KR102235498B1 - 표시장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 본 발명은 네로우 베젤(narrow bezel)을 갖는 표시장치에 관한 것이다. 이 표시장치는 데이터 라인들, 상기 데이터 라인들과 교차되는 게이트 라인들, 및 픽셀들을 가지는 픽셀 어레이을 포함한다. 상기 표시장치는 상기 픽셀 어레이 밖의 베젤 영역에 배치되는 검사 패드들, 상기 검사 패드들에 연결되고 상기 픽셀 어레이 내에 배치되는 검사 배선들, 및 상기 베젤 영역에 배치되고 상기 검사 배선들 중 어느 하나로부터의 인에이블 신호에 응답하여 상기 검사 배선들을 통해 수신된 테스트 신호를 상기 데이터 라인들에 공급하는 스위치 소자들을 포함한다. 상기 검사 배선들이 상기 데이터 라인들과 중첩된다.

Description

표시장치{DISPALY DEVICE}

본 발명은 네로우 베젤(narrow bezel)을 갖는 표시장치에 관한 것이다.

액정표시장치(Liquid Crystal Display Device: LCD), 유기 발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display : OLED Display), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : PDP), 전기영동 표시장치(Electrophoretic Display Device: EPD) 등 각종 평판 표시장치가 개발되고 있다.

액정표시장치는 액정 분자에 인가되는 전계를 데이터 전압에 따라 제어하여 화상을 표시한다. 액티브 매트릭스(Active Matrix) 구동방식의 액정표시장치에는 픽셀 마다 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : 이하 "TFT"라 함)가 형성되어 있다.

액정표시장치의 제조 공정은 액정표시패널의 기판 세정, 기판 패터닝 공정, 배향막 형성/러빙 공정, 기판 합착 및 액정 적하 공정, 구동회로 실장 공정, 검사 공정, 리페어 공정, 액정모듈의 조립공정 등을 포함한다.

기판세정 공정은 액정표시패널의 상부 유리기판과 하부 유리기판 표면에 오염된 이물질을 세정액으로 제거한다. 기판 패터닝 공정은 하부 유리기판에 데이터 라인 및 게이트 라인을 포함한 신호배선, TFT, 화소 전극(도 5, 11) 등의 각종 박막 재료를 형성하고 패터닝하는 공정과, 상부 유리기판 상에 블랙 매트릭스, 컬러필터, 및 공통전극 등의 각종 박막 재료를 형성하고 패터닝하는 공정을 포함한다. 배향막 형성/러빙 공정은 유리기판들 상에 배향막을 도포하고 그 배향막을 러빙포로 러빙하거나 광배향 처리한다. 이러한 일련의 공정을 거쳐 액정표시패널의 하부 유리기판에는 비디오 데이터전압이 공급되는 데이터 라인들, 그 데이터 라인들과 교차되고 스캔신호 즉, 게이트펄스가 순차적으로 공급되는 게이트 라인들, 데이터 라인들과 게이트 라인들의 교차부에 형성된 TFT들, TFT들에 1 : 1로 접속된 액정셀의 화소 전극들 및 스토리지 커패시터(Storage Capacitor) 등을 포함한 TFT 어레이가 형성된다. 액정표시패널의 상부 유리기판에는 블랙매트릭스, 컬러필터 및 공통전극 등을 포함한 컬러필터 어레이가 형성된다. 공통전극은 TN(Twisted Nematic) 모드와 VA(Vertical Alignment) 모드와 같은 수직 전계 구동방식에서 상부 유리기판 상에 형성되며, IPS(In Plane Switching) 모드와 FFS(Fringe Field Switching) 모드와 같은 수평 전계 구동방식에서 화소 전극과 함께 하부 유리기판 상에 형성된다. 상부 유리기판과 하부 유리기판 각각에는 편광판과, 그 위에 편광판, 보호필름 등이 부착된다.

기판 합착 및 액정 적하 공정은 액정표시패널의 상부 및 하부 유리기판 중 어느 하나에 실런트를 드로잉하고 다른 기판에 액정을 적하(Dropping)한다.

