KR102243996B1 - 커넥터 검사 장치, 커넥터 모듈 - Google Patents

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Abstract

커넥터 검사 장치는 제1 본체부와 단자와 커넥터 모듈을 포함한다. 커넥터 모듈은 제2 본체부와 접촉부와 커넥터를 포함한다. 커넥터는 검사 대상인 커넥터의 카운터파트 커넥터이다. 커넥터 모듈이 제1 본체부에 부착되어 있는 상태에서, 단자와 접촉부가 서로 접촉하고, 또한 단자는 접촉부를 경유하여 커넥터의 콘택트핀과 전기적으로 접속되어 있다.

Description

커넥터 검사 장치, 커넥터 모듈{CONNECTOR INSPECTION APPARATUS AND CONNECTOR MODULE}
본 개시는 커넥터 검사 장치와 커넥터 모듈에 관한 것이다.
커넥터의 검사, 예를 들면 커넥터의 결함 또는 특성의 검사에 사용되는 커넥터 검사 장치가 알려져 있다. 선행기술로서 특허문헌 1(국제공개 WO2018/116568호 공보) 및 특허문헌 2(일본국 특개 2004-170182호 공보)를 예시할 수 있다. 이들 커넥터 검사 장치는 커넥터의 콘택트핀과 접촉하는 단자(특허문헌 1에서 언급되는 부호 16과 특허문헌 2에서 언급되는 부호 11을 참조)를 포함한다. 본원 명세서의 도 1은 특허문헌 1의 도 8b의 복사이며, 본원 명세서의 도 2는 특허문헌 2의 도 3의 복사이다.
커넥터 검사 장치는 특정의 커넥터를 위해 설계된다. 예를 들면 커넥터 검사 장치의 단자의 배치는 검사 대상인 커넥터의 콘택트핀의 배치를 고려하여 결정된다. 따라서, 통상적으로 하나의 커넥터 검사 장치를 상이한 콘택트핀의 배치를 가지는 상이한 커넥터에 대하여 공통적으로 사용할 수는 없다. 즉, 검사 대상의 커넥터의 변경에 따라, 커넥터 검사 장치를 새롭게 설계할 필요가 있다.
또한 콘택트핀과의 적절한 접촉을 실현하는 관점에서, 커넥터 검사 장치의 단자는 통상적으로 스프링 구조와 연결하는 플런저이다. 따라서, 검사 대상인 커넥터의 콘택트핀의 간격이 좁은 경우, 스프링 구조와 연결하는 플런저인 단자를 콘택트핀의 간격의 좁음에 대응하여 적절하게 설계하는 것은 곤란하다.
이와 같은 기술배경에 기초하여, 단자의 설계가 검사 대상의 커넥터에 영향을 받지 않는 커넥터 검사 장치 및 커넥터 모듈이 제공된다.
여기서 서술하는 기술 사항은 청구의 범위에 기재된 발명을 명시적으로 또는 묵시적으로 한정하기 위해서가 아니며, 또한 본 발명에 의해 이익을 받는 자(예를 들면 출원인과 권리자) 이외의 자에 의한 그러한 한정을 용인할 가능성의 표명도 아니며, 단지 본 발명의 요점을 용이하게 이해하기 위해서 기재된다. 다른 관점에서의 본 발명의 개요는 예를 들면 이 특허출원의 출원시의 청구범위로부터 이해할 수 있다.
검사 대상인 제1 커넥터를 제조하는 경우, 통상적으로 제1 커넥터의 카운터파트(counterpart)인 제2 커넥터도 제조된다. 본 발명은 이 사실을 잘 활용한다.
개시되는 커넥터 검사 장치는 검사 대상인 제1 커넥터의 카운터파트인 제2 커넥터를 부착할 수 있는 구조를 가진다. 구체적으로는 개시되는 커넥터 검사 장치는 제1 본체부와, 제1 본체부에 포함되는 단자와, 제1 본체부에 부착되는 모듈을 포함한다. 모듈은 제2 본체부와, 제2 본체부에 고정된 제2 커넥터를 포함한다. 모듈이 제1 본체부에 부착되어 있는 상태에서, 단자와 제2 커넥터와의 도통이 확보되어 있다.
