KR102204895B1 - 성형 장치의 측정 장치 및 측정 방법 - Google Patents

성형 장치의 측정 장치 및 측정 방법 Download PDF

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Abstract

피성형물에 곡면부를 형성하는 성형 장치의 메인 챔버에 접근되는 정반; 상기 메인 챔버의 제1 측정점 및 제2 측정점에 접촉되는 프로브; 상기 프로브를 상기 제1 측정점으로 이동시키거나 상기 제2 측정점으로 이동시키는 이동부; 상기 제1 측정점에서의 상기 프로브의 제1 측정값과 상기 제2 측정점에서의 상기 프로브의 제2 측정값을 획득하는 측정부; 를 포함하는 측정 장치 및 측정 방법이 기재된다.

Description

성형 장치의 측정 장치 및 측정 방법{A MEASUREMENT DEVICE AND METHOD OF AN FORMING DEVICE}
본 발명은 피성형물에 곡면부를 형성하는 성형 장치에 사용되는 측정 장치 및 측정 방법에 관한 것이다.
종래에는 편평한 글라스가 휴대 단말기에 사용되었지만, 최근에는 그립감을 좋게 하거나 정보 표시성을 향상시키기 위하여 곡면부를 갖는 글라스가 많이 채용된다. 좌우 측면 또는 상하 측면이 휘어진 곡면 글라스는 최신형 스마트폰의 정면 윈도우용 또는 후면 백 커버용으로 많이 사용되고 있다.
한편, 곡면부를 갖는 글라스는 카메라의 렌즈로 사용될 수도 있다.
피성형물을 금형에 넣고 금형을 가열 및 가압하면 원하는 3D 형상의 글라스 또는 렌즈를 성형할 수 있다.
피성형물에 곡면부를 성형하는 성형 장치에는 상부 블록이 승강된다. 상부 블록은 피성형물이 수납된 금형 유니트의 상측을 가열 또는 가압하고, 하부 블록은 금형 유니트의 하측을 가열 또는 지지한다.
메인 챔버에 대한 상부 블록 또는 하부 블록의 조립 위치나 조립 자세를 수정할 때나, 메인 챔버에서 상부 블록 또는 하부 블록을 분리 보수할 때 등 성형 장치의 사용, 관리시 각 블록의 정밀도 확보를 위한 측정 장치 및 측정 방법이 필요하다.
본 발명의 측정 장치는, 피성형물에 곡면부를 형성하는 성형 장치의 메인 챔버에 접근되는 정반; 상기 메인 챔버의 제1 측정점 및 제2 측정점에 접촉되는 프로브; 상기 프로브를 상기 제1 측정점으로 이동시키거나 상기 제2 측정점으로 이동시키는 이동부; 상기 제1 측정점에서의 상기 프로브의 제1 측정값과 상기 제2 측정점에서의 상기 프로브의 제2 측정값을 획득하는 측정부; 를 포함할 수 있다.
본 발명의 측정 방법은 상기 메인 챔버의 내부를 노출시키는 단계; 상기 측정 장치를 상기 메인 챔버에 접근시키는 단계; 상기 메인 챔버 내부의 제1 측정점에 상기 프로브를 접촉시키는 단계; 상기 이동부의 이동에 의하여 상기 프로브가 상기 제1 측정점 및 제2 측정점을 포함한 상기 메인 챔버 내부의 측정면을 이동하는 단계; 상기 제1 측정점에서의 제1 측정값 및 상기 제2 측정점에서의 제2 측정값을 토대로 상기 측정면의 평탄도 또는 평행도를 측정하는 단계; 를 포함할 수 있다.
도 1은 본 발명의 측정 장치가 사용되는 성형 장치의 측면도이다.
도 2는 본 발명의 측정 장치의 일 실시예를 도시한 사시도이다.
도 3은 도 2의 측정 장치의 동작을 설명하는 평면도이다.
도 4는 본 발명의 측정 장치가 사용되는 성형 장치의 부분 단면도이다.
도 5는 본 발명의 측정 장치의 다른 실시예를 도시한 사시도이다.
도 1을 참조하며, 본 발명의 피성형물의 성형 장치를 설명한다.
