KR102121092B1 - 렌즈유닛 핸들링 시스템 - Google Patents

렌즈유닛 핸들링 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR102121092B1
KR102121092B1 KR1020160049087A KR20160049087A KR102121092B1 KR 102121092 B1 KR102121092 B1 KR 102121092B1 KR 1020160049087 A KR1020160049087 A KR 1020160049087A KR 20160049087 A KR20160049087 A KR 20160049087A KR 102121092 B1 KR102121092 B1 KR 102121092B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lens unit
unit
picker
lens
inspection
Prior art date
Application number
KR1020160049087A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20170120780A (ko
Inventor
김영현
정현권
Original Assignee
한미반도체 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한미반도체 주식회사 filed Critical 한미반도체 주식회사
Priority to KR1020160049087A priority Critical patent/KR102121092B1/ko
Publication of KR20170120780A publication Critical patent/KR20170120780A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102121092B1 publication Critical patent/KR102121092B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0207—Details of measuring devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N11/00—Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties
    • G01N11/02—Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties by measuring flow of the material
    • G01N11/04—Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity, plasticity; Analysing materials by determining flow properties by measuring flow of the material through a restricted passage, e.g. tube, aperture
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/022—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses lens and mount having complementary engagement means, e.g. screw/thread
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B30/00—Camera modules comprising integrated lens units and imaging units, specially adapted for being embedded in other devices, e.g. mobile phones or vehicles
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N2021/1765—Method using an image detector and processing of image signal
    • G01N2021/177—Detector of the video camera type
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G01N2021/9583—Lenses
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/10—Scanning
    • G01N2201/104—Mechano-optical scan, i.e. object and beam moving
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/643—Specific applications or type of materials object on conveyor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/645—Specific applications or type of materials quality control

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

본 발명은 다양한 유형의 렌즈유닛을 검사조건에 맞춰 신속하고 정확하게 렌즈유닛 검사장치로 공급하고 검사가 완료된 렌즈유닛을 반출할 수 있는 렌즈유닛 핸들링 시스템에 관한 것이다.

