KR102126358B1 - jig apparatus for inspection - Google Patents

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KR102126358B1 KR1020200047271A KR20200047271A KR102126358B1 KR 102126358 B1 KR102126358 B1 KR 102126358B1 KR 1020200047271 A KR1020200047271 A KR 1020200047271A KR 20200047271 A KR20200047271 A KR 20200047271A KR 102126358 B1 KR102126358 B1 KR 102126358B1
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Abstract

The present invention provides a jig device for inspection which can increase inspection precision and inspection reliability which includes: a compatible base portion disposed in a front portion and selectively arranged opposite to a lower portion of a supply unit which reciprocates along a width direction so as to sequentially supply a plurality of inspection objects provided with flat plates having a square cross section standardized according to sizes thereof, wherein a plurality of alignment holes are formed vertically through the central portion of the compatible base portion at a position where an outer edge of each inspection object is seated and a plurality of vacuum suction holes are formed vertically through the compatible base portion while being spaced apart from the alignment holes such that a lower surface of an edge of each inspection object supplied by the supply unit is selectively seated thereon through vacuum adsorption; an inspection photographing unit disposed in a rear portion spaced from the supply unit in a front-rear direction, selectively arranged opposite to an upper portion of the compatible base portion, and including an inspection camera to photograph the inspection object fixed onto the upper surface of the compatible base portion through vacuum adsorption; a transfer unit disposed along the front-rear direction below the compatible base portion such that the compatible base portion is rolled in the front-rear direction to be selectively and oppositely disposed under one of the supply unit and the inspection photographing, wherein the transfer unit is rail-connected to the compatible base portion; and a control unit for receiving an inspection object image for the inspection object photographed by the inspection photographing unit, comparing and inspecting a matching rate between the inspection object image and a pre-stored master image, and controlling the driving of the supply unit and the transfer unit.

Description

검사용 지그장치{jig apparatus for inspection}Jig apparatus for inspection

본 발명은 검사용 지그장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사정밀성 및 검사신뢰도가 개선되는 검사용 지그장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection jig device, and more particularly, to an inspection jig device for improving inspection precision and inspection reliability.

일반적으로 폴리이미드(PI) 박막 등을 포함하여 제조되는 반도체 검사 공정에서 피검사물을 검사하기 위한 지그장치가 사용된다. In general, a jig device for inspecting an object to be inspected is used in a semiconductor inspection process manufactured including a polyimide (PI) thin film.

여기서, 폴리이미드 박막으로서 구비된 피검사물에는 복수개의 코일이 구비되며, 각 상기 코일은 종방향 및 횡방향을 따라 상호간 이격된다. 이때, 각 상기 코일 사이마다 복수개의 홀이 관통 형성된다. Here, a test object provided as a polyimide thin film is provided with a plurality of coils, and each of the coils is spaced apart from each other along the longitudinal and transverse directions. At this time, a plurality of holes are formed through each of the coils.

그리고, 종래의 지그장치에는 피검사물의 테두리가 테이블에 안착된 상태에서 별도로 구비된 그립퍼에 의해 걸림 가압됨과 동시에 테이블이 전후방향으로 이동되어 검사장치의 하부를 통과함에 따라 피검사물의 검사가 수행되었다. In addition, in the conventional jig device, while the rim of the inspected object is seated on the table, it is pressed and pressed by a separately provided gripper, and at the same time, the inspection of the inspected object is performed as the table moves in the front-rear direction and passes through the lower portion of the inspection device. .

이때, 종래의 지그장치는 피검사물을 견고하게 고정하는 수단 없이 그립퍼에 의해 단순히 걸림 가압되는 상태에서 검사가 수행되었다. At this time, in the conventional jig device, the inspection was carried out in a state that is simply locked and pressed by the gripper without a means for firmly fixing the object to be inspected.

그러나, 종래의 지그장치는 테이블이 수회 전후방향 이동되며 검사가 수행되는데 피검사물을 견고하게 고정하는 수단이 없어 피검사물의 표면에 다수의 스크래치가 발생되는 심각한 문제점이 있었다. However, the conventional jig device has a serious problem in that a plurality of scratches are generated on the surface of an object to be inspected because the table is moved back and forth several times and there is no means for firmly fixing the object to be inspected.

이를 해결하기 위해, 테이블에 피검사물의 외곽 테두리를 클램핑 가압하는 클램핑수단이 구비될 수 있다. 그러나, 클램핑수단에 의해 피검사물의 상면 일부가 검사장치로부터 차폐되어 검사 제외영역이 발생하는 심각한 문제점이 있었다. To solve this, the table may be provided with a clamping means for clamping the outer rim of the inspected object. However, there is a serious problem in that a part of the upper surface of the object to be inspected is shielded from the inspection device by the clamping means to generate an inspection exclusion area.

더욱이, 클램핑수단에 의해 테이블에 안착된 피검사물의 외곽 테두리를 클램핑 가압하면 피검사물 전체가 테이블의 안착면으로부터 미세하게 들뜸되는 현상이 발생하는 심각한 문제점이 있었으며, 가압력에 의해 피검사물의 평탄도가 수평으로 유지되지 못하는 문제점이 있었다. Moreover, when clamping and pressing the outer rim of the test object seated on the table by the clamping means, there was a serious problem in that the entire test object was slightly lifted off from the seating surface of the table. There was a problem that could not be maintained horizontally.

한국 등록실용신안 제20-0460791호Korean Utility Model No. 20-0460791

상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 검사정밀성 및 검사신뢰도가 개선되는 검사용 지그장치를 제공하는 것을 해결과제로 한다.In order to solve the above problems, the present invention is to solve the problem of providing an inspection jig device for improving inspection precision and inspection reliability.

상기의 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 전방부에 배치되며 사각 단면의 평판이 상이한 크기별로 규격화되어 구비된 복수개의 피검사물을 순차적으로 공급하도록 폭방향을 따라 왕복 이동되는 공급부의 하부에 선택적으로 대향 배치되되, 중앙부에 각 상기 피검사물의 외곽 테두리가 안착되는 위치에 복수개의 정렬공이 상하방향으로 관통 형성되며, 상기 공급부에 의해 공급된 각 상기 피검사물의 테두리 하면이 선택적으로 안착되어 진공 흡착되도록 상기 정렬공과 이격되며 복수개의 진공흡입홀이 상하방향으로 관통 형성되는 호환베이스부; 상기 공급부와 전후방향으로 이격된 후방부에 배치되되, 상기 호환베이스부의 상부에 선택적으로 대향 배치되며, 상기 호환베이스부의 상면에 진공 흡착되어 고정된 상기 피검사물을 촬상하는 검사카메라를 포함하는 검사촬상부; 상기 호환베이스부가 전후방향으로 구름 이동되어 상기 공급부 및 상기 검사촬상부 중 어느 하나의 하부에 선택적으로 대향 배치되도록 상기 호환베이스부의 하부에 전후방향을 따라 배치되되 상기 호환베이스부에 레일 연결되는 이송부; 및 상기 검사촬상부에서 촬상된 상기 피검사물에 대한 검사대상이미지를 전송받아 상기 검사대상이미지 및 기저장된 마스터이미지 간의 매칭률을 비교검사하며, 상기 공급부 및 상기 이송부를 구동 제어하는 제어부를 포함하는 검사용 지그장치를 제공한다.In order to solve the above problems, the present invention is disposed on the front portion and the flat plate of the square cross section is standardized for different sizes and selectively provided at the lower portion of the supply unit that is reciprocated along the width direction to sequentially supply a plurality of inspected objects. Arranged to face each other, a plurality of alignment holes are formed in the vertical direction at the position where the outer rim of each inspected object is seated in the center, and the lower surface of the rim of each inspected object supplied by the supply unit is selectively seated to be vacuum adsorbed. A compatible base part spaced apart from the alignment hole and having a plurality of vacuum suction holes penetrating vertically; An inspection image including an inspection camera which is disposed on the rear part spaced apart from the supply part in the front-rear direction and is selectively opposed to the upper part of the compatible base part and is vacuum-suctioned on an upper surface of the compatible base part to capture the fixed test object. part; A transfer part disposed along the front-rear direction in the lower part of the compatible base part to be rail-connected to the compatible base part so that the compatible base part is clouded in the front-rear direction and selectively disposed opposite to any one of the supply part and the inspection imaging part; And a control unit receiving and receiving an inspection target image for the inspected object imaged by the inspection imaging unit, comparing and inspecting a matching rate between the inspection target image and a pre-stored master image, and driving and controlling the supply unit and the transport unit. Provide a jig device.

상기의 해결 수단을 통하여, 본 발명은 다음과 같은 효과를 제공한다.Through the above solution, the present invention provides the following effects.

첫째, 피검사물의 하면 외측 테두리가 호환베이스부의 진공흡입홀에 진공 흡착됨과 동시에 상면 전체가 호환베이스부의 면적 이상으로 구비된 투명 재질의 평평한 투광글래스에 의해 동시에 균일하게 면접촉 하향 가압되므로 검사시 피검사물의 상면이 완전 노출되면서도 전후방향 복수회 왕복 이동시에도 평탄도가 균일하게 유지되어 검사정밀도 및 검사신뢰도가 현저히 개선될 수 있다. First, the lower edge of the object under test is vacuum-adsorbed to the vacuum suction hole of the compatible base, and at the same time, the entire upper surface is simultaneously and evenly pressed down by the flat light-transmitting glass of transparent material provided over the area of the compatible base. Even when the top surface of the object is completely exposed, the flatness is uniformly maintained even when reciprocating multiple times in the front-rear direction, so that inspection precision and inspection reliability can be remarkably improved.

둘째, 반사조명부로부터 방사된 빛이 투명 재질의 투광글래스에서 반사되어 검사카메라에 도달하는 입사광량이 기설정값 이하로 조절되도록 투광글래스가 기설정범위의 반사율로 구비되어 매질 특성에 의한 산란이 최소화되므로 피검사물에 대하여 획득되는 검사대상이미지의 선명도가 현저히 개선될 수 있다.Second, the transparent glass is provided with a reflectance of a predetermined range so that the light emitted from the reflective lighting unit is reflected by the transparent glass's transparent glass and the amount of incident light reaching the inspection camera is adjusted to a predetermined value or less, thereby minimizing scattering due to the media characteristics. Therefore, the sharpness of the image to be inspected obtained for the inspected object can be significantly improved.

셋째, 다양한 크기의 피검사물 중 하나가 호환베이스부의 상면에 안착되면 기준정렬공의 상측으로 승강 노출된 기준걸림부에 일측이 걸림되고, 복수개의 대향정렬공 상측으로 승강 노출된 가압이동걸림부에 타측이 가압 정렬되므로 복수개의 피검사물을 대량 순차 검사시에도 각 검사대상이미지가 균일하게 획득될 수 있다. Third, when one of the test objects of various sizes is seated on the upper surface of the compatible base part, one side is hung on the reference catching part that is elevated and exposed to the upper side of the reference alignment hole, and the pressurized moving engagement part is elevating and exposed to the upper side of the plurality of opposing alignment holes. Since the other side is press-aligned, each inspection target image can be obtained uniformly even when a large number of sequential tests are performed on a plurality of objects.

넷째, 하나의 호환베이스부에 다양한 크기의 피검사물이 호환되도록 복수개의 대향정렬공이 기준정렬공으로부터 각 피검사물의 폭에 대응되는 간격을 두고 이격 배치되며 각 피검사물의 폭방향 양측 하면이 제1진공흡입홀 및 복수개의 제2진공흡입홀 중 어느 하나에 각각 대향 배치되므로 호환성이 현저히 개선될 수 있다. Fourth, a plurality of opposing alignment holes are spaced apart from the reference alignment holes at intervals corresponding to the width of each inspected object so that the inspected objects of various sizes are compatible with one compatible base part, and the lower surfaces on both sides of the width direction of each inspected object are the first. Since the vacuum suction hole and the plurality of second vacuum suction holes are disposed opposite to each other, compatibility may be significantly improved.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 검사용 지그장치에 배치되는 피검사물을 나타낸 예시도.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치를 나타낸 사용예시도.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 공급부를 나타낸 사시도.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 호환베이스부와 글래스커버부를 측면에서 바라본 단면예시도.
도 5 및 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 호환베이스부와 글래스커버부의 사용상태를 나타낸 상면예시도.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 투광글래스의 파장에 따른 반사율을 나타낸 그래프.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 흡입회전부를 나타낸 사시도.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치를 나타낸 블록도.
1 is an exemplary view showing an object to be disposed on a jig device for inspection according to a preferred embodiment of the present invention.
Figure 2 is a usage example showing a jig device for inspection according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a perspective view showing a supply unit in the jig apparatus for inspection according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 is a cross-sectional view of the compatible base portion and the glass cover portion from the side in a jig apparatus for inspection according to an embodiment of the present invention.
5 and 6 is a top view showing the state of use of the compatible base portion and the glass cover portion in the jig apparatus for inspection according to an embodiment of the present invention.
7 is a graph showing the reflectance according to the wavelength of the transparent glass in the jig apparatus for inspection according to an embodiment of the present invention.
8 is a perspective view showing a suction rotation unit in a jig apparatus for inspection according to an embodiment of the present invention.
9 is a block diagram showing a jig device for inspection according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 검사용 지그장치를 상세히 설명한다. Hereinafter, a jig apparatus for inspection according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 검사용 지그장치에 배치되는 피검사물을 나타낸 예시도이다.1 is an exemplary view showing an inspected object disposed in an inspection jig device according to a preferred embodiment of the present invention.

여기서, 폴리이미드 박막으로서 구비된 피검사물(1)에는 복수개의 코일(1a)이 구비되며, 각 상기 코일(1a)은 종방향 및 횡방향을 따라 상호간 이격된다. 이때, 각 상기 코일(1a) 사이마다 복수개의 홀(1b)이 관통 형성된다. 이러한 피검사물(1)은 박막PI 제품에 적용되며, 동박 및 에폭시 절연물 재질을 포함하여 제조될 수 있으며 각 크기에 따라 QUAD(도 5의 1A), 9BAR(도 5의 1B) 제품 등으로 분류될 수 있다. 예컨대, QUAD(도 5의 1A) 제품은 폭192.5mm±1mm, 길이231mm 또는 241mm, 높이0.1~1.0mm, 중량1,000g 이하로 구비될 수 있으며, 9BAR(도 5의 1B) 제품은 폭117mm±1mm, 길이145.5mm±1mm, 높이0.1~1.0mm, 중량1,000g 이하로 구비될 수 있다.Here, a plurality of coils 1a are provided in the inspected object 1 provided as a polyimide thin film, and each of the coils 1a is spaced apart from each other along the longitudinal and transverse directions. At this time, a plurality of holes 1b are formed through each of the coils 1a. Such an inspected object 1 is applied to a thin film PI product, and can be manufactured including copper foil and an epoxy insulating material, and classified into QUAD (1A in FIG. 5), 9BAR (1B in FIG. 5) according to each size. Can. For example, a QUAD (1A in FIG. 5) product may be provided with a width of 192.5 mm±1 mm, a length of 231 mm or 241 mm, a height of 0.1 to 1.0 mm, and a weight of 1,000 g or less, and a 9BAR (FIG. 5 1B) product has a width of 117 mm±. 1mm, length 145.5mm±1mm, height 0.1~1.0mm, weight 1,000g or less can be provided.

한편, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치를 나타낸 사용예시도이고, 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 공급부를 나타낸 사시도이며, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 호환베이스부와 글래스커버부를 측면에서 바라본 단면예시도이고, 도 5 및 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 호환베이스부와 글래스커버부의 사용상태를 나타낸 상면예시도이며, 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 투광글래스의 파장에 따른 반사율을 나타낸 그래프이고, 도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치에서 흡입회전부를 나타낸 사시도이며, 도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치를 나타낸 블록도이다.On the other hand, Figure 2 is an exemplary view showing a jig device for inspection according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is a perspective view showing a supply unit in an inspection jig device according to an embodiment of the present invention, Figure 4 is A cross-sectional view of a compatible base portion and a glass cover portion in a side view in a jig apparatus for inspection according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 5 and 6 show a compatible base portion in a jig apparatus for inspection according to an embodiment of the present invention. Top view showing the state of use of the glass cover portion, Figure 7 is a graph showing the reflectance according to the wavelength of the light transmitting glass in the inspection jig apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 8 is an embodiment of the present invention It is a perspective view showing a suction rotation unit in the inspection jig device according to, Figure 9 is a block diagram showing a jig device for inspection according to an embodiment of the present invention.