개시되는 커넥터 모듈은 상기 모듈에 상당한다.
본 발명에 의하면, 커넥터 검사 장치에 있어서, 단자를 포함하는 제1 본체부는 검사 대상인 커넥터의 카운터파트인 커넥터가 고정되어 있는 제2 본체부로부터 독립된 부품이므로, 단자의 설계는 검사 대상의 커넥터에 영향을 받지 않는다.
도 1은 특허문헌 1의 도 8b이다.
도 2는 특허문헌 2의 도 3이다.
도 3은 커넥터 모듈이 부착되어 있지 않은 상태의 커넥터 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 3에 나타내는 커넥터 모듈의 배면을 나타내는 도면이다.
도 5는 커넥터 모듈에 고정되어 있는 커넥터를 나타내는 도면이다.
도 6은 커넥터 모듈이 부착된 커넥터 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 3~6을 참조하여, 실시형태의 커넥터 검사 장치(100)의 구조 및 커넥터 검사 장치(100)의 구성 요소가 될 수 있는 커넥터 모듈(200)의 구조를 설명한다.
커넥터 검사 장치(100)는 제1 본체부(101)와, 제1 본체부(101)가 포함하는 L개의 도전성의 단자(103)와, 제1 본체부(101)에 부착할 수 있는 커넥터 모듈(200)을 포함한다. L은 1 이상의 미리 정해진 정수이다. 이 실시형태에서는 L개의 로드 형상의 단자(103)는 기둥 형상의 제1 본체부(101)의 하면에 형성되어 있는 오목부(101a)의 바닥면(101b)으로부터 돌출되어 있다. 또 이 실시형태에서는 바닥면(101b)으로부터 2개의 위치결정핀(105)이 돌출되어 있다.
<제1 본체부>
제1 본체부(101)는 커넥터 모듈(200)이 제1 본체부(101)에 부착된 상태에서 검사 대상의 커넥터를 검사하는 커넥터 검사 장치로서 기능하는 디바이스이다. 만약을 위해 서술하면, 이 명제의 부정은 반드시 참은 아니다. 즉, 제1 본체부(101)는 반드시 「커넥터 모듈(200)이 제1 본체부(101)에 부착되어 있지 않은 상태에서는 커넥터 검사 장치로서 기능하지 않는 디바이스」는 아니다.
즉, 제1 본체부(101)는 예를 들면 선행기술의 커넥터 검사 장치 바로 그것이어도 된다. 이 경우, 제1 본체부(101)가 포함하는 단자(103)는 선행기술의 커넥터 검사 장치가 가지는 이미 서술한 단자에 상당한다. 이미 서술한 바와 같이, 당해 단자는 선행기술에서는 검사 대상의 커넥터의 콘택트핀과 접촉하는 부위이다. 그러나, 후술하는 바와 같이, 제1 본체부(101)가 포함하는 단자(103)는 검사 대상의 커넥터(도시하지 않음)의 콘택트핀과 직접적으로 접촉하지 않는다. 이 실시형태에서는 제1 본체부(101)가 선행기술의 커넥터 검사 장치 바로 그것이라고 해도, 제1 본체부(101)가 단독으로 검사 대상의 커넥터의 검사에 사용되지 않는 것에 주의해야 한다. 제1 본체부(101)는 선행기술의 커넥터 검사 장치에 한정되지 않고, 커넥터 모듈(200)의 구조를 고려하여 설계된 디바이스여도 된다.
이 실시형태에서는 제1 본체부(101)는 선행기술의 커넥터 검사 장치이며, L개의 단자(103)의 각각은 플런저이다. 플런저가 연결되는 스프링 구조 및 플런저와 스프링 구조와의 콤비네이션을 내장하는 선행기술의 커넥터 검사 장치의 구조는 잘 알려져 있으므로, 상세한 설명을 생략한다. 제1 본체부(101)가 커넥터 모듈(200)을 확실히 유지할 수 있는 구조를 가지는 것 이외에, 제1 본체부(101)의 구조에 한정은 없다.
<커넥터 모듈>
커넥터 모듈(200)은 제2 본체부(201)와, M개의 접촉부(203)와, 커넥터(250)를 포함한다. M은 1 이상의 미리 정해진 정수이다.
