KR102212752B1 - Light emitting device, and lighting system - Google Patents

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Abstract

실시예는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템에 관한 것이다.
실시예에 따른 발광소자는 기판(102); 상기 기판(102) 상에 절연체층(110); 상기 기판(102)과 절연체층(110) 상에 제1 도전형 반도체층(132); 상기 제1 도전형 반도체층(132) 상에 활성층(134); 상기 활성층(134) 상에 제2 도전형 반도체층(136); 및 상기 제1 도전형 반도체층(132) 상에 제1 전극(151)과 상기 제2 도전형 반도체층(136) 상에 제2 전극(152);을 포함할 수 있다.
The embodiment relates to a light emitting device, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting system.
The light emitting device according to the embodiment includes a substrate 102; An insulator layer 110 on the substrate 102; A first conductivity type semiconductor layer 132 on the substrate 102 and the insulator layer 110; An active layer 134 on the first conductivity type semiconductor layer 132; A second conductivity type semiconductor layer 136 on the active layer 134; And a first electrode 151 on the first conductivity type semiconductor layer 132 and a second electrode 152 on the second conductivity type semiconductor layer 136.

Description

발광소자 및 조명시스템{LIGHT EMITTING DEVICE, AND LIGHTING SYSTEM}Light emitting device and lighting system {LIGHT EMITTING DEVICE, AND LIGHTING SYSTEM}

실시예는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템에 관한 것이다.The embodiment relates to a light emitting device, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting system.

발광소자(Light Emitting Device)는 전기에너지가 빛 에너지로 변환되는 특성의 p-n 접합 다이오드로서, 주기율표상에서 Ⅲ족과 Ⅴ족 등의 화합물 반도체로 생성될 수 있고 화합물 반도체의 조성비를 조절함으로써 다양한 색상구현이 가능하다.Light Emitting Device is a pn junction diode that converts electrical energy into light energy. It can be created as a compound semiconductor such as Group III and Group V on the periodic table. Various colors can be realized by controlling the composition ratio of the compound semiconductor. It is possible.

발광소자는 순방향전압 인가 시 n층의 전자와 p층의 정공(hole)이 결합하여 전도대(Conduction band)와 가전대(Valance band)의 밴드갭 에너지에 해당하는 만큼의 에너지를 발산하는데, 이 에너지는 주로 열이나 빛의 형태로 방출되며, 빛의 형태로 발산되면 발광소자가 되는 것이다.When a forward voltage is applied, the electrons in the n-layer and the holes in the p-layer are combined to emit energy equivalent to the band gap energy of the conduction band and the balance band. Is mainly emitted in the form of heat or light, and becomes a light emitting device when radiated in the form of light.

예를 들어, 질화물 반도체는 높은 열적 안정성과 폭넓은 밴드갭 에너지에 의해 광소자 및 고출력 전자소자 개발 분야에서 큰 관심을 받고 있다. 특히, 질화물 반도체를 이용한 청색(Blue) 발광소자, 녹색(Green) 발광소자, 자외선(UV) 발광소자 등은 상용화되어 널리 사용되고 있다.For example, nitride semiconductors are attracting great interest in the development of optical devices and high-power electronic devices due to their high thermal stability and wide band gap energy. In particular, a blue light-emitting device, a green light-emitting device, and an ultraviolet (UV) light-emitting device using a nitride semiconductor are commercialized and widely used.

질화물 반도체 발광소자는 전극층의 위치에 따라 수평형 타입(Lateral Type) 발광소자와 수직형 타입(Vertical type) 발광소자로 구분할 수 있다.The nitride semiconductor light emitting device can be classified into a horizontal type light emitting device and a vertical type light emitting device according to the position of the electrode layer.

수평형 타입의 발광소자는 사파이어 기판 상에 질화물 반도체층을 형성하고, 질화물 반도체층의 상측에 두개의 전극층이 배치되도록 형성한다.The horizontal type light emitting device is formed such that a nitride semiconductor layer is formed on a sapphire substrate, and two electrode layers are disposed above the nitride semiconductor layer.

종래기술에 의하면, 지속적인 High Power LED가 요구됨에 따라 LED chip의 크기가 커지고, 인가되는 전류(current)의 양 또한 증가가 되고 있다.According to the prior art, as a continuous high power LED is required, the size of the LED chip increases, and the amount of applied current is also increasing.

따라서 패드(pad)의 디자인이 커지고 패드 폭이나 두께 또한 고 전류(high current)를 인가하기 위해 넓어져야 한다. Therefore, the design of the pad is increased, and the width or thickness of the pad must also be widened to apply a high current.

뿐만 아니라 공간적으로 분리되어 있는 p-pad와 n-pad간 전류의 흐름에 있어서 전류집중(current crowding) 효과가 증대되어 주입되는 전력 효율 대비 발광에 기여하는 전력량이 선형적으로 증가되지 않는 문제점이 있다.In addition, there is a problem that the amount of power contributing to light emission is not linearly increased compared to the injected power efficiency due to the increased current crowding effect in the flow of current between the p-pad and the n-pad that are spatially separated. .

따라서 전류 확산(current spreading) 효과를 증가시켜 LED chip의 전체 면적을 골고루 사용해야 할 필요성이 있다.Therefore, there is a need to increase the current spreading effect to evenly use the entire area of the LED chip.

실시예는 전류집중(current crowding) 문제를 개선할 수 있는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템을 제공하고자 한다.The embodiment is to provide a light emitting device, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting system capable of improving the current crowding problem.

실시예에 따른 발광소자는 기판(102); 상기 기판(102) 상에 절연체층(110); 상기 기판(102)과 절연체층(110) 상에 제1 도전형 반도체층(132); 상기 제1 도전형 반도체층(132) 상에 활성층(134); 상기 활성층(134) 상에 제2 도전형 반도체층(136); 및 상기 제1 도전형 반도체층(132) 상에 제1 전극(151)과 상기 제2 도전형 반도체층(136) 상에 제2 전극(152);을 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment includes a substrate 102; An insulator layer 110 on the substrate 102; A first conductivity type semiconductor layer 132 on the substrate 102 and the insulator layer 110; An active layer 134 on the first conductivity type semiconductor layer 132; A second conductivity type semiconductor layer 136 on the active layer 134; And a first electrode 151 on the first conductivity type semiconductor layer 132 and a second electrode 152 on the second conductivity type semiconductor layer 136.

실시예에 따른 조명시스템은 상기 발광소자를 구비하는 발광모듈을 포함할 수 있다.The lighting system according to the embodiment may include a light emitting module including the light emitting device.

실시예에 따르면, 전류 확산(current spreading) 효과를 증가시켜 광효율을 개선할 수 있는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템을 제공할 수 있다.According to the embodiment, a light emitting device capable of improving light efficiency by increasing a current spreading effect, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting system can be provided.

도 1은 제1 실시예에 따른 발광소자의 단면도.
도 2는 제1 실시예에 따른 발광소자의 부분 단면도.
도 3은 제2 실시예에 따른 발광소자의 부분 단면도.
도 4는 제3 실시예에 따른 발광소자의 부분 단면도.
도 5 내지 도 9는 실시예에 따른 발광소자의 제조방법 공정 단면도.
도 10은 실시예에 따른 발광소자 패키지의 단면도.
도 11은 실시예에 따른 조명장치의 분해 사시도.
1 is a cross-sectional view of a light emitting device according to a first embodiment.
2 is a partial cross-sectional view of a light emitting device according to the first embodiment.
3 is a partial cross-sectional view of a light emitting device according to a second embodiment.
4 is a partial cross-sectional view of a light emitting device according to a third embodiment.
5 to 9 are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment.
10 is a cross-sectional view of a light emitting device package according to an embodiment.
11 is an exploded perspective view of a lighting device according to an embodiment.

