KR102107218B1 - 아날로그-디지털 컨버터의 정확한 채널을 판독하는 자가 진단 마이크로컨트롤러 - Google Patents

아날로그-디지털 컨버터의 정확한 채널을 판독하는 자가 진단 마이크로컨트롤러 Download PDF

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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 아날로그-디지털 컨버터의 정확한 채널을 판독하는 자가 진단 마이크로컨트롤러가 제공된다. 상기 DC-DC 전압 컨버터는 하이 사이드 집적 회로와 로우 사이드 집적 회로를 갖는 DC-DC 전압 컨버터 제어 회로를 갖는다. 상기 하이 사이드 집적 회로는 내부에 제1 복수의 FET 스위치를 갖는다. 상기 로우 사이드 집적 회로는 내부에 제2 복수의 FET 스위치를 갖는다. 상기 제어 시스템은 디지털 입출력 장치, 제1 어플리케이션, 제2 어플리케이션 및 하드웨어 추상화 계층을 가지는 마이크로컨트롤러를 포함한다. 상기 제1 어플리케이션은 상기 제1 복수의 FET 스위치와 상기 제2 복수의 FET 스위치를 개방 동작 상태로 전환시키기 위해 제1 명령 값을 상기 하드웨어 추상화 계층으로 송신한다.

Description

아날로그-디지털 컨버터의 정확한 채널을 판독하는 자가 진단 마이크로컨트롤러{SELF-DIAGNOSING MICROCONTROLLER FOR READING CORRECT CHANNELS OF AN ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER}
본 발명은 아날로그-디지털 컨버터의 정확한 채널을 판독하는 자가 진단 마이크로컨트롤러에 관한 것이다.
본 출원은 2017년 7월 31일자로 출원된 미국가출원번호 제62/539,271호 및 2018년 7월 6일자로 출원된 미국정규출원번호 제 16/028,500호를 우선권 주장하며, 그에 대한 모든 내용은 인용에 의해 본 출원에 원용된다.
아날로그-디지털 컨버터는 마이크로컨트롤러 및 마이크로프로세서와 같은 연산처리 장치가 아날로그 값의 전압 값을 입력받아 논리 연산을 처리할 수 있도록 아날로그 값으로 입력되는 전압 값을 디지털 값의 전압 값으로 변환하여 출력한다.
이러한 아날로그-디지털 컨버터는 다수의 아날로그 값의 전압 값을 입력받아 다수의 디지털 값의 전압 값으로 변환하여 출력하기 위해 복수의 채널을 구비한다. 구체적으로, 아날로그-디지털 컨버터는 다수의 아날로그 값의 전압 값을 입력받는 복수의 입력 채널과 변환된 다수의 디지털 값의 전압 값을 출력하는 복수의 출력 채널을 구비한다.
이때, 복수의 입력 채널과 복수의 출력 채널은 각각 상호 연동되어 특정 입력 채널로 입력되어 변환된 값은 특정 출력 채널로 출력된다. 하지만, 아날로그-디지털 컨버터 내의 회로가 오작동 하거나 사용자에 의해 입력 채널과 출력 채널을 오연결되는 경우, 마이크로컨트롤러 및 마이크로프로세서와 같은 연산처리 장치로 입력 받고자 하는 출력 채널의 출력 값과 다른 출력 값이 입력되는 문제점이 있다.
본 발명의 발명자는 아날로그-디지털 컨버터에서 정확한 채널이 판독되는지 여부를 확인할 수 있고, 아날로그-디지털 컨버터의 모든 채널과 관련된 사전 검사 지표를 고장 값으로 설정하는 자가 진단 마이크로컨트롤러의 필요성을 인식하였다.
본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있으며, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 알게 될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허청구범위에 나타난 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다양한 실시예는 다음과 같다.
본 발명의 일 실시예에 따른 아날로그-디지털 컨버터의 정확한 채널을 판독하는 자가 진단 마이크로컨트롤러가 제공된다.
상기 자가 진단 마이크로컨트롤러는 제1 어플리케이션을 포함하는 소프트웨어 어플리케이션 및 하드웨어 추상화 계층을 저장하도록 구성된 메모리 장치; 및 상기 메모리 장치에 동작 가능하게 결합되고, 상기 메모리 장치에 저장된 상기 소프트웨어 어플리케이션 및 상기 하드웨어 추상화 계층을 실행하도록 구성된 마이크로 프로세서를 포함한다.
상기 마이크로프로세서는 제1 아날로그-디지털 컨버터에 동작 가능하도록 결합된다.