제2 본체부(201)는 커넥터 모듈(200) 이외의 유체물에 즉 제1 본체부(101)에 제2 본체부(201)를 고정할 수 있는 구조를 가진다. 이 실시형태에서는 제2 본체부(201)는 직사각형 평판 형상의 기판이다. 제2 본체부(201)는 2개의 관통 구멍(205)을 가진다. 커넥터(250)는 제2 본체부(201)의 일방의 면에 위치하고 있다.
커넥터(250)는 제2 본체부(201)에 고정되어 있고, 또한 N개의 콘택트핀(251)을 가진다. N은 1 이상의 미리 정해진 정수이다. 커넥터(250)는 검사 대상인 커넥터(도시하지 않음)의 카운터파트 커넥터이다. 이 실시형태에서는 커넥터(250)는 플러그 커넥터이며, 검사 대상인 커넥터는 커넥터(250)와 끼워맞출 수 있는 리셉터클 커넥터이다.
상기 서술한 L, M, N에 대해서, M≤N, M≤L이 성립한다. M은 검사에 있어서 사용될 수 있는 도통 경로의 총 수이다. M≤N의 조건은 검사에 있어서 반드시 모든 콘택트핀이 사용되지 않는 사정에 기초한다. M≤L의 조건은 M≤L을 만족하는 선행기술의 커넥터 검사 장치를 제1 본체부(101)로서 사용할 수 있는 것을 나타내고 있다. 이 실시형태에서는 L=4, M=4, N=10이다.
이 실시형태에서는 M개의 접촉부(203)는 제2 본체부(201)의 타방의 면에 위치하고 있다. M개의 접촉부(203)의 각각은 1개의 콘택트핀(251)의 일부 또는 콘택트핀(251) 이외의 유체물이다.
접촉부(203)가 콘택트핀(251) 이외의 유체물인 경우, 이 유체물은 예를 들면 얇은 평판 형상의 단자이다(도 4 참조). 이 경우, 검사에서 사용할 수 있는 M개의 콘택트핀(251)은 M개의 접촉부(203)와 전기적으로 1대1로 접속되어 있다. 구체예로서 M개의 콘택트핀(251)의 단부(단, 이 단부는 콘택트핀(251)의 2개의 단부 중 검사 대상의 커넥터의 콘택트핀과 접촉하는 단부가 아닌 단부이다)는 제2 본체부(201)에 형성된 스루홀(213)과 제2 본체부(201)의 타방의 면에 형성된 도전선(211)을 경유하여 제2 본체부(201)의 타방의 면에 형성되거나 또는 설치된 M개의 접촉부(203)와 접속하고 있다. 스루홀(213)은 필요에 따라 형성된다.
접촉부(203)가 콘택트핀(251)의 일부인 경우(도시하지 않음), 검사에서 사용할 수 있는 M개의 콘택트핀(251)의 각각은 나머지 N-M개의 콘택트핀보다 긴 전체 길이를 가진다. 이들 M개의 콘택트핀(251)의 단부(단, 이 단부는 콘택트핀(251)의 2개의 단부 중 검사 대상의 커넥터의 콘택트핀과 접촉하는 단부가 아닌 단부이다)가 M개의 접촉부(203)이다. 구체예로서 제2 본체부(201)의 타방의 면으로부터 돌출되는 M개의 콘택트핀(251)은 절곡되어, M개의 콘택트핀(251)의 단부가 제2 본체부(201)의 타방의 면 상에 위치하거나 또는 타방의 면의 가까이에 위치한다.
<커넥터 검사 장치>
커넥터 모듈(200)은 이 실시형태에서는 제1 본체부(101)의 하면에 형성되어 있는 오목부(101a)에 부착된다. 이 때, 2개의 위치결정핀(105)이 2개의 관통 구멍(205)에 삽입됨으로써, 커넥터 모듈(200)의 위치결정이 실현된다.