실시 예의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on/over)"에 또는 "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상/위(on/over)"와 "아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 층을 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 층의 상/위 또는 아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.In the description of the embodiment, each layer (film), region, pattern, or structure is "on/over" or "under" of the substrate, each layer (film), region, pad, or patterns. In the case of being described as being formed in, "on/over" and "under" include both "directly" or "indirectly" formed do. In addition, standards for the top/top or bottom of each layer will be described based on the drawings.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.In the drawings, the thickness or size of each layer is exaggerated, omitted, or schematically illustrated for convenience and clarity of description. Also, the size of each component does not fully reflect the actual size.

(실시예)(Example)

도 1은 제1 실시예에 따른 발광소자(100)의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a light emitting device 100 according to a first embodiment.

실시예에 따른 발광소자(100)는 기판(102)과, 상기 기판(102) 상에 절연체층(110)과, 상기 기판(102)과 절연체층(110) 상에 제1 도전형 반도체층(132)과, 상기 제1 도전형 반도체층(132) 상에 활성층(134)과, 상기 활성층(134) 상에 제2 도전형 반도체층(136) 및 상기 제1 도전형 반도체층(132) 상에 제1 전극(151)과 상기 제2 도전형 반도체층(136) 상에 제2 전극(152)을 포함할 수 있다.The light emitting device 100 according to the embodiment includes a substrate 102, an insulator layer 110 on the substrate 102, and a first conductivity-type semiconductor layer on the substrate 102 and the insulator layer 110 ( 132, an active layer 134 on the first conductivity type semiconductor layer 132, and a second conductivity type semiconductor layer 136 on the active layer 134 and the first conductivity type semiconductor layer 132 A second electrode 152 may be included on the first electrode 151 and the second conductivity type semiconductor layer 136.

상기 제1 도전형 반도체층(132)과, 상기 활성층(134) 및 상기 제2 도전형 반도체층(136)은 발광구조물(130)을 구성할 수 있다.The first conductivity type semiconductor layer 132, the active layer 134 and the second conductivity type semiconductor layer 136 may constitute the light emitting structure 130.

실시예에 따르면, 발광구조물(130) 하부에 절연체층(110)을 배치하여 전류 확산(current spreading) 효과를 증가시켜 광효율을 개선할 수 있다.According to the embodiment, the insulator layer 110 is disposed under the light emitting structure 130 to increase a current spreading effect, thereby improving light efficiency.

상기 절연체층(110)은 DBR 구조를 포함하여 전류확산에 기여할 뿐만아니라, 광 반사율을 증대하여 광추출 효율을 증대할 수 있다. 상기 절연체층(110)은 적층된 복수의 절연층 구조, 예를 들어 SiOx/TiOy(단, 0<x<1, 0<y<1)의 구조를 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The insulator layer 110 includes a DBR structure and not only contributes to current diffusion, but also increases light reflectance, thereby increasing light extraction efficiency. The insulator layer 110 may include a plurality of stacked insulating layer structures, for example, SiO x /TiO y (however, 0<x<1, 0<y<1), but is not limited thereto. .

또한 실시예에서, 상기 절연체층(110)은 상호 이격된 제1 절연체층(111)과 제2 절연체층(112)을 포함할 수 있다. 상기 제1 절연체층(111)은 제1 SiOx층(111b)/제1 TiOy층(111a)을 포함할 수 있고, 상기 제2 절연체층(112)은 제2 SiOx층(112b)/제2 TiOy층(112a)을 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, in an embodiment, the insulator layer 110 may include a first insulator layer 111 and a second insulator layer 112 spaced apart from each other. The first insulation layer 111 is the first SiO x layer (111b) / a first TiO y may include a layer (111a), the second insulator layer 112 is a second SiO x layer (112b) / The second TiO y layer 112a may be included, but is not limited thereto.

이때, 상기 제2 절연체층(112)은 상기 제2 전극(152)과 상하간에 오버랩되도록 배치되어 제2 전극(152)에서의 전류 집중을 방지하여 전류 확산에 기여할 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 절연체층(112)은 상기 제2 전극(152)과 수직방향으로 오버랩되도록 배치될 수 있다.In this case, the second insulator layer 112 is disposed so as to overlap the second electrode 152 and the upper and lower portions thereof to prevent current concentration in the second electrode 152, thereby contributing to current diffusion. For example, the second insulator layer 112 may be disposed to overlap the second electrode 152 in a vertical direction.

한편, 상기 제1 절연체층(111)은 상기 제1 전극(151)과 수직방향으로 오버랩되지 않도록 배치되어 제1 전극(151)에서의 제1 도전형 캐리어, 예를 들어 전자가 하측으로 분산 이동하여 전류확산에 기여할 수 있다.On the other hand, the first insulator layer 111 is disposed so as not to overlap the first electrode 151 in a vertical direction so that the first conductivity type carriers, for example, electrons in the first electrode 151 are dispersed and moved downward. Thus, it can contribute to current diffusion.

또한 실시예에서, 상기 제1 전극(151)의 저면은 도 1의 도시와 달리 상기 절연체층(110)의 상면보다 낮게 배치되어 제1 전극(151)에서 공급되는 제1 도전형 캐리어는 절연체층(110)에 의해 차단되어 메사 에지영역에서의 전류집중을 방지할 수 있다.In addition, in an embodiment, the bottom surface of the first electrode 151 is disposed lower than the upper surface of the insulator layer 110, unlike the illustration in FIG. 1, so that the first conductivity type carrier supplied from the first electrode 151 is an insulator layer Blocked by (110) can prevent current concentration in the mesa edge region.

또한 실시예에 의하면, 상기 절연체층(110)과 하측에 전기적 전도성이 있는 도전층(115)을 포함하여 측면 전류확산을 높일 수 있다. 예를 들어, 상기 도전층(115)은 상기 제1 절연체층(111) 하측에 제1 도전층(115a), 상기 제2 절연체층(112) 하측에 제2 도전층(115b)을 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, according to the embodiment, the insulator layer 110 and the conductive layer 115 having electrical conductivity underneath may be included to increase side current diffusion. For example, the conductive layer 115 may include a first conductive layer 115a under the first insulator layer 111 and a second conductive layer 115b under the second insulator layer 112. However, it is not limited thereto.

이에 따라 실시예에 의하면, 상기 절연체층(110)과 상기 도전층(115)이 ODR 구조, 예를 들어, SiOx/metal 구조를 형성하여 전류확산 및 광추출 효율을 극대화시킬 수 있다.Accordingly, according to an embodiment, the insulator layer 110 and the conductive layer 115 form an ODR structure, for example, a SiO x /metal structure, thereby maximizing current diffusion and light extraction efficiency.

상기 도전층(115)은 전류 전도성이 높은 Al, Ag, Au 등의 물질을 채용할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The conductive layer 115 may be formed of a material such as Al, Ag, or Au having high current conductivity, but is not limited thereto.