구동회로 실장공정은 COG(Chip On Glass) 공정이나 TAB(Tape Automated Bonding) 공정을 이용하여 데이터 구동회로의 집적회로(Integrated Circuit, IC)를 액정표시패널의 하부 유리기판 상에 실장한다. 게이트 구동회로는 GIP(Gate In Panel) 공정으로 TFT 어레이와 함께 액정표시패널의 하부 유리기판 상에 직접 형성되거나, 구동 회로 실장 공정에서 TAB 공정으로 하부 유리기판 상에 부착될 수도 있다. 구동회로 실장 공정은 구동회로 IC들과 PCB(printed circuit board)를 FPC(Flexible Printed Circuitboard) 또는 FFC(Flexible Flat Cable)로 연결한다.

검사 공정은 구동회로에 대한 검사, TFT 어레이 기판에 형성된 데이터 라인과 게이트 라인 등의 배선 검사, 화소 전극이 형성된 후에 실시되는 검사, 기판 합착 및 액정 적하 공정 후에 실시되는 전기적 검사, 점등 검사 등을 포함한다. 리페어 공정은 검사 공정에 의해 발견된 불량을 수선한다.

전술한 일련의 공정을 거쳐 완성된 액정표시패널이 완성되면, 액정모듈의 조립공정이 수행된다. 액정모듈의 조립 공정은 액정표시패널의 아래에 백라이트 유닛을 정렬하고, 가이드/케이스 부재 등의 기구를 이용하여 액정표시패널과 백라이트 유닛을 액정 모듈로 조립한다.

오토 프로브(Auto-probe) 검사는 구동회로 실장 공정에 앞서 액정표시패널의 기판에 대하여 검사를 수행하여 기판 상의 신호 배선 불량이나 박막 패턴 불량을 검사할 수 있다.

오트 프로브 검사를 가능하게 하기 위하여, 하부 유리기판에는 오토 프로브 검사 장치의 니들(needle)이 접촉되는 오토 프로프 검사 패드(이하 "AP 패드"라 함)와, AP 패드와 연결되는 신호 배선(이하, "AP 배선"이라 함)이 형성된다. 그런데 AP 배선들이 도 1과 같이 픽셀 어레이(Pixel array) 밖의 베젤(bezel) 영역(BZ)에 형성되기 때문에 표시장치의 네로우 베젤 설계가 어렵게 된다.

표시패널의 기판에 직접 게이트 구동 회로(GIP)가 형성되면, 그 게이트 구동 회로(GIP)를 구동하기 위한 GIP 배선들은 도 1과 같이 베젤 영역(BZ)에 형성된다. 베젤 영역에 도 1과 같이 게이트 구동회로(GIP), GIP 배선들, 및 AP 배선들이 형성되면 네로우 베젤 설계가 더 어렵게 된다.

본 발명은 네로우 베젤을 갖는 표시장치를 제공한다.

본 발명의 표시장치는 데이터 라인들, 상기 데이터 라인들과 교차되는 게이트 라인들, 및 픽셀들을 가지는 픽셀 어레이을 포함한다. 상기 표시장치는 상기 픽셀 어레이 밖의 베젤 영역에 배치되는 검사 패드들, 상기 검사 패드들에 연결되고 상기 픽셀 어레이 내에 배치되는 검사 배선들, 및 상기 베젤 영역에 배치되고 상기 검사 배선들 중 어느 하나로부터의 인에이블 신호에 응답하여 상기 검사 배선들을 통해 수신된 테스트 신호를 상기 데이터 라인들에 공급하는 스위치 소자들을 포함한다. 상기 검사 배선들이 상기 데이터 라인들과 중첩된다.

본 발명은 AP 배선들을 픽셀 어레이 내에 배치하여 베젤 영역에서 배선들의 개수를 줄임으로써 표시장치에서 네로우 베젤을 구현할 수 있다.

도 1은 종래 기술의 표시장치에서 베젤 영역에 형성되는 배선들을 보여 주는 도면이다.
도 2는 본 발명의 표시장치를 개략적으로 보여 주는 블록도이다.
도 3은 도 2에 도시된 게이트 구동회로의 시프트 레지스터를 보여 주는 도면이다.
도 4는 픽셀 어레이 내에 형성된 AP 배선들을 보여 주는 도면이다.
도 5는 픽셀 어레이 내에서 절연막을 사이에 두고 중첩되는 데이터 라인과 AP 배선을 보여 주는 도면이다.
도 6은 터치 스크린의 일 예를 보여 주는 도면이다.
도 7은 픽셀 어레이에 형성된 AP 배선들, GIP 배선들, 센서 배선들, 플로팅 배선들, 및 Vcom 배선들을 보여 주는 도면이다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.

