KR102242553B1 - Photosensitive resin composition, and dry film photoresist, photosensitive element, circuit board, display device using the same - Google Patents

Photosensitive resin composition, and dry film photoresist, photosensitive element, circuit board, display device using the same Download PDF

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Abstract

The present invention relates to a photosensitive resin composition which uses an alkali developable binder resin including a repeating unit represented by Formula 1, a repeating unit represented by Formula 2, a repeating unit represented by Formula 3, and a repeating unit represented by Formula 4, and a dry film photoresist, a photosensitive element, a circuit board, and a display device using the same.

Description

감광성 수지 조성물 및 이를 이용한 드라이 필름 포토레지스트, 감광성 엘리먼트, 회로기판, 및 디스플레이 장치{PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND DRY FILM PHOTORESIST, PHOTOSENSITIVE ELEMENT, CIRCUIT BOARD, DISPLAY DEVICE USING THE SAME}Photosensitive resin composition and dry film photoresist using the same, photosensitive element, circuit board, and display device {PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND DRY FILM PHOTORESIST, PHOTOSENSITIVE ELEMENT, CIRCUIT BOARD, DISPLAY DEVICE USING THE SAME}

본 발명은 감광성 수지 조성물 및 이를 이용한 드라이 필름 포토레지스트, 감광성 엘리먼트, 회로기판, 및 디스플레이 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a photosensitive resin composition and a dry film photoresist using the same, a photosensitive element, a circuit board, and a display device.

감광성 수지 조성물은 인쇄회로기판(Printed Circuit Board; PCB)이나 리드 프레임(Lead Frame)에 사용되고 있는 드라이 필름 포토 레지스트(Dry Film Photoresist, DFR), 액상 포토 레지스트(Liquid Photoresist Ink) 등의 형태로 사용되고 있다.The photosensitive resin composition is used in the form of dry film photoresist (DFR), liquid photoresist ink, etc., which are used for printed circuit boards (PCBs) or lead frames. .

현재는 인쇄회로기판(PCB)나 리드 프레임 제조뿐만 아니라, 플라즈마 디스플레이 패널(PDP)의 립 베리어(Rib barrier)나 기타 디스플레이의 ITO 전극, 버스 어드레스(Bus Address) 전극, 블랙 매트릭스(Black Matrix) 제조 등에도 드라이 필름 포토 레지스트가 널리 사용되고 있다.Currently, not only manufacturing printed circuit boards (PCBs) and lead frames, but also manufacturing rib barriers of plasma display panels (PDPs), ITO electrodes, bus address electrodes, and black matrixes of other displays. Dry film photoresist is also widely used in the like.

이러한, 일반적으로 드라이 필름 포토레지스트는 동장적층판(Copper Clad Laminates) 상에 적층되는 용도로 많이 사용된다. 이와 관련하여 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)의 제조과정의 일 예로는, PCB의 원판소재인 동장적층판을 라미네이션하기 위해 먼저 전처리 공정을 거친다. 전처리공정은 외층공정에서는 드릴링, 디버링(deburing), 정면 등의 순이며, 내층공정에서는 정면 또는 산세를 거친다. 정면공정에서는 bristle brush 및 jet pumice 공정이 주로 사용되며, 산세는 soft etching 및 5wt% 황산 산세를 거칠 수 있다.In general, dry film photoresists are widely used for lamination on copper clad laminates. In this regard, as an example of a manufacturing process of a printed circuit board (PCB), a pre-treatment process is first performed in order to laminate a copper clad laminate, which is an original material of the PCB. The pretreatment process is in the order of drilling, deburing, and front in the outer layer process, and the front or pickling in the inner layer process. In the frontal process, bristle brush and jet pumice processes are mainly used, and the pickling can be done by soft etching and 5wt% sulfuric acid pickling.

전처리 공정을 거친 동장적층판에 회로를 형성시키기 위해서는 일반적으로 동장적층판의 구리층 위에 드라이 필름 포토레지스트(이하, DFR이라 함)을 라미네이션한다. 이 공정에서는 라미네이터를 이용하여 DFR의 보호 필름을 벗겨내면서 DFR의 포토레지스트층을 구리 표면 위에 라미네이션시킨다. 일반적으로 라미네이션 속도 0.5~3.5m/min, 온도 100~130℃, 로울러 압력 가열롤압력 10~90psi에서 진행한다.In order to form a circuit on the copper clad laminate that has undergone the pretreatment process, in general, a dry film photoresist (hereinafter referred to as DFR) is laminated on the copper layer of the copper clad laminate. In this process, a photoresist layer of DFR is laminated on the copper surface while peeling off the protective film of DFR using a laminator. Generally, the lamination speed is 0.5~3.5m/min, the temperature is 100~130℃, and the roller pressure is heated at 10~90psi.

라미네이션 공정을 거친 인쇄회로기판은 기판의 안정화를 위하여 15분 이상 방치한 후 원하는 회로패턴이 형성된 포토마스크를 이용하여 DFR의 포토레지스트에 대해 노광을 진행한다. 이 과정에서 포토마스크에 자외선을 조사하면 자외선이 조사된 포토레지스트는 조사된 부위에서 함유된 광개지제에 의해 중합이 개시된다. 먼저 초기에는 포토레지스트내의 산소가 소모되고, 다음 활성화된 모노머가 중합되어 가교반응이 일어나고 그 후 많은 양의 모노머가 소모되면서 중합반응이 진행된다. 한편 미노광부위는 가교 반응이 진행되지 않은 상태로 존재하게 된다.The printed circuit board that has undergone the lamination process is allowed to stand for 15 minutes or more for stabilization of the substrate, and then exposure to the photoresist of DFR is performed using a photomask having a desired circuit pattern formed thereon. In this process, when the photomask is irradiated with ultraviolet rays, the photoresist irradiated with ultraviolet rays starts polymerization by the photomodifier contained in the irradiated area. First, oxygen in the photoresist is consumed initially, and then the activated monomer is polymerized to cause a crosslinking reaction. After that, a large amount of the monomer is consumed, and the polymerization reaction proceeds. On the other hand, the unexposed portion exists in a state in which the crosslinking reaction has not progressed.

다음 포토레지스트의 미노광 부분을 제거하는 현상공정을 진행하는데, 알카리 현상성 DFR인 경우 현상액으로 0.8~1.2wt%의 포타슘카보네이트 및 소듐카보네이트 수용액이 사용된다. 이 공정에서 미노광 부분의 포토레지스트는 현상액내에서 결합제 고분자의 카르복시산과 현상액의 비누화 반응에 의해서 씻겨나가고, 경화된 포토레지스트는 구리표면 위에 잔류하게 된다.Next, a developing process is performed to remove the unexposed portion of the photoresist. In the case of alkali developable DFR, 0.8 to 1.2 wt% potassium carbonate and sodium carbonate aqueous solution are used as a developer. In this process, the unexposed photoresist is washed away by the saponification reaction between the carboxylic acid of the binder polymer and the developer in the developer, and the cured photoresist remains on the copper surface.

다음 내층 및 외층 공정에 따라 다른 공정을 거쳐 회로가 형성된다. 내층공정에서는 부식과 박리공정을 통하여 기판상에 회로가 형성되며 외층공정에서는 도금 및 텐팅공정을 거친 후 에칭과 솔더 박리를 진행하고 소정의 회로를 형성시킨다.Next, a circuit is formed through different processes depending on the inner and outer layer processes. In the inner layer process, a circuit is formed on the substrate through corrosion and peeling processes, and in the outer layer process, after plating and tenting processes, etching and solder peeling are performed, and a predetermined circuit is formed.

한편, 드라이 필름 포토레지스트를 동장적층판에의 라미네이션시 드라이 필름 포토레지스트의 점도가 지나치게 높을 경우, 동장적층판에 대한 드라이 필름 포토레지스트의 밀착력이 충분치 않아 인쇄회로기판의 내구성이 확보되기 어려운 한계가 있었다. On the other hand, when the dry film photoresist is too high in viscosity during lamination of the dry film photoresist to the copper clad laminate, there is a limit in which it is difficult to secure the durability of the printed circuit board because the adhesion of the dry film photoresist to the copper clad laminate is insufficient.

따라서 충분히 낮은 점도를 갖는 드라이필름 포토레지스트의 필요성이 증대되었다.Therefore, the need for a dry film photoresist having a sufficiently low viscosity has increased.

본 발명은 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위한 기판과의 열접착온도 부근에서 경화되지 않고 충분히 낮은 점도를 가질 수 있어, 기판에 대한 밀착력이 향상된 감광성 수지 조성물을 제공하기 위한 관한 것이다.The present invention relates to providing a photosensitive resin composition with improved adhesion to a substrate, since it is not cured near a thermal bonding temperature with a substrate for application to a circuit board or a display device and can have a sufficiently low viscosity.

또한, 본 발명은 상기의 감광성 수지 조성물을 이용한 드라이 필름 포토레지스트, 감광성 엘리먼트, 회로기판, 및 디스플레이 장치를 제공하기 위한 것이다.In addition, the present invention is to provide a dry film photoresist, a photosensitive element, a circuit board, and a display device using the photosensitive resin composition.

상기 과제를 해결하기 위하여, 본 명세서에서는, 하기 화학식 1로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 2로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 3으로 표시되는 반복단위, 및 하기 화학식 4로 표시되는 반복단위를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지, 광중합 개시제, 및 광중합성 화합물을 포함하고, 감광성 수지 조성물이 함유되고, 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하인 감광성 수지 조성물을 제공한다.In order to solve the above problems, in the present specification, an alkali including a repeating unit represented by the following formula (1), a repeating unit represented by the following formula (2), a repeating unit represented by the following formula (3), and a repeating unit represented by the following formula (4) For a photosensitive resin layer sample containing a developable binder resin, a photopolymerization initiator, and a photopolymerizable compound, containing a photosensitive resin composition, and having a thickness of 5 µm or more and 30 µm or less, under the condition that the photosensitive resin layer sample has an axial force of 5 N or less, 50 A photosensitive resin composition having a minimum absolute viscosity of 300 Pa·s or less obtained in a temperature range of more than or equal to 125°C is provided.

[화학식1][Formula 1]

Figure 112020082889832-pat00001
Figure 112020082889832-pat00001

상기 화학식1 에서, R1은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R2는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고, n은 1 내지 20의 정수이고,In Formula 1, R 1 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 2 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms, Ar is aryl having 6 to 20 carbon atoms, and n is an integer of 1 to 20,

[화학식2][Formula 2]

Figure 112020082889832-pat00002
Figure 112020082889832-pat00002

상기 화학식2 에서, R3는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,In Formula 2, R 3 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,

[화학식3][Formula 3]

Figure 112020082889832-pat00003
Figure 112020082889832-pat00003

상기 화학식3 에서, R4는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,In Formula 3, R 4 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 5 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms,

[화학식4][Formula 4]

Figure 112020082889832-pat00004
Figure 112020082889832-pat00004

상기 화학식4 에서, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다.In Formula 4, Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms.

본 명세서에서는 또한, 상기 감광성 수지 조성물을 함유한 감광성 수지층을 포함하는 드라이 필름 포토레지스트가 제공된다.In the present specification, there is also provided a dry film photoresist including a photosensitive resin layer containing the photosensitive resin composition.

본 명세서에서는 또한, 고분자 기재; 및 상기 고분자 기재 상에 형성된 감광성 수지층을 포함하고, 상기 감광성 수지층은 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하, 축력이 5N 이하에서 감광성 수지층 시료에 대하여, 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하인, 감광성 엘리먼트가 제공된다.In the present specification, also, a polymer substrate; And a photosensitive resin layer formed on the polymer substrate, wherein the photosensitive resin layer has a thickness of 5 µm or more and 30 µm or less, and an axial force of 5 N or less with respect to the photosensitive resin layer sample, obtained in a temperature range of 50° C. or more and 125° C. or less. A photosensitive element is provided in which the minimum value of absolute viscosity is 300 Pa·s or less.

본 명세서에서는 또한, 상기 감광성 수지 조성물을 함유한 감광성 수지층을 포함하는 회로 기판 및 디스플레이 장치가 제공된다.In the present specification, there is also provided a circuit board and a display device including a photosensitive resin layer containing the photosensitive resin composition.

이하 발명의 구체적인 구현예에 따른 감광성 수지 조성물 및 이를 이용한 드라이 필름 포토레지스트, 감광성 엘리먼트, 회로기판, 및 디스플레이 장치에 대하여 보다 상세하게 설명하기로 한다. Hereinafter, a photosensitive resin composition according to a specific embodiment of the present invention and a dry film photoresist using the same, a photosensitive element, a circuit board, and a display device will be described in more detail.

본 명세서에서 명시적인 언급이 없는 한, 전문용어는 단지 특정 실시예를 언급하기 위한 것이며, 본 발명을 한정하는 것을 의도하지 않는다.Unless expressly stated in the specification, terminology is only intended to refer to specific embodiments and is not intended to limit the present invention.

본 명세서에서 사용되는 단수 형태들은 문구들이 이와 명백히 반대의 의미를 나타내지 않는 한 복수 형태들도 포함한다. The singular forms used in the present specification also include plural forms unless the phrases clearly indicate the opposite meaning.

본 명세서에서 사용되는 '포함'의 의미는 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소 및/또는 성분을 구체화하며, 다른 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소, 성분 및/또는 군의 존재나 부가를 제외시키는 것은 아니다.The meaning of'comprising' as used herein specifies a specific characteristic, region, integer, step, action, element and/or component, and other specific characteristic, region, integer, step, action, element, component and/or group It does not exclude the existence or addition of

그리고, 본 명세서에서 '제 1' 및 '제 2'와 같이 서수를 포함하는 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로 사용되며, 상기 서수에 의해 한정되지 않는다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위 내에서 제 1 구성요소는 제 2 구성요소로도 명명될 수 있고, 유사하게 제 2 구성요소는 제 1 구성요소로 명명될 수 있다. In the present specification, terms including ordinal numbers such as'first' and'second' are used for the purpose of distinguishing one component from other components, and are not limited by the ordinal number. For example, within the scope of the present invention, a first element may be referred to as a second element, and similarly, a second element may be referred to as a first element.

본 명세서에서, 치환기의 예시들은 아래에서 설명하나, 이에 한정되는 것은 아니다. In the present specification, examples of the substituent are described below, but are not limited thereto.

본 명세서에서, "치환"이라는 용어는 화합물 내의 수소 원자 대신 다른 작용기가 결합하는 것을 의미하며, 치환되는 위치는 수소 원자가 치환되는 위치 즉, 치환기가 치환 가능한 위치라면 한정되지 않으며, 2 이상 치환되는 경우, 2 이상의 치환기는 서로 동일하거나 상이할 수 있다.In the present specification, the term "substitution" means that other functional groups are bonded instead of a hydrogen atom in the compound, and the position to be substituted is not limited as long as the position at which the hydrogen atom is substituted, that is, the position where the substituent can be substituted, and when two or more are substituted , Two or more substituents may be the same or different from each other.

본 명세서에서 "치환 또는 비치환된" 이라는 용어는 중수소; 할로겐기; 시아노기; 니트로기; 히드록시기; 카르보닐기; 에스테르기; 이미드기; 아미드기; 1차 아미노기; 카르복시기; 술폰산기; 술폰아미드기; 포스핀옥사이드기; 알콕시기; 아릴옥시기; 알킬티옥시기; 아릴티옥시기; 알킬술폭시기; 아릴술폭시기; 실릴기; 붕소기; 알킬기; 시클로알킬기; 알케닐기; 아릴기; 아르알킬기; 아르알케닐기; 알킬아릴기; 알콕시실릴알킬기; 아릴포스핀기; 또는 N, O 및 S 원자 중 1개 이상을 포함하는 헤테로고리기로 이루어진 군에서 선택된 1개 이상의 치환기로 치환 또는 비치환되거나, 상기 예시된 치환기 중 2 이상의 치환기가 연결된 치환 또는 비치환된 것을 의미한다. 예컨대, "2 이상의 치환기가 연결된 치환기"는 바이페닐기일 수 있다. 즉, 바이페닐기는 아릴기일 수도 있고, 2개의 페닐기가 연결된 치환기로 해석될 수도 있다.In the present specification, the term "substituted or unsubstituted" refers to deuterium; Halogen group; Cyano group; Nitro group; Hydroxy group; Carbonyl group; Ester group; Imide group; Amide group; Primary amino group; Carboxyl group; Sulfonic acid group; Sulfonamide group; Phosphine oxide group; Alkoxy group; Aryloxy group; Alkyl thioxy group; Arylthioxy group; Alkyl sulfoxy group; Arylsulfoxy group; Silyl group; Boron group; Alkyl group; Cycloalkyl group; Alkenyl group; Aryl group; Aralkyl group; Aralkenyl group; Alkylaryl group; Alkoxysilylalkyl group; Arylphosphine group; Or it means substituted or unsubstituted with one or more substituents selected from the group consisting of a heterocyclic group containing one or more of N, O, and S atoms, or substituted or unsubstituted with two or more substituents connected among the above-exemplified substituents. . For example, "a substituent to which two or more substituents are connected" may be a biphenyl group. That is, the biphenyl group may be an aryl group or may be interpreted as a substituent to which two phenyl groups are connected.

본 명세서에서,

Figure 112020082889832-pat00005
, 또는
Figure 112020082889832-pat00006
는 다른 치환기에 연결되는 결합을 의미하고, 직접결합은 L 로 표시되는 부분에 별도의 원자가 존재하지 않은 경우를 의미한다. In this specification,
Figure 112020082889832-pat00005
, or
Figure 112020082889832-pat00006
Means a bond connected to another substituent, and a direct bond means a case in which a separate atom does not exist in the portion represented by L.

본 명세서에서, (메트)아크릴은 아크릴 및 메타크릴을 모두 포함하는 의미이다.In the present specification, (meth)acrylic is meant to include both acrylic and methacrylic.

본 명세서에 있어서, 알킬기는 알케인(alkane)으로부터 유래한 1가의 작용기로, 직쇄 또는 분지쇄일 수 있고, 상기 직쇄 알킬기의 탄소수는 특별히 한정되지 않으나 1 내지 20인 것이 바람직하다. 또한, 상기 분지쇄 알킬기의 탄소수는 3 내지 20이다. 알킬기의 구체적인 예로는 메틸, 에틸, 프로필, n-프로필, 이소프로필, 부틸, n-부틸, 이소부틸, tert-부틸, sec-부틸, 1-메틸-부틸, 1-에틸-부틸, 펜틸, n-펜틸, 이소펜틸, 네오펜틸, tert-펜틸, 헥실, n-헥실, 1-메틸펜틸, 2-메틸펜틸, 4-메틸-2-펜틸, 3,3-디메틸부틸, 2-에틸부틸, 헵틸, n-헵틸, 1-메틸헥실, 옥틸, n-옥틸, tert-옥틸, 1-메틸헵틸, 2-에틸헥실, 2-프로필펜틸, n-노닐, 2,2-디메틸헵틸, 1-에틸-프로필, 1,1-디메틸-프로필, 이소헥실, 2-메틸펜틸, 4-메틸헥실, 5-메틸헥실, 2,6-디메틸헵탄-4-일 등이 있으나, 이들에 한정되지 않는다. 상기 알킬기는 치환 또는 비치환될 수 있으며, 치환되는 경우 치환기의 예시는 상술한 바와 같다.In the present specification, the alkyl group is a monovalent functional group derived from alkane and may be linear or branched, and the number of carbon atoms of the linear alkyl group is not particularly limited, but is preferably 1 to 20. Further, the branched chain alkyl group has 3 to 20 carbon atoms. Specific examples of the alkyl group include methyl, ethyl, propyl, n-propyl, isopropyl, butyl, n-butyl, isobutyl, tert-butyl, sec-butyl, 1-methyl-butyl, 1-ethyl-butyl, pentyl, n -Pentyl, isopentyl, neopentyl, tert-pentyl, hexyl, n-hexyl, 1-methylpentyl, 2-methylpentyl, 4-methyl-2-pentyl, 3,3-dimethylbutyl, 2-ethylbutyl, heptyl , n-heptyl, 1-methylhexyl, octyl, n-octyl, tert-octyl, 1-methylheptyl, 2-ethylhexyl, 2-propylpentyl, n-nonyl, 2,2-dimethylheptyl, 1-ethyl- Propyl, 1,1-dimethyl-propyl, isohexyl, 2-methylpentyl, 4-methylhexyl, 5-methylhexyl, 2,6-dimethylheptan-4-yl, and the like, but are not limited thereto. The alkyl group may be substituted or unsubstituted, and when substituted, examples of the substituent are as described above.

본 명세서에 있어서, 아릴기는 아렌(arene)으로부터 유래한 1가의 작용기로, 특별히 한정되지 않으나 탄소수 6 내지 20인 것이 바람직하며, 단환식 아릴기 또는 다환식 아릴기일 수 있다. 상기 아릴기가 단환식 아릴기로는 페닐기, 바이페닐기, 터페닐기 등이 될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 다환식 아릴기로는 나프틸기, 안트라세닐기, 페난트릴기, 파이레닐기, 페릴레닐기, 크라이세닐기, 플루오레닐기 등이 될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 아릴기는 치환 또는 비치환될 수 있으며, 치환되는 경우 치환기의 예시는 상술한 바와 같다.In the present specification, the aryl group is a monovalent functional group derived from arene, is not particularly limited, but preferably has 6 to 20 carbon atoms, and may be a monocyclic aryl group or a polycyclic aryl group. The aryl group may be a phenyl group, a biphenyl group, or a terphenyl group, but the monocyclic aryl group is not limited thereto. The polycyclic aryl group may be a naphthyl group, an anthracenyl group, a phenanthryl group, a pyrenyl group, a perylenyl group, a chrysenyl group, a fluorenyl group, and the like, but is not limited thereto. The aryl group may be substituted or unsubstituted, and when substituted, examples of the substituent are as described above.

이하, 본 발명을 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail.

1. 감광성 수지 조성물1. Photosensitive resin composition

발명의 일 구현예에 따르면, 하기 화학식 1로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 2로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 3으로 표시되는 반복단위, 및 하기 화학식 4로 표시되는 반복단위를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지, 광중합 개시제, 및 광중합성 화합물을 포함하고, 감광성 수지 조성물이 함유되고, 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하인 감광성 수지 조성물이 제공될 수 있다.According to an embodiment of the invention, an alkali developable binder comprising a repeating unit represented by the following formula (1), a repeating unit represented by the following formula (2), a repeating unit represented by the following formula (3), and a repeating unit represented by the following formula (4) For a photosensitive resin layer sample containing a resin, a photopolymerization initiator, and a photopolymerizable compound, containing a photosensitive resin composition, and having a thickness of 5 µm or more and 30 µm or less, the photosensitive resin layer sample has an axial force of 5 N or less and 50°C or more 125 A photosensitive resin composition having a minimum absolute viscosity of 300 Pa·s or less obtained in a temperature section below °C may be provided.

