, 보다 높은 온도에 있어서, 보다 높은 동적 복소 탄성률을 유지하고 있다. 이 때문에, 접착제 조성물은, 베이스 폴리머로서, 블록 공중합체를 사용하는 쪽이, 높은 온도 영역에 있어서 높은 동적 복소 탄성률을 유지할 수 있는 것을 확인할 수 있었다.As shown in Table 8, when comparing the dynamic complex elastic modulus in the adhesive layers of Example 22 and Comparative Example 4, under the condition of 50°C, the adhesive layer of Comparative Example 4 exhibited a higher dynamic complex elastic modulus, but higher Under the condition of 150°C, which is a temperature, the adhesive layer of Example 22 exhibited a higher dynamic complex elastic modulus. From this, it was confirmed that the adhesive layer of Example 22 was able to maintain a high dynamic complex elastic modulus even under a higher temperature condition. In addition, even when comparing the dynamic complex elastic modulus of the adhesive layer in Comparative Example 2 and Comparative Example 3, the adhesive layer of Comparative Example 2 using a block copolymer maintains a higher dynamic complex elastic modulus at a higher temperature. For this reason, it was confirmed that the use of the block copolymer as the base polymer for the adhesive composition could maintain a high dynamic complex elastic modulus in a high temperature range.

(용해 속도의 측정) (Measurement of dissolution rate)

비교예 2 및 3 의 접착제 조성물을 실시예 1 과 동일한 조건으로 유리 지지체에 도포하고, 동일한 조건으로 베이크함으로써, 접착층을 형성하였다 (막두께 5 ㎛). 접착제층이 형성된 지지체를, 25 ℃ 로 유지한 p-멘탄에 침지시키고, 접착제층이 완전히 용해될 때까지의 시간을 측정하였다. 이 용해 시간 (T (sec)) 과, 미리 측정해 둔 접착제층의 두께 (L (㎚)) 로부터 용해 속도 (L/T (㎚/sec)) 를 산출하였다. 용해 속도의 측정 결과를 표 9 에 나타낸다.The adhesive compositions of Comparative Examples 2 and 3 were applied to a glass support under the same conditions as in Example 1, and baked under the same conditions to form an adhesive layer (film thickness of 5 μm). The support on which the adhesive layer was formed was immersed in p-mentane maintained at 25°C, and the time until the adhesive layer was completely dissolved was measured. The dissolution rate (L/T (nm/sec)) was calculated from this dissolution time (T (sec)) and the thickness (L (nm)) of the adhesive layer measured in advance. Table 9 shows the measurement results of the dissolution rate.

Figure 112017021350610-pat00020
Figure 112017021350610-pat00020

표 9 에 나타내는 바와 같이, 블록 공중합체를 베이스 폴리머로서 사용한 비교예 2 의 쪽이, 시클로올레핀계 수지를 베이스 폴리머로서 사용한 비교예 3 보다 용해 속도가 빠른 결과가 되었다. 이 결과로부터, 시클로올레핀 폴리머보다 블록 공중합체를 베이스 폴리머로서 사용한 접착층 쪽이 보다 신속히 세정에 의해 제거할 수 있는 것은 분명하다.As shown in Table 9, in Comparative Example 2 in which the block copolymer was used as the base polymer, the dissolution rate was faster than in Comparative Example 3 in which the cycloolefin-based resin was used as the base polymer. From this result, it is clear that the adhesive layer using the block copolymer as the base polymer can be removed by washing more quickly than the cycloolefin polymer.

본 발명은, 특히 팬 아웃형 기술에 의한 반도체 장치의 제조에 있어서 적합하게 이용할 수 있다.The present invention can be particularly suitably used in the manufacture of a semiconductor device by a fan-out technique.

