KR102205885B1

KR102205885B1 - 전기 커넥터 및 전기 시험 장치

Info

Publication number: KR102205885B1
Application number: KR1020190069459A
Authority: KR
Inventors: 존 윌리엄스
Original assignee: 가오 티엔-싱
Priority date: 2019-06-12
Filing date: 2019-06-12
Publication date: 2021-01-21
Also published as: KR20200142336A

Abstract

전기 커넥터(3) 및 이를 포함하는 전기 시험 장치가 제공된다. 전기 커넥터(3)는 절연성 소재로 만들어지는 기판(31) 및 기판(31) 위에 위치되고 도전성 소재로 만들어지는 다수의 접촉체(33)를 포함한다. 기판(31)은 종축선(L)을 따라 연장하며, 종축선(L)을 따라 서로 이격되고 평행한 두 개의 횡방향 측면(311)을 구비한다. 각각의 접촉체(33)는 기부(331), 및 기부(331)로부터 종축선(L)으로부터 멀어지게 연장하고 기판(31)의 상응하는 횡방향 측면(311)이 외부에 위치되는 적어도 하나의 암부(332)를 구비한다.

Description

전기 커넥터 및 전기 시험 장치{ELECTRICAL CONNECTOR AND ELECTRICAL TESTING DEVICE}

본 개시는 전기 커넥터 및 이를 구비하는 전기 시험 장치에 관한 것이다.

도 1을 참조하면, 집적회로, 칩 등과 같은 피시험 컴포넌트(900)를 시험하기 위한 기존의 전기 시험 장치(9)는 금속으로 만들어지는 시트 본체(91) 및 시트 본체(91)에 배치되는 다수의 스프링 프로브(92)를 포함한다. 스프링 프로브(92)들과 피시험 컴포넌트(900) 간의 전기 접속을 통해 여러 가지 시험이 피시험 컴포넌트(900)에 대해 수행될 수 있다. 그러나 전기 시험 장치(9)는 시트 본체(91)든 스프링 프로브(92)들이든 그 구성 형태와 위치가 피시험 컴포넌트(900)와 함께 설계되어야 한다.

전기 시험을 위한 기존의 기법은 전기 커넥터(예컨대 도 1에 도시된 스프링 프로브(92))와 전자 컴포넌트의 각각의 접촉점을 직접 접촉시키는 것에 의해 수행되고, 전기 신호 도통 상태를 통해 전자 컴포넌트가 양호한지 아닌지 여부가 결정될 수 있다. 전기 커넥터가 전자 컴포넌트와의 접촉하고 있는 도중에, 간단한 접촉 및 전기 신호 도통의 관찰에 더하여, 전자 컴포넌트의 실제 작동 조건에 응답하기 위하여 특정한 힘으로 스와이핑(swiping) 또는 크림핑(crimping)을 하는 것에 의해 전기 커넥터를 이동시켜서 전자 컴포넌트와 더 접촉시킬 필요가 있을 수 있다. 따라서 전기 커넥터는, 여러 가지 접촉 형태들에 대한 필요성을 충족시키도록 그리고 전자 컴포넌트와 접촉하고 있는 도중에 받는 외력을 완충하기 위하여 적절하게 변형될 수 있는 능력을 가지도록, 특정한 정도의 탄성을 가질 것이 요구된다. 동시에, 전기 커넥터는 전체적인 구조 강도를 유지하고 지지 효과를 제공하도록 상당한 강성을 가져야 한다.

전기 컴포넌트들의 접촉점들의 형상과 분포가 상당히 다양하기 때문에, 특정한 전자 컴포넌트를 위한 전용의 전기 시험 장치를 설계하는 것이 종종 필요한데, 이는 다른 유형의 전자 컴포넌트들에는 적용되지 못할 수 있어 제조비용의 증가뿐만 아니라 소재의 낭비도 초래할 수 있다.

따라서 본 개시의 목적은 종래 기술의 단점들 중 적어도 하나를 해소할 수 있는 전기 커넥터를 제공하는 데 있다.

본 개시의 일 태양에 따르면, 전기 커넥터가 기판과 다수의 접촉체를 포함한다. 기판은 종축선을 따라 연장하고, 종축선을 따라 서로 이격되며 평행한 두 개의 횡방향 측면을 구비한다. 기판은 절연성 소재로 만들어진다. 접촉체들은 기판 위에 위치되고, 종축선을 따라 서로 이격되게 배열된다. 각각의 접촉체는 도전성 소재로 만들어지고, 기부 및 기부로부터 종축선에서 멀어지게 연장하며 기판의 횡방향 측면들의 대응하는 측면의 외부에 위치되는 적어도 하나의 암부를 구비한다.

