KR102161006B1 - Semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same - Google Patents

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KR102161006B1 KR1020190013070A KR20190013070A KR102161006B1 KR 102161006 B1 KR102161006 B1 KR 102161006B1 KR 1020190013070 A KR1020190013070 A KR 1020190013070A KR 20190013070 A KR20190013070 A KR 20190013070A KR 102161006 B1 KR102161006 B1 KR 102161006B1
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Abstract

본 개시는 반도체 발광소자에 있어서, 복수의 전극을 포함하는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩; 평면상에서 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극과 일정거리 떨어져 복수의 전극과 각각 대응되는 복수의 패드; 복수의 패드와 동일평면상에 구비되며, 복수의 패드와 복수의 전극 사이를 각각 전기적으로 연결하는 전기적 연결; 그리고, 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 덮는 봉지재;를 포함하는 반도체 발광소자에 관한 것이다.The present disclosure provides a semiconductor light emitting device comprising: at least one semiconductor light emitting device chip including a plurality of electrodes; A plurality of pads respectively corresponding to the plurality of electrodes apart from a plurality of electrodes of at least one semiconductor light emitting device chip on a plane; An electrical connection provided on the same plane as the plurality of pads and electrically connecting the plurality of pads and the plurality of electrodes, respectively; And, it relates to a semiconductor light emitting device comprising a; an encapsulant covering at least one semiconductor light emitting device chip.

Description

반도체 발광소자 및 이를 제조하는 방법{SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME}A semiconductor light emitting device and a method of manufacturing the same {SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME}

본 개시(Disclosure)는 전체적으로 반도체 발광소자 및 이를 제조하는 방법에 관한 것으로, 특히 단선 될 확률이 떨어지는 반도체 발광소자 및 이를 제조하는 방법에 관한 것이다.The present disclosure generally relates to a semiconductor light emitting device and a method of manufacturing the same, and in particular, to a semiconductor light emitting device having a low probability of disconnection and a method of manufacturing the same.

여기서는, 본 개시에 관한 배경기술이 제공되며, 이들이 반드시 공지기술을 의미하는 것은 아니다(This section provides background information related to the present disclosure which is not necessarily prior art). 또한 본 명세서에서 상측/하측, 위/아래 등과 같은 방향 표시는 도면을 기준으로 한다.Here, a background technology related to the present disclosure is provided, and these do not necessarily mean a known technology (This section provides background information related to the present disclosure which is not necessarily prior art). In addition, in the present specification, direction indications such as top/bottom and top/bottom are based on the drawings.

도 1은 종래의 반도체 발광소자 칩의 일 예를 나타내는 도면이다.1 is a diagram illustrating an example of a conventional semiconductor light emitting device chip.

반도체 발광소자 칩은 성장기판(10; 예: 사파이어 기판), 성장기판(10) 위에, 버퍼층(20), 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층(30; 예: n형 GaN층), 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 활성층(40; 예; INGaN/(In)GaN MQWs), 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층(50; 예: p형 GaN층)이 순차로 증착되어 있으며, 그 위에 전류 확산을 위한 투광성 전도막(60)과, 패드로 역할하는 전극(70)이 형성되어 있고, 식각되어 노출된 제1 반도체층(30) 위에 패드로 역할하는 전극(80: 예: Cr/Ni/Au 적층 금속 패드)이 형성되어 있다. 도 1과 같은 형태의 반도체 발광소자를 특히 레터럴 칩(Lateral Chip)이라고 한다. 여기서, 성장기판(10) 측이 외부와 전기적으로 연결될 때 장착면이 된다. 본 명세서에서 반도체 발광소자 칩 또는 반도체 발광소자가 전기적으로 연결되는 외부는 PCB(Printed Circuit Board), 서브마운트, TFT(Thin Film Transistor) 등을 의미한다.The semiconductor light emitting device chip includes a growth substrate 10 (e.g., a sapphire substrate), a buffer layer 20 on the growth substrate 10, a first semiconductor layer 30 having a first conductivity (e.g., an n-type GaN layer), and electrons. An active layer 40 generating light through recombination of holes (eg: INGaN/(In)GaN MQWs), a second semiconductor layer 50 having a second conductivity different from the first conductivity (eg, a p-type GaN layer) sequentially A translucent conductive film 60 for current diffusion and an electrode 70 serving as a pad are formed thereon, and an electrode serving as a pad on the exposed first semiconductor layer 30 by etching ( 80: Example: Cr/Ni/Au laminated metal pad) is formed. The semiconductor light emitting device of the shape as shown in FIG. 1 is specifically referred to as a lateral chip. Here, when the growth substrate 10 side is electrically connected to the outside, it becomes a mounting surface. In the present specification, the semiconductor light emitting device chip or the exterior to which the semiconductor light emitting device is electrically connected means a printed circuit board (PCB), a submount, a thin film transistor (TFT), and the like.

도 2는 미국 등록특허공보 제7,262,436호에 제시된 반도체 발광소자 칩의 다른 예를 나타내는 도면이다. 설명의 편의를 위해 도면기호를 변경하였다.2 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device chip disclosed in US Patent Publication No. 7,262,436. For convenience of explanation, the reference numerals have been changed.

반도체 발광소자 칩은 성장기판(10), 성장기판(10) 위에, 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층(30), 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 활성층(40), 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층(50)이 순차로 증착되어 있으며, 그 위에 성장기판(10) 측으로 빛을 반사시키기 위한 3층으로 된 전극막(90, 91, 92)이 형성되어 있다. 제1 전극막(90)은 Ag 반사막, 제2 전극막(91)은 Ni 확산 방지막, 제3 전극막(92)은 Au 본딩층일 수 있다. 식각되어 노출된 제1 반도체층(30) 위에 패드로 기능하는 전극(80)이 형성되어 있다. 여기서, 전극막(92) 측이 외부와 전기적으로 연결될 때 장착면이 된다. 도 2와 같은 형태의 반도체 발광소자 칩을 특히 플립 칩(Flip Chip)이라고 한다. 도 2에 도시된 플립 칩의 경우 제1 반도체층(30) 위에 형성된 전극(80)이 제2 반도체층 위에 형성된 전극막(90, 91, 92)보다 낮은 높이에 있지만, 동일한 높이에 형성될 수 있도록 할 수도 있다. 여기서 높이의 기준은 성장기판(10)으로부터의 높이일 수 있다. The semiconductor light emitting device chip includes a growth substrate 10, a first semiconductor layer 30 having a first conductivity on the growth substrate 10, an active layer 40 generating light through recombination of electrons and holes, and a first conductivity. A second semiconductor layer 50 having a second conductivity different from that is sequentially deposited, and a three-layered electrode film 90, 91, 92 for reflecting light toward the growth substrate 10 is formed thereon. have. The first electrode layer 90 may be an Ag reflective layer, the second electrode layer 91 may be a Ni diffusion barrier layer, and the third electrode layer 92 may be an Au bonding layer. An electrode 80 serving as a pad is formed on the first semiconductor layer 30 exposed by etching. Here, when the electrode film 92 side is electrically connected to the outside, it becomes a mounting surface. The semiconductor light emitting device chip of the shape as shown in FIG. 2 is specifically referred to as a flip chip. In the case of the flip chip shown in FIG. 2, the electrode 80 formed on the first semiconductor layer 30 is at a lower height than the electrode films 90, 91, and 92 formed on the second semiconductor layer, but may be formed at the same height. You can also do it. Here, the standard of the height may be the height from the growth substrate 10.

도 3은 미국 등록특허공보 제8,008,683호에 제시된 반도체 발광소자 칩의 또 다른 예를 나타내는 도면이다. 설명의 편의를 위해 도면기호를 변경하였다.3 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device chip disclosed in US Patent Publication No. 8,008,683. For convenience of explanation, the reference numerals have been changed.

반도체 발광소자 칩은 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층(30), 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 활성층(40), 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층(50)이 순차로 형성되어 있으며, 성장 기판이 제거된 측에 형성된 상부 전극(31), 제2 반도체층(50)에 전류를 공급하는 한편 반도체층(30, 40, 50)을 지지하는 지지 기판(51), 그리고 지지 기판(51)에 형성된 하부 전극(52)을 포함한다. 상부 전극(31)은 와이어 본딩을 이용하여 외부와 전기적으로 연결된다. 하부 전극(52)측이 외부와 전기적으로 연결될 때 장착면으로 기능한다. 도 3과 같이 전극(31, 52)이 활성층(40)의 위 및 아래에 1개씩 있는 구조의 반도체 발광소자 칩을 수직 칩(Vertical Chip)이라 한다.The semiconductor light emitting device chip includes a first semiconductor layer 30 having a first conductivity, an active layer 40 generating light through recombination of electrons and holes, and a second semiconductor layer 50 having a second conductivity different from the first conductivity. ) Are sequentially formed, and supply current to the upper electrode 31 and the second semiconductor layer 50 formed on the side from which the growth substrate is removed, and a support substrate (for supporting the semiconductor layers 30, 40, 50) ( 51), and a lower electrode 52 formed on the support substrate 51. The upper electrode 31 is electrically connected to the outside using wire bonding. When the lower electrode 52 side is electrically connected to the outside, it functions as a mounting surface. As shown in FIG. 3, a semiconductor light emitting device chip having a structure in which one electrode 31 and 52 is disposed above and below the active layer 40 is referred to as a vertical chip.

도 4는 종래의 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면이다.4 is a diagram illustrating an example of a conventional semiconductor light emitting device.

반도체 발광소자(100)는 패드로 기능하는 리드 프레임(110, 120), 몰드(130), 그리고 캐비티(140) 내에 수직형 반도체 발광소자 칩(150; Vertical Type Light Emitting Chip)이 구비되어 있고, 캐비티(140)는 파장 변환재(160)를 함유하는 봉지제(170)로 채워져 있다. 수직형 반도체 발광소자 칩(150)의 하면이 리드 프레임(110)에 전기적으로 직접 연결되고, 상면이 와이어(180)에 의해 리드 프레임(120)에 전기적으로 연결되어 있다. 수직형 반도체 발광소자 칩(150)에서 나온 광의 일부가 파장 변환재(160)를 여기 시켜 다른 색의 광을 만들어 두 개의 서로 다른 광이 혼합되어 백색광을 만들 수 있다. 예를 들어 반도체 발광소자 칩(150)은 청색광을 만들고 파장 변환재(160)에 여기 되어 만들어진 광은 황색광이며, 청색광과 황색광이 혼합되어 백색광을 만들 수 있다. 도 4는 도 3에 도시된 수직형 반도체 발광소자 칩(150)을 사용한 반도체 발광소자를 보여주고 있지만, 도 1 및 도 2에 도시된 반도체 발광소자 칩을 사용하여 도 4와 같은 형태의 반도체 발광소자를 제조할 수도 있다. The semiconductor light emitting device 100 includes a lead frame 110 and 120 functioning as a pad, a mold 130, and a vertical type light emitting device chip 150 in the cavity 140, The cavity 140 is filled with an encapsulant 170 containing a wavelength converting material 160. The lower surface of the vertical semiconductor light emitting device chip 150 is electrically directly connected to the lead frame 110, and the upper surface is electrically connected to the lead frame 120 by a wire 180. Part of the light emitted from the vertical semiconductor light emitting device chip 150 excites the wavelength converter 160 to generate light of different colors, and two different lights may be mixed to produce white light. For example, the semiconductor light emitting device chip 150 produces blue light, and the light generated by excitation by the wavelength converter 160 is yellow light, and blue light and yellow light are mixed to produce white light. FIG. 4 shows a semiconductor light emitting device using the vertical semiconductor light emitting device chip 150 shown in FIG. 3, but using the semiconductor light emitting device chip shown in FIGS. 1 and 2 Devices can also be manufactured.