도 2 내지 도 9에서 보는 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 검사용 지그장치(100)는 공급부(10), 호환베이스부(20), 검사촬상부(30), 이송부(40), 그리고 제어부(50)를 포함한다. 2 to 9, the jig apparatus 100 for inspection according to an embodiment of the present invention includes a supply unit 10, a compatible base unit 20, an inspection imaging unit 30, a transport unit 40, And includes a control unit 50.

여기서, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 피검사물(1)을 지지 및 고정하여 검사하도록 구비되는 장치이다. 이때, 상기 피검사물(1)은 박막PI 제품에 적용되는 QUAD(1A), 9BAR(1B)를 포괄하는 개념으로 사용됨으로 이해함이 바람직하다. 이처럼, 하나의 검사용 지그장치(100)를 통해 다양한 크기 및 종류로 구비되는 상기 피검사물(1)에 대한 검사가 수행 가능하므로 호환성이 현저히 개선될 수 있다. Here, the jig device 100 for inspection is a device provided to support and fix the inspected object 1 to be inspected. At this time, it is preferable to understand that the inspected object 1 is used as a concept encompassing QUAD(1A) and 9BAR(1B) applied to a thin film PI product. As described above, since inspection can be performed on the inspected object 1 provided in various sizes and types through one inspection jig device 100, compatibility may be significantly improved.

한편, 도 2 내지 도 3을 참조하면, 상기 공급부(10)는 복수개의 상기 피검사물(1)을 상기 호환베이스부(20)에 순차적으로 공급하도록 구비된다. 이때, 상기 공급부(10)는 상기 검사용 지그장치(100)의 전방부에 배치되어 폭방향을 따라 선택적으로 왕복 이동되도록 구비됨이 바람직하다. Meanwhile, referring to FIGS. 2 to 3, the supply unit 10 is provided to sequentially supply a plurality of the inspected objects 1 to the compatible base unit 20. At this time, it is preferable that the supply part 10 is disposed on the front part of the jig device 100 for inspection and selectively reciprocated along the width direction.

여기서, 상기 공급부(10)는 복수개의 상기 피검사물(1)이 적층 배치된 보관부 및 상기 호환베이스부(20)의 사이를 폭방향을 따라 왕복 이동하도록 구비되는 공급이송수단과, 상기 보관부 및 상기 호환베이스부(20)의 상부에 대향 배치시 선택적으로 승강되도록 실린더 등으로 구비되는 승강수단과, 상기 피검사물(1)의 테두리측 상면을 흡착하도록 구비되는 흡입고정수단을 포함하여 구비됨이 바람직하다. 이러한 공급부(10)는 상기 제어부(50)에 의해 제어됨이 바람직하다. Here, the supply unit 10 is a supply transfer means and a storage unit provided to be reciprocated in the width direction between the storage unit and the compatible base unit 20 in which a plurality of the inspected objects 1 are stacked and arranged, and the storage unit And a lifting means provided with a cylinder or the like to selectively elevate when placed opposite to the upper portion of the compatible base portion 20, and suction fixing means provided to adsorb the upper surface of the edge of the inspected object 1 This is preferred. The supply unit 10 is preferably controlled by the control unit 50.

상세히, 상기 제어부(50)는 상기 공급부(10)가 상기 보관부의 상부로부터 하강되도록 상기 승강수단에 제1공급제어신호를 전송하며, 상기 피검사물(1)이 흡착되도록 상기 흡입고정수단에 제2공급제어신호를 전송할 수 있다. 이어서, 상기 제어부(50)는 상기 공급부(10)가 상승되도록 상기 승강수단에 제3공급제어신호를 전송할 수 있다. In detail, the control unit 50 transmits a first supply control signal to the elevating means so that the supply unit 10 descends from the upper portion of the storage unit, and second to the suction fixing means so that the inspected object 1 is adsorbed. The supply control signal can be transmitted. Subsequently, the control unit 50 may transmit a third supply control signal to the elevating means so that the supply unit 10 is raised.

그리고, 상기 제어부(50)는 상기 공급부(10)에 상기 피검사물(1)이 흡착된 상태에서 폭방향으로 이동되어 상기 공급부(10)가 상기 호환베이스부(20)의 상부에 대향 배치되도록 상기 공급이송수단에 제4공급제어신호를 전송할 수 있다. 이때, 상기 흡입고정수단에 의해 상기 피검사물(1)이 상기 공급부(10)에 고정된 상태가 유지된다. In addition, the control unit 50 is moved so as to be moved in the width direction in the state where the test object 1 is adsorbed to the supply unit 10 so that the supply unit 10 is disposed opposite to the upper portion of the compatible base unit 20. The fourth supply control signal can be transmitted to the supply transfer means. At this time, a state in which the inspected object 1 is fixed to the supply part 10 by the suction fixing means is maintained.

또한, 상기 제어부(50)는 상기 공급부(10)가 상기 호환베이스부(20)의 상부로부터 하강되도록 상기 승강수단에 제5공급제어신호를 전송하며, 상기 피검사물(1)이 상기 공급부(10)로부터 흡착 해제되어 상기 호환베이스부(20)의 상부에 안착되도록 상기 흡입고정수단에 제6공급제어신호를 전송할 수 있다. 이어서, 상기 제어부(50)는 상기 공급부(10)가 상승되도록 상기 승강수단에 제7공급제어신호를 전송하며, 상기 공급부(10)가 상기 폭방향 이동되어 상기 보관부의 상부에 대향 배치되도록 상기 공급이송수단에 제8공급제어신호를 전송할 수 있다. In addition, the control unit 50 transmits a fifth supply control signal to the elevating means so that the supply unit 10 descends from the upper portion of the compatible base unit 20, and the inspected object 1 is the supply unit 10 ), the sixth supply control signal can be transmitted to the suction fixing means so as to be released from suction and seated on the upper portion of the compatible base portion 20. Subsequently, the control unit 50 transmits a seventh supply control signal to the elevating means so that the supply unit 10 is raised, and the supply unit 10 is moved in the width direction so as to be disposed opposite to the upper portion of the storage unit. The eighth supply control signal can be transmitted to the transfer means.

이러한 상기 공급부(10)는 복수개 구비되어 각각의 공급부(10)가 상이한 폭방향 왕복이동구간 내에서 폭방향 왕복 이동 및 상하방향 승강되며, 상술된 공급과정을 통해 상기 피검사물(1)을 복수개로 구비되는 상기 호환베이스부(20) 중 어느 하나에 공급한 후 기설정된 시간이 경과되면 검사가 수행된 상기 피검사물(1)을 상기 호환베이스부(20)로부터 후술될 흡입회전부(70) 또는 배출부로 배출하도록 제어될 수 있다. A plurality of such supply parts 10 are provided so that each supply part 10 is moved in the width direction reciprocating motion and vertically moving up and down within a different width reciprocating section, and the test object 1 is plural through the above-described supplying process. When the predetermined time elapses after supplying to any one of the provided compatible base parts 20, the inspected object 1, which has been inspected, is discharged from the compatible base part 20 or the suction rotating part 70 to be described later. It can be controlled to discharge to the negative.

이에 따라, 상기 공급부(10)를 통해 상기 피검사물(1)이 상기 보관부로부터 상기 호환베이스부(20)로 순차적으로 자동 공급되므로 생산속도가 향상되어 생산성 및 경제성이 개선되며, 공정이 자동화되어 작업편의성이 현저히 개선될 수 있다. Accordingly, since the inspected object 1 is sequentially and automatically supplied from the storage unit to the compatible base unit 20 through the supply unit 10, the production speed is improved, productivity and economy are improved, and the process is automated. Work convenience can be significantly improved.

한편, 도 4 내지 도 6을 참조하면, 상기 호환베이스부(20)는 상기 검사용 지그장치(100)의 전방부에 배치되되, 상기 이송부(40)에 의해 선택적으로 후방으로 이동되어 상기 검사촬상부(30)의 하부에 선택적으로 대향 배치됨이 바람직하다. 또한, 상기 호환베이스부(20)는 폭방향으로 왕복 이동되는 상기 공급부(10)의 하부에 선택적으로 대향 배치됨이 바람직하다.On the other hand, referring to Figures 4 to 6, the compatible base portion 20 is disposed on the front portion of the jig apparatus 100 for inspection, is selectively moved to the rear by the transfer unit 40, the inspection imaging It is preferable that it is selectively opposed to the lower portion of the portion (30). In addition, the compatible base portion 20 is preferably disposed opposite to the lower portion of the supply portion 10 that is reciprocated in the width direction.

그리고, 상기 호환베이스부(20)에는 중앙부에 각 상기 피검사물(1)의 외곽 테두리가 안착되는 위치에 복수개의 정렬공(21)이 상하방향으로 관통 형성됨이 바람직하다. In addition, it is preferable that a plurality of alignment holes 21 are formed to penetrate through the vertical direction at the center of the compatible base portion 20 at a position where the outer rim of each inspected object 1 is seated.

상세히, 상기 정렬공(21)은 상기 호환베이스부(20)의 폭방향 일측에 배치되되 전후방향으로 연장되며 상하방향으로 관통 형성되는 기준정렬공(21a)을 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 기준정렬공(21a)은 전후방향 길이가 폭을 초과하도록 설정됨이 바람직하다. In detail, the alignment hole 21 is preferably disposed on one side in the width direction of the compatible base part 20 and includes a reference alignment hole 21a extending in the front-rear direction and penetrating in the vertical direction. At this time, the reference alignment hole 21a is preferably set so that the length in the front-rear direction exceeds the width.

여기서, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 기준정렬공(21a)의 하부에 배치되되 각 상기 피검사물(1)의 폭방향 일측이 걸림되도록 선택적으로 승강되어 상기 기준정렬공(21a)의 상측으로 노출되는 기준걸림부(22)를 더 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 기준걸림부(22)는 상기 제어부(50)에 의해 제어됨이 바람직하다. Here, the jig apparatus 100 for inspection is disposed below the reference alignment hole 21a, and is selectively lifted so that one side in the width direction of each of the inspected objects 1 is caught, and the upper side of the reference alignment hole 21a. It is preferable to further include a reference catching portion 22 exposed as. At this time, it is preferable that the reference catching part 22 is controlled by the control part 50.

또한, 상기 기준걸림부(22)는 상기 기준정렬공(21a)의 내면 윤곽에 대응되는 외측면 윤곽 단면으로 구비되되 상하방향으로 연장되며, 하부에 상기 기준걸림부(22)가 승강 구동되도록 구비되되 상기 제어부(50)에 의해 제어되는 제1승강정렬수단에 동력 연결됨이 바람직하다. 이러한 제1승강정렬수단은 모터로서 구비될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. In addition, the reference engaging portion 22 is provided with a cross-section of the outer surface contour corresponding to the inner surface contour of the reference alignment hole 21a, but extends in the vertical direction, and provided so that the reference engaging portion 22 is driven upward and downward. However, it is preferable that power is connected to the first lifting and aligning means controlled by the control unit 50. The first lifting and aligning means may be provided as a motor, but is not limited thereto.

한편, 상기 정렬공(21)은 상기 호환베이스부(20)의 타측에 배치되되 상기 기준정렬공(21a)으로부터 각 상기 피검사물(1)의 폭에 대응되는 간격을 두고 이격 배치되며 상기 호환베이스부(20)의 폭방향으로 연장되며 상하방향으로 관통 형성되는 복수개의 대향정렬공(21b,21c)을 포함함이 바람직하다. 이때, 각 상기 대향정렬공(21b,21c)는 전후방향 길이가 폭 미만으로 설정됨이 바람직하다.On the other hand, the alignment holes 21 are disposed on the other side of the compatible base portion 20, but are spaced apart from each other by a distance corresponding to the width of each inspected object 1 from the reference alignment holes 21a and the compatible base It is preferable to include a plurality of opposing alignment holes 21b and 21c extending in the width direction of the portion 20 and penetrating in the vertical direction. At this time, it is preferable that the length of each of the opposing alignment holes 21b and 21c is set to be less than the width.

여기서, 상기 대향정렬공(21b,21c)은 상기 호환베이스부(20)의 타측 외곽에 배치되되 복수개소 형성되어 상호간 전후방향 간격을 두고 이격 배치되는 제1대향정렬공(21b)을 포함함이 바람직하다. Here, the opposing alignment holes 21b and 21c include first opposing alignment holes 21b which are disposed on the other outer periphery of the compatible base portion 20 and are spaced apart from each other at intervals in the front-rear direction. desirable.

더불어, 상기 대향정렬공(21b,21c)은 상기 기준정렬공(21a)과 상기 제1대향정렬공(21b) 사이에 배치되되 복수개소 형성되어 상호간 전후방향 간격을 두고 이격 배치되는 제2대향정렬공(21c)을 포함함이 바람직하다. 이때, 본 발명의 일실시예에서 상기 제1대향정렬공(21b)과 상기 제2대향정렬공(21c)이 각각 3개소 형성된 경우를 예로써 도시 및 설명한다. In addition, the opposing alignment holes 21b and 21c are arranged between the reference alignment hole 21a and the first opposing alignment hole 21b, but are formed in a plurality of positions, and the second opposing alignment spaced apart from each other at an interval between the front and rear directions. It is preferred to include the balls 21c. At this time, in the exemplary embodiment of the present invention, the case where the first opposing alignment hole 21b and the second opposing alignment hole 21c are respectively formed in three places is illustrated and described.

상세히, 상기 호환베이스부(20)의 전방측에 배치된 제1대향정렬공(21b)과 후방측에 배치된 제1대향정렬공(21b) 사이의 간격은 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 전후방향 길이에 대응되도록 설정됨이 바람직하다. 또한, 각 상기 제1대향정렬공(21b)의 폭방향 내측단은 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 하부에 선택적으로 대향되도록 배치되며, 폭방향 외측단은 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 외곽 테두리로부터 외측으로 노출된 위치로 배치되도록 설정됨이 바람직하다.In detail, the interval between the first counter-alignment hole 21b disposed on the front side of the compatible base portion 20 and the first counter-alignment hole 21b disposed on the rear side is QUAD ( It is preferably set to correspond to the length in the front-rear direction of 1A). In addition, the widthwise inner end of each of the first facing alignment holes 21b is disposed to be selectively opposed to the lower portion of the QUAD 1A among the inspected objects 1, and the widthwise outer end thereof is the inspected object 1 It is preferable that it is set to be disposed to a position exposed to the outside from the outer rim of the QUAD 1A.

또한, 상기 호환베이스부(20)의 전방측에 배치된 제2대향정렬공(21c)과 후방측에 배치된 제2대향정렬공(21c) 사이의 간격은 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 전후방향 길이에 대응되도록 설정됨이 바람직하다. 또한, 각 상기 제2대향정렬공(21c)의 폭방향 내측단은 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 하부에 선택적으로 대향되도록 배치되며, 폭방향 외측단은 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 외곽 테두리로부터 외측으로 노출된 위치로 배치되도록 설정됨이 바람직하다.In addition, the interval between the second counter-alignment hole 21c disposed on the front side of the compatible base portion 20 and the second counter-alignment hole 21c disposed on the rear side is 9BAR (of the inspected object 1). It is preferably set to correspond to the length in the front-rear direction of 1B). In addition, the widthwise inner end of each of the second opposing alignment holes 21c is arranged to be selectively opposed to the lower portion of 9BAR (1B) of the inspected object 1, and the widthwise outer end is the inspected object 1 It is preferable to be set to be disposed to a position exposed to the outside from the outer border of the 9BAR (1B).