Description

렌즈유닛 핸들링 시스템{Lens Unit Handling System}
본 발명은 렌즈유닛 검사장치로 렌즈유닛을 공급 및 회수하는 렌즈유닛 핸들링 시스템에 관한 것이다. 보다 상세하게, 본 발명은 다양한 유형의 렌즈유닛을 검사조건에 맞춰 신속하고 정확하게 렌즈유닛 검사장치로 공급하고 검사가 완료된 렌즈유닛을 반출할 수 있는 렌즈유닛 핸들링 시스템에 관한 것이다.
최근 다양한 모바일 기기에 정지영상, 동영상 및 화상통화를 위한 카메라 모듈이 구비된다. 각각의 카메라 모듈은 렌즈를 포함하는 렌즈유닛이 구비되고, 각각의 렌즈유닛은 카메라 모듈로 조립되기 전에 렌즈의 광학적 특성을 검사하기 위한 MTF(Modulation Transfer Function) 검사가 수행될 수 있다. MTF는 렌즈의 성능을 평가하는 지표의 하나로서, 렌즈의 원거리 초점 및 해상도 등을 검사할 수 있다.
이러한 렌즈유닛의 검사는 육안으로 판단하지 않고, 광원에서 제공된 빛을 이용하여 렌즈유닛을 투과한 이미지 분석 검사에 의하여 연속적으로 빠른 검사가 가능하다.
렌즈유닛 검사장치의 광학 시험에 따른 이미지 분석과정은 상대적으로 빠르게 진행될 수 있으나, 렌즈유닛 검사장치의 검사 위치로 검사대상 렌즈유닛을 공급하고 검사가 완료된 렌즈유닛을 반출하는 과정을 작업자가 수동으로 하던 기존의 방법은 UPH가 떨어지므로 점점 늘어나는 렌즈유닛 시장을 따라가기 어려웠다.
또한, 렌즈유닛 검사장치의 검사위치에 렌즈유닛이 배치되는 경우, 렌즈유닛은 수평 위치 이외에도 상하 방향 이외에 θ 방향 등이 동일하게 정렬된 상태로 배치되어야 한다.
이와 같은 조건을 만족하며 렌즈유닛 검사장치에 검사대상 렌즈유닛을 지속적으로 공급하고 검사 완료된 렌즈유닛을 반출하는 시스템이 요구된다.
본 발명은 다양한 유형의 렌즈유닛을 검사조건에 맞춰 신속하고 정확하게 렌즈유닛 검사장치로 공급하고 검사가 완료된 렌즈유닛을 반출할 수 있는 렌즈유닛 핸들링 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 렌즈유닛 검사장치에 검사대상 렌즈유닛을 공급하고 검사 완료된 렌즈유닛을 반출하는 렌즈유닛 핸들링 시스템에 있어서, 검사 대상 렌즈유닛이 수용된 공급 트레이에서 렌즈유닛을 픽업하기 위한 제1 픽커와 상기 제1 픽커의 일측에 구비되어 상기 공급 트레이에 적재된 렌즈유닛을 하방 촬상 검사하는 제1하방 비전유닛이 나란히 X축 방향으로 이송 가능하게 구비되는 렌즈유닛 공급부; 상기 제1 픽커에 픽업된 렌즈유닛이 상방향으로 개방된 상태로 거치되며, 선택적으로 렌즈유닛을 상하 반전시키는 상하 반전부; 상기 상하 반전부에 거치된 렌즈유닛을 픽업하기 위한 제2 픽커와, 제2 픽커의 일측에 구비되어 상기 상하 반전부에 거치된 렌즈유닛을 하방 촬상 검사하는 제2하방비전유닛이 나란히 X축 방향으로 이송 가능하게 구비되며, 상기 제2 픽커의 이송 경로상의 하부에 고정되어 배치되는 상방비전유닛을 포함하는 렌즈유닛 정렬부; 및 상기 렌즈유닛 정렬부에 의해 정렬된 렌즈 유닛을 렌즈유닛의 광학적 특성을 검사하기 위한 렌즈유닛 검사장치의 검사베이스에 전달하고 검사가 완료된 상기 렌즈유닛을 반출하기 위한 렌즈유닛 전달부를 포함한다.
또한, 상기 공급 트레이를 상기 렌즈유닛 공급부 일측으로 이송하기 위하여 구비되는 공급 트레이 로딩부 및; 상기 렌즈유닛 전달부로부터 검사가 완료된 상기 렌즈유닛을 거치하기 위한 시트블럭; 상기 시트블럭 상에 거치된 렌즈유닛을 픽업하여 반출 트레이에 적재하기 위한 제3픽커와 상기 제3픽커의 일측에 구비되어 상기 반출 트레이 및 상기 시트블럭에 거치된 렌즈유닛을 검사하기 위한 제3 하방비전유닛을 구비하는 반출 트레이 로딩부를 더 포함하며, 상기 공급 트레이 로딩부, 렌즈유닛 공급부, 상하 반전부, 렌즈유닛 정렬부, 렌즈유닛 전달부, 반출 트레이 로딩부가 X축 방향으로 순차적으로 배치되는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 제1 픽커, 제2 픽커, 제3픽커는 각각 X축, Y축으로 이동 가능하게 구비되며, Z축으로 승강 가능하며 θ 방향으로 회전 가능하게 구비된다.
한편, 상기 상하 반전부는 상기 렌즈유닛 검사장치의 카메라가 상기 렌즈유닛의 렌즈면을 검사할 수 있도록 렌즈유닛의 상하면을 선택적으로 반전시킬 수 있으며, 상기 렌즈유닛 검사장치의 카메라가 상부에 위치할 때는 상기 상하 반전부에 거치된 렌즈유닛을 상기 제2 픽커가 픽업하고, 상기 렌즈유닛 검사장치의 카메라가 하부에 위치할 때는 상기 상하 반전부에 거치된 렌즈유닛의 상하면이 반전되도록 회전된 상태에서, 상하 반전된 렌즈유닛을 상기 제2 픽커가 픽업하는 것을 특징으로 한다.
이경우, 상기 상하 반전부는 상기 렌즈유닛 픽업공급부의 제1 픽커에 의해 픽업된 렌즈유닛을 수용하기 위한 상하 방향으로 개방된 수용부를 구비하며 수용부재, 상기 수용부재에 밀착된 상태로 상기 수용부재의 수용부를 차폐 또는 개방하도록 전진 또는 후퇴하도록 구동되며, 상기 수용부재의 수용부에 수용된 렌즈유닛을 상하 반전하기 위하여 상기 수용부재가 회전시 상기 수용부에 수용된 렌즈유닛을 하방 지지하기 위한 제1 지지암 및 제2 지지암을 포함한다.
그리고, 렌즈유닛 정렬부에서, 상기 제2 하방 비전유닛은 상기 렌즈유닛의 종류와 렌즈유닛의 얼라인을 촬상하고, 상기 상방 비전유닛은 상기 제2 픽커에 픽업된 상기 렌즈유닛을 검사하여, 렌즈유닛의 위치와 축틀어짐을 촬상하며, 상기 렌즈유닛 검사장치의 검사 조건을 만족하도록 상기 촬상 검사 결과에 따라 상기 제2 픽커의 Y축 및 θ 방향으로 보정하여 상기 렌즈유닛을 정렬하는 것을 특징으로 한다.
또한, 렌즈유닛 전달부는 상기 렌즈유닛 정렬부의 제2 픽커에 픽업된 렌즈유닛을 상기 렌즈유닛 검사장치의 검사 베이스로 이송하기 위하여 X축 이송이 가능한 제1 그립퍼 및 상기 렌즈유닛 검사장치의 검사 베이스에서 검사 완료된 렌즈유닛을 반출하기 위한 X축 이송이 가능한 제2 그립퍼를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템에 의하면, 렌즈유닛을 검사조건에 맞춰 신속하고 정확하게 렌즈유닛을 렌즈유닛 검사장치로 공급하고, 또한 검사가 완료된 렌즈유닛을 반출하는 일련의 과정을 자동화할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 핸들링 시스템에 의하면, 각각의 공정들을 작업 순서에 따라 순차적으로 배치함으로써 검사 대상 렌즈유닛의 대기시간을 최소화하면서도 검사 공정의 효율성을 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 핸들링 시스템에 의하면, 검사장치의 종류에 따라 자재의 방향을 앞뒤로 전환이 가능하여 다양한 컨셉 구현이 가능해진다.
도 1은 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템의 평면도를 도시한다.
도 2는 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템의 렌즈유닛 픽업공급부, 상기 상하 반전부 및 상기 렌즈유닛 정렬부의 사시도를 도시한다.
도 3은 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템을 구성하는 상하 반전부의 측면도를 도시한다.
도 4는 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템을 구성하는 렌즈유닛 정렬부의 사시도를 도시한다.
도 5는 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템을 구성하는 렌즈유닛 정렬부의 제2 픽커에서 렌즈유닛 전달부를 구성하는 제1 그립퍼로 전달된 상태를 도시한다.
