KR102091755B1 - Apparatus for measuring flatness - Google Patents

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Abstract

본 발명의 실시예에 따른 평탄도 측정 장치는, 노즐 홀더, 상기 노즐 홀더의 일측에 회전 가능하게 결합되며 내부에는 부압 유로가 형성된 평탄도 측정용 노즐, 상기 부압 유로로 부압을 제공하는 부압 공급부 및 상기 부압 유로의 내부 압력을 측정하는 부압 측정부를 포함하며, 상기 평탄도 측정용 노즐은, 상기 노즐 홀더의 내측에 수용되는 홀더 결합부 및 상기 홀더 결합부의 중심축에 대해 편심되도록 상기 지지 플레이트로부터 연장 형성되며 상기 부압 유로의 적어도 일부를 형성하는 노즐팁을 포함한다.Flatness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention, a nozzle holder, a nozzle for flatness measurement rotatably coupled to one side of the nozzle holder and a negative pressure flow path formed therein, a negative pressure supply unit providing negative pressure to the negative pressure flow path, and It includes a negative pressure measuring unit for measuring the internal pressure of the negative pressure flow path, and the flatness measurement nozzle extends from the support plate to be eccentric with respect to the central axis of the holder engaging portion and the holder engaging portion accommodated inside the nozzle holder. It is formed and includes a nozzle tip forming at least a portion of the negative pressure flow path.

Description

평탄도 측정 장치{Apparatus for measuring flatness}Flatness measuring device {Apparatus for measuring flatness}

본 발명은 평탄도 측정 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 부압을 이용해 부재를 픽업하는 픽업 장치의 평탄도를 측정하는 평탄도 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a flatness measuring device, and more particularly, to a flatness measuring device for measuring the flatness of a pickup device for picking up a member using negative pressure.

칩 마운팅 장비 중에는 다이 터렛(Die Turret)에서 픽업한 전자 부품 등의 부재를 셔틀(shuttle)로 이송하기 위한 다이 트랜스퍼(Die Transfer) 모듈이 사용되는 장비가 있다.Among chip mounting equipment, there is a device in which a die transfer module is used to transfer members such as electronic components picked up from die turret to a shuttle.

다이 트랜스퍼 모듈에는 부압을 이용해 부재를 픽업하는 노즐과 노즐이 교체 가능하게 결합되는 노즐 홀더가 포함된다. 다이 트랜스퍼 모듈이 부재를 픽업하고 셔틀에 내려놓는 과정에서 부재에 가해지는 손상을 최소화하기 위해 노즐 홀더의 평탄도를 조정하는 작업이 이루어진다.The die transfer module includes a nozzle holder for picking up a member using negative pressure and a nozzle holder to which the nozzle is replaceable. As the die transfer module picks up the member and puts it down on the shuttle, an operation is made to adjust the flatness of the nozzle holder to minimize damage to the member.

일반적으로 다이 트랜스퍼 모듈은 부재를 1축 방향으로 이동시키는 구조를 가지므로, 노즐 홀더의 평탄도를 측정하기 위해, 노즐 홀더에 평탄도 측정용 노즐을 결합한 후, 고정 설치된 측정용 툴을 이용해 평탄도 측정용 노즐의 일측 단부의 위치를 감지한 후, 평탄도 측정용 노즐의 타측 단부가 측정용 툴에 인접하도록 노즐 홀더를 1축 방향으로 소정 거리 이동시켜 평탄도 측정용 노즐의 타측 단부의 위치를 감지하게 한 후, 평탄도 측정용 노즐의 일측 단부의 위치와 타측 단부의 위치 차이를 연산하여 노즐 홀더의 평탄도를 측정한다.In general, the die transfer module has a structure for moving the member in one axis, so to measure the flatness of the nozzle holder, the flatness is measured using a fixed measurement tool after the nozzle holder is coupled to the flatness measurement nozzle. After sensing the position of one end of the nozzle for measurement, the nozzle holder is moved a predetermined distance in the uniaxial direction so that the other end of the nozzle for flatness measurement is adjacent to the measurement tool to determine the position of the other end of the nozzle for flatness measurement. After sensing, the flatness of the nozzle holder is measured by calculating the difference between the position of one end of the nozzle for flatness measurement and the position of the other end.

그러나, 이와 같은 평탄도 측정 방법으로는, 노즐 홀더의 1축 방향 평탄도만 측정되므로, 노즐 홀더의 정확한 평탄도를 측정하기에 곤란하다.However, with such a flatness measuring method, since only the flatness in the uniaxial direction of the nozzle holder is measured, it is difficult to measure the exact flatness of the nozzle holder.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 2축 방향의 노즐 홀더 평탄도를 측정할 수 있는 평탄도 측정 장치를 제공하는 것이다.The problem to be solved by the present invention is to provide a flatness measuring device capable of measuring the flatness of a nozzle holder in a biaxial direction.

본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems of the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 평탄도 측정 장치는, 노즐 홀더, 상기 노즐 홀더의 일측에 회전 가능하게 결합되며 내부에는 부압 유로가 형성된 평탄도 측정용 노즐, 상기 부압 유로로 부압을 제공하는 부압 공급부 및 상기 부압 유로의 내부 압력을 측정하는 부압 측정부를 포함하며, 상기 평탄도 측정용 노즐은, 상기 노즐 홀더의 내측에 수용되는 홀더 결합부 및 상기 홀더 결합부의 중심축에 대해 편심되도록 상기 지지 플레이트로부터 연장 형성되며 상기 부압 유로의 적어도 일부를 형성하는 노즐팁을 포함한다.Flatness measuring device according to an embodiment of the present invention for solving the above problems is a nozzle holder, a nozzle for flatness measurement rotatably coupled to one side of the nozzle holder, a negative pressure flow path formed therein, negative pressure to the negative pressure flow path It includes a negative pressure supply and a negative pressure measuring unit for measuring the internal pressure of the negative pressure flow path, the flatness measuring nozzle, the holder is accommodated inside the nozzle holder and eccentric about the central axis of the holder engaging portion It extends from the support plate so as to include a nozzle tip forming at least a portion of the negative pressure flow path.