베이스(1)의 상부에는 메인 챔버(3)가 설치된다. 피성형물에 곡면부를 형성하는 금형(200)은 메인 챔버(3)의 내부를 통과하며, 예열, 성형 또는 냉각될 수 있다.
예열 유니트(10)에서 금형(200)을 예열 온도로 예열할 수 있다. 성형 유니트(30)는 예열 온도보다 높은 성형 온도로 금형(200)을 가열할 수 있다. 성형 유니트(30)가 금형(200)을 가열 및 가압하여 피성형물(230)을 성형할 수 있다. 한편, 성형 유니트(30)가 금형(200)을 서서히 냉각하면서 예열 온도보다 낮은 성형 온도에서 피성형물(230)을 성형할 수 있다.
메인 챔버 입구측에는 금형(200)이 메인 챔버(3) 내부로 투입되는 투입 챔버(2)가 마련될 수 있다. 투입 챔버(2)에는 금형(200)을 밀어주는 투입 실린더(5)가 마련될 수 있다.
메인 챔버 입구측으로부터 메인 챔버 출구측을 향하는 방향을 따라 메인 챔버(3)에는 예열 유니트(10), 성형 유니트(30), 냉각 유니트(40)가 순차적으로 배열될 수 있다. 메인 챔버 출구측에는 메인 챔버(3) 내부를 통과한 금형(200)을 외부로 배출하는 배출 챔버(4)가 마련될 수 있다.
예열 유니트(10)는 투입 챔버(2)를 통하여 메인 챔버(3)로 투입된 금형(200)을 예열 온도로 가열할 수 있다.
예열 유니트(10)의 하류측에는 예열된 금형(200)을 성형 온도로 가열하고 소정의 가압력으로 금형(200)을 가압하며 피성형물에 곡면부를 형성하는 성형 유니트(30)가 마련될 수 있다.
성형 유니트(30)의 하류측에는 피성형물의 성형이 완료된 금형(200)을 서서히 냉각시키는 냉각 유니트(40)가 마련될 수 있다. 도 1에 도시된 바에 한정되지 않고 냉각 유니트(40)는 메인 챔버(3)의 외부에 마련될 수 있고, 메인 챔버(3)의 내부 및 외부에 모두 마련될 수 있다.
예열 유니트(10) 및 성형 유니트(30)를 통과한 금형(200)은 메인 챔버(3)로부터 배출 챔버(4)로 배출된다.
배출 수단은 메인 챔버 출구로부터 배출 챔버(4)의 내부로 금형(200)을 이동시킬 수 있다. 배출 수단은 배출 실린더(6) 및 배출 바(7)를 포함할 수 있다.
예열 유니트(10)는 메인 챔버(3)의 바닥에 설치된 다수의 예열 하부 블록(14)을 포함할 수 있다. 예열 하부 블록(14)은 금형(200)의 하부를 지지하거나 가열할 수 있다.
예열 유니트(10)의 상부에는 공압을 이용해 예열 피스톤(12)을 상하로 작동시키는 다수의 예열 실린더(11)가 설치될 수 있다. 예열 피스톤(12)의 끝단에는 금형(200)의 상부에 대면되는 예열 상부 블록(13)이 설치될 수 있다. 예열 상부 블록(13)은 금형(200)의 상부에 열을 전달한다.
성형 유니트(30)는 메인 챔버(3)의 바닥에 설치된 다수의 성형 하부 블록(34), 메인 챔버(3)의 내부에서 상하로 움직이는 성형 피스톤(32), 성형 피스톤(32)을 승강시키는 다수의 성형 실린더(31), 성형 피스톤(32)에 연결된 성형 상부 블록(33) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
성형 하부 블록(34)은 메인 챔버 내부의 바닥에 설치되며, 금형(200)이 성형 온도를 유지하도록 금형(200)의 하부를 가열할 수 있다.
금형(200)의 상부에 성형 피스톤(32)과 함께 움직이는 성형 상부 블록(33)을 접촉시켜 금형(200)을 성형 온도로 가열 및 가압할 수 있다.