본 발명의 표시장치는 액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), 전계방출 표시장치(Field Emission Display : FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP), 유기발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Display, OLED), 전기영동 표시장치(Electrophoresis Display, EPD) 등의 평판 표시장치로 구현될 수 있다. 이하의 실시예에서, 평판 표시소자의 일 예로서 액정표시장치를 중심으로 설명하지만, 이에 한정되지 않는다. 예컨대, 본 발명의 표시장치는 인셀 터치 센서 기술이 적용 가능한 어떠한 표시장치도 가능하다.

도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 표시장치는 표시패널(PNL)과, 표시패널(PNL)의 픽셀 어레이(pixel array)에 입력 영상의 데이터를 기입하기 위한 표시패널 구동회로, 오토 프로브 검사를 위한 AP 패드(APPAD), 검사용 스위치 어레이(이하, "AP 스위치"라 함)(APTR) 등을 포함한다.

표시패널(PNL)은 데이터 라인들(12), 데이터 라인들(12)과 직교하는 게이트 라인들(14), 및 데이트 라인들(120)과 게이트 라인들(14)에 의해 정의된 매트릭스 형태로 픽셀들이 배치된 픽셀 어레이를 포함한다. 입력 영상은 픽셀 어레이에서 표시된다.

본 발명은 베젤 영역(BZ)을 줄이기 위하여 픽셀 어레이 내에 AP 배선들을 형성한다. AP 배선들은 픽셀들의 개구율 저하를 줄이지 않기 위하여, 도 5와 같이 데이터 라인(12)과 중첩될 수 있다. AP 패드들(APPAD)은 픽셀 어레이에 형성된 AP 배선들과 연결된다.

AP 스위치(APTR)는 AP 배선들과 데이터 라인들 사이에 연결되어 AP 배선들을 통해 인가되는 RGB 테스트 신호를 데이터 라인들에 공급한다. AP 스위치(APTR)는 도 4와 같이 인에이블 신호(EN)에 응답하여 턴-온/오프(turn on/off)되는 스위치 소자들을 포함한다.

표시패널 구동회로는 데이터 라인들(12)에 데이터 신호를 공급하는 데이터 구동회로(SIC)(16), 데이터 신호에 동기되는 게이트 펄스를 게이트 라인들(14)에 순차적으로 공급하는 게이트 구동회로(GIP)(18), 및 타이밍 콘트롤러(TCON)를 포함한다. 표시패널 구동회로는 도 6 및 도 7과 같은 하나의 드라이브 IC(30) 내에 집적될 수 있다.

타이밍 콘트롤러(TCON)는 입력 영상의 디지털 데이터를 데이터 구동회로(SIC)로 전송하고, 데이터 구동회로(16)와 게이트 구동회로(18)의 동작 타이밍을 제어한다. 게이트 구동회로(18)는 픽셀 어레이 밖의 베젤 영역(BZ)에 형성될 수 있다.

타이밍 콘트롤러(TCON)로부터 출력된 게이트 타이밍 제어 신호들은 GIP 배선들을 통해 게이트 구동회로(18)로 전송된다. 게이트 타이밍 제어 신호들은 도 3에 도시된 스타트 펄스(Vst), 시프트 클럭(GCLK1~GCLK4) 등을 포함할 수 있다.

본 발명은 베젤 영역(BZ)을 더욱 줄이기 위하여 픽셀 어레이 내에 GIP 배선들을 형성할 수 있다. GIP 배선들은 픽셀들의 개구율 저하를 줄이지 않기 위하여, 도 5와 같이 데이터 라인(12)과 중첩될 수 있다. GIP 배선들은 데이터 라인들(12)을 따라 y축 방향으로 긴 y 직선 구간과, 게이트 라인들(14)을 따라 x축 방향으로 긴 x 진선 구간을 포함할 수 있다. 이 경우에, GIP 배선들은 픽셀들의 개구율 저하를 방지하기 위하여 데이터 라인들과 중첩되고 또한,게이트 라인들과 중첩될 수 있다.

