KR102240049B1 - 분광계 영점교정 방법 및 기준 재료 - Google Patents

Abstract

본 발명은 분광계 영점교정 방법 및 기준 재료에 관한 것이다. 본 발명의 목적은 분광계를 위한 영점교정 방법 및 분광계의 영점교정을 돕는 기준 재료를 제공하는 것이다. 그러한 목적은 분광계의 영점교정을 위한 방법에 의해서 해결되고, 기준 재료는 균질한 원소의 함유물을 갖는다. 또한, 기준 재료가 불활성 코팅에 의해서 보호된다. 기준 재료가 분광계의 영점교정을 위해서 이용된다. 그러한 목적은, 불활성 코팅에 의해서 보호되는 원소의 균질한 함유물을 가지는 기준 재료에 의해서 추가적으로 해결된다.

Description

분광계 영점교정 방법 및 기준 재료{SPECTROMETER CALIBRATION METHOD AND REFERENCE MATERIAL}

본 발명은 분광계 영점교정 방법 및 기준 재료에 관한 것이다.

철 및 스틸 합금의 조성물이 상이한 분석 기술들을 이용하여 측정될 수 있다. 이러한 기술 중 하나로서, 광학적 방출 분광학은, 조성을 알고자 하는 표적 샘플의 원자를 여기시키는 것과 여기된 상태로부터 낮은 에너지 상태로의 전이 중에 원자에 의해서 방출되는 광자의 파장 길이를 검사하는 것을 포함한다. 주기율표 내의 각각의 원소는, 그 원자가 여기된 상태로부터 낮은 에너지 상태로 복귀될 때, 구분되는 파장 길이의 특징적인 세트를 방출한다. 이러한 파장 길이를 검출하고 분석하는 것에 의해서, 샘플의 원소 조성이, 스펙트럼 세기 비율(원소의 절대 방사 파워/베이스 금속의 절대 방사 파워)과 표준 샘플 내의 원소의 농도 사이의 관계를 나타내는 영점교정 곡선에 따라서 결정될 수 있다. 스펙트럼 광이 레이저, x-레이와 같은 전자기적 방사선을 이용한 조사(照射)에 의해서 생성될 수 있으나, 일반적으로, 원소 조성을 알고자 하는 표적으로 입사하는, 스파크 발생기에 의해서 생성된 짧은 스파크에 의해서 생성된다. 에너지 공급원과 관계없이, 그러한 방출 분광계의 정확도 및 신뢰성이 샘플로부터 방출된 방사선을 수신하기 위해서 이용되는 검출기 및 광학장치의 정확도 및 품질에 의존한다.

분광계의 출력이 시간에 따라 변동될 수 있을 것이다. 광학장치, 여기 공급원, 프로세싱 전자장치 및 심지어 주위 실온 또는 습도의 변화로 인해서, 변동 교정이 요구될 수 있을 것이다. 이러한 변화는, 초기 영점교정 중에 기록된 세기 비율로부터의 변동을 유발할 수 있다. 정확도를 보장하기 위해서, 필요한 경우에, 충분하게-규정된(well-defined) 조성을 가지는 기준 재료를 이용하여, 검출기 및/또는 광학장치 응답이 체크되어야 하고 분광계가 재영점교정되어야 한다. 곡선을 교정하는 변동 프로세스가 많은 명칭: 정규화, 표준화 및 재영점교정을 갖는다. 주어진 프로세스의 명칭과 관계없이, 곡선이 원래의 영점교정의 시간에서의 그들의 상태로 다시 조정된다.

만약 변동 교정이 이루어지지 않는다면, 오류가 발생할 것이고 잘못된 농도 판독치가 초래될 것이다. 변동 교정을 실시하는 타이밍이 중요하다. 그러나, 이는 분석의 중요성을 고려하여 개별적인 실험실에 의해서 결정된다. 일부 실험실은, 기구가 허용되는 공차 내에 있는지를 결정하기 위해서 체크 또는 SPC 표준을 주기적으로 실행한다. 기구의 안정성 및 듀티 사이클이 변동 체크를 위한 기간을 결정한다. 결과의 품질을 보장하기 위해서, 적어도 매시간마다 또는 샘플의 배치(batch)가 실행되기에 앞서서 체크되어야 한다. 만약 변동 검출 공차가 설정되지 않는다면, 변동 교정이, 최소한, 실험실 기구에 대해서 매변동마다 그리고 이동 기구에 대해서 시간마다 반드시 이루어져야 한다. 만약 분석자가 기구의 상태에 대해서 확신하지 못한다면, 최적의 정확도를 위해서, 임의 샘플의 분석 직전에 변동 교정을 선행하여야 한다.