본 개시의 다른 목적은 위와 같은 전기 커넥터를 구비하는 전기 시험 장치를 제공하는 데 있다.

본 개시의 다른 태양에 따르면, 전기 시험 장치가 기부, 기부 위에 위치되는 유지 유닛, 다수의 도전성 유닛 및 덮개 유닛을 포함한다. 유지 유닛은 다수의 통공을 구비하는 바닥판, 바닥판의 주변부에 연결되고 바닥판과 협동하여 하부 공간을 획정하는 하부 프레임, 및 하부 프레임의 상단에 적층되며, 서로 이격되고 평행한 두 개의 제1 측판 및 제1 측판들 사이에서 연결되는 두 개의 제2 측판을 포함하는 상부 프레임을 포함한다. 각각의 제1 측판은 다른 제1 측판을 향해 돌출하는 다수의 이격 돌출부를 구비한다. 제1 측판들 중 하나의 제1 측판의 돌출부들 중 인접한 두 개의 돌출부가 각각 제1 측판들 중 다른 제1 측판의 돌출부들 중 상응하는 두 개의 돌출부와 협동하여 하부 공간과 연통하는 수용 리세스를 획정한다. 각각의 도전성 유닛은 상부 프레임의 수용 리세스들 중 각각의 수용 리세스에 위치되고, 나란히 적층되는 다수의 전기 커넥터를 포함한다. 기판의 횡방향 측면들 중 하나의 횡방향 측면에 위치된 전기 커넥터들의 암부들은 각각 바닥판의 통공에 삽입된다. 덮개 유닛은 상부 프레임 및 도전성 유닛들 위에 배치되고 상부 프레임 및 도전성 유닛들을 덮으며, 다수의 개구를 구비하는 덮개판을 포함한다. 기판의 다른 횡방향 측면에 위치된 전기 커넥터들의 암부들은 각각 덮개판의 개구들에 삽입된다.

본 개시의 다른 피처들과 장점들은 첨부 도면들을 참조한 실시예의 아래의 상세한 설명에서 명백해질 것이다. 도면에서:
도 1은 기존의 전기 시험 장치를 도시한 단면도이다.
도 2는 본 개시에 따른 전기 커넥터의 실시예를 도시한 전면도이다.
도 3은 도 2의 일부분을 확대하여 도시한 도면이다.
도 4는 도전성 유닛을 형성하도록 조립되는 실시예의 복수의 전기 커넥터를 도시하는 사시도이다.
도 5는 도 4의 측면도이다.
도 6은 본 개시에 따른 전기 시험 장치의 제1 실시예를 도시하는 분해 사시도이다.
도 7은 상부 프레임의 수용 리세스에 각각 배치되는 복수의 도전성 유닛을 도시하는 제1 실시예의 일부 분해 사시도이다.
도 8은 제1 실시예를 조립된 상태로 도시하는 일부 단면도이다.
도 9는 제1 실시예가 피시험 전자 컴포넌트의 시험을 수행하는 방법을 개략적으로 도시하는 도면이다.
도 10은 본 개시에 따른 전기 시험 장치의 제2 실시예를 도시하는 일부 단면도이다.

개시를 상세하게 설명하기 전에, 적절하다고 생각되는 경우, 선택적으로 유사한 특성을 가질 수 있는 상응하거나 유사한 요소들을 지시하기 위해 도면 번호들 또는 도면 번호들의 부호들의 끝부분이 도면들에서 반복된다는 것에 주의해야 한다.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 개시에 따른 전기 커넥터(3)의 실시예가 기판(31), 기준 접촉점(32), 다수의 접촉체(33), 중간체(34) 및 두 개의 단자체(35)를 포함한다.

기판(31)은 종축선(L)을 따라 연장하고 절연성 소재로 만들어진다. 기판(31)은 종축선(L)을 따라 서로 이격되고 평행한 두 개의 횡방향 측면(311)을 구비한다. 기준 접촉점(32)은 기판(31)의 중앙에 위치된다.