냉각 유니트(40)는 메인 챔버(3)의 바닥에 설치된 다수의 냉각 하부 블록(44), 냉각 상부 블록(43)에 연결되며 상하로 움직이는 냉각 피스톤(42), 냉각 피스톤(42)을 승강시키는 다수의 냉각 실린더(41)를 포함할 수 있다.
냉각 하부 블록(44)은 메인 챔버 내부의 바닥에 설치되며, 금형(200)이 정해진 냉각 온도까지 소정의 냉각 속도로 냉각되도록 금형(200)의 온도를 제어한다.
냉각 피스톤(42)에 냉각 상부 블록(43)이 결합되고, 냉각 하부 블록(44)과 냉각 상부 블록(43)은 금형(200)을 냉각시킬 수 있다. 금형(200)의 상부에 냉각 상부 블록(43)이 접촉되고 금형(200)의 하부에 냉각 하부 블록(44)이 접촉된 상태로 금형(200)이 냉각될 수 있다.
메인 챔버(3) 내에서 금형(200)을 예열 유니트(10), 성형 유니트(30), 냉각 유니트(40)로 순차적으로 이송하는 이송 수단(60)이 마련될 수 있다.
메인 챔버(3)의 내부는 예열 온도 또는 성형 온도 제어를 위하여 고온으로 유지될 수 있다. 이때, 메인 챔버(3)의 외부까지 고온이 되면 에너지 손실, 작업자 화상 등의 문제가 발생할 수 있다. 따라서, 메인 챔버(3)의 표면을 냉각하기 위하여 메인 챔버(3)의 벽 부분 내부에 냉각수를 순환시키는 냉각수 통로(70)가 마련될 수 있다.
도 2 내지 도 5의 상부 블록(310)은 도 1의 예열 상부 블록(13), 성형 상부 블록(33), 냉각 상부 블록(43) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 하부 블록(510)은 도 1의 예열 하부 블록(14), 성형 하부 블록(34), 냉각 하부 블록(44) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 실린더 유니트는 도 1의 예열 실린더(11), 성형 실린더(31), 냉각 실린더(41) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상부 블록(310) 또는 하부 블록(510)은 냉각판(311), 방열판(312), 히터판(313)을 각각 구비할 수 있다. 히터판(313)은 히터(314)를 구비하며 금형 유니트(200)에 대면될 수 있다. 방열판(312)은 히터판(313)과 냉각판(311) 사이에 배치되며 히터판(313)으로부터 냉각판(311)으로 방출되는 열 전달양을 조절할 수 있다. 냉각판(311)에는 냉각수가 순환될 수 있다. 냉각판(311)은 방열판(312)을 거쳐 히터판(313)으로부터 열전도에 의하여 금형 유니트(200)의 열을 빼앗을 수 있다.
상부 블록(310)은 각각의 금형 유니트(200)마다 하나씩 대응될 수 있다. 도시된 하부 블록(510)은 각각의 금형 유니트(200)마다 하나씩 대응되는 것으로 예시되어 있다. 이에 한정되지 않고 복수의 금형 유니트(200)가 하나의 하부 블록(510)에 놓여질 수 있다. 복수의 금형 유니트(200)에 대면되는 하나의 공통 냉각판(311b)이 마련될 수도 있다.
상부 블록(310) 또는 하부 블록(510)은 냉각 및 가열을 반복하므로 평탄도나 평행도가 틀어질 염려가 있다. 상부 블록(310) 또는 하부 블록(510)이 초기치 대비 평행하지 않은 상태에서 금형 유니트(200)가 가압되면, 피성형물(230)에 가해지는 가압력이나 열 분포가 고르지 않을 수 있고, 피성형물(230)의 성형 불량이 발생할 수 있다.
따라서, 수시로 상부 블록(310)의 기울기나 설치 각도를 측정하고 규정값이 될 때까지 상부 블록(310) 또는 이와 연결된 실린더 유니트의 설치 기울기나 설치 각도를 수정할 필요가 있다. 하부 블록(510)에 대한 상부 블록(310)의 상대적인 기울기나 설치 각도를 측정하려면, 하부 블록(510) 및 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도가 측정될 필요가 있다.