미리 준비된 그리고 알고 있는 기준 영점교정 곡선이 분석하고자 하는 표적 샘플의 스펙트럼 세기 비율에 통합되기 때문에, 표적 샘플에 대한 분석의 정밀도가 이전에 생성된 영점교정 곡선의 정확도에 의존한다. 따라서, 균질하고 알고 있는 원소 함유물의 표준 기준 재료가 정확한 분석을 위해서 필요하다. 이러한 표준은, 분광계가 분석할 수 있는 모든 원소의 농도 범위를 커버하도록 선택되어야 한다. 그러한 표준은 또한 평가되는 구조 및 합금 유형과 매칭되어야 한다.

일상적인 영점교정을 위해서 이용되는 하나의 그러한 표준 기준 재료가 예를 들어 40 내지 60 ㎜ 직경의 원형 잉곳이다. 각각의 사용에 앞서서, 표면 내에서 산화 또는 다른 화학적 변화를 나타내지 않는 새로운 활성 표면을 획득하기 위해서, 잉곳의 표면이 연마 또는 밀링에 의해서 준비되어야 한다. 이러한 방식으로, 정확한 측정 결과가 얻어질 수 있고 일관된 영점교정 곡선이 만들어질 수 있다. 금속의 대표적인 분석을 획득하기 위한 과정 및 프로세스가 당업계에 잘 알려져 있다. Dulski, T.R.의 "A Manual for the Chemical Analysis of Metals", ASTM International, 1996 또는 간행물 ASTM E1009이 탄소 및 저합금 스틸의 분석을 잘 설명하고 있다. 기준 재료가, 예를 들어, 영국, EN5 4DJ, 바넷, 퀸즈로드, 홀랜드 하우스에 소재하는 MBH Analytical LTD로부터의 MBH 카탈로그 2014로부터 상업적으로 이용 가능하고 공지되어 있다.

USA 표준 ASTM E415-14 스파크 원자 방출 분광분석법에 의한 탄소 및 저-합금 스틸의 분석을 위한 표준 테스트 방법(Standard Test Method for Analysis of Carbon and Low-Alloy Steel by Spark Atomic Emission Spectrometry) 또는 ASTM E716-10 분광화학적 분석에 의해서 화학적 조성을 결정하기 위한 알루미늄 및 알루미늄 합금의 샘플링 및 샘플 준비를 위한 표준 실무(Standard Practices for Sampling and Sample Preparation of Aluminum and Aluminum Alloys for Determination of Chemical Composition by Spectrochemical Analysis), 스틸에 대한 일본 표준에서, JIS Z 2611 및 JIS Z 2612, 알루미늄에 대한 JIS H 1305 및 스틸에 대한 유럽 표준 DIN 51009 및 알루미늄에 대한 DIN 14726과 같은 간행된 과정에 따라서, 이들 모두가 샘플의 연마 준비를 기술하고 있고 그 표면이 오염물질을 가지지 않아야 한다는 것을 기술하고 있다. 분석 분야의 종사자는, 보호 선적 컨테이너(protective shipping container) 내에 수용될 때에도, 표준 기준 재료를 연마하는데 익숙하고 그러한 연마 훈련을 받는다. 기준화된 국가 표준 과정은, 동일한 샘플의 표면의 갱신(renewal)이 결과의 연속성을 제공하는 것을 기술하고 있다. 일단 샘플이 준비되면, 분위기와의 상호작용으로 인해서 표면이 열화(劣化)되기 시작한다는 것이 당업계에 잘 알려져 있다.