접촉체(33)들은 기판(31) 위에 위치되고 종축선(L)을 따라 서로 이격되게 배열된다. 각각의 접촉체(33)는 도전성 소재로 만들어지고, 기부(331), 및 종축선(L)으로부터 멀어지게 기부에서 서로 반대 방향으로 연장하고 기판(31)의 횡방향 측면(311)들의 외부에 각각 위치되는 두 개의 암부(332)를 포함한다. 접촉체(33)의 암부(332)들은 기준 접촉점(32)을 향해 경사지게 연장하고 기판(31)을 향해 변형될 수 있다.

중간체(34)는 도전성 소재로 만들어지고, 접촉체(33)들이 기판(31)으로부터 소정 거리 이격되도록 접촉체(33)들과 기판(31) 사이에 형성된다. 따라서 암부(332)들은 기판(31)과 직접 접촉하지 않을 것이고, 외력이 존재할 때 부드럽게 변형될 수 있다. 즉, 각각의 암부(332)의 탄성을 통해, 특정 접촉점에 접촉하여 전기 신호를 전송하는 것에 더하여, 암부(332)들이 외력을 받을 때 양호한 완충 효과가 또한 생성될 수 있다.

단자체(35)들은 각각 기판(31)의 서로 반대쪽에 있는 두 단부들에 형성되고, 도전성 소재로 만들어진다.

도 5를 참조하면, 본 개시의 전기 커넥터(3)는 접촉체(33)들의 암부(33)들을 통해 피시험 전자 컴포넌트의 상응하는 접촉점들에 주로 연결되고, 다수의 전기 커넥터(3)가 나란히 적층되어 피시험 전자 컴포넌트들의 다양한 사양들에 부합하는 도전성 유닛(30)을 형성할 수 있다. 이 실시예에서, 세 개의 전기 커넥터(3)가 나란히 적층되어 도전성 요소(30)를 형성한다. 그러나 적층되는 전기 커넥터(3)의 수는 실제 요건에 따라 변경될 수 있다. 또한, 피시험 전자 컴포넌트들의 다양한 사양들에 부합하도록 전기 커넥터(3)들을 엇갈리게 배열하는 것을 통해 더 많은 연결 구조들이 구성될 수 있다.

도 6 내지 도 8을 참조하면, 본 개시의 제1 실시예에 따른 전기 시험 장치는 기부(1), 유지 유닛(2), 다수의 도전성 유닛(30) 및 덮개 유닛(4)을 포함한다.

유지 유닛(2)은 기부(1) 위에 위치되고, 다수의 통공(210)을 구비하는 바닥판(21), 바닥판(21)의 주변부에 연결되고 바닥판(21)과 협동하여 하부 공간(220)을 획정하는 하부 프레임(22), 하부 프레임(22)의 상단에 적층되는 상부 프레임(23), 및 바닥판(21)으로부터 하부 공간(220)으로 연장하여 하부 공간(220)을 다수의 하부 격실(221)로 분할하는 다수의 하부 리브(24)를 포함한다. 상부 프레임(23)은 서로 이격되고 평행한 두 개의 제1 측판(231) 및 제1 측판(231)들 사이에서 연결되어 직사각형 프레임을 형성하는 두 개의 제2 측판(232)을 포함한다. 각각의 제1 측판(231)은 다른 제1 측판(231)을 향해 돌출하는 다수의 이격 돌출부(239)를 구비한다. 제1 측판(231)들 중 하나의 제1 측판의 돌출부(239)들 중 인접한 두 개의 돌출부가 각각 다른 제1 측판(231)의 돌출부(239)들 중 상응하는 두 개와 협동하여 하부 공간(220)과 연통하는 수용 리세스(230)를 획정한다. 하부 리브(24)들은 서로 평행하고 이격되어 있다. 각각의 하부 리브(24)는 하부 프레임(22)의 대향하는 두 개의 측면 사이에서 연결되고, 수용 리세스(230)의 각각의 것에 상응한다.

도 6 내지 도 8을 다시 참조하면, 각각의 도전성 유닛(30)은 도 5에 도시된 적층된 전기 커넥터(3)들로 이루어지고, 상부 프레임(23)의 수용 리세스(230)들 각각에 위치되고, 그리고 하부 리브(24)들 각각에 의해 지지된다. 기판(31)의 횡방향 측면(311)들 중 하나에 위치하는 전기 커넥터(3)들의 암부(332)들은 각각 바닥판(21)의 통공(210)들에 삽입되어 특정한 전기 회로를 형성한다. 전기 커넥터(3)들의 단자체(35)들은 하부 프레임(22) 위에 지지되고 상부 프레임(23)에 접함으로써, 전기 커넥터(3)들을 유지 유닛(2)에 전기적으로 연결한다.

