KR102091014B1 - 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법 - Google Patents
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Abstract
일 실시예에 따른 머신 비전 장치는, 검사 대상의 상부에 배치된 적어도 두 개의 비전 카메라; 및 상기 검사 대상에 대한 기준 이미지가 미리 입력되고, 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하는 프로세서;를 포함하고, 상기 프로세서는 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하여 상기 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상으로 인한 오류를 판단할 수 있다.
Description
본 발명은 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 적어도 두 개의 비전 카메라를 이용하여 검사 외 대상으로 인한 외부 교란을 탐지할 수 있는 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법에 관한 것이다.
머신 비전 시스템(machine vision system)이란 사람이 눈으로 보고하는 작업을 카메라와 컴퓨터로 대신하는 일종의 공장 자동화 시스템으로, 카메라로부터 얻은 영상 정보를 컴퓨터가 분석 처리하는 시스템을 말한다.
머신 비전 시스템은 주로 생산 현장에서 자동화 전수검사를 위해 이용되는데, 자동화 검사를 위해 머신 비전 시스템을 도입할 경우 해당 현장의 검사 환경에 따라 조명, 카메라, 렌즈 등의 사양을 달리하여 머신 비전 시스템을 구성하게 된다.
기존의 머신 비전 시스템은 대부분 머신 비전을 이용하여 직접적인 제품 검사 부분에 대한 기술이나 검사결과의 신뢰성확보강화 및 속도, 정확도 향상에만 초점이 맞추어져 있어 이외의 에러 사항에 대한 검출 기술 개발 필요성이 존재한다.
예를 들어, 한국공개특허 KR20070107410에는 '머신 비전을 이용한 리모컨 외관검사 시스템 및 방법'에 대하여 개시되어 있다.
일 실시예에 따른 목적은 인쇄물의 인쇄품질 검사할 때 적어도 두 개의 비전 카메라를 이용하여 인쇄물 자체의 오류인지 외부 침임에 의한 교란인지를 확인할 수 있게 되어 검사의 신뢰성을 높일 수 있는 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법을 제공하는 것이다.
일 실시예에 따른 목적은 적어도 두 개의 비전 카메라를 이용하여 깊이 부분에 의한 에러를 탐지할 수 있는 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법을 제공하는 것이다.
일 실시예에 따른 목적은 검사 외 대상으로 인한 외부 교란과 제품 검사 간의 차이를 분석하여 생산현장이나 검사 현장에서 이물질이나 교란 물체와 같은 검사 외 대상으로 인한 오류를 탐지할 수 있는 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법을 제공하는 것이다.
일 실시예에 따른 목적은 단독 비전 카메라를 이용할 경우 거리에 대한 부분을 머신 비전이 인식하지 못하여 실제 제품의 오류와 타 외란 교란 물체의 의한 에러에 대한 구분을 명확하게 하지 못하는 문제점을 해소할 수 있는 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 일 실시예에 따른 머신 비전 장치는, 검사 대상의 상부에 배치된 적어도 두 개의 비전 카메라; 및 상기 검사 대상에 대한 기준 이미지가 미리 입력되고, 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하는 프로세서;를 포함하고, 상기 프로세서는 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하여 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상으로 인한 오류를 판단할 수 있다.
일 측에 의하면, 상기 프로세서는 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지와 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지의 일치 여부를 확인하여, 검사 대상 자체의 오류 또는 검사 외 대상으로 인한 오류의 존재 여부를 판단할 수 있다.
일 측에 의하면, 상기 프로세서는 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지와 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지를 비교하여 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 차이를 검출하여, 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상으로 인한 오류를 구별할 수 있다.
일 측에 의하면, 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지와 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지를 비교하여 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 차이가 검출되면 검사 외 대상으로 인한 오류로 판단하고, 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 차이가 검출되지 않으면 검사 대상 자체의 오류로 판단할 수 있다.
일 측에 의하면, 상기 검사 대상은 인쇄물이고, 상기 적어도 두 개의 비전 카메라는 인쇄물의 상부에 배치되어, 스테레오 타입으로 상기 인쇄물의 상부 이미지를 획득할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 일 실시예에 따른 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법은, 검사 대상에 대한 기준 이미지가 입력되는 단계; 적어도 두 개의 비전 카메라에 의해 검사 대상에 대한 촬영 이미지가 획득되는 단계; 및 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 비교되는 단계;를 포함하고, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 비교되는 단계에서, 상기 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상에 의한 오류가 판단될 수 있다.
일 측에 의하면, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 비교되는 단계 후에, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지의 일치 여부가 판단되는 단계;를 포함하고, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 불일치하면 검사 대상 자체의 오류로 판단될 수 있다.