전술한 바와 같이, 분석의 정확도가 재영점교정의 품질에 의존하고, 재영점교정의 품질은 조성과 관련한 그리고 보다 중요하게 분석 전의 그 준비와 관련한 기준 표준의 품질에 의존한다. 샘플 준비의 기술이 당업계에 공지되어 있다. 일부 경우에, 그러한 준비는, 자체적으로 약간의 변동을 가지는, 전체적으로 수작업적인 작업이다. 실험실 세팅에서, 이러한 변동이 허용 가능한 레벨로 제어될 수 있다. 광학적 방출 분광사진기가 야금학적 프로세스 근처에 설치되는 산업적인 분위기에서, 이러한 장치에 동일하게 엄격한 재영점교정의 프로세스가 적용될 수 있을 것이나, 기구에 가해지는 분위기 스트레스로 인해서 보다 빈번한 재영점교정이 요구될 수 있을 것이다. 일상적으로, 재영점교정 프로세스의 기술자가 기구의 위치로 이동하여야 하거나, 모바일 장비의 경우에, 현장(field) 영점교정이 필요하거나 증명된 영점교정 설비로 장치를 복귀시킬 필요가 있다. 재영점교정은 노동 집약적이고, 영점교정을 위한 기준 재료의 반복된 준비와 관련된 분석 비용의 상당한 백분율을 실험실이 지출하게 한다. 샘플 표면이 편평하게 연마되거나 밀링되어야 하고, 이러한 프로세스의 잔류물이 존재하지 않아야 하며, 표면 상에 최대 공구 흔적(tool impression)을 갖는다. 이러한 것이 수작업으로 또는 자동으로 이루어질 수 있으나, 표준 기준 재료의 로딩 및 회수 및 격리(segregation)를 여전히 필요로 한다.

병이나 앰풀과 같이, 불활성 가스 내에 반응성 재료를 선적하는 것이 재료 공급 산업에서 일반적이다. 금속 부분의 산화를 방지하고 부식 보호를 하기 위해서, 플라스틱 커버, 페인트, 오일, 세라믹 및 CVD 필름과 같은 보호 코팅을 이용하는 것이 당업계에 공지되어 있다.

금속 코팅이, 부식 저항을 위해서, 전기적 접촉(contact) 산업에서 잘 알려져 있다. 은 코팅이 전도도를 개선하기 위해서 이용되고 내식성을 제공한다는 것이 Brown 등에게 허여된 미국 특허 제4,189,204호에 개시되어 있다.

본 발명의 목적은 분광계를 위한 영점교정 방법 및 분광계의 영점교정을 돕는 기준 재료를 제공하는 것이다.

본 발명의 목적은 청구항 제1항의 특징을 포함하는 방법에 의해서 뿐만 아니라 추가적인 독립항의 청구 대상에 의해서 해결된다. 종속 청구항은 발명의 바람직한 실시예를 언급한다.

그에 따라, 목적은 분광계의 영점교정을 위한 방법에 의해서 해결되고, 기준 재료는 균질한 원소의 함유물을 갖는다. 또한, 기준 재료가 불활성 코팅에 의해서 보호되고, 그러한 불활성 코팅은 기준 재료의 반복 가능한 표면을 보호한다. 기준 재료가, 부가적인 준비 없이, 수용된 조건 그대로(in the as received condition), 분광계의 영점교정을 위해서 이용된다. 보호 코팅의 의미에서 "불활성"은 원소의 절대적 비변동성(absolute involatility)과 관련된 것이 아니고, 분위기 열화 및 보다 특히 산화에 대한 실제적인 저항과 관련된다.

코팅으로 인해서, 표면 내에서 산화 또는 다른 화학적 변화를 나타내지 않는 새로운 활성 표면을 획득하기 위해서, 연마 또는 밀링에 의해서, 기준 재료의 표면을 준비할 필요가 없다. 그에 따라, 발명은 기술적 노력의 감소를 가능하게 한다.

정교한 준비가 요구되지 않기 때문에, 분배 장치로부터 분광계로의 기준 재료의 자동적인 이송이 영점교정을 위해서 이루어질 수 있고, 이는 기술적 노력의 추가적인 감소를 가능하게 한다.

발명의 바람직한 실시예에서, 기준 재료가 분배 장치 내의 불활성 가스 대기 하에서 또는 진공 하에서 유지되고, 이는 기준 재료의 긴 저장을 가능하게 한다. 바람직하게, 아르곤이 불활성 가스로서 이용될 수 있을 것이다.