평탄도 또는 평행도의 최초 기준은 정반(480)이 될 수 있다. 정반(480)의 평탄도 또는 평행도는 측정할 필요가 없이 허용값 이내이다. 정반(480)에 대한 하부 블록(510)의 평탄도 또는 평행도가 1차 측정될 수 있다. 정반(480)에 대한 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도가 2차 측정될 수 있다. 1차 측정값과 2차 측정값을 비교하면 하부 블록(510)에 대한 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도가 측정될 수 있다.
각각의 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도가 허용값을 벗어나면 금형 유니트(200)가 각각의 상부 블록(310)을 통과하면서 다른 방향의 가압력을 받을 우려가 발생한다. 어느 하나의 상부 블록(310)과 다른 상부 블록(310)의 설치 자세를 교정하기 위하여 상부 블록(310)끼리의 평탄도 또는 평행도가 측정될 필요가 있다. 하부 블록(510)에 대하여도 마찬가지로 하부 블록(510)끼리의 평탄도 또는 평행도가 측정될 필요가 있다.
본 발명의 측정 장치는, 정반(480), 프로브(487), 이동부, 측정부(486)를 구비할 수 있다.
정반(480)은 피성형물에 곡면부를 형성하는 성형 장치의 메인 챔버(3)에 접근될 수 있다. 바퀴(470)가 달려 이동 가능한 프레임(450)이 마련될 수 있다. 정반(480)은 프레임(450)에 놓여지거나 측정 대상인 성형 장치에 놓여질 수 있다. 프레임(450)에 정반(480)이 놓여진 경우, 프레임(450)을 이동시킴에 따라 측정 위치를 이동시킬 수 있다. 성형 장치에 정반(480)이 놓여진 경우, 일정 영역의 측정점에 대하여 반복적인 측정을 정확하게 수행할 수 있다. 상부 블록(310) 또는 실린더 유니트의 설치 위치 교정작업과 함께 측정을 하는 경우 정확한 측정을 반복적으로 할 수 있도록 정반(480)의 설치 상태를 선택할 수 있다.
정반(480)은 정반 고정부(492)를 구비할 수 있다. 정반 고정부(492) 또는 정반(480)은 프레임(450)에 착탈될 수 있다. 프레임(450)에서 분리된 정반(480)은 메인 챔버(3)를 지지하는 베이스(1)에 놓여질 수 있다.
본 발명의 측정 장치는 레이저 등을 사용하는 비접촉식이 아니라 접촉식으로 평탄도 또는 평행도를 측정하는 것이 특징이다. 각 부분의 설치 자세를 교정하면서 반복적으로 측정을 할 필요가 있고, 이러한 경우 작업자나 공구가 메인 챔버(3)의 내부에 접근해야 하므로 광학식 측정은 광경로를 가릴 염려가 있다. 접촉식이 공간의 간섭을 최소화할 수 있다.
프로브(487)는 메인 챔버(3)의 제1 측정점 및 제2 측정점에 접촉될 수 있다. 프로브(487)는 측정점에 탄력적으로 접촉되면서 프로브(487)의 높낮이에 따라 변하는 탄성의 세기에 따라 프로브(487) 단부의 위치 또는 측정점의 공간 좌표를 측정할 수 있다.
이동부는 프로브(487)를 메인 챔버(3)의 외부로부터 메인 챔버(3) 내부의 제1 측정점으로 이동시킬 수 있다. 이동부는 프로브(487)를 메인 챔버(3) 내부의 제1 측정점으로부터 메인 챔버(3) 내부의 제2 측정점으로 이동시킬 수 있다. 이동부는 프로브(487) 또는 아암(485)을 메인 챔버(3)의 내부로부터 외부로 꺼내는 수단일 수 있다.
측정부(486)는 프로브(487)에 연결되며 프로브(487) 단부의 위치를 바늘로 나타내는 다이얼 게이지일 수 있다. 측정부(486)는 제1 측정점에서의 프로브(487)의 제1 측정값과 제2 측정점에서의 프로브(487)의 제2 측정값을 획득할 수 있다. 제1 측정값과 제2 측정값의 오차가 일정값 이내이면 제1 측정점 및 제2 측정점을 포함하는 측정면은 평탄하거나 기준 평면에 대하여 평행하다고 볼 수 있다. 제1 측정값으로부터 제2 측정값까지 측정값의 분포를 연속적으로 파악하면 해당 경로의 평탄도 또는 평행도를 알 수 있다.