[화학식1][Formula 1]

Figure 112020082889832-pat00007
Figure 112020082889832-pat00007

상기 화학식1 에서, R1은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R2는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고, n은 1 내지 20의 정수이고,In Formula 1, R 1 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 2 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms, Ar is aryl having 6 to 20 carbon atoms, and n is an integer of 1 to 20,

[화학식2][Formula 2]

Figure 112020082889832-pat00008
Figure 112020082889832-pat00008

상기 화학식2 에서, R3는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,In Formula 2, R 3 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,

[화학식3][Formula 3]

Figure 112020082889832-pat00009
Figure 112020082889832-pat00009

상기 화학식3 에서, R4는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,In Formula 3, R 4 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 5 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms,

[화학식4][Formula 4]

Figure 112020082889832-pat00010
Figure 112020082889832-pat00010

상기 화학식4 에서, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다.In Formula 4, Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms.

본 발명자들은 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 알칼리 현상성 바인더 수지내에 상기 화학식1로 표시되는 반복단위를 포함시켜, 알칼리 현상성 바인더 수지의 내열 특성을 향상시킴에 따라, 상기 감광성 수지 조성물을 이용한 드라이 필름 포토레지스트의 열경화온도가 높아지면서, 열경화온도 부근까지 열처리시 충분히 낮은 점도를 가짐에 따라, 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위해 상기 드라이 필름 포토레지스트을 기판에 열접착시 열접착온도에서 낮은 점도를 통해 기판에 대한 밀착력을 높일 수 있다는 점을 확인하고 발명을 완성하였다.The present inventors argue that the photosensitive resin composition of the embodiment includes the repeating unit represented by Formula 1 in the alkali developable binder resin, thereby improving the heat resistance of the alkali developable binder resin, and thus drying using the photosensitive resin composition. As the thermal curing temperature of the film photoresist increases and has a sufficiently low viscosity when heat-treated to the vicinity of the thermal curing temperature, the dry film photoresist is thermally bonded to the substrate at the thermal bonding temperature for application to a circuit board or display device. It was confirmed that the adhesion to the substrate can be increased through a low viscosity, and the invention was completed.

(1) 알칼리 현상성 바인더 수지(1) Alkaline developable binder resin

본 발명의 알카리 현상성 바인더 수지는 상기 화학식 1로 표시되는 반복단위, 상기 화학식 2로 표시되는 반복단위, 상기 화학식 3으로 표시되는 반복단위, 및 상기 화학식 4로 표시되는 반복단위를 포함할 수 있다.The alkali developable binder resin of the present invention may include a repeating unit represented by Formula 1, a repeating unit represented by Formula 2, a repeating unit represented by Formula 3, and a repeating unit represented by Formula 4. .

구체적으로, 상기 알카리 현상성 바인더 수지는 상기 화학식 1로 표시되는 반복단위, 상기 화학식 2로 표시되는 반복단위, 상기 화학식 3으로 표시되는 반복단위, 및 상기 화학식 4로 표시되는 반복단위의 랜덤 공중합체를 포함할 수 있다.Specifically, the alkali developable binder resin is a random copolymer of a repeating unit represented by Formula 1, a repeating unit represented by Formula 2, a repeating unit represented by Formula 3, and a repeating unit represented by Formula 4 It may include.

상기 알칼리 현상성 바인더 수지내에 상기 화학식1로 표시되는 반복단위를 포함시켜, 알칼리 현상성 바인더 수지의 소수성 정도를 증가시킴에 따라, 상기 감광성 수지 조성물을 이용한 드라이 필름 포토레지스트의 현상 공정에서 거품(foam) 발생을 억제하여 우수한 현상성을 나타내며, 기판 밀착력을 향상시켜 적정물성(해상도, 세선 밀착력 등)을 확보할 수 있다.By including the repeating unit represented by Chemical Formula 1 in the alkali developable binder resin, the degree of hydrophobicity of the alkali developable binder resin is increased. ) It shows excellent developability by suppressing the occurrence, and it can secure proper physical properties (resolution, fine wire adhesion, etc.) by improving adhesion to the substrate.

상기 화학식1에서, R1은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬 중 어느 하나일 수 있으며, 상기 탄소수 1 내지 10의 알킬의 구체적인 예로는 메틸을 들 수 있다.In Formula 1, R 1 may be hydrogen or any one of alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and specific examples of the alkyl having 1 to 10 carbon atoms include methyl.

상기 화학식1에서, R2는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고, 상기 탄소수 1 내지 10의 알킬렌의 구체적인 예로는 에틸렌을 들 수 있다.In Formula 1, R 2 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms, and a specific example of the alkylene having 1 to 10 carbon atoms is ethylene.

상기 화학식1에서, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고, 상기 탄소수 6 내지 20의 아릴의 구체적인 예로는 페닐을 들 수 있다.In Formula 1, Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms, and a specific example of the aryl having 6 to 20 carbon atoms is phenyl.

상기 화학식1로 표시되는 반복단위는 하기 화학식1-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 1 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 1-1 below.

[화학식1-1][Formula 1-1]

Figure 112020082889832-pat00011
Figure 112020082889832-pat00011

상기 화학식1-1에서, R1은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R2는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고, n은 1 내지 20의 정수이다. 상기 화학식1-1에서, R1, R2, Ar, n에 관한 내용은 상기 화학식1에서 상술한 내용과 같다.In Formula 1-1, R 1 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 2 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms, Ar is aryl having 6 to 20 carbon atoms, and n is an integer of 1 to 20 to be. In Formula 1-1, the contents of R 1 , R 2 , Ar, and n are the same as those described in Formula 1 above.

상기 화학식1-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 페녹시폴리에틸렌옥시아크릴레이트, 보다 구체적으로는 2-페녹시에틸메타크릴레이트(PHEMA)를 들 수 있다.Specific examples of the monomer represented by Formula 1-1 include phenoxypolyethyleneoxyacrylate, more specifically 2-phenoxyethylmethacrylate (PHEMA).

상기 화학식1로 표시되는 반복단위는 상기 알칼리 현상성 바인더 수지에 함유된 전체 반복단위 몰함량 100몰%를 기준으로 5 몰% 이상 40 몰% 이하, 또는 5 몰% 이상 30 몰% 이하, 또는 5 몰% 이상 25 몰% 이하, 또는 10 몰% 이상 25 몰% 이하로 함유될 수 있다.The repeating unit represented by Formula 1 is 5 mol% or more and 40 mol% or less, or 5 mol% or more and 30 mol% or less, or 5 It may be contained in mol% or more and 25 mol% or less, or 10 mol% or more and 25 mol% or less.

상기 화학식2 내지 4에서, R3 및 R4는 서로 동일하거나 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다.In Formulas 2 to 4, R 3 and R 4 are the same as or different from each other, and each independently hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 5 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and Ar is 6 to 20 carbon atoms Is aryl of.

상기 화학식2 내지 4에서, R3 및 R4는 서로 동일하거나 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬 중 어느 하나일 수 있으며, 상기 탄소수 1 내지 10의 알킬의 구체적인 예로는 메틸을 들 수 있다.In Formulas 2 to 4, R 3 and R 4 are the same as or different from each other, and each independently hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and specific examples of the alkyl having 1 to 10 carbon atoms are methyl Can be mentioned.

R5는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, 상기 탄소수 1 내지 10의 알킬의 구체적인 예로는 메틸을 들 수 있다.R 5 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and specific examples of the alkyl having 1 to 10 carbon atoms include methyl.

Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고, 상기 탄소수 6 내지 20의 아릴의 구체적인 예로는 페닐을 들 수 있다.Ar is a C6-C20 aryl, and a specific example of the C6-C20 aryl includes phenyl.

상기 화학식2로 표시되는 반복단위는 하기 화학식2-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 2 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 2-1 below.

[화학식2-1][Formula 2-1]

Figure 112020082889832-pat00012
Figure 112020082889832-pat00012

상기 화학식2-1에서, R3은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이다. 상기 화학식2-1에서, R3 에 관한 내용은 상기 화학식2에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식2-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 메타크릴산(Methacrylic acid, MAA)을 들 수 있다.In Formula 2-1, R 3 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms. In Formula 2-1, the content of R 3 is the same as the content of Formula 2 above. Specific examples of the monomer represented by Formula 2-1 may include methacrylic acid (MAA).

상기 화학식3으로 표시되는 반복단위는 하기 화학식3-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 3 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 3-1 below.

[화학식3-1][Chemical Formula 3-1]

Figure 112020082889832-pat00013
Figure 112020082889832-pat00013

상기 화학식3-1에서, R4는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5는 탄소수 1 내지 10의 알킬이다. 상기 화학식3-1에서, R4 및 R5에 관한 내용은 상기 화학식3에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식3-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 메틸메타크릴레이트(Methylmethacrylate, MMA)를 들 수 있다.In Formula 3-1, R 4 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and R 5 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms. In Chemical Formula 3-1, the contents of R 4 and R 5 are the same as those described in Chemical Formula 3. As a specific example of the monomer represented by Formula 3-1, methylmethacrylate (MMA) may be mentioned.

상기 화학식4로 표시되는 반복단위는 하기 화학식4-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 4 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 4-1 below.

[화학식4-1][Chemical Formula 4-1]

Figure 112020082889832-pat00014
Figure 112020082889832-pat00014

상기 화학식4-1에서, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다. 상기 화학식4-1에서, Ar에 관한 내용은 상기 화학식4에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식4-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 스티렌(Styrene, SM)을 들 수 있다.In Formula 4-1, Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms. In Chemical Formula 4-1, the contents of Ar are the same as those described in Chemical Formula 4. A specific example of the monomer represented by Formula 4-1 may include styrene (SM).

상기 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 알칼리 현상성 바인더 수지에 함유된 전체 반복단위 몰함량 100몰%를 기준으로, 상기 화학식 2로 표시되는 반복단위 20 몰% 이상 60 몰% 이하, 또는 20 몰% 이상 50 몰% 이하, 또는 30 몰% 이상 40 몰% 이하를 포함할 수 있다.The alkali developable binder resin is 20 mol% or more and 60 mol% or less, or 20 mol% or more, based on 100 mol% of the total molar content of repeating units contained in the alkali developable binder resin. It may contain 50 mol% or less, or 30 mol% or more and 40 mol% or less.

또한, 상기 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 알칼리 현상성 바인더 수지에 함유된 전체 반복단위 몰함량 100몰%를 기준으로, 상기 화학식 3으로 표시되는 반복단위 1 몰% 이상 30 몰% 이하, 또는 1 몰% 이상 20 몰% 이하, 또는 5 몰% 이상 30 몰% 이하, 및 상기 화학식 4로 표시되는 반복단위 30 몰% 이상 60 몰% 이하, 또는 30 몰% 이상 50 몰% 이하, 또는 30 몰% 이상 40 몰% 이하를 포함할 수 있다.In addition, the alkali developable binder resin is 1 mol% or more and 30 mol% or less, or 1 mol% of the repeating unit represented by Formula 3 based on 100 mol% of the total molar content of the repeating unit contained in the alkali developable binder resin. % Or more and 20 mol% or less, or 5 mol% or more and 30 mol% or less, and 30 mol% or more and 60 mol% or less, or 30 mol% or more and 50 mol% or less, or 30 mol% or more It may contain 40 mol% or less.

보다 구체적으로, 상기 화학식 4로 표시되는 반복단위 100 몰에 대하여, 상기 화학식 3으로 표시되는 반복단위의 몰비율이 10 몰 이상 99 몰 이하, 또는 15 몰 이상 95 몰 이하, 또는 20 몰 이상 95 몰 이하, 또는 10 몰 이상 50 몰 이하, 또는 10 몰 이상 40 몰 이하, 또는 10 몰 이상 30 몰 이하일 수 있다.More specifically, with respect to 100 moles of the repeating unit represented by Formula 4, the molar ratio of the repeating unit represented by Formula 3 is 10 moles or more and 99 moles or less, or 15 moles or more and 95 moles or less, or 20 moles or more and 95 moles Or less, or 10 mol or more and 50 mol or less, or 10 mol or more and 40 mol or less, or 10 mol or more and 30 mol or less.

이처럼, 소수성인 상기 화학식 4로 표시되는 반복단위 함량이 증가됨에 따라알칼리 현상성 바인더 수지의 소수성 정도 또한 증대되어, 상기 감광성 수지 조성물을 이용한 드라이 필름 포토레지스트의 현상 공정에서 거품(foam) 발생을 억제할 수 있다.As such, the degree of hydrophobicity of the alkali developable binder resin is also increased as the content of the repeating unit represented by Formula 4 which is hydrophobic is increased, thereby suppressing the occurrence of foam in the developing process of a dry film photoresist using the photosensitive resin composition. can do.

상기 알칼리 현상성 바인더 수지는 중량평균분자량이 30000 g/mol 이상 150000 g/mol 이하이며, 유리전이온도는 20 ℃ 이상 150 ℃ 이하일 수 있다. 이에 따라, 드라이 필름 포토레지스트의 코팅성, 추종성, 그리고 회로형성 후 레지스트 자체의 기계적 강도가 향상될 수 있다. The alkali developable binder resin may have a weight average molecular weight of 30000 g/mol or more and 150000 g/mol or less, and a glass transition temperature of 20° C. or more and 150° C. or less. Accordingly, the coating properties of the dry film photoresist, followability, and mechanical strength of the resist itself after circuit formation may be improved.

본 명세서에서, 중량 평균 분자량은 GPC법에 의해 측정한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량을 의미한다. 상기 GPC법에 의해 측정한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량을 측정하는 과정에서는, 통상적으로 알려진 분석 장치와 시차 굴절 검출기(Refractive Index Detector) 등의 검출기 및 분석용 컬럼을 사용할 수 있으며, 통상적으로 적용되는 온도 조건, 용매, flow rate를 적용할 수 있다. In this specification, the weight average molecular weight means the weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by the GPC method. In the process of measuring the weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by the GPC method, a commonly known analysis device, a detector such as a Refractive Index Detector, and a column for analysis can be used. Conditions, solvents, and flow rates can be applied.

상기 측정 조건의 구체적인 예로, 알칼리 현상성 바인더 수지는 1.0 (w/w)% in THF (고형분 기준 약 0.5 (w/w)%)의 농도가 되도록 테트라히드로푸란에 용해시켜 0.45㎛ Pore Size의 Syringe Filter를 이용하여 여과 후 GPC에 20㎕를 주입하고, GPC의 이동상은 테트라히드로푸란(Tetrahydrofuran, THF)을 사용하고, 1.0mL/분의 유속으로 유입하였으며, 컬럼은 Agilent PLgel 5㎛ Guard (7.5 x 50 mm) 1개와 Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) 2개를 직렬로 연결하고, 검출기로는 Agilent 1260 Infinity Ⅱ system, RI Detector를 이용하여 40 ℃에서 측정하였다.As a specific example of the measurement conditions, the alkali developable binder resin is dissolved in tetrahydrofuran to a concentration of 1.0 (w/w)% in THF (about 0.5 (w/w)% based on solid content), and a 0.45 μm pore size syringe After filtration using a filter, 20 µl was injected into GPC, and tetrahydrofuran (THF) was used as the mobile phase of the GPC, and flow rate was 1.0 mL/min, and the column was Agilent PLgel 5µm Guard (7.5 x 50 mm) and two Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) were connected in series, and measured at 40 ℃ using an Agilent 1260 Infinity II system and RI Detector as a detector.

이를, 테트라히드로푸란에 0.1 (w/w)% 농도로 아래와 같이 다양한 분자량을 갖는 폴리스티렌을 용해시킨 폴리스티렌 표준품 시료(STD A, B, C, D)를 0.45㎛ Pore Size의 Syringe Filter로 여과 후 GPC에 주입하여 형성된 검정 곡선을 이용하여 알칼리 현상성 바인더 수지의 중량평균분자량(Mw)의 값을 구하였다. The polystyrene standard sample (STD A, B, C, D) in which polystyrene having various molecular weights is dissolved in tetrahydrofuran at a concentration of 0.1 (w/w)% as follows is filtered through a 0.45 μm pore size syringe filter and then GPC The value of the weight average molecular weight (Mw) of the alkali developable binder resin was calculated using the calibration curve formed by injecting into.

STD A (Mp) : 791,000 / 27,810 / 945STD A (Mp): 791,000 / 27,810 / 945

STD B (Mp) : 282,000 / 10,700 / 580STD B (Mp): 282,000 / 10,700 / 580

STD C (Mp) : 126,000 / 4,430 / 370STD C (Mp): 126,000 / 4,430 / 370

STD D (Mp) : 51,200 / 1,920 / 162STD D (Mp): 51,200 / 1,920 / 162

유리전이온도는 DSC(Differential Scanning Calorimeter)(Perkin-Elmer사, DSC-7)에 reference와 바인더 폴리머를 비교하였다. 온도 설정은 20℃에서 15분 유지한 후, 200℃까지 승온속도 1℃/min로 승온시켜 측정할 수 있다.The glass transition temperature was compared with a reference and a binder polymer in DSC (Differential Scanning Calorimeter) (Perkin-Elmer, DSC-7). The temperature setting can be measured by maintaining the temperature at 20°C for 15 minutes and then raising the temperature to 200°C at a rate of 1°C/min.

상기 알칼리 현상성 바인더 수지는 산가가 120 mgKOH/g 이상 200 mgKOH/g 이하, 또는 140 mgKOH/g 이상 160 mgKOH/g 이하일 수 있다. 산가는 상기 알칼리 현상성 바인더 수지를 1g 남짓 샘플링하여 50ml 혼합용제(MeOH 20%, Acetone80%)에 녹이고 1%-페놀프탈레인 지시약을 두 방울 첨가한 다음, 0.1N-KOH로 적정하여 산가를 측정하였다.The alkali developable binder resin may have an acid value of 120 mgKOH/g or more and 200 mgKOH/g or less, or 140 mgKOH/g or more and 160 mgKOH/g or less. As for the acid value, about 1 g of the alkali developable binder resin was sampled and dissolved in a 50 ml mixed solvent (MeOH 20%, Acetone 80%), and two drops of 1%-phenolphthalein indicator were added, followed by titration with 0.1N-KOH to measure the acid value.

상기 알칼리 현상성 바인더 수지는, 고형분 기준으로 감광성 수지 조성물 총중량에 대하여, 20 중량% 이상 80 중량% 이하로 포함된다. 상기 알카리 현상성 바인더 수지의 함량이 상기 범위 내에 있는 경우 회로형성 후, 세선 밀착력을 강화시키는 효과를 얻을 수 있다. 상기 중량의 기준인 고형분은, 상기 감광성 수지 조성물에서 용매를 제외한 나머지 성분을 의미한다.The alkali developable binder resin is contained in an amount of 20% by weight or more and 80% by weight or less with respect to the total weight of the photosensitive resin composition based on solid content. When the content of the alkali developable binder resin is within the above range, after circuit formation, an effect of enhancing fine wire adhesion may be obtained. The solid content, which is the basis of the weight, refers to the remaining components excluding the solvent in the photosensitive resin composition.

한편 상기 알카리 현상성 바인더 수지로, 하기 화학식 13으로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 14로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 15로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 16로 표시되는 반복단위 및 하기 화학식 17로 표시되는 반복단위를 포함한 제1 알칼리 현상성 바인더 수지; 및 하기 화학식 14로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 15로 표시되는 반복단위, 및 하기 화학식 16로 표시되는 반복단위를 포함한 제2 알칼리 현상성 바인더 수지;를 더 포함할 수 있다.Meanwhile, as the alkali developable binder resin, a repeating unit represented by the following formula (13), a repeating unit represented by the following formula (14), a repeating unit represented by the following formula (15), a repeating unit represented by the following formula (16), and the following formula (17) A first alkali developable binder resin including a repeating unit to be used; And a second alkali developable binder resin including a repeating unit represented by the following Formula 14, a repeating unit represented by the following Formula 15, and a repeating unit represented by the following Formula 16.

[화학식 13][Formula 13]

Figure 112020082889832-pat00015
Figure 112020082889832-pat00015

상기 화학식 13에서, In Chemical Formula 13,

R3"는 수소이고,R 3 "is hydrogen,

[화학식 14][Formula 14]

Figure 112020082889832-pat00016
Figure 112020082889832-pat00016

상기 화학식 14에서, In Chemical Formula 14,

R3'는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,R 3 ′ is alkyl having 1 to 10 carbon atoms,

[화학식 15][Formula 15]

Figure 112020082889832-pat00017
Figure 112020082889832-pat00017

상기 화학식 15에서, In Chemical Formula 15,

R4"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,R4" is an alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R5" is an alkyl having 1 to 10 carbon atoms,

[화학식 16][Formula 16]

Figure 112020082889832-pat00018
Figure 112020082889832-pat00018

상기 화학식 16에서, In Chemical Formula 16,

Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고,Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms,

[화학식 17][Formula 17]

Figure 112020082889832-pat00019
Figure 112020082889832-pat00019

상기 화학식 17에서, In Chemical Formula 17,

R4'는 수소이고,R 4 ′ is hydrogen,

R5'는 탄소수 1 내지 10의 알킬이다.R 5 ′ is alkyl having 1 to 10 carbon atoms.

구체적으로, 상기 제1 알카리 현상성 바인더 수지는 상기 화학식 13으로 표시되는 반복단위, 상기 화학식 14로 표시되는 반복단위, 상기 화학식 15로 표시되는 반복단위, 상기 화학식 16로 표시되는 반복단위 및 상기 화학식 17로 표시되는 반복단위의 랜덤 공중합체를 포함할 수 있다.Specifically, the first alkali developable binder resin is a repeating unit represented by Formula 13, a repeating unit represented by Formula 14, a repeating unit represented by Formula 15, a repeating unit represented by Formula 16, and the formula It may include a random copolymer of repeating units represented by 17.

상기 화학식13 내지 17에서, 상기 탄소수 1 내지 10의 알킬의 구체적인 예로는 메틸을 들 수 있다.In Formulas 13 to 17, a specific example of the alkyl having 1 to 10 carbon atoms may be methyl.

Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고, 상기 탄소수 6 내지 20의 아릴의 구체적인 예로는 페닐을 들 수 있다.Ar is a C6-C20 aryl, and a specific example of the C6-C20 aryl includes phenyl.

상기 화학식14로 표시되는 반복단위는 하기 화학식14-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 14 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 14-1 below.

[화학식14-1][Formula 14-1]

Figure 112020082889832-pat00020
Figure 112020082889832-pat00020

상기 화학식14-1에서, R3”은 탄소수 1 내지 10의 알킬이다. 상기 화학식14-1에서, R3”에 관한 내용은 상기 화학식14에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식14-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 메타크릴산(Methacrylic acid, MAA)을 들 수 있다.In Formula 14-1, R 3 ”is alkyl having 1 to 10 carbon atoms. In Formula 14-1, R 3 ”is the same as described above in Formula 14. Specific examples of the monomer represented by Formula 14-1 may include methacrylic acid (MAA).