도 6은 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템의 다른 실시예의 평면도를 도시한다.
도 7은 도 6 도시된 렌즈유닛 핸들링 시스템을 구성하는 반출 트레이 로딩부의 사시도를 도시한다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명된 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록, 그리고 당업자에게 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조 번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.
도 1은 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)의 평면도를 도시한다.
본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)은 렌즈유닛 검사장치(500)에 검사 대상 렌즈유닛을 공급하고 검사 완료된 렌즈유닛을 반출하기 위한 장비이다.
본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)은 구체적으로 검사 대상 렌즈유닛이 수용된 공급 트레이에서 렌즈유닛을 픽업하는 렌즈유닛 픽업공급부(100), 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100)에 픽업된 렌즈유닛이 상방향으로 개방된 상태로 거치되며, 필요에 따라 거치된 렌즈유닛을 상하 반전하는 상하 반전부(200), 상기 상하 반전부(200)에 거치된 렌즈유닛을 픽업하여 정렬하는 렌즈유닛 정렬부(300) 및, 상기 렌즈유닛 정렬부(300)에 정렬된 렌즈유닛을 그립하여 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사 베이스(510)로 공급하고 검사 베이스(510)에서 검사 완료된 렌즈유닛을 반출하는 렌즈유닛 전달부(400);를 포함하여 구성될 수 있다.
일반적으로 카메라 모듈은 렌즈유닛과 감광소자를 포함하는 회로유닛으로 구성될 수 있으며, 하나의 렌즈유닛은 적어도 2개 이상의 렌즈가 설계에 따라 조립된 구조를 가질 수 있다. 따라서, 렌즈유닛의 제조 후 회로유닛과 카메라 모듈로 조립되기 전 렌즈유닛이 설계에 부합되는 성능을 갖는지 검사되어야 한다.
렌즈유닛은 적어도 2매개 이상의 렌즈를 포함하고 있으므로, 설계된 초첨거리, 화각 또는 해상도 등을 갖는지 광학 검사가 수행될 수 있다.
이러한 렌즈유닛은 검사 대상 렌즈유닛이 복수 개가 적재된 공급 트레이에서 순차적으로 픽업되어 렌즈유닛 검사장치(500)에 공급되어 광학 검사가 수행될 수 있다.
따라서, 도 1에 도시된 렌즈유닛 핸들링 시스템은 검사 대상 렌즈유닛이 적재된 공급 트레이(미도시)로부터 렌즈유닛을 픽업하는 렌즈유닛 픽업공급부(100)를 구비할 수 있다.
도 1에 도시된 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100)는 하방 촬상 검사를 위한 제1 하방 비전유닛(110) 및 상기 공급 트레이에 적재된 렌즈유닛을 픽업하기 위한 제1 픽커(130)를 구비한다.
상기 제1 하방 비전유닛(110)은 상기 제1 픽커(130)에 의하여 픽업되기 전에 공급 트레이 상부에서 촬상 검사를 수행하기 위하여 구비될 수 있다.
그리고, 상기 제1 하방 비전유닛(110) 및 상기 제1 픽커(130)는 X축 방향으로 함께 이송되도록 X축 이송유닛(150)에 장착된다. 따라서, 상기 제1 하방 비전유닛(110) 및 상기 제1 픽커(130)는 하나의 마운트 부재(120)에 장착되어 X축 이송유닛(150)을 따라 X축 방향으로 이송된다.
따라서, 상기 X축 이송유닛(150)은 검사 대상 렌즈유닛 상부로 상기 제1 하방 비전유닛(110)이 먼저 위치하도록 상기 마운트 부재(120)를 이송하여 상기 제1 하방 비전유닛(110)에 의한 촬상 검사가 수행된 뒤 검사 대상 렌즈유닛 상부로 제1 픽커(130)가 이송되도록 하여 픽업 과정을 수행할 수 있다.
상기 렌즈유닛 픽업공급부(100) 일측에는 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100)에 픽업된 렌즈유닛이 상방향으로 개방된 상태로 거치되며, 필요에 따라 거치된 렌즈유닛을 상하 반전하는 상하 반전부(200)가 구비될 수 있다.
구체적으로, 렌즈유닛 검사장치(500)에서 수행되는 검사는 광원에서 제공된 빛이 렌즈유닛을 투과한 후 맺히는 이미지를 통한 검사가 수행되므로, 검사 대상 렌즈유닛이 렌즈유닛 검사장치(500)에 공급되기 전에 검사 계획에 따른 일관된 방향성을 갖도록 렌즈유닛의 상하방향이 수정되어야 한다. 일반적으로 렌즈유닛 검사장치, 예를들어 MTF 검사장치는 검사 대상 카메라가 하부에 배치되어 상방을 향하는 타입과, 상부에 배치되어 하방을 향하는 타입의 두 종류가 있다. 어떤 유형의 검사장치가 설치되는가에 따라서 렌즈유닛의 상하방향이 달라지게 되는데 렌즈유닛의 렌즈면을 카메라가 촬영할 수 있도록 렌즈면이 카메라를 향하게 배치하게 된다. 즉, 카메라가 상부에 배치되어 있으면 렌즈면이 상방향을 향하게 하고 카메라가 하부에 배치되어 있으면 렌즈면이 하방향을 향하도록 상하반전부를 회전시켜 렌즈유닛의 방향을 바꿀 수 있다. 또한 렌즈면이 하방향을 향하게 공급되는 경우에도 마찬가지로 검사장치의 카메라 위치에 따라 상하반전부를 이용하여 렌즈유닛의 방향을 반전시킬 수 있다.
상기 상하 반전부(200)의 구체적인 구조와 렌즈유닛의 상하 반전 방법에 대해서는 뒤에서 자세하게 검토한다.
상기 상하 반전부(200)의 일측에는 상기 상하 반전부(200)에 거치된 렌즈유닛을 픽업하여 정렬하는 렌즈유닛 정렬부(300)가 구비될 수 있다.
상기 렌즈유닛 정렬부(300)는 하방 촬상 검사를 위한 제2 하방 비전유닛, 상기 상하 반전부(200)에 거치된 렌즈유닛을 픽업하기 위한 제2 픽커(330) 및 상기 제2 픽커(330)에 의하여 픽업된 렌즈유닛의 상방 촬상 검사를 위한 상방 비전유닛(370)을 구비할 수 있다.
이때 제2 하방 비전유닛(310)은 제2 픽커(330)의 일측에 구비되어 함께 X축 방향으로 이송되도록 구비된다.
상기 렌즈유닛 정렬부(300)는 상하 반전된 렌즈유닛을 검사 조건에 따라 정렬하는 기능을 수행한다. 상기 렌즈유닛 검사장치(500)에서 광학 검사가 수행되기 위해서는 검사 대상 렌즈유닛의 상하 방향 이외에도 검사를 위한 X축 방향 또는 θ 방향 틀어짐 등이 수정되어야 하므로, 상기 렌즈유닛 정렬부(300)는 이와 같은 틀어짐을 수정하여 후술하는 렌즈유닛 검사장치(500)에 틀어짐이 수정된 렌즈유닛을 전달할 수 있다.
모바일 단말기에 장착되는 카메라 모듈 또는 렌즈유닛은 그 크기가 점점 미세화되는 경향이 있으므로, 렌즈유닛이 공급 트레이에 적재되는 과정 등에서 렌즈유닛이 검사 조건과 다른 상하 방향성을 갖도록 적재될 수 있다. 따라서 렌즈유닛의 검사가 진행되기 전에 상기 상하 반전부(200)에 거치 또는 수용된 렌즈유닛의 상하 방향 방향성이 확보되어야 한다.
따라서, 상기 상하 반전부(200)에서 상하 반전의 필요성을 판단하기 위해서는 상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 제2 하방 비전유닛(310)이 상기 상하 반전부(200)에 거치 또는 수용된 렌즈유닛의 상하 방향 판단을 위한 촬상 검사를 먼저 수행할 수 있다.