부착 방법에 한정은 없고, 예를 들면 접착제를 사용하여 커넥터 모듈(200)을 제1 본체부(101)에 부착해도 된다. 이 경우, 제1 본체부(101)가 커넥터 모듈(200)을 유지할 수 있는 구조는 접착제가 도포되는 오목부(101a)의 바닥면(101b)이며, 제2 본체부(201)를 제1 본체부(101)에 고정할 수 있는 구조는 접착제가 도포되는 제2 본체부(201)의 타방의 면이다. 또 예를 들면 나사를 사용하여 커넥터 모듈(200)을 제1 본체부(101)에 부착해도 된다. 이 경우, 제1 본체부(101)가 커넥터 모듈(200)을 유지할 수 있는 구조는 오목부(101a)의 바닥면(101b)에 형성된 나사 구멍(도시하지 않음)이며, 제2 본체부(201)를 제1 본체부(101)에 고정할 수 있는 구조는 제2 본체부(201)에 형성된 나사 구멍(도시하지 않음)이다. 또한 예를 들면 걸음부와 피걸음부를 사용하여 커넥터 모듈(200)을 제1 본체부(101)에 부착해도 된다. 이 경우, 제1 본체부(101)가 커넥터 모듈(200)을 유지할 수 있는 구조는 오목 형상의 피걸음부(도시하지 않음)이며, 제2 본체부(201)를 제1 본체부(101)에 고정할 수 있는 구조는 돌기 형상의 걸음부(도시하지 않음)이다.
커넥터 모듈(200)이 제1 본체부(101)에 부착되어 있는 상태에서, M개의 접촉부(203)와 검사에서 사용할 수 있는 M개의 단자(103)는 서로 1대1로 직접적으로 접촉하고 있다. 즉, 커넥터 모듈(200)이 제1 본체부(101)에 부착되어 있는 상태에서, M개의 접촉부(203)와 이들 M개의 단자(103)는 서로 납땜되어 있지 않다. 상기 서술한 바와 같이, 이 실시형태에서는 커넥터 모듈(200)이 제1 본체부(101)에 부착되어 있는 상태에서, 검사에서 사용할 수 있는 M개의 단자(103)는 M개의 접촉부(203)를 경유하여 M개의 콘택트핀(251)과 전기적으로 1대1로 접속되어 있다.
이 실시형태로부터 분명한 바와 같이, 커넥터 검사 장치(100)에 있어서, 단자(103)는 검사 대상의 커넥터와 접촉하지 않는다. 또한 커넥터 검사 장치(100)에 있어서, 단자(103)를 포함하는 제1 본체부(101)는 검사 대상의 커넥터와 접촉하는 카운터파트 커넥터가 고정되어 있는 제2 본체부(201)로부터 독립된 부품이다. 따라서, 단자(103)의 설계는 검사 대상의 커넥터에 영향을 받지 않는다. 즉, 검사 대상인 커넥터의 콘택트핀의 간격 또는 배치에 따라 단자(103)의 설계를 변경할 필요가 없다. 또한 커넥터 모듈(200)을 제1 본체부(101)로부터 분리할 수 있는 구성인 경우, 유저는 검사 대상의 커넥터의 변경에 따라, 단자(103)와 검사 대상의 커넥터 사이에 존재하는 커넥터 모듈(200)을 변경하기만 하면 된다. 접촉부(203)와 콘택트핀(251) 사이의 전기적 도통은 프린트 기판 기술 또는 콘택트핀(251)의 성형 등의 기존의 기술로 달성할 수 있으므로, 커넥터 모듈(200)의 제조는 용이하다.
검사 대상의 커넥터가 고주파 신호의 전송에 사용되는 고주파 커넥터인 경우, 이 실시형태에 의하면, 땜납이 원인인 통과 특성의 혼란이 전혀 없다. 또 검사 대상의 커넥터가 고주파 커넥터인 경우, 바람직하게는 M개의 접촉점 중 i번째의 접촉점과, M개의 접촉부(203) 중 i번째의 접촉부(203) 사이의 전기적인 거리는 M개의 접촉점 중 j번째의 접촉점과, M개의 접촉부(203) 중 j번째의 접촉부 사이의 전기적인 거리와 동일하다. 단, 접촉점은 콘택트핀(251)의 한 부위로서, 또한 검사 대상의 커넥터와 접촉하는 부위이다. k번째의 접촉점은 k번째의 콘택트핀(251)에 속하고, k번째의 접촉부(203)는 k번째의 콘택트핀(251)과 접촉한다. 또 i∈{1, 2,…, M}, j∈{1, 2,…, M}, k∈{1, 2,…, M}이다. 접촉부(203)가 상기 서술한 바와 같이 단자인 경우, M개의 접촉점과 M개의 접촉부(203) 사이의 배선이 등지연 배선 또는 등장(等長) 배선이다. 접촉부(203)가 콘택트핀(251)의 일부인 경우, 마찬가지로 M개의 접촉점 중 i번째의 접촉점과, M개의 접촉부(203) 중 i번째의 접촉부(203) 사이의 전기적인 거리는 M개의 접촉점 중 j번째의 접촉점과, M개의 접촉부(203) 중 j번째의 접촉부 사이의 전기적인 거리와 동일하다. 단, k번째의 접촉점과 k번째의 접촉부(203)는 k번째의 콘택트핀(251)에 속한다.