1 : 지지체
3 : 접착층
4 : 배선층
5 : 소자
6 : 봉지재
7, 7' : 봉지체
8, 8', 9, 9' :적층체
1: support
3: adhesive layer
4: wiring layer
5: element
6: Encapsulant
7, 7': encapsulant
8, 8', 9, 9': laminate

Claims (20)

소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지 (封止) 하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 상기 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체에 있어서의, 상기 접착층을 형성하기 위한 접착제 조성물로서,
상기 접착제 조성물은,
블록 공중합체와,
중합성 모노머와,
중합 개시제를 포함하고,
상기 블록 공중합체는, 디블록 공중합체, 트리블록 공중합체, 또는 이들의 조합이며, 스티렌 블록을 갖고 있는 것을 특징으로 하는 접착제 조성물.
In a laminate comprising a wiring layer on which an element is mounted, and an encapsulant comprising an encapsulant that encapsulates the element and the element on a support supporting the encapsulant through an adhesive layer, Of, as an adhesive composition for forming the adhesive layer,
The adhesive composition,
A block copolymer,
A polymerizable monomer,
It contains a polymerization initiator,
The block copolymer is a diblock copolymer, a triblock copolymer, or a combination thereof, and an adhesive composition comprising a styrene block.
제 1 항에 있어서,
상기 블록 공중합체는, 양 말단에 스티렌 블록을 갖고 있는 트리블록 공중합체인 것을 특징으로 하는 접착제 조성물.
The method of claim 1,
The adhesive composition, wherein the block copolymer is a triblock copolymer having styrene blocks at both ends.
제 1 항에 있어서,
상기 블록 공중합체와 상기 중합성 모노머의 합계량에 대한 상기 중합성 모노머의 양이 1 중량% 이상, 50 중량% 이하의 범위 내인 것을 특징으로 하는 접착제 조성물.
The method of claim 1,
An adhesive composition, wherein the amount of the polymerizable monomer is in a range of 1% by weight or more and 50% by weight or less with respect to the total amount of the block copolymer and the polymerizable monomer.
제 1 항에 있어서,
상기 블록 공중합체의 스티렌 블록의 함유량은 10 중량% 이상, 65 중량% 이하인 것을 특징으로 하는 접착제 조성물.
The method of claim 1,
The adhesive composition, wherein the block copolymer has a styrene block content of 10% by weight or more and 65% by weight or less.
제 1 항에 있어서,
상기 블록 공중합체의 중량 평균 분자량은 50,000 이상, 150,000 이하인 것을 특징으로 하는 접착제 조성물.
The method of claim 1,
Adhesive composition, characterized in that the weight average molecular weight of the block copolymer is 50,000 or more and 150,000 or less.
제 1 항에 있어서,
상기 중합성 모노머는, (메트)아크릴산에스테르인 것을 특징으로 하는 접착제 조성물.
The method of claim 1,
The adhesive composition, wherein the polymerizable monomer is a (meth)acrylic acid ester.
제 6 항에 있어서,
상기 (메트)아크릴산에스테르는, 다관능의 (메트)아크릴산에스테르인 것을 특징으로 하는 접착제 조성물.
The method of claim 6,
The (meth)acrylic acid ester is an adhesive composition characterized in that it is a polyfunctional (meth)acrylic acid ester.
제 1 항에 있어서,
상기 중합 개시제는, 열 중합 개시제 또는 광 중합 개시제인 것을 특징으로 하는 접착제 조성물.
The method of claim 1,
The said polymerization initiator is a thermal polymerization initiator or a photoinitiator, The adhesive composition characterized by the above-mentioned.
소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 상기 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체로서,
상기 접착층은,
블록 공중합체와,
중합성 모노머의 중합체와,
중합 개시제를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 적층체.
A laminate comprising a wiring layer on which an element is mounted, and an encapsulant including the element and an encapsulant for encapsulating the element, on a support supporting the encapsulant through an adhesive layer,
The adhesive layer,
A block copolymer,
A polymer of a polymerizable monomer, and
A laminate comprising a polymerization initiator.
제 9 항에 있어서,
상기 블록 공중합체는, 디블록 공중합체, 트리블록 공중합체, 또는 이들의 조합이며, 스티렌 블록을 갖고 있는 것을 특징으로 하는 적층체.
The method of claim 9,
The block copolymer is a diblock copolymer, a triblock copolymer, or a combination thereof, and has a styrene block.
제 10 항에 있어서,
상기 블록 공중합체는, 양 말단에 스티렌 블록을 갖고 있는 트리블록 공중합체인 것을 특징으로 하는 적층체.
The method of claim 10,
The layered product, wherein the block copolymer is a triblock copolymer having styrene blocks at both ends.
제 9 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 블록 공중합체와 상기 중합성 모노머의 중합체의 합계량에 대한 상기 중합성 모노머의 중합체의 양이 1 중량% 이상, 50 중량% 이하의 범위 내인 것을 특징으로 하는 적층체.
The method according to any one of claims 9 to 11,
A layered product, wherein the amount of the polymer of the polymerizable monomer relative to the total amount of the block copolymer and the polymer of the polymerizable monomer is in a range of 1% by weight or more and 50% by weight or less.
제 10 항 또는 제 11 항에 있어서,