발명의 바람직한 실시예에서, 스틸의 조성물이 영점교정 이후에 분광계에 의해서 측정된다. 스틸은 철 및 탄소의 합금이다. 발명의 바람직한 실시예에서, 귀금속을 포함하는 철을 함유한 그리고 철을 함유하지 않은 금속, 분말 금속을 포함하는 합금 및 합금철의 모든 유형의 조성물이 영점교정 이후에 분광계에 의해서 측정된다.

발명의 바람직한 실시예에서, 왜곡된 결과를 피하기 위해서, 불활성 코팅이 스틸 또는 철 합금 내에서 측정되는 원소를 포함하지 않는다.

불활성 코팅 대신에 또는 불활성 코팅에 부가하여, 균질한 함유물을 보호하기 위해서 불활성 가스를 이용하는 것이 더 바람직할 수 있을 것이다.

발명의 바람직한 실시예에서, 바람직하게 코인 형태의 복수의 기준 재료가 카세트 내로 각각 삽입되고, 분광계의 영점교정에 앞서서 카세트의 컨테이너가 덮개를 포함한다.

발명의 바람직한 실시예에서, 복수의 기준 재료를 포함하는 하나 이상의 카세트가, 분광계의 영점교정에 앞서서, 저장 및 분배 장치 내로 삽입되고, 기준 재료가 원격 공급부로부터의 불활성 가스 대기 하에서 또는 진공 하에서 유지될 수 있을 것이다. 불활성 가스(예를 들어, 아르곤, 그러나 다른 것도 가능하다)가 재영점교정 표면 및 기준 재료의 보호 코팅을 분위기적 오염으로부터 보호한다.

발명의 바람직한 실시예에서, 각각의 분석 영점교정을 위해서, 새로운 기준 재료가 그러한 카세트로부터 주기적으로 제거되고 분광계 플래튼(platen)으로 이송된다. 전체 동작이 인간의 개입 없이 실시될 수 있다.

분광계의 영점교정을 위한 기준 재료가 균질한 원소의 함유물을 갖는다. 함유물이 불활성 코팅에 의해서 보호된다. 이러한 방식으로, 분광계의 영점교정을 위해서 이용될 수 있는 활성 표면이 존재한다.

발명의 바람직한 실시예에서, 불활성 코팅이 아연, 니켈, 루테늄, 로듐, 팔라듐, 은, 오스뮴, 이리듐, 백금 및 금 또는 그 임의의 합금과 같은 금속으로 이루어진다.

발명의 바람직한 실시예에서, 불활성 코팅이 Ag, Au, Pt, Ir 및/또는 Rh 또는 그 임의 합금과 같은 귀금속으로 이루어진다. 귀금속은, 하나의 측면에서 부식 및 산화에 저항하는 금속이다. 일반적으로, 귀금속은 철 합금 또는 스틸 내에 존재하지 않는다. 이러한 이유로, 귀금속 또는 그 임의 합금이 적합한 재료이다.

발명의 바람직한 실시예에서, 원소의 균질한 함유물이 스틸로부터 형성된다.

발명의 바람직한 실시예에서, 불활성 코팅의 두께가 0.1 내지 10 ㎛, 바람직하게 0.5 내지 2 ㎛이다.

발명의 바람직한 실시예에서, 원형 코인을 영점교정을 위해서 하우징 내로 또는 분광계 플래튼 내로 위치시킬 때 정렬을 필요로 하지 않기 때문에, 취급을 돕기 위해서, 기준 재료가 원형 코인이다.

발명의 바람직한 실시예에서, 코인의 직경이 10 내지 80 ㎜ 직경이고 및/또는 코인의 높이가 1 내지 30 ㎜이다.

발명의 바람직한 실시예에서, 금속 또는 금속 합금의 순도가 적어도 90%이고 바람직하게 92.5% 초과이다.

다른 바람직한 실시예에서, 기준 재료가 하우징 내에 배열되고, 그에 의해서 하우징이 바람직하게 기밀식으로 폐쇄된다. 기준 재료의 하나 초과의 피스가 하우징 내에 배열되는 것이 유리하다. 그러한 피스들이 서로로부터 분리되어 배열될 수 있다. 하우징이 적어도 2개의 부분을 가질 수 있고, 그에 의해서 하나의 부분이 다른 부분으로부터 적어도 부분적으로 제거될 수 있다.

또한, 피스가 다른 피스의 위에서 하우징 내에 배열되는 것이 바람직할 수 있다.

