KR102202741B1 - 압축기와 결합된 대형의 하이 에너지 레이저 빔을 샘플링하는 디바이스 - Google Patents

압축기와 결합된 대형의 하이 에너지 레이저 빔을 샘플링하는 디바이스 Download PDF

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Abstract

본 발명은 통상적으로 1 J 보다 큰 하이 에너지이고 대형 사이즈, 즉 통상적으로 1 cm 보다 더 큰 대직경을 갖는 펄싱된 레이저 빔의 샘플링의 분야에 적용한다. 본 발명은 압축기 (3) 와 결합되는 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔을 샘플링하는 디바이스를 설명하며, 상기 샘플링하는 디바이스는 상기 압축기 (3) 의 상류에서: - 펄싱된 레이저 빔의 T % 를 전송가능하고 (T 는 90 보다 큼) 펄싱된 레이저 빔의 (1-T) % 를 반사가능한 샘플링 디옵터 (44) 를 구비한 샘플 획득 디바이스 (sample-taking device) 로서, 반사된 상기 빔은 샘플링된 빔으로 지칭되는, 상기 샘플 획득 디바이스, - 상기 샘플링된 빔의 사이즈를 축소시킬 수 있는 어포컬 (42), - 디바이스 (45) 로서, 상기 압축기는 결정된 유용 애퍼처를 갖고, 상기 디바이스 (45) 는 축소되어진 상기 샘플링된 빔을 이 유용 애퍼처 내에 재주입 (reinject) 하는, 상기 디바이스 (45) 를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

압축기와 결합된 대형의 하이 에너지 레이저 빔을 샘플링하는 디바이스{DEVICE FOR SAMPLING A LARGE, HIGH-ENERGY LASER BEAM COMBINED WITH A COMPRESSOR}
본 발명의 분야는 통상적으로 1 J 보다 큰 하이 에너지이고 대형 사이즈, 즉 통상적으로 1 cm 보다 더 큰 직경을 갖는 펄싱된 레이저 빔 샘플링의 분야이다. 관련된 레이저 펄스들은 통상 1 ps 미만의 지속기간, 심지어 fs 정도의 지속기간을 갖는다.
레이저 빔을 나타내는 분석을 수행하기 위해, 이 빔의 샘플이 취해진다 (= 빔이 샘플링된다).
하이 에너지 및 대형 사이즈 펄싱된 레이저 빔은 CPA 디바이스에 의해 얻어지는 것임이 상기되며, CPA 는 도 1 에서 보여질 수도 있는 "처프 펄스 증폭기" 의 머리글자이며, 이는 파장의 함수로서 로우 에너지 레이저 펄스를 신장가능한 스트레처 (1) 를 입력부에서 포함하고 스트레처 (1) 는 신장된 펄스를 하이 에너지 스트레칭 펄스로 증폭가능한 증폭기 (2) 에 링크되며 증폭기 (2) 는 신장되고 증폭된 펄스를 압축가능한 진공 압축기 (3) 에 링크된다. 압축기의 출력에서, 하이 에너지 및 대형 사이즈 레이저 펄스가 획득되고 4 TW 보다 큰 에너지들에 대해 진공 상태에서 전송된다. TW, 심지어 멀티-PW 클래스의 레이저들에서, 압축기 출력에서의 레이저 펄스의 직경은 센티미터, 심지어 미터 클래스로 이루어진다.
이러한 하이 에너지 시스템의 공간 시간 특징화를 수행하기 위해서는, 분석 디바이스에 손상을 주지 않도록 빔의 매우 작은 부분만을 샘플링하고, 그 특성들을 유지하면서 이 분석 디바이스의 사이즈에 빔을 적응시키기 위하여 빔 사이즈를 감소시키는 것이 필요하다.
이는 하기를 이용하여 이러한 빔을 샘플링하는 실시로서 알려져 있다:
- 압축기의 진공 인클로저 (31) 에서, 출력 윈도우 (33) 의 상류 및 압축 소자들의 출력에 위치되며, 압축된 메인 빔의 작은 샘플만을 취하기 위해 2% 보다 작은 전송률 (transmission) 을 나타내는, 도 2 에 도시된 소위 "누출" 미러 (32),
압축기의 출력 윈도우의 하류에 배치된, 수차들을 수정하는 축소 어포컬 (afocal) (42), 및
- 축소되어진 샘플링된 빔을 측정하는 디바이스 (43).