상기 제1 어플리케이션은 상기 제1 아날로그-디지털 컨버터와 관련된 제1 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 상기 하드웨어 추상화 계층에 순차적으로 송신한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제1 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제1 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 상기 제1 복수의 채널 번호를 이용하여 상기 제1 아날로그-디지털 컨버터의 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제1 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제2 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제1 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않는 상기 제2 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호에 대해 제1 사전 검사 지표를 제1 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 상기 제1 사전 검사 지표를 상기 제1 어플리케이션으로 송신한다.
상기 제1 어플리케이션은 상기 제1 고장 값을 가지는 상기 하드웨어 추상화 계층으로부터 수신된 제1 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령한다.
상기 소프트웨어 어플리케이션은 제2 어플리케이션을 더 포함한다.
상기 제2 어플리케이션은 상기 제1 아날로그-디지털 컨버터와 관련된 제3 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 상기 하드웨어 추상화 계층에 순차적으로 송신한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 제3 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제2 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 상기 제2 복수의 채널 번호를 이용하여 상기 제1 아날로그-디지털 컨버터의 상기 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제2 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제4 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제4 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호가 상기 제3 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않으면, 제2 사전 검사 지표를 제2 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 상기 제2 사전 검사 지표를 상기 제2 어플리케이션으로 송신한다
상기 제2 어플리케이션은 상기 제2 고장 값을 가지는 상기 하드웨어 추상화 계층으로부터 수신된 제2 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령한다.
상기 제1 고장 값은 상기 제2 고장 값으로부터 최소 4 해밍 거리를 가진다.
상기 소프트웨어 어플리케이션은 제3 어플리케이션을 더 포함한다.
상기 마이크로프로세서는 제2 아날로그-디지털 컨버터에 동작 가능하도록 결합된다.
상기 제3 어플리케이션은 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터와 관련된 제5 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 상기 하드웨어 추상화 계층에 순차적으로 송신한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제5 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제3 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 상기 제3 복수의 채널 번호를 이용하여 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터의 상기 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제3 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제6 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제6 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호가 상기 제5 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않으면, 제3 사전 검사 지표를 제3 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 상기 제3 사전 검사 지표를 상기 제3 어플리케이션으로 송신한다.
상기 제3 어플리케이션은 상기 제3 고장 값을 가지는 상기 하드웨어 추상화 계층으로부터 수신된 제3 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령한다.
상기 소프트웨어 어플리케이션은 제4 어플리케이션을 더 포함한다.
상기 제4 어플리케이션은 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터와 관련된 제7 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 상기 하드웨어 추상화 계층에 순차적으로 송신한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제7 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제4 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 상기 제4 복수의 채널 번호를 이용하여 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터의 상기 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제4 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제8 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정한다.
상기 하드웨어 추상화 계층은 상기 제8 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호가 상기 제7 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않으면, 제4 사전 검사 지표를 제4 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 상기 제4 사전 검사 지표를 상기 제4 어플리케이션으로 송신한다.
상기 제4 어플리케이션은 상기 제4 고장 값을 가지는 상기 하드웨어 추상화 계층으로부터 수신된 제4 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령한다.
상기 제3 고장 값은 상기 제4 고장 값으로부터 최소 4 해밍 거리를 가진다.
본 발명의 실시예들 중에서 적어도 어느 하나에 따르면, 제어 시스템은 마이크로컨트롤러가 DC-DC 전압 컨버터의 DC-DC 전압 컨버터 제어 회로 내에서 요청된 스위치를 개방 동작 상태로 전환하시키는 제어 신호를 생성하도록 명령하기 위해 별개의 명령 값을 하드웨어 추상화 계층으로 송신하는 다양하며 독립된 어플리케이션을 이용함으로써, 일부의 어플리케이션이 동작하지 않더라도 안정적으로 DC-DC 전압 컨버터를 안전 동작 모드로 전환할 수 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 후술되는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 자가 진단 마이크로컨트롤러를 가지는 자동차의 회로도이다.
도 2는 도 1의 자가 진단 마이크로컨트롤러에서 이용되는 제1 아날로그 디지털 컨버터의 회로도이다.
도 3은 도 1의 자가 진단 마이크로컨트롤러에서 이용되는 제2 아날로그 디지털 컨버터의 회로도이다.
도 4는 도 1의 자가 진단 마이크로컨트롤러 내의 제1 아날로그-디지털 컨버터의 제1 채널과 제2 채널에 관련된 암호화 채널 번호와 채널 번호의 예시적인 제1 표이다.
도 5는 도 1의 자가 진단 마이크로컨트롤러 내의 제2 아날로그-디지털 컨버터의 제1 채널과 제2 채널에 관련된 암호화 채널 번호와 채널 번호의 예시적인 제2 표이다.