상기 화학식15로 표시되는 반복단위는 하기 화학식15-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 15 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 15-1 below.

[화학식15-1][Chemical Formula 15-1]

Figure 112020082889832-pat00021
Figure 112020082889832-pat00021

상기 화학식15-1에서, R4"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이다. 상기 화학식15-1에서, R4" 및 R5"에 관한 내용은 상기 화학식15에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식15-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 메틸메타크릴레이트(Methylmethacrylate, MMA) 를 들 수 있다.In Formula 15-1, R 4 "is alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and R 5 "is alkyl having 1 to 10 carbon atoms. In Formula 15-1, R 4 ”and R 5 ” are the same as those described above in Formula 15. As a specific example of the monomer represented by Formula 15-1, methylmethacrylate (MMA) may be mentioned.

상기 화학식16으로 표시되는 반복단위는 하기 화학식16-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 16 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 16-1 below.

[화학식16-1][Chemical Formula 16-1]

Figure 112020082889832-pat00022
Figure 112020082889832-pat00022

상기 화학식16-1에서, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다. 상기 화학식16-1에서, Ar에 관한 내용은 상기 화학식16에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식16-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 스티렌(Styrene, SM)을 들 수 있다.In Formula 16-1, Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms. In Chemical Formula 16-1, the contents of Ar are the same as those described in Chemical Formula 16. A specific example of the monomer represented by Formula 16-1 may include styrene (SM).

상기 제1 알칼리 현상성 바인더 수지는 중량평균분자량이 30000 g/mol 이상 150000 g/mol 이하이며, 유리전이온도는 20 ℃ 이상 150 ℃ 이하일 수 있다. 이에 따라, 드라이 필름 포토레지스트의 코팅성, 추종성, 그리고 회로형성 후 레지스트 자체의 기계적 강도가 향상될 수 있다. 또한, 상기 제1 알칼리 현상성 바인더 수지는 산가가 140 mgKOH/g 이상 160 mgKOH/g 이하일 수 있다.The first alkali developable binder resin may have a weight average molecular weight of 30000 g/mol or more and 150000 g/mol or less, and a glass transition temperature of 20° C. or more and 150° C. or less. Accordingly, the coating properties of the dry film photoresist, followability, and mechanical strength of the resist itself after circuit formation may be improved. In addition, the first alkali developable binder resin may have an acid value of 140 mgKOH/g or more and 160 mgKOH/g or less.

또한, 상기 제2 알칼리 현상성 바인더 수지는 중량평균분자량이 20000 g/mol 이상 130000 g/mol 이하이며, 유리전이온도는 30 ℃ 이상 160 ℃ 이하일 수 있다. 이에 따라, 드라이 필름 포토레지스트의 코팅성, 추종성, 그리고 회로형성 후 레지스트 자체의 기계적 강도가 향상될 수 있다. In addition, the second alkali developable binder resin may have a weight average molecular weight of 20000 g/mol or more and 130000 g/mol or less, and a glass transition temperature of 30° C. or more and 160° C. or less. Accordingly, the coating properties of the dry film photoresist, followability, and mechanical strength of the resist itself after circuit formation may be improved.

본 명세서에서, 중량 평균 분자량은 GPC법에 의해 측정한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량을 의미한다. 상기 GPC법에 의해 측정한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량을 측정하는 과정에서는, 통상적으로 알려진 분석 장치와 시차 굴절 검출기(Refractive Index Detector) 등의 검출기 및 분석용 컬럼을 사용할 수 있으며, 통상적으로 적용되는 온도 조건, 용매, flow rate를 적용할 수 있다. In this specification, the weight average molecular weight means the weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by the GPC method. In the process of measuring the weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by the GPC method, a commonly known analysis device, a detector such as a Refractive Index Detector, and a column for analysis can be used. Conditions, solvents, and flow rates can be applied.

상기 측정 조건의 구체적인 예로, 알칼리 현상성 바인더 수지는 1.0 (w/w)% in THF (고형분 기준 약 0.5 (w/w)%)의 농도가 되도록 테트라히드로푸란에 용해시켜 0.45㎛ Pore Size의 Syringe Filter를 이용하여 여과 후 GPC에 20㎕를 주입하고, GPC의 이동상은 테트라히드로푸란(Tetrahydrofuran, THF)을 사용하고, 1.0mL/분의 유속으로 유입하였으며, 컬럼은 Agilent PLgel 5㎛ Guard (7.5 x 50 mm) 1개와 Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) 2개를 직렬로 연결하고, 검출기로는 Agilent 1260 Infinity Ⅱ System, RI Detector를 이용하여 40 ℃에서 측정하였다.As a specific example of the measurement conditions, the alkali developable binder resin is dissolved in tetrahydrofuran to a concentration of 1.0 (w/w)% in THF (about 0.5 (w/w)% based on solid content), and a 0.45 μm pore size syringe After filtration using a filter, 20 µl was injected into GPC, and tetrahydrofuran (THF) was used as the mobile phase of the GPC, and flow rate was 1.0 mL/min, and the column was Agilent PLgel 5µm Guard (7.5 x 50 mm) and two Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) were connected in series and measured at 40 ℃ using an Agilent 1260 Infinity II System, RI Detector as a detector.

이를, 테트라히드로푸란에 0.1 (w/w)% 농도로 아래와 같이 다양한 분자량을 갖는 폴리스티렌을 용해시킨 폴리스티렌 표준품 시료(STD A, B, C, D)를 0.45㎛ Pore Size의 Syringe Filter로 여과 후 GPC에 주입하여 형성된 검정 곡선을 이용하여 알칼리 현상성 바인더 수지의 중량평균분자량(Mw)의 값을 구하였다. The polystyrene standard sample (STD A, B, C, D) in which polystyrene having various molecular weights is dissolved in tetrahydrofuran at a concentration of 0.1 (w/w)% as follows is filtered through a 0.45 μm pore size syringe filter and then GPC The value of the weight average molecular weight (Mw) of the alkali developable binder resin was calculated using the calibration curve formed by injecting into.

STD A (Mp) : 791,000 / 27,810 / 945STD A (Mp): 791,000 / 27,810 / 945

STD B (Mp) : 282,000 / 10,700 / 580STD B (Mp): 282,000 / 10,700 / 580

STD C (Mp) : 126,000 / 4,430 / 370STD C (Mp): 126,000 / 4,430 / 370

STD D (Mp) : 51,200 / 1,920 / 162STD D (Mp): 51,200 / 1,920 / 162

유리전이온도는 DSC(Differential Scanning Calorimeter)(Perkin-Elmer사, DSC-7)에 reference와 바인더 폴리머를 비교하였다. 온도 설정은 20 ℃에서 15분 유지한 후, 200 ℃까지 승온속도 1℃/min 로 승온시켜 측정할 수 있다.The glass transition temperature was compared with a reference and a binder polymer in DSC (Differential Scanning Calorimeter) (Perkin-Elmer, DSC-7). The temperature setting can be measured by maintaining the temperature at 20° C. for 15 minutes and then raising the temperature to 200° C. at a rate of 1° C./min.

상기 알칼리 현상성 바인더 수지의 산가는 상기 알칼리 현상성 바인더 수지를 1g 남짓 샘플링하여 50ml 혼합용제(MeOH 20%, Acetone80%)에 녹이고 1%-페놀프탈레인 지시약을 두 방울 첨가한 다음, 0.1N-KOH로 적정하여 산가를 측정하였다.The acid value of the alkali developable binder resin was dissolved in 50 ml mixed solvent (MeOH 20%, Acetone 80%) by sampling about 1 g of the alkali developable binder resin, and two drops of 1%-phenolphthalein indicator were added, followed by 0.1N-KOH. The acid value was measured by titration.

상기 제1 알칼리 현상성 바인더 수지는 산가가 140 mgKOH/g 이상 160 mgKOH/g 이하일 수 있다. 또한 상기 제2 알칼리 현상성 바인더 수지는 산가가 160 mgKOH/g 이상 200 mgKOH/g 이하일 수 있다.The first alkali developable binder resin may have an acid value of 140 mgKOH/g or more and 160 mgKOH/g or less. In addition, the second alkali developable binder resin may have an acid value of 160 mgKOH/g or more and 200 mgKOH/g or less.

구체적으로, 상기 제1 알칼리 현상성 바인더 수지와 제2 알칼리 현상성 바인더 수지의 유리전이온도 비율이 1:1.5 이상 1:5 이하, 1:1.5 이상 1:3 이하, 1:1.5 이상 1:2 이하, 1:1.5 이상 1:1.8 이하, 1:1.5 이상 1:75 이하, 또는 1:1.5 이상 1:6 이하일 수 있다. Specifically, the ratio of the glass transition temperature between the first alkali developable binder resin and the second alkaline developable binder resin is 1:1.5 or more and 1:5 or less, 1:1.5 or more and 1:3 or less, and 1:1.5 or more and 1:2. Hereinafter, it may be 1:1.5 or more and 1:1.8 or less, 1:1.5 or more and 1:75 or less, or 1:1.5 or more and 1:6 or less.

또한, 상기 제1 알칼리 현상성 바인더 수지와 제2 알칼리 현상성 바인더 수지의 산가 비율이 1:1.01 이상 1:1.5 이하, 1:1.01 이상 1:1.25 이하, 1:1.01 이상 1:1.2 이하, 또는 1:1.01 이상 1:1.1 이하일 수 있다.In addition, the acid value ratio of the first alkali developable binder resin and the second alkaline developable binder resin is 1:1.01 or more and 1:1.5 or less, 1:1.01 or more and 1:1.25 or less, 1:1.01 or more and 1:1.2 or less, or It may be 1:1.01 or more and 1:1.1 or less.

한편 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물에 포함되는 상기 제1 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 화학식 3으로 표시되는 반복단위 1몰에 대하여 상기 화학식 4로 표시되는 반복단위를 1.2 몰 이상 3 몰 이하, 1.2 몰 이상 2 몰 이하, 1.5 몰 이상 2 몰 이하 또는 1.5 몰 이상 1.6 몰 이하로 포함할 수 있다. Meanwhile, the first alkali developable binder resin included in the photosensitive resin composition of the embodiment is 1.2 mol or more and 3 mol or less, and 1.2 mol of the repeating unit represented by Chemical Formula 4 with respect to 1 mol of the repeating unit represented by Chemical Formula 3. It may contain at least 2 mol, 1.5 mol or more and 2 mol or less, or 1.5 mol or more and 1.6 mol or less.

또한, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물에 포함되는 상기 제1 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 화학식 17로 표시되는 반복단위 1몰에 대하여 상기 화학식 15로 표시되는 반복단위를 2 몰 이상 10 몰 이하, 3 몰 이상 10 몰 이하, 3 몰 이상 5 몰 이하 또는 4 몰 이상 5 몰 이하로 포함할 수 있다.In addition, the first alkali-developable binder resin included in the photosensitive resin composition of the embodiment has 2 moles or more and 10 moles or less of the repeating unit represented by Formula 15 with respect to 1 mole of the repeating unit represented by Formula 17. It may contain mol or more and 10 mol or less, 3 mol or more and 5 mol or less, or 4 mol or more and 5 mol or less.

한편 상기 제2 알카리 현상성 바인더 수지는 하기 화학식 14로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 15로 표시되는 반복단위, 및 하기 화학식 16로 표시되는 반복단위의 랜덤 공중합체를 포함할 수 있다.Meanwhile, the second alkali developable binder resin may include a random copolymer of a repeating unit represented by Formula 14 below, a repeating unit represented by Formula 15 below, and a repeating unit represented by Formula 16 below.

[화학식 14][Formula 14]

Figure 112020082889832-pat00023
Figure 112020082889832-pat00023

상기 화학식 14에서, R3'는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,In Formula 14, R 3 ′ is an alkyl having 1 to 10 carbon atoms,

[화학식 15][Formula 15]

Figure 112020082889832-pat00024
Figure 112020082889832-pat00024

상기 화학식 15에서, R4"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,In Formula 15, R 4 "is alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 5 "is alkyl having 1 to 10 carbon atoms,

[화학식 16] [Formula 16]

Figure 112020082889832-pat00025
Figure 112020082889832-pat00025

상기 화학식 16에서, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다. In Formula 16, Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms.

상기 화학식14로 표시되는 반복단위는 하기 화학식14-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 14 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 14-1 below.

[화학식14-1][Formula 14-1]

Figure 112020082889832-pat00026
Figure 112020082889832-pat00026

상기 화학식14-1에서, R3”은 탄소수 1 내지 10의 알킬이다. 상기 화학식14-1에서, R3”에 관한 내용은 상기 화학식14에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식14-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 메타크릴산(Methacrylic acid, MAA)을 들 수 있다.In Formula 14-1, R 3 ”is alkyl having 1 to 10 carbon atoms. In Formula 14-1, R 3 ”is the same as described above in Formula 14. Specific examples of the monomer represented by Formula 14-1 may include methacrylic acid (MAA).

상기 화학식15로 표시되는 반복단위는 하기 화학식15-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 15 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 15-1 below.

[화학식15-1][Chemical Formula 15-1]

Figure 112020082889832-pat00027
Figure 112020082889832-pat00027

상기 화학식15-1에서, R4"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이다. 상기 화학식15-1에서, R4" 및 R5"에 관한 내용은 상기 화학식15에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식15-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 메틸메타크릴레이트(Methylmethacrylate, MMA) 를 들 수 있다.In Formula 15-1, R 4 "is alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and R 5 "is alkyl having 1 to 10 carbon atoms. In Formula 15-1, R 4 ”and R 5 ” are the same as those described above in Formula 15. As a specific example of the monomer represented by Formula 15-1, methylmethacrylate (MMA) may be mentioned.

상기 화학식16으로 표시되는 반복단위는 하기 화학식16-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 16 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 16-1 below.

[화학식16-1][Chemical Formula 16-1]

Figure 112020082889832-pat00028
Figure 112020082889832-pat00028

상기 화학식16-1에서, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다. 상기 화학식16-1에서, Ar에 관한 내용은 상기 화학식6에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식16-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 스티렌(Styrene, SM)을 들 수 있다.In Formula 16-1, Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms. In Chemical Formula 16-1, the contents of Ar are the same as those described above in Chemical Formula 6. A specific example of the monomer represented by Formula 16-1 may include styrene (SM).

구체적으로, 상기 제1 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 화학식 14로 표시되는 반복단위: 상기 화학식 15로 표시되는 반복단위: 상기 화학식 16로 표시되는 반복단위를 1: (2 이상 5이하) : (0.2 이상 0.9 이하), 1: (2 이상 3이하) : (0.5 이상 0.9 이하), 1: (2.5 이상 3이하) : (0.6 이상 0.9 이하) 또는 1: (2.75 이상 3이하) : (0.6 이상 0.75 이하)로 포함할 수 있다. Specifically, the first alkali developable binder resin is a repeating unit represented by Formula 14: a repeating unit represented by Formula 15: a repeating unit represented by Formula 16: 1: (2 or more and 5 or less): (0.2 0.9 or less), 1: (2 or more and 3 or less): (0.5 or more and 0.9 or less), 1: (2.5 or more and 3 or less): (0.6 or more and 0.9 or less) or 1: (2.75 or more and 3 or less): (0.6 or more 0.75 It can be included as follows).

또한, 상기 제2 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 화학식 14로 표시되는 반복단위: 상기 화학식 15로 표시되는 반복단위: 상기 화학식 16로 표시되는 반복단위를 1: (1.1 이상 2이하): (0.2 이상 0.99 이하), 1: (1.5 이상 2이하): (0.5 이상 0.99이하), 또는 1: (1.5 이상 1.75이하): (0.75 이상 0.99이하) 로 포함할 수 있다.In addition, the second alkali developable binder resin is a repeating unit represented by Formula 14: a repeating unit represented by Formula 15: a repeating unit represented by Formula 16: 1: (1.1 or more and 2 or less): (0.2 or more 0.99 or less), 1: (1.5 or more and 2 or less): (0.5 or more and 0.99 or less), or 1: (1.5 or more and 1.75 or less): (0.75 or more and 0.99 or less).

한편, 발명의 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 상기 제1 알칼리 현상성 바인더 수지 100 중량부에 대하여 제2 알칼리 현상성 바인더 수지를 500 중량부 이상 1000 중량부 이하, 600 중량부 이상 800 중량부 이하, 700 중량부 이상 800 중량부 이하로 포함할 수 있다. On the other hand, the photosensitive resin composition of one embodiment of the present invention contains 500 parts by weight or more and 1000 parts by weight or less, 600 parts by weight or more and 800 parts by weight or less, It may contain 700 parts by weight or more and 800 parts by weight or less.

상기와 같이 제1 알칼리 현상성 바인더 수지 100 중량부에 대하여 제2 알칼리 현상성 바인더 수지를 500 중량부 이상의 과량으로 첨가함에 따라, 감광성 수지에 소수성 기능을 부여하여 현상액에 대한 내성을 증가시켜 회로물성 향상하는 기술적 효과가 구현될 수 있다. As described above, by adding an excess of 500 parts by weight or more of the second alkali developable binder resin to 100 parts by weight of the first alkali developable binder resin, imparting a hydrophobic function to the photosensitive resin to increase resistance to a developer, thereby increasing the circuit properties. The technical effect of improving can be implemented.

상기 알칼리 현상성 바인더 수지는, 고형분 기준으로 감광성 수지 조성물 총중량에 대하여, 20 중량% 이상 80 중량% 이하로 포함된다. 상기 알카리 현상성 바인더 수지의 함량이 상기 범위 내에 있는 경우 회로형성 후, 세선 밀착력을 강화시키는 효과를 얻을 수 있다. 상기 중량의 기준인 고형분은, 상기 감광성 수지 조성물에서 용매를 제외한 나머지 성분을 의미한다.The alkali developable binder resin is contained in an amount of 20% by weight or more and 80% by weight or less with respect to the total weight of the photosensitive resin composition based on solid content. When the content of the alkali developable binder resin is within the above range, after circuit formation, an effect of enhancing fine wire adhesion may be obtained. The solid content, which is the basis of the weight, refers to the remaining components excluding the solvent in the photosensitive resin composition.

본 발명의 알칼리 현상성 바인더 수지의 함량은 감광성 수지 조성 총 중량에 대하여 40 중량% 이상 70중량% 이하일 수 있다. 상기 알칼리 현상성 바인더 수지의 함량이 전체 감광성 수지 조성물에 대하여 40중량% 미만일 경우, 현상단 오염이 발생하여 단락 등의 불량을 초래하는 단점이 있고, 70중량%를 초과할 경우 밀착력과 해상도 등의 회로물성이 불량해 지는 문제가 있다.The content of the alkali developable binder resin of the present invention may be 40% by weight or more and 70% by weight or less based on the total weight of the photosensitive resin composition. When the content of the alkali developable binder resin is less than 40% by weight of the total photosensitive resin composition, contamination of the developing stage may occur, resulting in defects such as short circuits, and when it exceeds 70% by weight, adhesion and resolution There is a problem of poor circuit properties.

(2) 광중합 개시제 (2) photopolymerization initiator

본 발명에 따른 감광성 수지 조성물에 포함되는 광중합 개시제는 UV 및 기타 radiation에 의해서 광중합성 모노머의 연쇄반응을 개시시키는 물질로서, 드라이 필름 포토레지스트의 경화에 중요한 역할을 한다.The photopolymerization initiator included in the photosensitive resin composition according to the present invention is a material that initiates a chain reaction of a photopolymerizable monomer by UV and other radiation, and plays an important role in curing a dry film photoresist.

상기 광중합 개시제로 사용할 수 있는 화합물로는 2-메틸 안트라퀴논, 2-에틸 안트라퀴논 등의 안트라퀴논 유도체; 벤조인 메틸 에테르, 벤조페논, 페난트렌 퀴논, 4,4'-비스-(디메틸아미노)벤조페논 등의 벤조인 유도체를 들 수 있다.Compounds that can be used as the photopolymerization initiator include anthraquinone derivatives such as 2-methyl anthraquinone and 2-ethyl anthraquinone; Benzoin derivatives, such as benzoin methyl ether, benzophenone, phenanthrene quinone, and 4,4'-bis-(dimethylamino)benzophenone, are mentioned.

이외에도 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4'-5,5'-테트라페닐비스이미다졸, 1-히드록시시클로헥실페닐케톤, 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판-1-온, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-[4-모르폴리노페닐] 부탄-1-온, 2-히드록시-2-메틸-1-페닐프로판-1-온, 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드, 1-[4-(2-히드록시메톡시)페닐]-2-히드록시-2-메틸프로판-1-온, 2,4-디에틸티옥산톤, 2-클로로티옥산톤, 2,4-디메틸티옥산톤, 3,3-디메틸-4-메톡시벤조페논, 벤조페논, 1-클로로-4-프로폭시티옥산톤, 1-(4-이소프로필페닐)2-히드록시-2-메틸프로판-1-온, 1-(4-도데실페닐)-2하이드록시-2-메틸프로판-1-온, 4-벤조일-4'-메틸디메틸설파이드, 4-디메틸아미노벤조산, 메틸 4-디메틸아미노벤조에이트, 에틸 4-디메틸아미노벤조에이트, 부틸 4-디메틸아미노벤조에이트, 2-에틸헥실 4-디메틸아미노벤조에이트, 2-이소아밀 4-디메틸아미노벤조에이트, 2,2-디에톡시아세토페논, 벤질케톤 디메틸아세탈, 벤질케톤 β-메톡시 디에틸아세탈, 1-페닐-1,2-프로필디옥심-o,o'-(2-카르보닐)에톡시에테르, 메틸 o-벤조일벤조에이트, 비스[4-디메틸아미노페닐)케톤, 4,4'-비스(디에틸아미노)벤조페논, 4,4'-디클로로벤조페논, 벤질, 벤조인, 메톡시벤조인, 에톡시벤조인, 이소프로폭시벤조인, n-부톡시벤조인, 이소부톡시벤조인, tert-부톡시벤조인, p-디메틸아미노아세토페논, p-tert-부틸트리클로로아세토페논, p-tert-부틸디클로로아세토페논, 티옥산톤, 2-메틸티옥산톤, 2-이소프로필티옥산톤, 디벤조수베론, α, α-디클로로-4-페녹시아세토페논, 펜틸 4-디메틸아미노벤조에이트 중에서 선택된 화합물을 광중합 개시제로 사용할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, 2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4'-5,5'-tetraphenylbisimidazole, 1-hydroxycyclohexylphenylketone, 2,2-dimethoxy-1,2- Diphenylethan-1-one, 2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl]-2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-[4-morph Polynophenyl] butan-1-one, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, 1-[4-(2- Hydroxymethoxy)phenyl]-2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 2,4-diethyl thioxanthone, 2-chloro thioxanthone, 2,4-dimethyl thioxanthone, 3, 3-dimethyl-4-methoxybenzophenone, benzophenone, 1-chloro-4-propoxyoxanthone, 1-(4-isopropylphenyl)2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 1 -(4-Dodecylphenyl)-2hydroxy-2-methylpropan-1-one, 4-benzoyl-4'-methyldimethylsulfide, 4-dimethylaminobenzoic acid, methyl 4-dimethylaminobenzoate, ethyl 4- Dimethylaminobenzoate, butyl 4-dimethylaminobenzoate, 2-ethylhexyl 4-dimethylaminobenzoate, 2-isoamyl 4-dimethylaminobenzoate, 2,2-diethoxyacetophenone, benzyl ketone dimethylacetal, benzyl Ketone β-methoxy diethylacetal, 1-phenyl-1,2-propyldioxime-o,o'-(2-carbonyl)ethoxyether, methyl o-benzoylbenzoate, bis[4-dimethylaminophenyl ) Ketone, 4,4'-bis(diethylamino)benzophenone, 4,4'-dichlorobenzophenone, benzyl, benzoin, methoxybenzoin, ethoxybenzoin, isopropoxybenzoin, n-part Toxicbenzoin, isobutoxybenzoin, tert-butoxybenzoin, p-dimethylaminoacetophenone, p-tert-butyltrichloroacetophenone, p-tert-butyldichloroacetophenone, thioxanthone, 2-methylti A compound selected from oxantone, 2-isopropylthioxanthone, dibenzosuberone, α, α-dichloro-4-phenoxyacetophenone, and pentyl 4-dimethylaminobenzoate may be used as a photopolymerization initiator, but is limited thereto. It is not.