상류 하류 방향은 레이저 빔의 전파 방향임을 상기한다.
그러나, 이러한 샘플링 디바이스는 다수의 결함을 나타낸다.
- 샘플링된 빔은 측정되기 전에 누출 미러 (32) 를 통과한다. 초단 펄스 지속기간의 측정의 경우, 펄스를 구성하는 각각의 파장에 의해 진행되는 광학 경로 (즉, 스펙트럼 페이즈) 가 메인 빔과 샘플링된 빔 상에서 동일할 것을 보장하는 것이 필요하다. 또한, 에너지의 스펙트럼 분포 (즉, 스펙트럼 강도) 를 정확하게 유지하는 것이 필수적이다. 따라서, 그 자체가 반사되어 이에 따라 미러 (32) 의 재료를 통과하지 않는 압축된 메인 빔의 광학 경로를 통한 이 진행 (travel) 을 보상하는 것이 필수적이다. 그러나, 이러한 보상기는 압축기 출력에서 메인 빔의 소정의 에너지를 생성하는 것을 어렵게 한다. 사실상, 이러한 빔은 통과할 임의의 재료를 손상시킨다.
- 또한, 샘플링된 빔은 누출 미러로부터 왜곡들을 겪게 되고 이는 또한 메인 빔을 보상하는 것을 어렵게 한다.
- 또한, 매우 작은 전송률 (즉, < 2%) 은 미러의 전체 퍼필, 그리고 심지어 미러의 전체 스펙트럼 대역에 걸쳐 샘플의 매우 양호한 균일성을 요구한다. 0.2% 미만의 변동성들을 갖고 2% 미만의 전송률들을 얻는 것은 누출 미러 제조자들에 대해 실현하는 것을 어렵게 한다.
결과적으로, 지금까지도, 이들 하이 에너지 및 대형 사이즈 빔들이 자신의 공간-시간 특성들을 변환함이 없이 샘플링을 수행하는 것을 가능하게 하는 시스템에 대한 필요성이 존재한다.
보다 구체적으로, 본 발명의 요지는 압축기와 결합되도록 의도된, 하이 에너지 및 대직경의 펄싱 레이지 빔을 샘플링하는 디바이스이다. 이는 압축기의 상류에서:
- 펄싱된 레이저 빔의 T % 를 전송가능하고 (T 는 90 보다 큼) 펄싱된 레이저 빔의 (1-T) % 를 반사가능한 샘플링 디옵터를 구비한 샘플 획득 디바이스 (sample-taking device) 로서, 반사된 빔은 샘플링된 빔으로 지칭되는, 샘플 획득 디바이스,
- 샘플링된 빔의 사이즈를 축소시킬 수 있는 어포컬,
- 디바이스로서, 압축기는 결정된 유용 애퍼처를 갖고, 상기 디바이스는 축소되어진 샘플링된 빔을 압축기의 유용 애퍼처 내에 재주입 (reinject) 하는 디바이스를 포함하는 것을 주요 특징으로 한다.
이 구성에서, 누출 미러의 이용은 디옵터 상의 반사로 대체되었다. 따라서, 이 솔루션은 분석될 빔을 표현하고 넓은 퍼필 상에 있는 균일한 샘플링된 빔을 획득하는 것을 가능하게 한다. 사실상, 샘플링된 빔은 취득한 샘플에서의 어떠한 불균성에 링크된 어떠한 왜곡들도 겪지 않으며, 샘플링된 빔은 분석될 빔의 퍼필에서의 위치와 무관하게 일치하는 취득한 샘플의 광학 인덱스 n 만의 함수이다. 그 후, 샘플링된 빔을 이용하여, 넓은 애퍼처 압축기를 프로빙하고, 샘플링된 신호에 적용되는 것을 특징으로 할 수 있는 작은 애퍼처 압축기를 이용하는 것을 가능하게 한다.