또한 실시예는 상기 절연체층(110)과 상기 기판(102) 상에 언도프트 반도체층(120)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(102) 상에 언도프트 질화물 반도체층이 형성되어 기판(102)과 발광구조물(130) 사이의 격자불일치에 따른 전위 발생을 최소화할 수 있으며, 상기 절연체층(110) 상에 언도프트 반도체층(120)이 측면 성장 후 머지됨으로써 이후 형성되는 제1 도전형 반도체층(132)의 결정 품질을 높일 수 있다.In addition, the embodiment may include an undoped semiconductor layer 120 on the insulator layer 110 and the substrate 102. For example, an undoped nitride semiconductor layer is formed on the substrate 102 to minimize the occurrence of dislocations due to lattice mismatch between the substrate 102 and the light emitting structure 130, and the insulator layer 110 Since the undoped semiconductor layer 120 is laterally grown and then merged, the crystal quality of the first conductivity type semiconductor layer 132 to be formed may be improved.

도 2는 제2 실시예에 따른 발광소자의 단면도(102)이다.2 is a cross-sectional view 102 of a light emitting device according to a second embodiment.

제2 실시예는 제1 실시예의 기술적인 특징을 채용할 수 있으며, 이하 제2 실시예의 주된 특징 위주로 설명한다.The second embodiment can adopt the technical features of the first embodiment, and the main features of the second embodiment will be described below.

제2 실시예에 의하면, 상기 기판(102)에 배치된 열전도층(105)을 포함하여 열방출 효율을 높일 수 있다.According to the second embodiment, heat dissipation efficiency may be improved by including the heat conductive layer 105 disposed on the substrate 102.

예를 들어, 제2 실시예는 상기 열전도층(105)으로서 Cu, Al, Ag 등의 금속층을 포함하여 열방출 효율을 높임으로써 소자의 신뢰성을 높일 수 있다.For example, the second embodiment includes a metal layer such as Cu, Al, or Ag as the heat conductive layer 105 to increase heat dissipation efficiency, thereby increasing the reliability of the device.

실시예에서 상기 열전도층(105)은 상기 절연체층(110)과 수직방향으로 오버랩되도록 배치되어 이동속도가 높은 제1 도전형 캐리어의 폭 넓은 확산 기능을 부여함과 아울러 방열기능을 높여 소자의 열적 안정성을 높일 수 있다.In the embodiment, the heat conductive layer 105 is disposed so as to overlap the insulator layer 110 in a vertical direction to impart a wide diffusion function of the first conductive type carrier having a high moving speed, and increase the heat dissipation function to increase the thermal effect of the element. It can increase the stability.

도 3은 제3 실시예에 따른 발광소자의 단면도(103)이다.3 is a cross-sectional view 103 of a light emitting device according to a third embodiment.

제3 실시예는 제1 실시예와 제2 실시예의 기술적인 특징을 채용할 수 있으며, 이하 제3 실시예의 주된 특징 위주로 설명한다.The third embodiment can adopt the technical features of the first and second embodiments, and the main features of the third embodiment will be described below.

제3 실시예에서 상기 열전도층은 에어 갭(107)을 포함하여 방열기능 향상에 의한 소자의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.In the third embodiment, the heat conductive layer includes an air gap 107 to improve the reliability of the device by improving the heat dissipation function.

실시예에 따르면, 전류 확산(current spreading) 효과를 증가시켜 광효율을 개선할 수 있는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템을 제공할 수 있다.According to the embodiment, a light emitting device capable of improving light efficiency by increasing a current spreading effect, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting system can be provided.

이하, 도 4 내지 도 9를 참조하여 실시예에 따른 발광소자의 제조방법을 설명한다. 이하의 설명에서 제1 실시예를 기준으로 설명하나 실시예의 제조방법이 이에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment will be described with reference to FIGS. 4 to 9. In the following description, the description will be made based on the first embodiment, but the manufacturing method of the embodiment is not limited thereto.

실시예에서의 발광소자는 GaN, GaAs, GaAsP, GaP 등의 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, Green~Blue LED는 GaN(InGaN), Yellow~Red LED는 InGaAIP, AIGaAs를 사용할 수 있으며, 물질의 조성의 변경에 따라 Full Color 구현도 가능하다.The light emitting device in the embodiment may be formed of a material such as GaN, GaAs, GaAsP, or GaP. For example, Green~Blue LEDs can use GaN (InGaN), Yellow~Red LEDs can use InGaAIP, AIGaAs, and full color can be implemented according to the change of the material composition.

먼저, 도 4와 같이 기판(102)을 준비한다. 상기 기판(102)은 열전도성이 뛰어난 물질로 형성될 수 있으며, 전도성 기판 또는 절연성 기판일수 있다. 예를 들어, 상기 기판(102)은 사파이어(Al2O3), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, GaP, InP, Ge, and Ga203 중 적어도 하나를 사용할 수 있다. 상기 기판(102) 위에는 요철 구조가 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 기판(102)에 대해 습식세척을 하여 표면의 불순물을 제거할 수 있다.First, a substrate 102 is prepared as shown in FIG. 4. The substrate 102 may be formed of a material having excellent thermal conductivity, and may be a conductive substrate or an insulating substrate. For example, the substrate 102 is sapphire (Al 2 O 3 ), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, GaP, InP, Ge, and Ga 2 0 3 At least one of can be used. An uneven structure may be formed on the substrate 102, but the embodiment is not limited thereto. The substrate 102 may be wet cleaned to remove impurities from the surface.

다음으로, 도 5와 같이 기판(102) 상에 절연체층(110)을 형성하여 전류 확산(current spreading) 효과를 증가시켜 광효율을 개선할 수 있다.Next, as shown in FIG. 5, the insulator layer 110 is formed on the substrate 102 to increase a current spreading effect, thereby improving light efficiency.

상기 절연체층(110)은 DBR 구조를 포함하여 전류확산에 기여할 뿐만아니라, 광 반사율을 증대하여 광추출 효율을 증대할 수 있다. 상기 절연체층(110)은 적층된 복수의 절연층 구조, 예를 들어 SiOx/TiOy(단, 0<x<1, 0<y<1)의 구조를 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The insulator layer 110 includes a DBR structure and not only contributes to current diffusion, but also increases light reflectance, thereby increasing light extraction efficiency. The insulator layer 110 may include a plurality of stacked insulating layer structures, for example, SiO x /TiO y (however, 0<x<1, 0<y<1), but is not limited thereto. .

상기 절연체층(110)은 상호 이격된 제1 절연체층(111)과 제2 절연체층(112)을 포함할 수 있다. The insulator layer 110 may include a first insulator layer 111 and a second insulator layer 112 spaced apart from each other.

상기 제1 절연체층(111)은 제1 SiOx층(111b)/제1 TiOy층(111a)을 포함할 수 있고, 상기 제2 절연체층(112)은 제2 SiOx층(112b)/제2 TiOy층(112a)을 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The first insulation layer 111 is the first SiO x layer (111b) / a first TiO y may include a layer (111a), the second insulator layer 112 is a second SiO x layer (112b) / The second TiO y layer 112a may be included, but is not limited thereto.

이때, 상기 제2 절연체층(112)은 이후 형성되는 제2 전극(152)과 수직방향으로 오버랩되도록 배치되어 제2 전극(152)에서의 전류 집중을 방지하여 전류 확산에 기여할 수 있다.In this case, the second insulator layer 112 may be disposed to overlap the second electrode 152 formed later in a vertical direction to prevent current concentration in the second electrode 152, thereby contributing to current diffusion.