상기 광중합 개시제의 함량은 고형분 기준으로, 감광성 수지 조성물 총 중량에 대하여 1 중량% 이상 10 중량% 이하로 포함된다. 상기 광중합 개시제의 함량이 상기 범위 내에 있는 경우 충분한 감도를 얻을 수 있다. 상기 중량의 기준인 고형분은, 상기 감광성 수지 조성물에서 용매를 제외한 나머지 성분을 의미한다.The content of the photopolymerization initiator is included in an amount of 1% by weight or more and 10% by weight or less based on the total weight of the photosensitive resin composition. When the content of the photopolymerization initiator is within the above range, sufficient sensitivity can be obtained. The solid content, which is the basis of the weight, refers to the remaining components excluding the solvent in the photosensitive resin composition.

상기 광중합 개시제의 함량이 1 중량% 미만일 경우, 광효율이 낮아 노광량이 많이 들어가야 하기 때문에 생산효율성이 극히 저하되는 단점이 있고, 10중량%를 초과할 경우 필름이 부서지기 쉬운(brittle) 단점과 현상액 오염성이 높아져 단락 등의 불량을 초래하는 문제가 있다.If the content of the photopolymerization initiator is less than 1% by weight, the light efficiency is low, so the amount of exposure must be large, so the production efficiency is extremely deteriorated.If the content of the photopolymerization initiator is more than 10% by weight, the film is brittle and the developer is contaminated. There is a problem that this increases and causes a defect such as a short circuit.

(3) 광중합성 화합물(3) photopolymerizable compound

본 발명의 광중합성 화합물은 UV 노광 후 현상액에 대한 내성을 가져 패턴 형성이 가능하게 한다. The photopolymerizable compound of the present invention has resistance to a developer after UV exposure, thereby enabling pattern formation.

상기 광중합성 화합물은 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함할 수 있다. 상기 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 알킬렌글리콜계 디(메트)아크릴레이트, 또는 비스페놀계 디(메트)아크릴레이트를 포함할 수 있다.The photopolymerizable compound may include a difunctional (meth)acrylate compound. The bifunctional (meth)acrylate compound may include an alkylene glycol-based di(meth)acrylate, or a bisphenol-based di(meth)acrylate.

상기 알킬렌글리콜계 디(메트)아크릴레이트로는 하기 화학식 5로 표시되는 화합물을 사용할 수 있다.As the alkylene glycol-based di(meth)acrylate, a compound represented by the following formula (5) may be used.

[화학식5][Formula 5]

Figure 112020082889832-pat00029
Figure 112020082889832-pat00029

상기 화학식 5에서, l+n은 2 또는 3의 정수이고, m은 12 내지 18의 정수이다.In Formula 5, l+n is an integer of 2 or 3, and m is an integer of 12 to 18.

상기 화학식 5로 표시되는 화합물은 감광성 수지 조성물의 소수성을 향상시켜 현상액 및 도금액에 대한 내성을 현격히 증가시키고, 경화막의 박리 시간을 단축시킬 수 있다.The compound represented by Chemical Formula 5 may improve the hydrophobicity of the photosensitive resin composition, significantly increase resistance to a developer and a plating solution, and shorten the peeling time of the cured film.

본 발명에서는 상기 화학식 5로 표시되는 화합물을 감광성 수지 조성물 고형분 총 중량에 대하여 10 중량% 이상 60중량% 이하, 또는 20 중량% 이상 40중량% 이하일 수 있다.In the present invention, the compound represented by Chemical Formula 5 may be 10% by weight or more and 60% by weight or less, or 20% by weight or more and 40% by weight or less based on the total weight of the solid content of the photosensitive resin composition.

만일 상기 화학식 5로 표시되는 화합물의 함량이 감광성 수지 조성물 고형분 총 중량에 대하여, 10 중량% 미만일 경우, 화학식 5로 표시되는 화합물의 첨가에 따른 효과가 미흡하고, 60중량%를 초과할 경우에는 소수성이 증가하여 노광 후 현상 공정에서의 현상시간이 급격히 증가하는 문제점이 발생될 수 있다.If the content of the compound represented by Formula 5 is less than 10% by weight relative to the total solid content of the photosensitive resin composition, the effect of the addition of the compound represented by Formula 5 is insufficient, and when it exceeds 60% by weight, it is hydrophobic. As this increases, there may be a problem in that the development time in the developing process after exposure is rapidly increased.

상기 비스페놀계 디(메트)아크릴레이트의 구체예로는 Miwon Specialty Chemical Co., Ltd.제품의 Miramer M244(BPA(EO)3DA, Bisphenol A (EO)3 Diacrylate), Miramer M240(BPA(EO)4DA, Bisphenol A (EO)4 Diacrylate), Miramer M241(Bisphenol A (EO)4 Dimethacrylate),Miwon Specialty Chemical Co., Ltd.제품의 Miramer M2100 (BPA(EO)10DA, Bisphenol A (EO)10 Diacrylate), Miramer M2200 (BPA(EO)20DA, Bisphenol A (EO)20 Diacrylate), Miramer M2101 (Bisphenol A (EO)10 Dimethacrylate) 등을 사용할 수 있다.Specific examples of the bisphenol-based di(meth)acrylate include Miramer M244 (BPA(EO)3DA, Bisphenol A (EO) 3 Diacrylate), Miramer M240 (BPA(EO) 4 manufactured by Miwon Specialty Chemical Co., Ltd.) DA, Bisphenol A (EO)4 Diacrylate), Miramer M241 (Bisphenol A (EO) 4 Dimethacrylate), Miramer M2100 (BPA(EO) 10 DA, Bisphenol A (EO) 10 Diacrylate manufactured by Miwon Specialty Chemical Co., Ltd.) ), Miramer M2200 (BPA(EO) 20 DA, Bisphenol A (EO) 20 Diacrylate), Miramer M2101 (Bisphenol A (EO) 10 Dimethacrylate), etc. can be used.

한편, 상기 광중합성 화합물은 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함할 수 있다. Meanwhile, the photopolymerizable compound may include a trifunctional or more polyfunctional (meth)acrylate compound.

상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 탄소수 1 내지 20의 중심 그룹에 탄소수 1내지 10의 알킬렌 옥사이드 그룹 및 (메트)아크릴레이트 작용기가 각각 3개 이상 결합된 구조를 가질 수 있다.The trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound may have a structure in which three or more of each of an alkylene oxide group having 1 to 10 carbon atoms and three or more (meth)acrylate functional groups are bonded to a central group having 1 to 20 carbon atoms.

상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 하기 화학식 12로 표시되는 화합물을 포함할 수 있다.The trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound may include a compound represented by Formula 12 below.

[화학식12][Formula 12]

Figure 112020082889832-pat00030
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상기 화학식12 에서, R14은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R15는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고, R16은 탄소수 1 내지 20의 중심 그룹을 포함하는 p가 작용기이고, n12은 1 내지 20의 정수이고, p는 상기 R16에 치환되는 작용기수이고, 3 내지 10의 정수이다.In Formula 12, R 14 is hydrogen, or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 15 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms, R 16 is a functional group p including a central group having 1 to 20 carbon atoms, n12 Is an integer of 1 to 20, p is the number of functional groups substituted for R 16 , and is an integer of 3 to 10.

상기 광중합성 화합물은 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 더 포함할 수 있다. 즉, 본 발명의 일 구현예에 따른 감광성 수지 조성물은 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물, 및 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물의 혼합물을 포함할 수 있다.The photopolymerizable compound may further include a monofunctional (meth)acrylate compound. That is, the photosensitive resin composition according to an embodiment of the present invention may include a mixture of a monofunctional (meth)acrylate compound, and a trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound.

상기 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 탄소수 1 내지 10의 알킬렌 옥사이드 그룹을 포함한 (메트)아크릴레이트를 포함할 수 있다.The monofunctional (meth)acrylate compound may include a (meth)acrylate including an alkylene oxide group having 1 to 10 carbon atoms.

보다 구체적으로, 상기 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 하기 화학식 11로 표시되는 화합물을 포함할 수 있다.More specifically, the monofunctional (meth)acrylate compound may include a compound represented by the following formula (11).

[화학식11][Formula 11]

Figure 112020082889832-pat00031
Figure 112020082889832-pat00031

상기 화학식11 에서, R11은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R12는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고, R13은 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, n11은 1 내지 20의 정수이다.In Formula 11, R 11 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms , R 12 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms, R 13 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and n11 is an integer of 1 to 20 .

상기 화학식 11로 표시되는 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물, 및 상기 화학식 12로 표시되는 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함하여, 기존 제품과의 회로물성은 동등하나 광경화 속도를 빠르게 하여 그로 인한 필름에서 발색이 발현되는 시간을 빠르게 하고 발색 변화량을 높이게 하는 기술적 이유로 콘트라스트 변경 시간이 개선됨에 따라, 우수한 현상성을 확보할 수 있다.Including the monofunctional (meth)acrylate compound represented by Formula 11, and the trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound represented by Formula 12, the circuit properties with existing products are the same, but the photocuring speed is reduced. As the contrast change time is improved for a technical reason that speeds up the time to develop color in the film and increases the amount of color change, excellent developability can be secured.

구체적으로, 상기 화학식 11에서, n11은 1 내지 20의 정수, 1 내지 10의 정수, 또는 5 내지 10의 정수일 수 있다. 상기 화학식 11로 표시되는 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물의 예가 크게 한정되지 않으나, 예를 들어 하기 화학식 A로 표시되는 A040(Methoxy propylene glycol [400] acrylate) 일 수 있다. Specifically, in Formula 11, n11 may be an integer of 1 to 20, an integer of 1 to 10, or an integer of 5 to 10. The example of the monofunctional (meth)acrylate compound represented by Formula 11 is not limited, but may be, for example, Methoxy propylene glycol [400] acrylate (A040) represented by Formula A below.

[화학식 A][Formula A]

Figure 112020082889832-pat00032
Figure 112020082889832-pat00032

상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물이 상기 화학식 11로 표시되는 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함함에 따라, 광경화 속도를 빠르게 하는 기술적 원인에 의하여 노광되는 부분의 필름 색 변화를 빠르게 구현하는 효과를 구현할 수 있다. As the photosensitive resin composition of the embodiment includes the monofunctional (meth)acrylate compound represented by Formula 11, the effect of rapidly implementing the color change of the exposed portion of the film due to the technical cause of speeding up the photocuring speed is achieved. Can be implemented.

또한, 상기 화학식 12에서 n12은 1 내지 20의 정수, 1 내지 10의 정수, 또는 1 내지 5의 정수 이고, p는 상기 R16에 치환되는 작용기수를 의미하는 것으로, 3 내지 10의 정수, 3 내지 5의 정수, 또는 3 내지 4의 정수일 수 있다. In addition, in Formula 12, n12 is an integer of 1 to 20, an integer of 1 to 10, or an integer of 1 to 5, and p refers to the number of functional groups substituted for R 16, and an integer of 3 to 10, 3 It may be an integer of to 5, or an integer of 3 to 4.

즉, 상기 화학식 12에서 상기 R16에 치환되는 작용기수를 의미하는 p가 3 내지 10의 정수임에 따라 상기 화학식 12로 표시되는 3 관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물일 수 있다.That is, in Chemical Formula 12, since p, which means the number of functional groups substituted with R 16 , is an integer of 3 to 10, it may be a trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound represented by Chemical Formula 12.

구체적으로, 상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 하기 화학식 12-1로 표시될 수 있다. Specifically, the trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound may be represented by the following Formula 12-1.

[화학식12-1][Chemical Formula 12-1]

Figure 112020082889832-pat00033
Figure 112020082889832-pat00033

상기 화학식12-1에서, R20은 3가의 유기기이고, R21 내지 R23는 각각 독립적으로 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고, R24 내지 R26는 각각 독립적으로 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, n 내지 n5는 각각 독립적으로 1 내지 20의 정수이다.In Formula 12-1, R 20 is a trivalent organic group, R 21 to R 23 are each independently alkylene having 1 to 10 carbon atoms, and R 24 to R 26 are each independently hydrogen or 1 to 10 carbon atoms Is alkyl, and n to n5 are each independently an integer of 1 to 20.

상기 화학식 12-1에서 n13 내지 n15는 1 내지 20의 정수, 1 내지 10의 정수, 또는 1 내지 5의 정수일 수 있다. In Formula 12-1, n13 to n15 may be an integer of 1 to 20, an integer of 1 to 10, or an integer of 1 to 5.

상기 화학식 12로 표시되는 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물의 예가 크게 한정되지 않으나, 예를 들어 하기 화학식 B로 표시되는 T063 (Trimethylolpropane [EO]6 triacrylate) 일 수 있다. The example of the trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound represented by Formula 12 is not limited, but may be, for example, T063 (Trimethylolpropane [EO] 6 triacrylate) represented by Formula B below.

[화학식 B][Formula B]

Figure 112020082889832-pat00034
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상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물이 상기 화학식 12로 표시되는 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함함에 따라, 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물에 비해 상기 화학식 12로 표시되는 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물이 광경화 시 가교결합이 증가하고 반응기가 많은 기술적 원인에 의하여 회로물성 저하를 방지하며 발색 변화량을 증가시키는 효과를 구현할 수 있다. As the photosensitive resin composition of the embodiment includes a trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound represented by Chemical Formula 12, a polyfunctional or higher trifunctional represented by Chemical Formula 12 compared to a monofunctional (meth)acrylate compound When the functional (meth)acrylate compound is photocured, crosslinking increases, the reactor prevents a decrease in circuit properties due to many technical causes, and increases the amount of color change.

한편, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 상기 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물 100 중량부에 대하여 상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 110 중량부 이상 500 중량부 이하, 110 중량부 이상 300 중량부 이하, 110 중량부 이상 200 중량부 이하, 또는 150 중량부 이상 200 중량부 이하로 포함할 수 있다. On the other hand, the photosensitive resin composition of the embodiment is 110 parts by weight or more and 500 parts by weight or less, 110 parts by weight or more of the trifunctional or more polyfunctional (meth)acrylate compound based on 100 parts by weight of the monofunctional (meth)acrylate compound. It may be included in an amount of 300 parts by weight or less, 110 parts by weight or more and 200 parts by weight or less, or 150 parts by weight or more and 200 parts by weight or less.

상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 상기 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물에 대하여 상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 과량 포함함에 따라, 상기 화학식 11로 표시되는 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물의 광경화 속도를 빠르게 하여 필름의 색 변화을 빠르게 구현하는 효과 및 상기 화학식 12로 표시`되는 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물의 광경화시 가교결합을 증가시켜 단관능 물질만 첨가시 발생되는 회로물성 저하를 방지시키며 반응기의 양이 증가하여 발색 변화량을 증가시키는 효과가 동시에 구현될 수 있다. As the photosensitive resin composition of the embodiment contains an excess of the trifunctional or more polyfunctional (meth)acrylate compound with respect to the monofunctional (meth)acrylate compound, the monofunctional (meth)acrylate represented by Formula 11 The effect of rapidly realizing the color change of the film by speeding up the photocuring speed of the compound and increasing crosslinking during photocuring of the trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound represented by the above formula (12) when only monofunctional substances are added The effect of increasing the amount of color development by preventing the occurrence of deterioration in circuit properties and increasing the amount of the reactor can be realized at the same time.

상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 상기 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물 100 중량부에 대하여 상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 100 중량부 미만으로 포함되는 경우, 회로저하 및 발색 변화량이 감소하는 기술적 문제점이 발생할 수 있다.When the photosensitive resin composition of the embodiment contains less than 100 parts by weight of the trifunctional or more polyfunctional (meth)acrylate compound with respect to 100 parts by weight of the monofunctional (meth)acrylate compound, circuit reduction and color change amount Decreasing technical problems can occur.

또한, 상기 광중합성 화합물은 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물, 상기 화학식 11로 표시되는 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물, 및 상기 화학식 12로 표시되는 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함할 수 있다.In addition, the photopolymerizable compound includes a bifunctional (meth)acrylate compound, a monofunctional (meth)acrylate compound represented by Chemical Formula 11, and a trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound represented by Chemical Formula 12. Can include.

즉, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 광중합성 화합물을 포함하며, 상기 광중합성 화합물은 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물, 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물, 및 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함할 수 있다.That is, the photosensitive resin composition of the embodiment includes a photopolymerizable compound, and the photopolymerizable compound is a monofunctional (meth)acrylate compound, a trifunctional or more polyfunctional (meth)acrylate compound, and a difunctional (meth)acrylic Rate compounds.

구체적으로, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 상기 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물 100 중량부에 대하여 상기 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 500 중량부 이상 1500 중량부 이하, 500 중량부 이상 1000 중량부 이하, 750 중량부 이상 1000 중량부 이하, 800 중량부 이상 900 중량부 이하로 포함할 수 있다. Specifically, the photosensitive resin composition of the embodiment is 500 parts by weight or more and 1500 parts by weight or less, 500 parts by weight or more and 1000 parts by weight of the difunctional (meth)acrylate compound based on 100 parts by weight of the monofunctional (meth)acrylate compound. Parts or less, 750 parts by weight or more and 1000 parts by weight or less, and 800 parts by weight or more and 900 parts by weight or less.

즉, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 상기 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물 100 중량부에 대하여 상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 110 중량부 이상으로 포함하고, 상기 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 500 중량부 이상 1500 중량부 이하로 포함할 수 있다. That is, the photosensitive resin composition of the embodiment includes 110 parts by weight or more of the trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound based on 100 parts by weight of the monofunctional (meth)acrylate compound, and the bifunctional (meth) ) The acrylate compound may be included in an amount of 500 parts by weight or more and 1500 parts by weight or less.

또한, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물 100 중량부에 대하여 상기 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 500 중량부 이상 1000 중량부 이하, 500 중량부 이상 800 중량부 이하, 500 중량부 이상 750 중량부 이하, 500 중량부 이상 700 중량부 이하, 500 중량부 이상 600 중량부 이하로 포함할 수 있다. In addition, the photosensitive resin composition of the embodiment is 500 parts by weight or more and 1000 parts by weight or less, 500 parts by weight or more of the difunctional (meth)acrylate compound based on 100 parts by weight of the trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound. It may include 800 parts by weight or less, 500 parts by weight or more and 750 parts by weight or less, 500 parts by weight or more and 700 parts by weight or less, and 500 parts by weight or more and 600 parts by weight or less.

상술한 바와 같이 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물, 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물 및 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함하는 동시에, 상기 중량 범위를 만족하도록 포함함에 따라, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 적절할 회로물성의 발현이 가능하며, 10mJ/cm2이상의 광량을 주었을 때, 노광되는 부분의 빠른 발색 및 색변화가 가능한 기술적 효과가 구현될 수 있다.As described above, a monofunctional (meth)acrylate compound, a trifunctional or more polyfunctional (meth)acrylate compound, and a difunctional (meth)acrylate compound are included, and at the same time, the weight range is satisfied. The photosensitive resin composition of the embodiment may express appropriate circuit properties, and when a light amount of 10 mJ/cm 2 or more is given, a technical effect capable of rapid color development and color change of the exposed portion may be implemented.

보다 구체적으로, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 상기 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물 100 중량부에 대하여 상기 화학식 11로 표시되는 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물, 및 상기 화학식 12로 표시되는 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 100 중량부 이하, 50 중량부 이하, 1 중량부 이상 100 중량부 이하, 또는 1 중량부 이상 50 중량부 이하로 포함할 수 있다.More specifically, the photosensitive resin composition of the embodiment is a monofunctional (meth)acrylate compound represented by Formula 11, and a trifunctional represented by Formula 12 based on 100 parts by weight of the difunctional (meth)acrylate compound. The polyfunctional (meth)acrylate compound may be included in an amount of 100 parts by weight or less, 50 parts by weight or less, 1 part by weight or more and 100 parts by weight or less, or 1 part by weight or more and 50 parts by weight or less.

상기 광중합성 화합물의 함량은 고형분 기준으로 감광성 수지 조성물 총 중량에 대하여, 10 중량% 이상 70중량% 이하로 포함될 수 있다. 상기 광중합성 화합물의 함량이 상기 범위 내에 있는 경우 광감도와 해상도, 밀착성 등을 강화시키는 효과를 얻을 수 있다. 상기 중량의 기준인 고형분은, 상기 감광성 수지 조성물에서 용매를 제외한 나머지 성분을 의미한다.The content of the photopolymerizable compound may be included in an amount of 10% by weight or more and 70% by weight or less with respect to the total weight of the photosensitive resin composition on a solid basis. When the content of the photopolymerizable compound is within the above range, an effect of enhancing photosensitivity, resolution, and adhesion may be obtained. The solid content, which is the basis of the weight, refers to the remaining components excluding the solvent in the photosensitive resin composition.

(4) 감광성 수지 조성물(4) photosensitive resin composition

감광성 수지 조성물이 함유되고, 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하, 또는 100 Pa·s 이하, 또는 1 Pa·s 이하 300 Pa·s 이하, 또는 1 Pa·s 이하 100 Pa·s 이하, 또는 5 Pa·s 이하 280 Pa·s 이하일 수 있다. For the photosensitive resin layer sample containing the photosensitive resin composition and having a thickness of 5 µm or more and 30 µm or less, the minimum value of the absolute viscosity obtained in the temperature range of 50°C to 125°C under the condition that the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5N or less is 300 Pa·s or less, or 100 Pa·s or less, or 1 Pa·s or less 300 Pa·s or less, or 1 Pa·s or less 100 Pa·s or less, or 5 Pa·s or less 280 Pa·s or less.