상기 블록 공중합체의 스티렌 블록의 함유량은 10 중량% 이상, 65 중량% 이하인 것을 특징으로 하는 적층체.
The method of claim 10 or 11,
The layered product, wherein the block copolymer has a styrene block content of 10% by weight or more and 65% by weight or less.
제 9 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 블록 공중합체의 중량 평균 분자량은 50,000 이상, 150,000 이하인 것을 특징으로 하는 적층체.
The method according to any one of claims 9 to 11,
The weight average molecular weight of the block copolymer is 50,000 or more and 150,000 or less.
제 9 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 중합성 모노머의 중합체는, (메트)아크릴산에스테르의 중합체인 것을 특징으로 하는 적층체.
The method according to any one of claims 9 to 11,
The layered product, wherein the polymer of the polymerizable monomer is a polymer of (meth)acrylic acid ester.
제 15 항에 있어서,
상기 (메트)아크릴산에스테르의 중합체는, 다관능의 (메트)아크릴산에스테르의 중합체인 것을 특징으로 하는 적층체.
The method of claim 15,
The (meth)acrylic acid ester polymer is a multifunctional (meth)acrylic acid ester polymer.
소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 상기 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체의 제조 방법으로서,
상기 지지체 상에, 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 기재된 접착제 조성물을 도포함으로써 상기 접착층을 형성하는 접착층 형성 공정을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 적층체의 제조 방법.
A method for manufacturing a laminate comprising a wiring layer on which an element is mounted, and an encapsulant comprising the element and an encapsulant for encapsulating the element, which is laminated on a support for supporting the encapsulant via an adhesive layer, comprising:
A method for producing a laminate, comprising a step of forming an adhesive layer by applying the adhesive composition according to any one of claims 1 to 8 on the support.
소자가 실장되는 배선층과, 상기 소자와, 상기 소자를 봉지하는 봉지재를 구비하고 있는 봉지체를, 상기 봉지체를 지지하는 지지체 상에 접착층을 개재하여 적층하여 이루어지는 적층체의 제조 방법으로서,
상기 지지체 상에, 제 8 항에 기재된 접착제 조성물을 도포하고, 가열 또는 노광함으로써 상기 접착층을 형성하는 접착층 형성 공정을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 적층체의 제조 방법.
A method for manufacturing a laminate comprising a wiring layer on which an element is mounted, and an encapsulant comprising the element and an encapsulant for encapsulating the element, which is laminated on a support for supporting the encapsulant via an adhesive layer, comprising:
A method for producing a laminate, comprising a step of forming the adhesive layer by applying the adhesive composition according to claim 8 on the support and heating or exposing it to light.
제 17 항에 기재된 적층체의 제조 방법에 의해, 적층체를 제조하는 적층체 제조 공정을 포함하고 있고,
상기 적층체에 있어서, 상기 지지체는 광을 투과하는 지지체이고, 당해 지지체와 상기 접착층의 사이에는, 광을 흡수함으로써 변질되는 분리층이 형성되어 있고,
적층체 제조 공정 후, 상기 지지체를 통해서 상기 분리층에 광을 조사함으로써, 상기 분리층을 변질시켜, 적층체로부터 상기 지지체를 분리하는 분리 공정과,
상기 봉지체측에 잔류하는 접착층을, 탄화수소계 용제에 의해 제거하는 세정 공정을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 봉지체의 제조 방법.
By the method for producing a laminate according to claim 17, a laminate manufacturing process for producing a laminate is included,
In the above laminate, the support is a support that transmits light, and a separation layer that is deteriorated by absorbing light is formed between the support and the adhesive layer,
After the laminate manufacturing process, by irradiating light to the separating layer through the support to denature the separating layer, a separating step of separating the support from the laminate,
And a washing step of removing the adhesive layer remaining on the side of the sealing member with a hydrocarbon-based solvent.
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7033915B2 (en) * 2017-12-28 2022-03-11 東京応化工業株式会社 Adhesive composition, laminate and its manufacturing method, and manufacturing method of electronic parts
JP6832462B1 (en) * 2019-12-27 2021-02-24 東京応化工業株式会社 Adhesive composition, laminate, method for manufacturing laminate, and method for manufacturing electronic components
CN113948685B (en) * 2021-09-09 2023-11-28 广州理文科技有限公司 Silicon-based composite negative electrode material of lithium ion battery and preparation method thereof
CN114228166B (en) * 2021-10-26 2024-02-02 深圳市优凯特粘胶制品有限公司 Preparation process of shading diffusion composite membrane
CN114605945B (en) * 2022-04-11 2023-09-26 惠州瑞德新材料科技股份有限公司 High-temperature-resistant adhesive for electronic components and preparation method thereof