이 구성에 따르면, 샘플링된 빔은 누출 미러를 갖는 서두에서 제공된 경우와 대조적으로, 오리지널 빔보다 덜 재료를 투과한다. 그 후, 쉽게 특징화가능한 보상기를 통하여 샘플링된 신호의 광학 경로 상의 재료를 통과하는 통로를 보상하는 것이 가능하다.
본 발명의 특징에 따르면, 샘플링 디바이스는 샘플링된 빔의 경로 상에서, 이 샘플링된 빔의 광학 경로를 증가시킬 수 있는 광학 경로 보상기를 포함한다.
본 발명의 다른 요지는 압축기로부터의 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔을 분석하는 디바이스이며, 이 디바이스는 위에 설명되고 상기 압축기와 결합되도록 의도된 샘플링 디바이스, 및 샘플링되어 압축된 빔을 측정하는 디바이스를 포함한다.
본 발명은 또한, 압축기의 출력에서, 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔을 생성가능한, 스트레처, 증폭기, 및 압축기를 포함하는 펄스 압축에 의한 레이저 증폭을 위한 장비 물품에 관련되고, 이는 위에 설명된 분석 디바이스를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 특징들 및 이점들은 첨부된 도면들을 참조하여 그리고 비제한적인 예에 의해 주어지는 다음의 상세한 설명을 읽을 때 명백해질 것이다.
도 1 은 이미 설명된 것으로서, 종래 기술에 따른 증폭 체인을 개략적으로 표현한다.
도 2 는 이미 설명된 것으로서, 종래 기술에 따른 샘플링 디바이스와 결합된 압축기를 개략적으로 표현한다.
도 3 은 본 발명에 따른 샘플링 디바이스와 결합된 압축기의 일 예를 개략적으로 표현한다.
도 4 는 본 발명에 따른 샘플링 디바이스와 결합된 압축기의 유용 애퍼처에서 샘플링된 빔 및 메인 빔의 임프린트의 예들을 개략적으로 예시한다.
도 5 는 실리카 유리 디옵터 상의 반사 계수와 함께 누출 미러의 전송 계수 사이의 비교 (도 5a) 및 이들 2 개의 케이스들에서 획득된 가우시안 스펙트럼의 스펙트럼 강도 (도 5b) 를 예시한다.
도 6 은 펄스가 동일한 파장 상에 더 이상 센터링되지 않을 때 누출 미러를 통과한 후와 디옵터 상의 반사 후의 가우시안 스펙트럼의 스펙트럼 강도에서의 차이를 예시한다.
도 7 은 45°의 각도에서 두께 e (40 mm) 의 재료를 통과하기 전 및 후의 시간적 가우시안 펄스의 시간적 강도에서의 차이를 예시한다.
도면마다 동일한 엘리먼트들은 동일한 도면부호에 의해 식별된다.
압축기 출력에서 얻어진 하이 에너지 대형 사이즈 레이저 펄스의 대표 분석을 수행하기 위해, 메인 빔 및 샘플링된 빔이 빔의 개별적인 경로들을 따라 동일한 공간 시간 변형들을 겪는 것을 보장하는 것이 필수적이다.
누출 미러를 갖는 샘플링 디바이스에 의해 제기되는 문제들이 무엇보다도 세부화될 것이다:
- 노출 미러의 전송률 또는 그 두께는 미러에서의 레이저의 전송 동안에 SPM (Self Phase Modulation) 타입의 비선형 효과들을 회피하도록 작아야 한다. 비선형 효과들은 특히 펄스의 피크 입력 전력에 그리고 통과되는 재료 두께에 의존함을 상기한다. 예를 들어, 1 보다 작은 전송된 펄스의 인테그랄 B 로서 적절한 한계 내로 비선형 효과들을 유지하기 위해, 그에 따라 누출 미러의 전송 레이트가 0.1% 정도에 있어야 하며, 이는 다음 문제를 제기한다.
- 예로서, 파장 λ1 에서 99.9% 의 반사율을 갖고 파장 λ2 에서 99.8% 의 반사율을 갖는 고반사율 또는 HR 미러를 고려하여 본다.