상기 평탄도 측정용 노즐은 상기 홀더 결합부의 중심축을 중심으로 상기 노즐 홀더에 대해 회전 가능하게 설치될 수 있다.The flatness measuring nozzle may be rotatably installed with respect to the nozzle holder about a central axis of the holder coupling portion.

상기 평탄도 측정용 노즐의 하부에 위치하는 기준 플레이트를 더 포함하며, 상기 부압 측정부는, 상기 노즐팁이 상기 홀더 결합부의 중심축을 중심으로 회전하며 위치하는 상기 기준 플레이트의 복수 지점에서 상기 부압 유로의 내부 압력을 측정할 수 있다.Further comprising a reference plate located on the lower portion of the flatness measurement nozzle, the negative pressure measuring unit, the nozzle tip is rotated around the central axis of the holder coupling portion of the reference plate located at a plurality of points of the negative pressure flow path The internal pressure can be measured.

상기 기준 플레이트의 복수 지점에서 측정된 상기 부압 유로의 내부 압력을 기초로 상기 노즐 홀더의 평탄도를 판단하는 평탄도 판단부를 더 포함할 수 있다.The flatness determination unit may further include a flatness determination unit to determine the flatness of the nozzle holder based on the internal pressure of the negative pressure flow path measured at a plurality of points of the reference plate.

상기 기준 플레이트의 복수 지점은 상기 홀더 결합부의 중심축을 중심으로 90도 간격으로 배열된 4개의 지점을 포함하고, 상기 평탄도 판단부는, 상기 4개의 지점에서 측정된 상기 부압 유로의 내부 압력을 기초로 상기 노즐 홀더의 X축 방향 평탄도 및 Y축 방향 평탄도를 판단할 수 있다.The plurality of points of the reference plate include four points arranged at 90-degree intervals around the central axis of the holder coupling portion, and the flatness determining unit is based on the internal pressure of the negative pressure flow path measured at the four points. The flatness in the X-axis direction and the flatness in the Y-axis direction of the nozzle holder may be determined.

상기 노즐 홀더를 승강 가능하게 지지하는 승강부를 더 포함하며, 상기 승강부는 상기 노즐팁이 상기 기준 플레이트에 인접하게 위치하도록 상기 노즐 홀더를 승강 구동할 수 있다.Further comprising a lifting portion for supporting the nozzle holder to be able to elevate, the elevating portion can be driven to move the nozzle holder so that the nozzle tip is located adjacent to the reference plate.

본 발명의 기타 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.Other specific matters of the present invention are included in the detailed description and drawings.

본 발명의 실시예들에 의하면 적어도 다음과 같은 효과가 있다.According to embodiments of the present invention has at least the following effects.

노즐 홀더의 2축 방향 평탄도를 측정할 수 있어, 노즐 홀더의 평탄도를 보다 정밀하게 측정할 수 있다.Since the flatness of the nozzle holder can be measured in the biaxial direction, the flatness of the nozzle holder can be more accurately measured.

본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.The effects according to the present invention are not limited by the contents exemplified above, and more various effects are included in the present specification.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 도 1의 노즐 홀더 및 평탄도 측정 노즐의 결합 상태를 도시한 단면도이다.
도 3은 도 1의 평탄도 측정 노즐을 도시한 사시도이다.
도 4 내지 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 도 1의 노즐 홀더가 기울어지도록 조립된 일례를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 평탄도 측정 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
1 is a view schematically showing an apparatus for measuring flatness according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state in which the nozzle holder of FIG. 1 and the flatness measurement nozzle are coupled.
3 is a perspective view illustrating a flatness measurement nozzle of FIG. 1.
4 to 9 are views for explaining the operation of the flatness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
10 is a view schematically showing an example assembled so that the nozzle holder of FIG. 1 is inclined.
11 is a view schematically showing a flatness measuring apparatus according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Advantages and features of the present invention, and methods for achieving them will be clarified with reference to embodiments described below in detail together with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms, and only the embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and common knowledge in the art to which the present invention pertains It is provided to completely inform the person having the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims. The same reference numerals refer to the same components throughout the specification.

또한, 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 개략도들을 참고하여 설명될 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 또한 본 발명에 도시된 각 도면에 있어서 각 구성 요소들은 설명의 편의를 고려하여 다소 확대 또는 축소되어 도시된 것일 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.In addition, the embodiments described herein will be described with reference to cross-sectional views and / or schematic drawings, which are ideal exemplary views of the present invention. Therefore, the shape of the exemplary diagram may be modified by manufacturing technology and / or tolerance. In addition, in each of the drawings shown in the present invention, each component may be illustrated to be slightly enlarged or reduced in consideration of convenience of description. The same reference numerals refer to the same components throughout the specification.

이하, 본 발명의 실시예에 따른 평탄도 측정 장치를 설명하기 위한 도면들을 참고하여 본 발명에 대하여 설명하도록 한다.Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings for describing a flatness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 2는 도 1의 노즐 홀더 및 평탄도 측정 노즐의 결합 상태를 도시한 단면도이며, 도 3은 도 1의 평탄도 측정 노즐을 도시한 사시도이다.1 is a view schematically showing a flatness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a cross-sectional view showing a state of engagement of the nozzle holder and flatness measuring nozzle of Figure 1, Figure 3 is Figure 1 It is a perspective view showing a flatness measurement nozzle.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치(1)는, 리니어 가이드(10), 승강부(20), 노즐 홀더(30), 평탄도 측정용 노즐(40), 부압 전달 튜브(50), 부압 공급부(60), 부압 측정부(70) 및 평탄도 판단부(80)를 포함한다.1, the flatness measuring device 1 according to an embodiment of the present invention, the linear guide 10, the lifting unit 20, the nozzle holder 30, the flatness measuring nozzle 40 ), A negative pressure transfer tube 50, a negative pressure supply unit 60, a negative pressure measurement unit 70 and a flatness determination unit 80.

리니어 가이드(10)는 X축 방향으로 일정 길이만큼 연장 형성된다.The linear guide 10 is formed to extend a predetermined length in the X-axis direction.