각각의 전기 커넥터(3)가 세장형 스트립으로 형성되기 때문에, 시험 도중에 전기 커넥터(3)가 기판(31)을 향해 작용하는 외력을 받을 때 접촉체(33)들의 암부(332)들에 비틀림이 쉽게 발생할 수 있고, 각각의 하부 리브(24)가 각각의 도전성 유닛(30)을 위한 기판(31)을 향해 지지 효과를 제공하여 각각의 전기 커넥터(3)가 비틀림에 의해 파손되는 것을 방지한다.

덮개 유닛(4)은 유지 유닛(2) 및 도전성 유닛(30) 위에 배치되어 유지 유닛(2) 및 도전성 유닛(30)을 덮으며, 상부 프레임(23) 위에 배치되고 상부 프레임(23)을 덮는 덮개판(41), 덮개판(41)의 주변부에 연결되고 덮개판(41)과 협동하여 상부 공간(420)을 획정하는 덮개 프레임(42), 및 덮개판(41)으로부터 상부 공간(420)으로 연장하고 상부 공간(420)을 다수의 상부 격실(421)로 분할하는 다수의 상부 리브(43)를 포함한다. 상부 리브(43)들은 서로 이격되고 평행하다. 각각의 상부 리브(43)는 덮개 프레임(42)의 서로 대향하는 두 개의 측면들 사이에서 연결되고, 상부 프레임(23)의 수용 리세스(230)들 각각에 상응한다. 각각의 상부 리브(43)는 도전성 유닛(30)이 각각의 수용 리세스(230)에 배치될 때 도전성 유닛(30) 각각에 접한다. 각각의 상부 리브(43)는 하부 리브(24)들 각각과 협동하여 각각의 도전성 유닛을 각각의 수용 리세스(230)에 위치시킬 수 있다. 덮개판(41)은 기판(31)의 다른 횡방향 측면(311)에 위치된 전기 커넥터(3)들의 암부(332)들을 각각 삽입함으로써 요구되는 시험에 부합하는 특정 전기 회로를 형성하기 위한 다수의 개구(410)를 구비한다. 유지 유닛(2)의 바닥판(21)과 덮개 유닛(4)의 덮개판(41)은 전기 커넥터(3)들의 암부(332)들이 바닥판(21) 또는 덮개판(41)과 접촉할 때 예상치 못한 도전을 방지하도록 유전체막으로 코팅되고, 이에 따라 시험의 정확성이 보장될 수 있다.

도 8과 조합하여 도 9를 참조하면, 피시험 전자 컴포넌트(81)를 시험하기 위한 제1 실시예의 전기 시험 장치를 사용하기 위해, 피시험 전자 컴포넌트를 연결하기 위한 소켓(82)이 더 구비된다. 기부(1)와 소켓(82)은 서로 전기적으로 연결된다. 기부(1)는 유지 유닛(2)과 반대쪽에 있는 측면으로부터 오목하게 되고 피시험 전자 컴포넌트(81)의 형상에 부합하는 슬롯(100)을 획정한다. 소켓(82)이 기부(1)에 연결되고 피시험 전자 컴포넌트(81)가 슬롯(100)에 삽입될 때, 전기 커넥터(3)들의 암부(332)들을 통해 도전이 일어나고, 전기 신호가 소켓(82)과 기부(1)의 협동을 통해 전송된다. 이를 통해, 피시험 전자 컴포넌트(81)의 기능이 정상인지 아닌지 여부가 결정될 수 있다.

도 9에 도시된 시험 방법이 POP(Package on Package) 시험 방법에 속하며, 본 개시의 전기 시험 장치의 바람직한 시험 방법 중 하나라는 점에 주의해야 한다. 실제 적용에서, 피시험 전자 컴포넌트(81)를 직접 시험하기 위한 시험 회로를 형성하도록 전기 커넥터(3)들이 자유롭게 조립될 수 있거나, 혹은 암부(33)의 탄성이 스와이핑 또는 크림핑 시험을 수행하도록 사용될 수 있다. 따라서 시험 방법은 도 8 및 도 9에 도시된 것에만 한정되지 않는다.