즉, 상기 상하 반전부(200)에서 선택적 회전에 따른 상하 반전 구동 전에 상기 렌즈유닛 정렬부(300)의 제2 하방 비전유닛(310)에 의한 촬상 검사가 수행되고, 상기 상하 반전부(200)를 이용하여 거치된 렌즈유닛을 상하 반전시킨 뒤 상기 렌즈 정렬부(300)의 제2 픽커(330)에 의한 픽업과정 또는 픽업상태에서 렌즈유닛을 상기 렌즈유닛 검사장치의 검사조건에 맞게 정렬 과정이 수행될 수 있다. 예를 들면, 상기 상하 반전부(200)에 의하여 선택적으로 회전된 후 거치된 렌즈유닛을 상기 제2 하방 비전유닛(310)에 의하여 촬상 검사된 X축 방향 쉬프트량 또는 θ 방향 틀어짐 등에 관한 검사결과에 근거하여 상기 제2 픽커(330)의 픽업 과정 또는 렌즈유닛의 전달과정에서 렌즈유닛의 정렬을 수행할 수 있다. 상기 제2 픽커(330)는 z축 방향 승강 및 θ 방향 회전이 가능하므로, 제2 픽커(330)의 픽업 과정 또는 렌즈유닛의 전달과정에서 렌즈유닛의 정렬을 수행할 수 있다.
상기 상하 반전부(200)를 구성하는 수용부재(231)의 수용부에 수용된 렌즈유닛은 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 제2 하방 비전유닛(310) 및 상방 비전유닛(370)에 의한 하방 촬상 검사 및 상방 촬상 검사가 수행된 후 검사 결과에 따라 제2 픽커(330)에 의하여 픽업되는 과정에서 틀어짐 등이 수정될 수 있다.
상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 비전유닛 및 픽커의 구조는 전술한 렌즈유닛 픽업공급부(100)와 대응되는 구조를 갖는다. 따라서, 상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 제2 하방 비전유닛 및 상기 제2 픽커(330)는 X축 방향으로 함께 이송되도록 X축 이송유닛(350)에 장착된다. 따라서, 상기 제2 하방 비전유닛(310) 및 상기 제2 픽커(330)는 하나의 마운트 부재(320)에 장착되어 X축 이송유닛에 장착되어 X축 방향으로 이송되도록 구성될 수 있다.
상기 렌즈유닛 정렬부(300)에서 검사를 위한 정렬이 완료된 렌즈유닛은 렌즈유닛 검사장치(500)에 의하여 렌즈유닛의 검사가 수행되는 렌즈유닛 전달부(400)로 공급된다.
도 1에 도시된 바와 같이, 상기 렌즈유닛 전달부(400)는 상기 렌즈유닛 정렬부(300)의 제2 픽커(330)에 픽업된 렌즈유닛을 상기 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사 베이스(510)로 이송하기 위하여 X축 이송이 가능한 제1 그립퍼(411) 및 상기 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사 베이스(510)에서 검사 완료된 렌즈유닛을 반출하기 위한 X축 이송이 가능한 제2 그립퍼(431)를 포함할 수 있다.
상기 렌즈유닛 전달부(400)는 렌즈유닛 검사장치(500)로 검사 대상 렌즈유닛을 공급하고, 검사 완료된 렌즈유닛을 렌즈유닛 검사장치(500)로부터 반출하는 역할을 수행할 수 있다.
상기 렌즈유닛 검사장치(500)로 검사 대상 렌즈유닛을 공급하고, 검사 완료된 렌즈유닛을 렌즈유닛 검사장치(500)로부터 반출하는 역할은 X축 이송유닛(450)에 독립적으로 이송 가능한 마운트 부재(410, 430)에 구비된 그립퍼(411, 431)에 의하여 수행될 수 있다.
상기 제1 그립퍼(411)는 상기 렌즈유닛 정렬부(300)의 제2 픽커(330)에 의하여 픽업된 렌즈유닛을 전달받아 상기 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사 베이스(510)로 이송하는 역할을 수행하고, 상기 제2 그립퍼(431)는 상기 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사 베이스(510)에서 광학 검사가 완료된 렌즈유닛을 반출하는 역할을 수행한다. 도 2 이하를 참조하여 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)의 각각의 구성에 대하여 자세하게 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)의 렌즈유닛 픽업공급부(100), 상기 상하 반전부(200) 및 상기 렌즈유닛 정렬부(300)의 사시도를 도시하며, 도 3은 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)을 구성하는 상하 반전부(200)의 측면도를 도시하며, 도 4는 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)을 구성하는 렌즈유닛 정렬부(300)의 사시도를 도시한다.
상기 렌즈유닛 픽업공급부(100)는 검사 대상 렌즈유닛이 적재된 공급 트레이(미도시)로부터 검사 대상 렌즈유닛(lu)을 순차적으로 픽업하여 상기 상하 반전부(200)로 이송하는 역할을 수행한다.
전술한 바와 같이, 상기 제1 하방 비전유닛(110) 및 상기 제1 픽커(130)는 X축 방향으로 함께 이송되도록 하나의 마운트 부재(120)를 매개로 X축 이송유닛(150)에 의하여 X축 방향으로 이송이 가능하도록 구비되며, 마운트 부재(120)로부터 Y축 방향으로 이송이 가능하도록 구비된다. 또한, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100)를 구성하는 상기 제1 픽커(130)는 z축 방향 승강이 가능하며, θ 방향 회전이 가능하게 구비될 수 있다.
상기 제1 픽커(130)와 함께 상기 마운트 부재(120)에 장착된 상기 제1 하방 비전유닛(110)은 상기 공급 트레이의 적재홈 상의 렌즈유닛의 유무 및 제1 픽커(13)로 픽업할 렌즈유닛의 위치를 검사하기 위하여 구비될 수 있다.
따라서, 상기 제1 하방 비전유닛(110) 및 상기 제1 픽커(130)가 설치된 마운트 부재가 X축 이송유닛에 의하여 공급 트레이 상부로 이송된 상태에서 검사 대상 렌즈유닛(lu)은 상기 제1 하방 비전유닛(110)으로 촬상된 후 상기 제1 픽커(130)에 의하여 픽업되도록 구성될 수 있다.
상기 제1 하방 비전유닛(110)은 공급 트레이의 적재홈 등에 검사 대상 렌즈유닛(lu)이 존재하는지 여부 또는 검사 대상 렌즈유닛(lu)의 종류 또는 타입 등을 감지하기 위하여 촬상 검사를 수행한 후 상기 제1 픽커(130)가 해당 검사 대상 렌즈유닛(lu)을 픽업한 후 상기 제1 하방 비전유닛(110) 및 상기 제1 픽커(130)가 설치된 마운트 부재가 X축 이송유닛에 의하여 상기 상하 반전부(200) 상부로 이송되어 상기 제1 픽커(130)에 픽업된 렌즈유닛을 상기 상하 반전부(200)에 거치하게 된다.
본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)은 검사 대상 렌즈유닛의 상하 반전 또는 전달을 위한 상하 반전부(200)를 구비한다.
상기 렌즈유닛 검사장치(500)는 광원에서 제공된 빛이 렌즈유닛을 투과하면서 형성되는 이미지의 분석을 통해 검사 대상 렌즈유닛(lu)이 설계된 초첨거리, 화각 또는 해상도 등을 갖는지 검사할 수 있다.
따라서, 검사 대상 렌즈유닛(lu)은 렌즈유닛 검사장치(500)의 조명유닛의 방향 등에 따라 상하 방향이 변경될 필요가 있는 경우가 있다.
상기 렌즈유닛 픽업공급부(100)의 제1 비전유닛은 공급 트레이의 적재홈에 적재된 렌즈유닛의 상하 방향이 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사방향과 반대인 경우 또는 렌즈유닛의 광학 검사를 양방향으로 모두 수행하여야 하는 경우, 상기 상하 반전부(200)를 통해 렌즈유닛을 상하 반전시킨다.
도 2 및 도 3에 기재된 바와 같이, 상기 상하 반전부(200)는 렌즈유닛의 둘레를 감싸도록 렌즈유닛이 수용되는 수용부재(231), 상기 수용부재(231)의 수용부의 상부와 하부를 선택적으로 차폐하며 상기 수용부재(231)의 수용부에 수용된 렌즈유닛의 상면 또는 하면을 지지하기 위한 제1 지지암(233) 및 제2 지지암(235)을 포함하여 구성될 수 있다.