취급, 저장 및 사용 중에 대기, 미립자 및 접촉 오염과 같은 주위 분위기 내의 분위기 오염물질로부터의 보호를 제공하는 불활성 가스 또는 진공 포함 하우징 내에 개별적으로 수용되는 부식-방지 패키지로 인해서 준비가 없이, 기준 재료가 즉각적인 사용을 위해서 이용될 수 있다. 패키지 또는 하우징은 사용시까지 밀봉된다. 부가적으로, 이러한 기준 재료의 원격 장소로의 휴대성은 모바일 유닛의 그리고 산업적인 프로세스 근처에 설치된 것의 영점교정을 허용한다.

본 발명은, 특히 준비 없이 직접적으로 이용 가능한 원소의 균질한 함유물을 가지는 금속 및 금속 합금을 위한 광학적 방출 분광-화학적 기준 재료를 제공한다. 또한, 본 발명은, 부식-방지 코팅에 의해서 보호되고 바람직하게 취급, 저장 및 사용 중에 대기, 미립자 및 접촉 오염과 같은 주위 분위기 내의 분위기 오염물질로부터의 보호를 제공하는 불활성 가스 차폐형 컨테이너 내에 수용되는, 즉각적인 사용을 위해서 이용될 수 있는 일회용 분광-화학적 재료에 관한 것이다. 이는, 실험실 세팅뿐만 아니라 원격 위치의 분석 장비의 자동적 재영점교정 일상에서 이용될 수 있다. 특히, 본 발명은 야금학적 프로세스를 위해서 이용된다.

불활성 층의 도포는, 긴 기간의 저장 중에, 재영점교정 표면을 보호할 수 있다. 이러한 해결책이 또한 불활성 대기와 조합될 수 있을 것이다. 당업계에 공지된 산업 표준에 따른 표준 기준 재료의 균질한 코인이 각각의 분석 영점교정을 위한 공지된 산업 표준에 따른 표면 마감으로 준비된다. 보호 코팅이 그 표면으로 즉각적으로 도포된다. 이러한 코팅 재료가, 분석에 있어서 중요한 원소에 대한 재영점교정 표면의 분석에 영향을 미치지 않는 방식으로, 보호 코팅이 선택된다. 스틸에 대해서 이용되는 기준 재료의 경우에 적합한 재료의 예(이러한 것으로만 제한되지 않는다)가 Ag, Au, Pt, Ir, Rh이다. 코팅 층은, 예를 들어, 순수한 층(그에 따라 스틸/철 내의 측정하고자 하는 원소를 거의 가지지 않는다)을 획득하기 위해서 고품질 표적 재료를 이용한 스퍼터링 기술을 이용하여 도포된다. 층의 적절한 두께가 1 ㎛이나, 이러한 범위 내의 다른 층 두께가 또한 이용될 수 있다.

은(Ag) 및 추가적인 귀금속으로 충분한 내식성을 얻기 위해서, 몇 ㎛가 적절한 층 두께가 된다. 은은 열등한 황화(sulfidation) 저항 및 낮은 경도를 특징으로 한다. 그러나, 원소가 일반적으로 철계 샘플 내의 오염물질로서 분석되지 않고 그 주요 스펙트럼 방출선이 철 분석에서 일반적으로 발생되는 다른 스펙트럼 방출선과 간접하지 않는다는 점에서, 은이 다른 비-산화 금속보다 우수하다. 일반적으로, 이는 또한 다른 귀금속의 경우에도 사실이다.

본 발명은, 연장된 시간 기간 동안 분위기적으로 안정적인 예상 가능한 표면을 가지는, 예상 가능한 양식으로 준비되는 기준 표준을 분석 실험실로 제공한다. 준비 노동력, 장비 및 소모성 공급을 제거하는 것은 분석 기구의 작업 비용에 상당한 이득이 된다. 기준 표준의 분위기적 안정성은, 제어된 실험실에 설치된 것의 정밀도와 동일한 정밀도를 야금학적 프로세스 위치에 설치된 기구의 재영점교정의 수단으로 제공한다.