도시되어 있지는 않지만, 리니어 가이드(10)는 픽업할 부재가 위치하는 다이 터렛으로부터 다이 터렛으로부터 픽업한 부재를 내려놓는 셔틀까지 연장될 수 있다.Although not shown, the linear guide 10 may extend from a die turret in which the member to be picked up is located to a shuttle that lowers the member picked up from the die turret.

승강부(20)는 리니어 가이드(10)를 따라 X축 방향으로 이동 가능하게 설치된다. 승강부(20)는 승강부(20)를 X축 방향으로 이동시키는 수평 구동 모터(미도시)를 포함할 수 있다.The lifting unit 20 is installed to be movable in the X-axis direction along the linear guide 10. The lifting unit 20 may include a horizontal driving motor (not shown) that moves the lifting unit 20 in the X-axis direction.

승강부(20)에는 노즐 홀더(30)가 승강 가능하게 설치된다. 승강부(20) 또는 노즐 홀더(30)에는 노즐 홀더(30)를 승강부(20)에 대해 승강 구동시키는 수직 구동 모터(미도시)를 포함할 수 있다.A nozzle holder 30 is installed on the lifting part 20 to be able to elevate. The lifting unit 20 or the nozzle holder 30 may include a vertical driving motor (not shown) that drives the nozzle holder 30 up and down relative to the lifting unit 20.

노즐 홀더(30)의 하단에는 평탄도 측정용 노즐(40)이 XY 평면 상에서 회전 가능하도록 설치된다.At the bottom of the nozzle holder 30, a flatness measurement nozzle 40 is installed to be rotatable on the XY plane.

도 2에 도시된 바와 같이, 노즐 홀더(30)는 하단이 개구 형성되고, 개구된 하단으로부터 내측으로 함몰 형성되는 노즐 홀더 수용 공간(31)을 포함한다. 노즐 홀더 수용 공간(31)의 상단에는 부압 전달 튜브(50)와 연결되도록 노즐 홀더(30)를 관통하는 홀더측 유로(33)가 형성된다.As shown in FIG. 2, the nozzle holder 30 includes a nozzle holder receiving space 31 in which a lower end is formed and recessed inward from the opened lower end. A holder-side flow path 33 penetrating the nozzle holder 30 is formed at an upper end of the nozzle holder accommodation space 31 so as to be connected to the negative pressure transfer tube 50.

그리고, 노즐 홀더(30)는 노즐 홀더 수용 공간(31)으로 출몰 가능하게 설치되는 복수의 스토퍼(32)를 포함한다. 스토퍼(32)는 평탄도 측정용 노즐(40)의 홀더 결합부(43)가 노즐 홀더 수용 공간(31)으로 진입할 때에는 평탄도 측정용 노즐(40)의 결합 헤드(43b)에 의해 노즐 홀더(30)의 내부로 밀려 들어가고, 평탄도 측정용 노즐(40)과 노즐 홀더(30)의 결합이 완료된 상태에서는 결합 헤드(43b)를 지지하여 평탄도 측정용 노즐(40)의 이탈을 방지한다.In addition, the nozzle holder 30 includes a plurality of stoppers 32 that are installed to be able to appear in and out of the nozzle holder receiving space 31. When the holder engaging portion 43 of the nozzle 40 for flatness measurement enters the nozzle holder receiving space 31, the stopper 32 is a nozzle holder by a coupling head 43b of the nozzle 40 for flatness measurement. It is pushed into the interior of 30, and when the flatness measurement nozzle 40 and the nozzle holder 30 are combined, the coupling head 43b is supported to prevent the flatness measurement nozzle 40 from coming off. .

평탄도 측정용 노즐(40)은 노즐 홀더(30)의 평탄도를 측정하기 위한 구성으로서, 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 노즐 팁(41), 지지 플레이트(42) 및 홀더 결합부(43)를 포함한다.Flatness measurement nozzle 40 is a configuration for measuring the flatness of the nozzle holder 30, as shown in Figures 2 and 3, the nozzle tip 41, the support plate 42 and the holder coupling portion (43).

홀더 결합부(43)는 지지 플레이트(42)의 상면으로부터 돌출 형성되며, 노즐 팁(41)은 지지 플레이트(42)의 하면으로부터 돌출 형성된다.The holder engaging portion 43 is formed to protrude from the upper surface of the support plate 42, and the nozzle tip 41 is formed to protrude from the lower surface of the support plate 42.

홀더 결합부(43)는 지지 플레이트(42)의 상면으로부터 연장 형성되는 지지단(43c)과, 지지단(43c)의 상단에 형성되는 결합 헤드(43b)를 포함한다.The holder engaging portion 43 includes a support end 43c extending from the upper surface of the support plate 42 and a coupling head 43b formed on the upper end of the support end 43c.

결합 헤드(43b)의 하단은 지지단(43c)의 상단과 단차를 이루도록 지지단(43c)의 외측으로 확장 형성된다. 결합 헤드(43b)는 하단으로부터 상단을 향해 점차 좁아지는 테이퍼 형상을 가질 수 있다.The lower end of the coupling head 43b is formed to extend outward of the supporting end 43c to form a step with the upper end of the supporting end 43c. The coupling head 43b may have a tapered shape gradually narrowing from the bottom to the top.

지지 플레이트(42)는 홀더 결합부(43)의 지지단(43c)이 중심에 위치하며, 노즐 홀더(30)의 하단보다 큰 직경을 갖는 원형 플레이트일 수 있다.The support plate 42 may be a circular plate having a larger diameter than the lower end of the nozzle holder 30, the support end 43c of the holder engaging portion 43 is located at the center.

한편, 노즐 팁(41)은 지지 플레이트(42)의 중심으로부터 편심되도록 형성될 수 있다. 즉, 노즐 팁(41)의 중심축(A2)는 지지단(43c)의 중심축(A1)으로부터 일정 거리(d) 이격되도록 형성될 수 있다.Meanwhile, the nozzle tip 41 may be formed to be eccentric from the center of the support plate 42. That is, the central axis A2 of the nozzle tip 41 may be formed to be spaced a predetermined distance d from the central axis A1 of the support end 43c.