도 3에 도시된 상기 상하 반전부(200)는 수용부재(231)에 수용된 렌즈유닛을 상하 반전하기 위하여 회전 가능하도록 구비된다. 상기 상하 반전부(200)를 구성하는 수용부재(231)의 수용부에 렌즈유닛이 수용된 상태에서 상기 회전모터(240)의 회전축은 커플링(270)에 연결되어 캠구동장치(250)를 구동하게 된다.
상기 캠구동장치(250)에는 상기 제1 지지암(233) 및 제2 지지암(235)이 장착되어 캠구동장치(250)의 구동에 의하여 번갈아 왕복 추진될 수 있다.
상기 상하 반전부(200)의 수용부재(231)는 상하 방향으로 개방된 수용부가 구비되고, 상기 제1 지지암(233)과 제2 지지암(235)은 상기 캠구동장치(250)에 의하여 번갈아 전진 또는 후진하도록 구동되어 각각의 지지암이 교대로 상기 수용부재(231)에 밀착 슬라이딩하도록 구성된다. 즉, 수용부재의 상측은 항상 개방시키고, 수용부재의 하측은 렌즈유닛이 떨어지지 않도록 차폐한다. 그리고 상하방향을 반전하기 위한 회전시에는 제1 지지암은 전진하여 수용부재의 하측을 말폐하고, 제2지지암은 후진하여 수용부재의 상측을 개방하도록 동시에 슬라이딩이 된다. 이를 통해 상하 반전시 수용부재의 상측에서 개방하던 제1 지지암은 수용부재의 하측을 차폐하고, 수용부재의 하측을 차폐하던 제2지지암은 수용부재의 상측을 개방하게 된다.
따라서, 상기 수용부재(231)가 상기 회전모터(240)에 의하여 회전되면 상기 회전부재의 상면과 하면에 밀착되도록 장착된 제1 지지암(233) 및 제2 지지암(235)은 상기 수용부재(231)의 수용부에 수용된 렌즈유닛(lu)이 수용부의 하방으로 떨어지지 않도록 하방을 차폐하도록 전진 구동된다.
예를 들어, 상기 수용부재(231)가 일방향으로 회전되는 경우, 상기 상기 수용부재(231)의 수용부의 상부와 하부가 상하 방향으로 배치된 상태에서 상기 수용부의 상부는 상기 제1 지지암(233) 또는 제2 지지암(235)이 후퇴하여 개방시키고, 상기 수용부의 하부는 상기 제2 지지암(235) 또는 제1 지지암(233)이 전진하여 차단하도록 구동된다.
그리고, 상기 수용부재(231)의 수용부가 수평 방향으로 개방된 상태로 배치된 상태에서 제1 지지암(233) 및 제2 지지암(235)의 전진 구동과 후진 구동은 교대되도록 구동된다.
상기 수용부재(231)의 수용부의 상부와 하부가 상하 방향으로 배치된 상태에서 수용부에 수용된 렌즈유닛은 제1 지지암(233) 또는 제2 지지암(235)에 의하여 하방으로 낙하되지 않도록 지지될 것이므로 상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 제2 픽커(330)에 의하여 픽업될 수 있다.
즉, 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100)의 제1 픽커(130)에 의하여 픽업된 렌즈유닛은 상기 상하 반전부(200)의 수용부재(231)에 수용된 후 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사 방향에 부합하는지 여부에 따라 선택적으로 회전되어 상하 반전된 후 상기 렌즈유닛 정렬부(300)의 제2 하방 비전유닛에 의하여 촬상 검사된 후 상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 제2 픽커(330)에 의하여 픽업된 후 상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 상방 비전유닛(370)에 의하여 상방 촬상 검사가 수행될 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 상기 렌즈유닛 정렬부(300)는 상기 상하 반전부(200)의 수용된 렌즈유닛의 하방 촬상 검사를 위한 제2 하방 비전유닛, 상기 상하 반전부(200)의 수용부에 수용된 렌즈유닛을 픽업하기 위한 제2 픽커(330) 및 상기 제2 픽커(330)에 의하여 픽업된 렌즈유닛의 상방 촬상 검사를 위한 상방 비전유닛(370)을 구비하며, 상기 제2 하방 비전유닛 및 상기 제2 픽커(330)는 X축 방향으로 함께 이송되도록 X축 이송유닛에 장착되어 X축 방향으로 이송 가능하고, 상기 제2 픽커(330)는 X축 이송유닛으로부터 Y축 방향으로 이송 가능하게 구비되며, Z축 방향 승강 및 θ 방향 회전이 가능하다. 상방 비전유닛(370)은 제2 픽커(330)의 이송 경로상의 하부에 고정되어 배치되며, 제2 픽커(330)에 픽업된 렌즈유닛의 상태와 위치를 검사한다.
상기 제2 하방 비전유닛은 상기 상하 반전부(200)에 거치된 렌즈유닛의 상하면, 렌즈유닛의 종류 , 또는 얼라인먼트를 판단을 위한 이미지 촬상을 수행할 수 있다.
즉, 상기 상하 반전부(200)에서 수용부재(231)의 수용부에 수용된 렌즈유닛이 상기 렌즈유닛 검사장치(500)에 의한 검사를 위하여 상하 반전 회전이 필요한지 여부는 상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 제2 하방 비전유닛(310)에 의한 촬상 검사로 판단할 수 있다.
따라서, 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100)의 제1 픽커(130)가 검사 대상 렌즈유닛(lu)이 수용된 공급 트레이로부터 렌즈유닛을 픽업한 후 상기 상하 반전부(200)의 수용부재(231)의 수용부에 렌즈유닛을 거치하면 상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 제2 하방 비전유닛(310)이 X축 이송유닛에 의하여 상기 수용부재(231) 상부로 이송된 후 촬상 검사하여 상하 반전이 필요한 경우에는 상기 상하 반전부(200)의 수용부재(231)가 렌즈유닛을 상하 반전시킨 후 상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 제2 픽커(330)에 의하여 픽업한다.
그리고, 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)을 구성하는 상기 상하 반전부(200)는 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 제2 픽커(330)의 정렬검사를 위한 정렬검사유닛(210)을 구비할 수 있다.
상기 정렬검사유닛(210)은 정렬지그(211) 및 정렬테이블(213)을 포함하여 구성될 수 있다.
상기 정렬검사유닛(210)의 정렬테이블(213)은 고정된 위치이며, 제2 픽커(330)에 의하여 픽업된 정렬지그(211)의 정렬테이블(213)에 거치된 상태에서 정렬테이블(213) 상의 피두셜마크(스팟 형태)와 정렬지그(211)의 위치 오차에 의거하여 제2 픽커(330)의 세팅 오차를 파악하고 이를 수정할 수 있다.
이와 같은 방법으로, 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 제2 픽커(330)의 초기 수평방향 오차 또는 θ 방향 틀어짐 오차 등을 검증하고 이를 수정한 후 제2 픽커(330)에 의한 렌즈유닛의 픽업 또는 적재 과정에서 렌즈유닛의 정렬 과정의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 상기 제2 픽커(330)의 정렬검사유닛을 통한 픽커의 정렬은 렌즈유닛 검사과정의 시작 시점 또는 미리 결정된 시간 또는 렌즈유닛 픽업횟수 간격으로 수행될 수 있다.
도 5는 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)을 구성하는 렌즈유닛 정렬부(300)의 제2 픽커(330)에서 렌즈유닛 전달부(400)를 구성하는 제1 그립퍼(411)로 전달된 상태를 도시한다.