도 5는 일본 공개특허공보 제1995-288341호에 제시된 LED 디스플레이의 예를 나타내는 도면이다. 설명의 편의를 위해 도면기호를 변경하였다.5 is a diagram showing an example of an LED display disclosed in Japanese Laid-Open Patent Publication No. 1995-288341. For convenience of explanation, the reference numerals have been changed.

도 5는 LED 디스플레이에서 한 개의 픽셀(pixel) 구조를 나타내는 평면도(190)이다. 픽셀의 구조는 PCB 위에 형성된 전도체층(191)에 반도체 발광소자 칩(194, 195, 196)이 전기적으로 연결되어 있다. 청색을 발광하는 반도체 발광소자 칩(194)은 래터럴 칩으로 와이어 본딩을 통해 전도체층(191)과 전기적으로 연결되고 전도체층(191) 위에 절연성 접착제(193)로 접착되어 있다. 녹색과 적색을 발광하는 반도체 발광소자 칩(195, 196)은 수직 칩으로서 도전성 접착제(197) 및 와이어 본딩을 통해 전도체층(191)과 전기적으로 연결되어 있다. 그리고 인접한 다른 픽셀과 구분하기 위해서 커버부품(192)으로 둘러싸여 있다. 도면에는 도시하지 않았지만 반도체 발광소자 칩(194, 195, 196)을 보호하기 위해서 밀봉재가 반도체 발광소자 칩(194, 195, 196)을 덮고 있다.5 is a plan view 190 illustrating a single pixel structure in an LED display. In a pixel structure, semiconductor light emitting device chips 194, 195, and 196 are electrically connected to a conductor layer 191 formed on a PCB. The semiconductor light emitting device chip 194 emitting blue light is a lateral chip and is electrically connected to the conductor layer 191 through wire bonding, and is bonded to the conductor layer 191 with an insulating adhesive 193. The semiconductor light emitting device chips 195 and 196 emitting green and red light are vertical chips and are electrically connected to the conductor layer 191 through a conductive adhesive 197 and wire bonding. In addition, it is surrounded by a cover part 192 to distinguish it from other adjacent pixels. Although not shown in the drawing, a sealing material covers the semiconductor light emitting device chips 194, 195 and 196 to protect the semiconductor light emitting device chips 194, 195, and 196.

소형화 및 경량화 추세에 따라서 반도체 발광소자의 크기는 점점 소형화 되었다. 그런데 최대 변의 크기가 300um 이하의 크기를 갖는 미니 또는 마이크로 반도체 발광소자 칩을 사용한 반도체 발광소자는 패드의 크기 및 패드 사이의 간격이 작아지면서 쇼트 및 부착불량 등 SMT 공정에서 문제가 발생하였다. According to the trend of miniaturization and weight reduction, the size of semiconductor light emitting devices has gradually become smaller. However, in the case of a semiconductor light emitting device using a mini or micro semiconductor light emitting device chip having a size of 300 μm or less with a maximum side size, the size of the pad and the spacing between the pads decrease, causing problems in the SMT process such as short circuit and poor adhesion.

이에 본 개시는 미니 또는 마이크로 반도체 발광소자 칩을 사용한 반도체 발광소자에서 SMT 공정에서의 문제점을 해결하고 더 나아가 투명 디스플레이에 적합한 반도체 발광소자를 제공하고자 한다.Accordingly, the present disclosure is to solve the problems in the SMT process in a semiconductor light emitting device using a mini or micro semiconductor light emitting device chip, and furthermore, to provide a semiconductor light emitting device suitable for a transparent display.

이에 대하여 '발명의 실시를 위한 구체적인 내용'의 후단에 기술한다.This will be described later in the'Specific Contents for the Implementation of the Invention'.

여기서는, 본 개시의 전체적인 요약(Summary)이 제공되며, 이것이 본 개시의 외연을 제한하는 것으로 이해되어서는 아니된다(This section provides a general summary of the disclosure and is not a comprehensive disclosure of its full scope or all of its features).Here, a summary of the present disclosure is provided, and this section provides a general summary of the disclosure and is not a comprehensive disclosure of its full scope or all of its features).

본 개시에 따른 일 측면에 의하면(According to one aspect of the present disclosure), 반도체 발광소자에 있어서, 복수의 전극을 포함하는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩; 평면상에서 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극과 일정거리 떨어져 복수의 전극과 각각 대응되는 복수의 패드; 복수의 패드와 동일평면상에 구비되며, 복수의 패드와 복수의 전극 사이를 각각 전기적으로 연결하는 전기적 연결; 그리고, 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 덮는 봉지재;를 포함하는 반도체 발광소자가 제공된다.According to an aspect of the present disclosure, there is provided a semiconductor light emitting device comprising: at least one semiconductor light emitting device chip including a plurality of electrodes; A plurality of pads respectively corresponding to the plurality of electrodes apart from a plurality of electrodes of at least one semiconductor light emitting device chip on a plane; An electrical connection provided on the same plane as the plurality of pads and electrically connecting the plurality of pads and the plurality of electrodes, respectively; And, there is provided a semiconductor light emitting device including; an encapsulant covering at least one semiconductor light emitting device chip.

본 개시에 따른 다른 측면에 의하면(According to another aspect of the present disclosure), 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 포함하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법에 있어서, 기판을 준비하는 단계; 기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 구비하는 단계; 기판과 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 위에 봉지재를 구비하는 단계; 기판을 제거하는 단계; 그리고, 봉지재에 반도체 발광소자 칩과 일정거리 떨어진 패드 및 패드와 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 사이를 연결하는 전기적 연결을 형성하는 단계;를 포함하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법이 제공된다.According to another aspect of the present disclosure, there is provided a method of manufacturing a semiconductor light emitting device including at least one semiconductor light emitting device chip, the method comprising: preparing a substrate; Providing at least one semiconductor light emitting device chip on a substrate; Providing an encapsulant on the substrate and at least one semiconductor light emitting device chip; Removing the substrate; And, there is provided a method of manufacturing a semiconductor light emitting device comprising; forming an electrical connection between the pad and at least one or more semiconductor light emitting device chips and a pad spaced apart from the semiconductor light emitting device chip in the encapsulant.

본 개시에 따른 또 다른 측면에 의하면(According to another aspect of the present disclosure), 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 포함하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법에 있어서, 기판을 준비하는 단계; 기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩과 일정거리 떨어진 복수의 패드 및 복수의 패드와 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 사이를 연결하는 전기적 연결을 형성하는 단계; 기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 구비하는 단계; 기판과 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 위에 봉지재를 구비하는 단계; 그리고, 기판을 제거하는 단계;를 포함하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법이 제공된다.According to another aspect of the present disclosure, there is provided a method of manufacturing a semiconductor light emitting device including at least one semiconductor light emitting device chip, comprising: preparing a substrate; Forming a plurality of pads spaced apart from at least one semiconductor light emitting device chip at a predetermined distance on a substrate and an electrical connection connecting the plurality of pads to at least one semiconductor light emitting device chip; Providing at least one semiconductor light emitting device chip on a substrate; Providing an encapsulant on the substrate and at least one semiconductor light emitting device chip; And, there is provided a method for manufacturing a semiconductor light emitting device comprising; removing the substrate.

이에 대하여 '발명의 실시를 위한 구체적인 내용'의 후단에 기술한다.This will be described later in the'Specific Contents for the Implementation of the Invention'.

도 1은 종래의 반도체 발광소자 칩의 일 예를 나타내는 도면,
도 2는 미국 등록특허공보 제7,262,436호에 제시된 반도체 발광소자 칩의 다른 예를 나타내는 도면,
도 3은 미국 등록특허공보 제8,008,683호에 제시된 반도체 발광소자 칩의 또 다른 예를 나타내는 도면,
도 4는 종래의 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면,
도 5는 일본 공개특허공보 제1995-288341호에 제시된 LED 디스플레이의 예를 나타내는 도면,
도 6은 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면,
도 7은 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 다른 예를 나타내는 도면,
도 8은 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 또 다른 예들을 나타내는 도면,
도 9는 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 또 다른 예들을 나타내는 도면,
도 10은 도 9(b)의 A를 자세하게 설명하는 도면,
도 11은 본 개시에 따른 패턴의 예들을 나타내는 도면,
도 12는 본 개시에 따른 반도체 발광소자를 제조하는 방법의 일 예를 나타내는 도면,
도 13은 본 개시에 따른 반도체 발광소자를 제조하는 방법의 다른 예를 나타내는 도면,
도 14는 본 개시에 따른 제너다이오드를 설명하는 도면,
도 15는 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 또 다른 예를 나타내는 도면.
1 is a diagram showing an example of a conventional semiconductor light emitting device chip;
2 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device chip disclosed in US Patent Publication No. 7,262,436;
3 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device chip proposed in US Patent Publication No. 8,008,683;
4 is a view showing an example of a conventional semiconductor light emitting device;
5 is a view showing an example of the LED display disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 1995-288341,
6 is a view showing an example of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure;
7 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure;
8 is a view showing still another example of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure;
9 is a view showing still another example of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure;
Fig. 10 is a diagram explaining in detail A in Fig. 9(b);
11 is a diagram illustrating examples of patterns according to the present disclosure;
12 is a diagram illustrating an example of a method of manufacturing a semiconductor light emitting device according to the present disclosure;
13 is a view showing another example of a method of manufacturing a semiconductor light emitting device according to the present disclosure;
14 is a diagram illustrating a Zener diode according to the present disclosure;
15 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure.

이하, 본 개시를 첨부된 도면을 참고로 하여 자세하게 설명한다(The present disclosure will now be described in detail with reference to the accompanying drawing(s)). Hereinafter, the present disclosure will now be described in detail with reference to the accompanying drawing(s)).

도 6은 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면이다.6 is a diagram illustrating an example of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure.

도 6(a)는 반도체 발광소자(100)의 평면도이며, 도 6(b)는 도 6(a)의 AA' 단면을 나타낸다.FIG. 6(a) is a plan view of the semiconductor light emitting device 100, and FIG. 6(b) shows a cross-section AA′ of FIG. 6(a).

반도체 발광소자(100)는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110), 복수의 패드(121), 전기적 연결(123) 및 봉지재(150)를 포함한다. The semiconductor light emitting device 100 includes at least one semiconductor light emitting device chip 110, a plurality of pads 121, an electrical connection 123, and an encapsulant 150.

적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)은 복수의 전극(111)을 포함한다.At least one semiconductor light emitting device chip 110 includes a plurality of electrodes 111.

복수의 패드(121)는 평면상에서 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)과 일정거리 떨어져 형성된다. 반도체 발광소자(100)는 패드(121)를 통해 직접 외부와 전기적으로 연결된다.The plurality of pads 121 are formed at a predetermined distance away from the at least one semiconductor light emitting device chip 110 on a plane. The semiconductor light emitting device 100 is directly electrically connected to the outside through the pad 121.