도 6은 도 1의 자가 진단 마이크로컨트롤러에서 이용되는 사전 검사 지표의 예시적인 표이다.
도 7은 도 1의 자가 진단 마이크로컨트롤러에 의해 이용되는 메인 어플리케이션, 제1 어플리케이션, 제2 어플리케이션, 제3 어플리케이션 및 제4 어플리케이션이 저장된 메모리 장치의 블록도이다.
도 8 내지 도 12는 도 1의 자가 진단 방법에 의해 이용되는 진단 방법의 흐름도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
또한, 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판정되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.
도 1을 참조하면, 자동차(10)가 제공된다. 자동차(10)는 배터리 모듈(20), 컨택터(30), 전압 드라이버(34), 전압 드라이버(36) 및 전기 라인(62, 64, 66, 68, 70, 72, 74, 75, 76, 77), 제2 전압 소스(50), 제2 전압 소스(52), 제3 전압 소스(53), 제4 전압 소스(54) 및 본 발명의 일 실시에 따른 자가 진단 마이크로컨트롤러(56)를 포함한다.
자가 진단 마이크로컨트롤러(56)의 장점은 마이크로컨트롤러(56)가 제1 어플리케이션과 제2 어플리케이션을 이용하여 아날로그-디지털 컨버터에서 정확한 채널이 판독되는지 여부를 확인하고, 아날로그-디지털 컨버터로부터 부정확한 채널이 판독되면 아날로그-디지털 컨버터의 모든 채널과 관련된 제1 사전 검사 지표와 제2 사전 검사 지표를 고장 값으로 설정하는 것이다.
이해를 돕기 위하여, 본 명세서에서 사용된 몇몇 용어를 설명하도록 한다.
"노드"는 전기 회로의 일 영역이거나 위치이다.
"개방 동작 상태"는 전류가 흐르지 않는 상태를 의미한다.
"ADC"는 아날로그-디지털 컨버터를 의미한다.
"어플리케이션"은 소프트웨어 어플리케이션을 의미한다.
"하드웨어 추상화 계층"은 어플리케이션이 상세한 하드웨어 레벨 보다 일반적이거나 추상적인 레벨에서 입출력 장치(214), 제1 아날로그-디지털 컨버터(210) 및 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)와 상호 작용할 수 있게 하는 프로그래밍(예를 들어, 저레벨 프로그램 또는 어플리케이션)의 계층을 의미한다.
배터리 모듈(20)은 양극 단자(90)와 음극 단자(92)를 포함한다. 일 실시예에서, 배터리 모듈(20)은 양극 단자(90)와 음극 단자(92) 사이에서 실질적으로 48Vdc를 생성한다. 양극 단자(90)는 컨택터(30)의 노드(104)에 전기적으로 연결된다. 음극 단자(92)는 접지에 전기적으로 연결된다.
컨택터(30)는 접점(90), 컨택터 코일(92), 제1 전기 노드(104) 및 제2 전기 노드(106)를 포함한다. 제1 전기 노드(104)는 전기 라인(62)를 이용하여 배터리 모듈(20)의 양극 단자(90)에 전기적으로 연결된다. 제2 전기 노드(106)는 전기 라인(64)를 이용하여 전기 부하(32)에 전기적으로 연결된다.　마이크로컨트롤러(56)가 전압 드라이버(34, 36) 각각에 의해 수신되는 제1 제어 신호 및 제2 제어 신호를 생성할 때, 컨택터 코일(102)이 활성화되어 접점(100)이 폐쇄 동작 상태로 변경된다. 반대로, 마이크로컨트롤러(56)가 전압 드라이버(34, 36) 각각에 의해 수신되는 제3 제어 신호 및 제4 제어 신호를 생성할 때, 컨택터 코일(102)이 비활성화되어 접점(100)이 개방 동작 상태로 변경된다. 일 실시예에서, 제3 제어 신호 및 제4 제어 신호는 각각 접지 전압 레벨일 수 있다.
전압 드라이버(34)와 전압 드라이버(36)은 컨택터 코일(102)을 활성화시키거나 비활성화시키기 위해 제공된다. 전압 드라이버(34)는 전기 라인(66)을 이용하여 마이크로컨트롤러(56)의 디지털 입출력 장치(214)에 전기적으로 연결된다. 전압 드라이버(34)는 전기 라인(68)을 이용하여 컨택터 코일(102)의 제1 단부에 전기적으로 더 연결된다. 전압 드라이버(34)는 전압 드라이버(34)가 마이크로컨트롤러(56)으로부터 제어 신호를 수신하면 컨택터 코일(102)를 활성화시킨다.