한편, 상기 제1 절연체층(111)은 이후 형성되는 제1 전극(151)과 수직방향으로 오버랩되지 않도록 배치되어 제1 전극(151)에서의 제1 도전형 캐리어, 예를 들어 전자가 하측으로 분산 이동하여 전류확산에 기여할 수 있다.On the other hand, the first insulator layer 111 is disposed so as not to overlap in the vertical direction with the first electrode 151 to be formed thereafter, so that the first conductivity type carrier, for example, electrons from the first electrode 151 goes downward. Dispersion movement can contribute to current diffusion.

또한 실시예에 의하면, 상기 절연체층(110)과 하측에 전기적 전도성이 있는 도전층(115)을 포함하여 측면 전류확산을 높일 수 있다.In addition, according to the embodiment, the insulator layer 110 and the conductive layer 115 having electrical conductivity underneath may be included to increase side current diffusion.

이에 따라 실시예에 의하면, 상기 절연체층(110)과 상기 도전층(115)이 ODR 구조, 예를 들어, SiOx/metal 구조를 형성하여 전류확산 및 광추출 효율을 극대화시킬 수 있다.Accordingly, according to an embodiment, the insulator layer 110 and the conductive layer 115 form an ODR structure, for example, a SiO x /metal structure, thereby maximizing current diffusion and light extraction efficiency.

상기 도전층(115)은 전류 전도성이 높은 Al, Ag, Au 등의 물질을 채용할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The conductive layer 115 may be formed of a material such as Al, Ag, or Au having high current conductivity, but is not limited thereto.

다음으로 도 6과 같이 이후, 상기 기판(102)과 상기 절연체층(110) 상에 언도프트 반도체층(120)이 형성될 수 있다.Next, as shown in FIG. 6, afterwards, an undoped semiconductor layer 120 may be formed on the substrate 102 and the insulator layer 110.

상기 언도프트 반도체층(120)은 상기 발광구조물(130)의 재료와 기판(102)의 격자 부정합을 완화시켜 줄 수 있으며, 언도프트 반도체층(120)의 재료는 3족-5족 화합물 반도체 예컨대, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN 중 적어도 하나로 형성될 수 있다.The undoped semiconductor layer 120 may alleviate lattice mismatch between the material of the light emitting structure 130 and the substrate 102, and the material of the undoped semiconductor layer 120 is a group III-5 compound semiconductor, for example , GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, may be formed of at least one of AlInN.

실시예에 의하면, 상기 기판(102) 상에 언도프트 질화물 반도체층이 형성되어 기판(102)과 발광구조물(130) 사이의 격자불일치에 따른 전위 발생을 최소화할 수 있으며, 상기 절연체층(110) 상에 언도프트 반도체층(120)이 측면 성장 후 머지됨으로써 이후 형성되는 제1 도전형 반도체층(132)의 결정 품질을 높일 수 있다.According to the embodiment, the undoped nitride semiconductor layer is formed on the substrate 102 to minimize the generation of dislocations due to lattice mismatch between the substrate 102 and the light emitting structure 130, and the insulator layer 110 The undoped semiconductor layer 120 is laterally grown and then merged, thereby improving the crystal quality of the first conductivity type semiconductor layer 132 to be formed thereafter.

다음으로 도 7과 같이, 상기 언도프트 반도체층(120) 상에 제1 도전형 반도체층(132), 활성층(134) 및 제2 도전형 반도체층(136)을 포함하는 발광구조물(130)을 형성할 수 있다.Next, as shown in FIG. 7, a light emitting structure 130 including a first conductivity type semiconductor layer 132, an active layer 134, and a second conductivity type semiconductor layer 136 on the undoped semiconductor layer 120 is formed. Can be formed.

상기 제1 도전형 반도체층(132)은 반도체 화합물로 형성될 수 있다. 3족-5족, 2족-6족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제1 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(132)이 N형 반도체층인 경우, 상기 제1도전형 도펀트는 N형 도펀트로서, Si, Ge, Sn, Se, Te를 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The first conductivity type semiconductor layer 132 may be formed of a semiconductor compound. It may be implemented with a compound semiconductor such as Group 3-5 and Group 2-6, and may be doped with a first conductivity type dopant. When the first conductivity-type semiconductor layer 132 is an N-type semiconductor layer, the first conductivity-type dopant is an N-type dopant, and may include Si, Ge, Sn, Se, and Te, but is not limited thereto.

상기 제1 도전형 반도체층(132)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질을 포함할 수 있다. The first conductivity type semiconductor layer 132 is a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) Can include.

상기 제1 도전형 반도체층(132)은 GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN,AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, GaP, AlGaP, InGaP, AlInGaP, InP 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있다.The first conductivity type semiconductor layer 132 may be formed of one or more of GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, GaP, AlGaP, InGaP, AlInGaP, InP.

상기 제1 도전형 반도체층(132)은 화학증착방법(CVD) 혹은 분자선 에피택시 (MBE) 혹은 스퍼터링 혹은 수산화물 증기상 에피택시(HVPE) 등의 방법을 사용하여 N형 GaN층을 형성할 수 있다. 또한, 상기 제1 도전형 반도체층(132)은 챔버에 트리메틸 갈륨 가스(TMGa), 암모니아 가스(NH3), 질소 가스(N2), 및 실리콘(Si)와 같은 n 형 불순물을 포함하는 실란 가스(SiH4)가 주입되어 형성될 수 있다.The first conductivity-type semiconductor layer 132 may be formed of an N-type GaN layer using a method such as chemical vapor deposition (CVD), molecular beam epitaxy (MBE), sputtering or hydroxide vapor phase epitaxy (HVPE). . In addition, the first conductivity-type semiconductor layer 132 is a silane containing n-type impurities such as trimethyl gallium gas (TMGa), ammonia gas (NH 3 ), nitrogen gas (N 2 ), and silicon (Si) in the chamber. It may be formed by injecting gas (SiH 4 ).

실시예는 상기 제1 도전형 반도체층(132) 상에 전류확산층(미도시)을 형성할 수 있다. 상기 전류확산층은 언도프트 질화갈륨층(undoped GaN layer)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. In an embodiment, a current diffusion layer (not shown) may be formed on the first conductivity type semiconductor layer 132. The current diffusion layer may be an undoped gallium nitride layer, but is not limited thereto.

실시예는 상기 전류확산층 상에 전자주입층(미도시)을 형성할 수 있다. 상기 전자주입층은 제1 도전형 질화갈륨층일 수 있다. 예를 들어, 상기 전자주입층은 n형 도핑원소가 6.0x1018atoms/cm3~8.0x1018atoms/cm3의 농도로 도핑 됨으로써 효율적으로 전자주입을 할 수 있다. In an embodiment, an electron injection layer (not shown) may be formed on the current diffusion layer. The electron injection layer may be a first conductivity type gallium nitride layer. For example, since the electron injection layer is doped with an n-type doping element at a concentration of 6.0x10 18 atoms/cm 3 to 8.0x10 18 atoms/cm 3 , electron injection can be efficiently performed.

실시예는 전자주입층 상에 스트레인 제어층(미도시)을 형성할 수 있다. 예를 들어, 전자주입층 상에 InyAlxGa(1-x-y)N(0≤x≤1, 0≤y≤1)/GaN 등으로 형성된 스트레인 제어층을 형성할 수 있다.In the embodiment, a strain control layer (not shown) may be formed on the electron injection layer. For example, a strain control layer formed of In y Al x Ga (1-xy) N(0≦x≦1, 0≦y≦1)/GaN, etc. may be formed on the electron injection layer.