일 측에 의하면, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지의 일치 여부가 판단되는 단계에서 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 일치하면, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지의 일치 여부가 판단되는 단계 후에, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 일치 여부가 판단되는 단계;를 더 포함하고, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지에서 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리가 불일치하면 검사 외 대상으로 인한 오류로 판단될 수 있다.
일 측에 의하면, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 일치 여부가 판단되는 단계에서 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리가 일치하면, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 일치 여부가 판단되는 단계 후에, 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 비교되는 단계;를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 따른 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법 에 의하면, 인쇄물의 인쇄품질 검사할 때 적어도 두 개의 비전 카메라를 이용하여 인쇄물 자체의 오류인지 외부 침임에 의한 교란인지를 확인할 수 있게 되어 검사의 신뢰성을 높일 수 있다.
일 실시예에 따른 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법 에 의하면, 적어도 두 개의 비전 카메라를 이용하여 깊이 부분에 의한 에러를 탐지할 수 있다.
일 실시예에 따른 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법 에 의하면, 검사 외 대상으로 인한 외부 교란과 제품 검사 간의 차이를 분석하여 생산현장이나 검사 현장에서 이물질이나 교란 물체와 같은 검사 외 대상으로 인한 오류를 탐지할 수 있다.
일 실시예에 따른 머신 비전 장치 및 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법 에 의하면, 단독 비전 카메라를 이용할 경우 거리에 대한 부분을 머신 비전이 인식하지 못하여 실제 제품의 오류와 타 외란 교란 물체의 의한 에러에 대한 구분을 명확하게 하지 못하는 문제점을 해소할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 머신 비전 장치를 도시한다.
도 2(a) 및 (b)는 비전 카메라에 의해서 검사 외 대상으로 인한 오류를 탐지하는 모습을 도시한다.
도 3은 일 실시예에 따른 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법을 나타내는 순서도이다.
도 2(a) 및 (b)는 비전 카메라에 의해서 검사 외 대상으로 인한 오류를 탐지하는 모습을 도시한다.
도 3은 일 실시예에 따른 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법을 나타내는 순서도이다.
이하, 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 실시예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 실시예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
또한, 실시예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
어느 하나의 실시예에 포함된 구성요소와, 공통적인 기능을 포함하는 구성요소는, 다른 실시예에서 동일한 명칭을 사용하여 설명하기로 한다. 반대되는 기재가 없는 이상, 어느 하나의 실시예에 기재한 설명은 다른 실시예에도 적용될 수 있으며, 중복되는 범위에서 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 일 실시예에 따른 머신 비전 장치를 도시하고, 도 2(a) 및 (b)는 비전 카메라에 의해서 검사 외 대상으로 인한 오류를 탐지하는 모습을 도시한다.
도 1을 참조하여, 일 실시예에 따른 머신 비전 장치(10)는 비전 카메라(100) 및 프로세서(200)를 포함할 수 있다.
상기 비전 카메라(100)는 검사 대상, 예를 들어 제품 또는 인쇄물의 상부에 배치될 수 있다.
이때, 비전 카메라(100)는 적어도 두 개로 마련될 수 있다.
이와 같이 비전 카메라(100)가 적어도 두 개로 마련됨으로써 스테레오 타입으로 검사 대상의 상부 이미지를 획득할 수 있어, 깊이 부분을 기계적으로 인식할 수 있고 깊이 부분에 대한 오류를 탐지할 수 있다.
구체적으로, 도 2(a) 및 (b)에 도시된 바와 같이, 비전 카메라(100) 및 검사 대상 사이에 검사 외 대상이 존재하지 않는 경우, 적어도 두 개의 비전 카메라(100)는 각각 검사 대상의 이미지를 획득할 수 있으나, 비전 카메라(100) 및 검사 대상 사이에 검사 외 대상, 예를 들어 사람의 손 또는 타 장비가 존재하는 경우, 적어도 두 개의 비전 카메라(100)는 검사 외 대상이 반영된 검사 대상의 이미지 또는 검사 외 대상에 대한 이미지를 획득할 수 있다.
따라서 일 실시예에 따른 머신 비전 장치(10)는 적어도 두 개의 비전 카메라(100)를 이용하여 검사 대상 자체의 오류뿐만 아니라 검사 외 대상에 의한 오류 또한 검출할 수 있어, 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
또한, 비전 카메라(100)에는 프로세서(200)가 연결될 수 있다.
상기 프로세서(200)에는 검사 대상 데이터, 예를 들어 검사 대상에 대한 기준 이미지가 미리 입력될 수 있다.
이에 의해서 프로세서(200)는 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지를 비교 분석할 수 있다.