전기 부하(32)는 컨택터(30)의 제2 노드(106)에 전기적으로 연결된다. 컨택터(30)가 폐쇄 동작 상태이면, 배터리 모듈(20)로부터의 양전압이 전기 부하(32)에 인가되어 전기 부하(32)가 활성화된다. 컨택터(30)가 개방 동작 상태이면, 배터리 모듈(20)로부터의 양전압이 전기 부하(32)로부터 제거되어 전기 부하(32)가 비활성화된다.
제1 전압 소스(51)는 제1 전압(예를 들어, V1)을 출력한다. 제1 전압 소스(51)는 전기 라인(74)를 이용하여 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 채널(1)에 전기적으로 연결된다.
제2 전압 소스(52)는 제2 전압(예를 들어, V2)을 출력한다. 제2 전압 소스(52)는 전기 라인(75)를 이용하여 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 채널(2)에 전기적으로 연결된다.
제3 전압 소스(53)는 제3 전압(예를 들어, V3)을 출력한다. 제3 전압 소스(53)는 전기 라인(76)를 이용하여 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)의 채널(1)에 전기적으로 연결된다.
제4 전압 소스(54)는 제4 전압(예를 들어, V4)을 출력한다. 제4 전압 소스(54)는 전기 라인(77)를 이용하여 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)의 채널(2)에 전기적으로 연결된다.
도 1, 도 4 및 도 5를 참조하면, 마이크로컨트롤러(56)는 본 명세서에 설명된 진단 방법을 구현한다. 특히, 마이크로컨트롤러(56)는 메모리 장치(216) 내의 표(도 4에 도시된 400)에 접속하고, 상기 진단 방법을 구현하기 위해 메인 어플리케이션(500), 제1 어플리케이션(501), 제2 어플리케이션(502), 제3 어플리케이션(503), 제4 어플리케이션(504) 및 하드웨어 추상화 계층(505)을 실행하는 마이크로프로세서(200)를 가진다. 메모리 장치(216)는 마이크로프로세서(200)에 의해 이용되는 소프트웨어 어플리케이션을 저장한다. 마이크로프로세서(200)는 메모리 장치(216), 제1 아날로그-디지털 컨버터(210), 제2 아날로그-디지털 컨버터(212) 및 디지털 입출력 장치(214)에 동작 가능하도록 결합된다.
디지털 입출력 장치(214)는 전압 드라이버(34, 36)에 전기적으로 연결된다. 디지털 입출력 장치(214)는 컨택터(30)의 동작을 제어하기 위해 전압 드라이버(34, 36)에 의해 수신되는 제어 신호를 출력한다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 제1 아날로그-디지털 컨버터(ADC1이라고도 함, 210)는 제1 전압 소스(51)와 제2 전압 소스(52)로부터 전압을 측정하기 위해 제공된다. 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)는 채널(1 내지 12)을 포함한다. 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 채널(1)과 채널(2)은 전기 라인(74)과 전기 라인(75)을 각각 이용하여 제1 전압 소스(51)와 제2 전압 소스(52)에 전기적으로 각각 연결된다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 제2 아날로그-디지털 컨버터(ADC2이라고도 함, 212)는 제3 전압 소스(53)와 제4 전압 소스(54)로부터 전압을 측정하기 위해 제공된다. 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)는 채널(1 내지 12)을 포함한다. 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)의 채널(1)과 채널(2)은 전기 라인(76)과 전기 라인(77)을 각각 이용하여 제3 전압 소스(53)와 제4 전압 소스(54)에 전기적으로 각각 연결된다.
도 4, 도 5 및 도 7을 참조하여 단순화된 제1 표(301)와 제2 표(302)를 설명하도록 한다. 특히, 제1 표(301)와 제2 표(302)는 각각 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 제1 채널(예를 들어, 채널(1))과 제2 채널(예를 들어, 채널(2))에 관련된 암호화 채널 번호(16진수)와 채널 번호(10진수)를 가진다.
제1 표(301)은 기록(310, 312)를 포함한다. 기록(310)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 제1 채널과 관련된 암호화 채널 번호 "D4"(16진수)와 채널 번호 "1"(10진수)을 가진다. 기록(312)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 제2 채널과 관련된 암호화 채널 번호 "71"(16진수)와 채널 번호 "2"(10진수)을 가진다.