상기 스트레인 제어층은 제1 도전형 반도체층(132)과 활성층(134) 사이의 격자 불일치에 기인한 응력을 효과적으로 완화시킬 수 있다. The strain control layer may effectively relieve stress caused by a lattice mismatch between the first conductivity type semiconductor layer 132 and the active layer 134.

이후, 상기 스트레인 제어층 상에 활성층(134)을 형성할 수 있다.Thereafter, an active layer 134 may be formed on the strain control layer.

상기 활성층(134)은 제1 도전형 반도체층(132)을 통해서 주입되는 전자와 이후 형성되는 제2 도전형 반도체층(136)을 통해서 주입되는 정공이 서로 만나서 활성층(발광층) 물질 고유의 에너지 밴드에 의해서 결정되는 에너지를 갖는 빛을 방출하는 층이다. In the active layer 134, electrons injected through the first conductivity-type semiconductor layer 132 and holes injected through the second conductivity-type semiconductor layer 136 formed thereafter meet each other to form an energy band specific to the active layer (light emitting layer) material. It is a layer that emits light with energy determined by.

상기 활성층(134)은 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물 구조(MQW: Multi Quantum Well), 양자 선(Quantum-Wire) 구조, 또는 양자 점(Quantum Dot) 구조 중 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 활성층(134)은 트리메틸 갈륨 가스(TMGa), 암모니아 가스(NH3), 질소 가스(N2), 및 트리메틸 인듐 가스(TMIn)가 주입되어 다중 양자우물구조가 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The active layer 134 may be formed of at least one of a single quantum well structure, a multi quantum well (MQW) structure, a quantum-wire structure, or a quantum dot structure. For example, in the active layer 134, trimethyl gallium gas (TMGa), ammonia gas (NH 3 ), nitrogen gas (N 2 ), and trimethyl indium gas (TMIn) may be injected to form a multiple quantum well structure. It is not limited thereto.

상기 활성층(134)의 우물층/장벽층은 InGaN/GaN, InGaN/InGaN, GaN/AlGaN, InAlGaN/GaN, GaAs(InGaAs)/AlGaAs, GaP(InGaP)/AlGaP 중 어느 하나 이상의 페어 구조로 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 상기 우물층은 상기 장벽층의 밴드 갭보다 낮은 밴드 갭을 갖는 물질로 형성될 수 있다.The well layer/barrier layer of the active layer 134 may be formed in one or more pair structures of InGaN/GaN, InGaN/InGaN, GaN/AlGaN, InAlGaN/GaN, GaAs(InGaAs)/AlGaAs, GaP(InGaP)/AlGaP. However, it is not limited thereto. The well layer may be formed of a material having a band gap lower than that of the barrier layer.

상기 제2 도전형 반도체층(136)은 반도체 화합물로 형성될 수 있다. 3족-5족, 2족-6족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제2 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 도전형 반도체층(136)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질을 포함할 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(136)이 P형 반도체층인 경우, 상기 제2도전형 도펀트는 P형 도펀트로서, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등을 포함할 수 있다.The second conductivity type semiconductor layer 136 may be formed of a semiconductor compound. It may be implemented as a compound semiconductor such as Group 3-5 and Group 2-6, and may be doped with a second conductivity type dopant. For example, the second conductivity type semiconductor layer 136 has a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) It may include a semiconductor material having. When the second conductivity-type semiconductor layer 136 is a P-type semiconductor layer, the second conductivity-type dopant is a P-type dopant and may include Mg, Zn, Ca, Sr, Ba, or the like.

상기 제2 도전형 반도체층(136)은 챔버에 트리메틸 갈륨 가스(TMGa), 암모니아 가스(NH3), 질소 가스(N2), 및 마그네슘(Mg)과 같은 p 형 불순물을 포함하는 비세틸 사이클로 펜타디에닐 마그네슘(EtCp2Mg){Mg(C2H5C5H4)2}가 주입되어 p형 GaN층이 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The second conductivity type semiconductor layer 136 is a vicetyl cyclo containing p-type impurities such as trimethyl gallium gas (TMGa), ammonia gas (NH 3 ), nitrogen gas (N 2 ), and magnesium (Mg) in the chamber. Pentadienyl magnesium (EtCp 2 Mg) {Mg(C 2 H 5 C 5 H 4 ) 2 } may be implanted to form a p-type GaN layer, but is not limited thereto.

실시예에서 상기 제1 도전형 반도체층(132)은 n형 반도체층, 상기 제2 도전형 반도체층(136)은 p형 반도체층으로 구현할 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 또한 상기 제2 도전형 반도체층(136) 위에는 상기 제2 도전형과 반대의 극성을 갖는 반도체 예컨대 n형 반도체층(미도시)을 형성할 수 있다. 이에 따라 발광구조물(130)은 n-p 접합 구조, p-n 접합 구조, n-p-n 접합 구조, p-n-p 접합 구조 중 어느 한 구조로 구현할 수 있다.In an embodiment, the first conductivity-type semiconductor layer 132 may be an n-type semiconductor layer, and the second conductivity-type semiconductor layer 136 may be implemented as a p-type semiconductor layer, but is not limited thereto. In addition, a semiconductor, for example, an n-type semiconductor layer (not shown) having a polarity opposite to that of the second conductivity type may be formed on the second conductivity type semiconductor layer 136. Accordingly, the light emitting structure 130 may be implemented in any one of an n-p junction structure, a p-n junction structure, an n-p-n junction structure, and a p-n-p junction structure.

이후, 상기 제2 도전형 반도체층(136) 상에 오믹층(140)을 형성한다.Thereafter, an ohmic layer 140 is formed on the second conductivity type semiconductor layer 136.

예를 들어, 상기 오믹층(140)은 캐리어 주입을 효율적으로 할 수 있도록 단일 금속 혹은 금속합금, 금속산화물 등을 다중으로 적층하여 형성할 수 있다. 예를 들어, 상기 오믹층(140)은 반도체와 전기적인 접촉인 우수한 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 오믹층(140)은 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IZON(IZO Nitride), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하여 형성될 수 있으며, 이러한 재료에 한정되는 않는다.For example, the ohmic layer 140 may be formed by stacking a single metal, a metal alloy, or a metal oxide in multiple layers so that carrier injection can be efficiently performed. For example, the ohmic layer 140 may be formed of an excellent material that is in electrical contact with a semiconductor. For example, the ohmic layer 140 is ITO (indium tin oxide), IZO (indium zinc oxide), IZTO (indium zinc tin oxide), IAZO (indium aluminum zinc oxide), IGZO (indium gallium zinc oxide), IGTO (indium gallium tin oxide), AZO (aluminum zinc oxide), ATO (antimony tin oxide), GZO (gallium zinc oxide), IZON (IZO Nitride), AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, and Ni/IrOx/Au/ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt , Au, and may be formed to include at least one of Hf, but is not limited to these materials.

다음으로 도 9와 같이, 상기 오믹층(140), 제2 도전형 반도체층(136),활성층(134), 제1 도전형 반도체층(132)의 일부를 제거하여 제1 도전형 반도체층(132)의 상면 일부를 노출시킬 수 있다.Next, as shown in FIG. 9, a part of the ohmic layer 140, the second conductivity type semiconductor layer 136, the active layer 134, and the first conductivity type semiconductor layer 132 is removed to form the first conductivity type semiconductor layer ( Part of the upper surface of 132) can be exposed.