상기 절대점도를 측정하는 방법의 예로는 점도 측정기를 이용할 수 있고, 상기 점도 측정기의 예로는 DHR-2 (TA Instrument)을 들 수 있다.As an example of a method of measuring the absolute viscosity, a viscosity meter may be used, and an example of the viscosity meter may be DHR-2 (TA Instrument).

구체적인 절대점도 측정 조건을 살펴보면, 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 5 ℃/min 이상 15 ℃/min 이하, 또는 8 ℃/min 이상 12 ℃/min 이하의 승온속도로 점도를 측정할 수 있다. 즉, 50 ℃에서부터 시작하여 5 ℃/min 이상 15 ℃/min 이하, 또는 8 ℃/min 이상 12 ℃/min 이하의 승온속도로 125 ℃까지 온도를 높이면서 점도를 측정할 수 있다. 상기 승온속도를 유지하는 구체적인 방법의 예는 크게 한정되지 않고, 기존에 알려진 다양한 방법을 제한 없이 사용 가능하다.Looking at the specific absolute viscosity measurement conditions, the viscosity can be measured at a temperature rise rate of 5°C/min or more and 15°C/min or less, or 8°C/min or more and 12°C/min or less in a temperature range of 50°C or more and 125°C or less. . That is, starting from 50° C., the viscosity can be measured while increasing the temperature to 125° C. at a rate of 5° C./min or more and 15° C./min or less, or 8° C./min or more and 12° C./min or less. An example of a specific method for maintaining the heating rate is not limited to a large extent, and various methods known in the art may be used without limitation.

또한, 상기 절대점도는 5 L/min 이상 15 L/min 이하, 또는 8 L/min 이상 12 L/min 이하의 속도로 질소를 주입하는 조건하에서 측정할 수 있다. 상기 질소를 주입하는 구체적인 방법의 예는 크게 한정되지 않고, 기존에 알려진 다양한 방법을 제한 없이 사용 가능하다.In addition, the absolute viscosity may be measured under conditions of injecting nitrogen at a rate of 5 L/min or more and 15 L/min or less, or 8 L/min or more and 12 L/min or less. An example of a specific method of injecting nitrogen is not largely limited, and various previously known methods may be used without limitation.

또한, 상기 절대점도는 1 1/s 이상 3 1/s의 전단속도에서 측정할 수 있다. 상기 전단속도가 3 1/s 초과로 지나치게 증가하면 flow 타입의 점도측정기에 무리가 가서 측정이 어려운 한계가 있다.In addition, the absolute viscosity can be measured at a shear rate of 1 1/s or more and 3 1/s. If the shear rate is excessively increased to more than 3 1/s, the flow-type viscometer is unreasonable, making it difficult to measure.

또한, 상기 절대점도는 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하, 또는 -5 N 이상 5N 이하, 또는 -1N 이상 1N 이하에서 측정될 수 있다. 상기 축력(axial force)은 상기 감광성 수지층 시료에 주어지는 하중 상태에서 임의의 수직 단면에서의 내력의 형태로 생기는 힘을 그 단면에 대한 법선 성분과 접선 성분으로 분해시, 법선 성분의 힘을 의미한다. 즉, 상기 축력은 부재 단면에 작용하는 단면력의 하나이며, 그 면의 중심에 작용하여 축 방향에 작용하는 힘을 의미할 수 있다.In addition, the absolute viscosity may be measured when the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5N or less, or -5N or more and 5N or less, or -1N or more and 1N or less. The axial force refers to the force of the normal component when the force generated in the form of a proof force in an arbitrary vertical section under a load applied to the photosensitive resin layer sample is decomposed into a normal component and a tangential component for that section. . That is, the axial force is one of the sectional forces acting on the cross section of the member, and may mean a force acting on the center of the surface and acting in the axial direction.

상기 절대점도 측정에 사용되는 감광성 수지층 시료의 두께는 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하일 수 있다. 상기 감광성 수지층 시료의 두께나 단면적은 광학 현미경을 통해 측정할 수 있다.The thickness of the photosensitive resin layer sample used for measuring the absolute viscosity may be 5 µm or more and 30 µm or less. The thickness or cross-sectional area of the photosensitive resin layer sample can be measured through an optical microscope.

상기 감광성 수지 조성물이 함유되고, 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 초과로 지나치게 증가하게 되면, 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위해 상기 드라이 필름 포토레지스트을 기판에 열접착시 열접착온도에서 점도가 충분히 낮아지기 어려워 기판에 대한 밀착력이 감소하는 문제가 발생할 수 있다.For the photosensitive resin layer sample containing the photosensitive resin composition and having a thickness of 5 μm or more and 30 μm or less, the minimum value of the absolute viscosity obtained in the temperature range of 50° C. or more and 125° C. or less under the condition that the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5 N or less is If it is excessively increased to more than 300 Pa·s, when the dry film photoresist is thermally bonded to a substrate for application to a circuit board or display device, the viscosity is not sufficiently lowered at the thermal bonding temperature, resulting in a problem that the adhesion to the substrate is reduced. I can.

감광성 수지 조성물이 함유되고, 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하로 충분히 낮아지는 것은, 감광성 수지 조성물이 상기 화학식1로 표시되는 반복단위를 포함하여 소수성 정도가 증가된 알칼리 현상성 바인더 수지를 사용함에 따른 것으로 보인다.For the photosensitive resin layer sample containing the photosensitive resin composition and having a thickness of 5 µm or more and 30 µm or less, the minimum value of the absolute viscosity obtained in the temperature range of 50°C to 125°C under the condition that the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5N or less is 300 It seems that the fact that the photosensitive resin composition is sufficiently lowered to Pa·s or less is due to the use of an alkali developable binder resin having an increased degree of hydrophobicity including the repeating unit represented by Chemical Formula 1.

한편, 상기 절대점도의 최소값이 얻어진 온도는 110 ℃ 이상 123 ℃ 이하, 또는 110 ℃ 이상 116 ℃ 미만 일 수 있다. 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 경화온도에 이르기 전에 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위해 상기 드라이 필름 포토레지스트을 기판에 열접착시 열접착온도인 110 ℃ 근방에서 절대점도의 최소값이 얻어질 수 있다. 이에 따라, 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위해 상기 드라이 필름 포토레지스트을 기판에 열접착시 열접착온도에서 낮은 점도를 통해 기판에 대한 밀착력을 높일 수 있다.Meanwhile, the temperature at which the minimum value of the absolute viscosity is obtained may be 110°C or more and 123°C or less, or 110°C or more and less than 116°C. The photosensitive resin composition of the embodiment may obtain a minimum value of absolute viscosity in the vicinity of 110° C., which is a thermal bonding temperature, when the dry film photoresist is thermally bonded to a substrate for application to a circuit board or a display device before the curing temperature is reached. . Accordingly, when the dry film photoresist is thermally bonded to a substrate for application to a circuit board or a display device, adhesion to the substrate may be increased through a low viscosity at the thermal bonding temperature.

구체적으로, 상기 감광성 수지층 시료의 경화 온도는 115 ℃ 이상 125 ℃ 이하, 또는 116 ℃ 이상 125 ℃ 이하일 수 있다. 이에 따라, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물은 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위해 상기 드라이 필름 포토레지스트을 기판에 열접착시 열접착온도인 110 ℃ 근방에서 경화가 진행되지 않아 기판에 대한 밀착력을 높일 수 있다.Specifically, the curing temperature of the photosensitive resin layer sample may be 115° C. or more and 125° C. or less, or 116° C. or more and 125° C. or less. Accordingly, when the dry film photoresist is thermally bonded to a substrate for application to a circuit board or a display device, the photosensitive resin composition of the embodiment does not cure near 110° C., which is a thermal bonding temperature, thereby enhancing adhesion to the substrate. I can.

구체적으로, 상기 감광성 수지층 시료에 대하여, 110 ℃ 온도에서의 절대점도값이 5 Pa·s 이상 400 Pa·s 이하일 수 있다.Specifically, for the photosensitive resin layer sample, an absolute viscosity value at a temperature of 110° C. may be 5 Pa·s or more and 400 Pa·s or less.

상기 감광성 수지 조성물은 고형분 기준으로, 알카리 현상성 바인더 수지 20 중량% 이상 80 중량% 이하, 광중합 개시제 1 중량% 이상 10 중량% 이하, 및 광중합성 화합물 10 중량% 이상 70 중량% 이하를 포함할 수 있다.The photosensitive resin composition may include 20% by weight or more and 80% by weight or less of an alkali developable binder resin, 1% by weight or more and 10% by weight or less of a photopolymerization initiator, and 10% by weight or more and 70% by weight or less of a photopolymerizable compound, based on solid content. have.

상기 감광성 수지 조성물은 용제를 더 포함할 수 있다. 상기 용제로는 일반적으로 메틸에틸케톤(MEK), 메탄올, THF, 톨루엔, 아세톤 중에서 선택된 것을 사용하며 상기 용제로 특별히 한정되는 것은 아니며, 함량 역시, 광중합 개시제, 알카리 현상성 바인더 수지 및 광중합성 화합물의 함량에 따라 조절하여 함유될 수 있다.The photosensitive resin composition may further include a solvent. The solvent is generally selected from methyl ethyl ketone (MEK), methanol, THF, toluene, and acetone, and is not particularly limited as the solvent, and the content is also a photopolymerization initiator, an alkali developable binder resin, and a photopolymerizable compound. It may be contained by adjusting according to the content.

또한, 상기 감광성 수지 조성물은 필요에 따라 기타 첨가제를 더 포함할 수 있는데, 기타 첨가제로는 가소제로서 프탈산 에스테르 형태의 디부틸 프탈레이트, 디헵틸 프탈레이트, 디옥틸 프탈레이트, 디알릴 프탈레이트; 글리콜 에스테르 형태인 트리에틸렌 글리콜 디아세테이트, 테트라에틸렌 글리콜 디아세테이트; 산 아미드 형태인 p-톨루엔 설폰아미드, 벤젠설폰아미드, n-부틸벤젠설폰아미드; 트리페닐 포스페이트 등을 사용할 수 있다.In addition, the photosensitive resin composition may further include other additives as needed. Other additives include dibutyl phthalate, diheptyl phthalate, dioctyl phthalate, diallyl phthalate in the form of phthalic acid esters as plasticizers; Triethylene glycol diacetate, tetraethylene glycol diacetate in the form of glycol esters; P-toluene sulfonamide, benzenesulfonamide, n-butylbenzenesulfonamide in the form of acid amide; Triphenyl phosphate and the like can be used.

본 발명에 있어서 감광성 수지 조성물의 취급성을 향상시키기 위해서 루이코 염료나 착색 물질을 넣을 수도 있다. 상기 루이코 염료로는, 트리스(4-디메틸아미노-2-메틸페닐)메탄, 트리스(4-디메틸아미노-2메틸페닐)메탄, 플루오란 염료 등을 들 수 있다. 그중에서도, 루이코 크리스탈 바이올렛을 사용한 경우, 콘트라스트가 양호하여 바람직하다. 루이코 염료를 함유하는 경우의 함유량은 감광성 수지 조성물 중에 0.1 중량% 이상 10 중량% 이하 일 수 있다. 콘트라스트의 발현이라는 관점에서, 0.1중량% 이상이 바람직하고, 보존 안정성을 유지한다는 관점에서는 10 중량% 이하가 바람직하다.In the present invention, in order to improve the handling properties of the photosensitive resin composition, a Leuco dye or a colored substance may be added. Examples of the Leuico dye include tris(4-dimethylamino-2-methylphenyl)methane, tris(4-dimethylamino-2methylphenyl)methane, and fluorane dyes. Among them, in the case of using a Ruiko crystal violet, the contrast is good, which is preferable. In the case of containing a Leuco dye, the content may be 0.1% by weight or more and 10% by weight or less in the photosensitive resin composition. From the viewpoint of expression of contrast, 0.1% by weight or more is preferable, and from the viewpoint of maintaining storage stability, 10% by weight or less is preferable.

착색 물질로는, 예를 들어 톨루엔술폰산1수화물, 푸크신, 프탈로시아닌 그린, 오라민 염기, 파라마젠타, 크리스탈 바이올렛, 메틸 오렌지, 나일 블루 2B, 빅토리아 블루, 말라카이트 그린, 다이아몬드 그린, 베이직 블루 20 등을 들 수 있다. 상기 착색 물질을 함유하는 경우의 첨가량은 감광성 수지 조성물 중에 0.001 중량% 이상 1중량% 이하일 수 있다. 0.001중량% 이상의 함량에서는 취급성 향상이라는 효과가 있고, 1중량% 이하의 함량에서는 보존 안정성을 유지한다는 효과가 있다.As a coloring substance, for example, toluenesulfonic acid monohydrate, fuxine, phthalocyanine green, auramine base, paramagenta, crystal violet, methyl orange, Nile blue 2B, Victoria blue, malachite green, diamond green, basic blue 20, etc. Can be lifted. When the colored material is included, the amount added may be 0.001% by weight or more and 1% by weight or less in the photosensitive resin composition. When the content is 0.001% by weight or more, there is an effect of improving the handling properties, and when the content is less than 1% by weight, there is an effect of maintaining storage stability.

그 외에 기타 첨가제로는 열중합 방지제, 염료, 변색제(discoloring agent), 밀착력 촉진제 등을 더 포함할 수 있다.Other additives may further include a thermal polymerization inhibitor, a dye, a discoloring agent, an adhesion promoter, and the like.

2. 드라이 필름 포토레지스트2. Dry film photoresist

발명의 다른 구현예에 따르면, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물을 함유한 감광성 수지층을 포함하는 드라이 필름 포토레지스트가 제공될 수 있다. 상기 감광성 수지 조성물에 대한 내용은 상기 일 구현예에서 상술한 내용을 모두 포함한다.According to another embodiment of the invention, a dry film photoresist including a photosensitive resin layer containing the photosensitive resin composition of the embodiment may be provided. The content of the photosensitive resin composition includes all of the above-described information in the embodiment.

구체적으로, 상기 감광성 수지층은 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물의 건조물 혹은 경화물을 포함할 수 있다. 상기 건조물이란, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물의 건조공정을 거쳐 얻어지는 물질을 의미한다. 상기 경화물이란, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물의 경화공정을 거쳐 얻어지는 물질을 의미한다. 상기 감광성 수지층의 두께가 크게 한정되는 것은 아니나, 예를 들어, 0.01 ㎛ 내지 1 mm 범위내에서 자유롭게 조절 가능하다.Specifically, the photosensitive resin layer may include a dried product or a cured product of the photosensitive resin composition of the embodiment. The dried product means a material obtained through the drying process of the photosensitive resin composition of the embodiment. The cured product refers to a material obtained through a curing process of the photosensitive resin composition of the embodiment. Although the thickness of the photosensitive resin layer is not largely limited, for example, it can be freely adjusted within the range of 0.01 μm to 1 mm.

상기 드라이 필름 포토레지스트의 두께가 크게 한정되는 것은 아니나, 예를 들어, 0.01 ㎛ 내지 1 mm 범위내에서 자유롭게 조절 가능하다. 상기 드라이 필름 포토레지스트의 두께가 특정 수치만큼 증가하거나 감소하는 경우 드라이 필름 포토레지스트에서 측정되는 물성 또한 일정 수치만큼 변화할 수 있다.Although the thickness of the dry film photoresist is not largely limited, for example, it can be freely adjusted within the range of 0.01 μm to 1 mm. When the thickness of the dry film photoresist increases or decreases by a specific value, physical properties measured in the dry film photoresist may also change by a predetermined value.

상기 드라이 필름 포토레지스트는 기재필름 및 보호필름을 더 포함할 수 있다. 상기 기재필름은 드라이 필름 포토레지스트를 제조하는 동안 감광성 수지층의 지지체 역할을 하는 것으로, 점착력을 갖고 있는 감광성 수지층의 노광시 취급이 용이하도록 하는 것이다.The dry film photoresist may further include a base film and a protective film. The base film serves as a support for the photosensitive resin layer during manufacture of the dry film photoresist, and facilitates handling of the photosensitive resin layer having adhesive strength during exposure.

상기 기재필름은 각종 플라스틱 필름이 사용가능하며, 예를 들어, 아크릴계 필름, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 필름, 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름, 폴리노르보넨(PNB) 필름, 싸이클로올레핀폴리머(COP) 필름, 및 폴리카보네이트(PC) 필름으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 플라스틱 필름을 포함할 수 있다. 상기 기재필름의 두께가 크게 한정되는 것은 아니나, 예를 들어, 0.01 ㎛ 내지 1 mm 범위내에서 자유롭게 조절 가능하다.Various plastic films can be used as the base film, for example, an acrylic film, a polyethylene terephthalate (PET) film, a triacetyl cellulose (TAC) film, a polynorbornene (PNB) film, a cycloolefin polymer (COP) film. , And at least one plastic film selected from the group consisting of a polycarbonate (PC) film. Although the thickness of the base film is not largely limited, for example, it can be freely adjusted within the range of 0.01 µm to 1 mm.

상기 보호필름은 취급시 레지스트의 손상을 방지해 주고, 먼지와 같은 이물질로부터 감광성 수지층을 보호하는 보호 덮게 역할을 하는 것으로서, 감광성 수지층의 기재 필름이 형성되지 않은 이면에 적층된다. 상기 보호필름은 감광성 수지층을 외부로부터 보호하는 역할을 하는 것으로서, 드라이 필름 포토레지스트를 후공정에 적용할 때는 용이하게 이탈되면서, 보관 및 유통할 때에는 이형되지 않도록 적당한 이형성과 점착성을 필요로 한다.The protective film prevents damage to the resist during handling and serves as a protective covering to protect the photosensitive resin layer from foreign substances such as dust, and is laminated on the back surface of the photosensitive resin layer on which the base film is not formed. The protective film serves to protect the photosensitive resin layer from the outside, and requires proper releasability and adhesion so that it is easily released when applying a dry film photoresist to a post process, and is not released when stored and distributed.

상기 보호필름은 각종 플라스틱 필름이 사용가능하며, 예를 들어, 아크릴계 필름, 폴리에틸렌(PE) 필름, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 필름, 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름, 폴리노르보넨(PNB) 필름, 싸이클로올레핀폴리머(COP) 필름, 및 폴리카보네이트(PC) 필름으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 플라스틱 필름을 포함할 수 있다. 상기 보호필름의 두께가 크게 한정되는 것은 아니나, 예를 들어, 0.01 ㎛ 내지 1 mm 범위내에서 자유롭게 조절 가능하다.Various plastic films can be used as the protective film, for example, an acrylic film, a polyethylene (PE) film, a polyethylene terephthalate (PET) film, a triacetylcellulose (TAC) film, a polynorbornene (PNB) film, and a cyclo It may include at least one plastic film selected from the group consisting of an olefin polymer (COP) film, and a polycarbonate (PC) film. Although the thickness of the protective film is not largely limited, for example, it can be freely adjusted within the range of 0.01 μm to 1 mm.

상기 드라이 필름 포토레지스트에 함유된 감광성 수지층은 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하, 또는 100 Pa·s 이하, 또는 1 Pa·s 이하 300 Pa·s 이하, 또는 1 Pa·s 이하 100 Pa·s 이하, 또는 5 Pa·s 이하 280 Pa·s 이하일 수 있다. The photosensitive resin layer contained in the dry film photoresist was obtained in a temperature range of 50° C. or more and 125° C. or less under the condition that the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5 N or less for a photosensitive resin layer sample having a thickness of 5 μm or more and 30 μm or less. Minimum viscosity of 300 Pa·s or less, or 100 Pa·s or less, or 1 Pa·s or less 300 Pa·s or less, or 1 Pa·s or less 100 Pa·s or less, or 5 Pa·s or less 280 Pa·s It may be less than or equal to s.

상기 절대점도를 측정하는 방법의 예로는 점도 측정기를 이용할 수 있고, 상기 점도 측정기의 예로는 DHR-2 (TA Instrument)을 들 수 있다.As an example of a method of measuring the absolute viscosity, a viscosity meter may be used, and an example of the viscosity meter may be DHR-2 (TA Instrument).

구체적인 절대점도 측정 조건을 살펴보면, 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 5 ℃/min 이상 15 ℃/min 이하, 또는 8 ℃/min 이상 12 ℃/min 이하의 승온속도로 점도를 측정할 수 있다. 즉, 50 ℃에서부터 시작하여 5 ℃/min 이상 15 ℃/min 이하, 또는 8 ℃/min 이상 12 ℃/min 이하의 승온속도로 125 ℃까지 온도를 높이면서 점도를 측정할 수 있다. 상기 승온속도를 유지하는 구체적인 방법의 예는 크게 한정되지 않고, 기존에 알려진 다양한 방법을 제한없이 사용가능하다.Looking at the specific absolute viscosity measurement conditions, the viscosity can be measured at a temperature rise rate of 5°C/min or more and 15°C/min or less, or 8°C/min or more and 12°C/min or less in a temperature range of 50°C or more and 125°C or less. . That is, starting from 50° C., the viscosity can be measured while increasing the temperature to 125° C. at a rate of 5° C./min or more and 15° C./min or less, or 8° C./min or more and 12° C./min or less. An example of a specific method of maintaining the heating rate is not limited to a large extent, and various methods known in the art may be used without limitation.

또한, 상기 절대점도는 5 L/min 이상 15 L/min 이하, 또는 8 L/min 이상 12 L/min 이하의 속도로 질소를 주입하는 조건하에서 측정할 수 있다. 상기 질소를 주입하는 구체적인 방법의 예는 크게 한정되지 않고, 기존에 알려진 다양한 방법을 제한없이 사용가능하다.In addition, the absolute viscosity may be measured under conditions of injecting nitrogen at a rate of 5 L/min or more and 15 L/min or less, or 8 L/min or more and 12 L/min or less. An example of a specific method for injecting nitrogen is not largely limited, and various previously known methods may be used without limitation.

또한, 상기 절대점도는 1 1/s 이상 3 1/s의 전단속도에서 측정할 수 있다. 상기 전단속도가 3 1/s 초과로 지나치게 증가하면 flow 타입의 점도측정기에 무리가 가서 측정이 어려운 한계가 있다.In addition, the absolute viscosity can be measured at a shear rate of 1 1/s or more and 3 1/s. If the shear rate is excessively increased to more than 3 1/s, the flow-type viscometer is unreasonable, making it difficult to measure.