제2 표(302)은 기록(320, 322)를 포함한다. 기록(320)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 제1 채널과 관련된 채널 번호 "1"(10진수)와 암호화 채널 번호 "D4"(16진수)을 가진다. 기록(322)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 제2 채널과 관련된 채널 번호 "2"(10진수)와 암호화 채널 번호 "71"(16진수)을 가진다.
도 1, 도 4, 도 5 및 도 7을 참조하여 제1 표(301)와 제2 표(302)를 이용하여 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 제1 채널과 제2 채널이 정확하게 판독되었는지 여부를 결정하는 마이크로컨트롤러(56)의 진단 기능을 설명하도록 한다.
우선, 전압(도 1에 도시된 V1)을 측정하기 위해, 제1 어플리케이션(501)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 채널(1)과 관련된 제1 암호화 채널 번호 "D4"(16진수)를 하드웨어 추상화 계층(505)에 송신한다. 이에 응답하여, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 암호화 채널 번호 "D4"(16진수)를 색인으로 이용하여 제1 표(도 4에 도시된 301)의 제1 기록(310)을 판독함으로써, 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 실제 채널 번호 "1"(10진수)를 결정한다. 이후, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 채널(1)로부터 제1 채널 번호 "1"(10진수)에 관련된 제1 측정 전압 값을 획득한다. 이후, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 표(301)로부터의 제1 채널 번호 "1"(10진수)를 색인으로 이용하여 제2 표(302)의 제1 기록(320)을 판독함으로써, 제2 암호화 채널 번호 "D4"(16진수)를 결정한다. 이후, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 표(301)의 기록(310) 중에서 제1 암호화 채널 번호 "D4"(16진수)와 제2 표(302)의 기록(320) 중에서 제2 암호화 채널 번호 "D4"(16진수)가 동일한지 여부를 결정한다. 제1 암호화 채널 번호와 제2 암호화 채널 번호가 서로 상이하면(제1 아날로그-디지털 컨버터(210)으로부터 부정확한 채널이 판독되었음을 나타냄), 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 사전 검사 지표를 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)으로부터 부정확한 채널이 판독되었음을 나타내는 제1 고장 값으로 설정한다. 이후, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 사전 검사 지표, 측정 전압 값 및 제2 암호화 채널 번호를 제1 어플리케이션(501)으로 송신한다.
상기 단계를 수행한 후, 제1 어플리케이션(501)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 제2 채널이 정확하게 판독되었는지 여부를 결정하기 위해 다음 단계를 수행한다.
전압(도 1에 도시된 V2)을 측정하기 위해, 제1 어플리케이션(501)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 채널(2)과 관련된 제3 암호화 채널 번호 "71"(16진수)을 하드웨어 추상화 계층(505)에 송신한다. 이에 응답하여, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제3 암호화 채널 번호 "71"(16진수)을 색인으로 이용하여 제1 표(도 4에 도시된 301)의 제2 기록(312)을 판독함으로써, 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 실제 채널 번호 "2"(10진수)를 결정한다. 이후, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 채널(2)로부터 제2 채널 번호 "2"(10진수)에 관련된 제2 측정 전압 값을 획득한다. 이후, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 표(301)로부터의 제2 채널 번호(예를 들어, 2)를 색인으로 이용하여 제2 표(302)의 제2 기록(322)을 판독함으로써, 제4 암호화 채널 번호 "71"(16진수)을 결정한다. 이후, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 표(301)의 기록(312) 중에서 제3 암호화 채널 번호 "71"(16진수)과 제2 표(302)의 기록(322) 중에서 제4 암호화 채널 번호 "71"(16진수)이 동일한지 여부를 결정한다. 제3 암호화 채널 번호와 제4 암호화 채널 번호가 서로 상이하면(제1 아날로그-디지털 컨버터(210)으로부터 부정확한 채널이 판독되었음을 나타냄), 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 사전 검사 지표를 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)으로부터 부정확한 채널이 판독되었음을 나타내는 제1 고장 값으로 설정한다. 이후, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 사전 검사 지표, 측정 전압 값 및 제4 암호화 채널 번호를 제1 어플리케이션(501)으로 송신한다.
제2 어플리케이션(502)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)로부터의 각 전압 값을 판독하고, 제2 사전 검사 지표의 값을 설정하기 위해 상술된 제1 어플리케이션(501)이 이용한 방법과 유사한 방법을 이용함을 유의한다. 또한, 제3 어플리케이션(503)과 제4 어플리케이션(504)은 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)로부터의 각 전압 값을 판독하고, 제2 사전 검사 지표의 값과 제3 사전 검사 지표의 값을 각각 설정하기 위해 상술된 제1 어플리케이션(501)이 이용한 방법과 유사한 방법을 이용한다.