이후, 상기 오믹층(140) 및 상기 노출된 제1 도전형 반도체층(132) 상에 각각 제2 전극(152), 제1 전극(151)을 형성할 수 있다.Thereafter, a second electrode 152 and a first electrode 151 may be formed on the ohmic layer 140 and the exposed first conductivity type semiconductor layer 132, respectively.

상기 제1 전극(151), 제2 전극(152)은 티탄(Ti), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 알루미늄(Al), 백금(Pt), 금(Au), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo) 또는 불순물이 주입된 반도체 기판 중 적어도 어느 하나로 형성될 수도 있다.The first electrode 151 and the second electrode 152 are titanium (Ti), chromium (Cr), nickel (Ni), aluminum (Al), platinum (Pt), gold (Au), tungsten (W), It may be formed of at least one of a semiconductor substrate implanted with molybdenum (Mo) or impurities.

실시예에 따르면, 전류 확산(current spreading) 효과를 증가시켜 광효율을 개선할 수 있는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템을 제공할 수 있다.According to the embodiment, a light emitting device capable of improving light efficiency by increasing a current spreading effect, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting system can be provided.

도 10은 실시예에 따른 발광소자가 적용된 발광소자 패키지(200)를 나타낸 도면이다.10 is a diagram illustrating a light emitting device package 200 to which a light emitting device according to an embodiment is applied.

도 10을 참조하면, 실시예에 따른 발광소자 패키지는 몸체(205)와, 상기 몸체(205)에 배치된 제1 리드전극(213) 및 제2 리드전극(214)과, 상기 몸체(205)에 제공되어 상기 제1 리드전극(213) 및 제2 리드전극(214)과 전기적으로 연결되는 실시 예에 따른 발광소자(100)와, 상기 발광소자(100)를 포위하는 몰딩부재(230)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10, a light emitting device package according to an embodiment includes a body 205, a first lead electrode 213 and a second lead electrode 214 disposed on the body 205, and the body 205 The light emitting device 100 according to the embodiment provided in the first lead electrode 213 and electrically connected to the second lead electrode 214, and a molding member 230 surrounding the light emitting device 100 Can include.

상기 몸체(205)는 실리콘 재질, 합성수지 재질, 또는 금속 재질을 포함하여 형성될 수 있으며, 상기 발광소자(100)의 주위에 경사면이 형성될 수 있다.The body 205 may be formed of a silicon material, a synthetic resin material, or a metal material, and an inclined surface may be formed around the light emitting device 100.

상기 제1 리드전극(213) 및 제2 리드전극(214)은 서로 전기적으로 분리되며, 상기 발광소자(100)에 전원을 제공한다. 또한, 상기 제1 리드전극(213) 및 제2 리드전극(214)은 상기 발광소자(100)에서 발생된 빛을 반사시켜 광 효율을 증가시킬 수 있으며, 상기 발광소자(100)에서 발생된 열을 외부로 배출시키는 역할을 할 수도 있다.The first lead electrode 213 and the second lead electrode 214 are electrically separated from each other, and supply power to the light emitting device 100. In addition, the first lead electrode 213 and the second lead electrode 214 reflect light generated from the light emitting device 100 to increase light efficiency, and heat generated from the light emitting device 100 It can also play a role of discharging to outside.

상기 발광소자(100)는 상기 몸체(205) 위에 배치되거나 상기 제1 리드전극(213) 또는 제2 리드전극(214) 위에 배치될 수 있다.The light emitting device 100 may be disposed on the body 205 or may be disposed on the first lead electrode 213 or the second lead electrode 214.

상기 발광소자(100)는 상기 제1 리드전극(213) 및 제2 리드전극(214)과 와이어 방식, 플립칩 방식 또는 다이 본딩 방식 중 어느 하나에 의해 전기적으로 연결될 수도 있다. The light emitting device 100 may be electrically connected to the first lead electrode 213 and the second lead electrode 214 by any one of a wire method, a flip chip method, or a die bonding method.

상기 몰딩부재(230)는 상기 발광소자(100)를 포위하여 상기 발광소자(100)를 보호할 수 있다. 또한, 상기 몰딩부재(230)에는 형광체(232)가 포함되어 상기 발광소자(100)에서 방출된 광의 파장을 변화시킬 수 있다.The molding member 230 may surround the light emitting device 100 to protect the light emitting device 100. In addition, the molding member 230 may include a phosphor 232 to change a wavelength of light emitted from the light emitting device 100.

실시예에 따른 발광소자 또는 발광소자 패키지는 복수 개가 기판 위에 어레이될 수 있으며, 상기 발광소자 패키지의 광 경로 상에 광학 부재인 렌즈, 도광판, 프리즘 시트, 확산 시트 등이 배치될 수 있다. 이러한 발광소자 패키지, 기판, 광학 부재는 라이트 유닛으로 기능할 수 있다. 상기 라이트 유닛은 탑뷰 또는 사이드 뷰 타입으로 구현되어, 휴대 단말기 및 노트북 컴퓨터 등의 표시 장치에 제공되거나, 조명장치 및 지시 장치 등에 다양하게 적용될 수 있다. 또 다른 실시 예는 상술한 실시 예들에 기재된 발광소자 또는 발광소자 패키지를 포함하는 조명 장치로 구현될 수 있다. 예를 들어, 조명 장치는 램프, 가로등, 전광판, 전조등을 포함할 수 있다.A plurality of light emitting devices or light emitting device packages according to the embodiment may be arrayed on a substrate, and an optical member such as a lens, a light guide plate, a prism sheet, and a diffusion sheet may be disposed on the optical path of the light emitting device package. Such a light emitting device package, a substrate, and an optical member may function as a light unit. The light unit may be implemented in a top view or a side view type, and may be provided to display devices such as portable terminals and notebook computers, or may be variously applied to lighting devices and indication devices. Another embodiment may be implemented as a lighting device including the light emitting device or the light emitting device package described in the above-described embodiments. For example, the lighting device may include a lamp, a street light, an electric sign, and a headlamp.

도 11은 실시예에 따른 조명장치의 분해 사시도이다.11 is an exploded perspective view of a lighting device according to an embodiment.

도 12를 참조하면, 실시 예에 따른 조명 장치는 커버(2100), 광원 모듈(2200), 방열체(2400), 전원 제공부(2600), 내부 케이스(2700), 소켓(2800)을 포함할 수 있다. 또한, 실시 예에 따른 조명 장치는 부재(2300)와 홀더(2500) 중 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)은 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 12, a lighting device according to an embodiment includes a cover 2100, a light source module 2200, a radiator 2400, a power supply unit 2600, an inner case 2700, and a socket 2800. I can. In addition, the lighting device according to the embodiment may further include one or more of a member 2300 and a holder 2500. The light source module 2200 may include a light emitting device package according to the embodiment.

예컨대, 상기 커버(2100)는 벌브(bulb) 또는 반구의 형상을 가지며, 속이 비어 있고, 일 부분이 개구된 형상으로 제공될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)과 광학적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)로부터 제공되는 빛을 확산, 산란 또는 여기 시킬 수 있다. 상기 커버(2100)는 일종의 광학 부재일 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합하는 결합부를 가질 수 있다.For example, the cover 2100 may have a shape of a bulb or a hemisphere, and may be provided in a shape with a hollow and an open portion. The cover 2100 may be optically coupled to the light source module 2200. For example, the cover 2100 may diffuse, scatter, or excite light provided from the light source module 2200. The cover 2100 may be a kind of optical member. The cover 2100 may be coupled to the radiator 2400. The cover 2100 may have a coupling portion coupled to the radiator 2400.