상기 제2 픽커(330)에 의하여 픽업된 렌즈유닛은 상기 렌즈유닛 정렬부(300)를 구성하는 상방 비전유닛(370)에 의하여 촬상 검사된 뒤 상기 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사 베이스(510)로 이송된다. 상방 비전유닛(370)은 제2 픽커에 대한 렌즈유닛의 상태와 위치를 검사한다. 경우에 따라 렌즈유닛의 픽업축으로부터 θ 방향 보정을 수행할 수 있고, 렌즈유닛의 검사장치의 검사조건을 만족하도록 검사베이스(510)의 정위치에 놓여질 수 있도록 정렬한다.
구체적으로 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 렌즈유닛 정렬부(300)의 제2 픽커(330)에 의하여 픽업된 렌즈유닛은 상기 렌즈유닛 전달부(400)를 구성하는 제1 그립퍼(411)에 전달되어 상기 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사 베이스(510)로 이송된다.
도 5(a)에 도시된 바와 같이, 상기 제1 그립퍼(411)는 X축 이송유닛에 독립적으로 이송 가능한 마운트 부재에 구비된다. 상기 제1 그립퍼(411)는 제2 그립퍼(431)와 동일한 구조로 구성될 수 있으며, 상기 제2 픽커(330)에 의하여 픽업된 렌즈유닛(lu)의 하우징 측면(ss)을 그립할 수 있도록 한 쌍의 그립은 간격이 벌어지는 구조를 가질 수 있다.
그리고, 도 5(b)에 도시된 바와 같이, 상기 제1 그립퍼(411)(제2 그립퍼(431))가 상기 렌즈유닛의 측면을 그립하는 경우 상기 렌즈유닛(lu)의 측면(ss) 하부를 그립하는 것이 바람직하다.
도 5(b)에 도시된 예에서, 상기 제1 그립퍼(411)는 상기 렌즈유닛(lu)의 측면(ss) 하부의 하단으로부터 렌즈유닛의 전체 높이에 비해 비율이 작은 h 높이에서 그립되도록 할 수 있다.
그립 높이 h가 커지면 상기 제1 그립퍼(411)에 의하여 상기 렌즈유닛 검사장치(500)의 검사 베이스(510)로 렌즈유닛을 전달하는 과정에서 렌즈유닛의 정렬상태가 흐트러질 수 있으므로 렌즈유닛의 전달과정에서 그립퍼와 검사 베이스(510)의 상면과의 높이를 최소화하기 위하여 그립 높이 h는 그립퍼의 안정적 그립이 가능한 범위에서 최소화되는 것이 바람직하다.
앞서 제1그립퍼 및 제2 그립퍼를 이용하여 렌즈유닛을 전달하는 과정을 설명하였지만, 그립퍼 대신에 픽커를 사용해도 무방하다.
즉, 렌즈유닛 검사장치에서 카메라가 상측에 위치한 하방 카메라인 경우에는 픽커와의 간섭 때문에 카메라와 렌즈유닛이 놓여있는 검사베이스 사이를 오갈 수 있도록 그립퍼를 사용하는 것이 바람직하지만, 렌즈유닛 검사장치에서 카메라가 하측에 위치한 상방 카메라인 경우에는 검사베이스 상부에 간섭이 생기지 않으므로 픽커나 그립퍼 모두 사용가능하다.
도 6은 본 발명에 따른 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)의 다른 실시예의 평면도를 도시한다.
도 6에 도시된 실시예는 도 1에 도시된 렌즈유닛 핸들링 시스템에서 검사 대상 렌즈유닛(lu)이 공급되는 공급수단과 검사된 렌즈유닛이 반출되는 반출수단을 구비함을 도시한다.
도 6에 도시된 실시예는 검사 대상 렌즈유닛(lu)이 공급되는 공급수단으로서, 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100)의 제1 픽커(130)에 의한 검사 대상 렌즈유닛(lu)의 픽업을 위하여 검사 대상 렌즈유닛(lu)이 수용된 공급 트레이를 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100) 일측으로 이송하기 위하여 구비되는 공급 트레이 로딩부(600)와 검사된 렌즈유닛이 반출되는 반출수단으로서 상기 렌즈유닛 전달부(400)에서 검사된 렌즈유닛을 적재하여 반출하기 위한 반출 트레이를 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100) 일측으로 이송하기 위하여 구비되는 반출 트레이 로딩부(700)를 더 포함할 수 있다.
상기 공급 트레이 로딩부(600)는 Y축 이송유닛(660)에 의하여 트레이 거치대(620)에 거치된 상기 공급 트레이(미도시)를 Y축 방향으로 이송하며, 상기 제1 하방 비전유닛(110)및 상기 제1 픽커(130)가 설치된 X축 이송유닛이 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100) 일측으로 이송된 공급 트레이 상부로 이송된 상태에서 검사 대상 렌즈유닛(lu)은 상기 제1 하방 비전유닛(110)으로 촬상된 후 상기 제1 픽커(130)에 의하여 픽업될 수 있다.
또한, 상기 반출 트레이 로딩부(700)는 Y축 이송유닛(760)에 의하여 상기 반출 트레이(미도시)를 Y축 방향으로 이송하여, 상기 제3 픽커(730)의 동선 하부로 이송하여, 상기 제2 그립퍼(431)로부터 검사 완료된 렌즈유닛(lu)을 픽업한 제3 픽커(730)가 렌즈유닛을 Y축 이송유닛(760)에 의하여 이송된 반출 트레이(t)에 렌즈유닛을 적재하도록 할 수 있다.
도 7은 도 6에 도시된 렌즈유닛 핸들링 시스템(1)을 구성하는 반출 트레이 로딩부(700)의 사시도를 도시한다.
상기 반출 트레이 로딩부(700)는 상기 반출 트레이를 Y축 방향으로 이송하며, 상기 렌즈유닛 전달부(400)의 제2 그립퍼(431)에 의하여 그립된 렌즈유닛을 거치하기 위한 시트블록(720), 상기 시트블록(720)에 거치된 렌즈유닛(lu)의 하방 촬상 검사를 위한 제3 하방 비전유닛(710) 및 상기 시트블록(720)에 적재된 렌즈유닛을 픽업하여 상기 반출 트레이로 이송하기 위한 제3 픽커(730)를 더 포함하며, 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100) 및 상기 렌즈유닛 정렬부(300)와 마찬가지로 상기 제3 하방 비전유닛(710) 및 상기 제3 픽커(730)는 X축 방향으로 함께 이송되도록 X축 이송유닛(750)에 장착되고, 상기 제3 픽커(730)는 X축 이송유닛으로부터 Y축 방향으로 이송가능하게 구비되며, Z축 방향 승강 및 θ 방향 회전이 가능하게 구성될 수 있다.
상기 반출 트레이 로딩부(700)의 시트블록(720)에 거치된 렌즈유닛은 상기 제3 하방 비전유닛(710)으로 촬상된 후 검사 결과에 따라 상기 제3 픽커(730)에 의하여 픽업되어 상기 반출 트레이에 적재되어 반출되도록 구성될 수 있다.
그리고 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 공급 트레이 로딩부(600), 상기 렌즈유닛 픽업공급부(100), 상기 상하 반전부(200), 상기 렌즈유닛 전달부(400) 및 상기 반출 트레이 로딩부(700)는 공정 순서대로 X축 방향으로 순차적으로 배치되어 각각의 공정에서 렌즈유닛의 이송 경로를 최소화할 수 있으며, 각각의 트레이는 상기 공급 트레이 로딩부(600) 및 상기 반출 트레이 로딩부(700)에서 Y축 방향으로 왕복 이송되도록 구성되어 렌즈유닛 핸들링 시스템의 X축 방향 크기를 최소화할 수 있다.
본 명세서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 당업자는 이하에서 서술하는 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경 실시할 수 있을 것이다. 그러므로 변형된 실시가 기본적으로 본 발명의 특허청구범위의 구성요소를 포함한다면 모두 본 발명의 기술적 범주에 포함된다고 보아야 한다.
1 : 렌즈유닛 핸들링 시스템
100 : 렌즈유닛 픽업공급부
200 : 상하 반전부
300 : 렌즈유닛 정렬부
400 : 렌즈유닛 전달부
500 : 렌즈유닛 검사장치
600 : 공급 트레이 로딩부
700 : 반출 트레이 로딩부