도 6을 참조하여 진단 방법에 의해 이용되는 제1 사전 검사 지표, 제2 사전 검사 지표, 제3 사전 검사 지표 및 제4 사전 검사 지표를 가지는 표(400)에 대해 설명하도록 한다.
표(400)는 제1 사전 검사 지표, 제2 사전 검사 지표, 제3 사전 검사 지표 및 제4 사전 검사 지표 각각과 관련된 기록(401, 402, 403, 404)를 포함한다. 각 기록(401, 402, 403, 404)은 초기화 값(예를 들어, 16진수), 비고장 값(예를 들어, 16진수) 및 고장 값(예를 들어, 16진수)를 가진다. 각 고장 값은 다른 고장 값으로부터 최소 4 해밍 거리를 가진다. 또한, 각 비고장 값은 다른 비고장 값으로부터 최소 4 해밍 거리를 가진다. 또한, 각 고장 값은 비고장 값으로부터 최소 4 해밍 거리를 가진다.
예를 들어, 기록(401)은 제1 사전 검사 지표에 관련되고, 초기화 값 "OF"(16진수), 비고장 값 "12"(16진수) 및 고장 값 "21"(16진수)을 포함한다. 또한, 기록(402)은 제2 사전 검사 지표에 관련되고, 초기화 값 "OF"(16진수), 비고장 값 "12"(16진수) 및 고장 값 "21"(16진수)을 포함한다. 또한, 기록(403)은 제3 사전 검사 지표에 관련되고, 초기화 값 "F0"(16진수), 비고장 값 "84"(16진수) 및 고장 값 "48"(16진수)을 포함한다. 또한, 기록(404)은 제4 사전 검사 지표에 관련되고, 초기화 값 "F0"(16진수), 비고장 값 "84"(16진수) 및 고장 값 "48"(16진수)을 포함한다.
도 1 및 도 9 내지 도 12를 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 자가 진단 마이크로컨트롤러(56)의 진단 방법의 흐름도를 설명하도록 한다. 흐름도는 메인 어플리케이션(500), 제1 어플리케이션(501), 제2 어플리케이션(502), 제3 어플리케이션(503) 및 제4 어플리케이션(504)를 포함한다.
도 1 및 도 8을 참조하여 메인 어플리케이션(500)을 설명하도록 한다.
단계 600에서, 마이크로프로세서(200)는 아래의 변수를 초기화한다.
제1 사전 검사 지표 = 제1 초기화 값
제2 사전 검사 지표 = 제2 초기화 값
제3 사전 검사 지표 = 제3 초기화 값
제4 사전 검사 지표 = 제4 초기화 값
단계 602에서, 마이크로프로세서(200)는 제1 어플리케이션(501)을 실행한다.
단계 604에서, 마이크로프로세서(200)는 제2 어플리케이션(502)을 실행한다.
단계 606에서, 마이크로프로세서(200)는 제3 어플리케이션(503)을 실행한다.
단계 608에서, 마이크로프로세서(200)는 제4 어플리케이션(504)을 실행한다.
도 1 및 도 9를 참조하여 제1 어플리케이션(501)을 설명하도록 한다.
단계 620에서, 제1 어플리케이션(501)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)와 관련된 제1 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 하드웨어 추상화 계층(505)에 순차적으로 송신한다.
단계 622에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제1 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 제1 복수의 채널 번호를 이용하여 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독한다.
단계 624에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 복수의 채널 번호와 관련된 채널 번호를 이용하여 제2 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정한다.
단계 626에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제1 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않는 제2 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호에 대해 제1 사전 검사 지표를 제1 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 제1 사전 검사 지표를 제1 어플리케이션(501)으로 송신한다.
단계 628에서, 제1 어플리케이션(501)은 제1 고장 값을 가지는 하드웨어 추상화 계층(505)으로부터 수신된 제1 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터(30)를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령한다.
도 1 및 도 10을 참조하여 제2 어플리케이션(502)을 설명하도록 한다.
단계 640에서, 제2 어플리케이션(502)은 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)와 관련된 제3 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 하드웨어 추상화 계층(505)에 순차적으로 송신한다.
단계 642에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제3 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제2 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 제2 복수의 채널 번호를 이용하여 제1 아날로그-디지털 컨버터(210)의 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독한다.
단계 644에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제2 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제4 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정한다.
단계 646에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제4 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호가 제3 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않으면, 제2 사전 검사 지표를 제2 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 제2 사전 검사 지표를 제2 어플리케이션(502)으로 송신한다.
단계 648에서, 제2 어플리케이션(502)은 제2 고장 값을 가지는 하드웨어 추상화 계층(505)으로부터 수신된 제2 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터(30)를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령한다.