복수의 패드(121)는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110) 아래에 구비되지 않는다. 즉, 복수의 패드(121)와 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110) 사이에 일정거리가 형성된다. 복수의 패드(121)와 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110) 사이에 일정거리를 형성하여 패드(121)의 크기를 키울 수 있고 패드(121) 사이의 간격을 넓혀 SMT(표면실장기술: Surface Mounted Technology) 공정에서 쇼트 및 부착불량 등의 문제를 해결하였다. 또한 반도체 발광소자(100)를 구성하는 소자 중 패드(121) 및 반도체 발광소자 칩(110)과 같이 일정한 면적을 차지하는 소자가 밀집되지 않고 떨어져 구비되어 투명 디스플레이에 적용하는 경우 반도체 발광소자(100)가 눈에 잘 띄지 않게 할 수 있다. 더 나아가, 패드(121)와 반도체 발광소자 칩(110) 사이의 간격을 통해 빛이 나갈 수 있어 6면 발광이 가능하다. 이때, 복수의 패드(121)는 복수의 전극(111)과 각각 대응된다.The plurality of pads 121 are not provided under the at least one semiconductor light emitting device chip 110. That is, a predetermined distance is formed between the plurality of pads 121 and at least one semiconductor light emitting device chip 110. By forming a predetermined distance between the plurality of pads 121 and at least one semiconductor light emitting device chip 110, the size of the pads 121 can be increased, and the spacing between the pads 121 is widened to increase the SMT (Surface Mounting Technology). Mounted Technology) in the process, solved problems such as short circuit and poor adhesion. In addition, when elements occupying a certain area, such as the pad 121 and the semiconductor light emitting device chip 110, among the devices constituting the semiconductor light emitting device 100 are provided apart from each other without being concentrated and applied to a transparent display, the semiconductor light emitting device 100 Can be made inconspicuous. Furthermore, since light can be emitted through the gap between the pad 121 and the semiconductor light emitting device chip 110, 6-sided light emission is possible. In this case, the plurality of pads 121 correspond to the plurality of electrodes 111, respectively.

전기적 연결(123)은 복수의 패드(121)와 복수의 전극(111) 사이에 구비된다. 전기적 연결(123)은 복수의 패드(121)와 복수의 전극(111) 사이를 전기적으로 연결한다. 특히 전기적 연결(123)은 패드(121)와 동일한 평면에 형성될 수 있다.The electrical connection 123 is provided between the plurality of pads 121 and the plurality of electrodes 111. The electrical connection 123 electrically connects the plurality of pads 121 and the plurality of electrodes 111. In particular, the electrical connection 123 may be formed on the same plane as the pad 121.

전기적 연결(123)은 도 6(a)에서는 하나의 선으로 형성된다. 전기적 연결(123)이 하나의 선으로 형성되는 경우 전기적 연결(123)이 끊어지면 반도체 발광소자 칩(110)을 구동시킬 수 없는 문제점이 생길 수 있으며 이의 해결방안은 도 7에서 설명한다.The electrical connection 123 is formed as a single line in FIG. 6A. When the electrical connection 123 is formed with a single line, a problem in that the semiconductor light emitting device chip 110 cannot be driven may occur when the electrical connection 123 is disconnected, and a solution thereof will be described in FIG. 7.

봉지재(150)는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)을 덮는다. 투광성의 봉지재(150)와 반도체 발광소자 칩(110)과 패드(121)가 일정 간격 떨어져 형성되어 본 개시는 6면 발광이 가능한 반도체 발광소자가 될 수 있다. 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)이 봉지재(150)로부터 돌출될 수 있다. 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)이 봉지재(150) 내에 형성되는 경우는 도 7에서 설명한다.The encapsulant 150 covers at least one semiconductor light emitting device chip 110. The light-transmitting encapsulant 150, the semiconductor light emitting device chip 110, and the pad 121 are formed at predetermined intervals, so that the present disclosure may be a semiconductor light emitting device capable of emitting six-sided light. A plurality of pads 121 and electrical connections 123 may protrude from the encapsulant 150. A case in which the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 are formed in the encapsulant 150 will be described with reference to FIG. 7.

패드(121)의 크기는 반도체 발광소자 칩(110)의 크기보다 크고 패드(121)와 반도체 발광소자 칩(110) 사이의 일정 거리는 반도체 발광소자 칩(110)의 크기보다 큰 것이 바람직하다. 예를 들면, 하나의 반도체 발광소자 칩(110)의 크기는 최대 변의 크기가 300um이하의 미니 또는 마이크로 반도체 발광소자 칩이며, 하나의 패드(121)의 크기는 최대 변의 크기가 100um 이상이며, 하나의 패드(121)와 하나의 반도체 발광소자 칩(110) 사이의 거리는 최대 변의 크기가 150um 이상이며, 반도체 발광소자(100)의 크기는 최대 변의 크기가 300um 이상이다.It is preferable that the size of the pad 121 is larger than the size of the semiconductor light emitting device chip 110 and a predetermined distance between the pad 121 and the semiconductor light emitting device chip 110 is larger than the size of the semiconductor light emitting device chip 110. For example, the size of one semiconductor light emitting device chip 110 is a mini or micro semiconductor light emitting device chip having a maximum side size of 300 μm or less, and the size of one pad 121 is a maximum side size of 100 μm or more, and one The maximum side size of the distance between the pad 121 and one semiconductor light emitting device chip 110 is 150 μm or more, and the size of the semiconductor light emitting device 100 is 300 μm or more.

도 7은 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 다른 예를 나타내는 도면이다.7 is a diagram illustrating another example of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure.

도 7(a)는 반도체 발광소자(100)의 평면도를 나타낸 도면이며, 도 7(b)는 도 7(a)의 반도체 발광소자(100)의 단면을 나타낸 도면이다.7(a) is a view showing a plan view of the semiconductor light emitting device 100, and FIG. 7(b) is a view showing a cross section of the semiconductor light emitting device 100 of FIG. 7(a).

전기적 연결(123)은 복수의 패드(121)와 복수의 전극(111) 사이에 각각 복수의 경로를 형성한다. 복수의 경로를 통해서 복수의 패드(121)와 복수의 전극(111) 사이가 전기적으로 연결되기 때문에 하나의 경로가 단절되더라도 나머지 경로로 복수의 패드(121)와 복수의 전극(111) 사이는 전기적으로 연결된다. 따라서, 도 6(a)와 같이 하나의 선만 있는 경우에는 하나의 선이 단선되면 반도체 발광소자가 작동이 되지 않지만, 하나의 선이 단선되더라도 복수의 패드(121)와 복수의 전극(111) 사이에 전기적 연결(123)의 복수의 경로 중 하나라도 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 전기적 연결(123)이 밀집되지 않고 얇고 넓게 퍼지게 되므로 반도체 발광소자(100)의 뒷면이 더 잘 보이게 된다.The electrical connection 123 forms a plurality of paths between the plurality of pads 121 and the plurality of electrodes 111, respectively. Since the plurality of pads 121 and the plurality of electrodes 111 are electrically connected through a plurality of paths, even if one path is disconnected, the plurality of pads 121 and the plurality of electrodes 111 are electrically connected through the remaining paths. It is connected by Therefore, if there is only one line as shown in FIG. 6(a), the semiconductor light emitting device does not operate when one line is disconnected, but even if one line is disconnected, between the plurality of pads 121 and the plurality of electrodes 111 Any one of a plurality of paths of the electrical connection 123 may be electrically connected to. In addition, since the electrical connection 123 is not concentrated and spreads thin and wide, the back side of the semiconductor light emitting device 100 is more visible.

봉지재(150)가 전기적 연결(123)을 덮고 있으며 전기적 연결(123)의 적어도 일부분이 노출될 수 있다. 봉지재(150)가 복수의 패드(121)를 덮고 적어도 패드의 일부분이 노출될 수 있다. The encapsulant 150 covers the electrical connection 123 and at least a portion of the electrical connection 123 may be exposed. The encapsulant 150 may cover the plurality of pads 121 and at least a portion of the pads may be exposed.

제너다이오드(130)는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)에 걸리는 역전압을 방지하기 위해 구비된다. 제너다이오드(130)는 반도체 발광소자 칩(110)과 병렬 연결되며, 반도체 발광소자 칩(110)에 역전압이 걸렸을 때, 제너다이오드(130)로 전류가 흐르도록하여 반도체 발광소자 칩(110)을 보호한다. Zener diode 130 is provided to prevent reverse voltage applied to at least one semiconductor light emitting device chip 110. The Zener diode 130 is connected in parallel with the semiconductor light emitting device chip 110, and when a reverse voltage is applied to the semiconductor light emitting device chip 110, a current flows through the Zener diode 130 so that the semiconductor light emitting device chip 110 Protect.

그리고, 제너다이오드(130)는 복수의 제너전극(131)을 가지며, 복수의 제너전극(131) 중 하나는 복수의 패드(121) 중 대응되는 하나의 패드(121) 위에 접촉되고, 복수의 제너전극(131) 중 다른 제너전극(131)은 대응되는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)과 역병렬로 연결되도록 전기적으로 연결된다. 이때, 복수의 제너전극(131) 중 하나의 제너전극(131)은 반도체 발광소자 칩(110)의 복수의 전극(121) 중 하나와 연결될 수 있고 복수의 패드(121) 중 하나에 연결되거나, 전기적 연결(123)에 연결될 수 있다. 제너다이오드(130)는 도 14에서 자세히 설명하도록 한다.In addition, the zener diode 130 has a plurality of zener electrodes 131, one of the plurality of zener electrodes 131 is in contact with a corresponding one of the plurality of pads 121, and a plurality of zener electrodes 131 The other Zener electrode 131 of the electrodes 131 is electrically connected to be connected to the corresponding at least one semiconductor light emitting device chip 110 in reverse parallel. At this time, one of the plurality of zener electrodes 131 may be connected to one of the plurality of electrodes 121 of the semiconductor light emitting device chip 110 and may be connected to one of the plurality of pads 121, or It may be connected to the electrical connection 123. The Zener diode 130 will be described in detail in FIG. 14.

도 8은 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 또 다른 예들을 나타내는 도면이다.8 is a diagram illustrating still other examples of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure.

도 8(a)는 전기적 연결(123)이 복수의 패드(121)와 복수의 전극(111) 사이에 복수의 경로가 형성된 일 예이다.8A illustrates an example in which a plurality of paths are formed between the plurality of pads 121 and the plurality of electrodes 111 in the electrical connection 123.

도 8(b)는 전기적 연결(123)이 네트형으로 형성된 일 예이다. 전기적 연결(123)의 패턴은 육각형으로서 벌집모양으로 형성된 일 예이다. 패턴이 일정한 크기로 형성된 예이다. 네트형은 반도체 발광소자(100)의 뒷면이 더 잘 보이게 된다.8(b) shows an example in which the electrical connection 123 is formed in a net shape. The pattern of the electrical connection 123 is hexagonal and is an example formed in a honeycomb shape. This is an example in which the pattern is formed in a certain size. In the net type, the back side of the semiconductor light emitting device 100 is more visible.

도 9는 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 또 다른 예들을 나타내는 도면이다.9 is a diagram illustrating still other examples of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure.

도 9(a)는 본 개시에 따른 복수의 반도체 발광소자 칩(110)을 포함하는 반도체 발광소자(100)의 일 예를 나타내는 도면이다.9A is a diagram illustrating an example of a semiconductor light emitting device 100 including a plurality of semiconductor light emitting device chips 110 according to the present disclosure.