이동부는 프로브(487)를 정반(480)에 평행한 평면 내에서 이동시킬 수 있다. 이동부는 제1 리니어 가이드(482)와 제2 리니어 가이드(483)를 구비할 수 있다. 제1 리니어 가이드(482)는 정반(480) 위에 설치될 수 있다. 제2 리니어 가이드(483)는 제1 리니어 가이드(482) 위에 설치되고 제1 리니어 가이드(482)를 따라 이동될 수 있다.
아암 고정부(484)는 제2 리니어 가이드(483) 위에 설치되고 제2 리니어 가이드(483)를 따라 이동될 수 있다. 아암(485)은 아암 고정부(484)에 일측 단부가 설치될 수 있다. 프로브(487)는 아암(485)의 타측 단부에 설치될 수 있다.
프로브(487)가 아암 고정부(484)에 대하여 고정된 상태에서, 이동부가 이동되며 제1 측정값 또는 제2 측정값을 획득할 수 있다.
정반(480)은 기준 평면을 형성할 수 있다. 이동부는 프로브(487)를 기준 평면에 대하여 평행한 평면 내에서 이동시킬 수 있다. 이동되는 프로브(487)의 측정값 변화를 감시하면 프로브(487)의 접촉점이 형성하는 측정면의 기준 평면에 대한 평탄도 또는 평행도를 획득할 수 있다. 제1 리니어 가이드(482) 및 제2 리니어 가이드(483)는 기준 평면에 평행하도록 아암(485) 또는 프로브(487)의 이동면을 제한할 수 있다.
한편, 정반(480) 또는 아암(485)의 높이 세팅을 위하여 높이 조절부(491)가 마련될 수 있다. 정반(480) 또는 이동부를 기준 평면에 수직한 방향으로 승강시키는 높이 조절부(491)가 프레임(450)에 설치될 수 있다. 핸들(490)을 돌리면 높이 조절부(491)는 프레임(450)에 대하여 승강될 수 있다. 높이 조절부(491)에 의하여 메인 챔버(3)에 대한 아암(485) 또는 프로브(487)의 높이가 조절될 수 있다.
아암(485)에 측정부(486)가 설치될 수 있다. 측정부(486)의 단부에는 프로브(487)가 연결될 수 있다. 아암(485)은 아암 고정부(484)를 기준으로 신축되거나 접힐 수 있다. 아암(485)이 아암 고정부(484)로부터 메인 챔버(3)의 내부를 향하여 외팔보 형상으로 신장되면 프로브(487)는 메인 챔버(3)의 내부에 접촉될 수 있다. 제1 측정점 및 제2 측정점은 메인 챔버(3)의 내부와 프로브(487)가 접촉되는 지점일 수 있다.
이동부는 정반(480)위에 이동 가능하게 놓여질 수 있다. 이동부의 이동에 의하여 프로브(487)는 제1 측정점 및 제2 측정점을 포함한 메인 챔버(3)의 측정면을 이동할 수 있다. 측정부(486)의 측정값에 따라 기준 평면에 대한 측정면의 평탄도 또는 평행도가 측정될 수 있다.
본 발명의 측정 방법을 더욱 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
금형 유니트(200)에 밀착되는 상부 블록(310)이 메인 챔버(3)의 내부에 배열되고, 상부 블록(310)에 연결된 실린더 유니트가 메인 챔버(3)의 외부에 체결되며, 프로브(487) 및 이동부를 구비한 측정 장치가 마련될 수 있다.
이때, 프로브(487)의 억세스를 위하여 메인 챔버(3)의 내부를 노출시킬 수 있다. 측정 장치를 메인 챔버(3)에 접근시킬 수 있다. 메인 챔버(3) 내부의 제1 측정점에 프로브(487)를 접촉시킬 수 있다. 이동부의 이동에 의하여 프로브(487)가 제1 측정점 및 제2 측정점을 포함한 메인 챔버(3) 내부의 측정면을 이동할 수 있다.