상기 커버(2100)의 내면에는 유백색 도료가 코팅될 수 있다. 유백색의 도료는 빛을 확산시키는 확산재를 포함할 수 있다. 상기 커버(2100)의 내면의 표면 거칠기는 상기 커버(2100)의 외면의 표면 거칠기보다 크게 형성될 수 있다. 이는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 빛이 충분히 산란 및 확산되어 외부로 방출시키기 위함이다.A milky white paint may be coated on the inner surface of the cover 2100. The milky white paint may include a diffuser that diffuses light. The surface roughness of the inner surface of the cover 2100 may be larger than the surface roughness of the outer surface of the cover 2100. This is to allow light from the light source module 2200 to be sufficiently scattered and diffused to be emitted to the outside.

상기 커버(2100)의 재질은 유리(glass), 플라스틱, 폴리프로필렌(PP), 폴리에틸렌(PE), 폴리카보네이트(PC) 등일 수 있다. 여기서, 폴리카보네이트는 내광성, 내열성, 강도가 뛰어나다. 상기 커버(2100)는 외부에서 상기 광원 모듈(2200)이 보이도록 투명할 수 있고, 불투명할 수 있다. 상기 커버(2100)는 블로우(blow) 성형을 통해 형성될 수 있다.The material of the cover 2100 may be glass, plastic, polypropylene (PP), polyethylene (PE), polycarbonate (PC), or the like. Here, polycarbonate is excellent in light resistance, heat resistance, and strength. The cover 2100 may be transparent or opaque so that the light source module 2200 is visible from the outside. The cover 2100 may be formed through blow molding.

상기 광원 모듈(2200)은 상기 방열체(2400)의 일 면에 배치될 수 있다. 따라서, 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열은 상기 방열체(2400)로 전도된다. 상기 광원 모듈(2200)은 광원부(2210), 연결 플레이트(2230), 커넥터(2250)를 포함할 수 있다.The light source module 2200 may be disposed on one surface of the radiator 2400. Accordingly, heat from the light source module 2200 is conducted to the radiator 2400. The light source module 2200 may include a light source unit 2210, a connection plate 2230, and a connector 2250.

상기 부재(2300)는 상기 방열체(2400)의 상면 위에 배치되고, 복수의 광원부(2210)들과 커넥터(2250)이 삽입되는 가이드홈(2310)들을 갖는다. 상기 가이드홈(2310)은 상기 광원부(2210)의 기판 및 커넥터(2250)와 대응된다.The member 2300 is disposed on an upper surface of the radiator 2400 and has guide grooves 2310 into which a plurality of light source units 2210 and a connector 2250 are inserted. The guide groove 2310 corresponds to the substrate and the connector 2250 of the light source unit 2210.

상기 부재(2300)의 표면은 빛 반사 물질로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 예를 들면, 상기 부재(2300)의 표면은 백색의 도료로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 이러한 상기 부재(2300)는 상기 커버(2100)의 내면에 반사되어 상기 광원 모듈(2200)측 방향으로 되돌아오는 빛을 다시 상기 커버(2100) 방향으로 반사한다. 따라서, 실시 예에 따른 조명 장치의 광 효율을 향상시킬 수 있다.The surface of the member 2300 may be coated or coated with a light reflective material. For example, the surface of the member 2300 may be coated or coated with a white paint. The member 2300 reflects light reflected on the inner surface of the cover 2100 and returning toward the light source module 2200 toward the cover 2100. Therefore, it is possible to improve the light efficiency of the lighting device according to the embodiment.

상기 부재(2300)는 예로서 절연 물질로 이루어질 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)의 연결 플레이트(2230)는 전기 전도성의 물질을 포함할 수 있다. 따라서, 상기 방열체(2400)와 상기 연결 플레이트(2230) 사이에 전기적인 접촉이 이루어질 수 있다. 상기 부재(2300)는 절연 물질로 구성되어 상기 연결 플레이트(2230)와 상기 방열체(2400)의 전기적 단락을 차단할 수 있다. 상기 방열체(2400)는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열과 상기 전원 제공부(2600)로부터의 열을 전달받아 방열한다.The member 2300 may be made of an insulating material, for example. The connection plate 2230 of the light source module 2200 may include an electrically conductive material. Accordingly, electrical contact may be made between the radiator 2400 and the connection plate 2230. The member 2300 may be formed of an insulating material to block an electrical short between the connection plate 2230 and the radiator 2400. The radiator 2400 receives heat from the light source module 2200 and heat from the power supply unit 2600 to radiate heat.

상기 홀더(2500)는 내부 케이스(2700)의 절연부(2710)의 수납홈(2719)을 막는다. 따라서, 상기 내부 케이스(2700)의 상기 절연부(2710)에 수납되는 상기 전원 제공부(2600)는 밀폐된다. 상기 홀더(2500)는 가이드 돌출부(2510)를 갖는다. 상기 가이드 돌출부(2510)는 상기 전원 제공부(2600)의 돌출부(2610)가 관통하는 홀을 갖는다. The holder 2500 blocks the receiving groove 2719 of the insulating part 2710 of the inner case 2700. Accordingly, the power supply unit 2600 accommodated in the insulating unit 2710 of the inner case 2700 is sealed. The holder 2500 has a guide protrusion 2510. The guide protrusion 2510 has a hole through which the protrusion 2610 of the power supply unit 2600 passes.

상기 전원 제공부(2600)는 외부로부터 제공받은 전기적 신호를 처리 또는 변환하여 상기 광원 모듈(2200)로 제공한다. 상기 전원 제공부(2600)는 상기 내부 케이스(2700)의 수납홈(2719)에 수납되고, 상기 홀더(2500)에 의해 상기 내부 케이스(2700)의 내부에 밀폐된다.The power supply unit 2600 processes or converts an electrical signal provided from the outside and provides it to the light source module 2200. The power supply unit 2600 is accommodated in the storage groove 2719 of the inner case 2700 and is sealed inside the inner case 2700 by the holder 2500.

상기 전원 제공부(2600)는 돌출부(2610), 가이드부(2630), 베이스(2650), 연장부(2670)를 포함할 수 있다.The power supply unit 2600 may include a protrusion 2610, a guide portion 2630, a base 2650, and an extension 2670.

상기 가이드부(2630)는 상기 베이스(2650)의 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 가이드부(2630)는 상기 홀더(2500)에 삽입될 수 있다. 상기 베이스(2650)의 일 면 위에 다수의 부품이 배치될 수 있다. 다수의 부품은 예를 들어, 외부 전원으로부터 제공되는 교류 전원을 직류 전원으로 변환하는 직류변환장치, 상기 광원 모듈(2200)의 구동을 제어하는 구동칩, 상기 광원 모듈(2200)을 보호하기 위한 ESD(ElectroStatic discharge) 보호 소자 등을 포함할 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The guide portion 2630 has a shape protruding outward from one side of the base 2650. The guide part 2630 may be inserted into the holder 2500. A number of components may be disposed on one surface of the base 2650. A number of components include, for example, a DC converter for converting AC power provided from an external power source to DC power, a driving chip for controlling the driving of the light source module 2200, and an ESD for protecting the light source module 2200. (ElectroStatic discharge) may include a protection element, but is not limited thereto.