또한, 상기 절대점도는 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하, 또는 -5 N 이상 5N 이하, 또는 -1N 이상 1N 이하에서 측정될 수 있다. 상기 축력(axial force)은 상기 감광성 수지층 시료에 주어지는 하중 상태에서 임의의 수직 단면에서의 내력의 형태로 생기는 힘을 그 단면에 대한 법선 성분과 접선 성분으로 분해시, 법선 성분의 힘을 의미한다. 즉, 상기 축력은 부재 단면에 작용하는 단면력의 하나이며, 그 면의 중심에 작용하여 축 방향에 작용하는 힘을 의미할 수 있다.In addition, the absolute viscosity may be measured when the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5N or less, or -5N or more and 5N or less, or -1N or more and 1N or less. The axial force refers to the force of the normal component when the force generated in the form of a proof force in an arbitrary vertical section under a load applied to the photosensitive resin layer sample is decomposed into a normal component and a tangential component for that section. . That is, the axial force is one of the sectional forces acting on the cross section of the member, and may mean a force acting on the center of the surface and acting in the axial direction.

상기 절대점도 측정에 사용되는 감광성 수지층 시료의 두께는 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하일 수 있다. 상기 감광성 수지층 시료의 두께나 단면적은 광학 현미경을 통해 측정할 수 있다.The thickness of the photosensitive resin layer sample used for measuring the absolute viscosity may be 5 µm or more and 30 µm or less. The thickness or cross-sectional area of the photosensitive resin layer sample can be measured through an optical microscope.

상기 드라이 필름 포토레지스트에 함유된 감광성 수지층이 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 초과로 지나치게 증가하게 되면, 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위해 상기 드라이 필름 포토레지스트을 기판에 열접착시 열접착온도에서 점도가 충분히 낮아지기 어려워 기판에 대한 밀착력이 감소하는 문제가 발생할 수 있다.For the photosensitive resin layer sample in which the photosensitive resin layer contained in the dry film photoresist is 5 µm or more and 30 µm or less in thickness, the absolute obtained in the temperature range of 50°C or more and 125°C or less under the condition that the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5N or less. If the minimum value of the viscosity is excessively increased to more than 300 Pa·s, when the dry film photoresist is thermally bonded to a substrate for application to a circuit board or display device, the viscosity is not sufficiently lowered at the thermal bonding temperature, thereby reducing adhesion to the substrate. Can cause problems.

상기 드라이 필름 포토레지스트에 함유된 감광성 수지층이 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하로 충분히 낮아지는 것은, 감광성 수지 조성물이 상기 화학식1로 표시되는 반복단위를 포함하여 소수성 정도가 증가된 알칼리 현상성 바인더 수지를 사용함에 따른 것으로 보인다.For the photosensitive resin layer sample in which the photosensitive resin layer contained in the dry film photoresist is 5 µm or more and 30 µm or less in thickness, the absolute obtained in the temperature range of 50°C or more and 125°C or less under the condition that the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5N or less. The fact that the minimum value of the viscosity is sufficiently lowered to 300 Pa·s or less appears to be due to the use of an alkali developable binder resin having an increased degree of hydrophobicity including the repeating unit represented by Chemical Formula 1 in the photosensitive resin composition.

한편, 상기 절대점도의 최소값이 얻어진 온도는 110 ℃ 이상 123 ℃ 이하, 또는 110 ℃ 이상 116 ℃ 미만일 수 있다. 상기 다른 구현예의 드라이 필름 포토레지스트는 경화온도에 이르기 전에 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위해 상기 드라이 필름 포토레지스트을 기판에 열접착시 열접착온도인 110 ℃ 근방에서 절대점도의 최소값이 얻어질 수 있다. 이에 따라, 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위해 상기 드라이 필름 포토레지스트을 기판에 열접착시 열접착온도에서 낮은 점도를 통해 기판에 대한 밀착력을 높일 수 있다.Meanwhile, the temperature at which the minimum value of the absolute viscosity is obtained may be 110°C or more and 123°C or less, or 110°C or more and less than 116°C. In the dry film photoresist of the other embodiment, when the dry film photoresist is thermally bonded to a substrate for application to a circuit board or display device before the curing temperature is reached, the minimum value of the absolute viscosity can be obtained in the vicinity of the thermal bonding temperature of 110 °C. have. Accordingly, when the dry film photoresist is thermally bonded to a substrate for application to a circuit board or a display device, adhesion to the substrate may be increased through a low viscosity at the thermal bonding temperature.

구체적으로, 상기 감광성 수지층 시료의 경화 온도는 115 ℃ 이상 125 ℃ 이하, 또는 116 ℃ 이상 125 ℃ 이하일 수 있다. 이에 따라, 상기 다른 구현예의 드라이 필름 포토레지스트는 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위해 상기 드라이 필름 포토레지스트을 기판에 열접착시 열접착온도인 110 ℃ 근방에서 경화가 진행되지 않아 기판에 대한 밀착력을 높일 수 있다.Specifically, the curing temperature of the photosensitive resin layer sample may be 115° C. or more and 125° C. or less, or 116° C. or more and 125° C. or less. Accordingly, in the dry film photoresist of another embodiment, when the dry film photoresist is thermally bonded to a substrate for application to a circuit board or a display device, curing does not proceed near 110° C., which is a thermal bonding temperature, so that adhesion to the substrate is improved. You can increase it.

구체적으로, 상기 감광성 수지층 시료에 대하여, 110 ℃ 온도에서의 절대점도값이 5 Pa·s 이상 400 Pa·s 이하일 수 있다.Specifically, for the photosensitive resin layer sample, an absolute viscosity value at a temperature of 110° C. may be 5 Pa·s or more and 400 Pa·s or less.

상기 드라이 필름 포토레지스트를 제조하는 방법의 예가 크게 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 폴리에틸렌테레프탈레이트와 같은 통상의 기재 필름 위에 통상의 코팅 방법을 이용하여 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물을 코팅시킨 다음, 건조시키고, 상기 건조된 감광성 수지층 상면에 폴리에틸렌과 같은 통상의 보호 필름을 이용하여 라미네이션시켜 드라이 필름을 제조할 수 있다. An example of a method of manufacturing the dry film photoresist is not limited, for example, by coating the photosensitive resin composition of the embodiment on a conventional base film such as polyethylene terephthalate using a conventional coating method, and then drying And, a dry film may be prepared by laminating the dried photosensitive resin layer on the upper surface using a conventional protective film such as polyethylene.

상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물을 코팅하는 방법은 특별히 제한되지 않으며, 예컨대 코팅 바 등의 방법이 이용될 수 있다.A method of coating the photosensitive resin composition of the embodiment is not particularly limited, and a method such as a coating bar may be used.

상기 코팅된 감광성 수지 조성물을 건조시키는 단계는 열풍오븐, 핫 플레이트, 열풍 순환로, 적외선로 등의 가열 수단에 의해 실시될 수 있고, 50 ℃ 이상 100 ℃ 이하의 온도로 수행할 수 있다.Drying the coated photosensitive resin composition may be performed by a heating means such as a hot air oven, a hot plate, a hot air circulation furnace, or an infrared furnace, and may be performed at a temperature of 50° C. or more and 100° C. or less.

3. 감광성 엘리먼트3. Photosensitive element

발명의 또 다른 구현예에 따르면, 고분자 기재; 및 상기 고분자 기재 상에 형성된 감광성 수지층을 포함하고, 상기 감광성 수지층은 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하인 감광성 엘리먼트가 제공될 수 있다.According to another embodiment of the invention, a polymer substrate; And a photosensitive resin layer formed on the polymer substrate, wherein the photosensitive resin layer has a thickness of 5 µm or more and 30 µm or less, with respect to a photosensitive resin layer sample, 50° C. or more and 125° C. under the condition that the photosensitive resin layer sample has an axial force of 5 N or less. A photosensitive element in which the minimum value of the absolute viscosity obtained in the following temperature range is 300 Pa·s or less may be provided.

상기 감광성 수지층 및 절대점도에 대한 내용은 상기 일 구현예와 다른 구현예에서 상술한 내용을 모두 포함한다. 즉, 상기 감광성 수지층은 상기 화학식 1로 표시되는 반복단위; 상기 화학식 2로 표시되는 반복단위; 상기 화학식 3으로 표시되는 반복단위; 및 상기 화학식 4로 표시되는 반복단위;를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지와 광중합성 화합물을 포함할 수 있다. The content of the photosensitive resin layer and the absolute viscosity includes all of the above-described information in the embodiment and the other embodiment. That is, the photosensitive resin layer may include a repeating unit represented by Chemical Formula 1; A repeating unit represented by Chemical Formula 2; A repeating unit represented by Chemical Formula 3; And a photopolymerizable compound and an alkali developable binder resin including a repeating unit represented by Formula 4 above.

상기 화학식 1로 표시되는 반복단위; 상기 화학식 2로 표시되는 반복단위; 상기 화학식 3으로 표시되는 반복단위; 및 상기 화학식 4로 표시되는 반복단위;를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지와 광중합성 화합물에 대한 내용은 상기 일 구현예에서 상술한 모든 내용을 포함한다.A repeating unit represented by Chemical Formula 1; A repeating unit represented by Chemical Formula 2; A repeating unit represented by Chemical Formula 3; And the repeating unit represented by Chemical Formula 4; the contents of the alkali developable binder resin and the photopolymerizable compound include all the contents described above in the embodiment.

상기 고분자 기재는 각종 플라스틱 필름이 사용가능하며, 예를 들어, 아크릴계 필름, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 필름, 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름, 폴리노르보넨(PNB) 필름, 싸이클로올레핀폴리머(COP) 필름, 및 폴리카보네이트(PC) 필름으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 플라스틱 필름을 포함할 수 있다. 상기 고분자 기재의 두께가 크게 한정되는 것은 아니나, 예를 들어, 0.01 ㎛ 내지 1 mm 범위내에서 자유롭게 조절 가능하다.Various plastic films can be used for the polymer substrate, for example, an acrylic film, a polyethylene terephthalate (PET) film, a triacetyl cellulose (TAC) film, a polynorbornene (PNB) film, a cycloolefin polymer (COP) film. , And at least one plastic film selected from the group consisting of a polycarbonate (PC) film. Although the thickness of the polymer substrate is not largely limited, for example, it can be freely adjusted within the range of 0.01 μm to 1 mm.

상기 고분자 기재의 구체적인 예로는 미연신 폴리에스테르 필름을 일축연신하고, 그 일면에 바인더 수지와 유기입자를 포함하는 조액을 도포하여 나머지 일축연신하는 인-라인 코팅 방식에 의해 안티블로킹층이 형성된 폴리에스테르 필름을 들 수 있다.A specific example of the polymer substrate is a polyester in which an anti-blocking layer is formed by uniaxially stretching an unstretched polyester film, applying a crude liquid containing a binder resin and organic particles to one side thereof, and uniaxially stretching the remaining uniaxially. A film is mentioned.

상기 고분자 기재는 통상적으로 제조시의 주행성 및 권취특성을 고려하여 첨가되어 온 안티블록킹제를 첨가하지 않는 대신에 인-라인 코팅 방식을 선택하였으며, 투명성을 저해하지 않는 대체 입자를 사용한 유기입자층을 구비한 것이다.The polymer substrate has an in-line coating method instead of not adding an anti-blocking agent, which has been added in consideration of the running property and winding characteristics at the time of manufacture, and has an organic particle layer using alternative particles that do not impair transparency. I did it.

여기서 주행성 및 권취특성을 고려하면서 투명성을 저해하지 않는 입자로 사용된 유기입자의 예로는 메틸메타크릴레이트, 에틸메타크릴레이트, 이소부틸메타크릴레이트, 노말부틸메타크릴레이트, 노말부틸메틸메타크릴레이트, 아크릴산, 메타크릴산의 공중합체 또는 삼원공중합체 등의 아크릴계 입자; 폴리에틸렌, 폴리스티렌, 폴리프로필렌 등의 올레핀계 입자; 아크릴과 올레핀계의 공중합체; 또는 단일중합체의 입자를 형성한 후 그 층위에 다른 종류의 단량체를 코팅한 다층다성분계 입자 등의 유기입자 등을 들 수 있다.Here, examples of organic particles used as particles that do not impair transparency while taking into account running properties and winding characteristics are methyl methacrylate, ethyl methacrylate, isobutyl methacrylate, normal butyl methacrylate, and normal butyl methyl methacrylate , Acrylic particles such as copolymers or terpolymers of acrylic acid and methacrylic acid; Olefin-based particles such as polyethylene, polystyrene, and polypropylene; Acrylic and olefin-based copolymers; Alternatively, organic particles such as multi-layered multi-component particles in which homopolymer particles are formed and then coated with other types of monomers on the layer may be used.

이같은 유기입자는 구체적으로는 구형이면서 바인더수지와의 굴절율의 차이가 있어야 한다. 여기서 '구형'은 타원에 있어 단축(a)과 장축(b)의 비가 0.5< a/b < 2이고, 직사각형에 있어서 대각선(d)과의 관계가 d2?a2+b2 인것으로 정의된다. 그리고 육면체에 있어서 꼭지점간의 거리가 가장 긴 축(f)과 a, b축이외의 c축과의 관계는 f2≤c2+a2+b2 로 정의한다. 입자의 형상이 구형이어야 주행성 측면에서 바람직하다.Such organic particles should be specifically spherical and have a difference in refractive index from the binder resin. Here,'spherical' is defined as the ratio of the minor axis (a) and the major axis (b) of the ellipse to 0.5 <a/b <2, and the relationship with the diagonal (d) of the rectangle is d2?a2+b2. And the relationship between the axis (f) with the longest distance between vertices in the cube and the c axis other than the a and b axes is defined as f2≦c2+a2+b2. The shape of the particles should be spherical, which is preferable in terms of running performance.

그리고, 유기입자의 바인더 수지와의 굴절율 차이는 0.05이하인 것을 그 특징으로 한다. 굴절율의 차이가 0.05보다 크면 Haze를 증가시킨다. 이것은 산란광이 많음을 의미하며, 이러한 산란광이 많을 경우 사이드월의 스무징효과가 떨어진다. 이것은 유기입자의 크기와 량에도 의존한다. 유기입자는 평균입경이 0.5㎛ 내지 5㎛ 정도인 것이 좋으며, 이보다 작을 경우 주행특성 및 권취특성이 저하되며, 5㎛보다 클 경우 헤이즈를 증가시키며, 탈락문제 발생을 감안하여 바람직하지 못하다. 유기입자의 함량은 바인더 수지와의 총량을 기준으로 1 내지 10중량%인 것이 바람직하다.And, it is characterized in that the difference in refractive index between the organic particles and the binder resin is 0.05 or less. If the difference in refractive index is greater than 0.05, the Haze is increased. This means that there is a lot of scattered light, and when there is a lot of such scattered light, the smoothing effect of the sidewall is inferior. It also depends on the size and quantity of the organic particles. It is preferable that the organic particles have an average particle diameter of about 0.5 µm to 5 µm, and if it is smaller than this, the running characteristics and winding characteristics are deteriorated, and if it is larger than 5 µm, the haze increases, and it is not preferable in consideration of the occurrence of a dropping problem. The content of the organic particles is preferably 1 to 10% by weight based on the total amount of the binder resin.

유기입자의 함량이 바인더 수지와의 총량을 기준으로 하여 1중량% 미만이면 안티블로킹 효과가 미흡하여 스크래치에 약하며, 권취특성, 주행특성이 나빠지고, 10중량%를 초과면 헤이즈가 증가하여 투명특성이 나빠지는 문제가 있을 수 있다.If the content of organic particles is less than 1% by weight based on the total amount of the binder resin, the anti-blocking effect is insufficient and it is weak against scratches, winding characteristics and running characteristics deteriorate, and if it exceeds 10% by weight, the haze increases and transparent characteristics There may be a problem with this worsening.

한편, 상기와 같은 유기입자에 더하여 무기계 입자를 첨가할 수도 있는데, 이때는 통상 사용되어온 무기계 안티블록킹제를 첨가하는 것은 바람직하지 않으며, 입자 크기 100nm 이하인 콜로이달 실리카를 첨가하는 것이 바람직하다. 그 함량은 바인더 수지 100중량부에 대해 10중량부 이하로 포함하는 것이 바람직하다. 상기와 같은 입자크기와 함량을 만족할 때, 드라이필름포토레지스트를 이용한 패턴 형성에서 안티블록킹층으로 인해 발생되는 사이드월의 결손이나 분화구와 같은 홈을 발생시키지 않을 수 있다.Meanwhile, inorganic particles may be added in addition to the organic particles as described above. In this case, it is not preferable to add an inorganic anti-blocking agent that has been used, and it is preferable to add colloidal silica having a particle size of 100 nm or less. The content is preferably included in an amount of 10 parts by weight or less based on 100 parts by weight of the binder resin. When the particle size and content as described above are satisfied, defects in the sidewall or grooves such as craters may not be generated due to the anti-blocking layer in pattern formation using the dry film photoresist.

이같은 유기입자를 미연신의 폴리에스테르 필름 상에 도포하기 위한 접착제의 역할을 하는 바인더 수지로는 유기입자와 상용성이 좋은 것을 사용하면 되는 데, 이러한 수지의 예로는 불포화 폴리에스테르, 메틸메타크릴레이트, 에틸메타크릴레이트, 이소부틸메타크릴레이트, 노말부틸메타크릴레이트, 노말부틸메틸메타크릴레이트, 아크릴산, 메타크릴산의 공중합체 또는 삼원공중합체 등과 같은 아크릴계 수지; 우레탄계 수지; 에폭시계 수지; 또는 멜라민계 수지 등을 들 수 있으며, 바람직하게는 아크릴계 수지이다.As a binder resin that acts as an adhesive for applying such organic particles onto an unstretched polyester film, one having good compatibility with organic particles may be used. Examples of such resins include unsaturated polyester, methyl methacrylate, Acrylic resins such as ethyl methacrylate, isobutyl methacrylate, normal butyl methacrylate, normal butyl methyl methacrylate, acrylic acid, methacrylic acid copolymer or terpolymer; Urethane resin; Epoxy resin; Or melamine resin etc. are mentioned, Preferably it is an acrylic resin.

바인더 수지와 유기입자로 조액함에 있어서 사용할 수 있는 솔벤트는 바람직하기로는 물이다.The solvent that can be used in the liquid preparation of the binder resin and organic particles is preferably water.

이와 같이 바인더 수지에 유기입자를 포함하는 조액을, PET 펠렛을 용율압출하여 얻어진 미연신 폴리에스테르 필름을 일축으로 연신한 후, 일축으로 연신된 필름상에 도포한다. 도포는 일축연신 필름의 적어도 일면에 행해질 수 있으며, 그 두께는 최종 건조 후 두께를 기준으로 하여 30 ㎚ 내지 200㎚ 정도인 것이 바람직하다. 만일, 유기입자를 포함하는 조액을 일축연신필름 상에 30㎚ 보다 얇게 도포하면 유기입자의 탈락이 쉬워 스크래치에 취약하고, 백분이 발생되는 문제가 있으며, 200㎚ 보다 두껍게 도포하면 조액의 점도 상승으로 인하여 코팅 속도가 빠른 인라인 코팅에서는 코팅방향으로 코팅줄이 발생한다.In this way, a crude liquid containing organic particles in a binder resin is uniaxially stretched and then applied onto the uniaxially stretched film after the unstretched polyester film obtained by elution extrusion of PET pellets. Coating may be performed on at least one side of the uniaxially stretched film, and the thickness is preferably about 30 nm to 200 nm based on the thickness after final drying. If the crude liquid containing organic particles is applied on the uniaxially stretched film to a thickness of less than 30 nm, the organic particles are easily detached and are susceptible to scratches, and there is a problem that white powder is generated. If the crude liquid is applied thicker than 200 nm, the viscosity of the crude liquid increases. Therefore, in in-line coating with a high coating speed, coating streaks are generated in the coating direction.

이와같이 인-라인 코팅방식에 의해, 일반적인 안티블록킹제가 아닌 유기입자를 사용하여 도포하여 얻어진 상기 고분자 기재는, 입자층으로 인해 권취특성 및 주행특성은 유지되면서, 광투과성이 우수한 유기입자로 인해 투명성이 우수한 기재필름이다.In this way, the polymer substrate obtained by coating with organic particles other than a general anti-blocking agent by the in-line coating method maintains the winding and running characteristics due to the particle layer, and has excellent transparency due to the organic particles having excellent light transmittance. It is a base film.

감광성 수지층의 적층은 고분자 기재에 있어서 유기입자를 포함하는 층의 반대면에 수행되는 바, 이와같이 유기입자를 포함하는 층의 반대면에 감광성 수지층이 형성됨에 따라서 종전과 같이 안티블록킹제를 포함하는 기재필름이 적층됨에 따라 나타나는 분화구 모양의 흠의 발생이 없다. 실리카 등의 입자는 유기입자에 비하여 그 크기가 클 뿐만 아니라 그 분포가 기재필름 전반에 걸쳐 있기 때문에 감광성 수지층과 인접한 부분에서도 실리카의 영향이 미미하게나마 나타나는 것이다. Lamination of the photosensitive resin layer is performed on the opposite side of the layer containing organic particles in the polymer substrate. As the photosensitive resin layer is formed on the opposite side of the layer containing organic particles, an anti-blocking agent is included as before. There is no occurrence of a crater-shaped flaw that appears as the base film is laminated. Particles such as silica are not only larger in size than organic particles, but also have a distribution throughout the base film, so that the influence of silica appears insignificantly even at a portion adjacent to the photosensitive resin layer.

반면에 본 발명에서 사용된 고분자 기재에 있어서는 그 크기가 0.5㎛ 내지 5㎛인 유기입자이면서, 그 유기입자층이 감광성 수지층과 인접되어 있지 않아서 유기입자의 물리적 영향이 미치지 않는다. 또한, 우수한 광투과성을 갖는 유기입자를 사용함에 따라서 사이드월의 결손도 줄일 수 있으면서, 여타의 회로물성을 저해하지 않게 되는 것이다.On the other hand, in the polymer substrate used in the present invention, the organic particles have a size of 0.5 µm to 5 µm, and the organic particle layer is not adjacent to the photosensitive resin layer, so the physical effect of the organic particles is not affected. In addition, by using organic particles having excellent light transmittance, defects in sidewalls can be reduced, and other circuit properties are not impaired.

상기 감광성 엘리먼트는 감광성 수지층 상에 형성된 보호필름을 더 포함할 수 있다. 상기 보호필름은 취급시 감광성 수지층의 손상을 방지해 주고, 먼지와 같은 이물질로부터 감광성 수지층을 보호하는 보호 덮게 역할을 하는 것으로서, 감광성 수지층의 고분자 기재가 형성되지 않은 이면에 적층된다. 상기 보호필름은 감광성 수지층을 외부로부터 보호하는 역할을 하는 것으로서, 감광성 엘리먼트를 후공정에 적용할 때는 용이하게 이탈되면서, 보관 및 유통할 때에는 이형되지 않도록 적당한 이형성과 점착성을 필요로 한다.The photosensitive element may further include a protective film formed on the photosensitive resin layer. The protective film prevents damage to the photosensitive resin layer during handling and serves as a protective covering to protect the photosensitive resin layer from foreign substances such as dust, and is laminated on the back surface of the photosensitive resin layer on which the polymer substrate is not formed. The protective film serves to protect the photosensitive resin layer from the outside, and requires proper release properties and adhesion so that the photosensitive element is easily released when applied to a post-process, and is not released when stored and distributed.