2 개의 파장들 사이의 왜곡인 반사된 펄스의 왜곡은 ((99.9-99.8)/(99.9)) = 0.001 이다. 따라서, 반사된 펄스의 왜곡은 매우 작다.
전송된 펄스의 경우에, 파장 λ1 은 0.2% 에서 전송되고 파장 λ2 는 0.1% 에서 전송된다.
전송된 펄스에 대해, 2 개의 파장들 사이의 왜곡은 ((0.2-0.1)/(0.2)) = 50% 이다. 따라서, 이 경우에 왜곡은 매우 높다. 따라서, 전송된 빔 (= 샘플링된 빔) 의 스펙트럼 프로파일은 반사된 유용 빔을 전혀 닮지 않고, 전송된 빔이 더 넓으며, 다른 파장에서 센터링될 수 있다. 시간적 측정값들은 이들 왜곡들로 어긋날 것이다.
- TW, 심지어 멀티-PW 클래스의 레이저들에서, 압축기 출력에서의 레이저 펄스의 직경은 센티미터, 심지어 미터 클래스로 이루어지며, 누출 미러의 두께는 양호한 품질의 반사된 웨이브 프론트 (웨이브 프론트 수차들이 없음) 를 보장하기 위해 수 cm 의 정도로 이루어져야 하는 한편, 이 두께는 위에 보여지는 바와 같이 비선형 효과들을 제한하도록 작아야 한다.
- 또한, 오리지널 빔은 HR 미러에 의해 반사되며, 이는 어떠한 재료도 통과하지 못한다. 이러한 부분에 대해, 샘플링된 빔은 미러의 기판을 통과한다. 따라서, 2 개의 빔들에 의해 진행되는 광학 경로는 상이하며, 이 2 개의 빔들은 따라서 동일한 공간-시간 왜곡들을 겪지 않는다.
본 발명에 따른 솔루션은 압축기의 상류에서 샘플의 획득을 수행하는 것으로 구성된다. 그 후, 측정된 장치의 사이즈에 빔을 적응시키도록, 샘플링된 빔의 사이즈를 축소시킨 후, 샘플링된 빔이 메인 빔과 병치되어, 메인 빔과 동일한 공간-시간 조건들에서 압축기에 의해 압축된다.
보다 구체적으로, 도 3 과 관련하여 설명된 샘플링 디바이스는 압축기 (3) 의 상류에서 하기 구성을 포함한다:
- 압축될 펄싱된 레이저 빔의 T % 를 전송가능하고 (T > 90, 심지어 99 보다 더 큼) - 전송된 빔은 이 디옵터의 하류에서의 경로를 따라 모두 메인 또는 참조 빔으로서 지칭됨 -, 펄싱된 레이저 빔의 (1-T) % 를 반사가능한 - 반사된 빔은 샘플링된 빔으로 지칭됨 - 예를 들어, 실리카 또는 BK7 의 샘플링 디옵터 (44) 에 의해 제공되는 샘플 획득 디바이스. 디옵터 (44) 를 통과시, 이는 압축기 출력에 도달할 피크 전력을 아직 보여주지 않는 신장된 빔이기 때문에, 비선형 효과가 발생하지 않는다.
- 샘플링된 빔의 경로 상에서:
○ 샘플링된 빔의 사이즈를 축소시킬 수 있는 어포컬 (42) 로서, 샘플링된 빔의 특성들을 유지하기 위한 반사굴절 옵틱스를 바람직하게 포함하는 어포컬 (42);
○ 압축기 (3) 의 유용 애퍼처 내에, 축소되어진 샘플링된 빔을 재주입하는 디바이스. 이 재주입 디바이스는 예를 들어, 메인 빔과 축소되어진 샘플링된 빔을 병치시킴으로써, 압축기 (3) 의 유용 애퍼처를 향하여 축소되어진 샘플링된 빔을 반사시키도록 의도된 미러 (45) 이다. 압축기는 통상적으로, 하나 이상의 분산성 소자들, 이를 테면, 디옵터들 또는 반사 분산성 격자들 (34, 35, 36, 37) 또는 전송 분산성 격자들을 포함하며, 이들 소자들 각각은 도 4 에 예시된 유용 애퍼처를 갖는다. 이 도면은 한편으로 메인 빔과, 아직 스펙트럼 왜곡을 겪지 않은 축소되어진 샘플링된 빔을 도달시키는 격자 (34) 의 유용 애퍼처, 및 다른 한편으로, 격자 (34) 에 의해 제 1 분산을 양쪽 모두 겪었던 메인 빔과 축소되어진 샘플링된 빔을 도달시키는 격자 (35) 의 유용 애퍼처를 나타내며 (이 도면에는 3 개의 파장들이 나타내어짐), 샘플링된 빔과 메인 빔은 각각의 경우에 병치됨을 주지한다. 압축기의 유용 애퍼처는 모든 이들 분산성 소자들의 유용 애퍼처에 공통인 부분에 의해 정의됨을 상기한다.