노즐 팁(41)은 평탄도 측정용 노즐(40)의 회전 중심축(A1)으로부터 편심되도록 형성되어 있으므로, 평탄도 측정용 노즐(40)이 회전함에 따라 노즐 팁(41)은 편심 거리(d)를 반경으로 하는 원형의 궤적을 형성하며 이동하게 된다.Since the nozzle tip 41 is formed to be eccentric from the rotational central axis A1 of the flatness measurement nozzle 40, as the flatness measurement nozzle 40 rotates, the nozzle tip 41 has an eccentric distance (d ) To form a circular trajectory with a radius.

도 1에 도시된 바와 같이, 평탄도 측정용 노즐(40)이 노즐 홀더(30)에 결합된 상태에서 노즐 팁(41)과 지지 플레이트(42)는 노즐 홀더(30)의 하부에 노출된다.As shown in FIG. 1, the nozzle tip 41 and the support plate 42 are exposed under the nozzle holder 30 while the flatness measurement nozzle 40 is coupled to the nozzle holder 30.

평탄도 측정용 노즐(40)은 평탄도 측정용 노즐(40)을 상하로 관통하는 부압 유로(41a, 42a, 43a)를 포함한다.The flatness measurement nozzle 40 includes negative pressure flow passages 41a, 42a, and 43a penetrating the flatness measurement nozzle 40 vertically.

도 2에 도시된 바와 같이, 부압 유로(41a, 42a, 43a)는 노즐 팁(41)의 내부에 형성되는 제1 부압 유로(41a), 제1 부압 유로(41a)로부터 연장되어 지지 플레이트(42)의 내부에 형성되는 제2 부압 유로(42a) 및 제2 부압 유로(42a)로부터 연장되어 결합 헤드(43b)의 내부에 형성되는 제3 부압 유로(43a)를 포함한다.2, the negative pressure flow paths 41a, 42a, and 43a extend from the first negative pressure flow path 41a and the first negative pressure flow path 41a formed inside the nozzle tip 41 and support plates 42 ) And a third negative pressure flow passage 43a extending from the second negative pressure flow passage 42a and a third negative pressure flow passage 43a formed inside the coupling head 43b.

제1 부압 유로(41a)는 노즐 팁(41)의 하부를 통해 개방되고, 제3 부압 유로(43a)는 홀더측 유로(33)와 연결된다.The first negative pressure flow path 41a is opened through the lower portion of the nozzle tip 41, and the third negative pressure flow path 43a is connected to the holder-side flow path 33.

부압 전달 튜브(50)는 홀더측 유로(33)와 부압 공급부(60)를 연결하여, 부압 공급부(60)로부터 제공된 부압을 홀더측 유로(33)를 통해 부압 유로(41a, 42a, 43a)로 전달한다.The negative pressure transfer tube 50 connects the holder-side flow passage 33 and the negative-pressure supply part 60 to transfer the negative pressure provided from the negative-pressure supply part 60 to the negative-pressure flow passages 41a, 42a, and 43a through the holder-side flow passage 33. To deliver.

한편, 부압 측정부(70)는 부압 전달 튜브(50) 내측의 압력을 측정한다. 부압 전달 튜브(50)는 부압 유로(41a, 42a, 43a)와 연결된 공간이므로, 부압 측정부(70)가 측정한 압력은 부압 유로(41a, 42a, 43a) 내부의 압력으로 볼 수 있다.Meanwhile, the negative pressure measurement unit 70 measures the pressure inside the negative pressure transfer tube 50. Since the negative pressure transfer tube 50 is a space connected to the negative pressure flow passages 41a, 42a, and 43a, the pressure measured by the negative pressure measurement unit 70 can be viewed as the pressure inside the negative pressure flow passages 41a, 42a, 43a.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치(1)는 평탄도 판단부(80)를 포함할 수 있다. 평탄도 판단부(80)는 부압 측정부(70)가 측정한 압력값을 전달받아 이를 기초로 노즐 홀더(30)의 평탄도를 판단한다.Meanwhile, the flatness measurement apparatus 1 according to an embodiment of the present invention may include a flatness determination unit 80. The flatness determination unit 80 receives the pressure value measured by the negative pressure measurement unit 70 and determines the flatness of the nozzle holder 30 based on this.

이하에서는, 전술한 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치(1)의 구성을 기초로 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치의 동작 및 평탄도 측정 방법에 설명한다. Hereinafter, an operation and a flatness measuring method of a flatness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described based on the configuration of the flatness measuring apparatus 1 according to the above-described embodiment of the present invention.

도 4 내지 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이다.4 to 9 are views for explaining the operation of the flatness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치(1)는 기준 플레이트(S)를 포함할 수 있다. 기준 플레이트(S)는 평탄도 측정용 노즐(40)의 아래에 위치하며, 기준 플레이트(S)의 상면은 편평한 평면으로서, 이미 XY 방향의 평탄도가 조정된 상태일 수 있다. 기준 플레이트(S)는 노즐 홀더(30)에 장착되는 노즐(미도시)에 의해 픽업된 부재가 놓여질 셔틀의 다이(die)일 수 있다.As illustrated in FIG. 4, the flatness measuring device 1 according to an embodiment of the present invention may include a reference plate S. The reference plate S is located below the flatness measurement nozzle 40, and the top surface of the reference plate S is a flat plane, and the flatness in the XY direction may already be adjusted. The reference plate S may be a die of a shuttle on which a member picked up by a nozzle (not shown) mounted on the nozzle holder 30 is placed.

도 5에 도시된 바와 같이, 승강부(20)는 노즐 홀더(30)를 하강시켜, 노즐 팁(41)을 기준 플레이트(S)에 인접하게 위치시킨다. 노즐 팁(41)은 기준 플레이트(S)와 닿지 않도록 기준 플레이트(S)의 상면의 제1 지점(X1, 도 9 참고)에 인접하여 위치하게 된다.As shown in FIG. 5, the elevation unit 20 lowers the nozzle holder 30 to position the nozzle tip 41 adjacent to the reference plate S. The nozzle tip 41 is positioned adjacent to the first point (X1, see FIG. 9) of the upper surface of the reference plate S so as not to contact the reference plate S.