적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)은 제1 전극(111-1)과 제2 전극(111-2)을 포함하는 제1 반도체 발광소자 칩(110), 제3 전극(111-3)과 제4 전극(111-4)을 포함하는 제2 반도체 발광소자 칩(110) 및 제5 전극(111-5)과 제6 전극(111-6)을 포함하는 제3 반도체 발광소자 칩(110)을 포함할 수 있다. 하나의 반도체 발광소자 칩(110)의 제1 전극(111-1)과 제2 전극(111-2)은 서로 다른 극성을 가진다. 예를 들면, 제1 반도체 발광소자 칩(110)의 제1 전극(111-1)은 -전극이고, 제2 전극(111-2)은 +전극일 수 있다. 제2 반도체 발광소자 칩(110)의 제3 전극(111-3)은 -전극이고, 제4 전극(111-4)은 +전극일 수 있다. 제3 반도체 발광소자 칩(110)의 제5 전극(111-5)은 -전극이고, 제6 전극(111-6)은 +전극일 수 있다.At least one semiconductor light emitting device chip 110 includes a first semiconductor light emitting device chip 110 and a third electrode 111-3 including a first electrode 111-1 and a second electrode 111-2 The second semiconductor light emitting device chip 110 including the fourth electrode 111-4 and the third semiconductor light emitting device chip 110 including the fifth electrode 111-5 and the sixth electrode 111-6 It may include. The first electrode 111-1 and the second electrode 111-2 of one semiconductor light emitting device chip 110 have different polarities. For example, the first electrode 111-1 of the first semiconductor light emitting device chip 110 may be a-electrode, and the second electrode 111-2 may be a + electrode. The third electrode 111-3 of the second semiconductor light emitting device chip 110 may be a-electrode, and the fourth electrode 111-4 may be a + electrode. The fifth electrode 111-5 of the third semiconductor light emitting device chip 110 may be a-electrode, and the sixth electrode 111-6 may be a + electrode.

복수의 패드(121)는 제1 패드(121-1), 제2 패드(121-2), 제3 패드(121-3) 및 제4 패드(121-4)를 포함한다. 제1 패드(121-1)는 제1 전극(111-1), 제3 전극(111-3), 및 제5 전극(111-5)과 전기적으로 연결된다. 제2 패드(121-2)는 제2 전극(111-2)과 전기적으로 연결된다. 제3 패드(121-3)는 제4 전극(111-4)과 연결된다. 제4 패드(121-4)는 제6 전극(111-6)과 연결된다. 제1 패드(121-1)와 제2 패드(121-2), 제3 패드(121-3), 제4 패드(121-4)는 극성이 서로 다르게 형성될 수 있다. 제2 패드(121-2), 제3 패드(121-3) 및 제4 패드(121-4)는 극성이 같지만 제1 반도체 발광소자 칩(110), 제2 반도체 발광소자 칩(110) 및 제3 반도체 발광소자 칩(110)의 ON/OFF를 각각 제어하기 위해 분리되어 형성된다.The plurality of pads 121 includes a first pad 121-1, a second pad 121-2, a third pad 121-3 and a fourth pad 121-4. The first pad 121-1 is electrically connected to the first electrode 111-1, the third electrode 111-3, and the fifth electrode 111-5. The second pad 121-2 is electrically connected to the second electrode 111-2. The third pad 121-3 is connected to the fourth electrode 111-4. The fourth pad 121-4 is connected to the sixth electrode 111-6. The first pad 121-1, the second pad 121-2, the third pad 121-3, and the fourth pad 121-4 may have different polarities. The second pad 121-2, the third pad 121-3, and the fourth pad 121-4 have the same polarity, but the first semiconductor light emitting device chip 110, the second semiconductor light emitting device chip 110, and They are formed separately to control ON/OFF of the third semiconductor light emitting device chip 110, respectively.

전기적 연결(123)은 제1 전기적 연결(123-1), 제2 전기적 연결(123-2), 제3 전기적 연결(123-3) 및 제4 전기적 연결(123-4)을 포함한다. 제1 전기적 연결(123-1)은 제1 패드(121-1)와 제1 전극(111-1), 제3 전극(111-3) 및 제5 전극(111-5) 사이를 전기적으로 연결한다. 제2 전기적 연결(123-2)은 제2 패드(121-2)와 제2 전극(111-2) 사이를 전기적으로 연결한다. 제3 전기적 연결(123-3)은 제3 패드(121-3)와 제4 전극(111-4) 사이를 전기적으로 연결한다. 제4 전기적 연결(123-4)은 제4 패드(121-4)와 제6 전극(111-6) 사이를 전기적으로 연결한다.The electrical connection 123 includes a first electrical connection 123-1, a second electrical connection 123-2, a third electrical connection 123-3, and a fourth electrical connection 123-4. The first electrical connection 123-1 electrically connects the first pad 121-1, the first electrode 111-1, the third electrode 111-3, and the fifth electrode 111-5 do. The second electrical connection 123-2 electrically connects the second pad 121-2 and the second electrode 111-2. The third electrical connection 123-3 electrically connects the third pad 121-3 and the fourth electrode 111-4. The fourth electrical connection 123-4 electrically connects the fourth pad 121-4 and the sixth electrode 111-6.

복수의 반도체 발광소자 칩(110)은 백색광을 내거나 여러 가지 색을 내기 위해서 여러 가지 조합으로 ON/OFF 될 수 있다. 복수의 반도체 발광소자 칩(110)은 가운데에 모여서 반도체 발광소자(100)에 구비되며, 하나의 반도체 발광소자 칩(110;110-1,110-2,110-3)과 하나의 패드(121;121-1,121-2,121-3) 사이에는 일정거리가 형성될 수 있다.The plurality of semiconductor light emitting device chips 110 may be turned on/off in various combinations in order to emit white light or various colors. A plurality of semiconductor light emitting device chips 110 are gathered in the center and provided in the semiconductor light emitting device 100, one semiconductor light emitting device chip 110; 110-1, 110-2, 110-3 and one pad 121; 121-1, 121 A certain distance may be formed between -2,121-3).

복수의 반도체 발광소자 칩(110)은 색이 잘 섞여서 하나의 화소를 구성해야 하기 때문에 복수의 반도체 발광소자 칩(110)이 반도체 발광소자(100)의 중앙에 구비될 수 밖에 없다. 복수의 반도체 발광소자 칩(110) 아래에 복수의 패드(121)가 구비되고, 복수의 패드(121)가 SMT 공정에 들어가게 되면 가까운 복수의 패드(121)가 쇼트 될 수 있는 문제가 생길 수 있다. 따라서 복수의 패드(121)와 반도체 발광소자 칩(110) 사이에 전기적 연결(123)을 하는 것을 특징으로 하는 본 개시는 도 9와 같이 복수의 미니 또는 마이크로 반도체 발광소자 칩(110)을 중앙에 모아서 배치하는 경우 더 효과적이다.Since the plurality of semiconductor light emitting device chips 110 are well-mixed to form one pixel, the plurality of semiconductor light emitting device chips 110 must be provided in the center of the semiconductor light emitting device 100. If a plurality of pads 121 are provided under the plurality of semiconductor light emitting device chips 110 and the plurality of pads 121 enter the SMT process, a problem in that a plurality of nearby pads 121 may be shorted may occur. . Accordingly, the present disclosure, characterized in that the electrical connection 123 is made between the plurality of pads 121 and the semiconductor light emitting device chip 110, includes a plurality of mini or micro semiconductor light emitting device chips 110 in the center as shown in FIG. It is more effective if you put them together.

도 9(b)는 본 개시에 따른 복수의 반도체 발광소자 칩(110)을 포함하는 반도체 발광소자(100)의 다른 예를 나타내는 도면이다.9B is a diagram illustrating another example of a semiconductor light emitting device 100 including a plurality of semiconductor light emitting device chips 110 according to the present disclosure.

도 9(a)에서 설명한 하나의 선으로 형성된 전기적 연결(123)은 끊어지는 문제점을 해결하기 위해서 네트형으로 형성할 수 있다. 전기적 연결(123)은 더 얇게 형성되고 전기적 연결(123)이 형성되는 총 면적은 넓게 형성된다. 도 7에서 설명한 바와 같이 전기적 연결(123)은 복수의 패드(121)와 복수의 전극(111) 사이에 복수의 경로가 형성되어 얇은 전기적 연결(123)의 일부가 단선되더라도 연결된 경로가 존재할 확률이 높아진다. 따라서 반도체 발광소자 칩(110)에 전기가 통하지 않을 확률이 낮아진다.The electrical connection 123 formed of a single line described in FIG. 9A may be formed in a net shape to solve the problem of being disconnected. The electrical connection 123 is formed thinner and the total area in which the electrical connection 123 is formed is formed wider. As described in FIG. 7, in the electrical connection 123, a plurality of paths are formed between the plurality of pads 121 and the plurality of electrodes 111, so that even if a part of the thin electrical connection 123 is disconnected, there is a probability that a connected path exists. It gets higher. Therefore, the probability that electricity does not pass through the semiconductor light emitting device chip 110 is lowered.

전기적 연결(123)은 일정한 패턴을 가지도록 형성될 수 있다. 전기적 연결(123)은 네트형으로 형성될 수 있다. 복수의 패드(121) 또는 복수의 전극(111)에 접촉되는 전기적 연결(123)의 패턴의 크기가 복수의 패드(121) 또는 복수의 전극(111)에 접촉되지 않는 패턴의 크기보다 작게 형성된다. 자세한 이유는 도 10에서 설명한다.The electrical connection 123 may be formed to have a certain pattern. The electrical connection 123 may be formed in a net shape. The size of the pattern of the electrical connection 123 contacting the plurality of pads 121 or the plurality of electrodes 111 is smaller than the size of the pattern not contacting the plurality of pads 121 or the plurality of electrodes 111 . The detailed reason will be described in FIG. 10.

제1 전기적 연결(123-1) 내지 제4 전기적 연결(123-4)은 네트형으로 형성된다. 네트형은 패턴이 복수 개 연결되어 형성된다. 패턴은 도형으로 형성될 수 있으며, 패턴의 예들은 도 11에서 설명한다. 제1 전기적 연결(123-1) 내지 제4 전기적 연결(123-4)을 네트형으로 형성하는 것은 투명 디스플레이에서 반도체 발광소자(100)가 사용되는 경우, 도 9(a)의 전기적 연결(123)보다 얇은 선으로 넓게 퍼져 있으므로, 도 9(a)의 반도체 발광소자(100) 뒷면 보다 도 9(b)의 반도체 발광소자(100)의 뒷면이 더 잘 보일 수 있다.The first electrical connection 123-1 to the fourth electrical connection 123-4 are formed in a net shape. The net type is formed by connecting a plurality of patterns. The pattern may be formed as a figure, and examples of the pattern will be described in FIG. 11. Forming the first electrical connection 123-1 to the fourth electrical connection 123-4 in a net shape is the electrical connection 123 of FIG. 9(a) when the semiconductor light emitting device 100 is used in a transparent display. ), the back side of the semiconductor light emitting device 100 of FIG. 9(b) may be more visible than the back side of the semiconductor light emitting device 100 of FIG. 9(a).

도 10은 도 9(b)의 A를 자세하게 설명하는 도면이다.Fig. 10 is a diagram explaining in detail A in Fig. 9B.

제3 패드(121-3)와 제4 전극(111-4) 사이에는 제3 전기적 연결(123-3)이 위치한다. 제3 전기적 연결(123-3) 중 제3 패드(121-3)와 제4 전극(111-4)에 접촉하는 패턴(a)의 크기는 작아진다. 왜냐하면 제3 패드(121-3)와 제4 전극(111-4)에 접촉하는 패턴(a)의 크기가 작아져야 더 많은 경로가 형성될 수 있기 때문이다. 제3 패드(121-3)와 제4 전극(111-4)에 닿을 수 있는 제3 전기적 연결(123-3)의 면적은 한정되어 있기 때문에 더 많은 경로를 형성하기 위해 제3 패드(121-3)와 제3 전극(111-3)에 접촉하는 패턴(a)의 크기를 접촉하지 않는 패턴 (b)보다 작게 형성할 수 있다. 따라서 제1 패드(121-1)와 제3 전극(111-3) 사이의 제3 전기적 연결(123-3)이 단선되는 확률을 낮출 수 있고, 하나의 크기를 가지는 패턴으로 형성하는 것보다 전기적 연결(121)에 복수의 경로가 형성될 수 있게 된다.A third electrical connection 123-3 is positioned between the third pad 121-3 and the fourth electrode 111-4. Among the third electrical connections 123-3, the size of the pattern a contacting the third pad 121-3 and the fourth electrode 111-4 is reduced. This is because more paths can be formed only when the size of the pattern (a) contacting the third pad 121-3 and the fourth electrode 111-4 is reduced. Since the area of the third electrical connection 123-3 that can reach the third pad 121-3 and the fourth electrode 111-4 is limited, the third pad 121- The size of the pattern (a) in contact with 3) and the third electrode 111-3 may be formed to be smaller than that of the non-contact pattern (b). Therefore, the probability that the third electrical connection 123-3 between the first pad 121-1 and the third electrode 111-3 is disconnected can be lowered, and more electrical than forming a pattern having one size A plurality of paths may be formed in the connection 121.

도 11은 본 개시에 따른 패턴의 예들을 나타내는 도면이다.11 is a diagram illustrating examples of patterns according to the present disclosure.

패턴은 다양한 도형으로 형성될 수 있다. 도 11(a)(b)와 같이 다양한 사각형, 도 11(c)와 같이 육각형 도 11(d)와 같이 원형 및 도 11(e)와 같이 삼각형으로 형성될 수 있다. 패턴의 모양은 도시된 도면으로 한정되지 않는다.The pattern can be formed in various shapes. It may be formed in a variety of squares as shown in FIG. 11(a)(b), a hexagonal shape as in FIG. 11(c), a circle as in FIG. 11(d), and a triangle as in FIG. The shape of the pattern is not limited to the illustrated drawings.

도 12는 본 개시에 따른 반도체 발광소자를 제조하는 방법의 일 예를 나타내는 도면이다.12 is a diagram illustrating an example of a method of manufacturing a semiconductor light emitting device according to the present disclosure.

적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)을 포함하는 반도체 발광소자(100)를 제조하는 방법에 있어서, 먼저, 도 12(a)와 같이 기판(140)을 준비한다. 기판(140)은 이후에 반도체 발광소자 칩(110)이 임시로 고정되며, 예를 들면, 실리콘 테이프 등일 수 있다. 기판(140)은 반도체 발광소자 칩(110)과 전기적으로 연결되지 않는다.In the method of manufacturing a semiconductor light emitting device 100 including at least one semiconductor light emitting device chip 110, first, a substrate 140 is prepared as shown in FIG. 12(a). The substrate 140 is then temporarily fixed to the semiconductor light emitting device chip 110, and may be, for example, a silicon tape. The substrate 140 is not electrically connected to the semiconductor light emitting device chip 110.

이후, 도 12(b)와 같이 기판(140) 위에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)을 구비한다. 이때, 도시하지는 않았지만 제너다이오드(130;도 7 참조)가 기판(140) 위에 구비될 수 있다. 제너다이오드(130)는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)과 대응되도록 구비되며, 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)으로부터 일정거리 떨어지도록 제너다이오드(130)를 구비할 수 있다.Thereafter, at least one semiconductor light emitting device chip 110 is provided on the substrate 140 as shown in FIG. 12(b). In this case, although not shown, a zener diode 130 (refer to FIG. 7) may be provided on the substrate 140. The Zener diode 130 may be provided to correspond to at least one semiconductor light emitting device chip 110 and may include a Zener diode 130 to be separated from the at least one semiconductor light emitting device chip 110 by a predetermined distance.

이후, 도 12(c)와 같이 기판(140)과 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110) 위에 봉지재(150)를 구비한다. 기판(140) 위에 봉지재(150)를 덮어서 반도체 발광소자 칩(110)이 고정되도록 할 수 있다. Thereafter, the encapsulant 150 is provided on the substrate 140 and at least one semiconductor light emitting device chip 110 as shown in FIG. 12C. The semiconductor light emitting device chip 110 may be fixed by covering the encapsulant 150 on the substrate 140.

이후, 도 12(d)과 같이 기판(140)을 제거한다. 임시로 반도체 발광소자 칩(110)을 고정하기 위한 구성이므로 이를 제거할 수 있다. Thereafter, the substrate 140 is removed as shown in FIG. 12(d). Since it is a configuration for temporarily fixing the semiconductor light emitting device chip 110, it can be removed.

이후, 도 12(e)와 같이 봉지재(150)에 반도체 발광소자 칩(110)과 일정거리 떨어진 복수의 패드(121) 및 복수의 패드(121)와 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110) 사이를 연결하는 전기적 연결(123)을 형성한다. 봉지재(150)가 형성된 후 반도체 발광소자 칩(110)과 봉지재(150) 아래에 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)이 형성되므로 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)은 봉지재(150)로부터 돌출된다. 봉지재(150)의 일면에 증착 등과 같은 방법으로 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)을 형성하기 때문에 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)은 동일 평면상에 구비된다.Thereafter, as shown in FIG. 12(e), a plurality of pads 121 and a plurality of pads 121 and at least one or more semiconductor light emitting device chips 110 separated from the semiconductor light emitting device chip 110 in the encapsulant 150 An electrical connection 123 is formed between them. After the encapsulant 150 is formed, a plurality of pads 121 and electrical connections 123 are formed under the semiconductor light emitting device chip 110 and the encapsulant 150, so a plurality of pads 121 and electrical connections 123 Silver protrudes from the encapsulant 150. Since the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 are formed on one surface of the encapsulant 150 by a method such as vapor deposition, the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 are provided on the same plane.

도 13은 본 개시에 따른 반도체 발광소자를 제조하는 방법의 다른 예를 나타내는 도면이다. 13 is a diagram illustrating another example of a method of manufacturing a semiconductor light emitting device according to the present disclosure.

적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)을 포함하는 반도체 발광소자(100)를 제조하는 방법에 있어서, 먼저, 도 13(a)와 같이 기판(140)을 준비한다. 기판(140)은 이후에 반도체 발광소자 칩(110)이 임시로 고정되며, 예를 들면, 실리콘 테이프 등일 수 있다. 기판(140)은 반도체 발광소자 칩(110)과 전기적으로 연결되지 않는다. In a method of manufacturing a semiconductor light emitting device 100 including at least one semiconductor light emitting device chip 110, first, a substrate 140 is prepared as shown in FIG. 13(a). The substrate 140 is then temporarily fixed to the semiconductor light emitting device chip 110, and may be, for example, a silicon tape. The substrate 140 is not electrically connected to the semiconductor light emitting device chip 110.

이후, 도 13(b)와 같이 기판(140)에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)과 일정거리 떨어진 복수의 패드(121) 및 복수의 패드(121)와 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110) 사이를 연결하는 전기적 연결(123)을 형성한다. 기판(140)의 일면에 증착 등과 같은 방법으로 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)을 형성하기 때문에 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)은 동일 평면상에 구비된다.Thereafter, as shown in FIG. 13(b), a plurality of pads 121 and a plurality of pads 121 and at least one or more semiconductor light emitting device chips ( 110) to form an electrical connection 123 to connect. Since the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 are formed on one surface of the substrate 140 by a method such as vapor deposition, the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 are provided on the same plane.

이후, 도 13(c)와 같이 기판(140)에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)을 구비한다. 반도체 발광소자 칩(110)은 전기적 연결(123)에 접촉할 수 있도록 위치할 수 있다. 이때, 도시하지는 않았지만 복수의 패드(121) 위에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110)과 대응되는 제너다이오드(130)를 구비할 수 있다.Thereafter, at least one semiconductor light emitting device chip 110 is provided on the substrate 140 as shown in FIG. 13(c). The semiconductor light emitting device chip 110 may be positioned to contact the electrical connection 123. In this case, although not shown, a zener diode 130 corresponding to at least one semiconductor light emitting device chip 110 may be provided on the plurality of pads 121.

이후, 도 13(d)와 같이 기판(140)과 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩(110) 위에 봉지재(150)를 구비한다. Thereafter, as shown in FIG. 13D, an encapsulant 150 is provided on the substrate 140 and at least one semiconductor light emitting device chip 110.

이후, 도 13(e)와 같이 기판(140)을 제거한다. 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)을 형성한 후 봉지재(150)을 덮기 때문에 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)은 봉지재(150) 내에 구비되고, 기판(140)을 제거하는 경우 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)은 기판(140)과 접촉되어 있던 일 면만 노출된다.Thereafter, the substrate 140 is removed as shown in FIG. 13(e). After forming the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 and covering the encapsulant 150, the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 are provided in the encapsulant 150 and the substrate 140 In the case of removing the plurality of pads 121 and the electrical connection 123, only one surface that was in contact with the substrate 140 is exposed.

복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)은 봉지재(150) 내에 구비되는 것이 바람직하다. 왜냐하면 도 12(e)와 같이 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)이 봉지재(150) 밖으로 돌출되는 경우 봉지재(150)와 복수의 패드(121) 및 전기적 연결(123)의 접착력이 약해서 서로 분리될 수 있기 때문이다.It is preferable that the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 are provided in the encapsulant 150. This is because when the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 protrude out of the encapsulant 150 as shown in FIG. 12(e), the adhesion between the encapsulant 150 and the plurality of pads 121 and the electrical connection 123 Because these are weak and can be separated from each other.

도 14는 본 개시에 따른 제너다이오드를 설명하는 도면이다.14 is a diagram illustrating a Zener diode according to the present disclosure.

도 14(a)는 종래의 반도체 발광소자에서 제너다이오드가 실장되는 일 예를 나타내는 도면이다.14(a) is a diagram illustrating an example in which a Zener diode is mounted in a conventional semiconductor light emitting device.

PCB 기판(240)에는 홀(H)이 구비되고, PCB 기판(240) 아래에 구비된 패드(221)를 형성하면서 전기적 연결이 홀(H)을 따라 형성되고, PCB 기판(240)의 윗면으로 돌출되도록 전기적 연결이 형성된다. 패드(221)와 연결되도록 PCB 기판(240)의 윗면에 패드전극(223)을 형성하는데, 돌출된 전기적 연결에 의해서 패드전극(223)도 돌출되어 형성된다. 따라서 제너다이오드(130)의 제너전극(131)을 패드전극(223)에 부착하면 틈이 생겨서 제너다이오드(130)가 떨어지기 쉬운 문제점이 있었다. 따라서 도시하지는 않았지만 제너다이오드(130)는 홀(H)을 피해서 패드전극(223) 이외의 부분에 구비되며, 제너다이오드(130)는 패드(221)와도 중복되지 않는 위치에 구비되었다.A hole (H) is provided in the PCB substrate 240, and an electrical connection is formed along the hole (H) while forming the pad 221 provided under the PCB substrate 240, and to the top surface of the PCB substrate 240. An electrical connection is made to protrude. The pad electrode 223 is formed on the upper surface of the PCB substrate 240 so as to be connected to the pad 221, and the pad electrode 223 is also formed to protrude by the protruding electrical connection. Therefore, when the Zener electrode 131 of the Zener diode 130 is attached to the pad electrode 223, a gap is created, and the Zener diode 130 is liable to fall off. Accordingly, although not shown, the zener diode 130 is provided at a portion other than the pad electrode 223 avoiding the hole H, and the zener diode 130 is provided at a position not overlapping with the pad 221.

도 14(b)는 도 7의 BB' 단면을 나타내는 도면이다.FIG. 14(b) is a diagram illustrating a section BB′ of FIG. 7.

하나의 패드(121)에 제너다이오드(130)의 제너전극(131) 중 하나가 접촉되어 있다. 이는 본 개시는 홀(H;도 14(a)) 및 패드전극(223; 도 14(a)) 없이 패드(121)가 평탄하게 형성되기 때문에 가능한 구조이다.One of the zener electrodes 131 of the zener diode 130 is in contact with one pad 121. This disclosure is possible because the pad 121 is formed flat without the hole H (FIG. 14(a)) and the pad electrode 223 (FIG. 14(a)).

패드(121)와 제너다이오드(130)는 광손실을 높일 수 있는 구성이며, 패드(121)가 평탄하게 형성되어 평면상에서 패드(121) 내에 제너다이오드(130)가 위치할 수 있어서 패드(121)의 면적과 제너다이오드(130)의 면적이 겹치도록 형성되어 광손실을 줄일 수 있다. 또한, 투명 디스플레이에 적용하는 경우에는 패드(121)와 제너다이오드(130)가 많은 부분이 겹치게 되므로 반도체 발광소자(100)의 투명도를 높일 수 있다.The pad 121 and the zener diode 130 are configured to increase optical loss, and the pad 121 is formed flat so that the zener diode 130 can be positioned within the pad 121 on a plane, so that the pad 121 It is formed so that the area of and the area of the zener diode 130 overlaps, thereby reducing optical loss. In addition, when applied to a transparent display, since many portions of the pad 121 and the zener diode 130 overlap, the transparency of the semiconductor light emitting device 100 can be increased.

도 15는 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 또 다른 예를 나타내는 도면이다.15 is a diagram illustrating another example of a semiconductor light emitting device according to the present disclosure.

도 15(a)는 반도체 발광소자(100)의 하면을 나타내는 저면도이며, 반도체 발광소자(100)에 하나의 반도체 발광소자 칩(110)이 구비된 예이다. 도 15(b)는 도 15(a)의 AA' 단면을 나타내는 도면이다.FIG. 15A is a bottom view showing the lower surface of the semiconductor light emitting device 100, and is an example in which one semiconductor light emitting device chip 110 is provided in the semiconductor light emitting device 100. Fig. 15(b) is a view showing a cross section AA' of Fig. 15(a).

반도체 발광소자(100)는 전기적 연결(123)을 덮고 복수의 패드(121)를 노출시키는 절연층(160)을 포함할 수 있다. 절연층(160)으로 전기적 연결(123)을 덮어 솔더링시 쇼트의 위험성을 줄일 수 있다. 전기적 연결(123)과 패드(121)가 봉지재(150) 내부에 구비되는 예를 나타내었지만 전기적 연결(123)과 패드(121)가 봉지재(150)로부터 돌출되는 예에도 적용할 수 있다. 절연층(160)은 도 12(e) 및 도 13(e) 이후에 실크 스크린 인쇄 등의 방법을 이용하여 형성할 수 있다.The semiconductor light emitting device 100 may include an insulating layer 160 covering the electrical connection 123 and exposing the plurality of pads 121. By covering the electrical connection 123 with the insulating layer 160, it is possible to reduce the risk of a short circuit during soldering. Although an example in which the electrical connection 123 and the pad 121 are provided inside the encapsulant 150 is shown, it can also be applied to an example in which the electrical connection 123 and the pad 121 protrude from the encapsulant 150. The insulating layer 160 may be formed after FIGS. 12(e) and 13(e) by using a method such as silk screen printing.

절연층(160)의 높이(h)는 10um이하로 형성되는 것이 바람직하다. 절연층(160)은 도 12(e) 또는 도 13(e) 이후에 복수의 패드(121)가 노출되도록 형성하기 때문에 복수의 패드(121)가 절연층(160) 보다 낮게 형성될 수 있다. 솔더링에 의해 외부와 전기적으로 연결될 때, 솔더물질이 복수의 패드(121)와 잘 접촉하기 위해 절연층(160)의 높이(h)는 10um 이하로 얇은 것이 바람직하다. 또는 절연층(160)의 형성 이후에 도금 등의 방법으로 복수의 패드(121)의 높이를 점선(122)과 같이 높여 절연층(160)의 높이(h)와 같거나 높게 형성할 수 있다.It is preferable that the height h of the insulating layer 160 is formed to be 10 μm or less. Since the insulating layer 160 is formed so that the plurality of pads 121 are exposed after FIG. 12(e) or 13(e), the plurality of pads 121 may be formed lower than the insulating layer 160. When electrically connected to the outside by soldering, the height h of the insulating layer 160 is preferably as thin as 10 μm or less in order for the solder material to make good contact with the plurality of pads 121. Alternatively, after the formation of the insulating layer 160, the height of the plurality of pads 121 may be increased as shown by the dotted line 122 by a method such as plating to be formed equal to or higher than the height h of the insulating layer 160.

절연층(160)은 투명한 재질 또는 불투명한 재질 중 적어도 하나 이상으로 형성될 수 있다. 절연층(160)이 투명한 재질로 형성되는 경우에는 반도체 발광소자(100)는 6면 발광할 수 있다. 반면에, 절연층(160)이 불투명한 재질로 형성되는 경우에는 반도체 발광소자(100)는 5면 발광할 수 있다. 투명 디스플레이에 적용되는 경우 뒷면으로 빛이 나가지 않도록 해야 하는 경우도 있다. 따라서 절연층(160)을 불투명한 재질로 형성할 수 있다. 그러나 예를 들어 반도체 발광소자의 크기가 500umX500um 이하인 경우 절연층이 불투명해도 반도체 발광소자가 잘 시인되지 않지만 본 개시와 같이 패드와 반도체 발광소자 칩 사이의 간격을 ??혀서 반도체 발광소자(100)의 크기가 기존보다 큰 경우(예 : 1500umX1500um 크기의 반도체 발광소자)에 반도체 발광소자(100)가 잘 시인될 수 있다. 이와 같은 문제점을 해결하기 위해서 반도체 발광소자 칩(110) 아래의 절연층(160) 중 도 15(a)의 점선으로 표시된 부분(170)만 불투명한 재질로 형성되고 나머지 부분은 투명한 재질로 형성될 수 있다. 이 경우에 반도체 발광소자 칩(110)에서 나온 빛이 반도체 발광소자(100)의 아래로 나가는 것을 막고 나머지 부분은 투명하여 본 개시에 의해 반도체 발광소자의 크기가 커진 경우에도 반도체 발광소자의 아래로 빛이 나가지 않는 것이 필요한 투명 디스플레이에 적용할 수 있다. 이때, 점선으로 표시된 부분(170)의 크기는 300um 이하인 것이 바람직하다. The insulating layer 160 may be formed of at least one of a transparent material or an opaque material. When the insulating layer 160 is formed of a transparent material, the semiconductor light emitting device 100 may emit light on six surfaces. On the other hand, when the insulating layer 160 is formed of an opaque material, the semiconductor light emitting device 100 may emit light on five surfaces. When applied to a transparent display, it may be necessary to prevent the light from exiting the back side. Therefore, the insulating layer 160 may be formed of an opaque material. However, for example, if the size of the semiconductor light emitting device is 500umX500um or less, the semiconductor light emitting device is not easily recognized even if the insulating layer is opaque, but as in the present disclosure, the gap between the pad and the semiconductor light emitting device chip is increased so that the semiconductor light emitting device 100 When the size is larger than before (for example, a semiconductor light emitting device having a size of 1500umX1500um), the semiconductor light emitting device 100 can be well recognized. In order to solve such a problem, only the portion 170 indicated by the dotted line in FIG. 15(a) of the insulating layer 160 under the semiconductor light emitting device chip 110 is formed of an opaque material, and the remaining portions are formed of a transparent material. I can. In this case, the light emitted from the semiconductor light emitting device chip 110 is prevented from exiting the bottom of the semiconductor light emitting device 100, and the remaining portions are transparent, so that even when the size of the semiconductor light emitting device is increased by the present disclosure, It can be applied to transparent displays that require no light to emit. At this time, it is preferable that the size of the portion 170 indicated by the dotted line is 300um or less.

도 15(c)는 반도체 발광소자(100)의 하면을 나타내는 저면도이며, 반도체 발광소자(100)에 복수의 반도체 발광소자 칩(110)이 구비된 예이다. 도 15(d)는 도 15(c)의 BB' 단면을 나타내는 도면이다. 15(c) is a bottom view showing the lower surface of the semiconductor light emitting device 100, and is an example in which a plurality of semiconductor light emitting device chips 110 are provided in the semiconductor light emitting device 100. FIG. 15(d) is a diagram showing a section BB′ of FIG. 15(c).

도 15(a) 및 도 15(b)에서 설명한 것들이 도 15(c)와 도 15(d)에 적용될 수 있다.15(a) and 15(b) may be applied to FIGS. 15(c) and 15(d).

이하 본 개시의 다양한 실시 형태에 대하여 설명한다.Hereinafter, various embodiments of the present disclosure will be described.

(1) 반도체 발광소자에 있어서, 복수의 전극을 포함하는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩; 평면상에서 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극과 일정거리 떨어져 복수의 전극과 각각 대응되는 복수의 패드; 복수의 패드와 동일평면상에 구비되며, 복수의 패드와 복수의 전극 사이를 각각 전기적으로 연결하는 전기적 연결; 그리고, 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 덮는 봉지재;를 포함하는 반도체 발광소자.(1) A semiconductor light emitting device comprising: at least one semiconductor light emitting device chip including a plurality of electrodes; A plurality of pads respectively corresponding to the plurality of electrodes apart from a plurality of electrodes of at least one semiconductor light emitting device chip on a plane; An electrical connection provided on the same plane as the plurality of pads and electrically connecting the plurality of pads and the plurality of electrodes, respectively; And an encapsulant covering at least one semiconductor light emitting device chip.

(2) 전기적 연결은 복수의 패드와 복수의 전극 사이에 각각 복수의 경로를 형성하는 반도체 발광소자.(2) Electrical connection is a semiconductor light emitting device in which a plurality of paths are respectively formed between a plurality of pads and a plurality of electrodes.

(3) 전기적 연결은 네트형으로 형성되는 반도체 발광소자.(3) Electrical connection is a semiconductor light emitting device formed in a net shape.

(4) 전기적 연결은 일정한 패턴을 가지도록 형성되는 반도체 발광소자.(4) The electrical connection is a semiconductor light emitting device formed to have a certain pattern.

(5) 복수의 패드 또는 복수의 전극에 접촉되는 전기적 연결의 패턴의 크기가 복수의 패드 또는 복수의 전극에 접촉되지 않는 패턴의 크기보다 작게 형성되는 반도체 발광소자.(5) A semiconductor light emitting device in which a size of a pattern of electrical connection contacting a plurality of pads or a plurality of electrodes is smaller than a size of a pattern not contacting a plurality of pads or a plurality of electrodes.

(6) 봉지재가 전기적 연결을 덮고 있으며 전기적 연결의 적어도 일부분이 노출된 반도체 발광소자.(6) A semiconductor light emitting device in which the encapsulant covers the electrical connection and at least a part of the electrical connection is exposed.

(7) 봉지재가 복수의 패드를 덮고 적어도 패드의 일부분이 노출된 반도체 발광소자.(7) A semiconductor light emitting device in which an encapsulant covers a plurality of pads and at least a portion of the pads are exposed.

(8) 복수의 패드와 반도체 발광소자 칩 사이의 일정거리는 반도체 발광소자 칩의 너비 이상인 반도체 발광소자. (8) A semiconductor light emitting device having a predetermined distance between the plurality of pads and the semiconductor light emitting device chip is greater than or equal to the width of the semiconductor light emitting device chip.

(9) 복수의 패드의 너비는 반도체 발광소자 칩의 너비보다 큰 반도체 발광소자.(9) The width of the plurality of pads is a semiconductor light emitting device larger than the width of the semiconductor light emitting device chip.

(10) 패드가 봉지재로부터 돌출된 반도체 발광소자.(10) A semiconductor light emitting device with a pad protruding from the encapsulant.

(11) 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩에 걸리는 역전압을 방지하기 위해 구비되는 제너다이오드;를 포함하는 반도체 발광소자.(11) A semiconductor light emitting device comprising a Zener diode provided to prevent reverse voltage applied to at least one semiconductor light emitting device chip.

(12) 제너다이오드는 패드 위에 구비되는 반도체 발광소자.(12) Zener diode is a semiconductor light emitting device provided on the pad.

(13) 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩은 제1 전극과 제2 전극을 포함하는 제1 반도체 발광소자 칩, 제3 전극과 제4 전극을 포함하는 제2 반도체 발광소자 칩 및 제5 전극과 제6 전극을 포함하는 제3 반도체 발광소자 칩을 포함하며, 패드는 제1 전극, 제3 전극, 및 제5 전극과 전기적으로 연결되는 제1 패드, 제2 전극과 전기적으로 연결되는 제2 패드, 제4 전극과 연결되는 제3 패드 및 제6 전극과 연결되는 제5 패드를 포함하며, 전기적 연결은 제1 패드와 제1 전극, 제3 전극 및 제5 전극 사이를 전기적으로 연결하는 제1 전기적 연결, 제2 패드와 제2 전극 사이를 전기적으로 연결하는 제2 전기적 연결, 제3 패드와 제3 전극 사이를 전기적으로 연결하는 제3 전기적 연결 및 제4 패드와 제4 전극 사이를 전기적으로 연결하는 제4 전기적 연결을 포함하는 반도체 발광소자.(13) At least one semiconductor light emitting device chip includes a first semiconductor light emitting device chip including a first electrode and a second electrode, a second semiconductor light emitting device chip including a third electrode and a fourth electrode, and a fifth electrode and a fifth electrode. A third semiconductor light emitting device chip including 6 electrodes, wherein the pad includes a first electrode, a third electrode, and a first pad electrically connected to the fifth electrode, a second pad electrically connected to the second electrode, A third pad connected to the fourth electrode and a fifth pad connected to the sixth electrode, and the electrical connection is a first electrical connection electrically connecting the first pad and the first electrode, the third electrode, and the fifth electrode. Connection, a second electrical connection electrically connecting the second pad and the second electrode, a third electrical connection electrically connecting the third pad and the third electrode, and the electrical connection between the fourth pad and the fourth electrode A semiconductor light emitting device comprising a fourth electrical connection.

(14) 제1 반도체 발광소자 칩, 제2 반도체 발광소자 칩 및 제3 반도체 발광소자에 걸리는 역전압을 방지하기 위해 각각 구비되는 복수의 제너다이오드;를 포함하는 반도체 발광소자.(14) a first semiconductor light emitting device chip, a second semiconductor light emitting device chip, and a plurality of zener diodes each provided to prevent reverse voltage applied to the third semiconductor light emitting device.

(15) 복수의 제너다이오드는 제2 패드, 제3 패드 및 제4 패드 위에 각각 구비되는 반도체 발광소자.(15) A plurality of Zener diodes are semiconductor light emitting devices provided on the second pad, the third pad, and the fourth pad, respectively.

(16) 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 포함하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법에 있어서, 기판을 준비하는 단계; 기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 구비하는 단계; 기판과 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 위에 봉지재를 구비하는 단계; 기판을 제거하는 단계; 그리고, 봉지재에 반도체 발광소자 칩과 일정거리 떨어진 패드 및 패드와 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 사이를 연결하는 전기적 연결을 형성하는 단계;를 포함하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법.(16) A method of manufacturing a semiconductor light emitting device including at least one semiconductor light emitting device chip, the method comprising: preparing a substrate; Providing at least one semiconductor light emitting device chip on a substrate; Providing an encapsulant on the substrate and at least one semiconductor light emitting device chip; Removing the substrate; And forming an electrical connection between the pad and the pad and at least one semiconductor light emitting device chip at a predetermined distance from the semiconductor light emitting device chip on the encapsulant.

(17) 기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 구비하는 단계;에서, 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩과 대응되며, 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩으로부터 일정거리 떨어지도록 제너다이오드를 구비하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법.(17) In the step of providing at least one semiconductor light emitting device chip on a substrate; In the semiconductor light emitting device having a Zener diode corresponding to at least one semiconductor light emitting device chip and separated by a predetermined distance from the at least one semiconductor light emitting device chip How to manufacture.

(18) 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 포함하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법에 있어서, 기판을 준비하는 단계; 기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩과 일정거리 떨어진 복수의 패드 및 복수의 패드와 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 사이를 연결하는 전기적 연결을 형성하는 단계; 기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 구비하는 단계; 기판과 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 위에 봉지재를 구비하는 단계; 그리고, 기판을 제거하는 단계;를 포함하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법.(18) A method of manufacturing a semiconductor light emitting device including at least one semiconductor light emitting device chip, the method comprising: preparing a substrate; Forming a plurality of pads spaced apart from at least one semiconductor light emitting device chip at a predetermined distance on a substrate and an electrical connection connecting the plurality of pads to at least one semiconductor light emitting device chip; Providing at least one semiconductor light emitting device chip on a substrate; Providing an encapsulant on the substrate and at least one semiconductor light emitting device chip; And, the method of manufacturing a semiconductor light emitting device comprising a; step of removing the substrate.

(19) 기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 구비하는 단계;에서, 복수의 패드 위에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩과 대응되는 제너다이오드를 구비하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법.(19) In the step of providing at least one semiconductor light emitting device chip on a substrate; a method of manufacturing a semiconductor light emitting device having a zener diode corresponding to at least one semiconductor light emitting device chip on a plurality of pads.

본 개시에 따른 하나의 반도체 발광소자에 의하면, 전기적 연결은 네트형으로 형성되므로 전기적 연결이 더 얇게 형성되어 시인성이 좋게 된다.According to one semiconductor light emitting device according to the present disclosure, since the electrical connection is formed in a net shape, the electrical connection is formed thinner, thereby improving visibility.

본 개시에 따른 또 하나의 반도체 발광소자에 의하면, 전기적 연결이 패드와 전극 사이에 복수의 경로가 형성되어 하나의 경로가 단선되어도 나머지 경로로 전기가 연결된다.According to another semiconductor light emitting device according to the present disclosure, even if one path is disconnected because a plurality of paths are formed between the pad and the electrode for electrical connection, electricity is connected to the other paths.

본 개시에 따른 또 하나의 반도체 발광소자에 의하면, 전기적 연결 및 복수의 패드가 봉지재의 내측에 구비되어 봉지재로부터 탈락되지 않게 된다.According to another semiconductor light emitting device according to the present disclosure, an electrical connection and a plurality of pads are provided inside the encapsulant so that they are not separated from the encapsulant.

본 개시에 따른 또 하나의 반도체 발광소자를 제조하는 방법에 의하면, 전기적연결이 봉지재로부터 돌출된 반도체 발광소자를 제조할 수 있게 된다.According to the method of manufacturing another semiconductor light emitting device according to the present disclosure, it is possible to manufacture a semiconductor light emitting device whose electrical connection protrudes from the encapsulant.

본 개시에 따른 또 하나의 반도체 발광소자를 제조하는 방법에 의하면, 봉지재 내측에 전기적 연결 및 복수의 패드가 구비되고 일부만 노출되는 반도체 발광소자를 제조할 수 있게 된다.According to the method of manufacturing another semiconductor light emitting device according to the present disclosure, it is possible to manufacture a semiconductor light emitting device in which electrical connection and a plurality of pads are provided inside the encapsulant and only partially exposed.

100: 반도체 발광소자 110: 반도체 발광소자 칩 111:복수의 전극
121: 복수의 패드 123: 전기적 연결 130:제너다이오드
140:기판 150: 봉지재
100: semiconductor light emitting device 110: semiconductor light emitting device chip 111: plural electrodes
121: plural pads 123: electrical connection 130: zener diode
140: substrate 150: encapsulant

Claims (19)

삭제delete 반도체 발광소자에 있어서,
복수의 전극을 포함하는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩;
평면상에서 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극과 일정거리 떨어져 복수의 전극과 각각 대응되는 복수의 패드;
복수의 패드와 동일 평면상에 구비되며, 복수의 패드와 복수의 전극 사이를 각각 전기적으로 연결하는 전기적 연결; 그리고,
적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 덮는 봉지재;를 포함하며,
반도체 발광소자 칩과 패드 사이에는 간격이 형성되며, 반도체 발광소자 칩과 패드 사이의 전기적 연결의 너비는 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극보다 작거나 같은 너비를 가지고,
전기적 연결은 복수의 패드와 복수의 전극 사이에 각각 복수의 경로를 형성하는 반도체 발광소자.
In a semiconductor light emitting device,
At least one semiconductor light emitting device chip including a plurality of electrodes;
A plurality of pads respectively corresponding to the plurality of electrodes apart from a plurality of electrodes of at least one semiconductor light emitting device chip on a plane;
An electrical connection provided on the same plane as the plurality of pads and electrically connecting the plurality of pads and the plurality of electrodes, respectively; And,
Includes; an encapsulant covering at least one semiconductor light emitting device chip,
A gap is formed between the semiconductor light emitting device chip and the pad, and the width of the electrical connection between the semiconductor light emitting device chip and the pad is less than or equal to the plurality of electrodes of the semiconductor light emitting device chip,
Electrical connection is a semiconductor light emitting device that forms a plurality of paths, respectively, between a plurality of pads and a plurality of electrodes.
청구항 2에 있어서,
전기적 연결은 네트형으로 형성되는 반도체 발광소자.
The method according to claim 2,
The electrical connection is a semiconductor light emitting device formed in a net shape.
청구항 3에 있어서,
전기적 연결은 일정한 패턴을 가지도록 형성되는 반도체 발광소자.
The method of claim 3,
The electrical connection is a semiconductor light emitting device formed to have a certain pattern.
청구항 4에 있어서,
복수의 패드 또는 복수의 전극에 접촉되는 전기적 연결의 패턴의 크기가 복수의 패드 또는 복수의 전극에 접촉되지 않는 패턴의 크기보다 작게 형성되는 반도체 발광소자.
The method of claim 4,
A semiconductor light emitting device in which a size of a pattern of electrical connection contacting a plurality of pads or a plurality of electrodes is smaller than a size of a pattern that does not contact the plurality of pads or electrodes.
청구항 2에 있어서,
봉지재가 전기적 연결을 덮고 있으며 전기적 연결의 적어도 일부분이 노출된 반도체 발광소자.
The method according to claim 2,
A semiconductor light emitting device in which an encapsulant covers the electrical connection and at least a part of the electrical connection is exposed.
청구항 6에 있어서,
봉지재가 복수의 패드를 덮고 적어도 패드의 일부분이 노출된 반도체 발광소자.
The method of claim 6,
A semiconductor light emitting device in which an encapsulant covers a plurality of pads and at least a portion of the pads is exposed.
반도체 발광소자에 있어서,
복수의 전극을 포함하는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩;
평면상에서 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극과 일정거리 떨어져 복수의 전극과 각각 대응되는 복수의 패드;
복수의 패드와 동일 평면상에 구비되며, 복수의 패드와 복수의 전극 사이를 각각 전기적으로 연결하는 전기적 연결; 그리고,
적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 덮는 봉지재;를 포함하며,
반도체 발광소자 칩과 패드 사이에는 간격이 형성되며, 반도체 발광소자 칩과 패드 사이의 전기적 연결의 너비는 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극보다 작거나 같은 너비를 가지고,
복수의 패드와 반도체 발광소자 칩 사이의 일정거리는 반도체 발광소자 칩의 크기 이상인 반도체 발광소자.
In a semiconductor light emitting device,
At least one semiconductor light emitting device chip including a plurality of electrodes;
A plurality of pads respectively corresponding to the plurality of electrodes apart from a plurality of electrodes of at least one semiconductor light emitting device chip on a plane;
An electrical connection provided on the same plane as the plurality of pads and electrically connecting the plurality of pads and the plurality of electrodes, respectively; And,
Includes; an encapsulant covering at least one semiconductor light emitting device chip,
A gap is formed between the semiconductor light emitting device chip and the pad, and the width of the electrical connection between the semiconductor light emitting device chip and the pad is less than or equal to the plurality of electrodes of the semiconductor light emitting device chip,
A semiconductor light emitting device in which a predetermined distance between a plurality of pads and a semiconductor light emitting device chip is larger than the size of a semiconductor light emitting device chip.
반도체 발광소자에 있어서,
복수의 전극을 포함하는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩;
평면상에서 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극과 일정거리 떨어져 복수의 전극과 각각 대응되는 복수의 패드;
복수의 패드와 동일 평면상에 구비되며, 복수의 패드와 복수의 전극 사이를 각각 전기적으로 연결하는 전기적 연결; 그리고,
적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 덮는 봉지재;를 포함하며,
반도체 발광소자 칩과 패드 사이에는 간격이 형성되며, 반도체 발광소자 칩과 패드 사이의 전기적 연결의 너비는 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극보다 작거나 같은 너비를 가지고,
복수의 패드의 크기는 반도체 발광소자 칩의 크기보다 큰 반도체 발광소자.
In a semiconductor light emitting device,
At least one semiconductor light emitting device chip including a plurality of electrodes;
A plurality of pads respectively corresponding to the plurality of electrodes apart from a plurality of electrodes of at least one semiconductor light emitting device chip on a plane;
An electrical connection provided on the same plane as the plurality of pads and electrically connecting the plurality of pads and the plurality of electrodes, respectively; And,
Includes; an encapsulant covering at least one semiconductor light emitting device chip,
A gap is formed between the semiconductor light emitting device chip and the pad, and the width of the electrical connection between the semiconductor light emitting device chip and the pad is less than or equal to the plurality of electrodes of the semiconductor light emitting device chip,
A semiconductor light emitting device having a size of a plurality of pads larger than that of a semiconductor light emitting device chip.
청구항 8 또는 청구항 9에 있어서,
패드가 봉지재로부터 돌출된 반도체 발광소자.
The method according to claim 8 or 9,
A semiconductor light emitting device with a pad protruding from the encapsulant.
청구항 8 또는 청구항 9에 있어서,
적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩에 걸리는 역전압을 방지하기 위해 구비되는 제너다이오드;를 포함하는 반도체 발광소자.
The method according to claim 8 or 9,
A semiconductor light emitting device comprising a Zener diode provided to prevent reverse voltage applied to at least one semiconductor light emitting device chip.
청구항 11에 있어서,
제너다이오드는 패드 위에 구비되는 반도체 발광소자.
The method of claim 11,
Zener diode is a semiconductor light emitting device provided on the pad.
반도체 발광소자에 있어서,
복수의 전극을 포함하는 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩;
평면상에서 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극과 일정거리 떨어져 복수의 전극과 각각 대응되는 복수의 패드;
복수의 패드와 동일 평면상에 구비되며, 복수의 패드와 복수의 전극 사이를 각각 전기적으로 연결하는 전기적 연결; 그리고,
적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 덮는 봉지재;를 포함하며,
반도체 발광소자 칩과 패드 사이에는 간격이 형성되며, 반도체 발광소자 칩과 패드 사이의 전기적 연결의 너비는 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극보다 작거나 같은 너비를 가지고,
적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩은 제1 전극과 제2 전극을 포함하는 제1 반도체 발광소자 칩, 제3 전극과 제4 전극을 포함하는 제2 반도체 발광소자 칩 및 제5 전극과 제6 전극을 포함하는 제3 반도체 발광소자 칩을 포함하며,
패드는 제1 전극, 제3 전극, 및 제5 전극과 전기적으로 연결되는 제1 패드, 제2 전극과 전기적으로 연결되는 제2 패드, 제4 전극과 연결되는 제3 패드 및 제6 전극과 연결되는 제5 패드를 포함하며,
전기적 연결은 제1 패드와 제1 전극, 제3 전극 및 제5 전극 사이를 전기적으로 연결하는 제1 전기적 연결, 제2 패드와 제2 전극 사이를 전기적으로 연결하는 제2 전기적 연결, 제3 패드와 제3 전극 사이를 전기적으로 연결하는 제3 전기적 연결 및 제4 패드와 제4 전극 사이를 전기적으로 연결하는 제4 전기적 연결을 포함하는 반도체 발광소자.
In a semiconductor light emitting device,
At least one semiconductor light emitting device chip including a plurality of electrodes;
A plurality of pads respectively corresponding to the plurality of electrodes apart from a plurality of electrodes of at least one semiconductor light emitting device chip on a plane;
An electrical connection provided on the same plane as the plurality of pads and electrically connecting the plurality of pads and the plurality of electrodes, respectively; And,
Includes; an encapsulant covering at least one semiconductor light emitting device chip,
A gap is formed between the semiconductor light emitting device chip and the pad, and the width of the electrical connection between the semiconductor light emitting device chip and the pad is less than or equal to the plurality of electrodes of the semiconductor light emitting device chip,
At least one semiconductor light emitting device chip includes a first semiconductor light emitting device chip including a first electrode and a second electrode, a second semiconductor light emitting device chip including a third electrode and a fourth electrode, and a fifth electrode and a sixth electrode. It includes a third semiconductor light emitting device chip comprising,
The pad is connected to the first electrode, the third electrode, and the first pad electrically connected to the fifth electrode, the second pad electrically connected to the second electrode, the third pad connected to the fourth electrode, and the sixth electrode. It includes a fifth pad that becomes,
The electrical connection is a first electrical connection electrically connecting the first pad and the first electrode, the third electrode and the fifth electrode, a second electrical connection electrically connecting the second pad and the second electrode, and a third pad A semiconductor light emitting device comprising a third electrical connection electrically connecting between the and the third electrode and a fourth electrical connection electrically connecting between the fourth pad and the fourth electrode.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 포함하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법에 있어서,
기판을 준비하는 단계;
기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩과 일정거리 떨어진 복수의 패드 및 복수의 패드와 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 사이를 연결하는 전기적 연결을 형성하는 단계;
기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 구비하는 단계;
기판과 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩 위에 봉지재를 구비하는 단계; 그리고,
기판을 제거하는 단계;를 포함하며,
전기적 연결을 형성하는 단계에서, 반도체 발광소자 칩과 패드 사이에는 간격이 형성되며, 반도체 발광소자 칩과 패드 사이의 전기적 연결의 너비는 반도체 발광소자 칩의 복수의 전극보다 작거나 같은 너비를 가지는 반도체 발광소자를 제조하는 방법.
In the method of manufacturing a semiconductor light emitting device including at least one semiconductor light emitting device chip,
Preparing a substrate;
Forming a plurality of pads spaced apart from at least one semiconductor light emitting device chip at a predetermined distance on a substrate and an electrical connection connecting the plurality of pads to at least one semiconductor light emitting device chip;
Providing at least one semiconductor light emitting device chip on a substrate;
Providing an encapsulant on the substrate and at least one semiconductor light emitting device chip; And,
Including; removing the substrate;
In the step of forming the electrical connection, a gap is formed between the semiconductor light emitting device chip and the pad, and the width of the electrical connection between the semiconductor light emitting device chip and the pad is less than or equal to the plurality of electrodes of the semiconductor light emitting device chip Method of manufacturing a light emitting device.
청구항 18에 있어서,
기판에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩을 구비하는 단계;에서,
복수의 패드 위에 적어도 하나 이상의 반도체 발광소자 칩과 대응되는 제너다이오드를 구비하는 반도체 발광소자를 제조하는 방법.
The method of claim 18,
In the step of providing at least one semiconductor light emitting device chip on a substrate; In,
A method of manufacturing a semiconductor light emitting device including a zener diode corresponding to at least one semiconductor light emitting device chip on a plurality of pads.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011187451A (en) 2011-04-28 2011-09-22 Koito Mfg Co Ltd Light-emitting module, and vehicular lamp
KR101262864B1 (en) 2012-01-03 2013-05-10 주식회사 레이토피아 Structure of the bottom electrode of infrared emitting diode suitable for devices having image sensor and light source
KR101291092B1 (en) * 2012-04-06 2013-08-01 주식회사 씨티랩 Method of manufacutruing semiconductor device structure

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11121797A (en) * 1997-10-16 1999-04-30 Matsushita Electron Corp Chip type semiconductor light emitting device
KR101007117B1 (en) * 2008-10-16 2011-01-11 엘지이노텍 주식회사 Semiconductor light emitting device and fabrication method thereof
KR20160128516A (en) * 2015-04-28 2016-11-08 우리이앤엘 주식회사 Semiconductor light emitting device package
KR101762597B1 (en) * 2015-12-15 2017-07-31 주식회사 세미콘라이트 Substrate for semiconductor light emitting device
KR102513954B1 (en) * 2018-05-10 2023-03-27 주식회사 루멘스 Light emitting element package with thin film pad and manufacturing method thereof

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011187451A (en) 2011-04-28 2011-09-22 Koito Mfg Co Ltd Light-emitting module, and vehicular lamp
KR101262864B1 (en) 2012-01-03 2013-05-10 주식회사 레이토피아 Structure of the bottom electrode of infrared emitting diode suitable for devices having image sensor and light source
KR101291092B1 (en) * 2012-04-06 2013-08-01 주식회사 씨티랩 Method of manufacutruing semiconductor device structure

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