상기 보호필름은 각종 플라스틱 필름이 사용가능하며, 예를 들어, 아크릴계 필름, 폴리에틸렌(PE) 필름, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 필름, 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름, 폴리노르보넨(PNB) 필름, 싸이클로올레핀폴리머(COP) 필름, 및 폴리카보네이트(PC) 필름으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 플라스틱 필름을 포함할 수 있다. 상기 보호필름의 두께가 크게 한정되는 것은 아니나, 예를 들어, 0.01 ㎛ 내지 1 mm 범위내에서 자유롭게 조절 가능하다.Various plastic films can be used as the protective film, for example, an acrylic film, a polyethylene (PE) film, a polyethylene terephthalate (PET) film, a triacetylcellulose (TAC) film, a polynorbornene (PNB) film, and a cyclo It may include at least one plastic film selected from the group consisting of an olefin polymer (COP) film, and a polycarbonate (PC) film. Although the thickness of the protective film is not largely limited, for example, it can be freely adjusted within the range of 0.01 μm to 1 mm.

4. 회로 기판, 디스플레이 장치4. Circuit board, display device

발명의 또 다른 구현예에 따르면, 상기 일 구현예의 감광성 수지 조성물을 함유한 감광성 수지층을 포함하는, 회로 기판 또는 디스플레이 장치가 제공될 수 있다. 상기 감광성 수지 조성물에 대한 내용은 상기 일 구현예에서 상술한 내용을 모두 포함한다.According to another embodiment of the present invention, a circuit board or a display device may be provided, including a photosensitive resin layer containing the photosensitive resin composition of the embodiment. The content of the photosensitive resin composition includes all of the above-described information in the embodiment.

상기 회로기판 또는 디스플레이 장치에 관한 구체적인 내용은 특별히 한정되지 않으며, 종래 알려진 다양한 기술 구성이 제한없이 적용 가능하다.The specific content of the circuit board or the display device is not particularly limited, and various conventionally known technical configurations can be applied without limitation.

상기 회로 기판 또는 디스플레이 장치에 포함된 감광성 수지층은 개구부가 없는 필름 형태일 수도 있고, 개구부를 갖는 패턴 형태일 수도 있다.The photosensitive resin layer included in the circuit board or display device may be in the form of a film without openings or in a pattern form having openings.

상기 패턴 형태의 감광성 수지층을 형성하는 방법의 예로는, 상기 다른 구현예의 드라이 필름 포토레지스트의 감광성 수지층을 회로 기판 또는 디스플레이 장치 제조용 기판 상에 적층시킨 후, 노광 및 현상을 진행하는 방법을 들 수 있다. 또한, 상기 다른 구현예의 감광성 엘리먼트의 감광성 수지층을 회로 기판 또는 디스플레이 장치 제조용 기판 상에 적층시킨 후, 노광 및 현상을 진행하는 방법을 들 수 있다.Examples of a method of forming the patterned photosensitive resin layer include a method of performing exposure and development after laminating the photosensitive resin layer of the dry film photoresist of the other embodiment on a circuit board or a substrate for manufacturing a display device. I can. In addition, there may be mentioned a method of performing exposure and development after laminating the photosensitive resin layer of the photosensitive element of the other embodiment on a circuit board or a substrate for manufacturing a display device.

상기 다른 구현예의 드라이 필름 포토레지스트 혹은 감광성 엘리먼트가 감광성 수지층 상에 보호필름을 갖는 경우, 감광성 수지층을 회로 기판 또는 디스플레이 장치 제조용 기판 상에 적층공정 이전에 보호필름을 제거하는 공정을 더 거칠 수 있다.When the dry film photoresist or photosensitive element of the other embodiment has a protective film on the photosensitive resin layer, the process of removing the protective film may be further performed prior to laminating the photosensitive resin layer on a circuit board or a substrate for manufacturing a display device. have.

또한 상기 다른 구현예의 드라이 필름 포토레지스트 혹은 감광성 엘리먼트가 감광성 수지층 일면에 적층된 고분자 기재 혹은 기재필름을 갖는 경우, 노광공정 직후 고분자 기재 혹은 기재필름을 제거하는 공정을 더 거칠 수 있다.In addition, when the dry film photoresist or photosensitive element of the other embodiment has a polymer substrate or substrate film laminated on one surface of the photosensitive resin layer, a process of removing the polymer substrate or substrate film immediately after the exposure process may be further performed.

이에 따라, 상기 다른 구현예의 드라이 필름 포토레지스트 혹은 감광성 엘리먼트에 함유된 감광성 수지층이 상기 회로 기판 또는 디스플레이 장치에 포함될 수 있다.Accordingly, the photosensitive resin layer contained in the dry film photoresist or the photosensitive element of the other embodiment may be included in the circuit board or the display device.

본 발명에 따르면, 회로기판이나 디스플레이 장치에의 적용을 위한 기판과의 열접착온도 부근에서 경화되지 않고 충분히 낮은 점도를 가질 수 있어, 기판에 대한 밀착력이 향상된 감광성 수지 조성물 및 이를 이용한 드라이 필름 포토레지스트, 회로기판, 및 디스플레이 장치가 제공될 수 있다.According to the present invention, a photosensitive resin composition having improved adhesion to a substrate and a dry film photoresist using the same, since it is not cured near a thermal bonding temperature with a substrate for application to a circuit board or a display device and can have a sufficiently low viscosity , A circuit board, and a display device may be provided.

도 1은 실시예1에서 얻어진 절대점도 측정결과를 나타낸 것이다.1 shows the measurement results of absolute viscosity obtained in Example 1.

발명을 하기의 실시예에서 보다 상세하게 설명한다. 단, 하기의 실시예는 본 발명을 예시하는 것일 뿐, 본 발명의 내용이 하기의 실시예에 의하여 한정되는 것은 아니다.The invention will be described in more detail in the following examples. However, the following examples are merely illustrative of the present invention, and the contents of the present invention are not limited by the following examples.

<제조예 및 비교제조예: 알칼리 현상성 바인더 수지의 제조><Production Example and Comparative Production Example: Preparation of alkali developable binder resin>

제조예1Manufacturing Example 1

4구 둥근바닥 플라스크에 기계식 교반기(mechanical stirrer)와 환류장치를 장착한 다음, 질소로 플라스크 내부를 퍼지하였다. 상기 질소로 퍼지된 플라스크에 메틸에틸케톤(Methyl Ethyl Ketone, MEK) 68g 및 메탄올(Methanol, MeOH) 5g를 투입한 다음, 아조비스이소부티로니트릴(azobisisobutyronitrile, AIBN) 0.9g을 투입하여 완전히 용해시켰다. 여기에 단량체로 메타크릴산(Methacrylic acid, MAA) 24g, 메틸메타크릴레이트(Methylmethacrylate, MMA) 6g, 스티렌(Styrene, SM) 30g, 및 2-페녹시에틸메타크릴레이트(2-phenoxyethyl methacrylate, PHEMA) 40g의 단량체 혼합물을 투입하고, 80 ℃까지 승온한 다음 6시간 동안 중합하여 알칼리 현상성 바인더 수지(중량평균분자량 : 65000 g/mol, 유리전이온도 98 ℃, 고형분함량 47.3 중량%, 산가 157 mgKOH/g)를 제조하였다.A mechanical stirrer and a reflux device were attached to a four-necked round bottom flask, and then the inside of the flask was purged with nitrogen. 68 g of methyl ethyl ketone (MEK) and 5 g of methanol (Methanol, MeOH) were added to the flask purged with nitrogen, and then 0.9 g of azobisisobutyronitrile (AIBN) was added to completely dissolve . Here, as a monomer, methacrylic acid (MAA) 24g, methylmethacrylate (MMA) 6g, styrene (SM) 30g, and 2-phenoxyethyl methacrylate (PHEMA) ) 40g of the monomer mixture was added, the temperature was raised to 80 ℃, and then polymerized for 6 hours to polymerize an alkali developable binder resin (weight average molecular weight: 65000 g/mol, glass transition temperature 98 ℃, solid content 47.3% by weight, acid value 157 mgKOH) /g) was prepared.

전술된 제조예에서 제조된 알칼리 현상성 바인더 수지는 1.0 (w/w)% in THF (고형분 기준 약 0.5 (w/w)%)의 농도가 되도록 테트라히드로푸란에 용해시켜 0.45㎛ Pore Size의 Syringe Filter를 이용하여 여과 후 GPC에 20㎕를 주입하였다. GPC의 이동상은 테트라히드로푸란(Tetrahydrofuran, THF)을 사용하고, 1.0mL/분의 유속으로 유입하였으며, 컬럼은 Agilent PLgel 5㎛ Guard (7.5 x 50 mm) 1개와 Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) 2개를 직렬로 연결하였다. 검출기로는 Agilent 1260 Infinity Ⅱ system, RI Detector를 이용하여 40℃에서 측정하였다.The alkali developable binder resin prepared in the above preparation example was dissolved in tetrahydrofuran to a concentration of 1.0 (w/w)% in THF (about 0.5 (w/w)% based on solid content), After filtration using a filter, 20 µl was injected into the GPC. The mobile phase of GPC was tetrahydrofuran (THF) and flowed at a flow rate of 1.0 mL/min, and the column was 1 Agilent PLgel 5㎛ Guard (7.5 x 50 mm) and Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) two were connected in series. As a detector, an Agilent 1260 Infinity II system, RI Detector was used to measure at 40°C.

산가는 알칼리 현상성 바인더 수지를 1g 남짓 샘플링하여 50ml 혼합용제(MeOH 20%, Acetone80%)에 녹이고 1%-페놀프탈레인 지시약을 두 방울 첨가한 다음, 0.1N-KOH로 적정하여 산가를 측정하였다.As for the acid value, about 1 g of an alkali developable binder resin was sampled, dissolved in a 50 ml mixed solvent (MeOH 20%, Acetone 80%), added two drops of 1%-phenolphthalein indicator, and titrated with 0.1N-KOH to measure the acid value.

고형분함량은 전술된 제조예에서 제조된 알칼리 현상성 바인더 수지의 중량을 기준으로 오븐에서 150 ℃, 120분간 가열한 이후 남은 고형분의 중량 퍼센트 비율을 측정하였다.The solid content was measured by weight percent ratio of the remaining solid content after heating at 150° C. for 120 minutes in an oven based on the weight of the alkali developable binder resin prepared in the above-described Preparation Example.

제조예2Manufacturing Example 2

4구 둥근바닥 플라스크에 기계식 교반기(mechanical stirrer)와 환류장치를 장착한 다음, 질소로 플라스크 내부를 퍼지하였다. 상기 질소로 퍼지된 플라스크에 메틸에틸케톤(Methyl Ethyl Ketone, MEK) 80g 및 메탄올(Methanol, MeOH) 7.5g를 투입한 다음, 아조비스이소부티로니트릴(azobisisobutyronitrile, AIBN) 0.45g을 투입하여 완전히 용해시켰다. 여기에 단량체로 아크릴산(Acrylic acid, AA) 8g, 메타크릴산(Methacrylic acid, MAA) 15g, 부틸아크릴레이트(Butyl acrylate, BA) 15g, 메틸메타크릴레이트(Methyl methacrylate, MMA) 52g, 및 스티렌(Styrene, SM) 10g의 단량체 혼합물을 투입하고, 80 ℃까지 승온한 다음 6시간 동안 중합하여 알칼리 현상성 바인더 수지를 제조하였다.A mechanical stirrer and a reflux device were attached to a four-necked round bottom flask, and then the inside of the flask was purged with nitrogen. 80 g of methyl ethyl ketone (MEK) and 7.5 g of methanol (MeOH) were added to the flask purged with nitrogen, and then 0.45 g of azobisisobutyronitrile (AIBN) was added to completely dissolve. Made it. Here, acrylic acid (AA) 8 g, methacrylic acid (MAA) 15 g, butyl acrylate (BA) 15 g, methyl methacrylate (MMA) 52 g, and styrene ( Styrene, SM) 10 g of a monomer mixture was added, the temperature was raised to 80° C., and then polymerized for 6 hours to prepare an alkali developable binder resin.

상기 알칼리 현상성 바인더 수지는, 중량평균분자량 71538 g/mol, 유리전이온도 79 ℃, 고형분함량 51.4 중량%, 산가 156.3 mgKOH/g로 측정되었다. The alkali developable binder resin was measured to have a weight average molecular weight of 71538 g/mol, a glass transition temperature of 79° C., a solid content of 51.4 wt%, and an acid value of 156.3 mgKOH/g.

제조예3 Manufacturing Example 3

4구 둥근바닥 플라스크에 기계식 교반기(mechanical stirrer)와 환류장치를 장착한 다음, 질소로 플라스크 내부를 퍼지하였다. 상기 질소로 퍼지된 플라스크에 메틸에틸케톤(Methyl Ethyl Ketone, MEK) 110 g 및 메탄올(Methanol, MeOH) 10 g를 투입한 다음, 아조비스이소부티로니트릴(azobisisobutyronitrile, AIBN) 1 g을 투입하여 완전히 용해시켰다. 여기에 단량체로 메타크릴산(Methacrylic acid, MAA) 30 g, 메틸메타크릴레이트(Methyl methacrylate, MMA) 100 g, 및 스티렌(Styrene, SM) 30 g의 단량체 혼합물을 투입하고, 80 ℃까지 승온한 다음 6시간 동안 중합하여 알칼리 현상성 바인더 수지 (중량평균분자량 49852 g/mol, 유리전이온도 125 ℃, 고형분함량 48.5 중량%, 산가 163.17 mgKOH/g)를 제조하였다.A mechanical stirrer and a reflux device were attached to a four-necked round bottom flask, and then the inside of the flask was purged with nitrogen. To the flask purged with nitrogen, 110 g of methyl ethyl ketone (MEK) and 10 g of methanol (Methanol, MeOH) were added, and then 1 g of azobisisobutyronitrile (AIBN) was added to completely Dissolved. Here, a monomer mixture of 30 g of methacrylic acid (MAA), 100 g of methyl methacrylate (MMA), and 30 g of styrene (SM) was added as a monomer, and the temperature was raised to 80 °C. Alkaline developable binder resin (weight average molecular weight 49852 g/mol, glass transition temperature 125° C., solid content 48.5 wt%, acid value 163.17 mgKOH/g) was prepared by polymerization for the next 6 hours.

비교제조예1Comparative Production Example 1

4구 둥근바닥 플라스크에 기계식 교반기(mechanical stirrer)와 환류장치를 장착한 다음, 질소로 플라스크 내부를 퍼지하였다. 상기 질소로 퍼지된 플라스크에 MEK(Methyl Ethyl Ketone) 90g 및 PGMEA(Propylene GlycolMonomehtyl Ether Acetate) 10g를 투입한 다음, 아조비스이소부티로니트릴(azobisisobutyronitrile, AIBN)0.8g을 투입하여 완전히 용해시켰다. 여기에 메틸메타크릴산 20g, 메틸메타크릴레이트 70g 및 스티렌 10g의 단량체 혼합물을 투입하고, 80 ℃까지 승온한 다음 6시간 동안 중합하여 알칼리 현상성 바인더 수지(중량평균분자량 : 60000 g/mol)를 제조하였다.A mechanical stirrer and a reflux device were attached to a four-necked round bottom flask, and then the inside of the flask was purged with nitrogen. 90 g of methyl ethyl ketone (MEK) and 10 g of Propylene Glycol Monomehtyl Ether Acetate (PGMEA) were added to the flask purged with nitrogen, and then 0.8 g of azobisisobutyronitrile (AIBN) was added to completely dissolve. Here, a monomer mixture of 20 g of methyl methacrylic acid, 70 g of methyl methacrylate and 10 g of styrene was added, the temperature was raised to 80° C., and then polymerized for 6 hours to obtain an alkali developable binder resin (weight average molecular weight: 60000 g/mol). Was prepared.

<실시예 및 비교예 : 감광성 수지 조성물 및 드라이 필름 포토레지스트 제조><Examples and Comparative Examples: Preparation of photosensitive resin composition and dry film photoresist>

하기 표1에 기재된 조성에 따라, 광중합 개시제류들을 용제인 메틸에틸케톤(MEK)에 녹인 후, 광중합성 화합물과 알칼리 현상성 바인더 수지를 첨가하여 기계적 교반기를 이용하여 약 1시간 정도 혼합하여 감광성 수지 조성물을 제조하였다. According to the composition shown in Table 1 below, photopolymerization initiators are dissolved in methyl ethyl ketone (MEK) as a solvent, and then a photopolymerizable compound and an alkali developable binder resin are added, followed by mixing for about 1 hour using a mechanical stirrer. The composition was prepared.

상기 수득된 감광성 수지 조성물을 40 ㎛의 PET 필름 위에 코팅 바(bar)를 이용하여 코팅시켰다. 코팅된 감광성 수지 조성물층은 열풍오븐을 이용하여 건조시키는데, 이때 건조 온도는 80 ℃이고, 건조 시간은 5분이며, 건조후 감광성 수지 조성물층 두께는 25㎛이였다. The obtained photosensitive resin composition was coated on a 40 µm PET film using a coating bar. The coated photosensitive resin composition layer was dried using a hot air oven, at which time the drying temperature was 80° C., the drying time was 5 minutes, and the thickness of the photosensitive resin composition layer after drying was 25 μm.

건조가 완료된 감광성 수지 조성물층 위에 보호필름(폴리에틸렌)를 이용하여 라미네이션하여 드라이 필름 포토레지스트를 제조하였다.A dry film photoresist was prepared by laminating the dried photosensitive resin composition layer using a protective film (polyethylene).

상기 PET필름은 다음과 같은 공정을 통해 제조되었다.The PET film was manufactured through the following process.

에틸렌글리콜과 테레프탈산으로부터 에스테르 교환 반응, 중축합 반응을 행하여 PET를 제조하였다. 이 PET 펠렛을 120℃에서 8시간 동안 감압 건조한 후, 압출기에 공급하여 280℃로 용융하였다. 이것을 정전 인가 캐스트법을 사용하여 표면 온도 20℃의 캐스팅드럼에 감아서 냉각 고화하고, 미연신 필름을 만들었다. 압출기의 토출량을 조절하여 미연신 필름의 두께를 250㎛로 조절하였다. 그 다음, 미연신 필름을 종방향으로 4배 연신한 다음, 그 일면에, 아크릴계 수지 4g와 유기입자로서 폴리메틸메타크릴레이트 0.1g을 물95.9g에 혼합한 조액을 그라비어를 이용하여 최종 건조 후 두께 50㎚ 되도록 도포하였다. 여기서 사용된 폴리메틸메타크릴레이트는 표면에 폴리스티렌으로 코팅된 것으로서 구형이며, 아크릴계 수지와의 굴절율 차이가 0.03인 것이다.PET was prepared by performing transesterification reaction and polycondensation reaction from ethylene glycol and terephthalic acid. The PET pellets were dried under reduced pressure at 120°C for 8 hours, and then fed to an extruder and melted at 280°C. This was wound on a casting drum having a surface temperature of 20° C. by using an electrostatic application casting method, and cooled and solidified to form an unstretched film. The thickness of the unstretched film was adjusted to 250 μm by controlling the discharge amount of the extruder. Then, after stretching the unstretched film four times in the longitudinal direction, on one side, a crude solution of 4 g of acrylic resin and 0.1 g of polymethyl methacrylate as organic particles was mixed with 95.9 g of water using gravure after final drying. It was applied so as to have a thickness of 50 nm. The polymethyl methacrylate used here is coated with polystyrene on its surface, has a spherical shape, and has a refractive index difference of 0.03 with an acrylic resin.

유기입자를 포함하는 조액이 도포된 종방향 일축연신 필름을 120℃에서 예열하고, 횡방향으로 4배 연신하였다.The longitudinal uniaxially stretched film to which the crude liquid containing organic particles was applied was preheated at 120° C. and stretched four times in the transverse direction.

이 필름을 정해진 길이 하에서 최고온도 230℃로 10초 동안 동안 열고정하고, 상온으로 냉각하여 총 두께 20㎛, 코팅층의 두께 50nm의 폴리에스테르 필름을 얻었다.The film was heat-set at a maximum temperature of 230° C. for 10 seconds under a predetermined length, and then cooled to room temperature to obtain a polyester film having a total thickness of 20 μm and a thickness of a coating layer of 50 nm.

성 분ingredient 상품명(또는 성분명)Brand name (or ingredient name) 함량(중량%)Content (% by weight) 실시예1Example 1 실시예2Example 2 비교예1Comparative Example 1 비교예2Comparative Example 2 알칼리 현상성 바인더 수지Alkali developable binder resin 제조예1Manufacturing Example 1 52.052.0 42.042.0 -- -- 제조예2Manufacturing Example 2 -- 1.01.0 -- -- 제조예3Manufacturing Example 3 -- 9.09.0 -- -- 비교제조예1Comparative Production Example 1 -- -- 52.052.0 52.052.0 광중합성 화합물Photopolymerizable compound M-2183M-2183 2525 17.017.0 2525 1515 T063T063 -- 5.05.0 -- -- A040A040 -- 3.03.0 -- -- PHEMAPHEMA -- -- -- 1010 광중합 개시제Photopolymerization initiator EABEAB 0.50.5 0.50.5 0.50.5 0.50.5 BCIMBCIM 1.51.5 1.51.5 1.51.5 1.51.5 첨가제additive 톨루엔술폰산1수화물
(Aldrich Chemical)
Toluenesulfonic acid monohydrate
(Aldrich Chemical)
0.50.5 0.50.5 0.50.5 0.50.5
루이코 크리스탈 바이올렛
(일본 Hodogaya Co.)
Ruiko Crystal Violet
(Japan Hodogaya Co.)
0.30.3 0.30.3 0.30.3 0.30.3
다이아몬드 그린 GH(일본 Hodogaya Co.)Diamond Green GH (Japan Hodogaya Co.) 0.20.2 0.20.2 0.20.2 0.20.2 용 제Solvent MEK(Methyl Ethyl Ketone)MEK (Methyl Ethyl Ketone) 20.020.0 20.020.0 20.020.0 20.020.0 (1) M2183 : 하기 구조의 화합물(미원스페셜티케미칼)

Figure 112020082889832-pat00035

(2) PHEMA : 2-페녹시에틸메타크릴레이트
(3) EAB : 4,4'-(Bisdiethylamino)benzophenone(Aldrich Chemical)
(4) BCIM : 2,2'-Bis-(2-chlorophenyl-4,5,4',5'-tetraphenylbisimidazole(Aldrich Chemical)
(5) T063 : Trimethylolpropane [EO]6 triacrylate
Figure 112020082889832-pat00036

(6) A040 : Methoxy propylene glycol [400] acrylate(n=9)
Figure 112020082889832-pat00037
(1) M2183: Compound of the following structure (Miwon Specialty Chemicals)
Figure 112020082889832-pat00035

(2) PHEMA: 2-phenoxyethyl methacrylate
(3) EAB: 4,4'-(Bisdiethylamino)benzophenone (Aldrich Chemical)
(4) BCIM: 2,2'-Bis-(2-chlorophenyl-4,5,4',5'-tetraphenylbisimidazole (Aldrich Chemical)
(5) T063: Trimethylolpropane [EO] 6 triacrylate
Figure 112020082889832-pat00036

(6) A040: Methoxy propylene glycol [400] acrylate (n=9)
Figure 112020082889832-pat00037

<실험예><Experimental Example>

상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이 필름 포토레지스트에 대하여, 하기 방법으로 물성을 측정하였으며, 그 결과를 표2에 나타내었다.For the dry film photoresist prepared in Examples and Comparative Examples, physical properties were measured by the following method, and the results are shown in Table 2.