또한 커넥터 검사 장치(100)는 검사에서 사용할 수 있는 M개의 단자(103)와 M개의 접촉부(203)의 접촉력을 향상시키는 탄성 구조를 포함해도 된다. 이 실시형태에서는 탄성 구조는 플런저인 단자(103)가 연결되는 스프링 구조이다. 접촉부(203)가 콘택트핀(251)의 일부인 경우, 탄성 구조는 절곡된 콘택트핀(251) 자체여도 된다. 즉, 이 경우, 절곡된 콘택트핀(251)이 판 스프링으로서 기능한다. 또는 접촉부(203)가 탄성 구조를 가지는 유체물 예를 들면 플런저 및 플런저에 연결하는 스프링 구조를 포함하는 기구(당업자에 의해 포고핀, 스프링핀, 스프링프로브 등으로 호칭된다)여도 된다.
커넥터(250)는 도시되는 기판 대 기판 커넥터에 한정되지 않는다. 또 커넥터(250)의 형상과 용도 등에 한정은 없다. 제2 본체부(201)의 형상에도 한정은 없으며, 따라서 제1 본체부(101)의 형상 및 검사에 있어서의 단자(103)와 검사 대상의 커넥터와의 위치 관계 등에 따라 적절히 제2 본체부(201)의 형상을 결정할 수 있다. 따라서, 제2 본체부(201)에 있어서의 커넥터(250)의 위치와 접촉부(203)의 위치에도 한정은 없다.
특별히 언급이 없는 한 「접속되었다」라는 용어와 이 모든 어형 변형은 2 또는 그 이상의 요소간의 직접적 또는 간접적인 접속을 의미하고, 서로 「접속」된 2개의 요소 사이에 1 또는 그 이상의 중간 요소가 존재하는 것을 포함할 수 있다. 요소와 요소의 접속은 필요에 따라 물리적 접속이어도 되고, 전기적 접속이어도 되며, 또는 이들의 조합이어도 된다.
서수사는 특별히 언급이 없는 한, 서수사의 정의에도 불구하고, 서수사로 수식되거나 또는 서수사와 결합하는 요소를 당해 요소의 순서 또는 당해 요소의 양으로 한정하는 것을 의도하지 않는다. 서수사의 사용은 특별한 언급이 없는 한, 단순히 2개 이상의 요소를 서로 구별하는 편리한 표현 방법으로서 사용된다. 따라서, 예를 들면 어구 「제1 X」와 어구 「제2 X」는 2개의 X를 구별하기 위한 표현이며, X의 총 수가 2인 것을 반드시 의미하지 않고, 또는 제1 X가 제2 X에 선행해야하는 것을 반드시 의미하지 않는다. 「제1」이라는 용어에 대해서 반드시 「최초」를 의미한다고는 한정되지 않는다.
용어 「포함한다」와 그 어형 변화는 비배타적 표현으로서 사용되고 있다. 예를 들면 「X는 A와 B를 포함한다」라는 문장은 X가 A와 B 이외의 구성 요소(예를 들면 C)를 포함하는 것을 부정하지 않는다. 또 어떤 문장이 용어 「포함한다」 또는 그 어형 변화가 부정사와 결합한 어구를 포함하는 경우, 당해 문장은 용어 「포함한다」 또는 그 어형 변화의 목적어에 대해서 언급하는 것 뿐이다. 따라서, 예를 들면 「X는 A와 B를 포함하지 않는다」라는 문장은 X가 A와 B 이외의 구성 요소를 포함할 가능성을 인정하고 있다. 또한 용어 「또는」은 배타적 논리합이 아닌 것이 의도된다.