도 1 및 도 11을 참조하여 제3 어플리케이션(503)을 설명하도록 한다.
단계 660에서, 제3 어플리케이션(503)은 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)와 관련된 제5 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 하드웨어 추상화 계층(505)에 순차적으로 송신한다.
단계 662에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제5 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제3 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 제3 복수의 채널 번호를 이용하여 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)의 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독한다.
단계 664에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제3 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제6 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정한다.
단계 666에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제6 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호가 제5 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않으면, 제3 사전 검사 지표를 제3 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 제3 사전 검사 지표를 제3 어플리케이션(503)으로 송신한다.
단계 668에서, 제3 어플리케이션(503)은 제3 고장 값을 가지는 하드웨어 추상화 계층(505)으로부터 수신된 제3 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터(30)를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령한다.
도 1 및 도 12를 참조하여 제4 어플리케이션(504)을 설명하도록 한다.
단계 680에서, 제4 어플리케이션(504)은 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)와 관련된 제7 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 하드웨어 추상화 계층(505)에 순차적으로 송신한다.
단계 682에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제7 복수의 암호화 채널 번호와 관련된 채널 번호를 이용하여 제4 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 제4 복수의 채널 번호를 이용하여 제2 아날로그-디지털 컨버터(212)의 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독한다.
단계 684에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제4 복수의 채널 번호와 관련된 채널 번호를 이용하여 제8 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정한다.
단계 686에서, 하드웨어 추상화 계층(505)은 제8 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호가 제7 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않으면, 제4 사전 검사 지표를 제4 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 제4 사전 검사 지표를 제4 어플리케이션(504)으로 송신한다.
단계 686에서, 제4 어플리케이션(504)은 제4 고장 값을 가지는 하드웨어 추상화 계층(505)으로부터 수신된 제4 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터(30)를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 입출력 장치(214)에 명령한다.
상기 진단 시스템은 다른 시스템 보다 실적적인 장점을 제공한다. 특히, 본 발명에 따른 진단 시스템은 아날로그-디지털 컨버터에서 정확한 채널이 판독되었는지 여부를 확인하기 위해 제1 어플리케이션과 제2 어플리케이션을 각각 사용하고, 아날로그-디지털 컨버터로부터 부정확한 채널이 판독되면 아날로그-디저털 컨버터의 모든 채널과 각각 관련된 제1 사전 검사 지표와 제2 사전 검사 지표를 고장 값으로 설정한다.
특허 청구된 발명은 단지 제한된 수의 실시예들을 참조하여 자세하게 기술되었지만, 본 발명은 그러한 개시된 실시예들에 한정되지 않는다는 것을 이해하여야 한다. 오히려, 특허 청구된 발명은 본 발명의 정신과 범위에 부합되는 범위 내에서 여기에서 설명되지 않은 변형예, 대안예, 대체예 또는 등가예를 포함하도록 변형될 수 있다. 또한, 특허 청구된 발명의 다양한 실시예들이 설명되었지만, 본 발명은 설명된 실시예들 중에서 오직 일부만을 포함할 수도 있음을 이해하여야 한다. 따라서, 특허 청구된 발명은 전술한 설명에 의해 제한되는 것으로 간주되어서는 안 된다.
이상에서 설명한 본 발명의 실시예는 장치 및 방법을 통해서만 구현이 되는 것은 아니며, 본 발명의 실시예의 구성에 대응하는 기능을 실현하는 프로그램 또는 그 프로그램이 기록된 기록 매체를 통해 구현될 수도 있으며, 이러한 구현은 앞서 설명한 실시예의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야의 전문가라면 쉽게 구현할 수 있는 것이다.