Claims (7)

  1. 렌즈유닛 검사장치에 검사대상 렌즈유닛을 공급하고 검사 완료된 렌즈유닛을 반출하는 렌즈유닛 핸들링 시스템에 있어서,
    검사 대상 렌즈유닛이 수용된 공급 트레이에서 렌즈유닛을 픽업하기 위한 제1 픽커와 상기 제1 픽커의 일측에 구비되어 상기 공급 트레이에 적재된 렌즈유닛을 하방 촬상 검사하는 제1하방 비전유닛이 나란히 X축 방향으로 이송 가능하게 구비되는 렌즈유닛 공급부;
    상기 제1 픽커에 픽업된 렌즈유닛이 상방향으로 개방된 상태로 거치되며, 선택적으로 렌즈유닛을 상하 반전시키는 상하 반전부;
    상기 상하 반전부에 거치된 렌즈유닛을 픽업하기 위한 제2 픽커와, 제2 픽커의 일측에 구비되어 상기 상하 반전부에 거치된 렌즈유닛을 하방 촬상 검사하는 제2하방비전유닛이 나란히 X축 방향으로 이송 가능하게 구비되며, 상기 제2 픽커의 이송 경로상의 하부에 고정되어 배치되는 상방비전유닛을 포함하는 렌즈유닛 정렬부; 및
    상기 렌즈유닛 정렬부에 의해 정렬된 렌즈 유닛을 렌즈유닛의 광학적 특성을 검사하기 위한 렌즈유닛 검사장치의 검사베이스에 전달하고 검사가 완료된 상기 렌즈유닛을 반출하기 위한 렌즈유닛 전달부를 포함하고,
    상기 렌즈유닛 정렬부에서, 상기 제2 하방 비전유닛은 상기 렌즈유닛의 종류와 렌즈유닛의 얼라인을 촬상하고, 상기 상방 비전유닛은 상기 제2 픽커에 픽업된 상기 렌즈유닛을 검사하여, 렌즈유닛의 위치와 축틀어짐을 촬상하며, 상기 렌즈유닛 검사장치의 검사 조건을 만족하도록 상기 촬상 검사 결과에 따라 상기 제2 픽커의 Y축 및 θ 방향으로 보정하여 상기 렌즈유닛을 정렬하는 것을 특징으로 하는 렌즈유닛 핸들링 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 공급 트레이를 상기 렌즈유닛 공급부 일측으로 이송하기 위하여 구비되는 공급 트레이 로딩부 및;
    상기 렌즈유닛 전달부로부터 검사가 완료된 상기 렌즈유닛을 거치하기 위한 시트블럭;
    상기 시트블럭 상에 거치된 렌즈유닛을 픽업하여 반출 트레이에 적재하기 위한 제3픽커와 상기 제3픽커의 일측에 구비되어 상기 반출 트레이 및 상기 시트블럭에 거치된 렌즈유닛을 검사하기 위한 제3 하방비전유닛을 구비하는 반출 트레이 로딩부를 더 포함하며,
    상기 공급 트레이 로딩부, 렌즈유닛 공급부, 상하 반전부, 렌즈유닛 정렬부, 렌즈유닛 전달부, 반출 트레이 로딩부가 X축 방향으로 순차적으로 배치되는 것을 특징으로 하는 렌즈유닛 핸들링 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 픽커, 제2 픽커, 제3픽커는 각각 X축, Y축으로 이동 가능하게 구비되며, Z축으로 승강 가능하며 θ 방향으로 회전 가능하게 구비되는 것을 특징으로 하는 렌즈유닛 핸들링 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 상하 반전부는 상기 렌즈유닛 검사장치의 카메라가 상기 렌즈유닛의 렌즈면을 검사할 수 있도록 렌즈유닛의 상하면을 선택적으로 반전시킬 수 있으며,
    상기 렌즈유닛 검사장치의 카메라가 상부에 위치할 때는 상기 상하 반전부에 거치된 렌즈유닛을 상기 제2 픽커가 픽업하고,
    상기 렌즈유닛 검사장치의 카메라가 하부에 위치할 때는 상기 상하 반전부에 거치된 렌즈유닛의 상하면이 반전되도록 회전된 상태에서, 상하 반전된 렌즈유닛을 상기 제2 픽커가 픽업하는 것을 특징으로 하는 렌즈유닛 핸들링 시스템.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 상하 반전부는 상기 렌즈유닛 공급부의 제1 픽커에 의해 픽업된 렌즈유닛을 수용하기 위한 상하 방향으로 개방된 수용부를 구비하는 수용부재, 상기 수용부재에 밀착된 상태로 상기 수용부재의 수용부를 차폐 또는 개방하도록 전진 또는 후퇴하도록 구동되며, 상기 수용부재의 수용부에 수용된 렌즈유닛을 상하 반전하기 위하여 상기 수용부재가 회전시 상기 수용부에 수용된 렌즈유닛을 하방 지지하기 위한 제1 지지암 및 제2 지지암을 포함하는 렌즈유닛 핸들링 시스템.
  6. 삭제
  7. 제1항에 있어서,
    상기 렌즈유닛 전달부는 상기 렌즈유닛 정렬부의 제2 픽커에 픽업된 렌즈유닛을 상기 렌즈유닛 검사장치의 검사 베이스로 이송하기 위하여 X축 이송이 가능한 제1 그립퍼 및 상기 렌즈유닛 검사장치의 검사 베이스에서 검사 완료된 렌즈유닛을 반출하기 위한 X축 이송이 가능한 제2 그립퍼를 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈유닛 핸들링 시스템.
KR1020160049087A 2016-04-22 2016-04-22 렌즈유닛 핸들링 시스템 KR102121092B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160049087A KR102121092B1 (ko) 2016-04-22 2016-04-22 렌즈유닛 핸들링 시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160049087A KR102121092B1 (ko) 2016-04-22 2016-04-22 렌즈유닛 핸들링 시스템