분광계 이용 시점의 재영점교정을 위한 자동적인 표준 기준 로딩 장치의 이용 즉, 숍 바닥 설치형(shop floor installed) 분석 장비의 이용이 시장에 존재하지 않는다. 사용 시점 분석 장비의 사용자에 대한 잠재적인 이점이 자동적인 재영점교정 시스템에 의해서 최적화되고, 샘플 준비는 그 실현에 있어서 중요 구성요소가 아니다.

이러한 표준 기준 재료와 당업계에 공지된 모든 다른 표준 기준 재료 사이의 다른 구분되는 차이점은, 본 발명의 사용 준비된 표면이 양면형이라는 것이다.

이하에서, 발명이 예에 의해서 추가적으로 설명된다.

도 1은 코인 형태의 기준 재료의 3차원적인 도면이다.
도 2는 코인을 위한 카세트 하우징의 3차원적인 도면이다.
도 3은 카세트 하우징의 단면도이다.
도 4는 기준 재료의 하나의 피스를 위한 하우징이다.
도 5는 개방된 도 4의 하우징을 도시한다.
도 6은 복수의 코인을 위한 다른 종류의 하우징을 도시한다.
도 7은 다른 대안적인 하우징이다.

도 1은 원형 코인 형태의 기준 재료의 도면이다. 코인이 알고 있는 원소 함유물(1) 및 은 또는 금으로 이루어진 코팅(2)으로 구성된다. 코인(1, 2)의 직경이 20 내지 60 ㎜이다. 코인(1, 2)의 높이가 5 내지 30 ㎜이다. 코팅(2)의 두께가 0.5 내지 5 ㎛이다.

알고 있는 원소 함유물(1)이 스틸 예를 들어 Fe, C, Si, S, P, Mn, Ni, Cr, Mo, Cu, Sn, Al, V, As, Zn, N을 포함하는 저합금 스틸, Fe, C, Si, S, P, Mn, Ni, Cr, Mo, Cu, Sn, V, Co, Nb, W, B, N을 포함하는 페라이트 및 마르텐자이트 스테인리스 스틸, Fe, C, Si, S, P, Mn, Ni, Cr, Mo, Cu, Al, V, W, Co, Nb, B, N을 포함하는 고질소 스테인리스 스틸로 이루어진다. 추가적인 예가 Fe, C, Si, S, P, Mn, Ni, Cr, Mo, Cu, Sn, Al, As, Pb, N 또는 Fe, C, Si, S, P, Mn, Ni, Cr, Cu, Al, Co, Mg, N을 포함한다.

도 2는 코인(1, 2)을 위한 카세트 하우징(3, 4)의 3차원적인 도면이다. 도 3은 복수의 코인(1, 2)을 포함하는 카세트 하우징(3, 4)의 단면도이다. 덮개(4)를 하나 이상의 볼트(5)에 의해서 컨테이너(3)로 부착할 수 있다.

각각의 코인(1, 2)이 컨테이너(3) 및 덮개(4)로 이루어진 카세트 하우징 내로 삽입된다. 컨테이너(3)의 하단이 불활성 가스를 위한 유입구(6)를 포함한다. 컨테이너(3)와 덮개(4) 사이에 슬릿(7)이 남아 있고, 그러한 슬릿은 자동 방식으로 카세트 하우징(3, 4)으로부터 코인(1, 2)을 제거할 수 있게 한다. 또한, 슬릿(7)이 불활성 가스를 위한 배출구로서의 역할을 할 수 있을 것이다. 컨테이너(3)의 측벽이 함몰부(8)를 포함할 수 있을 것이고, 그러한 함몰부는 분배 장치 내에 컨테이너(3)를 고정할 수 있게 한다.

대안적인 실시예에서, 기준 재료의 각각의 코인(12)이 하우징(10) 내로 삽입되고, 이에 대해서는 도 4를 참조한다. 불활성 가스(예를 들어, 아르곤, 그러나 다른 것도 가능하다)가 하우징의 내부 공간을 퍼지하고 하우징의 기밀 폐쇄부에 의해서 밀봉되며, 이는 분위기적 오염으로부터 재영점교정 표면 및 그 보호 코팅을 보호한다. 이러한 목적을 위해서, 하나의 예로서, O-링(13)이 이용될 수 있다. 코인 하우징(10)이, 도 5에 도시된 바와 같이, 사용 직전에 개방되고 분석을 위해서 분광계로 이송된다. 플라스틱 백의 이용이 또한 고려되며, 이에 대해서는 도 6을 참조한다. 복수의 코인(12)이 호일 백킹된 홀더(20) 내에 수용될 수 있고, 그에 따라 나머지 코인(12)에 대한 불활성 가스 보호를 손상시키지 않고, 개별적인 코인(12)의 분배를 제공한다. 이러한 실시예는 정제(pill) 분배기로서 이용되는 블리스터(blister)와 유사하다. 코인(12)의 개별적인 분배는, 준비 장비를 필요로 하지 않고, 작업자에게 재영점교정 표면을 제공한다. 도 7은 복수 호일의 익숙한 패키지(21)이다.