게이트 구동회로(18)는 시프트 레지스터(shift register)를 포함한다. 시프트 레지스터는 도 3과 같이 종속적으로 접속된 스테이지들(S(N-2) ~ S(N+2))을 포함한다. 스테이지들(S(N-2) ~ S(N+2))은 스타트 펄스(Vst)에 응답하여 게이트 펄스를 출력하기 시작하고, 시프트 클럭(GCLK1~GCLK4)에 따라 출력을 시프트한다. 스테이지들(S(N-2) ~ S(N+2))로부터 순차적으로 출력되는 출력 신호는 게이트 펄스로서 게이트 라인들(14)에 공급된다. 스테이지들(S(N-2)~S(N+2)) 각각의 출력은 다음 스테이지의 스타트 펄스로서 입력되고, 또한 그 출력은 리셋 신호(Reset signal)로서 앞 단 스테이지에 입력될 수 있다. 스테이지들은 게이트 펄스와 별도의 캐리 신호(Carry signal)를 출력하여 스타트 펄스로서 다음 스테이지에 공급할 수 있다. 캐리 신호는 다음 단 스테이지의 스타트 펄스로서 입력되고, 리셋 신호는 이전 스테이지의 출력을 방전시킨다.

스테이지들(S(N-2)~S(N+2))에는 스타트 펄스(Vst), 시프트 클럭(GCLK1~GCLK4) 등의 게이트 타이밍 제어신호들이 GIP 배선들을 통해 입력된다.

도 4는 픽셀 어레이 내에 형성된 AP 배선들을 보여 주는 도면이다.

도 4를 참조하면, AP 배선들은 인에이블 배선(21), R 배선(22), G 배선(23) 및 B 배선(23)을 포함한다. AP 배선들(21~24)은 픽셀 어레이 내에 형성된다. AP 패드들(APPAD)은 표시패널(PNL)의 상단에 형성되어 AP 배선들(21~24)에 연결될 수 있다.

AP 스위치(APTR)은 표시패널(PNL)의 하단에 형성되어 AP 배선들(21~24)에 연결될 수 있다. AP 스위치(APTR)은 제1 TFT(T1), 제2 TFT(T2), 및 제3 TFT(T3)를 포함한다. 제1 TFT(T1)는 인에이블 신호(EN)에 응답하여 R 테스트 신호를 R 서브 픽셀에 연결된 제1 데이터 라인(12)에 공급한다. 제1 TFT(T1)의 게이트는 인에이블 배선(21)에 연결된다. 제1 TFT(T1)의 드레인은 R 배선(22)에 연결되고, 제1 TFT(T1)의 소스는 제1 데이터 라인(12)에 연결된다. 제2 TFT(T2)는 인에이블 신호(EN)에 응답하여 G 테스트 신호를 G 서브 픽셀에 연결된 제2 데이터 라인(12)에 공급한다. 제2 TFT(T2)의 게이트는 인에이블 배선(21)에 연결된다. 제2 TFT(T2)의 드레인은 G 배선(23)에 연결되고, 제2 TFT(T2)의 소스는 제2 데이터 라인(12)에 연결된다. 제3 TFT(T3)는 인에이블 신호(EN)에 응답하여 B 테스트 신호를 B 서브 픽셀에 연결된 제3 데이터 라인(12)에 공급한다. 제3 TFT(T3)의 게이트는 인에이블 배선(21)에 연결된다. 제3 TFT(T3)의 드레인은 B 배선(24)에 연결되고, 제3 TFT(T3)의 소스는 제3 데이터 라인(12)에 연결된다.

AP 패드들(APPAD)과 AP 스위치들(APTR)는 도 4와 같이 표시패널(PNL)에서 픽셀 어레이를 사이에 두고 분리될 수 있다.

검사 공정에서, 오토 프로브 검사 장치는 AP 패드들을 통해 인에이블 신호, RGB 테스트 신호를 공급하고, GIP 패드들(도시하지 않음)을 통해 게이트 테스트 신호들을 GIP 배선들에 공급한다. GIP 패드들은 GIP 배선들에 연결되고, 검사 공정에서 오토 프로브 검사 장치의 니들에 접촉된다. 게이트 테스트 신호들은 게이트 구동회로(GIP)의 시프트 레지스터를 구동하기 위한 스타트 펄스, 시프트 클럭 등의 신호를 포함한다. 이렇게 게이트 라인들과 데이터 라인들이 구동되면, 드라이브 IC(30)를 표시패널(PNL)에 실장하지 않고 픽셀들과 신호 배선들의 결함 유무를 알 수 있다.