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170120780A KR20170120780A (ko) 2017-11-01
KR102121092B1 true KR102121092B1 (ko) 2020-06-17

Family

ID=60382901

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160049087A KR102121092B1 (ko) 2016-04-22 2016-04-22 렌즈유닛 핸들링 시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102121092B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102643579B1 (ko) * 2021-11-10 2024-03-05 엠피닉스 주식회사 마이크로 렌즈 외관 검사 탑재형 자동 이재장치

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101364502B1 (ko) * 2012-07-16 2014-02-20 (주)아이콘 카메라 렌즈용 스페이서 두께 측정 장치

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4534025B2 (ja) * 2004-11-30 2010-09-01 ルネサスエレクトロニクス株式会社 外観検査装置および外観検査装置用搬送部
KR20150107447A (ko) * 2014-03-14 2015-09-23 주식회사 사이언스타운 렌즈 검사장치 및 이를 이용한 렌즈 검사방법

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101364502B1 (ko) * 2012-07-16 2014-02-20 (주)아이콘 카메라 렌즈용 스페이서 두께 측정 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170120780A (ko) 2017-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI620255B (zh) 倒裝晶片的鍵合裝置及其鍵合方法
KR102276620B1 (ko) 전자 디바이스를 플립핑 및 다중 검사하기 위한 이송 시스템
KR101865188B1 (ko) 평탄도 측정장치와 이를 이용한 쉴드캔 평탄도 검사장치 및 쉴드캔 평탄도 검사방법
US10591534B2 (en) Electronic component transport apparatus and electronic component inspection apparatus
CN108029243B (zh) 安装装置、拍摄处理方法及拍摄单元
KR20180065177A (ko) 렌즈유닛 검사 시스템
CN106596555B (zh) 运用多轴机臂的光学检查设备
TW201430356A (zh) 電子元件作業單元、作業方法及其應用之作業設備
TW201344182A (zh) 半導體封裝檢查設備及使用該設備的半導體封裝檢查方法
KR20060122964A (ko) 전자 소자 검사, 회전장치 및 방법
KR20180010492A (ko) 비전검사모듈 및 그를 가지는 소자핸들러
CN111819435A (zh) 视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法
JP2012171628A (ja) テーピング装置及びテーピング方法
JP5212520B2 (ja) 電子部品ハンドラ及びハンドラ
KR102121092B1 (ko) 렌즈유닛 핸들링 시스템
KR102646891B1 (ko) 렌즈유닛 검사장치
JP6475165B2 (ja) 実装装置
CN113455117B (zh) 元件装配机
KR20100005997A (ko) 렌즈 조립장치 및 조립방법
KR102465275B1 (ko) 디스펜싱 마운트 시스템
KR102234312B1 (ko) 진단 키트 제조용 부품 선별 장치
KR20220097139A (ko) 반도체 패키지 검사 유닛 및 이를 포함하는 반도체 패키지 절단 및 분류 장치
JPH11132758A (ja) 電子部品の外観検査装置
WO2017034184A1 (ko) 비전검사모듈 및 그를 가지는 소자검사시스템
TWI545329B (zh) An electronic component operating device, a working method, and a working device for its application

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant