KR102146983B1 - 광소자 검사장치 - Google Patents
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Abstract
광소자 검사장치를 개시한다.
본 실시예의 일 측면에 의하면, 외부와 전기신호를 송·수신하기 위한 전극 및 상기 전극을 거쳐 수신한 전기신호를 광신호로 변환하여 연직방향으로 조사하거나 연직방향으로 수광되는 광신호를 전기신호로 변환하여 상기 전극을 거쳐 외부로 전달하는 광소자와 일 끝단으로 상기 광소자로부터 조사되는 광신호를 수광하거나 상기 광소자로 광신호를 전송하는 광섬유 및 상기 광섬유의 일 끝단으로부터 기 설정된 거리만큼 떨어진 위치에서 상기 광섬유를 고정하는 홀더를 포함하는 것을 특징으로 하는 광소자 검사장치를 제공한다.
본 실시예의 일 측면에 의하면, 외부와 전기신호를 송·수신하기 위한 전극 및 상기 전극을 거쳐 수신한 전기신호를 광신호로 변환하여 연직방향으로 조사하거나 연직방향으로 수광되는 광신호를 전기신호로 변환하여 상기 전극을 거쳐 외부로 전달하는 광소자와 일 끝단으로 상기 광소자로부터 조사되는 광신호를 수광하거나 상기 광소자로 광신호를 전송하는 광섬유 및 상기 광섬유의 일 끝단으로부터 기 설정된 거리만큼 떨어진 위치에서 상기 광섬유를 고정하는 홀더를 포함하는 것을 특징으로 하는 광소자 검사장치를 제공한다.
Description
본 발명은 광소자의 광전 변환 성능을 검사하는 광소자 검사장치에 관한 것이다.
이 부분에 기술된 내용은 단순히 본 실시예에 대한 배경 정보를 제공할 뿐 종래기술을 구성하는 것은 아니다.
도 1은 종래의 광소자 검사장치의 구성을 도시한 도면이다.
전기 신호 분석장치(130)로부터 전기신호가 생성되는 경우, 전기신호는 전극(135)을 거쳐 광소자(140)로 수신된다. 광소자(140)는 수신된 전기신호를 광신호로 변환하여, 광 활성화 영역(145)에서 광신호를 연직 상방으로 조사한다.
광소자(140)가 조사하는 광신호를 수신하여 광신호 분석장치(미도시)로 전달하기 위해, 광섬유(150)는 광 활성화 영역(145)으로 접근하여 배치된다. 광섬유(150)는 광 활성화 영역(145)의 연직 상방에 배치되어, 광 활성화 영역(145)에서 조사되는 광신호를 수광하여, 광신호 분석장치(미도시)로 전달한다.
이때, 광소자(140)의 연직 상방에는 광섬유(150) 및 홀더(160)가 광소자, 특히, 광 활성화 영역(145)으로 온전히 접근하는지를 판단하기 위해, 광소자(140)를 모니터링하는 모니터링 장치(110)가 배치된다. 모니터링 장치(110)는 광소자(140)의 연직 상방에서 광소자(140)를 모니터링한다.
이때, 광섬유(150)는 연직 상방으로 조사되는 광신호를 수광하여야 하기 때문에, 연직방향으로 배치되며 광섬유(150)를 고정하는 홀더(160) 역시 연직방향으로 배치된다.
반대로, 광섬유(150)에서 조사되는 광신호를 광소자(140)의 광 활성화 영역(145)에서 수광하는 경우에도, 전술한 경우와 동일하게 광섬유(150)와 홀더(160)가 배치된다.
이처럼 배치되는 경우, 다음과 같은 불편을 야기한다.
광소자(140)의 상세한 모니터링을 위해 고배율의 모니터링 장치(110)가 사용될 경우, 모니터링 장치(110)와 광소자(140)간 간격이 상당히 좁아진다. 이에 따라, 광섬유(150)와 홀더(160)가 여유롭게 이동하기 곤란하며, 조금이라도 잘못 이동할 경우, 모니터링 장치(110)나 광소자(140)와 충돌이 발생하는 문제가 생긴다.
또한, 모니터링 장치(110)가 광소자(140)와 광섬유(150)의 정확한 배치가 어려워지는 문제가 발생한다. 발생하는 문제는 도 2에 도시되어 있다.
도 2는 종래의 광소자 검사장치 내 모니터링 장치가 모니터링하는 화면을 도시한 도면이다.
도 2(a)는 광섬유(150)가 진입하기 전 광소자를 모니터링하는 화면이다. 광 신호를 수광하거나, 광신호를 전송하기 위해, 광섬유(150)가 광 활성화 영역(145)으로 진입을 해야하는 상황이다. 종래의 광섬유(150)와 홀더(160)가 광 활성화 영역(145)으로 진입을 할 경우, 모니터링 장치(110)가 모니터링하는 화면은 도 2(b)와 같이 나타난다.
도 2(b)를 참조하면, 광섬유(150)를 고정하는 홀더(160)에 의해 광섬유(150)와 광 활성화 영역(145)이 모니터링 장치(110)에 의해 모니터링되지 않는 문제가 발생한다.
전술한 문제에 의해, 광소자 검사장치(100)는 광소자(140)의 광전 변환 성능을 원활히 검사할 수 없는 문제를 갖는다.
본 발명의 일 실시예는, 광소자의 광 활성영역에 광섬유를 원활히 배치함으로써, 광소자를 정확히 검사할 수 있는 광소자 검사장치를 제공하는 데 일 목적이 있다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 광소자 검사장치에 있어서, 전극 및 광 활성화 영역을 포함하여 상기 전극을 거쳐 수신한 전기신호를 광신호로 변환하여 연직방향으로 조사하거나 연직방향으로 수광되는 광신호를 전기신호로 변환하여 상기 전극을 거쳐 외부로 전달하는 광소자와 일 끝단으로 상기 광소자로부터 조사되는 광신호를 수광하거나 상기 광소자로 광신호를 전송하는 광섬유 및 상기 광섬유의 일 끝단으로부터 기 설정된 거리만큼 떨어진 위치에서 상기 광섬유를 고정하는 홀더를 포함하는 것을 특징으로 하는 광소자 검사장치를 제공한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 광소자는 연직방향으로 광신호를 조사하거나, 연직방향으로 조사되는 광신호를 수광하는 광 활성화 영역을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 광섬유는 상기 광소자의 광 활성화 영역으로부터 광신호를 수광하거나, 상기 광소자의 광 활성화 영역으로 광신호를 전송하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 광소자 검사장치는 상기 광소자를 모니터링하기 위한 모니터링 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 모니터링 장치는 상기 광소자의 연직방향에서 상기 광소자를 모니터링함으로써, 상기 광소자로부터 조사되는 광신호를 수광하거나 상기 광소자로 광신호를 전송하기 위해, 상기 광섬유가 상기 광 소자의 광 활성화 영역에 배치되었는지를 모니터링하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 광섬유는 상기 광소자의 광 활성화 영역으로 광 소자의 수평방향에서 접근하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 광소자 검사장치에 있어서, 전극 및 광 활성화 영역을 포함하여 상기 전극을 거쳐 수신한 전기신호를 광신호로 변환하여 수평방향으로 조사하거나 수평방향으로 수광되는 광신호를 전기신호로 변환하여 상기 전극을 거쳐 외부로 전달하는 광소자와 일 끝단으로 상기 광소자로부터 조사되는 광신호를 수광하거나 상기 광소자로 광신호를 전송하는 광섬유 및 상기 광섬유의 일 끝단으로부터 기 설정된 거리만큼 떨어진 위치에서 상기 광섬유를 고정하는 홀더를 포함하는 것을 특징으로 하는 광소자 검사장치를 제공한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 광소자는 수평방향으로 광신호를 조사하거나, 수평방향으로 조사되는 광신호를 수광하는 광 활성화 영역을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 광섬유는 상기 광소자의 광 활성화 영역으로부터 광신호를 수광하거나, 상기 광소자의 광 활성화 영역으로 광신호를 전송하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 광소자 검사장치는 상기 광소자를 모니터링하기 위한 모니터링 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 모니터링 장치는 상기 광소자의 연직방향에서 상기 광소자를 모니터링함으로써, 상기 광소자로부터 조사되는 광신호를 수광하거나 상기 광소자로 광신호를 전송하기 위해, 상기 광섬유가 상기 광 소자의 광 활성화 영역에 배치되었는지를 모니터링하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 광섬유는 상기 광소자의 광 활성화 영역으로 광 소자의 수평방향에서 접근하는 것을 특징으로 한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 일 측면에 따르면, 광소자의 광 활성영역에 광섬유를 원활히 배치할 수 있어, 광소자를 정확히 검사할 수 있는 장점이 있다.
도 1은 종래의 광소자 검사장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 2는 종래의 광소자 검사장치 내 모니터링 장치가 모니터링하는 화면을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광소자 검사 시스템의 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 광소자 검사장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 광소자 검사장치 내 모니터링 장치가 모니터링하는 화면을 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 광소자 검사장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 광소자 검사장치 내 모니터링 장치가 모니터링하는 화면을 도시한 도면이다.
도 2는 종래의 광소자 검사장치 내 모니터링 장치가 모니터링하는 화면을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광소자 검사 시스템의 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 광소자 검사장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 광소자 검사장치 내 모니터링 장치가 모니터링하는 화면을 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 광소자 검사장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 광소자 검사장치 내 모니터링 장치가 모니터링하는 화면을 도시한 도면이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다.
제1, 제2, A, B 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에서, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서 "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해서 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다.
일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
또한, 본 발명의 각 실시예에 포함된 각 구성, 과정, 공정 또는 방법 등은 기술적으로 상호간 모순되지 않는 범위 내에서 공유될 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광소자 검사 시스템의 구성을 도시한 도면이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 광소자 검사 시스템(300)은 전기신호 분석장치(310), 광소자 검사장치(320) 및 광신호 분석장치(330)를 포함한다.
전기신호 분석장치(310)는 광소자가 전광변환(Electrophotic Conversion)하여 광신호로 전송하도록 하는 전기신호를 생성하여 전달하거나, 광소자가 수광하여 광전변환(Photoelectric Conversion)한 전기신호를 수신하여 분석한다.
전기신호 분석장치(310)는 광소자를 검사하기 위해, 광소자가 광신호로 변환하여 조사하도록 하는 전기신호를 생성한다. 전기신호 분석장치(310)로부터 전기신호를 받은 광소자는 전기신호를 전광변환하여, 광신호를 생성한다. 생성된 광신호는 광섬유를 거쳐 광신호 분석장치(330)로 전달되어 분석되며, 광소자 검사 시스템 사용자는 전기신호 분석장치(310)에서 생성된 전기신호와 동일한 광신호가 광신호 분석장치(330)에서 분석되는지를 파악하여, 광소자의 전광변환 성능 및 발광성능을 파악할 수 있다.
반대로, 전기신호 분석장치(310)는 광소자가 광신호를 수광하여 광전변환한 전기신호를 광소자로부터 수신하여 분석한다. 전기신호 분석장치(310)는 수신한 전기신호를 분석함으로써, 광소자 검사 시스템 사용자는 광소자의 수광성능 및 광전변환 성능을 파악할 수 있다.
광소자 검사장치(320)는 광소자로 전기신호 및 광신호가 송·수신되도록 하여 광소자가 동작하도록 함으로써, 광소자를 검사한다.
광소자 검사장치(320)는 광소자를 안착시키고 안착된 광소자를 모니터링함으로써, 광소자로 전기신호 및 광신호가 송·수신될 수 있도록 한다. 광소자로 전기신호 및 광신호가 송·수신되기 위해서는, 광소자의 전극에 전기신호 분석장치(310)와 연결된 도선이 연결되어야 하며, 광소자의 광 활성화 영역의 부근에 광신호 분석장치(330)와 연결된 광섬유가 배치되어야 한다. 광소자 검사장치(320)는 광소자를 모니터링함으로써, 도선이 전극에 제대로 연결되고, 광섬유가 광 활성화 영역의 부근으로 제대로 배치될 수 있도록 한다. 광소자 검사장치(320)에 대해서는 도 4 내지 7을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
광신호 분석장치(330)는 광소자가 광전변환하여 광신호를 수광하여 분석하거나, 광소자가 광전변환하여 전기신호로 전송하도록 하는 광신호를 생성하여 전달한다.
광신호 분석장치(330)는 광소자 검사장치(320)에 의해 광소자의 광 활성화 영역의 부근에 배치된 광섬유로부터 광소자가 조사하는 광신호를 수광한다. 광신호 분석장치(330)는 수광한 광신호를 분석함으로써, 광소자 검사 시스템 사용자는 광소자의 전광변환 성능 및 발광성능을 파악할 수 있다.
또한, 광신호 분석장치(330)는 광소자의 수광성능 및 광전변환 성능을 파악할 수 있도록, 광섬유를 거쳐 광신호를 광소자로 전송한다. 광신호 분석장치(330)는 광신호를 광소자로 전송함으로써, 전기신호 분석장치(310)가 광소자의 수광성능 및 광전변환 성능을 파악할 수 있도록 한다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 광소자 검사장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 광소자 검사장치(320)는 제1 및 제2 모니터링 장치(410, 415), 스테이지(420), 광소자(440), 광섬유(450) 및 홀더(460)를 포함한다.
제1 모니터링 장치(410)는 광소자(440)를 고배율로 모니터링하여, 광섬유(450)가 광소자(440)의 광 활성화 영역(445) 상의 정확한 위치에 배치될 수 있도록 한다.
제1 모니터링 장치(410)는 상대적으로 제2 모니터링 장치(415)에 비해 고배율로 광소자(440)를 지속적으로 모니터링한다. 제1 모니터링 장치(410)는 고배율로 광소자(440)를 모니터링함으로써, 광섬유(450)가 (광소자 검사장치 사용자에 의해) 광소자(440)의 광 활성화 영역(445)에서 연직 상방으로 조사되는 광신호를 수광할 수 있는 정확한 위치에 배치될 수 있도록 한다.
광섬유(450)는 유리와 같은 투명한 재질로 형성되기 때문에, 제1 모니터링 장치(410)가 모니터링한다고 하더라도 광섬유(450)로 초점이 잡하지 않아 모니터링이 잘 안되는 불편이 있다. 즉, 광섬유(450)가 광소자(440)로 접근하였다 하더라도 광을 통과시키기 때문에, 초점은 광소자(440)에 형성된다. 이에 따라, 광섬유(450)가 광소자(440)의 광 활성화 영역(445)에 온전히 배치되었는지 제1 모니터링 장치(410)가 모니터링하는데 불편함이 존재할 수 있다. 그러나 광섬유(450)는 광을 반사시키는 반사면(455)을 갖기 때문에, 제1 모니터링 장치(410)는 반사면(455)에 대해서는 초점을 형성할 수 있다. 이로서, 제1 모니터링 장치(410)는 광섬유(450)가 광소자(440)의 광 활성화 영역(445)에 온전히 배치되었는지 모니터링할 수 있다.
제2 모니터링 장치(415)는 광소자 검사장치(320) 전체를 저배율로 모니터링하여, 광섬유(450의 광소자(440)로의 접근을 모니터링한다.
제2 모니터링 장치(415)는 상대적으로 제1 모니터링 장치(410)에 비해 저배율로 광소자 검사장치(320)를 지속적으로 모니터링한다. 제2 모니터링 장치(415)는 광소자 검사장치(320)를 지속적으로 모니터링하며, 광섬유(450)의 광소자(440)로의 접근을 모니터링한다. 제1 모니터링 장치(410)는 고배율로 광소자(440)를 모니터링하고 있기 때문에, 광섬유(450)가 광소자(440)로부터 떨어진 위치에서 광소자(440)로 접근하는 것까지 모니터링할 수 없다. 이에 따라, 광섬유(450)가 (광소자 검사장치 사용자에 의해) 광소자(440)의 광 활성화 영역(445)으로 정확히 접근하고 있는지를 파악하기 위해, 제2 모니터링 장치(415)가 배치된다. 제2 모니터링 장치(415)는 저배율로 광소자 검사장치(320) 전체를 모니터링함으로써, 광섬유(450)가 정확히 광소자(440)로 접근하고 있는지를 파악할 수 있도록 한다.
제2 모니터링 장치(415)는 저배율로 모니터링하는 점 및 광섬유(450)가 투명한 재질로 형성되는 점에서, 제2 모니터링 장치(415)는 멀리서부터 광소자(440)로 접근하는 광섬유(450)를 정확히 모니터링하기 어려운 문제를 갖는다. 그러나 광섬유(450)는 광을 반사시키는 반사면(455)을 갖기 때문에, 제2 모니터링 장치(415)는 저배율로 모니터링하더라도 광섬유(450)의 반사면(455)을 확인함으로써, 광섬유의 위치를 모니터링할 수 있다.
도 4에는 제2 모니터링 징치(415)가 제1 모니터링 장치(410)의 측면에서 경사진 형태로 배치되어 있는 것처럼 도시되어 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니고 광소자 검사장치(320) 전체를 모니터링할 수 있으면, 어떠한 위치의 어떠한 각도로 배치되어도 무방하다.
스테이지(420)는 광소자(440)가 검사 중 이동하지 못하도록 고정한다. 스테이지(420)는 검사하고자 하는 광소자(440)를 일면에 안착시켜, 검사가 온전히 진행될 수 있도록 고정한다.
광소자(440)는 전극(430)과 광 활성화 영역(445)을 포함하여, 전기신호를 수신하고 전광변환하여 광신호를 연직 상방으로 조사하거나, 연직 상방에서 조사되는 광신호를 수신하고 광전변환하여 전기신호를 생성한다.
광소자(440)는 전극(430)을 이용하여 전기신호 분석장치(310)로부터 전기신호를 수신한다. 광소자(440)는 전극(430)에 연결된 전기신호 분석장치(310)로부터 검사를 위해 전기신호 분석장치(310)가 생성한 전기신호를 수신한다. 광소자(440)는 수신한 전기신호를 전광변환하여 전기신호에 대응하는 광신호를 생성한다. 광소자(440)는 생성한 광신호를 광 활성화 영역(445)에서 연직 상방으로 조사한다.
반대로, 광소자(440)는 광 활성화 영역(445)을 이용하여 광신호 분석장치(미도시)에서 생성되어 광섬유(450)로 전달되는 광신호를 수신한다. 광소자(440)를 검사하기 위해 광신호 분석장치(미도시)에서 생성된 광신호는 광섬유(450)를 거치며 광 활성화 영역(445)로 조사된다. 광소자(440)는 광 활성화 영역(445)으로 광신호를 수신하여 광전변환하고, 변환한 전기신호를 전극(430)을 거쳐 전기신호 분석장치(310)로 전달한다.
광섬유(450)는 광소자(440)로부터 광신호를 수신하거나, 광소자(440)로 광신호를 전송한다.
광섬유(450)는 광소자(440)의 광 활성화 영역(445)에서 연직 상방으로 조사되는 광신호를 수신하여 광신호 분석장치(미도시)로 전달한다. 광섬유(450)는 광소자(440)의 광 활성화 영역(445)과 가까운 일 끝단에 광 신호를 반사시키는 반사면(455)을 구비한다. 반사면(455)은 광섬유(450)의 일 부분을 45˚ 또는 45˚를 기준으로 일정 범위 내의 각도로 절단되어 형성되거나, 자른 단면에 빛을 반사시키는 코팅막이 증착됨으로서 형성된다. 광소자(440)의 광 활성화 영역(445)에서 연직 상방으로 조사되는 광신호는 반사면(455)에서 반사되어, 광섬유(450)의 코어(미도시) 내에서 전달된다. 광섬유(450)는 반사면(455)을 구비하기 때문에, 광섬유(450)는 수평방향(연직 상방에 수직인 방향)으로 연장된 형태로 구현되어, 광소자(440)의 수평방향에서 광소자(440)로 접근할 수 있다. 즉, 광소자(440)가 연직상방으로 광신호를 조사한다 하더라도, 종래의 광섬유(450)와 같이 광소자의 연직 상방에서 접근할 필요가 없어, 광섬유(450)가 광소자(440)로 접근하더라도 홀더에 의해 제1 모니터링 장치(410)의 모니터링을 방해하는 경우가 발생하지 않는다. 또한, 광섬유(450)는 수평방향으로 연장된 형태로 구현될 수 있기 때문에, 고배율의 제1 모니터링 장치(410)가 사용되어 제1 모니터링 장치(410)와 광소자(440) 간의 간격이 아주 좁다 하더라도, 다른 구성과의 충돌없이 매끄럽게 광 활성화 영역(445) 상에 광섬유(450)가 배치될 수 있는 장점을 갖는다.
반대로, 광섬유(450)는 광신호 분석장치(미도시)에서 조사된 광신호를 연직 상방에서 광 활성화 영역(445)으로 전달한다. 광섬유(450)는 반사면(455)을 이용하여 수평방향에서 전달되는 광신호를 연직방향으로 방향전환하여 광 활성화 영역(445)으로 전달한다.
홀더(460)는 반사면(455)이 형성된 광섬유의 일 끝단으로부터 기 설정된 거리만큼 떨어진 위치에서 광섬유를 고정한다. 전술한 대로, 광섬유(450)는 구부러지지 않고 수평방향으로 연장된 형태를 갖기 때문에, 홀더(460)가 광섬유(450)의 끝단을 직접 고정할 필요없이, 일 끝단으로부터 기 설정된 거리만큼 떨어진 위치에서 광섬유를 고정할 수 있다. 여기서, 기 설정된 거리는 광섬유(450)를 떨어져서 고정하더라도 광섬유(450)의 외형에 변화가 없을만한 거리를 의미한다. 홀더(460)가 광섬유의 일 끝단으로부터 기 설정된 거리만큼 떨어진 위치에서 광섬유를 고정하기 때문에, 광섬유(450)가 광소자(440), 특히, 광 활성화 영역(445) 상으로 접근하더라도, 홀더(460)에 의해 제1 모니터링 장치(410)의 모니터링 화면에 광소자(440)가 모니터링되지 않는 문제를 해소할 수 있다.
또한, 홀더(460)는 광섬유(450)를 하단에서 고정한다. 홀더(460)는 모니터링 장치가 광소자(440)를 모니터링하는 방향의 반대방향(하단)에서 광섬유(450)를 고정함으로써, 광섬유(450)가 광소자(440)로 접근하더라도, 제1 모니터링 장치(410)의 모니터링을 방해하는 것을 방지할 수 있다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 광소자 검사장치 내 모니터링 장치가 모니터링하는 화면을 도시한 도면이다.
도 5(a)는 광섬유(450)가 광소자(440)로 접근하기 전의 화면을 도시한다.
이때, 광섬유(450)가 광소자(440)의 광 활성화 영역(445) 상에 배치되더라도, 전술한 바와 같이, 홀더(460)가 광섬유(450)의 끝단으로부터 기 설정된 거리만큼 떨어진 위치에서 광섬유를 고정하기 때문에, 모니터링 화면에는, 도 5(b)와 같이, 광섬유(450)만이 잡힌다. 이에 따라, 광섬유(450)가 광 활성화 영역(445) 상에 온전히 배치될 수 있다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 광소자 검사장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 6을 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 광소자 검사장치(320)는 제1 실시예에 따른 광소자 검사장치의 구성에서 상이한 광 활성화 영역(610)을 가지며, 상이한 광섬유(620)를 구비한다.
광소자(440)는 수평방향으로 광신호를 조사하거나 광신호를 수신한다. 이에 따라, 광 활성화 영역(610)은 광 활성화 영역(445)와 같이, 광소자(440)의 상부에 형성된 것이 아니라 광소자(440)의 (수평방향으로의) 일측 끝단에 형성된다. 도 6에 도시된 바와 같이, 광소자(440)는 모서리에 형성될 수도 있고, 반드시 모서리가 아니더라도, 수평방향으로 광신호를 조사할 수 있도록, 수평방향으로의 일측 끝단에 형성될 수도 있다.
광섬유(620)는, 광섬유(450)와 같이, 수평방향으로 연장된 형태로 구현되나, 광섬유(450)와 달리, 광소자(440)와 가까운측 끝단에 반사막을 구비하지 않는다. 광소자(440)는 수평방향으로 광신호를 조사하거나 광신호를 수신하기 때문에, 별도의 구성없이 광섬유(620)가 광소자(440)로 수평방향으로 접근하더라도 광신호를 송·수신할 수 있어, 반사막과 같은 별도의 구성을 구비하지 않는다.