1. 절대점도1. Absolute viscosity

상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이필름 포토레지스트에서 보호필름과지지체인 PET 필름을 벗겨낸 감광성 수지층에 대해, DHR-2 (TA Instrument) 장비를 이용하여, 하기 조건하에 온도에 따른 절대점도를 측정하여 하기 도1 및 도2에 나타내었고, 이를 통해 절대점도의 최소값, 절대점도의 최소값에서의 온도, 및 경화온도를 구하여 하기 표2에 기재하였다.For the photosensitive resin layer obtained by peeling off the protective film and the PET film as a support from the dry film photoresist prepared in Examples and Comparative Examples, using DHR-2 (TA Instrument) equipment, absolute viscosity according to temperature under the following conditions. Measured and shown in FIGS. 1 and 2 below, the minimum value of the absolute viscosity, the temperature at the minimum value of the absolute viscosity, and the curing temperature were obtained and are shown in Table 2 below.

<절대점도 측정 조건><Absolute viscosity measurement conditions>

- Test type = Flow type, Temp-Test type = Flow type, Temp

- Gas = Nitrogen(10L/min)-Gas = Nitrogen(10L/min)

- 시작온도(Start Temp.) = 50 ℃-Start Temp. = 50 ℃

- 최종온도(Final Temp.) = 125 ℃-Final Temp. = 125 ℃

- 승온속도(Ramp rate) = 10 ℃/min-Ramp rate = 10 ℃/min

- 전단속도(Shear rate) = 1 (1/s)-Shear rate = 1 (1/s)

- 축력(Axial Force) = 3N 이하일 때 값 측정-Value measurement when Axial Force = 3N or less

구분division 경화온도 (℃)Curing temperature (℃) 절대점도의 최소값 (Pa·s)Minimum value of absolute viscosity (Pa·s) 절대점도의 최소값에서의 온도 (℃)Temperature at the minimum value of absolute viscosity (℃) 110℃에서의 절대점도 (Pa·s)Absolute viscosity at 110℃ (Pa·s) 실시예 1Example 1 116116 8.128.12 115115 9.039.03 실시예 2Example 2 116116 1212 115115 1414 비교예 1Comparative Example 1 113113 517517 113113 558558 비교예 2Comparative Example 2 114114 379379 114114 415415

2. 세선 밀착력(단위: ㎛)2. Fine wire adhesion (unit: ㎛)

상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이 필름 포토레지스트의 보호필름을벗겨내어 드라이 필름 포토레지스트의 감광성 수지층이 브러시(Brush) 연마처리된 0.4mm 두께의 동장적층판의 구리층 표면과 접촉하도록 기판 예열 롤 온도 120 ℃, 라미네이터 롤 온도 115 ℃, 롤 압력 4.0kgf/㎠ 그리고 롤 속도 2.0min/m의 조건으로 HAKUTO MACH 610i를 이용하여 라미네이션하여 적층체를 형성하였다. Preheating the substrate so that the protective film of the dry film photoresist prepared in the above Examples and Comparative Examples is peeled off, and the photosensitive resin layer of the dry film photoresist comes into contact with the copper layer surface of the 0.4 mm thick copper clad laminate subjected to brush polishing treatment. Roll temperature 120 ℃, laminator roll temperature 115 ℃, roll pressure 4.0kgf/㎠ Then, a laminate was formed by lamination using a HAKUTO MACH 610i under the condition of a roll speed of 2.0 min/m.

상기 적층체에서 드라이 필름 포토레지스트의 회로평가용 패턴을 사용하여, FDI-3(LDI用 노광기, 일본 ORC社)을 통해 50mJ/cm2의 노광량에 도달할때까지 자외선을 조사한 후 15분 방치하였다. 그 후 30±1 ℃의 Na2CO3 1.0wt% 수용액으로 스프레이 압력 1.5kgf/㎠에서 분사방식의 현상조건으로 최소현상시간의 2배의 시간동안 현상을 실시하였다. Using the pattern for circuit evaluation of the dry film photoresist in the laminate, ultraviolet rays were irradiated through FDI-3 (LDI exposure machine, Japan ORC) until the exposure amount of 50 mJ/cm 2 was reached, and then allowed to stand for 15 minutes. . After that, development was carried out for twice the minimum development time under the spray-type development condition at a spray pressure of 1.5kgf/cm2 with a 1.0wt% aqueous solution of Na 2 CO 3 at 30±1°C.

현상이 완료된 적층체에서, 감광성 수지층의 최소 선폭을 ZEISS AXIOPHOT Microscope으로 측정하여 세선 밀착력으로 평가하였다. 이 값이 작을수록 세선밀착력이 우수하다고 평가할 수 있다. In the developed laminate, the minimum line width of the photosensitive resin layer was measured with a ZEISS AXIOPHOT Microscope and evaluated by fine wire adhesion. It can be evaluated that the smaller this value is, the better the fine wire adhesion.

3. 1:1 해상도(단위: ㎛)3. 1:1 resolution (unit: ㎛)

상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이 필름 포토레지스트의 보호필름을벗겨내어 드라이 필름 포토레지스트의 감광성 수지층이 브러시(Brush) 연마처리된 0.4mm 두께의 동장적층판의 구리층 표면과 접촉하도록 기판 예열 롤 온도 120 ℃, 라미네이터 롤 온도 115 ℃, 롤 압력 4.0kgf/㎠ 그리고 롤 속도 2.0min/m의 조건으로 HAKUTO MACH 610i를 이용하여 라미네이션하여 적층체를 형성하였다.Preheating the substrate so that the protective film of the dry film photoresist prepared in the above Examples and Comparative Examples is peeled off, and the photosensitive resin layer of the dry film photoresist comes into contact with the copper layer surface of the 0.4 mm thick copper clad laminate subjected to brush polishing treatment. Roll temperature 120 ℃, laminator roll temperature 115 ℃, roll pressure 4.0kgf/㎠ Then, a laminate was formed by lamination using a HAKUTO MACH 610i under the condition of a roll speed of 2.0 min/m.

상기 적층체에서 드라이 필름 포토레지스트의 현상이후 회로라인(line) 폭과 회로라인 사이의 공간(space) 간격이 1:1이 될 수 있도록 회로평가용 패턴을 사용하여, FDI-3(LDI用 노광기, 일본 ORC社)을 통해 50mJ/cm2의 노광량에 도달할 때까지 자외선을 조사한 후 15분 방치하였다. 그 후 30±1 ℃의 Na2CO3 1.0wt% 수용액으로 스프레이 압력 1.5kgf/㎠에서 분사방식의 현상조건으로 최소현상시간의 2배의 시간동안 현상을 실시하였다. After development of the dry film photoresist in the laminate, a circuit evaluation pattern is used so that the width of the circuit line and the space between the circuit lines become 1:1. , Japan ORC) through UV irradiation until reaching an exposure dose of 50mJ/cm 2 and then allowed to stand for 15 minutes. After that, development was carried out for twice the minimum development time under the spray-type development condition at a spray pressure of 1.5kgf/cm2 with a 1.0wt% aqueous solution of Na 2 CO 3 at 30±1°C.

구분division 세선밀착력Fine wire adhesion 해상도resolution 실시예 1Example 1 2222 2020 실시예 2Example 2 2525 2323 비교예 1Comparative Example 1 3030 3030 비교예 2Comparative Example 2 3030 2929

상기 표 3에서 보는 바와 같이 실시예는 비교예 대비 세선 밀착력 및 해상도를 현저히 우수함을 알 수 있었다.As shown in Table 3, the Example was found to be remarkably superior in fine wire adhesion and resolution compared to the Comparative Example.

Claims (23)

하기 화학식 1로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 2로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 3으로 표시되는 반복단위, 및 하기 화학식 4로 표시되는 반복단위를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지, 광중합 개시제, 및 광중합성 화합물을 포함하고,
감광성 수지 조성물이 함유되고, 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하인, 감광성 수지 조성물:
[화학식1]
Figure 112021023049612-pat00038

상기 화학식1 에서,
R1은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
R2는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고,
Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고,
n은 1 내지 20의 정수이고,
[화학식2]
Figure 112021023049612-pat00039

상기 화학식2 에서,
R3는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
[화학식3]
Figure 112021023049612-pat00040

상기 화학식3 에서,
R4는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
R5는 탄소수 1의 알킬이고,
[화학식4]
Figure 112021023049612-pat00041

상기 화학식4 에서,
Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다.
Alkaline developable binder resin, photopolymerization initiator, and photopolymerization including a repeating unit represented by the following formula (1), a repeating unit represented by the following formula (2), a repeating unit represented by the following formula (3), and a repeating unit represented by the following formula (4) Containing a compound,
For a photosensitive resin layer sample containing a photosensitive resin composition and having a thickness of 5 μm or more and 30 μm or less, the minimum value of the absolute viscosity obtained in the temperature range of 50°C to 125°C under the condition that the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5N or less is 300 Pa·s or less, photosensitive resin composition:
[Formula 1]
Figure 112021023049612-pat00038

In Chemical Formula 1,
R 1 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
R 2 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms,
Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms,
n is an integer from 1 to 20,
[Formula 2]
Figure 112021023049612-pat00039

In Chemical Formula 2,
R 3 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
[Formula 3]
Figure 112021023049612-pat00040

In Chemical Formula 3,
R 4 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
R 5 is alkyl of 1 carbon atom,
[Formula 4]
Figure 112021023049612-pat00041

In Chemical Formula 4,
Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms.
제1항에 있어서,
상기 절대점도의 최소값이 얻어진 온도는 110 ℃ 이상 123 ℃ 이하인, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The temperature at which the minimum value of the absolute viscosity is obtained is 110° C. or more and 123° C. or less.
제1항에 있어서,
상기 감광성 수지층 시료의 경화 온도는 115 ℃ 이상 125 ℃ 이하인, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The photosensitive resin composition, wherein the curing temperature of the photosensitive resin layer sample is 115°C or more and 125°C or less.
제1항에 있어서,
상기 감광성 수지층 시료에 대하여, 110 ℃ 온도에서의 절대점도값이 5 Pa·s 이상 400 Pa·s 이하인, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The photosensitive resin composition, wherein the photosensitive resin layer sample has an absolute viscosity value of 5 Pa·s or more and 400 Pa·s or less at a temperature of 110°C.
제1항에 있어서,
상기 절대점도는 전단속도가 1 1/s 이상 3 1/s 이하인 조건에서 측정된 것인, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The absolute viscosity is that the shear rate is 1 1 / s or more and 3 1 / s or less is measured under conditions of, photosensitive resin composition.
제1항에 있어서,
상기 화학식1로 표시되는 반복단위는 상기 알칼리 현상성 바인더 수지에 함유된 전체 반복단위 몰함량 100몰%를 기준으로 5 몰% 이상 40 몰% 이하로 함유되는, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The repeating unit represented by Chemical Formula 1 is contained in an amount of 5 mol% or more and 40 mol% or less based on 100 mol% of the total molar content of the repeating units contained in the alkali developable binder resin.
제1항에 있어서,
상기 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 알칼리 현상성 바인더 수지에 함유된 전체 반복단위 몰함량 100몰%를 기준으로,
상기 화학식 2로 표시되는 반복단위 20 몰% 이상 60 몰% 이하를 포함하는, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The alkali developable binder resin is based on 100 mol% of the total molar content of repeating units contained in the alkali developable binder resin,
A photosensitive resin composition comprising 20 mol% or more and 60 mol% or less of the repeating unit represented by Formula 2.
제1항에 있어서,
상기 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 알칼리 현상성 바인더 수지에 함유된 전체 반복단위 몰함량 100몰%를 기준으로,
상기 화학식 3으로 표시되는 반복단위 1 몰% 이상 30 몰% 이하, 및
상기 화학식 4로 표시되는 반복단위 30 몰% 이상 60 몰% 이하를 포함하는, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The alkali developable binder resin is based on 100 mol% of the total molar content of repeating units contained in the alkali developable binder resin,
1 mol% or more and 30 mol% or less of the repeating unit represented by Formula 3, and
A photosensitive resin composition comprising 30 mol% or more and 60 mol% or less of the repeating unit represented by Chemical Formula 4.
제1항에 있어서,
상기 화학식 4로 표시되는 반복단위 100 몰에 대하여, 상기 화학식 3으로 표시되는 반복단위의 몰비율이 10 몰 이상 99 몰 이하인, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
With respect to 100 moles of the repeating unit represented by Formula 4, the molar ratio of the repeating unit represented by Formula 3 is 10 moles or more and 99 moles or less.
제1항에 있어서,
상기 광중합성 화합물은 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함하는, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The photopolymerizable compound comprises a difunctional (meth)acrylate compound, photosensitive resin composition.
제1항에 있어서,
상기 광중합성 화합물은 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함하는 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The photopolymerizable compound is a photosensitive resin composition comprising a trifunctional or more polyfunctional (meth)acrylate compound.
제11항에 있어서,
상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 탄소수 1 내지 20의 중심 그룹에 탄소수 1내지 10의 알킬렌 옥사이드 그룹 및 (메트)아크릴레이트 작용기가 각각 3개 이상 결합된 구조를 갖는, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 11,
The trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound has a structure in which three or more (meth)acrylate functional groups are each bonded to a central group having 1 to 20 carbon atoms and an alkylene oxide group having 1 to 10 carbon atoms. Composition.
제11항에 있어서,
상기 3관능 이상의 다관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 하기 화학식 12로 표시되는 화합물을 포함하는 감광성 수지 조성물:
[화학식12]
Figure 112020082889832-pat00042

상기 화학식12 에서,
R14은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
R15는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고,
R16은 탄소수 1 내지 20의 중심 그룹을 포함하는 p가 작용기이고,
n12은 1 내지 20의 정수이고,
p는 상기 R16에 치환되는 작용기수이고, 3 내지 10의 정수이다.
The method of claim 11,
The trifunctional or higher polyfunctional (meth)acrylate compound is a photosensitive resin composition comprising a compound represented by the following Formula 12:
[Formula 12]
Figure 112020082889832-pat00042

In Chemical Formula 12,
R 14 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
R 15 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms,
R 16 is a functional group in which p containing a central group having 1 to 20 carbon atoms,
n12 is an integer from 1 to 20,
p is the number of functional groups substituted for R 16 , and is an integer of 3 to 10.
제11항에 있어서,
상기 광중합성 화합물은 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 더 포함하는, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 11,
The photopolymerizable compound further comprises a monofunctional (meth)acrylate compound, photosensitive resin composition.
제14항에 있어서,
상기 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 탄소수 1내지 10의 알킬렌 옥사이드 그룹을 포함한 (메트)아크릴레이트를 포함하는, 감광성 수지 조성물.
The method of claim 14,
The monofunctional (meth)acrylate compound comprises a (meth)acrylate containing an alkylene oxide group having 1 to 10 carbon atoms, photosensitive resin composition.
제14항에 있어서,
상기 단관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 하기 화학식 11로 표시되는 화합물을 포함하는 감광성 수지 조성물:
[화학식11]
Figure 112020082889832-pat00043

상기 화학식11 에서,
R11은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
R12는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고,
R13은 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
n11은 1 내지 20의 정수이다.
The method of claim 14,
The monofunctional (meth)acrylate compound is a photosensitive resin composition comprising a compound represented by the following formula (11):
[Formula 11]
Figure 112020082889832-pat00043

In Chemical Formula 11,
R 11 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
R 12 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms,
R 13 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
n11 is an integer from 1 to 20.
제1항에 있어서,
하기 화학식 13으로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 14로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 15로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 16로 표시되는 반복단위 및 하기 화학식 17로 표시되는 반복단위를 포함한 제1 알칼리 현상성 바인더 수지; 및
하기 화학식 14로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 15로 표시되는 반복단위, 및 하기 화학식 16로 표시되는 반복단위를 포함한 제2 알칼리 현상성 바인더 수지;를 더 포함하는, 감광성 수지 조성물:
[화학식 13]
Figure 112020082889832-pat00044

상기 화학식 13에서,
R3"는 수소이고,
[화학식 14]
Figure 112020082889832-pat00045

상기 화학식 14에서,
R3'는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
[화학식 15]
Figure 112020082889832-pat00046

상기 화학식 15에서,
R4"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5"는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
[화학식 16]
Figure 112020082889832-pat00047

상기 화학식 16에서,
Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고,
[화학식 17]
Figure 112020082889832-pat00048

상기 화학식 17에서,
R4'는 수소이고,
R5'는 탄소수 1 내지 10의 알킬이다.
The method of claim 1,
The first alkali phenomenon including a repeating unit represented by the following formula (13), a repeating unit represented by the following formula (14), a repeating unit represented by the following formula (15), a repeating unit represented by the following formula (16), and a repeating unit represented by the following formula (17) Castle binder resin; And
A photosensitive resin composition further comprising: a second alkali developable binder resin including a repeating unit represented by the following Formula 14, a repeating unit represented by the following Formula 15, and a repeating unit represented by the following Formula 16:
[Formula 13]
Figure 112020082889832-pat00044

In Chemical Formula 13,
R 3 "is hydrogen,
[Formula 14]
Figure 112020082889832-pat00045

In Chemical Formula 14,
R 3 ′ is alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
[Formula 15]
Figure 112020082889832-pat00046

In Chemical Formula 15,
R4" is an alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R5" is an alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
[Formula 16]
Figure 112020082889832-pat00047

In Chemical Formula 16,
Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms,
[Formula 17]
Figure 112020082889832-pat00048

In Chemical Formula 17,
R 4 ′ is hydrogen,
R 5 ′ is alkyl having 1 to 10 carbon atoms.
제1항의 감광성 수지 조성물을 함유한 감광성 수지층을 포함하는, 드라이 필름 포토레지스트.
A dry film photoresist comprising a photosensitive resin layer containing the photosensitive resin composition of claim 1.
제18항에 있어서,
상기 감광성 수지층은 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하인, 드라이 필름 포토레지스트.
The method of claim 18,
For the photosensitive resin layer sample having a thickness of 5 μm or more and 30 μm or less in the photosensitive resin layer, the minimum value of the absolute viscosity obtained in the temperature range of 50° C. or more and 125° C. or less under the condition that the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5 N or less is 300 Pa· s or less, dry film photoresist.
고분자 기재; 및 상기 고분자 기재 상에 형성된 감광성 수지층을 포함하고,
상기 감광성 수지층은 하기 화학식 1로 표시되는 반복단위; 하기 화학식 2로 표시되는 반복단위; 하기 화학식 3으로 표시되는 반복단위; 및 하기 화학식 4로 표시되는 반복단위;를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지와 광중합성 화합물을 포함하며,
상기 감광성 수지층은 두께 5 ㎛ 이상 30 ㎛ 이하인 감광성 수지층 시료에 대하여, 상기 감광성 수지층 시료의 축력이 5N 이하인 조건에서 50 ℃ 이상 125 ℃ 이하의 온도구간에서 얻어진 절대점도의 최소값이 300 Pa·s 이하인, 감광성 엘리먼트:
[화학식1]
Figure 112021023049612-pat00049

상기 화학식1 에서,
R1은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
R2는 탄소수 1 내지 10의 알킬렌이고,
Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고,
n은 1 내지 20의 정수이고,
[화학식2]
Figure 112021023049612-pat00050

상기 화학식2 에서,
R3는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
[화학식3]
Figure 112021023049612-pat00051

상기 화학식3 에서,
R4는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,
R5는 탄소수 1의 알킬이고,
[화학식4]
Figure 112021023049612-pat00052

상기 화학식4 에서,
Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다
Polymer substrate; And a photosensitive resin layer formed on the polymer substrate,
The photosensitive resin layer may include a repeating unit represented by Formula 1 below; A repeating unit represented by the following formula (2); A repeating unit represented by the following formula (3); And a photopolymerizable compound and an alkali developable binder resin including; and a repeating unit represented by the following Chemical Formula 4,
For the photosensitive resin layer sample having a thickness of 5 μm or more and 30 μm or less in the photosensitive resin layer, the minimum value of the absolute viscosity obtained in the temperature range of 50° C. or more and 125° C. or less under the condition that the axial force of the photosensitive resin layer sample is 5 N or less is 300 Pa· s or less, photosensitive element:
[Formula 1]
Figure 112021023049612-pat00049

In Chemical Formula 1,
R 1 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
R 2 is alkylene having 1 to 10 carbon atoms,
Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms,
n is an integer from 1 to 20,
[Formula 2]
Figure 112021023049612-pat00050

In Chemical Formula 2,
R 3 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
[Formula 3]
Figure 112021023049612-pat00051

In Chemical Formula 3,
R 4 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
R 5 is alkyl of 1 carbon atom,
[Formula 4]
Figure 112021023049612-pat00052

In Chemical Formula 4,
Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms
삭제delete 제1항의 감광성 수지 조성물을 함유한 감광성 수지층을 포함하는, 회로 기판.
A circuit board comprising a photosensitive resin layer containing the photosensitive resin composition of claim 1.
제1항의 감광성 수지 조성물을 함유한 감광성 수지층을 포함하는, 디스플레이 장치.A display device comprising a photosensitive resin layer containing the photosensitive resin composition of claim 1.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11316456A (en) * 1998-02-17 1999-11-16 Toppan Printing Co Ltd Solvent-free type photosensitive calcination paste composition, solvent type photosensitive calcination paste composition and structural body
WO2016063908A1 (en) * 2014-10-22 2016-04-28 住友ベークライト株式会社 Photosensitive adhesive composition and semiconductor device
JP2017167394A (en) * 2016-03-17 2017-09-21 日立化成株式会社 Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for producing substrate with resist pattern, and method for manufacturing printed wiring board

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11316456A (en) * 1998-02-17 1999-11-16 Toppan Printing Co Ltd Solvent-free type photosensitive calcination paste composition, solvent type photosensitive calcination paste composition and structural body
WO2016063908A1 (en) * 2014-10-22 2016-04-28 住友ベークライト株式会社 Photosensitive adhesive composition and semiconductor device
JP2017167394A (en) * 2016-03-17 2017-09-21 日立化成株式会社 Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for producing substrate with resist pattern, and method for manufacturing printed wiring board

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