이상, 본 발명의 실시예를 설명했는데, 본 발명은 이러한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변경 및 변형이 허용된다. 선택된 또한 설명된 실시예는 본 발명의 원리 및 그 실천적 응용을 설명하기 위한 것이다. 본 발명은 다양한 변경 또는 변형을 수반하여 다양한 실시형태로 사용되며, 다양한 변경 또는 변형은 예상되는 용도에 따라 결정된다. 그러한 변경 및 변형 모두는 첨부되는 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 범위에 포함되도록 의도되며, 공정하게, 적법하게 또한 공평하게 주어진 범위에 따라 해석되는 경우에 동일한 보호가 부여되도록 의도된다.
100…커넥터 검사 장치 101…제1 본체부
103…단자 105…위치결정핀
200…커넥터 모듈 201…제2 본체부
203…접촉부 205…관통 구멍
250…커넥터 251…콘택트핀

Claims (21)

  1. 커넥터 검사 장치로서,
    제1 본체부;
    상기 제1 본체부에 포함되는 1개 이상의 단자;
    상기 제1 본체부에 부착되는 모듈;
    을 포함하고,
    상기 모듈은
    제2 본체부;
    1개 이상의 접촉부;
    상기 제2 본체부에 고정되어 있고, 1개 이상의 콘택트핀을 가지고, 또한 검사 대상인 기판 대 기판 커넥터의 카운터파트 커넥터인 기판 대 기판 커넥터;
    를 포함하고,
    상기 모듈이 상기 제1 본체부에 부착되어 있는 상태에서, 상기 1개 이상의 단자와 상기 1개 이상의 접촉부가 서로 접촉하고 있고, 또한 상기 1개 이상의 단자는 상기 1개 이상의 접촉부를 경유하여 상기 1개 이상의 콘택트핀과 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 상기 1개 이상의 콘택트핀의 일부인 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 상기 1개 이상의 콘택트핀 이외의 유체물이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 상기 1개 이상의 접촉부와 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  4. 제1 항 내지 제3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 모듈이 상기 제1 본체부에 부착되어 있는 상태에서, 상기 1개 이상의 단자와 상기 1개 이상의 접촉부는 서로 납땜되어 있지 않은 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  5. 제1 항 내지 제3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    또한 상기 1개 이상의 단자와 상기 1개 이상의 접촉부와의 접촉력을 향상시키는 탄성 구조를 포함하는 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  6. 제4 항에 있어서,
    또한 상기 1개 이상의 단자와 상기 1개 이상의 접촉부와의 접촉력을 향상시키는 탄성 구조를 포함하는 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  7. 제1 항 내지 제3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2 본체부는 평판 형상을 가지고,
    상기 카운터파트 커넥터인 상기 기판 대 기판 커넥터는 상기 제2 본체부의 일방의 면에 위치하고 있고,
    상기 1개 이상의 접촉부는 상기 제2 본체부의 타방의 면에 위치하고 있는 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  8. 제4 항에 있어서,
    상기 제2 본체부는 평판 형상을 가지고,
    상기 카운터파트 커넥터인 상기 기판 대 기판 커넥터는 상기 제2 본체부의 일방의 면에 위치하고 있고,
    상기 1개 이상의 접촉부는 상기 제2 본체부의 타방의 면에 위치하고 있는 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  9. 제5 항에 있어서,
    상기 제2 본체부는 평판 형상을 가지고,
    상기 카운터파트 커넥터인 상기 기판 대 기판 커넥터는 상기 제2 본체부의 일방의 면에 위치하고 있고,
    상기 1개 이상의 접촉부는 상기 제2 본체부의 타방의 면에 위치하고 있는 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  10. 제6 항에 있어서,
    상기 제2 본체부는 평판 형상을 가지고,
    상기 카운터파트 커넥터인 상기 기판 대 기판 커넥터는 상기 제2 본체부의 일방의 면에 위치하고 있고,
    상기 1개 이상의 접촉부는 상기 제2 본체부의 타방의 면에 위치하고 있는 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  11. 제1 항 내지 제3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 2개 이상의 접촉부이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 2개 이상의 콘택트핀이며,