상기 연장부(2670)는 상기 베이스(2650)의 다른 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 연장부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750) 내부에 삽입되고, 외부로부터의 전기적 신호를 제공받는다. 예컨대, 상기 연장부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750)의 폭과 같거나 작게 제공될 수 있다. 상기 연장부(2670)에는 "+ 전선"과 "- 전선"의 각 일 단이 전기적으로 연결되고, "+ 전선"과 "- 전선"의 다른 일 단은 소켓(2800)에 전기적으로 연결될 수 있다.The extension part 2670 has a shape protruding outward from the other side of the base 2650. The extension part 2670 is inserted into the connection part 2750 of the inner case 2700 and receives an electrical signal from the outside. For example, the extension part 2670 may be provided equal to or smaller than the width of the connection part 2750 of the inner case 2700. Each end of the "+ wire" and "- wire" may be electrically connected to the extension part 2670, and the other end of the "+ wire" and "- wire" may be electrically connected to the socket 2800. .

상기 내부 케이스(2700)는 내부에 상기 전원 제공부(2600)와 함께 몰딩부를 포함할 수 있다. 몰딩부는 몰딩 액체가 굳어진 부분으로서, 상기 전원 제공부(2600)가 상기 내부 케이스(2700) 내부에 고정될 수 있도록 한다.The inner case 2700 may include a molding unit together with the power supply unit 2600 therein. The molding part is a part where the molding liquid is solidified, and allows the power supply part 2600 to be fixed inside the inner case 2700.

이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, and the like described in the embodiments above are included in at least one embodiment, and are not necessarily limited to only one embodiment. Further, the features, structures, effects, and the like illustrated in each embodiment may be combined or modified for other embodiments by a person having ordinary knowledge in the field to which the embodiments belong. Therefore, contents related to such combinations and modifications should be interpreted as being included in the scope of the embodiments.

이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 실시예를 한정하는 것이 아니며, 실시예가 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 설정하는 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Although the embodiments have been described above, these are only examples and are not intended to limit the embodiments, and those of ordinary skill in the field to which the embodiments belong are not departing from the essential characteristics of the embodiments. It will be seen that branch transformation and application are possible. For example, each component specifically shown in the embodiment can be modified and implemented. And differences related to these modifications and applications should be construed as being included in the scope of the embodiments set in the appended claims.

기판(102), 절연체층(110),
제1 도전형 반도체층(132), 활성층(134),
제2 도전형 반도체층(136), 제1 전극(151), 제2 전극(152)
Substrate 102, insulator layer 110,
First conductivity type semiconductor layer 132, active layer 134,
The second conductivity type semiconductor layer 136, the first electrode 151, the second electrode 152

Claims (11)

기판;
상기 기판 상에 배치되는 절연체층;
상기 기판과 절연체층 상에 배치되는 제1 도전형 반도체층;
상기 제1 도전형 반도체층 상에 배치되는 활성층;
상기 활성층 상에 배치되는 제2 도전형 반도체층;
상기 제1 도전형 반도체층 상에 배치되는 제1 전극;
상기 제2 도전형 반도체층 상에 배치되는 제2 전극;
상기 절연체층의 하측에 배치되는 도전층; 및
상기 기판 상에 배치되며, 상기 절연체층 및 상기 도전층을 커버하며 배치되는 언도프트 반도체층을 포함하고,
상기 절연체층은,
상기 제1 전극과 수직 방향으로 오버랩되지 않도록 배치되는 제1 절연체층; 및
상기 제1 전극과 이격되고, 상기 제2 전극과 수직 방향으로 오버랩되도록 배치되는 제2 절연체층을 포함하고,
상기 기판에 배치된 열전도층을 더 포함하고,
상기 열전도층은 상기 기판과 동일한 높이를 가지고, 상기 절연체층과 수직방향으로 오버랩되는 위치에 배치되는 발광소자.
Board;
An insulator layer disposed on the substrate;
A first conductivity type semiconductor layer disposed on the substrate and the insulator layer;
An active layer disposed on the first conductivity type semiconductor layer;
A second conductivity type semiconductor layer disposed on the active layer;
A first electrode disposed on the first conductivity type semiconductor layer;
A second electrode disposed on the second conductivity type semiconductor layer;
A conductive layer disposed under the insulator layer; And
And an undoped semiconductor layer disposed on the substrate and covering the insulator layer and the conductive layer,
The insulator layer,
A first insulator layer disposed so as not to overlap with the first electrode in a vertical direction; And
A second insulator layer spaced apart from the first electrode and disposed to overlap the second electrode in a vertical direction,
Further comprising a heat conductive layer disposed on the substrate,
The heat conductive layer has the same height as the substrate, and is disposed at a position overlapping the insulator layer in a vertical direction.
제1 항에 있어서,
상기 도전층은,
상기 제1 절연체층 하측에 배치되며 상기 제1 절연체층과 동일한 너비를 가지는 제1 도전층; 및
상기 제2 절연체층 하측에 배치되며 상기 제2 절연체층과 동일하 너비를 가지는 제2 도전층을 포함하는 발광소자.
The method of claim 1,
The conductive layer,
A first conductive layer disposed under the first insulator layer and having the same width as the first insulator layer; And
A light emitting device comprising a second conductive layer disposed under the second insulator layer and having the same width as the second insulator layer.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제2 항에 있어서,
상기 열전도층은 금속층을 포함하며,
상기 제1 절연체층과 수직 방향으로 오버랩되는 제1 열전도층; 및
상기 제2 절연체층과 수직 방향으로 오버랩되는 제2 열전도층을 포함하고,
상기 제1 열전도층의 상면은 상기 제1 도전층과 접하고,
상기 제2 열전도층의 상면은 상기 제2 도전층과 접하는 발광소자.
The method of claim 2,
The heat conductive layer includes a metal layer,
A first heat conductive layer overlapping the first insulator layer in a vertical direction; And
And a second heat conductive layer overlapping the second insulator layer in a vertical direction,
The top surface of the first heat conductive layer is in contact with the first conductive layer,
A light emitting device having a top surface of the second heat conductive layer in contact with the second conductive layer.
삭제delete 삭제delete 제2 항에 있어서,
상기 열전도층은 에어 갭을 포함하고,
상기 제1 절연체층과 수직 방향으로 오버랩되는 제1 열전도층; 및
상기 제2 절연체층과 수직 방향으로 오버랩되는 제2 열전도층을 포함하고,
상기 제1 도전층의 하면은 상기 제1 열전도층에 의해 노출되고,
상기 제2 도전층의 하면은 상기 제2 열전도층에 의해 노출되는 발광소자.
The method of claim 2,
The thermally conductive layer includes an air gap,
A first heat conductive layer overlapping the first insulator layer in a vertical direction; And
And a second heat conductive layer overlapping the second insulator layer in a vertical direction,
The lower surface of the first conductive layer is exposed by the first heat conductive layer,
A light emitting device in which a lower surface of the second conductive layer is exposed by the second heat conductive layer.
제1 항, 제2 항, 제7 항 및 제10 항 중 어느 하나의 발광소자를 구비하는 발광모듈을 포함하는 조명시스템. A lighting system comprising a light-emitting module including any one of claims 1, 2, 7 and 10.
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