이후, 부압 공급부(60)는 부압 전달 튜브(50)를 통해 부압 유로(41a, 42a, 43a)로 부압을 공급한다.Thereafter, the negative pressure supply unit 60 supplies negative pressure to the negative pressure flow passages 41a, 42a, and 43a through the negative pressure transfer tube 50.

부압 유로(41a, 42a, 43a) 내에 형성되는 부압으로 인해 노즐 팁(41)의 외부 공기는 부압 유로(41a, 42a, 43a)로 흡입된다. 이 때, 노즐 팁(41)과 기준 플레이트(S)의 간격에 따라 부압 측정부(70)에 측정되는 압력값은 달라지게 된다.Due to the negative pressure formed in the negative pressure flow passages 41a, 42a, 43a, the outside air of the nozzle tip 41 is sucked into the negative pressure flow passages 41a, 42a, 43a. At this time, the pressure value measured in the negative pressure measuring unit 70 varies according to the interval between the nozzle tip 41 and the reference plate S.

부압 측정부(70)에서 압력 측정이 완료된 이후, 도 6에 도시된 바와 같이, 평탄도 측정용 노즐(40)은 180도 회전될 수 있다. 평탄도 측정용 노즐(40)은 작업자에 의해 180도 회전되거나, 노즐 홀더(30) 내에 회전 구동 모터(미도시)를 구비하여 회전 구동 모터에 의해 180도 회전될 수 있다.After the pressure measurement in the negative pressure measurement unit 70 is completed, as shown in FIG. 6, the flatness measurement nozzle 40 may be rotated 180 degrees. The flatness measurement nozzle 40 may be rotated 180 degrees by an operator, or may be rotated 180 degrees by a rotation drive motor provided with a rotation drive motor (not shown) in the nozzle holder 30.

평탄도 측정용 노즐(40)이 180도 회전됨에 따라 노즐 팁(41)은 기준 플레이트(S)의 상면의 제2 지점(X2, 도 9 참고)에 인접하여 위치하게 된다.As the flatness measurement nozzle 40 is rotated 180 degrees, the nozzle tip 41 is positioned adjacent to the second point (X2, see FIG. 9) of the upper surface of the reference plate S.

부압 공급부(60)는 부압 전달 튜브(50)를 통해 부압 유로(41a, 42a, 43a)로 부압을 공급하고, 부압 측정부(70)는 제2 지점(X2)에서의 압력값을 측정한다.The negative pressure supply unit 60 supplies negative pressure to the negative pressure flow paths 41a, 42a, and 43a through the negative pressure transmission tube 50, and the negative pressure measurement unit 70 measures the pressure value at the second point X2.

제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 측정된 압력값을 통해 부압 측정부(70)는 노즐 홀더(30)의 X축 방향 평탄도를 판단한다.The negative pressure measuring unit 70 determines the flatness in the X-axis direction of the nozzle holder 30 through pressure values measured at the first point X1 and the second point X2, respectively.

부압 측정부(70)는 제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 측정된 압력값이 압력값이 동일하거나 기 설정된 오차 범위 내 존재하는 경우에는 노즐 홀더(30)가 X축 방향으로 평탄하게 설치되었다고 판단할 수 있다. In the negative pressure measuring unit 70, when the pressure values measured at the first point X1 and the second point X2 are the same or the pressure values are within a predetermined error range, the nozzle holder 30 is in the X-axis direction. It can be judged that it is installed flat.

제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 측정된 압력값이 동일하거나 수용 가능한 오차 범위 내 존재하는 경우에는, 제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 노즐 팁(41)과 기준 플레이트(S)의 일면 상의 거리가 일정하게 유지된 것이므로, 노즐 홀더(30)가 X축 방향으로 평탄하게 설치된 것을 의미한다. When the pressure values measured at the first point (X1) and the second point (X2) are the same or exist within an acceptable error range, the nozzle tip (41) at the first point (X1) and the second point (X2) ) And the distance on one surface of the reference plate S is kept constant, which means that the nozzle holder 30 is installed flat in the X-axis direction.

제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 측정된 압력값이 다르거나 기 설정된 오차 범위를 벗어난 경우에는 노즐 홀더(30)가 X축 방향으로 기울어진 상태라고 판단할 수 있다.When the pressure values measured at the first point (X1) and the second point (X2) are different or are out of a preset error range, it may be determined that the nozzle holder 30 is inclined in the X-axis direction.

도 10은 도 1의 노즐 홀더가 기울어지도록 조립된 일례를 개략적으로 도시한 도면이다.10 is a view schematically showing an example assembled so that the nozzle holder of FIG. 1 is inclined.

도 10에 도시된 바와 같이, 노즐 홀더(30)가 기울어지게 조립된 경우에는, 노즐 팁(41)과 기준 플레이트(S)의 일면 상의 거리가 제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 상이하게 된다.As illustrated in FIG. 10, when the nozzle holder 30 is assembled to be inclined, the distances on one surface of the nozzle tip 41 and the reference plate S are the first point X1 and the second point X2. Each will be different.

도 10의 상태에서는, 제1 지점(X1)에서의 노즐 팁(41)과 기준 플레이트(S)의 일면 상의 거리가 제2 지점(X2)에서의 노즐 팁(41)과 기준 플레이트(S)의 일면 상의 거리 보다 크므로, 노즐 팁(41)이 제1 지점(X1)에 위치할 때에 측정된 압력값이 제2 지점(X2)에 위치할 때 측정된 압력값보다 높게 측정된다.In the state of FIG. 10, the distance on one surface of the reference plate S and the nozzle tip 41 at the first point X1 is equal to that of the nozzle tip 41 and the reference plate S at the second point X2. Since it is larger than the distance on one surface, the pressure value measured when the nozzle tip 41 is located at the first point X1 is measured higher than the pressure value measured when it is located at the second point X2.