51: 제1 전압 소스
52: 제2 전압 소스
53: 제3 전압 소스
54: 제4 전압 소스
56: 마이크로컨트롤러
200: 마이크로프로세서
210: 제1 아날로그-디지털 컨버터
212: 제2 아날로그-디지털 컨버터
214: 입출력 장치
216: 메모리 장치
20: 배터리 모듈
32: 전기 부하
500: 메인 어플리케이션
501: 제1 어플리케이션
502: 제2 어플리케이션
503: 제3 어플리케이션
504: 제4 어플리케이션
505: 하드웨어 추상화 계층

Claims (10)

  1. 제1 어플리케이션을 포함하는 소프트웨어 어플리케이션 및 하드웨어 추상화 계층을 저장하도록 구성된 메모리 장치; 및
    상기 메모리 장치에 동작 가능하게 결합되고, 상기 메모리 장치에 저장된 상기 소프트웨어 어플리케이션 및 상기 하드웨어 추상화 계층을 실행하도록 구성된 마이크로프로세서;를 포함하고,
    상기 마이크로프로세서는
    제1 아날로그-디지털 컨버터에 동작 가능하도록 결합되고,
    상기 제1 어플리케이션은
    상기 제1 아날로그-디지털 컨버터와 관련된 제1 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 상기 하드웨어 추상화 계층에 순차적으로 송신하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제1 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제1 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 상기 제1 복수의 채널 번호를 이용하여 상기 제1 아날로그-디지털 컨버터의 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제1 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제2 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제1 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않는 상기 제2 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호에 대해 제1 사전 검사 지표를 제1 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 상기 제1 사전 검사 지표를 상기 제1 어플리케이션으로 송신하는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 어플리케이션은
    상기 제1 고장 값을 가지는 상기 하드웨어 추상화 계층으로부터 수신된 제1 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령하는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 소프트웨어 어플리케이션은,
    제2 어플리케이션을 더 포함하고,
    상기 제2 어플리케이션은
    상기 제1 아날로그-디지털 컨버터와 관련된 제3 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 상기 하드웨어 추상화 계층에 순차적으로 송신하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    제3 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제2 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 상기 제2 복수의 채널 번호를 이용하여 상기 제1 아날로그-디지털 컨버터의 상기 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제2 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제4 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제4 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호가 상기 제3 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않으면, 제2 사전 검사 지표를 제2 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 상기 제2 사전 검사 지표를 상기 제2 어플리케이션으로 송신하는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제2 어플리케이션은
    상기 제2 고장 값을 가지는 상기 하드웨어 추상화 계층으로부터 수신된 제2 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령하는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 제1 고장 값은
    상기 제2 고장 값으로부터 최소 4 해밍 거리를 갖는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 소프트웨어 어플리케이션은,
    제3 어플리케이션을 더 포함하고,
    상기 마이크로프로세서는
    제2 아날로그-디지털 컨버터에 동작 가능하도록 결합되고,
    상기 제3 어플리케이션은
    상기 제2 아날로그-디지털 컨버터와 관련된 제5 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 상기 하드웨어 추상화 계층에 순차적으로 송신하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제5 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제3 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 상기 제3 복수의 채널 번호를 이용하여 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터의 상기 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제3 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제6 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제6 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호가 상기 제5 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않으면, 제3 사전 검사 지표를 제3 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 상기 제3 사전 검사 지표를 상기 제3 어플리케이션으로 송신하는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제3 어플리케이션은
    상기 제3 고장 값을 가지는 상기 하드웨어 추상화 계층으로부터 수신된 제3 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령하는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 소프트웨어 어플리케이션은,
    제4 어플리케이션을 더 포함하고,
    상기 제4 어플리케이션은
    상기 제2 아날로그-디지털 컨버터와 관련된 제7 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 상기 하드웨어 추상화 계층에 순차적으로 송신하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제7 복수의 암호화 채널 번호의 관련된 암호화 채널 번호를 이용하여 제4 복수의 채널 번호의 각 채널 번호를 순차적으로 결정하고, 상기 제4 복수의 채널 번호를 이용하여 상기 제2 아날로그-디지털 컨버터의 상기 복수의 채널에서 관련된 전압을 순차적으로 판독하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제4 복수의 채널 번호의 관련된 채널 번호를 이용하여 제8 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호를 순차적으로 결정하고,
    상기 하드웨어 추상화 계층은
    상기 제8 복수의 암호화 채널 번호의 각 암호화 채널 번호가 상기 제7 복수의 암호화 채널 번호 중에서 동일하고 상응하는 암호화 채널 번호를 가지지 않으면, 제4 사전 검사 지표를 제4 고장 값으로 순차적으로 설정하고, 상기 제4 사전 검사 지표를 상기 제4 어플리케이션으로 송신하는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제4 어플리케이션은
    상기 제4 고장 값을 가지는 상기 하드웨어 추상화 계층으로부터 수신된 제4 사전 검사 지표의 번호가 기준 번호를 초과하면, 컨택터를 개방 동작 상태로 변환시키기 위한 제어 신호를 생성하도록 디지털 입출력 장치에 명령하는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 제3 고장 값은
    상기 제4 고장 값으로부터 최소 4 해밍 거리를 갖는 자가 진단 마이크로컨트롤러.
KR1020180087970A 2017-07-31 2018-07-27 아날로그-디지털 컨버터의 정확한 채널을 판독하는 자가 진단 마이크로컨트롤러 KR102107218B1 (ko)

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