여기서, 상기 검사용 지그장치(100)는 각 상기 대향정렬공(21b,21c)의 하부에 배치되되 선택적으로 승강되어 각 상기 대향정렬공(21b,21c)의 상측으로 노출된 후 각 상기 피검사물(1)의 폭방향 타측을 가압하도록 상기 호환베이스부(20)의 일측방향으로 이동되는 가압이동걸림부(23a,23b)를 더 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 가압이동걸림부(23a,23b)는 상기 제어부(50)에 의해 제어됨이 바람직하다. Here, the jig apparatus 100 for inspection is disposed below each of the counter-alignment holes 21b and 21c, and is selectively elevated and exposed to the upper side of each of the counter-alignment holes 21b and 21c, and then the each test object It is preferable to further include the pressing movement catching portions 23a and 23b which are moved in one direction of the compatible base portion 20 to press the other side in the width direction of (1). At this time, it is preferable that the pressing movement catching parts 23a and 23b are controlled by the control part 50.

또한, 상기 가압이동걸림부(23a,23b)는 각 상기 제1대향정렬공(21b)의 하부에 배치되는 복수개의 제1가압이동걸림부(23a)와, 각 상기 제2대향정렬공(21c)의 하부에 배치되는 복수개의 제2가압이동걸림부(23b)를 포함함이 바람직하다. 이때, 본 발명의 일실시예에서 각 상기 제1가압이동걸림부(23a)와 각 상기 제2가압이동걸림부(23b)가 각각 3개 구비되는 경우를 예로써 도시 및 설명한다. In addition, the pressing movement catching portion (23a, 23b) is a plurality of first pressing movement catching portion (23a) disposed under each of the first opposing alignment holes (21b), and each of the second opposing alignment holes (21c) It is preferable to include a plurality of second pressing movement catching portion (23b) disposed in the lower portion. At this time, in the embodiment of the present invention, each of the first pressing movement catching part 23a and each of the second pressing movement catching parts 23b are provided with three examples, respectively.

그리고, 각 상기 가압이동걸림부(23a,23b)는 각 상기 대향정렬공(21b,21c)의 폭방향을 따라 선택적으로 이동되도록 각 상기 대향정렬공(21b,21c)의 폭 미만을 폭을 갖는 단면으로 구비되되 상하방향으로 연장되며, 하부에 상기 가압이동걸림부(23a,23b)가 승강 구동되도록 구비되되 상기 제어부(50)에 의해 제어되는 제2승강정렬수단에 동력 연결됨이 바람직하다. 이러한 제2승강정렬수단은 모터로서 구비될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. Then, each of the pressing movement catching portions 23a, 23b has a width less than the width of each of the opposing alignment holes 21b, 21c so as to be selectively moved along the width direction of each of the opposing alignment holes 21b, 21c. It is provided in a cross-section but extends in the up-down direction, and is provided so that the press-moving and moving parts 23a and 23b are driven upward and downward, and is preferably connected to the second lifting and aligning means controlled by the control unit 50. The second lifting and aligning means may be provided as a motor, but is not limited thereto.

또한, 각 상기 가압이동걸림부(23a,23b)에는 상단으로부터 상기 호환베이스부(20)의 폭방향 일측으로 절곡 연장되는 걸림고리가 각각 형성될 수 있다. 더욱이, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 호환베이스부(20)의 상면에 안착되는 상기 피검사물(1)의 종류 및 크기를 판별하는 피검사물 판별센서(미도시)를 더 포함할 수 있다. In addition, each of the pressing movement catching portions 23a and 23b may be formed with hooks extending from the top to one side in the width direction of the compatible base portion 20, respectively. Moreover, the jig device for inspection 100 may further include an object inspection sensor (not shown) for determining the type and size of the object 1 to be seated on the upper surface of the compatible base 20. .

이에 따라, 상기 공급부(10)에 의해 상기 호환베이스부(20)의 상면에 상기 피검사물이 안착되면, 상기 제어부(50)가 상기 기준걸림부(22)를 상승 제어함과 동시에 상기 피검사물 판별센서(미도시)에 의해 판별된 상기 피검사물(1)의 종류 및 크기에 대응되어 상기 제1가압이동걸림부(23a) 및 상기 제2가압이동걸림부(23b) 중 어느 한 세트를 상승 제어할 수 있다. Accordingly, when the object to be inspected is seated on the upper surface of the compatible base part 20 by the supply part 10, the control part 50 elevates and controls the reference catching part 22 while discriminating the object to be inspected. Elevated control of any one set of the first pressing movement engaging portion 23a and the second pressing movement engaging portion 23b corresponding to the type and size of the inspected object 1 determined by a sensor (not shown) can do.

이때, 상기 제1가압이동걸림부(23a) 및 상기 제2가압이동걸림부(23b) 중 어느 한 세트는 상기 피검사물(1)의 외곽 테두리의 외측으로부터 각 상기 대향정렬공(21b,21c)의 상측으로 노출된 후 상기 호환베이스부(20)의 폭방향 일측으로 이동됨에 따라 상기 피검사물(1)의 외곽 테두리를 가압할 수 있다. At this time, any one of the first pressing movement catching portion 23a and the second pressing movement catching portion 23b is provided with each of the opposing alignment holes 21b and 21c from outside the outer rim of the inspected object 1 After being exposed to the upper side of the can be pressed to the outer rim of the inspected object (1) as it is moved to one side in the width direction of the compatible base (20).

즉, 상기 피검사물(1)의 폭방향 일측이 상기 기준걸림부(22)에 걸림됨과 동시에 상기 피검사물(1)의 폭방향 타측이 상기 제1가압이동걸림부(23a) 및 상기 제2가압이동걸림부(23b) 중 어느 한 세트에 의해 가압 걸림될 수 있다. That is, one side in the width direction of the inspected object 1 is caught by the reference catching part 22 and at the same time, the other side in the width direction of the inspected object 1 is the first pressing movement catching part 23a and the second pressing force. It may be pressurized by any one set of the movement catching portion (23b).

이를 통해, 상기 피검사물(1)이 상기 기준걸림부(22)와 상기 제1가압이동걸림부(23a) 및 상기 제2가압이동걸림부(23b) 중 어느 한 세트 사이에 정확하게 정렬된 상태에서 검사가 수행될 수 있다. 이때, 상측으로 노출된 상기 기준걸림부(22)와 상기 제1가압이동걸림부(23a) 및 상기 제2가압이동걸림부(23b) 중 어느 한 세트는 상기 피검사물(1)의 정렬이 완료된 후 각 상기 정렬공(21)의 하측으로 하강되도록 제어됨이 바람직하다. 그리고, 정렬 완료된 상기 피검사물(1)의 하면이 진공 흡착됨과 동시에 상면이 후술될 투광글래스(61)에 의해 하향 가압된다. 상세한 설명은 후술된다.Through this, in the state that the inspected object 1 is accurately aligned between any one set of the reference engaging portion 22 and the first pressing moving engaging portion 23a and the second pressing moving engaging portion 23b. Inspection can be performed. At this time, any one set of the reference engagement portion 22, the first pressing movement engaging portion 23a, and the second pressing movement engaging portion 23b exposed to the upper side is aligned with the inspected object 1 It is preferable that the control so as to descend to the lower side of each of the alignment holes (21). Then, the lower surface of the aligned inspection object 1 is vacuum adsorbed and the upper surface is pressed downward by the translucent glass 61 to be described later. Detailed description will be described later.

따라서, 상기 피검사물(1)이 상기 호환베이스부(20)의 상면에 안착되면 상기 호환베이스부(20) 일측의 기준정렬공(21a)의 상측으로 승강 노출된 상기 기준걸림부(22)에 일측이 걸림되고, 상기 기준정렬공(21a)으로부터 각 상기 피검사물(1)의 폭에 대응되는 간격을 두고 이격된 복수개의 대향정렬공(21b,21c)의 상측으로 승강 노출된 상기 가압이동걸림부(23a,23b)에 타측이 폭방향으로 가압되어 정렬 고정되므로 호환성이 개선되며, 복수개의 피검사물을 대량으로 순차 검사시에도 각 검사대상이미지가 균일하게 획득되어 검사효율 및 검사신뢰도가 현저히 개선될 수 있다. Therefore, when the inspected object 1 is seated on the upper surface of the compatible base portion 20, the reference catching portion 22 is elevated and exposed to the upper side of the reference alignment hole 21a on one side of the compatible base portion 20. One side is hung, and the pressurization movement is lifted and exposed upwardly from the reference alignment holes 21a to a plurality of opposing alignment holes 21b and 21c spaced apart at intervals corresponding to the width of each inspected object 1 Compatibility is improved because the other side is pressed and aligned in the width direction to the parts 23a, 23b, and even when sequentially inspecting a large number of objects to be inspected, each inspection target image is obtained uniformly, significantly improving inspection efficiency and inspection reliability. Can be.

한편, 도 5 내지 도 6을 참조하면, 상기 호환베이스부(20)에는 상기 공급부(10)에 의해 공급된 각 상기 피검사물(1)의 테두리 하면이 선택적으로 안착되어 진공 흡착되도록 상기 정렬공(21)과 이격되며 복수개의 진공흡입홀(24)이 상하방향으로 관통 형성됨이 바람직하다. On the other hand, referring to Figures 5 to 6, the alignment base (20) so that the rim of each of the inspected objects (1) supplied by the supply unit 10 is selectively seated on the compatible base portion 20 to be vacuum adsorbed ( 21) is spaced apart and it is preferable that a plurality of vacuum suction holes 24 are formed through in the vertical direction.

상세히, 상기 진공흡입홀(24)은 상기 피검사물(1)의 폭방향 일측 하면에 대향되도록 상기 기준정렬공(21a)으로부터 상기 호환베이스부(20)의 폭방향 타측으로 인접하게 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되는 제1진공흡입홀(24a)을 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 피검사물(1)의 폭방향 일측 하면이 상기 제1진공흡입홀(24a)에 선택적으로 대향 배치됨이 바람직하다. In detail, the vacuum suction hole 24 is located at a position spaced adjacent to the other side in the width direction of the compatible base portion 20 from the reference alignment hole 21a so as to face one lower surface in the width direction of the inspected object 1. It is preferable to include a first vacuum suction hole 24a formed through a plurality of places in the vertical direction along the front-rear direction. At this time, it is preferable that one lower surface in the width direction of the inspected object 1 is selectively opposed to the first vacuum suction hole 24a.

여기서, 상기 제1진공흡입홀(24a)은 상기 호환베이스부(20)에 전후방향을 따라 'W'자의 지그재그 형태로 상호 이격되며 상하방향으로 각각 관통 형성되되 각 하부가 상호 연통됨이 바람직하다. 또한, 상기 제1진공흡입홀(24a)의 전체 길이는 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 전후방향 길이에 대응되어 설정됨이 바람직하다. Here, the first vacuum suction hole 24a is spaced apart from each other in the zigzag shape of the'W' along the front-rear direction to the compatible base portion 20, and is formed through each in the vertical direction, but the lower portions are preferably in communication with each other. . In addition, the entire length of the first vacuum suction hole 24a is preferably set to correspond to the length of the front and rear directions of the QUAD 1A among the inspected objects 1.

더불어, 상기 진공흡입홀(24)은 상기 피검사물(1)의 폭방향 타측 하면에 대향되도록 각 상기 대향정렬공(21b,21c)으로부터 상기 호환베이스부(20)의 폭방향 일측으로 인접하게 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되는 제2진공흡입홀(24b,24c)을 포함함이 바람직하다. 여기서, 상기 제2진공흡입홀(24b,24c)은 상기 호환베이스부(20)에 전후방향을 따라 'W'자의 지그재그 형태로 상호 이격되며 상하방향으로 각각 관통 형성되되 각 하부가 상호 연통됨이 바람직하다. In addition, the vacuum suction hole 24 is spaced adjacent to one side in the width direction of the compatible base portion 20 from each of the opposite alignment holes 21b and 21c so as to face the lower surface in the width direction of the inspected object 1 It is preferable to include the second vacuum suction holes 24b and 24c which are formed through a plurality of places in the vertical direction along the front-rear direction at the position. Here, the second vacuum suction holes (24b, 24c) are spaced apart from each other in the zigzag form of'W' along the front-rear direction to the compatible base portion 20, and are formed through each in the vertical direction, but each lower part is in communication with each other. desirable.

또한, 상기 제1진공흡입홀(24a) 및 상기 제2진공흡입홀(24b,24c) 사이 간격은 각 상기 피검사물(1)의 폭 미만으로 설정됨이 바람직하다. 이때, 상기 피검사물(1)의 폭방향 일측 하면이 상기 제1진공흡입홀(24a)에 선택적으로 대향 배치되며, 상기 피검사물(1)의 폭방향 타측 하면이 상기 제2진공흡입홀(24b,24c)에 선택적으로 대향 배치됨이 바람직하다. In addition, the interval between the first vacuum suction hole 24a and the second vacuum suction hole 24b, 24c is preferably set to be less than the width of each inspected object 1. At this time, one side in the width direction of the inspected object 1 is selectively opposite to the first vacuum suction hole 24a, and the other side in the width direction of the inspected object 1 is the second vacuum suction hole 24b ,24c).

여기서, 상기 제2진공흡입홀(24b,24c) 중 어느 한 세트는 각 상기 제1대향정렬공(21b)으로부터 상기 호환베이스부(20)의 폭방향 일측으로 인접하게 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되며, 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 폭방향 타측 하면이 선택적으로 대향 배치되도록 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 전후방향 길이에 대응되어 전체 길이가 설정됨이 바람직하다.Here, any one set of the second vacuum suction holes 24b and 24c is arranged in a front-rear direction at a position spaced apart from each of the first counter-alignment holes 21b to one side in the width direction of the compatible base portion 20. Accordingly, it is formed through a plurality of places in the vertical direction, and corresponds to the length in the front-rear direction of the QUAD 1A among the inspected objects 1 so that the other side of the width direction of the QUAD 1A among the inspected objects 1 is selectively opposed. It is preferred that the overall length is set.

또한, 상기 제2진공흡입홀(24b,24c) 중 다른 한 세트는 각 상기 제2대향정렬공(21c)으로부터 상기 호환베이스부(20)의 폭방향 일측으로 인접하게 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되며, 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 폭방향 타측 하면이 선택적으로 대향 배치되도록 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 전후방향 길이에 대응되어 전체 길이가 설정됨이 바람직하다.In addition, the other set of the second vacuum suction holes 24b, 24c is arranged in the front-rear direction at a position spaced apart from each of the second counter-alignment holes 21c to one side in the width direction of the compatible base portion 20. Accordingly, it is formed through a plurality of places in the vertical direction, and corresponds to the lengths in the front-rear direction of 9BAR (1B) of the test object (1) so that the lower surface of the other side of the 9BAR (1B) of the test object (1) is selectively opposite. It is preferred that the overall length is set.

이를 통해, 상기 호환베이스부(20)의 상면에 안착된 상기 피검사물(1)의 폭방향 양측 테두리 하면이 각 상기 진공흡입홀(24)에 동시에 진공 흡착됨에 따라 상기 피검사물(1)이 실질적으로 상기 호환베이스부(20)와 평행하게 정렬된 상태에서 검사가 수행될 수 있어 검사정밀성이 개선될 수 있다. Through this, as the lower surfaces of both sides of the width direction of the inspected object 1 seated on the upper surface of the compatible base portion 20 are simultaneously vacuum adsorbed to each of the vacuum suction holes 24, the inspected object 1 is substantially In this way, inspection can be performed in a state that is aligned in parallel with the compatible base portion 20, thereby improving inspection precision.

그리고, 상기 호환베이스부(20)의 내부에는 상기 피검사물(1)을 진공 흡착하도록 각 상기 진공흡입홀(24)에 연통되는 진공흡착유로(미도시)가 전후방향을 따라 연통됨이 바람직하다. 이때, 상기 진공흡착유로(미도시)의 유입단이 각 상기 진공흡입홀(24)에 연통될 수 있다. In addition, a vacuum adsorption flow path (not shown) communicating with each of the vacuum suction holes 24 so as to vacuum adsorb the inspected object 1 is preferably communicated along the front-rear direction inside the compatible base portion 20. . At this time, the inlet end of the vacuum suction passage (not shown) may be in communication with each of the vacuum suction holes 24.

그리고, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 진공흡착유로(미도시)의 토출단에 유로 연결되어 진공 흡착력을 제공하도록 상기 제어부(50)에 의해 제어되는 진공흡착수단(미도시)을 더 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 진공흡착수단(미도시)은 상기 제어부(50)에 회로 연결되어 제어됨이 바람직하다. 이러한 진공흡착수단(미도시)은 진공 흡입 펌프로서 구비될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. In addition, the inspection jig apparatus 100 further includes a vacuum adsorption means (not shown) controlled by the control unit 50 to provide a vacuum adsorption force by being connected to a discharge end of the vacuum adsorption flow path (not shown). Preferably. At this time, the vacuum adsorption means (not shown) is preferably connected to the control circuit 50 is controlled. The vacuum suction means (not shown) may be provided as a vacuum suction pump, but is not limited thereto.

여기서, 상기 진공흡착유로(미도시)의 토출단에는 배관 형태의 연결유로(미도시)가 연결되되, 상기 연결유로(미도시)는 상기 진공흡착유로(미도시)의 토출단과 상기 진공흡착수단(미도시) 사이의 연결을 매개하도록 구비됨이 바람직하다. Here, a connection flow path (not shown) in the form of a pipe is connected to the discharge end of the vacuum suction flow path (not shown), wherein the connection flow path (not shown) is the discharge end of the vacuum suction flow path (not shown) and the vacuum suction means It is preferably provided to mediate the connection between (not shown).

이를 통해, 상기 제어부(50)에 의해 상기 진공흡착수단(미도시)이 구동되면 공기의 유동방향이 각 상기 진공흡착유로(미도시)의 유입단으로부터 토출단측으로 발생된다. 이에 따라, 상기 피검사물(1)의 폭방향 양측 테두리 하면이 진공흡입홀(24)에 진공 흡착되어 고정될 수 있다. Through this, when the vacuum suction means (not shown) is driven by the control unit 50, a flow direction of air is generated from the inlet end of each vacuum suction channel (not shown) to the discharge end side. Accordingly, the lower surfaces of both edges in the width direction of the inspected object 1 may be vacuum-suctioned and fixed to the vacuum suction hole 24.

한편, 도 4 내지 도 6을 참조하면, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 호환베이스부(20)의 상부와 상기 검사촬상부(30)의 하부 사이에 선택적으로 대향 배치되는 글래스커버부(60)를 더 포함함이 바람직하다.On the other hand, referring to Figures 4 to 6, the inspection jig device 100 is a glass cover portion that is selectively disposed between the upper portion of the compatible base portion 20 and the lower portion of the inspection imaging unit 30 ( 60).

여기서, 상기 글래스커버부(60)는 상기 호환베이스부(20)의 상부와 상기 검사촬상부(30)의 하부 사이에 선택적으로 대향 배치되되, 상기 피검사물(1)의 상면 전체를 동시에 균일하게 하향 가압하여 상기 피검사물(1)의 상면 전체에 선택적으로 동시에 면접촉되도록 상하면이 평평한 플레이트로 구비된 투광글래스(61)를 포함함이 바람직하다.Here, the glass cover portion 60 is selectively disposed between the upper portion of the compatible base portion 20 and the lower portion of the inspection imaging unit 30, the entire upper surface of the test object 1 is uniformly uniform at the same time It is preferable that the upper and lower surfaces include a light-transmitting glass 61 provided as a flat plate so as to selectively and simultaneously contact the entire surface of the inspected object 1 by pressing downward.

또한, 상기 투광글래스(61)는 상기 검사촬상부(30)에 구비된 반사조명부(32)로부터 방사된 빛이 반사되어 상기 검사촬상부(30)의 검사카메라(31)에 도달하는 입사광량이 기설정값 이하로 조절되도록 기설정범위의 반사율을 갖는 투명 재질로 구비됨이 바람직하다. In addition, the transparent glass 61 is reflected by the light emitted from the reflective lighting unit 32 provided in the inspection imaging unit 30, the amount of incident light reaching the inspection camera 31 of the inspection imaging unit 30 It is preferably provided with a transparent material having a reflectance in a preset range so as to be adjusted below a preset value.

이때, 상기 검사카메라(31) 및 상기 반사조명부(32)는 상기 투광글래스(61)의 상부에 선택적으로 대향 배치되며, 상기 호환베이스부(20)의 상면에 배치된 상기 피검사물(1)은 상기 투광글래스(61)의 하부에 선택적으로 대향 배치될 수 있다. At this time, the inspection camera 31 and the reflective lighting unit 32 are selectively disposed opposite to the upper portion of the translucent glass 61, and the inspected object 1 disposed on the upper surface of the compatible base unit 20 is It may be selectively opposed to the lower portion of the transparent glass (61).

즉, 상기 반사조명부(32)로부터 방사된 빛이 상기 투광글래스(61)에 투광된 후 상기 피검사물(1)에 도달하여 반사되고, 반사된 빛이 상기 투광글래스(61)에 다시 투광된 후 상기 검사카메라(31)로 입사될 수 있다. That is, after the light emitted from the reflective lighting unit 32 is transmitted to the transparent glass 61 and reaches the object 1 to be reflected, the reflected light is transmitted again to the transparent glass 61 It may be incident on the inspection camera 31.

한편, 도 7을 참조하면, 상기 투광글래스(61)는 상기 반사조명부(32)로부터 방사된 빛이 상기 피검사물(1)에 도달하지 않고 상기 투광글래스(61)에서 반사되어 상기 검사카메라(31)에 도달하는 입사광량이 기설정값 이하로 조절되도록 기설정범위의 반사율을 갖는 투명 재질로 구비됨이 바람직하다. On the other hand, referring to Figure 7, the transparent glass 61 is the light emitted from the reflective lighting unit 32 does not reach the object to be inspected (1) is reflected from the transparent glass 61, the inspection camera 31 It is preferably provided with a transparent material having a reflectance in a predetermined range so that the amount of incident light reaching) is adjusted to a predetermined value or less.

여기서, 상기 투광글래스(61)는 상술된 반사율을 갖도록 일반적인 유리 재질보다 반사율이 낮은 안티-리플랙티브 글래스(anti reflective glass) 재질로서 코팅되거나 일체로 제조되어 구비됨이 가장 바람직하다. Here, it is most preferable that the transparent glass 61 is coated with an anti-reflective glass material having a lower reflectivity than an ordinary glass material so as to have the above-described reflectivity, or is integrally manufactured and provided.

이때, 상기 투광글래스(61)의 반사율은 435nm ~ 655nm의 파장에서 0.03% ~ 0.50% 범위로 설정될 수 있으며, 가장 바람직하게는 435nm ~ 655nm의 파장에서 0.25% ~ 0.30% 범위로 설정될 수 있다. At this time, the reflectance of the transmissive glass 61 may be set to a range of 0.03% to 0.50% at a wavelength of 435 nm to 655 nm, most preferably a range of 0.25% to 0.30% at a wavelength of 435 nm to 655 nm. .

여기서, 상기 투광글래스의 반사율이 0.50%를 초과하는 경우 상기 반사조명부(32)로부터 방사된 빛이 투광글래스를 투광시 매질에 의한 산란이 발생하여 상기 검사촬상부(30)에서 획득되는 검사대상이미지가 왜곡될 우려가 있다. 반면에, 상기 투광글래스의 반사율이 0.03% 미만인 경우 상기 투광글래스의 제조비용이 급격히 증가되어 경제성이 현저히 저하될 우려가 있다. Here, when the reflectance of the translucent glass exceeds 0.50%, the light emitted from the reflective illumination unit 32 is scattered by a medium when the translucent glass is transmitted, and thus the inspection target image obtained by the inspection imaging unit 30 May be distorted. On the other hand, if the reflectance of the translucent glass is less than 0.03%, the manufacturing cost of the translucent glass is rapidly increased, and there is a possibility that the economic efficiency is significantly lowered.

따라서, 상기 투광글래스(61)의 반사율은 435nm ~ 655nm의 파장에서 0.03% ~ 0.50% 범위로, 가장 바람직하게는 0.25% ~ 0.30% 범위로 설정되어 경제성이 개선됨과 동시에 상기 검사촬상부(30)에서 획득되는 검사대상이미지의 정밀도 및 신뢰도가 현저히 개선될 수 있다. Therefore, the reflectance of the transmissive glass 61 is set to a range of 0.03% to 0.50% at a wavelength of 435 nm to 655 nm, most preferably set to a range of 0.25% to 0.30%, and at the same time improving the economic efficiency and the inspection imaging unit 30 The accuracy and reliability of the image to be inspected can be significantly improved.

이를 통해, 상기 검사촬상부(30)에 구비된 반사조명부(32)로부터 방사된 빛이 상기 투광글래스(61)에서 반사되어 상기 검사카메라(31)에 도달하는 입사광량이 기설정값 이하로 조절되도록 상기 투광글래스(61)가 기설정범위의 반사율을 갖는 투명 재질로 구비되어 매질 특성에 의한 산란이 최소화되므로 피검사물(1)에 대하여 획득되는 검사대상이미지의 선명도가 현저히 개선될 수 있다.Through this, the light emitted from the reflective illumination unit 32 provided in the inspection imaging unit 30 is reflected from the transparent glass 61 and the amount of incident light reaching the inspection camera 31 is adjusted to a predetermined value or less. As possible, since the transparent glass 61 is provided with a transparent material having a reflectance in a predetermined range, scattering due to a medium characteristic is minimized, so that the sharpness of the inspection target image obtained with respect to the inspected object 1 can be remarkably improved.

한편, 도 4 내지 도 6을 참조하면, 상기 글래스커버부(60)는 상기 투광글래스(61), 외곽프레임(62), 구동레일부(63) 및 가압승강수단(64)을 포함함이 바람직하다. Meanwhile, referring to FIGS. 4 to 6, the glass cover part 60 preferably includes the translucent glass 61, the outer frame 62, the driving rail part 63, and the pressure lifting means 64. Do.

상세히, 상기 투광글래스(61)는 상기 호환베이스부(20)의 면적 이상으로 구비되되, 전후방향으로 이동되어 상기 호환베이스부(20)의 상부를 커버하도록 상기 호환베이스부(20)의 상부에 선택적으로 대향 배치됨이 바람직하다. 이때, 상기 투광글래스(61)가 상기 호환베이스부(20)의 상부에 대향 배치시 상기 호환베이스부(20)의 외곽 테두리가 상기 투광글래스(61)의 외곽 테두리보다 내측으로 배치됨이 바람직하다. In detail, the transparent glass 61 is provided above the area of the compatible base portion 20, is moved in the front-rear direction to cover the upper portion of the compatible base portion 20 to the upper portion of the compatible base portion 20 It is preferred to be opposingly arranged. At this time, when the transparent glass 61 is disposed opposite to the upper portion of the compatible base portion 20, it is preferable that the outer edge of the compatible base portion 20 is disposed inside the outer edge of the transparent glass 61.

그리고, 상기 외곽프레임(62)은 상기 투광글래스(61)의 외측 테두리를 감싸며 배치되되 상기 호환베이스부(20)의 전후방향 및 폭방향 직경을 각각 초과하는 직경으로 구비됨이 바람직하다. 이때, 상기 외곽프레임(62)은 합성수지 또는 금속 등의 불투광성 재질로 구비됨이 바람직하다. Further, the outer frame 62 is disposed surrounding the outer rim of the translucent glass 61, but is preferably provided with a diameter exceeding the diameters of the forward and backward directions and the width direction of the compatible base portion 20, respectively. At this time, the outer frame 62 is preferably provided with a non-transparent material such as synthetic resin or metal.

또한, 상기 구동레일부(63)는 상기 외곽프레임(62)의 폭방향 외측에 연결되며 상기 투광글래스(61)가 상기 호환베이스부(20)의 상부 및 상기 호환베이스부(20)의 전방 외측 중 어느 일측으로 전후방향 구름 이동되도록 상기 제어부(50)에 의해 제어됨이 바람직하다. 이때, 상기 구동레일부(63)는 상기 이송부(40)와 독립적으로 구동 제어됨이 바람직하다. In addition, the drive rail portion 63 is connected to the outer side in the width direction of the outer frame 62, the translucent glass 61 is the upper portion of the compatible base portion 20 and the front outer side of the compatible base portion 20 It is preferable that it is controlled by the control unit 50 to move the cloud back and forth in either direction. At this time, it is preferable that the drive rail portion 63 is driven and controlled independently of the transfer portion 40.

이를 통해, 상기 공급부(10)에 의해 상기 호환베이스부(20)의 상면에 상기 피검사물(1)이 안착된 후 상기 투광글래스(61)가 상기 호환베이스부(20)의 전방 외측으로부터 상기 호환베이스부(20)의 상부로 후방 이동될 수 있다. 또한, 상기 피검사물(1)의 검사가 수행된 후 상기 투광글래스(61)가 상기 호환베이스부(20)의 상부로부터 상기 호환베이스부(20)의 전방 외측으로 전방 이동될 수 있다. Through this, after the test object 1 is seated on the upper surface of the compatible base portion 20 by the supply unit 10, the transparent glass 61 is compatible with the front from the front outside of the compatible base portion 20. It may be moved backward to the upper portion of the base portion 20. In addition, after the inspection of the inspected object 1 is performed, the translucent glass 61 may be moved forward from the upper portion of the compatible base portion 20 to the front outside of the compatible base portion 20.

그리고, 상기 가압승강수단(64)은 상기 외곽프레임(62)의 하부에 연결되며 상기 투광글래스(61)가 상기 호환베이스부(20)의 상부에 대향 배치시 상기 피검사물(1)의 상면 전체에 면접촉되도록 상기 제어부(50)에 의해 선택적으로 하강 구동됨이 바람직하다. 이때, 상기 가압승강수단(64)은 상기 외곽프레임(62)의 하부에 상하방향으로 배치되는 유압실린더 또는 공압실린더를 포함하여 구비될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. And, the pressure lifting means 64 is connected to the lower portion of the outer frame 62, and when the translucent glass 61 is placed opposite to the upper portion of the compatible base portion 20, the entire upper surface of the inspected object 1 It is preferable that the controller 50 is selectively lowered to be in contact with the surface. At this time, the pressure lifting means 64 may include a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder disposed in the vertical direction under the outer frame 62, but is not limited thereto.

여기서, 상기 가압승강수단(64)은 상기 투광글래스(61)가 상기 피검사물(1)을 하향 가압시 가압력을 측정하도록 구비되는 압력레귤레이터(미도시)를 더 포함할 수 있다. 이때, 상기 압력레귤레이터(미도시)는 상기 투광글래스(61) 또는 상기 외곽프레임(62)의 하부에 배치되는 압력감지센서로서 구비될 수 있으나, 가압력을 측정할 수 있은 구성이라면 이에 한정되는 것은 아니다. 이에 따라, 상기 제어부(50)가 상기 압력레귤레이터(미도시)에 의해 측정된 상기 투광글래스(61)가 상기 피검사물(1)을 하향 가압하는 가압력이 상기 피검사물(1)이 손상되지 않는 기설정범위로 유지되도록 상기 가압승강수단(64)을 제어할 수 있다. Here, the pressure lifting means 64 may further include a pressure regulator (not shown) provided to measure the pressing force when the transparent glass 61 presses the object 1 downward. At this time, the pressure regulator (not shown) may be provided as a pressure sensing sensor disposed under the light-transmitting glass 61 or the outer frame 62, but is not limited to the configuration that can measure the pressing force. . Accordingly, the pressure applied to the control unit 50 by the pressure regulator (not shown) to measure the pressure through which the translucent glass 61 presses the inspected object 1 is not damaged. The pressure lifting means 64 may be controlled to be maintained in a set range.

따라서, 상기 피검사물(1)의 하면 외측 테두리가 상기 호환베이스부(20)의 진공흡입홀(24)에 진공 흡착됨과 동시에 상기 피검사물(1)의 상면 전체가 투명 재질의 투광글래스(61)에 의해 동시에 균일하게 면접촉 하향 가압된다. 따라서, 피검사물(1)의 상면이 상기 검사촬상부(30)로 완전 노출된 상태에서 검사가 수행되면서도 검사를 위해 상기 이송부(40)에 의한 전후방향 복수회 왕복 이동시에도 상기 피검사물(1)의 평탄도가 상기 호환베이스부(20)에 실질적으로 평행하고 균일하게 고정되는 시너지 효과를 제공하여 검사정밀도 및 검사신뢰도가 현저히 개선될 수 있다. Therefore, the outer rim of the lower surface of the inspected object 1 is vacuum-adsorbed to the vacuum suction hole 24 of the compatible base portion 20, and the entire upper surface of the inspected object 1 is made of a transparent light-transmitting glass 61. It is simultaneously and uniformly pressed down the surface contact. Therefore, even when the inspection is performed while the upper surface of the inspected object 1 is completely exposed to the inspected imaging part 30, the inspected object 1 is moved even when it is moved back and forth multiple times by the transfer part 40 for inspection. By providing a synergistic effect in which the flatness of the substrate is substantially parallel and uniformly fixed to the compatible base portion 20, inspection precision and inspection reliability can be significantly improved.

이때, 상기 검사용 지그장치(100)는 후측 상부에 상기 호환베이스부(20)가 배치되며, 전측 상부에 상기 투광글래스(61)가 선택적으로 대향 배치되는 이동판부를 더 포함할 수 있다. 이때, 상기 이동판부는 후측 상부에 상기 호환베이스부(20)가 연결되되, 하부가 상기 이송부(40)에 레일 연결되며, 상기 호환베이스부(20) 및 상기 글래스커버부(60)가 상기 이송부(40)에 의해 동시에 전후방향으로 이동되도록 구비됨이 바람직하다. At this time, the jig apparatus 100 for inspection may further include a movable plate portion in which the compatible base portion 20 is disposed on the rear upper portion and the translucent glass 61 is selectively opposed to the upper portion. At this time, the movable plate portion is connected to the compatible base portion 20 on the rear upper portion, the lower portion is rail-connected to the transfer portion 40, the compatible base portion 20 and the glass cover portion 60 is the transfer portion It is preferably provided to be moved in the front-rear direction at the same time by (40).

한편, 상기 이송부(40)는 상기 호환베이스부(20) 및 상기 글래스커버부(60)가 동시에 전후방향으로 구름 이동되어 상기 공급부(10) 및 상기 검사촬상부(30) 중 어느 하나의 하부에 선택적으로 대향 배치되도록 상기 호환베이스부(20)의 하부에 전후방향을 따라 배치되되 상기 호환베이스부(20)에 레일 연결됨이 바람직하다. On the other hand, the transfer unit 40, the compatible base portion 20 and the glass cover portion 60 is moved to the cloud at the same time in the front-rear direction to the lower portion of any one of the supply unit 10 and the inspection imaging unit 30 It is preferably disposed in the front-rear direction on the lower portion of the compatible base portion 20 so as to be selectively opposed, but is preferably connected to the rail of the compatible base portion 20.

여기서, 상기 이송부(40)는 상기 호환베이스부(20)의 하부에 전후방향을 따라 구비되되 상기 호환베이스부(20)에 레일 연결되는 레일부(41)를 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 레일부(41)는 상기 호환베이스부(20)의 폭방향 양측 하부에 상기 호환베이스부(20)의 전후방향을 따라 배치될 수 있다. 이때, 상기 레일부(41)는 기설정된 전후방향 길이로 구비되되 상기 레일부(41)의 전단부는 상기 공급부(10)에 의해 상기 피검사물(1)이 상기 호환베이스부(20)의 상부에 이송되도록 상기 공급부(10)에 대응되는 위치에 배치되며, 상기 레일부(41)의 후단부는 상기 호환베이스부(20)가 상기 검사촬상부(30)의 하부에 대향 배치되도록 상기 검사촬상부(30)에 대응되는 위치에 배치됨이 바람직하다. 또한, 상기 이송부(40)는 상기 호환베이스부(20)의 하부에 전후방향을 따라 구비되어 상기 호환베이스부(20)에 레일 연결되는 레일가이드부를 더 포함할 수도 있다. Here, it is preferable that the transfer part 40 is provided along the front-rear direction in the lower part of the compatible base part 20, but includes a rail part 41 that is rail-connected to the compatible base part 20. At this time, the rail portion 41 may be disposed along the front-rear direction of the compatible base portion 20 on both lower sides in the width direction of the compatible base portion 20. At this time, the rail portion 41 is provided with a predetermined length in the front-rear direction, but the front end portion of the rail portion 41 is the inspection object 1 by the supply portion 10, the upper portion of the compatible base portion 20 It is arranged at a position corresponding to the supply unit 10 to be transported, and the rear end portion of the rail unit 41 is arranged to face the lower portion of the inspection imaging unit 30 so that the compatible base unit 20 is opposite to the inspection imaging unit ( 30). In addition, the transfer part 40 may further include a rail guide part provided along the front-rear direction at the bottom of the compatible base part 20 to be rail-connected to the compatible base part 20.

그리고, 상기 이송부(40)는 상기 호환베이스부(20)가 상기 레일부(41)를 따라 선택적으로 전후방향 구름 이동되도록 상기 호환베이스부(20)에 동력 연결되는 구동모터(42)를 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 구동모터(42)는 상기 호환베이스부(20)의 폭방향 일측에 동력 연결될 수 있다. 또한, 상기 구동모터(42)는 상기 제어부(50)에 회로 연결되어 제어됨이 바람직하다. In addition, the transfer part 40 includes a drive motor 42 that is power-connected to the compatible base part 20 so that the compatible base part 20 selectively moves in the front-rear direction along the rail part 41. This is preferred. At this time, the driving motor 42 may be power connected to one side in the width direction of the compatible base portion 20. In addition, the drive motor 42 is preferably connected to the control circuit 50 is controlled.

한편, 상기 검사촬상부(30)는 상기 공급부(10)와 전후방향으로 이격된 상기 검사용 지그장치(100)의 후방부에 배치되되, 상기 호환베이스부(20) 및 상기 글래스커버부(60)의 상부에 동시에 선택적으로 대향 배치되며, 하면이 상기 호환베이스부(20)의 진공흡입홀(24)에 진공 흡착됨과 동시에 상면이 상기 글래스커버부(60)의 투광글래스(61)에 균일하게 하향 가압된 상기 피검사물(1)을 촬상하도록 구비됨이 바람직하다. On the other hand, the inspection imaging unit 30 is disposed on the rear portion of the inspection jig device 100 spaced apart from the supply unit 10 in the front-rear direction, the compatible base unit 20 and the glass cover unit 60 ) Is disposed at the same time selectively opposing, the lower surface is vacuum adsorbed on the vacuum suction hole 24 of the compatible base part 20, and the upper surface is uniformly on the transparent glass 61 of the glass cover part 60. It is preferably provided to image the inspected object 1 pressed downward.

이때, 상기 피검사물(1)이 고정된 상태의 상기 호환베이스부(20) 및 상기 글래스커버부(60)가 상기 검사촬상부(30)의 하부에 상기 이송부(40)에 의해 이동되어 대향 배치시 상기 검사촬상부(30)의 하부가 상기 피검사물(1)의 상부에 대향 정렬됨이 바람직하다. At this time, the compatible base portion 20 and the glass cover portion 60 in a state in which the inspected object 1 is fixed are moved by the transfer portion 40 under the inspection imaging portion 30 to face each other. When the lower portion of the inspection imaging section 30 is preferably aligned opposite to the upper portion of the test object (1).

여기서, 상기 검사촬상부(30)는 상기 호환베이스부(20) 및 상기 글래스커버부(60)의 상부에 선택적으로 대향 배치되도록 구비되어 상기 피검사물(1)을 촬상하는 상기 검사카메라(31)와, 상기 검사카메라(31)에 반사조명을 제공하는 반사조명부(32)을 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 반사조명부(32)는 상기 호환베이스부(20)의 상부에 대향 배치됨이 바람직하다. 또한, 상기 반사조명부(32)는 상기 검사카메라(31)의 외측면을 감싸는 형태로 배치될 수 있으나, 배치관계가 이에 한정되는 것은 아니다.Here, the inspection imaging unit 30 is provided to be selectively disposed on the upper portion of the compatible base unit 20 and the glass cover unit 60, the inspection camera 31 for imaging the object 1 And, it is preferable to include a reflective lighting unit 32 for providing reflective lighting to the inspection camera (31). At this time, the reflective lighting portion 32 is preferably disposed opposite to the upper portion of the compatible base portion (20). In addition, the reflective lighting unit 32 may be disposed in a form surrounding the outer surface of the inspection camera 31, but the arrangement relationship is not limited thereto.

그리고, 상기 검사카메라(31)는 2.4 ~ 2.6μm/px 범위의 고해상도를 가지며, ±30μm 이내의 포커스 범위를 갖는 소형 고정밀 검사용 카메라로서 구비될 수 있다. 또한, 상기 검사카메라(31) 및 상기 반사조명부(32)는 상기 검사용 지그장치(100)에 구비된 프레임에 각각 연결되어 고정됨이 바람직하다. Further, the inspection camera 31 may be provided as a small high-precision inspection camera having a high resolution in the range of 2.4 to 2.6 μm/px and a focus range within ±30 μm. In addition, it is preferable that the inspection camera 31 and the reflective lighting unit 32 are respectively connected to and fixed to a frame provided in the inspection jig device 100.

이때, 상기 검사카메라(31) 및 상기 반사조명부(32)의 하부에는 상기 이송부(40)에 의해 이송된 상기 호환베이스부(20) 및 상기 글래스커버부(60) 사이에 고정된 상태의 상기 피검사물(1)이 상하방향을 따라 대향 배치될 수 있다. At this time, under the inspection camera 31 and the reflective lighting unit 32, the test object in a fixed state between the compatible base unit 20 and the glass cover unit 60 transferred by the transfer unit 40 The objects 1 may be arranged to face each other along the vertical direction.

또한, 상기 반사조명부(32)는 검사시 상기 검사카메라(31)에 상기 피검사물(1)에 조명을 제공하도록 구비됨이 바람직하다. 이때, 상기 반사조명부(32)는 상기 검사카메라(31)를 통해 획득되는 상기 피검사물(1)에 대한 검사대상이미지 전체에 균일한 조명을 제공하도록 기설정된 발광면적 이상으로 구비됨이 바람직하다. In addition, the reflective lighting unit 32 is preferably provided to provide illumination to the inspected object 1 to the inspection camera 31 during inspection. At this time, the reflective lighting unit 32 is preferably provided over a predetermined light emitting area to provide uniform illumination to the entire inspection target image for the inspected object (1) obtained through the inspection camera (31).

여기서, 상기 검사카메라(31) 및 상기 반사조명부(32)는 별도로 구비되어 상기 제어부(50)에 의해 제어되는 수평이동수단(미도시)에 의해 상기 피검사물(1)의 상부에서 전후방향 및 폭방향을 따라 복수회 순차적으로 왕복 이동되며 상기 피검사물(1)에 대한 검사대상이미지를 획득할 수 있다. 또는, 상기 피검사물(1)이 상기 호환베이스부(20) 및 상기 글래스커버부(60) 사이에 고정된 상태에서, 상기 호환베이스부(20) 및 상기 글래스커버부(60)가 상기 이송부(40)에 의해 동시에 전후방향으로 복수회 왕복 운동되며 상기 검사촬상부(30)의 하부를 등속으로 통과하며 검사가 수행될 수도 있다. Here, the inspection camera 31 and the reflective lighting unit 32 are provided separately and in the front-rear direction and width from the top of the inspected object 1 by horizontal moving means (not shown) controlled by the control unit 50. It is sequentially reciprocated a plurality of times along the direction, and it is possible to obtain an inspection target image for the inspected object 1. Alternatively, in the state where the inspected object 1 is fixed between the compatible base portion 20 and the glass cover portion 60, the compatible base portion 20 and the glass cover portion 60 are the transfer portion ( 40) is simultaneously reciprocated multiple times in the fore-and-aft direction at the same time, and the inspection may be performed while passing the lower portion of the inspection imaging unit 30 at a constant speed.

여기서, 상기 제어부(50)는 상기 검사카메라(31)와 상기 반사조명부(32)의 구동을 제어하도록 상기 검사촬상부(30)에 회로 연결됨이 바람직하다. 그리고, 상기 제어부(50)는 상기 검사촬상부(30)의 검사카메라(31)에서 각각 촬상된 상기 검사대상이미지를 전송받아 상기 검사대상이미지 및 기저장된 마스터이미지 간의 매칭률을 비교검사하도록 구비됨이 바람직하다. Here, the control unit 50 is preferably circuit-connected to the inspection imaging unit 30 to control the driving of the inspection camera 31 and the reflective lighting unit 32. In addition, the control unit 50 is provided to receive the inspection target images captured by the inspection camera 31 of the inspection imaging unit 30, and compare and inspect the matching rate between the inspection target image and the pre-stored master image. This is preferred.

이때, 상기 검사대상이미지는 상기 피검사물(1)에 대한 반사 검사 및 투과 검사에 대한 각 이미지데이터를 포함할 수 있다. 또한, 검사카메라(31)에서 상기 제어부(50)로 상기 검사대상이미지를 전송하도록 유선 또는 무선 통신 연결을 매개하며 상기 제어부(50)에 통신 연결되는 통신수단(미도시)이 더 구비될 수 있다. 이때, 상기 제어부(50)는 마이컴 등의 제어 및 연산 수단으로서 구비될 수 있다. At this time, the inspection target image may include respective image data for reflection inspection and transmission inspection for the inspected object 1. In addition, a communication means (not shown) that mediates a wired or wireless communication connection so as to transmit the inspection target image from the inspection camera 31 to the control unit 50 and is communicatively connected to the control unit 50 may be further provided. . At this time, the control unit 50 may be provided as a control and calculation means, such as a microcomputer.

그리고, 상기 제어부(50)에는 이상적인 피검사물(1)에 대한 마스터이미지가 기저장되어 구비됨이 바람직하다. 이때, 상기 제어부(50)의 제어방법은 다음과 같다. 먼저, 상기 검사촬상부(30)를 통해 촬상된 상기 피검사물(1)에 대한 상기 검사대상이미지가 상기 제어부(50)로 전송된다. 이어서, 상기 제어부(50)는 상기 검사대상이미지와 상기 마스터이미지 간의 매칭률을 비교검사한다. In addition, it is preferable that the control unit 50 is pre-stored and provided with a master image for an ideal object 1. At this time, the control method of the control unit 50 is as follows. First, the inspection target image of the object 1 photographed through the inspection imaging unit 30 is transmitted to the control unit 50. Subsequently, the controller 50 compares and inspects the matching rate between the inspection target image and the master image.

예컨대, 매칭률은 상기 피검사물(1)이 피검사물(1)인 경우 리드 간격 등이 상호 일치되는 정도를 수치화하여 나타낸 데이터로서 픽셀 단위로 비교판단되며, 상기 제어부(50)에 생성 및 저장될 수 있다. 또한, 상기 마스터이미지는 반사 검사 및 투과 검사에 대한 각 이미지데이터들과 비교매칭을 위한 복수개의 마스터이미지데이터를 포함할 수 있다. For example, the matching rate is a data indicating numerically the degree of coincidence between read intervals and the like when the inspected object 1 is the inspected object 1 and is compared and judged in units of pixels, and is generated and stored in the control unit 50 Can. In addition, the master image may include a plurality of master image data for comparison matching with each image data for reflection inspection and transmission inspection.

더욱이, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 제어부(50)의 연산 결과에 따른 상기 피검사물(1)의 불량 여부를 시각적으로 표시하는 모니터부(미도시)를 더 포함할 수 있다. 여기서, 상기 제어부(50)는 상기 매칭률이 기설정된 수치 미만인 경우 이를 불량으로 판정하여 상기 모니터부(미도시)에 불량신호를 전송할 수 있다. 또한, 상기 제어부(50)는 상기 매칭률이 기설정된 수치 이상인 경우 이를 양품으로 판정하여 상기 모니터부(미도시)에 양품신호를 전송할 수 있다. Moreover, the jig apparatus 100 for inspection may further include a monitor unit (not shown) for visually indicating whether the inspected object 1 is defective according to a calculation result of the control unit 50. Here, when the matching rate is less than a predetermined value, the control unit 50 determines that it is defective and transmits a defective signal to the monitor unit (not shown). In addition, when the matching rate is equal to or greater than a preset value, the control unit 50 may determine that it is a good product and transmit a good product signal to the monitor unit (not shown).

이에 따라, 상기 제어부(50)가 상기 피검사물(1)에 대한 상기 검사대상이미지와 상기 마스터이미지를 상호 비교판단하여 상기 피검사물(1)의 코일(1a) 형상에 대한 상태검사 그리고 각 코일(1a) 간의 간격유지상태 등을 자동으로 검사하여 불량 여부를 검출할 수 있어 제품의 신뢰도가 개선될 수 있다Accordingly, the control unit 50 compares and judges the inspection target image and the master image for the inspected object 1, thereby inspecting the state of the coil 1a of the inspected object 1 and each coil ( 1a) It is possible to detect defects by automatically inspecting the interval maintenance status, etc., thereby improving the reliability of the product.

한편, 도 2를 참조하면, 상기 호환베이스부(20), 상기 검사촬상부(30), 상기 이송부(40) 및 상기 글래스커버부(60)는 세트화되어 복수개 구비되되, 각 세트가 폭방향 간격을 두고 이격 배치될 수 있다. On the other hand, referring to Figure 2, the compatible base unit 20, the inspection imaging unit 30, the transfer unit 40 and the glass cover unit 60 is set to be provided with a plurality, each set in the width direction They can be spaced apart.

그리고, 도 8을 참조하면, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 검사용 지그장치(100)의 전방부에 배치되되, 복수개로 구비되어 폭방향 간격을 두고 이격된 각 상기 호환베이스부(20)의 사이에 배치되는 상기 흡입회전부(70)를 더 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 흡입회전부(70)는 상기 호환베이스부(20)의 상면에 안착되는 상기 피검사물(1)의 상면 및 하면이 각각 검사되기 위해 상기 피검사물(1)을 회전시켜 반전되도록 상기 제어부(50)에 의해 구동 제어됨이 바람직하다. And, referring to Figure 8, the inspection jig device 100 is disposed on the front portion of the inspection jig device 100, provided with a plurality of each of the compatible base spaced apart at a widthwise interval 20 It is preferable to further include the suction rotating portion 70 disposed between. At this time, the suction rotation part 70 is rotated by rotating the inspected object 1 so that the upper and lower surfaces of the inspected object 1 seated on the upper surface of the compatible base part 20 are respectively inverted. It is preferable that the driving is controlled by 50).

상세히, 상기 흡입회전부(70)는 상기 피검사물(1)이 상면에 선택적으로 안착되는 안착판부(70a)를 포함함이 바람직하다. 그리고, 상기 안착판부(70a)에는 중앙부에 각 상기 피검사물(1)의 외곽 테두리가 안착되는 위치에 복수개의 흡입회전용 정렬공(71)이 상하방향으로 관통 형성됨이 바람직하다. In detail, it is preferable that the suction rotation part 70 includes a seating plate part 70a in which the object 1 is selectively seated on an upper surface. In addition, the seating plate portion 70a is preferably formed with a plurality of suction rotation alignment holes 71 penetrating in the vertical direction at a position where the outer rim of each inspected object 1 is seated in the central portion.

상세히, 상기 흡입회전용 정렬공(71)은 상기 안착판부(70a)의 폭방향 일측에 배치되되 전후방향으로 연장되며 상하방향으로 관통 형성되는 흡입회전용 기준정렬공(71a)을 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 흡입회전용 기준정렬공(71a)은 전후방향 길이가 폭을 초과하도록 설정됨이 바람직하다. In detail, the alignment hole 71 for suction rotation is preferably disposed on one side in the width direction of the seating plate portion 70a and includes a reference alignment hole 71a for suction rotation that extends in the front-rear direction and penetrates in the vertical direction. Do. At this time, the reference alignment hole 71a for the suction rotation is preferably set so that the length in the front-rear direction exceeds the width.

여기서, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 흡입회전용 기준정렬공(71a)의 하부에 배치되되 각 상기 피검사물(1)의 폭방향 일측이 걸림되도록 선택적으로 승강되어 상기 흡입회전용 기준정렬공(71a)의 상측으로 노출되는 흡입회전용 기준걸림부(72)를 더 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 흡입회전용 기준걸림부(72)는 상기 제어부(50)에 의해 제어됨이 바람직하다. Here, the jig device for inspection 100 is disposed below the reference alignment hole 71a for suction rotation, and is selectively lifted so that one side in the width direction of each of the inspected objects 1 is engaged, and the reference alignment for suction rotation It is preferable to further include a reference catching part 72 for suction rotation exposed to the upper side of the ball 71a. At this time, it is preferable that the reference catching part 72 for suction rotation is controlled by the control part 50.

또한, 상기 흡입회전용 기준걸림부(72)는 상기 흡입회전용 기준정렬공(71a)의 내면 윤곽에 대응되는 외측면 윤곽 단면으로 구비되되 상하방향으로 연장되며, 하부에 상기 흡입회전용 기준걸림부(72)가 승강 구동되도록 구비되되 상기 제어부(50)에 의해 제어되는 제3승강정렬수단에 동력 연결됨이 바람직하다. 이러한 제3승강정렬수단은 모터로서 구비될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. In addition, the reference rotation part 72 for the suction rotation is provided as a cross-section of the outer surface contour corresponding to the inner surface outline of the reference alignment hole 71a for the suction rotation, and extends in the vertical direction, and the reference rotation for the suction rotation is at the bottom. It is preferable that the unit 72 is provided to be driven up and down, but is connected to a third lifting and aligning means controlled by the control unit 50. The third lifting and aligning means may be provided as a motor, but is not limited thereto.

한편, 상기 흡입회전용 정렬공(71)은 상기 안착판부(70a)의 타측에 배치되되 상기 흡입회전용 기준정렬공(71a)으로부터 각 상기 피검사물(1)의 폭에 대응되는 간격을 두고 이격 배치되며 상기 안착판부(70a)의 폭방향으로 연장되며 상하방향으로 관통 형성되는 복수개의 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)을 포함함이 바람직하다. 이때, 각 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)은 전후방향 길이가 폭 미만으로 설정됨이 바람직하다.On the other hand, the alignment hole 71 for the suction rotation is disposed on the other side of the seating plate portion (70a), but spaced apart at intervals corresponding to the width of each inspected object (1) from the reference alignment hole (71a) for the suction rotation It is preferably disposed and extends in the width direction of the seating plate portion 70a and includes a plurality of counter-alignment holes 71b, 71c for penetrating suction formed vertically. At this time, it is preferable that the lengths of the front and rear directions of each of the opposing alignment holes 71b and 71c for the suction rotation are set to be less than the width.

여기서, 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)은 상기 안착판부(70a)의 타측 외곽에 배치되되 복수개소 형성되어 상호간 전후방향 간격을 두고 이격 배치되는 제3대향정렬공(71b)을 포함함이 바람직하다. Here, the opposite alignment holes (71b, 71c) for the suction rotation includes a third opposite alignment hole (71b) is disposed on the other side of the seating plate portion (70a) is formed in a plurality of spaced apart spaced apart from each other in the front-rear direction Preferably.

더불어, 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)은 상기 흡입회전용 기준정렬공(71a)과 상기 제3대향정렬공(71b) 사이에 배치되되 복수개소 형성되어 상호간 전후방향 간격을 두고 이격 배치되는 제4대향정렬공(71c)을 포함함이 바람직하다. In addition, the opposite alignment holes 71b and 71c for the suction rotation are disposed between the reference alignment holes 71a for the suction rotation and the third opposite alignment holes 71b, and are formed in a plurality of places to be spaced apart from each other in the front-rear direction. It is preferable to include the fourth facing alignment hole 71c to be arranged.

이때, 본 발명의 일실시예에서 상기 제3대향정렬공(71b)과 상기 제4대향정렬공(71c)이 각각 3개소 형성된 경우를 예로써 도시 및 설명한다. At this time, in the embodiment of the present invention, the case where the third opposing alignment hole 71b and the fourth opposing alignment hole 71c are respectively formed in three places is illustrated and described.

상세히, 상기 안착판부(70a)의 전방측에 배치된 제3대향정렬공(71b)과 후방측에 배치된 제3대향정렬공(71b) 사이의 간격은 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 전후방향 길이에 대응되도록 설정됨이 바람직하다. 또한, 각 상기 제3대향정렬공(71b)의 폭방향 내측단은 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 하부에 선택적으로 대향되도록 배치되며, 폭방향 외측단은 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 외곽 테두리로부터 외측으로 노출된 위치로 배치되도록 설정됨이 바람직하다.In detail, the distance between the third opposing alignment hole 71b disposed on the front side of the seating plate portion 70a and the third opposing alignment hole 71b disposed on the rear side is QUAD (1A) of the inspected object 1 ) Is set to correspond to the length in the front-rear direction. In addition, the widthwise inner end of each of the third opposing alignment holes 71b is disposed to be selectively opposed to the lower portion of the QUAD 1A among the inspected objects 1, and the widthwise outer end thereof is the inspected object 1 It is preferable that it is set to be disposed to a position exposed to the outside from the outer rim of the QUAD 1A.

또한, 상기 안착판부(70a)의 전방측에 배치된 제4대향정렬공(71c)과 후방측에 배치된 제4대향정렬공(71c) 사이의 간격은 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 전후방향 길이에 대응되도록 설정됨이 바람직하다. 또한, 각 상기 제4대향정렬공(71c)의 폭방향 내측단은 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 하부에 선택적으로 대향되도록 배치되며, 폭방향 외측단은 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 외곽 테두리로부터 외측으로 노출된 위치로 배치되도록 설정됨이 바람직하다.In addition, the interval between the fourth opposing alignment hole 71c disposed on the front side of the seating plate portion 70a and the fourth opposing alignment hole 71c disposed on the rear side is 9BAR (1B) of the inspected object 1 ) Is set to correspond to the length in the front-rear direction. In addition, the widthwise inner end of each of the fourth opposing alignment holes 71c is arranged to be selectively opposed to the lower portion of 9BAR (1B) of the inspected object 1, and the widthwise outer end is the inspected object 1 It is preferable to be set to be disposed to a position exposed to the outside from the outer border of the 9BAR (1B).

여기서, 상기 검사용 지그장치(100)는 각 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)의 하부에 배치되되 선택적으로 승강되어 각 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)의 상측으로 노출된 후 각 상기 피검사물(1)의 폭방향 타측을 가압하도록 상기 안착판부(70a)의 일측방향으로 이동되는 흡입회전용 가압이동걸림부(73a,73b)를 더 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 흡입회전용 가압이동걸림부(73a,73b)는 상기 제어부(50)에 의해 제어됨이 바람직하다. Here, the jig apparatus 100 for inspection is disposed below each of the counter alignment holes 71b and 71c for suction rotation, and is selectively lifted and exposed to the upper side of each of the counter alignment holes 71b and 71c for suction rotation. It is preferable to further include a pressurization movement catching portion 73a, 73b for suction rotation that is moved in one direction of the seating plate portion 70a so as to press the other side in the width direction of each of the inspected objects 1 after being. At this time, it is preferable that the pressurization movement catching portions 73a and 73b for the suction rotation are controlled by the control unit 50.

또한, 상기 흡입회전용 가압이동걸림부(73a,73b)는 각 상기 제3대향정렬공(71b)의 하부에 배치되는 복수개의 제3가압이동걸림부(73a)와, 각 상기 제4대향정렬공(71c)의 하부에 배치되는 복수개의 제4가압이동걸림부(73b)를 포함함이 바람직하다. 이때, 본 발명의 일실시예에서 각 상기 제3가압이동걸림부(73a)와 각 상기 제4가압이동걸림부(73b)가 각각 3개 구비되는 경우를 예로써 도시 및 설명한다. In addition, the pressurized movement catching portions 73a, 73b for suction rotation are provided with a plurality of third pressing movement catching portions 73a disposed under each of the third opposing alignment holes 71b, and each of the fourth opposing alignment portions. It is preferable to include a plurality of fourth pressing movement catching portions 73b disposed under the balls 71c. At this time, in the embodiment of the present invention, each of the third pressing movement catching portion 73a and each of the fourth pressing movement catching portion 73b are illustrated and described as an example.

그리고, 각 상기 흡입회전용 가압이동걸림부(73a,73b)는 각 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)의 폭방향을 따라 선택적으로 이동되도록 각 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)의 폭 미만을 폭을 갖는 단면으로 구비되되 상하방향으로 연장되며, 하부에 상기 흡입회전용 가압이동걸림부(73a,73b)가 승강 구동되도록 구비되되 상기 제어부(50)에 의해 제어되는 제4승강정렬수단에 동력 연결됨이 바람직하다. 이러한 제4승강정렬수단은 모터로서 구비될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. In addition, each of the suction rotation rotating pressing portions (73a, 73b) is each of the suction rotation counter alignment holes (71b, so as to be selectively moved along the width direction of each of the suction rotation counter alignment holes (71b, 71c)) 71c) is provided in a cross-section having a width less than the width but extends in the up-down direction, and is provided so that the pressure-moving movement moving parts 73a, 73b for suction rotation are lowered and driven, and controlled by the control unit 50 4 It is desirable to connect the power to the lifting and aligning means. The fourth lifting and aligning means may be provided as a motor, but is not limited thereto.

또한, 각 상기 흡입회전용 가압이동걸림부(73a,73b)에는 상단으로부터 상기 안착판부(70a)의 폭방향 일측으로 절곡 연장되는 흡입회전용 걸림고리가 각각 형성될 수 있다. 더욱이, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 안착판부(70a)의 상면에 안착되는 상기 피검사물(1)의 종류 및 크기를 판별하는 흡입회전용 피검사물 판별센서(미도시)를 더 포함할 수 있다. In addition, each of the pressurized movement catching portions 73a, 73b for suction rotation may be formed with hooks for suction rotation extending from the top to one side in the width direction of the seating plate portion 70a. Moreover, the inspection jig device 100 further includes a suction rotation object inspection sensor (not shown) for determining the type and size of the inspection object 1 seated on the upper surface of the seating plate portion 70a. Can.

이에 따라, 상기 공급부(10)에 의해 상기 안착판부(70a)의 상면에 상기 피검사물이 안착되면, 상기 제어부(50)가 상기 흡입회전용 기준걸림부(72)를 상승 제어함과 동시에 상기 흡입회전용 피검사물 판별센서(미도시)에 의해 판별된 상기 피검사물(1)의 종류 및 크기에 대응되어 상기 제3가압이동걸림부(73a) 및 상기 제4가압이동걸림부(73b) 중 어느 한 세트를 상승 제어할 수 있다. Accordingly, when the object to be inspected is seated on the upper surface of the seating plate portion 70a by the supply unit 10, the control unit 50 raises and controls the reference catching portion 72 for the suction rotation, and simultaneously the suction Corresponding to the type and size of the inspected object 1, which is determined by the rotational inspection object discrimination sensor (not shown), any of the third pressurization movement catching section 73a and the fourth pressurization movement catching section 73b Up to one set can be controlled.

이때, 상기 제3가압이동걸림부(73a) 및 상기 제4가압이동걸림부(73b) 중 어느 한 세트는 상기 피검사물(1)의 외곽 테두리의 외측으로부터 각 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)의 상측으로 노출된 후 상기 안착판부(70a)의 폭방향 일측으로 이동됨에 따라 상기 피검사물(1)의 외곽 테두리를 가압할 수 있다. At this time, any one set of the third pressing movement catching portion 73a and the fourth pressing movement catching portion 73b is opposite to each of the suction rotation holes 71b from the outside of the outer rim of the inspected object 1 After being exposed to the upper side of ,71c), as it moves to one side in the width direction of the seating plate portion 70a, it is possible to press the outer edge of the object 1.

즉, 상기 피검사물(1)의 폭방향 일측이 상기 흡입회전용 기준걸림부(72)에 걸림됨과 동시에 상기 피검사물(1)의 폭방향 타측이 상기 제3가압이동걸림부(73a) 및 상기 제4가압이동걸림부(73b) 중 어느 한 세트에 의해 가압 걸림될 수 있다. That is, one side in the width direction of the inspected object 1 is caught by the reference catching part 72 for suction rotation, and at the same time, the other side in the width direction of the inspected object 1 is the third pressing movement catching part 73a and the It may be pressed by any one set of the fourth pressing movement engaging portion (73b).

한편, 상기 안착판부(70a)에는 상기 공급부(10)에 의해 공급된 각 상기 피검사물(1)의 테두리 하면이 선택적으로 안착되어 진공 흡착되도록 상기 흡입회전용 정렬공(71)과 이격되며 복수개의 흡입회전용 진공흡입홀(74)이 상하방향으로 관통 형성됨이 바람직하다. On the other hand, the seating plate portion 70a is spaced apart from the alignment hole 71 for suction rotation so that the lower surface of each of the inspected objects 1 supplied by the supplying portion 10 is selectively seated and vacuum-suctioned. It is preferable that the vacuum suction hole 74 for suction rotation is formed through the vertical direction.

상세히, 상기 흡입회전용 진공흡입홀(74)은 상기 피검사물(1)의 폭방향 일측 하면에 대향되도록 상기 흡입회전용 기준정렬공(71a)으로부터 상기 안착판부(70a)의 폭방향 타측으로 인접하게 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되는 제3진공흡입홀(74a)을 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 피검사물(1)의 폭방향 일측 하면이 상기 제3진공흡입홀(74a)에 선택적으로 대향 배치됨이 바람직하다. In detail, the vacuum suction hole 74 for suction rotation is adjacent to the other side in the width direction of the seating plate portion 70a from the reference alignment hole 71a for suction rotation so as to face one lower surface in the width direction of the inspected object 1. It is preferable to include a third vacuum suction hole 74a which is formed through a plurality of places in the vertical direction along the front-rear direction at a spaced apart position. At this time, it is preferable that one lower surface in the width direction of the inspected object 1 is selectively opposed to the third vacuum suction hole 74a.

여기서, 상기 제3진공흡입홀(74a)은 상기 안착판부(70a)에 전후방향을 따라 'W'자의 지그재그 형태로 상호 이격되며 상하방향으로 각각 관통 형성되되 각 하부가 상호 연통됨이 바람직하다. 또한, 상기 제3진공흡입홀(74a)의 전체 길이는 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 전후방향 길이에 대응되어 설정됨이 바람직하다. Here, the third vacuum suction hole 74a is spaced apart from each other in the zigzag shape of the'W' along the front-rear direction to the seating plate portion 70a, and is formed through each in the vertical direction, but preferably, the lower portions communicate with each other. In addition, the total length of the third vacuum suction hole 74a is preferably set to correspond to the length in the front-rear direction of the QUAD 1A among the inspected objects 1.

더불어, 상기 흡입회전용 진공흡입홀(74)은 상기 피검사물(1)의 폭방향 타측 하면에 대향되도록 각 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)으로부터 상기 안착판부(70a)의 폭방향 일측으로 인접하게 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되는 제4진공흡입홀(74b,74c)을 포함함이 바람직하다. 여기서, 상기 제4진공흡입홀(74b,74c)은 상기 안착판부(70a)에 전후방향을 따라 'W'자의 지그재그 형태로 상호 이격되며 상하방향으로 각각 관통 형성되되 각 하부가 상호 연통됨이 바람직하다. 이때, 상기 피검사물(1)의 폭방향 타측 하면이 상기 제4진공흡입홀(74b,74c)에 선택적으로 대향 배치됨이 바람직하다. In addition, the vacuum suction hole 74 for the suction rotation is in the width direction of the seating plate portion 70a from the opposite alignment holes 71b and 71c for the suction rotation so as to face the other lower surface in the width direction of the inspected object 1. It is preferable to include the fourth vacuum suction holes 74b and 74c formed through a plurality of places in the vertical direction along the front-rear direction at positions spaced adjacent to one side. Here, the fourth vacuum suction holes (74b, 74c) are spaced apart from each other in the zigzag form of the'W' along the front-rear direction to the seating plate portion (70a) and are formed through each in the vertical direction, but each lower portion is preferably in communication Do. At this time, it is preferable that the lower surface of the other side in the width direction of the inspected object 1 is selectively opposed to the fourth vacuum suction holes 74b and 74c.

여기서, 상기 제4진공흡입홀(74b,74c) 중 어느 한 세트는 각 상기 제3대향정렬공(71b)으로부터 상기 안착판부(70a)의 폭방향 일측으로 인접하게 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되며, 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 폭방향 타측 하면이 선택적으로 대향 배치되도록 상기 피검사물(1) 중 QUAD(1A)의 전후방향 길이에 대응되어 전체 길이가 설정됨이 바람직하다.Here, any one set of the fourth vacuum suction holes 74b and 74c along the front-rear direction at a position spaced apart from each of the third opposing alignment holes 71b to one side in the width direction of the seat plate portion 70a. It is formed through a plurality of places in the vertical direction, and corresponds to the length in the front-rear direction of the QUAD 1A among the inspected objects 1 so that the other side of the width direction of the QUAD 1A among the inspected objects 1 is selectively opposed. It is preferred that the length is set.

또한, 상기 제4진공흡입홀(74b,74c) 중 다른 한 세트는 각 상기 제4대향정렬공(71c)으로부터 상기 안착판부(70a)의 폭방향 일측으로 인접하게 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되며, 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 폭방향 타측 하면이 선택적으로 대향 배치되도록 상기 피검사물(1) 중 9BAR(1B)의 전후방향 길이에 대응되어 전체 길이가 설정됨이 바람직하다.In addition, another set of the fourth vacuum suction holes 74b and 74c along the front-rear direction at positions spaced apart from each of the fourth opposing alignment holes 71c to one side in the width direction of the seating plate portion 70a. It is formed through a plurality of places in the vertical direction, and corresponds to the length in the front-rear direction of 9BAR (1B) of the test object (1) so that the other side of the width direction of the 9BAR (1B) of the test object (1) is selectively opposite. It is preferred that the length is set.

이를 통해, 상기 안착판부(70a)의 상면에 안착된 상기 피검사물(1)의 폭방향 양측 테두리 하면이 각 상기 흡입회전용 진공흡입홀(74)에 동시에 진공 흡착됨에 따라 상기 피검사물(1)이 실질적으로 상기 안착판부(70a)와 평행하게 정렬된 상태에서 검사가 수행될 수 있어 검사정밀성이 개선될 수 있다. Through this, as the lower surface of both sides of the width direction of the inspected object 1 seated on the upper surface of the seating plate portion 70a is simultaneously vacuum adsorbed to the vacuum suction holes 74 for each suction rotation, the inspected object 1 The inspection can be performed in a state substantially aligned with the seating plate portion 70a, so that inspection precision can be improved.

그리고, 상기 안착판부(70a)의 내부에는 상기 피검사물(1)을 진공 흡착하도록 각 상기 흡입회전용 진공흡입홀(74)에 연통되는 흡입회전용 진공흡착유로(미도시)가 전후방향을 따라 연통됨이 바람직하다. 이때, 상기 흡입회전용 진공흡착유로(미도시)의 유입단이 각 상기 흡입회전용 진공흡입홀(74)에 연통될 수 있다. In addition, a vacuum suction flow path (not shown) for suction rotation communicating with each vacuum suction hole 74 for suction rotation in the interior of the seating plate portion 70a to vacuum adsorb the inspected object 1 along the front-rear direction. It is desirable to communicate. At this time, an inlet end of the vacuum suction flow path (not shown) for the suction rotation may be in communication with each vacuum suction hole 74 for the suction rotation.

그리고, 상기 검사용 지그장치(100)는 상기 흡입회전용 진공흡착유로(미도시)의 토출단에 유로 연결되어 진공 흡착력을 제공하도록 상기 제어부(50)에 의해 제어되는 흡입회전용 진공흡착수단(미도시)을 더 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 흡입회전용 진공흡착수단(미도시)은 상기 제어부(50)에 회로 연결되어 제어됨이 바람직하다. 이러한 흡입회전용 진공흡착수단(미도시)은 진공 흡입 펌프로서 구비될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. In addition, the inspection jig device 100 is connected to the discharge end of the vacuum suction flow path (not shown) for the suction rotation vacuum suction means for suction rotation controlled by the control unit 50 to provide a vacuum suction force ( It is preferred to further include). At this time, the vacuum suction means for suction rotation (not shown) is preferably connected to the control circuit 50 is controlled. The suction suction vacuum suction means (not shown) may be provided as a vacuum suction pump, but is not limited thereto.

여기서, 상기 흡입회전용 진공흡착유로(미도시)의 토출단에는 배관 형태의 흡입회전용 연결유로(76)가 연결되되, 상기 흡입회전용 연결유로(76)는 상기 흡입회전용 진공흡착유로(미도시)의 토출단과 상기 흡입회전용 진공흡착수단(미도시) 사이의 연결을 매개하도록 구비됨이 바람직하다. Here, a connection path 76 for suction rotation in the form of a pipe is connected to the discharge end of the vacuum suction flow path (not shown) for the suction rotation, and the connection flow path 76 for the suction rotation is the vacuum suction path for the suction rotation ( It is preferably provided to mediate the connection between the discharge end of the not shown) and the vacuum suction means (not shown) for the suction rotation.

이를 통해, 상기 제어부(50)에 의해 상기 흡입회전용 진공흡착수단(미도시)이 구동되면 공기의 유동방향이 각 상기 흡입회전용 진공흡착유로(미도시)의 유입단으로부터 토출단측으로 발생된다. 이에 따라, 상기 피검사물(1)의 폭방향 양측 테두리 하면이 흡입회전용 진공흡입홀(74)에 진공 흡착되어 고정될 수 있다. 이때, 상술된 상기 흡입회전부(70)의 각 구성이 상술된 상기 호환베이스부(20)의 각 구성에 실질적으로 동일하게 대응됨으로 이해함이 바람직하다. Through this, when the vacuum suction means (not shown) for the suction rotation is driven by the control unit 50, the flow direction of air is generated from the inlet end of each vacuum suction flow path (not shown) for the suction rotation to the discharge end side. . Accordingly, the lower surfaces of both edges in the width direction of the inspected object 1 may be vacuum-suctioned and fixed to the vacuum suction hole 74 for suction rotation. At this time, it is preferable to understand that each configuration of the above-mentioned suction rotation part 70 corresponds substantially to each configuration of the above-described compatible base part 20.

그리고, 상기 흡입회전부(70)는 상기 피검사물(1)의 하면이 상기 안착판부(70a)의 상면에 진공 흡착되며 상기 흡입회전용 걸림고리에 걸림 고정된 상태에서, 상기 안착판부(70a)가 하측을 향하도록 상기 제어부(50)에 의해 회전 구동되는 회전수단(75)를 포함함이 바람직하다. In addition, the suction rotation part 70 is vacuum-adsorbed to the upper surface of the seating plate part 70a and the lower surface of the inspected object 1 is fixed to the suction ring for the suction rotation, and the seating plate part 70a is It is preferable to include rotation means 75 that is rotationally driven by the control unit 50 to face downward.

또한, 상기 검사용 지그장치(100)는 하측을 향하도록 배치된 상기 안착판부(70a)의 하부에 상면이 선택적으로 대향 배치되며, 폭방향을 따라 선택적으로 왕복 이동되며, 상하방향을 따라 선택적으로 승강 구동되고, 상기 제어부(50)에 의해 제어되는 받침부(77)를 더 포함함이 바람직하다. 이때, 상기 받침부(77)에는 상기 흡입회전용 정렬공(71)에 대응되는 받침용 정렬공(미도시)과, 상기 흡입회전용 기준걸림부(72)에 대응되는 받침용 기준걸림부(미도시)와, 상기 흡입회전용 대향정렬공(71b,71c)에 대응되는 받침용 대향정렬공(미도시)과, 상기 흡입회전용 가압이동걸림부(73a,73b)에 대응되는 받침용 가압이동걸림부(미도시)와, 상기 흡입회전용 진공흡입홀(74)에 대응되는 받침용 진공흡입홀(미도시)이 구비될 수 있다. 이때, 상기 받침부(77)의 각 구성 및 하위구성이 상술된 상기 흡입회전부(70)의 각 구성 및 작용과 실질적으로 동일하므로 구체적인 설명은 생략한다. In addition, the jig device for inspection 100 is disposed on the lower side of the seating plate portion 70a disposed to face downward, is selectively opposed, is selectively reciprocated along the width direction, selectively along the vertical direction It is preferable to further include a support portion 77 which is driven up and down and controlled by the control unit 50. At this time, the support portion 77 includes an alignment hole (not shown) corresponding to the alignment hole 71 for suction rotation, and a reference engagement portion for support corresponding to the reference rotation part 72 for suction rotation ( (Not shown), and a counter alignment hole (not shown) for the support corresponding to the opposite alignment holes 71b and 71c for the suction rotation, and a pressure for support corresponding to the pressure movement catching parts 73a and 73b for the suction rotation A moving suction part (not shown) and a vacuum suction hole (not shown) for a support corresponding to the suction suction vacuum hole 74 may be provided. At this time, since each configuration and sub-configuration of the support portion 77 are substantially the same as each configuration and operation of the suction rotation portion 70 described above, a detailed description will be omitted.

그리고, 상기 흡입회전부(70)에 의해 상하 반전되어 상기 받침부(77)에 안착되어 정렬된 상기 피검사물(1)이 상기 공급부(10)에 의해 상기 호환베이스부(20)의 상면으로 이송되도록 상기 제어부(50)에 의해 제어될 수 있다. Then, the object to be inspected (1), which is inverted upside down by the suction rotation part (70) and seated and aligned on the support part (77), is transferred to the upper surface of the compatible base part (20) by the supply part (10). It can be controlled by the control unit 50.

이에 따라, 상기 흡입회전부(70) 및 상기 받침부(77)를 통해 상기 피검사물(1)의 상면 및 하면을 반전시켜 각각에 대한 검사를 순차적으로 수행할 수 있어 작업효율이 자동화되어 생산속도가 개선됨에 따라 경제성이 현저히 개선될 수 있다.Accordingly, by inverting the upper and lower surfaces of the inspected object 1 through the suction rotating part 70 and the supporting part 77, inspection for each can be sequentially performed, thereby improving the production speed by automating work efficiency. As it improves, economics can improve significantly.

이처럼, 본 발명에 따른 검사용 지그장치(100)는 상기 피검사물(1)의 하면 외측 테두리가 상기 호환베이스부(20)의 진공흡입홀(24)에 진공 흡착됨과 동시에 상기 피검사물(1)의 상면 전체가 상하면이 평평한 플레이트로 구비된 투명 재질의 투광글래스(61)에 의해 동시에 균일하게 면접촉 하향 가압된다. 따라서, 피검사물(1)의 상면이 상기 검사촬상부(30)로 완전 노출된 상태에서 검사가 수행되면서도 검사를 위해 상기 이송부(40)에 의한 전후방향 복수회 왕복 이동시에도 상기 피검사물(1)의 평탄도가 상기 호환베이스부(20)에 실질적으로 평행하고 균일하게 유지되는 시너지 효과를 제공하여 검사정밀도 및 검사신뢰도가 현저히 개선될 수 있다. As described above, in the jig apparatus 100 for inspection according to the present invention, the lower edge of the lower surface of the inspected object 1 is vacuum adsorbed on the vacuum suction hole 24 of the compatible base 20 and at the same time, the inspected object 1 The entire upper surface of the upper and lower surfaces is simultaneously and uniformly pressed downward by the transparent glass light-transmitting glass 61 provided with a flat plate. Therefore, even when the inspection is performed while the upper surface of the inspected object 1 is completely exposed to the inspected imaging part 30, the inspected object 1 is moved even when it is moved back and forth multiple times by the transfer part 40 for inspection. By providing a synergistic effect in which the flatness of the substrate is maintained substantially parallel and uniform to the compatible base portion 20, inspection precision and inspection reliability can be significantly improved.

또한, 상기 검사촬상부(30)에 구비된 반사조명부(32)로부터 방사된 빛이 상기 투광글래스(61)에서 반사되어 상기 검사카메라(31)에 도달하는 입사광량이 기설정값 이하로 조절되도록 상기 투광글래스(61)가 기설정범위의 반사율을 갖는 투명 재질로 구비되어 매질 특성에 의한 산란이 최소화되므로 피검사물(1)에 대하여 획득되는 검사대상이미지의 선명도가 현저히 개선될 수 있다.In addition, the amount of incident light reaching the inspection camera 31 is adjusted so that the light emitted from the reflection illumination unit 32 provided in the inspection imaging unit 30 is reflected from the transparent glass 61 and is adjusted to a predetermined value or less. Since the transmissive glass 61 is made of a transparent material having a reflectance in a predetermined range, scattering due to a medium characteristic is minimized, and thus the sharpness of an inspection target image obtained with respect to the inspected object 1 can be remarkably improved.

그리고, 상기 호환베이스부(20)의 면적 이상으로 구비되는 상기 투광글래스(61)의 외측 테두리를 감싸는 외곽프레임(62)에 전후방향 구름 이동을 위한 구동레일부(63)가 연결되고 상기 투광글래스(61)가 상기 피검사물의 상면 전체에 면접촉되도록 하강 구동되는 상기 가압승강수단(64)이 연결된다. In addition, a driving rail portion 63 for moving the front and rear clouds is connected to the outer frame 62 surrounding the outer rim of the translucent glass 61 provided above the area of the compatible base portion 20 and the translucent glass The pressure lifting means 64, which is driven downward so that 61 is in surface contact with the entire upper surface of the inspected object, is connected.

또한, 상기 피검사물(1)이 상기 호환베이스부(20)의 상면에 안착되면 상기 호환베이스부(20) 일측의 기준정렬공(21a)의 상측으로 승강 노출된 상기 기준걸림부(22)에 일측이 걸림되고, 상기 기준정렬공(21a)으로부터 각 상기 피검사물(1)의 폭에 대응되는 간격을 두고 이격된 복수개의 대향정렬공(21b,21c)의 상측으로 승강 노출된 상기 가압이동걸림부(23a,23b)에 타측이 폭방향으로 가압되어 정렬 고정되므로 호환성이 개선되며, 복수개의 피검사물을 대량으로 순차 검사시에도 각 검사대상이미지가 균일하게 획득되어 검사효율 및 검사신뢰도가 현저히 개선될 수 있다. In addition, when the object to be inspected (1) is seated on the upper surface of the compatible base portion (20), the reference catching portion (22) elevated and exposed to the upper side of the reference alignment hole (21a) on one side of the compatible base portion (20) One side is hung, and the pressurization movement is lifted and exposed upwardly from the reference alignment holes 21a to a plurality of opposing alignment holes 21b and 21c spaced apart at intervals corresponding to the width of each inspected object 1 Compatibility is improved because the other side is pressed and aligned in the width direction to the parts 23a, 23b, and even when sequentially inspecting a large number of objects to be inspected, each inspection target image is obtained uniformly, significantly improving inspection efficiency and inspection reliability. Can be.

또한, 하나의 호환베이스부(20)에 다양한 크기의 피검사물(1)이 호환되도록 복수개의 대향정렬공(21b,21c)이 상기 기준정렬공(21a)으로부터 각 상기 피검사물(1)의 폭에 대응되는 간격을 두고 이격 배치되며 각 상기 피검사물(1)의 폭방향 양측 하면이 상기 제1진공흡입홀(24a) 및 복수개의 상기 제2진공흡입홀(24b) 중 어느 하나에 각각 대향 배치되므로 호환성이 현저히 개선될 수 있다. In addition, a plurality of counter-alignment holes 21b and 21c are wide from each of the reference alignment holes 21a so that the inspected objects 1 of various sizes are compatible with one compatible base part 20. Spaced apart from each other at intervals corresponding to each other, both sides of each of the inspected objects 1 in the width direction are disposed opposite to any one of the first vacuum suction hole 24a and the plurality of second vacuum suction holes 24b. Therefore, compatibility can be significantly improved.

이때, 이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "구비하다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재할 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미가 있다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.At this time, the terms "include", "compose" or "prepare" as described above means that the corresponding component can be intrinsic unless otherwise stated, and other components are excluded. It should not be interpreted as being able to further include other components. All terms, including technical or scientific terms, have the same meaning as generally understood by a person skilled in the art to which the present invention belongs, unless otherwise defined. Commonly used terms, such as predefined terms, should be interpreted as being consistent with the contextual meaning of the related art, and are not to be interpreted as ideal or excessively formal meanings unless explicitly defined in the present invention.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 상술한 각 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 청구항에서 청구하는 범위를 벗어남 없이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 변형 실시되는 것은 가능하며, 이러한 변형 실시는 본 발명의 범위에 속한다.As described above, the present invention is not limited to each of the above-described embodiments, and it is possible to be modified by a person skilled in the art to which the present invention pertains without departing from the scope of the claims of the present invention. The implementation of such modifications is within the scope of the present invention.

100: 검사용 지그장치 10: 공급부
20: 호환베이스부 21: 정렬공
22: 기준걸림부 23a,23b: 가압이동걸림부
24: 진공흡입홀 30: 검사촬상부
31: 검사카메라 32: 반사조명부
40: 이송부 50: 제어부
60: 글래스커버부 61: 투광글래스
62: 외곽프레임 63: 구동레일부
64: 가압승강수단 70: 흡입회전부
100: inspection jig device 10: supply unit
20: compatible base 21: alignment hole
22: reference engaging portion 23a, 23b: pressurized moving engaging portion
24: vacuum suction hole 30: inspection imaging unit
31: inspection camera 32: reflective lighting
40: transfer unit 50: control unit
60: glass cover portion 61: transparent glass
62: outer frame 63: drive rail portion
64: pressurized lifting means 70: suction rotating part

Claims (5)

전방부에 배치되며 사각 단면의 평판이 상이한 크기별로 규격화되어 구비된 복수개의 피검사물을 순차적으로 공급하도록 폭방향을 따라 왕복 이동되는 공급부의 하부에 선택적으로 대향 배치되되, 중앙부에 각 상기 피검사물의 외곽 테두리가 안착되는 위치에 복수개의 정렬공이 상하방향으로 관통 형성되며, 상기 공급부에 의해 공급된 각 상기 피검사물의 테두리 하면이 선택적으로 안착되어 진공 흡착되도록 상기 정렬공과 이격되며 복수개의 진공흡입홀이 상하방향으로 관통 형성되는 호환베이스부;
상기 공급부와 전후방향으로 이격된 후방부에 배치되되, 상기 호환베이스부의 상부에 선택적으로 대향 배치되며, 상기 호환베이스부의 상면에 진공 흡착되어 고정된 상기 피검사물을 촬상하는 검사카메라를 포함하는 검사촬상부;
상기 호환베이스부가 전후방향으로 구름 이동되어 상기 공급부 및 상기 검사촬상부 중 어느 하나의 하부에 선택적으로 대향 배치되도록 상기 호환베이스부의 하부에 전후방향을 따라 배치되되 상기 호환베이스부에 레일 연결되는 이송부; 및
상기 검사촬상부에서 촬상된 상기 피검사물에 대한 검사대상이미지를 전송받아 상기 검사대상이미지 및 기저장된 마스터이미지 간의 매칭률을 비교검사하며, 상기 공급부 및 상기 이송부를 구동 제어하는 제어부를 포함하는 검사용 지그장치.
It is disposed on the front portion and the flat plate of the square section is standardized for different sizes, and is selectively disposed opposite to the lower portion of the supply portion that is reciprocated along the width direction to sequentially supply a plurality of inspected objects. A plurality of alignment holes are formed through the vertical direction at a position where the outer rim is seated, and the lower surface of each of the inspected objects supplied by the supply unit is selectively seated and spaced apart from the alignment holes so that the plurality of vacuum suction holes are separated. A compatible base formed through the vertical direction;
An inspection image including an inspection camera which is disposed on the rear part spaced apart from the supply part in the front-rear direction and is selectively opposed to the upper part of the compatible base part and is vacuum-suctioned on an upper surface of the compatible base part to capture the fixed test object. part;
A transfer part disposed along the front-rear direction in the lower part of the compatible base part to be rail-connected to the compatible base part so that the compatible base part is clouded in the front-rear direction and selectively disposed opposite to any one of the supply part and the inspection imaging part; And
For inspection, including a control unit that receives and receives an inspection target image for the inspected object imaged by the inspection imaging unit and compares the matching rate between the inspection target image and a pre-stored master image, and drives and controls the supply unit and the transport unit. Jig device.
제 1 항에 있어서,
상기 호환베이스부의 상부와 상기 검사촬상부의 하부 사이에 선택적으로 대향 배치되되, 상기 피검사물의 상면 전체를 동시에 균일하게 하향 가압하여 상기 피검사물의 상면에 선택적으로 면접촉되도록 상하면이 평평한 플레이트로 구비된 투광글래스를 포함하는 글래스커버부를 더 포함하되,
상기 투광글래스는 상기 검사촬상부에 구비된 반사조명부로부터 방사된 빛이 반사되어 상기 검사카메라에 도달하는 입사광량이 기설정값 이하로 조절되도록 기설정범위의 반사율을 갖는 투명 재질로 구비됨을 특징으로 하는 검사용 지그장치.
According to claim 1,
Arranged opposingly between the upper portion of the compatible base portion and the lower portion of the inspection imaging portion, the upper and lower surfaces are provided with a flat plate so that the entire upper surface of the object to be inspected is uniformly downwardly pressed at the same time to selectively contact the upper surface of the object to be inspected. Further comprising a glass cover portion comprising a translucent glass,
The transparent glass is provided with a transparent material having a reflectance in a predetermined range so that the light emitted from the reflective lighting unit provided in the inspection imaging unit is reflected and the amount of incident light reaching the inspection camera is adjusted to a predetermined value or less. Jig device for inspection.
제 2 항에 있어서,
상기 투광글래스는 상기 호환베이스부의 면적 이상으로 구비되되 상기 호환베이스부의 상부를 커버하도록 선택적으로 전후방향 이동되도록 구비되며,
상기 글래스커버부는, 상기 투광글래스의 외측 테두리를 감싸며 배치되되 상기 호환베이스부의 전후방향 및 폭방향 직경을 각각 초과하는 직경으로 구비되는 외곽프레임과,
상기 외곽프레임의 폭방향 외측에 연결되며 상기 투광글래스가 상기 호환베이스부의 상부 및 상기 호환베이스부의 전방 외측 중 어느 일측으로 전후방향 구름 이동되도록 상기 제어부에 의해 제어되는 구동레일부와,
상기 외곽프레임의 하부에 연결되며 상기 투광글래스가 상기 호환베이스부의 상부에 대향 배치시 상기 피검사물의 상면 전체에 면접촉되도록 상기 제어부에 의해 선택적으로 하강 구동되는 가압승강수단을 더 포함함을 특징으로 하는 검사용 지그장치.
According to claim 2,
The translucent glass is provided over an area of the compatible base, but is provided to be selectively moved back and forth to cover the upper portion of the compatible base,
The glass cover portion, the outer frame is disposed surrounding the outer rim of the translucent glass, the outer frame provided with a diameter that exceeds the diameter in the front-rear direction and the width direction of the compatible base, respectively,
A driving rail part connected to the outer side in the width direction of the outer frame and controlled by the control unit so that the translucent glass is moved back and forth in any direction from the upper part of the compatible base part and the front outer part of the compatible base part;
It is connected to the lower portion of the outer frame, and when the transparent glass is disposed opposite to the upper portion of the compatible base portion, it further comprises a pressurized elevating means selectively lowered and driven by the control unit so as to make surface contact with the entire upper surface of the inspected object. Jig device for inspection.
제 1 항에 있어서,
상기 정렬공은 상기 호환베이스부의 일측에 전후방향으로 연장되며 상하방향으로 관통 형성되는 기준정렬공과, 상기 호환베이스부의 타측에 상기 기준정렬공으로부터 각 상기 피검사물의 폭에 대응되는 간격을 두고 이격 배치되며 상기 호환베이스부의 폭방향으로 연장되며 상하방향으로 관통 형성되는 복수개의 대향정렬공을 포함하며,
상기 기준정렬공의 하부에 배치되되 각 상기 피검사물의 폭방향 일측이 걸림되도록 선택적으로 승강되어 상기 기준정렬공의 상측으로 노출되는 기준걸림부와,
각 상기 대향정렬공의 하부에 배치되되 선택적으로 승강되어 각 상기 대향정렬공의 상측으로 노출된 후 각 상기 피검사물의 폭방향 타측을 가압하도록 상기 호환베이스부의 일측방향으로 이동되는 가압이동걸림부를 더 포함함을 특징으로 하는 검사용 지그장치.
According to claim 1,
The alignment holes are spaced apart at a distance corresponding to the width of each of the inspected objects from the reference alignment holes extending in the front-rear direction on one side of the compatible base portion and penetrating in the vertical direction, and from the reference alignment holes on the other side of the compatible base portion. It includes a plurality of counter-alignment holes extending in the width direction of the compatible base portion and penetrating in the vertical direction,
A reference catching part disposed below the reference alignment hole and selectively lifted so that one side in each width direction of the inspected object is caught and exposed to an upper side of the reference alignment hole;
It is disposed below the counter-alignment hole, but is selectively lifted and exposed to the upper side of each counter-alignment hole, and then the press-fitting movement part is moved in one direction of the compatible base part to press the other side in the width direction of each inspected object. Inspection jig device characterized in that it includes.
제 4 항에 있어서,
상기 진공흡입홀은 상기 피검사물의 폭방향 일측 하면에 대향되도록 상기 기준정렬공으로부터 상기 호환베이스부의 폭방향 타측으로 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되는 제1진공흡입홀과,
상기 피검사물의 폭방향 타측 하면에 대향되도록 각 상기 대향정렬공으로부터 상기 호환베이스부의 폭방향 일측으로 이격된 위치에 전후방향을 따라 상하방향으로 복수개소 관통 형성되는 제2진공흡입홀을 포함하고,
상기 피검사물의 폭방향 일측 하면이 상기 제1진공흡입홀에 선택적으로 대향 배치되며 폭방향 타측 하면이 상기 제2진공흡입홀에 선택적으로 대향 배치되도록 상기 제1진공흡입홀 및 상기 제2진공흡입홀 사이 간격은 상기 피검사물의 폭 미만으로 설정됨을 특징으로 하는 검사용 지그장치.
The method of claim 4,
The vacuum suction hole is a first vacuum suction hole formed through a plurality of places in the vertical direction along the front-rear direction at a position spaced apart from the reference alignment hole to the other side in the width direction of the compatible base so as to face one lower surface in the width direction of the inspected object. and,
And a second vacuum suction hole formed through a plurality of places in the vertical direction along the front-rear direction at a position spaced apart from each of the counter-alignment holes to one side in the width direction of the compatible base so as to face the other side in the width direction of the inspected object,
The first vacuum suction hole and the second vacuum suction so that one lower surface in the width direction of the inspected object is selectively opposed to the first vacuum suction hole and the lower surface in the width direction is selectively opposite to the second vacuum suction hole. The interval between holes is set to less than the width of the inspected object jig device for inspection.
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