반대로, 제1 지점(X1)에서의 노즐 팁(41)과 기준 플레이트(S)의 일면 상의 거리가 제2 지점(X2)에서의 노즐 팁(41)과 기준 플레이트(S)의 일면 상의 거리 보다 작은 경우에는, 노즐 팁(41)이 제1 지점(X1)에 위치할 때에 측정된 압력값이 제2 지점(X2)에 위치할 때 측정된 압력값보다 낮게 측정된다.Conversely, the distance on one surface of the nozzle tip 41 and the reference plate S at the first point X1 is greater than the distance on the surface of the nozzle tip 41 and the reference plate S at the second point X2. In the small case, the pressure value measured when the nozzle tip 41 is located at the first point X1 is measured lower than the pressure value measured at the second point X2.

따라서, 부압 측정부(70)는 제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 측정된 압력값을 이용해 노즐 홀더(30)가 X축 상에서 기울어진 방향을 판단할 수 있다. 제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 측정된 압력값의 차이가 클수록 노즐 홀더(30)가 기울어진 정도 역시 증가하므로, 제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 측정된 압력자를 이용해 노즐 홀더(30)가 X축 상에서 기울어진 정도를 판단할 수도 있다.Accordingly, the negative pressure measurement unit 70 may determine the direction in which the nozzle holder 30 is inclined on the X axis using pressure values measured at the first point X1 and the second point X2, respectively. As the difference between the pressure values measured at the first point (X1) and the second point (X2) increases, the degree of tilt of the nozzle holder (30) also increases, so the first point (X1) and the second point (X2) The degree of inclination of the nozzle holder 30 on the X axis may be determined using the measured pressure indenter.

한편, 제2 지점(X2)에 대한 압력 측정이 완료된 이후, 도 7에 도시된 바와 같이, 평탄도 측정용 노즐(40)은 90도 회전하여, 노즐 팁(41)을 기준 플레이트(S)의 상면의 제3 지점(Y1, 도 9 참고)에 인접하여 위치시킬 수 있다.On the other hand, after the pressure measurement for the second point (X2) is completed, as shown in Figure 7, the flatness measurement nozzle 40 is rotated 90 degrees, the nozzle tip 41 of the reference plate (S) It can be positioned adjacent to the third point of the upper surface (Y1, see FIG. 9).

부압 공급부(60)는 부압 전달 튜브(50)를 통해 부압 유로(41a, 42a, 43a)로 부압을 공급하고, 부압 측정부(70)는 제3 지점(Y1)에서의 압력값을 측정한다.The negative pressure supply unit 60 supplies negative pressure to the negative pressure flow paths 41a, 42a, and 43a through the negative pressure transmission tube 50, and the negative pressure measurement unit 70 measures the pressure value at the third point Y1.

제3 지점(Y1)에 대한 압력 측정이 완료된 이후, 도 8에 도시된 바와 같이, 평탄도 측정용 노즐(40)은 180도 회전하여, 노즐 팁(41)을 기준 플레이트(S)의 상면의 제4 지점(Y2, 도 9 참고)에 인접하여 위치시킬 수 있다.After the pressure measurement for the third point Y1 is completed, as shown in FIG. 8, the nozzle 40 for flatness measurement rotates 180 degrees, and the nozzle tip 41 of the upper surface of the reference plate S It can be positioned adjacent to the fourth point (Y2, see FIG. 9).

부압 공급부(60)는 부압 전달 튜브(50)를 통해 부압 유로(41a, 42a, 43a)로 부압을 공급하고, 부압 측정부(70)는 제4 지점(Y2)에서의 압력값을 측정한다.The negative pressure supply unit 60 supplies negative pressure to the negative pressure flow paths 41a, 42a, and 43a through the negative pressure transmission tube 50, and the negative pressure measurement unit 70 measures the pressure value at the fourth point Y2.

제3 지점(Y1)과 제4 지점(Y2)에서 각각 측정된 압력값을 통해 부압 측정부(70)는 노즐 홀더(30)의 Y축 방향 평탄도를 판단한다.The negative pressure measuring unit 70 determines the flatness in the Y-axis direction of the nozzle holder 30 through the pressure values measured at the third point Y1 and the fourth point Y2, respectively.

부압 측정부(70)는 제3 지점(Y1)과 제4 지점(Y2)에서 각각 측정된 압력값이 압력값이 동일하거나 기 설정된 오차 범위 내 존재하는 경우에는 노즐 홀더(30)가 Y축 방향으로 평탄하게 설치되었다고 판단할 수 있다. In the negative pressure measuring unit 70, when the pressure values respectively measured at the third point Y1 and the fourth point Y2 are the same or the pressure values exist within a predetermined error range, the nozzle holder 30 is in the Y-axis direction. It can be judged that it is installed flat.

그리고, 제3 지점(Y1)과 제4 지점(Y2)에서 각각 측정된 압력값이 다르거나 기 설정된 오차 범위를 벗어난 경우에는 노즐 홀더(30)가 Y축 방향으로 기울어진 상태라고 판단할 수 있다.In addition, when the pressure values measured at the third point Y1 and the fourth point Y2 are different or out of a predetermined error range, it may be determined that the nozzle holder 30 is inclined in the Y-axis direction. .

전술한 바와 같이, 부압 측정부(70)는 제3 지점(Y1)과 제4 지점(Y2)에서 각각 측정된 압력값을 이용해 노즐 홀더(30)가 Y축 상에서 기울어진 방향을 판단할 수 있다. 그리고, 제3 지점(Y1)과 제4 지점(Y2)에서 측정된 압력자를 이용해 노즐 홀더(30)가 Y축 상에서 기울어진 정도를 판단할 수도 있다.As described above, the negative pressure measurement unit 70 may determine the direction in which the nozzle holder 30 is inclined on the Y axis using pressure values measured at the third point Y1 and the fourth point Y2, respectively. . In addition, the degree of inclination of the nozzle holder 30 on the Y axis may be determined by using the indenters measured at the third point Y1 and the fourth point Y2.