구체적으로, 프로세서(200)는 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지와 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지의 일치 여부를 확인하여, 검사 대상 자체의 오류 또는 검사 외 대상으로 인한 오류의 존재 여부를 판단할 수 있다.
예를 들어, 프로세서(200)는 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지와 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지가 서로 일치하면, 검사 대상 자체의 오류 또는 검사 외 대상으로 인한 오류가 존재하지 않는다고 판단할 수 있고, 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지와 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지가 서로 불일치하면, 검사 대상 자체의 오류 또는 검사 외 대상으로 인한 오류가 존재한다고 판단할 수 있다.
또한, 프로세서(200)는 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지와 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지를 비교하여 비전 카메라(100)와 검사 대상 사이의 거리 차이를 검출하거나, 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지와 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지를 비교하여 비전 카메라(100)와 검사 대상 사이의 거리 일치 여부를 판단할 수 있다.
구체적으로, 프로세서(200)는 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지에서 검출된 비전 카메라(100)와 검사 대상 사이의 거리 및 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지에서 검출된 거리의 일치 여부를 판단하여, 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지에 검사 외 대상에 의한 오류가 존재하는지 판단할 수 있다.
또는, 프로세서(200)는 적어도 두 개의 비전 카메라(100)에서 각각 획득된 촬영 이미지에서 검출된 비전 카메라(100)와 검사 대상 사이의 거리의 일치 여부를 판단하여, 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지에 검사 외 대상에 의한 오류가 존재하는지 판단할 수 있다.
추가적으로, 프로세서(200)에 판단 기준이 되는 거리 정보가 미리 입력되거나 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지로부터 거리 정보가 추출된 후에, 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지에서 검출된 비전 카메라(100)와 검사 대상 사이의 거리와 비교하여 일치 여부를 판단함으로써, 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지에 검사 외 대상에 의한 오류가 존재하는지 판단할 수 있다.
이때, 프로세서(200)는 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지에서 검출된 비전 카메라(100)와 검사 대상 사이의 거리 및 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지에서 검출된 거리 정보가 불일치하면 검사 외 대상에 의한 오류로 판단할 수 있다.
또는, 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지와 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지를 비교하여 비전 카메라(100)와 검사 대상 사이의 거리 차이가 검출되면 검사 외 대상으로 인한 오류로 판단하고, 비전 카메라(100)와 검사 대상 사이의 거리 차이가 검출되지 않으면 검사 대상 자체의 오류로 판단할 수 있다.
이와 같이, 프로세서(200)는 일차적으로 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지와 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지의 일치 여부를 판단한 후에, 이차적으로 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지와 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지를 비교하여 비전 카메라(100)와 검사 대상 사이의 거리 일치 여부를 판단하여, 비전 카메라(100)에서 획득된 촬영 이미지에 포함된 오류가 검사 대상 자체의 오류인지 검사 외 대상으로 인한 오류인지를 명확하게 구별하여 검사의 신뢰성을 확보할 수 있다.
또한, 프로세서(200)에는 메모리(300)가 연결되어, 프로세서(200)에서 처리된 정보가 메모리(300)에 저장 및 관리될 수 있다.
이상 일 실시예에 따른 머신 비전 장치에 대하여 설명되었으며, 이하에서는 일 실시예에 따른 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법에 대하여 설명된다.
도 3은 일 실시예에 따른 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법을 나타내는 순서도이다.
도 3을 참조하여, 일 실시예에 따른 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법은 전술된 머신 비전 장치를 이용하여 다음과 같이 수행될 수 있다.
우선, 검사 대상에 대한 기준 이미지가 입력된다(S10).
그런 다음, 적어도 두 개의 비전 카메라에 의해 검사 대상에 대한 촬영 이미지가 획득되어, 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 비교된다(S20).
이어서, 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지의 일치 여부가 판단된다(S30).
이때, 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 불일치하면, 검사 대상 자체의 오류로 판단된다.
반면, 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 일치하면, 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 적어도 두 개의 비전 카메라와 검사 대상 사이의 거리 일치 여부가 판단된다(S40).
이때, 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 적어도 두 개의 비전 카메라와 검사 대상 사이의 거리가 서로 불일치하면, 검사 외 대상으로 인한 오류로 판단된다.
이와 같이 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상에 의한 오류가 인식되면, 장비, 예를 들어 검사 대상의 제작 장비 또는 인쇄물 제작 장비의 가동이 중단된다.
반면, 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 적어도 두 개의 비전 카메라와 검사 대상 사이의 거리가 서로 일치하면, 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 다시 비교된 다음(S50), 검사가 종료된다.