제1 측정점에서의 제1 측정값 및 제2 측정점에서의 제2 측정값을 토대로 측정면의 평탄도 또는 평행도를 측정할 수 있다.
하부 블록(510)의 다수의 측정점에 프로브(487)를 접촉시켜 정반(480)을 기준 평면으로 한 하부 블록(510)의 평탄도 또는 평행도를 먼저 측정할 수 있다. 정반(480)에 대한 하부 블록(510)의 자세를 알았고 정반(480)에 대한 하부 블록(510)의 평탄도 또는 평행도를 알았으므로, 이후에는 하부 블록(510)을 기준 평면으로 설정할 수도 있다. 상부 블록(310)의 다수의 측정점에 프로브(487)를 접촉시켜 다수의 측정값을 획득하면 하부 블록(510)에 대한 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도를 획득할 수 있다. 물론, 정반(480)을 기준 평면으로 설정한 경우에는 정반(480)에 대한 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도는 당연히 획득될 수 있다.
한편, 어느 하나의 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도를 측정한 후 다른 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도를 측정하면, 어느 하나의 상부 블록(310)에 대한 다른 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도를 측정할 수 있다. 정반(480)에 대한 각 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도는 당연히 획득될 수 있다.
하부 블록(510)에 대한 상부 블록(310)의 평탄도 또는 평행도가 설정값을 만족하도록, 메인 챔버(3)에 대한 상부 블록(310) 및 실린더 유니트의 설치 각도가 교정될 수 있다. 측정을 반복하면서 교정 작업을 원하는 수준이 될 때까지 수행할 수 있다.
1...베이스 2...투입 챔버
3...메인 챔버 4...배출 챔버
5...투입 실린더 6...배출 실린더
7...배출 바 10...예열 유니트
11...예열 실린더 12...예열 피스톤
13...예열 상부 블록 14...예열 하부 블록
30...성형 유니트 31...성형 실린더
32...성형 피스톤 33...성형 상부 블록
34...성형 하부 블록 40...냉각 유니트
41...냉각 실린더 42...냉각 피스톤
43...냉각 상부 블록 44...냉각 하부 블록
60...이송 수단 70...냉각수 통로
200...금형 유니트 210...상부 금형
220...하부 금형 230...피성형물
310...상부 블록 311...냉각판
312...방열판 313...히터판
311b...공통 냉각판 314...히터(heater)
450...프레임(frame) 470...바퀴
480...정반 482...제1 리니어 가이드(linear guide)
483...제2 리니어 가이드 484...아암 고정부
485...아암(arm) 486...측정부
487...프로브(probe) 490...핸들
491...높이 조절부 492...정반 고정부

Claims (10)

  1. 피성형물에 곡면부를 형성하도록 성형하는 금형이 통과되는 성형 장치의 메인 챔버에 접근되는 정반;
    상기 메인 챔버의 제1 측정점 및 제2 측정점에 접촉되는 프로브;
    상기 프로브를 상기 제1 측정점으로 이동시키거나 상기 제2 측정점으로 이동시키는 이동부;
    상기 제1 측정점에서의 상기 프로브의 제1 측정값과 상기 제2 측정점에서의 상기 프로브의 제2 측정값을 획득하는 측정부; 를 포함하고,
    상기 이동부는 상기 정반위에 이동 가능하게 놓여지며,
    상기 이동부의 이동에 의하여 상기 프로브는 상기 제1 측정점 및 상기 제2 측정점을 포함한 상기 메인 챔버의 측정면을 이동하고,
    상기 측정부의 측정값에 따라 상기 측정면의 평탄도 또는 평행도가 측정되며,
    상기 메인 챔버의 측정면은 상기 메인 챔버내를 통과하는 상기 금형의 하부에서 지지하는 하부 블록과 상기 금형의 상부에서 지지하는 상부 블록의 측정면이고,
    상기 하부 블록은 상기 상부 블록의 상대적인 기울기나 설치 각도를 측정하기 위해 상기 프로브를 통해 상기 하부 블록의 제1 측정점 및 상기 상부 블록의 제2 측정점을 측정하여 평탄도 또는 평행도를 측정하는 측정 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    이동 가능한 프레임이 마련되고,