상술한 평탄도 측정 방법에서는 도 9의 X1, X2, Y1, Y2의 순서로 압력값을 측정하는 예를 설명하였으나, X1, X2, Y1, Y2의 순서는 변경될 수 있다. 예를 들어, 최초 X1 지점에서의 압력값을 측정한 이후, 평탄도 측정용 노즐(40)을 90도씩 회전시키며, Y1, X2, Y2의 순서로 압력값을 측정하거나, Y2, X2, Y1의 순서로 압력값을 측정할 수도 있다.In the above-described flatness measuring method, an example in which pressure values are measured in the order of X1, X2, Y1, and Y2 in FIG. 9 has been described, but the order of X1, X2, Y1, and Y2 may be changed. For example, after measuring the pressure value at the first X1 point, the nozzle 40 for flatness measurement is rotated by 90 degrees, and the pressure value is measured in the order of Y1, X2, Y2, or Y2, X2, Y1 Pressure values can also be measured in order.

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 평탄도 측정 장치(1)는 노즐 홀더(30)를 X축 상에서 이동시키지 않고, 평탄도 측정용 노즐(40)을 회전시키며 복수의 지점(X1, X2, Y1, Y2)에서 측정된 압력값으로 노즐 홀더(30)의 X축 방향 평탄도 및 Y 축 방향 평탄도를 측정할 수 있다. 노즐 홀더(30)에 대한 2축 방향 평탄도를 측정할 수 있으므로, 노즐 홀더(30)의 평탄도를 보다 정밀하게 측정할 수 있다.As described above, the flatness measuring apparatus 1 according to the embodiment of the present invention does not move the nozzle holder 30 on the X axis, rotates the flatness measurement nozzle 40 and rotates a plurality of points (X1, X2, Y1, Y2) can measure the flatness in the X-axis direction and the flatness in the Y-axis direction of the nozzle holder 30 with the measured pressure values. Since the flatness in the biaxial direction with respect to the nozzle holder 30 can be measured, the flatness of the nozzle holder 30 can be more accurately measured.

한편, 도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 평탄도 측정 장치를 개략적으로 도시한 도면이다. 설명의 편의를 위하여 전술한 실시예와 유사한 부분은 동일한 도면부호를 사용하고, 전술한 실시예와 공통되는 부분은 그 설명을 생략한다.On the other hand, Figure 11 is a view schematically showing a flatness measuring device according to another embodiment of the present invention. For convenience of description, parts similar to those of the above-described embodiment use the same reference numerals, and parts common to those of the above-described embodiment are omitted.

본 실시예에 따른 평탄도 측정 장치(2)는 엔코더(90)를 포함한다.The flatness measuring device 2 according to this embodiment includes an encoder 90.

전술한 실시예에서는 부압 전달 튜브(50)의 내부 압력을 측정하고 이를 이용해 노즐 홀더(30)의 평탄도를 측정한 반면, 본 실시예에서는 엔코더(90)를 이용해 노즐 홀더(30)의 승강량을 측정하여 노즐 홀더(30)의 평탄도를 측정한다.In the above-described embodiment, the internal pressure of the negative pressure transfer tube 50 is measured and the flatness of the nozzle holder 30 is measured using the same, whereas in this embodiment, the amount of lifting of the nozzle holder 30 using the encoder 90 is measured. Measure the flatness of the nozzle holder (30).

즉, 도 11에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 평탄도 측정 장치(2)는 복수의 지점(X1, X2, Y1, Y2; 도 9 참고)에서 노즐 홀더(30)를 하강시켜 노즐 팁(41)과 기준 플레이트(S)의 상면을 접촉시킨다. That is, as shown in FIG. 11, the flatness measuring device 2 according to the present embodiment descends the nozzle holder 30 at a plurality of points (X1, X2, Y1, Y2; see FIG. 9) to provide a nozzle tip (41) and the upper surface of the reference plate (S) are brought into contact.

노즐 홀더(30)는 수직 구동 모터(미도시)에 의해 승강 구동되는데, 엔코더(90)는 수직 구동 모터의 회전 수를 검출한다. 노즐 홀더(30)의 승강량에 따라 수직 구동 모터의 회전 수가 달라지므로, 부압 측정부(70)는 복수의 지점(X1, X2, Y1, Y2)에거 각각 엔코더(90)가 검출한 수직 구동 모터의 회전 수를 비교하여 노즐 홀더(30)의 평탄도를 판단할 수 있다.The nozzle holder 30 is driven up and down by a vertical drive motor (not shown), and the encoder 90 detects the number of revolutions of the vertical drive motor. Since the number of rotations of the vertical drive motor varies according to the amount of lifting of the nozzle holder 30, the negative pressure measurement unit 70 is a vertical drive motor detected by the encoder 90 at each of a plurality of points (X1, X2, Y1, Y2). The flatness of the nozzle holder 30 may be determined by comparing the number of rotations of.

예를 들어, 부압 측정부(70)는 제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 검출된 수직 구동 모터의 회전 수가 동일하거나 기 설정된 오차 범위 내 존재하는 경우에는 노즐 홀더(30)가 X축 방향으로 평탄하게 설치되었다고 판단할 수 있다. For example, the negative pressure measuring unit 70 is the nozzle holder 30 when the number of rotations of the vertical drive motors detected at the first point X1 and the second point X2 are the same or within a predetermined error range It can be determined that is installed flat in the X-axis direction.

그러나, 제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 검출된 수직 구동 모터의 회전 수가 다르거나 기 설정된 오차 범위를 벗어난 경우에는 노즐 홀더(30)가 X축 방향으로 기울어진 상태라고 판단할 수 있다. 그리고, 제1 지점(X1)과 제2 지점(X2)에서 각각 검출된 수직 구동 모터의 회전 수의 차이를 이용해 노즐 홀더(30)가 X축 상에서 기울어진 방향 및 X축 상에서 기울어진 정도를 판단할 수도 있다.However, when the number of rotations of the vertical drive motors detected at the first point X1 and the second point X2 is different or exceeds a predetermined error range, it is determined that the nozzle holder 30 is inclined in the X-axis direction. can do. Then, the difference in the number of rotations of the vertical drive motors detected at the first point X1 and the second point X2 is used to determine the direction in which the nozzle holder 30 is inclined on the X axis and the degree of inclination on the X axis. You may.