따라서 일 실시예에 따른 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법은 검사 외 대상으로 인한 외부 교란과 제품 검사 간의 차이를 분석하여 생산현장이나 검사 현장에서 이물질이나 교란 물체와 같은 검사 외 대상으로 인한 오류를 탐지할 수 있고, 인쇄물의 인쇄품질 검사할 때 적어도 두 개의 비전 카메라를 이용하여 인쇄물 자체의 오류인지 외부 침임에 의한 교란인지를 확인할 수 있게 되어 검사의 신뢰성을 높일 수 있다.
이상과 같이 본 발명의 실시예에서는 구체적인 구성 요소 등과 같은 특정 사항들과 한정된 실시예 및 도면에 의해 설명되었으나 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상적인 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명의 사상은 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 청구범위뿐 아니라 이 청구범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
10: 머신 비전 장치
100: 비전 카메라
200: 프로세서
100: 비전 카메라
200: 프로세서
Claims (9)
- 검사 대상의 상부에 배치된 적어도 두 개의 비전 카메라; 및
상기 검사 대상에 대한 기준 이미지가 미리 입력되고, 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하는 프로세서;
를 포함하고,
상기 프로세서는 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하여 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상으로 인한 오류를 판단하며,
상기 프로세서는 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지와 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지를 비교하여 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 차이를 검출하여, 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상으로 인한 오류를 구별하고,
상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지와 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지를 비교하여 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 차이가 검출되면 검사 외 대상으로 인한 오류로 판단하고, 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 차이가 검출되지 않으면 검사 대상 자체의 오류로 판단하며,
상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 각각 획득된 촬영 이미지로부터 각각의 상기 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리가 서로 일치하는지 여부를 판단하여, 거리 차이가 검출되면 검사 외 대상으로 인한 오류로 판단하고, 거리 차이가 검출되지 않으면 검사 대상 자체의 오류로 판단하고,
상기 적어도 두 개의 비전 카메라를 이용하여 깊이 부분에 의한 에러를 탐지함으로써 검사의 신뢰성을 높이는, 머신 비전 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 프로세서는 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지와 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지의 일치 여부를 확인하여, 검사 대상 자체의 오류 또는 검사 외 대상으로 인한 오류의 존재 여부를 판단하는 머신 비전 장치.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 검사 대상에 대한 기준 이미지가 입력되는 단계;
적어도 두 개의 비전 카메라에 의해 검사 대상에 대한 촬영 이미지가 획득되는 단계; 및
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 비교되는 단계;
를 포함하고,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 비교되는 단계에서, 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상에 의한 오류가 판단되며,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 비교되는 단계 후에,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지의 일치 여부가 판단되는 단계;
를 포함하고,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 불일치하면 검사 대상 자체의 오류로 판단되며,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지의 일치 여부가 판단되는 단계에서 상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 일치하면,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지의 일치 여부가 판단되는 단계 후에,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 일치 여부가 판단되는 단계;
를 더 포함하고,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지에서 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리가 불일치하면 검사 외 대상으로 인한 오류로 판단되는, 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법.
- 삭제
- 삭제
- 제6항에 있어서,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 일치 여부가 판단되는 단계에서 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리가 일치하면,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지로부터 상기 적어도 두 개의 비전 카메라와 상기 검사 대상 사이의 거리 일치 여부가 판단되는 단계 후에,
상기 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지가 비교되는 단계;
를 더 포함하는 머신 비전을 이용한 제품 검사 방법.
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Families Citing this family (1)
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KR102258657B1 (ko) * | 2020-03-17 | 2021-06-01 | (주) 엠엔비젼 | 2d 설계 도면과 컴퓨터 비전을 이용한 제품 위치 추적 시스템 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017164935A (ja) | 2016-03-15 | 2017-09-21 | 株式会社リコー | 印刷物検査装置、印刷物検査方法およびプログラム |
Family Cites Families (4)
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KR20080003215U (ko) * | 2007-02-06 | 2008-08-11 | 이해창 | 액정표시장치모듈조립용 프레스부품을 포함한판재가공부품에 대한 다중다각배열 비전검사시스템 |
KR101240947B1 (ko) * | 2010-12-30 | 2013-03-18 | 주식회사 미르기술 | 비전검사장치 |
KR101870718B1 (ko) * | 2011-10-11 | 2018-07-20 | 엘지전자 주식회사 | 이물질을 판별하는 광학 장치 및 그 방법 |
KR20160084212A (ko) * | 2015-01-05 | 2016-07-13 | 한화테크윈 주식회사 | 불량 검사 장치 및 방법 |
-
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Patent Citations (1)
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---|---|---|---|---|
JP2017164935A (ja) | 2016-03-15 | 2017-09-21 | 株式会社リコー | 印刷物検査装置、印刷物検査方法およびプログラム |
Cited By (2)
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