    상기 정반에 정반 고정부가 마련되며,
    상기 정반 고정부는 상기 프레임에 착탈되고,
    상기 프레임에서 분리된 상기 정반은 상기 메인 챔버를 지지하는 베이스에 놓여지는 측정 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 이동부는,
    상기 정반 위에 설치되는 제1 리니어 가이드와,
    상기 제1 리니어 가이드 위에 설치되고 상기 제1 리니어 가이드를 따라 이동되는 제2 리니어 가이드와,
    상기 제2 리니어 가이드 위에 설치되고 상기 제2 리니어 가이드를 따라 이동되는 아암 고정부와,
    상기 아암 고정부에 일측 단부가 설치되는 아암을 포함하며,
    상기 프로브는 상기 아암의 타측 단부에 설치되는 측정 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 프로브가 상기 아암 고정부에 대하여 고정된 상태에서, 상기 이동부가 이동되며 상기 제1 측정값 또는 상기 제2 측정값을 획득하는 측정 장치.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 제1 리니어 가이드 및 상기 제2 리니어 가이드는 상기 아암 또는 상기 프로브의 이동면이 상기 정반에 평행하도록 제한하며,
    상기 정반을 놓는 프레임이 마련되고,
    상기 정반을 승강시키는 높이 조절부가 상기 프레임에 설치되며,
    상기 높이 조절부에 의하여 상기 메인 챔버에 대한 상기 아암 또는 상기 프로브의 높이가 조절되는 측정 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 측정부가 설치되는 아암이 마련되며,
    상기 아암은 아암 고정부를 기준으로 신축되거나 접히며,
    상기 아암이 상기 아암 고정부로부터 상기 메인 챔버의 내부를 향하여 외팔보 형상으로 신장되면 상기 프로브는 상기 메인 챔버의 내부에 접촉되고,
    상기 제1 측정점 및 상기 제2 측정점은 상기 메인 챔버의 내부와 상기 프로브가 접촉되는 지점인 측정 장치.
  7. 삭제
  8. 금형 유니트에 상부에 승강되는 상부 블록 및 상기 금형 유니트의 하부에 대면되는 하부 블록이 메인 챔버의 내부에 배열되고, 상기 상부 블록에 연결된 실린더 유니트가 상기 메인 챔버의 외부에 설치되며, 프로브 및 이동부를 구비한 측정 장치가 마련될 때,
    상기 메인 챔버의 내부를 노출시키는 단계;
    상기 측정 장치를 상기 메인 챔버에 접근시키는 단계;
    상기 메인 챔버 내부의 제1 측정점에 상기 프로브를 접촉시키는 단계;
    상기 이동부의 이동에 의하여 상기 프로브가 상기 제1 측정점 및 제2 측정점을 포함한 상기 메인 챔버 내부의 측정면을 이동하는 단계;
    상기 제1 측정점에서의 제1 측정값 및 상기 제2 측정점에서의 제2 측정값을 토대로 상기 측정면의 평탄도 또는 평행도를 측정하는 단계; 를 포함하고,
    상기 하부 블록의 다수의 측정점에 상기 프로브를 접촉시켜 상기 하부 블록의 평탄도 또는 평행도를 측정한 후 상기 상부 블록의 다수의 측정점에 상기 프로브를 접촉시켜 상기 하부 블록에 대한 상기 상부 블록의 평탄도 또는 상기 평행도를 획득하거나,
    어느 하나의 상부 블록의 평탄도 또는 평행도를 측정한 후 그 상부 블록에 대한 다른 상부 블록의 평탄도 또는 평행도를 측정하는 측정 방법.
  9. 삭제
  10. 제8항에 있어서,
    상기 하부 블록에 대한 상기 상부 블록의 평탄도 또는 평행도가 설정값을 만족하도록, 상기 메인 챔버에 대한 상기 상부 블록 및 상기 실린더 유니트의 설치 각도가 변경되는 측정 방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009008523A (ja) * 2007-06-28 2009-01-15 Kosaka Laboratory Ltd 多関節型座標測定装置のパラメータ校正方法
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KR101953452B1 (ko) * 2017-01-03 2019-02-28 두산중공업 주식회사 버켓 곡률 측정 지그

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