유사하게, 부압 측정부(70)는 제3 지점(Y1)과 제4 지점(Y2)에서 각각 검출된 수직 구동 모터의 회전 수를 비교하여, 노즐 홀더(30)의 Y축 방향 평탄도를 판단할 수 있다.Similarly, the negative pressure measurement unit 70 compares the number of rotations of the vertical drive motors detected at the third point Y1 and the fourth point Y2, respectively, and determines the flatness in the Y-axis direction of the nozzle holder 30 can do.

도 11의 실시예는 기준 플레이트(S)와 노즐 팁(41)의 접촉이 이루어지므로, 기준 플레이트(S)의 경도가 상대적으로 높은 경우에 사용되고, 도 1 내지 도 10의 실시예는 기준 플레이트(S)와 노즐 팁(41)의 접촉이 이루어지지 않으므로 기준 플레이트(S)의 경도가 상대적으로 낮은 경우에 사용될 수 있다. Since the embodiment of FIG. 11 is in contact with the reference plate S and the nozzle tip 41, the hardness of the reference plate S is relatively high, and the embodiment of FIGS. Since the contact between the S) and the nozzle tip 41 is not made, it can be used when the hardness of the reference plate S is relatively low.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains will appreciate that the present invention may be implemented in other specific forms without changing its technical spirit or essential features. Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is indicated by the following claims rather than the above detailed description, and it should be interpreted that all changes or modified forms derived from the meaning and scope of the claims and equivalent concepts thereof are included in the scope of the present invention. do.

1, 2: 평탄도 측정 장치 10: 리니어 가이드
20: 승강부 30: 노즐 홀더
31: 노즐 홀더 수용 공간 32: 스토퍼
33: 홀더측 유로 40: 평탄도 측정용 노즐
41: 노즐 팁 41a: 제1 부압 유로
42: 지지 플레이트 42a: 제2 부압 유로
43: 홀더 결합부 43a: 제3 부압 유로
43b: 결합 헤드 43c: 지지단
50: 부압 전달 튜브 60: 부압 공급부
70: 부압 측정부 80: 평탄도 판단부
90: 엔코더 S: 기준 플레이트
1, 2: Flatness measuring device 10: Linear guide
20: lift 30: nozzle holder
31: nozzle holder receiving space 32: stopper
33: holder side flow path 40: flatness measurement nozzle
41: nozzle tip 41a: first negative pressure flow path
42: support plate 42a: second negative pressure flow path
43: holder engaging portion 43a: third negative pressure flow path
43b: engaging head 43c: support
50: negative pressure transfer tube 60: negative pressure supply
70: negative pressure measurement unit 80: flatness determination unit
90: encoder S: reference plate

Claims (6)

노즐 홀더;
상기 노즐 홀더의 일측에 회전 가능하게 결합되며 내부에는 부압 유로가 형성된 평탄도 측정용 노즐;
상기 부압 유로로 부압을 제공하는 부압 공급부; 및
상기 부압 유로의 내부 압력을 측정하는 부압 측정부를 포함하며,
상기 평탄도 측정용 노즐은,
상기 노즐 홀더의 내측에 수용되는 홀더 결합부 및
상기 홀더 결합부의 중심축에 대해 편심되도록 지지 플레이트로부터 연장 형성되며 상기 부압 유로의 적어도 일부를 형성하는 노즐팁을 포함하는, 평탄도 측정 장치.
Nozzle holder;
A nozzle for flatness measurement rotatably coupled to one side of the nozzle holder and having a negative pressure flow path formed therein;
A negative pressure supply unit providing negative pressure to the negative pressure passage; And
It includes a negative pressure measuring unit for measuring the internal pressure of the negative pressure flow path,
The flatness measurement nozzle,
Holder coupling portion accommodated inside the nozzle holder and
A flatness measuring device comprising a nozzle tip extending from a support plate so as to be eccentric with respect to the central axis of the holder coupling portion and forming at least a portion of the negative pressure flow path.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 평탄도 측정용 노즐의 하부에 위치하는 기준 플레이트; 및
상기 기준 플레이트의 복수 지점에서 측정된 상기 부압 유로의 내부 압력을 기초로 상기 노즐 홀더의 평탄도를 판단하는 평탄도 판단부를 더 포함하며,
상기 부압 측정부는,
상기 노즐팁이 상기 홀더 결합부의 중심축을 중심으로 회전하며 위치하는 상기 기준 플레이트의 복수 지점에서 상기 부압 유로의 내부 압력을 측정하는, 평탄도 측정 장치.
According to claim 1,
A reference plate located under the flatness measurement nozzle; And
Further comprising a flatness determining unit for determining the flatness of the nozzle holder based on the internal pressure of the negative pressure flow path measured at a plurality of points of the reference plate,
The negative pressure measurement unit,
Flatness measuring device for measuring the internal pressure of the negative pressure flow path at a plurality of points of the reference plate, the nozzle tip is rotated around the central axis of the holder coupling portion.
삭제delete 제3항에 있어서,
상기 기준 플레이트의 복수 지점은 상기 홀더 결합부의 중심축을 중심으로 90도 간격으로 배열된 4개의 지점을 포함하고,
상기 평탄도 판단부는, 상기 4개의 지점에서 측정된 상기 부압 유로의 내부 압력을 기초로 상기 노즐 홀더의 X축 방향 평탄도 및 Y축 방향 평탄도를 판단하는, 평탄도 측정 장치.
According to claim 3,
The plurality of points of the reference plate includes four points arranged at 90 degree intervals around the central axis of the holder coupling portion,
The flatness determining unit determines the flatness in the X-axis direction and the flatness in the Y-axis direction of the nozzle holder based on the internal pressure of the negative pressure flow path measured at the four points.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006007369A (en) 2004-06-25 2006-01-12 Nippei Toyama Corp Surface shape determining device for object to be measured in machine tool
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10125735A (en) * 1996-10-22 1998-05-15 Oki Electric Ind Co Ltd Semiconductor component mounting apparatus

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006007369A (en) 2004-06-25 2006-01-12 Nippei Toyama Corp Surface shape determining device for object to be measured in machine tool
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