    상기 검사 대상인 상기 기판 대 기판 커넥터와 접촉하게 되는 상기 2개 이상의 콘택트핀의 부위와, 상기 2개 이상의 접촉부 사이의 전기적인 거리는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  12. 제4 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 2개 이상의 접촉부이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 2개 이상의 콘택트핀이며,
    상기 검사 대상인 상기 기판 대 기판 커넥터와 접촉하게 되는 상기 2개 이상의 콘택트핀의 부위와, 상기 2개 이상의 접촉부 사이의 전기적인 거리는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  13. 제5 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 2개 이상의 접촉부이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 2개 이상의 콘택트핀이며,
    상기 검사 대상인 상기 기판 대 기판 커넥터와 접촉하게 되는 상기 2개 이상의 콘택트핀의 부위와, 상기 2개 이상의 접촉부 사이의 전기적인 거리는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  14. 제6 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 2개 이상의 접촉부이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 2개 이상의 콘택트핀이며,
    상기 검사 대상인 상기 기판 대 기판 커넥터와 접촉하게 되는 상기 2개 이상의 콘택트핀의 부위와, 상기 2개 이상의 접촉부 사이의 전기적인 거리는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  15. 제7 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 2개 이상의 접촉부이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 2개 이상의 콘택트핀이며,
    상기 검사 대상인 상기 기판 대 기판 커넥터와 접촉하게 되는 상기 2개 이상의 콘택트핀의 부위와, 상기 2개 이상의 접촉부 사이의 전기적인 거리는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  16. 제8 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 2개 이상의 접촉부이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 2개 이상의 콘택트핀이며,
    상기 검사 대상인 상기 기판 대 기판 커넥터와 접촉하게 되는 상기 2개 이상의 콘택트핀의 부위와, 상기 2개 이상의 접촉부 사이의 전기적인 거리는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  17. 제9 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 2개 이상의 접촉부이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 2개 이상의 콘택트핀이며,
    상기 검사 대상인 상기 기판 대 기판 커넥터와 접촉하게 되는 상기 2개 이상의 콘택트핀의 부위와, 상기 2개 이상의 접촉부 사이의 전기적인 거리는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  18. 제10 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 2개 이상의 접촉부이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 2개 이상의 콘택트핀이며,
    상기 검사 대상인 상기 기판 대 기판 커넥터와 접촉하게 되는 상기 2개 이상의 콘택트핀의 부위와, 상기 2개 이상의 접촉부 사이의 전기적인 거리는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 커넥터 검사 장치.
  19. 커넥터 모듈로서,
    상기 커넥터 모듈을 상기 커넥터 모듈 이외의 유체물에 고정할 수 있는 구조를 가지는 본체부;
    1개 이상의 접촉부;
    상기 본체부에 고정되어 있고, 또한 1개 이상의 콘택트핀을 가지는 기판 대 기판 커넥터;
    를 포함하고,
    상기 1개 이상의 접촉부는 상기 1개 이상의 콘택트핀의 일부이거나,
    또는
    상기 1개 이상의 접촉부는 상기 1개 이상의 콘택트핀 이외의 유체물이며, 상기 1개 이상의 콘택트핀은 상기 1개 이상의 접촉부와 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 커넥터 모듈.
  20. 제19 항에 있어서,
    상기 유체물은 상기 커넥터 모듈이 고정된 상태에서 상기 기판 대 기판 커넥터의 카운터파트 커넥터인 기판 대 기판 커넥터를 검사하는 커넥터 검사 장치로서 기능하는 디바이스인 것을 특징으로 하는 커넥터 모듈.
  21. 제19 항 또는 제20 항에 있어서,
    상기 1개 이상의 접촉부는 2개 이상의 접촉부이며,
    상기 1개 이상의 콘택트핀은 2개 이상의 콘택트핀이며,
    상기 2개 이상의 콘택트핀의 소정 부위와, 상기 2개 이상의 접촉부 사이의 전기적인 거리는 서로 동일한 것을 특징으로 하는 커넥터 모듈.
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