도 10을 참조하면, 본 개시의 전기 시험 장치의 제2 실시예가 제1 실시예와 유사하게 도시되어 있는데, 제2 실시예에서 유지 유닛(2)의 바닥판(21)과 덮개 유닛(4)의 덮개판(41)이 유전체 소재로 만들어지고 이에 따라 바닥판(21)과 덮개판(41) 각각이 전기 절연 효과를 갖는다는 점이 다르다. 이 실시예의 전기 시험 장치는 제1 실시예의 장치와 동일한 효과를 달성할 수 있다. 따라서 사용자는 시험을 위한 기존 장치들, 공정 기술 및 심지어는 특별한 요건들에 기초하여 전기 시험 장치의 적절한 실시예를 선택할 수 있다.

요약하면, 전기 커넥터(3)들을 나란히 적층함으로써, 본 개시에 따른 전기 시험 장치가 시험 요건에 부합하는 적절한 패턴을 용이하게 형성할 수 있다. 또한, 전기 커넥터(3)들의 암부(332)들의 탄성을 이용하는 것에 의해, 다양한 시험이 수행될 수 있다. 또한, 본 개시의 전기 시험 장치는 전기 커넥터(3)들의 형상에 따라 적절한 지지를 제공할 수 있고, 전기 커넥터의 시험 성능을 발달시키도록 피시험 전자 컴포넌트를 연결하기 위해 시스템화된 장치를 구성한다.

위의 상세한 설명에서, 설명을 목적으로, 실시예들에 대한 완전한 이해를 제공하기 위하여 많은 세부 사항들을 구체적으로 설명했다. 그러나 하나 이상의 다른 실시예들이 이러한 구체적인 세부 사항들 중 일부가 없이 실시될 수 있음이 통상의 기술자에게는 명백할 것이다. 또한, 본 명세서 전체에서 "하나의 실시예", "일 실시예"라고 지칭하는 것은 서수 등으로 지시되는 실시예가 본 개시의 실시에 있어 특정한 피처, 구조 또는 특징이 포함될 수 있음을 의미한다는 것을 알아야 한다. 또한 상세한 설명에서 개시를 간소화하고 여러 가지 창의적인 태양들의 이해를 돕기 위한 목적으로 여러 가지 피처들이 때로는 단일의 실시예, 도면 또는 그 상세한 설명에서 함께 그룹화된다는 것과 하나의 실시예의 하나 이상의 피처 또는 특정 세부 사항이 다른 실시예의 하나 이상의 피처 또는 특정 세부 사항과 함께 실시될 수 있다는 것을 알아야 한다.

본 개시를 예시적인 실시예들과 관련하여 설명했지만, 본 개시가 개시된 실시예들에 한정되지 않고 모든 이러한 개조예들 및 이와 균등한 구성 형태들을 포함하도록 가장 넓게 해석되는 사상과 범위 내에 포함되는 여러 가지 구성 형태들을 포괄하도록 의도된 것이라는 점을 이해해야 한다.