Claims (20)

1. 광학 방출 분광계의 영점교정을 위한 방법으로서,
   기준 재료가 분광계의 영점교정을 위해서 이용되고, 상기 기준 재료는 불활성 코팅(2)에 의해 보호되는 균질한 원소의 함유물(1)을 가지며,
   상기 불활성 코팅의 두께가 0.1 내지 10 ㎛인 것을 특징으로 하는 방법.
2. 제1항에 있어서, 분배 장치로부터 영점교정을 위한 분광계로의 기준 재료(1, 2)의 자동적인 이송을 특징으로 하는 방법.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 기준 재료는, 영점교정 전에, 불활성 가스 대기 또는 진공 하에서 유지되는 것을 특징으로 하는 방법.
4. 제3항에 있어서, 상기 불활성 가스가 아르곤인 것을 특징으로 하는 방법.
5. 제1항 또는 제2항에 있어서, 철 합금 또는 스틸 합금의 조성이 영점교정 이후에 분광계에 의해서 측정되는 것을 특징으로 하는 방법.
6. 제5항에 있어서, 상기 불활성 코팅이 스틸 또는 철 합금 내에서 측정되는 원소를 포함하지 않는 것인 방법.
7. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 불활성 코팅 대신에 또는 상기 불활성 코팅에 부가하여, 균질한 함유물을 보호하기 위해서 불활성 가스가 이용되는 것을 특징으로 하는 방법.
8. 원소의 균질한 함유물을 가지는 제1항 또는 제2항에 따른 광학 방출 분광계의 영점교정을 위한 기준 재료로서,
   상기 함유물이 불활성 코팅에 의해서 보호되고,
   상기 불활성 코팅의 두께가 0.1 내지 10 ㎛인 것을 특징으로 하는 기준 재료.
9. 제8항에 있어서, 상기 불활성 코팅이 Ag, Au, Pt, Ir, Rh, 또는 이들의 합금으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 기준 재료.
10. 제8항에 있어서, 상기 원소의 균질한 함유물이 스틸로부터 형성되는 것을 특징으로 하는 기준 재료.
11. 제8항에 있어서, 상기 원소의 균질한 함유물(1)이 상기 코팅(2)의 원소를 포함하지 않는 것을 특징으로 하는 기준 재료.
12. 제8항에 있어서, 상기 기준 재료가 원형 코인인 것을 특징으로 하는 기준 재료.
13. 제12항에 있어서, 상기 코인의 직경이 10 내지 80 ㎜ 직경이거나 또는 상기 코인의 높이가 1 내지 30 ㎜인 것을 특징으로 하는 기준 재료.
14. 제10항에 있어서, 상기 스틸의 순도가 적어도 90%인 것을 특징으로 하는 기준 재료.
15. 제8항에 있어서, 상기 기준 재료가 하우징 내에 배열되고, 그에 의해 상기 하우징이 기밀식으로 폐쇄되는 것을 특징으로 하는 기준 재료.
16. 제15항에 있어서, 상기 기준 재료의 하나 초과의 피스가 하우징 내에 배열되는 것을 특징으로 하는 기준 재료.
17. 제16항에 있어서, 상기 피스들이 서로로부터 분리되어 배열되는 것을 특징으로 하는 기준 재료.
18. 제15항에 있어서, 상기 하우징이 적어도 2개의 부분을 가지고, 그에 의해 하나의 부분이 다른 부분으로부터 적어도 부분적으로 제거될 수 있는 것을 특징으로 하는 기준 재료.
19. 제16항에 있어서, 피스들은 하나의 피스가 다른 피스의 위에 배열되는 것을 특징으로 하는 기준 재료.
20. 삭제

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