도 5는 픽셀 어레이 내에서 절연막을 사이에 두고 중첩되는 데이터 라인과 AP 배선을 보여 주는 도면이다. 도 5에서 좌측 도면은 1 개의 서브 픽셀을 위에서 바라 본 평면도이다. 서브 픽셀에서 본 발명의 특징과 관련이 없는 구성들은 생략되어 있다. 도 5에서 우측의 단면도는 좌측의 평면도에서 선 A-A'을 따라 절취한 단면도이다.

도 5를 참조하면, 데이터 라인(12)과 게이트 라인(14)은 게이트 절연막(GI)을 사이에 두고 기판(SUBS) 상에서 교차된다. 데이터 라인(12)과 게이트 라인(14)에 의해 정의된 화소 영역에 화소 전극(11)이 형성된다.

데이터 라인(12)은 소스-드레인 금속 패턴(SD)으로 게이트 절연막(GI) 상에 형성된다. 유기 보호막(PAC)은 소스-드레인 금속 패턴(SD)을 덮는다. AP 배선들(21~24)과 GIP 배선들(25)은 소스-드레인 금속 패턴(SD)과 중첩되는 금속 패턴(M3)으로 유기 보호막(PAC) 상에 형성된다. 유기 보호막(PAC)은 절연층이다. 제1 무기 보호막(PAS1)은 유기 보호막(PAC) 상에 형성되어 금속 패턴(M3)을 덮는다. 공통 전극(COM)은 제1 무기 보호막(PAS1) 상에 형성된다. 공통 전극(COM)에는 공통 전압(Vcom)이 인가된다. 제2 무기 보호막(PAS2)은 제1 무기 보호막(PAS1) 상에 형성되어 공통 전극(COM)을 덮는다.

터치 스크린의 터치 센서들은 인셀(In-cell) 터치 센서 기술을 이용하여 표시패널(PNL)의 픽셀 어레이에 내장될 수 있다. 인셀 터치 센서 기술은 도 6에서, 공통 전극(COM)을 분할하여 센서 전극들(C1, C2)로 활용할 수 있다. 도 6의 예에서, 센서 전극들(C1, C2) 각각은 자기 정전 용량(Self capacitance)을 포함하는 터치 센서로 동작한다. 센서 전극들(C1, C2) 각각에는 센서 배선들(26)에 연결된다.

터치 센서 구동회로는 드라이브 IC(30)에 내장될 수 있다. 센서 배선들(26)은 센서 전극들(C1, C2)을 드라이브 IC(3)의 단자들에 연결한다.

데이터 라인들(12)의 개수는 AP 신호 배선들(21~24), GIP 배선들(25), 및 터치 센서 배선들(26)을 합한 개수 보다 많다. 따라서, 터치 센서 배선들(26)은 도 5와 같은 금속 패턴(M3)으로 형성되어 데이터 라인들(12)과 중첩될 수 있다.

도 7은 픽셀 어레이에 형성된 AP 배선들(21~24), GIP 배선들(25), 센서 배선들(26), 플로팅 배선들(28), 및 Vcom 배선들(27)을 보여 주는 도면이다.

도 7을 참조하면, 본 발명의 픽셀 어레이는 입력 영상 데이터가 표시되는 픽셀들과 함께 AP 배선들(21~24), GIP 배선들(25), 센서 배선들(26), 플로팅 배선들(28), 및 Vcom 배선들(27)이 형성된다.

이 배선들(21~28)은 픽셀 어레이의 데이터 라인들(12)과 1:1로 대응하여 절연막을 사이에 두고 그 데이터 라인들(12)과 중첩된다. Vcom 배선들(27)은 픽셀들의 공통 전극(COM)과 연결되어 공통 전압(Vcom)을 픽셀들에 공급한다. 도 7에서, 데이터 라인들(12)은 생략되어 있다.