Claims

전기 커넥터로,
종축선을 따라 연장하고, 종축선을 따라 서로 이격되며 평행한 두 개의 횡방향 측면을 구비하고, 절연성 소재로 만들어지는 기판;
상기 기판 위에 위치되고, 상기 종축선을 따라 서로 이격되게 배열되고, 도전성 소재로 만들어지고, 그리고 기부 및 상기 기부로부터 상기 종축선에서 멀어지게 연장하며 상기 기판의 상기 횡방향 측면들의 대응하는 측면의 외부에 위치되는 적어도 하나의 암부를 구비하는 다수의 접촉체; 및
두 개의 단자체로, 각각이 상기 기판의 서로 반대쪽에 있는 두 단부들에 각각 형성되며 도전성 소재로 만들어지는 두 개의 단자체를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 커넥터.
청구항 1에 있어서,
상기 기판 위의 중앙에 위치되는 기준 접촉점을 더 포함하되,
상기 접촉체들 각각은 상기 기부로부터 서로 반대 방향으로 연장하고 상기 기판의 상기 횡방향 측면들 외부에 각각 위치되는 두 개의 상기 암부를 포함하고,
상기 접촉체의 상기 암부들은 상기 기준 접촉점을 향해 경사지게 연장하며 상기 기판을 향해 변형 가능한 것을 특징으로 하는 전기 커넥터.
삭제
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
중간체를 더 포함하되, 상기 중간체는 상기 접촉체들이 상기 기판으로부터 소정 거리 이격되도록 상기 접촉체들과 상기 기판 사이에 형성되며 도전성 소재로 만들어지는 것을 특징으로 하는 전기 커넥터.
기부와, 유지 유닛과, 다수의 도전성 유닛과, 덮개 유닛을 포함하는 전기 시험 장치로,
상기 유지 유닛이,
상기 기부 위에 위치되며,
다수의 통공을 구비하는 바닥판,
상기 바닥판의 주변부에 연결되고 상기 바닥판과 협동하여 하부 공간을 획정하는 하부 프레임, 및
상기 하부 프레임의 상단에 적층되며, 서로 이격되고 평행한 두 개의 제1 측판 및 상기 제1 측판들 사이에서 연결되는 두 개의 제2 측판을 포함하는 상부 프레임을 포함하며, 그리고
상기 제1 측판 각각은 상기 제1 측판들 중 다른 제1 측판을 향해 돌출하는 다수의 이격 돌출부를 구비하고, 상기 제1 측판들 중 하나의 제1 측판의 상기 돌출부들 중 인접한 두 개의 돌출부가 각각 상기 제1 측판들 중 다른 제1 측판의 상기 돌출부들 중 상응하는 두 개의 돌출부와 협동하여 상기 하부 공간과 연통하는 수용 리세스를 포함하고;
각각의 도전성 유닛이 상기 상부 프레임의 상기 수용 리세스들 중 각각의 수용 리세스에 위치되며, 그리고 나란히 적층되는 청구항 1에 따른 다수의 전기 커넥터를 포함하고;
상기 덮개 유닛은 상기 상부 프레임 및 상기 도전성 유닛들 위에 배치되어 상기 상부 프레임 및 상기 도전성 유닛들을 덮으며, 그리고 다수의 개구를 구비하는 덮개판을 포함하고; 그리고
상기 기판의 상기 횡방향 측면들 중 하나의 횡방향 측면에 위치된 상기 전기 커넥터들의 상기 암부들이 각각 상기 바닥판의 상기 통공에 삽입되고, 그리고 상기 기판의 상기 횡방향 측면들 중 다른 횡방향 측면에 위치된 상기 전기 커넥터들의 상기 암부들은 상기 덮개판의 상기 개구들에 삽입되는 것을 특징으로 하는 전기 시험 장치.
청구항 5에 있어서,
상기 유지 유닛이 상기 바닥판으로부터 상기 하부 공간으로 연장하고 상기 하부 공간을 다수의 하부 격실로 분할하는 다수의 하부 리브를 더 포함하되,
상기 하부 리브들이 서로 평행하고 이격되며, 상기 하부 리브 각각은 상기 하부 프레임의 대향하는 두 개의 측면 사이에서 연결되고 상기 수용 리세스의 각각의 것에 상응하며, 상기 도전성 유닛 각각은 상기 수용 리세스들 각각에 배치되고 상기 하부 리브들 각각에 의해 지지되는 것을 특징으로 하는 전기 시험 장치.
청구항 5에 있어서,
상기 덮개 유닛이 상기 덮개판의 주변부에 연결되고 상기 덮개판과 협동하여 상부 공간을 획정하는 덮개 프레임, 및 상기 덮개판으로부터 상기 상부 공간으로 연장하고 상기 상부 공간을 다수의 상부 격실로 분할하는 다수의 상부 리브를 더 포함하되,
상기 상부 리브들이 서로 이격되고 평행하며, 상기 상부 리브들 각각이 상기 덮개 프레임의 서로 반대쪽에 있는 두 측면 사이에서 연결되고; 그리고
상기 상부 리브들 각각이 상기 수용 리세스들의 각각의 것에 상응하며, 상기 도전성 유닛들의 각각의 것에 접하는 것을 특징으로 하는 전기 시험 장치.
청구항 5에 있어서,
상기 도전성 유닛들의 상기 전기 커넥터들의 상기 단자체들이 상기 유지 유닛의 상기 하부 프레임 위에 지지되고, 상기 유지 유닛의 상기 상부 프레임에 접하는 것을 특징으로 하는 전기 시험 장치.
청구항 5에 있어서,
상기 유지 유닛의 상기 바닥판과 상기 덮개 유닛의 상기 덮개판이 유전체 소재로 코팅되는 것을 특징으로 하는 전기 시험 장치.
청구항 5에 있어서,
상기 유지 유닛의 상기 바닥판과 상기 덮개 유닛의 상기 덮개판이 유전체 소재로 만들어지는 것을 특징으로 하는 전기 시험 장치.