- 선택적으로, 샘플링 디옵터 (44) 에 대칭인 디옵터 (46) 는 압축기의 메인 빔 상류의 경로 상에 위치된다. 이 디옵터는 재주입 미러 (45) 의 기능을 보장하는 부분을 포함할 수 있으며, 다른 부분은 메인 빔을 전송하도록 의도되며, 2 개의 빔들은 이 디옵터 상에서 병치되며, 이 후, 이 디옵터는 재결합 디옵터 (46) 로 지칭된다.
메인 빔과 샘플링된 빔은 상이한 기판들을 통과한다. 압축된 메인 빔은 샘플링 디옵터 (44) 를 통과하고, 가능하게는 재결합 디옵터 (46) 를 통과한다. 이 부분에 대해, 압축되어진 샘플링된 빔은 출력 윈도우 (33) 를 통과하여 측정 디바이스 (43) 로 패스된다. 따라서, 샘플링 디바이스는 또한 이들 2 개의 빔들 각각의 광학 경로가 동일하도록 하는 광학 경로 보상기 (47) 를 포함한다. 이는 2 개의 빔들에 대하여 동일한 분산을 얻기 위하여, 도면에서 도시된 바와 같이 압축기 (3) 의 하류에서의 (또는 가능하게는 상류에서의) 샘플링된 빔의 경로 상에 위치되는 분산성 보상기이다. 쉽게 특징화될 수 있는 이 작은 애퍼처 보상기 (47) 는 예를 들어, 도면에 도시된 바와 같이 2 개의 프리즘들로 구성될 수 있는 적응가능한 두께의 디옵터이며, 이는 압축되어진 샘플링된 빔의 각각의 파장에 대해 진행되는 광학 경로 (즉, 스펙트럼 페이즈) 를 증가시키는 것을 가능하게 한다. 이는, 서두 부분에서 설명된 누출 미러를 갖는 샘플링 디바이스와 대조적으로, 압축된 메인 빔이 압축되어진 샘플링된 빔 보다 더 큰 재료 두께를 통과하기 때문에 가능하게 되며, 여기에서, 압축되어진 샘플링된 빔은 미러의 기판을 통과한 샘플링된 빔이다.
본 발명에 따르면, 샘플링은 실시간으로 수행된다.
본 출원인은 본 발명에 따른 샘플링 디바이스에 의해, 그리고 누출 미러를 갖는 샘플링 디바이스에 의해 얻어진 결과들을 비교하였다.
도 5a 는 실리카 유리 디옵터 상에서의 반사 계수와 누출 미러의 전송 계수 사이의 비교를 제시한다. 디옵터의 응답은 820 nm 에서 센터링된 중간 높이에서의 40 nm 의 폭과 함께, 25 fs 지속기간의 시간적 가우시안 펄스의 스펙트럼 강도를 제시하는 도 5b 에 의해 확인되는 바와 같이, 820 nm 에서 센터링된 100 nm 의 정도의 대역들에 걸쳐 누출 미러의 것에 비해 비교적 선형적이다. 실제로, 참조 펄스 및 디옵터 상에 반사된 펄스는 일치하는 것으로 관측되는 한편, 노출 미러를 통하여 전송된 펄스는 신호를 강하게 왜곡시키고, 전송된 펄스는 따라서 반사된 펄스를 나타내지 못한다.