센서 배선들(26)과 연결되는 픽셀들의 기생 용량과, 센서 배선들(26)이 연결되지 않은 픽셀들의 기생용량이 달라질 수 있다. 플로팅(floating) 배선들(28)은 센서 배선들(26)이 연결되지 않은 픽셀들의 데이터 라인들과 중첩되어 그 픽셀들의 기생 용량을 센서 배선들(26)과 연결된 픽셀들과 유사한 용량 값으로 보상한다. 플로팅 배선들(28)은 드라이브 IC(30)에 연결되지 않는다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.

21~24 : AP 배선들 25 : GIP 배선들
26 : 센서 배선들 27 : Vcom 배선들
28 : 플로팅 배선들

Claims (8)

1. 데이터 라인들, 상기 데이터 라인들과 교차되는 게이트 라인들, 및 픽셀들을 가지는 픽셀 어레이;
   상기 픽셀 어레이 밖의 베젤 영역에 배치되는 검사 패드들;
   상기 검사 패드들에 연결되고 상기 픽셀 어레이 내에 배치되는 검사 배선들; 및
   상기 베젤 영역에 배치되고 상기 검사 배선들 중 어느 하나로부터의 인에이블 신호에 응답하여 상기 검사 배선들을 통해 수신된 테스트 신호를 상기 데이터 라인들에 공급하는 스위치 소자들을 포함하고,
   상기 검사 배선들이 상기 데이터 라인들과 중첩되는 표시장치.
2. 삭제
3. 제 1 항에 있어서,
   상기 픽셀 어레이, 상기 검사 패드들, 상기 검사 배선들, 및 상기 스위치 소자들, 및 상기 베젤 영역에 배치되어 상기 게이트 라인들을 구동하는 게이트 구동회로를 가지는 기판을 더 포함하는 표시장치.
4. 제 3 항에 있어서,
   상기 픽셀 어레이에 배치되어 상기 게이트 구동회로의 구동에 필요한 신호들을 공급하는 게이트 타이밍 제어 신호 배선들을 더 포함하고,
   상기 게이트 타이밍 제어 신호 배선들이 상기 데이터 라인들과 중첩되는 표시장치.
5. 제 4 항에 있어서,
   상기 픽셀 어레이에 내장된 터치 센서들;
   상기 픽셀 어레이에 내장된 상기 터치 센서들과 연결된 센서 배선들; 및
   상기 픽셀 어레이에 내장된 플로팅 배선들을 더 포함하고,
   상기 센서 배선들과 상기 플로팅 배선들이 상기 데이터 라인들과 중첩되는 표시장치.
6. 데이터 라인들, 상기 데이터 라인들과 교차되는 게이트 라인들, 및 픽셀들을 가지는 픽셀 어레이;
   상기 픽셀 어레이 밖의 베젤 영역에 배치되는 검사 패드들;
   상기 검사 패드들에 연결되고 상기 픽셀 어레이 내에 배치되는 검사 배선들; 및
   상기 베젤 영역에 배치되고 상기 검사 배선들 중 어느 하나로부터의 인에이블 신호에 응답하여 상기 검사 배선들을 통해 수신된 테스트 신호를 상기 데이터 라인들에 공급하는 스위치 소자들을 포함하고,
   상기 게이트 구동회로의 구동에 필요한 신호들을 공급하는 게이트 타이밍 제어 신호 배선들이 상기 데이터 라인들과 중첩되는 표시장치.
7. 데이터 라인들, 상기 데이터 라인들과 교차되는 게이트 라인들, 픽셀들, 및 터치 센서들, 및 상기 터치 센서들과 연결된 센서 배선들을 가지는 픽셀 어레이;
   상기 픽셀 어레이 밖의 베젤 영역에 배치되는 검사 패드들;
   상기 검사 패드들에 연결되고 상기 픽셀 어레이 내에 배치되는 검사 배선들; 및
   상기 베젤 영역에 배치되고 상기 검사 배선들 중 어느 하나로부터의 인에이블 신호에 응답하여 상기 검사 배선들을 통해 수신된 테스트 신호를 상기 데이터 라인들에 공급하는 스위치 소자들을 포함하고,
   상기 센서 배선들이 상기 데이터 라인들과 중첩되는 표시장치.
8. 제 7 항에 있어서,
   상기 픽셀 어레이에 내장된 플로팅 배선들을 더 포함하고,
   상기 플로팅 배선들이 상기 데이터 라인들과 중첩되는 표시장치.
   

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