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001207154A (en) 2000-01-27 2001-07-31 Toyo Chem Co Ltd Covering tape
JP2003137914A (en) * 2001-11-01 2003-05-14 Hitachi Chem Co Ltd Acrylic resin composition and adhesive for semiconductor
JP2010077384A (en) 2008-03-24 2010-04-08 Aica Kogyo Co Ltd Curable composition, and film laminate
JP2014070257A (en) 2012-09-28 2014-04-21 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Laminate body manufacturing method, and separation layer forming device
JP2016011361A (en) 2014-06-27 2016-01-21 東京応化工業株式会社 Composition for peeling and peeling method

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4133731A (en) * 1978-03-03 1979-01-09 Shell Oil Company Radiation cured, high temperature adhesive composition
JP4565804B2 (en) 2002-06-03 2010-10-20 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Laminate including ground substrate, method for producing the same, method for producing ultrathin substrate using laminate, and apparatus therefor
JP5016296B2 (en) * 2006-11-22 2012-09-05 東京応化工業株式会社 Adhesive composition and adhesive film
JP2010053347A (en) 2008-07-31 2010-03-11 Jsr Corp Light-diffusing pressure-sensitive adhesive composition, light-diffusing pressure-sensitive adhesive sheet and method for producing the same
JP5049366B2 (en) 2010-03-29 2012-10-17 富士フイルム株式会社 Laser engraving flexographic printing plate precursor
JP5680128B2 (en) * 2012-04-13 2015-03-04 東京応化工業株式会社 Adhesive composition, adhesive film, and application method
JP6216575B2 (en) * 2012-10-25 2017-10-18 東京応化工業株式会社 Adhesive composition and adhesive film
JP6244088B2 (en) 2012-11-29 2017-12-06 東京応化工業株式会社 Adhesive composition, adhesive film and laminate
KR20150135300A (en) * 2013-03-27 2015-12-02 가부시키가이샤 구라레 Laminate, protective film and mehod for manufacturing laminate
JP6371615B2 (en) * 2014-07-11 2018-08-08 綜研化学株式会社 Adhesive composition, adhesive sheet, laminate, image display device and input / output device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001207154A (en) 2000-01-27 2001-07-31 Toyo Chem Co Ltd Covering tape
JP2003137914A (en) * 2001-11-01 2003-05-14 Hitachi Chem Co Ltd Acrylic resin composition and adhesive for semiconductor
JP2010077384A (en) 2008-03-24 2010-04-08 Aica Kogyo Co Ltd Curable composition, and film laminate
JP2014070257A (en) 2012-09-28 2014-04-21 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Laminate body manufacturing method, and separation layer forming device
JP2016011361A (en) 2014-06-27 2016-01-21 東京応化工業株式会社 Composition for peeling and peeling method

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