디옵터 상에서의 샘플링 획득의 다른 이점은 신호의 중심 파장에 대한 감도이다. 도 6 은 펄스가 820 nm 에서 더 이상 센터링되지 않고, 발생할 수 있는 800 nm 에서 센터링될 때 디옵터와 누출 미러 사이의 거동에서의 차이를 나타낸다. 디옵터를 통한 샘플링 획득의 강도가 누출 미러에 의한 샘플링 획득의 것과 대조적으로, 중심 파장에 집중되어 있음을 알 수 있다.
광학 경로 (즉, 스펙트럼 페이즈) 에서의 차이와 관련하여, 도 7 은 25 fs 지속기간과 820 nm 에 센터링된 40 nm 의 중간 높이에서의 폭을 갖는 시간 가우시안 펄스 상에서 45° 의 각도에서 두께 e (40 mm) 의 재료를 통과하는 경로의 영향을 예시한다. 누출 미러를 통한 샘플 획득의 강도는 신호를 강하게 왜곡시키는 것으로 관측될 수 있으며, 따라서, 전송된 펄스는 반사된 펄스를 나타내지 못한다. 이 왜곡이 샘플링 디옵터 (44) 를 통과하는 메인 빔의 경로 상에 적용되면, 이 왜곡은 압축기 설정에 의해 따라서 보상됨을 주지한다. 축소되어진 샘플링된 펄스는 또한 적절하게 설정된 압축기에서의 역 왜곡을 겪지만, 그러나, 샘플 빔의 광학 경로 상에 위치된 보상기 (47) 는 이 편차를 보강하는 것을 가능하게 한다.

Claims (6)

  1. 압축기 (3) 와 결합하도록 의도되는 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔을 샘플링하는 디바이스로서,
    상기 샘플링하는 디바이스는 상기 압축기 (3) 의 상류에서:
    - 상기 펄싱된 레이저 빔의 T % 를 전송가능하고 (T 는 90 보다 큼) 상기 펄싱된 레이저 빔의 (1-T) % 를 반사가능한 샘플링 디옵터 (44) 를 구비한 샘플 획득 디바이스 (sample-taking device) 로서, 반사된 상기 빔은 샘플링된 빔으로 지칭되는, 상기 샘플 획득 디바이스,
    - 상기 샘플링된 빔의 사이즈를 축소시킬 수 있는 어포컬 (afocal)(42), 및
    - 재주입 디바이스 (45) 로서, 상기 압축기는 결정된 유용 애퍼처를 갖고, 상기 재주입 디바이스 (45) 는 축소되어진 상기 샘플링된 빔을 이 유용 애퍼처 내에 재주입 (reinject) 하는, 상기 재주입 디바이스 (45) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔을 샘플링하는 디바이스.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 샘플링하는 디바이스는 상기 샘플링된 빔의 경로 상에서, 이 샘플링된 빔의 광학 경로를 증가시킬 수 있는 광학 경로 보상기 (47) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔을 샘플링하는 디바이스.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 보상기는 상기 압축기의 하류에 위치되는 것을 특징으로 하는 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔을 샘플링하는 디바이스.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 펄싱된 레이저 빔은 1 J 보다 큰 에너지와, 1 cm 보다 큰 직경을 갖는 것을 특징으로 하는 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔을 샘플링하는 디바이스.
  5. 압축기 (3) 로부터의 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔의 분석 디바이스로서,
    상기 압축기 (3) 와 결합하도록 의도되는, 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 기재된 샘플링하는 디바이스, 및 샘플링되고 압축되는 빔을 측정하는 디바이스 (43) 를 포함하는, 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔의 분석 디바이스.
  6. 펄스 압축에 의한 레이저 증폭을 위한 장비 물품으로서,
    스트레처 (1), 증폭기 (2), 및 압축기 (3) 를 포함하고, 상기 압축기 (3) 의 출력에서, 하이 에너지 및 대직경의 펄싱된 레이저 빔을 생성가능하고,
    상기 장비 물품은 제 5 항에 기재된 분석 디바이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 펄스 압축에 의한 레이저 증폭을 위한 장비 물품.
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