도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 광소자 검사장치 내 모니터링 장치가 모니터링하는 화면을 도시한 도면이다.
도 5(a)는 광섬유(450)가 광소자(440)로 접근하기 전의 화면을 도시한다.
광소자(440)의 광 활성화 영역(445)은 광소자의 일 끝단에 형성되어 있기 때문에, 광섬유(620)가 광소자(440)의 수평방향으로 접근하더라도 광신호를 송·수신할 수 있도록 배치될 수 있다. 이에 따라, 모니터링 장치의 화면에서 홀더에 의해 광소자(440)가 모니터링되지 않는 문제가 발생하지 않는다.
이상의 설명은 본 실시예의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 실시예들은 본 실시예의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 실시예의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 실시예의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 실시예의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 디스플레이 시스템
110, 510: 메인 디스플레이
115: 주변 디스플레이
120: 도선
210: 관리서버
220: 적층형 디스플레이 장치
310: 시뮬레이션부
320: 제어부
330: 무선통신부
340: 영상 및 광 취득부
350: 정보 처리부
410: 무선 통신부
420: 제어부
430a 내지 430n: 디스플레이 모듈
440a 내지 440n: 센서
110, 510: 메인 디스플레이
115: 주변 디스플레이
120: 도선
210: 관리서버
220: 적층형 디스플레이 장치
310: 시뮬레이션부
320: 제어부
330: 무선통신부
340: 영상 및 광 취득부
350: 정보 처리부
410: 무선 통신부
420: 제어부
430a 내지 430n: 디스플레이 모듈
440a 내지 440n: 센서
Claims (12)
- 광소자 검사장치에 있어서,
전극 및 광 활성화 영역을 포함하여, 외부로부터 상기 전극을 거쳐 수신한 전기신호를 광신호로 변환하여 변환한 광신호를 상기 광 활성화 영역에서 연직방향으로 조사하거나, 연직방향으로부터 조사되어 상기 광 활성화 영역에서 수신한 광신호를 전기신호로 변환하여 상기 전극을 거쳐 외부로 전달하는 광소자;
상기 광 활성화 영역과 가까운 일 끝단에 광 신호를 반사시키는 반사면을 구비하여, 상기 광소자로부터 연직상방으로 조사되는 광신호를 수광하거나 연직상방에서 광신호를 상기 광소자로 전송하는 광섬유;
상기 광섬유의 일 끝단으로부터 기 설정된 거리만큼 떨어진 위치에서 상기 광섬유를 고정하는 홀더;
상기 광소자의 연직방향에서 상기 광소자의 반사면에 초점을 형성하여, 상기 광섬유가 상기 광 소자의 광 활성화 영역에 배치되어 상기 광소자로부터 조사되는 광신호를 수광하거나 상기 광소자로 광신호를 전송하는지를 모니터링하는 제1 모니터링 장치; 및
상기 제1 모니터링 장치보다 상대적으로 저배율로 상기 광소자 검사장치 전체를 모니터링하며, 상기 광소자의 반사면을 확인하여 상기 광섬유의 위치를 모니터링함으로써, 상기 광섬유가 상기 광소자의 광 활성화 영역으로 접근하고 있는지를 모니터링하는 제2 모니터링 장치를 포함하며,
상기 반사면은 45도를 기준으로 기 설정된 범위 내의 각도로 절단되어 형성되거나, 절단된 단면에 광을 반사시키는 코팅막이 증착되어 형성되고,
상기 광섬유는 상기 반사면을 이용하여 상기 광 활성화 영역에서 연직방향으로 조사되는 광신호를 수신하거나 연직 상방에서 상기 광 활성화 영역으로 광신호를 전달함에 따라, 수평방향으로 연장된 형태로 구현되어 상기 광소자의 광 활성화 영역으로 상기 광소자의 수평방향에서 상기 광소자로 접근 가능한 것을 특징으로 하는 광소자 검사장치.
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| KR20200061603A KR20200061603A (ko) | 2020-06-03 |
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2018
- 2018-11-26 KR KR1020180147108A patent/KR102146983B1/ko active IP Right Grant
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